光栅式指示定仪

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光栅式指示定仪相关的厂商

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  • 成立于2017年10月,公司位于广州市白云区人和镇白米布,宽阔的106国道旁,风景秀丽的流溪河畔,交通发达,停车方便。主营日化,食品,电镀等行业成套检测仪器和耗材。总部已有近20年的专品业市场经验,能为客户提供专业的技术支持和贴心的售后保障服务。天时,地利,人和,天之时仪器期待能在您的支持和关注中发展壮大!
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  • 天津市拓普仪器有限公司(原天津市光学仪器厂)成立于2002 年,现坐落于天津市津南区双港工业园区丽港园内, 是一家专门从事光谱分析仪器、物理实验科学仪器、建筑玻璃节能检测仪器的研究、开发、生产和销售的高新技术企业。 一直以来,公司以市场为导向,以客户的需求为研发思路,坚持技术创新。拓普仪器拥有专业的研发团队,拥有众多知识产权和专利,多个产品荣获科技进步奖项。拓普仪器拥有完善的管理体系,通过了ISO9001国际质量管理体系认证。2003年10月成功发射的神舟五号和2005年10月成功发射的神舟六号首次载人航天飞船飞行中都有我们的产品,并获得了“中国空间技术研究院”的嘉奖。拓普仪器主要产品有:TJ270-30A红外分光光度计(国家药典型号TJ270-30升级型)、FTIR920傅立叶变换红外光谱仪、TP720紫外可见近红外光谱仪(可实现紫外-可见-近红外全波段连续扫描)、光栅光谱仪及单色仪、迈克尔逊干涉仪、压电陶瓷干涉测量实验仪、偏振光实验装置、 椭圆偏振测厚仪、半导体泵浦激光原理实验装置、光纤信息与光通信实验系统、全息照相实验、光电综合实验、信息光学实验、光学平台及导轨等多项自主研发的产品。拓普仪器产品遍布全国百余所重点及普通高等院校、全国各地药检所及药厂、各个科研机构,产品深受客户的认可和好评。拓普人持诚信为本,我们将以稳定可靠的产品赢得您的信任!
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光栅式指示定仪相关的仪器

  • “影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点:1.180mm,320mm,500mm等多种焦距可选,适应不同光谱带宽需求;2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术,最大限度了抑制了像散,使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置,获得了清晰的成像,从而提高 了信号强度,提升了光谱仪信号收集的能力;3.多光栅塔台设计,更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势,并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率;4.光栅采用40×40mm或68×68mm(68×84mm)大面积光栅,提高了光收集效率;5.适应不同光谱波段使用的光栅选择,覆盖UV-IR全波段范围;针对红外(1um)波段的最优化设计,光学镜片采用镀金膜设计,提高红外光反射效率;6.更好的杂散光抑制比,达到1×10-5;7.仪器的控制(如光栅转换、波长扫描等)全部由计算机控制,并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口,不仅使仪器的连接更加简单化,更极大提高了通讯速率;8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性,可根据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动控制,定位更精准;9.可灵活与卓立光源、探测器(单点探测器和阵列CCD等)组合搭建,实现任意光谱系统解决方案,如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等;10.电子快门可选;11.自动狭缝可选;规格参数表(@1200g/mm光栅条件下):Omni-λ180iOmni-λ320iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)±0.2±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.1±0.08±0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×10(h)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽:0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;缝高:2,4,10,14mm可选光栅尺寸(mm)40×4068×68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0,可选RS-232
