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能量偏振射线仪

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能量偏振射线仪相关的资讯

  • 偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS在拉链行业的应用
    相关法规背景 REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管内容不断更新,仅2015年就将有(EU) No 474/2014、(EU) No 1272/2013等四个修订案生效,涉及十多种消费产品,同时欧盟对消费品符合REACH法规的执行监管也不断强化,出口企业应引起重视和关注。 REACH法规与消费品密切相关的主要是法规附件XVII,附件中对消费品中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制,中国消费品因不符合欧盟REACH法规被各成员国海关拒绝进口或责令召回的通报近年来不断增长,已成为我国消费品出口的重要技术壁垒。根据欧盟非食用消费品快速通报系统(RAPEX)的公开数据统计,2014年我国出口欧盟的消费品因不符合REACH法规被通报高达301起,同比上年增长91.7%,其中涉及增塑剂的达180起,涉及重金属的97起。从产品类别来看,针对玩具及儿童用品的通报260起,同比增长111.4%,针对一般消费品的41起,同比增长4.9%。通报数据的快速增长一方面表明,欧盟对于REACH法规的执行监管日趋严格,另一方面也说明,我国输欧消费品在DEHP等禁用化学品的控制上存在较大不足,企业的风险防范意识有待进一步强化。 XEPOS如何帮助拉链行业有效应对欧盟REACH法规 拉链作为服装大类,配件分类,REACH法规对其中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制。一般而言,人们尤其关注里面含有的各种重金属元素,尤其应用于儿童服装类的拉链,拉链中的铅(Pb)含量更是有着更严格要求。随着企业风险防范意识的强化,不少企业都纷纷购置各种精密分析仪器对产品质量进行监控,以应对相关行业法规。但拉链企业对拉链重金属含量的日常监控中往往会遇到如下问题:(1) 检测时间长,效率低下,影响生产(2) 检测人才的培养成本高(3) 检测结果偏差大,达不到内控要求(4) 送检成本高 SPECTRO XEPOS 台式偏振X射线荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器,能很好有效地解决上述拉链行业质量监控中所遇到的困惑。在日常的重金属检测中,斯派克台式偏振X射线荧光光谱仪XEPOS有着无与伦比的巨大优势。(1)3-5分钟内可以完成一个样品的检测,检测元素范围:Na-U;(2)操作简单,并不需要十分专业的技术人员操作,节约人力成本;(3)无损检测,无须进行样品前处理,轻松解决样品前处理复杂、耗时、危险等问题。(4)检测下限极低,在某些材质检测方面,偏振式X射线荧光光谱仪(简称ED(P)XRF)灵敏度和检测限都是普通X射线荧光光谱仪(EDXRF)的5-10倍;(5)性能大幅度领先于普通X射线荧光光谱仪。无论是对轻元素还是重金属元素,偏振式X射线荧光光谱仪XEPOS皆有优秀的测试能力。普通的EDXRF虽然也能宣称可以达到Na-U的分析能力,如Na的检测限指标一般是3000ppm,常见重金属为10-30ppm,所以对于某些痕量元素的测试应用意义不大。而偏振ED(P)XRF的元素检测限一般为:Na:100ppm Mg:30ppm Al:30ppm Si:2ppm S:0.6ppm等其的重金属元素检测限一般为(以GB15618-1995,和美国EPA标准为例,硅基,300s测试时间):V:0.6ppm Cr:0.5ppm As:0.7ppm Cu:0.6ppm Cd:0.3ppm Sb:0.7ppm Hg:0.3ppm Pb:0.3ppm La:2.1ppm Ce:2.5ppm Pr:3ppm Nd:4ppm(6)仪器性能认同度高,不少检测单位都有该设备,如中国CQC,TUV实验室,深圳计量院,广州分析测试中心,广东省环保局。企业在有仪器自检的情况下,可以减少甚至无须对样品送第三方检测,降低企业经营成本。 另外,SPECTRO XEPOS可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS,在氦气保护状态下,在300秒钟之内,对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7μg/g以上。 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。XEPOS型X射线荧光光谱仪真正做到高性能,多功能,一机多用,是企业单位添置精密仪器的,提升自身综合能力的一个不错选择。
  • 美宇航局筹划更先进的望远镜——X射线成像偏振探测器
    美国宇航局预计在2017年初宣布概念研究方案,航天器的科学仪器预算为1.25亿美元  据腾讯太空(罗辑/编译):在地球轨道上,美国宇航局所管辖的空间望远镜是全球最多的,性能也最为先进,几乎覆盖了所有的观测波段。2018年,美国宇航局将发射迄今最先进的空间望远镜,詹姆斯-韦伯望远镜,这是一具红外线天文台。不过,美国宇航局又在筹划一种更先进的望远镜,主要工作波段为X射线,被命名为X射线成像偏振探测器,目前已经入围了三个方案,预计在2020年底会发射升空,将作为X射线天文学观测上的主力。  目前入围的三个方案都是目前X射线观测上的顶尖水平,比如来自加利福尼亚技术研究所的SPHEREX望远镜,美国宇航局马歇尔太空飞行中心提出的IXPE计划,以及美国宇航局戈达德太空飞行中心的PRAXyS方案。每个科学小组会获得100万美元的资金支持,美国宇航局也会进行为期11个月的任务概念研究。预计在2017年初宣布概念研究方案,航天器的科学仪器预算为1.25亿美元,并安排了5000万美元的发射费用。  IXPE和PRAXyS这两个方案主要目标是个宇宙中高能事件,比如恒星工厂和恒星死亡后的情景,这些过程可产生强大的X射线信号。此外,科学家还希望收集黑洞周围的X射线信号,超致密的中子星、恒星爆炸、遥远星系中央内核的X射线信号等。IXPE采用X射线偏振技术,可以对中子星、脉冲星星云、恒星、黑洞等主要宇宙天体进行研究,符合美国宇航局的任务要求。  PRAXyS方案则使用了一种不同的方法来研究X射线天文学,PRAXyS任务的首席研究员基思认为PRAXyS方案类似于GEMS引力与极端磁场研究项目,后者在2012年被美国宇航局取消。SPHEREX任务概念将对天空进行全面扫描,时间至少持续两年,还可以观测宇宙中的引力波。此外,SPHEREX任务还可以对一些恒星系统演化的早期阶段进行研究,比如冰是否存在于恒星周围。
  • 黑洞追踪者:伽马暴偏振探测仪
    在宇宙深处,像黑洞这样的神秘天体一直吸引着大量的天文学家和天文爱好者的目光,但是目前能够很好观测这种星体的手段并不多。  而天宫二号空间实验室携带的一台天文观测设备,就有可能在这一领域获得突破,它就是伽马暴偏振探测仪。  这台设备叫做伽马射线暴偏振探测仪,它的任务是对宇宙当中的伽马射线暴进行探测。在宇宙中,只有温度极高、密度极高、磁场极强的星体里,才可能产生这种射线,因此它的存在可能就是黑洞留下的痕迹。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:因为伽马射线暴,伽马射线的产生,是从极端相对论性的喷流里面产生的,这种极端相对论性的喷流,它的速度接近光速,这是在黑洞附近,或者是在中子星附近,极端的引力场里面所产生出来的。  在过去,对伽马射线的测量只能测到它的能量,方向,和时间等信息,但是这一次,天宫二号要从全新的领域来探寻这种宇宙中的神秘射线,这就是伽马射线的偏振信息。那么什么是偏振呢?这其实是电磁波,也就是光的一种特性。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:如果我们到海边,我们看到海面,白茫茫的一片,因为从海面来的这种光的偏振的,如果戴上偏振的镜子之后,我们就能够看到海面上的波浪,看得比较清楚。  同样伽马射线的偏振特性里,也记录了产生它的星体的结构甚至磁场的形态信息。解读这些信息,很可能让我们对黑洞有新的认识。所以天宫二号携带的这台伽马射线偏振探测仪就是要以独特的设计,对伽马暴的偏振性质进行系统性地高精度测量,填补这个国际天文研究的空白。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:它是一种特殊的天文望远镜,它实际上是由1600个,对伽马射线光子敏感的器件组成的,通过分析伽马射线在这1600个敏感器件上的信号分布,我们最终来推算伽马射线的偏振性质。  为了打造这个探索宇宙秘密的特殊望远镜,来自瑞士和波兰的科学家也参与到了它的研制当中,这也成了天宫二号上所携带的唯一一台国际合作的科学设备,因此,全世界的科学家都在对这次任务充满期待。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:我们希望这台仪器设计的灵敏度比国际上已有的,专门用于伽马射线暴偏振的仪器的灵敏度提高至少十倍,所以无论是从它的灵敏度和它的精度两方面来讲我们这个仪器都是最好的。
  • 斯派克发布SPECTRO偏振能量色散X荧光分析仪CUBE新品
    SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪为各种应用提供简单、可靠、准确、高通量的分析1 . 同类产品中测试速度出类拔萃:高速高精度,是典型测试速度的两倍2 . 应用范围广和准确度高:优化的应用程序包3 . 简单易用:只需三个简单步骤即可获得准确的结果全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪为各种应用提供简单、可靠、准确、高通量的分析,在贵金属分析、燃料和润滑油、RoHS合规检测及各种筛分分析尤为优秀。SPECTROCUBE型采用了先进的ED-XRF技术,高分辨率和高计数率探测器,使得检测时间大大缩短。软件直观、操作简捷,简化了工作流程, 结实耐用。SPECTROCUBE型仪器具有用户友好的软件系统,只需初级培训即可轻松掌握,简单易用,保证了初学者可以容易地得到专家级的分析结果。仪器结构紧凑,占地面积小,适合狭窄的工作空间。样品尺寸无论大小均可宽松容纳。对于大多数分析来说,SPECTROCUBE仅需一次通用校准即可达到所需的精度。贵金属分析近期全新推出SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器,新仪器的推出为测试中心、纯度标识和分析实验室,以及珠宝制造商提供了简单、可靠、准确、高通量的分析手段。其分析速度是同类仪器的两倍。- 同类产品中测试速度之冠:是典型测试速度的两倍,高精度分析仅需15秒- 分析范围宽和准确性高:一次分析,同时检定30多种元素, 包括痕量元素- 整机无与伦比的易用性:只需简单的三步,即可得到精确的、完美的全分析结果SPECTROCUBE型分析仪采用了领先的高分辨、高计数检测器技术,缩短了样品的测量间隔,仪器软件直观、简捷,测试流程轻松流畅,大大减少了宕机时间。SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪所采用的测试流程快捷、平顺,只需接受简单的培训即可流畅准确地操作仪器,显示了无与伦比的易用性。检测所需的相关信息直观地显示在同一屏幕上,只需三个简单步骤即可实现样品的全分析。紧凑的设计减少了仪器的占地面积,可放置在狭小的工作空间里。但样品室非常宽大,可接纳范围广泛、大小不同的样品。对于大多数分析来说,SPECTROCUBE仅需一次校准,即可达到贵金属分析所需的准确度。卓越的分析速度和性能是SPECTROCUBE核心竞争力的体现。SPECTROCUBE的校正曲线高精度地覆盖宽广的浓度范围,加之标准测试时间低至15秒,因此每天可处理数以百计的样品。对于形状不同、大小不一珠宝样品,该仪器可使用0.2毫米的焦斑进行微区分析,该焦斑是行业中最小的焦斑尺寸之一SPECTROCUBE由久经锤炼、精心挑选的顶级部件组装、制造而成。可在严苛的质量体系中实现高通量、低故障、全天候连续使用,具有令人信服的可靠性,在整个仪器的生命周期内可显著降低操作、维护成本,以及持有成本。与许多其他XRF分析仪不同,SPECTROCUBE采用了全新的高分辨硅漂移检测器(SDD),可检测记录到少量和微量“非贵”的杂质元素成分。与上一代XRF贵金属检测仪相比,在同等测量时间内SPECTROCUBE所记录的信号强度是前一代机型的三倍。合规检测SPECTRO公司精心打造的全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪,是检测和甄别工业及环境领域受限元素的强有力的工具,可高通量地进行符合性筛查。为该项工作任务提供了简单、可靠、准确、高速的解决方案。 分析方法及程序符合相关规定。在保证最低检出量的条件下,其分析速度是同类其他分析仪的两倍。 SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪可精确测定样品中各种元素的准确浓度水平。全新打造的分析仪采用了先进的无损ED-XRF探测器技术,其分辨率和计数率是同类仪器之冠,大大缩短了测量间隔,软件直观、操作简捷,简化了工作流程, 结实耐用, 仪器可靠性高。 SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪立足现在,面向未来,采用前瞻性设计,具有较大扩展性,能够满足今天各种法规的苛刻的要求,合规分析能力强。SPECTROCUBE采用全谱分析,所有元素的谱线及强度尽在掌握之中,而不仅仅只分析您当前所关注的受限元素的含量。应该进一度关注的是,随着受限制材料清单的不断增加,拥有SPECTROCUBE的用户可以通过简单的软件更新,轻松地激活新的模块,实现完美地升级以检测新增加的、额外的基体、元器件及元素。 油品及燃料分析广泛散布于世界各地的炼油厂、润滑油调合厂、独立测试实验室和监管机构都要求对炼油和石化样品进行快速、简单、准确、经济的分析。全新推出新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析仪可完全满足所有这些需要,并可以做的更好。例如,用户必须迅速验证汽油、柴油或其他燃料是否符合规定的硫含量限值。SPECTROCUBE型ED-XRF可以最大限度地缩短分析时间——确保从取样到得到分析结果时间最短。它可以用其他分析仪一半的时间来分析一个样品,且具有相当的精度!在同等的分析时间内,SPECTROCUBE可以提供同类产品中的最佳的检出下限。 在润滑油检测中,SPECTROCUBE使用了一种简捷的方法来分析不同种类的润滑油,为没有经验的初学者提供了极佳的使用便利性。而且很容易分析废油中的微量元素。先进的设计理念及完美的性能可鼎力协助客户开展其他应用,例如,SPECTROCUBE可以有效地检测原油中镍(Ni)、钒(V)和铁(Fe)等低含量元素。 选择SPECTROCUBE满足您所有的石化分析需求! 创新点:近期全新推出SPECTROCUBE型X射线贵金属测试仪器,新仪器的推出为测试中心、纯度标识和分析实验室,以及珠宝制造商提供了简单、可靠、准确、高通量的分析手段。其分析速度是同类仪器的两倍。 同类产品中测试速度之冠:是典型测试速度的两倍,高精度分析仅需15秒 分析范围宽和准确性高:一次分析,同时检定30多种元素, 包括痕量元素 整机无与伦比的易用性:只需简单的三步,即可得到精确的、完美的全分析结果SPECTRO偏振能量色散X荧光分析仪CUBE
