苏光电子经纬仪

产品介绍岛津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作为高端光电子能谱仪传承了上一代产品高度智能化的优点，将采谱、成像功能与自动化高度相融合，保证了高样品吞吐量和易用性，为用户提供了全新无人值守自动化体验。同时AXIS SUPRA+对产品硬件进行了相应的改进和扩展，一方面能够为用户提供仪器更优异的性能，另一方面也为用户提供了可选的多种拓展技术。AXIS SUPRA+卓越的自动化技术● 无人值守自动进行样品传输和交换● 硬件自动化控制，实时监测谱仪状态和校准AXIS SUPRA+超强的表面分析能力● 具有高性能XPS分析、快速平行化学成像分析、小束斑微区分析● 利用角分辨、高能X射线源、深度剖析可以实现从超薄到超厚的深度分析● 多种功能附件（惰性气体传输器、高温高压催化反应池等）和可拓展多种表面分析技术，如紫外光电子能谱（UPS），离子散射谱（ISS），反射电子能量损失谱（REELS），俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜（AES和SAM）等等AXIS SUPRA+高效智能工作流程适合多用户环境● 高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析● AXIS SUPRA+采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的交互简单化和智能化，可以进行谱仪的控制、数据的采集和分析

岛津／Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Nova——最新成像自动型，业界领先位于英国曼切斯特的Kratos公司是世界上最早生产商品化X射线光电子能谱仪的厂家之一，现在是世界上最大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。自1997年以来，岛津/Kratos公司研发了包括专利的磁沉浸透镜和专利的低能电子荷电中和系统等一系列新技术的新型光电子能谱仪——AXIS Ultra，并于2002年底推出了使用二维阵列检测器——延迟线检测器（Delay-Line Detector）的最新自动型AXIS Nova型XPS谱仪。截至2014年1月底，在世界上已经销售了超过100台AXIS Nova型XPS谱仪，在世界上许多著名的大学、科研机构和企业公司中得到了高度的认可，在业界处于绝对领先地位。 技术特点：Axis Nova采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度，同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器，可以获得最高的XPS谱线能量分辨。在检测器端，Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代专利的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器，完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务，尤其是对于表面凸凹不平的样品（典型的是粉末样品和断口样品），可以获得完美的分析结果。Axis Nova使用专利的与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器，可以获得高空间分辨的平行光电子图像，亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。Axis Nova采用全自动的大样品台设计，最大样品可达4吋，可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置，并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动XPS分析。

Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪（XPS）是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台，ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术，打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置，带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身，操作便捷，快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合，实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术，使得XPI成像分辨率达1um，所得数据无探测器背底特征，无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm～900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点，确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合，用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度，确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具，可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统，可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件，包括： 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

备受赞誉的Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪（XPS）集合了卓越的性能、快速分析及杰出的化学灵敏度等优势。K-Alpha将前沿的单色化XPS优异性能与全智能自动化完美结合，尤其适合于多用户环境。K-alpha的易操作性，可同时满足经验丰富的XPS分析人员和初学者的需求。分析选项包括用于角分辨XPS数据采集的倾斜模块和用于空气敏感样品传输的可循环惰性气体手套箱。 强大的性能可选面积能谱深度剖析微聚焦单色器高分辨率化学态能谱快照采集绝缘样品分析定量化化学成像 无可比拟的易用性一键式样品导航和实验设定自动样品传输按需校准全能谱仪设定离子枪设定完全计算机操作 世界一流的软件 仪器控制 数据采集 数据解析 数据处理 报告生成 数据存档管理 审查跟踪日志 系统性能日志如您想了解更多关于K-Alpha X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

表面和界面分析充满了挑战，需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific Nexsa G2表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪，在保证数据质量和样品测试通量的同时，集成了其他分析技术。与所有 Thermo Scientific XPS 系统一样，Nexsa G2 系统也使用 Avantage 进行仪器控制、数据处理和报告生成。无论是在专业的研究实验室，还是在多用户环境中工作，Avantage 灵活易用、功能齐全、操作直观的特性，可帮助不同水平的用户实现样品分析。为什么选择 Nexsa G2 系统？高效的科研级能谱仪新型微聚焦单色化X射线源可实现以 5 μm 步长的 10 μm 至 400 μm 的 X 射线光斑大小连续可调，从而确保将分析束斑调节至与目标特征匹配，最大程度地增强信号。利用升级的X 射线源、高效的电子透镜和优化的检测器，可实现卓越的灵敏度和高效的数据采集。绝缘体分析Nexsa G2 系统上的一键式自动电荷补偿系统可轻松实现绝缘样品分析。专利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电，因为使用极低能量的电子，大多数情况下将无需进行荷电校正。深度剖析Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS（可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保卓越的性能和实验重现性。多技术联用使用 Nexsa G2 系统，所有技术将触手可及，一套系统全面分析您的样品。标准配置具备高性能 XPS 所需的所有功能，ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身。升级选项可将系统转换为完整的分析工作站，有助于解决材料分析问题，提高生产效率。特殊样品台可选Nexsa G2增加了多种样品台可选，以满足科研的特殊应用需求。特殊可选样品台有：NX 加热台，用于原位的样品加热分析；多触点偏压样品台，可实现样品在真空系统中的施加电压，偏压或循环电极后的XPS原位分析；惰性气体转移腔，可实现空气敏感样品的真空/惰性气体保护转移；MCA样品台，用于XPS+SEM的关联分析，实现XPS技术和电子显微技术对样品的同一个分析区域采集数据，并进行比对分析。如您想了解更多关于Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

本系列电子经纬仪采用光电增量式测角系统，集光、机、电和计算机技术于一体实现了角度测量、显示、存储等多项功能，本电子经纬仪可同时显示水平和竖直角度，并可实现竖直角的斜率转换及竖直角度的倾斜补偿功能，测角精度为2 。在实现角度测量功能的同时，本电子经纬仪还可以与测距仪相接组成组合式电子速测仪。电子经纬仪配有数据输出接口，可将测量数据传输给外部计算机。本电子经纬仪可广泛应用于国家和城市的三、四等三角控制测量，电子经纬仪用于铁路、公路、桥梁、水利、矿山等方面的工程测量，电子经纬仪也可以用于建筑、大型设备的安装及地籍、地形测量和多种工程测量。光学经纬仪J2-211700元2¨ 正像,有手柄可连测距仪 J2-1光学经纬仪J29000元2¨ 倒像,自动补偿光学经纬仪TDJ2E9800元2¨ 正像,自动补偿,完美的光路系统光学经纬仪TDJ28800元2¨ 倒像,自动补偿光学经纬仪TDJ6E6200元6¨ 正像,自动补偿 TDJ6电子经纬仪DJD2-C8800元2¨ DJD2A激光经纬仪DJJ2-1GJ12800元2¨ 可正倒像,半导体激光器一机多用 电子经纬仪 DT-2 6000元 2秒正像

