光学粒度分析仪

仪器简介：AccuSizer 780/SIS型粒度分析仪采用全封闭式系统设计，便于用户进行清洗，且杜绝外界对系统的污染，使进样、分析的误差减少。尤其适用于实验室中，对微量样品做精确的粒径分析，是PSS公司产品中最早获得美国FDA认证的分析仪器。技术参数：1.标准范围：0.5 -- 400 um 2.其它可选范围: 1-- 400 um；3--1000 um；5--2500 um 3.通道数：32-512 4.注射器：0.5、1、10、25、50 mL（可选）主要特点：1.领先的单粒子光学传感（SPOS）技术 2.能够同时提供颗粒绝对数目、粒度分布、体积分布等信息 3.专利技术的自动稀释系统，适用于任意浓度样品的检测 4.真实的粒度分布，绝佳的分辨率、准确度和重现性 5.准确的注射器进样，全封闭式的系统设计

EyeTech仪器简介：EyeTech激光粒度粒形分析仪采用光阻技术（LOT）与视频分析相结合的工作原理，能够精确测量样品尺寸、粒形和浓度，形成完整的颗粒大小表征。这项技术提供了令人兴奋的优点组合：测量是在单个颗粒上进行的，因此分辨率远高于传统衍射法。与传统其他方法不同，测量系统无需校准，并且最重要的是测量结果不依赖与被测样品的物理/光学性质。 EyeTech是一个模块化测量系统，适用于一系列干湿，可以安装多种不同的测试单元。通过快速更换测量单元，这款多功能仪器可以分析液体、 乳剂、 干粉、 纤维、 磁性颗粒、 加热液体和气雾剂中的颗粒。这种应用导向的测量方法， 可确保用户的样品根据其特定性质进行测量。 技术参数：1． 粒度粒形测试范围：0.01μm-3600μm；2． 浓度范围：~109个/mL；3． 进样方式：液体、干粉、载玻片；4． 光源：高稳定氦-氖激光器，波长为632.8纳米；5． 激光分辨率：全量程的0.33%；6． 检测器：硅PIN二极管检测器；7． 视频光源：同步频闪光源，亮度和持续时间可调；频闪率可达30次/秒；8． 视频摄像机：高分辨率B&W CCD摄像机；9． 对非球形颗粒可以提供多种形状参数，提供40个ISO形状参数。 主要特点：1． 测量结果与颗粒或介质的光学特性无关，无需额外参数；2． 绝对测量方法，无需准直与标定；3． 通过使用动态图像分析技术， 准确表征非球形材料4． 可以对已经保存的图像和录像重新分析；5． 可根据粒径和形状对样品分类和过滤；6． 仪器的光学测量系统（主机）与样品分散系统独立工作；7． 软件安全性符合FDA的21 CFR Part II要求，可以设置多个用户级别；8． 精确分析和表征球形、 非球形及细长颗粒。 主要应用：1． 地质学：土壤、 黏土、 沙子、 高岭土2． 制药： 乳剂、糖浆、 微载体、 注射针剂3． 化学：颜料、 涂料、 杀虫剂、树脂、 乳液4． 金属：金属氧化物、 非金属氧化物、 金属粉末5． 能源：煤粉、 燃料、 浆液、 粉煤灰6． 食品：咖啡、 巧克力、研磨制品、 面粉7． 生命科学：细菌、 细胞、 酵母、血液分析

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

LT2100系列激光粒度分析仪是真理光学技术团队基于多年的科研成果开发的一款性能、支持干湿法两用的新一代粒度分析仪。LT2100主机采用激光衍射法的粒度分析系统，粒径范围0.1μm至1000μm, 增强版LT2100 Plus的粒径范围：0.05μm-1200μm该系统采用的光路设计及改进型的光学模型和优化的反演算法，克服了爱里斑的反常变化(ACAD)对粒度分析结果的干扰，且无需选择分析模式。光源为波长638nm, 20mW集成恒温系统的超高稳定的固体激光器，采用偏振滤波技术，使用斜入射窗口及超大角检测技术，全角度范围无盲区，在整个粒径范围内均可获得可靠的结果。光路自动对中设计，自动化程度高。LT2100系列性能指标型号LT2100LT2100 Plus测量原理激光衍射/静态散射光学模型全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选粒径范围0.1μm-1000μm0.05μm-1200μm进样方式容量500mL离心泵 内置超声 (防干烧，手动控制)手动进水，排水单电机驱动容量500mL离心泵内置超声 (防干烧，手动控制)手动进水，排水单电机驱动光源半导体固体激光器对中方式自动进样系统分体式光学系统逆傅里叶变换准确度Dv50优于±0.6% （NIST可溯源乳胶标样）重复性Dv50优于±0.5% （NIST可溯源乳胶标样）软件SOP功能有光学系统尺寸主机510mm x 257mm x 350mm进样器270mm x 170mm x 340mm 主机原理图 LT2100加持了以下多项创新技术：◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化（ACAD)的补偿修正技术◆ 斜入射反傅里叶光路配置◆ 格栅式大角度检测阵列技术◆ 统一的粒度分析模式◆ 连续液位感知及控制技术◆ 高灵敏度光能跟踪及稳定技术LT2100光学测量系统的性能还包括：◆ 符合ISO13320衍射法测量技术标准◆ 无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.05微米至1200微米◆ 实时测量速率高达每秒2000Hz，优于当前国内外的同类产品◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点Hydrolink SM 手动湿法分散进样器◆ 标准容量大500毫升◆ 手动控制，操作简单明了 ◆ 系统内置高效防干烧超声分散器，各类样品都能被有效分散和均输送◆ 悬浮式液面感知，气泡自动消除◆ 全自动样品分散和清洗◆ 易用工具，实现样品池窗口的快速拆卸和清洁