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  • 一、产品介绍: 电动高精度光栅式指示表检定仪可检定我国检定规程所列包括指示表、内径表、杠杆表、大量程百分表19种规格指示表,还可检定测微表、英制表以及数显表。此外,可检定仪器量程范围内的任意行程的特殊规格指示表。仪器自动按国家计量检定规程处理数据,显示并打印检定结果。 电动高精度光栅式指示表检定仪可用于测量和定位,或作测微计使用。二、技术参数:测量范围: 0-50mm分 辨 力: 0.1μm示值误差: 0-50mm:50mm内≤3.0μm 回程误差≤0.5μm显示方式:中文液晶显示打印方式:微型针式打印机接口方式:RS232(9针)电  源:DC12V环境温度:(20±5)℃相对湿度:(50-70)%RH重量尺寸:15Kg,350mm*200mm*150mm选配附件:计算机检定管理软件及测力功能装置(分辨率0.01N,量程20N)三、产品特点:1、速 度 快:电动高精度光栅式指示表检定仪内部设有高精密步进电机系统,采用电机定位方式替代人手,人工按键采样,减轻检定员劳动量,提高了检定速度和检定效率。2、精 度 高:分辨力为 0.1μm,50mm范围内误差小于1.0μm,精度高于国内其它厂家。3、功 能 强: 检定过程具有手动和定时采样功能,并具有检定音响提示功能和暂停、超差、错误操作提示和补点采样功能。4、操作简易:采用液晶中文显示,方便直观。夹具设计独特,装夹方便、覆盖面广、方便于各类被检表。5、技术新颖:光栅部分采用新型机械、电子技术,精度高、重复性好。四、使用说明4.1操作说明4.1.1 简述电动高精度光栅式指示表检定仪是在半自动方式进行检定被检表。检定软件完全按照国家计量检定规程,具体设计了多种指示表的检定程序,操作者只需安装好被表,然后输入被检表类型等几项信息即可开始检定。在检定过程中,人工转动仪器旋钮推动被检表改变其位移,对准刻线后采样光栅示值,仪器把每个检定点的位移示值经保存计算,并显示检定结果,完成检定。4.2仪器安装4.2.1 硬件安装① 打开包装箱,首先对照随机装箱单,检查各部件是否完整。② 将仪器从箱内小心取出并平放于稳定工作台上,过程中要避免较强的振动。③ 将各连接线连接好。将随机电源的220V端口插在220V电源插座上。把微型打印机插上仪器后面四蕊航空插座上。④ 确认无误后,可打开仪器电源。4.2.2 仪器接口及操作面板仪器接口:仪器后侧接口面板。包括:AC220V电源插口、四蕊微型打印机接口、电源开关及9针RS232接口。仪器面板:4.3 检定方法 4.3.1 开机将仪器和电源、打印机连接好后,打开电源,仪器进入工作状态。打印机红绿指示灯都亮。转动手轮,光栅示值应该变动。以上现象为仪器正作正常状态。4.3.2 功能设置按“设置”键进入功能设置(具体操作方法见功能设置),完成设置后按“取消”键返回主屏显示。4.3.3 选表及内容设置按数字键进行被检表的类型选择和内容设置(开机默认为:0-3mm指示表,具体操作方法见表类选择及设置),完成设置后按“取消”键返回主屏显示。指针对零:将所需检定的指示表装夹完成,转动手轮使指示表指针按顺时针对到“0”位。示值清零:按“清零”键后,光栅示值清“0”。开始检定:按“采样”键开始检定。电动高精度光栅式指示表检定仪分自动采样检定和手动采样检定,其过程分别如下:(1)自动采样检定过程:若在设置中将“采样方式”中设置为“自动”,则仪器在按下“采样”键时,将按菜单中的“采样间隔”设置的时间如2秒,首先进行“0”点采样,此后无需再按“采样”键,仪器将按设定的时间间隔自动进行逐点采样,每一点采样完成,发出“嘀”的一声提示。当完成正行程最后一点采样时,仪器发出长“嘀”声提示后,开始回程点采样。当回到“0”点时,仪器再次发出长“嘀”声提示,完成检定。在自动采样中,每一点采样完成,发出“嘀”的提声音后,应及时转动手轮,使指示表指针正确的指到下一检定点,等待采样,否则,将出现检定点数据采样错误。采样错误后,根据9项操作补检该点。(2)手动采样检定过程:若在菜单中将“采样方式”设置为“手动”,则在按下“采样”键“嘀”的提示声时就对“0”点采样,然后应转动手轮,使指示表指针正确指向下一检定点(第1点),再按“采样”键进行采样,再转动手轮,再次使指示表指针正确指向下一点(第2点),再按下“采样”键进行采样,如此逐点下去,每按一次“采样”键,采样一个检定点。当完成正行程最后一点采样时,仪器发出长“嘀”声提示后,按“采样”键开始回程点采样,当回到“0”点时,按“采样”键,仪器再次发出长“嘀”声提示,完成检定。 4.3.4 查看检定结果及打印完成检定后,仪器显示检定结果。按“▲”或“▼”键翻屏,查看检定结果内容,按“打印”键打印检定结果,按“取消”键返回到主屏。(微型打印机使用方法见后说明)4.3.5 重新检定指针回零并且光栅示值清零后,无须进行菜单和表类选择及内容设置,请重复以上步骤。