经纬仪是一种根据测角原理设计的测量水平角和竖直角的测量仪器，分为光学经纬仪和电子经纬仪两种，目前最常用的是电子经纬仪。经纬仪是望远镜的机械部分，使望远镜能指向不同方向。经纬仪具有两条互相垂直的转轴，以调校望远镜的方位角及水平高度。经纬仪是一种测角仪器，它配备望远镜、水平度盘和读数的指标、竖直度盘和读数的指标。

DT402L产品介绍DT400系列电子经纬仪可广泛应用于城市的三、四等三角控制测量，用于铁路、公路、桥梁、水利、矿山等方面的工程测量，也可用于建筑、大型设备的安装，应用于地籍测量、地形测量和多种工程测量产品特点：屏幕液晶显示，读数方便，操作更易上手编码测角系统 电子式补偿器可对同角度多次测量求均值，提高精度减少记录量可方便连接外接手簿激光对点和指向开关可通过面板操作。角度测量 测量方法 编码 读数 1″ 精 度 2″望远镜 物镜孔径 45mm 放大倍率 30× 成像 正像 视场角 1°30′ 视距 1.0m显示 显示屏 双面 照明 有补偿器 倾斜传感器 自动垂直补偿 补偿范围 ±3′水准器 长水准器 30″/2mm 圆水准器 8′/2mm电源 电池 6V可充镍-氢电池 电池工作时间 15h其它 对点器 DT402L（激光对电器） 数据接口 RS-232C 仪器大小 153×175×328 mm 工作温度 -20℃ ～ + 50℃ 仪器重量 4.0kg

一、产品介绍高精度经纬仪专用检定装置能在室内很方便地对光学经纬仪、电子经纬仪进行检定、测试、和维修等工作，如对经纬仪水平角测角示值误差，光学对中器的视轴与竖轴的同轴度误差及经纬仪望远镜视准轴、横轴及竖轴等轴线几何关系，对望远镜调焦运行误差等进行检测，特别是解决了对经纬仪竖盘测角示值误差的检测，从而使它能按照经纬仪国家计量检定规程中的项目进行检定、校准。本仪器同时实现对水准仪i角、竖轴回转精度、交叉误差等项目进行检定、校准。高精度经纬仪专用检定装置采用一台立式多齿分度台(可选用程控多齿分度台)、一台卧式多齿分度合、一台检调管、一台自准直光管（作平行光管用）和仪器座组成。自准直光管焦平面上有刻线分划板，通过立式多齿分度台的转动，与平行光管一起构成任意角度水平方向无穷远目标，同样，通过卧式多齿分度台的转动，也能构成任意角度竖直方向无穷远目标，因此，它能很方便地模拟各种情况来对仪器进行检定。二、精度指标及技术参数1、水平角标准器的示值误差≤0.2″；2、竖直角标准器的综合示值误差≤１″；3、对中光学系统中设有0.6m及1.5m对中分划板，其等效格值均为2mm；4、工作高度：1.2m，即卧式多齿分度台轴线离地面高度；5、仪器工作台升降范围：300mm；6、定中心螺丝规格：M16及英制5/8英寸；7、照明灯泡规格：6.3V，2.1W；8、平行光管焦距：f=550mm，相对孔径1：10；9、外形尺寸:1060×920×1400 mm。三、结构特点1、高精度经纬仪专用检定装置采用卧式多齿分度台与平行光管能完成对经纬仪和水准仪各项目的检定，特别是能够实现对经纬仪竖盘可使用的全部范围进行检定，是目前国内能提供竖直角真值的装置；2、采用多齿分度台作为本仪器的角度标准，使得仪器量值溯源简单，该仪器只需通用仪器（多面棱体、自准直仪），用角度计量中常用的全组合排列互比法，即可检定出仪器的不确定度，且是在工作状态下进行检定，检定后不再改变仪器状态，溯源准确、可靠；3、高精度经纬仪专用检定装置具有自校功能，在检测水准仪i角时，可随时对标准角进行校准，一旦失准，能随时发现，且调整方便；4、在检定和校准经纬仪过程中，可以直接在工作台上一边校准、一边维修，不用每次都拆装，节省工作时间；5、无需专用地基，结构紧凑，占地面积小。四、《JJG 414-2011光学经纬仪检定规程》中7.2检定项目要求的检定项目与我公司产品标配可检项目对照序号检定规程项目我公司产品是否可检1.1外观及各部件的相互作用可检1.2水准器轴与竖轴的垂直度可检1.3照准部旋转正确性可检1.4望远镜十字分划板竖丝的铅锤性可检1.5视准轴与横轴的垂直度可检1.6横轴与竖轴的垂直度可检1.7竖盘指标差可检1.8望远镜调焦运行误差可检1.9光学对中器对中误差可检1.10竖盘指标自动补偿误差选配二维微倾台可检1.11ー测回水平方向标准偏差可检1.12一测回竖直角测角标准偏差可检此款高精度经纬仪专用检定装置和高精度水准仪专用检定装置配套使用欢迎访问

DT-02CL中文电子经纬仪是一款普通红外电经，中文显示，测角精度2秒，电子气泡补偿精度为1秒，补偿范围：±4′。带激光对中器。降阻电路优化设计。性能特点 优势：角度数据存储，同轴结构，简洁设计，精确光斑，主机供电精 度：测角2”双面大屏幕中文显示型号DT-02CL望远镜成像放大倍率有效孔径分辨率视场角视距视距乘常数视距加常数筒长测角部分测角方式编码盘直径显示读数精度探测方式水平角垂直角 正像30x45mm3"1°30′1.4m有0157mm 绝编码式79mm1"/5"可选2" 对径对径 显示部分显示器类型水准器长水准器圆水准器自动垂直补偿器系统精度激光对中器对中精度激光点直径微动螺旋螺旋个数物理特征 使用环境温度机载电池电压容量连续工作时间尺寸重量人性化设置指标差2C校正软件升级 双面中文显示 30″/2mm8′/2mm 液体电子传感器　4′ 水泡补偿 3′液体电子传感器：1″ 管水准器：30″/2mm 1.5m处1.5mm1.5m处2.5mm 1个水平/1个垂直 -20℃～+55℃可充电镍—氢电池/锂电池直流6V≥2500毫安24小时165mm X 157mm X 318mm (长X宽X高)4.3kg 软件自动改正在线自助

