光纤时域反射仪

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光纤时域反射仪相关的厂商

  • 浙江杰昆科技有限公司
    浙江杰昆科技有限公司专业从事先进的光纤传感、光电仪表、激光器及光电模块的研发、制造和销售，为电力电网、智慧城市、轨道交通、高速公路、石油化工、管线管廊、土木结构、光通信等领域提供优质的传感监测系统及行业解决方案，是物联网的组成部分。公司产品包括分布式光纤测温系统(DTS)、M-Z干涉型光纤扰动监测系统(防区型和长距离可定位型)(DVS)、分布式光纤振动声波监测系统（DAS）、分布式光纤应变温度监测系统(BOTDA/R)；及以光时域反射仪等为代表的光电仪表；窄线宽激光器、光纤放大器、高速数据采集卡等模块。所有产品自主研发、生产，拥有自主知识产权，并通过了相关的检测、认证。产品性能、参数、适用性领先。
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  • 北京汇信时代科技股份有限公司
    北京汇信时代科技股份有限公司是一家从事光纤通信仪器仪表、数据传输分析仪、无线通信测试仪、广电传输测试仪、网络维护仪表、光缆工程施工及光纤清洁工具产品开发及销售的整合型服务提供商。公司坚持以人为本，以科技创新为动力，以服务客户为导向，尽一切努力满足客户需求。 在通信领域，北京汇信时代致力于为用户提供高品质的产品、高效的解决方案和全面的技术服务。公司主营产品包括：光时域反射仪、光万用表、光功率计，稳定光源、红光笔，光纤识别仪、光衰减器、光话机、路由探测仪、光纤切割刀、光纤熔接机（配件：熔接机电池，电极棒，刀片，熔接机夹具等）、光纤施工及清洁工具、驻波比测试仪、频谱分析仪、数字场强仪、2M误码测试仪、话路特性分析仪、以太网测试仪、SDH分析仪、工程宝、ADSL测试仪、法兰、跳线等。同时，为用户提供全方位的维修保养服务。产品主要应用于通信、电力、安防、科研机构、生产制造、能源开采、交通、航空航天等领域。
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  • 上海嘉慧光电子技术有限公司闵行分公司
    上海嘉慧光电子技术有限公司，成立于1998年，是一家以研究、制造、销售光纤工程测试仪表、台式光纤测试仪表、光无源器件、光缆施工及清洁工具，并提供多种领域光纤测试解决方案的高新技术企业。 公司先后通过了德国TUV的ISO9001系列质量认证、上海市高新技术企业认证、EMC认证，ROHS认证，并在技术开发和应用领域取得了多项技术**。 公司产品已广泛应用于国内各大运营商、工程公司、运维公司和光器件厂商，同时也赢得了来自南北美、欧洲、东亚、及东南亚等海外客户的认可和信任。 目前公司的主要产品有光纤工程仪表产品(如光功率计、PON光功率计、光源、光时域反射仪（OTDR）、可视激光光源、光万用表、光纤识别仪、光话机、光纤 寻障仪、数显可调光衰减器)，台式仪表产品(台式光功率计、各类台式稳定光源、多通道综合测试仪(含PDL测试功能)、插回损测试仪、ASE光源)，光纤 无源器件产品（如耦合器、连接器、适配器、衰减器），光纤光缆清洁、施工及抢修工具产品。并提供光纤工程测试、FTTx网络测试等多种光纤测试解决方案， 以及FTB分路器测试系统、PLC分路器生产检测系统、光纤连接器测试、耦合监控等工业生产控制解决方案。 在未来嘉慧公司将积极进取，全力以赴地提供优质的产品和服务，为客户创造成功和价值。公司将始终坚持“以人为本、开拓创新、奉献社会、永续经营”的理念，不断深入光纤通讯产业领域的研究和开发，与合作伙伴们携手共进，一起开创更加辉煌的局面。
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光纤时域反射仪相关的仪器

  • 多功能光时域反射仪 400-860-5168转4379
