纳米粒度测试仪

百特纳米粒度仪BeNano 180是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯-爱因斯坦方程就得到样品的粒度结果。基本性能指标粒径测试原理动态光散射粒径范围0.3nm-10μm★样品量40μL-1mL★检测角度173°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度微流变测试频率范围0.2-1.3×107rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制 0.0001%-100%，手动或自动 软件中文和英文符合21CFR Part 11 ★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射相关技术相关应用

即使作为入门级纳米粒度及Zeta电位分析仪，Zetasizer Lab 的功能也不容小觑。 Zetasizer Lab 纳米粒度仪采用经典动态光散射(90°)，包含"自适应相关"算法、M3-PALS 和恒流 Zeta 模式。 Zetasizer Lab 纳米粒度分析仪还随附 ZS Xplorer，这是一款易于使用的分析软件，提供有关数据质量的实时反馈，以及如何改进结果的指导。特点和优点Zetasizer Lab 纳米粒度仪是一款出色的入门级系统，提供各种功能，其中包括：动态光散射 (DLS) ：用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 （使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ；取决于样品和样品制备）电泳光散射 (ELS) ：测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性扩展粒度范围分析功能可针对超过 1 μm 的颗粒粒度提供更高的准确性，并针对超过 10 μm 的颗粒粒度提供指示性结果（使用 ZSU1002 低容量可抛弃粒度测量池）具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射（90°）测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规支持使用低容量可抛弃毛细管样品池对低至 3 μL 的样品进行粒度测量选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品，如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Pro 或 Zetasizer Ultra型号主要应用Zetasizer Lab 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

Zetasizer Pro纳米粒度仪是一款功能强大、用途广泛的常规实验室测量解决方案，可测量颗粒粒度、分子大小、电泳迁移率、Zeta 电位和分子量。 与以往型号相比，其粒度测量速度超过以往的两倍，加快了样品处理速度。由于采用非侵入背散射 (NIBS) 光学设计，该技术将背散射检测技术与可变测量位置和高效光纤技术结合在一起，与传统DLS相比，显著增加了样品浓度范围和粒度的测量范围。 滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性。特点和优点凭借以下优势，即使刚入门的用户也能使用 Zetasizer Pro 纳米粒度电位仪完成高质量的测量：动态光散射 (DLS) 用于测量从0.3 nm 到 10 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 电泳光散射 (ELS) 用于测量颗粒和分子的Zeta电位，以显示样品稳定性和/或团聚倾向性非侵入背散射 (NIBS) 技术显著扩大了动态范围，即使是处理非常浓缩的样品，也能实现高灵敏度具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用，并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据，同时计算速度超过以往的两倍，可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量，实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供明确的建议滤光片转盘提供荧光滤光片以及垂直和水平偏振片，以实现分析灵活性 如果您的需求发生改变，可现场升级到Zetasizer Ultra 可选的 MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响一系列可抛弃及可重复使用的样品池可优化不同样品体积和浓度的测量主要应用Zetasizer Pro 应用广泛，包括：学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具，广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛，被科学文献引用的次数达上万次，成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中，温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性，造成变性和聚集、功能丧失， 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选，并可协助配方开发， 从而优化流程和产品，消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位，以改善食品、饮料和调味料的外观及味道，并优化分散和乳化稳定性，从而延长产品保存期限，提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质，比如更高的催化活性和溶解度，或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定，以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性（例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期）方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量，从而减少配方时间，加快新产品上市。消费品改良多种消费品时，需要了解和控制胶体参数，引导颗粒间的相互作用，并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度， 并测量乳液的液滴大小和稳定性。

BeNano 90纳米粒度仪是基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯-爱因斯坦方程得到样品的粒度分布结果。基本性能指标 粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★ 样品量3μL-1mL★检测角度90°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS原理动态光散射技术分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★微流变测试频率范围0.2-1.3×107 rad/s★测试能力均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥的空气或氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 静态光散射相关技术相关应用

品牌：久滨型号：JB-N9名称：纳米粒度仪 一、产品概述： JB-N9是我公司推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定产品。　　控制系统原理图如下：光子相关纳米粒度仪基本原理图二、原理： 本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定的仪器。　　此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！三、主要技术参数：规格型号JB-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）数据处理拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, *大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路；　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

梓梦科技动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

NanoFlowSizer（NFS）在线纳米粒度分析仪是目前市场上唯一可用于在线对胶体系统、纳米悬浮液、纳米乳液和其他分散纳米颗粒进行连续、实时的纳米粒度表征的检测系统。该系统采用创新的空间分辨动态光散射（SR-DLS）计数和智能XsperGo分析软件对高浊度纳米颗粒进行快速检测，支持线上动态检测和线下静态检测两种检测模式，兼顾了研发实验室静态纳米粒度检测和生产上在线连续实时检测的需求。产品特点：在线检测：市面唯一支持在线实时检测的粒度分析仪高浓度检测：样品无需预处理、支持高浓度样品检测检测速度快：10秒钟完成一次检测实时反馈：实时反馈粒径大小与分布多种检测方式：在线动态检测、离线静态检测多种检测模式应用：mRNA疫苗纳米药物食品化妆品催化剂

