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一维平移台

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一维平移台相关的论坛

  • 国产质谱仪器与技术专场评议研讨会即将召开

    北京BCEIA会议即将到来，精选部分会议信息，以资分享！（会讯来源：http://www.instrument.com.cn/ilog/wkh/notes/31340/）中国分析测试协会技术与标准委员会的仪器与技术评议活动，以构建国内外仪器技术的信息交流平台、为用户选购仪器及提高应用水平服务、为仪器厂商及仪器研究者、跟踪国外仪器及市场需求服务、为国家宏观仪器技术发展决策提供参考服务为宗旨，坚持公正客观的指导思想，在实施分析仪器与技术评议活动过程中，坚持以BCEIA为切入点，立足于常态化的组织和评议活动，使评议活动更加系统、扎实和有针对性的工作指导原则。2013BCEIA 将于2013年10月23~25日在北京展览馆举办，在此期间，中国分析测试协会仪器评议组将开展一系列评议活动。其中，质谱仪器评议组将举办“国产质谱仪器与技术专场评议研讨会”，届时将邀请国内质谱生产企业和质谱关键部件企业参加主题报告，并设置有专家、企业、来宾自由讨论环节。时间：2013年10月23日上午9:00-下午17:00地点：北京展览馆宾馆2号会议室活动方式：1、邀请部分企业进行主题报告20分钟，专家即时评议10~15分钟；2、国产质谱仪现场研讨，期间非主题报告企业可以汇报5分钟；3、任何关注国产质谱仪器的人士均可全程参与讨论；4、 所有企业和人员免费参加；5、 参会企业可以发放质谱宣传材料，但会场不接受广告位和展板。

  • 【求助】硅表面XPS,结合能平移

    【求助】硅表面XPS,结合能平移

    我做硅氢表面,先用HF处理,打了一张XPS,图中黑线,红色是未HF处理,而蓝线是硅氢与双键加成后的XPS,怎么发现Si 2p平移了?什么道理呢?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/05/201005212200_220050_1725768_3.jpg[/img]

  • 【求助】福建南平一化工厂氢氟酸泄漏

    【序号】：【作者】： /【题名】：福建南平一化工厂氢氟酸泄漏【期刊】：化工安全与环境【年、卷、期、起止页码】：2008年21卷47期【全文链接】：http://61.164.36.250:8001/asp/Detail.asp

  • 中国分析测试协会波谱专家组今年评议项目

    中国分析测试协会分析仪器与技术评议波谱组今年的评议项目为: 1．国内新研发的两台 500 兆核磁共振谱仪的介绍与性能评议2．国产教学用小型成像与结构核磁共振谱仪的介绍与性能评议3．对国内新创办核磁共振探头维修公司的介绍与评议4．超导核磁共振谱仪的新设备或配件的功能介绍与性能评议波谱专家组成员名单如下:林崇熙 (组长, 北京大学化学学院), 崔育新 (北京大学医学部), 邓志威 (北京师范大学), 贺文义 (医科院药物所), 郭灿雄(北京化工大学),李立璞 (中科院化学所), 涂光忠 (微量化学所), 向俊锋 (中科院化学所), 颜贤忠 (军事医科科院), 杨海军 (清华大学)

  • 2011 BCEIA 质谱仪器与技术评议--聚焦离子源

    2011 BCEIA“质谱仪器与技术评议”活动安排活动一 2011质谱技术评议--聚焦离子源时间：2011年10月13日 上午9：00-12：009:15 CaptiveSpray离子源技术与应用，布鲁克公司蒲海，9:40 解吸电晕束离子源的开发与进展，岛津公司孙文剑，10:05 封闭式可调气氛电喷雾离子源研发，好创生物朱一心，10:30 多通道直接进样系统与应用，华质泰科刘春胜，10:55 离子淌度离子源，AB 公司蒋鸿剑，地点： 北京展览馆二号馆二层第八会议室活动二 便携式气质联用仪现场评议时间：2011年10月13日 下午13：00-17：00地点： 北京展览馆二号馆二层第八会议室中国分析测试协会分析测试仪器技术评议办公室

