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激光雷达测量仪

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  • 【分享】激光雷达/激光探测及测距系统

    【分享】激光雷达/激光探测及测距系统

    激光雷达可以按照所用激光器、探测技术及雷达功能等来分类。目前激光雷达中使用的激光器有二氧化碳激光器,Er:YAG激光器,Nd:YAG激光器,喇曼频移Nd:YAG激光器、GaAiAs半导体激光器、氦-氖激光器和倍频Nd:YAG激光器等。其中掺铒YAG激光波长为2微米左右,而GaAiAs激光波长则在0.8-0.904微米之间。根据探测技术的不同,激光雷达可以分为直接探测型和相干探测型两种。其中直接探测型激光雷达采用脉冲振幅调制技术(AM),且不需要干涉仪。相干探测型激光雷达可用外差干涉,零拍干涉或失调零拍干涉,相应的调谐技术分别为脉冲振幅调制,脉冲频率调制(FM)或混合调制。按照不同功能,激光雷达可分为跟踪雷达,运动目标指示雷达,流速测量雷达,风剪切探测雷达,目标识别雷达,成像雷达及振动传感雷达。激光雷达最基本的工作原理与无线电雷达没有区别,即由雷达发射系统发送一个信号,经目标反射后被接收系统收集,通过测量反射光的运行时间而确定目标的距离。至于目标的径向速度,可以由反射光的多普勒频移来确定,也可以测量两个或多个距离,并计算其变化率而求得速度,这是、也是直接探测型雷达的基本工作原理。由此可以看出,直接探测型激光雷达的基本结构与激光测距机颇为相近。相干探测型激光雷达又有单稳与双稳之分,在所谓单稳系统中,发送与接收信号共同在所谓单稳态系统中,发送与接收信号共用一个光学孔径。并由发射/接收(T/R)开头隔离。T/R开关将发射信号送往输出望远镜和发射扫描系统进行发射,信号经目标反射后进入光学扫描系统和望远镜,这时,它们起光学接收的作用。T/R开关将接收到的辐射送入光学混频器,所得拍频信号由成像系统聚焦到光敏探测器,后者将光信号变成电信号,并由高通滤波器将来自背景源的低频成分及本机振荡器所诱导的直流信号统统滤除。最后高频成分中所包含的测量信息由信号和数据处理系统检出。双稳系统的区别在于包含两套望远镜和光学扫描部件,T/R开关自然不再需要,其余部分与单稳系统的相同。美国国防部最初对激光雷达的兴趣与对微波雷达的相似,即侧重于对目标的监视、捕获、跟踪、毁伤评(SATKA)和导航。然而,由于微波雷达足以完成大部分毁伤评估和导航任务,因而导致军用激光雷达计划集中于前者不能很好完成的少量任务上,例如高精度毁伤评估,极精确的导航修正及高分辨率成像。较早出现的一种激光雷达称为“火池”,它是由美国麻省理工学院的林肯实验室投资,于60年代末研制的。70年代初,林肯实验室演示了火池雷达精确跟踪卫星,获得多普勒影像的能力。80年代进行的实验证明,这种CO2激光雷达可以穿透某些烟雾,识破伪装,远距离捕获空中目标和探测化学战剂。发展到80年代末的火池激光雷达,采用一台高稳定CO2激光振荡器作为信号源,经一台窄带CO2激光放大器放大,其频率则由单边带调制器调制。另有工作于蓝-绿波段的中功率氩离子激光与上述雷达波束复合,用于对目标进行角度跟踪,而雷达波束的功能则是收集距离――多普勒影像,实时处理并加以显示。两束波均由一个孔径为1.2M的望远镜发射并接收。据报道,美国战略防御局和麻省理工学院的研究人员于1990年3月用上述装置对一枚从弗吉尼亚大西洋海岸发射的探空火箭进行了跟踪实验。在二级点火后6分钟,火箭进入亚轨道,即爬升阶段,并抛出其有效负载,即一个形状和大小均类似于弹道导弹再入飞行器的可充气气球。该气球有气体推进器以提供与再入飞行器和诱饵的物理结构相一致的动力学特性。目标最初由L波段跟踪雷达和X波段成像雷达进行跟踪。并将这些雷达传感器取得的数据交给火池激光雷达,后者成功地获得了距离约800千米处目标的像。[~116966~][~116967~][~116968~][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191651_624049_1602049_3.jpg[/img]

  • 激光雷达,求解

    各位好! 很想了解激光雷达方面的知识,一直想知道激光雷达上使用的激光器到底事哪一款,有大神知道吗???

  • MILS-F31迷你型激光雷达

    MILS-F31迷你型激光雷达

    MILS-F31迷你型激光雷达采用时间飞行(TOF)测距原理,结合了光学、电学机械运动学等多学科领域前沿技术,MILS-F31能够实现270°视场角、8米范围内的±3cm的准确测量。MILS-F31是一款工业级别的扫描式迷你型激光雷达,内嵌成熟的避障算法,支持16个区域组的避障设置,可广泛应用于AGV、机器人的避障场合。激光防护等级1级,人眼安全 大视场、准确测量、避障区域可灵活设置 准确温控设计,工作温度范围- 25℃~ + 50℃ 抗强光,性光路设计、多级滤光处理 体积小巧,易装配,适用于多种AGV机型。[img=,690,460]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306140951318838_9210_5922841_3.jpg!w690x460.jpg[/img]

  • 国产厂商速腾聚创登陆港交所,成为全球最高市值激光雷达企业

    近日,国产激光雷达企业速腾聚创科技有限公司(以下简称“速腾聚创”)在香港联交所主板挂牌上市,成为港股激光雷达第一股,2024年中国传感器产业第一股。本次IPO最终发售价定为每股43.00港元 ,全球发售2290.98万股股份,募资总额为9.85 亿港元,速腾聚创上市后股票很快破发,截至当日收盘,公司市值193.2亿港元,成为全球市值最高的激光雷达企业。速腾聚创是激光雷达及感知解决方案市场的全球领导者,通过芯片、激光雷达平台与感知算法三大核心技术闭环,为市场提供具有信息理解能力的智能激光雷达系统,颠覆传统激光雷达硬件纯信息收集的定义。据介绍,速腾聚创是全球最早实现车规级固态激光雷达量产的激光雷达公司,也是全球首家开启车规级激光雷达项目量产交付的激光雷达公司。截至2023年3月31日,与全球其他激光雷达公司相比,速腾聚创服务的汽车整车厂和一级供应商数量最多、拥有前装量产定点车型最多及实现SOP车型最多。截至2023年12月18日,速腾聚创已取得21家汽车整车厂及一级供应商的超60款车型的量产定点订单,其中帮助24款车型实现SOP。出货量方面,截至2023年10月31日止,前十个月,速腾聚创的激光雷达产品及用于 ADAS应用的激光雷达产品的销量分别为约136,000台及约121,700台,较2022年同期的约40,700 台及24,400台分别大幅增加,并且超过2020~2022年前三年出货量总和。此外,10月份单月激光雷达销量近30000台,创单月销量历史记录。2024年,速腾聚创激光雷达的预计交付量或将超过100万颗,其中速腾聚创激光雷达产品更是供货问界M7/M5、小鹏G9/X9、极氪007、比亚迪仰望U8等众多明星车型。[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

