卡尺台阶测量仪

影像专用台阶规专门用来计量影像测量仪，测量仪属于高效率的、新型的精密测量仪器，被广泛应用于航空航天、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业，是计量室和生产车间不可缺少的科学计量和工业计量设备影像专用台阶规规符合JJF 1318-2011影像测量仪校准规范附录A各项指标。是各计量所院建标b备产品。上海标卓科学仪器有限公司为您提供专用台阶规（JJF 1318-2011影像测量仪校准规范）的参数、价格、型号、原理等信息，专用台阶规（JJF 1318-2011影像测量仪校准规范）产地为上海、品牌为标卓，型号为350mm，价格为66666RMB，更多相关信息可，公司客服电话7*24小时为您服务

中图仪器NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪用于测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。工作原理测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能 1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微米到纳米尺度表面形貌接触式台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。 性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB 空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器NS系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能 NS系列国产薄膜台阶高度测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。NS系列国产薄膜台阶高度测量仪是一种常用的膜厚测量仪器，它是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。如针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器 1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。NS系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

NS系列中图微观二维形貌轮廓台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度；能够测量样品的粗糙度和波纹度，获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。NS系列中图微观二维形貌轮廓台阶测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能 1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）应用行业NS系列中图微观二维形貌轮廓台阶测量仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。部分技术指标型号NS200样品观察500万像素彩色摄像机 正视视野：2.2×1.7mm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm630×610×500重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器的NS系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；产品特点1.出色的重复性和再现性，满足被测件测量精度要求线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。2.超微力恒力传感器：（1-50）mg可调 测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，提高扫描精度，真实反映工件微小形貌。4.顶视光学导航系统，5MP超高分辨率彩色相机5.全自动XY载物台， Z轴自动升降、360°全自动θ转台6.强大的数据采集和分析系统台阶仪软件包含多个模块，为对不同被测件的高度测量及分析评价提供充分支持。部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

影像专用台阶规专门用来计量影像测量仪，测量仪属于高效率的、新型的精密测量仪器，被广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业，是计量室和生产车间不可缺少的科学计量和工业计量设备 影像专用台阶规规符合JJF 1318-2011影像测量仪校准规范附录A各项指标。是各计量所院建标必备产品。

中图仪器NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。工作过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台（1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。 3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数； 3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列微纳样品接触式微观表面台阶测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器 1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用在太阳能光伏行业的应用台阶仪通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；

中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，具备超高的测量精度和测量重复性。它主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。应用场景适应性强，对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，它对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。 2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。中图仪器高精度薄膜厚度台阶测量仪NS200采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器NS系列沉积薄膜台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200沉积薄膜台阶高度测量仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；工作过程NS系列沉积薄膜台阶高度测量仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。产品应用NS系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

NS系列中图微纳米测量接触式台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能NS系列中图微纳米测量接触式台阶仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。NS系列中图微纳米测量接触式台阶仪单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。 典型应用台阶仪在太阳能光伏行业的应用台阶仪利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器NS系列纳米级表面测量台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。NS系列纳米级表面测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）NS系列纳米级表面测量台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位。典型应用部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器NS系列柔性电子器件薄膜测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。NS系列柔性电子器件薄膜测量台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求，样品适应面广，数据复现性高、测量稳定、便捷、高效，是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。 产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能NS系列柔性电子器件薄膜测量台阶仪采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。典型应用部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

Dektak XT出众的测量精度、准确的测试功能、zui高的接触式测量模式—业内一品牌销量》10000台，销量》250台大学、研究所》100台太阳能客户销量》30台LED客户销量》30台技术参数：拱形设计—系统更稳定扫描长度：55mm垂直测量范围：1mm(标准）台阶高度重现性5&angst , 1s 在1um台阶上垂直分辨率：zui大1&angst （6.55um范围)探针压力：1－15mg探针曲率半径：0.2-25um超细探针50nm样品台尺寸：150mm-200mm可360°旋转,手动、自动可选zui大样品厚度：50mm主要特点：1. 台阶高度测量的高重复性2. 基于加工光学参考平面的样品台，确保在长距离扫描中基线的稳定性3. 出色的易用性、易维护性4. 的样品适用性5. 高分辨率的粗糙度测量6. 功能强大的软件分析系统7. 三维表面形貌测量的功能可升级性8. 广泛的应用领域，客户涵盖大学、研究所、工业领域（太阳能、LED、触摸屏、半导体、镀膜等多领域）

专用台阶规是用来计量影像测量仪，测量仪属于率的新型精密测量仪器，被应用于航空航天、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业，是计量室和生产车间不可缺少的科学计量工业设备。台阶规符合《JJF1318-2011影像测量仪校准规范》影像测量仪校准规范附录各项指标。

中图仪器NS200探针纳米级表面测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。NS200探针纳米级表面测量台阶仪通常使用2μm半径的金刚石针尖来测量这些小特征。一个精密的xy载物台联合扫描轴R和转台θ，在测针下移动样品，测针中的垂直位移被转换为与特征尺寸相对应的电信号。然后将这些电信号转换为数字格式，在其中它们可以显示在计算机屏幕上并进行操作以确定有关基材的各种分析信息。可以微调扫描长度和扫描速度，以增加或减少分析时间和分辨率。此外，测力可调以适应硬质或软质材料表面。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台 （1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS200探针纳米级表面测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）应用场景介绍部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

