光束质量测量仪

BeamWatch是一款测量高功率激光光束质量的仪器，可测量激光束腰位置测量激光束腰尺寸、记录激光束腰位置的漂移，无需任何衰减，功率测量范围400W—无上限，波长范围：980-1080nm。高功率激光光束质量测量仪BeamWatch应用： 高功率激光切割 高功率激光焊接 激光器参数标定高功率激光光束质量测量仪BeamWatch性能参数： 型号BW-NIR-1-155BW-NIR-1-55BW-NIR-2-155BW-NIR-2-55波长980nm-1080nm最小功率密度2 Megawatts/cm2最大光斑尺寸12.5mm最小光斑尺寸155um55um155um55um连接电脑方式Gige Ethernet精度束腰尺寸精度±5%束腰位置精度±125um焦点漂移±50um发散角精度±3.5% RMSM2精度±3.5% RMS测量结果空间结果束腰尺寸X & Y、束腰位置X & Y、焦点漂移X & Y、质心X & Y、光标位置处尺寸、光标位置处椭圆度、瑞利长度等光束质量结果M2（X & Y & average)、K（X & Y & average）、BPP （X & Y & average）发散角（X & Y & average）

美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：1、通信：光缆加工/熔接、研发2、 材料加工：焊接、蚀刻、切割3、消费设备：光学鼠标4、天文5、激光制造与品控6、光谱学7、3D扫描8、粒子检测9、 LED：室内照明、车头灯10、 LIDAR：AR、VR11、生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪一、相机型光束质量分析仪基于相机的光束分析系统是使用非常广泛的，它无法获得最高分辨率，但是对于低重复频率脉冲激光、非高斯形状光束或者一般用途的光束分析应用，相机型光束分析仪是很好的选择。此外，Dataray光束质量分析仪通用的C/F-Mount接口设计，使外加衰减片、扩束镜、紫外转换装置、红外转换装置更为方便。各种型号的相机通过选配转接头可以用于特定的波长范围，详见下表。波长范围WinCamDTM-LCMBladeCam2TaperCamD-LCMWinCamD-IR-BB WinCamD-QD 190-1150nm√√×××355-1150nm√√√××355-1350nm√√×××1480-1605nm√√×××350-2000nm × × × ×√2-16μm×××√×规格表型号探测元件总像素百万像素尺寸µ mH * V探测面积mm连续或脉冲S-WCD-LCM-C1” CMOS4.25.5*5.52048*204811.3*11.3CW/脉冲S-BC2-HR1/2” CMOS1.35.2*5.21280*10246.6*5.3CWS-BC2-XHR1/2” CMOS3.13.2*3.22048*15366.5*4.9S-TCD-LCMCMOS4.212.5*12.52048*204825*25CW/脉冲S-WCD-IR-BB-7.5氧化钒微测热辐射计0.3117*17640*48010.9*8.2CW/脉冲≥1kHzS-WCD-QD-1550量子点探测器2.0715*15最大1920*1080最大28.8*16.2CW/脉冲配套软件（全功能且免费！！）功能完善、操作简单 光束质量的1D/2D/3D分析 可测量光束质量指向稳定性、光束发散角 可以进行二次开发①、 新品：中红外光束质量分析仪 WinCamD-IR-BB 产品特点:&bull 2到16μm氧化钒微测热辐射计&bull 探测面：640 x 480或10.88 x 8.16 mm&bull 17μm像素&bull USB 3.0端口供电&bull 14位数模转换&bull 14 ms时间常数——测量脉冲（PRR≥1kHz）或连续波光&bull 采样频率：7.5FPS&bull 无斩波器和TEC冷却&bull 可选配保偏光取样器和透镜组 应用领域 :&bull MIR/FIR/CO₂ 激光轮廓分析&bull 现场分析CO₂ 激光器和激光系统&bull 光学组装和仪器对准&bull 光束漂移记录&bull 高分辨率红外成像 ② 、新产品：TaperCamD-LCM：25mm x 25mm大靶面、355-1150nm产品特点l 355-1150nm，CMOS探测器l 探测面：2048 x 2048或25 x 25 mml 12.5μm像素l USB 3.0端口供电l 12位数模转换，车载微处理器l 25000:1电子自动快门，79us-2sl 信噪比：2500:1l 全局快门，光学/TTL触发器l 隔离脉冲触发和并行捕获功能应用领域l 连续和脉冲激光轮廓分析l 激光器和激光系统的现场维修l 光学组装和仪器对准l 光束漂移记录③、新产品：WinCamD-QD：通信波段光束质量分析仪、400-1700nm / 350-2000nm 产品特点：1. 量子点探测器，1550nm已优化2. 波长范围400-1700nm / 350-2000nm3. 多种探测面可选，标准为640x512（9.5x7.68 mm），可达1920x1080（28.8x16.2 mm）4. 15μm像素5. 14位数模转换6. 全局快门，既可测连续光，也可测脉冲光7. 信噪比：≥2100:1 8. GigE或USB3.0接口应用领域：1. 1550nm激光轮廓分析2. 1550nm激光器和激光系统的现场维修3. 光学组装和仪器对准4. 光束漂移记录5. M2测量产品参数：探测器量子点探测器型号S-WCD-QD-1550 / S-WCD-QD-2000波长范围400-1700 nm / 350-2000 nm分辨率S-WCD-QD-1550/2000: 640x512 S-WCD-QD-1550/2000-L: 1280x1024 S-WCD-QD-1550/2000-XL: 1920x1080有效探测面积S-WCD-QD-1550/2000: 9.5x7.68 mm S-WCD-QD-1550/2000-L: 19.2x15.36 mm S-WCD-QD-1550/2000-XL: 28.8x16.2 mm像元尺寸15 x 15 µ m最小可测光斑~150 µ m信噪比≥2100:1 (33 dB optical / 66 dB electrical)数模转换14位全幅帧速S-WCD-QD-1550: 25 fps S-WCD-QD-1550-L: 25 fps S-WCD-QD-1550-XL: 25 fps快门类型全局快门可测激光器类型既可测连续光，也可测脉冲光 二、扫描狭缝光束轮廓分析仪扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率，但是要求光束小于1μm且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。型号Beam’R2BeamMap2波长范围Si: 190-1150nmInGaAs: 650-1800nmSi+ InGaAs: 190-1800nmSi+ InGaAs, extended： 190-2500nm可测光斑大小2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)分辨率 0.1 μm or 0.05% of scan range精度 ± 2% ± ≤0.5μm连续或脉冲CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)]kHzM2测量需要配上电动导轨可直接测量，无需电动导轨最大可测功率1 W Total & 0.3 mW/μm2增益32dB三、M2测量仪：Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD搭载狭缝式Beam'R2 的M2测量仪：M2DU-BR WinCamD M2 Stage 四、线光斑分析仪Dataray公司独有的线光斑测量仪光斑长度可以达到200mm, 通过在高稳定、高重复性的电动平台上搭载光束质量分析仪，利用先进的图像拼接处理的软件设计，实现大尺寸线光斑的实时测量。Dataray公司提供50mm(LLPS-50)和200mm (LLPS-200)两种行程的线光斑测量仪供客户选择。 产品特点l 光谱范围：190-1150nm（取决于使用的光束质量分析仪，可拓展至163nm-16um）l 分辨率：4um（取决于所使用的的光束质量分析仪）l 线光斑的宽度（最小55um）和长度测量（最大200mm）l 线光斑倾斜角测量l 通过线光斑回归线测量竖直方向圆心 应用领域l 机器视觉l 3D扫描l 条纹扫描l LD激光阵列发光测试l 粒子计数l 水平仪经纬仪设备现场分析 五、大尺寸光斑测量仪DataRay公司通过将激光照射在透射屏上，利用高质量的透镜进行成像，可以实现大尺寸的光斑测量，最大可测光斑可以达到200mm。产品特点l 配置 WinCamD-LCM相机l 光谱范围：355-1150nml 透射屏尺寸：200 x 200 mml 有效像素大小：170 x 170 μml 成像透镜：焦距12.5mm，f/1.4-f/16l 信噪比：2500:1应用领域l 大尺寸激光光束测量l 全强度分布分析l 主/次直径测量六、保偏光取样器保偏光取样器（PPBS）可用于激光光束质量分析系统，它采用正交双楔设计从高功率激光束中分出一小部分光进行测量。PPBS采样的同时保留输入光束的偏振和消除每个空气玻璃界面多次反射的影响，这种精确的激光衰减和分光模式，使得激光形貌不会发生任何畸变，便于后续的光斑分析。产品特点l 波长范围：190-16um（取决于所选光楔）l 最大适用功率：50Wl 通光口径：17.5mml 衰减：~1000:1（取决于波长）l 偏振不敏感应用领域l 激光光斑分析七、其他配件UV转换器ND滤光片红外转换器缩束器显微物镜