  • 激光雷达市场前景可期!到2024年市场价值将达到22.73亿美元

    激光雷达市场前景可期!到2024年市场价值将达到22.73亿美元

    [font=宋体][size=14.0000pt]随着人工智能的发展,汽车、机器人和其他机器正在变得越来越智能,归功于一些可以帮助智能机器更加自主地工作和导航的技术发展[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]来看[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]激光雷达([/font]LiDAR)就是自动驾驶变革的关键技术之一[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]。[/size][/font][align=center][img=,500,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/11/201911251522201402_1665_3430007_3.png!w500x333.jpg[/img][/align][font=宋体][size=14pt]LiDAR(激光雷达解决方案)技术采用了先进的计算机视觉和雷达传感器技术,是自动驾驶汽车在行驶过程中避免碰撞和安全行驶的重要组成部分之一。在此之前,该技术仅仅是光成像测距和检测的缩写。但是现在它已经成为下一代汽车技术的代名词了。主要通过向目标物体发射激光束和接收从目标对象上反射回来的激光束来测算目标的位置、速度等特征量,感知车辆周围环境,并形成精度高达厘米级的 3D 环境地图,为下一步的车辆操控建立决策依据。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]近几年[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]智能驾驶产业的繁荣变得炙手可热,有关激光雷达话题的讨论也空前热烈。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]同时[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]越来越多的汽车制造商和半导体厂商涉足智能驾驶和自动驾驶这一领域[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt],接下来工采网小编和大家一起了解一下激光雷达市场发展如何?[/size][/font][font=宋体][size=14pt][font=宋体]近日,[/font]MarketsandMarkets™ 发布了最新的2024年激光雷达市场的全球预测研究报告,报告指出,激光雷达市场规模预计将从2019年的8.44亿美元增长到2024年的22.73亿美元,2019年-2024年的复合年增长率为18.5%。[/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]据悉,该报告按照激光雷达的类型(机械、固态)、安装类型、服务(航测、地理信息系统服务)、应用(走廊测绘、环境、工程、[/font]ADAS和无人驾驶汽车)、组件、范围和地理等角度,对激光激光雷达市场进行了全面预测。 [/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt]具体分析如下:[/size][/font][b][font=宋体][size=14pt]按照类型区分[/size][/font][/b][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体],固体激光雷达预计在[/font]2019年至2024年之间达到更高的复合年增长率。固态激光雷达市场的高复合年增长率归因于激光雷达在汽车和机器人行业的应用范围不断扩大。传统的激光雷达系统依赖于机械运动零件,这些零件必须精确才能获得自主导航所需的精确测量值。固态激光雷达完全建立在硅芯片上,它没有任何运动部件,这使其对振动的抵抗力更强、尺寸更小,从而降低了生产成本并实现了大批量制造。固态设计是在没有电动机械扫描的情况下构建的,预计有望将其用于量产的汽车激光雷达解决方案,也有望应用于自主机器人、无人机和汽车。[/size][/font][b][font=宋体][size=14pt]按照安装类型区分[/size][/font][/b][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体],地面激光雷达预计在[/font]2019年至2024年之间达到更高的复合年增长率。地面激光雷达系统可以是固定的,也可以是移动的。它们借助三脚架和平衡组件放置在移动平台上,例如运动型多功能车(SUV)或全地形车(ATV),地面激光雷达系统比机载激光雷达系统便宜。汽车领域正在成为移动式地面激光雷达系统的一个应用领域,配备先进驾驶辅助系统(ADAS)的高档车数量每年都在增加,预计这将进一步推动移动式地面激光雷达系统的市场。[/size][/font][b][font=宋体][size=14pt]按照范围区分[/size][/font][/b][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体],中程激光雷达预计将在[/font]2019年至2024年实现最高复合年增长率。中程激光雷达用于探测200-500米范围内的物体。该激光雷达用于工程、测绘、环境和勘探应用。使用中程激光雷达时,精度和成本效益是首要问题。这些激光雷达传感器用于提供2D和3D实时数据,以便轻松识别200-500m范围内的物体。在工程和建筑应用中使用中程激光雷达的推动下,预计中程激光雷达的市场将以最快速度增长。[/size][/font][b][font=宋体][size=14pt]按区域划分[/size][/font][/b][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体],在整个预测期内,亚太[/font]LiDAR市场预计将以最高复合年增长率增长。亚太地区的激光雷达市场预计将在预测期内以最高复合年增长率增长。这一市场的增长可归因于基础设施建设的增加、对森林管理的日益重视以及该地区采矿活动的增长导致的测绘业务的增加。随着机载和地面激光雷达系统应用的不断增加,以及该地区测绘活动的日益增多,预计将推动亚太地区对激光雷达的需求。 [/size][/font][font=宋体][size=14.0000pt][font=宋体]总体上来说,激光雷达系统在无人机、工程和建筑应用中的采用率将越来越高;激光雷达在地理信息系统([/font]GIS)应用中的使用越来越多;4D激光雷达的出现是推动激光雷达市场增长的主要因素。汽车巨头对激光雷达初创公司的投资增加;随着固态、MEMS、闪存激光雷达和其他激光雷达技术的采用,带来了技术转移;利用传感器融合开发更好的地理空间解决方案,为激光雷达市场带来了增长机会。 [/size][/font]