视方科技一键式软件基于WIN10系统开发，相较WIN7以前的系统，软件稳定，响应迅速。视方科技一键式不但底光可以精准匹配测量，上表面光也可以很好的匹配测量。除了日本基恩仕外，国产之一键式大部分还停留在底光测量或者上光匹配不稳定或匹配不到的阶段。视方科技一键式镜头精度补尝采用的是面补尝，即通过棋盘格上的黑白格来补尝精度，测量精度比除基恩仕外的都要高。视方科技一键式采用亚像素算法，匹配测量精度高且数据稳定。视方科技一键式灯光节点功能，面对产品在同一种灯光亮度无法满足测量的情况下，进行灯光切换或亮度调整，从而达到在不同灯光效果下进行测量，兼容复杂测量环境。视方科技一键式开发的轮廓抓取功能，配合取交点等命令，面对形状不规则的产品或者加工断面不平整的情况，亦可精准测量。视方科技一键式推出顶点线和顶点圆功能，专门针对弹簧和齿轮等产品的特殊位置进行测量，使面对类似这种形变量很大且取点位置特殊的产品，测量操作简单化，测量稳定性和精度大大提高。视方科技一键式拥有电子卡尺功能，在测量产品的短边或者加工不稳定的地方时，大部分软件都会因为测量的边长度太短或者加工的不同产品形变量很大，造成重复测量数据偏差很大。用电子卡尺通过找正产品基准，达到稳定测量。视方科技一键式加入了轮廓对比功能，面对一些客户需要导入CAD标准图档与实际产品测量的轮廓进行对比并且做出数据分析，轮廓对比功能可以很好的满足此需求。视方科技一键式报表客制化导出功能，可将测量的数据按要求导入到客户公司的母表中，将数据填入相应的位置。且可兼容PDF，XLC，TXT，SVC，DOC等格式。实现一键测量出数据的真正意义上的一键式测量。视方科技一键式的CAD导入导出功能，此功能不但能像市面上那些软件一样导入或导出DXF文档，且可兼容导出标注。视方科技一键式针对产品边缘抓取提供多种模式：自动，黑白，灰度，线性，透明。可满足环境下产品边缘精准抓取，并且可根据实际情况调节抓取阀值，达到抓取效果。视方科技一键式有专门的“基准图元”功能，解决一键式在匹配的时候因为匹配图形微偏造成测量倾斜的问题。视方科技一键式特有的程序“面域”功能，在同一个程序下，可添加六个面域：正上，正下，左侧，右侧，正前，正后，使同一个产品在不切换程序的情况下测出每个面域的数据，且导入到相应面域的表格里。视方科技一键式软件所有命令都可以设定快捷键，提高编程和测量效率。视方科技一键式预留有外接R232，USB，IP网络端口，方便对客户的ERP系统或SQL数据库系统进行分析对接。视方科技一键式软件有专门识别字符的功能，针对LOGO或印刷字体进行分辨，主要检测错印、印斜或重印。视方科技一键式提供SPC报表输出功能，导出结果直接进行CPK数据分析。视方科技一键式测量采用产品匹配的方法，软件扫描绘图区域，匹配特征区，然后一次扫描得出数据。目前国内很多一键式还停留在二次元的图地逐一抓取的阶段，较之测量效率要低于我们很多。视方科技一键式提供快速查找程序功能，直接输出产品料号，软件会根据输入的字母或文字，逐渐得出操作人员想要查找的对应程序，节省调入程序的时间。视方一键式首“创小、微台阶测量”功能，使产品小台阶或小槽宽也能够精准测量。型号Spark-2200相机500万像素 高清CCD镜头双侧远心双倍率镜头图像测量视野广角模式95x80mm高精度模式40x28mm测量范围广角模式（拼接）200×180mm高精度模式（拼接）120×80mm测量精度广角模式（拼接）±7＋L/50um高精度模式（拼接）±3＋L/50um广角模式（单画面）±3＋L/50um高精度模式（单画面）±2＋L/50um照明系统透射光源远心平行光照明环形光源环状无影光源照明辅助光源同轴光照明(选配)工作台移动范围X:100mmY:100mm承受负重5.0KGZ轴座标台移动范围75mm(电动)电源电源电压220VAC/50Hz功率150W其它重量约50Kg外观尺寸420x550x780mm

中图仪器NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。台阶仪工作原理当触针沿被测表面轻轻滑过时，由于表面有微小的峰谷使触针在滑行的同时还沿峰谷作上下运动。触针的运动情况就反映了表面轮廓的情况。结构主要组成部分1、测量系统（1）单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。（2）线性可变差动电容传感器（LVDC），具有亚埃级分辨率，13μm量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差，使得产品能扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。（3）传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和正常力测量。测力恒定可调，以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的精准接触式测量。2、工件台（1）精密的XY平台结合360°连续旋转电动旋转台，可以对样品的位置以及角度进行调节，三维位置均可以调节，利于样品调整。（2）超高直线度导轨，有效避免运动中的细微抖动，提高扫描精度，真是反映工件微小形貌。3、成像系统500万像素高分辨率彩色摄像机，即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上，使得测量更加直观。4、软件系统测量软件包含多个模块。5、减震系统防止微小震动对测量结果的影响，使实验数据更加准确。NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能NS系列纳米级高精度台阶仪接触式表面形貌测量采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。 磁吸针实物外观图（330μm量程）应用场景介绍

