台式金属测厚仪

台式薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器台式薄膜测厚仪此为广告

仪器简介：数显台式测厚仪是一款高精度的数显测厚工具，适用于橡胶和类似于橡胶的弹性体材料测厚。精巧耐用，操作简单。技术参数：最大测量：25mm测头直径：3.7mm or 5.5mm符合标准拉伸试样：BS 903 Pt. A38, ISO 4648压缩试样：BS 903 Pt. A6, ISO 815主要特点：恒定测头压力数显结果精度0.01mm可选不同的测头和配重可选RS232接口

农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪（CHY-C2A型号）采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上【农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

货期&价格请与咨询客服为准！谢谢！ 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术：X射线荧光测厚技术测试样品种类：金属镀层，合金镀层测量下限：0.003um测量上限：30-50um（以材料元素判定）测量层数：10层测量用时：30-120秒探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV高压范围：0-50Kv，50WX光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；光管靶材：Mo靶；滤光片：专用3种自动切换；CCD观察：260万像素微移动范围：XY15mm输入电压：AC220V，50/60Hz测试环境：非真空条件数据通讯：USB2.0模式准直器：Ø 1mm，Ø 2mm，Ø 4mm软件方法：FlexFP-Mult工作区：开放工作区 自定义标准配件：样品固定支架1支窗口支撑薄膜：100张保险管：3支计算机主机：品牌+双核显示屏：19寸液晶打印机：喷墨打印机 可选配件：可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存。

FischerScope MMS PC2菲希尔小台式测厚仪德国菲希尔FISCHER FISCHERSCOPE MMS PC2多功能涂镀层测厚仪使用一台仪器就可同时完成镀层厚度测量和材料性能测试。FISCHERSCOPE MMS PC2具有数据采集和测量数据处理能力，是一台结构小巧且适用范围广泛的多功能桌上测量系统。它既可以用来进行手动的样品来料检验，也可以用于过程控制和对产品线进行24小时地监控。有为不同样品几何形状和测量范围而设计的各式各样的探头可供选择。 我们还设计了众多不同的插件模块实现仪器各种功能以满足用户的需要。模块设计也使得仪器的升级可以随时随地地进行。视实际需要，可以安装类似或不同的模块。特点只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试坚实且极为通用的台式多功能测量系统,具有保存数据和处理测量数据的功能便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏,基于Windows CE设计众多不同的嵌入式测量模块,可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块嵌入式模块 BETASCOPE, SIGMASCOPE, PHASCOPE, DUPLEX, NICKELSCOPE, SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各种物理测试原理,详情参见产品说明可连接多达八个测量探头各种不同的探头,用于被测样品不同的几何形状和厚度范围提供的电脑软件FISCHER DataCenter具有以下功能:传输和保存测量值,全面的统计和图形化评估,简便生成并打印个人检测报告典型应用领域电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜(PERMASCOPE模块)纳米涂层(防指纹)、太阳能电池涂层(玻璃上的CdTe镀层)、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层(BETASCOPE模块)测量线路板上的面铜和孔铜(SIGMASCOPE模块)测量薄板或多层线路板表面铜层厚度,不会受反面铜层影响(SR-SCOPE模块)印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度(PERMASCOPE模块)汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层(PERMASCOPE模块)汽车行业中活塞表面的含铁涂层(NICKELSCOPE模块)奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量(PERMASCOPE模块)非铁磁性金属,如铜、铝、钛的电导率(SIGMASCOPE模块)

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台，最高精度可达25μm，使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）探测器Si-Pin探测器，(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选，多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素手动样品XY平台固定平台滤光片固定初级滤光片，多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm（W×D×H）外形尺寸330×580×360mm（W×D×H）重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W