  • 【新品】禾赛重磅发布“性能王牌”AT512,重新定义激光雷达行业标杆

    [color=#000000]1月9日,禾赛科技正式发布面向搭载智能驾驶系统量产车市场的“性能王牌”产品—— [b]512 线超高清超远距激光雷达 AT51[/b]2。作为禾赛 AT 系列的“综合性能巅峰之作”,AT512 展现了激光雷达技术的突破性进展,主要面向对性能、可靠性、安全性有极高要求的高端智能驾驶量产车型。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/fd4fc976-d78f-4c3c-9452-1cb74cc6a92f.jpg[/img][/align][color=#000000]AT512 搭载禾赛最新的[b]第四代自研芯片[/b],通过引入 3D 堆叠、光噪抑制等前沿技术,以极致的光学收发效率、顶尖的垂直整合能力,在体积不变的情况下实现了性能全面升级,参数拉满。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/33f29afb-d9a0-4466-a7e5-44881c63441c.jpg[/img][/align][size=18px][b][color=#000000]测距能力翻倍[/color][/b][/size][size=18px][b][color=#000000]多项参数超越市场同类[/color][/b][/size][color=#000000]作为高阶智能驾驶必备传感器之一,激光雷达凭借抗干扰、真三维、高置信度等优势,已逐渐成为智能车型的标配。激光雷达拥有更远距离的测距能力,意味着智能汽车能够在更远处发现潜在危机,为系统决策提供更多的反应时间,从而极大地提高行车安全性及舒适性。[/color][color=#000000]AT512 可实现 300 米标准测远(@10% 反射率),相比 AT128 提升了 50%。[b]最远测距达到 400 米,是市场同类远距激光雷达的 2 倍[/b]。无论是 400 米的车辆还是行人都能敏锐捕捉,极大提升了车辆对周围环境的感知能力,让车辆[b]至少提前一倍距离发现目标[/b],为系统安全决策[b]增加了 40% 以上的反应时间[/b],最大程度守护智驾安全。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d7c7058b-edf5-440d-b554-5c83d77d6fa2.jpg[/img][/align][align=right][color=#7f7f7f]400 米外分辨率对比[/color][/align][size=18px][b][color=#000000]搭载最新第四代自研芯片[/color][/b][/size][size=18px][b][color=#000000]1230万点频[/color][/b][/size][size=18px][b][color=#000000]实现超高清三维感知[/color][/b][/size][color=#000000]禾赛的前三代自研激光雷达芯片均已实现成功量产并且大规模交付。基于多款自研芯片的成功经验,禾赛最新的第四代自研芯片集成度再上一个台阶,能够实现每秒最高处理点数[b]超过 1 亿个点的超高性能[/b]。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/6768e9f7-e969-4cfc-b6de-242d99da0882.jpg[/img][/align][color=#000000]得益于禾赛第四代芯片大幅提升的集成度,AT512 以[b]每秒约 1230 万的超高点频[/b]为汽车提供图像级超清晰三维感知,拥有[b]全局均匀的 0.05° x 0.05° 角分辨率[/b],[b]点云密度是 AT128 的 8 倍[/b],同时也达到市场上其他同类远距产品的[b] 10 倍以上[/b]。可以说,无论是测远还是分辨率,AT512 均可视为当前市场 ADAS 远距激光雷达综合性能的巅峰之作。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/d0b4b42d-d151-423d-9b91-c5d9fb7ce52b.jpg[/img][/align][align=right][color=#7f7f7f]AT512 点云展示,10Hz,单帧效果[/color][/align][size=18px][b][color=#000000]AT系列平台化架构产品[/color][/b][/size][size=18px][b][color=#000000]可靠性与量产交付能力保证[/color][/b][/size][color=#000000]作为 ADAS 远距主雷达,禾赛 AT 系列采用高度集成化的芯片收发模块、稳定可靠的一维扫描,兼具性能、成本和可靠性,且点云模式均匀规整,有利于感知算法的适配。AT512 沿用 AT 系列成熟的平台化架构设计,可靠性和量产制造性均已成功经过市场验证,与 AT128 统一的点云模式和更小的高度尺寸,让汽车硬件切换升级更加高效。[/color][color=#000000]目前,AT 系列已经获得了包括上汽、一汽在内的 15 家领先主机厂和 Tier-1 客户超 50 多个车型的前装量产项目定点。自成立以来,禾赛激光雷达[b]累计交付量突破 30 万台[/b],[b]是全球首个创下此里程碑的车载激光雷达公司[/b],并在去年 12 月实现[/color][b][color=#000000]单月交付量突破 [/color][color=#000000]5 [/color][color=#000000]万台 [/color][/b][color=#000000],再次刷新行业单月交付记录。禾赛激光雷达已经在 10 万台+的量级上,成功经历了超过一年时间的用户实际使用质量验证,面对严寒、酷暑、震动、灰尘、雨雪等严苛工况,禾赛激光雷达始终保持着出色的性能表现和稳定性,赢得客户的青睐与信任。[/color][color=#000000]AT512 的发布重新定义了激光雷达行业性能标杆,参数拉满下的卓越性能将为高端智能驾驶量产车型提供超高清、超远距的三维感知能力,助力带来更安全舒适的智能驾驶体验。作为激光雷达技术突破性进展的体现,AT512 再次印证了禾赛在自研技术方面的全球领先地位。凭借前沿的研发技术和卓越的创新能力,禾赛将引领车载激光雷达行业迈向新高度。[/color][来源:禾赛科技][align=right][/align]

  • 【资料】工业应用中的三维几何测量仪器

    机床是制造业的母机,数控机床是机床产品的先进技术体现,特别是高档数控技术是装备制造业现代化的核心技术,是国家工业发展水平、综合国力的直接体现,此次展会汇集了当今世界机床发展和先进制造技术的最新成果,全面展示了我国数控机床产业近几年来高速发展的最新产品和技术。作为数控技术的重要环节——测量设备,在这次展会上展出了一批新技术、新产品,体现了当今测试计量技术发展动向和特点。 测量精度高  随着现代科技向高精度方向发展,机床作为装备工业的基础发展更应超前,而测量设备更由传统的微米、亚微米精度向着纳米量级精度方向发展。随着超精密加工技术的需要,数控精度愈来愈高,对测量设备的精度要求更高,这次展会展示了一批纳米量级的测量设备,除各种激光干涉仪外,光栅测量技术也达到纳米量级。如海德汉的LIP382超高精度直线光栅尺,其测量步距可以达到1nm。基于测量技术的发展,纳米量级的机床成为现实,如上海机床厂展出的纳米级精密微型数控磨床成为展会的一个亮点。测量速度高  现代制造业进行的是大规模、大批量、专业化生产,需要多参数、实时在线测量,故要求测试仪器的测量速度高、设备轻便、操作界面直观。如激光干涉测量技术作为精密测量的一种重要方法,各种激光干涉测量系统向着轻巧、便携、高测速的方向发展。雷尼绍XL-80干涉仪款型小巧,可提供4m/s最大的测量速度和50kHz记录速率,可实现1nm的分辨率;激光跟踪仪可实现快速数据采集与处理,有利于测量精度的提高。各种影像测量设备利用触摸屏可以方便直观地实现特征尺寸的测量。三维测量多样化  三维测量技术向着高精度、轻型化、现场化的方向发展。传统基于直角坐标的三坐标测量机经过50年的发展,其技术愈加成熟,测量更加快捷,功能更加强大。这次参展的国内外数十家坐标测量机生产厂商,各具特色,特别是国内很多厂家推出实用廉价的各种三坐标测量机,说明三坐标测量技术在我国已经走向全面实用化、特色化发展的道路。除直角坐标测量系统外,极坐标测量仪器体现出自身独特的优势,如FARO、ROMER等厂家生产的激光跟踪仪对大尺寸结构的装备现场具有方便灵活的特点。对于小尺寸测量,FARO、ROMER等生产的关节臂测量机因其低廉的成本、较高的精度、现场方便的操作等优势,在汽车等行业展现出广阔的应用前景。测量智能化  测量设备借助于计算机技术向着智能化、虚拟化的方向进一步发展。测量仪器的虚拟化、接口的标准化以及测量软件的模块化,加速了测量技术的发展,使测量仪器的应用更加方便、直观、智能。根据测量需求以及测量对象的不同,可基于同一软件平台使用不同的仪器协同工作,采用不同的测量软件模块,实现了广普测量仪器的网络化、协同化,提高了测量的自动化水平。在这次展会上,国内一些独立的测量软件公司进行了参展,对于测量设备的智能化、网络化具有推动作用。  这次展会展示了当今工业测量设备的新技术、新产品。但也同时看到,我国在测量仪器制造特别是高精度仪器制造方面缺乏自主创新的成果,一些高精度测量仪器在国内还没有相关单位能够生产。通过这次展会,对推动我国几何量测量设备的发展具有实际意义。