4.3.6 检定暂停自动采样检定过程中,当采样完当前点后,不转动手轮,仪器“嘀嘀”二声后自动停止采样,根据屏幕上方显示的检定点位置,依次如下操作: 符号“—”键:每按一次,依次清除一个已检定点。以便重新采样某个检定点。 “采样“键:继续该点采样。按下之后,转动手轮继续下一点采样。按“取消”键则退出本次检定。4.3.7 数据保存说明本仪器仅对本次检定数据保存处理。检定后请按需要及时打印检定结果和数据。4.3.8 大量程百分表的检定大量程百分表是在不均匀间隔下检定的。检定前可在“菜单”中设置采样方式为手动。检定间隔如下:指针式: 0-1mm采样间隔0.2mm。 1-10mm采样间隔0.5mm, 10-20mm采样间隔1mm, 20-50mm采样间隔5mm。数显式: 0-10mm采样间隔0.2mm。 10-50mm采样间隔2mm。 4.3.9 未完成检定时的重新开始在未完成检定时要重新开始检定,切记必须首先按“取消”键终止当次检定,然后进行以上步骤操作,否则出现采样错误。 4.3.10 检定过程的停止和重新开始在检定过程中,若出现操作错误或其它情况,按“取消”键即可终止当次检定。重新开始按“采样”键即可;未完成检定,要重新开始检定必须按“取消”键终止当次检定后,按“采样”开始。4.3.11 打印记录 本机具有一次记录多次打印功能,并有打印选项功能。分为表头、数据、表头及数据三方式打印。 打印过程中,仪器不能进行任何操作。 4.4 菜单设置4.4.1菜单内容说明“采样间隔”为整数秒,指在自动采样方式时,对两个检定点采样的间隔时间。“采样方式”包括“自动”与“手动”。“自动”是指检定中仪器按“采样间隔”中设置的时间间隔自动逐点采样,直到完成或按“取消”键停止采样。“手动”是指只有在按下“采样/开始”键时才采样检定点,每按一次采样一点。“超差提示”功能。选择“是”则检定过程中有误差超差报警功能。4.4.2菜单设置步骤在主屏显示时,按“设置”键即可查看及设置菜单内容,按“取消”键退出设置。设置步骤如下: 1.在主屏显示时,按“设置”键即进入菜单内容显示及设置。此时光标闪烁,光标所指项为选中设置项。按“▲”或“▼”键上下循环移动光标选择菜单项,按“确认”键,则选中项显示内容将被保存到记忆体中。2.“采样间隔”可在光标位置输入数字,最大为9秒。3.“采样方式”和“超差提示” 只能按“选择”键进行选择“自动”或“手动”,每按一次转换一次。4.设置完毕,按“取消”键退出菜单,完成菜单设置。4.5 检定误差为使检定过程直观方便,仪器在检定过程中可显示检定点及误差值,其操作如下:显示格式:XX → X : XX.X um从左向右共四部分,分别表示: 1,XX:表示总检定点数;2,“→”代表正行程检定,“←”反行程检定;3,X:当前检定点;4,当前检定点误差值 XX.X um 或 –XX.X um ; 4.6检定结果电动高精度光栅式指示表检定仪检定结果按我国现行国家检定规程JJG34-2008,JJG35-2006,JJF1102-2003及JJG379-2009进行判定,不符合检定规程的检定过程,结果判定无效,仅供参考。1.内径百分表设置:当选择内径百分表时,首先显示其类型。“▲”或“▼”键选择被检表类型,选中后按“确认”键,进入并显示测量范围选择,同样按“▲”或“▼”键选择,选中后按“确认”进入并显示表类内容,即“编号”,“行程”,“间隔”,然后按上面2项操作即可.2.在设置过程中,按“取消”键,即可退出设置,当前显示的“编号”,“行程”,“间隔”,即为有效。4.7 打印机设置微型打印机通电后,红、绿两指示灯灯都为亮状态。1.打印状态:红绿两灯都亮时为打印等待状态。2.进纸操作:按“SEL”键后,绿灯灭后(红灯仍亮),再按“LF”键,打印机开始进纸运转,放入纸条进纸后,再安“SEL”键退出进纸,返回打印状态。注意:当电动高精度光栅式指示表检定仪连接计算机时,必须断开微型打印机。两者只能选择其一连接。
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  • 一、产品介绍:光栅指示表电动检定仪可检定我国检定规程所列包括指示表、内径表、杠杆表、大量程百分表19种规格指示表,还可检定测微表、英制表以及数显表。此外,可检定仪器量程范围内的任意行程的特殊规格指示表。仪器自动按国家计量检定规程处理数据,显示并打印检定结果。光栅指示表电动检定仪可用于测量和定位,或作测微计使用。二、技术参数:测量范围: 0-50mm分 辨 力: 0.1μm示值误差: 0-50mm:50mm内≤3.0μm 回程误差≤0.5μm显示方式:中文液晶显示打印方式:微型针式打印机接口方式:RS232(9针)电  源:DC12V环境温度:(20±5)℃相对湿度:(50-70)%RH重量尺寸:15Kg,350mm*200mm*150mm光栅指示表电动检定仪选配附件:计算机检定管理软件及测力功能装置(分辨率0.01N,量程20N)三、产品特点:1、精 度 高:分辨力为 0.1μm,50mm范围内误差小于1.0μm,精度高于国内其它厂家。2、功 能 强:检定过程具有手动和定时采样功能,并具有检定音响提示功能和暂停、超差、错误操作提示和补点采样功能。3、操作简易:采用液晶中文显示,方便直观。夹具设计独特,装夹方便、覆盖面广、方便于各类被检表。4、技术新颖:光栅部分采用新型机械、电子技术,精度高、重复性好。