以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。FocusGage光束发散测量仪 整个系统包括安装在一个扫描束腰附件上的测量探头和一个独立的控制单元（有两个LCD显示操作按钮）。一个外部的VGA显示屏可以和控制单元连接，给出充分的图像显示。这个单元带一个RS232接口与另一台计算机通讯，以及一个FDD数据存储器。性能参数：参数数值光谱范围SiInGaAsUV400-1100nm800-1800nm190-1100nm光束功率范围SiInGaAsUV100μW-1W（自带衰减片）100μW-1mW（自带衰减片）100μW-1mW光束大小（D）9mm(有透镜，Si& UV)12.7mm(无透镜，Si& UV)3mm/5mm(无透镜，InGaAs)分辨率≥10μm焦深精确度±50μm尺寸100x173x415mm机械调节水平角度：±1.5°垂直角度：±1.5°

Thorlabs 光束轮廓仪，BC207UV光学测量仪特性连续或脉冲激光轮廓的完整二维分析高分辨率：2448 x 2048像素低噪声：SNR ≤ 71 dB12位CMOS相机探测面积大(8.45 mm x 7.07 mm)，均匀性和线性度好可拆卸的保护窗口片，防止传感器落尘用户可校准功率读数自动曝光时间从27 µ s至1 s，增益控制从0到12 dB暗电平和环境光补偿外部快门触发输入可选用的M² 扩展装置，用于自动分析M² Thorlabs的相机式光束轮廓仪可在优化激光系统的同时分析复杂的模式图案(如平顶和环形光)。与扫描狭缝式光束轮廓仪相比，相机式光束轮廓仪能拍摄更加详细的光束轮廓，并提供光束功率密度分布的真实二维分析。这些光束轮廓仪适用于连续光和脉冲光源。多种触发模式可以灵活地拍摄单脉冲，比如使用TTL输入探测重频高达37 kHz的单脉冲信号。每个光束轮廓仪包含一个高质量的12位CMOS相机，有效探测面积8.45 mm x 7.07 mm，分辨率500万像素，最短曝光时间27 µ s。自动暗电平校准提供非常稳定的暗电流，与器件设置无关，因此用户每次进行设置时不用重新校准暗电平。集成的滤光片转轮带有6个高质量中性密度(ND)滤光片，使光束轮廓仪能够适应强度从纳瓦级到1 W的光束。滤光片转轮上刻有标签，可指示每个插槽中预安装的ND滤光片，如果需要拆卸或更换滤光片，可以使用一字螺丝刀打开转轮。

Thorlabs 光束轮廓仪 BP209-VIS光学测量仪特性三种双扫描狭缝光束轮廓仪型号Item # BP209-VIS(/M)：200 nm - 1100 nmItem # BP209IR1(/M)：500 nm - 1700 nmItem # BP209-IR2(/M)：900 nm - 2700 nm高精度分析近高斯光束质量重建2D和伪3D空间功率分布单个du立测量头测量连续光束或≥10 Hz的脉冲光束扫描速率从2到20 Hz用户可校准的功率读数(请看用户手册了解校准步骤)动态范围78 dB低噪声放大器USB 2.0高速接口连接PCThorlabs的双扫描狭缝式光束轮廓仪非常适合分析近似高斯光束的截面轮廓。可以在2 Hz到20 Hz之间的扫描速率(可以使用软件设定)下，测量光束截面中用户zhi定的X轴和Y轴的强度轮廓。20 Hz的高扫描速率能够实时对准光学系统。这些光束轮廓仪主要用于连续激光束，也可以采用平均法测量≥10 Hz的脉冲光束。测量结果可用于评估光束质量、检查重建的光束轮廓以及监测长期稳定性。所有三种双扫描狭缝式光束轮廓仪型号都有Ø 9 mm输入孔径，通过连续扫描两个宽度相同且互相垂直的狭缝测量输入激光束。使用软件切换5 µ m或25 µ m宽的狭缝对、选择扫描狭缝或刀口工作模式、设置其它扫描选项等。这些扫描狭缝光束轮廓仪配备低噪声电子元件，具有78 dB高动态范围，能够测量直径在2.5 µ m和9 mm之间的光束。光束直径参考ISO 11146标准测量，可按照多种行业标准的限幅水平显示，比如1/e2(13.5%)、50%或用户设定的任意限幅水平值。当所测光束不具有近高斯光束形状，或者需要对脉冲光束进行单次测量，我们推荐使用我们的CMOS相机式光束轮廓仪。Thorlabs的Beam软件可以wan全控制这些光束轮廓仪的工作，且提供了多种用户可调节的设置以及显示与数据记录选项。光束轮廓仪连接到装有Beam软件的PC时，不需要其他的硬件和电源。Thorlabs采用USB 2.0高速接口将测量头连接到PC，所需的USB电线随BP209包装附带。

光束诱导电流成像检测系统 LBIC激光诱导电流测量仪该设备可以执行各种太阳能电池的光电电流分布和光电转换元素的测量，比如测量SiPD、CCD和CMOS。该设备是采用激光诱导电流测量（LBIC）方法。作为标准，提供532nm的绿色激光系统，在x - y方向移动样品，然后再短路测试（Isc）。该系统有10μm空间分辨率，并且能够测量50 x 50mm的样品。尤其针对钙钛矿的太阳能电池等等，钙钛矿太阳能电池是用旋涂机表面涂层方法做出来的，那么在样品的中心和边缘就会存在均匀性差异的问题。针对这样的样品评估，该系统就是最理想的评估系统。这个系统也可以用来评估SiPD、CCD和CMOS涂层或镀膜材料的均匀性。l 评估钙钛矿太阳能电池平面光电流和涂层分布的理想系统l 根据选择的激光，在375 ~ 900nm的范围内，它能测量不同波长l 区域的详细说明来源于获得的数据和两个表面不均匀性[( max. value - min. value) /(max.value + min.value) ]，并且也能够得到平均值[ Total effective data / number of effective data ]技术参数激光波长 : 532nm输出 : 1mW稳定性 : ±5%/h标准 : Class 2在国际标准内XY stage : ±25mm, 0.01mm minimum step电流测量 : 10fA~ 20mA软件 : Windows 7, 32 bit规格大小 : W750 x D270 x H650mm( excluding the electrometer, stage controller and the PC )标准设备配备1. 激光灯源 ( 波长 532nm ) 2. XY stage 3. 静电计4. 样品室 ( 带手动快门 ) 5. 个人电脑 ( Windows 7 32 bits )6. LBC-2专用软件选配激光（375/406/445/473/488/635/650/670/785/808/830/850/904/980nm) 用SMA 连接器可以切换各种激光可视相机和监测器 监测激光辐照的样品自动快门机制 通过软件机制来控制快门Si 光电二极管 探测器用于量子效率的计算软件

专为工业客户设计的M^2测量系统 关键词：光束质量分析仪，M^2测量仪，自动M^2测量仪，工业用光束质量分析仪，工业用M^2测量仪,激光M2因子测量仪，光束质量因子测量仪，激光M^2测量仪 Closed CinSquare system是CINOGY公司专门为工业客户设计的，用于测量激光器的M^2以及发散角等。为了能够满足不同工业客户的要求，CINOGY公司还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包过半导体/固体激光器以及光纤激光器等。该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。 &there4 符合ISO11146-1/2&there4 为工业客户而设计的紧凑且稳健的系统&there4 全自动的M^2测量，整个测量过程不超过2分钟。&there4 基于相机测量的系统（不是狭缝扫描技术）&there4 2维和3维焦散拟合曲线&there4 可兼容测量连续以及脉冲激光器&there4 测量精度高&there4 分析软件RayCi支持已PDF格式输出所有的测量结果

