余弦校正器

现在球差电镜的用户已经有很多了，谁能给介绍一下球差校正器的结构和工作原理呀？物镜球差校正器和聚光镜球差校正器的安装位置和结构是不是一样的？

【题名】：酸度计中增设电极斜率校正器的效果【全文链接】: https://www.cnki.com.cn/Article/CJFDTOTAL-FXYQ198401022.htm

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进行5次实验得到5张气质谱图，求的平均谱图，然后将一张谱图的各个峰的数据与平均谱图上的各个峰的数据点乘，即得峰的余弦相合系数。。。。不是很明白，求解

新手，要做指纹图谱，刚接触spss软件，没有基础，请教老师如何用spss软件得到相关系数的相似矩阵和夹角余弦的相似矩阵？请告诉我每一步如何操作？谢谢！就是如下表格峰号S1S2S3S4S5S6S7S8S9S10平均值10.0810.0860.0740.0910.0890.0910.0800.0900.0600.0960.08420.1700.0930.1230.1210.1130.1030.1080.1130.2160.2670.14330.0310.0180.0240.0230.0220.0210.0210.0220.0400.047[font=Times New Roman

是不是在分析时可以同时进行两中方法的校正[em53] [em53]

拉力试验机校正程序　　一﹑校正项目：力量值、行程　　二﹑校正器具：标准砝码、电子秒表及标准直钢尺　　三﹑校正周期：一年　　四﹑校正步骤：以下解说为厂内自校方式。　　1.电子拉力试验机力量值校正：　　1.1将显示器归零，取标准重量砝码轻挂于上夹具连接头，记录显示力量值，并计算与标准重量砝码之差，误差应不超出±1%。　　1.2单位转换：1kgf=9.80665牛顿

一直以来认为国内并没有成功商品化交变磁场调制反塞曼效应背景校正（简称交流塞曼）技术，近日上网一搜，才发现自己严重Out了。早在2009年，上海光谱的SP-3880AA就已经把交流塞曼和直流塞曼（直流磁场激励反塞曼效应背景校正）共冶一炉，居然在一台机子上实现了！一个感觉——震撼。如果再看这型仪器的其他配置，更觉震撼：开关型直流化石墨炉电源、横向加热石墨炉、固体进样技术、etc。呵呵，我不相信横向加热石墨炉，因为这一项和仪器的其他部分不匹配。但其他几项，就算拿到国际上，也算先进了。不说其他，单论这交直流塞曼合体。我们知道，恒定磁场反塞曼效应背景校正（恒磁塞曼，以区别于直流塞曼）要使用塞曼分裂的p成分（即偏振方向平行于磁场的成分）作为总吸收信号的测量光束，而对于部分反常塞曼效应的原子吸收谱线，其p成分内部因为磁致分裂较大，导致分析谱线峰值下降，从而损失相对灵敏度。Cu、Au、Ag、Cr、As等元素的灵敏线不幸都落在这个部分中。因此，从相对灵敏度来说，恒磁塞曼不如交流塞曼，后者虽然也存在同样的问题，但一来相对灵敏度损失不太大（因为不使用p成分），二来还可以通过调节磁场强度来解决。恒磁塞曼使用永久磁铁，自然也就无法调节磁场。所以，用直流电磁铁来激励一个强度可调的直流磁场，就成为一种顺理成章的思路，这就是直流塞曼技术。直流塞曼的光路结构完全和恒磁塞曼相同，但磁场却与交流塞曼匹配。如果用交变信号激励磁场，在磁场最大时让s成分（偏振方向垂直于）输出，而在零磁场时让p成分输出，那么就实现另一种形式的交流塞曼，磁场调制和信号测量的同步方法实际上很简单，此处不叙。和经典的交流塞曼系统相比，只是在零磁场时用p成分代替s成分而已，而这二者是完全等价的。换句话说，交直流塞曼本来就可以合体的！为何过去没有人意识到这一点呢？我想应该是没有人认为有交流塞曼还需要直流塞曼吧。如果用两个光电检测器同时测定p成分和s成分，直流塞曼在处理高速背景方面无疑占有优势，这也就是二者合体的意义。不过，这需要有双检测器为前提。SP-3880AA并没有说明这一点，表明这型仪器没有使用双检测器，所以其交直流塞曼合体的意义并不太大。不过，这是一型真正的商品化交流塞曼原子吸收系统，仅就此而言，填补国内空白是可以自称的。顺便指出，双检测器并非增加一个PMT那么简单，要求两个PMT性能上严格匹配，并且对光路要求很严格，所以会增加成本。SP3880AA有如此的技术，但除了频频获奖外，并没有吸引多少眼球。我曾在本坛中从2008年搜到2011年，竟然没有一篇帖子谈论上海光谱的这型仪器。个中原因恐怕只有上海光谱自己知道了。其实据我所知，交流塞曼，甚至纵向交流塞曼在国内早有人研制出来了，但一到产品阶段就卡壳，无法进行下去。我国的仪器产业，固然在理论水平方面落后于国外，但更主要的原因是先进制造能力，当然还有市场能力的缺乏。但愿这种看法是错误的。