中图仪器NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点。NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。测量过程测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。典型应用NS系列纳米台阶测厚仪高精度测量薄膜厚度集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。仪器结构单拱龙门式设计，结构稳定性好，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响，提高了测量精度。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品 概要：KOSAKA ET200A是KOSAKA新推出的经济型台式两用机型：6寸台阶仪（支持升级到8寸载物台）和粗糙度轮廓仪。可根据用户需求任意组合，是一款带有专用控制器的高精度、高性能的表面粗糙度测量仪器。基本信息：极佳重复性与线性度采用直动式检测方式，可避免圆弧补正误差，可避免Bearing间隙误差；台阶测定重复性：1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm；Z方向线性度为±0.25% (样品厚度 2000A) 5A (样品厚度≤2000A)直动式检出器构造直动式检出器测量边沿效应重复测量数据 (10 times)Taylor Hobson 标准样直动式检出器测量边沿效应VLSI SHS-9400QCVLSI SHS-440QC实时监控测量位置超高直线度国际认证数据位移光栅尺与时间取样形状及粗度解析粗度规范对应：可对应各种国际新旧标准规范，测量参数多达60种；可测量台阶及倾斜度。超大测定力范围测定力在10 ~ 500uN、1~50mgf可任意设定可测定软质材料面，如:COLOR FILTER、SPACER、PI等。触针保护盖板及方便更换技术优势：1、设备主体花岗岩，低热膨胀，低重心，自隔震2、独特的直动式传感器设计3、Z方向重复性1σ 0.2nm以内,但实际可达0.1nm4、Z方向线性度为±0.25% (样品厚度 2000A) 5A (样品厚度≤2000A)5、样品台的垂直直线度保证：局部0.005um/5mm、全量程0.2um/100mm6、高精度的X方向位移光栅尺控制，X方向测量长度大至100mm，Y方向可移动150mm7、自带三维测量功能应用方向：主要用于平板显示器、硅片、硬盘等的微细形状台阶／粗度测定，对多种零件表面的粗糙度，波纹度以及原始轮廓进行多参数评定，另外也可利用微小测定力来对应软质样品表面测定。

NS系列国产膜厚检测台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，可测量台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数。NS系列台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。 NS系列国产膜厚检测台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。典型应用 应用案例NS系列国产膜厚检测台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，NS200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；部分技术指标型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

视方科技一键式软件基于WIN10系统开发，相较WIN7以前的系统，软件稳定，响应迅速。视方科技一键式不但底光可以精准匹配测量，上表面光也可以很好的匹配测量。除了日本基恩仕外，国产之一键式大部分还停留在底光测量或者上光匹配不稳定或匹配不到的阶段。视方科技一键式镜头精度补尝采用的是面补尝，即通过棋盘格上的黑白格来补尝精度，测量精度比除基恩仕外的都要高。视方科技一键式采用亚像素算法，匹配测量精度高且数据稳定。视方科技一键式灯光节点功能，面对产品在同一种灯光亮度无法满足测量的情况下，进行灯光切换或亮度调整，从而达到在不同灯光效果下进行测量，兼容复杂测量环境。视方科技一键式开发的轮廓抓取功能，配合取交点等命令，面对形状不规则的产品或者加工断面不平整的情况，亦可精准测量。视方科技一键式推出顶点线和顶点圆功能，专门针对弹簧和齿轮等产品的特殊位置进行测量，使面对类似这种形变量很大且取点位置特殊的产品，测量操作简单化，测量稳定性和精度大大提高。视方科技一键式拥有电子卡尺功能，在测量产品的短边或者加工不稳定的地方时，大部分软件都会因为测量的边长度太短或者加工的不同产品形变量很大，造成重复测量数据偏差很大。用电子卡尺通过找正产品基准，达到稳定测量。视方科技一键式加入了轮廓对比功能，面对一些客户需要导入CAD标准图档与实际产品测量的轮廓进行对比并且做出数据分析，轮廓对比功能可以很好的满足此需求。视方科技一键式报表客制化导出功能，可将测量的数据按要求导入到客户公司的母表中，将数据填入相应的位置。且可兼容PDF，XLC，TXT，SVC，DOC等格式。实现一键测量出数据的真正意义上的一键式测量。视方科技一键式的CAD导入导出功能，此功能不但能像市面上那些软件一样导入或导出DXF文档，且可兼容导出标注。视方科技一键式针对产品边缘抓取提供多种模式：自动，黑白，灰度，线性，透明。可满足环境下产品边缘精准抓取，并且可根据实际情况调节抓取阀值，达到抓取效果。视方科技一键式有专门的“基准图元”功能，解决一键式在匹配的时候因为匹配图形微偏造成测量倾斜的问题。视方科技一键式特有的程序“面域”功能，在同一个程序下，可添加六个面域：正上，正下，左侧，右侧，正前，正后，使同一个产品在不切换程序的情况下测出每个面域的数据，且导入到相应面域的表格里。视方科技一键式软件所有命令都可以设定快捷键，提高编程和测量效率。视方科技一键式预留有外接R232，USB，IP网络端口，方便对客户的ERP系统或SQL数据库系统进行分析对接。视方科技一键式软件有专门识别字符的功能，针对LOGO或印刷字体进行分辨，主要检测错印、印斜或重印。视方科技一键式提供SPC报表输出功能，导出结果直接进行CPK数据分析。视方科技一键式测量采用产品匹配的方法，软件扫描绘图区域，匹配特征区，然后一次扫描得出数据。目前国内很多一键式还停留在二次元的图地逐一抓取的阶段，较之测量效率要低于我们很多。视方科技一键式提供快速查找程序功能，直接输出产品料号，软件会根据输入的字母或文字，逐渐得出操作人员想要查找的对应程序，节省调入程序的时间。视方一键式首“创小、微台阶测量”功能，使产品小台阶或小槽宽也能够精准测量。型号Flsah-40G相机2000万像素 高清CCD镜头双侧远心镜头图像测量视野广角模式40x28mm高精度模式-重复精度广角模式±2+L/30um高精度模式-测量精度广角模式0.003mm高精度模式-照明系统透射光源远心平行光照明环形光源环状无影光源照明辅助光源同轴光照明(选配)工作台移动范围-承受负重5.0KGZ轴座标台移动范围400mm(电动)电源电源电压220VAC/50Hz功率500W其它重量约20Kg外观尺寸310×350×740×mm