  • 【资料】雷达料位计的原理及应用

    一、概述料位是工业生产中的一个重要参数。料位测量的方法很多,针对不同的工况和介质可以使用不同测量原理的料位计,吹气法、静压式、浮球式、重锤式、超声波等几种常用的料位测量仪表,都有各自的特点和应用范围。雷达料位计运用先进的雷达测量技术,以其优良的性能,尤其是在槽罐中有搅拌、温度高、蒸汽大、介质腐蚀性强、易结疤等恶劣的测量条件下,显示出其卓越的性能,在工业生产中发挥着越来越重要的作用。二、原理及技术性能雷达波是一种特殊形式的电磁波,雷达料位计利用了电磁波的特殊性能来进行料位检测。电磁波的物理特性与可见光相似,传播速度相当于光速。其频率为300MHz-3000GHz。电磁波可以穿透空间蒸汽、粉尘等干扰源,遇到障碍物易于被反射,被测介质导电性越好或介电常数越大,回波信号的反射效果越好。雷达波的频率越高,发射角越小,单位面积上能量(磁通量或场强)越大,波的衰减越小,雷达料位计的测量效果越好。1.雷达料位计的基本原理雷达式料位计组成:它主要由发射和接收装置、信号处理器、天线、操作面板、显示、故障报警等几部分组成。发射-反射-接收是雷达式料位计工作的基本原理。雷达传感器的天线以波束的形式发射最小5.8GHz的雷达信号。反射回来的信号仍由天线接收,雷达脉冲信号从发射到接收的运行时间与传感器到介质表面的距离以及物位成比例。即:h= H–vt/2 式中 h为料位;H为槽高; v为雷达波速度;t为雷达波发射到接收的间隔时间;2.雷达料位计测量料位的先进技术:(1)回波处理新技术的应用从雷达料位计的测量原理可以知道,雷达料位计是通过处理雷达波从探头发射到介质表面然后返回到探头的时间来测量料位的,在反射信号中混合有许多干扰信号,所以,对真实回波的处理和对各种虚假回波的识别技术就成为雷达料位计能够准确测量的关键因素。(2)测量数据处理:由于液面波动和随机噪声等因素的影响,检测信号中必然混有大量噪声。为了提高检测的准确度,必须对检测信号进行处理,尽可能消除噪声。经过大量的实验验证,采用数据平滑方法可以达到满意的效果。此方法也可有效的克服罐内搅拌器对测量的影响。(3)雷达料位计的特点:  由于雷达料位计采用了上述先进的回波处理和数据处理技术,加上雷达波本身频率高,穿透性能好的特点,所以,雷达料位计具有比接触式料位计和同类非接触料位计更加优良的性能。①可在恶劣条件下连续准确地测量。②操作简单,调试方便。③准确安全且节省能源。④无需维修且可靠性强。⑤几乎可以测量所有介质。三、安装应注意的问题(1)当测量液态物料时,传感器的轴线和介质表面保持垂直;当测量固态物料时,由于固体介质会有一个堆角,传感器要倾斜一定的角度。(2)尽量避免在发射角内有造成假反射的装置。特别要避免在距离天线最近的1/3锥形发射区内有障碍装置(因为障碍装置越近,虚假反射信号越强)。若实在避免不了,建议用一个折射板将过强的虚假反射信号折射走。这样可以减小假回波的能量密度,使传感器较容易地将虚假信号滤出。(3)要避开进料口,以免产生虚假反射。(4)传感器不要安装在拱形罐的中心处(否则传感器收到的虚假回波会增强),也不能距离罐壁很近安装,最佳安装位置在容器半径的1/2处。(5)要避免安装在有很强涡流的地方。如:由于搅拌或很强的化学反应等,建议采用导波管或旁通管测量。(6)若传感器安装在接管上,天线必须从接管伸出来。喇叭口天线伸出接管至少10mm。棒式天线接管长度最大100或250mm。接管直径最小250mm。可以采取加大接管直径的方法,以减少由于接管产生的干扰回波。(7)关于导波管天线:导波管内壁一定要光滑,下面开口的导波管必须达到需要的最低液位,这样才能在管道中进行测量。传感器的类型牌要对准导波管开孔的轴线。若被测介电常数小于4,需在导波管末端安装反射板,或将导波管末端弯成一个弯度,将容器底的反射回波折射走。四、应用中存在的问题及解决方法有些工况下所使用的雷达料位计,因为传感器安装位置不当及条件所致,出现了一些问题,下面将对一些使用中的问题提出解决方案,供大家参考。1.探头结疤和频繁故障的解决方法第一个办法是将探头安装位置提高,但是有时候安装条件限制,不能提高的情况下,就应采用将料位测量值与该槽的泵联锁的办法,解决这一难题:将最高料位设定值减小0.5m左右,当料位达到该最高值时,即可停进料泵或开启出料泵。2.雷达料位计被淹相应的改进办法 解决这种问题的办法是将雷达料位计改为导波管式测量。仍在原开孔处安装导波管式雷达料位计,导波管高于排汽管0.2m左右, 这样一来,即使出现料浆从排汽管溢出的恶劣工况,也不会使料位计天线被料浆淹没,而且避免了搅拌器涡流的干扰及大量蒸汽从探头处冒出,减少了对探头的损害,同时由于导波管聚焦效果好,接收的雷达波信号更强,取得了很好的测量效果。使用导波管测量方式,可以改善表计测量条件,提高仪表测量性能,具有很高的推广应用价值。3.关于泡沫对测量的影响:干泡沫和湿泡沫能将雷达波反射回来,对测量无影响;中性泡沫则会吸收和扩散雷达波,因而严重影响回波的反射甚至没有回波。当介质表面为稠而厚的泡沫时,测量误差较大或无法测量,在这种工况下,雷达料位计不具有优势,这是其应用的局限性。4.对于天线结疤的处理:介电常数很小的挂料在干燥状态下对测量无影响,而介电常数很高的挂料则对测量有影响。可用压缩空气吹扫(或清水冲洗),且冷却的压缩空气可降低法兰和电器元件的温度。还可用酸性清洗液清洗碱性结疤,但在清洗期间不能进行料位测量。五、结束语雷达料位计是目前各类料位测量仪表中适用范围最广、测量最精确、维护最方便的料位测量仪表。随着其价格的进一步降低,性价比的提高,应用将会越来越广泛,在料位测量中发挥越来越重要的作用。本文对其进行系统的阐述,旨在为广大维护人员更好地使用和掌握它,希望能对大家提供一些借鉴和帮助。

  • 雷达物位计的分类及作用简介

    雷达物位计又可称为微波物位计,其工作方式是向被测目标发射微波,由目标反射的回波返回发射器被接收,与发射波进行比较,确定目标存在并计算出发射器到目标的距离。雷达物位计按工作方式可以分为非接触式和接触式两种,其中非接触式微波物位计是近年来发展最快的物位测量仪表。 非接触式微波物位计常用喇叭或杆式天线来发射与接收微波,物位计安装在料仓顶部,不与被测介质接触,微波在料仓上部空间传播与返回。非接触式微波物位计安装简单、维护量少,并且不受料仓内气体成分、粉尘、温度变化等的影响。接触式微波物位计一般采用金属波导体来传导微波,仪表从仓顶安装,导波杆直达仓底,发射的微波沿波导体外部向下传播,在到达物料面时被反射,沿波导体返回发射器被接收。 雷达物位计采用微波脉冲的测量方法,并可在工业频率波段范围内正常工作,波束能量较低,可安装于各种金属、非金属容器或管道内,对人体及环境均无伤害。雷达物位计适用于对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量,适用于温度、压力变化大、有惰性气体及挥发存在的场合。

