伽马射线能谱仪

备受赞誉的Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪（XPS）集合了卓越的性能、快速分析及杰出的化学灵敏度等优势。K-Alpha将前沿的单色化XPS优异性能与全智能自动化完美结合，尤其适合于多用户环境。K-alpha的易操作性，可同时满足经验丰富的XPS分析人员和初学者的需求。分析选项包括用于角分辨XPS数据采集的倾斜模块和用于空气敏感样品传输的可循环惰性气体手套箱。 强大的性能可选面积能谱深度剖析微聚焦单色器高分辨率化学态能谱快照采集绝缘样品分析定量化化学成像 无可比拟的易用性一键式样品导航和实验设定自动样品传输按需校准全能谱仪设定离子枪设定完全计算机操作 世界一流的软件 仪器控制 数据采集 数据解析 数据处理 报告生成 数据存档管理 审查跟踪日志 系统性能日志如您想了解更多关于K-Alpha X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

表面和界面分析充满了挑战，需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific Nexsa G2表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪，在保证数据质量和样品测试通量的同时，集成了其他分析技术。与所有 Thermo Scientific XPS 系统一样，Nexsa G2 系统也使用 Avantage 进行仪器控制、数据处理和报告生成。无论是在专业的研究实验室，还是在多用户环境中工作，Avantage 灵活易用、功能齐全、操作直观的特性，可帮助不同水平的用户实现样品分析。为什么选择 Nexsa G2 系统？高效的科研级能谱仪新型微聚焦单色化X射线源可实现以 5 μm 步长的 10 μm 至 400 μm 的 X 射线光斑大小连续可调，从而确保将分析束斑调节至与目标特征匹配，最大程度地增强信号。利用升级的X 射线源、高效的电子透镜和优化的检测器，可实现卓越的灵敏度和高效的数据采集。绝缘体分析Nexsa G2 系统上的一键式自动电荷补偿系统可轻松实现绝缘样品分析。专利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电，因为使用极低能量的电子，大多数情况下将无需进行荷电校正。深度剖析Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS（可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保卓越的性能和实验重现性。多技术联用使用 Nexsa G2 系统，所有技术将触手可及，一套系统全面分析您的样品。标准配置具备高性能 XPS 所需的所有功能，ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身。升级选项可将系统转换为完整的分析工作站，有助于解决材料分析问题，提高生产效率。特殊样品台可选Nexsa G2增加了多种样品台可选，以满足科研的特殊应用需求。特殊可选样品台有：NX 加热台，用于原位的样品加热分析；多触点偏压样品台，可实现样品在真空系统中的施加电压，偏压或循环电极后的XPS原位分析；惰性气体转移腔，可实现空气敏感样品的真空/惰性气体保护转移；MCA样品台，用于XPS+SEM的关联分析，实现XPS技术和电子显微技术对样品的同一个分析区域采集数据，并进行比对分析。如您想了解更多关于Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪（XPS）是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台，ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术，打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置，带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身，操作便捷，快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合，实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术，使得XPI成像分辨率达1um，所得数据无探测器背底特征，无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm～900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点，确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合，用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度，确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具，可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统，可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件，包括： 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

仪器简介：这是目前国际上最新一代的能谱仪。具有在一个工作界面上完成全部能谱分析的各项功能。全自动可介入的定性定量分析，二次图像，背反射图像采集，存储和调用，任意数量的元素面分布，多元素线扫描，自动多点分析。以及最先进的全谱图像和相（化合物）自动提取和分布图技术。可适用于各种扫描电镜和透射电镜。

岛津／Kratos X射线光电子能谱仪AXIS Nova——最新成像自动型，业界领先位于英国曼切斯特的Kratos公司是世界上最早生产商品化X射线光电子能谱仪的厂家之一，现在是世界上最大的分析仪器制造公司——岛津公司的全资子公司。自1997年以来，岛津/Kratos公司研发了包括专利的磁沉浸透镜和专利的低能电子荷电中和系统等一系列新技术的新型光电子能谱仪——AXIS Ultra，并于2002年底推出了使用二维阵列检测器——延迟线检测器（Delay-Line Detector）的最新自动型AXIS Nova型XPS谱仪。截至2014年1月底，在世界上已经销售了超过100台AXIS Nova型XPS谱仪，在世界上许多著名的大学、科研机构和企业公司中得到了高度的认可，在业界处于绝对领先地位。 技术特点：Axis Nova采用大功率X光源和浸入式磁透镜设计以获取最高的检测灵敏度，同时采用165mm大平均半径的双聚焦半球扇形能量分析器，可以获得最高的XPS谱线能量分辨。在检测器端，Axis Ultra DLD采用位于能量分析器出口中心位置上的第二代专利的二维阵列延迟线检测器，可以同时记录光电子的信号强度及其发射位置，亦可以在数秒的时间里获取完整的XPS谱图。Axis Nova采用与静电传输透镜同轴的超低能单电子源荷电中和器，完全满足各类绝缘样品的XPS分析任务，尤其是对于表面凸凹不平的样品（典型的是粉末样品和断口样品），可以获得完美的分析结果。Axis Nova使用专利的与采谱能量分析器同心的球面镜能量分析器，可以获得高空间分辨的平行光电子图像，亦即可以获得元素的不同化学状态的二维分布。Axis Nova采用全自动的大样品台设计，最大样品可达4吋，可以利用进样室的光学显微镜确定分析位置，并在样品自动进入分析室以后实现预设位置上的全自动XPS分析。

产品简介　　法国Damavan imaging提出时间成像是伽马射线成像的新概念，它利用每个闪烁事件的光和时间分布来精确定位空间（X，Y，Z），时间（T）中的每个闪烁事件以及它的能量（E）。　　这种新的成像概念可以使每个体素大小（1x1x2mm）的闪烁事件提高一个数量级。　　Temporalδ伽马射线成像谱仪是率先使用这个新概念的设备。这款便携式版本的伽马射线成像谱仪带有一个CeBr3头，伽玛射线和可见光成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV- 2mev探测。Temporalδ伽马射线成像谱仪拥有市面上出色的角度分辨率(6°)和时间分辨率(300ps)。它也非常敏感，可以对自然的无线电元素成像并可以对扩展源进行良好的成像。　 性能特点　　Temporal δ伽马射线成像谱仪由便携式单元包括一个处理单元和一个探测器单元，可选配CZT配件。 　　-检测效率高, 1个校准过的探测器模块，由两个32x32毫米的CeBr3晶体组成 　　-成像能量动态范围宽，探测能量范围可达50KeV - 3MeV，能量分辨率1.5% 　　-高时间分辨率，时间巧合小于300ps 　　-高准确度，角分辨率可达1度 　　-低噪音水平 　　-高灵敏度　应用领域 　　-核废料管理 　　-核设施退役 　　-放射性化学 　　-医院的放射性安全 　　-环境监测、核查和预警 　　-剂量监测和预警 　　-安防、安保、海关、警察　技术参数光学成像视场78×104°degres flat field角分辨率10 degrees(full spectrum)6 degrees (energy gated)灵敏度0.03μR/h in 1hour1kBq @1m in 2 hours3μR/h 1mn闪烁晶体CeBr3时间分辨率300 ps @ 511keV能量分辨率7% @ 662keV能量范围100 keV—3 MeV(能谱分析)400keV-3MeV(辐射成像)电池续航4小时外置电池（重1.2kg）计数率限制1 mSv/h重量3.9kg尺寸21x29x16 cm电源110-220V (mains)工作温度-20°C ~ +50°C通讯方式Ethernet to laptopWifi in 2019　　图3 Temporal δ参数 *不含CZT配件下的参数　应用案例　　Temporalδ提供了一个电子准直的选项，它允许“关闭”一个强光源，只保留图像上的其他光源，因此，即使在强光源附近，也能拍出弱光源的清晰图像。　　下面的图片上,你可以看到一个桶的X射线图像和由Temporal δ对相同的桶进行伽马射线成像效果。　　1332 KeV (60Co)在X光图像上，你可以看到有两个桶，一个小桶在大桶里面。　　在伽玛图像上，所有能量都有3 +1个区域：　　-A中正在扩散的强烈放射源；　　-B处的轮廓揭示了中小桶结构的扩散；　　-C微弱的扩散区域，可能对应于小桶上的玻璃棉（在X射线图像上也可见）；　　-D高能光子散布在环境中的密集部分上　　基于能量1332 KeV的伽马图像显示，右下角（区域A）的强光源对应于60Co。同时也可以在此伽马图像中看到小桶的轮廓，这是在小桶实体上散射了光子。

