纳粒粒径分析仪

产品简介　　粒径谱分析仪以激光二极管作为光源，31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布，测量过程没有半挥发性物质损失，适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题，特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点　　全自动无人值守在线实时监测，19寸机柜安装；　　可同时测量PM1，PM2.5，PM10(可选配31个粒径通道)，获得PM10，PM2.5 所有的EU及US-EPA认证；　　粒径分布、相对温湿度探头、大气压力（三种选项）；　　不受震动影响，没有放射源，维护少，具有自动跟踪系统；　　使用NAFION 作为除湿方法，使得SVC没有损失；　　可做为大气监测系统的组网仪器；　　维护费用、监测成本低。

颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具，可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄，智能控制聚焦和即插即用连接的设计，EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时，EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具，可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌，从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下，实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况，而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液，液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统；2) 能在各固相或分散相的浓度中测量；3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围（如：小颗粒范围或大颗粒范围）粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测，也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件，将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料，耐酸碱，耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度：3m(标准）；13m(带USB延长线)重量：0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围：-20oC-135oC压力：0-10bar材料：哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究，也可用于实验室过程开发。

借助 minispec 时域核磁共振分析，快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备，无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释， API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案，可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量／工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号，而不受其颜色或浊度的影响。然后，通过分析核磁共振信号，计算出液滴内分子（油或水）的扩散系数，软件最后输出液滴粒径分布，包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布，不受絮凝影响，这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试，但它们都有各种局限性，因而不适于分析多种不同乳剂系统： 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构，不能分辨液滴和悬浮颗粒，液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释，需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术，基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性，因而是适用于乳剂分析的强大工具： 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉／米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子，也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在－5℃到＋65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析，譬如但不限于，固体脂肪含量、结晶、水分迁移，等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色／外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分（香精、药物，等等）设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器，进行灵活编程，设定：核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化，等等 mq 系列系统适用于各种不同应用，可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列，以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息（基于体积和数量的液滴粒径分布）

NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪 - 3910型产品详情TSI 3910 型NanoScan SMPS 打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。此粒径谱仪将TSI 公司的SMPSTM 粒径谱仪集成在约一个篮球大小的便携箱内。容易使用，重量轻，电池供电等优点使NanoScanSMPS 让研究人员多点采集纳米颗粒粒径分布数据成为可能。由TSI 核心技术中衍生而来，NanoScan SMPS 是一个创新的，低成本的实时纳米粒径测量的有效解决方案。新型的 3914 将纳米颗粒粒径谱仪和 光学颗粒物粒径谱仪 整合在一起， 可以实现经济、便携、实时的测量 10 纳米到 10微米大小的粒子 。特点下降到 10 纳米的粒度分布两种测量模式： SCAN - 实时粒径分布 SINGLE-单个粒径浓度监测 1 分钟粒径分布 1 秒钟单个粒径数据 简单，独立操作内置的数据记录小巧便携的~ 6 小时的电池寿命，热插拔，充电电池浓度高达 1000000 粒 / 立方厘米NanoScan Manager 管理软件包无放射性材料多仪器管理软件使用光粒度仪模型 3910优势实时纳米尺寸的测量理想的应用需求的可移植性 道路工作场所调查领域的研究点源识别允许用户从多个站点收集更多的数据开辟了同步的时间和空间测量的可能性提供了新的研究机遇进入纳米微粒的发射 / 曝光测量和纳米技术易于学生和工人操作简化数据分析和数据报告里是否有管理软件应用 一般的应用研究室内 / 室外空气质量调查纳米 / 纳米颗粒的应用燃烧和排放的研究移动研究 健康影响 / 吸入毒理学 职业卫生 / 工作场所暴露监测 点源识别 包含项目 Nanoscan SMPS 纳米粒度仪Nanoscan 经理软件光盘Nanoscan 配件包关于TSI公司TSI公司研究、确定和解决各种测量问题，为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者，TSI与世界各地的科研机构和客户合作，确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国，在欧洲和亚洲设有代表处，在其服务的全球各个市场建立了机构。每天，我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。

PALAS纳米颗粒粒径谱仪技术特点气溶胶测量粒径分布，3 nm至1.2 μm可连续快速操作高分辨率：64个尺寸的通道测量浓度可达10E + 8粒子/ cm3图形化显示测量值7”触摸屏，引导式操作内置数据记录功能可远程操作 技术参数DEMC粒径范围: DEMC 1000 dp = 3 nm – 350 nmDEMC 2000 dp = 5 nm – 1,200 nm通道数: 1 – 64浓度范围:高达10E + 8颗粒/ cm3样气流速 /鞘气流速: 0 – 4 l/min / 0 – 8 l/min嵌入式操作系统: 触摸屏 800 x 480像素接口: USB, WLAN, RS‐232/485供电: 115/230 V 50/60 Hz控制单元尺寸: 33 x 38 x 24 cm (H x W x D)柱体尺寸: 15 x 57 cm 控制单元重量: 12.9 kg柱体重量: 9.3 kg UF-CPC颗粒粒度范围：dp = 5 nm – 10,000 nm浓度范围：UF‐CPC 100 CNmax≤50,000 P / cm3（单次计数）CNmax 10E + 7 P / cm3（比浊模式）UF-CPC 200 CNmax≤1,000,000 P / cm3（单次计数）CNmax 10E + 7 P / cm3（比浊模式）浓度精度：5％（单次计数），10％（光度模式）工作流体：丁醇，异丙醇，水或其他任选气溶胶系数：可调0.30至0.60 L / min数字信号：检测：20 MHz处理器256个原始数据通道光源：LED 寿命长 稳定性高尺寸(HxWxD): 33 x 38 x 24 cm (13 x 15 x 9.5 in)重量：10 kg 应用领域过滤器测试气溶胶研究环境和气候研究吸入物和呼出物研究室内或工作场所空气质量测量

TSI NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪型号3910 产品应用NanoScan SMPS&trade 适用于多种领域，包括：&blacksquare 一般的应用研究&blacksquare 职业*生/ 工作场所暴露监测&blacksquare 室内/ 室外空气质量研究&blacksquare 纳米技术/ 纳米粒子应用&blacksquare 燃烧/ 排放的研究&blacksquare 移动源研究&blacksquare 健康影响/ 吸入*理学&blacksquare 点源识别 特性和优点可低至 10nm 的粒度分布：&blacksquare 两种测量模式：&blacksquare 扫描：实时的粒径分布&blacksquare 单一粒径技术：单一粒径颗粒浓度监测&blacksquare 1 分钟时间分辨率 粒径分布检测 1 秒分辨率的单一粒径浓度数据&blacksquare 操作简单，单机操作&blacksquare 内置数据存储&blacksquare 小型并且便于携带&blacksquare 约6 小时的电池供电能力，可热插拔的可充电电池&blacksquare 浓度高达 1,000,000 粒子/cm3&blacksquare NanoScan 数据管理软件包&blacksquare 无放射性物质 技术参数测量模式扫描 - 粒度分布单颗粒 - 单一粒径颗粒浓度监测粒径范围10 至 420 纳米粒径通道13测量时间60 秒(45 秒上扫，15 秒回扫), 粒度分布 1 秒, 单一粒径技术模式粒子浓度1,000,000 个/cm3流量0.75lpm ± 20% 进口 0.25lpm ±10% 样品冷凝液分析纯 (99.5% 或更高) 异丙醇注液系统溶液机芯 [~8 小时运作 @ 21°C（70°F）] 可选外置瓶零点计数≤0.01 个/cm3数据存储选项3 ～ 8 天, 内置存储器, 可选 USB 存储驱动器显示彩色触摸屏通信USB预热时间15 分钟真空源内置

PALAS纳米颗粒粒径谱仪 Palas DEMC 2000纳米颗粒粒径谱仪（差分电迁移率分类器）能够分类尺寸范围8-1400nm的颗粒。（符合ISO 15900的规定）根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并将其引导至出口。技术特点气溶胶测量粒径分布，3 nm至1.2 μm可连续快速操作高分辨率：64个尺寸的通道测量浓度可达10E + 8粒子/ cm3图形化显示测量值7”触摸屏，引导式操作内置数据记录功能可远程操作 技术参数DEMC粒径范围: DEMC 1000 dp = 3 nm – 350 nmDEMC 2000 dp = 5 nm – 1,200 nm通道数: 1 – 64浓度范围:高达10E + 8颗粒/ cm3样气流速 /鞘气流速: 0 – 4 l/min / 0 – 8 l/min嵌入式操作系统: 触摸屏 800 x 480像素接口: USB, WLAN, RS‐232/485供电: 115/230 V 50/60 Hz控制单元尺寸: 33 x 38 x 24 cm (H x W x D)柱体尺寸: 15 x 57 cm 控制单元重量: 12.9 kg柱体重量: 9.3 kg UF-CPC颗粒粒度范围：dp = 5 nm – 10,000 nm浓度范围：UF‐CPC 100 CNmax≤50,000 P / cm3（单次计数）CNmax 10E + 7 P / cm3（比浊模式）UF-CPC 200 CNmax≤1,000,000 P / cm3（单次计数）CNmax 10E + 7 P / cm3（比浊模式）浓度精度：5％（单次计数），10％（光度模式）工作流体：丁醇，异丙醇，水或其他任选气溶胶系数：可调0.30至0.60 L / min数字信号：检测：20 MHz处理器256个原始数据通道光源：LED 寿命长 稳定性高尺寸(HxWxD): 33 x 38 x 24 cm (13 x 15 x 9.5 in)重量：10 kg 应用领域过滤器测试气溶胶研究环境和气候研究吸入物和呼出物研究室内或工作场所空气质量测量