拓普康DT202/DT202L经纬仪特点：进口：精度角度测量,---性更高，采用三爪基座，提高了仪器的稳定性。rs-232c端口实时数据传输，自动补偿精度测量:通过倾斜传感器的竖角改正。dt-200系列能进行精度测量。定线放样方便内装波长为633mm二极管激光器，可以---视准轴位置操作简单 无需专门培训即可掌握望远镜长度:149mm物镜孔径:45mm放大倍率：30x成像：正象视场角：1°30′分辩率：2．5″短视距：90cm视距加常数：0视距乘常数 ：1百电子角度测量测量方法：法读数读数方式：水平度盘:对径直度盘:对径读数：1″/5″精度：2″度盘直径：71mm显示屏：双面 照明：有补偿器倾斜传感器：自动垂直补偿补偿范围：±3′光学对中器放大倍率：30x 视场角:5度调焦范围：0.5米~∞水准器照准部水准器：30″/2mm圆水准器：10′/2mm防水性能：防水 防水等级(按ec529标准)：ipx6电池：4节aa干电池使用时间：140小时其他三角基座类型：可装卸仪器高度：176mm 仪器大小尺寸(长×宽×高)：149*180*313mm重量(含电池):4.1kg

不锈钢 测量强制对中盘 全站仪/经纬仪等 位移沉降对中器（圆形数据）产品材质：304不锈钢 工艺性能：坚固适用：水库大坝，工程建筑，勘测定界等行业，为各种品牌型号的全站仪、经纬仪，水准仪等测量仪器提供强制归心连接，同时配合它们照准觇标使用。定制设计用于外部变形监测控制网（平面）设计测角精度±0.5″边长测量精度（0.5mm+lppm*D），弱点点位中误差±0.85mm 。工作范围：变形观测、滑坡监测、精密控制网等工作基点、位移点和校测点安装。基座 规格：长150mmx宽150mmx厚10mm 保护盖规格 长152mmx宽152mm 防锈保护漆ps：本公司产品技术参数及配置如有变更，恕不另行通知。

汕尾市深汕科建测绘仪器有限公司是一间集销售、维修、检定、校准测量仪器及提供测量方案服务的专业仪器服务公司。公司主营各种国产和进口仪器包括：RTK,GPS、全站仪、经纬仪、水准仪、测距仪、垂准仪、测深仪、管线探测仪、激光扫平仪、回弹仪、测斜仪、测温仪等测量仪器；以及各种建筑书籍,办公用品