    概述：　　云唐多功能光时域反射仪(英文名称:optical time-domain reflectometer OTDR)是通过对测量曲线的分析，了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的仪器。它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中不可少的工具。　　主要用途：　　主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理特性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的工程施工、维护测试及紧急抢修、光纤光缆的研制与生产测试等。　　产品功能：　　1. OTDR部分: 1310/1550nm , 22/20dB, 0-60km　　2. 光功部分 : -70~+10dbm或 -50~+26dbm　　3. 红光部分 : =10mw　　4. 光源部分 : 1310/1550nm ,-5dBm　　产品特点：　　◇ 双波长测试 1310/1550nm　　◇ 测试距离 60km　　◇ 可选配触摸屏　　◇ 数据保存 Sor 格式　　◇ 光功率计，光源，红光，OTDR 多合一功能　　◇ 键盘输入，可编辑保存文件名名称和线路编号　　◇ 支持用户升级　　◇ 采用 4 寸 IPS 大屏，800*480 像素，室外阳光下清晰可读　　◇ 快速开机，仅需 2 秒，即可测试　　产品参数：　　云唐多功能光时域反射仪OTDR部分　　波长 (nm)1310/1550nm　　动态范围 22/20dB　　测量距离0-60 km　　光纤类型9/125um SM　　接口类型FC/PC/ SC/PC (APC 可定做)　　激光峰值=30mW　　显示单位米,英尺,英里　　反射事件盲区2m　　衰耗事件盲区12m　　测量精度(反射事件)About ±(1m+2 *10(-4)* 距离)　　保存测试记录条数200 条　　可视故障定位仪(红光)　　波长 (nm)650nm　　输出功率≥10mW　　输出模式CW，1Hz，2Hz　　测试光纤类型SM，MM　　光功率计　　测量范围-70～+10dBm -50～+26 dBm　　波长范围(nm)800～1650　　测试波长(nm)850、1300、1310、1490、1550、1625　　探测器类型InGaAs　　测量精度±3% (-10dBm、22℃)　　分辨率线性度：0.1%，非线性度：0.01dBm　　适配器类型可更换 FC/ SC，( ST 选配)　　光源　　激光器类型FP-LD　　输出波长 (nm)1310/1550nm　　接口类型FC/PC SC/PC (ST/PC as optional)　　输出功率≥-5dBm　　输出稳定度(dBm)±0.04@20℃@15min　　输出频率CW/270Hz/1KHz/2KHz　　测试光纤类型SM　　其他　　液晶3.97 寸，800*480 像素，IPS，触摸屏　　电池7.4V/4400mAH 锂离子电池，5000 次测试　　温度测试温度 :-5～50℃ ,存储温度:-10～60℃　　湿度0～85%(Non-condensing)　　尺寸(mm)190×84×52　　重量(g)375
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    厂商： 山东云唐智能科技有限公司
    品牌： 云唐/Yuntang
    型号： YT-TL290
    价格： 3200元
  • 多功能光时域反射仪 400-860-5168转4655
    概述：多功能光时域反射仪(英文名称:optical time-domain reflectometer OTDR)是通过对测量曲线的分析，了解光纤的均匀性、缺陷、断裂、接头耦合等若干性能的仪器。它根据光的后向散射与菲涅耳反向原理制作，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息，可用于测量光纤衰减、接头损耗、光纤故障点定位以及了解光纤沿长度的损耗分布情况等，是光缆施工、维护及监测中不可少的工具。主要用途：多功能光时域反射仪主要用于测量光纤光缆的长度、传输损耗、接头损耗等光纤物理特性，并能对光纤线路中的事件点、故障点准确定位。