电容性薄膜测厚仪 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646126_2244676_3.jpg 名称属性 测厚仪组成部分发射探头 1个接受探头 1个电脑控制转换器 1个工业触摸屏 1个操作柜 1台U型探头支架 1个技术指标检测厚度： 10um-20mm检测精度：土0.1um检测宽度：根据产品宽度循环测厚设定在线速度 max：60m\min作业环境海拔低于1500米，三相380v电。适用于POF、牛奶包装膜、彩印膜、大棚膜等各类薄膜产品。
随着科技的发展，市场上出现了很多高科技的产品，随着各式各样的产品出现，对我们生活、工作中带来巨大的影响，下面小编要为大家普及薄膜测厚仪知识，希望能给您带来帮助！ 薄膜测厚仪的应用范围很广，可以进行诸多产品的测量，所以，它被广泛应用于各个行业；在产品检测方面有着非常突出的应用，有时候可以超乎人们的想象，有些没有使用过它的工作者，从它的身上得到了非常多的好处。有了它，能够提高用户的检测效率，使得生产工作进一步加快，建议那些还没有尝试过的客户，可以去尝试一下，应该会得到很有效的帮助。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/04/201604051141_589010_3085714_3.jpg 薄膜测厚仪帮助实现高精度的测量，就算是非接触式的测量也可以，大家都知道，在某些行业进行精确测量是非常重要的一件事情，更好的产品由此而生，测量出了偏差，一切就都不行了。大成精密薄膜测厚仪作为专门检测产品厚度的设备，它在这方面的能力就非常强，可以实现高效的检测服务。 薄膜测厚仪的出现，大大提高了产品的生产效益，尤其是在自动化生产线上，如此高科技又好用的设备，如果你的车间还没有配备相关的设备，建议大家为提高生产为检测车间配备一台测厚仪，时代在前进，使用高效的设备，打造更好的产品，这才是保证不落后的方法。
求购在线薄膜测厚仪，做压敏胶带用。现在有八条线，薄膜厚度25u，涂层厚度25u。大家有没有推荐的。
我们准备搞纳米薄膜测量（单层、多层和混合层），想了解它的厚度和物质组成等，据说需要掠入射光的表面衍射，不知国内XRD经销商的产品是否成熟？以及这种技术的发展是否成熟，有何利弊？肯请各位高手给与指点，谢谢！
根据国标要求薄膜的测厚仪要精确到１um，可是现在用的千分尺之类只能达到１０um数量级，所以想请教大家究竟是用什么东西来测的，这种仪器贵吗，那里可以买到？谢谢
因为项目结项，处理一台薄膜测厚仪，价钱便宜，欢迎有需要的朋友来电咨询。还有膜评价装置、涂膜机等。这款薄膜测厚仪2万元处理，济南兰光机电技术有限公司生产的。
【专家讲座】：薄膜材料的纳米力学行为表征【讲座时间】：2016年03月30日 14:00【主讲人】：宋双喜 毕业于上海交通大学材料学，2005年进入田纳西大学诺克斯维尔分校深造，2009年获得材料学博士并进入Hysitron公司担任Application Scientist，2013年受聘上海交通大学特别副研究员，2014年获得上海市浦江人才计划。研究领域包括材料力学行为，金属玻璃等，以第一作者发表SCI论文10篇，总引用400多次。【会议简介】纳米压痕技术的诞生与薄膜材料的发展密不可分。上世纪80年代，随着薄膜技术的不断发展以及在半导体领域的广泛应用，厚度在微米级甚至纳米级的薄膜有着大量的市场需求，而这些薄膜的微观力学行为表征备受关注。传统的力学性能测试方法已无法满足微米、纳米尺度薄膜材料的表征，因此纳米压痕技术的出现弥补了这一领域的空白，之后的二十多年有关纳米压痕理论及利用纳米压痕来进行纳米力学行为表征的相关研究呈指数增长，相关技术也相继应用于各种新兴工业领域。而不断出现的纳米力学表征新技术，与人类不断推进探究材料微观性能的极限，两者相辅相成，成为当今科研前沿领域的一种新模式。本次Hysitron公司举办的网络研讨会主要针对薄膜材料领域介绍相关的纳米力学行为表征方法如薄膜材料的基底效应、残余应力、硬度与弹性模量表征、含时塑性表征、粘附力表征及其他先进纳米力学行为表征及其主要应用范例。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名截止时间：2016年03月30日 13:304、报名参会：http://www.instrument.com.cn/webinar/Meeting/meetingInsidePage/18895、报名及参会咨询：QQ群—171692483http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_668519_2507958_3.jpg