  • 求购国产天平一台

    找一台天平，国产的，大家有什么好的品牌推荐？型号？价格？PS：量程2000gPPS：上海

  • 【原创】紫外可见分光光度计波长发生平移----一些调节校正心得

    【原创】紫外可见分光光度计波长发生平移----一些调节校正心得

    一些学校使用瑞利的UV9200，由于学生使用频繁，时间长了，波长发生了平移，此时应该怎么办？接下来例举一个实例来进行讲解：问题：假设所需波位为300nm，在300nm时有吸光度，而实际上调节到310nm时才出现对应的吸光度，此时波长平移了10个nm，应该怎么办？方案：1、首先将波长调节到310nm；（见图1）2、将手扭摘下；（见图2）3、刻度盘的圆心部位有两个螺钉；（见图3）4、松开螺钉，将刻度盘旋转到标准位置300nm。然后拧紧螺钉，盖上手扭即可，波长调节过程完成。（见图4）若刻度盘已经调到螺丝根部，仍需要逆时针旋转，该如何？（见图3）刻度盘上其实对应有四个孔1、2、3、4，1和3、2和4它们两两相对，此时可以将1、3部位的螺钉卸下，逆时针旋转到所需位置，然后将螺钉固定到2、4孔位即可。（见图5）http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905141532_150131_1700713_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905141532_150132_1700713_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905141533_150133_1700713_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905141534_150134_1700713_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/05/200905141535_150135_1700713_3.jpg

  • 激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差的应用原理

    激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差的应用原理

    激光干涉仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、最高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。[align=center][img=,578,450]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201754505855_5264_3712_3.jpg!w578x450.jpg[/img][/align]　　激光干涉仪最典型的应用就是测量机床精度，本文讲解如何使用激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差。　　对于平移轴而言，每根轴均有两个直线度误差，因此三根轴有六个直线度误差，均可采用激光干涉仪分别测得。　　原理：带有圆孔的是直线度干涉镜，其与待测轴相连一同运动；长条镜是直线度反射镜静止安装，其是对称结构，上下左右均对称。当一束激光从源头发出射入干涉镜，干涉镜将光束分成两束，形成一个很小的角度分别去往反射镜，由于反射镜上下对称，因此两束光被反射后又回到干涉镜，汇合成一股光束，去往激光头的探测器。当运动轴产生直线度误差时，会使得干涉镜相对于反射镜在水平横向方向发生相对运动，而反射镜是左右对称的（左右的镜片不在同一平面，有一定的角度），因此会使得两束分开的光束光程具有差别，根据此差别，即可测得运动轴产生的直线度误差。[align=center][img=,678,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201755021895_7221_3712_3.jpg!w678x333.jpg[/img][/align][align=center]▲ 直线度测量的光路原理构建图[/align][align=center][img=,678,367]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201755111914_6482_3712_3.jpg!w678x367.jpg[/img][/align][align=center]▲ 运动轴的横向直线度测量示意图[/align][align=center][img=,678,367]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911201755345695_9383_3712_3.jpg!w678x367.jpg[/img][/align][align=center]▲ 运动轴的纵向直线度测量示意图[/align]　　根据直线度误差测量原理可知，测量过程中不可避免的会引入斜率误差。该误差是由于测量直线度反射镜的光学轴线最初与待测轴不平行，为调整平行而引起的。如图 所示，A 为干涉镜和反射镜的距离，B 为激光头到干涉镜的距离（其中干涉镜是固定在运动轴上的）。在一开始，反射镜的光学轴线处于旋转前的位置，而由于机床运动轴与其之间存在的夹角θ，[img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910173125514.jpg[/img][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910177031118.png[/img][/align]　　因为斜率误差是稳定误差，因此可以采取上述的公式将其从直线度测量结果中分离出来，亦可以采用两端法拟合或者最小二乘法拟合将其分离出去。　　两端法拟合：即是将所有采集来的数据第一点和最后一点相连决定一直线，再将所有采集来的数据去除掉拟合的直线信息，由此得出的残值即为直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910170000002.png[/img][/align]最小二乘法拟合：将采集回来的所有数据通过最小化误差的平方和方式来寻找数据的最佳函数匹配，而后将采集值与匹配函数对应值相比较，剩余的残值即为直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910171562522.png[/img][/align]附：SJ6000激光干涉仪直线度测量精度。[table][tr][td][align=center]轴向量程[/align][/td][td][align=center]测量范围[/align][/td][td][align=center]测量精度[/align][/td][td][align=center]分辨力[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]短距离[/align][/td][td][align=center](0.1~4.0)m[/align][/td][td][align=center]±3mm[/align][/td][td][align=center]±(0.5+0.25%R+0.15M[size=12px]2[/size]) μm[/align][/td][td][align=center]0.01μm[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]长距离[/align][/td][td][align=center](1.0~20.0)m[/align][/td][td][align=center]±3mm[/align][/td][td][align=center]±(5.0+2.5%R+0.015M[size=12px]2[/size]) μm[/align][/td][td][align=center]0.1μm[/align][/td][/tr][tr][td=5,1]注：R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m[/td][/tr][/table]