广泛应用于光纤通信系统的工程施工、维护测试及紧急抢修、光纤光缆的研制与生产测试等。产品功能：1. OTDR部分: 1310/1550nm , 22/20dB, 0-60km2. 光功部分 : -70~+10dbm或 -50~+26dbm3. 红光部分 : =10mw4. 光源部分 : 1310/1550nm ,-5dBm产品特点：◇ 双波长测试 1310/1550nm◇ 测试距离 60km◇ 可选配触摸屏◇ 数据保存 Sor 格式◇ 光功率计，光源，红光，OTDR 多合一功能◇ 键盘输入，可编辑保存文件名名称和线路编号◇ 支持用户升级◇ 采用 4 寸 IPS 大屏，800*480 像素，室外阳光下清晰可读◇ 快速开机，仅需 2 秒，即可测试产品参数：OTDR部分 波长 (nm) 1310/1550nm 动态范围 22/20dB 测量距离 0-60 km 光纤类型 9/125um SM 接口类型 FC/PC/ SC/PC （APC 可定做） 激光峰值 =30mW 显示单位 米,英尺,英里 反射事件盲区 2m 衰耗事件盲区 12m 测量精度(反射事件) About ±(1m+2 *10(-4)* 距离) 保存测试记录条数 200 条 可视故障定位仪（红光） 波长 (nm) 650nm 输出功率 ≥10mW 输出模式 CW，1Hz，2Hz 测试光纤类型 SM，MM 光功率计 测量范围 -70～+10dBm；-50～+26 dBm 波长范围（nm） 800～1650 测试波长（nm） 850、1300、1310、1490、1550、1625 探测器类型 InGaAs 测量精度 ±3% （-10dBm、22℃） 分辨率 线性度：0.1%，非线性度：0.01dBm 适配器类型 可更换 FC/ SC，( ST 选配) 光源 激光器类型 FP-LD 输出波长 (nm) 1310/1550nm 接口类型 FC/PC SC/PC (ST/PC as optional） 输出功率 ≥-5dBm 输出稳定度(dBm) ±0.04@20℃@15min 输出频率 CW/270Hz/1KHz/2KHz 测试光纤类型 SM 其他 液晶 3.97 寸，800*480 像素，IPS，触摸屏 电池 7.4V/4400mAH 锂离子电池，5000 次测试 温度 测试温度 :-5～50℃ ,存储温度:-10～60℃ 湿度 0～85%(Non-condensing) 尺寸（mm） 190×84×52 重量(g) 375
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    厂商： 山东蓝虹光电科技有限公司
    品牌： 云唐/Yuntang
    型号： YT-TL290
    价格： 3200元
  • 光时域反射计 400-860-5168转4986
    一、产品综述6422光时域反射计具备单模1310nm、1550nm、1490nm、1625nm、1650nm，多模850nm、1300nm和定制特殊波长的测试能力，可提供单波长、多波长、在线测试等多种模块，最大动态范围46dB，可用于干线远距离多分支通信网络测试；最小事件盲区0.8m，近端的连接情况可清晰分辨；最高2.5cm采样分辨率，能够准确定位事件点。另外提供了稳定光源、光功率计、可视红光源、光纤端面检查仪、WiFi模块等多种便捷的功能选件。二、主要特点最大46dB动态范围，256k数据采样点；PON网络在线测试功能；单多模一体测试功能；通信光自动监测功能；支持Bellcore GR196及SR-4731文件格式。1.快速自动测试6422的自动测试功能使得用户无需了解更多的有关该仪器操作的细节，测试步骤变得非常简单，只需要将光纤接入产品对应OTDR端口、点击【测试】按钮即可，仪器会自动设置相应的测试条件并给出最终测试结果，包括测试曲线和事件列表等。2.特有的PON网络测试功能6422是光纤接入网及FTTx的测试仪器，内置有PON网络测试功能，能够透过多达1:128的光分路器，可以实现对PON网络各分支的测试。3.