  • 分享影像测量仪的性能特点

    影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中,是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。  影像测量仪的性能:  1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能,能满足基本的二次元测量要求。  2、花岗石底座与立柱,机构稳定可靠  3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺,定位精确。  4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计,镜头上下升降受力均衡,确保精度。  5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。  6、激光定位指示器,精确制定当前测量位置,方便测量。  7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。  8、影像测量仪的镜头:3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头,影像放大倍率:28X-180X。

  • 【资料】影像测量仪的一些测量功能分析

    影像测量仪适用于电脑软件操作而且功能强大方便,可满足不同工件的不同需求。影像测量仪的一些测量功能如下:  1、影像测量仪能记录用户程序、编辑指令、教导执行;  2、测量仪能巨集指令,同一种工件批量测量更加方便快捷,提高测量效率;另一种是座标平移和座标摆正,同时也能提高测量效率;  3、影像测量仪还可以检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度;组合测量、中心点构造、交点构造,线构造、圆构造、角度构造;  4、能多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形,提高测量精度;  5、测量数据直接输入到AutoCAD中,成为完整的工程图,而且测量数据可输入到Excel或Word中,进行统计分析,可割出简单的Xbar-S管制图,求出Ca,等各种参数;  6、影像测量仪有大地图导航功能、刀模具专用立体旋转灯、3D扫描系统、快速自动对焦、自动变倍镜头。  7、在影像仪下绘制的图像,可以直接保存为dxf文件,该文件可以在autocad软件中直接打开或者是导入到三维软件中;  8、影像测量仪若是在加了探针的情况下,还可以直接用探针打点然后导入到逆向工程软件做进一步处理!软件可以自由实现探针/影像相互转换!  9、平面度检测(可通过激光测头来检测产品平面度,推荐使用“七海光电”平面度检测激光测头

  • 毫感科技获数千万Pre-A轮融资,聚焦4D高分辨率毫米波雷达

    [color=#000000]2024年1月,4D高分辨率毫米波雷达研发商苏州毫感科技有限公司(以下简称“毫感科技”)已完成数千万元Pre-A轮融资。本轮融资由欣柯创投领投。[/color][color=#000000]天眼查信息显示,自2021年7月成立至今,毫感科技已累计完成三轮融资。欣柯创投表示,期待与毫感科技共同见证4D毫米波雷达在自动驾驶领域的全面普及。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/2fcbd248-38e7-4fca-8ebd-639828b8c6a5.jpg[/img][/align][color=#000000]毫感科技产品定位于高通道数的4D成像雷达芯片,主要专注在两个方向。一个是高性能的MMIC,主要适用于前向的探测,提供高分辨率以及长距离的探测;另一个是高集成度的SOC,可降低成本,作为前向或者环视雷达,应用于辅助驾驶、自动泊车等。[/color][color=#000000]4D成像雷达是一种延伸的毫米波技术,能够在高速公路和复杂的城市场景中,探测距离达300米的各种物体。[/color][color=#000000]对比传统雷达,4D成像雷达增加了对目标高度维度数据的探测和解析,在探测距离、速度、水平角三个维度之上还能给出俯仰角信息,可以实时追踪物体的运动轨迹,更具备“成像”能力。[/color][color=#000000]此外,从目前来看,对比激光雷达,4D成像雷达的成本优势也较为突出。[/color][color=#000000]基于上述这些优势,业界针对L2+级别智能驾驶,已经逐步出现“弱硬件强算法”的4D成像雷达视觉方案替代“强硬件弱算法”的激光雷达方案的声音。当然,也有不少业内人士表示,随着自动驾驶往更高级别发展,仍需要激光雷达进行加持,未来多传感器融合方案将是必然。[/color][color=#000000]尽管当前整个4D成像雷达市场仍处于发展的早期,但是由于汽车行业竞争越来越激烈,降本增效压力也变得愈发突出,这也进一步促进4D成像雷达市场以飞快的速度成长。[/color][color=#000000]事实上,回顾刚刚过去的2023年,不难发现毫米波雷达赛道的热情就一路高涨,这也直接反映在资本市场上。[/color][color=#000000]据不完全统计,算上最新获得融资的毫感科技,从2023年以来,国内至少已有10家4D毫米波雷达企业获得融资,已披露融资总额远超十亿元。值得一提的是,2023年8月,国内“激光雷达第一股”禾赛科技CEO李一帆还出手投资了4D雷达新创公司傲图科技,可见该细分市场的热度不一般。[/color][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/8cdd1de0-6a08-443e-aa70-ab6674bf3ec5.jpg[/img][/align][color=#000000]从全球范围看,像是高级辅助驾驶巨头Mobileye近几年一直在大力研发4D成像雷达芯片以及系统方案,特斯拉2023年也在HW4.0上面安装了自研的4D成像雷达模组。2023年以来,包括吉利、红旗、长安、上汽、比亚迪、理想等多家车企宣布定点或上车4D毫米波成像雷达。[/color][来源:MEMS][align=right][/align]

  • 关于物位测量仪表的一些基础信息

    基本概念: 物位是指物料相对于某一基准的位量,是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量,其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计,测量液位的仪表称为液位计,测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况,液位测量占有相当大的比例,故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表,其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类:物位测量方法很多,测量范围较广,可从儿毫米到几十米,甚至更高,且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此,工业上所采用的物位测量仪友种类繁多,技其工作原理可分为:(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理,通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度,是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力,测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理,利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位,且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化,进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同,可分为电容式、电阻式和电感式3种,其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种,其中气介式可测液位和料位;液介式可测液位和液—液相界面;固介式只能测液位,比如:防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计,可测液位和料位,: (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时.被吸收而减弱,其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外,还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表,以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型,且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种.前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等,后者比较简单价廉,主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 【转帖】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 十万分之一英寸的测量仪器

    公司的很多尺寸规定的公差是万分之一英寸,即0.0001in,需要十万分之一精度的测量仪器,即0.00001in精度的测量仪器,请教各位量友,有没有什么推荐?单位目前使用的是显示为0.0001in的激光测径仪和显示为0.00001in,精度为0.0003in的二次元,不能保证0.0001in的公差。