1.产品用途：Milum 系列 MM805 是台式测量 PCB 镀孔面铜厚度的双功能测厚仪。2.产品特点：7 寸触控式彩色屏幕，功能键全部显示于画面，只要触摸屏幕即可轻易调整并确认，操作界面轻松上手，量测与统计一目了然 配合孔铜探头 ETP 可做 35mils 以上孔径测量 温度补偿功能，所测数据稳定性高 面铜部分使用探头 SCP-15，它能与蚀刻前、后测量 PCB 面铜镀层厚度，于板厚无关，独特的替换式测针（Tips），共有三种规格可供选择，应用于不同的产品生产线应用：涡电流感应式测量 PCB 孔铜厚度；微电阻式测量 PCB 表面铜厚度99 组应用程序，可分别独立设定孔铜或面铜校正程序组 可分别设定校正因子、补偿值，以符合产品规格与标准可分别设备定规格上、下限，方便计算 Cpk 以及辨别出是否超出所测量范围 测量单位 mil、um、uinch、mm、inch 孔面铜测头均采用独特设计的可替换测针(Tips) 标准片校正 面铜测量时可依制成上测量面积的大小不同宣统适合的测针（W/M/N）测试头采用快速插拔式接头设计 拥有 RS-32、USB 传输接口，可连接计算机做数据传输 可接针式打印机打印输出3.主要功能测量范围 SCP-15:0.01~20.0mils（0.2~500um）ETP:0.04~8.0mils（1.0~200um）最小孔径限制 ETP:0.35mil（0.85mm）以上误差 ±3%（根据标准片）分辨率 SCP-15:0.001mil（＜mil）/0.02mils（＞1mil）ETP:0.01mils（0.25um）PCB 板厚限制 SCP:无/ETP：最小 30mils（0.75mm）记忆容量 20000 笔读值尺寸 （长）280mm/（宽）280mm/(高)120mm输出接口 RS-232/USB/Parallel Port重量 2.4 公斤电源 AC 90-23-V/50~60HZ4.面铜探针规格SCP-15W SCP-15M SCP-15N型号：SCP-15W Tips直径：2cm（±0.1cm）高度：1.8cm（±0.1cm）探针材质：Au/Ni/Cu探针距离：0.7cm型号：SCP-15M Tips直径：2cm（±0.1cm）高度：1.8cm（±0.1cm）探针材质：Au/Ni/Cu探针距离：0.45cm(±0.01cm)型号：SCP-15N Tips直径：2cm（±0.1cm）高度：1.8cm（±0.1cm）探针材质：Au/Ni/Cu探针距离：0.15cm(±0.1cm)

仪器简介：非金属数显测厚仪 可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。技术参数：非金属数显测厚仪 对于塑胶底材、木材、混凝土表面涂层厚度的测量，目前全世界最普遍的方法是采用破坏法来测量，但破坏法造成了涂层的损伤。PosiTector 200型的研发成功顺利解决了这个问题。它操作使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。 非金属数显测厚仪 主要技术指标： ■ 直接测量，测量大多数涂层时无需调校；菜单操作；双色指示灯，适于嘈杂环境；重置功能可以即时恢复出厂设置 ■ 耐溶剂、酸、油、水和灰尘，防护等级满足或超出IP5X；显示屏耐划伤/溶剂，适用于恶劣环境；防震保护橡胶皮套，带皮带夹；主机与探头两年保修 ■ 灵敏传感器，使测量迅速且准确（最多40个读数/分钟) ；成熟的无损超声波技术，符合ASTM D6132与ISO 2808标准；校准证书可追溯NIST ■ 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数 ■ 内部存储最多10000个数据，最多可分1000组 ■ 内置时钟可对存储的结果标注时间、日期 ■ 输出提供USB、红外和串行接口，可与打印机和电脑进行简单通讯 ■ 背光显示，可用于阴暗环境 ■ 英制/公制两种单位，可相互转换 ■ 多种显示语文选择 ■ 测量范围：13-1000um ■ 精度：± （2µ m+3% 读数） ■ 尺寸/重量：146 x 64 x 31mm/105克 ■ 测量速度：45读数/分钟主要特点：非金属数显测厚仪 对于塑胶底材、木材、混凝土表面涂层厚度的测量，目前全世界最普遍的方法是采用破坏法来测量，但破坏法造成了涂层的损伤。PosiTector 200型的研发成功顺利解决了这个问题。它操作使用简单，价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材，混凝土及其它基材上涂层厚度。