自动来光监测及告警功能当OTDR测试光纤链路时，如果光纤中有通信光信号，会造成测试结果不准确，甚至会对仪器内部的探测器造成不可恢复的损坏。6422具有对被测光纤中的通信光信号自动监测功能，被测光纤只要接入到6422的光接口中，测试阶段自动感应并监测光纤中是否有通信光信号，一旦监测到有光信号，将及时提示告警信息，为仪器提供及时的保护。4.光纤链路事件智能图示显示功能选择分析模式切换按钮，可对当前的轨迹曲线进行图形化分析，并显示图形化分析界面。5.光纤端面检查功能仪器选配了端面检测功能，点击【端面检测】按钮，将进入到端面检测操作界面。三、典型应用四、技术规范最大动态范围详见“6422 OTDR各标准模块技术规范”测距准确度±(0.75＋距离×0.0025％＋取样间隔)m，不计折射率误差测距分辨率0.025、0.05、0.1、0.2、0.5、1、2、4、8、16、32m测试量程0.4、0.8、1.6、3.2、6.4、16、32、64、128、256、512km(单模)；0.4、0.8、1.6、3.2、6.4、16、32km(850nm多模)测试脉宽3、5、10、30、80、160、320、640、1280、5120、10240、20480ns(单模)；3、5、10、30、80、160、320、640、1280ns(850nm多模)最大采样点数256k线性度0.03dB/dB损耗分辨率0.001dB折射率设置范围1.00000～1.99999(步长0.00001)距离单位千米、米、千英尺、英尺显示800×480、7英寸TFT彩色LCD(标配电容触摸屏)光输出接口FC/UPC（标配，可选配LC/UPC、SC/UPC、ST/UPC、FC/APC）界面语言可选简体中文、英文(可支持其它语言定制需求)外部接口USB、Micro-USB、10M/100M以太网、Micro SD电源AC/DC适配器：AC100V～240V、50/60Hz、1.5A直流：15V±2V(2A)内部锂电池：10.8V，电池工作时间：8小时最大功耗10W（非充电）外型尺寸宽×高×深≤252mm×180mm×55mm重量≤1.8kg环境适应性工作温度：-10℃～+50℃(电池充电：5℃～40℃)存储温度：-40℃～+70℃(电池：-20℃～60℃)相对湿度：5%～95%，无结露VFL（选件）工作波长：650nm±20nm输出功率：2mW(典型)工作模式：CW、1Hz、2Hzl光功率计（选件）波长范围：850nm～1650nm功率范围：-60dBm～+3dBm（或-40dBm～+26dBm）不确定度：±5%(-25dBm、CW)l稳定光源（选件）工作波长：与OTDR工作波长相同输出功率：≥-5dBm工作模式：CW、270Hz、1kHz、2kHzlWiFi模块（选件）通过WiFi模块，完成手机客户端与OTDR的互联，完成手机对OTDR进行远程控制并接收OTDR回传的测试结果。l光纤端面检查仪（选件）l6422 OTDR各标准模块技术规范1.单波长模块模块号工作波长波长动态范围1(dB)事件盲区2（m）衰减盲区3（m）6422-1105单模1625nm(内置滤波器)单波长361.54.56422-1106单模1650nm(内置滤波器)366422-1201多模850nm241.586422-1202多模1300nm362.双波长模块模块号工作波长波长动态范围1(dB)事件盲区2（m）衰减盲区3（m）6422-2101单模1310/1550nm双波长37/351.586422-2102单模1310/1550nm42/400.84.56422-2103单模1310/1550nm45/ 426422-2105单模1550/1625nm(内置滤波器)36/361.586422-2107单模1550 /1650nm(内置滤波器)36/366422-2109单模1310/1550nm46/460.84.56422-2108单模1310/1550nm30/281.586422-2201多模850nm/1300nm26/341.583.