  • 李福生教授团队:手持式能量色散X射线荧光光谱仪及其应用研究
    手持式能量色散X射线荧光光谱仪及其应用研究(李福生,电子科技大学教授、博士生导师)摘要光谱分析及信息科学被广泛应用于工业检测、污染防治等领域。X射线荧光光谱(X-Ray Fluorescence spectrometry, XRF)由于具有快速、无损、精确等优点,在环境污染监测、中草药鉴别、金属回收等方面具有十足的研究潜力和广阔的应用前景。人工智能及高端装备研究团队立足于自主研发的手持式X射线荧光光谱元素分析仪(TS-XH4000),利用X射线荧光光谱分析技术结合先进的人工智能算法开展土壤污染监测、土壤质量综合评价、铁粉元素测量等研究工作。团队研发的新一代手持式X射线荧光光谱仪采用具有可实现盲测,检出限低,可测微量元素等优势。1.引言能量色散X射线荧光光谱分析技术由于其快速、无损和精确的检测优点,目前已经被广泛应用于煤质分析、安检过程、资源勘采、货物通关、环境检测和中草药检测等领域[1][2][3]。能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪[4]。目前国内外同类手持式X射线荧光光谱分析仪主要包括美国品牌Niton生产的分析仪[5],日本生产的Olymbus光谱仪[6]和日立光谱仪[7]等。这些光谱仪普遍存在精准度一般、采购成本较高、难以单独定制等问题。而本团队设计的X射线荧光光谱仪历经几代研发,采用智能AI算法,可实现盲测,检出限低,可测微量元素;采用全球首创9mm*5mm腰形窗口,保护探头、便于测细小物品及不规则物品;安全性高,所有仪器均配有已申请专利的探头保护盖,自检安全保护;且工作状态有灯带提示,配有物料感应功能,利于物体识别,很好保护操作者的安全。本团队光谱仪的所有核心技术都归自己所有,不受国外任何技术限制。本团队所设计和研发的型号为TS-XH4000-SOIL的手持式能量色散XRF光谱仪(基于 AMPTEK INC.的 SDD 探测器)利用智能能量色散荧光分析法可以同时得到检测样品的X荧光光谱图及样品中所含元素种类和含量,测量元素范围为Na(11)-U(92)。此外,团队结合新型人工智能算法,例如BP神经网络[8]、支持向量回归[9]、贝叶斯优化算法等[10],设计了计算机校正软件,实现了基于X射线荧光光谱的中草药真伪鉴别,基于X射线荧光光谱的土壤重金属元素含量和铁粉含量的精确定量分析。2. 仪器组成本团队自主研发的手持式X射线荧光光谱仪集成先进智能算法、人体学设计外观结构、各型接口等,可在合金回收、土壤污染检测、中草药鉴别等众多领域应用。该光谱仪主要由激发源(X射线光管)、探测器、滤光片、多道脉冲幅度分析器等部分组成,结构示意图如图1所示。X射线管配有电源(最大电压50kV,最大电流200mA)。在仪器测量之前,需要先根据死时间、光谱信号噪声、光谱分辨率等指标将仪器的相关参数调整至最佳,然后通过检测纯元素的X射线光谱,完成能量刻度的定标,实现从通道数到能量刻度数的转换。接着,将定量模型算法需要的变量、算法参数、补偿系数、预处理流程等设定到主控内存中,完成采集完信号后并解析信号,最终反演物质的元素含量等信息,并通过WIFI或蓝牙将仪器所测量的精度显示到PC端。图1 手持式X射线荧光光谱仪的结构示意图本团队还设计了谱图预处理及模拟谱图生成的软件,其软件界面如图2所示。其主要功能包括:能量刻度转换、初级光源预处理、初级光源生成、Sigma计算、 XRF光谱模拟等功能。该程序可以生成多元素样本的 XRF光谱图及光谱大数据,为人工智能对样品的定性和定量分析提供数据支持,旨在实现元素的无标样的定性定量分析。图2 X射线荧光光谱分析仪控制程序主界面3. 土壤元素实验分析土壤质量综合评价与土壤中各种元素的含量有着密切的联系。因此本实验研究了XRF技术结合SVR算法定量分析土壤中铜(Cu)元素含量的可行性。如图3所示,本实验使用的设备是由课题组研究生产制造的手持式ED-XRF光谱仪,型号为TS-XH4000-SOIL,该设备的X射线管在45KV和25uA下正常工作。实验中采用了55个国标样品作为土壤标准样品,样本中每个待测元素都具有足够宽的含量范围和适当的含量梯度。图3 土壤样本与XRF光谱仪在验证中,将实验样品分为训练集和测试集两个集合,分别用于外部验证和内部验证。然后,基于灵敏度分析得出Cu元素主要受到Fe、Co、Ni、Cu等组分信息的影响,选择最优输入特征为该4种元素。使用最优输入特征和全部特征作为输入,基于贝叶斯优化算法找到最优模型参数,分别建立了预测土壤样品Cu元素含量的SVR定量预测模型。同时以全部特征作为输入建立了单参数PLS模型,通过5倍交叉验证(CV)选择单参数PLS模型的最优主成分个数为9。基于校准集数据分别建立了三种模型,利用这些模型对13个测试集和42个训练集数据中的Cu元素含量进行预测,结果如图4所示。图4 Cu元素的预测结果 (a):经过特征降维的SVR模型 (b):全部特征作为输入的SVR模型 (c):PLS模型可以看到,对训练集数据进行直接预测时,采用全部特征作为输入的SVR模型取得了最好的效果,其预测结果和原数据几乎一致(R2C= 0.9988, RMSEC = 6.9356),然而,对于测试集数据采用全部特征作为输入的SVR模型获得了非常差的结果(R2P= 0.9146, RMSEP = 73.8296)。基于4个高灵敏度特征的SVR在预测测试集时获得了非常好的效果(R2P= 0.9918, RMSEP = 22.8803),预测数据的一致性较好。在XRF技术结合SVR定量分析中,变量选择对于测试集的预测精度有关键作用。4. 中草药元素实验分析本实验采用30份金银花样品主要选择产地为山西、河南、湖南与广西省,其中每个产地各选择5份,共20份,并将样本命名为JYH-01~JYH-30。7份外观相似的山银花样品,产地为湖南省,样本命名为SYH01~SYH-07。3份粉末相似的商陆、多穗金粟兰、宽叶金粟兰样本,命名为DB-01~DB-03。三类真伪中药材的XRF数据集各有其特有的性质,本文使用t-SNE算法可以提取出三组XRF数据集的前350 维特征,将这些特征降维映射至二维图片中进行可视化分析,如图5所示。可以明显的看出这三组真伪中药材的 XRF数据集在图片二维空间中位于三簇不同的位置。从而三组样本在含有以上5种元素重要相关信息的350维数据在映射至二维中有了明显的区分,比原始XRF光谱图更容易理解与分析。图5 基于金银花、外观相似伪样本、粉末相似伪样本三组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图为更直观地了解这土壤和中草药XRF数据集的固有特性,利用t-SNE算法将350维的XRF特征映射到二维空间并在同一幅图中进行可视化分析。如图6所示,两个数据集在二维空间聚集成了两个分布位置不同的簇。首先,两组样本在含有重要相关信息的350维数据在二维图中有了明显的区分,比原始XRF反射光谱图更易于分辨。图6 两组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图5. 铁粉元素测量及实验分析针对手持式X射线荧光分析技术在铁粉行业的应用,本团队开展X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量的应用研究。首先,通过低电压高电流、高电压低电流、不同采集板的增益,选择合适的设备参数获取较优的特征X射线信号。接着,分别采用SiPIN、SDD类型探测器的手持式X射线荧光分析仪建模,Si-Kα峰、Fe-Kβ峰加背景散射线内标对铁粉中的元素含量进行建模。最后,根据含量已知的铁粉样品对所建立模型的确定度系数R2和均方根误差RMSE进行评估,选出不同场景情况下合适的应用模型。表1 SiPIN探测器时铁粉中Fe元素预测结果表2 SiPIN探测器时铁粉中Si元素预测结果表3 SDD探测器时Fe元素预测结果表4 SDD探测器时Si元素预测结果如表1和表2所示,为采用SiPIN探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果,R2为0.9070, RMSE为0.0007; Fe-Kβ峰加背景散射线内标法的结果,R2为0.88,RMSE为0.0037。如表3和表4所示,为采用SDD探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果,R2为0.9869,RMSE为0.0002; Fe-Kβ峰加背景散射线内标的结果,SDD探测器Fe建模结果,R2为0.9099,RMSE为0.0033。采用SDD探测器定量结果验证结果更好,这与SDD探测器性能良好有关。6. 总结本团队基于自主设计和研发的手持式ED-XRF光谱仪,结合人工智能算法对土壤重金属元素含量、中草药成分和铁粉元素含量进行准确定性、定量分析。所设计的TS-XH4000-SOIL光谱仪具有高精度和高可靠性,提出的先进人工智能算法框架可以有效校正土壤和铁粉XRF光谱和待测元素含量的复杂映射关系。因此,本团队研发的光谱仪和相应的人工智能算法软件在环境监测和保护、冶金行业及其他分析化学领域都有着广泛重要的应用。参考文献[1] 甘婷婷, 赵南京, 殷高方, et al. 水体中铬,镉和铅的X射线荧光光谱同时快速分析方法研究简[J]. 光谱学与光谱分析, 2017, 37(6):7.[2] 王袆亚, 詹秀春, 袁继海,等. 偏振能量色散X射线荧光光谱测定地质样品中铷锶钇锆元素不确定度的评估[C]// 第八届全国X射线荧光光谱学术报告会. 0.[3] 张辉, 刘召贵, 殷月霞,等. 能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素[J]. 分析测试技术与仪器, 2019, 25(3):5.[4] 张颖, 汪虹敏, 张辉,等. 小型台式EDXRF现场快速测定深海沉积物中稀土元素[J]. 海洋科学进展, 2019, 37(1):11.[5] Ene A, Bosneaga A, Georgescu L. Determination of heavy metals in soils using XRF technique[J]. Rom. Journ. Phys, 2010, 55(7-8): 815-820.[6] Adame A. Development of an automatic system for in situ analysis of soil using a handheld Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF)[J]. 2020.[7] Antunes V, Candeias A, Carvalho M L, et al. GREGÓRIO LOPES painting workshop: characterization by X-ray based techniques. Analysis by EDXRF, μ-XRD and SEM-EDS[J]. Journal of Instrumentation, 2014, 9(05): C05006.[8] Li F, Yang W, Ma Q, et al. X-ray fluorescence spectroscopic analysis of trace elements in soil with an Adaboost back propagation neural network and multivariate-partial least squares regression[J]. Measurement Science and Technology, 2021, 32(10): 105501.[9] Yang W, Li F, Zhao Y, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with PCA–ANOVA and support vector regression[J]. Analytical Methods, 2022, 14(40): 3944-3952.[10] Lu X, Li F, Yang W, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with improved variable selection strategy and bayesian optimized support vector regression[J]. Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems, 2023, 238: 104842.作者简介李福生,电子科技大学教授,博士生导师。在核粒子能谱分析、蒙特卡洛模拟、人工智能与云计算技术、模式识别及智能系统、控制科学及多智能体、智能制造及智慧工厂等方面的研究与应用成果斐然,具有丰富的理论研究基础和工程应用经验。曾就职于美国GE-贝克休斯公司、荷兰皇家壳牌集团等国际 500强企业的科研院,并兼任美国北卡罗莱纳州立大学客座教授。近年来在国际权威杂志发表高水平论文30多篇,拥有2项国际发明专利和50多个国内专利,出版学术专著1册,参与多个国际重大研发项目。在仪器研制方面,成功研发了多代高精度手持式X射线光谱成分分析仪,且已经过上海市计量测算技术研究中心的专业鉴定,具有高灵敏度、高准确度、快速无损等特性,可广泛应用于石油、天然气煤层气勘探与开采,铀矿探测以及金属、食物、植物、土壤的检测等,对实现我国在地质考古、公共安全、环境保护、食品安全等领域的探测设备核心部件的升级及市场国产化产生了重大影响。e-mail:lifusheng@uestc.edu.cn
  • 国家纳米中心在圆偏振发光材料研究中取得进展