产品介绍：TwoMP分子质量光学测量仪分子质量光学测量仪是一款创新的光学分析仪器，通过光干涉的原理去称量生物分子如蛋白/核酸的分子量，检测速度快且样品用量小，只需2ul样品，5分钟内即可完成检测。分子质量光学测量仪广泛用于测量蛋白分子量，蛋白的寡聚化状态，如蛋白的单体、二聚体等存在形式，以及蛋白与蛋白或蛋白与DNA的相互作用研究。检测原理：技术参数：检测波长：488nm分子量范围：30KDa-5MDa灵敏度：＜1ng准确度：±2%样品用量：2ul检测时间：1min产品优势：1、无标记检测，维持分子自然状态2、单分子检测，兼容各种buffer3、动态检测范围宽4、纯度、存在状态、相互作用检测5、检测速度快，样品用量少应用领域：蛋白质组学生物大分子药物细胞生物学

厂家介绍：美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：• 通信：光缆加工/熔接、研发• 材料加工：焊接、蚀刻、切割• 消费设备：光学鼠标• 天文• 激光制造与品控• 光谱学• 3D扫描• 粒子检测• LED：室内照明、车头灯• LIDAR：AR、VR• 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪M2测量仪：Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD搭载狭缝式Beam' R2 的M2测量仪：M2DU-BR WinCamD M2 Stage DataRay模块化设计的M2测量系统为用户提供了M2测量的超高灵活性。通过厂家提供的电子表格，用户可以选择理想的M2测量配置：不同参数的相机式或狭缝扫描式的光束质量分析仪、不同焦距的透镜可选、50mm或200 mm长的位移台可选。光束质量分析仪不仅可以在M2平台上用于测量M2值，还可以可拆卸下来单独使用。该系统既可测连续激光，也可测脉冲激光，使用灵活方便。 M2测量系统参数：波长范围190nm - 16um位移台行程50或200mmM2测量范围1-50M2精度±5%M2重复性±2%

应用领域◆ 吸入毒理、医疗以及化学实验。 产品概况◆ 气溶胶质量浓度测量仪主要用于对气溶胶物质进行质量浓度的检测。是进行实时颗粒物浓度检测（单位为mg/m3）的理想设备。易于携带，具有可移动的探头，这样可以在难以探查的区域进行工作，使其不但适用于固定场所，也适用于一般的测量应用。使用近前向光散射原理，可以对气溶胶浓度进行精确和可重复的测量。 性能特点◆ 测量范围：最大到250g/m3；◆ 人性化结构设计，便于携带、操作及测量；◆ 针对恶劣环境的坚固性耐用设计；◆ 特有的校准插头设计，可进行现场校准；◆ 碱性电池或USB DC5V供电。 技术参数适用范围：1μg/m³ ～250g/m³ 分辨率：1μg/m³ 光感技术：前向光散射技术-650nm 显示屏：320*240 TFT 彩色液晶屏 键盘：八键位键盘 使用环境温度： 0℃—50℃（非凝结状态） 电源：AA 1.5V*3 碱性电池 DC-5V type-c USB 通讯：通485通讯，modbus协议，最多支持99台仪器进行组网通讯。 参考标准JJG 846-2015 粉尘浓度测量仪检定规程

别名：弱吸收测量仪，强激光材料性能测试仪，高功率激光薄膜光热弱吸收测量仪，光学薄膜微弱吸收测量仪，光学材料光热效应测量仪主要特点： 光热效应测量 激光诱导波前形变测量（Hartmann‐Shack）传感器 测量分辨率10pm (~ λ/10,000) 实时吸收测量：ppm级灵敏度 Relaxation of wavefront deformation after heating pulse Thermal lens in fused silica @193nm 主要应用： 光学材料测试 透镜热分析 复杂光学瞬态畸变（如：F‐Theta平场聚焦镜头） 质量控制 高功率激光器（固体激光器、准分子激光器、CO2激光器等）光束测试软件 测试基于ISO标准ParameterStandardBeam diameter光束直径ISO 11146DivergenceISO 11146Beam profile光束剖面ISO 13694Pointing 指向/ pos. Stability位置稳定性ISO 11670M2 质量因子/ Focusability聚焦性ISO 11146Wavefront 波前 / Phase distribution相位分布ISO 15367Coherence 相干-Around 20 various camera types are supported

μBeam微小光斑测量仪以色列Duma Optronics 公司于1989年成立，是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司。其生产的光束质量分析仪产品类型丰富，功能全面。公司的Beam Analysis光束质量分析仪主要有三种类型：CCD类型分析仪（最新产品）、亚毫米光束分析仪、刀口法类型分析仪。-量微米级大小光束（0.5um）-可测量连续光束和高低重复频率的脉冲光束-长的测量距离-高分辨率、高灵敏度CCD读出装置-宽光谱范围，优越的快速聚焦性能?自动验证分析报告主要参数：参数数值相机类型CCD1/4"光谱范围350–1310nm放大倍数100x、50x、20x、10x衰减器内置可卸NG10衰减片尺寸163.5 x83mm透镜工作距离6.0mm(100x),13mm(50x),33.5mm(10x),20mm(20x)最小可测光束大小0.5μm（100x)最大帧速25Hz