辽宁辽阳营口鞍山红外激光测距仪电子经纬全站仪水准仪_——崔经理 辽宁辰硕实业有限公司是一家从事理化仪器、实验室设备、试验仪器、环境监测仪器等仪器设备销售、维修及技术开发、技术咨询、技术服务为一体的综合性公司。致力于把国内外更好仪器设备推荐给客户，涉及仪器方面的咨询、售后、维修、改装等业务都可以通过我们来提供更好的解决方案。为用户提供的不仅仅是产品，而是我们多年积累的能力和信誉。辽宁辰硕实业有限公司本着“服务至上、信誉为重”的企业精神，为科研院所、质检实验室、大专院校、冶金、机械、食品、环保、能源等行业提供各种进口、国产的仪器设备，凭借过硬的技术、快捷的服务和经济的价格，真正帮助客户节约成本、提高技术、提升收益，受到广大用户的一致好评，赢得了良好的商业信誉。选择辰硕，选择放心仪器与服务。辰硕期待与您的合作！辽宁辰硕实业有限公司地址：辽宁省鞍山市铁西区九道街 崔经理 一、光谱分析1、721型可见分光光度计2、紫外可见分光光度计、紫外分光光度计3、原子吸收分光光度计、原子荧光光度计、火焰光度计4、红外光谱仪、红外分光光度计、近红外分光光度计5、原子吸收光谱仪6、荧光分光光度计、荧光光度计、原子荧光光谱仪、形态分析仪7、直读光谱仪、光电直读光谱仪，ICP-AES，拉曼光谱仪8、X荧光光谱仪、等离子光谱仪9、光谱仪配件：比色皿、吸收池、样品池、钨灯、氘灯、空心阴级灯二、试验机硬度计1、液压试验机、电子试验机、冲击试验机2、拉力试验机、拉伸试验机、压力试验机、拉力机、疲劳试验机3、弯曲弯折摇摆试验机、扭转试验机、拉弯试验机4、试验机配件、试验机夹具5、布氏硬度计、洛氏硬度计、维氏硬度计、布洛维氏硬度计标准试块6、里氏硬度计、肖氏硬度计7、韦氏硬度计 、巴氏硬度计、邵氏硬度计8、硬度计、显微硬度计、超声波硬度计9、制样设备：金相磨抛机、金相切割机、全自动镶嵌机、金相预磨机、金相抛光机三、无损检测1、超声波探伤仪2、便携式磁粉探伤仪、磁粉探伤机(卧式大型机)3、X射线探伤仪、涡流探伤仪4、探伤机试块、测厚/焊缝/标准/对比/TOFD试块、X射线胶片、着色渗透探伤剂5、探伤灯、黑光灯、荧光探伤灯、观片灯、黑白密度计、密度片6、超声波测厚仪探头、近场/远场/漏磁/涡流探头7、工业内窥镜8、超声波测厚仪9、涂层测厚仪、覆层测厚仪10、薄膜测厚仪、橡胶测厚仪11、表面粗糙度仪、粗糙度轮廓仪12、冷媒/卤素检漏仪四、实验室设备1、pH计、pH/离子计电极2、电导率仪、电导仪3、酸度计、离子计、钠度计4、滴定仪、电位滴定仪、水份滴定仪、水分滴定仪测定仪5、溶解氧测定仪/DO测定仪6、浊度仪、浓度计7、色度仪、比色计、酶标仪、洗板机8、多参数水质分析仪、在线多参数监测仪9、水质分析仪/检测仪/监测仪、库伦法水分测定仪、微量水分测定仪、PH/ORP测量仪、卡氏水分测定仪10、运动粘度测定仪、蛋白质测定仪、凯氏定氮仪11、水中油份测定仪、红外测油仪、露点仪12、水质BOD测定仪、COD测定仪13、氨氮总氮检测仪在线监测仪、在线总磷分析仪监测仪14、ORP测定仪、氧化还原测定仪15、碳氢氮元素分析仪、硫氮测定仪、定碳定硫仪、紫外荧光测硫仪、碳氢氧元素分析仪、发光定氮仪16、γ能谱仪、测氡仪、αβ测量仪17、氧弹量热仪、热量计、灰熔点测定仪、灰熔融性测定仪18、微波/固相萃取仪、COD萃取仪、COD消解器、石墨消解仪19、真空/电热/鼓风干燥箱、烘箱20、低温/生化/振荡培养箱、恒温恒湿箱21、老化实验箱、试验箱22、电炉、箱式电阻炉、马弗炉23、恒温水浴箱/锅/槽、低温/循环/恒温槽24、超低温冰箱、低温保存箱、冷藏箱25、生物安全柜、实验室通风柜、实验室通风橱26、超纯水机、纯水器、蒸馏水器27、蒸汽/真空/低温/高压灭菌器、灭菌锅、清洗消毒机、超声波清洗器28、移液枪、移液器29、超净工作台、净化工作台、洁净工作台30、标准筛、分样筛、试验筛31、离心机、振荡器、震荡器、摇床32、旋转粘度计、在线/数字/落球/毛细管/平氏粘度计33、真空泵、蒸发器、蒸发仪、玻璃烘干器34、漩涡混合器、混匀仪、磁力搅拌器、电动搅拌机、恒温加热板五、电子天平1、精密电子天平、赛多利斯电子天平、精密电子天平、电子天平、分析天平、比重天平2、电子秤、电子称、电子台秤、磅秤、料斗秤称重控制器显示仪3、电子汽车衡、电子地磅、称重传感器、砝码六、光学仪器 1、照度计、紫外辐照计、亮度计、光泽度计仪、白度计仪、雾度计2、测色仪、色度仪、色度计、色差计仪、色度仪、比色计3、阿贝折射仪、全自动折光仪、糖量计糖度折射测试仪、盐度计、酸度计4、旋光仪、显微熔点仪5、光源箱、对色灯箱、比色灯箱七、色谱分析1、气相色谱仪2、液相色谱仪、凝胶色谱仪3、离子色谱仪、便携式色谱仪4、液相/气相色谱质谱联用仪、等离子体质谱联用仪、生物/气体质谱联用仪、有机质/无机质谱联用仪、同位素质谱联用仪、核磁共振波谱仪5、色谱检测器：热导、火焰光度、电子捕获、氮磷、荧光6、气相/液相色谱仪耗材配件、色谱柱、填充柱、毛细柱、极性柱7、色谱进样:顶空进样器、顶空瓶、液体进样器、色谱进样针8、氮吹仪、吹氮仪、浓缩仪、氮气吹扫仪、氮气浓缩器9、氢气/氮气/空气/气体发生器、色谱工作站 八、显微镜1、光学显微镜、金相显微镜、偏光显微镜、正置显微镜、倒置显微镜、体视显微镜、工具测量显微镜2、材料显微镜、生物显微镜3、显微镜配件/组件九、测量仪器1、 桥式三坐标测量机、龙门式三坐标测量机、复合式三坐标测量机、关节臂式三坐标测量机、三坐标划线机、三坐标夹具2、齿轮测量中心、光学影像测量仪、测量投影仪、表面轮廓测量投影仪3、测长仪、测长机、圆度仪、圆柱度测量仪4、量规、测厚规、对表环规、螺纹塞规、螺纹环规、带表内外卡规5、百分表、内径/外径千分尺、游标卡尺、角度尺、宽座角尺6、立式光学计、光学比较仪、7、千分尺检定校准专用量块（20块）、游标卡尺检定校准专用量块(12块)、表面粗糙度比较样块、陶瓷量块、角度量块十、气体检测仪1、固定便携式可燃气体检测仪、可燃气体探测仪2、固定便携式CO一氧化碳检测仪、二氧化碳CO2检测仪、固定便携式煤气检测仪3、NO检测仪、固定便携式一氧化氮检测仪、有毒有害气体检测探测仪4、氧气检测仪、微量氧分析仪、测氧仪5、气体检测仪、在线气体监测仪6、复合气体检测仪、多气体检测仪器、四合一气体检测仪、7、H2氢气检测仪、氨气气体检测仪、硫化氢气体检测仪、苯检测仪 十一、环境检测1、声级计、噪音计、个人声暴露计、音频分析仪、噪声分析仪、测振仪振动计、振动测量信号分析仪2、风速计、风量仪3、大气采样器、烟尘采样器、总悬浮微粒采样器、综合智能大气采样器、防爆粉尘采样器、环境空气颗粒物采样器4、 大流量低浓度烟尘/烟气测试分析仪、自动烟尘烟气测试仪分析仪、智能双路烟气采样器、综合烟气分析仪5、手持式烟气分析仪、便携式烟气分析仪6、尘埃粒子计数器 7、皂膜流量计、孔口流量校准仪、皮托管、取样管十二、测绘仪器1、 全站仪2、 水准仪、电子水准仪、激光水准仪3、 红外测距仪、激光测距仪4、 经纬仪、电子经纬仪5、 垂准仪、激光垂准仪6、 水平仪、标线仪、投线仪、水平尺7、 求积仪、面积仪8、 地质罗盘仪、森林罗盘仪、指北针、激光指向仪、激光电子测高测角仪十三、电学仪器1、 绝缘耐压测试仪、数字万用表、钳形电流表2、 绝缘电阻测试仪、数字兆欧表3、 接地电阻测试仪、接地电阻表十四、化玻仪器1、刻度移液管、单标移液管、移液管架2、多刻度容量瓶、梯形容量瓶、刻度量筒、烧杯3、滴定管、微量滴定管、全自动滴定管、全自动碱式滴定管4、三角锥形瓶、蓝盖试剂瓶、棕色试剂瓶、5、微量毛细管、血球容积计毛细管、熔点毛细管、微量采血毛细管、毛细管移液器、巴斯吸管6、刻度离心管、刻度试管十五、工控仪表1、 压力变送器、温度变送器、差压变送器、液位变送器、压力传感器、温度传感器、位移传感器2、 二次仪表:温度巡检仪、智能单通道/多通道数字显示仪表、流量积算仪、无纸记录仪、温度控制器/调节器3、 浮子浮球液位计、超声波液位计、磁翻板液位计、雷达物位计4、 电磁流量计、涡街流量计、涡轮流量计、孔板流量计、质量流量计、超声波流量、气体流量计、液体流量计、靶式流量计、塑料玻璃转子流量计、明渠流量计、金属管浮子流量计、椭圆齿轮流量计、旋进旋涡流量计5、双金属温度计、温度补偿导线、数显温度控制器6、红外测温仪崔经理