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光栅式指示定仪相关的资讯

  • 重大仪器专项“高端全息光栅研发”项目完成初步验收
    p  2017年9月1日,由中科院条财局在长春组织召开的国家重大科学仪器设备开发专项“高端全息光栅研发”项目初步验收会顺利通过。会议听取了长春光机所做的“项目研制工作报告”和各参与单位做的子任务情况汇报,并进行了质疑讨论。/pp style="text-align: center "img width="500" height="376" title="1.jpg" style="width: 500px height: 376px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201709/noimg/247fd012-fa79-48d2-aa28-be5abdcbf9b8.jpg" border="0" vspace="0" hspace="0"//pp style="text-align: center "img width="500" height="376" title="2.jpg" style="width: 500px height: 376px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201709/noimg/faf91127-d523-4835-be24-06df8026fd88.jpg" border="0" vspace="0" hspace="0"//pp  随后对项目研制的光栅和仪器设备进行了现场测试验收。/pp  在“高端全息光栅研发”项目立项之前,中科院长春光机所研制的全息光栅产品已成功用于国内外多家光谱仪器企业的各种类型光谱仪器。但是,在技术实力方面和国外同行差距较大,高端光谱仪器急需的高端全息光栅仍未完全实现自主知识产权,部分产品需要进口,并且价格比较昂贵,阻碍了光谱仪器产品进入国际市场的进程。/pp  本项目立项目标是研发出高端光谱仪器的核心部件-高端全息光栅:①建立集全息光栅设计、制造、检验于一体的开发平台 ②开发光谱分析市场中急需的光栅,形成一定产业化规模,满足我国光谱分析仪器行业的需求,并打开国际市场 ③将研制的光栅在光谱分析仪器企业中进行应用示范及产业化推广,通过高端全息光栅自主创新带动我国高端光谱分析仪器自主创新,完善我国光谱分析仪器产业链,引领和拉动整个光谱分析仪器行业向纵深发展,并辐射带动光谱分析技术向更多应用领域拓展,进一步增强我国对外经济交往中的主动权。/pp  本项目的实施使我国在相关领域的研究工作摆脱了受制于人的处境,突破了国外技术壁垒。项目研制了低杂散光光栅、高分辨本领光栅、特种面型光栅、体全息光栅等11种全息光栅。在5家光谱分析仪器公司进行应用示范及产业化推广,开发了5类新型光谱分析仪器,形成了一定的产业化规模,减低了成本,满足了我国光谱分析仪器行业的需求,填补了国内该类产品的空白,拉低了国外同类产品在华售价,部分光谱仪出口国外。研发的极紫外软X射线单色器已在国家同步辐射实验室中使用,增强了我国光谱定标能力,为“国家同步辐射实验室二期工程”提供了科技支撑。/pp/pp/pp/pp/p
  • 长春光机所高端全息光栅重大仪器专项启动
    3月2日上午,国家重大科学仪器设备开发专项“高端全息光栅研发”项目在中科院长春光学精密机械与物理研究所召开启动会。  该项目由中科院长春光机所牵头,中国科学技术大学、北京普析通用仪器有限公司等另外6家单位共同参与,目标是研发出高端光谱仪器的核心部件——高端全息光栅,建立集全息光栅设计、制造、检验于一体的开发平台,发展具有自主知识产权、具有国际先进水平的高端全息光栅制造技术。此外,项目还将针对光谱分析市场中对光栅的特殊需求,开发低杂散光光栅、特种面型光栅等11种光栅,并在5家光谱分析仪器企业和1家高校中进行应用示范及产业化推广,从而推动我国光栅制造领域应用基础研究及产业级研究成果的涌现。  中科院长春光机所光栅技术研究始于1958年,是我国第一批光栅刻划机和第一块衍射光栅的诞生地。经过50余年的努力,光栅设计、制造、复制和检测等技术日臻完善。2011年8月,依托长春光机所筹建的“国家光栅制造与应用技术研究中心”顺利通过现场评估,进一步推动了长春光机所在光栅研制及光谱仪器开发和工程化方面的发展。
  • 天津拓普—超声光栅仪即将面市
    由天津市拓普仪器有限公司与天津大学应用物理系共同研发的WCG-1型超声光栅仪即将面市。该仪器采用光具座形式,除具有良好的直线性特点外,还具有方便组合多种实验等优点。用超声光栅测定液体中声音的传播速度是一个很好的综合性普物教学实验。

光栅式指示定仪相关的方案

光栅式指示定仪相关的资料

光栅式指示定仪相关的试剂

光栅式指示定仪相关的论坛

  • 光谱仪用光栅知识简介 !

