激光粒度测量仪

利用安东帕激光粒度仪PSA的激光衍射技术，您可以测定从纳米到毫米范围的悬浮液和固体粉末的粒径和粒径分布。物质粒度和粒度分布的知识对产品开发和质量控制至关重要，因为这两个参数对加工性能和最终产品的性能都有影响。安东帕的这个系列有着五十多年的宝贵经验。1967 年，世界首款激光衍射粒度分析仪 – 第一台 PSA – 研发完成。关键功能紧凑的二合一设计，干法和湿法样品均可测量安东帕激光粒度仪PSA是仅有的可以在一台仪器中全面集成湿法和干法分散模式的激光粒度分析仪。样品分散和测量均在一台仪器内部完成。这一独特设计使操作人员无需操作多个附件，更换硬件或进行手动调整。只需轻点鼠标，即可在湿法和干法分散模式之间切换，既节省了时间又避免了操作错误。 多激光技术适用于宽泛的测量范围多激光技术提供广阔的粒径范围的测量。单激光器 PSA 990 的测量范围涵盖 0.2 µ m 至 500 µ m。为扩大测量范围，PSA 1090 和 PSA 1190 采用独特的衍射分析光学设计，包含多个激光器。PSA 1090 设计采用双激光器处理小至 40 纳米的颗粒，PSA 1190 则添加了第三个激光器，整个测量范围扩展到 2.5 毫米。使用固态激光器确保 PSA 系列的仪器在开机后立即准备测量，几乎不需要预热时间。固体粉末准确的粒度分布结果由于固体粉末容易结块而导致测量结果错误，所以通常很难测量固体粉末的粒度分布。干法分散技术 (DJD) 是安东帕的专利技术 (FR2933314)，可有效分散且精确测量粉体颗粒。该创新设计采用一个空气压力调节器，可以根据样品特性快速轻松地调节气流。空气流所产生的剪切力将团聚的颗粒分离开来，确保检测到主要颗粒能被检测到。 终身保证精度、可重复性和稳定性安东帕激光粒度仪PSA完全符合 ISO 13320 标准，可以获得可追溯、准确和可重复测量结果的需求。激光器和光学试验台的独特设计确立了再现性高于 1 % 的市场标准。此外，独特的光学试验台设计使所有光学部件永久安装在铸铁底座上。这确保了无调整操作，使 PSA 不仅是研发环境的理想仪器，也是极端环境的理想仪器。因此，仪器的整个使用期限内可保证精度、可再现性和稳定性。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　 　岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-3101，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测定，并且分辨率高、精度高、重复性好。　 　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围：0.05~3000um　　测定模式：湿式或干式 特点（湿式循环型）：主机（测量部） 使用单一光学系统无断点覆盖0.05-3000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.05-3000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。 力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。可测量密度不同的粒子混合物由于是通过粒子产生的衍射散射光的光强度分布模式求得粒度分布，因此与粒子或溶液的密度及溶液的粘性系数无直接关系。所以密度不同的粒子混合的样品也可以测量。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。内置强劲的竖状泵进样器装载了5000 cm3/min的强劲的竖状泵，保证从数百微米到数毫米的粗大粒子／高密度粒子也能够很好的循环。 这是测量范围上限可达3000&mu m（3mm）的主要技术支持。优越的耐溶剂性流路材质使用四氟化乙烯、SUS304、SUS316、石英，因而具有优越的耐溶剂性。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时，粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算，SALD-3101的标准配置中，有378种折射率（实数部和虚数部）可以选择。另外，利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据，改变折射率，可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。

产品信息　　粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一，它不仅左右着粉体本身的性质和活动，而且也影响着以粉体为原料的制品的质量，是一个重要的物理性质。因此，在处理粉体时，粒度分布的测量就变得极其重要。　　岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-2201，可以在短时间内，通过简单的操作完成粒度分布的测量，且分辨率高、精度高、重复性好。　　另外，通过安装在Windows操作系统下的软件，可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。　　测定范围： 0.03~1000um　　测定模式： 湿式或干式 特点（湿式循环型）：主机（测量部） 使用单一光学系统无断点覆盖0.03-1000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.03-1000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内，不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配，实现完全无断点的宽广范围。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置：OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统，使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器（Wing传感器）外，附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式，从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座，方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路，实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策：测量室打开时，快门自动关闭及手动关闭激光光束。 多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵，因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的ＣＰＵ。因此，通过电脑连接控制，可进行半自动测量。 软件 具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理，时间系统处理，三维显示等多种数据处理功能，操作简便。应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指，应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据，先进行大致的粒度分布范围判断，再根据所得范围选择最适合的计算条件，进行精密的粒度分布计算。这样，即使事前无任何样品相关信息，也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时，粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算，SALD-2101的标准配置中，有378种折射率（实数部和虚数部）可以选择。另外，利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据，改变折射率，可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况，使维护变得容易。装备操作日志（Operation Log）功能操作日志（Operation Log）功能，使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息，因此可以向前追溯，验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示，但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。