真理光学全自动激光粒度分析仪LT3600 Plus 是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，其多项技术性能和指标均突破了市场上现有的激光粒度仪的局限性和瓶颈，成为当今粒度仪市场具有里程碑意义的产品。 真理光学全自动激光粒度分析仪LT3600 Plus 加持了以下多项创新和专利技术：◆ 偏振滤波技术◆ 衍射爱里斑反常变化（ACAD）的补偿修正技术◆ 斜置梯形测量窗口◆ 格栅式超大角检测技术◆ 粒度分析模式优化及自适应技术◆ 双驱动进样分散集成技术 真理光学全自动激光粒度分析仪LT3600 Plus 光学测量系统的卓越性能还包括： ◆ 完全符合ISO13320衍射法测量技术标准◆ 独特的光路配置，超大连续的物理测量角度，无检测盲区◆ 高灵敏度格栅式后向散射检测单元，外加独创的杂散光隔离和修正技术◆ 改进型反演算法，用户无需选择“分析模式”，兼顾极高的分辨率和稳定性◆ 无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.015微米至3600微米◆ 采用全息信号同步处理技术，实时测量速度高达每秒10000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点◆ 采用偏振空间滤波技术，彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

仪器简介：荷兰安米德(Ankersmid)已经在中国发布了其独特的粒度分析仪。针对现在的测量技术如激光衍射法和电子光学计数原理的局限性，Ankersmid的这款分析仪可以应用于更多的领域。采取的测量方法是TOT（时间转换）激光技术结。Ankersmid分析仪在测量高低浓度溶液、纤维、透明颗粒及各种颗粒的混合体时具有明显优势。利用复杂的动态粒形分析技术，我们可以清楚地给出颗粒详习粒度参数。技术参数：1.测量参数：粒度、粒形，浓度 2.测量范围：0.1-3600&mu 3.颗粒状态描述：液态、气态、气溶胶、在平面上或者在线主要特点：1.测量结果直接与颗粒大小相关，而不是二级特点推算出来 2.无需了解样品的折射指数以及其它光学特性及指标 3.能分析混合、透明、反射光的样品 4.无需对样品进行稀释 5.免校正

真理光学技术团队具有超过二十年的粒度表征及应用开发的经验，曾研发出商用激光粒度分析仪。喷雾颗粒的大小及其控制决定了许多产品的最终质量，如吸入给药过程中的药物输送，燃油喷雾，气溶胶，火箭发射时燃料的燃烧效率评估，能源化工行业及喷嘴研究等诸多应用。由于喷雾颗粒的高速运动，粒径范围宽及雾场的不规则，要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计，以实现对高速喷雾粒度分析仪进行准确的分析。Spraylink 高速喷雾粒度分析仪杰出性能包括：◆ 10KHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布◆ 独特的透镜设计和光路系统优化，宽广的喷雾雾场测量范围◆ 无需更换透镜，即可覆盖0.1um–2080um的动态测量范围◆ 全自动智能光学对中◆ 独特的镜头吹扫保护装置◆ 用户自定义的光学导轨配置◆ zui新高浓度补偿分析技术◆ 灵活的多触发选项，实现不同应用的测量同步◆ 全金属外壳和支撑配合高精度光学导轨计，兼顾极高的稳定性和灵活性◆ IP65密封防水等级的发射和接收单元◆ 喷雾全过程喷雾粒度变化跟踪分析◆ 喷雾过程不同时刻喷雾粒度结果呈现，用于检查随不同时间喷雾颗粒大小变化的动态过程◆ 测量结束后喷雾粒度历史结果回放功能测量原理激光衍射粒径范围光学模型工作范围浓度范围检测系统光源激光安全光学对中系统数据采集速率测量速度0.1μm -2080μm，无需更换透镜完全米氏理论，包括高浓度补偿技术0.3μm时为150mm，7μm时为1800mmzui高遮光度：90%（取决于粒径范围）38单元非均匀交叉及面积补偿的检测器阵列波长638nm，20mW集成恒温及偏振空间滤波的高稳定固体激光器组件3B级激光产品智能全自动zui高10kHz，连续可调每秒10000次准确度Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)重复性测量触发方式外部设备同步Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)内部：透光率或光衍射信号；外部：TTL电平输入或开关触发TTL触发输出软件 计算机zui低要求Intel i5处理器，8G内存，250G硬盘，鼠标、键盘和19英寸平板显示器、USB2.0或以上接口操作平台Windows 7 或以上专业版操作环境密封等级IP65（适用于发射和接受系统）温度/湿度5℃-40℃，＜85%，无冷凝电源要求 重量和尺寸交流220V, 50/60Hz，标准接地主机系统重量28kg主机尺寸（含光学导轨）1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