光束质量分析仪 超高性价比光斑分析仪，产品多样，适合各类工业和科研用户，价格低至两万，支持定制！具体产品Knife-Edge Beam Analyzer（狭缝扫描式光束质量分析仪）多重扫描狭缝式光束分析仪 连续波激光的高精度光束诊断。宽的光谱范围，从深紫外到2700nm。宽动态围，光束大小尺寸测量低至2μm和高达10mm，分辨率0.1um。新的USB版本拥有更强的操作，包括:USB 2.0接口，12 bit 装置，同时对所有叶片高分辨率采样，适用于Windows 7（32或64位）操作系统。数据流通过TCP / IP通信协议或RS232。ActiveX软件集成到客户的应用程序上是可行的。系统有一个外部USB 2.0接口，一个测量头，一套2xNG Schott着色过滤器(NG4 ，NG9)在封装里为了Si和UV-Si探测器，一个安装手册，Windows应用软件光盘上,手提箱。 Beam Analyzer Touch多重扫描狭缝式光束分析仪新的小封装和强大的独立单元，内置触摸屏和测量头。专利技术(独特的层析图像重建2D/3D图像)，测量光束剖面，光束尺寸，形状、位置和能量。宽光谱范围从190nm到2700nm，光束大小从2um到10mm，分辨率 0.1 um。包括：工业单位7英寸触摸液晶屏，分辨率800 x400，对比度350:1, Windows 7 pro、4 xRS - 232、2 xLAN端口。规格参数： BeamOn: CCD Camera Laser Beam Profiling CCD型光斑质量分析完整的激光光束分析系统，有CCD摄像机头、一套3xNG Schott着色过滤片(NG4、NG9， NG10)在封装里，USB 2.0连接附件，软件磁盘，携带箱子，用户手册。BeamOn系统是一个光束诊断测量系统，对连续或脉冲激光光束进行实时测量。它测量激光光束参数,如:强度分布，波束宽度、形状、位置和能量。软件还提供了对光束分析设置和结果的报告功能。BeamOn提供USB附件、可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)的软件驱动设备，在Windows 7 (32或64位)，Windows 8操作系统的电脑上可以运行。 BeamOn LAIPL(强脉冲光)和大激光光束分析仪 完整的激光光束分析系统，内置一组5xND (ND8、ND64、 ND200、ND400和ND1000)过滤片及过滤片滑块，USB 2.0附件，软件磁盘上，手提箱，用户手册在CD上。BeamOn LA系统是一个光束诊断测量系统，实时测量连续或脉冲激光束。它测量激光光束参数，如:强度分布，光束宽度、形状、位置和能量。软件还提供了光束分析设置和结果报告功能。该系统是一个基于USB接口，软件驱动的设备，它可以连接到一个笔记本(或台式)通过高速USB 2.0端口和在Windows 7/8操作系统(32或64位)的电脑上运行。 BeamOn WSR宽光谱范围190 nm - 1600 nm CCD光束分析仪完整的激光光束分析系统，由CCD摄像机头、一组4xND过滤片(ND8，ND64、ND200和ND1000)在封装里、USB 2.0接口，软件磁盘上，手提箱，用户手册在CD上。 BeamOn WSR系统是一个光束诊断测量系统，对连续或脉冲激光光束进行实时测量。测量激光光束参数，如:强度分布，波束宽度、形状、位置和能量。软件还提供了光束分析设置和结果报告功能。该系统是基于一个USB接口，软件驱动的设备，它可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)，可以在Windows 7/8操作系统(32或64位)上运行。 BeamOn HR1.4M像素CCD光束分析仪，12bit分辨率。一个完整的测试站测量剖面、能量和位置，包括连续波和脉冲光束。基于对笔记本电脑的USB 2.0接口。提供一套完整设备对于较大的光束和高功率衰减。BeamOn HR系统是一个光束诊断测量系统，实时测量连续波或脉冲激光光束。它提供了激光参数，如：光束宽度、形状、位置、能量和强度分布。软件还提供了光束分析设置和结果的报告功能。BeamOn HR基于USB 2.0 CCD摄像机，软件驱动的设备,它可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)，并且可以在Windows 7操作系统(32和64位) 电脑上运行。 BeamOn2/3一个紧凑的有很大的感应区域的CCD激光光束质量分析仪 一个完整的激光分析的系统，由2/3”CCD摄像头，一组3着色过滤片(ND8，2 xN16)封装、USB 2.0连接，软件在磁盘上，携带箱。BeamOn 2/3”CCD系统是一个光束诊断测量系统，实时测量连续或脉冲激光光束。2/3”CCD传感器可以覆盖更大的光束，8.5mm*6.35mm大小的有效面积，像素尺寸11.6μm*11.2μm。它测量激光光束参数，如：光束宽度、形状、位置、能量和强度分布。BeamOn 2/3 是USB软件驱动的设备,它可以通过高速USB 2.0端口连接到一个笔记本(或台式)，并且可以在Windows XP/2000/7 操作系统(32或64位) 电脑上运行。 uBeamμBeam: 微小光束分析仪μBeam是光束诊断测量系统，实时测量并显示小型连续波或脉冲激光器在次微米范围内，光纤和激光二极管光束分析。主要功能包括：测量光束小于0.5μm(FWHM)，处理连续波或脉冲，有长的工作距离，使用高分辨率CCD响应范围，光学放大快速光束发现。这是一个软件驱动的设备，通过USB2.0接口与任何主机PC连接，在Windows 2000，XP，Vista，Win7（32或64位）运行。 μBeam应用在CD pickup，激光二极管，调节小镜片和光学组件，各种光束参数的评估与测试。高功率版本的μBeam也是可用的，使用SAM-HP光束采样机。 BeamOn LongBow 远程光束分析 BeamOn Long-Bow是一个测量站，包括CCD光束分析仪，辅以高放大光学和计算机技术。这是一个强大的光束诊断测量系统，实时测量并显示连续波或脉冲激光器。该系统是一个成像光束分析器为检查反射光束。BeamOn Long-Bow在传感器的应用，从远程目标的光束反射，各种光束参数的评估和测试。测量的主要参数有：强度剖面，光束宽度，位置和形状。该系统拥有强大的光学变焦和校准功能。 这是一个软件驱动的设备，通过USB接口与任何主机PC连接，在Windows XP，Vista，Win7（32或64位）运行。

枪炮弹速测量仪WKCS【简介】： 枪炮弹速测量仪WKCS的测量原理是在弹丸飞行路径的不同位置上安装激光束，当弹丸飞过时将依次遮断激光束，读出弹丸遮断激光束的时间，弹丸尾部脱离激光束时示波器也会给出相应的信号，可以得到弹丸尾部脱离激光束的时间差，再利用激光束之间的距离就可得到弹丸的平均速度。也可以利用电磁线圈实现，枪炮弹速测量仪WKCS主要有激光式和电磁线圈式两种。枪炮弹速测量仪WKCS【原理图】：枪炮弹速测量仪WKCS【技术指标】：序号名称参数1测速范围1 m/s～5000 m/s2相对测量误差≤1％3被测弹丸直径可根据用户实际情况确定（不能小于6mm）4被测弹丸弹头形状平顶、尖顶、圆顶5测试截面直径可根据用户实际情况确定6光网/光幕类型光网/光幕类型根据实际使用情况定枪炮弹速测量仪WKCS【应用领域】： 枪炮弹速测量仪WKCS 主要用于冲击波物理实验、弹道研究、武器装备的研制生产中。

泰科纳自动影像测量仪，是代替原有手动测量机型的一款全自动化测量机型，可以实现产品的批量全检。全自动对焦功能和全自动变倍远心镜头，不但能够提高测量效率，也避免测量过程中的人为因素带来的测量误差。可以离线编程，实现测量程序存储和调用。泰科纳自动影像测量仪搭载1:6.5高分辨率光学系统，可全面确保精密工件的二维尺寸进行准确测量。可高效测量各种精密零件的轮廓和表面形状尺寸，如点、线、圆、弧、矩形、槽形、环形、开曲线、闭曲线、圆柱、圆锥、球、平面,也能测量曲线的周长、面积、直径等。同时可以进行平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同心度、直线度、平面度、孔深等适用于高精度产品检测。广泛应用于：航空航天、汽车电子、手机零部件等行业。测量机的核心测量组件是激光测径。激光发射器发射的激光通过旋转和一组透镜处理，形成一个激光面扫描工件，工件放置在激光束面内，在测量区域位置的被测物遮挡激光束并将阴影投射至接收器，计算被遮挡光束的阴影时间，被测物的外径即可被精确计算出来。