  • 激光雷达中F-P标准具的精密热电冷却器温控解决方案

    激光雷达中F-P标准具的精密热电冷却器温控解决方案

    [align=center][size=16px][img=高热稳定性法布里-珀罗标准具,600,451]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310041528303739_744_3221506_3.jpg!w690x519.jpg[/img][/size][/align][b][size=16px][color=#990000]摘要:法布里-珀罗标准具作为一种具有高温度敏感性的精密干涉分光器件,在具体应用中对热稳定性具有很高的要求,如温度波动不能超过±0.01℃,为此本文提出了相应的高精度恒温控制解决方案。解决方案具体针对温度控制精度和温度均匀性控制两方面的技术要求,采用了TEC热电技术及其相应的高精度加热制冷恒温装置,采用了多个TEC热电片圆周分布结构以保证温度均匀性。此解决方案在实现高热稳定性的同时,还可以进行推广和拓展应用。[/color][/size][/b][align=center][b][size=16px][color=#990000]=====================[/color][/size][/b][/align][b][size=16px][color=#990000][/color][/size][size=18px][color=#990000]1. 问题的提出[/color][/size][/b][size=16px] 法布里-珀罗标准具(Fabry-Pérot Etalon)是一种应用广泛的高分辨干涉分光仪器,可用于高分辨光谱学和研究波长靠近的谱线,诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移、原子移动引起的谱线多普勒位移和谱线内部的结构形状;也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计,在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行;可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分。[/size][size=16px] F-P标准具是一种基于多光束干涉原理的光学元件,其主体由镀有对应部分反射膜或高反膜的两个平行表面构成,结构上可分为固体单腔标准具,固体多腔标准具,空气隙标准具,密封腔标准具等。[/size][size=16px] F-P标准具是一种对温度非常敏感的光学器件,温度的微小变化都会引起波长的漂移,因此在实际应用中,大多都要求标准具需有较高的热稳定性,如工作温度波动不能大于±0.01℃,这就对标准具的温度均匀性和稳定性提出了很高要求。[/size][size=16px] 为了实现F-P标准具的高热稳定性,本文提出了相应的解决方案,解决方案的重点是解决温度的均匀性和温度控制的稳定性问题。[/size][size=18px][color=#990000][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 解决方案的基本思路是将圆片形式法布里-珀罗标准具装配在一个具有前后光学窗口的恒温装置内,前后光学窗口与标准具为同轴形式构成光路,恒温装置要实现的具体指标如下:[/size][size=16px] (1)温度控制在比室温高5~10℃,如30℃。[/size][size=16px] (2)标准具上的温度波动性优于±0.01℃。[/size][size=16px] (3)标准具上的温度均匀性也要优于±0.01℃。[/size][size=16px] 为了实现略高于室温且波动性小于±0.01的标准具温度控制,解决方案采用了半导体制冷片(即TEC帕尔贴片)作为加热和制冷源,利用TEC片即可加热又可制冷的帕尔贴效应,可将温度精确控制在室温附近的温度范围内。由半导体制冷片组成的加热制冷控制装置如图1所示。[/size][align=center][size=16px][color=#990000][b][img=01.TEC半导体冷热温度控制装置结构示意图,690,356]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310041530220088_6996_3221506_3.jpg!w690x356.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#990000][b]图1 TEC半导体冷热温度控制装置结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 如图1所示,标准具精密温控装置主要由TEC片、温度传感器、TEC电源换向器和超高精度温度控制器组成,它们的功能和相应指标如下:[/size][size=16px] (1)TEC片尺寸可根据标准具温控装置的结构设计进行选择。为了增大加热制冷功率以及使得标准具温度均匀,可采用多个TEC片的并联结构。[/size][size=16px] (2)温度传感器采用具有高精度的铂电阻和热敏电阻,温度测量精度要高于±0.01℃。[/size][size=16px] (3)TEC电源换向器是TEC温控必备部件,可接收控制信号对加热电流方向进行自动换向而分别进行加热和制冷,由此来实现温度的高精度恒定控制。[/size][size=16px] (4)超高精度温度控制器是一种具有目前最高测量和控制精度的工业用PID调节器,具有24位AD、16位DA和0.01%的最小输出百分比。调节器接收温度传感器信号,将此信号与设定温度值比较后按照PID算法计算,然后输出控制信号来驱动TEC电源换向器进行加热和冷却操作。此超高精度温度控制器自带功能强大的计算机软件,无需再编写任何程序即可与计算机构成完整的温控系统,实现温度的程序控制设定、远超操作、过程曲线显示和存储。[/size][size=16px] 为了使标准具具有高热稳定性,除了需要精确恒定的对温度进行控制之外,还需解决的另外一个问题就是如何使标准具温度均匀。为此,本解决方案所设计的标准具加热装置如图2所示。[/size][align=center][size=16px][color=#990000][b][img=02.高热稳定性F-P标准具TEC热电半导体恒温装置结构示意图,600,296]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/10/202310041530510655_9147_3221506_3.jpg!w690x341.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#990000][b]图2 高热稳定性F-P标准具TEC热电半导体恒温装置结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 图2所示意的F-P标准具TEC热电半导体恒温装置,主要由F-P标准具、标准具基座、均热器、TEC制冷片、TEC散热器和外部水冷器组成。此恒温装置设计为圆形结构以形成均匀的温度分布,其中标准具安装固定在圆筒型标准具基座内,高导热纯铜材质的均热器为标准具基座提供均匀温度,而三个圆周三角形分布且并联连接的TEC制冷片为均热器提供加热和制冷,使均热器温度按照设定温度进行精密控制。TEC热电片的散热则通过高导热铝块散热器与外部水冷器形成热连接,为TEC热电片提供稳定的冷却功率,这也是实现TEC热电片高精度温度控制的关键。[/size][size=16px] 另外需要说明的是,在均热器上同样均匀布置了三个温度传感器(图2中并未示出),其中一个作为控制传感器,另外两个作为测温传感器以监视温度均匀性。[/size][size=16px] 这里还需补充的是,图2所示结构仅是为了方便说明标准具恒温装置的基本原理和功能,相关的热膨胀匹配和隔热装置等内容并未示出。[/size][size=18px][color=#990000][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 综上所述,本文所示的解决方案从温度控制精度和均匀性两个方面很好的解决了F-P标准具的热稳定性问题,采用TEC热电技术所设计的标准具恒温装置可将温度精确控制在±0.01℃的波动范围内,对称结构设计使得标准具同时还具有很好的温度均匀性以及长期稳定性。[/size][size=16px] 此解决方案可以推广应用到其它与F-P标准具相关的仪器设备中,而且还具有一定的拓展功能,解决方案的结构设计在实现高热稳定性的同时,也为精密气压控制奠定了技术基础,为了标准具的应用可提供更稳定的使用环境。[/size][size=16px][/size][align=center][size=16px][color=#990000][b]~~~~~~~~~~~~~~~[/b][/color][/size][/align]

  • 一键式非接触光谱共焦测量仪

    一键式非接触光谱共焦测量仪

    如今三C行业,或者是精密仪器行业,都要求极高精度,我们人为是无法测量0.01以上的精度的,这个时候,问题就来了,我们要如何确保精度质量呢?针对这些需求,市面上推出了很多的测量仪器,有2次元,三次元这这些测量仪已经可以满足很多企业的需求了,但是有些企业的产品,他不仅仅是需要平面尺寸,他甚至还需要测量平整度。这次候就应运而生了一种五次远,这些仪器之间都有些什么区别呢?我们该如何选择适合自己的测量仪器呢?现在就将他们的区别来理一下,也给大家参考一下:现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。想要了解更多,可联系:15012834563,小周[img=,690,920]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712291417_2603_3353984_3.jpg!w690x920.jpg[/img]

  • 【资料】电子测量仪器的分类及应用

    电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。1.多用电表  模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。2.示波器  示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。3.信号发生器  信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器仪表时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。4.晶体管特性图示仪  晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、自或a参数等。5.兆欧表  兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。6.红外测试仪  红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。7.集成电路测试仪  该类仪器可对TI1、PM0S、CM0S数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。8.LCR参数测试仪  电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。9.频谱分析仪  频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。  除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