中图仪器VX8000一键图像尺寸测量仪能一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具等领域。VX8000一键图像尺寸测量仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理。CNC模式下，只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。产品优势传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等，在测量时面临诸多问题，如：测量对象的定位、原点定位费时，批量测量操作时间长，不同测量人员导致测量结果不同，数据统计管理繁杂等。VX8000系列闪测仪将扫清传统测量仪器在检测方面的难题，其优势为：一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.最多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。 计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强大的远程数据输出功能。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。应用领域VX8000一键图像尺寸测量仪可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野(mm)300×200（4角R50）高精度(mm)230×130高度测量 （选配）可测量范围（XY）120mm×110mm孔深比（h/φ）1.5测头光点直径Φ38μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

视方科技一键式软件基于WIN10系统开发，相较WIN7以前的系统，软件稳定，响应迅速。视方科技一键式不但底光可以精准匹配测量，上表面光也可以很好的匹配测量。除了日本基恩仕外，国产之一键式大部分还停留在底光测量或者上光匹配不稳定或匹配不到的阶段。视方科技一键式镜头精度补尝采用的是面补尝，即通过棋盘格上的黑白格来补尝精度，测量精度比除基恩仕外的都要高。视方科技一键式采用亚像素算法，匹配测量精度高且数据稳定。视方科技一键式灯光节点功能，面对产品在同一种灯光亮度无法满足测量的情况下，进行灯光切换或亮度调整，从而达到在不同灯光效果下进行测量，兼容复杂测量环境。视方科技一键式开发的轮廓抓取功能，配合取交点等命令，面对形状不规则的产品或者加工断面不平整的情况，亦可精准测量。视方科技一键式推出顶点线和顶点圆功能，专门针对弹簧和齿轮等产品的特殊位置进行测量，使面对类似这种形变量很大且取点位置特殊的产品，测量操作简单化，测量稳定性和精度大大提高。视方科技一键式拥有电子卡尺功能，在测量产品的短边或者加工不稳定的地方时，大部分软件都会因为测量的边长度太短或者加工的不同产品形变量很大，造成重复测量数据偏差很大。用电子卡尺通过找正产品基准，达到稳定测量。视方科技一键式加入了轮廓对比功能，面对一些客户需要导入CAD标准图档与实际产品测量的轮廓进行对比并且做出数据分析，轮廓对比功能可以很好的满足此需求。视方科技一键式报表客制化导出功能，可将测量的数据按要求导入到客户公司的母表中，将数据填入相应的位置。且可兼容PDF，XLC，TXT，SVC，DOC等格式。实现一键测量出数据的真正意义上的一键式测量。视方科技一键式的CAD导入导出功能，此功能不但能像市面上那些软件一样导入或导出DXF文档，且可兼容导出标注。视方科技一键式针对产品边缘抓取提供多种模式：自动，黑白，灰度，线性，透明。可满足环境下产品边缘精准抓取，并且可根据实际情况调节抓取阀值，达到抓取效果。视方科技一键式有专门的“基准图元”功能，解决一键式在匹配的时候因为匹配图形微偏造成测量倾斜的问题。视方科技一键式特有的程序“面域”功能，在同一个程序下，可添加六个面域：正上，正下，左侧，右侧，正前，正后，使同一个产品在不切换程序的情况下测出每个面域的数据，且导入到相应面域的表格里。视方科技一键式软件所有命令都可以设定快捷键，提高编程和测量效率。视方科技一键式预留有外接R232，USB，IP网络端口，方便对客户的ERP系统或SQL数据库系统进行分析对接。视方科技一键式软件有专门识别字符的功能，针对LOGO或印刷字体进行分辨，主要检测错印、印斜或重印。视方科技一键式提供SPC报表输出功能，导出结果直接进行CPK数据分析。视方科技一键式测量采用产品匹配的方法，软件扫描绘图区域，匹配特征区，然后一次扫描得出数据。目前国内很多一键式还停留在二次元的图地逐一抓取的阶段，较之测量效率要低于我们很多。视方科技一键式提供快速查找程序功能，直接输出产品料号，软件会根据输入的字母或文字，逐渐得出操作人员想要查找的对应程序，节省调入程序的时间。视方一键式首“创小、微台阶测量”功能，使产品小台阶或小槽宽也能够精准测量。

