能量偏振射线仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

1．偏振片：通常是指将二向色性物质涂在透明薄片上制成的偏振片，此种偏振片损伤阈值较小，而且无法分离出p偏振光和s偏振光；A. OPSP系列偏振片偏振片(Plastic Sheet Polarizers)选型表：偏振片(Plastic Sheet Polarizers)型号名称尺寸(mm)通光孔径Ф0(mm)波长范围(nm)OPSP12.7偏振片Ф12.7*4mm8.9400-700OPSP25.4偏振片Ф25.4*4mm20.3400-700B. 偏振片（进口）1)偏光板示意图及尺寸图：相关说明： 1.把含有卤化银的玻璃融解，再经过热处理，延伸，研磨和还原工序而制成的偏光器件。其制作过程大致如 下:在热处理工序中沉淀出卤化银粒子，然后把玻璃加热到软化点附近并延伸，这样卤化银粒子就会变成 椭圆形，研磨后再进行氢还原，把卤化银粒子还原为银。 2.玻璃中的银椭圆粒子的长轴方向平行的电场被吸收，具有和其长轴垂直方向的电场的光通过。 3.透过方向：100W/cm2（CW）、6J/cm2、脉冲宽度13ns（脉冲）吸收方向：25W/cm2（CW）、0.1J/cm2、 脉冲宽度13ns（脉冲）有效尺寸（mm）8.5× 8.5PLC系列铬膜分束镜（SIGMA）选型表：型号保护框尺寸（mm）波长范围（nm）最小透过率（%）PLC-10-660ø 30× 6630~70083PLC-10-800ø 30× 6740~86091PLC-10-900ø 30× 6840~96094PLC-10-1060ø 30× 6960~116095PLC-10-1310ø 30× 61275~134598PLC-10-1550ø 30× 61510~1590982)薄膜偏光板示意图及曲线图：相关说明： 1.薄膜偏光板是一种薄膜滤光镜，此膜夹在两块玻璃中间，并安装在一个铝框内； 2.它不仅可以从一个非偏光中提取线偏光，而且，还可以象ND 滤光片一样用作光衰减器； 3.三种波长可选：紫外用（320～400nm）；可见光用（400～700nm）；近红外用（760～2000nm）； 4.使两块偏光板处于通光状态(开)，通过一束直线偏光{两块透过率(平行放置)} 使两块偏光板处于 不通光状态(关)，没有光通过{两块透过率(正交放置)}。我们称此时的透过率为消光比。薄膜偏光板（SIGMA）选型表:型号使用波长（nm）保护框尺寸（mm）厚度（mm）通光孔径（mm）防反射膜NSPFU-30C320~400Ф30× 62.4ø 24SLAR (双面)SPF-30C-32400~700Ф30× 63ø 24BMAR(双面)SPF-50C-32400~700Ф30× 63ø 44BMAR(双面)SPFN-30C-26760~2000Ф30× 63ø 24SLAR (双面) 3)塑料薄膜偏光板(进口)示意图及曲线图：塑料薄膜偏光板（SIGMA）选型表:型号设计波长（nm）D（mm）T（mm）USP-25.4C-38400~700ø 25.40.8USP-30C-38400~700ø 30.00.8USP-50C-38400~700ø 50.00.8USP-100C-38400~700ø 1000.8C. 超快激光用偏振片（进口）曲线图、示意图及相关参数： 选型表：

A. 激光波长偏振分光立方体:Narrow Band Polarizing Beamsplitter命名规则:OPBS边长-波长型号名称透射率TP反射率RS波长消光比边长OPBS10-488488nm偏振分光立方体＞95%＞99%488＞100:110mmOPBS20-488488nm偏振分光立方体＞95%＞99%488＞100:120mm OPBS10-514514nm偏振分光立方体＞95%＞99%514＞100:110mmOPBS20-514514nm偏振分光立方体＞95%＞99%514＞100:120mm OPBS10-532532nm偏振分光立方体＞95%＞99%532＞100:110mmOPBS20-532532nm偏振分光立方体＞95%＞99%532＞100:120mm OPBS10-632.8632.8nm偏振分光立方体＞95%＞99%632.8＞100:110mmOPBS20-632.8632.8nm偏振分光立方体＞95%＞99%632.8＞100:120mm OPBS10-10641064nm偏振分光立方体＞95%＞99%1064＞100:110mmOPBS20-10641064nm偏振分光立方体＞95%＞99%1064＞100:120mmB. 宽带偏振分光立方体 Broadband Polarizing Beamsplitter命名规则:OBPS边长-波长范围(取微米数)型号名称波长范围透射率TP反射率RS边长OBPS20-0406宽带偏振分光立方体450-680＞95%＞99%20OBPS20-0608宽带偏振分光立方体650-850＞95%＞99%20OBPS20-0912宽带偏振分光立方体900-1200＞95%＞99%20OBPS20-1215宽带偏振分光立方体1200-1550＞95%＞99%20