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

VASCO纳米粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCO是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。VASCO纳米粒度分析仪的主要特征• 基于增强型动态光散射原理（DLS）• 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 产品软件NanoQ，用于颗粒粒度• 在线样品池选项 • 改善荧光样品的测量VASCO纳米粒度分析仪的技术与创新VASCO：独特的颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 • 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制 • 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究（选项）。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！Vasco纳米粒度分析仪技术将DLS发挥至较高水平Vasco纳米粒度分析仪提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。VASCO纳米粒度分析仪的主要优势• 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率 • 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品 • 用于多模态样品分析的算法 • 即测样品 • 与传统DLS相比，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍。

JH-NKT-N9是我公司最新推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速光子相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的首选产品。光子相关纳米粒度仪基本原理图主要性能特点： 先进的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定的首选仪器。 高灵敏度与信噪比：本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管（PMT），对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；极高的分辨能力和超强的运算功能：使用PCS技术测定纳米级颗粒大小，必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用专用集成电路ASIC研制的高速光子相关器，具有识别6ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度，可快速实时的采集光子数并计算相关运算，我测试尊确定奠定基础。稳定的光路系统：采用短波长LD泵浦激光光源和光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性。高精度温控系统：样品池温控系统和激光器温控系统精度高达±0.1℃，使被测样品和激光器光源在整个测试过程中都处于恒温状态，避免温度变化对不测试结果的影响，确保测试准确和重复；超强功能的分析软件：分析软件中反演算法采用国际标准推荐的累计量法以及目前比较通用的非负最小二乘法（NNLS）和Contin等多种算法，其测试结果与国际权威的同类产品具有很好的一致性；测试精准并稳定：高性能的硬件和国际标准化的反演算法的完美结合，造就了Nano90测试结果的精准与重复，其测试准确度和重复性等指标均高于国际标准要求。 此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！ （测试界面图） NKT-N9光相关纳米粒度仪技术参数及详细配置：规格型号NKT-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护，带自动感应滑门）样品池放置窗口带自动感应滑门数据处理最优拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）温度显示仪器实时温度显示温度调控外置直接调温，无需打开机壳测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, 最大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝 测试报告：

Nicomp 380纳米粒度仪采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围 0.5nm – 10μm。粒度分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有技术的 NiComp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。整机采用模块化设计,可灵活方便地扩展 Zeta 电位等其它功能。Nicomp380纳米粒度仪基本概述：Nicomp380 是纳米粒径分析仪器，采用现在先进的动态光散射原理，利用的Nicomp多峰算法可以很准确的分析比较复杂多组分混合样品。为实验室的研究提供最好的分析技术。测试范围：0.3nm–6μm。产品介绍：Nicomp380采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围0.3nm-10μm。粒度分析复合采用Gaussian单峰算法和拥有技术的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。纳米粒度仪工作原理：动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。动态光散射法的典型应用包括已分散或溶于液体的颗粒、乳剂或分子表征。悬浮在溶液中的颗粒的布朗运动，造成散射光光强的波动。分析光强的波动得到颗粒的布朗运动速度，再通过斯托克斯-爱因斯坦方程得到颗粒的粒度。纳米粒度仪仪器参数：粒径测量范围粒度分析：0.3nm-10μm分析方法粒度分析：动态光散射，Gaussian单峰算法和NiComp无约束自由拟合多峰算法pH值范围2-12温度范围0℃-90℃检测角度（可选）粒度分析：90°或多角度（10°-175°，可选配）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水和绝大多数有机溶剂样品池4mL（标准，石英玻璃或有机玻璃）；500μL（高透光率微量样品池）分析软件Windows运行环境，符合21CFRPart11规范分析软件电压220–240VAC，50Hz或100–120VAC，60Hz外形尺寸56cm*41cm*24cm重量约26kg（与配置有关）纳米粒度仪配件：大功率激光二极管PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW,35mW,50mW,100mW–波长为635nm的红色二极管。20mW50mW和100mW波长为514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APDDetector）提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。Zeta电位模块Zeta电位是确定交替系统稳定性的重要参数，决定粒子之间静电排斥力大小，从未影响粒子间的聚集作用及分散系的稳定。该模块使用电泳光散射（ELS）技术，通过测量带点粒子在外加电场中的移动速度，即电泳迁移率、推算出Zeta电位，实现了粒子的粒径与Zeta电位，实现了粒子的粒径与Zeta电位测定的同机操作。自动稀释系统模块将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。自动进样器批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。自动滴定模块样品的浓度及PH值是Zeta电位的重要参数，搭配瑞士万通的滴定仪进行检测，真正实现了自动滴定，自动调节PH值，自动检测Zeta电位值。免除外界的干扰和数据上的误差，精确分析出样品Zeta电位的趋势。纳米粒度仪应用领域：适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。1）磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。2）化学机械抛光(CMP)化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。3）陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。4）粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。5）涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。6）污染监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。7）化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。8）乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。9）食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。10）液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。11）墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。12）胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。纳米粒度及Zeta电位分析仪是一种用于环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，简单、方便而且准确，主要作用就是测量胶体颗粒表面电位电势。其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。　　仪器原理　　带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。　　动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪优势　　1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。　　2、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。　　3、优化的反演算法：采用拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。　　4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。　　5、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比；采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。　　6、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪测量　　纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定，因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。　　纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点　　1、利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。　　2、先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。　　3、基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。　　Henry函数的取值：　　当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合，得到优化Henry函数表达式。　　强大易用的控制软件　　ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强，无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。　　注意事项　　1、测量粒径前，需查知样品分散剂的粘度、折光指数（Refractive Index）；　　2、用卷纸轻轻点拭样品池外侧水滴，切勿用力擦拭，以防将样品池划伤，如发现样品池有划纹，需更换；　　3、手尽量避免触摸样品池下端，否则会影响光路；　　4、一定要去除样品池内的气泡；　　5、实验室提供的样品池为聚苯乙烯材质，不可用于测量有机分散体系；　　6、实验室提供的样品池,测量温度不可高于50摄氏度；　　7、如需测量有机分散体系或高于50摄氏度，请自带石英比色皿；　　8、使用滤纸过滤时，舍去过滤后的d一滴样品，以防滤纸上杂质进入样品池；　　9、测量时需自带：卷纸、多个注射器、多个离心管（用于稀释样品）。