结构原理ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。透皮乳膏粒度晶型分析仪的适用领域透皮乳膏粒度晶型分析仪该仪器广泛适用于API原料药、半固体软膏、液体制剂、药物晶型分析、生物医药、食品等领域的各种颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。技术参数1.粒径范围：200nm-3000μm2.准确性：＜3%。3.粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。4.粒度统计：体积、面积、颗粒。5.形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。6.摄像机：1800万像素。7.软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。8.可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。9.配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS多功能超声粒度分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS多功能超声粒度分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

ZML-310膏剂粒度粒形分析仪，透皮乳膏粒度晶型分析是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。 　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

喷雾颗粒的大小及其控制决定了许多产品的最终质量，如吸入给药过程中的药物输送，燃油喷雾，气溶胶，火箭发射时燃料的燃烧效率以及无人机喷洒农药效率评估，能源化工行业及喷嘴研究等诸多应用。由于喷雾颗粒的高速运动，粒径范围宽及雾场的不规则，要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计，以实现对喷雾粒度进行准确的分析。Spraylink的最高采样频率可达10kHz，系统使用最优化的高灵敏度检测和全息信号处理系统，并融合高浓度补偿技术，极大减少了在高浓度喷雾颗粒粒度的测量时多重衍射对结果的影响，可确保在高达90%的遮光度下准确测量雾滴颗粒的粒度分布。且无需更换透镜，粒径范围高达0.1μm -2080μm。Spraylink-E型仪器是Spraylink的普及版产品，采样速率为2000Hz。Spraylink 高速喷雾粒度分析仪杰出性能包括： ◆ 10kHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布◆ 独特的透镜设计和光路系统优化，宽广的喷雾雾场测量范围◆ 无需更换透镜，即可覆盖0.1μm–2080μm的动态测量范围◆ 全自动智能光学对中◆ 可加配 独特的镜头吹扫保护装置◆ 用户自定义的光学导轨配置◆ 最新高浓度补偿分析技术◆ 灵活的多触发选项，实现不同应用的测量同步◆ 全金属外壳和支撑配合高精度光学导轨计，兼顾极高的稳定性和灵活性◆ IP65密封防水等级的发射和接收单元◆ 喷雾全过程喷雾粒度变化跟踪分析◆ 喷雾过程不同时刻喷雾粒度结果呈现，用于检查喷雾颗粒大小随时间变化的动态过程◆ 测量结束后喷雾粒度历史结果回放功能 项目性能指标或描述（右上角标“*”者仅适用于Spraylink-E型产品）测量原理激光衍射/静态散射光学模型完全米氏理论，包括高浓度补偿技术粒径范围0.1μm-2080μm，无需更换透镜工作范围0.3μm时为150mm，7μm时为1800mm浓度范围最高遮光度：90%（取决于粒径范围）检测系统非均匀交叉及面积补偿的检测器阵列光源波长638nm，20mW集成恒温及偏振空间滤波的高稳定固体激光器组件光学对中系统智能全自动数据采集速率最高10kHz（2 kHz*），连续可调，准确度Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)重复性Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)测量触发方式内部：透光率或光衍射信号；外部：TTL电平输入或开关触发外部设备同步TTL触发输出激光安全1类激光产品操作环境密封等级IP65（适用于发射和接受系统）光学系统重量28kg光学系统尺寸1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)，长度可根据用户需要调整

透皮乳膏粒度晶型分析仪ZML310由光学显微镜、高分辨率CCD 摄像机、颗粒图像分析软件、计算机、打印机等部分组成。其工作原理是通过专用数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单等特点。透皮乳膏粒度晶型分析仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素。　　3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