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。 产品简介：S2 POLAR仪器为台式偏振式能量色散X 射线荧光 (POLARIZED EDXRF) 光谱仪，采用了偏振激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备分析性能，特别是油品之类轻基体样品中的S, Cl, Si, Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等元素有着优异的分析效果和检测限。S2 POLAR针对油品等轻基体油品，通过偏振方式增强其功能，符合ASTM D6481 ASTM D7751 ASTM D7220 ISO 13032 ASTM D4294 ISO 20847 ISO 8754 IP 336, 496, 532 JIS K2541-4和GB/T 11140等诸多国内外标准，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，可适用于包括现场检测等各种应用场合。 S2 POLAR• 通过偏振激发和检测设计实现优异的灵敏度和检出限• 仪器可预置油中硫，油中氯以及润滑油中Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等诸多元素的曲线• SampleCare保护系统，最大程度确保核心部件安全性，不受液体影响• 确保X 射线安全• 完全的数据可追溯性• 符合法规• 全球在线支持• 高度灵活的分析工具，可适用于现场检测需求 S2 POLAR 光谱仪可以处理类型广泛的样品，包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片，重量从几毫克到更大的实体样品不等。

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：&le 1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：&phi 10-&phi 140mm，厚度&le 16mm 偏振器方位角范围：0° - 180° 读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：± 1nm和± 0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20° - 90° 精度为0.05° 主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

一,Tydex太赫兹线栅偏振片一,Tydex太赫兹线栅偏振片对于RF和THz范围，我们生产线栅偏振器，用于极化150μm至数cm波长范围内的辐射。它们由11μm厚的平行钨丝制成，安装在无衬底的支架中。Tydex太赫兹线栅偏振片,Tydex太赫兹线栅偏振片通用参数特征：&bull 能够承受高能量的入射辐射；&bull 由于没有衬底提供所需极化的高透射率；&bull 提供高度极化；&bull 由钨丝制成；&bull 安装在支架上（标有电线方向的保护环）。线栅偏振器相对于聚丙烯栅极偏振器的优势：&bull 由于没有衬底，因此可以更好地传输所需的极化；&bull 能承受高强度辐射。应用：&bull 太赫兹光谱学；&bull THz显微镜；&bull 传感器和探测器；&bull 傅里叶光谱学；&bull THz和SHF旋光法。规格：波长范围，μm≥ 150支架直径，mm≤ 152通光孔径，mm≤136所需偏振光透射率K1,%＞92 非所需偏振的透射率K2,%＜0.1消光系数Е=10*Log(K1/K2),dB＞30图1消光系数，dB图2.非期望极化的传输，%图3期望极化的传输率，%偏振器是在圆形（2-6英寸直径）支架中提供的。2英寸偏振片的工作孔径为36毫米，6英寸偏振片为136毫米。二 ,太赫兹线栅偏振片/偏振器THz wire grid polarizer (钨丝直径 5/10um)这些线栅太赫兹偏振片是由5um直径的钨丝制成，线间距可以缩短至12.5um， 适用于短波50 um（0.05-6THz）至更高的波长。 下面的表格中是我们所能提供的标准线栅太赫兹偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。10um直径的钨丝制成线栅太赫兹偏振片，线间距可以缩短至25um， 适用于短波100 um（0.05-3THz）至更高的波长。 下面的表格中是我们所能提供的标准线栅太赫兹偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。太赫兹线栅偏振片/偏振器THz wire grid polarizer (钨丝直径 5/10um),太赫兹线栅偏振片/偏振器THz wire grid polarizer (钨丝直径 5/10um)通用参数5 um线栅太赫兹偏振片 （5um直径的钨丝制成，0.1-6THz）刻痕表示透射光的偏振轴。线间距12.5um太赫兹偏振片：型号外径尺寸mm通光孔径mm厚度mm框架材料PW005-012-02525147电镀铝PW005-012-050503410电镀铝PW005-012-075755610电镀铝PW005-012-1001008012电镀铝PW005-012-15015012412电镀铝线间距16um太赫兹偏振片：型号外径尺寸mm通光孔径mm厚度mm框架材料PW005-016-02525147电镀铝PW005-016-050503410电镀铝PW005-016-075755610电镀铝PW005-016-1001008012电镀铝PW005-016-15015012412电镀铝线间距22um太赫兹偏振片：型号外径尺寸mm通光孔径mm厚度mm框架材料PW005-022-02525147电镀铝PW005-022-050503410电镀铝PW005-022-075755610电镀铝PW005-022-1001008012电镀铝PW005-022-15015012412电镀铝三,太赫兹线栅偏振片THz wire grid polarizer产品类型：1、5 um线栅偏振片 （5um直径的钨丝制成，高频至6THz/50um）这些线栅偏振片是由5um直径的钨丝制成，线间距可以缩短至12.5um，适用于短波50 um（6THz）至更高的波长。下面的表格中是我们所能提供的标准线栅偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。2、10 um线栅偏振片 （10um直径的钨丝制成，高频至3THz/100um）这些线栅偏振片是由10um直径的钨丝制成，线间距可以缩短至25um，适用于短波100 um（3THz）至更高的波长。下面的表格中是我们所能提供的标准线栅偏振片的规格（包括通光孔径、尺寸等）。