一﹑校正项目：力量值、行程　　　　二﹑校正器具：标准砝码、电子秒表及标准直钢尺　　　　三﹑校正周期：一年　　　　四﹑校正步骤：　　　　1、力值校正：　　　　1.1单位转换：1kgf=9.80665牛顿　　　　1.2在电脑或控制面板中操作所有数据归零，取标准砝码轻挂于上夹具连接头，记录显示力值，并计算与标准砝码之差，误差应不超出该试验机规定误差值。　　　　注意：材料试验机校正方法；拉力机校正方法；拉力试验机校正方法　　　　1、对测试值有质疑时，需上述校正。　　　　2、原则上力值校正应由试验机厂家客服部或国家认可的计量单位执行,如用户自行调校而造成质量问题一般厂家不予负责。材料试验机校正方法；拉力机校正方法；拉力试验机校正方法　　　　2、测试速度校正：　　　　2.1启动上海湘杰试验机的同时利用软件秒表开始计时一分钟，计时停止，试验机自己停止。根据秒表的时间，记录下夹具行程值即为每分钟之速率(mm/min)，观察下夹具行程值与直钢尺之差，适当调整速度设定，再次启动上海湘杰试验机以测得正确之数值，并计算下夹具行程误差值，应不超出规定误差。材料试验机校正方法；拉力机校正方法；拉力试验机校正方法　　　　2.2首先记录试验机下夹具位置，在软件上设置校正速度。同时使用标准直钢尺测量下夹具行程。

电极系数(斜率)是离子选择性电极的一个重要技术指标，它反映了离子选择性电极本身将被测离子活度转化为为响应的电位的能力，在Nernst公式小就是RT／ZF项，是以每单位px的电动势增量表示。 任何一种离子选择性电极，在实际应用时，电极系数的大小是由以下因素决定的： (1)在Nernst公式的RT/ZF项中．R＝8．31441焦耳／克分子度，为气体常数，F＝96487库仑/克分子，为法拉第常数，所以在允许的线性测量范围内，S的大小取决于溶液的温度T(273+t)和离子的电荷数Z。 (2)离子选择性电极材料的电位——活度反应性。 (3)测量的方法和测量的条件。如各种干扰物质的多少、液的总离子强度的大小、PH值范围等。 (4)所使用的测量仪器的输入阻抗高低等。 (5)离子选择性电极的引出线与屏蔽线之间的绝缘电阻的高低等。

想了解四级-八级球差矫正器的工作原理，哪位有比较详细介绍的资料，包括结构图，光路图及相对应的说明，能否提供给我？十分感激

海洋光学是世界领先的光传感和光谱技术解决方案提供商，为您提供测量和研究光与物质相互作用的先进技术。我们的产品可以应用于材料分析，医学和生物学研究，环境检测，科学教育以及娱乐业灯光效果等领域。我们拥有庞大的产品线，包括光谱仪，化学传感器，计量仪器，光纤，薄膜和光学元件等等。海洋光学是公认的微型光纤光谱仪的发明者，自1989年以来，在世界范围内共售出了超过150000套光谱仪。 主要光谱技术 LIBS，吸光度测量，透射率测量，反射率测量，辐射发光测量，荧光测量，拉曼光谱，紫外/可见光/近红外光谱，光谱辐射线测定，流体注射分析，颜色分析，光纤化学传感。 产品和服务 微型光纤光谱仪 紫外/可见光/近红外，高分辨率，用于教育的系统，时间控制的荧光测量，发射光谱荧光计，吸光度，激光诱导击穿光谱，LED测量，偏振光椭圆率测量仪，拉曼系统，温度调节器，反射率 光纤探头优等光纤组件，裸光纤，定制组件，反射/后向散射/浸入式探头，过真空装置 采样附件 试管支架，余弦校正器，线性滤光片，流动池和系统，积分球，反射标准 光源 激光，氘灯，钨灯，卤素灯，LED灯，稳定氘灯，校准灯，激发源 软件 光谱仪控制，脚本编写，设备驱动，测量绝对辐射量和颜色，反射和发光颜色测量 光学传感器 氧含量传感器，pH值传感器，定制传感器覆料，转导材料，温度补偿系统 薄膜和光学元件 颜色引擎，双色环，光纤，光学平台