一、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪产品简介：小麦育种研究中，小麦表型参数至关重要，小麦表型检测仪可用于小麦株高、夹角、基粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标的测量，可多点快速取样数据可批量分析并获取平均值。这些表型参数在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种中发挥着至关重要的作用。软件集合多方面功能为一体，一站式解决小麦的表型参数测量问题。广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的小麦研究。二、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪应用广泛：1、小麦亩穗数检测合适时期： 小麦抽穗期、开花期、灌浆期、成熟前期的小麦。2、麦穗形态测量的时期：室内考种时期：3、小麦夹角测量时期：抽穗期、开花期、灌浆期、乳熟期。4、千粒重测量时期： 室内考种时期。5、小麦株高测量时期： 各个生育时期。三、小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数：测量范围和误差：1、小麦亩穗数测量误差： ≤±5%。2、麦穗形态测量范围： 5——20cm。穗长误差： ±2%。小穗数误差： ≤ 3个。3、小麦夹角测量范围： 0-180°。作物粗： 0-5.2cm。夹角测量误差： +5%。4、作物茎粗测量误差： ±1%。5、千粒重测量误差： ±2%。6、株高测量范围： 0.1-1.1m。测量误差： ±1%。1.1 小麦亩穗数测量仪1.1简介小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数(每颖花数)和粒重三个基本因素构成，穗数是小麦产量重要构成要素之一，快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。1.2外形尺寸1、小麦亩穗数740mm*740*(620——1500)mm2、标定杆可上下伸缩调节高度3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm4、图像分辨率：1600*7205、摄像头：1300W像素1.3测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。1.4适用范围1、麦穗检测合适时期：小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重2.小麦株高测量仪2.2.1简介小麦株高测量仪用于测量小麦的株高。在小麦不同时期测量株高的标准不同。小麦株高一般是指植株基部至主茎顶部即主茎生长点之间的距离。幼苗期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。2.苗期：伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。3.拔节期：（1）伪茎高度：植株基部(或分粟节处)到最上部展开叶叶鞘顶部（即叶耳处）的距离为伪茎高度（或长度）；（2）真茎高度：各节间的总长为真茎高度（或长度）；（3）植株全长：植株基部到最上部展开叶的叶尖的距离做为植株全长。4.灌浆期：从植株基部（或分蘖节处）量到穗顶（不包括芒）的距离则为株高。2.2.2技术参数测量杆高度：375mm+375mm+350mm测量精度： 1mm测量范围： 10——1100mm外壳材质： 铝合金软件系统： Android2.2.3小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪功能特点1、仪器带有数据管理云平台和APP,可通过电脑网页或手机查看数据。由测量杆，手机，识别APP软件组成。2、手机对准测量杆上的刻度，拍照自动识别刻度数据实时传输到手机。3、测量杆带有水平仪，使测量过程更规范，更准确。4、完善识别内容：自动识别结果中显示识别的高度数据，手动录入作物数据（如：品种、生育期等）完善作物信息。首页界面上可显示所有测量结果。5、可根据检测日期，种类，测量人，区组名称进行测量结果查询。6、数据分析管理：分析结果可查看，可将图片和数据excel导出。7、数据上传：自动在wifi/4G网络链接正常下上传至云平台，实现管理、查看、分析数据。平台数据可下载、分析、打印。3.小麦夹角茎粗测量仪3.1仪器简介小麦夹角茎粗测量仪可快速测定和分析小麦夹角、茎粗等作物性状参数，方便开展科学研究和育种分析。也适用于水稻、油菜等作物品种。3.2小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪技术参数1、支撑材料：不锈钢2、支架材料：黑色塑料3、背景材质：白色树脂4、测量范围：作物夹角：0——180°；作物茎粗：0——6cm5、测量误差：作物夹角±1°；作物茎粗：±1mm3.3功能特点1、超轻便手持式设计，方便田间和室内测量使用；2、大屏幕彩色手触摸屏，安卓系统，1300万像素+200万像素双摄；3、测量速度快，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理；4、手动修正功能强大，手动触摸屏幕进行修正，使结果更准；5、手机和作物之间可以进行自由距离设置，适合多种植物的测量，适应性强；6、压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响；7、环境适应性广，无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据；8、自动调节白平衡，不受天气、光照等环境条件的影响；9、数据查看多样化：拍照分析后即可查看测量结果，可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式，并可分享至微信、QQ和钉钉；10、自动生成数据列表：测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间；11、作物夹角适用的作物：水稻、小麦、油菜；作物茎粗对各种作物的茎粗都能测量。4.麦穗形态测量仪4.1仪器简介麦穗形态测量仪也叫麦穗形态测定仪，基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取麦穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取麦穗形态参数，AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出小麦的穗长。麦穗形态测量仪一次测定，可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标，主要应用于应用于小麦育种、小麦遗传研究等领域，4.2技术参数外形尺寸： 460*320*10mmEVA背板尺寸： 420*295*2mm底板材料： 黑色双面细磨砂亚克力测量范围： 5——20cm测量误差： ±2%图像分辨率： 1600*7204.3功能特点1、超轻便手持式设计： 方便室内和室外测量使用 2、大屏幕彩色手触摸屏： 安卓系统，1300万像素 3、多穗同时测量： 麦形态测量仪一次可以测量10个麦穗长度：4、测量速度快： 拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理 5、比例尺自动标定： 对倾斜拍照的图片可自动进行图片矫正，提高测量的精确度。6、适应性广： 无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量麦穗形态。7、自动调节白平衡： 不受天气、光照等环境条件的影响 8、存储容量大： 50G存储数据,可看历史记录，相对生长速率等。9、数据查看多样化： 拍照分析后即可滑动查看结果，也可在历史记录中查看数据报表，可导成Excel格式10、自动生成数据列表： 测量时间，图片，GPS位置信息，穗长等信息，节约数据整理时间。小麦亩穗数测量仪 麦穗形态测量仪配置清单1、十字标定钢管 *42、伸缩杆 *13、地钉+转接器 *14、麦穗背板装置 *15、小麦夹角手持装置 *16、小麦株高标定杆 *17、小麦株高伸缩架 *18、可调光背光板 *19、超大彩色屏手机（已安装软件） *110、航空箱 *111、使用说明书 *1

厂家介绍：美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。 应用领域：&bull 通信：光缆加工/熔接、研发&bull 材料加工：焊接、蚀刻、切割&bull 消费设备：光学鼠标&bull 天文&bull 激光制造与品控&bull 光谱学&bull 3D扫描&bull 粒子检测&bull LED：室内照明、车头灯&bull LIDAR：AR、VR&bull 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪一、线光斑分析仪Dataray公司独有的线光斑测量仪 Max光斑长度可以达到200mm, 通过在高稳定、高重复性的电动平台上搭载光束质量分析仪，利用先进的图像拼接处理的软件设计，实现大尺寸线光斑的实时测量。Dataray公司提供50mm(LLPS-50)和200mm (LLPS-200)两种行程的线光斑测量仪供客户选择。 产品特点&bull 光谱范围：190-1150nm（取决于使用的光束质量分析仪，可拓展至163nm-16um）；&bull 分辨率：4um（取决于所使用的的光束质量分析仪）；&bull 线光斑的宽度（Min.55um）和长度测量（Max.200mm）；&bull 线光斑倾斜角测量；&bull 通过线光斑回归线测量竖直方向圆心；应用领域&bull 机器视觉&bull 3D扫描&bull 条纹扫描&bull LD激光阵列发光测试&bull 粒子计数&bull 水平仪经纬仪设备现场分析 二、大尺寸光斑测量仪DataRay公司通过将激光照射在透射屏上，利用高质量的透镜进行成像，可以实现大尺寸的光斑测量，最大可测光斑可以达到200mm。产品特点l 配置 WinCamD-LCM相机l 光谱范围：355-1150nml 透射屏尺寸：200 x 200 mml 有效像素大小：170 x 170 μml 成像透镜：焦距12.5mm，f/1.4-f/16l 信噪比：2500:1应用领域l 大尺寸激光光束测量l 全强度分布分析l 主/次直径测量

消色差伽利略扩束器GBE02-A 光学测量仪特性2X，3X，5X，10X，15X或20X的扩束器或缩束器可选3种宽带增透膜可选A: 400 - 650 nmB: 650 - 1050 nmC: 1050 - 1650 nm滑动透镜调节可以使光束走离效应降到最小外壳的机械长度固定，且端部不可旋转准直调节环可用附带的六角扳手锁定将大孔径用作输入端时，可用于缩小光束尺寸螺纹孔径易于集成到光学系统中Thorlabs的镀增透膜的伽利略消色差扩束器可以将一束准直光的直径扩大或缩小2倍，3倍，5倍，10倍，15倍或20倍。这些扩束器利用低像差的消色差设计，经优化，提供小于λ/4的波前误差(即，衍射极限性能)，并将对扩大光束的M² 值的影响降到最小。扩大的光束可以聚焦成一束较窄衍射极限的光腰，具有小输入孔径的光学元件或仪器(比如我们的法布里-珀罗干涉仪)可能需要使用这种较窄的束腰。这些扩束器使用由N-BK7和N-BASF2制成的消色差透镜和透镜。为了将空气与玻璃界面处的反射率降到最小，这些扩束器中使用的光学元件具有三种增透膜中的一种，增透膜镀于集成到设计中的每个透镜的两面上：400 - 650 nm (产品型号以-A结尾)，650 - 1050 nm (产品型号以-B结尾)，或1050 - 1650 nm (产品型号以-C结尾)。对比于未镀膜光学元件4%的典型反射率，增透膜将每个表面的平均反射率在指定的波长范围内降低到小于0.5%。关于镀膜性能的更多信息请看规格和增透膜标签。滑动透镜设计允许在调节准直时将透镜调节中固有的光束走离效应降到最小。红色环用于调节输出光束准直，如上图所示；一旦达到所需准直后，可用附带的0.05英寸六角扳手拧紧锁定螺丝来锁定该环。外壳设计成在转动准直调节环时不旋转，使用户可以调节发散而不影响任何已经安装的光学元件，并保持指向稳定性。

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

村上色彩光学测量仪光源的光束通过聚光镜聚集到小孔,并通过准直透镜转换为平行光束，接着通过光速虹膜到达样品表面。光束在样片表面的反射率和透过率通过镜头和接收虹膜存储到接收体中。因此,通过测量光强度可以测得样品的反射率、透过率和漫反射率。应用范围1)控制塑料?玻璃等的透光特性 2)用光触针测量金属面?涂装面的表面粗糙度3)测定磁性涂料涂层面的光学性能指标4)测量纸的光学性能指标5)毛发的光学性能测量6)分析天然材料和人工材料的表面光学性能7)评价高光泽镜面的光泽度8)研究纤维?织物的表面光学特征9)研究光从液晶后部照射时扩散板?七色光谱板?偏光板的透光性 杰弗里斯法的光学条件测量示例为分析研究材料量化的外观?质地?材料表面的光泽度? 光学系统测量概念图技术参数光源卤素灯 12V 50W受光单元光电子增倍管光束调节器约φ2~φ20 可变受光开角约0.5°~ 2.9°可变受光角度检出角度0.1°step测试台旋转度 360° 精度±20′观测器旋转度360° 精度±20′试料尺寸最大100×100角~最小50×50角?厚度10以下