金属镀层测厚仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机金属镀层测厚仪 此为广告

DC-1000C超声波测厚仪 型号：DC-1000C品牌：德光产地：中国测量范围：用于测量硬质材质的厚度，如：钢铁、不锈钢、铝、铜等金属材料，及塑料、塑胶、陶瓷、玻璃等非金属；功能特点：1.具有B系列测厚仪的所有功能，增加以下新功能：2.开机探头自动零位校准，可手动二次校准，更好地消除测量偏差。3. 全新高精度探头设计，自动识别多种探头。 4.预置9种常用材料声速值，方便选用。5.大屏幕高清晰带背光液晶显示6.测量范围扩大至0.65mm – 400mm (不同探头决定不同测量范围)7.手动/自动增益调节 技术参数:点阵液晶+背光 ： 128X64自动校零 手动二次校准 测量范围 0.8-300mm 　中文菜单 示值精度 0.1mm声速调整 声速测量 公英制转换自定义声速 低电压显示 自动关机 最小值测量 　　外形尺寸 115x64x27mm重量 220g可选探头探头型号---频率-------测量范围 mm----直径 ----测量温度 D5008:-----5.0 MHz----0.8 - 300------8-------- 60℃D5113:-----5.0 MHz----2.0 - 200-----13 ------- 350℃D7006:-----7.5MHz-----0.7 - 50 ------6---------60℃D7004:-----10.0MHz----0.65 - 20 ---- 4-------- 60℃D2012:-----2.0MHz-----2.0-400.0-----12-------- 60℃标准配置 主机 ：DC-1000C超声波测厚仪一台 探头 ：D5008耦合剂：75mg耦合剂(瓶) 电池： （7号2节） 随机文件：一份仪器箱：一只

班通科技产品用途： Milum 系列 MM805 是台式测量 PCB 镀孔面铜厚度的双功能测厚仪。 Milum 系列 MM610 是手持式测量 PCB 通孔镀铜的测厚仪。2.产品特点： 7 寸触控式彩色屏幕，功能键全部显示于画面，只要触摸屏幕即可轻易调整并确认，操作界面轻 松上手，量测与统计一目了然 配合孔铜探头 ETP 可做 35mils 以上孔径测量 温度补偿功能，所测数据稳定性高 面铜部分使用探头 SCP-15，它能与蚀刻前、后测量 PCB 面铜镀层厚度，于板厚无关，独特的替换 式测针（Tips），共有三种规格可供选择，应用于不同的产品生产线 应用：涡电流感应式测量 PCB 孔铜厚度；微电阻式测量 PCB 表面铜厚度99 组应用程序，可分别独立设定孔铜或面铜校正程序组 可分别设定校正因子、补偿值，以符合产品规格与标准 可分别设备定规格上、下限，方便计算 Cpk 以及辨别出是否超出所测量范围 测量单位 mil、um、uinch、mm、inch 孔面铜测头均采用独特设计的可替换测针(Tips) 标准片校正 面铜测量时可依制成上测量面积的大小不同宣统适合的测针（W/M/N） 测试头采用快速插拔式接头设计 milum610产品参数milum805产品参数

??FISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔台式涂镀层测厚仪正业科技成立于1997年，主要从事精密检测仪器及高端材料的研发，生产及销售，菲希尔产品为代理德国的产品。如需了解更多资讯可以随时联系我司。FISCHERSCOPE MMS PC2涂层测厚仪特点1、MMS PC2涂层测厚仪只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试！2、坚实且极为通用的台式多功能测量系统，具有保存数据和处理测量数据的功能.3、便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏，基于Windows® CE设计。4、众多不同的嵌入式测量模块，可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允5、许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块6、嵌入式模块 BETASCOPE® , SIGMASCOPE® , PHASCOPE® , DUPLEX, NICKELSCOPE® , SR-SCOPE® 和 PERMASCOPE® 采用了各种物理测试原理，详情请直接咨询我司。可连接多达八个测量探头 （可同时检测孔铜，面铜。）各种不同的探头，用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter，其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告1、FISCHERSCOPE MMS PC2涂层测厚仪典型应用领域2、电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜（PERMASCOPE® 模块）3、纳米涂层（防指纹）、太阳能电池涂层（玻璃上的CdTe镀层）、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层（BETASCOPE® 模块）4、测量线路板上的面铜和孔铜（SIGMASCOPE® 模块）5、测量薄板或多层线路板表面铜层厚度，不会受反面铜层影响（SR-SCOPE® 模块）6、印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度（PERMASCOPE® 模块）7、汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层（PERMASCOPE® 模块）8、汽车行业中活塞表面的含铁涂层（NICKELSCOPE® 模块）9、奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量（PERMASCOPE® 模块）10、非铁磁性金属，如铜、铝、钛的电导率（SIGMASCOPE® 模块）