PARIO土壤粒径自动分析仪一、用途土壤颗粒粒径分布(PSD)是土壤物理特性的关键指标，强烈地影响着水力热力性质等重要的土壤物理特性。根据土壤粒径分布来估计土壤的其他水力学性质已经成为相关领域的研究热点。PSD的传统检测是基于颗粒在均质化悬浮液中的重力沉降进行的，步骤繁琐，费时费力，误差较大；激光新法，由于需要进行土壤特异性校正，确定转换函数，为其一缺陷。PARIO，是一种从插入悬浮液测量开始到数据导出，完全的自动化测量方式。结合了传统方法和激光新发的优点。记录一个时间段内，沉降过程中特定悬浮液深度的压力。采用integral Densiometer Method”(IDM)模型算法，得到土壤颗粒粒径分布。 二、 测量原理PARIO基于Stokes’ Law原理（传统方法皆是此原理）。悬浮液中，颗粒会下沉，而液体留存于压力传感器上方，所以，预置传感器位置上的压力会不断衰减。根据压力变化模型，得出压力随时间的变化。这种压力变化可以作为在特定深度L（cm）处的PSD。? 假设沉降过程中粒径大小分布，是遵循Stokes 定律。那么： V指沉降速率，D指颗粒直径? 在时间t后，颗粒到达z深度， ? 在深度L处的压力ρ，跟L处的密度值ρ（z,t）关系，? 综上，根据模型计算公式为： 三、系统特点? 基于Stokes’ Law计算粒径分析 ? 测量开始到结束，完全的自动化测量? 粒径分析准确且连续 ? 测量过程中没有悬浮液的物理扰动 ? 避免人工读数造成的错误 ? 避免人工计算的错误 ? 温度自动补偿计算入粒径分析? 节省时间和人工，仅需6小时? 10s间隔自动测量，总误差仅有1.5%? 一体化分析软件，可视化视图? 内置美国和德国标准，可供选择 四、系统组成? 一台PARIO© 设备? 两个玻璃沉降瓶? 一个插头? PARIO控制软件。测量轴具有压力传感器和温度传感器，测量时浸没入悬浮液中。测量头为信号处理中心。通过USB连接PC端。PC端10秒记录一次时间，压力，温度数据。 五、 技术指标粒径分析范围63 μm to 1 μm质量检测误差+/- 1.5%粒子质量25 to 40 g /每升悬浮液测量持续时间6 小时测量间隔10s工作温度范围15 °C to 35 °C测量过程中最大耐受温度变化3 °C悬浮液体积1000 cm3沉降瓶高度35 cm电力需求1 mW质保12个月所需的外部测量重砂分测量温度影响水的粘度高度依赖于温度y = 0.0007 T 2 -0.0531T + 1.764（r2= 0.9996）沉降速度的计算自动补偿温度 六、产地：德国 六、 参考文献Wolfgang Durner , Sascha C. Iden , and Georg von Unold。The integral suspension pressure method (ISP) for precise particle-size analysis by gravitational sedimentation。AUG PUBLICATIONS: Water Resources Research, 10.1002/2016WR019830

欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪泡沫粒径形貌分析仪SCAN600是欧奇奥公司（Occhio）针对大颗粒统计研究开发的一款泡沫粒径形貌分析仪。分析范围：用于2μm~20cm颗粒粒径及形貌分析 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪分析参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可全面了解样品总体的概况（1）粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，颗粒最大长度，体积（2）粒形参数：ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度（3）高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义（4）数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度（5）数据比较：可显示无上限多样品比较图表（6）可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像（7）统计工具：形貌学和粒径过滤方式（8）显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像（9）外部数据分析：可输入、分析外部数据 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪应用领域：纺织物、烟草等的纤维长度、宽度分析；石油、聚合物、咖啡、啤酒的泡沫分析（泡沫大小、形状、动力学和稳定性）；可进行建材、面包、食品等的大孔孔径和形状分析及颗粒计数应用实例：烟丝分析，面包分析，玻璃基底分析

PARIO Plus土壤粒径自动分析仪PARIO Plus土壤粒径自动分析仪在PARIO的基础上进一步提升，测量准确度和效率均大幅提升。PARIO Plus土壤粒径分析仪，对比传统的粒径分析方法PARIO具有明显优势。传统的比重计法（或吸管法）手工耗时24小时，费时费力易出错，激光粒度仪法，设备昂贵，耗时长，且存在方法性偏差。PARIO Plus设置好之后全程自动测量，仅需在测量结束时手动打开阀门。测量时长缩短至仅需2.5小时，估计误差低至±0.5%。PARIO Plus从繁杂的实验中解放科学家的双手，全身心投入科学问题的研究。测量原理基于斯托克斯定律（Stokes´ law）计算粒径分布, 其测量范围为63~2 μm。PARIO的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法，采用压力传感器以10s间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化，获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus使用更准确的“扩展积分悬浮压力法”（ISP+）（Durner et al., 2017）。另外，基于斯托克斯定律的PARIO不需要进行土壤特性的传递函数校正，而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正，例如激光衍射法或图像分析法。主要特点ü 测量速度快 设置好后，仪器运行仅需2.5小时。ü 测量方法准确 估计误差低至± 0.5%，低于任何传统的粒径分析方法。ü 自动独立运行 PARIO允许无人值守，自动化操作，仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。ü 获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同，PARIO每10秒进行一次自动测量，并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。ü 测量过程无扰动 不需要插入液体比重计，也不需要用移液管进行悬浮液的取样，进而减少了对沉降的扰动。ü 依据经典原理 根据斯托克斯定律（Stokes´ law）计算粒径分布，正好匹配传统实验前期准备工作流程。ü 黏粒含量直接测量获得ü 依据温度自动综合计算粒径分布ü 简单易用 为了您能节省更多时间，PARIO采用简便易用的软件解决方案，轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。技术指标粒径范围2 ~ 63 μm质量分数检测的近似误差PARIO Plus: ±0.5%；PARIO Classic: ±3.0%压力测量准确度： ±1.0 Pa；分辨率：±0.1 Pa典型颗粒质量25 ~ 50 g/ 1L悬浊液典型测量时长PARIO Plus: 2.5 h；PARIO Classic: 8.0 h测量间隔10 s黏粒含量估算根据抽取样品综合颗粒质量获得砂粒含量估算根据湿筛法测定结果得到供电需求USB 5 V/100 mA电脑兼容微软 Windows 10玻璃容器规格高：450.0 mm；内径：59.0 mm，外径：67.5 mm；体积：1,000 cm3材质：硼硅酸盐玻璃3.3PARIO 仪器高度：293.0 mm；直径：80.0 mm ；材质：POM塑胶原料和不锈钢悬浊液容积1000 mL工作温度最小：15℃；典型：20℃；最大：35℃测量中允许的最大温度变化±1.5 ℃需要额外测量的参数PARIO Classic: 有机质含量 (如进行了有机质去除)；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量PARIO Plus: 取样测量干物质总质量；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量缆线类型USB 2.0；500 mA用于接收端口符合标准生产制作遵循 ISO 9001:2015；EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)产地与厂家：美国METER公司

粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度特点：不稀释：快速、简易，极少或不需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案基本信息仪器型号：Z3000 Standard工作原理：粒度分布：动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测范围： 粒径范围 0.3nm-10.0μmZETA电位 +/- 500mV NicompZ3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围 0.3nm – 10μm，ZETA电位检测范围为+/- 500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。技术优势1、APD&PMT双检测器；2、多角度检测（multi angle）模块；3、可搭配不同功率光源；4、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；5、钯电极；6、精确度高，最接近样品真实值；7、复合型算法： 高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换 相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换8、快速检测，可以追溯历史数据；9、结果数据以多种形式和格式呈现；10、符合USP,CP等个多药典要求；11、无需校准；12、复合型算法：（1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换10、模块化设计便于维护和升级；（1）可自动稀释模块专利；（2）搭配多角度检测器；（3）自动进样系统（选配）；3000/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。Nicomp多峰分布概念 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 3000系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人Dave Nicole亲测其血液所得的真实案例。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由图中可以看出，其血液中三个组分的平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp分布模式可以有效反应多组分体系的粒径分布。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的标粒按照1:2的比例混合后所测得的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，这和实际情况相符。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益最大化。产品优势模块化设计 Nicomp 3000纳米激光粒度仪是全球率先在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 3000的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块 带有专利的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。3000/HPLD大功率激光器 美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 3000纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD)高灵敏度检测器 Nicomp 3000纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和军品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7-10倍放大增益效果）。 APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。3000/MA多角度检测器 粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 3000可以配备范围在10°-175，步长0.7°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。工作原理目录结构： 1. 前言2. 动态光散射粒度仪原理3. 动态光散射理论：光的干涉4. 粒子的扩散效应5. Stoke-Einstein方程式6. 自相关函数原理7. ZETA电势电位原理 前言 近十几年来，动态光散射技术（Dynamic Light scattering, DLS），也被称为准弹性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相关光谱法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已经被证明是表征液体中分散体系的粒径分布（PSD）的极有用的分析工具。DLS技术的有效检测粒径范围——从5am（0.005微米）到10几个微米。DLS技术的优势相当明显，尤其是当检测到300nm以下亚微米的粒径范围时，在此区间，其他的技术手段大部分都已经失效或者无法得到准确的结果。因此，基于DLS理论的设备仪器被广泛采用用以表征特定体系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳胶，PVCs等)，水包油和油包水的乳剂，囊泡，胶团，微粒，生物大分子，颜料，燃料，硅土，金属晶体，陶瓷和其他的胶体类混悬剂和分散体系。动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图最新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们最终可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的最终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，最终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 小知识——光电倍增管（PMT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图小知识——光电倍增管（PMT)MT) 光电倍增管（Photomultiplier，简称PMT），是一种对紫外光、可见光和近红外光极其敏感的特殊真空管。它能使进入的微弱光信号增强至原本的108倍，使光信号能被测量。光电倍增管示意图 工作原理光电倍增管是由玻璃封装的真空装置，其内包含光电阴极 (photocathode)，几个二次发射极 (dynode)和一个阳极。入射光子撞击光电阴极，产生光电效应，产生的光电子被聚焦到二次发射极。其后的工作原理如同电子倍增管，电子被加速到二次发射极产生多个二次电子，通常每个二次发射极的电位差在 100 到 200 伏特。二次电子流像瀑布一般，经过一连串的二次发射极使得电子倍增，最后到达阳极。一般光电倍增管的二次发射极是分离式的，而电子倍增管的二次发射极是连续式的。 应用 光电倍增管集高增益，低干扰，对高频信号有高灵敏度的优点，因此被广泛应用于高能物理、天文等领域的研究工作，与及流体流速计算、医学影像和连续镜头的剪辑。雪崩光电二极管（Avalanche photodiodes，简称APDs）为光电倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的应用情况下被采用。 动态光散射理论： 粒子的扩散效应 悬浮的粒子并不是静止不动的，相反，他们以布朗运动（Brownian motion)的方式无规则的运动，布朗运动主要是由于临近的溶剂分子冲撞而引起的。因此，到达PMT检测区的每一束散射光随时间也呈无规则波动，这是由于产生散射光的粒子的位置不同而导致的无规则波动。因为这些光互相干涉在一起，在检测器中检测到的光强值就会随时间而不断波动。粒子很小的位移需要在相位上产生很大的变化，进而产生有实际意义的波动，最终这些波动在净光强值上反应出来。 DLS测量粒径技术的关键物理概念是基于粒子的波动时间周期是随着粒子的粒径大小而变化的。为了简化这个概念，我们现在假定粒子是均一大小的，具有相同的扩散系数（diffusion coefficient)。分散体系中的小粒子运动的快，将会导致光强波动信号变化很快；而相反地，大粒子扩散地毕竟慢，导致了光强值的变化比较慢。 图示4使用相同的时间周期来观测不同大小（小，中，大）的粒子产生的散射光强变化,请注意，横坐标是时间t。 我们需要再次强调，光强的波动并不是因为检测区域内粒子的增减引起的 而是大量的粒子的位置变动（位移）而引起的。 Stokes Einstein Equation DLS技术的目标是从原始数据（raw data)中确定粒子的扩散系数“D”。原始数据主要是指光强信号的波动，比如上述图4中所示。通过扩散系数D我们可以很容易的计算出粒子的半径，这时候就是广为人知的Stokes-Einstein方程式：D=kT/6πηR （2）这里k 指的是玻尔兹曼常数1.38 x 10-16 erg K-1；T是绝对温度；η是分散溶剂的额剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊； 从上述公式2中我们可以看到，通常情况下，粒子的扩散系数D会随着温度T的上升而增加。温度进而也会影响溶剂粘度η。例如，纯水的粘度在25℃下会落到0.890×10-2泊，和20℃下相比会有10%的改变。毫无疑问，溶剂的粘度越小，粒子的无规则扩散速度会越大，从而导致光强的波动也越快。因此，温度T的变化和粒径的变化是完全分不开的，因为他们都影响到了扩散系数D。正因为这个原因，样本的温度必须保持恒定，而且必须非常精确，这样才能获得有实际意义的扩散系数D。 从图4的“噪声”信号中无法直接提取出扩散系数。但是可以清楚地看到，信号b比信号c波动地快，但是比信号a波动地慢，因为，信号b地粒径一定在a和c之间，这只是很直观地得到一个结论而已。然而，量化此种散射信号是一个很专业地课题。幸而，我们有数学方法来解决这个问题，这就是自相关函数（auto-correlation)。自相关函数原理 现在让我们设定散射光强的自相关函数为IS(t)，在上述图4中可以看到其随时间而波动。我们用C(t’)来标识自相关函数。C(t’)可以通过如下方程式3来表达：C(t’)= Is(t)*Is(t-t’) (3)括号 表示有很多个t和对应的Is值。也就是说，一次计算就是运行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的间隔时间段t’。 图5是典型的Is(t)的波形图，通过这张图，我们可以认为C(t’)和Is(t)之间有简单的比例关系，这张图的意义在于通过C(t’)函数可以通过散射光强Is(t)的波动变化“萃取”出非常有用的信息。 自相关函数C(t’)其实是表征的不同大小的粒子随时间而衰变的规律。Zeta电势电位原理 1.1 什么是ZETA电势电位1.2 STERN双电子层1.3 DLS散射系统是如何测ZETA电位的？ 什么是ZETA电势电位Zeta电位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的电位，又叫电动电位或电动电势（ζ-电位或ζ-电势），是表征胶体分散系稳定性的重要指标。我们知道胶体系统中有两个相，分散相和连续相，分散相在纳米和亚微米之间。因为微粒的粒径很小，因此它比表面积大从而有一些增强属性使其稳定悬浮。但是如果微粒开始絮凝，微粒的粒径改变，性能也可能发生变化，如果不加以控制，絮凝体也可能进一步团聚形成沉淀，接着就会相位分离。当我们建立稳定分散体系时，我们需要维持微粒的稳定与分散，其中一个方法就是增强微粒表面电荷，然后这些微粒将带偶极矩互相之间产生排斥，随着微粒电荷的增加，微粒团聚而形成絮凝的几率降低。让微粒分散，带正电荷还是带负电荷并不重要，重要的是电荷的绝对值。我们研究微粒表面电荷的方法就是Zeta电势电位。STERN双电子层图 1胶团模型胶核表面拥有一层离子，称为电位离子，电位离子通过静电作用，把溶液中电荷相反的离子吸引到胶核周围，被吸引的离子称为反离子，越靠近胶核表面的地方反离子越密集，相反，越远的地方反离子越稀疏，他们的电荷总量与电位离子相等并且符号相反。因此，整个胶团是处于电中性状态，而胶核表面电势是最高的，根据定义Zeta电位即为胶核表面电势。图 2 STERN双电子层模型STERN双电子层即为胶核表面以及扩散层共同形成的电子层模型，值得注意的是扩散层中带电离子是分布在连续相中，因此其与分散介质息息相关（例如：通过水分散的体系，扩散层离子浓度以及扩散层宽度与水有很大关联），所以扩散层都没有明确的边界。DLS散射系统如何测ZETA电位目前测量ZETA电位的方法主要有电泳法、电渗法、流动电位法以及超声波法。Nicomp Z3000采用的是主流的电泳法测试ZETA。图 3 仪器内部光路图图3是Nicomp Z3000设备内部的光路图，激光通过一个分光器分成两组光路，一组通过反射镜直接进入检测器，另一组经过一个可调节的滤光片后，再经由微粒散射进入到相关检测器中。观察两组相干光的频率变化或者相位变化，从而计算得出ZETA电势电位。从微观角度来理解ZETA电位的计算，微粒由于带电量或是带点符号不同，其在电场作用下的运动状态也会不同，这种运动状态我们用电泳淌度μ（带电离子在单位场强下的平均电泳迁移速率）来表征，我们通过检测器观察到的两组相干光的频率或是相位变化，结合电场强度，相干光波长等参数通过简单的数学建模计算得出粒子的电泳淌度μ，最终ZETA电位通过公式：换算得出。η为分散剂的剪切粘度，ε为分散剂的介电常数。 点击下载工作原理仪器参数粒径检测范围0.3nm-10μm数字相关器通道数1024分析方法动态光散射，Gaussian单峰算法和 Nicomp多峰算法pH值范围2-12温度范围0℃-90 ℃激光光源35mW激光光源检测角度10°-170°（0.7°步进）检测器APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大)PMT(高性能光电检测器) 可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220–240VAC，50Hz或100–120VAC，60Hz计算机配置要求Windows 7及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，2G内存，USB接口外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）配件大功率激光二极管PSS使用一系列大功率激光二极管来满足更多更苛刻的要求。使用大功率激光照射，以便从小粒子出货的足够的入射光。15mW, 35mW, 50mW, 100mW — 波长为635nm 的红色二极管。20 mW 50 mW 和 100 mW 波长为 514.4nm的绿色二极管。雪崩光电二极管检测器（APD Detector）提供比普通光电倍增管(PMT)高20倍的灵敏度。自动稀释系统模块（选配）将初始浓度较高的样本自动稀释至可检测的的浓度，可稀释初始固含量为50%的原始样品，本模块收专利保护，其可免除人工稀释样品带来的外界环境的干扰和数据上的误差，此技术被用于批量进样和在线检测的过程中。多角度检测系统模块（选配）提供多角度的检测能力。使用高精度的步进电机和针孔光纤技术可对散射光的接收角度进行调整，可为微粒粒径分布提供可高分辨率的多角度检测。对高浓度样品（≤40%）以及大粒子多分散系的粒径提供了提供15至175度之间不同角度上散射光的采集和检测。自动进样器（选配）批量自动进样器能实现最多76个连续样本的分析而无需操作人员的干预。因此它是一个非常好的质量控制工具，能增大样品的处理量。大大节省了宝贵的时间。样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，最小进样量10μL）应用领域 纳米载药纳米药物研究近些年主要着重在药物的传递方向并发展迅猛，纳米粒的大小可以有效减少毒性和副作用。所以，控制这些纳米粒的粒径大小是非常必要的。磨料磨料既有天然的也有合成的，用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光。磨料是在力的作用下实现对硬度较低材料的磨削。磨料的质量取决于磨料的粗糙度和颗粒的均匀性。化学机械抛光液(CMP SLURRY) 化学机械抛光是半导体制造加工过程中的重要步骤。化学机械抛光液是由腐蚀性的化学组分和磨料(通常是氧化铝、二氧化硅或氧化铈)两部分组成。抛光过程很大程度上取决于晶片表面构型。晶片的加工误差通常以埃计，对晶片质量至关重要。抛光液粒度越均匀、不聚集成胶则越有利于化学机械抛光加工过程的顺利进行。陶瓷陶瓷在工业中的应用非常广泛，从砖瓦到生物医用材料及半导体领域。在生产加工过程中监测陶瓷颗粒的粒度及其粒度分布可以有效地控制最终产品的性能和质量。粘土粘土是一种含水细小颗粒矿物质天然材料。粉砂与粘土类似，但粉沙的颗粒比粘土大。粘土中易于混杂粉砂从而降低粘土的等级和使用性能。ISO14688定义粘土的颗粒小于63μm。涂料涂料种类繁多，用途广泛。涂料的颗粒大小及粒度分布直接影响涂料的质量和性能。污染物监测粒度检测分析在产品的污染监测方面起着重要作用，产品的污染对产品的质量影响巨大。绝大多数行业都有相应的标准、规程或规范，必须严格遵守和执行，以保证产品满足质量要求。化妆品无论是普通化妆品还是保湿剂、止汗剂，它们的性能都直接与粒度的大小和分布有关。化妆品的颗粒大小会影响其在皮肤表面的涂抹性能、分布均匀性能以及反光性能。保湿乳液(一种乳剂)的粒度小于200纳米时才能被皮肤良好吸收，而止汗剂的粒度只有足够大时才能阻塞毛孔起到止汗的作用。乳剂乳剂是两种互不相溶的液体经乳化制成的非均匀分散体系，通常是水和油的混合物。乳剂有两种类型，一种是水分散在油中，另一种是油分散在水中。常见的乳剂制品有牛奶（水包油型）和黄油（油包水型），加工过程中它们均需均质化处理到所需的粒径大小以期延长保质期。食品食品的原料（粉末及液体）通常来源于不同的加工厂，不同来源的原料必须满足某些特定的标准以使最终制品的质量均一稳定。原料性质的任何波动都会对食品的口味和口感产生影响。用原料的粒度分布作为食品质量保证和质量控制（QA/QC）的一个指标可确保生产出质量均以稳定的食品制品。液体工作介质/油液体工作介质（如：油）越来越昂贵，延长液体介质的寿命是目前普遍关心的问题。机械设备运转过程中会产生金属屑或颗粒落入工作介质中（如：油浴润滑介质或液力传递介质），因此需要一种方法来确定介质（油）的更换周期。通过监测工作介质（油）中颗粒的分布和变化可以确定更换工作介质的周期以及延长其使用寿命。墨水随着打印机技术的不断发展，打印机用的墨水变得越来越重要。喷墨打印机墨水的粒度应当控制在一定的尺度以下，且分布均匀，大的颗粒易于堵塞打印头并影响打印质量。墨水是通过研磨方法制得的，可用粒度检测分析仪器设备监测其研磨加工过程，以保证墨水的颗粒粒度分布均匀，避免产生聚集的大颗粒。胶束胶束是表面活性剂在溶液中的浓度超过某一临界值后，其分子或离子自动缔合而成的胶体尺度大小的聚集体质点微粒，这种胶体质点与离子之间处于平衡状态。乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO2纳米管(TNAs)等