仪器简介：在与植物有关的研究工作中，一个很重要的任务就是了解植物生长、产量和环境因素的关系。为此我们一方面需要有关环境因素的数据(气象，水分，营养等等)，另一方面我们也需要有关植物生理生长方面的数据。 目前，由于测量技术方面的困难，有关植物方面的数据都是不连续的，如年轮宽度，产量，生物量等，这些指标一般都是多种环境因素在一个生长季里累计作用的结果。究竟哪个环境因素，什么时间对这些植物指标起决定性的作用，一般很难客观确定。譬如，某一年的年轮宽度小于往年，你很难说清其成因，是由于春节霜冻，夏季干旱，还是由于秋季低温，等等。生长测量仪正是为解决这个问题而开发生产的。生长测量仪连续测定生长率，即时反应环境因素变化及人为措施给生长带来得影响。在实际使用中，完全可以将生长和气象因素同步观测，这样不但可以准确认定影响生长的关键因素，而且也给数据处理带来极大方便。 工作原理： Dendrometer是一种电子设备，带张力传感器，可监测环境因子对植物水分平衡的影响及茎杆、果实直径的生长。该系统具温度补偿功能。将Dendrometer固定在测量部位，数据可以直读，也可用Datalogger自动记录。Ecomatik公司的Dendrometer是在多项专利的基础上开发出来高质量的测量仪器。其优点在于精确度高，性能可靠，质优价廉。 应用： 不同经营方式(干旱/灌溉程度，施肥方式，耕作方式，间伐方式)与植物生长的关系。 同一植物在不同条件下(土壤，降雨量，海拔，气候)的生长情况。 长期监测树木的生长情况。 气候变化对物候的影响，准确测定生长季的始末。 用DV型测定树干的生长趋势。研究树干在机械力（风力，压力）作用下的变化，在竞争中的趋光性。 连续测量植物体内的含水量。 测定植物体水分饱和的时间。 连续测量植物体内的水势(Xylem waterpotential)。 灌溉控制。根据生长速度确定灌溉时间和灌溉量 研究冬天树干破裂的原因。寻找冬天树干破裂的原因关键是准确确定树干破裂的时间和发生的过程。这两个数据都可用生长仪准确测定。 准确确定霜冻发生的时间。通过测量空气温度一般无法确定霜冻发生的时间，因为不同植物的冰点不一样。但所有植物在遭受霜冻时，其直径都发生剧烈变化。因此通过监测直径变化，可以准确确定霜冻发生的时间。 研究热带植物的生长规律。因热带季节不分明，树木没有年轮，植物生长节奏很难观测。 产地：德国Ecomatik公司技术参数：性能指标: 数据采集器： 型号：U型数据采集器 通道：4个模拟通道 (可同时连接4个生长测量仪) 分辨率：12bit 内存：32K，可存21600个数据 机箱：密封防水箱 接口：RS232 电源供应：碱性电池，保证两年以上供电 传感器 测量范围：11mm，通过重调测量范围可一直扩大 准确性：7&mu m 分辨率：7&mu m 线性：± 0.5% 温度系数：0.04%/℃ 应用环境：温度：-30℃~40℃；湿度：0~100% 重量：13g (不含电缆) 电缆长度：标准电缆长2m，可延长至100m 传感器型号 型号：DF型水果蔬菜直径测量仪 应用范围：水果蔬菜树干及其他球状植物器官的直径 可测量植物的尺寸：直径0~11cm (11 cm可特制) 是否损伤植物：对植物没有损伤 温度系数：极小 材质：不锈钢，铝合金 尺寸/重量：18× 15× 1.5 cm,52g主要特点：特点： 高度精确 自身重量极小(13克),几乎不压迫植物 耗能小，如和专用数采一起，用一个小电池可以连续测量两年以上 适用各种户外条件 直接微米输出，无需标定 已有十年以上的实地使用经验 几乎无需保护维修措施

高精度紫外波段偏振态测量（斯托克斯参数测量）系统（180nm-200nm）深紫外偏振态测量仪 光刻机偏振态测量仪 193nm偏振态测量仪Hinds公司长期以来致力于偏振态测量研究，在紫外波长（180nm-200nm）范围内基于双PEM（光弹调制器）的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供无与伦比的精度与灵敏度。该科研级高精度stokes测量系统可实现每秒超100组标准化斯托克斯参数集获取。一次测量生成4个斯托克斯参数。该系统在光学元件表征、光学系统光束输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面具有广泛的应用。该系统采用了Hinds公司自研光弹性调制器(PEM)技术，提供了目前超高水平的偏振测量。此外，PEM提供高速操作，根据所需波长在37至100khz之间调制。PEM光弹调制器基于谐振调制，该系统能够提供完整的斯托克斯测量没有移动部件，因此在精度和重复性方面高出市面现有偏振态测量系统一个数量级。本系统可根据用户使用需求定制波长，除可见光外可实现紫外波段光的偏振态及完整斯托克斯参数测量。 深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品参数（波长范围：180nm-200nm）：斯托克斯参数准确误差：1%斯托克斯参数灵敏度：0.0005重复率：3σ≤0.01（波长范围：200nm-400nm）：斯托克斯参数准确误差：0.5%斯托克斯参数灵敏度：0.0005重复率：3σ≤0.0035深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品应用QC测试和测量表征材料医药开发和质量控制光学旋转电信设备制造业SOP、DOP测量天文测量自由空间和光纤的选择测量光谱应用更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

小麦亩穗数测量仪小麦亩穗数测量仪简介：小麦亩穗数测量仪也称小麦亩穗数测量系统，采用图像识别技术、深度学习的方法获取数据，可多点快速取样，数据批量分析，且数据互联互通。可以测量小麦的亩穗数、理论产量、种子数量和千粒重指标，为小麦的品种筛选、小麦产量预测、产量基因定位和功能解析发挥着至关重要的作用。小麦产量是由单位面积上的穗数、每穗数（每颖花数）和粒重三个基本因素构成，穗数是小麦产量重要构成要素之一，快速、准确地获取小麦穗数和千粒重对智能测产意义重大。功能特点：1、批量分析：可同时检测和批量分析5张照片的亩穗数量（≤5张）， 并可获取其平均值， 可先拍照后批量处理。2、具有遮挡率和灵敏度补偿特性：对小麦在扬花期、灌浆期、半成熟期的小麦进行测量，误差±5%，并可缩放图像进行查看。3、自动去杂质：成像清晰，数粒准确。4、高度不固定：操作简单，使用方便。5、手动修正更精确：可通过+、-做相应的修正，使数粒准确性达到100%。6、数据查看多样化：可在系统软件中查看报表。7、LED背光光源装置：能够去除种子阴影和杂质，背光清晰。8、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，自动换算出千粒重。9、数据采集方式：可多点快速取样，数据可批量分析并获取平均值。10、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。11、智能修正：手动点击触摸屏幕进行修正，使结果更精准，可达100%。12、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后可查看结果，可在历史记录中查看数据报表。13、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。小麦亩穗数测量仪技术参数：外形尺寸小麦亩穗数标定杆740mm*7402、标定杆可上下伸缩调节高度(620--1500)mm3、背光板尺寸： 47cm*35cm*0.8cm4、屏幕分辨率：1600*7205、摄像头：1500W像素测量误差1、小麦亩穗数误差±5%。2、千粒重误差±2%，修正后可达100%。适用范围1、麦穗检测合适时期： 小麦灌浆期至成熟前期的小麦2、千粒重可测量小麦种子的数量和千粒重装箱清单十字标定杆固定地钉3、可调背光板4、超大屏彩色屏手机（含充电器）5、航空箱6、使用说明书