尾纤型偏振无关隔离器≤30W掺Yb:光纤激光器优点：● 牢固耐用● 极小的光束变形可实现清晰的打标效果特点：● 主要元件具有极低的反射损耗● 对返回光的控制和散热处理，确保了隔离器在高热下工作的稳定性● 标准铠装光缆保护● 美国专利7，306，376，其他专利申请中规格a产品30W偏振无光纤隔离器光纤类型b联系我们最大平均功率(W)30中心波长(nm)1065 ± 15M2 损耗(%)10标准光束输出直径 (1/e2,mm)c7.5 ± 1.5插入损耗(dB)0.5反向隔离度 (10-50°C) (dB)20反向隔离度 (23°C) (dB)28回波损耗(dB)-50反向功率≤15W for 30 sec. max.最大脉冲能量(mJ)1工作温度(°C)10-50储存温度(°C)0-60储存湿度，无冷凝(5%)10-90a:规格根据产品不同有所差异。b:标准光纤/保护层长2.5m，装在2m长的铠装电缆里，如有对光纤有其他要求请告诉我们。c:根据需求不同，有3、5和10mm光束直径可选。 a:以上单位均为公制。b:上图以7.5mm1/e2光束直径为例，3和5mm光束直径的更短一些。

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

真空X射线荧光光谱仪A-550能够分析的元素范围从Na到U之间。通过配置了真空测试系统，增加了元素测试范围。同时配备了SDD探测器，对于各元素进行检测，减少元素间干扰。XRF光谱仪在对应不同的领域，又被称为：合金分析仪，矿石分析仪，水泥分析仪，土壤分析仪，贵金属分析仪，镀层分析仪，rohs分析仪等名字。应用领域：1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 （特别是轻元素） 锌铝合金成分分析、铝合金成分分析、铜合金牌号判定、成分分析、不锈钢成分分析。3 .镀层成分分析4.包装指令检测标准（94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 ＜1005.玩具指令检测标准6.矿石元素含量分析7.土壤及固废元素分析8.煤灰、石灰石、水泥、有色金属分析工作条件：● 工作温度：15-30℃ ● 相对湿度：40%～70% ● 电 源：AC :220V ±5V、技术性能及指标:1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；3. 测量时间：100-300秒(可调)；4. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 5. 能量分辨率为129±5电子伏特；6. 温度适应范围为15℃至30℃；7.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；产品特点1.A-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰2.整体结构化设计，仪器美观大方。3.采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。4.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。6.七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。7.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。8.优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。10.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。11.专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。12.本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。13.独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。14.一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 仪器硬件部分主要配置SDD电制冷探测器分辨率：145±5e电子伏特放大电路模块:对样品特征X射线进行探测，把探测采集的信息,进一步放大X射线激发装置: 灯丝电流输出MAX：1mA；属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时高压发射装置:电压输出MAX： 50KV；电压输出MIN: 5KV，可控调节自带电压过载保护一体化真空系统：具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；几何抽速：60 L/min（50Hz）压力：6.7×10-2 Pa数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；道数MAX： 4096；包含信号增强处理功能；光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；将准直器与滤光处整合；准直器自动切换模块多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。滤光片自动切换模块五种滤光片的自由选择和切换。准直器和滤光片的自由组合模块多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。工作曲线自动选择模块自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化。演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 专用软件针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作软件界面如下图所示：※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 样品配置 标准样品用于制作工作曲线样品腔 开放式大样品腔：610mm×320mm×100×半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 产品保修及售后服务 1 对客户方操作人员免费进行培训。2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。5免费提供软件升级。6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