JH-N9H光相关纳米粒度仪JH-N9H是我公司最新推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的首选产品。主要性能特点：先进的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小，小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢。当激光束照射在运动的颗粒上时，某一角度（本仪器采用90度）的散射光随时间发生动态变化，变化的快慢与颗粒在液体中的布朗运动的速度有关，采用光子相关光谱法对动态散射光谱进行统计及相关运算分析，并根据Stokes-Einstein方程计算其颗粒大小。高灵敏度与信噪比：采用具有低暗计数、高灵敏度的HAMAMATSU专业级高性能光电倍增管（PMT）作为探测器，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的高准确度和高分辨率；超强的运算功能：使用PCS技术测定纳米级颗粒大小，必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用专用集成电路ASIC研制的高速光子相关器，具有识别6ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度，可快速实时的采集光子数并计算相关运算，为测试准确度奠定基础；稳定的光路系统：采用恒温控制的大功率半导体激光和光纤组合搭建而成的光子相关光谱探测系统，使其不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力和稳定性，保证测试结果重复稳定；双波长激光器：任何样品都具有特定的吸光属性，单一波长激光器对此波长吸光的颗粒是很难精准测量的。N9H双波长激光器能完美测量所有样品，双波长可以自由切换。高精度温控系统：样品池温控系统和激光器温控系统精度高达±0.1℃，使被测样品和激光器光源在整个测试过程中都处于恒温状态，避免温度变化对测试结果的影响，确保测试准确性和重复性；超强功能的分析软件：分析软件中反演算法采用国际标准推荐的累计量法以及目前比较通用的非负最小二乘法（NNLS）和Contin等多种算法，其测试结果与国际权威的同类产品具有很好的一致性；测试精准并稳定：高性能的硬件和国际标准化的反演算法的完美结合，造就了JH-N9测试结果的精准与重复，其测试准确度和重复性等指标均高于国际标准要求。此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！ JH-N9H光相关纳米粒度仪技术参数及详细配置：规格型号JH-N9H执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=405nm、λ=532nm，独家双波长半导体激光器，独有带温控保护探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）样品池放置窗口带自动感应滑门数据处理最优拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）温度调控外置直接调温，无需打开机壳测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, 最大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝

BOS-NGH光相关纳米粒度仪新BOS-NGH是我公司zui新推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的shou选产品。主要性能特点：xian进的测试原理：本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理xian进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定的shou选仪器。高灵敏度与信噪比：本仪器的探测器采用专业级高性能光电倍增管（PMT），对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；超强的运算功能：使用PCS技术测定纳米级颗粒大小，必须能够分辨纳秒级信号起伏。本仪器的核心部件采用专用集成电路ASIC研制的高速光子相关器，具有识别6ns的极高分辨能力和极高的信号处理速度，可快速实时的采集光子数并计算相关运算，我测试尊确定奠定基础。双波长激光器：du家采用双波长（λ=454nm、λ=532nm）激光器搭建而成的光路系统，相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；某些样品具有吸光属性，传统单一波长激光器对这些样品无法检测，我司zui新NKT-N9H搭载的双波长激光器能有效检测此类样品。高精度温控系统：样品池温控系统和激光器温控系统精度高达±0.1℃，使被测样品和激光器光源在整个测试过程中都处于恒温状态，避免温度变化对不测试结果的影响，确保测试的准确性和重复性；超强功能的分析软件：分析软件中反演算法采用国际标准推荐的累计量法以及目前比较通用的非负最小二乘法（NNLS）和Contin等多种算法，其测试结果与国际权威的同类产品具有很好的一致性；测试精准并稳定：高性能的硬件和国际标准化的反演算法的完美结合，造就了Nano90测试结果的精准与重复，其测试准确度和重复性等指标均高于国际标准要求。全新散热系统：新NG进行了双气流设计，热气流直接排出仪器外壳，倍增管、激光器、相关器等重要部件不再受热气流的影响，测量数据更加准确、更稳定，同时大大延长了这些重要部件的使用寿命。自动感应滑门：新NG加装了比色皿门自动开启、闭合功能，当手靠近仪器时滑门会自动打开方便测试人员拿取比色皿，当手远离仪器时滑门会自动闭合。此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！ BOS-NG光相关纳米粒度仪技术参数及详细配置规格型号BOS-NGH执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=405nm，λ=532nm（du家双波长激光器）探测器光电倍增管（PMT）散射角90°样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