    具有圆偏振发光性能的手性材料在三维成像、光学信息存储、不对称合成等方面颇具应用潜力,在手性科学研究中具有重要意义。手性基元在氢键、静电相互作用及π-π堆积等相互作用的协同下,可以自组装成各种各样的手性结构,表现出独特的圆偏振发光性质。而在自组装过程中,非手性基元如何参与并影响到最后的圆偏振发光性能,手性如何在组装结构中实现转移、传递和放大仍有未知。因此,如何构筑圆偏振发光材料并实现其性能提升在手性科学领域是重要的研究方向。  中国科学院国家纳米科学中心研究员段鹏飞团队在高效圆偏振发光材料的构筑和性能提升研究方面取得了新进展。利用卤键相互作用构筑了一种二维手性分形结构,实现了手性发光材料发光各项异性因子的显著提升(Angew. Chem. Ed. Int. 2021, 60, 22711-22716);在自组装手性多孔晶态材料中实现了无机纳米粒子到有机发光分子之间的辐射能量转移,并显著放大了材料的发光各项异性因子(Adv. Mater. 2021, 33, 2101797)。  卤键本质上是一种静电相互作用,关于卤键驱动的共组装体系已有报道。科研团队合成了两种含有吡啶基团的联二萘手性分子(R/S-1,R/S-2),其与1,4-二碘四氟苯(F4DIB)可以共组装,自发形成了不同形貌的二维手性分形结构。单晶结构的分析发现,晶体中吡啶基团的N原子与F4DIB中的碘原子通过卤键形成一维的超分子聚合物链,而后在π-π和C-FH的协同作用下形成最终的组装结构(图1)。由于R/S-1与F4DIB分子间相互作用更强所以形成的手性分形结构更加致密。在共组装过程中,手性由R/S-1,R/S-2分子传递给了超分子聚合物链,再经过进一步的组装从超分子聚合物链传递到手性分形结构,实现了手性的多级次放大。从基态和激发态手性光谱上也可以观察到,分形结构的手性各项异性因子相较于单分子手性信号呈现出两个数量级的放大。卤键驱动的手性自组装实现了手性从分子手性到分形结构的转移和放大,为设计、提升圆偏振发光材料性能提供了新思路。相关研究成果发表在Angew. Chem. Ed. Int.(2021, 60, 22711-22716)上。  手性多孔晶态材料具有有序的组装结构,在圆偏振发光材料的构筑和性能提升方面具有重要意义。近日,团队工作人员通过设计“Turn-on”型二芳基乙烯(DAEC)和上转换纳米粒(UCNPs)负载的手性金属有机框架复合材料,实现了紫外光、可见光、近红外光多重光源响应的圆偏振发光固态开关,并通过UCNPs到DAEC的能量转移实现了圆偏振发光的放大(图2)。  研究人员选择了一种具有一维孔道的手性镧系框架结构,将上转换纳米粒子和具有光响应性质的二芳基乙烯同时负载于手性框架结构中,通过手性诱导分别实现了二芳基乙烯和UCNPs的圆偏振发光。UCNPs上转换发光的能量可以转移至二芳基乙烯,实现二芳基乙烯的上转换圆偏振发光。该手性多孔框架结构复合物中,二芳基乙烯可以在紫外光和近红外光照射下到达关环发光态,分别表现出下转换和上转换的圆偏振发光。在可见光照射下变为开环暗态,实现圆偏振发光的“关闭”。此外,研究发现上转换的发光各项异性因子(glum)大于下转换的发光各项异性因子,可能是手性体系中的能量转移造成的,这是首次发现无机给体到有机受体能量转移实现的圆偏振发光放大。  该手性晶态多孔复合材料实现了固态下多重光响应的圆偏振发光开关,并在不同光输入的条件下的下转换和上转换过程可以实现荧光信息和圆偏振信息的多级光信号输出,在多维度光响应和输出的存储与加密方面具有重要应用价值。相关研究成果发表在Adv. Mater.(2021, 33, 2101797)上。研究工作得到国家自然科学基金、中科院战略性先导科技专项(B类)、国家重点研发计划等的支持。
  • 双能量X射线成像技术的发展
    X 光成像是一种非常常见的医学诊断和医学成像技术。例如,传统 DR (Digital Radiography) 技术的基本几何示意图如下,X 射线光管发出光子束穿过患者,在平板探测器上产生二维图像。但是由于软组织和硬组织对 X 射线的质量衰减系数差异很大,导致 X 射线在组织识别上的能力受限。例如,为了评估肺部结构而拍摄胸片,在获得的图像中不可避免地被肋骨阻塞。在这种情况下,肋骨是结构噪声的主要来源,因为它们不是我们感兴趣的结构,如下图。成像的组织模糊不清,通常会增大病灶误判的概率。早在 1976 年科学家就提出了利用双能量 X 射线成像技术来降低结构噪声。先分别用低能光子和高能光子拍摄两幅图片,然后根据低能光子和高能光子在不同组织中的质量衰减系数,通过巧妙的扣减算法将患者的投影分解为仅包含软组织和硬组织的图像,如下图。双能量成像最大的挑战在于获得两幅独立的低能(LE)和高能(HE)图像。为了实现这一点,探测器吸收的 X 射线光谱应该对 LE 图像中的低能量光子和 HE 图像中的高能量光子进行重加权。获得这种分离的光谱可以通过两种不同的方式来完成:双发成像 (Double-shot Imaging)和单发成像 (Sing-shot Imaging)。双发成像是最直接的方法,通过改变 X 射线光管的加速电压来拍摄两幅不同能量段的图像,可以在两幅图像之间实现出色的光谱分离,并最大限度地减少图像光谱之间的重叠。但这种方法固有的时间分离会导致运动伪影出现在最后的图像中。例如在改变加速电压的过程中患者发生的心脏跳动、呼吸和肌肉运动等等,都会产生运动伪影。虽然可以使用双光源系统来解决运动伪影的问题,但也意味着更高的成本。此外,双发成像不可避免的增大了辐照剂量,两次曝光将使剂量至少增大 15%。而单发成像则采用双层平板探测器的手段,探测器主要由上下两个探测模块构成,上层探测模块测低能光子,下层探测模块探测高能光子,中间的金属滤片则用于光谱分离,如下图所示。在正常的剂量下,探测器可获得两幅光谱分离的图片,且没有运动伪影。但金属滤片的光谱分离能力有限,而且它会吸收部分光子,从而使得 HE 图像的信噪比较差。近年来,加拿大滑铁卢大学的研究人员开发的一款新兴探测器 Reveal&trade 35C 已经克服了双能量 X 射线成像的局限性。Reveal&trade 35C 具有独特的三层堆叠设计,便于集成, 量子效率高。与其他双能解决方案不同,Reveal&trade 35C只需要一次 X 射线曝光,即使用与常规胸部 X 光相同的辐射剂量,就能消除运动伪影,实现骨和组织的区分,首次实现横向双能图像。Reveal&trade 35C已经获得美国FDA 510(k) 认证和加拿大卫生部许可。在双层平板探测器的基础上将中间的金属滤片更换为一层探测模块,在不损失X射线剂量的情况下,优化了每层闪烁体的厚度以获得最佳的光谱分离,如左下图。在单次曝光下,可以同时获得三幅无运动伪影的图片,即双能图像(扣减算法处理layer 1和layer 3后)、高剂量效率图像(三层图像相加)。此外,多个感光层的高 DQE 使得即使在减少 30% 剂量的情况下,仍能获得高信噪比的图像,如右下图。在临床试验中,利用 Reveal&trade 35C 对两位患者进行成像,如下图。在检查第一位患者的软组织和硬组织图像后,放射科医生确认左下叶有肿块,右下叶有钙化肉芽肿,可能有新的右下叶肿块;第二位患者的骨折则在硬组织图像中清晰可见,这些病灶都是传统 DR 技术所不能发现的。主要参数参考文献:1. Siewerdsen J H, Shkumat N A, Dhanantwari A C, et al. High-performance dual-energy imaging with a flat-panel detector: imaging physics from blackboard to benchtop to bedside. Medical Imaging 2006: Physics of Medical Imaging. SPIE, 2006, 6142: 489-498.2. Shkumat N A. High-performance Dual-energy Imaging with a Flat-panel Detector. Toronto: University of Toronto, 2008.3. Maurino S L, Badano A, Cunningham I A, et al. Theoretical and Monte Carlo optimization of a stacked three-layer flat-panel x-ray imager for applications in multi-spectral diagnostic medical imaging. Medical Imaging 2016: Physics of Medical Imaging. SPIE, 2016, 9783: 1061-1074.
  • 拉曼及椭圆偏振光谱应用技术交流会通知
    姓名: 公司/院校: 部门/院系: 电话: 传真: 邮件: 应用领域: 感兴趣的技术(拉曼光谱/椭圆偏振光谱/全部): 是否需要测试样品(是/否): 对讲座内容的建议和意见: 备注 : HORIBA JobinYvon 公司HORIBA Jobin Yvon 公司成立于1819年,是世界上大的光谱分析系统及部件生产商之一。致力于为 用户提供优质、先进的产品和解决方案,并提供专业的技术支持。产品包括衍射光栅、光学元 器件以及成套光谱分析系统:如:拉曼光谱仪、椭圆偏振光谱仪、荧光光谱仪、辉光放电光谱仪、等离子体 发射光谱仪等。可广泛应用于各种研究及分析领域,并在全球居领先水平。 Jobin Yvon公司隶属于HORIBA集团,该集团有高达10亿美元的销售额,在全球拥有4700多名员工。 www.jobinyvon.cn华南理工大学分析测试中心(计量认证合格单位)华南理工大学分析测试中心组建于1982年10月,现有专业技术教师和管理人员共27人分析测试工作十年以上人 员占80%,整体的检测分析能力强。中心装备了高分辨透射电镜、热场发射扫描电镜、超导核磁共振谱仪、液-质联用仪、多功能化学电子能谱、电子探针、X射线荧光光谱仪、拉曼光谱仪、多功能生物质谱、气-质联用仪、单晶衍射仪等大型精密贵重仪器30台,仪器总价值5000多万元;拥有独立且相对集中的现代化实验室,使用面积达3000m2;是华南地区规模宏大、设备先进、富具特色、队伍精良的现代分析测试中心之一 .www.scut.edu.cn/test/
  • 纪念日立偏振塞曼原子吸收分光光度计销量突破1万台
    1974 年,日立在全球率先推出偏振塞曼原子吸收分光光度计2016 年1 月,创造出累计发货1 万台的记录自面市以来,经过42年的不断改进,已经发展到第11代——ZA3000系列为什么能够实现销量1万台?日立的偏振塞曼原子吸收分光光度计累计销量突破1 万台,这究竟是个多么具有震撼力的数字呢?当然,如果只是每个家庭必备的几千元左右一台的家用电器,区区1 万台不足挂齿。但对于几十万元一台的仪器来说,就另当别论了。而且,在分析仪器中偏振塞曼原子吸收分光光度计属于较高端的产品,其占有率之高,由此可见一斑。 日立偏振塞曼原子吸收分光光度计自1974 年面市以来,已经被应用于各种领域。如今用户遍布全世界25 个国家,广泛用于以给排水及土壤为主的环境分析和以金属材料、化学、食品、药品等为主的各种工业领域。日立高新技术公司负责偏振塞曼原子吸收分光光度计技术开发的户边早人先生说到原子吸收的应用领域时这样评价: “这种分析仪器在20 世纪70 年代的日本,对确定经济高速增长时期重金属污染问题的源头、及其造成的疾病的发病机制机理做出了巨大的贡献。从20 世纪80 年代起,环境问题被视为一个跨国家、跨地域的全球性问题而受到广受关注后,它被用于研究海水、大气及土壤中金属元素的变化。20 世纪90 年代至21 世纪初,在自来水水质标准及环境标准等法律监督加强的背景下,测量方法发生了大幅调整,它的应用范围产生了大范围的扩展,从研究领域进入常规分析。”   如何实现高精度与高灵敏度测量?原子吸收分光光度计是对水溶液中mg/L (ppm) 至μg/L(ppb) 的数量级的金属元素进行定量分析的仪器。经过40 多年不断的技术进步,日立偏振塞曼原子吸收分光光度计实现了灵敏度的大幅提升,不仅可用于砷的分析,而且完全可以按照自来水标准值的1/10进行1 μg/L 数量级分析,实现了高灵敏度。另一方面,自2000 年之后,为了满足日益增长的诸如多种元素一次性分析等需求,ICP 法及ICP/MS 法之类的其他测量技术也迅速推广普及。“即使这样,偏振塞曼原子吸收分光光度计仍能深受人们的长期喜爱,我认为,这归结于它的通用性,可以广泛用于多种领域,而且具有很高的准确度和精度(准确度与精度)”,户边先生如是说道。原子吸收分光光度计是通过高温加热使样品转化为原子蒸气后,用光线照射,利用原子会定量吸收特定波长的光线这一特性,即通过原子吸收对元素进行定量分析的装置。这时,精确测量必不可缺的就是“背景校正”,因为除了目标元素之外的其他元素及分子等对光的吸收与散射,是影响分析结果的重要因素。进行微量元素的测量时,必须去除背景。进行这种背景校正时,仪器开发者日立制作所的研究员小泉英明先生与其制品化团队采用了特殊的塞曼效应。即便是在如此复杂的塞曼效应中,都能够寻找到某种偏振光成分吸光、某种偏振光不吸光的最佳条件,可见日立此款仪器的高精确性。 和生活息息相关的分析仪器与日立的作用 如今,普通公众对食品安全与健康问题、地球环境问题等的意识日益增强,在这种背景下,分析仪器的作用也愈发重要。日立,作为以偏振塞曼原子吸收分光光度计为代表的分析仪器开发公司,今后将继续努力帮助解决全球化所带来的一系列社会课题,帮助人们实现更美好的生活。 关于日立高新技术公司:日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注日立高新官方网站:http://www.hitachi-hightech.com/cn/
  • HORIBA |“光谱技术在半导体领域中的应用”Q&A集锦——拉曼、椭圆偏振、光学光谱