三波长模块模块号工作波长波长动态范围1(dB)事件盲区2（m）衰减盲区3（m）6422-3101单模1310/1490/1550nm三波长37/35/351.586422-3102单模1310/1550/1625nm(内置滤波器，双光口)37/35/356422-3103单模1310/1550/1625nm(内置滤波器，单光口)42/40/400.84.56422-3104单模1310/1550/1650nm(内置滤波器，单光口)42/40/406422-3105单模1310/1550/1650nm(内置滤波器，双光口)37/35/351.586422-3106单模1310/1550/1625nm(内置滤波器，单光口)30/28/284.四波长模块模块号工作波长波长动态范围1(dB)事件盲区2（m）衰减盲区3（m）6422-41011310/1490/1550/1625nm(内置滤波器，双光口)四波长37/35/35/351.54.56422-41051310/1490/1550/1650nm(内置滤波器，双光口)37/35/35/356422-4001单模1310/1550nm多模850/1300nm37/35/26/341.586422-4002单模1310/1550nm多模850/1300nm30/28/24/28注：1.环境温度23℃±5℃，最大测试脉冲宽度，平均时间大于180s，SNR=1；2.量程≤1.6km、脉宽3ns，光纤端面反射损耗≥40dB，典型值；3.量程≤1.6km、脉宽5ns或更小脉冲，光纤端面反射损耗≥50dB，典型值。五、订货信息主机：6422光时域反射计标配：序号名称说明16422光时域反射计主机内含锂电池2电源线组件输入电压100-240Vac，50Hz-60Hz，2.0A输出电压15V，输出电流≥3A3用户手册-4产品合格证-5专用软包-可选附件：选件编号名称型号/参数6422-001U盘存储容量≥4GB6422-002SD卡存储容量≥8GB6422-003USB数据线长度≥0.5m6422-004备用电池包6422专用电池包6422-005LC适配器-6422-006SC适配器-6422-007ST适配器-6422-008VFL（红光源）波长：650nm±20nm，输出功率≥2mW6422-009OPM（光功率计）波长范围：850nm～1650nm，功率范围：-60dBm～+3dBm6422-010LS（光源）输出波长与OTDR模块相同，输出功率≥-5dBm6422-011专用工程塑料箱6422-012光纤端面检测仪放大倍数≥200，USB接口6422-013WiFi模块
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    厂商： 山东万象环境科技有限公司
    品牌： 万象环境/Vientiane environment
    型号： 6422-2101
    价格： 6000元
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  • 太赫兹脉冲时域反射计系统在半导体行业的开发与应用
    1、前言随着半导体封装变得更小、集成度更高，使用非破坏性、高分辨率技术定位故障的能力变得越来越重要。对失效分析手段提出了挑战，故障高分辨率定位能力的需求逐渐增大。为满足这些要求，Advantest开发了TS9001TDR方案，该系统分析通过利用专有的短脉冲信号处理技术进行高分辨率时域反射测量（Time Domain Reflectometry, TDR），对先进半导体封装、电子元件和印刷电路板中的导线故障区域进行快速、高精度和无损分析。 2、主要应用以3D集成电路为代表的高密度集成电路中存在着无限小的布线结构，布线故障在封装、印刷电路板封装过程中频繁出现。检测故障点需要几十微米分辨率。由于上升时间（约20ps）和抖动（约1ps）的限制，传统示波器TDR方法的故障距离分辨率仍保持数百微米的分辨率。使用TS9001TDR系统可以准确分析各种尖端半导体封装的布线质量，如倒装芯片BGA、晶圆级封装和2.5D/3D IC封装，能够直接连接客户的射频探测系统，针对其设备形状和故障分析环境，实现高速、高分辨率的测量，提供灵活的解决方案。