Winner802光子相关纳米粒度仪产品简介： 光子相关纳米粒度仪Winner802是国家科技型中小企业技术创新基金项目（立项代码： 10C26213704395）成果产品，也是首批采用动态光散射原理的纳米粒度仪。该仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，因颗粒在悬浮液中做布朗运动，使得光强随时间产生脉动，利用微纳数字相关器技术处理脉冲信号，得到颗粒运动的扩散信息，利用Stokes-Einstein方程计算得出颗粒粒径大小及其分布。 光子相关纳米激光粒度仪Winner803是Winner802的升级款，配备双波长激光器，针对某些具有吸光属性和传统单一波长激光器无法检测的样品，可进行有效检测，Winner803纳米激光粒度仪专注于有色颗粒的粒度分布检测，想颜料、染料等。 产品优势: 高灵敏度和信噪比 采用动态光散射原理，利用灵敏度高和信噪比强的HAMAMATSU光电倍增管和自主研发的CR256数字相关器，在不破坏不干扰纳米颗粒体系的情况下，能够实时完成动态散射光的采集和函数运算，有效计算出颗粒粒径大小，保证测试结果的准确性。 抗干扰性强 采用光纤技术搭建的光路系统，使光子相关光谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，保证了测试结果的稳定性。 可靠的温控系统 采用半导体温控系统，温度波动控制在±0.1 ℃，保证了样品在测试过程中始终处于恒温状态，避免因温度变化而引起的液体粘度和布朗运动速度的变化导致的测试偏差，从而保证了测试结果的可靠性。 双波长激光器，智能切换（Winner803特有性能） 采用双波长（λ=532 nm λ=405 nm）激光器，可智能切换，对某些具有吸光属性，单一波长激光器无法检测的样品，可进行有效检测。 产品技术参数: 产品型号Winner802Winner803执行标准GB/T 19627-2005/ISO13321:1996 GB/T29022-2012/ISO22412:2008测试范围1-10000nm (与样品相关)准确度误差≤1% （国家标准样品D50）重复性误差≤1% （国家标准样品D50）测试浓度0.1mg/mL——100mg/mL（与样品有关）激光器半导体激光器： λ=532nm 功率 P=1-40mW(可调)主光源：半导体激光器：λ=532nm 功率 P=1-40mW(可调) 辅助光源：蓝光激光器 λ=405nm 功率P＞2mW探测器光电倍增管（PMT）散射角90°样品池10×10×40mm （1—4mL）测试温度5—90 ℃温控精度±0.1℃测试速度＜5min产品体积600×380×230mm产品重量12Kg数字相关器产品型号CR256自相关通道256基数通道4物理通道数5000单位延迟时间100ns—10ms 应用领域： 纳米材料、纳米乳液、纳米粉末、纳米硼化物、纳米非金属、涂料、染料、颜料、药品、蛋白质、纳米碳酸钙、感光材料、添加剂、石墨、以及其他纳米颗粒等。

SZ902纳米粒度分析仪产品介绍： SZ902纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。主要特点： ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性 ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用 ◆余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS） ◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术产品性能：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位）粒径测量范围0.3nm -15um*粒径测量最小样品量3ul*粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml粒径测量最大样品浓度40%/wv检测点位置距入射点0~5mm可调检测点定位精度0.01mmZeta电位技术余弦拟合位相分析法（CF-PALS）适用Zeta电位测量的粒径任意范围，无明确限制迁移率范围1nm - 120μm*最大电导率270mS/cm电导率准确度±10%电极插入式平板电极、U型毛细管电极分子量范围340Da - 2x107Da温度控制范围-15°C - 120°C温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD样品池12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可选）系统重量16kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) 注：* 取决于样品及样品池选件