海洋光学（Ocean Optics ）光谱辐射校准的USB4000光谱仪，帮助牙医更高效的进行树脂填充牙空洞光硬化治疗。海洋光学的光谱仪是精确控制树脂治疗系统（MARC）的核心部件，该系统由Richard Price博士及Dalhousie University （Nova Scotia, Canada）大学的研究者开发并商业化，BlueLight analytics inc. Price 博士自2002年起便在实验室中采用海洋光学的光谱仪来研究测量牙齿等的光治疗，已在国际上发表数十篇具有影响力的论文。　　MARC系统可以监控测量牙齿树脂修复治疗中的光输出，光量太多或太少都会影响树脂填充修复寿命，及对牙齿造成潜在创伤。MARC系统配备一个实验室级别的NIST参考标准USB4000光谱仪，牙科研究者、医师等可以精确测量不同牙齿修复当中的光谱能量输出，单位为mW/cm^2或J/cm^2。　　只比手机稍大的微型光纤光谱仪USB4000，采用东芝3648像元的线阵CCD探测器，可以进行高速采集。对于MARC系统，该光谱仪经过海洋光学的NIST标准辐射灯（300-1050nm）进行了光谱辐射校准。MARC也可以利用CC-3余弦校正器来收集180°角的光辐射。该装置可以消除由于取样采集过程中由于采样距离等原因造成的采光不均匀等影响。　　Colin Deacon，BlueLight的主席及CEO，这样评论道：“MARC系统的应用价值及市场潜力是很客观的，仅美国每年就有近130百万例的牙科修复手术;同时选择合适最优的光谱仪厂家也非常至关重要：我们选择海洋光学基于其优质的产品及服务。我们也试过其它的一些光谱仪厂商，但毫无疑问海洋光学是最出色的，这也是其在业界应用之广、广受好评尊重的原因。”　　通过合作开发MARC系统，BlueLight正与海洋光学的OEM工程团队紧密合作。海洋光学的OEM工程团队帮助OEM客户将其产品更快、更好的推向市场来满足商业需求。该技术团队提供从整套系统设计到 子部件光纤、光源、镀膜传感及配件的技术支持。海洋光学已获ISO 9001:2008认证，可以提供整套系统集成及子部件开发的产品及技术支持。