真理光学技术团队具有超过二十年的粒度表征及应用开发的经验，曾研发出商用激光粒度分析仪，在全球享有很高的声誉。LT3600是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统，其多项技术性能和指标均突破了市场上现有的激光粒度仪的局限性和瓶颈，成为当今粒度仪市场具有里程碑意义的产品。 LT3600高速智能激光粒度分析系统加持了以下多项创新和专业技术： 1、偏振滤波技术 2、衍射爱里斑反常变化（ACAD）的补偿修正技术 3、斜置梯形测量窗口 4、格栅式超大角检测技术 5、粒度分析模式优化及自适应技术 6、双驱动进样分散集成技术 LT3600高速智能激光粒度分析系统光学测量系统的卓越性能还包括： 1、完全符合ISO13320衍射法测量技术标准 2、独特的光路配置，超大连续的物理测量角度，无检测盲区 3、改进型反演算法，用户无需选择“分析模式”，兼顾极高的分辨率和稳定性 4、无需更换透镜，无需使用标准样校准，量程范围达到0.02微米至3600微米 5、采用全息信号同步处理技术，实时测量速度高达每秒20000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息 6、采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点 7、采用偏振空间滤波技术，彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器 8、金属拉丝外壳设计，兼顾耐用性和提高仪器的抗干扰能力 技术指标： 测量原理：激光衍射光学模型：全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选粒径范围：0.02μm -3600μm，无需更换透镜，不依赖标样校准检测系统：包含格栅式超大角度，非均匀交叉面积补偿检测器阵列，全测量角度范围无盲区光源：集成恒温系统的638nm, 20mW固体激光器空间滤波方式：非针孔式偏振滤波技术光学对中系统：智能全自动测量时间：典型值小于10秒测量速度：20000次/秒

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

多功能颗粒度分析仪仪器介绍：多功能颗粒度分析仪可以用来测量颗粒粒度大小，形状特征，粒径分布，颗粒表面颜色等参数。产品由成像系统，转接头，数字摄像机，分析软件和计算机等组成。工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专业的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器输出分析结果。多功能颗粒度分析仪是传统的显微镜观测功能和现代高科技图像处理功能的结合。技术参数 ：粒径范围200nm-3000μm 准确性＜3%粒径参数等效面积圆， 等效周长圆， 等效短径，等效长径等 粒度统计体积、面积、颗粒。摄像机分辨率2000万像素重要粒径参数D10、 D50 、D90 、D97软件分析自动统计分析并做粒度分布物镜 5X 10X 20X 40X产品特点：多功能颗粒度分析仪具有直观，可视，准确，测试范围宽，测量参数全面等特点分析软件：软件可以自动进行样品颗粒统计，并对颗粒做粒度分布。颗粒一键捕捉、分析。三秒完成测试。颗粒识别度＞99%。 测试过程：1）先将样品涂抹在显微镜载玻片上，用盖玻片轻轻按压盖上；2）准备好的玻片置于显微镜下观察，选择合适倍数的显微镜物镜；3）调节到合适的视野后利用多功能颗粒度分析仪的分析软件进行抓取图片，识别图片中的颗粒。分析软件可以自动快速分析出颗粒数量，给出D10、D50、D90等参数，识别视野中的颗粒并给出粒度分布，并可以按照不同的粒形进行过滤分析。4）保存并打印测试报告。

Rise-2202型全自动激光粒度分析仪此型号是一种智能型激光粒度仪，所有操作在电脑控制下自动完成，并具有自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动保存和自动打印等特殊功能。总之，只要把样品加进循环池中后点击鼠标，所有的操作全部由电脑完成，其综合性能达到国内外同类产品的先进水平。该仪器具有易于操作、便于掌握、测试速度快、结果准确性可靠、重复性好、省时省力等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。特别适合高等院校、研究院所、大型企业的实验室选用。技术参数1、测量范围：0.1~600微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：1000× 330× 320mm6、重量：39KGRise-2202型全自动激光粒度分析仪工作原理： Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测分散液的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到90度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。样品分散：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪采用湿法分散，可用蒸馏水、纯净水和酒精等液体作分散介质。大功率超声器（100W）、样品分散池（400ml）与主机一体，能够充分的对被测样品进行分散。操作简便：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪是一种智能型激光粒度仪，只需把样品加进循环池中后，所有的操作全部由电脑自动完成:自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动清洗、自动保存和自动打印等。测试信息设置：可根据被测样品的不同特性，预先设置超生时间、搅拌速度、循环泵速等信息并保存，下次测试时无需再次设置。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。功能强大的分析软件： PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

YH-MIP-1000 膏剂粒度分布检测分析仪型号：YH-MIP-1000 膏剂粒度分布检测分析仪工作原理：显微技术法检测范围：检测范围:0.3µ m-500µ m明场/暗场/偏光可调5X，10X，20X，40X 物镜选择技术优势：操作简单，搭配自动制样设备.可保证实验结果的稳定性.手动操作选择测试区域,方便快捷。颗粒自动计数,保护眼睛，减少人为操作误差。优秀的光学系统设计,对极薄样品成像,避免分散均匀带来的测量误差丰富的报告模板可供选择(数量径，体积径，面积径)