求纳米薄膜接触角测量方法
求教，目前需要表征氧化硅薄膜，无法从基底上独立出来，我们通常把薄膜做在单晶硅片上。厚度可以控制在纳米-几个微米之间。我们需要做这种无定形氧化硅结构的pdf（对分布函数）分析，请问有没有什么推荐的XRD表征方法呢？掠入射XRD可能比较适合我们的薄膜体系，但是向老师咨询了一下，掠入射角度范围太小了，无法用来做pdf分析。[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif[/img]
因为实验项目结项，现闲置薄膜测厚仪一台，CHY-C2型，有兴趣的研究员可和我联系。
沉积完后的薄膜跟基底结合力不是很好，用手用力刮一下就会下来，但致密度、均匀度都挺好的，所以我猜想是不是别人做得碳纳米管薄膜也是这样的？一般做sem前样品都要超声清洗的，但这类沉积薄膜一超声就从基底上脱落了。想问一下拿去做sem之前把样品薄膜在酒精里泡一会儿算不算清洗？
我现在需要测量ITO薄膜的厚度，透明的薄膜，大概200纳米左右。用椭偏仪行不行？是不是还需要薄膜的折射率？希望各位大侠指导一下[em61] [em09]
硅上用磁控溅射的方法镀的氧化锌薄膜，厚度在80个纳米左右，用renishaw rm2000 做测试，只能得到硅基体的峰，是不是因为薄膜的厚度太薄了呢？可是看到一些文献上拉曼甚至还可以检测30个纳米的薄膜，他们又是怎么做出来的呢？初学拉曼，期待提高，希望各位高手多多指教，万分感谢了
在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！
[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=102365]Co：BaTiO3／Si（100）纳米复合薄膜制备、微结构及其紫外光电子能谱研究[/url]
急需，GB/T 22462-2008 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法。有的请帮上传一下。
请问薄膜厚度的测试方法都有哪些啊？怎么测试啊？厚度约为几十至几百纳米。非常感谢！
简单、经济，导电性可比传统酸性氧化法高688倍科技日报 2012年03月28日 星期三 本报讯 据美国物理学家组织网3月26日报道，韩国和美国的研究人员近日表示，通过混合固态二氧化碳和相应溶剂，能简单、经济地大规模生产出高质量的纳米石墨烯薄片。相关研究报告发布在本周出版的美国《国家科学院院报》网络版上。 石墨烯源自石墨，因极佳的导电性、导热性和坚固性闻名。全世界的科学家都认为石墨烯将彻底改变计算、电子和医药领域现状，但无法大规模生产石墨烯薄片却阻碍了它的广泛应用。论文的共同作者、美国凯斯西储大学高分子科学和工程系的戴黎明（音译）教授表示，他们开发了一种低成本的简单方式，可大规模生产出质量更好的石墨烯薄片。而目前常用的是酸性氧化法，因需要使用有毒的化学物质，推广受到影响。 此次研究由韩国蔚山国立科技学院的白钟范（音译）教授主导。研究人员将石墨和固态二氧化碳置于充满不锈钢球的筒罐中，两天后可经羧酸和机械力磨制加工，生产出石墨薄片，且边缘处于打开状态，以便产生化学反应。由羧酸处理的边缘可使石墨溶于质子溶剂之中，其中包括水和甲醇；也可溶于极性非质子型溶剂中，包括二甲基亚砜等。 一旦分散在溶剂之中，石墨薄片就会分离成5层或层数更少的纳米石墨烯薄片。为测试这些材料能否直接形成电子应用所需的模塑物体，研究人员将样本压缩为芯块。对比后发现，这些芯块的导电性可比由酸性氧化石墨法生产出的传统芯块高688倍。 为了形成大面积的纳米石墨烯薄膜，科学家基于3.5厘米×5厘米的硅晶片，对压缩芯块进行2小时高达900摄氏度的加热。随后，磨制而成的薄片边缘脱去了羧基，这意味着纳米薄片的边缘可与临近的薄片发生强劲的氢键结合，并保持黏合的状态，而酸性氧化压缩而成的芯块则会在加热过程中发生破碎的状况。研究人员表示，这一过程只会受到晶片的尺寸限制，生成的大面积薄膜的导电性将远超过酸性氧化法的产物，同时还将保有更高的透光率。 此外，通过改用氨或三氧化硫作为干冰的替代物，并使用不同的溶剂，科学家能自定义适用于电子产品、超级电容和可取代铂的无金属催化剂等不同应用的石墨烯薄片边缘，还能定制边缘以组装二维和三维结构等。（张巍巍）