AXIS SUPRA X射线光电子能谱仪Axis Supra 的设计理念是将样品自动载入、光学显微镜辅助定位样品分析位置和智能的数据采集、处理等易用性集成于高端XPS，并未由于高度自动化而丧失高性能。超高的灵敏度、杰出的能量分辨和快速、高空间分辨的成像满足绝大多数高要求的应用 技术特点大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取高的检测灵敏度。大平均半径的双聚焦半球能量分析器，可以获得高的谱线能量分辨。专利二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。专利的同源中和器，具备无阴影荷电中和能力，且对于表面凸凹不平的样品，可实现精确电荷中和。标配单色化Al阳极，亦可选购单色化的Al/Ag双阳极，并且单色化阳极靶可以更换多个新鲜靶点，极大地延长了阳极靶的使用寿命。标配进样室定位光学显微镜，可以在进样预抽真空时定位多样品的分析位置，然后转入分析室实施自动分析。

产品介绍岛津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作为高端光电子能谱仪传承了上一代产品高度智能化的优点，将采谱、成像功能与自动化高度相融合，保证了高样品吞吐量和易用性，为用户提供了全新无人值守自动化体验。同时AXIS SUPRA+对产品硬件进行了相应的改进和扩展，一方面能够为用户提供仪器更优异的性能，另一方面也为用户提供了可选的多种拓展技术。AXIS SUPRA+卓越的自动化技术● 无人值守自动进行样品传输和交换● 硬件自动化控制，实时监测谱仪状态和校准AXIS SUPRA+超强的表面分析能力● 具有高性能XPS分析、快速平行化学成像分析、小束斑微区分析● 利用角分辨、高能X射线源、深度剖析可以实现从超薄到超厚的深度分析● 多种功能附件（惰性气体传输器、高温高压催化反应池等）和可拓展多种表面分析技术，如紫外光电子能谱（UPS），离子散射谱（ISS），反射电子能量损失谱（REELS），俄歇电子能谱和扫描俄歇电子显微镜（AES和SAM）等等AXIS SUPRA+高效智能工作流程适合多用户环境● 高吞吐量、快速队列样品分析模式实现连续分析● AXIS SUPRA+采用的通用表面分析ESCApe软件系统使用户与谱仪的交互简单化和智能化，可以进行谱仪的控制、数据的采集和分析

2019年9月Kratos公司秉承着传承经典的理念隆重推出了全自动、成像型多技术X射线光电子能谱仪——AXIS SUPRA+。集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体，体现了便捷性；拥有多种X 射线源、大半径双层能量分析器，杰出的荷电中和技术，使其获得了最优异的性能；通过丰富的硬件接口和灵活的软件接口，具备了多种功能附件和完善的表面分析技术。技术特点：自动化技术，快捷智能工作流程适合多用户环境。多种X射线源可选：有效保证低含量元素测定；有效区分光电子峰和俄歇峰；确保小束斑模式下精细的灵敏度。高功率X射线源和浸入式磁透镜设计确保获取精细的灵敏度。大平均半径的双聚焦半球能量分析器，可以获得精细的能量分辨。全自动超低能无阴影荷电中和器，对于不同类型样品可实现准确的电荷中和。二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。快速平行成像功能简单易行，可以快速获得高能量分辨的化学状态图像。多模式团簇离子枪自动选择离子源模式保证不同材料的准确性和便捷剖析。

仪器简介：&bull 化学分析用全自动扫描X-射线光电子能谱仪 &bull 180° 半球型电子高分辨率能量分析器以及适用于小面积分析的大角度电子接受系统 &bull 独一无二的32通道检测器和快捷的电子系统用于获得最大的灵敏度和数据采集 &bull 扫描单色聚焦9umX射线源用于快速化学状态图像 &bull 自动双束荷电(电子束和低能Ar离子束)补偿系统 送 &bull 全自动5轴(X, Y, Z, 旋转,倾斜),精密样品台 样品台可以准确地移动到100mm直径样品的任何一点 &bull 计算机控制的100 V到0. 5 kV氩离子枪用于样品表面清洗以及深度剖面分析（包括Zalar Rotation功能）. &bull 在做角分辨XPS分析时候可以自动选择大小接受角度 &bull 具有所有分析功能包括低分辨全范围定性分析, 高分辨定量/化学状态分析, 深度剖面分析,线扫描分析, 化学状态图像分析,自动分析和用户自己设定分析。 &bull PC 计算机RAM为1 Gb，硬盘为160 Gb, 软盘, 可读写CD 以及彩色显示器 &bull 数据处理功能强，如去除本地，平滑化处理, 峰识别, 最小二乘法拟合, 多因子分析法，峰分离，从图像，线扫描以及深度剖析分析中抽出多种化学状态峰 &bull UHV可兼容不锈钢分析室 &bull 360 l/s离子本泵（带有钛升华泵），自动烘烤系统 &bull 操作说明书和维修手册，工具箱. &bull 软件MS Office Professional (英语版). &bull 操作用椅 &bull 操作桌子 &bull 打印机 注: Ulvac-phi将不提供喷墨打印机但是在出厂前将通知所用喷墨打印机型号。技术参数：聚焦扫描式微区X射线光电子能谱仪 技术资料 设备规格以及供货范围 A. 技术指标 B. 安装设置要求 C. 供货范围 设备型号 PHI Quantera SXM 设备商标Scanning X-ray Microprobe&trade 生产地点 日本和美国 检测项目 指标值 系统到达真空 5x10-10 torr Ag样品XPS光电子能量分辨率 Ag 3d 5/2 峰半高宽 FWHM 0.50 eV PET 样品XPS光电子能量分辨率 C1s的O=C-O峰半高宽 FWHM 0.85 eV 最小X射线斑束 9.0&mu m 在x 方向 9.0&mu m 在y 方向 常用X射线斑束 10.0 &mu m @ 1.25 watts 15.0 &mu m @ 2.50 watts 20.0 &mu m @ 4.50 watts X-ray XPS灵敏度和能量分辨率 X-ray Beam Energy Sens. Size Res. 15kcps 10.0 &mu m 0.60 eV 30kcps 15.0 &mu m 0.60 eV 55kcps 20.0 &mu m 0.60 eV 35kcps 10.0 &mu m 1.00 eV 70kcps 15.0 &mu m 1.00 eV 125kcps 20.0 &mu m 1.00 eV 3Mcps High 1.30eV Power Mode 离子枪 最大电流 5.0 &mu A @ 5 kV 离子枪工作时候分析室内压力 5x10-8 torr主要特点： B: 供货范围 PHI Quantera SXM Scanning XPS Microprobe化学分析用全自动扫描X-射线光电子能谱仪&bull 扫描单色聚焦9umX射线源用于快速化学状态图像&bull 独一无二全自动快速进样系统 75mm方形样品台,自动数码照相定位系统，自动样品台进样和传