S900纳米粒度仪产品介绍： S900纳米粒度仪是基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度分析系统，被广泛应用于有机及无机颗粒、乳液、高分子聚合物、表面活性剂、胶素、病毒抗体、蛋白质等样品的颗粒表征。S900纳米粒度仪技术特点包括:1. 经典90°动态光散射技术2. 粒径范围：0.3nm-15μm3. 新一代高速数字相关器，小采样时间25ns，动态范围大于10¹ ¹ 4. 集成光纤技术的军工级高灵敏度APD 或 PMT5. 532nm 50mW大功率固体激光器，能量输出自动调节6. 温控范围0℃-90℃，精度±0.1℃7. 冷凝控制-- 干燥气体吹扫技术S900纳米粒度仪技术参数包括:项目性能指标或描述测量原理动态光散射法、电泳法粒径范围0.3nm-15μm度优于±1% (平均粒径，NIST 可溯源乳胶标样)重复性优于±1% (平均粒径，NIST 可溯源乳胶标样)小样品浓度0.1mg/ml小样品量3μl测量角度经典90度温度控制范围0℃-90℃ （120℃选配）温度控制精度±0.1℃冷凝控制干燥气体吹扫激光器532nm固体激光器，大功率50mW, 激光输出自动可调激光安全等级1类相关器小采样时间25ns, 动态范围1011检测器集成光纤技术的军工级高灵敏度APD 或 PMTZeta电位测量范围-600mV+600mV样品大电导率200mS/cm适用粒径范围3.5nm100µ m光学系统重量25kg光学系统尺寸578mm x 397mm x 248mm(LxWxH)

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 在线纳米粒度分析仪 Vasco Kin是新一代动态光散射纳米粒度分析仪，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。常用于实时纳米颗粒合成过程监控, 核反应堆内现场测量，与其它粒度特性测量仪器联用(如光谱仪、SAXS等)。 性能参数 ◆ 粒度测量范围 : 0.5nm 到 10μm ◆ 背向动态光散射原理，实时远程非接触测量 ◆ 监测纳米颗粒合成过程；监测整个过程的粒度变化情况，有助于稳定性研究 ◆全自动非接触测量：能穿透玻璃和塑料针管，测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化 ◆ 适用样品浓度：0.1ppm-40%（w/v） ◆ 时间分辨: DLS的分辨率为0.2s，用于动力学监测 ◆ 随时间变化的粒度分布彩色地形图 ◆“时间切片”功能：用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析 ◆ 样品前处理：无需样品前处理，直接测试 硬件规格 ◆ 激光源： 高稳定性激光二极管（可选蓝光和绿光） ◆ 探测器： 无伪影雪崩光电二极管（APD） ◆ 计算设备： 内嵌专用电脑 ◆ 数据处理： NanoKin 相关和分析软件 ◆ 典型测量时间：最快200ms。测量时间由样品和测量设置决定 ◆ 操作条件/存储条件：15℃ ~ 40℃ / -10℃ ~ 50℃ – 非冷凝相对湿度 70% ◆ 尺寸/重量：220 x 220 x 64 mm (上半部分) / 2.5 kg 220 x 220 x 48 mm (下半部分) / 2.8 kg 软件特点 在线纳米粒度分析仪 Vasco Kin软件的主要特点： ◆ 三个层级登录配置文件：管理员、专家、操作员 ◆ 运行模式：包括测量、模拟、后分析（导入） ◆ 直观导航（顺序） ◆ 时间切片和动力学模式：独特的技术，允许监测快速动力学和/或准确的再现性测量（时间分辨率高达200毫秒）。 ◆ 可读数据和绘图： ◆ 动态导出数据/绘图（右键单击到剪贴板） ◆ 报告文件格式：.pdf或.rtf（兼容writer软件） ◆ 反转算法： ① CUMULANTS 累积量算法：用于具有单分散趋势的单峰样品 ② PADE-LAPLACE算法（专有）：多峰样品的离散数学方法。 ③ 稀疏贝叶斯学习算法（SBL；专有）：多峰样品的连续分布数学方法。 典型案例 在线纳米粒度分析仪 Vasco Kin监测凝胶粒度随时间的变化 应用领域 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

APS100高浓度纳米粒度仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。APS100高浓度纳米粒度仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；APS100高浓度纳米粒度仪技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

美国MAS高浓度纳米粒度仪原理简介：APS 从声衰减光谱测量产生PSD数据，不需要稀释样品。APS还测量粒度范围的10纳米到100微米的样品的声音速度谱、pH、电导率和温度。当声音穿越泥浆或胶体时，是衰减的。衰减的程度与粒度分布有关。APS可在1 - 100 MHz的频率范围内非常准确地测量声音衰减。因为声音穿过所有的物质媒介，APS声音衰减的测量可以在高浓度和/或不透明的样品中进行。粒子沉降并不是一个问题，因为在测量时样品可以被搅拌或泵送。APS分析不受样品的Zeta电势水平的约束。APS很容易分析零粒子和高电荷。APS取样分析是快速和容易的，无需稀释样品。稀释样品费时，容易出错，并可能改变样品的实际PSD。简单地倒，或者连续泵送样品进入到APS的样品室，APS的直观的软件在几分钟内做玩余下的工作。计算详细PSD数据的技术，不需要假设PSD形状。其他类型的仪器，例如光散射，意味着软件或操作者假设或猜测PSD是单峰、双峰、对数正态或高斯分布的。这种假设可能导致数据不可靠。专门的APS硬件设计简化了操作，同时减少维护。这个设计适合研发以及重复质量控制测量。APS也适合过程在线操作。美国MAS高浓度纳米粒度仪主要用途：1)半导体化学机械抛光(CMP)料浆；2)陶瓷；3)油墨；4)乳剂稳定性；5)药品；6)生物胶体；7)荧光粉；8)有机和无机颜料如Ti02和炭黑；9)催化剂；10)矿物；11)聚合物乳液；12)水和非水分散体系；美国MAS高浓度纳米粒度仪技术参数：1)完整的粒度分布,而不是简单的平均值和标准偏差大小的数据；2)不需要稀释样品；3)不需要假设PSD形状；4)粒度范围：0.005-100微米；5)无电解质干涉；6)可测量水的/非水的/不透明的/粘性的样品；7)可测量纵向粘度，%固体，PH值，电导率，温度，声衰减和声速度谱；8)具有自动滴定选项；9)专门技术：1-100MHz声衰减谱；10)溶剂：水/非水；11)样品固体%：0.1-60%体积比；12)样品体积：标准是120ml，50ml小体积可用；