最近做的块体薄膜样品，用G2胶对粘之后，要么用切割机切成小块时开了，要么是磨样品磨着磨着开了，觉得很奇怪，胶水是好的，别人用都是正常的，样品清洗也比较干净，以前从未遇到过这种情况，样品薄膜很薄，大概十几纳米把，求助一下有谁遇见过类似情况吗？
[font=&][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动，特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货，全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外，活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][/font][b][color=#006600]点击报名 [url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][font=&][color=#000000][b]背景介绍：[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]薄膜，通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域，譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键，最终影响薄膜的物性；对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据，改善薄膜材料性能。[/color][/font][font=&][color=#000000][/color][/font][font=&][color=#000000][b]活动日程：[/b][/color][/font][table][tr][td=1,1,99]时间[/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词，公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]朱京涛，[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]多晶薄膜应力和织构分析[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]王林，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]钟明光，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]熊佳星，[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091517508512_6104_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][b][/b][font=&][color=#000000][b]重要内容抢先看：[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]【同济大学，朱景涛教授】将分享[b]X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b]，主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法，表征周期、非周期、梯度多层膜，以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息；[/color][/font][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区，XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量[b]多晶薄膜的残余应力和织构分析方法[/b]；【马尔文帕纳科亚太区，半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在[b]半导体薄膜领域[/b]的专业分析解决方案；【马尔文帕纳科中国区，XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在[b]涂层镀层无损分析[/b]中的应用。[b][color=#336666]专题页面：[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]