国产膜厚仪 电镀测厚仪 1.微小样品检测：小测量面积0.03mm² （加长测量时间可小至0.01mm² ）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器【详细说明】国产膜厚仪 电镀测厚仪 性能优势：1.微小样品检测：小测量面积0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm3.先进的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂镀层，多层多元 素，甚至有同种元素在不同层也可准测量。 4.先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限。 5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。 6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置，让X射线和可见光摄像同一垂直线，达到视觉与测试定位一体，且X光扩散度小；与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能，实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试；高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，可以减少弧度倾斜放样带来的误差，同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。 国产膜厚仪 电镀测厚仪 先进的EFP算法专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。RoHS检测及标定

智能型超声波测厚仪，采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域。

薄膜厚度测量仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜厚度测量仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪无纺布材料厚度检测仪是一种专业设备，用于精确测量无纺布以及其他薄型材料的厚度。这类仪器设计精密，确保在生产、质量控制和研究中提供准确的厚度数据。以下是基于通用参数和功能的详细介绍：薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪基本参数与特点：测量范围：0～2 mm（标准量程）（0-6mm，0-12mm可选，其它行程可订制）。分辨率：高精度仪器的分辨率可达到1微米（um），确保测量的细微差异也能被捕捉。测量原理：采用接触式测量技术，接触式通常通过压头轻触材料表面。重复性：高质量的检测仪重复性误差小于0.5%，保证每次测量的一致性。显示与操作：配备清晰的LCD显示屏，显示即时测量结果，操作界面简单直观，便于快速读取和操作。兼容标准：设计符合GB/T 3820等国家标准，确保测试结果的标准化和可比性。适用材料：不仅限于无纺布，还适用于薄膜、纸张、金属箔、纺织品等薄型材料。稳定性与耐用性：具有良好的稳定性和耐用性，适合在实验室和生产线上长期使用。数据处理：部分高级型号可能支持数据存储、输出至电脑，便于数据分析和记录管理。校准功能：内置校准机制，确保长期使用的准确性，用户可定期进行校准以维持测量精度。薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪操作流程：准备样品：确保无纺布样品平整无皱。放置样品：将样品置于测量区域，保持稳定。启动测量：按下测量按钮，仪器自动进行厚度读取。读取结果：显示屏上显示即时的厚度数据。记录与分析：根据需要记录数据，进行进一步的质量评估或分析。

金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix 金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix

XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍： XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线： XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。产品特点：通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点：3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱；使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用：应用● 在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可精确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控产品使用：测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）未知合金的无标准片测量大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析

金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix 金属片测厚仪PTT-03A普创paratronix

【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间：60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源） 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确，维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确 ● 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化 ● 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术，保证 X 射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA2.2.2 属于半损耗型部件，使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出： 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数： 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 操作得更轻松，使操作更人性，更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.7 配置小孔准直器，测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

多功能涂镀层测厚仪FischerScope MMSFISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔fischer台式涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE MMS PC2简介:高级台式设备，用于通用的涂层厚度测量和材料测试，具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口典型应用领域:电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜（PERMASCOPE模块）纳米涂层（防指纹）、太阳能电池涂层（玻璃上的CdTe镀层）、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层（BETASCOPE模块）测量线路板上的面铜和孔铜（SIGMASCOPE模块）测量薄板或多层线路板表面铜层厚度，不会受反面铜层影响（SR-SCOPE模块）印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度（PERMASCOPE模块）汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层（PERMASCOPE模块）汽车行业中活塞表面的含铁涂层（NICKELSCOPE模块）奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量（PERMASCOPE模块）非铁磁性金属，如铜、铝、钛的电导率（SIGMASCOPE模块）特点:只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试！坚实且极为通用的台式多功能测量系统，具有保存数据和处理测量数据的功能.便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏，基于Windows CE设计。.众多不同的嵌入式测量模块，可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块嵌入式模块 BETASCOPE SIGMASCOPE PHASCOPE DUPLEX NICKELSCOPE SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各种物理测试原理，详情参见产品说明.可连接多达八个测量探头各种不同的探头，用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter，其拥有以下功能：传输保存测量值，全面的统计性和图形化评估，轻松生成并打印检验报告无锡骏展仪器有限责任公司为客户提供方守合同、快速售前(演示设备、引进更新技术)销售(选购、满足客户对客户的要求)、售后服务、设备维修、维修问题等)当客户需要时，我们专业的工作人员可以到客户现场，提供急需的服务。