（1） 高度集成的集成电路封装故障分析1) 封装引线故障分析：确定引线故障点位于Si Interposer内还是封装内，识别故障是由预处理还是后处理中的因素引起的2) C4 Bump故障分析：利用测试回路确定和分析安装Si Interposer的条件，对测试回路的菊花链结构进行故障点分析，并对安装条件进行反馈3) TSV、Micro-Bump故障分析：识别层压芯片的故障层4) 印刷电路板PCB故障分析：识别PCB板中通孔和信号线的故障点3、原理与优势（1）原理与技术太赫兹脉冲时域反射计的原理参见上图。其利用两个的飞秒激光器分别泵浦光电导电线，产生高频的太赫兹脉冲信号。飞秒激光器的中心波长1550nm，脉冲宽度50fs。其中，一个飞秒激光器的重复频率50MHz，另一个激光器的重复频率稍有区别。采用两个激光器的重复频率稍有差别的缘由在于，利用两个激光器的差频延迟，可以实现高频太赫兹信号的产生和探测。其工作是高频太赫兹信号通过探针接触芯片的管脚，高频太赫兹信号在芯片封装的引线中传播。当芯片封装没有开断路时，高频太赫兹沿着引线向前传播；当芯片封装的引线等出现开路时，将反射回正峰脉冲信号；当芯片封装引线出现短路时，将反射回负峰脉冲信号。（2）技术优势为了识别故障点，常用的封装无损检测方法包括光发射显微镜(emission microscope)和示波器时域反射计(Time domain Reflectometry, TDR)等，但是这些无损检测方法受到时域信号抖动的限制（信号抖动约1ps），导致分辨率不高，不能定位微米级的失效位置，无法以高分辨率检测开路、短路故障。故亟需高分辨率时域反射计，以提供快速且精准的失效定位。Advantest通过独有的光学采样和电短脉冲生成技术，借助飞秒激光技术，产生抖动小于30fs的超短采样脉冲。可以实现5μm的故障定位分辨率。通过使用自动探针的自动触地功能，进行精确的可重复测量，具有更高精度和效率的故障位置测量。TS9001TDR系统通过自动探针和与CAD设计联动，实例分析芯片封装的引线开路和短路故障定位，可以直观快速定位芯片封装的故障点，实现先进封装的失效分析。4、国内外发展现状Advantest的TS9001TDR系统中采用两个超短脉冲激光器异步采样，采取异步采样技术可以使系统不再需要机械式的光学延迟线，并且具有超高速的信号扫描速度。是目前全球独一的技术，目前国内外没有同类设备。5、发展趋势随着晶圆代工制程不断缩小，摩尔定律逼近极限，先进封装是后摩尔时代的必然选择，3D封装迅猛发展。作为一种全新的实现定位方法，在未来的几年里，太赫兹TDR技术将继续保持高速发展的势头。随着关键技术的不断发展，相关产品的种类将越来越丰富，行业应用和相关配套服务也将越来越广泛。搭载脉冲电磁波产生和高速采样的超短脉冲光纤激光器的太赫兹TDR设备，有助于半导体3D封装的故障分析。 6、总结与展望 在实际芯片测量过程中，太赫兹脉冲信号耦合至芯片内部衰减较为严重，对于太赫兹脉冲的信噪比提出了很高的要求。为了进一步提高测量精度和芯片内的传输路径，提高信噪比是亟需攻克的问题。另外芯片内部的引线存在阻抗不匹配又没有完全开路的情况，对于这类Soft Open的芯片检测，TDR波形分析需要结合信号模拟仿真，增强对信号的解读。对于材料的吸收系数、折射率、介电常数等光谱特性，可以用太赫兹时域光谱仪表征，这也是爱德万测试太赫兹技术的核心应用。目前爱德万测试已经有太赫兹时域光谱成像系统，通过发射和接收时域太赫兹信号至样品，可以实现生物医学样品、食品农产品、化学品、复合材料、通讯材料等的光谱特性表征。（爱德万测试(中国)管理有限公司 供稿）
    时间： 2022-06-30
    作者： KPC
  • 高端仪器国产化：中国研成首台国产光频域反射仪