我们实验室想购买一台进口的测厚仪，主要测薄膜的厚度，精度0.1微米，测厚仪种类太多了，请各位帮忙推荐一下，谢谢！
我用离子束溅射沉积的纳米薄膜，由于在试样切割和测试时表面不小心印上了手印，还有其他的一些类似尘土之类的东西，不知道用什么试剂擦洗一下可以不破坏和污染薄膜表面？薄膜厚度在100nm以内，实在不敢做传统的金相处理，请大家帮忙！
纳米表征技术的新突破 在“纳米”技术愈来愈广泛地开发应用的同时，人们可能会提出这样的问题∶如此微小的“纳米”是用何种科学手段检测的？北京科技大学方克明教授经过20多年的研究，探索出了一种新的方法——— “纳米”这个名词越来越引起人们的兴趣。大家知道“纳米”是一个非常微小的长度单位。具体地说，一纳米约一根头发粗细的万分之一。纳米技术应用到传统产品中，会极大地改善产品的性能。例如，碳纳米管是由一层或若干层碳原子卷曲而成的管状“纤维”，直径只有几到几十纳米。比重只有钢的六分之一，而强度却是钢的100倍。如果把碳纳米管制成绳索，是从月球上挂到地球表面而惟一不被自身重量所拉断的绳索。 在“纳米”技术愈来愈广泛地开发应用的同时，人们可能会提出这样的问题∶如此微小的“纳米”是用何种科学手段检测的？据了解，目前我国用来检测纳米的纳米表征技术正日趋成熟并取得了新的突破。 记者日前在采访中了解到，北京科技大学冶金学院博士生导师方克明教授经过20多年的研究，在纳米表征技术方面取得了新的突破，探索出了用透射电镜或高分辨电镜对纳米材料进行表征的新方法。该技术采用金属包埋法可以从纳米材料中切取纳米尺度的薄膜，然后用透射电镜或高分辨电镜研究纳米材料的微观形貌和微观结构。该技术的成功为我国纳米技术的发展提供了一种重要的检测手段，它荣获第十二届全国发明展览会金牌奖并取得了国家专利，目前在国内外处于该领域的领先水平。 纳米材料包括纳米颗粒及其以纳米颗粒为基础的材料；纳米纤维及其含有纳米纤维的材料；纳米界面及其含有纳米界面的材料。纳米材料的性能与其微观结构有着重要的关系。因此研究纳米材料微观结构的表征对认识纳米材料的特性，推动纳米材料的应用有着重要的意义。 透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是透射电镜电子束可以直接穿透的。研究者通常把试样直接放在微栅上进行透射电镜观察。但是由于纳米颗粒或纳米纤维容易团聚，因此，用这种方法常常得不到理想的结果，有些研究内容也难以实施。比如∶纳米颗粒的表面改性的研究，纳米纤维的横切面研究都比较困难，研究界面问题则有更大的难度。因此，纳米材料的透射电镜研究，其样品制备问题是一个值得探讨的重要课题。对此，方克明教授进行了研究，探索了一种比较适用的制样方法。该方法可以从纳米颗粒或微米颗粒中直接切取可以进行透射电镜研究的薄膜，对进行纳米纤维横切面观察或纳米界面观察的制样也有很高的效率。 这一技术的特点是从纳米或微米尺度的试样中直接切取可供透射电镜或高分辨电镜研究的薄膜。试样可以为简单颗粒或表面改性后的包覆颗粒，对于纤维状试样，既可以切取横切面薄膜也可以切取纵切面薄膜。对含有界面的试样或纳米多层膜，该技术可以制备研究界面结构的透射电镜试样。技术的另一重要特点是不损伤试样的原始组织。制膜过程中不使用高温，不接触酸碱，必要时也可以不接触水或水溶液。 目前上述技术已应用于多项课题研究，如：沸石颗粒中半导体纳米团簇组装过程的研究；纳米碳纤维微观结构的高分辨电镜研究；纳米颗粒微观结构与尺寸的表征；多层膜层间结构的透射电镜研究；粉体颗粒表面改性的研究；电容钽粉颗粒渗氧层及介质膜的研究；铸铁中各种石墨微观结构的研究等。 该技术在全国已经获得了广泛应用，为北大、清华、中科院等上百个新材料科研课题组和企业提供了技术支持。为我国高新材料的深入研究提供了一种重要方法，引起了国内外的关注。 纳米表征技术是高新材料基础理论研究与实际应用交叉融合的技术。对我国高新材料产业的发展有着重要的推动作用。我们希望这项新技术能得到有关部门的关注并在全国更广泛地推广应用，以加速我国高新材料研究的进程，为我国高新技术产业的发展作出更大的贡献