伽马射线成像谱仪产品介绍： 伽马射线成像谱仪是一款快速，便捷，易用的成像谱仪，可用于核电站常规检测及维护，退役反应堆的检测 紧急情况、突发事故和停机期的检测，还可用于环保领域的核源检测等。光谱性能可与低温冷却检测仪相媲美，实现同位素成像。产品特点：快速，便捷，易用的成像谱仪：快速识别和定位主要同位素 实时能谱、识别和成像 在662keV半高宽能量分辨率优于1%能量量程高达3MeV ,涵盖主要同位素使用像素化CZT探测器，成像效率业界领头准确叠加伽马线成像和光学成像点源和分布源成像从开机到使用2分钟20秒内从天然本底中探测并识別同位素轻巧便捷集成测距仪功能气密防水，易于清洁实时剂量计自动生成检测、成像报告附送年检和软件升级技术参数：尺寸24cmx9cmxl8cm(加支架尺寸：37.5cmxl2cmx21cm)重量3.5kg(加支架重量：5kg)电池使用时间 6小时（23°C的环境下） 3小时（在低于一20°C或高于S0°C的环境下）工作电源100—240V , 47-63HZ工作温度一20°C-S0°C储存温度一20oC-60oC异物防护等级IP6S (更换风扇IP67 )三脚架W _20(加强螺纹）3/8" -16 (仅用支架）冷却系统专用外置散热片和风扇能量分辨率Sl.l% FWHM ( 662 keV的半高宽时）光学成像视扬162°横向，122°纵向辐射成像视扬4ti ( 360。）角度精度全4ti角±1°源定位精度（实时处理）角度分辨率~30°FWHM全4n角（实时处理）-2CTFWHM全4n角（后期处理）成像灵敏度探测，R/hrl37Cs用时少于16秒（能谱）定位~3MR/hrl37Cs用时少于90秒能量量程50keV - 3MeV (能谱）250keV-3MeV (成像）探测器晶体体积19.4cm3 CZT ( CdZnTe )最大计数率自然环境下为〇.5rem/hr ( 5mSv/h「）同位素库3573ENDF同位素库启动时间2分钟显示7” 1280x800HD平板电脑通讯连接通过WiFi ,蓝牙或有线连接其他连接以太网RJ45端口TCP/IP 视图能谱、伽马成像、光学成像、复合成像

伽马射线测井系统简介：RT-60“鼹鼠”是井眼伽马射线测量和天然放射性同位素分析的最佳解决方案。基于其大尺寸的伽马探测器，该仪器为快速井眼扫描进行了优化。RT-60的主要应用是在井眼中进行伽马光谱测井分析，大多数井眼的深度小于25m。其它应用包括勘探钻孔和其它类型的井。标准卷轴可容纳50米的线缆。在特殊要求下，通过使用更长的线缆和不同的绞车，长度可以扩展到200米。典型的用户是在采矿和勘探公司、大学和地质调查局工作的地质学家和地球物理学家。许多从事氡风险评估或对用于建筑用途的岩石进行分类的环境和岩土专家也对RT-60感兴趣。此外，RT-60可用于检查石油化工管道、水井或污水处理系统(如化学废料转储系统)中Ra-226等核素的放射性污。RT-60采用内置有连续分析器的1024通道的伽玛射线光谱仪。它所使用先进的方法可以在自然本底下自动稳定。这种独特的稳定方法消除了额外的放射性检查源的需要。随机配有一台安装好软件包的电脑，通过该软件与光谱仪进行在线通信，将数据记录到电脑上。RT-60有一个集成的BGO(氧化铋锗)伽玛射线探测器，尺寸为30×30毫米。除了这个探测器，该系统还包含一个带有独立电源的1024通道的伽马射线能谱仪。RT-60内置的防护和减震装置对探测器和电子器件进行了良好的保护。2.5毫米厚度的铝材制成的坚固外壳可以在需要时附加额外的起重电缆。特点：● 采用BGO探测器，灵敏度高● 1024 道线性能量变换器● 自然本底下自动稳定● 标配25 m线缆● USB 与电脑连接技术参数：探测器:探头：BGO, 30 x 30 mm线缆和卷轴：标配25 m线缆(卷筒容量 = 50m). 灵敏度：80 cps/MBq（距离Cs-137一米）ADC：1024 通道，高速，能量线性能量范围：30 - 3000 keV 界面：RS-485, 半双向功耗：5 V / 100 mA, USB供电连接：4芯线缆, 厚不锈钢铠装层尺寸：直径60mm，长度600mm,重量：1.9 kg最大温度：60 °C 最大压力：0.5 MPa转换器:输入：USB 2.0 兼容输出：RS-485，半双向，高达 115k bps功率：80 mA, USB供电尺寸：90 x 55 x 25 mm, 重量：90克标准配置:- 带有25米铠装线缆的探头 (其它长度可以应要求定做，最长200米)- 带有旋转连接器的手动转轴- 转换器- 1.5米的USB线- 0.3m接口电缆- 软件包可选配件:- 重负载的三脚架校准:所有RT-60出厂前都会按照IAE（国际原子能机构）指令用U、K、Th放射源做预校准

小型机载伽马射线光谱仪简介：D230A是一种轻型伽马射线光谱仪，专为小载荷无人机设计。研发的目的就是使其重量最小化而灵敏度最大化。D230A的主要应用是机载伽马射线。两种探测器的光谱分别积累和保存，扫描速率从1秒到1分钟可调。此外，在监测过程中，两种探测器最终形成的是一个互补的综合光谱。D230A是由位于前面板卡槽里的一个小型锂电池供电。充满电的电池可维持至少4小时的操作，并可快速更换。技术参数:探测器： 两个BGO晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)，双碱阴PMT， 灵敏度2x160cps/MBq/m (Cs- 137)。 最大分辨率11.5%FWHM (661 keV)。 或两个NaI/T晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)， 双碱阴PMT，最大分辨率 8% FWHM (661 keV).光谱仪：全数字2x1024通道，40Mhz 数字信号处理器，线性能量校正，反堆积，200 ns分辨率，每个检测器的最大吞吐 量为250 000 cps采样率：用户可选择最小每秒1次。每个光谱同时储存在单独的数据文件和总累积光谱中。能量范围：25 keV - 3000 keV显示：LCD 2 x 20个字符控制器：单按键操作数据存储：最小2x 20000个样本，包括GPS坐标的全光谱。 稳定光谱和系统消息日志。内存大小可扩展GPS：导航至-162 dBm和-148 dBm冷启动，精度2米通信：数据传输，远程控制和诊断:USB 2.0电源：可充电锂离子电池7.2V/2200 mAh （在20摄氏度下最少可工作4小时），外部充电器和电池组尺寸：145 mm x 78 mm x 260 mm重量：3.5 kg（2个BGO）环境：操作温度范围-10oC 到 +50oC IP-40级，无防尘、防水。