为回答[b]l_a_lakers[/b]版友上次提的问题（我想请问还有关于塞曼校正及氘灯扣背景的操作及原理扫盲帖），这期的扫肓贴推出背景校正技术，此贴为总结和拼凑所得，仅对于原理方面的阐述，水平有限，请版友们指正，也欢迎各版友提问题，征集扫盲贴主题，PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]的版主和专家歇诚为你们解答，当然水平有限，希望能对你们有所帮忙，大家互相学习交流，壮大PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]版面。背景校正技术 AAS仪中已有氘灯和碘钨灯连续光源背景校正、塞曼效应背景校正和空心阴极灯强脉冲自吸背景校正等方法。其中塞曼效应校正背景还衍生出几种不同的磁场调制与排列方式。以下介绍各种背景方法要点。 连续光源背景校正：这是现代AAS仪中应用最广泛的一种AAS仪器背景校正方法，尤其在FAAS中，它占有相当重要地位。其原理为：用待测元素HCL的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。对连续背景，它对HCL和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的1%，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和HCL锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。近年，Jena公司通过设计氘空心阴极灯的几何形状和成象光学部件，使两种辐射光束穿过完全相同的吸收体积，有效地避免了因双灯源的采用，而带来的光学平衡问题。由于氘灯 在长波范围（大于350.0nm）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。连续光源背景校对FAAS较好，对GFAAS效应不佳。 自吸效应背景校正：自吸效应背景校正法，又称S-H法，其原理：以低电流脉冲供电。空心阴极灯发射锐线光谱，测的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度，以短时高电流脉冲供电发射线产生自吸效应，辐射能量由于自吸变宽而几种与原波长的两侧。不为原子蒸气所吸收，所测为背景吸收值。将两值相减得到校正后的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]值。这种方法是简单和成本低，能校正某些结构背景与原子谱线重叠干扰，无光能损失，可以进行全波长校正但许多元素不能产生自吸，两种脉冲电流下HCL谱线宽度有差别，校正不够精确，有些元素如Al、Ca、Sr、Ba、V 等其灵敏度降低，检出限变差，强脉冲电流影响HCL的寿命，该法仅适用于FAAS法。对GFAAS法效果不明显，基本上作为其他校正法的补充。 塞曼效应背景校正：这种背景校正的基础是：吸收线在磁场作用下，产生分裂成平行磁场 π组分和垂直于磁场α+、α-组分。偏振组分α+、α-有中心波长位移，若频移足够大时，不为待测物所吸收，测量的只是背景吸收，若恒定磁场调制方式，π组分和背景吸收所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总吸收值。若是交变磁场调制方式，当磁场关闭时，吸收相不发生分裂。所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总值。将两种测定值相减（即[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收总值减去背景吸收值）可以使背景得到校正。目前商品仪器有两大类：恒定磁场（固定磁场）和交变磁场，可配置于光源上或原子化器。近年来，以配置在GFAAS较多，火焰应用较少。恒定磁场往往塞曼效应谱线分裂不完整，而降低测量的准确性 。 同时仪器灵敏度往往低于正常AAS的一半。永久磁长期使用会退磁。若采用旋转偏振器，会出现某种程度不平衡，使背景校正能力下降，由于上述缺陷，仪器公司采用横向交流交变磁场吸收线调制法。但如果交变磁场强度不够，工作曲线出现反转。最近有公司开发纵向交流交变磁场，省略可偏振元件，使分析动态范围大大拓宽。从仪器使用考虑，选择应用横向交流塞曼效应较好，这种系统具有最佳双光束性能，背景校正能力高而准确，线性和灵敏度于常规AAS相类似，检出限比连续光源背景校正器好。分析（工作）曲线反转问题较少。能全波段背景校正。近来有仪器公司推出了3-磁场塞曼效应背景校正技术，该模式除高磁和零磁场之外，还有第三个中间磁场强度，可根据被测浓度要求，通过软件选择最佳中间磁场强度可使动态范围扩展10倍。 此外，还有组合式扣背景，指的是采用以上两种以上的扣背景技术。如PE[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]仪器，其火焰法用的是氘灯扣背景，石墨炉用的是塞曼扣背景。自吸效应扣背景比较少见。 欢迎版友们补充、指正。你们的支持，是我们努力的动力，谢谢！