3D全偏振X荧光多元素分析仪技术指标产品名称：3D全偏振X荧光多元素分析仪产 地：美国型 号：NEX CG II厂家名称：美国理学公司分析标准：符合汽油铁、锰、铅新国标NB/SH/T 6043-2021,ASTM D7220, D4294, GB/T 17040检测元素：11钠～92铀石化行业油品经典元素检测下限（实测值）： 硅Si磷P硫S氯Cl锰Mn铁Fe铅Pb1.1ppm0.8ppm0.5ppm0.4ppm0.9ppm0.7ppm0.7ppm样 品 量：5ml标准校正：康普顿散射C/H比校正X射线管：Pd钯靶，最高电压50kV, 最大功率50W偏振单色器：配置5个偏振单色器，对应于不同应用，以获得最佳的样品激发。核心结构：X光管-偏振靶/二次靶-样品-检测器的位置摆放采用Cartesian笛卡尔三维立体结构，最大程度较少背景。检 测 器：硅漂移检测器(SDD)，帕尔贴电子制冷进 样 器：15位自动样品转盘数据输出：USB及以太Ethernet网线输出环境温度：18 ~ 28°C (65 ~ 82℉)相对湿度：小于75%，仪器外表及内部无凝结水其他要求：人类感受不到的振动，无腐蚀性气体、粉尘和颗粒物电 源：AC，200 ~ 240V, 1.6A (50/60Hz)尺 寸：463 x 492 x 382 mm (宽x深x高)分析仪特点:理学公司是一个具有60多年X射线仪器生产历史的专业公司，在中国已有数千台套的X射线分析检测仪器在高效地使用中。为适应不断变化的石化分析市场，理学美国工厂推出了一系列高性能，高性价比，坚固耐用的X射线荧光分析仪。使之成为国内油品分析领域行业翘楚。1. 最优化的几何设计，使X射线光程最大程度缩短，减少损耗。2. 提供固化的控制样品，方便QC控制。3. 根据需求提供标准样品。 4. 外形小巧，可放置于任何实验室, 方便转运及非安装地的异地使用。5. 优异的C/H校准可用于补偿不同类型的油所导致的校准错误。6. 在检测器与样品架之间设置有一个可轻松更换的塑料膜，能够在泄露或溢出的情况下保护仪器。7. 无接触，无裁剪的样品杯膜，线性好、维护量超低。8. 未来使用过程中如遇到重要部件维修（如X光源、高压电源等），可在中国境内完成部件更换及维修，无需返厂处理。9. 备有以太网RJ-45插孔和USB端口用于输出到LIMS或U盘，数据以CSV或PDF格式提供。

相比较平片分光平片而言，分光棱镜的反射及透射光是等光程的，并且不会存在光束平移，鬼像以及干涉的困扰。偏振分 光棱镜通常用于需要将入射光中的 S 偏振光和 P 偏振光分离的应用场合，同时也可用来作为起偏元件使用。其中入射光的 P 分量完全透过，而入射光中 S 分量则以垂直 90°的方向被反射。其 S 光和 P 光的分离程度用消光比 (TP/TS) 来界定。由 于分光膜采用全介质膜层，因而基本不存在光能量吸收的问题。