    光栅作为重要的分光器件,它的选择与性能直接影响整个系统性能。光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂薄金属表面机械刻划而成;复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息光栅通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点,全息光栅光谱范围广,杂散光低,且可作到高光谱分辨率。◆如何选择光栅选择光栅主要考虑如下因素:1、光栅刻线,光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率,刻线多光谱分辨率高,刻线少光谱覆盖范围宽,两者要根据实验灵活选择;2、闪耀波长,闪耀波长为光栅最大衍射效率点,因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实验需要波长附近。如实验为可见光范围,可选择闪耀波长为500nm;3、使用范围,3、光栅效率,光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高,信号损失愈小。为提高此效率,除提高光栅制作工艺外,还采用特殊镀膜,提高反射效率。◆光栅方程反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽,一系列平行刻槽的间隔与波长相当,光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长,在大多数方向消失,只在一定的有限方向出现,这些方向确定了衍射级次。如图所示,光栅刻槽垂直辐射入射平面,辐射与光栅法线入射角为α,衍射角为β,衍射级次为m,d为刻槽间距,在下述条件下得到干涉的极大值:Mλ=d(sinα+sinβ)定义φ 为入射光线与衍射光线夹角的一半,即φ=(α-β)/2;θ 为相对于零级光谱位置的光栅角,即θ=(α+β)/2,得到更方便的光栅方程:mλ=2dcosφsinθ从该光栅方程可看出:对一给定方向β,可以有几个波长与级次m 相对应λ 满足光栅方程。比如600nm 的一级辐射和300nm 的二级辐射、200nm 的三级辐射有相同的衍射角,这就是为什么要加消二级光谱滤光片轮的意义。衍射级次m 可正可负。对相同级次的多波长在不同的β 分布开。含多波长的辐射方向固定,旋转光栅,改变α,则在α+β 不变的方向得到不同的波长。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/03/201703121735_01_1841897_3.jpg

  • 原子吸收:关于光栅的知识

    1 衍射光栅  平行、等宽而又等间距的多缝装置称为衍射光栅。它是利用光的衍射和干涉现象进行分光的一种色散元件,衍射光栅有透射式和反射式两种,光谱仪常用的是反射光栅,它的缝是不透明的反射铝膜。在一块极其平整的毛坏上镀上铝层,刻上许多平行、等宽而又等距的线槽,每条线槽起着一个“狭缝”的作用,每毫米刻线有1200条、2400条或3600条,整块光栅的刻线总数几万条到几十万条。  反射光栅从形状上可分为平面光栅,凹面光栅和阶梯光栅,  从制作方法上又可分为机刻光栅和全息光栅。  在一般的反射光栅中,由于光栅衍射中没有色散能力的零级衍射的主极大占去衍射光强的大部分(80%以上),随着主极大的级次增高,光强迅速减弱(见下图)。因此,使用这种反射光栅时,其一级较弱,二级衍射更弱。为解决这个问题,将光栅的线槽刻成锯齿形,使其具有定向“闪耀”能力,把能量集中分布在所需的波长范围。光栅复制技术的发展,大大降低了生产成本并缩短生产周期,使光栅得到广泛应用1.1平面反射光栅  1) 光栅方程  根据光的衍射和干涉原理,当平行光束以α角入射于光栅时,则在符合下述方程的角β方向上获得最大光强。  d(sinα+sinβ)=ml (m=0 ±1 ±2)  其中d-光栅常数,即相邻两缝的间距,α-入射角,β-出射角,m-衍射级次,或称为光谱级次,l-衍射光的波长。  2) 平面反射光栅的特点  a) 根据光栅方程,当光栅常数d为定值时,对于同一方向(α一定)入射的复合光在同级光谱(m一定)中,不同波长l有不同的衍射角β与之对应,因而可在不同的衍射方向获得不同波长的谱线(主极大)。