[b][color=#000099]我正想向版主专家请教[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]的背景校正，无意中在一论坛上看到如下的介绍，现转来至此，请这里的版主专家审一下，对吗？全吗？[/color][/b]背景的产生具有波长、时间和温度特性。背景校正装置有氘灯校正背景、塞曼效应校正背景、自吸收校正背景等3 种。[color=#ff0000]　[b]　一、氘灯背景校正装置[/b][/color]　　氘灯背景校正装置就是一只氘灯及其相应的电源。氘灯安装在侧光路上，需要背景校正时，将它移入测量光路，或者通过一块半透半反镜将氘灯的光引入测量光路。　　切光器或半透半反镜可使锐线光源与氘灯连续光源交替进入原子化器。锐线光源测定的吸光度值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度。连续光源所测吸光度为背景吸收，因为在使用连续光源时，被测元素的共振线吸收相对于总人射光强度是可以忽略不计的。因此连续光源的吸光度值即为背景吸收。将锐线光源吸光度值减去连续光源吸光度值，即为校正背景后的被测元素的吸光度值。　　氘灯校正法灵敏度高，应用广泛。非常适合火焰校正，在火焰和石墨炉共用的机型中，采用氘灯校正法是最折衷的方法，虽然在石墨炉中氘灯校正法不及塞曼效应背景校正理想，但在火焰分析中由于火焰产生的粒子造成光散塞曼效应射而使塞曼效应无法正常地进行磁场分裂，氘灯校正法在火焰分析中比塞曼效应校正法优越的多。　[color=#ff0000][b]　二、塞曼效应校正背景[/b][/color]　　塞曼效应校正背景是基于谱线在磁场中发生分裂和分裂组分偏振特性的一种校正背景的方法。塞曼效应背景校正器由固定或可变磁场和起偏器、检偏器组成。当仅使用石墨炉进行原子化时，最理想是利用塞曼效应进行背景校正。塞曼效应分为正常塞曼和反常塞曼效应：[b]　　a、正常塞曼效应背景校正[/b]　　光的方向与磁场方向垂直，在强磁场作用下，[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]线分裂为π和δ+组分：π平行于磁场方向，波长不变 δ+组分垂直于磁场方向，波长分别向长波与短波移动。这两个分量之间的主要差别是π分量只能吸收与磁场平行的偏振光，而δ+分量只能吸收与磁场垂直的偏振光，而且很弱。引起的分子完全等同地吸收平行与垂直的偏振光。即δ+组分为背景吸收，π组分为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]。　　在原子化器上加一电磁铁，电磁铁仅原子化阶段被激磁，偏振器是固定不变的，它只让垂直于磁场方向的偏振光通过原子化器，去掉平行于磁场方向的偏振光。在零磁场时，吸收线不发生分裂，测得的是被测元素的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收的总吸光度值。激磁时测得的仅为背景吸收的吸光度值，两次测定吸光度之差，就是校正了背景吸收后被测元素的净吸光度值。　　正常塞曼的缺点是在光路中加有偏振器，去掉平行于磁场方向的偏振光，使光的能量损失了一半，大大降低了检测的灵敏度。[b]　　b、反常塞曼效应背景校正[/b]　　光的方向与磁场方向水平，当光通过在原子化器上加一电磁铁，在强磁场作用下，抑制了π组分([url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url])的产生，只产生δ+组分(背景吸收)。在不通电无磁场存在下，空心阴极灯的共振线通过石墨炉，测得待测元素和背景吸收的总和。通电后在强磁场存在下，产生反常塞曼效应，此时只有共振线分裂后产生的δ+组分通过石墨炉，其不被基态[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，仅测得背景吸收。通过两次吸光度之差，即可进行背景校正。反常塞曼由于光路中没有偏振器，光的能量较正常塞曼多50%，检测灵敏度较正常塞曼高。　　塞曼效应使用同一光源进行测量，是非常理想的校正方法，它要求光能集中同方向地通过电磁场中线进行分裂，但在火焰分析中，由于火焰中的固体颗粒对锐性光源产生多种散射、光偏离，燃烧时粒子互相碰撞等因素产生许多不可预见因素，造成光谱线分裂紊乱，在火焰中的应用极不理想。并且，塞曼效应的检测灵敏度低于氘灯校正法。[color=#ff0000][b]　　三、自吸收背景校正[/b][/color]　　当空心阴极灯在高电流工作时，其阴极发射的锐线光会被灯内产生的原子云基态[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，是发射的锐线光谱变宽，吸收度下降，灵敏度液下降。这种自吸现象无法避免。因此，可首先在空心阴极灯低电流下工作，使锐线光通过原子化器，测得待测元素和背景吸收的总和。然后使它在高电流下工作，通过原子化器，测得相当于背景的吸收。将两次测的吸光度相减，就可扣除背景的影响。优点是使用同一光源，不足是加速空心阴极灯的老化，其寿命只有正常的1/3。

听几个师兄答辩，核磁谱都被老师问了这个问题，有没有做弛豫校正，究竟什么是弛豫校正？

(1)离峰校正法：是一种经典的校正方法，主要用于简单光谱背景干扰情况和简单元素谱线干扰的校正，常用的有离峰单点，两点，多点等校正方法。当波长漂移比较大、背景分布不均匀时，测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致，此时采用离峰校正法将会引起比较大的误差，因此如果存在上述情况，建议不应使用此法校正。由于背景的存在，使分拆线信号测量值产生正的偏离，对于发射法而言，设Ix为分析线发射强度，Ib为背景发射强度，则谱线的表观强度(Ix+b)为 Ix+b＝Ix+Ib （1）或 Ix＝Ix+b-Ib（注意我们用ICP分析时就用Ix做标准曲线的）一般用谱线与背景的强度比的对数表示： Log(Ix/Ib)=Log[(Ix+b/Ib)-1] （2）可见，只要测出Ix+b／Ib并减去1，然后取对数即可得到Log(Ix/Ib)。由于Ib是不随分析物浓度变化的常数，故Log(Ix/Ib)一般可以代替IogIx使用。无论光电法或摄谱法，背景强度Ib均在离峰位置(Ix+b为峰值位置表观强度)进行测量。对于光电法，离峰位置可由置于光路中的往复振荡的石英折射板来控制(现代商业仪器多采用计算机控制)。而对于摄谱法，背景强度Ib系通过照相参量Pb来度量，离峰位置视背景轮廓而定，对于均匀背景，背景值可选谱线任一边的数值来提供，而对于不均匀的背景轮廓，则应预先了解背景分布情况，而后确定测量位置并以谱线两边背景平均值作为背景值加以扣除，式(2)中Ix+b/Ib值可以方便的由乳剂校正曲线读出的Log（Ix+b/Ib）得到。