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

产品详情X射线荧光分析法的原理特点 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等有设计感的外观460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身，拥有可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。 识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。 “初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi 为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。 简洁的界面 在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器 可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。同时，选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像 测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。 测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。 使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）同样适用于连续分析PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。良好的分析性能采用高性能的SDD检测器，确保硬件良好，具有高灵敏度高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-高性能的SDD检测器与光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。高速 –分析速度可提高10倍-SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到较大限度的发挥。测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系实际样品的比较分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 满足分析精度所需的检测时间 X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。高分辨率 能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。检测元素范围 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。 用EDX-8100检测氟元素的分析结果 EDX-8000/8100进行超轻元素分析EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。 优良的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。4种准直器以及CCD样品观察装置 选择1mmΦ准直器 1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换 根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。 标配CCD样品观察装置 通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。 选择5mmΦ准直器时，使用微量样品容器 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-7000/8000/8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。滤光片有效能量(KeV)对应元素示例#1 15～24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd#2 2～5 Cl, Cr#3 5～7 Cr#4 5～13 Hg, Pb, Br#5 21～24（5～13）* Cd (Hg, Pb, Br)*使用滤光片后，（）中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 &bull 分析只需4 Step！&bull 遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准&bull 以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理&bull 通过X射线荧光可以实现对杂质的分析 分析只需4 Step！主要特长遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。&bull 安全功能&bull 用户管理功能&bull 操作日志，逐位跟踪日志的生成功能&bull PDF生成功能&bull 验证功能安全功能通过ID/密码进行用户认证，对具有权限的用户开放操作履历记录、界面锁定等功能。逐位跟踪日志的生成功能可以生成分析装置设定更改履历和用户的操作履历等跟踪日志。以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理，因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。使用EDX-7000/8000/8100，轻松实现对医药品中的金属进行分析 如图所示，制成添加了Pt的纤维素粉末标准样品，在0～20ppm的范围内形成6点工作曲线。样品量仅为100mg，平均1样品测定20分钟，就可如下表得到良好的标准偏差（RMS）和直线性，从而实现高正确度的分析。元素濃度範囲(ppm)RMS(ppm)相関係数Pt0-200.250.9993 混入Pt和As的纤维素粉末样品的EDX光谱

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

许多视觉系统都试图克服玻璃、塑料和金属等反光表面产生的动态或多余光线、反射、朦胧和眩光影响。Blackfly S 机器视觉摄像头具有 Sony 的传感器偏振和 Spinnaker SDK 内置的防眩光功能，提供便于实施、轻量化且可靠的解决方案，以应对这种充满挑战的情况。 Blackfly S 摄像头对曝光、增益、白平衡和颜色校正进行精确动态控制，以传感器偏振方式在单帧图像中从四个角度捕获光线，可显著降低系统复杂度和应用设计。当前的系统依靠偏光分束镜后的多摄像头和滤光器，或配备一个旋转滤光器或一个非常复杂、慢速旋转的大滤光轮的单摄像头。通过同时传感整个传感器的所有偏振光的角度和强度，配备偏振传感器的Blackfly S 摄像头与现有的解决方案相比，增加了速度，减小了体积、复杂度和耗电量。支持的摄像头型号Blackfly S GigE 摄像头，带传感器偏振BFS-PGE-123S6P-C：1230 万像素，10 FPS，Sony IMX253MZR，偏振BFS-PGE-51S5P-C：500 万像素，24 FPS，Sony IMX250MZR，偏振－单色BFS-PGE-51S5PC-C：500 万像素，24 FPS，Sony IMX250MYR，偏振－RGB Blackfly S USB3 摄像头，带传感器偏振 BFS-U3-51S5PC-C：500 万像素，75 FPS，Sony IMX250MYR，偏振－RGB BFS-U3-51S5P-C：500 万像素，75 FPS，Sony IMX250MZR，偏振－单色产品特性 超高性价比 GenIcam通用协议，对软件和外围设备具良好兼容性，简化开发工作。超紧凑的金属外壳，29 x 29 x 30 mm，36 g 240MB超高帧缓存，确保数据传输稳定性 供电范围宽（8-24V），避免电压不稳造成的烧机现象 产品应用01：去强反光应用 去除物体表面的强反光是偏振相机的典型应用之一。在工业现场，通常需要对待测物进行打光处理，待测物表面会经常会出现如图1左图的强反光现象，在图像上呈现为过曝现象，影响待测物体的检测识别。偏振相机通过计算数据信息中的偏振分量强度后，从pixel级别上去“减除”偏振信息，最终输出如图1右图中的非过曝光图像。该应用不仅在工业现场有实际需求，在智能交通领域，由于前挡玻璃的强光反射，相机很难看清车内的乘员信息如图2左，通过偏振相机内部处理滤除偏振信息后，车内情况清晰的被捕捉到如图2右。 图1左工业现场去强反光应用 图1右工业现场去强反光应用 图2左智能交通去强反光应用 图2右智能交通去强反光应用02：检测物体表面缺陷 表面缺陷检测是工业现场常见的检测之一，传统的方式都采用了基于黑白亮度的检测方式，如图3左图，通过图像上的亮度成像差异，来判断手机膜上是否存在划痕。这种检测方式对光源的角度依赖性高，检测一个被测物体，往往需要多角度打光，多次拍摄，现场检测效率不高。图3右图是采用偏振相机输出的DOP信息成像得到的图像，DOP信息相对表面缺陷表现出了非常高的灵敏度，采用DOP信息去检测表面缺陷，可以减少系统复杂度，提高检测效率。 图 3左表面缺陷检测 图 3右表面缺陷检测03：检测不同材质物体 不同材质的物体，对偏振光的响应（反射强度以及电场方向角度变化）会存在差异，在一些基于灰度或者彩色相机无法区分的场合，偏振相机也许是解决问题的选择。如图4所示，丛林中的一辆车和环境比较相似，采用传统不易区分，而通过偏振相机输出的AOP信息，车辆信息被凸显出来，这在搜救设备上会有很大的意义。 图 4 丛林中的车04：透明物体内部应力 偏振相机另一个特别的应用是检测透明物体内部应力。被测物内部应力的均匀性，会影响透过被测物的偏振光，通过偏振相机输出的DOP或者AOP信息，可以将内部应力分布可视化。如图5所示，b图是基于亮度相机拍摄图像，a图是偏振相机的AOP信息，清晰的反应了直尺内部应力的分布情况。 图5 直尺内部应力图 偏振相机在早期只出现在实验室设备中，基于SONY新技术的偏振相机，将这种技术从实验室带到了工业现场。它的应用远远不止前面提到的几种，其它的应用比如导航，水下拍摄，去雾霾拍摄等等。 技术参数