这就是光栅的色散原理。  b) 对一定波长l的单色光而言,在光栅常数d和入射角α固定时,对于不同级次m(m=0 ±1 ±2……)可得到不同角β的衍射光,即同一波长可以有不同级次的谱线(主极大)。  c) 对于复合光,当m=0时,在β=-α的方向上,任何波长都可使光栅方程成立,即在此方向上,光栅的作用就象一面反射镜一样,将得到不被分光的零级光谱,入射光束中的所有波长都叠加在零级光谱中。当d和α为固定值时,对于不同波长、不同级次的光谱,只要其乘积ml等于上述定值,则都可以在同一衍射角β的方向上出现,即  m1l1=m2l2= m3l3=……  例如,一级光谱中波长为l的谱线和波长为l/2的二级谱线,波长为l/3的三级谱线…… 重叠在一起(如图)。这种现象称为光谱级次的重叠。它是光栅光谱的一个缺点,对光谱分析不利,应设法予以清除。在平面光栅光谱仪中,常用不同颜色的滤光片来消除这种级次重叠。同时为了获得足够的光能量,在ICP光谱分析中,通常选择第一级次(m=1)或第二级次(m=2)的光谱谱线。  3) 平面光栅光谱仪的主要性能  a) 色散率:光谱在空间按波长分离的程度称为色散率,其表示方法有角色散率(dβ/dl)和线色散率(dl/dl)两种,通常以线色散率倒数dl/dl表示仪器的色散能力,其单位为nm/mm。  光栅的角散率:dβ/dl=m/(d٠cosβ)  由此可见,角色散率与光谱级次m成正比。对于给定的波长范围,由于平面光栅的β较小(0-8°),cosβ变化不大(1-0.99),因而在同一个级次下,角色散率几乎不变;二级光谱的角色散率为一级光谱角色散率的两倍。  在Ebert装置的平面光栅仪中,焦平面与光轴垂直, β=0-8°时,cosβ»1。此时线色散率倒数为:  dλ/dl@d/(f·m) f为成像物镜的焦距。  可见,线色散率倒数与成像物镜的焦距f、衍射光谱级次m成反比,即采用长焦距和高衍射级次的光谱有利于提高线色散率。同时平面光栅光谱仪的线色散率倒数只有在β角很小的情况下才接近常数,即随波长的增加,线色散率倒数几乎不变。  b) 分辨率:仪器的分辨率又称分辩本领,是指仪器两条波长相差极小的谱线,按Rayleigh原则可分开的能力。所谓Rayleigh原则,指一条谱线的强度极大值恰好落在另一条强度相近的谱线的强度极小值处,若此时这两条谱线刚能被分开,则这两条谱线的平均波长λ与波长差Δλ之比值,称为仪器的理论分辨率 R,即R=λ/Δλ。对于平面光栅,理论分辨率R=λ/Δλ=m·N,由此表明光栅的分辨率为光谱级次m与总刻线N的乘积,不随波长改变而改变。  当级次m增加时,角色散率、线色散率及分辨率均随之增加。这时光栅偏转的角度也越大,它在衍射方向的投影也越少,因而光栅的有效孔径也随之越小,因此,光谱强度也相应减弱。  实际分辨率由于受许多客观误差因素的影响,总是比理论分辨率差,一台单色仪的分辨率是它能分辨的最小波长间距,这个波长间距不但有赖于仪器的分辨本领,而且也与狭缝的宽度、狭缝的高度及光学系统的完善性有关。在扫描式单色仪中,分辨率通常用半强度带宽值报出  1.2闪耀光栅  前面介绍的一般光栅具有色散能力。但衍射能量的80%左右集中在不分光的零级光谱中,而有用的一、二级光谱依次减弱,因而实用价值很低。为了克服这一缺点,适当地改变反射光栅的刻槽形状,使起“狭缝”作用的反射槽面和光栅平面形成一定的倾角e,如图,即可将入射光的大部分能量集中到所需衍射级次的某个衍射波长附近,该波长称为“闪耀波长”,这种现象称为光栅的闪耀作用,这种光栅称为闪耀光栅,也称小阶梯光栅,倾角e为闪耀角。  闪耀光栅的主要好处在于可使光能量集中在第一光谱级次(m=1)的λb与第二光谱级次(m=2)的λb/2附近。  a) 在“自准”条件下(a=b=e),闪耀波长与闪耀角的关系为2dSine=m·λbm,可根据需要的闪耀波长λbm来设计相应的闪耀角e。  b) 光栅的闪耀并非只限于闪耀波长,而是在该闪耀波长附近的一定范围内也有相当程度的闪耀。  c) 闪耀光栅的特性。这种光栅的一级闪耀波长λb1=560nm,有86%的光强集中在一级,而其余14%被分配在零级和其他各级中。从该图可以看出,该光栅的二级光栅光谱的闪耀波长λb2=560/2=280nm,实际上,光强的分布难与理论值完全相符,因为光栅刻线形状不可能精确

光栅式指示定仪相关的耗材

  • 衍射光栅-相干光栅阵列