  • 雷达物位计的功能用途分类

    雷达物位计分类有很多种,按照功能用途分和天线脉冲分。1.用于库存管理或贸易结算的高精度液位计量 主要用于石油成品油及化学用品液体的精度测量,测量精度主要在1MM以内,基本上采用调频连续波原理。价格昂贵,应用量也有限,故只有少数公司生产,有适用于不同场合的喇叭、抛物面及阵列天线.2.用于过程物位监测 由于工业过程种类繁多,仪表必须适应各种介质,以及不同的温度、压力范围。精度约为0.1%FS或者5mm。这几年,过程级微波物位计发展很快,主要是加速普及。在性能提高的同时,价格也相对适中,适用于更多工况。固态物料料位,特别是气体输送料状料位(烟灰、成品水泥)一直是物位测量中的难题,但是雷达物位计可以稳定、可靠的测量。雷达物位计通有脉冲法(PULS)和连续调频法(FMCW)两种。 连续调频(FMCW)技术1.脉冲法(PULS)脉冲波测距是由天线向被测物料面发射一个微波脉冲,当接收到被测物料面上反射回来的回波后,测量两者时间差(即微波脉冲的行程时间),来计算物料面的距离。微波发射和返回之间的时差很小,对于几米的行程时间要以纳秒来计量。脉冲测距采用规则的周期重复信号,并重复频率(RPF)高。2.连续调频(FMCW) 连续调频(FMCW)技术测量物位是将传播时间转换成频差的方式,通过测量频率来代替直接测量时差,来计算目标距离。发射一个频率被线性调制的微波连续信号,频率线性上升(下降),所接收到的回波信号频率也是线性上升(下降)的,两者的频率差将比例于离目标的距离。频率被调制的信号通过天线向容器中被测物料面发射,被接收的回波频率信号和一部分发射频率信号混合,产生的差频信号被滤波及放大,然后进行快速傅利叶变换(FFT)分析,FFT分析产生一个频谱,在此频谱上处理回波并确认回波。雷达物位计按工作方式可以分为非接触式和接触式两种。1.非接触式微波物位计常用喇叭或杆式天线来发射与接收微波,仪表安装在料仓顶部,不与被测介质接触,微波在料仓上部空间传播与返回。安装简单、维护量少,并且不受料仓内气体成分、粉尘、温度变化等的影响,深受用户欢迎,可替代劳动强度大的人工投尺或带重锤的卷尺、维修率高的接触式仪表(重锤探测式yo-yo)、电容等。因此,非接触式微波物位计是近年来发展最快的物位测量仪表。2.接触式微波物位计一般采用金属波导体(杆或钢缆)来传导微波,仪表从仓顶安装,导波杆直达仓底,发射的微波沿波导体外部向下传播,在到达物料面时被反射,沿波导体返回发射器被接收。[color=#ffffff][b]文章来源:物位计 http://www.china-endress.com/[/b][/color]

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【分享】刀具测量仪的特征及功能简介

    刀具测量仪器具有水平及垂直两种光学测量系统,可以在一台仪器上实现刀具的全部测量,是测量复杂刀具的理想工具。刀具测量仪是由花岗石台面作为底座和立柱、精密滚珠丝杆传动、精密线性导轨导向等部件组成,采用独立的工程学设计工作台,配有完整的配电箱,可有效降低温度变化对测量仪器的影响。 刀具测量仪具有使用简捷,高度精确的优点,整个对刀过程不需要在CNC机床上进行,有效避免对工件的损坏以及机订对刀的困难和危险,仪器采用稳定的整体式花岗岩制造,气浮导轨,坚实、抗振动的花岗岩结构和集成的温度补偿器使测量结果能保持可靠的长期稳定性。刀具测量仪采用高分辨率CCD B/W相机,能够用于对刀具边缘进行无接触表面光及透射光测量,和对刀头几何图形进行表面光测量,采用CNC导轨控制以及4个控制轴。确保了仪器完整的精度,确保了刀具测件能够快速、准确的定位。 刀具测量仪主要适用于测量数控机床、加工中心和柔性制造单元上所使用的镗铣类刀具切削刃的精确坐标位置,并能检查刀尖的角度,圆角及刃口精况。刀具测量仪还可用于钻孔、铣削刀具或是极度复杂的切削刀具以及切削钢的制造或精磨。

  • 【转帖】电子测量仪器的分类及应用

    电子测量仪器的分类及应用电子测量仪器按其工作原理与用途,大致划为以下几类。  1.多用电表  模拟式电压表、模拟多用表(即指针式万用表VOM)、数字电压表、数字多用表(即数字万用表DMM)都属此类。这是经常使用仪表。它可以用来测量交流/直流电压、交流/直流电流、电阻阻值、电容器容量、电感量、音频电平、频率、晶体管NPN或PNP电流放大倍数β值等。   2.示波器  示波器是一种测量电压波形的电子仪器,它可以把被测电压信号随时间变化的规律,用图形显示出来。使用示波器不仅可以直观而形象地观察被测物理量的变化全貌,而且可以通过它显示的波形,测量电压和电流,进行频率和相位的比较,以及描绘特性曲线等。   3.信号发生器  信号发生器(包括函数发生器)为检修、调试电子设备和仪器时提供信号源。它是一种能够产生一定波形、频率和幅度的振荡器。例如:产生正弦波、方波、三角波、斜波和矩形脉冲波等。   4.晶体管特性图示仪   晶体管特性图示仪是一种专用示波器,它能直接观察各种晶体管特性曲线及曲性簇。例如:晶体管共射、共基和共集三种接法的输入、输出特性及反馈特性;二极管的正向、反向特性;稳压管的稳压或齐纳特性;它可以测量晶体管的击穿电压、饱和电流、β或α参数等。   5.兆欧表  兆欧表(俗称摇表)是一种检查电气设备、测量高电阻的简便直读式仪表,通常用来测量电路、电机绕组、电缆等绝缘电阻。兆欧表大多采用手摇发电机供电,故称摇表。由于它的刻度是以兆欧(MΩ)为单位,故称兆欧表。  6.红外测试仪  红外测试仪是一种非接触式测温仪器,它包括光学系统、电子线路,在将信息进行调制、线性化处理后达到指示、显示及控制的目的。目前已应用的红外测温仪有光子测温和热测温仪两种,主要用于电热炉、农作物、铁路钢轨、深埋地下超高压电缆接头、消防、气体分析、激光接收等温度测量及控制场合。   7.集成电路测试仪   该类仪器可对TTL、PMOS、CMOS数字集成电路功能和参数测试,还可判断抹去字的芯片型号及对集成电路在线功能测试、在线状态测试。    8.LCR参数测试仪  电感、电容、电阻参数测量仪,不仅能自动判断元件性质,而且能将符号图形显示出来,并显示出其值。其还能测量Q、D、Z、Lp、Ls、Cp、Cs、Kp、Ks等参数,且显示出等效电路图形。   9.频谱分析仪  频谱分析仪在频域信号分析、测试、研究、维修中有着广泛的应用。它能同时测量信号的幅度及频率,测试比较多路信号及分析信号的组成。还可测试手机逻辑和射频电路的信号。例如:逻辑电路的控制信号、基带信号,射频电路的本振信号、中频信号、发射信号等。   除以上常用的电子测量仪器外,还有时间测量仪、电桥、相位计、动态分析器、光学测量仪、应变仪、流量仪等。