    10月30日HORIBA举办了2017 Optical School系列在线讲座第五场——光谱技术在半导体领域中的应用,涉及:拉曼、椭圆偏振、光学光谱和辉光放电,四种光学光谱技术,为大家带来满满的知识技能包。课上同学们积留言互动,那么针对这三种光学光谱技术,大家都有哪些疑问呢,我们一起来看一看。光学光谱1. 什么是CCD TE制冷?CCD探测器的制冷方式一般分为两种:热电制冷(TE)和液氮制冷(LN2)。热电制冷就是通过帕尔贴效应,将热量从芯片带走;液氮制冷是通过液氮气化吸收热量来降低温度。2. 5K和10K的低温是怎么实现的。采用低温恒温器,闭循环低温恒温器或消耗液氦型低温恒温器可以实现5K和10K的低温,将样品放置在低温恒温器中测量。3. PL Mapping测量的是什么?相对宏观测试而言,微观尺寸的光致发光光谱更能表征样品的性质,并且能够展现更多的细节信息,在进行显微测量时,我们对整个样品表面进行扫描,得到所有测量点的光致发光光谱,这个过程称为Mapping。4. MicOS的PL和拉曼光谱仪测试的PL谱是一样的吗?原理上是一样的,都属于光致发光光谱,区别在于:MicOS光谱仪所采用的光谱仪焦距长度跟拉曼光谱仪不一样,光谱分辨率也不一样;拉曼光谱仪主要是为了拉曼测试而设计,它的探测器CCD通常覆盖到1000nm左右,有些型号的拉曼光谱仪不能拓展光谱范围到近红外波段,而MicOS可以灵活方便地拓展光谱范围从紫外到近红外(200-1600nm)。5. 激光测试固体光谱时需要滤光片吗?推荐加滤光片,因为激发激光的能量很强,激发样品的同时,部分激发光会通过反射与信号光一起进入探测系统,可能产生杂散光,为了避免干扰,建议加入滤光片将激发光滤除。因为信号光能量较低,波长比激发光长,所以只需要加入截止波长在激发光和信号光之间的滤光片即可。此外,如果激发光的二级衍射光与信号光波长重叠的话,那么也需要加入滤光片将激发光波长滤除从而消除激发光的二级衍射光。6. 这里的PL发光和寿命测量与荧光光谱仪测得荧光光谱和寿命有什么区别?荧光也是一种光致发光,但是荧光光谱仪通常用氙灯作为激发光源,能量比较低,对于宽带隙材料可能无能为力,定制化光致发光系统用激光作为激发光源,可以成功激发大部分样品。此处提到的寿命测试功能与HORIBA荧光光谱仪的寿命功能原理相同,并无区别,不过MicOS中测量荧光寿命是在显微下测量的,而荧光光谱仪通常是在宏观光路中测量的。7. 使用光纤导入光谱仪(iHR550)时,狭缝的宽度对分辨率还会有影响吗?采用光纤导入信号光到iHR550光谱仪时,一般会采用光纤适配器将光纤连接到光谱仪,此时狭缝宽度对光谱分辨率的影响需要分两种情况讨论:(1)如果光纤出来的信号光光斑通过光纤适配器耦合到光谱仪狭缝上是小于狭缝宽度,那么狭缝宽度的变化对光谱分辨率无影响;(2)如果光纤出来的信号光光斑通过光纤适配器耦合到光谱仪狭缝上是大于狭缝宽度,那么狭缝宽度的变化对光谱分辨率有影响,狭缝越大分光谱分辨率越低。8. 光栅的刻线密度怎么去选择?光栅刻线密度的选择主要考虑两个因素:分辨率和光谱范围。相同焦长光谱仪配置的光栅刻线密度越高,光谱分辨率越高,但是所能使用的长波长范围越窄;光栅刻线密度越低,光谱分辨率越低,但是低刻线密度光栅能覆盖的长波长越长;所以要综合平衡考虑,一块光栅覆盖范围不够可以选择多块光栅以拓展光谱范围。9. MicOS激光照射到样品上的光强和光斑大小?MicOS的激光光斑照射到样品上的光强与所采用的激光器功率大小相关,所采用激光器功率越高照射到样品的光强越大。激光照射到样品的光斑大小与耦合方式(光纤耦合还是自由光路耦合)以及所采用的物镜倍率相关,如采用100倍物镜,采用光纤耦合激光,光斑小于10um;采用自由光路耦合激光,光斑小于2um。拉曼光谱1. 用532nm激光测试的深度为多少?(实验中测试不到厚度为100nm薄膜的Raman光谱)总体来说,入射深度与激光器的波长和材料本身消光系数相关。激光越偏红光,其入射深度越深;消光系数越小,入射深度越深。所以,532 nm针对不同材料的入射深度不一样,一般来说,对单晶硅的入射深度约为1微米。厚度不到100 nm的薄膜需要考虑使用325 nm激光器检测。2. 老师,实际测试比如石墨烯,532,633,785测试D,G,2D频移和相对强度都不一样,这是什么原因呢?可以考虑的原因:三个激光器是否校准好;激光器的能量是否合适,是否某一个激光能量过高将样品破坏。一般石墨烯测试,激光能量的选择建议从低到高尝试;考虑机理方面解释,激光和样品的是否有耦合效应。墨烯测试,推荐532 nm激光器。3. HORIBA提供拉曼与SEM联用的改装服务吗?我们实验室对这个比较干兴趣,想了解一下我们的电镜可不可以改装?国内和国外都有已经完成的案例。若有需求,请进一步联系!4. 我们处理拉曼光谱的时候有时候要使用归一化的方法,这个对结果分析会有影响吗?归一化一般不会对结果分析产生影响。归一化操作是对光谱中所有的拉曼峰等比例的放大和缩小,不会影响峰的位置和形状。若还有担心,可以考虑提高光谱的信噪比。5. 半高宽和强度是怎么成像的?若使用的是Labspec 6软件,至少有两种成像方法可以实现半高宽和强度成像。夹峰法:用线夹住需要成像的峰,在Analysis中,进入 Map characterization中选择对应的Height, area, position, width进行成像。分峰拟合法:对所需成像的峰进行分峰拟合后,直接选择各参数成像。夹峰法,目前多同时可以做三个峰的成像;分峰拟合理论上可以实现所有峰的成像。6. 如何用325nm激光器测拉曼光谱,PL和BPF这两块滤光片怎么用?使用325nm测试和其它的激光器测试类似,需要注意的是:激光器稳定半小时,软件中勾选紫外测试,使用紫外物镜,激光光斑进行聚焦。PL和BPF滤光片都是为了滤去激光器的等离子体线,PL和BPF分别针对测试PL和拉曼。7. 老师,做拉曼成像的时候勾选SWIFT,老是提示不兼容是怎么回事?可以考虑:是否工作在单窗口的模式下;成像区域的选择是否是长方形;控制盒上的开关是拨到SWIFT模式下。8. 100nm薄膜测试不到信号(532nm激发)答案见问题一。9. 老师,可不可以用显微共聚焦拉曼测重金属的浓度?重金属的浓度目前还没有用拉曼直接测试的好方法。但有间接的方法:加入指示剂,通过指示剂间接测试重金属的浓度;做成传感器(DNA/蛋白/小分子等为传感元件),以拉曼信号为输出。10. 老师您好,树脂样品532nm激光器基线上飘严重,降低hole值仍然,切换785nm后基线下飘,这个是荧光引起的吗,应如何调节或者加激光器呢?荧光背景干扰的可能性比较大。缩小Hole只能抑制荧光,不能消除荧光。建议先利用532 nm做个PL光谱看一看。降低激光能量;更换测量点;若荧光背景还是比较高,可以考虑选用紫外和更红外激光器试一试。椭圆偏振1. 请问在测试的时候起偏器不动但是检偏器旋转吗?在UVISEL系列椭偏仪中,起偏器和检偏器均保持固定,由相位调制器PEM起到调制偏振光的作用,没有机械转动的干扰,保证了仪器对椭偏角测试的高精度。2. 为什么可以测SIGe的组分?研究表明SiGe合金的含量与介电方程的实部有关,介电方程实部是通过椭偏仪分析得到的,因此在进行了大量标准样品与实部的关系推导后,可以根据未知含量样品的介电方程实部推算出合金含量。3. 要测试膜厚度,需要这个样品是透明的吗?样品可以是不透明的硅基底或透明的玻璃基底等,待测试薄膜需要是光学透明的,以便椭偏仪分析反射之后的偏振光信号。4. 不转怎么测椭偏角?UVISEL系列椭偏仪采用PEM相位调制技术,调制器虽然保持静止,但其内部光学元件的双光轴相位以50KHz高频发生变化,从而实现偏振光的调制。5. 椭偏仪的入射角是可调的吗?是固定几个值还是连接可调?入射角是连续可调的,但通常测试使用55-75度,主要与样品的布儒斯特角相近即可。例如,大多数半导体样品的布儒斯特角在70度附近,玻璃等样品在55度附近。6. 测SiGe的组分与测带隙宽度有关吗?没有7. 椭偏仪可以测不透明的样品吗?无法用肉眼判断样品是否光学透明,一般来说肉眼看到透明的样品,可透过可见光,而有些样品如SOI中的顶层硅薄膜,可见不透过,但仍然可以使用椭偏测试分析,因为其对近红外透过。8. 可以测碳纳米管吗?可以测试均匀的CNT薄膜,由于光斑大小限制不能测试单根纳米管9. 是相位调制器每变一下,收集一组光强吗?那请问相位改变一个周期内会采集多少组数据来计算psi 和delta。是的,通常8-16点HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
  • 深圳先进院杨春雷团队在高灵敏度能量分辨型X射线探测器研究上取得进展
    近日,中国科学院深圳先进技术研究院材料所光子信息与能源材料研究中心杨春雷研究员团队以“A novel energy-resolved radiation detector based on the optimized CIGS photoelectric absorption layer”为题,在Journal of Power Sources(影响因子:9.127)上发表了基于铜铟镓硒(CIGS)薄膜光电器件与GOS闪烁体相结合的间接型X射线探测器研究进展,该探测器具有高灵敏度和能量分辨能力,该器件中使用的CIGS薄膜光电材料具有低成本、高效率及可大面积制作等优势。瞄准如何提高辐射探测器的探测率以及如何获得能量分辨这两个核心难题,本研究工作从材料和器件结构两个方面进行了创新设计。降低CIGS光电器件的暗电流从而提高信噪比,是CIGS应用于探测器领域的核心挑战,本文系统研究了Ga含量对CIGS薄膜探测器的暗电流调控并获得了最优的组分设计,进一步结合表面态硫化处理和引入超薄Al2O3层作为pn结界面电荷阻挡层,成功将器件的探测率从6×1013 Jones升高至2.3×1014 Jones,这是目前CIGS光电器件的最好水平。基于优化的CIGS光电功能层与GOS闪烁体层制备的X射线探测器,探测灵敏度达到8 μCGyair-1cm-2,响应时间为0.23-0.28 ms。为了获得对于X射线的能量分辨能力,本研究中提出了新的3D结构X射线探测器的几何构型,该新结构一方面可以利用X射线在穿透深度上的空间分辨获得能量分布信息,另一方面可以使闪烁体的可见光荧光信号传播方向与X射线传播方向垂直,成功解决了间接型X射线探测器在高灵敏度和高空间分辨率不可兼得的难题。论文第一作者为博士后宁德博士,研究生胡明珠和马明副研究员为共同作者,通讯作者为李伟民副研究员、陈明副研究员和杨春雷研究员。该工作得到了国家重点研发计划、国家自然科学基金、深圳市和广东省等科技项目资助。论文链接:https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2022.231520 图1:a)3D结构间接型X射线探测器的示意图 b) CIGS光电功能层的器件结构;c) 光电器件的照片。图2:a) 本研究中使用的CIGS薄膜的Ga/(Ga+In)元素比;b) Ga含量0.33的样品中各元素的空间分布;c) CIGS吸收层的截面电子显微镜照片;d) CIGS的晶体结构示意图;e) CIGS薄膜的晶体X射线衍射图谱;f) CIGS薄膜的拉曼光谱;g) CIGS光电器件的暗电流与Ga组分关系;h) 表面钝化处理后的CIGS器件的电流电压曲线。图3:在不同深度上的X射线探测器像素对X射线能量的敏感度对比测量,像素的标号越大,其深度越深。
  • 《能量色散X射线荧光光谱仪》行业标准起草工作会议在昆召开
    9月17-19日,《能量色散X射线荧光光谱仪》系列行业标准起草工作会议在昆山嘉乐国际酒店召开。天瑞仪器作为标准起草单位组织了本次会议。 根据工信厅科[2010]74号文下达的2010年第一批行业标准制修订项目计划,其中项目代号2010-1130T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分:通用技术》、2010-1131T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分:元素分析仪》和2010-1132T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪》等三项为行业标准制定项目。该三项标准由天瑞仪器股份有限公司负责起草,并于2011年8月成立起草工作组。 本次会议,EDX行业标准专家组就起草的标准提出了修改意见,对标准做了进一步完善。会上,中国仪器仪表行业协会秘书长马雅娟给天瑞仪器研发部副部长周晓辉颁发了&ldquo 全国专业标准化技术委员会委员证书&rdquo 。同期,工作组专家参观了天瑞仪器。本次会议的出席单位有:中国仪器仪表行业协会中国科学院上海硅酸盐研究所北京分析仪器研究所昆山市产品质量监督检验所岛津企业管理(中国)有限公司牛津仪器(上海)有限公司聚光科技(杭州)股份有限公司北京普析通用仪器有限责任公司上海思百吉仪器系统有限公司北京分公司秘书长马雅娟为天瑞仪器颁发证书行业标准专家组参观天瑞公司天瑞仪器 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业。旗下拥有北京邦鑫伟业公司和深圳天瑞仪器公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱、医疗仪器等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。了解天瑞仪器:www.skyray-instrument.com
  • 安光所承担的“多角度偏振成像仪”项目通过验收
    2月25日,中科院合肥物质科学研究院安光所光学遥感中心牵头承担的民用航天技术预先研究项目“多角度偏振成像仪”通过了专家验收。专家组认为,该项技术将大力推动我国卫星载荷新技术的发展。  多角度偏振成像仪项目组针对全球大气环境及气候变化研究、高精度定量化遥感大气校正等需求,应用多角度偏振探测技术,突破大气气溶胶高精度卫星遥感关键技术,完成了工程化设计的多角度偏振成像仪原理样机,搭建了多角度成像仪的实验室辐射/偏振/几何定标系统。样机主要性能指标均达到或接近国际同类型载荷水平,其研究成果涵盖了欧美两大技术路线的技术特点。  验收会上,专家组一致认为项目组瞄准国际上全球大气环境及气候变迁研究的技术前沿,多年来致力于发展偏振遥感技术,积极开展大气多角度偏振卫星遥感技术研究,在大气气溶胶高精度卫星遥感探测技术、实验室偏振定标技术、大气多角度偏振信息反演技术等方面取得了一系列重要成果。  该项目是中科院安光所牵头承担并顺利完成的第一个民用航天项目,5年多的研究除取得了一些科研成果外,也为安光所锻炼培养了一个年轻、富有朝气的航天有效载荷工程承研技术团队,为其在“十二五”承担航天载荷型号任务打下了良好的技术及人才基础。
  • 偏振遥感:让石油污染监测更简约快捷
    在石油的开采、炼制、贮运、使用过程中,原油和各种石油制品进入环境而造成的污染成了一个世界性的问题。因此,建立探测系统,对油田区进行监测和管理,特别是对石油污染所发生的位置、溢油量和扩散趋势等的监测尤为重要。  在国家自然科学基金、“863”计划等的资助下,东北师范大学城市与环境科学学院教授盛连喜带领的课题组以偏振度作为偏振光遥感的定量指标,在近红外波段对不同含水量和含油量的土壤进行偏振光谱测量,为今后利用偏振光遥感监测土壤石油污染的应用打下基础。这一成果发表在《科学通报》2008年第23期上。  难以避免的石油土壤污染  石油对土壤的污染主要表现为:破坏土壤的结构和透水性。石油污染物还会与土壤中有效的氮、磷、钾发生反应,破坏土壤的肥力。尽管采取了一系列措施,但在石油的生产、加工、运输各个环节,都有可能发生泄漏溢出事故,石油污染物对土壤的污染难以避免。  “石油开采时可能产生的泄漏或溢油现象造成的落地油污染,可使土壤的环境容量逐年减少 在气田开发时,钻井过程中产生废弃泥浆,如果没有泥浆坑,废弃的钻井泥浆就会被排放到土壤中,造成污染。”盛连喜说。  盛连喜解释说,如果在原油开采过程中发生井喷等事故,可能使大量石油烃类直接进入土壤。另外,石油管线和采油井的井口设备如果发生跑冒滴漏,也有一些石油泄漏到地面。石油及其产品在运输、使用和贮存过程中的渗漏、溢油现象时有发生,会造成石油烃类直接进入土壤。而石油及其产品在运输、使用和贮存过程中的渗漏、溢油现象同样会对土壤造成危害。  “当石油渗透进入土壤后,如果植物吸收了石油,会破坏植物的新陈代谢过程,或阻断植物需要的水分和养料,从而使植物死亡,植被遭到破坏。而且被石油污染物污染的土壤在几年甚至几十年内都会丧失农耕和畜牧的功能。石油还可能通过进入食物链影响人体健康。另外,油气会从地表挥发至大气,表现为油气挥发物,被太阳紫外线照射后,可能与其他有害气体发生物理化学反应,生成光化学烟雾,产生致癌物和温室效应,破坏臭氧层等。”盛连喜说。  既然污染难以杜绝,作为及时了解石油开采所在区域的环境质量状况,包括大气环境质量、水体和土壤环境质量状况,发现油气田生产中环境问题的有效手段,环境监测就变得至关重要。  “尤其是对土壤污染的监测,关系到周边地区的生态环境安全、食品安全问题,不容忽视。”盛连喜说。  