随着我国科技的发展，很多高科技的技术都已经慢慢的渗透到我们的工作和生活当中。薄膜在线测重仪就是其中一种，大成精密薄膜在线测重仪在制作产线上起到了很大的作用，它能精准的测量产品的重量，精度高达0.8‰。 在正常生产过程中，每卷膜片要出货时，通常要取样用千分尺测量厚度。合格即可出货，不合格就不可以出货。 在测量膜片取样的同时，也可以对厚度系统进行校验。校验的方法为：http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg 生产即将完毕时，手动控制冷轧机走带，将最后几片中即将用于出货取样的膜片停止于极片支撑小辊上； 用激光测厚仪来回扫描该膜片； 连续记录6趟扫描的均值，然后计算一个厚度均值； 在扫描膜片处打上标示，走带，准备出货； 取下刚才打标示的膜片取样，并用千分尺测量厚度，然后计算一个均值； 千分尺测量的均值减去用激光测厚仪测量的均值，称为【E-B差值】； E-B差值衡量激光测厚仪的准确性，当该差值在某个比较小的范围【范围1】时，说明激光测厚仪准确无误，无须更改。如果该差值处于某个稍大的范围【范围2】时，说明激光测厚仪已经出现漂移，此时需要修改当前品种的标定b值系数，关系如下： 【修改之后的b值】 = 【之前的b值】 + 【E-B差值】如果差值大于某个较大范围【范围3】时，说明激光测厚仪已经偏离了正常的使用范围，需要重新标定。
还望各位指教。另外，既然AFM也可用来测薄膜的弹性模量和硬度，那么与纳米压痕仪的区别呢？在于精度么？
大家好，我有一个大约一微米厚的薄膜，现在想测试XRD， 表征薄膜的取向特征，但是我发现试样太薄了，怎么测都没有信号出现呀。想请教大家有没有什么好的解决办法。谢谢啦。
大概有十多层，薄的有几十纳米，厚的几百纳米，半导体量子井结构，薄膜之间因掺杂或载流子密度有所不同，载流子振荡可能会产生等离子激元与晶格震动的耦合，这样有没有可能分别测出每一层的拉曼光谱，或在拉曼光谱中找出每一层的特征峰？以前没做过拉曼测量，刚要接触，很多都不懂，谢谢回答！
本人的课题是聚合物超薄膜的构筑，在基底上基于层层组装技术在基片上沉积聚电解质，一层聚电解质膜的厚度只有几个纳米，我想用氟化钙做基底，然后再去做红外，我想问的是，由于量比较少，吸收的肯定也比较少，这样的超薄膜能做红外吗，样品的量是不是太少了，峰会不会被噪声干扰而无法识别？谢谢（由于仪器比较老，做不了衰减全发射，只能做最普通的红外测试，哎，真杯具啊）
各相关单位和专家：近年来，越来越多的低维纳米材料，如石墨烯、二硫化钼、氮化硼、二维黑磷单晶等被相继发现，以这些材料为基础的各种复杂结构，如异质结、堆垛结构等也不断产生。这些低维纳米材料与结构的新奇性质以及在光电、催化、传感等领域的前景引起了学术界和产业界的高度关注，也逐步进入了从实验室研发到产业化应用的阶段。统一的命名方式、测试方法、技术规范、性能评价等标准的建立，对该领域相关产业和技术的发展具有有力的支撑作用，开展标准化工作已成为迫切需求。经国家标准化管理委员会和中国科学院批准，全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组正式成立，编号为SAC/TC279/WG9，负责组织协调全国低维纳米技术领域标准化工作。经研究，定于2017年8月20日～21日在江苏省泰州市召开全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组(SAC/TC279/WG9)成立会议，暨国家标准编制启动会。同时，为了加速国家标准、团体标准立项进度，推动我国主导相关国际标准，同期举办中国国际石墨烯资源产业联盟国际标准工作委员会第一次全体大会。现将有关事项通知如下：一、会议主体及参会对象主办单位：国家纳米科学中心、江苏省质量技术监督局承办单位：泰州市质量技术监督局、泰州石墨烯研究检测平台（全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组秘书处）协办单位：中国国际石墨烯资源产业联盟、南京大学、东南大学、上海交通大学、复旦大学、南京邮电大学、西北工业大学、中国科学院上海技术物理研究所、内蒙古石墨烯材料研究院赞助单位：岛津企业管理（中国）有限公司、低维材料在线参会对象：全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组全体委员、中国国际石墨烯资源产业联盟国际标准工作委员会全体委员、低维纳米技术领域相关单位及专家、有意参加标准编制工作的相关单位及专家。