  • 激光干涉仪怎样测量五轴机床平移轴直线度误差？

    SJ6000激光干涉仪具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、最高测速下分辨率高等优点，结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在[b]SJ6000[color=#333333]激光干涉仪[/color][/b]动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/9/201909243125960.png[/img][/align]　　激光干涉仪最典型的应用就是测量机床精度，本文讲解如何使用激光干涉仪测量五轴机床平移轴直线度误差。　　对于平移轴而言，每根轴均有两个直线度误差，因此三根轴有六个直线度误差，均可采用激光干涉仪分别测得。　　原理：带有圆孔的是直线度干涉镜，其与待测轴相连一同运动；长条镜是直线度反射镜静止安装，其是对称结构，上下左右均对称。当一束激光从源头发出射入干涉镜，干涉镜将光束分成两束，形成一个很小的角度分别去往反射镜，由于反射镜上下对称，因此两束光被反射后又回到干涉镜，汇合成一股光束，去往激光头的探测器。当运动轴产生直线度误差时，会使得干涉镜相对于反射镜在水平横向方向发生相对运动，而反射镜是左右对称的（左右的镜片不在同一平面，有一定的角度），因此会使得两束分开的光束光程具有差别，根据此差别，即可测得运动轴产生的直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910178906394.jpg[/img][/align][align=center]▲ 直线度测量的光路原理构建图[/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910170468304.png[/img][/align][align=center]▲ 运动轴的横向直线度测量示意图[/align][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910173593913.png[/img][/align][align=center]▲ 运动轴的纵向直线度测量示意图[/align]　　根据直线度误差测量原理可知，测量过程中不可避免的会引入斜率误差。该误差是由于测量直线度反射镜的光学轴线最初与待测轴不平行，为调整平行而引起的。如图 所示，A 为干涉镜和反射镜的距离，B 为激光头到干涉镜的距离（其中干涉镜是固定在运动轴上的）。在一开始，反射镜的光学轴线处于旋转前的位置，而由于机床运动轴与其之间存在的夹角θ，[img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910173125514.jpg[/img][align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910177031118.png[/img][/align]　　因为斜率误差是稳定误差，因此可以采取上述的公式将其从直线度测量结果中分离出来，亦可以采用两端法拟合或者最小二乘法拟合将其分离出去。　　两端法拟合：即是将所有采集来的数据第一点和最后一点相连决定一直线，再将所有采集来的数据去除掉拟合的直线信息，由此得出的残值即为直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910170000002.png[/img][/align]最小二乘法拟合：将采集回来的所有数据通过最小化误差的平方和方式来寻找数据的最佳函数匹配，而后将采集值与匹配函数对应值相比较，剩余的残值即为直线度误差。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/10/201910171562522.png[/img][/align]附：SJ6000激光干涉仪直线度测量精度。[table][tr][td][align=center]轴向量程[/align][/td][td][align=center]测量范围[/align][/td][td][align=center]测量精度[/align][/td][td][align=center]分辨力[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]短距离[/align][/td][td][align=center](0.1~4.0)m[/align][/td][td][align=center]±3mm[/align][/td][td][align=center]±(0.5+0.25%R+0.15M[size=12px]2[/size]) μm[/align][/td][td][align=center]0.01μm[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]长距离[/align][/td][td][align=center](1.0~20.0)m[/align][/td][td][align=center]±3mm[/align][/td][td][align=center]±(5.0+2.5%R+0.015M[size=12px]2[/size]) μm[/align][/td][td][align=center]0.1μm[/align][/td][/tr][tr][td=5,1]注：R为显示值，单位：μm；M为测量距离，单位：m[/td][/tr][/table]