Micromeritics全自动费氏粒径测试仪（MIC SAS II）MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪易于使用的全自动数据记录功能MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪，对Fisher Model95 SubsieveSizer （FSSS）进行升级，采用全自动操作，并可得到电子记录的数据，极大改善了FSSS的性能。MIC SAS II生成的“Fisher number”结果与前代产品（FSSS）一致。几十年来，空气渗透技术和FSSS已经成为许多工业的行业基准，因此许多仍在使用历史数据和旧的质量控制标准的领域，都要求新旧仪器的测试数据必须具备可比性和可重复性。Features and Benefits 产品特点和优势设置方法快速简单按步骤进行参数设置，确保无任何参数遗漏全自动分析样品压实和压力的稳定性全部由电脑控制，采集的数据具有高重复性安全性可通过密码保护将样品信息测试信息与用户ID绑定，避免未经授权的任何操作和参数修改实时数据显示可以在获取数据时查看数据简化方法开发Fisher Mapping利用使用者自定义的Fisher相关图得到优化数据相关一致性定制化报告生成自动创建使用者logo和风格的PDF报告卓越的控制软件SAS控制软件创建了仪器操作、数据采集、处理和报告以及系统集成的世界标准全新直观式触摸屏操作强大直观式触摸式用户界面，提高效率，能够轻松创建和检索SOPs符合ASTM标准完全符合ASTM B330-12和C721-14标准，用于测试铝、二氧化硅、金属粉末以及相关化合物的粒径What is Air-Permeability Particle Sizing?空气渗透法测试颗粒粒径空气渗透技术是已经很好地应用到测量粉体样品的比表面积（SSA）。使用该技术测定的SSA数据已经应用在多个行业广泛，例如制药、金属涂料、颜料和地质等行业MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪利用双压力传感器测量空气通过床层前后的压力变化，通过改变样品高度和孔隙率，同时控制一定流速通过颗粒床层，使用Kozeny-Carman方程确定SSA和平均粒径。Specifications产品规格尺寸与重量高度：55cm宽度：50cm长度：38cm重量：28kg

纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm ）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好，误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样，避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法；电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源（可选）5 mW氦氖光源；15 mW, 35 mW,50 mW激光光源；100 mW激光光源（红）；20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿）检测角度（可选）90°或 多角度（10°- 175°，可选配）检测器（可选）PMT（光电倍增管），CMP（4倍增益放大）APD雪崩二极管（7倍增益放大）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL）选配模块高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位： ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图： 大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