X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等

深圳因诺尔科技有限公司是美国CVI Laser Optics在中国区的一级代理。产品有：棱镜、偏振片、分束镜、非球面透镜、光窗反射镜、滤波片、波片、红外光波片、激光线超快元件球形透镜、圆柱形透镜、多组元镜片反射镜反射镜用于光束，对准和采样，以及激光产品内。激光镜反射镜所需的性能：低散射，优异的表面形状，高激光损伤阈值和可靠性。该反射镜为现成的每种典型激光应用提供镜子，包括涂在平面和弯曲基板上的部分和高反射镜，用于单，双或宽带波长。多样化的涂层技术可实现190 - 2000 nm波长的性能，包括电子束电介质，离子束溅射，高密度铝，银和金，以及高反射MAXBRIte™ 宽带镜面涂层。也可以使用不同形状的空白基板。球面透镜球面透镜可用于光束聚焦，形成图像，以及准直或扩展光束。CVI Laser Optics的球面透镜造具有高表面质量和精度的镜片，并且在提供高激光损伤阈值光学器件。柱面透镜柱面透镜在单个维度上会聚或扩展光以改变图像的比例，将光束聚焦到细线或产生线输出。 除定制镜头外，还提供N-BK7和UV级熔融石英的平凸和平凹柱面镜片。 柱面透镜采用低楔形，高表面精度和质量制造，以及高激光损伤阈值，矩形，方形和圆柱形镜片可通过现成的解决方案满足大多数需求。波片波片和偏振旋转器使用双折射来转换，控制或分析光的偏振态。 CVI的高能石英延迟器产品目录包括90°偏振旋转器，多阶和复合零级波片，以及Nd：YAG双波长选项，均具有高精度延迟。 这些是标准的和半定制的，适用于193 - 1550 nm的波长。半定制波片可选择零级或多级，波长，直径，延迟以及环形或空气间隔安装。 为特定应用选择合适的波延迟器可能具有挑战性，多组元透镜当多组元透镜由于像差或波前畸变而不能满足所需的光学功能时，或者当需要更复杂的光学变换时，例如光束尺寸调整，则使用多组元透镜。 该多组元透镜系列提供优化的光束质量和紧密焦点，通常具有接近衍射的有限性能。 并有广泛的焦距和孔径选择，具有各种设计波长和校正，以及高能量选项，可在UV至NIR范围内提供各种准直，聚焦和成像应用。滤波片CVI Laser Optics传输滤波器包括具有高吞吐量和阻塞的激光线路，二极管和极化带通滤波器，以及更经济的干涉滤波器。 当需要边缘滤波片时，有多种选择，从彩色玻璃和基本的长波和短波通滤波器到用于拉曼应用的超陡长波通滤波器。 CVI还了解如何使用陷波滤波器在单波长上阻挡光线，在带有彩色玻璃滤光片的条带上，或在宽波长范围内使用吸收性和高能量中性密度滤光片。 甚至还有分光光度计校准滤光片。