  • 如何看待“同行评议”？

    刚完成一篇论文的初稿，本打算对着《中国环境监测》的格式要求进行修改，发现从2017.5起，该期刊要求作者提供“同行评议意见表.”，即是说作者需先找个“审稿人”进行审稿。“同行评议”究竟起到什么作用？与编辑部送审有什么区别？为什么要“同行评议”，难道是编辑部为了节省评审的人力、物力、时间投入？对于作者来说，肯定是优先让认识的人进行同行评议，如果这样，“同行评议”可能缺乏客观性、公正性。同时，作者在找“审稿人”要“同行评议”，是否需要给评审费？是否会出现论文被这个“审稿人”拿去用的情况？欢迎有经验的版友聊聊。

  • 电子天平一定要放水平测量吗？

    普通平衡时天平需要调水平，才能进行测量，电子天平的质量传感器从某种意义上讲，可以不一定要严格水平，电子天平一定要放水平测量吗？谁有此经验，或验证过？

  • 号外！天瑞仪器三款质谱仪新品研发成功 评议会顺利结束！

    号外！天瑞仪器三款质谱仪新品研发成功 评议会顺利结束！

    2012年3月3日，中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的“天瑞仪器质谱仪系列新品评议会议”在天瑞产业园二楼会议室举行。由多名国内知名院士、专家组成的评议委员会，在认真听取项目报告，审查相关技术材料，现场考查与质询后，对天瑞仪器的三款质谱仪新品（GC-MS 6800气相色谱-质谱联用仪、ICP-MS 2000电感耦合等离子体质谱仪、LC-MS 1000液相色谱质谱联用仪）给出公正、客观的评价。专家委员会认为：GC-MS 6800气相色谱-质谱联用仪的测试质量范围、分辨率、测试重复性等各项指标均已满足JJF1164-2006国家标准的要求，可以应用于食品安全、环境检测、工业分析等领域；ICP-MS 2000电感耦合等离子体质谱仪的测试质量范围、分辨率、测试重复性等各项指标均已满足JJF1159-2006国家标准要求，可以应用于地质矿产、冶金矿产、核工业、环境、食品安全、工业等检测领域；LC-MS 1000液相色谱质谱联用仪的测试质量范围、分辨率、测试重复性等各项指标均已满足应用要求（暂无相关国标），可应用于食品安全、环境检测、工业分析等领域；三款质谱仪产品的多项软硬件技术填补了国内空白；三款质谱仪产品均已具备积极开展市场推广的条件；此次提交评议的三个质谱项目已具备了很好的前期工作基础，建立了专业水平的研发队伍，成为我国该领域具有良好发展前景的优势单位之一。本次专家委员会组成有：中国科学院生态环境研究中心 江桂斌院士 南京大学化学化工学院 陈洪渊院士 中石化北京石油化工科学研究院 苏焕华研究员 中科院化学研究所北京质谱中心 王光辉研究员 中国检验检疫科学研究院综合检测中心 仲维科研究员 核工业北京地质院分析测试研究中心 郭冬发研究员 东华理工大学生物与材料学院 陈焕文教授会议由中国仪器仪表学会分析仪器分会秘书长刘长宽主持，江桂斌院士、陈洪渊院士分别担任评议委员会主任委员、副主任委员。此次会议共分为四个环节：厂商致辞及研发汇报情况；实地考察产品运行情况；专家质询提问及评审讨论；专家组宣读评审意见。天瑞仪器董事长刘召贵博士在开场辞中表示，早在5年前，天瑞仪器便坚定得启动了质谱项目研发，五年的研发过程遇到了很多困难和挫折。但天瑞人从未放弃，日以继日、齐心协力得攻克了一个又一个技术难点。今天，数年的努力终于赢来了初步的成果。“也许我们的产品还是个孩子，但它会在市场的磨练中，不断成长优化，实现国产仪器厂商在高端质谱仪领域的突破。”三款质谱仪新品（GC-MS 6800气相色谱-质谱联用仪、ICP-MS 2000电感耦合等离子体质谱仪、LC-MS 1000液相色谱质谱联用仪）项目负责人周立博士、潘翔博士、丁志国，分别从研发过程、产品技术优势及创新点、实验数据、用户报告、研发展望等角度，做了详细的项目报告。