简介通过图像处理自动跟踪电泳粒子，测量它们的流动性，并自动计算单个粒子的Zeta电位。 整个测量过程可以被直观地掌握。ZEECOM ZC-3000是一种可视化的测量仪器，它消除了与黑匣子仪器相关的焦虑感。此外，ZC-3000自动跟踪颗粒的布朗运动，使得测量颗粒粒径分布成为可能。测量原理 ZEECOM Zeta电位分析仪使用显微镜在监视器上观察粒子电泳迁移，同时执行图像处理以确定粒子迁移速度，然后将其转换为Zeta电位值。为了消除由测量池中的静电荷引起的电渗流引起的误差，在静止层上测量ζ电位，其位置可以通过测量池的宽度和深度计算。(软件会自动执行此计算。)ZC-3000通过图像分析跟踪粒子的随机移动，通过应用爱因斯坦-斯托克斯关系式，根据移动距离和各种参数(液温、粘度)自动计算粒径，求出粒径分布。特点显微镜电泳法结合先进的图像处理用颗粒直接观察方式测量单个颗粒的Zeta电位通过图像处理对微粒子的游动进行自动实时跟踪多种测量模式1.ZETA电位和柱状图。这是一种标准的测量方法，在设定的测量条件下计算固定层上颗粒的Zeta电位。 测量结果可以以柱状图的形式输出。2. 测量池中的流速分布在测量池的每个位置测量流速，并绘制其分布图。可以检查电渗流的湍流情况，并根据静止层和位移，在任何位置进行测量。3.通过测量的pH值（测量等电点）　输入分散剂的pH值，从Zeta电位随pH值的变化分析等电点和pH值的反应。4.沉降和上升速度的测量　在沉降和上升速度测量中，粒子跟踪方向被设定为Y轴方向，以测量沉降团块和粗大粒子的沉降速度，以及上升气泡和空心粒子的上升速度。技术参数测量原理显微镜电泳法（ZETA电位） 布朗运动测量法（粒径分布）Zeta电位测量范围-200～200mV流动性-20～20cm2/sec?VZeta电位粒径范围0.02μm～100μm　＊可见性取决于颗粒的性质和介质电压0至350 V DC * 可用于电极的电压（与外部电源兼容）光源LED（透过?杂散光）半导体激光（杂散光）相机单色CCD视频摄像机物镜10倍物镜（可选：可添加不同放大倍数的镜头）视频输出NTSC视频信号Cell stage0.001mm间距数字显示 * 精度0.01mm测量池水性体系标准池（可选:各种用途测量池)尺寸(W)x(D)x(H)mm300×610×398重量25kg电源100V　1A　50/60Hz 主要应用水处理、废水处理、絮凝剂和分散剂开发、絮凝控制、矿物、微生物、浮游生物、石棉、气泡、土木工程、土壤和选矿技术。功能性材料开发、记录材料、颜料、陶瓷、催化剂、聚合物、炭黑、碳纳米管、打印机/墨水/调色剂开发、水性/非水性溶剂涂料、燃料电池、涂层材料（汽车零件、电子零件）、纸张生产、表面活性剂等。红细胞、细胞、蛋白质、DDS、脂质体、载体、制药等

粒径谱分析仪以激光二极管作为光源，31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布，测量过程没有半挥发性物质损失，适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题，特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。 功能特点：? 全自动无人值守在线实时监测，19寸机柜安装。? 可同时测量PM1，PM2.5，PM10(可选配31个粒径通道)，获得PM10，PM2.5 所有的EU及US-EPA认证。? 粒径分布、相对温湿度探头、大气压力（三种选项）。? 不受震动影响，没有放射源，维护少，具有自动跟踪系统。? 使用NAFION 作为除湿方法，使得SVC没有损失。? 可做为大气监测系统的组网仪器。? 维护费用、监测成本低。

PARIO Plus土壤粒径自动分析仪在PARIO的基础上进一步提升，测量准确度和效率均大幅提升。2017年METER研发的土壤粒径分析设备PARIO上市。对比传统的粒径分析方法PARIO表现出显著优势。传统的比重计法（或吸管法）手工耗时24小时，费时费力易出错，激光粒度仪法，设备昂贵，耗时长，且存在方法性偏差。PARIO Plus设置好之后全程自动测量，仅需在测量结束时手动打开阀门。测量时长缩短至仅需2.5小时，估计误差低至±0.5%。PARIO Plus从繁杂的实验中解放科学家的双手，全身心投入科学问题的研究。测量原理基于斯托克斯定律（Stokes′ law）计算粒径分布, 其测量范围为63~2 μm。PARIO的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法，采用压力传感器以10s间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化，获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus使用更精确的“扩展积分悬浮压力法”（ISP+）（Durner et al., 2017）。另外，基于斯托克斯定律的PARIO不需要进行土壤特性的传递函数校正，而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正，例如激光衍射法或图像分析法。主要特点测量速度快 设置好后，仪器运行仅需2.5小时。测量方法准确 估计误差低至± 0.5%，低于任何传统的粒径分析方法。自动独立运行 PARIO允许无人值守，自动化操作，仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同，PARIO每10秒进行一次自动测量，并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。测量过程无扰动 不需要插入液体比重计，也不需要用移液管进行悬浮液的取样，进而减少了对沉降的扰动。依据经典原理 根据斯托克斯定律（Stokes′ law）计算粒径分布，完美匹配传统实验前期准备工作流程。黏粒含量直接测量获得。依据温度自动综合计算粒径分布。简单易用一体化 为了您能节省更多时间，PARIO采用了简便易用的一体化软件解决方案，轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。 技术指标 粒径范围 2 ~ 63μm 质量分数检查的近似误差 PARIO Plus: ±1%；PARIO Classic: ±3.0% 压力测量 准确度： ±1.0 Pa；分辨率：±0.1 Pa 典型颗粒质量 25 ~ 50 g/ 1L悬浊液 典型测量时长 PARIO Plus: 3 h；PARIO Classic: 8.0 h 测量间隔 10 s黏粒含量估算根据抽取样品综合颗粒质量获得砂粒含量估算根据湿筛法测定结果得到 供电需求 USB 5 V/100 mA 电脑兼容 微软 Windows 10 玻璃容器规格 高：450.0 mm；内径：59.0 mm，外径：67.5 mm；体积：1,000 cm3 材质：硼硅酸盐玻璃3.3 PARIO仪器 高度：293.0 mm；直径：80.0 mm 材质：POM塑胶原料和不锈钢 悬浊液容积 1,000 mL 工作温度 15~35℃；典型：20℃ 测量中允许的最大温度变化 ±1.5 ℃ 需要额外测量的参数 PARIO Classic: 有机质含量 (如进行了有机质去除)；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量 PARIO Plus: 取样测量干物质总质量；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量 缆线类型 USB 2.0；500 mA用于接收端口 符合标准 生产制作遵循 ISO 9001:2015 EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)相关产品实验室土壤水分特征研究工作组产地与厂家：美国METER公司 (原Decagon)

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

动态光散射纳米粒径分析仪Nicomp N3000介绍 Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专li技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图 zui新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们zui终就可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。 动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的zui终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，zui终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 多峰算法pH值范围2 - 12温度范围0℃-90 ℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）激光光源35mW激光光源检测角度90°检测器APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL） 分析软件Windows操作系统，主流配置，光驱，USB接口，串口（COM口）；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows操作系统，主流配置，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关） Nicomp多峰分布 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。如下图所示： 图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人David Nichole亲测其血液所得。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp仪器对于多组分体系的粒径分布可以提供清晰地检测数据结果。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的混合标粒所得到的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近。由此可知，尽管93nm和150nm的混合标粒之间粒径差别已经不大，由Nicomp的多峰算法仍然可以清晰地将体系中的多组分区分开来，可见N3000的灵敏性之高，其算法之精确，实为科研研发的zui佳帮手。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益zui大化。 技术优势检测范围：0.3nm -10μm；校准需求：无需校准；应用领域：广检测，速度快，灵敏度高且对团聚粒子灵敏度高；法典法规：符合USP,CP等各国药典要求；复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专li的Nicomp多峰算法结合均可选择；模块化设计：可同机搭载ZETA电位检测模块，还可增加自动稀释，自动滴定和自动进样等辅助测试模块，亦便于升级； 产品优势模块化设计Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球wei一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块带有专li的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。380/HPLD大功率激光器美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD) 探测器Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和jun品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7倍放大增益效果）。APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。380/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.9°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。应用行业: 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等