TopSizer激光粒度分析仪——中国粒度检测与分析技术的前沿之作Topsizer激光粒度分析仪是珠海欧美克仪器有限公司经过多年的技术积累后并引进国际先机技术研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，是广受客户赞誉的国产高性能干湿法激光粒度仪。一、用途：既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。二、工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。三、先进的光学系统双光源技术TopSizer激光粒度分析仪采用红蓝双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm，并有蓝光辅助半导体光源，波长0.466μm，弥补了常规设计散射光角度的盲区，大大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。稳定的激光光源进口主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。直线光路设计TopSizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减到尽可能少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜TopSizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器TopSizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，探测角范围0.016-140度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。智能判断自动对中既可作为自动测量的一部分，亦可手动在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重现性。四、先进的高性能分散进样系统湿法进样系统：标配SCF-108A循环进样器，采用灯笼头下压式水流循环回路设计，配备大功率精确自动控制搅拌电机，可达3500转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生，并具有高效的分散、清洗、排干能力。内置功率可达50W的高效管路超声装置，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均连续可调。根据需要可选更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，配备压电陶瓷精密振动控制单元及棕刚玉分散管，可适应于各种样品及分散强度的测试要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试条件可追溯。测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。五、功能强大的分析软件软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，拥有导航功能仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化SOP测量控制界面：多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换 多种方式的测量数据导出，方便数据交流具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。六、优异的测试性能宽广的测量范围TopSizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。宽分布样品对大颗粒具有强大测试性能毫米级玻璃微珠对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力100nm latex良好的重复性TopSizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。杰出的分辨能力Topsizer能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。快速的测试速度TopSizer快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。高灵敏度多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。良好适应性可选具有优异分散能力的分散系统，即使对于大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而尽可能满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。七、技术指标1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试，标配进样器均采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调。（配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度：无级连续可调。7.光路系统：双光源直线光路设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米；激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠，探测器自动对中；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构；光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，主光源探测角范围0.016-140度，整体无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机： 1310×275×425mm循环进样器：240×380×370mm（SCF-108A），210×260×345mm（SCF-105B）干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）

激光粒度分析仪TopSizer介绍 激光粒度分析仪TopSizer是公司经过多年的技术积累后研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，代表了中国粒度检测与分析技术的新高度。 一、技术指标： 1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性误差：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度：0-100% 无级连续可调。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能； 采用折叠光路，高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠； 单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题； 探测器自动对中。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度，无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化； 具备SOP标准操作流程功能； 多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数； 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机：1310×275×425mm循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 干法进样器：305×245×295mm（DPF-110） 二、工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使公司激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。 三、先进的光学系统 双光源技术TopSizer激光粒度分析仪采用同轴双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm；并有半导体蓝光辅助光源，波长0.466μm，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。在国产激光粒度分析仪中，这项技术为公司独jia采用。 稳定的激光光源主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。直线光路设计TopSizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，杂散光影响低，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光最大接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减到最少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜TopSizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器TopSizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。自动对中在几秒内即可完成，既可作为自动测量的一部分，亦可在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重复性。出色的分散系统湿法进样系统：标配SCF-108循环进样器，采用先进的循环回路设计，大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，具有高效率的分散、清洗、排干能力。内置最大功率100W超声探头，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均无极连续可调。根据需要可选择更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，可适应于各种样品测试对分散强度的要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。四、功能强大的分析软件软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化 流程界面清晰明了，拥有导航功能 仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化SOP测量控制界面： 当仪器配置湿法自动化进样器（SCF-105B）时，上左图为湿法进样器控制面板，用户可以设置泵速、超声功率、定时超声时间、开启与关闭定时超声，可以执行进水、排气泡、清洗、排水与停止操作。自动化进样器控制面板 当仪器配置干法自动化进样器（DPF-110）时，上右图干法进样器控制面板，用户可以设置进料速率，选择气流控制模式，也可以执行自动清洗与停止等操作。多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换 多种方式的测量数据导出，方便数据交流 具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能 五、卓越的仪器性能宽广的测量范围TopSizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。 对大颗粒具有强大测试性能 16-20目玻璃微珠 对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力 良好的重复性TopSizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次D10/μmD50/μmD90/μm113.4936.9771.64213.4636.9471.73313.5137.0671.76Average13.4936.9971.71SD0.030.060.06RSD (%)0.190.170.08 良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。 杰出的分辨能力Topsizer能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。 快速的测试速度TopSizer优秀快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。 超高灵敏度多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，最大探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。 超强适应性可选具有极强分散能力分散系统，即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而最da程度满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。