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪Bowman BA-100 Optics 机型采用业界领先的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。优质的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。 稳定的X射线管 ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选） 小于100um的测量斑点 ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央 ● 长寿命的射线管灯丝 ● 独有的预热和ISO温度适应程序 多毛细管聚焦光学结构 ● 显著提高X射线信号强度 ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度 ● 小于100um直径的测量斑点 ● 经过验证，接近完美的测量精度 应用领域：常见的镀层应用: PCB行业 Au/Pd/Ni/Cu/PCB 引线框架 Ag/Cu Au/Pd/Ni/CuFe 半导体行业 Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 线材 Sn/Cu 珠宝、贵金属 10,14,18Kt 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等 美国博曼高性能XRF镀层测厚仪三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、获得广泛好评具备广泛的镀层厚度测量范围（可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析） 成为越来越多行业的满意选择 可为您提供高精度，快速简便的测量和分析

普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A 普创paratronix_金属片测厚仪PTT-03A

商品说明 工业生产过程中的品质控制，高压隔离开关触头镀银层检测仪，铜镀银，镀锡等厚度快速测试，同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理，确保材料品质；船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别，从而保障产品质量与安全；电力电站等有关国计民生行业中，鉴定设备零部件成分是否达标，保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件，其中隔离开关触头上的镀银层，有耐磨耐腐蚀的性，能降低接触电阻，需如果用不镀银的铜触头，铜触头经过氧化后电阻会明显增加，就会产生电弧烧蚀触点的可能，而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求，高压隔离开关主触头：镀银层厚度应不小于20um，一般触头镀银层厚度应不小于8um，硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说，电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量，所以镀层越厚，对电镀厂家的成本越高，所以一部分不良电镀厂家，就对电镀镀银厚度采用以次充好，以薄充厚，严重影响了高压配电设备的验收工作，甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再，再而三的被通报不良产品，轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格，重则直接被国网招标拉入黑名单。目前，隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪，是一种X射线光谱仪，通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光，可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器，仪器分为手持式和台式两种，都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度，方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件，一键智能操作检测合金成分和镀层厚度； K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分；能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量；仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合金牌号，用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下：（1）智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报，提高生产率，自动识别基材种类，无需手动选择样品类型，然后再测试；降低操作难度，节省测试时间，不管操作人员是否有经验，都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。（2）完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库，标准牌号库包括500多种独特的合金牌号，用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。（3）检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能，可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法：能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围：0-50um检测镀层种类：铜镀银、铜镀锡分析精度：单层电镀相对误差不超过10%检测时间：15-20秒检测窗口：12mm合金测试元素范围：Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Cd，Sn，Sb等23元素仪器参数：1、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，无电机、1个滤光片2、探测器：Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法：KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池