济南微纳Winner99E静态颗粒图像分析仪产品简介： Winner99E是一款专用于颗粒大小分布与颗粒形貌分析的静态显微图像粒度仪，仪器采用全新的图像采集系统和分析软件，融合计算机图像学和颗粒粒度粒形分析理论，不仅可获得颗粒的清晰图像，而且能够分析出颗粒的粒度、球形度、长径比、庞大率、表面率等参数和分布形式。 产品特点： 直观显现颗粒图像将颗粒的表面形貌图像直接显示到计算机屏幕，可直观且全面的了解颗粒的表面及形状属性。智能拼接多幅图像可将选取的不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性。自动分割黏连颗粒采用先进的颗粒识别算法，能够准确识别各种形状的黏连颗粒并对其进行自动分割，减少人为参与，缩短图像处理时间。自适应二值化功能颗粒图像二值化处理不受拍摄光线影响，避免因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的准确度奠定基础。自动处理颗粒图像融合自适应二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、智能处理黏连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动分析处理系统，一键即可完成颗粒图像分析报告。标尺支持自由切换为方便用户在使用该设备时，能够获取不同粒径的颗粒图像及形态，标尺支持多种长度单位，可在纳米、微米、毫米之间自由切换。快速处理特殊形状颗粒对于球形颗粒，采用独特的处理的处理算法，自动处理重叠或黏连颗粒，直接分析颗粒粒径数据，快速计算分析数据，得出结论报告。 产品技术参数： 规格型号Winner99E执行标准ISO13322-1: 2014 GB/T21649.1-2008测量范围1-6000μm准确性误差≤3% （国家标准样品D50值）显微系统物镜4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组目镜1X、10X、16X 大视野摄像目镜载物台手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值：2μm,带锁紧和限位装置光源底部透射光源，卤素灯和LED光源可选,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）总放大倍数4倍——5000倍摄像系统分辨率2048×1536像素尺寸3.2μm×3.2μm成像元件1/2英寸 progress scan CMOS帧率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480清晰度＞1000 line信噪比小于42dB敏感度1.0V@550nm/lux/S软件功能图像采集采集样品形貌图像 保存JPG、bmp格式图像拼接将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性，同时也可单张分析保存后再进行拼接。图像处理提供灰度化、二值化（动态、自动、自适应）、图像消蓝、平滑滤波、矫正光照不均、边界监测均衡化、图像平滑、图像收缩、图像膨胀、消除飞点、消除空心、消除边界黑点、消除黏连、手动标注、任意角度旋转等颗粒的自动处理工具集自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。比例尺标定通过标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。单个颗粒数据在图片上直接对单个颗粒进行截面积、粒径、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数频率分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据个数统计直接得到所观测的颗粒数量样品缩略图可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中表头规范可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中 应用领域： 可测量干粉和分散在液体中的颗粒的粒径分布、形貌特征，如：晶体颗粒、细骨料、磨料、添加剂、填料、药粉、金属粉、矿粉、胶体、乳液、不规则颗粒等。

颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具，可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄，智能控制聚焦和即插即用连接的设计，EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时，EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具，可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌，从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下，实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况，而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液，液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统；2) 能在各固相或分散相的浓度中测量；3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围（如：小颗粒范围或大颗粒范围）粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测，也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件，将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料，耐酸碱，耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度：3m(标准）；13m(带USB延长线)重量：0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围：-20oC-135oC压力：0-10bar材料：哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究，也可用于实验室过程开发。

仪器简介：德国RETSCH TECHNOLOGY公司最新推出的CAMSIZER多功能粒径分析仪是全球唯一一台可以同时分析粒径大小、粒径分布、颗粒个数、球形度、透明度、面积等多参数的仪器。采用专利的双镜头设计，可以实时捕捉样品颗粒的图像并进行储存和处理，进样量大，分析具有代表性和重现性，同时具备在线功能。 传统的激光粒度仪由于取样量偏小，重现性差，样品不具备代表性，对于球形度差的样品无法得出准确结果；传统的筛分技术只能测出颗粒的大概大小，无法进行计数，并且分析过程漫长，CAMSIZER可以对颗粒大小和形状同时进行详细而准确的分析，并实时记录图像。它是由RETSCH TECHNOLOGY公司与JENOPTIK JENA公司（原德国蔡司ZEISS）合作研制的。 CAMSIZER可对所有干性、流动的粉状颗粒材料进行快速分析，如盐/糖、塑料、催化剂、研磨剂、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、药物、金属粉末、标准品、水泥、矿石等。技术参数：测量范围：10um－－30mm 测量原理：数字成像技术 分析数据：颗粒大小、形状、透明度、个数、分布、球形度、面积等 数据处理：60 images/s，每一张大于780000 pixels 外形尺寸：（H x W x D）约 650 x 850 x 350 mm 重 量：40 Kg（不带PC） 测量时间：约2-3分钟（视样品性质和进样量） 符合标准：CE认证、FDA 21 CFR PART 11、其他标准 主要特点：1) 100% 高分辨率的双镜头 2) 样品处理量大，极具代表性和重现性 3) 实时图像显示 4) 粒径大小、粒度分布、颗粒计数、图像分析、球形度、透明度等多参数分析 5) 分析结果可与筛分拟对 6）多国语言、易维护 7）全自动和在线功能

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。产品特点 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数 宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40% 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定 软件操作简单功能强大，一键测量 双光路双角度粒径测量（90° 和173°） 采用微量样品池技术参数粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）粒径测定范围：0.3nm ～10μm粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV分子量测量原理：Debye plot分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）样品量：12μL ～ 1000μL

1引言土壤是由液体、气体、固体三相组成，不同粒径粒形的土壤颗粒是土壤的重要组成部分。土壤的粒径粒形分析的目的是为了测定不同粒径粒形土壤颗粒的组成，并进行土壤质地的确定。而土壤质地则是土壤最基本的特征之一，是土壤分类的重要依据，对土壤肥力、土壤养分运移、土壤水分特征曲线及土壤可蚀性等具有重要影响。目前测量土壤粒径粒形的方法很多，有筛分法，沉降法，激光衍射法，电阻法以及静态图像法等。关于这些方法的详细介绍可以参考有关书籍，这里就不赘述了。值得指出的是在激光衍射法中，其理论基础是FRAUNHOFF衍射或者MIE散射理论，这两种方法都是根据在颗粒在焦平面上形成的衍射以及散射信号的强弱来推算颗粒的大小。而传统的图像法中，是借助显微镜、摄像头或数码像机和图形采集卡利用计算机软件对采集的图像进行处理和计算，从而得到颗粒的大小以及形状参数。考虑到这种方法单次所测到的颗粒个数较少，一般采用通过更换视场的方法进行多次测量来提高测试结果的真实性。 2 测量系统设计2.1 目标AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统采用独特的双通道技术，进行土壤、污泥、河床沉积物、飞灰、水泥等样品中颗粒粒径粒形分布的研究。其激光通道应用符合ISO标准的激光光阻法（也叫时间转换理论或者激光脉冲分析法），克服了传统激光粒度仪只适合于分析纯净物的缺点（传统激光衍射法必须要知道样品的光学特性，而大部分环境样品成分复杂，光学特性不固定），测量过程对于样品的任何物理特性都没有依赖型，实现了物性无关的检测；此外，其Video通道应用动态粒形分析技术，在很大程度上提高了分析的精度并且缩短了分析所需的的时间。AZ-S0300土壤粒径粒形观测系统通过灵活的模块化配置，可满足不同类型的干法及湿法检测需求，也可实现液体、乳剂、膏状、薄膜、气溶胶等样品的测量需求。 2.2 土壤样品采集自然条件下，选取具有代表性的典型区域作为取样样地；实验研究条件下，根据研究目的选取特定区域作为取样样地。根据样地类型、开阔平坦程度、土壤匀质程度等条件可选择&ldquo 梅花形&rdquo &ldquo 棋盘式&rdquo &ldquo S形&rdquo &ldquo 网格法&rdquo 进行布点，同一类型的土壤样品，至少取3个土样作为重复。样品采集的时间和频率根据研究对象和目的决定。具体操作和细节可参照《土壤理化分析》中相关部分。2.3 测量指标AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统采用独特的激光、视频双通道检测技术，在进行激光粒度检测的同时能够得到颗粒的形貌和样品分散信息，而且能够对于得到的图像进行定量的粒形分析。可以得到近40个参数：颗粒数量分布、D10/D50/D90颗粒度分布、颗粒表面积分布、颗粒体积分布、平均颗粒粒径、体积平均粒径、表面积平均粒径、数量平均粒径、等效面积直径、弗雷特（Feret）直径及其最大/最小/平均值、长细比、圆度、周长、分形维数、形状因子、凹凸度和椭圆度等。2.4 测量系统组成AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统由土壤取样单元、激光粒度仪主机、激光测量头、视频显微镜、测量池模块（有磁力扰动测量池、机械扰动测量池、液体流动测量池、流动式液体测量池、纤维测量池、气溶胶测量池、微流量测量池、加热测量池、自由落体测量池、薄层测量池等可选）、粒形分析软件等组成。3 数据处理激光和视频分析产生的全面信息，很容易通过直观的数据报表软件得到。测量结果可以各种表格和图显示出来，这些表格和图可以由用户选择，以便正确显示需要的信息。通过数据挖掘技术，很容易实现数据比较和分析，允许对覆盖图和比较表进行编辑。轻点一下鼠标，就能生成word格式的样品分析报告，该文件包括样品制备，粒径和粒形结果，还带有图形和视频信息。 3.1 用颗粒的形状信息补充尺寸信息形状信息是对粒径分布的二维的补充，比如大小相识的颗粒可能在形状上大相径庭。对非球形颗粒准确的定性，两维的形状信息是必需的。形状的差异可从粒形分布反映出来。动态图像分析使用数码摄像机抓取最佳的颗粒图像进行处理。得到的图像可经过复杂的图像分析程序分析，得到图像信息；亦可存储起来，以后分析。 3.2 了解颗粒系统通过动态图像分析得到的形状和尺寸相关数据提供了每个颗粒的丰富信息，这些信息可以展示在散点图以观察样品的颗粒尺寸&mdash 形状趋势。形状过滤器具有与光学过滤器相同的功能，用户可以根据尺寸或形状特性在样品中放大观察样品的特定部分。 3.3 检测微小部分激光通道使用的激光光阻法在特殊的应用中有着明显的优势，例如检测只占样品体积1％或更少的微小部分，或者以更高分辨率来分析样品中的非常大的颗粒部分。 4 应用案例4.1 AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统在屋面径流颗粒分布研究中的应用同济大学污染控制与资源化研究国家重点实验室科研人员应用AZ-S0300土壤粒径粒形观测系统，对上海市交通干道旁一处混凝土屋面的6次降雨径流进行监测，分析了屋面径流中颗粒粒径的分布，结果表明：颗粒物粒径分布变化过程与流量过程密切相关，径流初期小颗粒数目比例逐步上升，而当再次遇到较大降雨强度时，屋面在较强冲刷作用下产生较多大颗粒，使大颗粒所占比例上升，然后随着径流的继续进行，小颗粒数目比例迅速上升。 4.2 AZ-S0300土壤粒径粒形测量系统在垃圾焚烧飞灰物理化学性质研究中的应用北京科技大学的科研人员应用AZ-S0300土壤粒径粒形观测系统，对国内2种垃圾焚烧飞灰的物理性质进行了详细研究，结果表明：2种飞灰颗粒直径的数量微分分布非常接近，它们的中间粒径分别为0.84&mu m和0.85&mu m，平均粒径分别为1.10&mu m和1.15&mu m，2种飞灰中基本没有超过40&mu m的颗粒。