视方科技一键式软件基于WIN10系统开发，相较WIN7以前的系统，软件稳定，响应迅速。视方科技一键式不但底光可以精准匹配测量，上表面光也可以很好的匹配测量。除了日本基恩仕外，国产之一键式大部分还停留在底光测量或者上光匹配不稳定或匹配不到的阶段。视方科技一键式镜头精度补尝采用的是面补尝，即通过棋盘格上的黑白格来补尝精度，测量精度比除基恩仕外的都要高。视方科技一键式采用亚像素算法，匹配测量精度高且数据稳定。视方科技一键式灯光节点功能，面对产品在同一种灯光亮度无法满足测量的情况下，进行灯光切换或亮度调整，从而达到在不同灯光效果下进行测量，兼容复杂测量环境。视方科技一键式开发的轮廓抓取功能，配合取交点等命令，面对形状不规则的产品或者加工断面不平整的情况，亦可精准测量。视方科技一键式推出顶点线和顶点圆功能，专门针对弹簧和齿轮等产品的特殊位置进行测量，使面对类似这种形变量很大且取点位置特殊的产品，测量操作简单化，测量稳定性和精度大大提高。视方科技一键式拥有电子卡尺功能，在测量产品的短边或者加工不稳定的地方时，大部分软件都会因为测量的边长度太短或者加工的不同产品形变量很大，造成重复测量数据偏差很大。用电子卡尺通过找正产品基准，达到稳定测量。视方科技一键式加入了轮廓对比功能，面对一些客户需要导入CAD标准图档与实际产品测量的轮廓进行对比并且做出数据分析，轮廓对比功能可以很好的满足此需求。视方科技一键式报表客制化导出功能，可将测量的数据按要求导入到客户公司的母表中，将数据填入相应的位置。且可兼容PDF，XLC，TXT，SVC，DOC等格式。实现一键测量出数据的真正意义上的一键式测量。视方科技一键式的CAD导入导出功能，此功能不但能像市面上那些软件一样导入或导出DXF文档，且可兼容导出标注。视方科技一键式针对产品边缘抓取提供多种模式：自动，黑白，灰度，线性，透明。可满足环境下产品边缘精准抓取，并且可根据实际情况调节抓取阀值，达到抓取效果。视方科技一键式有专门的“基准图元”功能，解决一键式在匹配的时候因为匹配图形微偏造成测量倾斜的问题。视方科技一键式特有的程序“面域”功能，在同一个程序下，可添加六个面域：正上，正下，左侧，右侧，正前，正后，使同一个产品在不切换程序的情况下测出每个面域的数据，且导入到相应面域的表格里。视方科技一键式软件所有命令都可以设定快捷键，提高编程和测量效率。视方科技一键式预留有外接R232，USB，IP网络端口，方便对客户的ERP系统或SQL数据库系统进行分析对接。视方科技一键式软件有专门识别字符的功能，针对LOGO或印刷字体进行分辨，主要检测错印、印斜或重印。视方科技一键式提供SPC报表输出功能，导出结果直接进行CPK数据分析。视方科技一键式测量采用产品匹配的方法，软件扫描绘图区域，匹配特征区，然后一次扫描得出数据。目前国内很多一键式还停留在二次元的图地逐一抓取的阶段，较之测量效率要低于我们很多。视方科技一键式提供快速查找程序功能，直接输出产品料号，软件会根据输入的字母或文字，逐渐得出操作人员想要查找的对应程序，节省调入程序的时间。视方一键式首“创小、微台阶测量”功能，使产品小台阶或小槽宽也能够精准测量。

机器整体介绍：基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛，传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪（二次元）等，都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。一键式图像尺寸测量仪产品为新一代影像尺寸测量系统，通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、机器学习智能算法、UI 软件设计等技术，实现了对物体二维尺寸的快速成像测量，有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾，大幅度提高了检测效率和测量精度，消除了人为误差，实现了精密测量的自动化和智能化。下表为本产品与传统量具（数显卡尺、千分尺等）、投影仪、工具显微镜、CNC 影像测量仪等仪器设备在测量效率、人为误差、操作便捷性、数据信息化等各方面的区别。

视方科技一键式软件基于WIN10系统开发，相较WIN7以前的系统，软件稳定，响应迅速。视方科技一键式不但底光可以精准匹配测量，上表面光也可以很好的匹配测量。除了日本基恩仕外，国产之一键式大部分还停留在底光测量或者上光匹配不稳定或匹配不到的阶段。视方科技一键式镜头精度补尝采用的是面补尝，即通过棋盘格上的黑白格来补尝精度，测量精度比除基恩仕外的都要高。视方科技一键式采用亚像素算法，匹配测量精度高且数据稳定。视方科技一键式灯光节点功能，面对产品在同一种灯光亮度无法满足测量的情况下，进行灯光切换或亮度调整，从而达到在不同灯光效果下进行测量，兼容复杂测量环境。视方科技一键式开发的轮廓抓取功能，配合取交点等命令，面对形状不规则的产品或者加工断面不平整的情况，亦可精准测量。视方科技一键式推出顶点线和顶点圆功能，专门针对弹簧和齿轮等产品的特殊位置进行测量，使面对类似这种形变量很大且取点位置特殊的产品，测量操作简单化，测量稳定性和精度大大提高。视方科技一键式拥有电子卡尺功能，在测量产品的短边或者加工不稳定的地方时，大部分软件都会因为测量的边长度太短或者加工的不同产品形变量很大，造成重复测量数据偏差很大。用电子卡尺通过找正产品基准，达到稳定测量。视方科技一键式加入了轮廓对比功能，面对一些客户需要导入CAD标准图档与实际产品测量的轮廓进行对比并且做出数据分析，轮廓对比功能可以很好的满足此需求。视方科技一键式报表客制化导出功能，可将测量的数据按要求导入到客户公司的母表中，将数据填入相应的位置。且可兼容PDF，XLC，TXT，SVC，DOC等格式。实现一键测量出数据的真正意义上的一键式测量。视方科技一键式的CAD导入导出功能，此功能不但能像市面上那些软件一样导入或导出DXF文档，且可兼容导出标注。视方科技一键式针对产品边缘抓取提供多种模式：自动，黑白，灰度，线性，透明。可满足环境下产品边缘精准抓取，并且可根据实际情况调节抓取阀值，达到抓取效果。视方科技一键式有专门的“基准图元”功能，解决一键式在匹配的时候因为匹配图形微偏造成测量倾斜的问题。视方科技一键式特有的程序“面域”功能，在同一个程序下，可添加六个面域：正上，正下，左侧，右侧，正前，正后，使同一个产品在不切换程序的情况下测出每个面域的数据，且导入到相应面域的表格里。视方科技一键式软件所有命令都可以设定快捷键，提高编程和测量效率。视方科技一键式预留有外接R232，USB，IP网络端口，方便对客户的ERP系统或SQL数据库系统进行分析对接。视方科技一键式软件有专门识别字符的功能，针对LOGO或印刷字体进行分辨，主要检测错印、印斜或重印。视方科技一键式提供SPC报表输出功能，导出结果直接进行CPK数据分析。视方科技一键式测量采用产品匹配的方法，软件扫描绘图区域，匹配特征区，然后一次扫描得出数据。目前国内很多一键式还停留在二次元的图地逐一抓取的阶段，较之测量效率要低于我们很多。视方科技一键式提供快速查找程序功能，直接输出产品料号，软件会根据输入的字母或文字，逐渐得出操作人员想要查找的对应程序，节省调入程序的时间。视方一键式首“创小、微台阶测量”功能，使产品小台阶或小槽宽也能够精准测量。型号Spark-2080相机500万像素 高清CCD镜头双侧远心双倍率镜头图像测量视野广角模式95x80mm测量范围广角模式（拼接）200×80mm重复精度广角模式±7＋L/50um测量精度广角模式＜0.005mm照明系统透射光源远心平行光照明环形光源环状无影光源照明辅助光源同轴光照明(选配)工作台移动范围X:100mm承受负重3.0KGZ轴座标台移动范围60mm(电动)电源电源电压220VAC/50Hz功率150W其它重量约30Kg外观尺寸420x450x770mm