仪器简介：美国Defelsko公司的PosiTector 6000涂镀层测厚仪是精确耐用的测厚仪,适用于所有金属底材.技术参数：1-基本型 2-统计型 具有1型所有功能，新增： 可存储250个读数； 读数超出设定范围时有声光提示； 显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数； 内置红外传输口 USB接口，可连接计算机 可选配PosiSoft for Windows统计分析软件和USB连线 3-存储型 具有1和2型所有功能，新增： 储存10000个读数，可分成1000组 内置时钟 可存储校准 SSPC PA-2功能，计算一组平均读数的平均值 提供PosiSoft for Windows统计分析软件和USB连线 F型探头 用于钢铁等磁性基体上的非磁性涂镀层，如油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等 N型探头 用于有色金属(如铜、铝、奥氏体不锈钢)上的所有绝缘层，如阳极氧化膜、油漆、涂料等 FN型探头 为两用探头，可以在磁性和非磁性基体上自动转换测量 PosiSoft for Windows软件 功能强大使用简单 订购存储型随机附送 易于从仪器收集数据 可输入提示说明 显示和打印图表 使用通用格式储存数据，如ASCII码 方便监察和分析膜层厚度 包括所有仪器的校准步骤.主要特点：简单 -直接测量(无需校准即可满足大部分应用) -单手菜单操作 --灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果 -重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 耐用 -耐磨探头 -防酸、防油、防水、防溶剂、防尘，符合或超过IP5X标准 -耐磨防腐蚀液晶显示屏 -防撞击橡胶保护套 精确 -每台仪器都有校准证书，符合NIST标准 -内置温度补偿以确保测量精度 -高分辨率模式可提高显示分辨率 -符合美国和国际标准，包括ISO和ASTM标准 多功能 -多种校准模式，包括一点、两点、零点校准 -多种语言显示，包括中文 -背光显示 -公制英制单位互换 -可定制最长75m的电缆线

HY-699D台式皮革测厚仪用途：用于毛皮厚度测试。符合标准：QB/T 1268等产品技术规格：压脚规格：￠10mm压重砝码一个：100g± 3g (压脚负荷：49.1Kpa)数字显示仪一个：0～12.7mm（0.01mm）压脚与试片台平行度：在量程内任何位置平行误差不超过0.005mm

特别说明：公司所有仪器均为原厂原装产品，请放心购买。我们公司是相关品牌的正式代理商，除了提供产品以外，还负责相关产品的操作培训、安装调试、技术咨询、问题排查和故障维修等服务。不管是不是我们公司购买的产品，只要是此品牌的产品，只要您想了解产品相关的信息，行业标准的符合程度，产品的使用操作，售后服务的提供等等任何问题均可以随时来垂询。谢谢！ 美国DeFelsko狄夫斯高 6000系列涂层测厚仪 一、产品描述美国DeFelsko 6000系列产品测厚仪是一款无损测量磁性基材（如钢、铁）上的非磁性涂镀层，以及有色金属(如铜、铝、)上的绝缘层。可在同一测量点上连续显示读数，保证测量的准确性和重复性。 二、产品特点1、使用灵活① 通用型主机，可连接所有PosiTector 6000,200，SPG，DPM和UTG探头，可以轻易从测厚仪转化为表面粗糙度仪，露点仪或超声波测厚仪② 多种校准可选：1点校准，2点校准，已知厚度校准，平静调零③ 多种显示语言可选，包括中文④ 高对比度背光显示可用于光亮或灰暗环境⑤ 倒转显示，可以倒看⑥ 在特殊配置下探头线可延长至75米，适用于远程测量2、操作简单① 直接测量——大多数情况下无需校准② 单手操作菜单③ 闪动显示——可用于嘈杂环境④ 重置功能可迅速恢复出厂设置3、结实耐用① 耐溶剂，酸，油，防水，防尘——可全天候使用② 耐磨损探头③ 防震橡胶保护套皮带夹4、测量精确① 每台仪器都提供校准言正书，可追溯至NIST标准② 内置温度补偿确保测量精确③ 高分辨率模式提高显示分辨率可满足高精度应用④ 符合美国和国际标准包括ISO，ASTM等等5、功能强大① 连续显示/更新平均值、标准方差、最小/最大厚度及读数数量② 屏幕捕捉功能——屏幕图像可以截屏存储，用于保存记录和浏览③ 测量值超过上下限设置时通过警示音和指示灯报警④ 快速模式——提高测量速度用于快速测量⑤ USB接口可以快速方便的连接电脑，持续供电，提供数据线⑥ 软件可通过网络进行实时更新⑦ 可连接到PosiTector.net 三、主机特点1、标准型主机（简称1型主机或S型主机）：① 单色显示器，半穿透半反射技术，阳光下可读② 存储250个读数，可浏览或下载2、高级型主机（简称3型主机或A型主机）：① 高对比度可逆的彩色液晶显示屏② 可储存高达100,000个读数值, 可最多分1000组和子组。③ 屏幕在线帮助，实时曲线显示，图片辅助等④ 可通过USB，无线网络，以及蓝牙于打印机或电脑连接⑤ 扫描模式——无需提起探头，可连续测量⑥ 可储存多种校准设置以满足各种不同的基材⑦ SSPC-PA2 功能,可判断涂层在一定面积是否满足用户设定的最大最小值⑧ PSPC 90/10功能可判断涂层是否具备IMO保护涂料性能3、SmartLink通过SmartLink装载探头，不需要另加主机直接在APP实现数据读取，存储标记等新功能。 四、测量精度和型号选择 部分探头展示 五、探头尺寸六、标准配置所有的仪器包括：标准塑料片，有皮带扣的橡胶套，手带，3节AAA电池，说明书，带肩带的尼龙包，液晶保护膜，可追溯至NIST的校准言正书，USB数据线。 七 选配件① 蓝牙打印机——用于接收高级型主机传输的测量数据② 交流电源线——用于连续作业或电池充电（适用于任何国家）③ 标准板——满足ISO等标准要求④ 充电电池——eneloop AAA镍氢充电电池⑤ 用于保护液晶屏