颗粒表征分析颗粒表征分析从纳米至微米范围通过动态光散射在三个不同的测量角度下测量粒径大小利用获得zhuan利的 cmPALS 测定 zeta 电位分子量和折光率测量Litesizer 可为样品选择较理想的测量角度，以确保zui高的数据质量Litesizer 500 有三个用于 DLS 测量的检测角度（侧散射、向后散射或向前散射），允许zui优参数设置。仪器带有自动角度选择功能，可以为您的样品确定zui合适的角度。Litesizer 100 使用通用的后向散射角，这对于浊度样品较理想，因为它减少了多个散射事件，实现zui佳的数据质量。您可以对样品进行完整的分析，因为 Litesizer 系列能够在一次测量中溶解多达三种不同的粒度等级。zeta 电位测量降至 0.1 mg/mL，实现zui高的灵敏度利用 Litesizer 500，您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。cmPALS专li技术（欧洲zhuan利 2 735 870）允许在样品浓度zui低的情况下进行高灵敏度测量，获得有意义的结果，测量时间显著缩短，样品降解程度zui大程度降低。这对肽溶液特别有帮助。此外,独特的安东帕 Ω 型毛细管 zeta 电位的比色皿在测量位置创建一个完全稳定的电场,促使 zeta 电位测量具有高度可重复性。用于样品监测的持续的透光率测量持续测量的透射率可以给您提供样品的即时反馈。它进一步允许自动优化测量参数，如测量角度、焦点位置和持续时间。透光率也提供在一系列测量中有关沉积或聚集开始的数据。一体机-测量折光率样品溶剂的折光率是 DLS 和 ELS 测量所需的输入参数。 对于大多数粒度分析仪来说，这些指数必须由外部来源确定，Litesizer 500 可以在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量折光率（欧洲zhuan利 3 023 770）。这确保了在所有试验条件下，获得zui高精确度的粒径和 zeta 电位值。Litesizer 500 确定的折光率的误差在 ±0.5% 之内，符合 ISO 22412:2017 规定的 DLS 所需折光率精度。使用 Kalliope 软件可以清楚地了解您的测量结果Litesizer 系列的测量软件，Kalliope, 提供直观的单页工作流.输入参数、测量信号和结果都触手可及。单页工作流还允许您只需单击三次就可以开始测量。 预定义的标准报告和结构化的结果概览对测量结果提供快速访问路径。 您还可以通过分析功能、Excel 导出和定制化报表模板来更深入地查看数据。Kalliope 完全符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法规要求技术规格Litesizer 500Litesizer 100粒度测试规格测量原理动态光散射 (DLS)测量范围0.3 nm 至 10 μm（颗粒直径）测量角度15°、90°、175°175°zui小浓度0.1 mg/mL（溶菌酶）zui大浓度50 %w/v（取决于样品）zui少样品用量12 μL准确度优于溯源标准的 +/-2 %重复性优于溯源标准的 +/-2 %Zeta 电位规格测量原理电泳光散射 (ELS)/cmPALS-测量范围= +/ -1000 mV-运动范围10-11 m2/V.s 至 2 x 10-7 m2/V.s-尺寸范围3.8 nm 至 100 μm（直径）-zui小样品浓度0.1 mg/mL（溶菌酶）-zui大样品浓度70 %w/v（取决于样品）-zui大样品电导率200 mS/cm-zui少样品用量50 μL（取决-于样品-黏度）-准确度优于 +/-10 %-重复性+/-3 %-分子量规格测量原理静态光散射 (SLS)-测量范围（质量）980 Da 至 20 MDa-测量范围（颗粒尺寸）可达 40 nm（颗粒直径）-测量角度90°-zui小样品浓度0.1 mg/mL（溶菌酶）-准确度+/-10 %-重复性+/-5 %-透光率规格测量范围0 % 至 100 %zui少样品用量15 μL准确度优于 +/-1 %折光率规格测量范围1.28 到 1.50-zui少样品用量1 mL-准确度+/-0.5 %-基本信息光源半导体激光器二极管/ 40 mW，658 nm激光预热时间6 min温控范围0 °C 至 90 °C使用环境温度10 °C 至 35 °C湿度高达 80 %，无冷凝尺寸（宽、深、高）460 mm、485 mm、135 mm重量大约 18 kg（40 磅）大约 16.3 kg (36 lb)

借助 minispec 时域核磁共振分析，快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备，无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释， API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案，可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量／工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号，而不受其颜色或浊度的影响。然后，通过分析核磁共振信号，计算出液滴内分子（油或水）的扩散系数，软件最后输出液滴粒径分布，包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布，不受絮凝影响，这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试，但它们都有各种局限性，因而不适于分析多种不同乳剂系统： 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构，不能分辨液滴和悬浮颗粒，液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释，需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术，基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性，因而是适用于乳剂分析的强大工具： 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉／米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子，也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在－5℃到＋65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析，譬如但不限于，固体脂肪含量、结晶、水分迁移，等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色／外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分（香精、药物，等等）设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器，进行灵活编程，设定：核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化，等等 mq 系列系统适用于各种不同应用，可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列，以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息（基于体积和数量的液滴粒径分布）

品牌：久滨型号：JB-N9名称：纳米粒度仪 一、产品概述：　　JB-N9是我公司推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的产品。控制系统原理图如下：光子相关纳米粒度仪基本原理图二、原理： 本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定仪器。　　此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！三、主要技术参数：规格型号JB-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）数据处理拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, *大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝

NS-90 Plus 纳米粒度分析仪产品介绍：NS-90 Plus纳米粒度分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90 Plus具有更优越的粒度分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度的测试需求。NS-90 Plus纳米粒度分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90 Plus融合马尔文帕纳科技术升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90 Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理：NS-90 Plus纳米粒度分析仪在一种紧凑型仪器中集成了两种测试技术*：动态光散射技术NS-90 Plus 纳米粒度分析仪使用经典的90°角动态光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技术来测量粒子和颗粒的粒度。该技术利用光电检测器测量样品中粒子由布朗运动所产生的散射光强涨落信号，通过数字相关器计算得到相关函数(Correlation Function)以分析颗粒的扩散速率，再以斯托克斯-爱因斯坦(Stokes-Einstein)方程计算出颗粒的粒径与分布。本技术所测量的粒径为流体动力学等效直径，通过相同扩散速率的硬球进行等效直径计算而得。动态光散射法也称为光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。NS-90 Plus动态光散射光路图静态光散射技术 NS-90 Plus纳米粒度分析仪使用静态光散射(Static Light Scattering/SLS) 技术以非侵入式表征溶液及胶体中的蛋白质单体、聚集体或聚合物等粒子的摩尔质量，即分子量。在德拜法分子量计算的描述中，粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。通过使用德拜法测量一组浓度梯度的样品静态散射光强度，可以计算蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的平均强度。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。 NS-90 Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量*：NS-90 Plus可以根据需要购买升级电泳光散射技术的Zeta电位测试功能模块。用途： NS-90 Plus纳米粒度分析仪是一款高性价比的纳米和亚微米颗粒粒径表征仪器，适用于对粒度表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 蛋白质及其聚集体的评价&bull 电极浆料及助剂的粒径、分散表征&bull 涂覆材料分散性能预测&bull 纳米金等高电导率溶胶的改性&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的配方开发及混合、均质等加工工艺参数性能特点：【先进的高信噪比光学设计】 NS-90 Plus纳米粒度分析仪在一台紧凑仪器中集成了动态光散射和静态光散射两种光学原理技术。通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。动态光散射粒径测量示意图【易使用、免维护的系统设计】 NS-90 Plus采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的多种类可选的比色皿样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。比色皿样品池【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-90 Plus所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。仪器可在330000:1的动态范围内通过衰减器自适应调节激光强度。【报告可自定义多种参数输出】 NS-90 Plus具有完备的纳米粒度分析功能。可以输出Z平均直径、多分散指数PI、各粒径分布峰的峰值粒径和含量等参数，同时可输出体积和数量分布 (使用全范围米氏理论(Mie Theory)计算) 。可自定义报告【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。APD性能图【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，多于4000通道， 1011动态线性范围，最短采样时间间隔可低至25ns，结合先进的相关算法，最短子测量时间可缩短至1.68s。典型相关曲线示意图【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-90 Plus测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的粒径结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。数据质量指南【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件开发模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。粒径测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 SOP标准化操作程序4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含以下几个方面的智能化建议：a. 测试报告的质量评价b. 问题产生的原因c. 如何使用这些数据d. 如何改进这些数据 5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。自定义报表功能演示6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，以适合包括单分散样品、宽分布样品在内的多种样品测试；具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。Z-均粒径值趋势图8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。介质粘度数据库典型测试结果：1. NS-90 Plus良好的重现性——60nm标号乳胶微球标样 (Thermal，标称值：62±3nm)2. NS-90 Plus提升了粒径上限分析性能——10μm标号标样的测试**：采用微毛细管样品池进行粒度分析。3. NS-90 Plus卓越的分辨力——60nm、200nm双标样混合样品 可用于粒径测试 可用于分子量测试标配附件：12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012) 可替换型，无污染最少样品量1mL适用于水或乙醇作为分散介质的粒度测试12mm方形玻璃样品池(PCS8501) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数水性或非水性溶剂或介质的测试可选配附件：微毛细管样品池(ZSU1002)由样品池基座和可替换型方形微毛细管组成最少样品量3μL可更准确地测试1μm以上的颗粒粒径测量上限最高可拓展至15μm技术参数：【粒径】1. 测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)2. 测量原理：动态光散射法(DLS)3. 重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)4. 最小样品容积*：20µ L5. 最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)6. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)7. 最小子测试时间：1.68s【分子量】8. 分子量测量范围： 980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算【系统】9. 激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。10. 整机激光安全：I类11. 检测角度： 9012. 检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE80%@632.8nm13. 相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围14. 冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)15. 温度控制范围：0 - 120 ℃16. 温度控制最高精度：± 0.1 ℃17. 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能【重量与尺寸】18. 主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)19. 主机净重：19 kg【运行环境】20. 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A21. 功率：最大值100W，典型值45W22. 推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上23. 计算机接口： USB 2.0或更高24. 推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版25. 环境要求：温度10 – 35 ℃湿度：35 - 80%， 无冷凝*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.**尽管我们已竭力确保本材料中信息的正确性和完整性，仍保留随时更改本材料中任何内容的权利。

产品简介：Sedimat 4-12土壤粒径分析仪用于实验室自动分析土壤粒径的分布情况。Sedimat 4-12根据欧洲标准（DIN ISO 11277），每次可以对12个样品按4级粒径大小进行自动分析（也可以按美国标准进行土壤粒径2级分析）。 测量原理：根据stokes’定律，大颗粒的沉降速度较快，小颗粒的沉降速度较慢，把土壤样品放到液体中制成一定浓度的悬浮液，悬浮液中的颗粒在重力作用下将发生沉降，因此可以根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同来测量粒度分布。具体方法为移液管法：将土壤样品去除石块、杂草、植物根等有机质，然后过筛（0.05mm），过筛后的细土混匀准确称量10g放入1000ml焦磷酸钠溶液中，搅拌、摇匀，用移液管在不同时间内缓慢吸取不同深度一定量的悬浮液样品，烘干后称重，即可算出不同粒径范围的土壤粒径分布百分比。土壤粒径分布欧洲标准（DIN ISO 11277）分为4级（F1、F2、F3、F4），美国标准（ASTM）分为两级（F1和F2），具体分级情况如下：美国标准（ASTM）：F1：20cm 80s； F2：10cm 6h52m52s欧洲标准（DIN ISO）：F1：20cm 49s； F2：10cm 4m7s；F3：10cm 45m52s；F4：10cm 6h52m50s特点：&bull 取样均一性好，样品处理温和&bull 样品沉降时间符合美国和欧盟标准；&bull 样品准备简便，只需要少量的实验室工作&bull 自动测量过程节约工作时间&bull 精确实现诸如均匀探头、稳定时间间隔、精确温度监测等实验条件；&bull 在一个实验过程中每次取12个样品；&bull 测量结果重复性高；&bull 土壤悬浮液搅拌时间、温度（25℃）、沉降时间、样品抽取深度及移液量自动精确控制&bull 1天可以自动完成12个样品4个粒径范围的测量 系统组成：主系统：4维自动操作臂（带搅拌器、液面传感器、移液器）及操作室水浴系统控制单元计算机及自动控制软件等附件：15个1000ml的量筒，高度465mm，六边形底座；48个30ml称量杯，外径50mm；4个可以安放12个称量杯的金属盘。另外实验室还需分析天平（精确到＋/－0.0001g）和烘干箱。 技术参数：主机系统规格操作臂4维自动操作臂（带搅拌器、液面传感器、移液器）及操作室操作臂规格X-axis：1290mm，Y-axis：990mm，Z-axis：Z1（自动搅拌轴）：790mm、Z2（移液管轴）：490mm控制单元支持微软操作系统，带4个伺服电机输入输出多路输入输出板显示单元17英寸水浴系统不锈钢温控水浴器，带丙烯酸套，内置PT100温度传感器控温用于水浴加热的浸入式加热线圈，以保持恒温25℃环境温度5-23℃，温度过高时，推荐使用sedimat流通式冷却器搅拌器同轴三叶桨搅拌器自动控制软件处理过程可视化移液器气体活塞式移液器精确定位光学表面传感器精确定位移液管深度（土壤悬浊液浸没深度）电源CEE16，16A 3N/PE AC380V/50Hz规格2080mm X 860mm X 1940mm （含显示屏和键盘）1690mm X 860mm X 1940mm （不含显示屏和键盘）重量400 kg土壤粒径分级技术参数：标准欧洲标准（DIN ISO），25℃时的沉降时间和深度F1（gU，粗粒土）20 cm – 49 sF2（mU，中粒土）10 cm – 4 min, 7 sF3（fU，细粒土）10 cm – 45 min, 52 sF4（T，黏土）10 cm – 6 h, 52 min, 50 s标准美国标准（ASTM），25℃时的沉降时间和深度F120 cm – 80 sF210 cm – 6 h, 52 min, 52 s可选附件技术参数sedimat流通式冷却器冷却控制温度25℃连接方法待冷却的液体通过软管连接工作温度10-30℃冷却能力：0.22kW（20℃）；0.18kW（10℃）标配附件量筒1000ml，15个，高度465mm，六边形底座称量杯30ml，48个，外径50mm金属盘4个，可以安放12个称量杯