    近日，上海交大和江苏骏龙电力科技公司合作研制的国内首台光频域反射仪工程化样机在江苏靖江装备调试完成。该设备不仅能侦测和定位故障点，在2000米长的光纤网络内，定位精度更可达毫米级别。参与现场验收的北京理工大学光电学院教授孙雨南认为，该成果已达世界先进水平。　　在接受《中国科学报》采访时，孙雨南表示，目前光纤检测手段很多，包括光纤本身特性检测以及光纤通信链路(信号)检测仪器等，但绝大多数，特别是高端仪器基本依靠国外进口，不仅价格高，有些还潜伏保密问题。　　光频域反射仪(OFDR)仍是国外少数几家公司拥有的高端仪器。与其类似的仪器是光时域反射仪(OTDR)，已经广泛使用在工程和实验室，但被国外产品占据国内市场。而且OFDR的性能与OTDR有很多不同，其测量故障点的分辨率(最小距离)可以到毫米量级甚至更小，这在许多特种设备和大型工程分布式传感网络，特别是军事装备上的应用显得尤其重要。　　高端仪器国产化的问题，国内已经呼吁多年。2010年，国家自然科学基金委设立科学仪器专项(&ldquo 863&rdquo 计划项目)，开展光频域反射仪设备的自主研制，上海交通大学主持了该项目的研究。同年，江苏骏龙电力科技股份有限公司正式与上海交通大学合作，依托区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室，共同开展光频域反射仪的产品化开发。　　此次通过验收的产品，正是上海交大和骏龙电力4年合作的结晶。验收组专家一致认为，该产品核心技术具有原创性和自主知识产权，打破了国外垄断。继美国LUNA后，骏龙电力成为全球第二家能自主研发光频域反射仪的厂家。　　在谈到此类产品的应用前景时，北京凌云光子技术有限公司总经理李丽告诉《中国科学报》，该产品可广泛应用于航空航天、国防建设、智能电网、大型工程建设及装备、安全生产监测等方面。这些专用光纤网络的特点是，总长度在10千米以下，但是在有限的空间内密度很高，一旦发生光纤中断等故障，缺乏有效的诊断定位手段。过去大多依靠经验判断故障可能发生的部位，然后通过更换办法确认，效率不高、成本大。李丽预测，随着人力成本的上升，用精密仪器代替人工来检测光纤问题一定是一个可预期的、快速的过程。
    时间： 2015-03-18
    作者： 环保-学雷
  • 最新综述：热反射表征技术在宽禁带半导体领域应用进展
    近日，武汉大学工业科学研究院袁超课题组在国际权威期刊《Journal of Applied Physics》上，以“A review of thermoreflectance techniques for characterizing wide bandgap semiconductors‘ thermal properties and devices’ temperatures”为题总结讨论了热反射表征技术(Thermoreflectance techniques)在宽禁带半导体材料和器件领域的应用进展。随着宽禁带和超宽禁带半导体器件的功率日益增大，器件散热问题逐渐成为工业界的巨大挑战。半导体材料热物性是反映器件散热能力最直接的参数，而器件结温是评估热可靠性和寿命的关键参数，因此，热物性和结温检测成为宽禁带半导体器件研发和生产中不可缺少的环节。宽禁带半导体器件普遍由薄膜异质结构组成，薄膜尺寸几十纳米到几微米 ( 如图1)，因此，要求热物性检测技术具有纳微米级分辨率。传统的检测方法如稳态热板法、瞬态热线法、激光闪射法等，都不能满足分辨率的要求。3-omega方法虽然达到了分辨率的要求，但是需要在材料表面进行复杂的微加工，使得测试流程复杂且对材料表面质量要求过高。另一方面，宽禁带半导体器件沟道尺寸小(亚微米级)且常常在高频工况下(GHz级)运行，要求结温测试方法需满足高空间分辨率和高时间分辨率。图1：几种典型的宽禁带器件结构：(a) 氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT) (b) 氧化镓场效应管(β-Ga2O3 FET) 以上典型结构说明器件内存在大量微纳结构和异质界面近几十年，以热反射(Thermoreflectance)为测试原理，国际上开发并发展了多种泵浦-探测热反射技术(Pump-probe thermorefletance), 实现了纳微米级分辨率测试能力，广泛应用于宽禁带半导体材料的热物性检测。基于相同原理，国际上同期开发了一种热反射成像技术(Transient thermoreflectance imaging)，实现了纳秒级时间分辨率和纳米级空间分辨率的测温能力，同样广泛应用于宽禁带半导体器件的稳态和瞬态结温检测。