Nano Step系列晶圆探针式轮廓仪台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。NS系列晶圆探针式轮廓仪台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）NS系列晶圆探针式轮廓仪台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用 部分技术参数型号NS200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH 温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

1.恒奥德仪器人体形体测量尺/人体形态测量尺/马丁测量仪 型号:HAD-LI 人体形态测量尺适用于人体各肢体长度、宽度、围度等形态指标的测量。包括：长马丁尺、中马丁尺、短马丁尺、直脚规、指间距尺、游标卡尺、围度尺和足长测量仪。 长马丁尺 规格：130厘米。精度：±0.1厘米。用于测量下肢长等。 中马丁尺 规格：100厘米。精度：±0.1厘米。用于测量上肢长、上臂长、前臂长和手长等 短马丁尺 规格：70厘米。精度：±0.1厘米。用于测量大腿长、小腿长和跟腱长等。 直脚规 规格：70厘米。精度：±0.1厘米。用于测量肩宽、骨盆宽、胸宽和胸厚等。 游标卡尺 规格：20厘米。精度：±0.1豪米。用于测量手宽、足宽、肱骨和股骨的远端宽等。 围度尺 规格：150厘米。精度：±0.1厘米。用于测量胸围、腰围、臀围、上下肢体围度等。 足长测量仪 规格：40×16×6厘米。 精度：±0.1厘米。用于测量足长等 指间距尺 规格：最大测量长度110厘米，加上加长杆后最大测量长度220厘米。精度：±0.1厘米。测量臂伸，身长、指间距（臂展）等 包装箱：137×28×15cm 10公斤 2.汽车尾气分析仪/微电脑汽车尾气分析仪 型号:HAD-LMY-II为汽车维护、修理部门HAD-LMY-II型汽车尾气分析仪是对汽车尾气中的含氧量进行分析，从而判断出气车尾气中一氧化碳（CO）和碳氢化合物（HC）的排放量是否符合国家标准的要求；还可以从排放尾气的含氧量（%）大小，反映出发动机的空燃比是否在最佳动力性和经济性状态。该仪器是为汽车维护、修理部门而设计的，能满足对排放气体分析的需要，具有结构紧凑、操作简单，使用方便、价格低廉等特点，是汽车维护、维修行业理想的检测设备。 汽车尾气分析仪/微电脑汽车尾气分析仪 技术参数：1、测量范围：0—25%2、测量精度：±1%3、工作环境温度：0oC~45oC4、相对湿度：≤85%5、响应时间：≤15S6、工作电源AC220V HAD-LMY-II型汽车尾气分析仪是对汽车尾气中的含氧量进行分析，从而判断出气车尾气中一氧化碳（CO）和碳氢化合物（HC）的排放量是否符合国家标准的要求；还可以从排放尾气的含氧量（%）大小，反映出发动机的空燃比是否在最佳动力性和经济性状态。 该仪器是专门为汽车维护、修理部门而设计的，能满足对排放气体分析的需要，具有结构紧凑、操作简单，使用方便、价格低廉等特点，是汽车维护、维修行业理想的检测设备。 HAD-LMY-II技术参数： 1、测量范围：0—25% 2、测量精度：±1% 3、工作环境温度：0oC~45oC 4、相对湿度：≤85% 5、响应时间：≤15S 6、工作电源AC220V 3.双路温湿度记录仪 型号：HADL95-4二路温度+二路湿度测量参数：二路温度+二路湿度（可以同时记录两个不同环境的温湿度值）传 感 器：温度：优质NTC(外置) 湿度：霍尼韦尔(优质进口探头)测量范围：温度：-40～100℃ 湿度：0～100%RH测量精度：温度：±0.2~0.5℃ 湿度：±2~3%RH存储容量：可自动记录8000组数据记录间隔：2秒到24小时任意可调分 辨 率：温度：0.1℃ 湿度：0.1%RH电 池：内置充电式高能锂电池，可使用外接电源充电启动方式：立即启动/定时启动/手动启动停止方式：存满停止/先进先出/定时停止/手动停止供电方式：一节3.6V高能锂电池供电或12V外接电源供电通讯方式：USB通讯或RS232通讯或RS485通讯 4.氨氮测定仪/纳氏比色法水质氨氮检测仪 型号:5298 一、简介该产品采用纳氏比色法测量水中的氨氮，该方法具有操作简便、灵敏度高等特点。其原理是：以游离态的氨或铵离子等形式存在的氨氮与钠氏试剂反应生成黄棕色络合物，该络合物的色度与氨氮的含量成正比；仪器广泛应用于地表水、工业废水、生活污水等水质的测量。二、特点Ø 采用进口光源，配以高稳定性光学系统，使仪器重复性、精度更高。Ø 用高性能、低功耗单片机及大屏幕LCD，汉字菜单，操作方便，显示直观。Ø 记录可保存及查询，断电不丢失。Ø 可贮存100条工作曲线及999个历史记录，断电不丢失。Ø 测量速度快，10分钟可出结果。Ø 具有USB接口，数据可传输到电脑。Ø 具有打印功能，可对测试的记录立即打印或查询记录打印。三、主要技术指标Ø 测量范围：0.02-25mg/L（分为二个量程： 0～5mg/L、5～25mg/L。超量程可稀释后测定）；Ø 基本误差： ±3%(F.S)；Ø 重复性 ：≤2%；Ø 外形尺寸：282mm×237mm×102mm；Ø 供电电源: 220V。 5显气孔率、体积密度测定仪标准GB/T2997吸收率、真气孔率仪 型号:HAD-K04 1.1　产品介绍仪器用途：HAD-K04型显气孔体密测定仪主要用于测定耐火材料的显气孔率、体积密度、吸收率、真气孔率等物理性能。执行标准：该设备标准GB/T2997的要求设计制造。仪器结构：本仪器由抽真空部分、称量系统和控制部分组成。抽真空部分是将真空泵和真空容器组装在一起，柜式结构，结构合理，体积小，重量轻，美观大方，操作方便。液体静力天平是采用2000g电子天平。该天平数字显示，称量准确，速度快。配防风型悬挂式悬浮称量箱。