Nanolink SZ902系列纳米粒度分析仪是继在SZ901系列纳米粒度分析仪后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了真理光学最新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。Nanolink SZ902纳米粒度分析仪的杰出性能和主要特点包括： ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm* ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性 ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用 ◆独创的余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS） ◆独创的激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆独创的信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 法国Cordouan纳米粒度仪VASCO颗粒粒度分析仪是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特仪器。得益于与法国Institute of Petroleum（IFP）合作开发的技术， VASCOTM是浓缩和不透明悬浮液样品最有效的解决方案。 测试原理 法国Cordouan纳米粒度仪VASCO是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。得益于与法国Instute of Petroleum（IFP）合作开发的专利技术，VASCO 是浓缩和不透明悬浮液样品的高效解决方案。 技术创新 法国Cordouan纳米粒度仪VASCO：独特的纳米颗粒粒度分析仪• 由二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池• 双厚度控制器（DTC）系统，可实现精确的样品厚度控制• 测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。创新的样品池设计：简单、自动、无耗材操作简单：DTC样品池的设计简化了样品制备，并防止任何过度稀释带来的危害。它与有机溶剂相容，可以测试微量样品。并可以在线测量，实现动力学研究。自动： DTC的简单调整足以将样品层从2mm减小到200μm（超薄层样品的体积）。这种用于降低测量体积的双厚度控制器可以防止由于多次扫描和局部热量导致的问题，并确保可靠地测量黑色介质或高浓度样品。与常规样品池相比，样品无需稀释！ 产品特点 • 带有DTC系统的嵌入式样品池• 粒度范围（直径）：0.5nm-10μm • 样品浓度：0.1ppm-40％w / wt • 专有产品软件NanoQ，专用于颗粒粒度• 在线样品池选项• 改善荧光样品的测量 法国Cordouan纳米粒度仪VASCO提供极宽的样品浓度测试范围，从非常稀的样品或差的对比度到高浓度和不透明的样品。Cordouan技术独特的专利设计，使得范围测量的实际浓度范围达到40％。这使其能够广泛应用于样品不能稀释而需要测试的行业。 产品特点 • 可测量黑色样品和原浓悬浮液，在不透明介质中具有更高的检测效率• 直接测量无法进行后处理的样品• 耐溶剂嵌入式样品池：无消耗品• 用于多模态样品分析的专有算法• 即测样品• 与传统DLS相，样品检测浓度高于传统DLS 20多倍 应用领域 法国Cordouan纳米粒度仪VASCO广泛应用于如下行业：农业化学药品：牛奶、巧克力、咖啡、啤酒、乳胶等药品：悬浮液、粉末、糖浆剂、血管注射剂、微胶囊等化学品：聚合物、分散剂、杀虫剂等环境：自来水、污水、絮凝物和膜过滤等化妆品：香水、膏霜、乳剂等石油化学品：燃料、原油、沥青添加剂等 典型用户 法国Cordouan纳米粒度仪VASCO的典型客户： 售后服务 仪思奇（北京）科技发展有限公司是比利时欧奇奥（Occhio）仪器公司和美国DT公司（美国分散技术公司），法国Cordouan,法国CAD,美国Xigo在中国的总代理，比利时欧奇奥是欧洲一家专业制造图像法粒径粒形分析仪器的公司，拥有强大的硬件设计和颗粒图像统计处理能力，能够在几分钟之内完成数万颗粒的的图像采集，统计处理，为您够快速提供准确的粒径粒形信息,色彩分析，颗粒计数等；美国DT基于前苏联两代胶体化学家雄厚的理论基础和工业，专业开发和生产超声衰减和电声谱仪的公司，以表征原浓体系的粒度分布，Zeta电位、流变性、电导率、孔隙率等，广泛应用于CMP浆料、纳米分散体、陶瓷浆料、电池浆料、水泥、制药乳剂等，并在多孔固体表面电位和孔隙率快速测定方面取得突破。法国CORDOUAN成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米粒度分析和纳米材料的表面特征提供创新解决方案。 美国Xigo专业纳米颗粒分析仪器公司，为纳米材料产业提供新的创新的分析工具，为粒子的分散性，浸润性,稳定性提供有效解决方案。自从2007年XIGO NANOTOOLS将粒子分散性稳定性分析仪Acorn Area推进中国市场后，为中国区广大用户所接受，是用户可信赖的分析研究仪器。法国CAD成立1991年专业开发和生产用于胶体和建筑材料(水泥、砂浆、混凝土)领域的理化特性研究实验室(Zeta电位、电导率、流变学、rhe光学器件、机械试验)制造实验室设备。以表征原浓体系的Zeta电位、流变性、表面张力、砂浆流变仪等，广泛应用于CMP浆料、纳米分散体、陶瓷浆料、免疫学、水泥、免疫学、等办事处情况：2个办事处（分别是北京、上海）。售后服务中心：设在北京，上海应用支持中心：在北京，上海设有应用支持中心和应用实验室。负责用户培训及应用支持，做到对用户的问题24小时即时响应。提供多方位多层次的售后服务及应用支持。层次一： 经过多次培训的分布于各办事处的专职销售及市场工程师和产品专家同时负责用户的基本应用问题解答及仪器状态的判断。层次二：设于北京技术服务中心及应用实验室的工程师负责仪器的安装、维修及用户培训，做到对用户的问题24小时即时响应。层次三：公司专家每年访问客户3-5次，帮助用户解决疑难问题。层次四：公司专家求助热线提供每天18小时的全球服务，答疑解惑。1.仪器的安装，调试:仪器到达用户使用现场后，由公司从北京派出工程师进行安装，调试工作。2.仪器的验收:安装调试完毕后，用标准物质或指定样品进行验收。3.应用培训:在仪器安装，验收完成后，由总代对用户人员进行现场培训，使用户能进行独立的上机操作。4.维修服务：1.在仪器调试验收合格后，提供验收合格后一年的整机免费保修服务，终身成本维修。2.在接到用户报修后，2小时内电话响应，48小时内派人到现场。3.在仪器安装现场进行培训，内容包括基本操作、仪器的基本维护及仪器的简单故障维修等。要求经过培训后，至少两名操作人员能够独立操作运行仪器，并满足分析要求为止。4.公司将及时提供仪器软件的免费升级服务。北京应用实验室：北京市昌平区建材城西路87号院新龙大厦A座2010室上海应用实验室：上海市浦东新区周助公路268弄3号楼1209室