一、 BOWMAN 分析仪器介绍美国博曼是全球涂镀层测厚和元素分析仪器的领军品牌。 博曼拥有超过 30 年的行业经验，并始终保持创新，致力于为市场提供精准、高效 和具有性价比的涂镀层检测设备。目前，博曼已在全球四大洲 20 多个国家建立销 售和服务网络，为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析解决方案。博曼中国在上海设有演示应用中心，备品备件库，并在深圳，杭州，西安设有办事处。可以为中国地区的客户提供极佳的镀层厚度检测方案及快速优质的售后服务。二 、 BOWMAN 产品介绍美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，博曼 XRF 系统搭载拥有自 主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素 厚度和成分。博曼 XRF 系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元 素可以是合金。 博曼 XRF 系统使用高端定制的微聚焦 X 射线管作为能量源，恒温的 Si-PIN 的二极管 作为探测器，然后通过多通道放大器对辐射光子进行分类和统计。最终，博曼 Xralizer 软件经过独特的算法来计算辐射光子的厚度，从而获得测量结果。 通过微焦点相机对准 X 射线光学轴线选择样品的测试区域。由聚焦激光控制的平台 能容纳不同高度的样品。 博曼 XRF 镀层测量系统满足业界对精度，可靠性和易用性的最严格要求。紧凑且符 合人体工程学的设计让应用分析变得更简便，更高效。博曼致力于通过提供合理的 价格和优质的产品满足用户的快速的投资回报。三、 Bowman 的产品优势1、卓越领先的 XRF 系统高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器，提高测量效率。 峰 位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。 紧凑式的几何结构，激发源到样品的距离只有其他同类机型的三分之一，有效提高测量 精度和工作效率。32、直观的用户界面先进的软件将为仪器的性能提供有力的支持 。 博曼镀层测厚仪的分析数据拥有强大的 软件作为支持，该软件将拥有直观的用户界面，操作简单友好。测量数据可通过批次号 进行检索，报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式，所有结果自动保存到电脑数据库，所 有用户级别都可以设置密码保护。3、广泛的镀层厚度测量范围博曼 XRF 镀层测厚仪 可对 13 号铝元素到 92 号铀元素进行高精度测量分析可分析单层镀层： Au， Ag， Ni， Cu， Sn， Zn 等合金镀层： ZnNi 合金， SnPb 合金等镀层厚度和成分比例同时分析双层镀层： Au/Ni/Cu， Sn/Ni/Cu， Cr/Ni/Fe 等4三层镀层： Au/Pd/Ni/Cu 等最多可分析 5 层镀层可同时分析 25 种元素成分可分析电镀溶液中的金属离子浓度可分析 ROHS 有害元素4、同类最佳的服务支持博曼为用户提供的 XRF 技术支持和服务享誉业界。目前，除美国芝加哥总部外，博曼已 在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供高质量的现 场技术支持服务，从而成就用户。因此，博曼拥有较高的用户回头率。在中国上海设有演示应用中心，培训中心及备品配件库，在深圳，杭州，西安设有办事 处。有能力为客户提供极佳的镀层厚度检测方案和快速优质的售后服务。