系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率: =5ps寿命衰减测量时间范围:=50ps—100us 高系统光谱分辨率: 0.1nm宽单次成谱范围: =200nm静态(稳态)光谱采集,瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光,分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上,激发出的光电子通过阳极加速,入射到偏转场中的电极间,此时电压加在偏转电极上,光电子被电场偏转,激射荧光屏,以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大,并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比,因此,通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来,也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等,图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱,荧光寿命,半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱,时间分辨拉曼光谱测量光通讯,量子器件的响应测量自由电子激光,超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射,激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率(1200l/mm)0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合,配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口,标准荧光样品室,镜头收集耦合,共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试,也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统,以及低温制冷室,飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围:200-900nm(可拓展)最小时间分辨率:16ps荧光寿命测量范围:500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源: 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选,或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率:≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式:1:点泵浦-宽场探测:测量载流子迁移和热导率等;2:宽场泵浦-宽场探测:测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器:sCMOS相机成像空间分辨率:优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围:0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜,可兼容低温,探针台,电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线
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