LT3600S激光粒度分析仪产品介绍： LT3600S激光粒度分析仪是基于超过二十年的粒度表征及应用开发的经验和多年的科研成果开发的具有性价比的新一代超高速智能激光粒度分析系统。 LT3600S激光粒度分析仪多项性能和指标均达到目前激光粒度分析技术的蕞高水平，成为化工、制药、电池、水文地质、矿业、水泥、涂料、稀土、军工航天、墨粉、3D打印和粉末快速成型等诸多行业颗粒粒度测量的仪器。LT3600S激光粒度分析仪加持了以下多项创新和技术：1、偏振滤波技术2、衍射爱里斑反常变化（ACAD）的补偿修正技术3、斜入射反傅里叶光路配置4、格栅式大角度检测阵列技术5、粒度分析模式优化及自适应技术6、双驱动进样分散集成技术LT3600S激光粒度分析仪的性能还包括：1、符合ISO13320衍射法测量技术标准2、光路配置，超大连续的物理测量角度，无检测盲区3、改进型反演算法，用户无需选择“分析模式"，兼顾的分辨率和稳定性4、无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.02微米至2800微米5、采用全息信号同步处理技术，实时测量速度高达每秒20000次，不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息6、采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统，克服了氦氖气体激光器预热时间长，使用寿命短的缺点7、采用偏振空间滤波技术，摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器8、金属拉丝外壳设计，兼顾耐用性和提高仪器的抗干扰能力技术指标:项目指标测量原理激光衍射光学模型全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选粒径范围0.02μm -2800μm，无需更换透镜，不依赖标样校准检测系统包含格栅式超大角度，非均匀交叉面积补偿检测器阵列，全测量角度范围无盲区光源集成恒温系统的638nm, 20mW固体激光器空间滤波方式偏振滤波技术光学对中系统智能全自动测量时间典型值小于10秒测量速度20000次/秒度Dv50优于±0.6% （NIST可溯源乳胶标样）重复性Dv50优于±0.5% （NIST可溯源乳胶标样）激光安全1类激光产品计算机配置In i5处理器，4GB内存，250GB硬盘，鼠标，键盘和宽屏显示器计算机接口USB2.0软件运行平台Windows 7版或以上版操作环境温度5℃ - 40℃操作环境湿度10% - 85%相对湿度（无结凝）电源要求交流220V, 50Hz – 60Hz, 标准接地光学系统重量26kg光学系统尺寸636mm x275mm x320mm

微流脉冲纳米粒度分析仪成熟技术的现代操作微流脉冲纳米粒度分析仪使用微流体电阻脉冲传感器对纳米颗粒进行表征,该技术是微流控与电阻脉冲技术的结合,简称微流脉冲纳米分析技术（MRPS）微流脉冲纳米粒度分析仪的特点：1、微流脉冲纳米粒度分析仪不依赖于颗粒材料类型2、高分辨率粒径分布测量&真实粒径分布3、微流脉冲纳米粒度分析仪测量范围：粒径50nm至10um4、多分散性体系5、一次性微流体滤芯6、在几分钟内完成总样分析7、微流脉冲纳米粒度分析仪仅需3μL样品8、可与光学技术正交验证9、可测量颗粒浓度微流脉冲纳米粒度分析仪的应用：1、蛋白质聚集2、细胞外囊泡和外泌体3、基因治疗和纳米脂质体药物4、病毒

● 具有优良的测量重复性及大颗粒、小颗粒测量准确性。● 采用简洁的系统结构，可靠性好，可免维护或更少的维护（免费保修两年）。● 强大的软件功能，支持报告设计及自定义计算，可使用编程语言。● 超高性价比，为中小企业精心打造的，用得起、用得好的激光粒度分析仪。● 超强的纳米颗粒测量。结构原理PL600型智能激光粒度分析系统，是根据颗粒对光的散射原理，从散射光能的分布中反演出被测颗粒的粒度分布。颗粒在激光束的照射下，其散射光的角度与颗粒的大小成反比关系，大颗粒的散射角较小，小颗粒的散射角较大。该仪器采用全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构。具有测量的重复性好、动态范围宽、测量速度快、操作简单方便及稳定可靠、易维护等优点，是一种适用面较广的粒度分析仪；可以用来测量各种固体粉末、乳液颗粒的粒度分布。适用领域该仪器广泛适用于磨料、打印耗材、建材、电池、非金属矿、粉末冶金、精细化工、生物医药、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、农药、食品等领域的各种颗粒粒度大小的测量。性能指标1. 测试范围：0.02～1000μm2. 重复性误差：1% （D50偏差）3. 进样方式：湿法4. 采集频率：3000次/秒5. 测试时间：1～2分钟6. 探测单元数：55个7. 激光器：进口半导体激光器8. 工作环境： 5～35℃（温度），＜85%（相对湿度）9. 输出数据： 粒度分布表、粒度分布图、平均粒径、中位径、比表面积等10. 外观尺寸：（L×W×H）：695×265×296mm（主机）11. 超声波功率： 120W功能特征● 简洁可靠的光路及结构1. 全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构，大幅度提高了样品测量的重复性及大小颗粒测量的准确性。2. 透镜后傅立叶变换结构，使最大接收角不受傅立叶镜头口径限制。3. 进口半导体激光发射器，低电压供电，具有更快、更好的稳定性及可靠性（预热5分钟后即可进行测量，远远优于氦-氖激光器30分钟以上的预热时间）。4. 精密超低偏置电流的数据处理电路，能够处理极其微弱信号，扫描频率达到3000次/秒。5. 独创的一体化激光器及后置对中调节锁紧机构，可实现免维护及防止运输或挪动过程中零环移位造 成的测试偏差。6. 窗口材质采用超硬光学玻璃及不锈钢，耐磨、易清洗，维护方便。7. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。8. 水平直线光路布置，光路结构稳定可靠。9. 底座采用硬铝制作，结构轻便稳定性好；10. 外壳采取了防震、防尘、防潮、防辐射设计，便于运输和在恶劣环境下工作。11. 结构紧凑，占用空间小，能够节约宝贵的实验室空间。12. 湿法进样系统采用离心增压泵，低电压供电，更安全并可连续线性调速。● 强大易用的软件系统1. 具有手动及SOP标准操作流程功能，可以大大减少人为因素的影响，使测试流程标准化。2. 多种分析模式：单峰模式、通用模式、增强模式、多重窄峰。3. 支持结果模拟，能将当前分析结果模拟成其它原理仪器的测量结果（如库尔特、图像仪等）。4. 支持报告设计及自定义计算，用户可根据需要自定义报告模板，并可使用编程语言进行计算，完成各种特殊要求。5. 超过百种的样品折射率；并提供光学参数优化功能，对样品折射率进行优化调整。6. 采用类似“文件资源管理器”的文件浏览方式，报告文件打开、查找更加简便快捷。7. 多种报告窗口：记录、分析结果、百分报告、筛分报告、拟合报告、统计报告、趋势报告、平均报告等；并可对记录进行排序，使用多种方式调整报告窗口大小（整页、页宽、100%等）。8. 可任意输入样品折射率（包括实部和虚部），系统自动完成参数计算，无需用户额外操作。9. 支持报告数据导出到doc、xls、pdf、jpg、bmp、html等多种文件格式。10. 支持多种界面外观设置。