在天瑞质谱项目团队的陪同下，专家委员会参观了质谱研发实验室，仔细考察仪器内部构造、并亲身检测质谱仪样机的测试过程及结果。最后，专家委员会结合项目报告、技术资料、现场考察的相关内容，现场质询提问。经认真讨论研究，最终形成了评议意见。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203080847_353177_2090336_3.jpg天瑞仪器董事长刘召贵博士致辞http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203080847_353178_2090336_3.jpg“LC-MS 1000液相色谱质谱联用仪”项目经理潘翔博士作项目报告http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203080847_353179_2090336_3.jpg专家委员会考察天瑞质谱仪研发实验室http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203080851_353181_2090336_3.jpg与会专家与研发团队合影留念

  • BCEIA 质谱仪器评议活动记实

    [size=32px][color=#ff0000]2013[/color][/size][size=16px]嘉宾：[font=宋体, 'Arial Narrow'][size=16px][color=#444444]来自广州禾信、上海品傲光电、中科科仪、上海舜宇恒平、安徽皖仪、聚光科技、北京普析通用、北京东西分析以及江苏天瑞的国产质谱仪器及相关设备厂家的产品研发负责人[/font][/size][/color][/size][size=6][b][size=12px][url=http://www.instrument.com.cn/news/20131030/116102.shtml]专家议：国产质谱前途如何？——BCEIA 2013国产质谱仪器与技术专场评议研讨会[/url][/size][/b][/size][size=32px][color=#ff0000]2011[/color][/size][size=16px][color=#000000]嘉宾：蒲海、孙文剑、朱一心、刘春胜、李春波[/color][/size][url=http://www.instrument.com.cn/news/20111021/069271.shtml]聚焦离子源技术 畅谈国产质谱发展——BCEIA 2011质谱仪器评议活动记实[/url](1)布鲁克公司-CaptiveSpray电喷雾离子源(CSI)(2)岛津公司-解吸电晕放电束离子源(DCBI)(3)好创生物公司-封闭式可调气氛电喷雾离子源(4)华质泰科公司-芯片多通道直接进样系统(TriVersa NanoMate:Chip-based ESI)(5)AB SCIEX公司-离子淌度差分质谱技术[size=32px][color=#ff0000]2009[/color][/size][size=16px]嘉宾：赵贵平、潘晨松、陈希曙[/size][url=http://www.instrument.com.cn/news/20091130/036248.shtml]BCEIA期间质谱类仪器现场评议圆满完成[/url](1)三重四极杆和线性离子阱复合的QTRAP系统(2)maXis[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Yp][color=#3333ff]液质联用[/color][/url]系统在超高扫描速度的条件下保持很高的分辨率(3)高质量分辨率和准确度的Orbitrip与LTQ相结合的仪器和技术

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