全伽马测井记录的是井眼周围地层的自然伽马辐射总量。光谱伽马射线测井记录的是产生自然辐射的三种主要元素(钾、铀和钍)的相对数量。 SGR-740岩芯伽马射线测量仪测量岩心样品发出的能量水平和辐射量，并计算每种元素的数量。然后，这些元素的数量和总伽马射线计数被作为深度的依据。 特征：• 双测量模式——同时绘制岩心的光谱和总测井曲线• 恒温控制器与闪烁检测器集成，提高了可重复性• 步进电机驱动机制多速度设置-优化分辨率和速度• 自动输送机停止模式-防止岩芯从输送机的末端掉下来• 安装有锁定旋转小脚轮 -使快速和容易移动• v形输送轨道-保持岩芯在输送中心• 可测量直径达7英寸的岩心• 可根据要求提供校准标准 操作方法：开始测试时，操作者将岩心样品按深度排列在传送带上。该装置将记录15分钟的本底辐射，以建立基准读数。然后传送带将样品从机器中传送，同时计算机在屏幕上显示结果。在测试结束时，结果会被绘制出来，并可以打印或导出。SGR-740绘制了光谱和总伽玛辐射图。 规格：• 皮带尺寸:15cm宽×274 cm长• 伽玛射线探测器:NaI晶体，8×8 cm• 尺寸: 60×120×300 cm• 重量:992磅(450kg)需求：• 功率:230伏，50/ 60hz, 2安培 软件功能：提供电脑和软件用于控制和数据采集 产品编号：#700-410

地质/环保伽马射线分析仪简介：RT-40代表了便携式伽玛射线谱仪的重大进步，为地球物理和环境应用提供了许多新特性。紧凑的，单手持拿与集成的GPS给用户非常愉快的现场操作体验。高灵敏度探测器与复杂的数学方法相结合，实时提供准确可靠的结果。GT-40和GT-40-S除了探测器的类型外，其他都是相同的。GT-40具有3 × 3”的NaI(Tl)探测器，灵敏度高，分辨率好，可在大多数现场应用中使用。GT-40-S具有2x2“带铅屏蔽的BGO探测器，应用于聚焦测量岩心或地层测量。GT-40可通过内部标定常数计算出K（%）、U（ppm）和Th（ppm）的浓度。测量结束后立即显示结果。它们可以存储在仪器中或通过蓝牙或Wi-Fi发送到外部设备。高灵敏度的集成GPS接收器，可以自动记录位置并存储在每一次测量的数据中。测量也可以通过语音标签记录。存储的语音信息可以通过内置扬声器重复。GT-40由内置充电器的高能可充电锂电池组供电。这允许实际的测量时间高达15小时多功能GeoView软件包提供所有必要的数据下载到电脑里，基于日历的测试结果，频谱视图，数据显示和将测量结果导出到地图软件上（例如谷歌地图）。特点：● 高灵敏度 使用 3”x 3” NaI(Tl)或 2”x 2” 屏蔽的BGO 探测器● 先进的数字信号处理器光谱仪● 自然本底下自动稳定● 大尺寸可读彩色显示器● 直观的用户导航操纵杆● 通过Wi- Fi或蓝牙进行无线通信● 集成GPS和语音记录的实时结果● 坚固的手持式设计应用：● 探测矿物● 油气探测● 地质探测● 地理测绘● K , U, Th 和 Cs--‐137 分析● 探测铀矿● 岩心录井● 环境监测方便携带：技术参数：探测器：GT-40：NaI(Tl), 体积345 cm3, 直径76 x 76 mm (3” x 3”), 双碱 PMTGT-40-S：BGO, 体积104 cm3, 直径51 x 51 mm (2” x 2”), 双碱 PMT，25 mm 厚度的铅屏蔽光谱仪：1024道, 40 MHz DSP，线性能量校正堆积排除器, 200 ns 分辨率显示器：彩色，穿透式, 360 x 240 dots, 72 x 54 mm (3.5”), 太阳下可读控制器：5点式带照明的导航杆声音部件：内置36 mm麦克风数据存储：最少2000个带全光谱，数据位置和语音信息的样本GPS：导航到 –162 dBm and –148 dBm 冷启动通信：数据传输、遥控装置通过： USB 2.0，1.2Class2 ，Wi-Fi 802.11n电源：7.2V/6600 mAh可充电锂电池(松下 CGR18650CG/2S3P) 最少可以操作20小时。外部交流适配器(12V/1A)充电。尺寸：直径120 mm x 420 mm重量：GT-40: 4 kg (8.8 lb)，GT-40-S:9 kg (19.8 lb)标准配置：GT-40 (GT-40-S) 谱 用户手册 交流电源适配器 1.5 米 USB 线 Geoview软件包 (CD) 坚固的Pelican牌储存和运输箱环境：操作温度范围 -10oC to +50oC ，IP-65 级防水防尘 RFI/EMF屏蔽符合FCC(47 CFR part 15)的A级CE认证

WELL型高纯锗（HPGe）探测器伽马射线光谱仪产地：欧洲BSI简介：基于用液氮冷却的p型高纯度锗（HPGe）检测器的γ射线光谱仪被设计用于将伽马量子通量变换成电信号，并且 携带关于它们的能量的信息。特点：- 提供15% - 70%与更高效率HPGe孔型检测器- 提供90cm3 - 360cm3的灵敏度体积- 能量范围：20KeV - 10MeV- 孔材料：铝或碳纤维- 薄层提供Z佳效率- 根据应用提供内置或远程前置放大器- 4п几何测量- 低背景- 高能率，至200000MeV/s- Z佳峰值对称性&高分辨率- 如果检测器升温，HV提供保护- 高数率指示器- 低温改性应用：核能和环境控制、工业和科学研究、核医疗和其他应用中的伽马与X射线检测。液氮传感器和液位监测器：杜瓦瓶与液氮液位监测器完全分离,其通过16位LED指示器提供液氮水平的测量和指示，以校准在杜瓦瓶中的液氮体积的百分比。液氮液位监视器有内部蜂鸣器，当杜瓦瓶还有15%充满时，发出声音信号。 技术参数：型号相对效率%孔径正常体积（cc）能量分辨率FWHM122keVFWHM1332keVGWD-15 201510901.12.0GWD-15 2215161001.32.2GWD-20 2020101101.12.0GWD-20 2220161201.32.2GWD-25 2225101301.12.2GWD-25 2325161401.32.3GWD-30 2230101501.22.2GWD-30 2330161601.42.3GWD-35 2235101701.22.2GWD-35 2335161801.42.3GWD-40 2240101901.22.2GWD-40 2340162001.42.3GWD-60 2360102801.452.3GWD-70 2470103601.452.4GWD-70 2470163601.452.4下一页：MONOLIGH型高纯锗HPGe检测器