激光粒度分析仪 Topsizer详细介绍用途：既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。技术指标：1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性误差：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；采用折叠光路，全铝合金光学平台，长期稳固可靠；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；探测器自动对中。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，大探测角达140度，小探测角至0.016度，无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机：1310×275×425mm循环进样器：240×380×370mm（SCF-108A），210×260×345mm（SCF-105B）干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）激光粒度分析仪 Topsizer产品优势TopSizer激光粒度分析仪是一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点。

贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平，升级版PIDS专利技术（专利号：4953978；5104221）、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术，真正实现10nm粒径测量；新型的干、湿进样模块，即插即用，满足不同的分析要求，灵活便利；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作，仅需点击几次便可获得所需数据。LS 13 320 XR将为您带来测量的新体验！贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR主要特点： - 优于ISO 13 320技术标准。 - 符合FDA的21 CFR Part 11标准。 - 检测器数量更多，高达132枚独立物理位置检测器，对应高达136个真实数据通道，能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，确保不缺漏丝毫信息，快速、准确的真实粒度测量。 - 专利设计的X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，不管单峰、多峰，准确分析粒度分布。 - 全自动运算分析功能，多峰自动检测，无需事先猜测峰型，无需选择分析模型，提供客观的唯 一报告。 - 升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能，真正实现10nm下限峰值测量。 - PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒，而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。 - 纳米分析功能与微米分析功能合二为一，功能强大，真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。 - 新一代固体激光光源，无需预热，7万小时以上开机使用寿命 。 - 并行式信号采集与传输，确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。 - 多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。 - 多种自动化样品分散系统，'即插即用'，数秒即可完成切换，高效便利。 - 新一代触摸屏设计ADAPT分析软件，操作更直观，无需操作经验，简单三步完成测量，直观醒目的导航轮，仅需一步实现数据显示与导出。 - ADAPT软件自动对测量结果标准绿色或红色，自动合格/不合格管理，实现直接质控。 - 软件配有强大的光学参数数据库，具有创新的Zero-Time即时光学模型系统，只需一秒即可建立新的光学模型，提供客观准确的分析报告。 - 仪器配有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。 贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR技术参数： - 粒径范围：10纳米-3500微米 （峰值） - 主光路激光光源：光纤连接的固体激光器 - 检测器：132枚独立物理角度检测器 - 真实分析通道：136个 - 多波长测量：475nm、613nm、785nm及900nm - 光学理论模型：全程Mie理论；Fraunhofer理论 - 准确性误差：小于+/- 0.5% - 重现性误差：小于+/- 0.5% *本产品仅用于科研，不用于临床诊断。