宽范围可调谐中红外OEM激光模块光学测量仪宽范围可调谐中红外OEM激光模块特点：业内较好的宽范围可调谐QCL 可选调谐宽度250 cm-1， 范围5.4-12.8 μm激光控制电子系统可控激光模块数量高达4个最快速的调谐（稳定时间15 ms）良好的光束指向稳定性结构紧凑灵活的控制电子系统尺寸超小、质量超轻的激光器模块紧凑灵活的控制电子系统封装灵活的OEM系统配置宽范围可调谐中红外OEM激光模块光学测量仪

自进入信息时代以来，科技发展越发迅速。你知道光学测量仪及坐标测量机的重要性吗？下面影像测量仪厂家妙机和大家浅谈一下。　　测量、计算机和通信技术这三者的作用非常重要。如今手机电脑、平板等随处可见，无线网络等出现，使得信息技术发展迅速，现在信息已经广泛覆盖，在经济发展中的作用举足轻重。而在信息产业中又少不了计算机等硬件设备，所以说测量技术是信息技术的基础，仪器仪表却是信息技术的重要组成部分。由此可见仪器仪表和测量在现代社会中的重要性。　　近年来仪器仪表和测量也得到国家的重视，国家在各种政策方面也给予了很大支持。2001年的七届四次全国人大会议上，在国家经济与社会发展第十个五年计划纲要中国家就提出了“注重仪器仪表发展，将其放在重要位置。之后政府就下达了一大笔专项资金来支持仪器仪表发展，这就再次说明国家队仪器仪表的关注。2005至现在国家都下发了有关政策，都涉及到仪器仪表和测量如何发展。在航天计划和其他科技发展计划中，仪器仪表和测量也备受重视。所以这几年来仪器仪表和测量迅猛发展。　　在国家的注视下，仪器仪表和测量从稚嫩走向成熟。并且逐渐促进了国内仪器仪表行业的创新和研发，由以前的引进国外仪器，到现在能完全自己研发制造仪器，而且制造的仪器质量、精度都很高。尤其的光学影像及坐标测量行业，已经进入强烈的竞争时期，激烈的竞争更加促使了技术技能的更新。　　以上为影像测量仪生产厂家给大家讲解的内容，希望能帮助到大家，如有意向想要购买或者想了解更多关于这方面的知识的朋友们，欢迎关注妙机科技网站或者致电联系，我们妙机科技公司是一家致力于生产、销售为一体的测量厂家，值得信赖！

煤炭在线水分测量仪QL系列红外水份仪是采用光栅式红外水份仪，其稳定性比六光束、八光速大大提高。平均测试精度可达0.1%-0.5%左右（视被测物料而定），满足生产工艺要求。而红外水份仪可以在传送带上快速连续测量，且非接触被测物料，实现在线动态实时检测，反应时间仅为8ms，实现了对产品含水率的实时控制。红外水分仪原理：1. 水分子中的氢-氧键会吸收特定波长的近红外线（特定测量波段1.94μm），在特定波长下，所反射回去的近红外线能量和物料中水分子吸收的近红外线能量成反比，根据能量的损失量计算出被测物料的含水率。2. 当水分子被特定的能量带激发时变成振动态，在光谱的近红外部位，该波段对于水分子特别强烈，同时仪器在发射、过滤和接收能量方面更容易实现。3. 近红外线测量技术是一种非破坏性，非接触式的实时测量技术。探头是内部执行所有系统测量和处理功能的智能设备，并直接输出经校准的测量值。还能生成微型电脑和触控电脑上的显示内容。功能特点：1. 非接触式，应用红外技术以慢反射方式对水份进行测定2. 多通道设置，同一台仪器满足测量不同类型物料的需求，QL系列水分仪共有10个通道，编号从1-10，每个通道编号代表一组上述的通道参数，改变通道编号，即选择了不同的通道参数，以适应同一台仪器测量不同类型的物料的需求。3. 基本不受外界光变影响、具有温度自动补偿基本不受外界温度变化的影响长期稳定性好。4. 安装简单、操作方便快捷，仪器的安装调试只需几天，安装调试期间不影响正常生产。QL-300系列水份仪采用预定标，现场只需修正截距（零位）就可以完成标定工作。仪器采用单片机进行数字运算，简化的触摸式操作，非常适用于一般的操作工人。煤炭在线水分测量仪特点：1. 高度集成的电子器件，SMT技术的电路板，故障率低、质量稳定可靠2. 动态的实时诊断系统、无需定期保养 3. 可加内置式冷却系统4. 可加内置式产品温度测量系统5. 对物料颜色/配方的敏感性：最小，适用性更佳。 6. 滤光片比传统品牌设计的更小，受带宽的影响更小。7. 电源以及数字信号输出和主机分离，避免了传统品牌输出信号受到探头内部温度的影响，信号不稳定。 8. 输出信号方式更多， RS485、4-20mA模拟信号和RS232可三选二配备。红外水分仪规格参数：型号QL-300QL-300B适合于测量物料白色 黄色等亮色物黑色 灰色等暗色物波长1940nm、1818nm双波长探测1940nm、1818nm双波长探测探头玻璃出光玻璃采用高棚石英玻璃，避免污渍和和水汽附着.出光玻璃采用高棚石英玻璃，避免污渍和和水汽附着.测量范围0～95%0～95%测量精度±0.2%-±0.01%（绝dui值）±0.2%-±0.01%（绝dui值）分辨率0.01%0.01%光斑直径60mm直径60mm测量速度0.0125秒0.0125秒探测器加滤镜封装，避免外界光干扰加滤镜封装，避免外界光干扰标定调校快速标定、预标定，无需日常再标定快速标定、预标定，无需日常再标定滤波时间线性或指数（0.1-180秒）线性或指数（0.1-180秒）信号输出RS232、 RS485、4-20mA模拟信号（3选2）RS232、 RS485、4-20mA模拟信号（3选2）通讯协议选择自由协议或MUDBUS-RTU协议选择自由协议或MUDBUS-RTU协议标定档案可以存储31个标定档案可以存储31个标定档案工作温度-10～80℃-10～80℃工作距离150～400mm150～400mm工作电源24VDC/35VA24VDC/35VA尺寸大小130×149×277mm130×149×277mm重量5kg5kg清洁吹扫接口吹扫口直径6mm，压缩空气0.25MPa吹扫口直径6mm，压缩空气0.25MPaQL-300红外水分仪应用领域：钢铁行业：烧结混合料、球团原料、干燥前后、造球等。有色金属：铝土矿、铜精矿、矿物砂、镍矿、金银铅锌精矿、氧化铝以及有色冶炼等烟草行业：烟包、烟梗、烟叶、烟丝、复烤、烟枝等粮食行业、食品加工、陶瓷行业、玻璃行业、水泥行业、制药行业、化工行业、木材行业、造纸行业等等

显微镜双目平行差测量仪具体按GB/T19863-2005（体视显微镜试验方法）中4.5操作，注：完成GB/T19863-2005操作需按照该标准另配十字分化板，10倍十字分化目镜等1.用途及主要特点显微镜双目平行差测量仪主要用于检测双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差。2．主要技术指标1左右光轴不平行，当左右光轴夹角微调鼓轮处于中间零位时，夹角为12°2左分划板：十字分划板3右分划板：十字刻度分划板，格值3′4左右光轴夹角微调鼓轮调整范围：12°±4°鼓轮格值：1′5分划倾斜测微鼓轮测量范围：±4°鼓轮格值：1′6物镜焦距：f′=120mm7物镜有效口径：d=φ30mm8目镜焦距：f′=20mm