    衍射光栅-相干光栅阵列图1。照片LightSmyth单片光栅阵列单片式单基片硅栅阵列(图1)提供独特的高分辨率连续获得超出所能获得的单个光栅的光带宽。这种光栅须不能有移动部件。单片光栅阵列是一致的单次数据采集与许多宽带应用,例如激光诱导击穿光谱,可以帮助系统元件数显著减少。每个阵列由的所有相干在单一基板上形成的多个主光栅。母光栅有连续且轻度重叠的有效光谱范围。此外,在基底的顶部和底部的辅助光栅产生直接的校准的输出区域用于使用一个单一参考波长,如氦氖激光器的波长的光输出。 图2。示意图说明操作的单片光栅阵列光谱仪与2D检测器设置在图2给出在一个简单的光谱仪装置的光栅阵列。一个二维检测器阵列被用来记录的光栅阵列的输出。图3示出了照射时由白色光源和一个共同传播的氦氖激光器的二维探测器阵列上看到的光栅阵列输出的示意图。每个附近的水平行包括四个主光栅中的一个的输出端,并对应于光谱范围表示。此外,还显示为红点是6个辅助光栅校准参考标记,当暴露在氦氖光。进一步详细描述了设备的运行和设计说明请点击http://www.lightsmyth.com/downloads/product_info/LS_MonoGrat_Array.pdf。图3。阵列输出信号检测原理图校准/准直功能特性 顶部和底部的六个小光栅阵列(参见图1)提供了用于校准的光谱输出,以及协助系统对齐标记,这里的校准标记用于氦氖照明,见示意图4。校准标记提供了两个主要的功能:第一,它们表示在主光栅输出的校准部分的开始和结束点。因此,它们允许用户校准波长作为位置的函数的沿着各母光栅色散线 - 注意,校准点所表示的波长范围内是独立的光栅输入角度,使光栅阵列具备各种不同可能的样式。第二,辅助光栅辅助系统调整。当所述检测器表面被适当地定位在焦平面阵列后聚焦镜,两对对准标记设计为一致性和适当远场操作指示。中心两个标记阵列探测器表面使得水平正确的准直方式。更多单片光栅阵列技术细节请参考http://www.lightsmyth.com/downloads/product_info/LS_MonoGrat_Array.pdf。单片硅平面阵列硅基底具有0.73毫米厚度。基板的高度和宽度公差是0.3毫米。光栅基片:单晶硅。光栅镀膜:铝(其它镀膜类型额外收费)。Primary GratingCalibration Markers 1Line/mmSizePart NumberPrice first 99 units 2,3Unit price 100+1381, 522 nm178812.5mm x12.5mmSAG-1212A-Al$96.00 ea.$25.00 ea.2509, 696 nm13413683, 935 nm9984929, 1271 nm7341The calibration markers listed are produced by a HeNe laser incident on the small calibration gratings. Use of a different calibration light source having a different wavelength will produce markers (see Fig. 4) coinciding with different values of the dispersed spectra of the four primary gratings. Using a common input angle for calibration light and signal, the calibration marks delineate spectral output ranges of the primary gratings that are independent of grating input angle.2 For orders with the total product value below $250.00, a handling charge of $75.00 will be added.3 Academic discounts are available for eligible institutions. To determine eligibility complete an account application procedure.