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

激光粒度分析仪Topsizer Plus介绍 激光粒度分析仪Topsizer Plus 是继广受赞誉的Topsizer 后，作为公司推出的又一款高端粒度分析仪器。该仪器引入了国ji先进的光学设计，采用全球化的供应链体系，使激光衍射法的测试范围达0.01-3600um，代表了当前国产激光粒度仪的最gao技术水平。Topsizer Plus保持了Topsizer量程宽、重复性好、分辨力高、真实测试性能强和智能化程度高等优点，通过进一步提升光学设计、硬件和反演算法，拓展了其测试范围以及实际测试性能，应用遍及化工、机械、建材、能源、医药等现代工业的各个领域。 在锂离子电池、制药、水文和精细化工等诸多行业，很多用户选择公司激光粒度仪，尤其是Topsizer型号，除了对公司品牌和技术的信赖外，还因为其测试结果准确。不管是制药用的原材料、制剂还是锂离子电池正负极材料等，Topsizer系列产品保证了测试结果和分析能力与国内外、行业上下游黄金标准保持一致，这不仅为用户节省了方法开发和方法转移上的时间和成本，更重要的是可避免粒径检测不准带来的经济损失和风险，无论在研发、过程控制还是质量控制上，都能够为用户带来真正的价值。 一、技术指标1.测量范围：0.01-3600μm（取决于样品）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（取决于样品）4.准确性误差：≤±0.6%（取决于样品）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试*，进样器分散工作压力0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度0-100% 无级连续可调。（*配DPF-110时）。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能； 采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；探测器自动对中。8.检测器：探测通道数103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度，无盲区。9.软件功能：丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定义报表样式；软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。提供符合GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸：主机：1330×266×380 mm循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 干法进样器：305×245×295mm（DPF-110） 二、工作原理： 一束平行光在传播过程中遇到障碍物颗粒，光波会发生散射（衍射）偏转，偏转的角度跟颗粒的大小相关，散射（衍射）现象可以通过 “Mie散射理论 ”来描述。颗粒粒径越大，光波偏转的角度越小；颗粒粒径越小，光波偏转角度越大。激光粒度分析仪就是利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。公司结合了源自国内外的先进技术，通过对光学、算法、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使公司激光粒度仪具备重复性良好、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。 三、先进的光学系统 双光源技术Topsizer Plus激光粒度分析仪采用双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm；并有半导体蓝光辅助光源，波长0.466μm，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。在国产激光粒度分析仪中，红蓝双色光源技术为公司独jia采用。 进口高性能氦氖激光器及电源采用以长寿命，低噪声，高稳定性著称的进口著名品牌氦氖激光器及配套激光电源，为仪器提供近乎完美光学质量的偏振光源。在气体激光器本身带来的稳定波长基础上，Topsizer Plus激光粒度分析仪采用的高性能光源系统同时具备功率稳定, 预热时间短, 偏振比高而稳定，模式纯度高等高性能激光粒度仪必须的光学特性。确保仪器在不同工作环境下都能保持稳定工作，并带来无需标定的准确性性能。 直线光路设计Topsizer Plus激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。 后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光最大接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射面减到最少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜Topsizer Plus激光粒度分析仪选用具有较长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达3600μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器Topsizer Plus激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角大于140度，最小探测角0.016度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。自动对中在几十秒内即可完成，既可作为自动测量的一部分，亦可在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重复性。 出色的分散系统湿法进样系统：标配SCF-108循环进样器，采用先进的循环回路设计，大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，具有高效率的分散、清洗、排干能力。内置最大功率100W超声探头，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均无极连续可调。根据需要可选择更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，可适应于各种样品测试对分散强度的要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。 四、功能强大的分析软件 丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定制报表样式。用户可以灵活定义报告的标题、Logo，选择在报告中显示的模块，并对这些模块进行设置。如可调整行数、列数，坐标轴范围，报告内容和参数等均可根据需要设定。 软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化。流程界面清晰明了，拥有导航功能。仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。 具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化。SOP测量程序编辑及运行： 多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要。体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。可根据用户需要设置指定的粒径段。 完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数。 多种方式的测量数据导出，方便数据交流。 具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能 五、卓越的仪器性能Topsizer Plus对于Topsizer的升级中的一个重要特点是保留了在 0.02-2000um段数据与 Topsizer一致。通过光路、硬件和算法的升级进一步提升了测试范围至0.01-3600um。 宽广的测量范围与市场上其他使用不同技术通过拼接的方案提高测试范围不同，Topsizer Plus的实测范围为0.01-3600um，使用静态光散射一种技术实现从亚微米颗粒到毫米级颗粒的检测，严格符合GBT19077-2016粒度分析激光衍射法的国标要求，并能满足不同粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。 宽分布样品 对大颗粒具有强大测试能力 7-14目玻璃微珠 对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力 100nm latex 杰出的分辨能力Topsizer Plus能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。图中的混合物样品为5.1um/14um/37.8um标样按比例配置。 良好的重复性Topsizer Plus采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次D10/μmD50/μmD90/μm13.8484.9956.32223.8454.9956.32833.8344.9866.319Average3.8424.9926.323SD0.0070.0050.005RSD (%)0.190.090.08 良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。 快速的测试速度Topsizer Plus优秀快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。 超高灵敏度多达103个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，最大探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。 超强适应性可选具有极强分散能力分散系统，即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而最da程度满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。 六、技术指标1.测量范围：0.01-3600μm（湿法，取决于样品），0.1-3600μm（干法，取决于样品）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（取决于样品）4.准确性误差：≤±0.6%（取决于样品）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试*，进样器分散工作压力0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度0-100% 无级连续可调。（*配DPF-110时）。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能； 采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；探测器自动对中。8.检测器：探测通道数103个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度，无盲区。9.软件功能：丰富的自定义报表功能，方便用户灵活的获取数据和定义报表样式；软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换。提供符合GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸：主机：1330×266×380 mm循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）