声级计俗称为噪声计是噪声测量中最基本的仪器。声级计一般由电容式传声器、前置放大器、衰减器、放大器、频率计权网络以及有效值指示表头等组成。声级计的工作原理是：由传声器将声音转换成电信号，再由前置放大器变换阻抗，使传声器与衰减器匹配。放大器将输出信号加到计权网络，对信号进行频率计权(或外接滤波器)，然后再经衰减器及放大器将信号放大到一定的幅值，送到有效值检波器(或外按电平记录仪)，在指示表头上给出噪声声级的数值。 声级计中的频率计权网络有A、B、C三种标准计权网络。A网络是模拟人耳对等响曲线中40方纯音的响应，它的曲线形状与340方的等响曲线相反，从而使电信号的中、低频段有较大的衰减。B网络是模拟人耳对70方纯音的响应，它使电信号的低频段有一定的衰减。C网络是模拟人耳对100方纯音的响应，在整个声频范围内有近乎平直的响应。 声级计经过频率计权网络测得的声压级称为声级，根据所使用的计权网不同，分别称为A声级、B声级和C声级，单位记作dB(A)、dB(B)和dB(C)。 目前，测量噪声用的声级计，表头响应按灵敏度可分为四种： (1)“慢"。表头时间常数为1000 ms，—般用于测量稳态噪声，测 得的数值为有效值。 (2)"快"。表头时间常数为125ms，一般用于测量波动较大的不稳态噪声和交通运输噪声等。快档接近人耳对声音的反应。 (3)“脉冲或脉冲保持"。表针上升时间为35ms，用于测量持续时间较长的脉冲噪声，如冲床、按锤等，测得的数值为最大有效值。 (4)“峰值保持"。表针上升时间小于20ms．用于测量持续时间很短的脉冲声，如枪、炮和爆炸声，测得的数值是峰值．即最大值。测距仪测高仪激光投线仪流量计GPS测厚仪水准仪平板仪波形记录仪测试夹具电压电流记录器资料集录器图形记录仪流量积算仪表 声级计可以外接滤波器和记录仪，对噪声做频谱分析。国产的ND2型精密声级计内装了一个倍频页程滤波器，便于携带到现场和作频谱分析。过程校准仪温度校准仪压力校准仪回路校准仪校正缓冲液钳表校正器示波器校准器噪音计校正器电流校正器多功能校正器湿度校正仪ph校正器 声级计按精度可分为精密声级计和普通声级计。精密声级计的测量误差约为土1dB，普通声级计约为土3dB。声级计按用途可分为两类：一类用于测量稳态噪声，一类则用于测量不稳态噪声和脉冲噪声。 积分式声级计是用来测量一段时间内不稳态噪声的等效声级的。噪声剂量计也是一种积分式声级计，主要用来测量噪声暴露量。 脉冲式声级计是用于测量脉冲噪声的，这种声级计符合人耳对脉冲声的响应及人耳对脉冲声反应的平均时间。