PHIGENESISModel 900 for HAXPES无需溅射刻蚀的深度探索下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。XPS 和HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的分析在两种x射线源中，只有 Cr Ka XPs 能探测到 Y0,下方距离表面 14nm 处的 Cr层。拟合后的谱图确定了 Cr 的化学态。另外，通过比较，光电子起飞角90°和30°的 Cr Ka 谱图结果发现在较浅(表面灵敏度更高)的起飞角时，氧化物的强度较高，表明 Cr 氧化物处于 Y,0,和 Cr 层之间的界面。 内核电子的探测Cr Ka 提供了额外的 Al Ka 不能获取的内核电子基于 Cr Ka 的高能光电子，通常有多个额外的跃迁可用于分析。应用领域主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI，Inc.提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X射线光电子能谱仪，具有卓越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能 分析平台在各种研究领域的应用电池 AES/Transfer Vessel“LiPON/LiCoO 2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如 LiPON，对电子束辐照敏感。 PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取 AES 化学成像。有机器件 UPS/LEIPS/GCIB使用 UPS/LEIPS 和 Ar-GCIB 测量能带结构(1)C60薄膜表面(2)C60薄膜表面清洁后(3)C60薄膜 /Au 界面(4)Au 表面通过 UPS/LEIPS 分析和 Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 XPS/HAXPES半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的 GaN，使用 HAXPES 是非常有必要的。微电子 HAXPES 微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于 XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比 XPS 深的特点。

PHIGENESIS Model 900 for HAXPES无需溅射刻蚀的深度探索下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。XPS 和HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的分析 在两种x射线源中，只有 Cr Ka XPs 能探测到 Y0,下方距离表面 14nm 处的 Cr层。拟合后的谱图确定了 Cr 的化学态。另外，通过比较，光电子起飞角90°和30°的 Cr Ka 谱图结果发现在较浅(表面灵敏度更高)的起飞角时，氧化物的强度较高，表明 Cr 氧化物处于 Y,0,和 Cr 层之间的界面。 内核电子的探测Cr Ka 提供了额外的 Al Ka 不能获取的内核电子基于 Cr Ka 的高能光电子，通常有多个额外的跃迁可用于分析。应用领域 主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI，Inc.提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X射线光电子能谱仪，具有优越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能 分析平台在各种研究领域的应用电池 AES/Transfer Vessel“LiPON/LiCoO 2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如 LiPON，对电子束辐照敏感。 PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取 AES 化学成像。有机器件 UPS/LEIPS/GCIB使用 UPS/LEIPS 和 Ar-GCIB 测量能带结构(1)C60薄膜表面(2)C60薄膜表面清洁后(3)C60薄膜 /Au 界面(4)Au 表面通过 UPS/LEIPS 分析和 Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 XPS/HAXPES半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的 GaN，使用 HAXPES 是非常有必要的。微电子 HAXPES 微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于 XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比 XPS 深的特点。

产品信息标准主机包含单色化Al Kα X射线源，可实现大面积XPS分析、小面积XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能业界最大功率的600W单色化Al Kα X射线源，确保最高的分析灵敏度平均半径165mm的双层能量分析器，确保高能量分辨XPS分析和高空间分辨的XPS成像专利的浸入式磁透镜技术，大幅度提高分析灵敏度专利的快速平行X光电子实时成像，空间分辨率优于3μm，最高像素65,536（256×256），可进行微区元素和化学态空间分布分析专利的同轴超低能无阴影单电子源荷电中和器，完美解决绝缘体XPS分析专利的二维阵列延迟线检测器（Delay-Line Detector），同时记录光电子的强度和发射位置，可实现在数秒钟之内获得高能量分辨XPS谱全自动超大样品台，可实现100mm×100mm的大样品分析最佳能量分辨率优于 0.45eV（Ag 3d5/2）常规分析能量分辨和灵敏度高达0.55eV@1.1Mcps（Ag 3d5/2）绝缘体分析的分析能量分辨和灵敏度高达0.68eV@16kcps（PET的C 1s）选配单色化Al/Ag双阳极X射线源，实现高能XPS分析结合了数据采集和数据处理的Vision软件，可运行于Windows XP/Vista/7等多种平台下，实现各真空室真空度实时显示，操控真空阀门开关，实验条件设定和全自动无人值守分析等强大功能