控制方式：采用工业IPC机进行全自动控制，界面友好，控温、加荷精度高，自动计算测量数据，有EXCEL数据库存储功能，可随时调阅查询，并且可随时打印试验报告。1.2主要技术指标型号参数 HAD-K04天平 最大称量2000g,精度10mg腔内绝对压力 ≤2500Pa最大测试试样 6个50×50×50mm抽真空部分体积 250×300×250(mm)抽真空部分重量 100kg外形尺寸 450×590×1230(mm) 6. 微电脑光电子阴离子洗涤剂检测仪 型号:HAD-J1A 一、产品概述HAD-J1A阴离子洗涤剂检测仪适用于大、中、小型水厂及工矿企业、生活或工业用水，以便控制水达到规定的水质标准。 二、原理： 本仪表应用微电脑光电子比色检测原理取代传统的目视比色法。消除了人为误差，因此测量分辨率大大提高。 技术参数 测量范围 0-1.0mg/L最小示值 0.001mg/L重复性 ≤2%精度 ±5%FS±1个字电源电压 DC 9V 50Hz 7.α β γ表面污染测量仪/射线检测仪 型号:HAD-J1210一个或三个GM端窗计数管 HAD-J1210α β γ表面污染测量仪用于放射性表面污染测量，可以同时对α、β、γ射线进行测量，该仪器便于携带，操作方便， 技术参数探测器：一个或三个GM端窗计数管灵敏面积：15 cm2（15 cm2 × 3）辐射类型：α、β、γ测量类型：总计数、cps、Bq、Bq/cm2测量范围：0.1-105 cps、0.1-104 Bq、0.1-103 Bq/cm2能量下限：α 辐射2.5 MeV，β 辐射30 keV，γ辐射5 keV 效率（带保护格栅，2π）：90Sr-90Y≥35%，14C≥ 8%，204Tl≥15%，239Pu≥15%仪器工作时间 100 h 环境特性：工作温度0-45℃，湿度 90%重量：1.5 kg 产品特点: cps、Bq、Bq/cm2可选声光报警、报警阈值连续可调仪器超量程报警 8.氰化物测定仪/透明无悬浮物手持便携式式氰化物检测仪 型号:HAD-P121生活用水、饮用水 产品简述：仪器适用于生活用水、饮用水、地表水和处理后排放废水（透明无悬浮物的水）中氰化物浓度的测定技术参数：1. 测量范围：0.01～0.50mg/L，0.01-50MG/L 超过稀释测定2、基本误差： ±5%(F.S)3、最低检出限：0.01mg/L6、外形尺寸：80mm×230mm×55mm7、重量：500g8、 正常使用条件：⑴ 环境温度:5～40℃ ⑵ 相对湿度: ≤85%⑶ 供电电源: 4节5#电池⑷ 无显著的振动及电磁干扰，避免阳光直射。 9.数显倾角仪/双轴电子水平仪/数字水平仪 型号:HAD-I420 产品介绍 HAD-I420开发出工业现场角度控制和测量的一款数显倾角仪，此款产品核心是采用微机械控制原理，双核测量单元，测量过程中可以用Y轴对X轴进行补偿，再运用交插和温度补偿模型算法，发挥出微机械电子原理的绝对运算优势，保证了仪器测量的长期稳定性和重复性。HAD-I420是双轴360度测量，分辨率0.01°、精度0.05度全量程、响应速度快、数据稳定，产品特别设计侧面和下面都采用强磁吸附式安装，两边基准均可正常测量使用，给客户带来非常大的使用便利，另外，HAD-I420的配套选型(I420)可以与采用分离式测量，与我司LCA系列倾角传感器配合使用，传输模式无线或有线可选配，无线采用单对单波段传输，传输直线距离10m,有线传输标准1米（可定制长距离），HAD-I420系列产品拥有强大扩展性、便利实际应用性、工业的可靠性、并且拥有绝对的性价比优势，在国际市场上都有绝对的竞争优势！ 主要特性 ●精度：0.05° ●重复性：0.03° ●角度分辨率：0.01° ●测量范围：±90° ●响应速度快 ●绝对/相对测量可切换 ●侧面底部均可测量 ●双基准强磁安装 ●工作温度-10°～ +70℃ ●自动角度交插补偿功能 ●自动温漂补偿 ●客户可自行校准功能 ●内置可充电工业电池 ●夜视四色彩屏 ●IP54防水级别 ●带数据保持功能 ●角度/长度双单位切换 ●100g高抗冲击 产品应用 ●建筑施工 ●汽车四轮检测 ●道路坡度 ●机械安装 ●管道安装 ●工业平台 ●云台角度检测 ●转台检测 ●生产夹具 ●医疗仪器 角度测量范围 ±90 ° °长度测量范围 ±999.9 Mm/m测量轴 双轴角度测量精度 0.05 °（全量程） °角度测量分辨率 0.01 °长度测量精度 0.17 mm毫米测量分辨率 0.1 mmLCD可视区域大小 L40*W32 mm工作温度 -10°～ +70℃ °/℃工作湿度 85 %RH电源 3.7V可充电锂电池 V理想充电时间 3 h电池连续工作时间 10 h数据输出信号 标准5Pin USB连接器抗振 10g@11ms、三轴和同(半正弦波) g抗冲击 10grms、10～100Hz g重量 125 g防水级别 IP54材质 金属铝尺寸 L83*W53*H19.2mm mm 10.台式涂膜机/小型涂布机/锂离子电池专用涂布机 型号:HAD-300A电池正、负极片连续涂敷工序 本机锂离子电池正、负极片连续涂敷工序，适用于适合高等院校及企业小规模实验使用；也可用于陶瓷类薄膜、晶体类薄膜、特殊纳米薄膜等；机身全部采用不锈钢材质，美观、耐用，表面喷塑处理，操作简便。一、 主要特点：1、 涂膜电机是永磁低速同步同步电机；2、 滚珠丝杆和直线导轨才用台湾进口高精密上银品牌：3、 涂膜器刮刀采用芬兰进口SUS316L不锈钢材料：4、 涂膜速度在0～100mm/秒范围内可调，并且带数字显示；5、 温控器采用上海亚泰PID智能LID数显表6、 真空铝盘，可快速放置或取下极片；7、 带调整涂膜厚度（精度0.02mm）宽度0-270mm的刮刀；二、 技术参数：1、涂抹速度：0～100mm/秒；2、最大行程：300mm；3、真空板 ：带真空铝平板 ；4、真空板尺寸：420mm(L)×300mm(W)×30mm(H)；5、刮刀可调范围：0.02～2mm6、重量：45KG7、电源：220V ±10% 8、含VP-1真空泵一台，真空管3米 以上参数资料与图片相对应