二、会议内容（一）全国纳米技术标准化技术委员会低维纳米结构与性能工作组成立仪式1. 领导致辞2. 工作组成员证书颁发（二）国家标准工作会议1. 20170324-T-491 国家标准《石墨烯薄膜的性能测试方法》编制启动会。报告人：智林杰研究员国家纳米科学中心2. 国家标准《储能用石墨烯基复合电极材料的振实密度测试方法》技术交流。报告人：智林杰研究员国家纳米科学中心3. 国家标准项目需求研讨（如有需求请用附件2反馈）（三）联盟标准工作会议1. 中国国际石墨烯资源产业联盟国际标准工作委员会第一次全体大会及委员证书颁发2. 纳米技术国际标准化进展。报告人：葛广路研究员国家纳米科学中心3．二维高分子材料:从微观到宏观的结构与形貌调控。报告人：张帆教授 上海交通大学4.多极轴分子铁电/压电材料。报告人：游雨蒙教授 东南大学5.新型二维材料的电子输运和器件应用。报告人：缪峰南京大学6. 原子力显微镜在纳米材料观测中的应用。报告人：陈强岛津企业管理（中国）有限公司7. 专家专题报告8. 联盟标准项目需求研讨（如有需求请用附件2反馈）三、标准化需求征集本次会议面向全国各单位征集低维纳米技术领域的标准化需求，供本次国家或联盟标准工作会议研讨和后续立项。如有需求请于7月28日前反馈《附件2：标准化需求征集表》至邮箱：[email]standard@graphene-center.org[/email]。联系人：邵悦13914543362，梁铮18936799578。四、会务安排（一）会议报到时间：8月20日全天，欢迎晚宴18:30开始。会议于8月21日召开，会期一天。（二）会议地址：泰州天德湖宾馆酒店地址：泰州市海陵区海陵南路268号(天德湖公园内)（三）交通1. 高铁到镇江南站后，会务组安排专车接站，接站发车时间：17:00（需接站者请在附件1会议回执中注明）。2. 高铁南京站到泰州火车站动车约1小时20分钟。3. 扬州泰州机场到泰州汽车南站约35分钟车程，大巴班次如下：10:00、12:00、13:40,、18:00、20:10。4. 南京禄口机场到泰州汽车南站约2.5小时车程，大巴班次如下：10:30、12:30、14:30、16:30、19:00、21:30。五、会务费用及相关事宜1.会议费用全免（含会务费、资料费、餐费）。往返差旅、zhusu费自理。2.会议酒店客房紧张，会务组可提前帮助预订房间。住宿标准：大床房和标准间均为380元/间• 天(含双早)。标准间如需拼房，请在附件1会议回执中注明。六、参会报名希各单位接此通知后于8月4日前将《附件1：会议回执》反馈至邮箱：[email]standard@graphene-center.org[/email]。参会联系人：邵悦13914543362，梁铮18936799578。会议网址：[url]http://www.grapheneiso.com/[/url]七、会议赞助更多合作，会议支持，会议展示，欢迎来电洽谈。赞助/参展联系人：袁文军13761090949，[email]sponsor@graphene-center.org[/email][align=right] [/align][align=right]全国纳米技术标准化技术委员会[/align][align=right]低维纳米结构与性能工作组 [/align][align=right] 2017年7月15日[/align][align=right] [/align]附件1：会议回执附件2：标准化需求征集表附件3：国家标准项目介绍附件1：会议回执 [table=623][tr][td]姓 名[/td][td]性别[/td][td]单位[/td][td]职务[/td][td]联系电话[/td][td]8月20日是否订房（注明大床/双床）[/td][td]8月21日是否订房（注明大床/双床）[/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][td] [/td][/tr][tr][td=7,1] [b]备注：会务组将到高铁镇江南站接站，接站发车时间：17:00[/b]是否需要接站： [color=red]（必填项，请填“是/否”）[/color]到站班次： [color=red]（若无需接站则不必填写）[/color]到站时间： [color=red]（若无需接站则不必填写）[/color][/td][/tr][/table]希各单位接此通知后于8月4日前将《附件1：会议回执》反馈至邮箱：[email]standard@graphene-center.org[/email]。