大有可为的偏振遥感  目前,在石油开采区域最常用的环境监测方法是现场采样实验室分析监测,也有些地方开展了航空和遥感监测。  盛连喜指出,常规的土壤石油污染监测方法是从野外取样带回实验室分析,由于事前对污染范围及污染程度的了解有局限性,监测过程不仅费时而且耗费大量人力、物力和财力,结果却往往不够全面准确,只能对采样点局部进行评价和估量。如何对土壤石油污染范围及程度进行定量定位的测量,有效节省工作时间和经费,提高环境污染监测的准确性成为一个重要的科学问题。  在苦苦寻找解决办法的时候,电磁波的一个重要特征——偏振,引起了盛连喜的关注。  偏振在微波谱段称为极化。地球表面和大气中的目标在反射、散射、透射及发射电磁辐射的过程中,会产生由它们自身性质决定的特征偏振,即偏振特性中蕴涵着目标的各种信息。  “偏振遥感正是利用这一特征为遥感目标提供新的、潜在的信息。”盛连喜说,“与其他遥感技术比较,偏振光的特性使其在遥感中能够解决许多实际问题。使用偏振信息不仅能够更准确地定位土壤石油污染的范围和程度,并可反演相应地物目标的结构、化学成分、水分含量等多方面信息,甚至了解造成污染油井的年龄,因此具有非常广阔的应用前景。”  目前,盛连喜课题组对污染土壤偏振光遥感的监测主要研究方向是在不同湿度条件下鉴别石油种类,并进一步确定湿度条件影响的曲线临界值。重点研究土壤中受到石油污染的范围和程度,为研究土壤的石油环境容量、控制石油污染提供依据。  该课题组以吉林省松原油田原油和当地典型表层土壤为实验原料,在实验室内对4个水平的含油量、3个水平的含水量土壤样品在近红外波段进行了多角度探测模拟实验。又在室外实地测量了各种条件下的石油污染土壤与清洁土壤的偏振度值。他们发现,当土壤含水量较低时,土壤表面反射光的偏振度会随土壤中石油含量的增加而增大 当土壤含水量较高时,土壤表面反射光的偏振度会随土壤中石油含量的增加而降低。  事实上,盛连喜所在的偏振实验室已经通过几年的工作,对黄土、黑土、红土等土壤类型的基础偏振反射特性进行了测量和研究,接下来的工作是通过多因素的模拟正交实验,为更广泛地应用偏振特性进行石油的土壤污染监测提供科学依据。  盛连喜指出,不同土壤类型的临界值会因土壤有机质含量、机械组成等因素的不同而不同,对偏振光的测量带来难度。这也是他们今后工作中需要重点研究的问题。
  • 首个使用偏振的超快光处理器面世
    科技日报北京6月19日电 (记者张梦然)据近日发表在《科学进展》上的一篇论文,英国牛津大学研究人员开发了一种使用光的偏振来实现最大化信息存储密度的设备。新研究使用多个偏振通道展开了并行处理,计算密度比传统电子芯片提高了几个数量级。自1958年第一块集成电路发明以来,将更多晶体管封装到特定尺寸的电子芯片中,一直是实现最大化计算密度的首选方法。然而,人工智能和机器学习需要专门的硬件突破现有计算的界限,因此电子工程领域面临的主要问题是:如何将更多功能打包到单个晶体管中?科学家已知不同波长的光不会相互影响,同样,不同偏振的光也不会相互影响。因此,每个极化都可作为一个独立的信息通道,使更多信息可存储在多个通道中,这就大大提高了信息密度。而光子学相对于电子学的优势在于,光在大带宽上速度更快,功能也更强大。新研究的目标就是充分利用光子学与可调谐材料相结合的这些优势,实现更快、更密集的信息处理。鉴于此,十多年来,牛津大学研究人员一直致力于使用光作为计算手段。团队此次开发了一种HAD(混合活性电介质)纳米线,该纳米线使用一种混合玻璃材料,该材料在光脉冲照射时具有可切换的特性,每条纳米线都显示出对特定偏振方向的选择性响应,因此可使用不同方向的多个偏振同时处理信息。利用这个概念,研究人员开发出第一个利用光偏振的光子计算处理器。光子计算通过多个偏振通道进行,纳米线则由纳秒光脉冲调制,与传统电子芯片相比,其计算速度更快,计算密度因此提高了几个数量级。研究人员表示,对于人们希望看到的未来愿景来说,现在仅仅是个开始,这种偏振光子计算处理器结合了电子、非线性材料和复杂计算,已经是一个超级令人兴奋的想法。总编辑圈点   随着传统电子芯片尺寸越来越小,芯片上的晶体管数量接近极限,摩尔定律也日益逼近“天花板”。这些年,科学家和工程师们开始为芯片发展寻找新的“增长点”,利用光子计算便是思路之一。例如,2015年美国科学家研发出用光处理信息的光电子芯片,它依旧使用电子来计算,但是可以直接使用光来处理信息。上述成果则利用了光的偏振特性。这些研究都为芯片迭代升级提供了更多可能。
  • 等离子体“彩虹”芯片级智能光谱仪,可实现“光谱+偏振”双功能传感
    近年来,研究人员和业内主要厂商已将研发重心转向微型化、便携式且低成本的光谱仪系统,使之可以在日常生活中实现现场、实时和原位光谱分析的许多新兴应用。然而,受到过度简化的光学设计和紧凑型架构的机械限制,微型光谱仪系统的实际光谱识别性能通常远低于台式光谱仪系统。如今,克服这些限制的一种策略便是在光子方法学中引入深度学习(DL)进行数据处理。据麦姆斯咨询报道,近日,美国纽约州立大学布法罗分校(University at Buffalo,the State University of New York)与沙特阿卜杜拉国王科技大学(King Abdullah University of Science & Technology)的联合科研团队在Nature Communications期刊上发表了以“Imaging-based intelligent spectrometer on a plasmonic rainbow chip”为主题的论文。该论文第一作者为Dylan Tua,通讯作者为甘巧强(Qiaoqiang Gan)教授。在这项研究工作中,研究人员开发了一种紧凑型等离子体“彩虹(rainbow)”芯片,能够实现快速、准确的双功能传感,其性能可在特定条件下超越传统的便携式光谱仪。其中的分光纳米结构由一维或二维的梯度金属光栅构成。该紧凑型等离子体光谱仪利用普通相机拍摄的单幅图像,即可精确地获得照明光源光谱的光谱信息和偏振信息。在经过适当训练的深度学习算法的辅助下,研究人员仅用单幅图像就能表征葡萄糖溶液在可见光光谱范围内的双峰和三峰窄带照明下的旋光色散(ORD)特性。该微型光谱仪具有与智能手机和芯片实验室(lab-on-a-chip)系统集成的潜力,为原位分析应用提供新的可能。研究人员利用彩虹捕获效应(rainbow trapping effect)来开发片上光谱仪系统。图1展示了该研究工作所提出的片上光谱仪和一维彩虹芯片的设计原理。如图1a所示,该光谱仪利用等离子体啁啾光栅实现分光功能。这种表面光栅几何形状的逐渐变化,导致了局部等离子体共振的空间调谐(即为光捕获“彩虹”存储)。如图1b所示,研究人员采用聚焦离子束铣削技术,在300 nm的银(Ag)薄膜上制备了啁啾光栅。当白光垂直入射时,通过简单的反射显微镜系统(如图1c),就可以观察到明显的“彩虹”色图像,如图1d的顶部所示,该现象源于光栅引发的等离子体共振。图1 片上光谱仪的等离子体啁啾光栅根据这些空间模式图像,可以建立共振模式与入射波长一一对应的关系,这是片上光谱仪的基础。因此,研究人员探讨了该光谱仪对任意光谱特征的空间分辨能力。通过深度学习辅助的数据处理和重建方法,研究人员利用这种分光功能可以构建用于光学集成的智能化、微型化光谱仪平台。具体而言,研究人员提出了基于深度学习的智能彩虹等离子体光谱仪概念,并构建了带有等离子体啁啾光栅的光谱仪示例,如图2所示。该光谱仪利用深度神经网络预测了所测量的共振模式图像中的未知入射光光谱,而无需使用传统的线性响应函数模型。实验中的光谱仪架构如图2a所示。智能光谱仪主要由三部分构成:空间模式、预训练神经网络以及对应的波长。图2 基于深度学习的数据重建光谱分辨率是评价传统光谱仪性能的重要参数之一。因此,研究人员对该光谱仪的分辨率做了详细测试,测试结果如图3所示。图3 智能等离子体光谱仪的分辨率以上初步测试数据表明,智能彩虹芯片光谱仪具有实现高分辨率光谱分析的潜力,其性能可与传统台式光谱仪相媲美。随后,研究人员将一维光栅扩展到二维,以利用紧凑型智能等离子体光谱仪实现偏振光谱的测定,其性能超越了传统的光学光谱仪系统。同时,研究人员展示了等离子体彩虹芯片光谱仪可以引入简化、紧凑且智能的光谱偏振系统,具有准确且快速的光谱分析能力。图4a为具有梯度几何参数的二维光栅。图4 用于测定偏振光谱的二维啁啾光栅接着,研究人员利用该二维偏振光谱仪芯片对旋光色散进行了简单而智能的表征。图5a为传统的旋光色散系统测量由物质引起的旋光度随入射波长的函数变化。最后,研究人员展示了将二维光栅作为光谱偏振系统,并介绍了用于葡萄糖传感应用的示例。图5 更简单、准确且智能的光谱偏振分析综上所述,本研究中提出了一种集成了片上彩虹捕获效应与紧凑型光学成像系统的智能芯片级光谱仪。研究结果表明,该等离子体芯片可以在可见光光谱(470 nm - 740 nm)范围内区分不同的照明峰值。该芯片充分利用其波长敏感结构,能够根据照明光谱峰值显示不同的等离子体共振模式。随后将芯片扩展到二维结构,共振模式的复杂性增加,从而在入射光偏振方面提供更多信息。通过使用片上共振模式的空间和强度分布图像来训练深度学习算法,研究人员在同一系统内分别实现了光谱分析和偏振分析。随后,研究人员利用一种将旋光引入透射光的手性物质(即葡萄糖),证明了所提出光谱仪在旋光色散传感方面的可行性,旋光色散是一种有助于手性物质检测和定量的偏振特异性特征。深度学习模型的分析表明,该算法能够基于等离子体芯片的共振模式准确预测葡萄糖引入的旋光。即使在分析多峰照明下的共振模式时,这种性能也得到了保留。这种由深度学习支持的基于图像的光谱仪能够通过利用纳米光子平台的单幅图像同时进行光谱分析和偏振分析。因此,该光谱仪标志着在单一紧凑型且轻量化设计中实现了高性能的光谱偏振分析,为深度光学和光子学在医疗保健监测、食品安全传感、环境污染检测、药物滥用传感以及法医分析等领域的应用赋能。这项研究获得了沙特阿卜杜拉国王科技大学物理科学与工程部的科研基金(BAS/1/1415-01-01)和NTGC-AI项目(REI/1/5232-01-01)的资助和支持。
  • 1056万!福州大学小角X-射线散射仪等采购项目
    一、项目基本情况1.项目编号:[350001]FJYS[GK]2023039项目名称:福州大学小角X-射线散射仪采购项目采购方式:公开招标预算金额:7,500,000.00元采购包1(小角X-射线散射仪):采购包预算金额:7,500,000.00元采购包最高限价: 7,500,000.00元投标保证金: 75,000.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业1-1A02109900-其他仪器仪表小角X-射线散射仪1(套)是主要测试目标如下: (1) 尺寸:粒子尺寸和粒径分布、分子量、孔径尺寸和尺寸分布; (2) 结构:片状结构、洁净度、物相鉴定、取向分析; (3) 形状:粒子或分子形状; (4) 表界面分析:表界面结构、比表面; (5) 动力学测试:温度、湿度、拉伸应力、剪切应力。 2. 性能要求: (1) X射线光源光斑大小在0.15-1.5 mm范围内实时、连续、自动改变,精度:0.001 mm; (2) 样品处最大X射线的通量: ≥ 5.0×108 phs/s; (3) 探测器到样品的最大距离≥1800 mm,到样品的最小距离≤45 mm; (4) 样品固定不动,单个二维探测器可连续、自动采集0.009~48 nm-1的q值范围; (5) 样品自动对中:样品台在垂直于入射光路的X/Z(水平/竖直)方向自动移动行程≥ +/- 50mm(0~100 mm),精度:1μm,样品可精确对中; (6) 利用小角探测器采集直通光束,系统数据采集软件可实时显示当前正在采集过程中的直通光及二维小角图谱,且可实时、自动的转换为一维曲线;7,500,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕2.项目编号:[350001]RWZB[GK]2023054项目名称:福州大学圆偏振荧光光谱仪采购项目采购方式:公开招标预算金额:3,060,000.00元采购包1(福州大学圆偏振荧光光谱仪采购项目):采购包预算金额:3,060,000.00元采购包最高限价: 3,060,000.00元投标保证金: 30,600.00元采购需求:(包括但不限于标的的名称、数量、简要技术需求或服务要求等)品目号品目编码及品目名称采购标的数量(单位)允许进口简要需求或要求品目预算(元)中小企业划分标准所属行业1-1A02109900-其他仪器仪表圆偏振荧光光谱仪1(套)是详见招标文件3,060,000.00工业本采购包不接受联合体投标合同履行期限:自合同生效之日起至合同约定的合同义务履行完毕。二、获取招标文件时间: 2023-08-16 至 2023-08-23 ,(提供期限自本公告发布之日起不得少于5个工作日),每天上午00:00:00至12:00:00,下午12:00:00至23:59:59(北京时间,法定节假日除外)地点:招标文件随同本项目招标公告一并发布;投标人应先在福建省政府采购网(zfcg.czt.fujian.gov.cn)免费申请账号在福建省政府采购网上公开信息系统按项目下载招标文件(请根据项目所在地,登录对应的(省本级/市级/区县))福建省政府采购网上公开信息系统操作),否则投标将被拒绝。方式:在线获取售价:免费三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名称:福州大学地址:福建省福州市福州大学城乌龙江北大道2号联系方式:0591-228659172.采购代理机构信息(如有)名称:福建优胜招标项目管理集团有限公司地址:福州市鼓楼区 洪山镇福三路20号华润万象城(一区)(一期)S2#楼4层01-03、05-12、15-18办公联系方式:0591-876793723.项目联系方式项目联系人:林瑞芳电话:0591-87679372网址: zfcg.czt.fujian.gov.cn开户名:福建优胜招标项目管理集团有限公司
  • 激光偏振检测新技术可分析太空垃圾成分
    p  据物理学家组织网20日报道,美国麻省理工学院(MIT)的工程师最近开发出一种激光偏振检测新技术,不仅能确定太空垃圾位置,还能分析其成分。/pp  在地球空间轨道上,数以亿计的太空垃圾高速旋转着,给航天器和卫星带来巨大威胁。目前,美国国家航空航天局(NASA)和国防部在用陆基望远镜和激光雷达(Ladars)跟踪17000块碎片,但这一系统只能确定目标的位置。研究人员指出,新技术能分析出一块残骸由什么组成,有助于确定其质量、动量及可能造成的破坏力。/pp  该技术利用激光来检测材料对光的偏振效应。MIT航空航天系的迈克尔· 帕斯科尔说,涂料的反射光偏振模式和金属铝有明显区别,所以识别偏振特征是鉴定太空残骸的一种可靠方法。/pp  为检验这一理论,研究人员设计了一台偏光仪来检测反射光的角度,所用激光波长为1064纳米,与Ladars激光类似,并选择了6种卫星中常用的材料:白色、黑色涂料、铝和钛,还有保护卫星的两种膜材料聚酰亚胺和特氟龙(聚四氟乙烯),用偏振滤镜和硅探测器检测它们反射光的偏振状态。他们识别出16种主要的偏振态,并将这些状态特征与不同材料对应起来。每种材料的偏振特征都非常独特,足以和其他5种区别开来。/pp  帕斯科尔认为,其他航天材料如防护膜、复合天线、太阳能电池、电路板等,其偏振效应可能也各有特色。他希望用激光偏振仪建一个包含各种材料偏振特征的数据库,给现有陆基Ladars装上滤波器,就能直接检测太空残骸的偏振态,与特征库数据对比,就能确定残骸构成。/p