本文重点介绍了热反射现象和原理，在此基础之上，总结和讨论了多种泵浦-探测热反射技术，包括时域热反射法(Time-domain thermoreflectance), 频域热反射法(Frequency-domain thermoreflectance), 瞬态热反射法(Transient thermoreflectance)和稳态热反射法(Steady-state thermoreflectance)。总结了这些方法针对常见宽禁带半导体材料的检测应用，包括氮化镓薄膜异质结构(GaN-based structure)、氧化镓薄膜异质结构(β-Ga2O3-based structure)、金刚石薄膜、合金材料(如钪掺氮化铝ScAlN, 铝掺氮化镓AlGaN)以及宽禁带二维材料(如六方氮化硼h-BN)等，并全面总结了所有材料的热物性报道值(部分结果见本报道图2，详细结果见全文)。本文还重点比较了不同泵浦-探测热反射技术的特点。在所有方法中，时域热反射法发展最早且较为成熟，当前应用较为广泛；而频域热反射法和瞬态热反射法因具有和时域热反射法相似的分辨率和测试精度，也逐渐被认可，且已实现了广泛应用。值得注意的是，瞬态热反射法(如图3)，相比时域热反射法，搭建成本大幅度减低，测试分析速度更快，操作更为简便，因而具有在半导体产线上的应用潜力。另外，本文也总结讨论了热反射成像技术以及它在宽禁带器件测温方面的应用。图2：氮化镓薄膜的热导率报道值；全文中还详细总结了氮化镓异质结构、氧化镓异质结构、金刚石薄膜和宽禁带合金材料的热物性报道值(热导率、界面热阻)图3：传统的瞬态热反射法(TTR)系统示意图常规的泵浦-探测热反射技术和热反射成像技术需要借助金属薄膜进行测试。对于泵浦-探测热反射技术，在检测之前需在材料表面镀一层薄膜金属(如金、铝)，使得材料破坏，属于破坏性检测；对于热反射成像技术，温度检测区域集中在器件金属电极，而不是器件沟道处，导致温度测试结果往往低估真实器件结温。本文介绍了近几年一些学者(包括袁超研究员)对传统泵浦-探测热反射技术的改进，发展了免金属镀膜的泵浦-探测热反射技术(Transducer-less thermoreflectance)，以实现在氮化镓外延、硅等材料的无损测试，为材料研发提供快速反馈，提升研发和生产效率、降低成本，并有望为半导体产线提供实时监测，使“边生长，边观测，边调控”成为可能。此外，介绍了热反射沟道结温直接测试技术以及它在氮化镓HEMTs器件上的应用。图4：免金属镀膜的瞬态热反射法(TTR)系统示意图论文详情：Chao Yuan*, Riley Hanus, Samuel Graham, A review of thermoreflectance techniques for characterizing wide bandgap semiconductors thermal properties and devices temperatures, Journal of Applied Physics, 132(22):220701, 2022. 论文第一作者和通讯作者为袁超研究员，合作作者来自美国佐治亚理工学院的Riley Hanus博士和 美国马里兰大学的Samuel Graham教授。通讯作者简介袁超研究员长期从事宽禁带半导体热表征和热管理研究工作。曾先后加入英、美知名大学宽禁带研究团队从事科学研究。在薄膜尺度热反射表征方法、声子热输运理论、以及(超)宽禁带半导体器件设计等领域具有一定的技术优势和科研特色，并致力于开发半导体无损热检测装备。现承担多个国家/省部/国际合作级重大战略需求的纵向科研项目，在高影响力期刊上（包含 Materials Today Physics, Communications Physics，Appl. Phys. Lett.等）发表多篇论文。此外，长期和国内外知名半导体集成电路企业和机构合作。课题组主页：http://jszy.whu.edu.cn/yuanchao
    时间： 2023-01-05
    作者： KPC
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