纳米粒度分析仪NS-90介绍 纳米粒度分析仪NS-90是继2014年成功推出TopSizer高性能激光粒度分析仪之后，继续引进国外的先进颗粒表征技术，结合中国用户的市场应用特点和需求专门推出的一款纳米级粒度分析仪器。该仪器使用90度动态光散射技术测量粒子和分子大小，静态光散射法测定蛋白质与聚合物的分子量；在众国产品牌中主配雪崩式光电二极管（APD）检测器，系统灵敏度远远高于光电倍增管检测器（PMT）；更使用高端He-Ne气体激光器，加上精确的内部温控技术，密闭光路以及先进软件算法，保障数据重复性、准确性以及0.3纳米的测试下限；同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。 工作原理：【动态光散射技术】： NS-90使用动态光散射技术测量粒子和分子大小。液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。 NS-90使用90°动态光散射技术，利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数（Correlation Function），最后使用斯托克斯-爱因斯坦（Stokes-Einstein）方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径，是和被测量粒子以相同速度扩散的硬球直径。 【静态光散射技术】： NS-90使用静态光散射（SLS）技术测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。 与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。但与动态光散射技术不同，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。 因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图（Debye Plot）。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 主要用途： NS-90纳米粒度仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征技术，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90°散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：–化工产品：硅胶、乳胶、金属胶体、色素、墨水、调色剂、陶瓷–化妆品、上光剂、食品及农业化学品等以乳液（乳剂）形式存在的产品–制药业：脂肪乳、注射液、微胶囊、单克隆抗体和免疫球蛋白的粒度–蛋白质和高分子分子尺寸的测量 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm–5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.检测角度：纳米粒度分析仪NS-90介绍 纳米粒度分析仪NS-90是继2014年成功推出TopSizer高性能激光粒度分析仪之后，继续引进国外的先进颗粒表征技术，结合中国用户的市场应用特点和需求专门推出的一款纳米级粒度分析仪器。该仪器使用90度动态光散射技术测量粒子和分子大小，静态光散射法测定蛋白质与聚合物的分子量；在众国产品牌中主配雪崩式光电二极管（APD）检测器，系统灵敏度远远高于光电倍增管检测器（PMT）；更使用高端He-Ne气体激光器，加上精确的内部温控技术，密闭光路以及先进软件算法，保障数据重复性、准确性以及0.3纳米的测试下限；同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。 工作原理：【动态光散射技术】： NS-90使用动态光散射技术测量粒子和分子大小。液体中的粒子由于周围的溶剂分子撞击产生随机布朗运动。小粒子在液体中运动速度较快，而大颗粒运动相对缓慢。这种运动一直都在进行，所以如果我们取一小段时间间隔拍摄样品运动“图像”，我们可以看出粒子移动了多少，并且换算出它有多大。相同时间内，如果位移比较小，粒子位置接近，则样品中粒子较大；相反地，如果位移较大，粒子位置变化很大，则样品中粒子较小。这种利用扩散速度与粒径之间的关系测定粒子的大小的方法即为动态光散射（DLS）技术，也称为光子相关光谱（PCS）技术。 NS-90使用90°动态光散射技术，利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数（Correlation Function），最后使用斯托克斯-爱因斯坦（Stokes-Einstein）方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径，是和被测量粒子以相同速度扩散的硬球直径。 【静态光散射技术】： NS-90使用静态光散射（SLS）技术测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。 与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。但与动态光散射技术不同，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为“静态光散射”。 因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。在此测量方法中，检测一系列不同浓度下样品的散射光强（kC/R），将该数值与标准物（如甲苯）产生的散射光强进行比较，即可得到德拜图（Debye Plot）。德拜图中的拟合直线斜率为第二维里系数（2nd Virial Coefficient, A2），拟合直线外延到零浓度的数值为平均分子量的倒数（1/MW）。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 主要用途： NS-90纳米粒度仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征技术，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90°散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：–化工产品：硅胶、乳胶、金属胶体、色素、墨水、调色剂、陶瓷–化妆品、上光剂、食品及农业化学品等以乳液（乳剂）形式存在的产品–制药业：脂肪乳、注射液、微胶囊、单克隆抗体和免疫球蛋白的粒度–蛋白质和高分子分子尺寸的测量 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm–5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.