参会联系人：邵悦13914543362，梁铮18936799578。会议网址：[url]http://www.grapheneiso.com/[/url]附件2：标准化需求征集表[table][tr][td]项目名称（中文）[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]项目名称（英文）[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]标准类别[/td][td=3,1] 选填：产品/基础/方法/管理/安全/卫生/环保/其他[/td][/tr][tr][td]提出单位[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]主要提出人[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]主要提出人联系电话[/td][td] [/td][td]主要提出人电子邮件[/td][td] [/td][/tr][tr][td]项目提出时间[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]项目计划开始时间[/td][td] [/td][td]项目计划结束时间[/td][td] [/td][/tr][tr][td]目的、意义[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]范围和主要技术内容[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]国内外情况简要说明[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]项目成本预算[/td][td=3,1] [/td][/tr][tr][td]备注[/td][td=3,1] [/td][/tr][/table]希各单位接此通知后于8月4日前将《附件2：标准化需求征集表》反馈至邮箱：[email]standard@graphene-center.org[/email]。联系人：邵悦13914543362，梁铮18936799578。附件3：国家标准项目介绍 [table][tr][td][b]标准名称[/b][/td][td]石墨烯薄膜的性能测试方法[/td][/tr][tr][td][b]ICS分类号[/b][/td][td]07.030[/td][/tr][tr][td][b]目的意义[/b][/td][td]石墨烯是一种典型的二维纳米材料，由于石墨烯具有高电子传输速率以及光透过率，石墨烯薄膜材料被广泛应用于透明导电膜的制备，在许多光电器件，如太阳能电池、触摸屏、智能窗、液晶显示等领域中备受关注。由于不同应用对于透明导电膜的性能要求不同，在使用前需要对石墨烯薄膜的导电性、透光性等性能进行测试，以评价石墨烯薄膜的光电性能，并有助于选出符合应用所需的材料。 本标准使用四探针法对石墨烯薄膜的导电性和面电阻均匀性进行测试，使用原子力显微镜扫描法对石墨烯薄膜的厚度进行测试，使用紫外-可见-近红外分光光度法对石墨烯薄膜的透光性进行测试。国内尚无测试石墨烯薄膜上述性能的标准方法。因此，为满足国内该领域的使用需求，制定石墨烯薄膜性能测试标准具有重要意义。[/td][/tr][tr][td][b]范围和主要 技术内容[/b][/td][td]本标准规定了在常温常压空气环境下使用四探针法对石墨烯薄膜样品的导电性和面电阻均匀性进行测试的方法。通过定量测试石墨烯薄膜的方块电阻值，并结合厚度信息得到电导率值，从而进行石墨烯薄膜样品的导电性的综合评价。