  • 波长锁定光纤光栅
    波长锁定光纤光栅 特点光纤光栅的一种非常常见的应用即是DFB激光模块的稳定。它们适用于做EDFAs 980nm/1480nm以及针对1300nm/1550nm的WDM模块的泵浦光。根据您的具体要求,我们可以做到波长锁定于850nm或者1064nm,可以低至800nm,甚至可以使用保偏光纤。这种光栅可以选择峰值锁定或者线性侧面锁定(示例如下) 应用EDFA泵浦光波长锁定用于WDM应用中的DFB激光器拉曼光纤激光器的光纤谐振器可调谐激光模块 封装波长锁定光纤光栅可以结合可调谐设置或者非热敏封装。 详细参数规格高级标准中心波长(CW)800..1620nm980nm 1280..1340nm 1520..1620nm反射率3..50%(标准)FWHM0.08..1.5nm插入损耗0.2dB验证试验100kpsi(SM光纤)50kpsi(PM光纤)最小弯曲直径25mm接口 裸光纤,FC/PC,FC/APC,ST,SC/PC,SC/APC,DIN,SMA工作温度5..120℃ 实例峰值锁定光纤光栅 @851.3nm 线性侧面锁定光纤光栅 @193.4GHz
  • 光栅
    Diffraction Gratings 衍射光栅 Optometrics 公司有着四十多年衍射光栅设计和生产经验,在工业,教育,科研领域为各种各样的应用提供广泛的光栅选择。Optometrics公司自身的刻划技术能力以及生产和开发全息实验室,为客户应用提供最佳光栅选择。 Optometrics公司是少有的几个既可以生产刻划光栅,也可以生产全息光栅的公司。 用于光谱仪器的标准光栅包括刻划和全息复制两种。激光应用的标准光栅包括:用于分子激光器的高损伤阈值原始和复制光栅,用于染料激光器的全息掠入射光栅以及阶梯光栅。丰富的光栅类型● 刻划反射式光栅(UV, VIS,NIR)● 全息反射式光栅● 阶梯光栅● 掠入射光栅● 分子激光器(ML)光栅● 透射式光栅(UV, VIS,NIR)● 透射/反射式光栅分束器 Optometrics增加3D纳米成像对衍射光栅进行优化(原子力显微镜为衍射光栅生产提供了新的优化基准) Optometrics公司最近为其计量体系增加了扫描原子力显微镜(AFM),对衍射光栅优化设计中涉及的纳米测量,特性描述,操作处理技术树立了新的标杆。AFM增强了Optometrics对OEM客户的特殊支持和服务。 AFM是Optometrics使用的几种精密制造和工程计量工具中的一种,用于了解光栅表现的缘由。在准备生产新的母光栅时,AFM通常用于对光栅刻槽的尺寸,形状,以及角度进行确认。同时作为取证工具用于帮助发现光栅性能异常原因。 当用金刚石刀刻划或全息方法制作一个新的母光栅时,通过高分辨率成像工具检察,可以确认微观刻槽的形状和纹路是否优化和符合设计要求。下面是Optometrics生产的衍射光栅扫描图像。图像1为全息记录的1200刻线/mm紫外闪耀光栅。注意由AFM获得并确认的高清晰槽纹剖面。图像2为2180刻线/mm全息记录衍射光栅正弦槽纹剖面。 在众多光谱仪器设计中,衍射效率和动态范围是至关重要的参数。了解为什么一个特定的衍射光栅可能有一个小的但却是必然的性能差异,对仪器设计的成功是很重要的。 通常许多衍射光栅只是简单说明其原本的制作方式,刻线频率和闪耀波长 (如市面上通常标明的每毫米600刻线及闪耀波长400nm的刻划式光栅)。但是,不是所有刻划式的600刻线/mm闪耀波长400nm的光栅都相同。同样,用于复制光栅的“母光栅”会由于刻槽面的大小,形状或位置的异常,而导致性能的相互差异。正如下面两种不同的每毫米600刻线及400nm闪耀波长母光栅的衍射效率曲线所示,这些纳米级的差异可能在或窄或宽的光谱范围内显著影响光栅性能。 您可以将您的具体光栅规格要求发给我们,我们可以提供光栅定制和常规产品技术规格供您参考。另外,Optometrics公司可以提供光栅检测服务,为您的光栅性能提升提供专业分析。 详情请联系我公司销售人员。
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