NRD-100型便携式中子剂量仪1、用途:直线加速器,质子重离子, BNCT等放疗场所中子射线辐射剂量巡测。测量范围：0.01uSv/h-1mSv/h；相对误差：≤±10%；能量响应：≤±15%（@Cs-137放射源），提供计量证书原件；2.9内置可充电锂电池；2.10显示单位：μSv/h、mSv/h，mR/h,CPS；2.11可自由设置报警阈值，超阈值报警提示；2、参数：2.1中子探测器：闪烁体中子探测器，非气体探测器；2.2能量范围：0.025ev（热中子）～15Mev；2.3慢化体：高密度聚乙烯；2.4灵敏度：≥1CPS/uSv/h；2.6相对固有误差：≤±30%；2.7抗电磁干扰性能：；2.8主机：探测射线：X，γ射线；中子和伽马射线测量数据同一屏幕显示；探测器：内置SiPM+闪烁体探测器；测量范围：0.01uSv/h-1mSv/h；相对误差：≤±10%；能量响应：≤±15%（@Cs-137放射源），提供计量证书原件；2.9内置锂电池；2.10显示单位：μSv/h、mSv/h，mR/h,CPS；2.11可自由设置报警阈值，超阈值报警提示；2.12主机与探测器采用RS485通讯；

MS350/700/1000/2000系列伽马射线仪是一款低功率、轻量级、高性能的伽马射线探测仪，可用于机载或车载探测，也可行走式测量。系统集成了独立的数据采集、处理和存储等功能，可通过智能手机或平板电脑等平台方便地进行数据采集。技术参数指标MS-350MS-700MS-1000MS-2000探测器CsI闪烁体3x6英寸CsI闪烁体3x6英寸CsI闪烁体3.5x6.5英寸CsI闪烁体90x310mm采集速率 1Hz（单点测量）10Hz（单点测量）数据处理单元4096 channel MCA内置4GB（连续测量400h）2048 channel MCA内置3GB,可拓展至32GB（连续测量20days）通信方式无线WIFI或数据线GPS信息内置GPS外壳碳纤维&阳极氧化铝工作温度- 40℃至+ 85℃- 20℃至+ 85℃-40℃至+85℃-40℃至+85℃防护等级IP68尺寸120mm(φ)x 220mm (L)120mm(φ)x 300mm (L)120mm(φ)x 400mm (L)120mm(φ)x 600mm (L)重量:2600g(NaI)2900g(CsI)4kg(NaI)，4.6kg(CsI)6.15kg(NaI)，7kg(CsI)12kg

利用每个闪烁体的光和时间分布， 在空间(X,Y,Z)、时间(T)和能量(E)中 精确定位每个闪烁体， 时域δ是市场上运用这种新概念的仪器设备。Daman Imaging已提出一款便携式的版本， 一个CeBr3探头，伽玛射线和可见成像和主动温度控制。这个版本是专门用于能源300KeV - 2MeV 这款相机的角分辨率(6°)市场上其他产品时间分辨率(300 ps)。 这款相机还具有极高的灵敏度，可以对自然辐射元素(1米处的1 kBq)进行成像 时域δ康普顿由便携式单元包括一个处理单元和 一个探测器单元组成 时域成像读出电子学。 1个校准的检测器模块， 由两个32x32 mm CeBr3晶体通过Phillips DPC3200 Tile传感器 嵌入式软件实时重构每个有效闪烁体的特征向量(X,Y,Z,T,E) 在笔记本电脑上，可以获取的矢量进行远距离图像重建。

GeGI-5高分辨率高纯锗γ相机是最新一代的高纯锗谱仪探测系统，它即具有γ射线成像能力又能够提供高分辨率的γ能谱。GeGI-5结合高空间和能谱分辨率，在确定γ源位置和时识别核素方面具有独特的测量优势。 高分辨率高纯锗γ相机由高纯锗锗探测器和斯特林制冷系统构成，它们整合在一个便携箱内。系统还可以连接另外一台电脑，可在1.5Km之外进行远程控制系统。系统配备彩色CCD相机，相机的“鱼眼”镜头能够提供180°视野。 GeGI-5测到的γ热点和核素信息一起被添加到视频图像上。GeGI-5既可以在康普顿数据采集模式下形成4π康普顿图像，也可以针孔视野模式提供一个校准过的小视图，便于更加细致的观察图像。 GeGI-5内置NIMH电池能够为短时间断电提供电源，应急供电时长约3h。可选额外的电池延长供电约5h。1、 技术性能： 高灵敏、高精确、高分辨 小型斯特林制冷高纯锗γ谱仪 斯特林制冷寿命长（超过5年） 4π康普顿视野γ图像 可针孔狭缝成像 核素识别、图像和定位U-235及Pu-239等 内置电池，可选额外电池 可选带铅针孔准直器的升降车 用户友好界面，平板操作 可无线操作 电源接头符合军用标准 2、性能参数： 尺寸：26 × 14 × 20 cm 重量：6.8 kg 电源：10~240 VAC，50~60 Hz，内置电池可用3h，外接电池可用5h 探测器：90mm直径×11mm厚高纯锗探测器 有效探测体积：60 cm3 灵敏度（10 μCi 137Cs源在1m处（33 nSv/h））： 识别时间≤ 3.7s ± 1s 定位时间≤ 30s ± 13s 能量分辨率（FWHM）：＜2.1keV (0.3%) @662keV 能量范围：30 keV~3 MeV 康普顿成像能量范围：140 keV~3 MeV 针孔成像能量范围：30 keV~662 KeV 最大剂量：250 kcps 核素库：400种，可添加 制冷时间：2.5h 探测器视野： 4π（360°）康普顿视图 2π（185°）光学前视视场 60°针孔成像视野 点源定位角度：±1° 相机：带广角鱼眼镜头的HD彩色CCD，可提供2π 185°光学前视视场 现场操作：在GeGI-5上现场控制和显示 遥控操作：GeGI-5可通过一台耐用的工业笔记本在150米外远程控制，笔记本与GeGI-5使用单线相连。 安装：GeGI-5可以便携式使用，或者安装在移动的升降车上。也可以安装在云台架、墙上和天花板或者ROV上。

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

仪器简介：BH1324B型微机多道X谱仪，是以BH1224型多道分析器卡为基础而改进 的新产品。它集高压、放大器和多道分析器卡为一体，通过RS-232串口电缆 与计算机连接，多道分析器本身受计算机制约的因素减少，为用户选择各种档 次、不同机型的计算机提供方便。配套的PHA18采集软件，在Win98操作系统 下运行。 　　该谱仪可测量X射线，供从事有关放射元素工作单位进行安全监督检查分 析。被测得的X射线以谱的形式在计算机上显示出来，通过软件进行分析。 　　该产品严格按照ISO9001质量体系进行质量控制。技术参数：1、系统的能量分辨率：＜65%（对239Pu） 2、系统的能量线性：≤±1%（60Kev～2.0Mev） 3、系统稳定性：≤±1%（8h）主要特点：工作环境 1、环境温度：+5℃～+35℃ 2、环境湿度：≤80%（30℃） 3、电源：交流220V±22V，50Hz±1Hz 成套设备 1、一体化多道分析器（含高压、放大器） 2、φ40×1mmX射线探头 3、通用γ谱仿真软件（PHA18） 4、计算机：当前市场的流行配置，标准配置为联想开天4600系列（可按户要求更换） 5、打印机：喷墨打印机Canon S100SP（可按用户要求更换）