本标准规定了九点电阻测量法测定石墨烯薄膜的面电阻均匀性的方法，通过测定特定的九个点的方块电阻值，计算方块电阻偏差的相对大小，从而得到薄膜样品均匀性的评价。本标还准规定了原子力显微镜扫描法测定石墨烯薄膜的厚度的方法，通过扫描样品边缘处的高度差，得到薄膜的厚度信息。本标准同时规定了在空气环境下使用紫外-可见-近红外分光光度法（UV-Vis-NIR）对石墨烯薄膜样品的透光性进行测试的方法。通过定量测试石墨烯薄膜在紫外-可见-近红外波长范围内的透过率曲线，进行石墨烯薄膜样品在所选取的波长范围内透光性的综合评价。同时，本标准提供一种对可见光区域内石墨烯薄膜的透光性的评价方法。 技术内容： 使用四探针测试仪对石墨烯薄膜的方块电阻和电导率进行测试，明确石墨烯薄膜的导电性。具体为样品准备、方块电阻的测试、样品厚度测试、电导率的计算，重复进行三次样品测试。使用四探针测试仪对石墨烯薄膜的面电阻均匀性进行测试，具体为选取测试区域和测试点、方块电阻的测试、均匀性的计算。使用原子力显微镜对样品的厚度进行测试，具体为样品准备、原子力显微镜扫描得到厚度信息、多次扫描取平均值。使用紫外-可见-近红外分光光度计对石墨烯薄膜在某一波长范围的透光率进行测试，明确石墨烯薄膜的透光性。具体为样品准备、波长区间及扫描速率确定，重复进行三次样品测试，由透光率曲线得到石墨烯薄膜的透光性评价。[/td][/tr][tr][td][b]国内外情况[/b][/td][td]国内尚无对石墨烯薄膜的导电性、面电阻均匀性、厚度、透光性等性能测试制定标准方法。[/td][/tr][/table] [table][tr][td][b]标准名称[/b][/td][td]储能用石墨烯基复合电极材料的振实密度测试方法[/td][/tr][tr][td][b]ICS分类号[/b][/td][td]07.030[/td][/tr][tr][td][b]目的意义[/b][/td][td]石墨烯作为一种新型纳米材料，其独特的二维单原子层结构赋予了它许多新颖特性，如优异的机械性能、良好的导热和导电性能等，其在诸多领域均表现出良好的应用前景。基于石墨烯与锂离子电池活性电极材料的复合，一类新型纳米复合电极材料正成为科学界和工业界重点关注的能源材料体系。尽管能源电极材料的振实密度对于其实际应用至关重要，目前国际国内尚无石墨烯基复合电极材料的振实密度测试的相关标准，其主要原因是各种维度、结构和形态的石墨烯基复合电极材料在不同的堆积方式下及不同形态的测试器皿中具有不同的振实体积，致使现存的颗粒及粉末振实密度测试方法完全无法应用于该类新型的纳米材料体系；制定该类材料的振实密度测试标准对推进材料的实际应用无疑具有极其重要的意义。[/td][/tr][tr][td][b]范围和主要 技术内容[/b][/td][td]本标准提供石墨烯基复合电极材料振实密度的测定方法，即要求在考虑石墨烯基复合电极材料的结构及形态特征的基础上，将未排列及预排列的样品置于器皿形状与材料维度相匹配的器皿中振实；本标准提供一种对石墨烯基复合电极材料的振实密度进行表征的指导。 技术内容：使用振实密度测试仪将精确称量的具有不同堆积方式的石墨烯基复合电极材料根据材料的维度等结构形态信息在不同形状的体积测试器皿中进行振实，以石墨烯基复合电极材料的质量除以材料经振实后的体积，得到其振实密度值。具体为样品堆积方式的确定、器皿形状的选择、样品量的确定、振实过程的控制等，重复进行三次样品振实密度测试，确保数据可靠性。[/td][/tr][tr][td][b]国内外情况[/b][/td][td]国内尚无针对纳米材料－石墨烯基复合电极材料进行其振实密度测试的标准方法。[/td][/tr][/table]
各位大侠！ 本人需要测试玻璃基板上CuInGa合金表面的氧化情况，（具体需要知道氧化层的厚度，分布和成分），用什么测试方法。高手指教谢谢！CuInGa的合金薄膜制备方法是磁控溅射，厚度大概几个微米。XRD小角可以看表面的氧化层吗？XPS能分析出氧化物吗？因为氧化膜很薄（估计几个纳米），所以不清楚这些仪器的能力是否可以达到。
我要推广仪器
下载APP
马尔文帕纳科纳米粒度新品发布会
马尔文帕纳科超级品牌日
马尔文帕纳科超级品牌日-纳米粒度仪新品发布
默克密理博2014年生物制药培训课程报名表
几何量精密测量技术及应用
2015年度默克密理博制药工艺基础课堂问卷调查
Easy选型-激光粒度仪
仪器导购周刊第四期-测汞仪
第四届进博会11月6日赛默飞超级品牌日
仪器导购周刊第九期—激光粒度仪