中图仪器GTS动态目标跟踪测量仪是高精度、便携式的空间大尺寸坐标测量机，同时具高精度（μm级）、大工作空间（百米级）特点。系统由计算机、跟踪测量站、目标镜组成，将水平和垂直两个方向的角度测量与距离测量结合在一起，构成一个球坐标测量系统；通过目标镜完成空间几何元素测点信息的获取，并通过三维数据分析软件完成对空间几何元素尺寸、尺寸公差与形位公差、空间曲面与曲线的分析计算工作。GTS动态目标跟踪测量仪集激光干涉测距技术、光电检测技术、精密机械技术、计算机及控制技术、现代数值计算理论于一体，在大尺度空间测量工业科学仪器中具有高精度和重要性，是同时具有μm级别精度、百米工作空间的高性能光电仪器。功能特点1、主机测量系统（1）集成化控制主机设计强大CPU处理能力、紧凑型的控制主机内置于激光跟踪头，主机集成化的设计大大减少设备连接线缆和携带箱体数量，方便现场快速安装。（2）目标球自动锁定技术目标锁定相机在断光时会在小范围内自动搜索到目标球，完成断光续接，自动锁定目标球，全过程不需人为操作，提高测量效率。（3）HiADM测距技术激光绝对测距（ADM）和激光干涉测距（IFM）融合技术（HiADM），将激光干涉测长的高动态速度与激光绝对测距功能相结合，保证测量精度，并实现挡光恢复。 （4）一体化气象站一体化的环境气象站自动监视及更新环境气象参数，实时补偿温度、空气压力和湿度对激光在空气中空气折射率的影响，保证测量的准确性。（5）MultiComm通信设备与电脑之间可以通过硬件触发、有线网络或无线WIFI等多种方式数据通信，方便保密车间的现场使用，最高测量数据输出速度1000点/秒。（6）便携性运输集成化主机设计的激光跟踪头，集成式的配件运输箱，使得整个运输箱体系统体积小、重量轻，并且便于在不同的工作地点之间进行运输。（7）密封防护设计IP54防护等级，保证主机免受灰尘和其他污染物的进入，环境适用性强。（8）稳固三脚架稳定、便捷的三角架和底盘设计确保稳定的地面测量条件，灵巧升降机构设计省力操作，稳固的三角支撑系统避免环境震动带来的精度损失。2、iProbe 6D姿态探头 （1）机器视觉和重力对齐的传感融合技术测量空间姿态。（2）可以测量孔、洞等内部特征、隐藏特征的几何结构。（3）双探头设计，对复杂特征测量时更加高效。（4）无线传输，简易随行。3、iTracker 6D姿态智能传感器（1）姿态传感器自动跟随锁定激光束，测量灵活性高。（2）俯仰角和偏航角不受光学回射器接收角度的限制。（3）简易接口连接，便于安装在机床或机器人上，重复性高、精度高。（4）专用波段激光束和滤光设计，对环境光不敏感。（5）采样速度200点/秒。4、EyeScan跟踪式激光扫描系统（1）动态追踪，无需贴点（2）测量范围广，支持大跨度转站（3）41条蓝色激光线，不惧黑亮（4）碳纤维材质，便携稳定（5）高采扫描速度1360000点每秒5、SpatialMaster空间测量软件SpatialMaster（简称SMT）是一款自主研发，专为大尺寸测量设备如激光跟踪仪配套使用，并且通过PTB认证的通用三维测量分析软件。SMT支持多个任意类型的仪器同时测量，测量数据可溯源的，具有强大的数据处理分析功能，支持生产制造过程中的几何尺寸公差(GD&T)评定，此外SMT具有优秀的用户交互性，方便灵活的分析报告功能。6、RobotMaster机器人检测校准套件基于GTS动态目标跟踪测量仪的RobotMaster机器人套件为工业机器人空间绝对位置精度测量标定和性能检测提供高效可行的解决方案，既提供基于光学靶球的经济方案，也提供基于6D姿态智能传感器的增强方案。应用领域广泛应用在各种大尺度空间精密测量领域，如在航空航天领域对飞机零部件及装配精度的测量；在机床行业中对机床平面度、直线度、圆柱度等的测量；在汽车制造中对车型的在线测量；在制造中对运动机器人位置的精确标定。此外，激光跟踪仪还可以广泛应用到造船、轨道交通、核电等先进制造各个领域。中图仪器GTS激光跟踪测量系统已经发展出三自由度激光跟踪仪和六自由度激光跟踪仪家族系列，可以和多种形式的合作目标测头配合使用：1、GTS3000激光跟踪仪与光学回射靶球配合组成三自由度激光跟踪仪，能对大尺度空间内的点、线、面、曲面等几何特征进行精确测量；2、GTS6000激光跟踪仪与空间姿态探头配合组成六自由度激光跟踪仪，能够根据合作目标的精确空间姿态对被测工件的内部特征、隐藏特征或曲面等复杂特征进行快速、高精度的测量。

妙机三坐标测量仪和影像测量仪都以先进的测量技术而得以广泛应用，虽然两者都是通过对产品的尺寸、角度和位置等形位公差进行测量的，但这两种测量仪有着本质的区别，接下来妙机小编为大家介绍一下三坐标测量仪与影像测量仪的不同之处。　　1、测量方式不同。妙机三坐标测量仪是使用测头接触工件的，通过接触的方式获取点的坐标。而影像测量仪是通过对光学镜头获取的图像进行测量的，不用接触，只需要全程使用摄像功能就可以完成测量。　　2、测量工件类型不同。虽然妙机三坐标测量仪的测量精度比影像测量仪高，但其主要是通过与工件接触的方式进行测量的，无法很好的测量小薄软等类型的工件。影像测量仪虽然可以通过非接触的形式测量小薄软等类型的工件，但对一些需要进行三维测量或测量精度要求高的工件来说，却有些力不从心。　　3、测量维度不同。妙机三坐标测量仪是根据所取点的三维坐标值来进行测量的，空间内的每一个点都有唯一的坐标值，测量精度很高。而影像测量仪是通过光学影像技术获取工件的二维影像，然后再进行精密的测量，是在二维平面上进行测量的。　　上述文章就是东莞三坐标测量仪厂商的小编和大家说的内容，大家都清楚了吗？在这边我们也就不和大家多说啦，大家若是对测量产品有所需要或者感兴趣的话，都可以随时联系我们，也可以关注一下妙机科技的。妙机科技公司不断引进先进的生产技术和质量保证，在日趋激烈的市场竞争中不断发展壮大。

Beam On WSR 光束质量分析仪 上海瞬渺光电的高功率光斑分析仪（光束质量分析仪）系列产品特别适于测量高功率激光聚焦光斑或整形光斑。测量的光斑尺寸范围从几个μm至8mm不等，测量的功率可高达5 kW功率水平。瞬渺光电的DUMA激光光斑分析仪能够适应各种生产现场，较小或较大的工作距离，实现每秒5次的实时测量。 在各种现代科学和工业激光应用中，通常需要对激光光斑进行整形或聚焦，但由于输入激光失真，光学畸变，加热，整体不稳定性和非线性效应等因素，实际得到的激光光斑往往会偏离设计目标。瞬渺光电为客户提供测试方案和配置，我们提供完整的激光束测量，特别致力于解决激光焦点和平顶光斑的测量。进口 光斑分析仪DUMA光束质量分析仪 可测量大功率激光亚微米光斑。Beam On WSR 光束质量分析仪主要特点：光谱范围宽：190nm to 1600nm可测量连续激光器和脉冲激光器USB 2.0 接口2D/3D实时测量显示可测光束轮廓、光束质心和位置实时的数据记录和统计软件操作方便快捷Beam On WSR 光束质量分析仪主要应用：实时功率测试实时光束轮廓及宽度测试2D/3D光强分布直观显示光束位置测试实时的数据记录和统计多波长激光准直Beam On WSR 光束质量分析仪技术参数：光谱范围VIS: 350-1600nmUV: 190-1600nm相机类型WSR detector ?” format探测响应面积6.47mm(宽) x 4.83mm（高）像素8.6 μm (H) X 8.3 μm (V)尺寸80mm x 78.5mm x 49mm 含三片滤波片重量约400 gr. （含电缆）功率消耗5V, 0.6 A (USB 2.0 Port)工作温度-10oc——50oc（无凝结）快门速度1/50x256s to 1/100,000 s增益6dB to 41dB帧速25Hz（无慢速快门操作）灵敏度~160μW/cm2 @ 1550nm 快门 x256饱和功率密度~1mW/cm2 @ 633nm （无衰减片）损伤阈值50W/cm2/1J/cm2 （安装上所有衰减片）激光光束分析仪,激光光斑分析仪,M2分析仪,光束质量分析仪,相机式光束质量分析仪,狭缝扫描式光束分析仪,M方测量仪