??EDAX, X射线能谱仪,能量仪, EDS,扫描电镜,扫描电子显微镜,SEM,透射电镜, 透射电子显微镜, TEM, TEAM, SDD, 硅漂移探测器,Octane SDD, Octane Pro, Octane Plus,Octane Super, Octane Ultra, Apollo XLT SDDDAX是创新材料表征系统的领先供应商，提供能量仪（EDS），电子背散射衍射仪（EBSD），波谱仪（WDS），集成系统（EDS-EBSD，EDS-WDS，和EDS-EBSD-WDS），和微束X射线荧光能谱仪（Micro-XRF）。X射线能谱仪(EDS)——扫描电镜(SEM)用Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS(X射线能谱仪)数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD(硅漂移探测器, Silicon Drift Detector)技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。Octane SDD探测器型号Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。 Octane Pro: 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。 Octane Plus: 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。 Octane Super: 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。 Octane Ultra: 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。特点和好处先进的内置FET谱仪设计 Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率 所有计数率下保证数据质量 在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析最先进的脉冲处理器 最高的输入计数到存储数据转换效率。 以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。 TEAM™ 智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据 智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。 智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。结论Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料。 X射线能谱仪(EDS)——透射电镜(TEM)用TEAM™ 透射电镜能谱仪配备了Apollo XLT SDD系列探测器，为透射电镜(TEM)提供终极的分析方案。Apollo XLT SDD系列探测器包括超薄窗口（SUTW）和无窗口（XLTW）两种型号。由于可以完整地传输低能X射线，Apollo XLTW可以为用户提供最佳的轻元素性能。与SUTW探头相比，其轻元素的测量灵敏度提高了500%，重元素的计数率增加了30%，从而大大提高了元素面分布的采集速度，增强了低含量轻元素的检测。特点和好处 所有电子部件均集成在探测器内，方便安装、服务、校准和远程访问 自动校准程序实现快速、可重复、准确设置，校准数据驻留于探测器上，远程访问时无需重新校准 紧凑型的探测器提供了安装的灵活性，适合于各种TEM(透射电镜) 30 mm2 SDD芯片技术，优化了立体角 超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能，C分辨率均优于59 eV Mn的分辨率优于129 eV 直到100 kcps，分辨率稳定性都小于1 eV 峰位偏移直至250 kcps都小于1 eV 放大器时间常数从120 ns到7.65 s可选，便于获得最佳采集效果 高速以太网通信 当背散射电子过量时由马达控制自动缩回 针对TEM薄样品的定量算法Apollo XLT SDD系列探头将数据采集、电子信号处理集成在探头内，取消了单独的数据采集机箱，简化了设备安装。集成的探测器有简洁的外观设计，提高了性能，方便了远程访问，用户可以通过以太网线接入，消除了由传统电缆长度所导致的信号失真和损失。计算机可设置于探测器之外远达100米之处而不影响仪器的性能。智能化是TEAM™ TEM能谱仪的核心。智能化已经植入探测器，为探测器提供最好的保护，防止探测器在有害的条件下工作。当发现高能电子时，探头能够自动缩回至一个安全的位置，而无需用户人工干预，从而确保了探测器的安全运行。当需要进行维护的时候，通过远程登录的能力可实现优越的远程支持。记录在探测器中的工作历史记录也可以远程访问，以便进行快速、准确的评估。TEAM™ 能谱仪具有许多智能功能和现代化的用户界面，可自动简化分析并快速获得结果。不管操作者的技能如何，每次测试均可高效获得一致且准确的测量结果。TEAM™ 能谱仪也可以自动确定样品所含的元素，监视计数率、放大倍率、采集时间以及许多其它用于优化系统性能的工作参数。而交互式审查允许用户在完成分析之前以独特的方式预览结果。结论Apollo XLT SDD系列探测器完全集成了数据采集和电子信号处理设备，采用了TEAM™ 智能软件，是TEM上最直观、最易用的分析工具。该系列的无窗口型产品，进一步提升了采集效率和轻元素分析性能。TEAM™ 智能软件自动化的工作流程，革命性地改变了能谱仪的分析方式。无论使用者的技能水平如何，TEAM™ 每次都能提供卓越的测试结果。Apollo XLT SDD系列探测器结合TEAM™ 智能软件，为用户提供了最先进的TEM能谱仪系统。

K-Alpha X 射线光电子能谱仪Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪 (XPS)系统为表面分析带来了一种新方法。K-Alpha XPS 系统专注于使用简化的工作流程提供高质量的结果，使 XPS 操作简单直观，而不会牺牲性能或功能。K-Alpha XPS系统是一种完全集成式单色小光斑XPS系统，具备深度剖析能力。 更先进的性能、更低的价格、更容易的使用性和较大的样品测试量，使 K-Alpha XPS 系统成为多用户环境的理想选择。K-Alpha XPS系统使世界各地的研究人员能够进行表面分析。K-Alpha XPS系统性能数据分析仪类型 180°双聚焦半球分析仪， 128通道探测器X 射线源类型单色化、微聚焦、低功率的 Al K-Alpha X 射线源 X 射线光斑尺寸50-400 µ m（以 5µ m 为单位可调）深度剖析EX06 离子源样品最大面积60x60 mm样品最大厚度20 mm真空系统两个涡轮分子泵，配有自动钛升华泵和机械泵 可选配件ADXPS 样品 支架， 工作 功能 样品 支架， 手套 箱

PHIGENESISModel 900 for HAXPES无需溅射刻蚀的深度探索下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。XPS 和HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的分析在两种x射线源中，只有 Cr Ka XPs 能探测到 Y0,下方距离表面 14nm 处的 Cr层。拟合后的谱图确定了 Cr 的化学态。另外，通过比较，光电子起飞角90°和30°的 Cr Ka 谱图结果发现在较浅(表面灵敏度更高)的起飞角时，氧化物的强度较高，表明 Cr 氧化物处于 Y,0,和 Cr 层之间的界面。 内核电子的探测Cr Ka 提供了额外的 Al Ka 不能获取的内核电子基于 Cr Ka 的高能光电子，通常有多个额外的跃迁可用于分析。应用领域主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI，Inc.提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X射线光电子能谱仪，具有卓越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能 分析平台在各种研究领域的应用电池 AES/Transfer Vessel“LiPON/LiCoO 2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如 LiPON，对电子束辐照敏感。 PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取 AES 化学成像。有机器件 UPS/LEIPS/GCIB使用 UPS/LEIPS 和 Ar-GCIB 测量能带结构(1)C60薄膜表面(2)C60薄膜表面清洁后(3)C60薄膜 /Au 界面(4)Au 表面通过 UPS/LEIPS 分析和 Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 XPS/HAXPES半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的 GaN，使用 HAXPES 是非常有必要的。微电子 HAXPES 微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于 XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比 XPS 深的特点。