按照环境标准HJ 776-2015，每半年至少要做一次仪器谱线校对，以及元素间干扰校正系数的测定，我们现在用的是PE的ICP，请问要怎样开展？

1 容量瓶的校正1.1 将待校正的清洁、干燥的容量瓶恒重，称重。1.2 测量纯化水的温度（可将纯化水置仪器室1小时以上，仪器室室温即为纯化水的温度）将纯化水注入容量瓶标线处，称重。1.3 根据纯化水的温度，查出该温度下水的密度，计算该温度下该容量瓶标示刻度体积的水的质量，并称重，视水液的弯月面是否与刻度吻合。1.4 校正刻线：若与刻度不符合，可用纸条与水液的弯月面成切线贴成圆圈，然后倒去内容水，在纸圈上，下涂以石腊薄层，再沿纸圈用别针刻一圆圈，涂上氢氟酸，几分钟后洗去过量的氢氟酸，并除去石腊及纸圈，即见容量瓶上的新刻度。1.5 重复1.1和1.2步骤，取平均值计算容量瓶体积，算出允差，并填附表A。2 移液管，刻度吸管的校正。2.1 在洁净的移液管或刻度吸管内吸入已测过温度的纯化水，并使水弯月面恰好在刻线处。2.2 将水放入预先恒重并称好重量的具塞小锥形瓶中，称量，计算，可得水的重量。（应测2次，得放出水的平均重量）。2.3 根据水的温度查水的密度表（见附表B），计算，可得移液管或刻度吸管的体积。2.4 将结果记录在附录A表中。3 滴定管容积的校正3.1 在洗净的滴定管内注入纯化水，使弯月面最低处与刻度零位相切。3.2 由滴定管中放水到已恒重并称重的具塞锥形瓶中，密塞，称重。3.3重复3.1和3.2操作,取平均值。3.4根据水的温度查水的质量及该温度下水的密度表（见附录B），计算，可计算出滴定管该部分管柱的体积。3.5将结果记录在附录A表中。

前一阵时间，设备分析高锰钢样品，Mn元素值漂移很大，控样校正后激发标样也是如此，而其他元素很稳定，为此做了很多工作，有清理发光台，描迹，完全标准化，室温保持恒定，使用高纯氩气等各种办法都试过了，问题还是依旧。没办法，也不能耽误生产，只能比对标钢来增减Mn进行修正后发数。在激发完一批样品后不放心发的数，于是就又重新完全标准化和控样校正高锰钢标样，奇迹出现了，Mn元素也不出现漂移现象了。重复几天验证亦是如此，为何在激发完十几次后重新校正就正常了呢？考虑到高锰钢样品对氩气要求较高，是不是问题出在氩气上边。 在清理完激发台后，激发台里布满空气，此时就进行控样校正的话，激发台内的空气没有被完全排干净，影响了高Mn元素，此时Mn的校正就不准确，更不用说分析过程中的Mn元素了。在激发完十几次后，通过氩气冲洗，把激发台和气路中的空气完全排尽再校正及恢复正常。 通过此次事件，得出总结：1、不要在清理完激发台后马上进行标准化、控样校正，要预先激发十来个废样品通通气，完全排尽发光台内部的空气后再进行校正。2、平时分析完成后，应该在激发孔上放置一个压块，尽量避免空气进入发光台中。3、设备在静止状态时的氩气流量也是有用的，目的是使得发光台内保持一个良好的氩气氛围。所以不能把这个流量调整为小于大气压，否则空气会大量进入气路和激发台，而你不得不做很多次激发，来用氩气冲洗发光台。