二次元测量大约分为三种方式：表面测量，轮廓测量，Z轴测量。那么它们的测量功能分别是什么呢？妙机和你一起分享东莞二次元测量仪的主要测量功能。　　（1）表面测量：　　表面测量可以说是影像测量的主要功能，凡是能看到的物体表面图形尺寸，在表面光源照明下，影像测量仪几乎全都能测量，例如，电路板上的线路铜泊尺寸，IC电路等。当被测物体是黑色塑料，橡胶时，影像测量仪也能轻易测量其尺寸。　　（2）轮廓测量：　　顾名思义就是测量工件的轮廓边缘，对于东莞二次元测量仪生产厂家来说一般采用底部的轮廓光源，需要时也可加表面光做辅助照明，让被测边缘更加清晰，有利于测量。　　（3）Z轴测量：　　当配上高倍物镜，有足够瞄准与定位精度时，影像测量仪就可以做Z轴测量，如测量工件的台阶高度，暗孔深度，测量时使用表面光照明。　　以上资料东莞二次元测量仪厂家的小编介绍到这里就结束了，如有想购买的朋友们欢迎致电咨询，我们随时欢迎你！妙机科技公司将以先进的技术，精细工艺，完善的售后，竭诚为您服务，展现更优质的产品带给大家！

中图仪器NS系列探针接触式台阶高度仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量，是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器。采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等数十项参数。3）应力测量：可测量多种材料的表面应力。2.测量模式与分析功能1）单区域测量模式：完成Focus后根据影像导航图设置扫描起点和扫描长度，即可开始测量。2）多区域测量模式：完成Focus后，根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，可根据横向和纵向距离来阵列形成若干到数十数百项扫描路径所构成的多区域测量模式，一键即可完成所有扫描路径的自动测量。3）3D测量模式：完成Focus后根据影像导航图完成单区域扫描路径设置，并可根据所需扫描的区域宽度或扫描线条的间距与数量完成整个扫描面区域的设置，一键即可自动完成整个扫描面区域的扫描和3D图像重建。4）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.双导航光学影像功能在NS200-D型号中配备了正视或斜视的500W像素的彩色相机，在正视导航影像系统中可精确设置扫描路径，在斜视导航影像系统中可实时跟进扫描轨迹。4.快速换针功能采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少维护烦恼。磁吸针实物外观图（330μm量程）NS系列探针接触式台阶高度仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。NS系列探针接触式台阶高度仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用部分技术指标型号NS200样品观察500万像素彩色摄像机 正视视野：2.2×1.7mm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm630×610×500重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。