PHIGENESIS Model 900 for HAXPES无需溅射刻蚀的深度探索下一代透明发光材料使用直径约为10nm~50nm 的纳米量子点(QDs)，结合使用 XPS(Al Ka X射线)和 HAXPES(Cr Ka x射线)对同一微观特征区域进行分析，可以对 QDs 进行详细的深度结构分析。XPS 和HAXPES 的结合使用，可以对纳米颗粒进行深度分辨、定量和化学态分析，从而避免离子束溅射引起的损伤。 深层界面的分析 在两种x射线源中，只有 Cr Ka XPs 能探测到 Y0,下方距离表面 14nm 处的 Cr层。拟合后的谱图确定了 Cr 的化学态。另外，通过比较，光电子起飞角90°和30°的 Cr Ka 谱图结果发现在较浅(表面灵敏度更高)的起飞角时，氧化物的强度较高，表明 Cr 氧化物处于 Y,0,和 Cr 层之间的界面。 内核电子的探测Cr Ka 提供了额外的 Al Ka 不能获取的内核电子基于 Cr Ka 的高能光电子，通常有多个额外的跃迁可用于分析。应用领域 主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI，Inc.提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X射线光电子能谱仪，具有优越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能 分析平台在各种研究领域的应用电池 AES/Transfer Vessel“LiPON/LiCoO 2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如 LiPON，对电子束辐照敏感。 PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取 AES 化学成像。有机器件 UPS/LEIPS/GCIB使用 UPS/LEIPS 和 Ar-GCIB 测量能带结构(1)C60薄膜表面(2)C60薄膜表面清洁后(3)C60薄膜 /Au 界面(4)Au 表面通过 UPS/LEIPS 分析和 Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 XPS/HAXPES半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的 GaN，使用 HAXPES 是非常有必要的。微电子 HAXPES 微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于 XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比 XPS 深的特点。

GR-135 plus 放射性γ能谱仪 产品介绍： GR-135 plus 放射性γ能谱仪用于探测目前已知的任何放射性核素，具有很高的灵敏度，可以探测放射源发出的很微弱的α、β、γ、n射线，并能确定其正确方位，通过γ射线能谱分析辨认出该放射性元素。 GR-135 plus 放射性γ能谱仪是目前世界上使用很广泛的辐射测量仪，集成了NaI、GM管、中子探测器（锂玻璃、He3），具有报警、搜索、剂量率测量和核素识别多种功能。 便携式能谱仪GR-135 plus易于携带和携带。尤其适合于对仪器的简单易用性要求非常高的现场放射源检测。由于GR-135 plus的单键操作、使用非常简单的特点，使得无论利用其在爬升过程中进行测量或在浓烟中进行搜索，以及对集装箱检测，使用起来都非常简单方便。将GR-135 plus置于底座上，系统即开始稳谱和充电。即GR-135 plus始终处于待测量状态。仪器便于携带，握持平衡，单手即可操作。轻便、耐用是仪器的重要特点之一。通过一个摇杆，只需单个拇指进行操作，就可实现仪器的全部功能。 GR-135 plus广泛应用于环境保护、疾控（CDC）与卫生监督机构、科研教学机构、核材料、核电站、海关与出入境检验检疫、公共与核应急、国土、军事、民hang、铁路、公路与航运、核退役及去污等领域。产品特点： 高灵敏度多探测器：NaI，G-M管，中子探测器 大屏幕直观直方图显示，方便缩放显示及精的能谱分析 单手单键操作，自动模式下只需两步操作：巡测、剂量率测量，快速核素识别 核素识别功能，包括核wu级的特殊核素材料（SNM）屏蔽源 可快速、准确地给出分析结果，在多数情况下，从搜索一个可疑包裹或人员到决定扣留或释放之间几乎瞬间完成 主要用于现场人员，对探测特殊核材料的算法进行了专门优化，无需操作人员具有能谱分析或相关核素知识 自动核素识别，对屏蔽放射源和特殊核原料的识别算法进行了优化，识别结果包括核素种类、核素名称和能峰相对显著程度 通过底座RS232可快速充电、自动数字稳谱及IdentiVIEW 软件管理测量数据 内置4个预定义核素库（不需额外设置），可根据需要提供自定义核素库 内置存储器可存储剂量、剂量率（40000组）及能谱数据（200个1024道全能谱），必要时可查找/察看/显示存储的数据和能谱，下载到计算机上作进一步分析，量程自动转换，多种单位可选，可显示正确方位和累积剂量 针对用户的厉害手动模式，可通过更改参数扩展用途 可充电镍镉电池可供8小时持续使用或2 D-Cell 碱性电池（12小时） 带便携包，防风防雨，经久耐用技术参数：显 示 器：大屏幕显示、自动缩放显示、大图谱显示、背景灯探 测 器：NaI探测器、宽量程G-M管、中子探测器 （可选）能谱通道：1024道MCA、自行稳谱、温度影响修正、可定义多个感兴趣区（ROI）灵 敏 度：90cps/1MBq/Cs-137@1m，很大65,000cps谱仪性能：数字稳谱、内置热保护和防震的γ谱仪能量范围：0.02～3.0MeV可选单位：Sv/hr, Gy/hr 或 R/hr剂量率测量范围：10nSv/h～100mSv/h数据存储：可记录测量数据的时间/日期，1024道能谱，40000剂量测量，187个全能谱底座功能：电池充电、过充电保护、RS-232端口传输数据、自动稳谱功能核 素 库： 200种核素谱库，一个预先设置的核素库、支持五个核素库、可自定核素库电 源：可充电镍镉电池供8小时持续使用，2 D-Cell 碱性电池12小时持续使用工作温度：-10~50℃尺寸重量：172×229×102 mm，重量2 kg（包含电池及全部探测器）

PHI Quantera II 扫描X射线光电子能谱仪（XPS）是Ulvac-Phi公司以在业界获得非常卓越成绩的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所zui新研发的XPS分析仪器，其超卓技术包括有：一个独创微集中扫描的X射线来源，专利的双光束的电荷中和技术，在极低电压下仍可保持高性能的离子束源以进行XPS的深度分析，一个五轴精密的样品台和负责全自动样品传送的机械手臂，与及一个完全自动化且可支持互联网远程控制的仪器操作平台。Quantera II 扫描X射线光电子能谱仪（XPS）增加了这些技术性能和生产力，再一次提供了zui高性能的XPS系统，以满足您当前和未来的XPS需要。X射线光电子能谱仪（XPS）优点：容易使用：无论您是在分析一个薄膜样品、有机聚合物、一个大的塑料镜片，不锈钢刀片又或是焊锡球 所有的仪器设置和设定都是完全相同的。用者只需用鼠标点在一个光学图像单击选择一个或多个分析地区，加上双光束中和系统和自动Z-轴高度调整功能，就可以透过仪器软件的自动队列执行所有分析。整个操作流程不需要任何的设定调整，不用因不一样样品成份而有任何顾虑，甚至也不需要有操作员整天待在仪器旁边；一切的操作都可以自动的完成。薄膜分析：Quantera II 不仅提供了无机薄膜样本良好的深度剖面分析性能，而且也可以在利用C60离子枪对有机薄膜得出非常优越的深度分析结果。扫描 ：PHI使用了独创的聚焦扫描X射线源，使XPS微区分析变得更高效。如图4所示，X射线源是经由聚焦电子光栅扫描并撞击在铝阳极上所产生的，而此产生的聚焦铝X射线会再透过椭球形状的单色器反射在样品表面上。当电子束扫描在铝阳极上时，所产生的X射线束在样品上也会作出同步的扫描。X射线束的直径大小可调范围为7.5微米以下到400微米以上。微区光谱：在光学显微镜，在这透明的聚合物薄膜表面上是没有发现任何污染物的。但是如以下图５中所示，使用二次电子影像时就立即显示了在聚合物表面上的化污染物的存在。在短短几分钟内，Quantera II仪器就可以利用一个直径为20微米的X射线束得到确定的氟碳污染物。

Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后，具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过无与伦比的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置，带给用户的是领先的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。入围优秀新品获奖理由：先进的成像探测器设计，用于定量XPI成像： 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。空间连续的电阻阳极探测器创新技术，一方面使得XPI成像分辨率达1um，另一方面使得XPI成像得到数据无探测器背底特征，无需背底校正，直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。 可选配的EDS探测器，实现体相分析技术和表面分析技术的结合： 新设计Xi+系统可选配EDS探测器与俄歇电子枪结合，可实现样品纳米尺度的体相微区元素成分分析，EDS可探测微米深度的元素组成，可以用于材料深度剖析前的元素组成预判。体相敏感的EDS技术和XPS表面分析技术的结合可更直观地用于研究合金等的表面偏析行为。 标配的反射电子能量损失谱REELS分析技术，用于弥补UPS能带分析和XPS元素分析： REELS可以探测材料的能级和带隙结果，并可用于材料中H元素含量的定量。与UPS技术结合可了解完整的价带导带信息，并弥补XPS、AES等技术不能检测H元素含量的缺陷 发展的系列基于Xi+的成熟准原位样品处理、制备、反应系统: 基于Xi+，设计的一系列成熟的ALD、MBE样品制备系统，高温高压催化还原反应系统和样品退火系统，满足不同的科研项目需求。配备为提供最佳 XPS 性能而设计的单色化X射线源，确保ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针有最高的样品测试通量。多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备，使该仪器在解决任何表面分析问题时都能游刃有余。利用先进的 Avantage 数据采集和处理系统，从测试数据中挖掘尽可能多的信息。ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针的特点：高灵敏度能谱小面积 XPS深度剖析能力角分辨 XPS标配离子散射能谱 (ISS)功能标配反射电子能量损失谱 (REELS)功能标配“样品预处理”室多技术分析的多功能性多个样品制备技术可选全自动无人值守式分析多样品分析单色化X射线源双晶体微聚焦单色器配备一个 500 mm 直径的罗兰圆，使用铝阳极靶样品 X 射线光斑尺寸可选择范围为 200 至 900 μm透镜、分析仪和检测器透镜/分析器/检测器一体化使 ESCALAB 250Xi XPS 能谱仪同时具备成像和小面积 XPS 分析能力的独特性两种类型的检测器可以确保为每种分析提供最佳检测——二维检测器用于成像，基于通道电子倍增器的检测器则用于需要检测高计数率的能谱分析透镜配备了两种电脑控制的光阑组件，一套视场光阑用于控制低至 20 μm 的分析区域，适用于小面积分析；另一套光阑则用于控制透镜的接收角，对于高质量角分辨 XPS 至关重要180° 半球型能量分析器深度剖析数控式 EX06 离子枪是一款高性能的离子源，哪怕在使用低能离子源时也有着很好的性能提供方位角样品旋转多技术能力可配备其他分析技术而不降低 XPS 检测性能使用 EX06 离子枪时透镜组和能量分析仪的电源可反向（确保离子散射能谱 (ISS) 可用）电子枪可加压升至 1000 V，为 REELS 提供优异的离子源技术选项非单色化 X 射线光源的XPS分析AES（俄歇电子能谱）UPS（紫外光电子能谱）真空系统5 mm 厚高导磁 金属分析室，最大程度提高磁屏蔽效率与使用内部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳样品制备系统标配一体化的快速进样室和制备室额外的制备室可选Avantage 数据系统集成了测试分析的所有方面，包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成允许远程控制，并且可轻松与第三方软件交互（例如 Microsoft Word）管理从样品载入到报告导出的整个分析过程

简介PHI Genesis 500是最新一代配置了全自动多功能扫描聚焦X 射线光电子能谱，易操作式多功能选配附件，能够实现全自动样品传送停放，同时还具备高性能大面积和微区XPS 分析，快速精准深度剖析，为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供全面解决方案。关键技术易操作式多功能选配附件全自动样品传送停放高性能大面积和微区XPS 分析快速精准深度剖析为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供全面解决方案 简单易操作PHI GENESIS 提供了一种全新的用户体验，仪器高性能、全自动化、简单易操作。操作界面可在同一个屏幕内设置常规和高级的多功能测试参数，同时保留诸如进样照片导航和SXI 二次电子影像精准定位等功能。简单友好的用户界面PHI GENESIS 提供了一个简单、直观且易于操作的用户界面，对于操作人员非常友好，操作人员执行简单的设置操作即可完成包括所有选配附件在内的自动化分析。 多功能选配附件原位的多功能自动化分析，涵盖了从LEIPS 测试导带到HAXPES 芯能级激发的全范围技术，相比于传统的XPS 而言，PHI GENESIS 体现了前所未有的性能价值。全面的优良解决方案：高性能XPS、UPS、LEIPS、REELS、AES、GCIB 及多种其他选配附件可以满足所有表面分析需求。多数量样品大面积分析把制备好样品的样品托放进进样腔室后将自动传送进分析腔室内可同时使用三个样品托80mm×80mm 的大样品托可放置多数量样品可分析粉末、粗糙表面、绝缘体、形状复杂等各种各样的样品独一无二的可聚焦≤ 5μm 的微区X 射线束斑在PHI GENESIS 中，聚焦扫描X 射线源可以激发二次电子影像（SXI），利用二次电子影像可以进行导航、精准零误差定位、多点多区域同时分析测试以及深度剖析。大幅提升的二次电子影像（SXI）二次电子影像（SXI）精准零误差定位，保证了所见即所得。卓越的5μmX 射线束斑为微区XPS分析应用提供了新的机遇。 快速深度剖析PHI GENESIS 可实现高性能的深度剖析。聚焦X 射线源、高灵敏度探测器、高性能氩离子枪和高效双束中和系统可实现全自动深度剖析，包括在同一个溅射刻蚀坑内进行多点同时分析。 高性能的深度剖析能力( 下图左) 全固态电池薄膜的深度剖析。深度剖面清晰地显示了在2.0 μm 以下富Li 界面的存在。( 下图右) 在LiPON 膜沉积初期，可以看到氧从LiCoO2 层转移到LiPON 层中，使Co 在LoCoO2 层富Li 界面由氧化态还原为金属态。角分辨XPS 分析PHI GENESIS XPS 的高灵敏度微区分析和高度可重现的中和性能确保了对样品角分辨分析的卓越性能。另外，样品倾斜和样品旋转相结合，可同时实现角度的高分辨率和能量的高分辨率。应用领域主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI,Inc. 提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X 射线光电子能谱仪，具有卓越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。 PHI GENESIS 多功能分析平台在各种研究领域的应用电池 (AES + Transfer Vessel)“LiPON/LiCoO2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如LiPON，对电子束辐照敏感。PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取AES 化学成像。有机器件 (UPS / LEIPS + GCIB)使用UPS/LEIPS 和Ar-GCIB 测量能带结构（1）C60 薄膜表面（2）C60 薄膜表面清洁后（3）C60 薄膜/Au 界面（4）Au 表面通过UPS/LEIPS 分析和Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 (XPS + HAXPES)半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的GaN，使用HAXPES 是非常有必要的。微电子 (HAXPES)微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比XPS 深的特点。