原理特点玻尔模型所描述的电子轨道和X射线荧光产生的原理X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。满足不同领域的应用■ 电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等的各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件成分分析及镀层厚度、涂层附着量的检测■ 钢铁有色金属 原材料、合金、锡焊、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、溶入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等追求高速・ 高灵敏度・ 高精度的机型高速 — 计数量高达到30倍 —搭载高速电路，计数量高达以往型号（EDX-720）的30倍。通过改良算法和升级基本性能，缩短了测定时间， 进一步提高了操作便捷性。铜合金中的铅（Pb）的谱图比较铜合金中的铬（Cr）的谱图比较实际样品的比较分别用以往型号（EDX-720）和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅（Pb）进行分析，比较其重现性。测定时间与标准偏差（定量值的偏差）的关系满足目标分析精度所需的测定时间X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度（重现性）。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号（EDX-720）相比，能够在更短的时间内达到目标分 析精度。高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —提高了金属分析中微量元素的检测下限。金属中的铅的检测下限基准（300秒）※ 检测下限值仅为示例，并非保证值。高分辨率能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号（EDX-720）相比， 能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减少，分析结果更加可靠。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业，还可以降低运行成本。检测元素范围 ・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时，推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件）。・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时，由于薄膜吸收的原因，难以达到上述检测下限基准。卓越的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台（选购件）。4种准直器以及样品观察装置ø 1、3、5、10mm 四级自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø 1mm，少量样品时采用ø 3mm和 ø 5mm，可以根据样品的形状选择适合的照射直径。标配样品观察装置通过样品观察装置，可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线，从而提升检测灵敏度，尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实 现软件操控自动切换。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，可自由组合，共6×4种=24种组合可选。 同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 真空检测单元（选购件）由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收，所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。真空环境为100时，氦气置换和大气环境下的相对灵敏度真空环境和大气环境的分析结果比较（样品：钠钙玻璃）氦气置换检测单元（选购件）对于无法在真空环境下进行分析的样品（如液体、会产生气体等），可以通过氦气置换实现轻元素分析。升级了岛津特有的氦气置换系统（日本专利：「特许」No.5962855），且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。氦气置换和大气环境下的谱图比较（EDX-7200/油中硫） 12位样品转台（选购件）配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空氦气 环境下可实现高通量，从而显著提高检测效率。丰富的分析功能校准曲线法校准曲线法是指通过对标准样品的测定，依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线，是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线，从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。 FP法根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品，FP法是有效的定量 分析方法。配置自动设定平衡功能样品主要成分为C,H,O等时，FP法需要进行平衡（残 余成分）设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时， 软件将自动进行。 背景FP法背景FP法指在仅计算X射线荧光（净峰）强度的传统FP法基 础上，增加计算散射X射线（背景）强度的方法。（日本 专利：「特许」No.5975181）在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。 薄膜FP法标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。 匹配功能匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较，按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。谱库分为含量数据和强度数据两类，用户均可登录。 同时，含量数据更可手动直接录入。匹配结果具有设计感的外观460MM宽的紧凑机身，配置大型样品室460mm宽的紧凑机身，与以往型号（EDX-720）相比，宽度减少了20%。虽然机身紧凑，但却拥有可放置300（W）×275（D）×约100（H）mm样品（相当于A4大小）的大型样品室。识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面，无论是初学者还是专家，都可以体验到便捷的操作环境。简洁的界面在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。