  • 基于硫废物的高灵敏红外偏振器面世
    偏振图像可提供诸如阴影和表面形貌的信息,但目前的红外偏振器主要由昂贵且易碎的陶瓷制成,且其拥有的纳米光栅通常需通过耗时且成本高昂的干涉光刻法制造而成。现在,韩国科学家基于富硫聚合物,研制出一款高灵敏度基偏振器,不仅成本低廉且制造方法简单,相关研究刊发于最新一期《先进材料》杂志。通过“逆硫化”合成的富硫聚合物因在红外区域固有的高透射率而成为红外光学器件的合适候选材料,受到广泛关注。富硫聚合物主要由基于元素硫的主链组成,石油精炼过程中每年会产生700万吨硫磺,因此这种富硫聚合物可大规模生产。与常规红外材料不同,富硫聚合物可溶解在有机溶剂中,这意味着其可应用于基于溶液的旋涂方法。此外,富硫聚合物拥有的粘滞弹性和动态共价二硫键使其可被热纳米压印光刻(热NIL)技术模塑成不同的纳米结构。而且,基于富硫聚合物制造而成的偏振器,也能拥有双层结构,可通过以下3个步骤获得:旋涂富硫聚合物溶液、在旋涂的富硫聚合物基膜上使用热NIL工艺,以及在纳米光栅上进行金属沉积,由此得到的富硫聚合物基偏振器由自对准双层金属光栅和间隔层(用作光学腔)组成。基于上述方法,韩国汉阳大学研究人员制作了一种高灵敏度的富硫聚合物基偏振器。他们微调了热NIL条件,以高质量复制设计纳米光栅,并研究了间隔层的厚度,以最大化所有中波红外区域的透射。通过数值模拟设计,并考虑到光学性能和制造难度,该偏振器的节距为400纳米,经由包括温度、压力和时间在内的热NIL条件的系统研究,获得了面积为1平方厘米的高保真纳米光栅。
  • 工物系李亮课题组在X射线荧光成像领域取得新进展
    癌症是全球范围内严重危害人类健康的疾病,对其发病、发展原因、病理机制的研究已经成为人类生命科学和临床医学研究中的重大科学难题。近年来,基于靶向纳米颗粒药物的肿瘤精准诊疗研究越来越受到人们的关注。X射线荧光成像技术被认为是获取目标物体中纳米颗粒药物分布的一种有前途的方法,它通过获取特定元素的特征X射线荧光光子进行高灵敏度成像。与传统的CT技术相比,X射线荧光成像可以获得目标物体的分子和功能信息,并且X射线荧光成像使用的示踪剂不具有放射性,制造、使用成本更低,更安全。图1.建设的X射线荧光康普顿成像实验平台图2.包含钆元素溶液的X射线荧光康普顿成像结果显示近日,清华大学工物系李亮课题组在知名期刊《电气与电子工程师学会医学成像会刊》(IEEE Transactions on Medical Imaging)在线发表了题为“首例X射线荧光康普顿成像示范”(First demonstration of Compton camera used for X-ray fluorescence imaging)的研究论文。该论文展示了首例使用康普顿相机成像系统对X射线荧光进行三维成像的案例,与其他传统的X射线荧光成像的模式相比,该康普顿成像模式下可进行无旋转扫描的单视角成像,这将为X射线荧光成像带来更多潜在的应用场景和成像可能性。在这项工作中,展示了主要由传统X射线管和Timepix3光子计数探测器组成的X射线荧光康普顿成像系统,开发了一套完整的名为CCFIRM的成像重建算法,来解决X射线荧光康普顿成像中存在的关键算法问题。创新性成果包括有多普勒展宽校正的低能量列表模式最大似然期望最大化算法和基于光子偏振统计分布信息的散射校正算法。该研究给出了钆元素的X射线荧光康普顿成像实验结果,成像结果表明,该课题组所提出的X射线荧光康普顿成像系统可以对35.14mg/ml以上浓度的钆元素实现有效测量。清华大学工物系李亮副教授为该文章的通讯作者和项目负责人,清华大学2018级博士生武传鹏为该文章的第一作者。该研究得到国家自然科学基金、科技部重点研发计划、清华大学自主科学研究计划的大力支持。
  • 天瑞仪器参与制定三项能量色散X射线荧光光谱仪行业标准
    2016年10月,工业和信息化部发布了三项机械行业标准,分别为JB/T 12962.1-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分:通用技术》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分:元素分析仪》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪》(以下简称“三项标准”)。三项标准将于2017年4月1日正式实施。这三项行业标准均由天瑞仪器起草撰写。天瑞仪器作为在国内最大的X荧光光谱仪生产厂商,X荧光光谱仪产品齐全、种类繁多,包括能量色散X射线荧光光谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪等,基本覆盖了X荧光光谱仪的所有产品。其在业内的知名度获得了国家标准化管理委员会的认可。2010年,全国工业过程测量和控制标准化技术委员会分析仪器分技术委员会任命天瑞仪器为三项标准的主编单位。 天瑞仪器手持式合金分析仪 EXPLORER5000本次起草编撰历时4年。经过多次的验证、讨论及意见征求, 2014年1月,天瑞仪器依据参编单位意见对标准工作组讨论稿再次进行修改并形成了标准送审稿。2016年10月,工业和信息化部批准发布了该标准,并定于2017年4月1日实施。二十世纪七十年代末,我国引进能量色散X射线荧光光谱仪投入使用,到90年代我国已具备自主生产能量色散X射线荧光光谱仪的能力。经历了近30年的发展,到二十一世纪初我国能量色散X射线荧光光谱仪生产技术已日臻成熟。目前,我国已有多家研制、生产、组装能量色散X射线荧光光谱仪的厂商,其产品主要性能指标基本接近国际先进水平。但是如何对能量色散X射线荧光光谱仪进行有效的质量评定,确保能量色散X射线荧光光谱仪的品质,目前国内还没有统一的行业标准,相关企业基本按照自定的标准生产,难免造成仪器性能不稳定、产品质量参差不齐、使用者对仪器性能不了解、仪器购销贸易纠纷不断等问题,严重影响了行业的健康发展。三项标准的实施将打破能量色散X射线荧光光谱仪行业的乱象,将规范本行业对于产品的技术要求及其测试方法,促进产业的进步和发展 将为产品的合同订立和产品交易提供技术支持,确保供货方和使用方的权利和利益 将使相关学术交流中,实验数据和测量结果的表述更加准确、可靠,更具参考性 将为仪器的生产及制造过程中提供可做为验收依据的参考数据。 天瑞仪器食品重金属快速检测仪EDX 3200S PLUS X近几年,天瑞仪器在X射线荧光光谱仪行业屡创辉煌,譬如,自主研发生产的食品重金属快速检测仪EDX 3200S PLUS X,采用了能量色散X射线荧光光谱技术实现食品中微量重金属有害元素的快速检测,操作简单,自动化程度高,可同时检测24个样本;在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上,在国家重大科学仪器设备开发专项资金支持下,融合独有的科技创新和发明,推出了国内第一台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪——WDX 4000,为土壤重金属检测提供新支持;成功研发EXPLORER手持式能量色散X射线荧光光谱仪,促进了仪器的小型化与便携化等。 天瑞仪器顺序式波长色散X射线荧光光谱仪 WDX 4000今后,天瑞仪器将继续以“行业领导者”为目标,不断提升技术水平,使国产仪器媲美国外,走向国际。同时,天瑞仪器着眼于日益严峻的环保形势,积极调整产品结构,致力于环保解决方案的提供,守护碧水蓝天。与时俱进开拓创新,用科学技术服务于国家,服务于人民,是每一个天瑞人的追求。
  • 高压会破坏手性金属有机骨架的镜像圆偏振发光
    手性是化学、物理、生物和医学等领域中的一个重要特征,在各个领域中得到了广泛的应用。尽管已经探索和发展了许多独特的手性化学和物理现象,但在极端条件下对于手性的研究仍然存在一些基本科学问题。近日,中国科学院大连化学物理研究所研究员袁开军团队与中国科学院福建物质结构研究所谷志刚研究员团队合作,利用自主搭建的高压圆偏振发光(CPL)探测系统,发现了高压可以破坏手性金属有机骨架的镜像圆偏振发光。相关论文发表在中国化学会旗舰期刊CCS Chemistry上。本工作中,科研人员利用自主搭建的原位高压圆偏振发光探测系统,研究了手性金属有机骨架不同对映体的圆偏振发光现象。研究发现,随着压力的逐渐增加,CPL信号发生了明显的变化,包括CPL强度变化、发射波长偏移、CPL反转等。DFT模拟和原位HP-XRD数据结合表明,MOF结构中配体的手性构型可能在高压刺激下发生变化,导致MOF出现CPL反转现象。该工作对原位压力刺激下手性光学材料的CPL研究提供了新思路,并发现了一种新的光学现象,即高压可以破坏对映体的镜像CPL。
  • 考虑探测器非理想性的红外偏振成像系统作用距离分析
    在背景与目标红外辐射量差距不大或背景较为复杂等情况下,传统红外成像技术对目标进行探测与识别的难度较大。而红外偏振探测在采集目标与背景辐射强度的基础上,还获取了多一维度的偏振信息,因此在探测隐藏、伪装和暗弱目标和复杂自然环境中人造目标的探测和识别等领域,有着传统红外探测不可比拟的优势。但同时,偏振装置的加入也增加了成像系统的复杂度与制作成本,且对于远距离成像,在红外成像系统前加入偏振装置对成像系统的探测距离有多大的影响,也有待进一步的研究论证。据麦姆斯咨询报道,近期,中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院红外探测与成像技术重点实验室和中国科学院大学的科研团队在《红外与毫米波学报》期刊上发表了以“考虑探测器非理想性的红外偏振成像系统作用距离分析”为主题的文章。该文章第一作者为谭畅,主要从事红外偏振成像仿真方面的研究工作;通讯作者为王世勇研究员,主要从事红外光电系统技术、红外图像信号处理方面的研究工作。本文将从分析成像系统最远探测距离的角度出发,对成像系统的探测能力进行评估。综合考虑影响成像系统探测能力的各个因素,参考传统红外成像系统作用距离模型,基于系统的偏振探测能力,建立了红外偏振成像系统的作用距离模型,讨论了偏振装置非理想性对系统探测能力的影响,并设计实验验证了建立模型的可靠性。红外成像系统作用距离建模目前较为公认的对扩展源目标探测距离进行估算的方法是MRTD法。该方法规定,对于空间频率为f的目标,人眼通过红外成像系统能够观察到该目标需要满足两个条件:①目标经过大气衰减到达红外成像系统时,其与背景的实际表观温差应大于或等于该频率下的成像系统最小可分辨温差MRTD(f)。②目标对系统的张角θT应大于或等于相应观察要求所需要的最小视角。只需明确红外成像系统的各项基本参数与观测需求,我们就可以计算出系统的噪声等效温差与最小可分辨温差,进而求解出它的最远探测距离。红外偏振成像系统作用距离建模偏振成像根据成像设备的结构特性可分为分振幅探测、分时探测、分焦平面探测和分孔径探测。其中分时探测具有设计简单容易计算等优点,但只适用于静态场景;分振幅探测可同时探测不同偏振方向的辐射,但存在体积庞大、结构复杂,计算偏振信息对配准要求高等问题;分孔径探测也是同时探测的一种方式,且光学系统相对稳定,但会带来空间分辨率降低的问题;分焦平面偏振探测器具有体积小、结构紧凑、系统集成度高等优势,可同时获取到不同偏振方向的偏振图像,是目前偏振成像领域的研究热点,也是本文的主要研究对象。图1为分焦平面探测系统示意图。图1 分焦平面探测器系统示意图本文仿真的分焦平面偏振探测器,是在红外焦平面上集成了一组按一定规律排列的微偏振片,一个像元对应着一个微偏振片,其角度分别为 0°、45°、90°和135°,相邻的2×2个微像元组成一个超像元,可同时获取到四种不同的偏振态。图1为分焦平面探测系统结构示意图。传统方法认为在红外成像系统前加入偏振装置后,会对系统的噪声等效温差与调制传递函数MTF(f)产生影响,改变系统的最小可分辨温差,进而改变系统的最远探测距离。本文将从偏振装置的偏振探测能力出发,分析成像系统的最小可分辨偏振度差,建立红外偏振成像系统的探测距离模型。我们首先建立一个探测器偏振响应模型,该模型将探测器视为一个光子计数器,光子被转换为电子并在电容电路中累积,综合考虑探测器井的大小、偏振片消光比、信号电子与背景电子的比率以及入射辐射的偏振特性,通过应用误差传播方法对结果进行处理。从噪声等效偏振度(NeDoLP)的定义出发,NeDoLP是衡量偏振探测器探测能力的指标,即探测器对均匀极化场景成像时产生的标准差。对其进行数学建模,进而分析得到红外偏振成像系统的最远探测距离。图2 DoLP随光学厚度变化曲线对于探测器来说,积分时间越长,累积的电荷越多,探测器的信噪比(SNR)就越高,但这种增加是有限度的。随着积分时间的增加,光生载流子有更多的时间被收集,增加信号。然而,同时,暗电流及其相关噪声也会增加。对于给定的探测器,最佳积分时间是在最大化信噪比和最小化暗电流及噪声的不利影响之间取得平衡,为方便分析,我们假设探测器工作在“半井”状态下。通过以下步骤计算红外偏振成像系统最远作用距离:a. 根据已知的目标和背景偏振特性以及环境条件,计算在给定距离下,目标与背景之间的偏振度差在传输路径上的衰减。b. 结合系统的探测器性能参数,确定目标在给定距离下是否可被观察到。如果不能则减小设定的距离。目标被观察到需同时满足衰减后的偏振度差大于或等于系统对应于该频率的最小可分辨偏振度差MRPD,目标对系统的张角θT大于或等于相应观察要求所需要的最小视场角。c. 逐步增加距离,直到目标与背景之间的偏振度差不再满足观察要求。这个距离即为成像系统最远作用距离。τp (R)为大气对目标偏振度随探测距离的衰减函数,可根据不同的天气条件,根据已有的测量数据进行插值,计算出不同探测距离下大气对目标偏振度的衰减,图4. 5给出了根据文献中测量数据得到的偏振度随光学厚度增加衰减关系图。这里给出的横坐标是光学厚度,不同天气条件下,光学厚度对应的实际传播距离与介质的散射和吸收系数有关。综上,我们建立了传统红外成像系统和考虑了偏振片非理想性的红外偏振成像系统的作用距离模型,下面我们将对模型的可靠性进行验证,分析讨论探测器各参数对成像系统探测能力的影响。验证与讨论由噪声等效偏振度的定义可知,其数值越小,代表偏振探测器的性能越优秀。下面我们对影响红外偏振成像系统探测性能的各因素进行讨论,并设计实验验证本文建立模型的正确性。偏振片消光比消光比是衡量偏振片性能的重要参数,市售的大面积偏振片的消光比可以超过200甚至更多。对其他参数按经验进行赋值,从图3可以看到,对于给定设计参数的探测器,偏振片消光比超过20后,随着偏振片消光比的增加,探测器性能上的提升微乎其微。对于分焦平面探测器,为实现更高的消光比,不可避免地要牺牲探测器整体辐射通量。由于辐射通量降低而导致的信噪比损失可能远远超过消光比增加所获得的收益。这一结果同样可以对科研人员研制偏振片提供启发,对需要追求高消光比的偏振片来说,增大透光轴方向的最大透射率要比降低最小透射率更有益于成像系统的性能。