[size=3][font=宋体]我接触过的[/font][/size][size=3][font=Arial]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]背景校正技术有[/font][/size][size=3][font=宋体]氘灯连续光源背景校正和塞曼效应背景校正。[/font][/size][size=3][/size][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][size=3][font=宋体]、[/font][/size][size=3][font=宋体]连续光源背景校正：[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]这是现代[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]仪中应用最广泛的一种[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]AAS[/font][/size][size=3][font=宋体]仪器背景校正方法，主要应用于火焰法的背景校正，它占有相当重要地位。[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]原理：用待测元素[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]的辐射作样品光束，测量总的吸收信号，用连续光源（多用是氘灯）的辐射作参比光束，在同一波长下测量吸收值。对连续背景，它对[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]和连续光源辐射有相同的吸收，待测原子对连续光源也有吸收，但由于元素分析线很窄，不到通带宽度的[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]1%[/font][/size][size=3][font=宋体]，故可以忽略，连续光源所测值可视为纯背景吸收，光辐射交替通过原子化器，两次所测吸光值相减使背景得到校正。[/font][/size][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][size=3][font=宋体]在实际使用时，要求精心调配使氘灯连续光源和[/font][/size][size=3][font=Times New Roman]HCL[/font][/size][size=3][font=宋体]锐线光源强度匹配，并尽可能使光斑重合一致。[/font][/size][size=3][font=宋体][/font][/size][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]由于氘灯[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]在长波范围（大于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]350.0nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）内能量较低，要与碘钨灯配合适用。该法应用波段有限制，有时还产生背景校正过度或不足。如果共存物的原子对通过单色器的连续辐射产生吸收，会出现补偿过度现象。连续光源背景校对[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]火焰法[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]较好，对石墨炉效应不佳。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]塞曼效应背景校正：[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]主要运用于石墨炉的背景校正。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]原理：吸收线在磁场作用下，产生分裂成平行磁场[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]π[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]组分和垂直于磁场[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]α[sup]+[/sup]、α[sup]-[/sup]组分。偏振组分α[sup]+[/sup]、α[sup]-[/sup]有中心波长位移，若频移足够大时，不为待测物所吸收，测量的只是背景吸收，若恒定磁场调制方式，π组分和背景吸收所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总吸收值。若是交变磁场调制方式，当磁场关闭时，吸收相不发生分裂。所测吸光值为[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]于背景吸收的总值。将两种测定值相减（即[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]与背景吸收总值减去背景吸收值）可以使背景得到校正。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]缺陷：恒定磁场往往塞曼效应谱线分裂不完整，而降低测量的准确性 。 同时仪器灵敏度往往低于正常AAS的一半。永久磁长期使用会退磁。若采用旋转偏振器，会出现某种程度不平衡，使背景校正能力下降，由于上述缺陷，仪器公司采用横向交流交变磁场吸收线调制法。但如果交变磁场强度不够，工作曲线出现反转。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]进展：有公司开发纵向交流交变磁场，省略可偏振元件，使分析动态范围大大拓宽。从仪器使用考虑，选择应用横向交流塞曼效应较好，这种系统具有最佳双光束性能，背景校正能力高而准确，线性和灵敏度于常规AAS相类似，检出限比连续光源背景校正器好。分析（工作）曲线反转问题较少。能全波段背景校正。近来有仪器公司推出了3-磁场塞曼效应背景校正技术，该模式除高磁和零磁场之外，还有第三个中间磁场强度，可根据被测浓度要求，通过软件选择最佳中间磁场强度可使动态范围扩展10倍。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]综上所述，我们是否可以归纳为：氘灯连续光源背景校正是相对扣背景，塞曼效应背景校正是绝对扣背景？换言之，氘灯扣背景是在同一波长下扣的，氘灯是连续光源，元素灯是锐线单波长光源；塞曼扣背景是将光裂分为两个方向，一个方向是元素光，另一个方向是背景光。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]假如果真塞曼扣背景是完全扣除，那么我们是否可以不必理会背景峰形是怎么样的，不管背景峰是正峰还是倒峰，只要保证同支溶液两次检测时其背景扣除大致一样就行？[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体][/font][/size][/color][size=3][font=Times New Roman] 请版友们各发已见，谢谢！[/font][/size]

石墨炉的优点是：试样原子化效率高，不被稀释，原子在吸收区域平均停留时间长，灵敏度比火焰法高。石墨炉加热后，由于有大量碳存在，还原气氛强；石墨炉的温度可调，如有低温蒸发干扰元素，可以在原子化温度前分馏除去。样品用量少，并且可以直接固体进样。原子化温度可以自由调节，因此可以根据元素的原子化温度不同，选择控制温度。石墨炉的缺点是：装置复杂。样品基体蒸发时，可能造成较大的分子吸收，石墨管本身的氧化也会产生分子吸收，石墨管等固体粒子还会使光散射，背景吸收大，要使用背景校正器校正。管壁能辐射较强的连续光，噪声大。因为石墨管本身的温度不均匀，所以要严格控制加入样品的位置，否则测定重现性不好，精度差。

在日常的分析中，我们发现好多测试人员只会测试，根本不会校正仪器？大家可以讨论讨论小仪器如何校正，比如pH计和电导率仪等仪器设备。

最近在做计量认证，可很多仪器都需要标样校正，而说的都是标样自备，想问下各仪器的校正标样是什么？最想了解的是XRF和GPC！如果很全的话就更好了！xian谢谢！

好久没来，大家好。我的仪器是varian的ICP-OES，是全谱直读的，前几天作波长校正，喷5ppm的Mn标样后仪器自动校正，这个校正结果应该有什么指标反应的吧。如：什么范围之内就是合格或是不合格，可仪器上没什么直接的表现，就是校正完毕。不知大家是怎么做的。[em27]