AXIS NOVA X射线光电子能谱仪标准主机包含单色化Al Kα X射线源，可实现大面积XPS分析、小面积XPS分析和ISS分析以及XPS快速平行成像等功能。 可提供高的分析灵敏度。 确保高能量分辨XPS分析和高空间分辨的XPS成像。 荷电中和器，完美解决绝缘体XPS分析。技术特点：Axis Nova采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取极高的检测灵敏度，同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器，可以获得极高的XPS谱线能量分辨。在检测器端，Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器，完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务，尤其是对于表面凸凹不平的样品（典型的是粉末样品和断口样品），可以获得完美的分析结果。Axis Nova使用与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器，可以获得高空间分辨的平行光电子图像，亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。Axis Nova采用全自动的大样品台设计，最大样品可达4吋，可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置，并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动XPS分析。

专利的双模开尔文探头和光发射光谱系统，用于通过空气中的光发射测量材料的绝对功函数。我们独特的系统提供的开尔文探头系统范围和功函数分辨率的准确性是任何其他开尔文探头供应商都无法比拟的。APS型光电子发射光谱仪特点：1， 大气环境下使用2， 功能：光电子发射光谱+开尔文探针3， 测试能级：费米能级，导带底能量，价带顶能量，HOMO-LUMO，禁带宽度，功函数等4， 局域态密度 （Local Density of States, LDOS）5， 3分钟得到：费米能级，功函数，局域态密度6， 非接触无损测试，测试安装简单，操作容易7， 低能量的光子激发8， 提供校准用的标样9， 手动和全自动操作，稳定可靠APS04-N2-RH型光电子发射光谱仪：样品由氮气保护，相对湿度控制箱内测试 此光电子发射光谱仪使用可调波长的深紫外光源，能量输出 3.4 - 7.0 eV, 可以得到以下数据：绝对功函数 HOMO ： highest occupied molecular orbital 表面光电压谱(SPS)模块输出 400 - 1000 nm波长，用于测试 Voc 和 禁带宽度, 结合 50 x 50 mm扫描面积得到平面相对功函数测试(费米能级). 氮气保护，相对湿度控制箱内测试绝对功函数 软件测试可得到： 能级扫描范围针尖标样势能, 信号增益 信号整合时间及平均立方根或平方根拟合光电子发射数据 归一化光强基线校正局域态密度LDOS对于光子能量的曲线

LE-1低能级反光电子能谱仪以前没有一种合适的方法能够精确地测量LUMO的能级。ALS公司首次研发出一种能够精确测量LUMO能级的系统。LE-1系统是一个理想的有机电子研究解决方案。LE-1的特点和配置1. 降低电子辐照能量，就能够避免对有机样品的损伤2. 能够达到和用光电子能谱仪测量HOMO能级一样的测量精度3. 相当于X射线光电子能谱仪系统（XPS或UPS），LE-1能在相同条件下测量样品4. 即使在超真空条件下，样品、真空和测量也能轻易地自动转换5. 只要使用LEIPS标准软件，电子亲和性等就能很容易计算和得到简易的LEIPS标准软件使用说明 1. 输入测量参数后，开始测量。样品的电流谱和LEIPS光谱就能同时被测出来2. 只要通过简单的操作，就能在测量结果上计算出真空度和电子亲和性3. 在计算屏上，只要通过光标就能直接读出光谱任何一处的能量值4. 测量数据要被用来分析的话，就以csv文档格式保存

Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后，具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过无与伦比的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置，带给用户的是领先的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。入围优秀新品获奖理由：先进的成像探测器设计，用于定量XPI成像： 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。空间连续的电阻阳极探测器创新技术，一方面使得XPI成像分辨率达1um，另一方面使得XPI成像得到数据无探测器背底特征，无需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。 可选配的EDS探测器，实现体相分析技术和表面分析技术的结合： 新设计Xi+系统可选配EDS探测器与俄歇电子枪结合，可实现样品纳米尺度的体相微区元素成分分析，EDS可探测微米深度的元素组成，可以用于材料深度剖析前的元素组成预判。体相敏感的EDS技术和XPS表面分析技术的结合可更直观地用于研究合金等的表面偏析行为。 标配的反射电子能量损失谱REELS分析技术，用于弥补UPS能带分析和XPS元素分析： REELS可以探测材料的能级和带隙结果，并可用于材料中H元素含量的定量。与UPS技术结合可了解完整的价带导带信息，并弥补XPS、AES等技术不能检测H元素含量的缺陷 发展的系列基于Xi+的成熟准原位样品处理、制备、反应系统: 基于Xi+，设计的一系列成熟的ALD、MBE样品制备系统，高温高压催化还原反应系统和样品退火系统，满足不同的科研项目需求。配备为提供最佳 XPS 性能而设计的单色化X射线源，确保ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针有最高的样品测试通量。多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备，使该仪器在解决任何表面分析问题时都能游刃有余。利用先进的 Avantage 数据采集和处理系统，从测试数据中挖掘尽可能多的信息。ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针的特点：高灵敏度能谱小面积 XPS深度剖析能力角分辨 XPS标配离子散射能谱 (ISS)功能标配反射电子能量损失谱 (REELS)功能标配“样品预处理”室多技术分析的多功能性多个样品制备技术可选全自动无人值守式分析多样品分析单色化X射线源双晶体微聚焦单色器配备一个 500 mm 直径的罗兰圆，使用铝阳极靶样品 X 射线光斑尺寸可选择范围为 200 至 900 μm透镜、分析仪和检测器透镜/分析器/检测器一体化使 ESCALAB 250Xi XPS 能谱仪同时具备成像和小面积 XPS 分析能力的独特性两种类型的检测器可以确保为每种分析提供最佳检测——二维检测器用于成像，基于通道电子倍增器的检测器则用于需要检测高计数率的能谱分析透镜配备了两种电脑控制的光阑组件，一套视场光阑用于控制低至 20 μm 的分析区域，适用于小面积分析；另一套光阑则用于控制透镜的接收角，对于高质量角分辨 XPS 至关重要180° 半球型能量分析器深度剖析数控式 EX06 离子枪是一款高性能的离子源，哪怕在使用低能离子源时也有着很好的性能提供方位角样品旋转多技术能力可配备其他分析技术而不降低 XPS 检测性能使用 EX06 离子枪时透镜组和能量分析仪的电源可反向（确保离子散射能谱 (ISS) 可用）电子枪可加压升至 1000 V，为 REELS 提供优异的离子源技术选项非单色化 X 射线光源的XPS分析AES（俄歇电子能谱）UPS（紫外光电子能谱）真空系统5 mm 厚高导磁 金属分析室，最大程度提高磁屏蔽效率与使用内部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳样品制备系统标配一体化的快速进样室和制备室额外的制备室可选Avantage 数据系统集成了测试分析的所有方面，包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成允许远程控制，并且可轻松与第三方软件交互（例如 Microsoft Word）管理从样品载入到报告导出的整个分析过程