图3 偏振片消光比与探测器噪声等效偏振度关系图探测器井容量红外探测器的井容量是指探测器像素在饱和之前能够累积的电荷数量的最大值。井容量是衡量红外探测器性能的一个关键参数,井容量通常以电子数(e-)表示。较大的井容量意味着探测器可以在饱和之前存储更多的电荷,从而能够在更大的亮度范围内准确检测信号。这对于在具有广泛亮度变化的场景中捕获清晰图像至关重要。从图4可以看出,增大探测器井的容量,同样能很好的提高成像系统的偏振探测能力。图4 探测器井容量与探测器噪声等效偏振度关系图然而,井容量的增加可能会导致像素尺寸增大或探测器面积减小,这可能对系统的整体性能产生负面影响。因此,在设计红外探测器时,需要权衡井容量、像素尺寸和其他性能参数,以实现最佳性能。目标偏振度虽然推导出的噪声等效偏振度公式包含目标偏振度这一参量,但目标的偏振度本身对探测器的噪声等效偏振度没有直接影响。NeDolp 是一个衡量探测器性能的参数,它主要受探测器内部噪声、电子学和其他系统组件的影响。然而,目标的偏振度会影响探测器接收到的信号强度,从而影响信噪比(SNR)。从图5也可以看出,探测器的NeDolp受目标的偏振度影响不大。图5 目标偏振度与探测器噪声等效偏振度关系图读取噪声与产生复合噪声比值读取噪声主要来自于探测器的读出电路、放大器和其他电子元件。它通常在整个光强范围内保持相对恒定。产生复合噪声是由光子的随机到达和电荷生成引起的,与光子数成正比。在低光强下,产生复合噪声通常较小;而在高光强下,它会逐渐变大。通过计算读取噪声和产生复合噪声的比值,可以确定系统的性能瓶颈。如果读取噪声远大于产生复合噪声,这意味着系统在低光强下受到读取噪声的限制。在这种情况下,优化读出电路和放大器等元件可能会带来性能提升。如果产生复合噪声远大于读取噪声,这意味着系统在高光强下受到产生复合噪声的限制。在这种情况下,提高信号处理和光子探测效率可能有助于改善性能。从图6可以看出,降低读取噪声与产生复合噪声比值可以有效提升系统偏振探测能力。图6 δ与探测器噪声等效偏振度关系图信号电子比例综合图4~6可以看出,提升β的数值可有效提高探测器的偏振探测能力,由β的定义可知,对于确定井容量的探测器,β的取值主要取决于探测器的各种噪声与积分时间,降低探测器的工作温度、优化探测器结构、减少表面和界面缺陷等途径都可以降低探测器的噪声,调节合适的积分时间也有助于探测系统的性能提升。实验验证根据噪声等效偏振度的定义,利用面源黑体与红外可控部分偏振透射式辐射源创建一组均匀极化场景。如下图7所示,黑体发出的红外辐射,经过两块硅片,发生四次折射,产生了偏振效应,通过调节硅片的角度,即可产生不同线偏振度的红外辐射。以5°为间隔,将面源黑体平面与硅片间的夹角调为10°~40°共七组。每组将面源黑体设置为40℃和70℃两个温度,用国产自主研制的红外分焦平面偏振探测器采取不少于128帧图像并取平均,然后将每组两个温度下相同角度获得的图像作差,以减少实验装置自发辐射和反射辐射对测量结果的干扰,差值图像就是透射部分的红外偏振辐射。对差值图像进行校正和去噪后,即可按公式计算出探测器对均匀极化场景产生的偏振度图像。计算出红外辐射的线偏振度,为减小测量误差,仅取图像中心区域的像元进行分析。该区域像元的标准差就是该成像系统的噪声等效偏振度(NeDoLP)。探测器具体参数如表1所示。图7 实验示意图表1 偏振探测器参数利用本文建立的探测器仿真模型计算出硅片的线偏振度仿真值,公式19计算出硅片线偏振度的理论值,与实验的测量值进行对比,图8展示了三组数据的变化曲线,从图中可以看出,三组数据存在一定偏差,这可能与硅片调节角度误差、面源黑体稳定性、干涉效应、硅片摆放是否平行等因素有关,但在误差允许的范围内,实验验证了偏振探测系统的性能,也证明了本文建立仿真模型的可靠性。NeDoLP测量结果如表2所示。图8 线偏振度理论值、测量值与本文模型仿真值曲线图表2 实验结果从上表可以看到NeDoLP的测量值与仿真值的差值基本能控制在5%以内,实验结果再次印证了本文设计的模型的可靠性。实例计算应用建立的模型对高2.3m,宽2.7m,温度47℃,发射率为1的目标的最远探测距离进行预测,目标差分温度6℃;背景温度27℃;发射率1;目标偏振度30%,背景偏振度1%,使用3.2节中样机的探测器参数,最后,采用文献中介绍的“等效衰减系数-距离”关系的快速逼近法对红外探测系统最远作用距离R进行求解,得到表3的结果。表3 红外成像系统的最远作用距离根据红外探测系统最远探测距离,利用本文第二节提出的方法,得到不同探测概率下红外偏振成像系统最远作用距离结果如表4所示。表4 红外偏振成像系统的最远作用距离所选例子为目标与背景偏振度差异大于其温差,所以在这种探测场景下红外偏振成像系统的探测能力要优于红外成像系统。探测器的参数不同,探测场景与目标的变化都会对模型的结果产生影响,但本文提供的成像系统作用距离模型可为实际探测中不同应用场景下的成像系统选择提供参考。结论针对不同的探测场景,红外成像系统与红外偏振成像系统在最远探测距离方面哪个更有优势并没有定论,探测目标的大小,背景与目标的温差与偏振度差,大气透过率,具体探测器的参数等因素都会对成像系统的最远探测距离产生影响。经实验验证,本文所建立的非理想红外偏振成像系统的响应模型是可靠的,可以用于估算成像系统的最远作用距离,针对不同的探测场景,读者可通过实验确定探测器的具体性能参数,利用仿真软件或实验测量的方式获取探测目标的温度与偏振信息,明确探测环境的具体大气参数,利用模型对红外成像系统与偏振成像系统的最远作用距离进行预估,选择更具优势的成像系统。这项研究获得上海市现场物证重点实验室基金(No. 2017xcwzk08)和上海技术物理研究所创新基金(No. CX-267)的资助和支持。论文链接:http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/article/abstract/2023041
  • NSI最新高能量X射线工业CT系统即将来临!
    北极星成像(NSI)美国西海岸设备及检测服务中心正式搬迁至加州亚里索维耶荷市(Aliso Viejo)以满足日益增长的全球高能X射线工业CT检测服务美国北极星成像(North Star Imaging)荣幸地宣布将其位于美国西海岸的X射线设备和检测服务中心搬迁至位于加利福尼亚州亚里索维耶荷市(Aliso Viejo)拥有更大区域的检测服务地址。该新办公地点和实验室将为NSI的北美X射线业务提供更大的扩展空间,同时顺应更多的客户要求,其更大的仓储区域可放置更多的X射线扫描部件。相信随着X射线检测服务业务的持续增长,更多的创新科技将会在这广阔的区域开发和引入。“我们知道,由于新冠疫情(COVID-19),今年对于每个人来说都是非常艰难的一年。NSI美国检测服务业务经理David Nokk表示: “作为一家企业,我们对这一举动非常兴奋,这意味着NSI的母公司ITW(伊利诺伊工具制品公司)对我们在西海岸的业务增长充满信心。”NSI西海岸办公室位于加州亚里索维耶荷市(Aliso Viejo),现拥有X3000™ ,X5000™ 和一台450kV的X5000型X射线检测系统。这意味着NSI美国西海岸实验室已具有扫描从小到几微米到大到50加仑水桶般物品的检测能力,且可以最快的速度进行单次或多次的批量扫描。NSI美国西海岸业务发展经理Kevin Bresnahan说: “现在我们的团队可以进行2D,3D和4D扫描。很快,我们还将拥有一台高能X射线系统,这将成为北美航空航天和国防企业的重要资产投入。我们将在今年推出此新系统,我非常高兴NSI美国西海岸的客户将率先体验它的强大功能与能力。”“我们非常高兴高能量X射线系统正式加入NSI产品系列中,以更好地为我们的客户提供服务,进一步增强提供安全,可靠产品的行业能力。是我们的客户不断推动着NSI的进步,我们的目标是为需要对关键项目进行最具挑战性检测的世界一流企业提供优质的服务。感谢NSI的所有客户和朋友使之成为可能。” 北极星成像总经理Seth Taylor说道。北极星成像美国西海岸办公室。地址:25 Journey Street, Aliso Viejo, California. USA.关于美国北极星成像公司(North Star Imaging)美国北极星成像公司(NSI)是全球知名的工业2D数字成像(DR)和3D计算机断层扫描(CT)X射线设备的制造商。工业X射线扫描通常用于研发,失效分析,质量控制,内部尺寸测量和高速3D扫描等。X射线扫描使用户可以更清楚地查看和检测零件的内外部结构而不破坏它。 NSI的efXCT集成了全球最强大的CT重建和可视化软件,包括用于校准,测量,实时密度切片和表面提取的模块。NSI在其位于美国明尼苏达州,加利福尼亚州,马萨诸塞州和法国,英国,中国的6个全球公司提供X射线检测服务,24/7技术支持和NDT无损检测基础和高级培训课程。 NSI已通过ISO 9001:2015认证。如欲了解更多请关注NSI官方微信:NSIChina
  • HORIBA 用户动态|中科院半导体所关于角分辨偏振拉曼光谱配置的研究
    撰文:刘雪璐等众所周知,实验上已经有多种手段可以实现角分辨偏振拉曼光谱(arpr)测试,但是不同配置往往会呈现出不同的结果。常用的arpr实验配置是固定入射激光和散射信号的偏振方向,旋转样品。但是,随着低维材料的兴起,样品尺寸往往只有微米量级,而旋转样品会导致样品点移动,很难实现对微米级样品的原位角分辨拉曼光谱测试。所以重新系统地研究各种arpr配置的优缺点并且找到对于微米级晶体材料优的实验方法显得十分必要。近,中国科学院半导体研究所谭平恒研究组系统全面地分析了三种测量arpr光谱的实验配置,给出了一般形式的拉曼张量在不同配置下拉曼强度的计算方法,并具体地以高定向热解石墨(hopg)的基平面和边界面为例,研究了这些arpr配置在二维材料拉曼光谱方面的应用。该工作使用了horiba公司labram hr evolution型全自动高分辨拉曼光谱仪,分析软件为labspec 6.0。全自动拉曼光谱仪快速的数据采集和强大的数据处理功能,为本工作的顺利完成提供了技术保障。今天在本文中,你将读到: 三种测量arpr光谱的实验配置及优缺点分析 高定向热解石墨的基平面和边界面arpr光谱测量及结果分析三种测量arpr光谱实验配置及优缺点分析图1. 三种测量arpr光谱的实验配置示意图:(a)αlvr和αlhr,(b)vlvr和vlhr以及(c)θlvr和θlhr。其中光路中偏振镜(polarizer)的使用是为了保证入射激光保持竖直偏振。单色仪入口的检偏镜(analyzer)用于选择沿竖直或水平偏振的拉曼信号。半波片用于改变入射激光或者散射光的偏振态。实验室坐标系(xyz)用黑色的箭头表示,而晶体坐标系(x’y’z’)用灰色的箭头表示。红色的双向箭头代表了照射到样品上的入射激光的偏振方向,蓝色的双向箭头代表了由竖直或水平检偏镜选择出的拉曼散射光的偏振方向。测量arpr光谱的实验配置如图1,三种配置的优缺点分别为:(a)αlvr和αlhr:改变入射激光的偏振方向,固定散射信号的偏振方向,而样品固定不动。这种偏振配置在测试过程中只需要通过旋转入射光路上半波片的快轴方向来改变入射激光的偏振方向。其优点在于便于操作,且保证了arpr光谱的原位测试。目前商业化的拉曼光谱仪,如labram hr evolution型拉曼光谱仪集成了自动化控制的半波片,这相比于手动旋转入射光路上半波片快轴方向的操作更为方便,测量结果更准确。(b)vlvr和vlhr:固定入射激光和散射信号的偏振方向,旋转样品。这种偏振配置被广泛应用于研究晶体材料拉曼光谱的各向异性,分别对应于常说的平行偏振(通常记为vv或yy)和交叉偏振(通常记为vh或yx)。其优点在于光路简单,而缺点为在旋转样品过程中不可避免地会导致样品点的移动,很难实现对微米级样品的原位角分辨拉曼光谱测试,使得测试技术难度增加。(c)θlvr和θlhr:在入射激光和散射信号的共同光路上设置半波片,通过旋转半波片的快轴-方向,同时改变入射激光及散射信号的偏振方向,而样品固定不动。这种偏振配置的优点同样是保证了arpr光谱的原位测试,但在低维材料的arpr光谱测量中尚未得到广泛的应用。上述三种arpr光谱的实验配置中,种配置(a)αlvr和αlhr可以借助自动化控制的半波片实现快速测量,是一种快速有效地测量arpr光谱的实验配置。第二种(b)vlvr和vlhr和第三种配置(c)θlvr和θlhr是等价的,这可以通过计算一般形式的拉曼张量在这两种配置下拉曼强度证实, 而后一种配置以其简便性和准确性等优势可以作为前一种的替代,从而可以更为高效地测量诸多微米级样品的arpr光谱。高定向热解石墨的基平面 & 边界面arpr光谱测量及结果分析二维层状晶体材料以其独特的物理、机械、化学和电学特性等迅速成为过去十余年国际科学研究的热点。近报道的一些垂直排列的二维层状晶体材料以及它们的异质结构,它们在边界面上能呈现出某些优于基平面的性质。这些各向异性材料的诸多性能随晶向而变,使其在纳米器件方面有着非常广阔的应用前景。hopg是石墨烯的母体材料,其由单层碳原子层即石墨烯依靠层间范德华力有序地堆垛而成,所以hopg可以作为二维层状晶体材料的代表。为了展示了不同arpr光谱的实验配置在二维层状晶体材料拉曼光谱测量以及各向异性研究方面的应用,研究人员对高定向热解石墨hopg的基平面(如图2)和边界面(如图3)分别进行了arpr光谱的测量。通过研究hopg基平面以及边界面上g模的拉曼强度对不同arpr光谱实验配置的依赖性,进一步证实了旋转样品的偏振测试技术(图1(b)vlvr和vlhr)和在入射激光及散射信号共同光路上放置半波片的偏振测试技术(图1(c)θlvr和θlhr)的等价性。后一种偏振测试技术可以作为前一种的替代,使得平面内各向异性材料的arpr光谱测量更为简便和准确。图2.(a)hopg基平面上的拉曼光谱。插图为晶体坐标系相对于激光入射方向的示意图。(b)偏振配置αlvr和αlhr,hopg基平面的g模拉曼强度igb(g)随α变化的坐标图。(c)偏振配置vlvr和vlhr下,hopg基平面的g模拉曼强度igb(g)随变化的坐标图。(d)偏振配置θlvr和θlhr下,hopg基平面的g模拉曼强度igb(g)随θ变化的坐标图。图3.(a)hopg边界面上的拉曼光谱。插图为晶体坐标系相对于激光入射方向的示意图。(b)偏振配置αlvr和αlhr下,hopg边界面的g模拉曼强度ige(g)随α变化的坐标图。(c)偏振配置vlvr和vlhr下,hopg边界面的g模拉曼强度ige(g)随β变化的坐标图。(d) 偏振配置θlvr和θlhr下,hopg边界面的g模拉曼强度ige(g)随θ变化的坐标图。对于垂直排列的二维层状晶体材料,单层厚度仅有亚纳米的级别,无法用光学显微镜对它们的晶向进行准确判断,目前急需一种快速、无损的鉴别方法。中国科学院半导体研究所谭平恒研究组进一步发现,当入射激光偏振方向与hopg碳平面取向平行时,其g模强度达到大值。基于这一特征,研究人员利用arpr光谱对hopg的边界面进行了晶向指认。这种方法还将有望推广到其他垂直排列的层状材料晶向的无损快速鉴别。图4. (a)hopg的边界面的光学图像,hopg边界面碳平面的方向y’与实验室坐标系y轴的夹角为β0=0o,20o和40o。(b)偏振配置αlvr下,β0=0o,20o和40o时hopg 边界面的g模拉曼强度ige(g)随α变化的坐标图。(c)偏振配置αlhr下,β0=0o,20o和40o时hopg边界面的g模拉曼强度ige(g)随α变化的坐标图。以上工作得到了国家重点研发计划和国家自然科学基金委的大力支持,并于近期以highlights文章发表于中国物理b《chinese physics b》上:liu xue-lu, zhang xin, lin miao-ling, tan ping-heng. different angle-resolved polarization configurations of raman spectroscopy: a case on the basal and edge plane of two-dimensional materials. chinese physics b, 2017, 26(6): 067802horiba科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 jobin yvon 光学光谱技术,horiba scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天horiba 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