检测角度：90°4.重复性误差：≤±1%（NIST可追溯乳胶标样）5.最小样品容积：20μL6.最小样品浓度0.1mg/mL（以样品为准）【分子量】7.分子量测量范围：1000 Da–2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）8.分子量测量范围：10000 Da–2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）9.测量原理：动态光散射，静态光散射10.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【系统硬件】11.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm固体激光器12.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准13.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%14.相关器：采样时间25ns–8000s，4000通道15.冷凝控制：干燥空气吹扫16. 温度控制范围：0° – 90°C （可选配120°C温控槽）17. 温度控制精度：± 0.1°C18.电源：AC 100–240V, 50–60Hz19.功率：最大100W【重量与尺寸】20.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）21.重量：21 kg【运行环境】22.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘容量，显示分辨率1440×900 32bit及以上 23.计算机接口： USB 2.024.操作系统：Windows 7 Pro （32bit/64bit）, Windows 10 （64 bit）25.温度范围：10C–35°C26.环境湿度：10%–90% 无冷凝 性能特点：【先进的光学系统设计】纳米粒度分析仪NS-90在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的zui佳设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm的固体激光器，用于标准633nm激光器不能检测的样品。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0–90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。 软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。支持：-温度趋势分析 -时间趋势分析 -所选参数趋势分析 -全范围统计图4.重复性误差：≤±1%（NIST可追溯乳胶标样）5.最小样品容积：20μL6.最小样品浓度0.1mg/mL（以样品为准）【分子量】7.分子量测量范围：1000 Da–2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）8.分子量测量范围：10000 Da–2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）9.测量原理：动态光散射，静态光散射10.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【系统硬件】11.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm固体激光器12.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准13.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%14.相关器：采样时间25ns–8000s，4000通道15.冷凝控制：干燥空气吹扫16.温度控制范围：0–90?C （可选配120?C温控槽）17.温度控制精度：± 0.1?C18.电源：AC 100–240V, 50–60Hz19.功率：最大100W【重量与尺寸】20.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）21.重量：21 kg【运行环境】22.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘容量，显示分辨率1440×900 32bit及以上 23.计算机接口： USB 2.024.操作系统：Windows 7 Pro （32bit/64bit）, Windows 10 （64 bit）25.温度范围：10C–35?C26.环境湿度：10%–90% 无冷凝 性能特点：【先进的光学系统设计】纳米粒度分析仪NS-90在一台仪器中集成了动态光散射技术和静态光散射两种技术。动态光散射法用于测量粒度及分子大小，静态光散射法用于确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的zui佳设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。亦可选配50mW，532nm的固体激光器，用于标准633nm激光器不能检测的样品。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0–90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。亦可选装120℃ 温控槽。 软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。支持：-温度趋势分析 -时间趋势分析 -所选参数趋势分析 -全范围统计图

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

微流脉冲纳米粒度分析仪成熟技术的现代操作微流脉冲纳米粒度分析仪使用微流体电阻脉冲传感器对纳米颗粒进行表征,该技术是微流控与电阻脉冲技术的结合,简称微流脉冲纳米分析技术（MRPS）微流脉冲纳米粒度分析仪的特点：1、微流脉冲纳米粒度分析仪不依赖于颗粒材料类型2、高分辨率粒径分布测量&真实粒径分布3、微流脉冲纳米粒度分析仪测量范围：粒径50nm至10um4、多分散性体系5、一次性微流体滤芯6、在几分钟内完成总样分析7、微流脉冲纳米粒度分析仪仅需3μL样品8、可与光学技术正交验证9、可测量颗粒浓度微流脉冲纳米粒度分析仪的应用：1、蛋白质聚集2、细胞外囊泡和外泌体3、基因治疗和纳米脂质体药物4、病毒

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m