PHI Quantera II 扫描X射线光电子能谱仪（XPS）是Ulvac-Phi公司以在业界获得非常卓越成绩的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所zui新研发的XPS分析仪器，其超卓技术包括有：一个独创微集中扫描的X射线来源，专利的双光束的电荷中和技术，在极低电压下仍可保持高性能的离子束源以进行XPS的深度分析，一个五轴精密的样品台和负责全自动样品传送的机械手臂，与及一个完全自动化且可支持互联网远程控制的仪器操作平台。Quantera II 扫描X射线光电子能谱仪（XPS）增加了这些技术性能和生产力，再一次提供了zui高性能的XPS系统，以满足您当前和未来的XPS需要。X射线光电子能谱仪（XPS）优点：容易使用：无论您是在分析一个薄膜样品、有机聚合物、一个大的塑料镜片，不锈钢刀片又或是焊锡球 所有的仪器设置和设定都是完全相同的。用者只需用鼠标点在一个光学图像单击选择一个或多个分析地区，加上双光束中和系统和自动Z-轴高度调整功能，就可以透过仪器软件的自动队列执行所有分析。整个操作流程不需要任何的设定调整，不用因不一样样品成份而有任何顾虑，甚至也不需要有操作员整天待在仪器旁边；一切的操作都可以自动的完成。薄膜分析：Quantera II 不仅提供了无机薄膜样本良好的深度剖面分析性能，而且也可以在利用C60离子枪对有机薄膜得出非常优越的深度分析结果。扫描 ：PHI使用了独创的聚焦扫描X射线源，使XPS微区分析变得更高效。如图4所示，X射线源是经由聚焦电子光栅扫描并撞击在铝阳极上所产生的，而此产生的聚焦铝X射线会再透过椭球形状的单色器反射在样品表面上。当电子束扫描在铝阳极上时，所产生的X射线束在样品上也会作出同步的扫描。X射线束的直径大小可调范围为7.5微米以下到400微米以上。微区光谱：在光学显微镜，在这透明的聚合物薄膜表面上是没有发现任何污染物的。但是如以下图５中所示，使用二次电子影像时就立即显示了在聚合物表面上的化污染物的存在。在短短几分钟内，Quantera II仪器就可以利用一个直径为20微米的X射线束得到确定的氟碳污染物。

Escalab 250Xi型电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器，它可以用于研究各种固体材料样品表面（1-10nm厚度）的元素种类、化学价态以及相对含量。结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息；通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息；利用微聚焦X射线源或电子束可以获得微区表面信息。在金属、玻璃、高分子、半导体、纳米材料、生物材料以及催化等领域有广泛应用。本仪器以X射线光电子能谱为主要功能，还带有俄歇电子能谱、紫外光电子能谱、反射电子能量损失谱及离子散射谱等附件功能。主要功能特点如下：1． 常规XPS，鉴别样品表面的元素种类、化学价态以及相对含量。双阳极XPS，更适合用于不同的特殊过渡金属元素的研究，如催化领域。2． 微区XPS分析（单色化XPS），用于样品微区（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化学态分析3． 深度剖析XPS，结合离子刻蚀技术对样品（如薄膜等）进行成分深度分布分析。通过角分辨XPS还可以进行非损伤成分深度分布分析。4． XPS成像，可以对元素或化学态进行表面面分布分析，使一些分析结果更直观。5． 反射电子能量损失谱REELS技术，可实现氢元素的检测。6． 离子能量损失谱ISS，可实现样品表面元素信息的检测7． 场发射俄歇AES，可实现样品表面100nm尺寸下的元素信息检测。可以进行成分分析、形貌像分析及扫描俄歇像分析等。8． 紫外光电子能谱（UPS），可以获得样品价带谱信息，对导体、半导体的能带、带隙等分析提供主要数据。还可以分析样品逸出功等。

K-Alpha X 射线光电子能谱仪Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪 (XPS)系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。K-Alpha XPS系统是一种完全集成式单色小光斑XPS系统，具备深度剖析能力。 更先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量，使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。K-Alpha XPS系统性能数据分析仪类型 180°双聚焦半球分析仪， 128通道探测器X 射线源类型单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源 X 射线光斑尺寸50-400 µ m（以 5µ m 为单位可调）深度剖析EX06 离子源样品最大面积60x60 mm样品最大厚度20 mm真空系统两个涡轮分子泵，配有自动钛升华泵和机械泵 可选配件ADXPS 样品 支架， 工作 功能 样品 支架， 手套 箱

岛津／Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Nova——最新成像自动型，业界领先位于英国曼切斯特的Kratos公司是世界上最早生产商品化X射线光电子能谱仪的厂家之一，现在是世界上最大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。自1997年以来，岛津/Kratos公司研发了包括专利的磁沉浸透镜和专利的低能电子荷电中和系统等一系列新技术的新型光电子能谱仪——AXIS Ultra，并于2002年底推出了使用二维阵列检测器——延迟线检测器（Delay-Line Detector）的最新自动型AXIS Nova型XPS谱仪。截至2014年1月底，在世界上已经销售了超过100台AXIS Nova型XPS谱仪，在世界上许多著名的大学、科研机构和企业公司中得到了高度的认可，在业界处于绝对领先地位。 技术特点：Axis Nova采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度，同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器，可以获得最高的XPS谱线能量分辨。在检测器端，Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代专利的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器，完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务，尤其是对于表面凸凹不平的样品（典型的是粉末样品和断口样品），可以获得完美的分析结果。Axis Nova使用专利的与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器，可以获得高空间分辨的平行光电子图像，亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。Axis Nova采用全自动的大样品台设计，最大样品可达4吋，可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置，并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动XPS分析。

Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪（XPS）是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台，ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术，打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置，带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身，操作便捷，快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合，实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术，使得XPI成像分辨率达1um，所得数据无探测器背底特征，无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm～900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点，确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合，用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度，确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具，可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统，可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件，包括： 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。