  • 如何帮助客户选择抑菌圈测量仪

    [b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前,首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量,大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机,在用户中逐渐兴起,到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域,1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像,再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向,在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起,大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们,当时也没有规范的市场,大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了,失败,一点点的进步,喜悦,分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备,特性是放大倍数低,成像面积大,光线均匀的亚显微成像设备,抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大,只是还没有开发出来。比如:微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测;机械行业中洁净度检测,精密配件的形态差异;环保领域:藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数;农林业:种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等;医药行业中用到成像的地方就更多了,我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比(R/G/B法)。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分:现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式,作用是把微生物培养出可计算的物质后,扫描出高质量电子图片,有透射光、反射光、紫外荧光成像,(抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄;菌落计数用的是反射光扫描;凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描)逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机,一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图,而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。(电脑的内存要大)逐行扫描因是移动扫描,所以光线是一条直线光源,扫描出图像光很均匀;成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分: 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版,此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件,可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能:随意对图象切割、测量、计数、分类;HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算;电泳条带分析;荧光强度分析等,可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少,抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目,以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说,抑菌圈测量仪是计算机的外部设备,是随着计算机的技术进步而进步,十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命,现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大,所以现在的高端抑菌圈测量仪,这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。(显微镜最大缺点是成像面积小)目前这个技术方向研究的人很少,国外的设备也不多,国内就北京和杭州有几个老师在研究,各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法:[/b]抑菌圈法的分类:1.KB法(纸片法);2.管碟法;3.打孔法首先要了解用户是用什么方法,药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析;疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析;各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

  • 请问大型试验装置(内含多套测量仪器)是否需要计量?如何计量?

    请问各位专家,由多套测量仪器组成的大型试验装置、试验系统,如何进行计量?是对每个仪器单独进行吗?整套仪器是否还需要?示例:进行某项试验,使用XXX试验平台,出具的报告书中包含有距离、力值、加速度、速度等测试数据,该试验平台内部有激光传感器,力值传感器,加速度传感器,控制系统等,对这些测量仪器/传感装置进行检定或校准后,是否还需要对该平台进行计量?如何计量?检定?校准?自验?注:出具的检验报告上标明使用的仪器设备是:XXX试验平台(编号:XXX)。

  • 各种光谱测量仪要如何区别

    目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 大电流接地测量仪检测方法解析

    目前用于安全防护检测的大电流接地电阻测量仪已越来越广泛地运用于家用电器、绝缘材料、电动电热器具等产品的质量检测中,而此种仪器本身的量值传递却由于其大电流的限制,存在许多问题。普通的接地电阻测量仪检定装置不能用于这种仪器的检测,下面百检检测介绍两种检测方法。 1 直接法 这里所谓的直接法就是电阻法,利用大功率标准电阻直接接于被测大电流接地电阻测量仪的测量端,原理框图如图1所示,用标准电阻值与测量仪表头所显示的电阻值作比较。 设标准电阻值为RN,即实际值,被检表显示读数为RX,则被检表的绝对误差为: Δ=RX-RN 被检表的相对误差为: r=[(RX-RN)/RN]×100% 用此方法检测时应注意测量仪恒流输出所限制的电阻范围,超出该范围,将不再恒流且测量不正确。由于所测均为小电阻,导线及接触电阻的消除、四端钮接线等都是必须注意的,同时注意不可引入别的哪怕是很微小的附加电阻。 用此方法检测,简单直观方便,测量准确,但应当具备一套不同阻值(并非均为十进制变化)的大功率标准电阻,由于它的特殊要求,这种电阻需由厂家定做。 2 间接法 所谓间接法就是利用电流电压的方法来进行测量。 2.1 用标准电压源法进行测量 接地电阻测量仪的基本原理为以已知恒定电流通过被测电阻RX的压降来代表所测电阻值。根据这一原理,可用标准电压源和标准电流表来检测接地电阻测量仪,检测框图如图2所示。 标准电压源输出一个标准电压UN,同时读出标准电流表显示的电流IN,此时被检测量仪表头显示值为RX值,则实际值为: R=UN/IN 绝对误差为: Δ=RX-R=RX-UN/IN 相对误差为: r=[(RX-UN/IN)/(UN/IN)]×100% 通过输出不同的标准电压值,便可测得一系列电阻值。用此方法检测时应注意测量仪在恒定电流下所限定的电阻范围对应的电压值范围,使标准源输出的电压在此范围内。 2.2 用标准电压表法进行测量 利用标准电压表、标准电流表以及大电流电阻对大电流接地电阻测量仪进行测量,其检测接线框图如图3所示。 测量时,接上一电阻值R,立即读取标准电流表和标准电压表的读数IN、VN,此时被检接地电阻测量仪表头也显示出所测电阻值RX。而标准电流表、标准电压表所测值对应的电阻值可认为是所测电阻的真值,即: R=VN/IN 绝对误差为 Δ=RX-R=RX-VN/IN 相对误差为 r=[(RX-VN/IN)/(VN/IN)]×100% 通过接入不同的电阻值,便可测得一系列的值。从而确定出被检接地电阻测量仪的误差情况。 用此方法检测时应注意接地电阻测量仪所能测量的电阻范围,接入的电阻不可超出此电阻范围 由于所测电阻均为小电阻,因此必须采用四端测量 因是大电流测量,测量时间应尽量短。 3 误差分析 3.1 直接法的误差 直接法测量时,误差的主要来源是标准电阻引入的。在消除了引线电阻的影响后,只要标准电阻的误差为被检表允许误差的1/3~1/5即可。 3.2 间接测量的误差 3.2.1 标准电压源法测量时的误差 装置的主要误差来源: (1)标准电流表引入的误差S1:由于被检电流最高精度为0.5%,因此选用0.1级标准电流表即可。 (2)标准电压源带来的误差S2:由于被检表精度不高,在选用标准电压源时,一般采用实验室现有的三用表校验仪D030的交流电压信号输出便可满足要求,考虑到所需电压较小,其输出值误差一般不超过±0.5%。 (3)标准电压源输出漂移带来的误差S3:一般D030稳定性误差为±0.05%,考虑小电压情况,其漂移误差一般也不会超过±0.1%。 装置的总误差为: 由于被测接地电阻测量仪电阻精度最高为2%读数±2个字,可见装置总误差能满足要求。 3.2.2 标准电压表法测量时的误差 (1)标准电流表引入的误差S1:由于被检电流最高精度为0.5%,因此选用0.1级标准电流表即可。 (2)标准电压表带来的误差S2:由于被检表精度不高,选用0.05级标准电压表即可满足要求。考虑到所测电压较小,其测量误差一般不超过±0.5%。 (3)标准电压表输入阻抗带来的误差S3:因所测电阻均为1Ω以下,相对而言,标准电压表输入阻抗带来的误差完全可以忽略不记。 (4)电阻引入的误差S4:用此法检测,接入的电阻并不作为标准,仅作为被检表与标准表测量的一个载体,因此该电阻的精度并不影响测量结果,影响测量结果的主要因素是电阻的稳定性,由于所接电阻大电流的要求,此电阻通常是由专门的材料和工艺定做而成,对其稳定性有一定的要求,加之被检表和标准表几乎是同时测量,因此电阻稳定性引入的误差可忽略不记。

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