偏振光纤（偏振起偏光纤）所属类别： ? 光纤/光纤器件 ? 特种光纤/光子晶体光纤 产品简介 偏振光纤（780nm—1550nm） 高性价比偏振光纤和起偏器！ 偏振光纤（Polarizing fiber,即PZ 光纤）是一种特殊光纤，即在光纤中只能传播一种偏振态的光。通常偏振光纤（PZ）都是通过特殊的设计结构（如化蝶结型）来产生较高的双折射效应，这种双折射效应会使特定偏振方向的光沿着光纤传播，而其他偏振方向的光则会受到较高的光学损耗，迅速衰减。 偏振光纤、PZ fiber、PZ、单偏振光纤、蝴蝶结型偏振光纤、熊猫型偏振光纤、偏振控制器、起偏光纤、Polarizing fiber偏振光纤（Polarizing fiber）是一种特殊的光纤，类似于偏振起偏器，在这种光纤中有且只能使一种偏振态的光通过，其他偏振态的光则在较高的消光比（30dB）作用下迅速消失。PZ光纤是通过一个特殊的结构设计（蝴蝶结型、老虎型）产生较高的双折射效应进而产生较高的消光比引起其他偏振态的光迅速消失。此外，偏振光纤(PZ）在不同的波长处都具有较宽的偏振带宽（100nm）、高消光比（30dB）和低衰减特性，且偏振带宽及消光比可以通过盘卷PZ光纤线圈直径的大小进行调节（称为光纤排布）。当PZ线圈直径变小时其偏振带宽也会随之变窄，并向低波长方向偏移。偏振带宽定义为快轴20dB与慢轴3dB之间的波长范围。与线偏振不同，基于偏振光纤（PZ）的起偏器是一个全光纤方案，能够提供优越的消光比、低衰减和良好的温度稳定性。 主要特点：l 老虎型（Tiger）设计结构 l 偏振带宽： 100nm l 高消光比：30dB l 设计波长(nm)：780、840、1060、1310、1550 主要应用：u 光纤陀螺仪；u 光纤激光器；u 线偏振器；u 相干通信；u 冷原子实验；u 光纤电流传感器； 图1、偏振光纤（PZ）工作原理及偏振带宽示意图 图2、偏振偏光纤应用于冷原子项目示意图 图2、光纤陀螺仪组件和光纤电流传感器应用 如您有需求或想要进一步了解抗辐射光纤（Rad Hard fiber）,请登录上海昊量光电设备有限公司，拨打电话：或！ 分享到 : 人人网 腾讯微博 新浪微博 搜狐微博 网易微博 相关产品 空间光-单模光纤耦合稳定系统 超宽带起偏器(消色差偏振片) 光子晶体光纤/微结构光纤(PCF） 陀螺专用保偏光纤 径向偏振转换器/径向偏振片/径向偏振器

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点 （注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

一, 2μm–12μm宽带红外偏振器一, 2μm–12μm宽带红外偏振器Microphotons独te的宽带红外偏振器采用两个精确抛光的锗板在布鲁斯特的角度在“雪佛龙”方向。低偏差，10秒，具有很高的消光和透射率。Cell长度，2.2“。另请参见下面的ShortCell红外偏振器。2μm–12μm宽带红外偏振器,2μm–12μm宽带红外偏振器产品特点● 宽波段范围● 高透射率● 大承受功率产品应用● 中红外光束传输(QCL, OPO)● 非线性应用● 超连续谱技术参数PN#口径透射率功率密度Extinction of Crossed PairMIR-P-44 mm≥98%100 MW/cm22×105MIR-P-55 mm≥98%100 MW/cm22×105备注：MIR-P-4: 15 mm直径 x 36 mm长MIR-P-5: 1-inch long x 2.2 inches long二,3μm–11μm短腔红外偏振器二,3μm–11μm短腔红外偏振器Microphotons的短腔红外偏振器是在短封装长度很重要的情况下使用的。由于线栅偏振器的精密性，我们对安装单元进行了改进，使超精密的栅极涂层免受外部接触，腔厚12毫米。3μm–11μm短腔红外偏振器,3μm–11μm短腔红外偏振器产品特点● 宽波段范围● 高透射率● 大承受功率产品应用● 中红外光束传输(QCL, OPO)● 非线性应用● 超连续谱技术参数PN#口径透射率功率密度工作波段Extinction of Crossed PairMIR-SP-55 mm≥70%100 MW/cm23-11um100:1波长与透射率关系图三,硅基红外偏振器（3-5µ m）以及硅基红外偏振器（1.5-5µ m）三,硅基红外偏振器（3-5µ m）当订购该产品时，请注意，可能需要很长的交付周期(长达16周)。库存: POL-3-5-SI-25类别:红外偏振器标签:硅批量折扣适用于购买5件或以上产品硅基红外偏振器（3-5µ m）,硅基红外偏振器（3-5µ m）技术参数光谱范围3-5 µ m平均透射率93%平均对比度 2,000:1入射角0 ± 20°光学涂层高效抗反射涂层透射方向± 2°可用外径25.4 mm, 38.1 mm, 50.8 mm通光孔径15.4 mm, 25.4 mm, 38.1 mm最高温度200 °C基片材料硅 当订购该产品时，请注意，可能需要很长的交付周期(长达16周)。窗体顶端窗体底端库存: POL-3-5-SI-25类别:红外偏振器标签:硅 批量折扣适用于购买5件或以上产品

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义