  • 布鲁克发布Bruker 高通/能量三维X射线显微成像系统(3D XRM)新品
    Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描(Micro-CT)技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品,这是台式显微成像设备进行无损检测(NDT)的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合,在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件,直接进行数据收集,先进的图像分析,强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小,简单易操作,几乎无需维护。因此,Skyscan 1273运行稳定,性价比极高。 特点 40-130kV低成本免维护X射线源 8位滤光片转换器自动进行能量选择 GPU加速性能可提高3D重构速度 大尺寸图像的自动拼接偏移扫描 利用螺旋扫描和精准重构可获得最佳的平面结构图像质量 借助HART Plus,对大宽高比物体在保持图像质量的情况下,扫描速度可提高4倍参数• X射线源:40-130kV,39W,• X射线探测器:600万像素平板探测器(3072×1944像素)• 标称分辨率(最大放大率下样品的像素):图像分辨率<3um;空间分辨率<5um,• 重建容积图(单次扫描):最高4800×4800像素 • 样品尺寸:最大值:直径250mm,长500mm,重量20kg• 扫描空间:最大值:直径250mm,长300mm• 辐射安全:在仪器表面的任何一点上<1 uSv/h• 外形尺寸:1250(宽)×815(深)×820(高)毫米• 重量:400千克,不含包装• 电源:100-240V / 50-60Hz / 3A创新点:Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描(Micro-CT)技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品,这是台式显微成像设备进行无损检测(NDT)的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合,在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件,直接进行数据收集,先进的图像分析,强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小,简单易操作,几乎无需维护。因此,Skyscan 1273运行稳定,性价比极高。Bruker 高通/能量三维X射线显微成像系统(3D XRM)
  • 布鲁克发布Bruker 高通/能量三维X射线显微成像系统(Micro-CT)新品
    Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描(Micro-CT)技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品,这是台式显微成像设备进行无损检测(NDT)的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合,在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件,直接进行数据收集,先进的图像分析,强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小,简单易操作,几乎无需维护。因此,Skyscan 1273运行稳定,性价比极高。 特点 40-130kV低成本免维护X射线源 8位滤光片转换器自动进行能量选择 GPU加速性能可提高3D重构速度 大尺寸图像的自动拼接偏移扫描 利用螺旋扫描和精准重构可获得最佳的平面结构图像质量 借助HART Plus,对大宽高比物体在保持图像质量的情况下,扫描速度可提高4倍参数• X射线源:40-130kV,39W,• X射线探测器:600万像素平板探测器(3072×1944像素)• 标称分辨率(最大放大率下样品的像素):图像分辨率<3um;空间分辨率<5um,• 重建容积图(单次扫描):最高4800×4800像素 • 样品尺寸:最大值:直径250mm,长500mm,重量20kg• 扫描空间:最大值:直径250mm,长300mm• 辐射安全:在仪器表面的任何一点上<1 uSv/h• 外形尺寸:1250(宽)×815(深)×820(高)毫米• 重量:400千克,不含包装• 电源:100-240V / 50-60Hz / 3A创新点:Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描(Micro-CT)技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品,这是台式显微成像设备进行无损检测(NDT)的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合,在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件,直接进行数据收集,先进的图像分析,强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小,简单易操作,几乎无需维护。因此,Skyscan 1273运行稳定,性价比极高。 Bruker 高通/能量三维X射线显微成像系统(Micro-CT)
  • 243万!清源创新实验室能量色散型X射线荧光光谱仪等采购项目
    项目编号:FJXCZB2022ZC046项目名称:清源创新实验室能量色散型X射线荧光光谱仪、全二维气相色谱质谱联用仪、液相色谱仪、总有机碳分析仪货物类采购项目预算金额:243.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):243.0000000 万元(人民币)采购需求:合同包品目号采购标的是否允许进口产品数量合同包预算(最高限价)投标保证金11-1能量色散型X射线荧光光谱仪是1(台)680000.00022-1全二维气相色谱质谱联用仪是1(台)1100000.00033-1液相色谱仪是1(台)390000.00044-1总有机碳分析仪是1(台)260000.000 合同履行期限:合同签订后180日内完成全部货物供货【如遇特殊情况需延长交货的,中标人须在交货期满前7日前提出延长交货时间的书面申请,经采购人同意后方可延长,否则按照逾期计算】并于接到采购人安装通知后7日内安装调试完毕并交付使用。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • X射线荧光光谱仪的新理论、新理念、新探索 | XRF网络会视频回看
    2021年9月8日,由仪器信息网与国家地质实验测试中心联合举办的“X射线荧光(XRF)分析技术与应用新进展2021”网络研讨会圆满结束。本次报告会历时一天,共邀请到了6位XRF资深专家带来了精彩的学术分享,涉及到X射线光谱仪发展新趋势,样品制备方法的讲解,微束XRF分析仪的研发及应用,WDXRF光谱仪的标准规范送审稿详解,以及XRF方法在石化和环境领域的应用进展。本次会议还获得了岛津企业管理(中国)有限公司、北京安科慧生科技有限公司、奥林巴斯(北京)销售服务有限公司的大力支持,会议中相关公司技术总监、应用专家也带来了精彩的报告分享,涉及到元素定量分析、铜铅锌矿测定方法以及手持式XRF在新能源汽车中的应用。国家地质实验测试中心罗立强研究员还特别增加了问答互动送书环节,最终选出了6位网友,将由仪器信息网联系并寄出书籍。以下是罗老师给出的问题答案:1.μ子和当代X光谱有什么关系吗? 网友回答部分正确,但不全面。有何关系:1)与当代传统XRF在X射线产生的机理上不同 a)传统XRF由内层电子受X射线激发并由外层电子跃迁产生X射线荧光 b)μ子X射线光谱并非由元素的原子内层电子激发而产生,而是由于μ子受元素的原子核吸引捕获而产生梯级(级联)能量跃迁,从而发射出特征X射线2)利用μ子梯级能量跃迁所产生的元素特征X射线光谱,可以和当代X射线(荧光)光谱一样,用于物质组分的定量分析;3)在轻元素和层中元素分析方面,μ子X射线光谱具有显著优势。此外,浙江省生态环境监测中心季海冰高级工程师、中国石化石油化工科学研究院吴梅高级工程师和罗立强老师在会后针对网友提问做出了解答: 网友提问:μ子能穿多深呢?罗立强:高动量μ子可穿透数千米;目前装置实验穿透深度为厘米级。穿透深度与μ子能量合物质组成相关;可根据需求和设备条件调节所需深度。网友提问:不知道啥时候XRF能挑战ICP,价态这块极有价值,以前能区分负二价硫和正六价硫罗立强:由于方法的特点,溶液和低含量组分测定不是XRF的特点,因此无需追求XRF与ICP在检出限上的比较,可以互补。XRF在形态分析方面具有重要价值,也是XRF的优势。网友提问:WDXRF和EDXRF优缺点是什么?罗立强:WDXRF和EDXRF主要优缺点:1)WDXRF:分辨率高,准确度好。但分时时间长,了解样品的总体组成比较费时间;2)EDXRF:一次测定可采集全谱,速度快,效率高,对了解样品全元素信息十分有用。但分辨率不如WDXRF,轻元素分析准确度不如WDXRF。3)采用WDXRF和EDXRF结合模式,则可以取长补短,是当前和未来一段时间的发展趋势网友提问:硅铝怎么测好,能详细解释一下吗?吴梅:采用的是单波长激发能量色散XRF,偏振XRF应该也可以,降低散射峰背景,同时通氦气,检测器进行了无铝材质的优化网友提问:标准中存在滤膜元素单位换算,μg/cm2换算μg/m3,公式里涉及曲线斜率和强度等数据,可以讲一下吗?季海冰:标准滤膜的单位是指每平方厘米膜上采集的元素质量数μg,乘以滤膜的面积A,计算得到采集的总质量μg,然后除以采样体积m3,就是环境空气中浓度μg/m3了。因为元素之间存在很多干扰,在方法建立的时候,会进行各种干扰元素间的响应扣除,仪器在分析时会进行自动的计算,直接报出浓度值。而不是我们平常分析的线性方程这么简单。以下是本次会议的会议报告及回放视频链接,点击图片即可直达视频(如不能跳转,即为专家报告不可回看)报告专家: 国家地质实验测试中心研究员 罗立强报告题目:《从μ子探测看当代X射线光谱仪发展新趋势》报告专家:北京安科慧生科技有限公司技术总监 滕飞报告题目:《基本参数法与先进数学模型在XRF元素定量分析的研究进展与应用》报告专家:北京师范大学核科学与技术学院教授 程琳报告题目:《毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪的研发及应用》程琳教授报告后,针对网友提问进行了答疑,还展示了自己的邮箱,欢迎对报告感兴趣或者有疑问的人与其联系,共同探讨与交流。报告专家:岛津公司分析中心X射线荧光光谱分析资深工程师 赵伟报告题目:《X射线荧光光谱法测定铜铅锌矿方法探讨》报告专家:浙江省生态环境监测中心高级工程师 季海冰报告题目:《环境空气颗粒物无机元素的x射线荧光光谱法检测及其应用》报告专家:中国计量科学研究院高级工程师 史乃捷报告题目:《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范(送审稿介绍)》报告专家:奥林巴斯(北京)销售服务有限公司上海分公司应用工程师 谈思涵报告题目:《HHXRF在新能源汽车制造中的应用介绍》报告专家:中国地质科学院地球物理化学勘探研究所教授 李国会报告题目:《波长色散XRF不同样品制备方法解析》报告专家:中国石化石油化工科学研究院高级工程师 吴梅报告题目:《X射线荧光光谱在石油化工领域中的应用进展》
  • XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪
    XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪是专业的RoHS/WEEE指令筛选仪器。该仪器提供一种快速、可靠、无损样品的筛检手段,对于塑料外壳、印刷电路板(PCB)、电缆、含镀层的紧固件等都 可以用这一件轻便 设备进行多元素无损检测。轻扣扳机,对样品中的镉、铅、汞、铬总量 、溴总量 及其它构成元素进行 定量 分析,快速判定检测结果。使您在更 短的时间内处理 更多的样品,避免因繁琐的常规分析而费时费力。XRF7开拓了新的RoHS指令QA/QC分析程序,是您最理想的筛选工具。 XRF-7 同时也遵循WEEE 指令,适用于制造业、废料 回收等筛检工作。XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪的主要特点为: RoHS/WEEE指令快速筛选; 无需样品前处理、进行非破坏性分析; 短时间快速分析; 现场直接分析测定; 多种定量分析方法; 创新的薄样技术与厚样技术相结合,在样品进行前处理后,RoHS典型元素检出限可达mg/kg级; 完善的保护功能:安全锁、感应光闸辐射防护设计,安全可靠; 种类齐全的标准样品相配套(PP、ABS、PE、铝合金等); 彩色触摸屏菜单操作; 无限量数据存储。仪器的创新点为:薄样技术与厚样技术两种X荧光能谱应用技术的结合,使得该仪器既能对大量样品作快速的初步筛检试验,也可以对经过前处理后的样品作较慢的实验室级别细致检测。相当于同时拥有了便携和中档台式两台X荧光能谱分析仪。应用: 电子元器件、连接件、线路板 各种焊锡材料中的Pb、Cd、Ag等 金属部件、合金框架等 聚合物中Br、Pb、Hg、Cd等
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