PHI Genesis 500是新一代配置了全自动多功能扫描聚焦X 射线光电子能谱，易操作式多功能选配附件，能够实现全自动样品传送停放，同时还具备高性能大面积和微区XPS 分析，快速准确深度剖析，为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供多方面的解决方案。关键技术易操作式多功能选配附件全自动样品传送停放高性能大面积和微区XPS 分析快速准确深度剖析为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供多方面解决方案 简单易操作PHI GENESIS 提供了一种全新的用户体验，仪器高性能、全自动化、简单易操作。操作界面可在同一个屏幕内设置常规和高级的多功能测试参数，同时保留诸如进样照片导航和SXI 二次电子影像准确定位等功能。简单友好的用户界面PHI GENESIS 提供了一个简单、直观且易于操作的用户界面，对于操作人员非常友好，操作人员执行简单的设置操作即可完成包括所有选配附件在内的自动化分析。多功能选配附件原位的多功能自动化分析，涵盖了从LEIPS 测试导带到HAXPES 芯能级激发的全范围技术，相比于传统的XPS 而言，PHI GENESIS 体现了前所未有的性能价值。优良解决方案：高性能XPS、UPS、LEIPS、REELS、AES、GCIB 及多种其他选配附件可以满足所有表面分析需求。多数量样品大面积分析把制备好样品的样品托放进进样腔室后将自动传送进分析腔室内可同时使用三个样品托80mm×80mm 的大样品托可放置多数量样品可分析粉末、粗糙表面、绝缘体、形状复杂等各种各样的样品可聚焦≤ 5μm 的微区X 射线束斑在PHI GENESIS 中，聚焦扫描X 射线源可以激发二次电子影像（SXI），利用二次电子影像可以进行导航、准确零误差定位、多点多区域同时分析测试以及深度剖析。大幅提升的二次电子影像（SXI）二次电子影像（SXI）准确零误差定位，保证了所见即所得。优越的5μmX 射线束斑为微区XPS分析应用提供了新的机遇。快速深度剖析PHI GENESIS 可实现高性能的深度剖析。聚焦X 射线源、高灵敏度探测器、高性能氩离子设备和高效双束中和系统可实现全自动深度剖析，包括在同一个溅射刻蚀坑内进行多点同时分析。高性能的深度剖析能力( 下图左) 全固态电池薄膜的深度剖析。深度剖面清晰地显示了在2.0 μm 以下富Li 界面的存在。( 下图右) 在LiPON 膜沉积初期，可以看到氧从LiCoO2 层转移到LiPON 层中，使Co 在LoCoO2 层富Li 界面由氧化态还原为金属态。角分辨XPS 分析PHI GENESIS XPS 的高灵敏度微区分析和高度可重现的中和性能确保了对样品角分辨分析的优越性能。另外，样品倾斜和样品旋转相结合，可同时实现角度的高分辨率和能量的高分辨率。应用领域主要应用于电池、半导体、光伏、新能源、有机器件、纳米颗粒、催化剂、金属材料、聚合物、陶瓷等固体材料及器件领域。用于全固态电池、半导体、光伏、催化剂等领域的先进功能材料都是复杂的多组分材料，其研发依赖于化学结构到性能的不断优化。ULVAC-PHI,Inc. 提供的全新表面分析仪器“PHI GENESIS” 全自动多功能扫描聚焦X 射线光电子能谱仪，具有优越性能、高自动化和灵活的扩展能力，可以满足客户的所有分析需求。PHI GENESIS 多功能分析平台在各种研究领域的应用电池 (AES + Transfer Vessel)“LiPON/LiCoO2 横截面的 pA-AES Li 化学成像”Li 基材料例如LiPON，对电子束辐照敏感。PHI GENESIS 提供的高灵敏度能量分析器可以在低束流（300pA）下快速获取AES 化学成像。有机器件 (UPS / LEIPS + GCIB)使用UPS/LEIPS 和Ar-GCIB 测量能带结构（1）C60 薄膜表面（2）C60 薄膜表面清洁后（3）C60 薄膜/Au 界面（4）Au 表面通过UPS/LEIPS 分析和Ar-GCIB 深度剖析可以确定有机层的能级结构。半导体 (XPS + HAXPES)半导体器件通常由包含许多元素的复杂薄膜组成，它们的研发通常需要对界面处的化学态进行无损分析。为了从深层界面获取信息，例如栅极氧化膜下的GaN，使用HAXPES 是非常有必要的。微电子 (HAXPES)微小焊锡点分析HAXPES 分析数据显示金属态Sn 的含量高于XPS 分析数据，这是由于Sn 球表面被氧化，随着深度的加深，金属态Sn的含量越高，正好符合HAXPES 分析深度比XPS 深的特点。

伽马射线测井系统简介：RT-60“鼹鼠”是井眼伽马射线测量和天然放射性同位素分析的最佳解决方案。基于其大尺寸的伽马探测器，该仪器为快速井眼扫描进行了优化。RT-60的主要应用是在井眼中进行伽马光谱测井分析，大多数井眼的深度小于25m。其它应用包括勘探钻孔和其它类型的井。标准卷轴可容纳50米的线缆。在特殊要求下，通过使用更长的线缆和不同的绞车，长度可以扩展到200米。典型的用户是在采矿和勘探公司、大学和地质调查局工作的地质学家和地球物理学家。许多从事氡风险评估或对用于建筑用途的岩石进行分类的环境和岩土专家也对RT-60感兴趣。此外，RT-60可用于检查石油化工管道、水井或污水处理系统(如化学废料转储系统)中Ra-226等核素的放射性污。RT-60采用内置有连续分析器的1024通道的伽玛射线光谱仪。它所使用先进的方法可以在自然本底下自动稳定。这种独特的稳定方法消除了额外的放射性检查源的需要。随机配有一台安装好软件包的电脑，通过该软件与光谱仪进行在线通信，将数据记录到电脑上。RT-60有一个集成的BGO(氧化铋锗)伽玛射线探测器，尺寸为30×30毫米。除了这个探测器，该系统还包含一个带有独立电源的1024通道的伽马射线能谱仪。RT-60内置的防护和减震装置对探测器和电子器件进行了良好的保护。2.5毫米厚度的铝材制成的坚固外壳可以在需要时附加额外的起重电缆。特点：● 采用BGO探测器，灵敏度高● 1024 道线性能量变换器● 自然本底下自动稳定● 标配25 m线缆● USB 与电脑连接技术参数：探测器:探头：BGO, 30 x 30 mm线缆和卷轴：标配25 m线缆(卷筒容量 = 50m). 灵敏度：80 cps/MBq（距离Cs-137一米）ADC：1024 通道，高速，能量线性能量范围：30 - 3000 keV 界面：RS-485, 半双向功耗：5 V / 100 mA, USB供电连接：4芯线缆, 厚不锈钢铠装层尺寸：直径60mm，长度600mm,重量：1.9 kg最大温度：60 °C 最大压力：0.5 MPa转换器:输入：USB 2.0 兼容输出：RS-485，半双向，高达 115k bps功率：80 mA, USB供电尺寸：90 x 55 x 25 mm, 重量：90克标准配置:- 带有25米铠装线缆的探头 (其它长度可以应要求定做，最长200米)- 带有旋转连接器的手动转轴- 转换器- 1.5米的USB线- 0.3m接口电缆- 软件包可选配件:- 重负载的三脚架校准:所有RT-60出厂前都会按照IAE（国际原子能机构）指令用U、K、Th放射源做预校准

Thermo Scientific&trade Nexsa&trade X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统能提供全自动、高通量的多技术分析，并可保持研究级结果的高质量水平。ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身，用户因此能够进行真正意义上的相关性分析，从而为微电子、超薄膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。Nexsa 能谱仪具有灵活性，可zui大限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时，以多重整合技术选项的形式提供灵活性，从而实现真正意义上的相关性数据分析和高通量。标准化功能催生强大性能：绝缘体分析高性能光谱深度剖析多技术整合双模式离子源，使深度剖析功能得到扩展用于 ARXPS 测量的倾斜模块用于仪器控制、数据处理和报告的 Avantage 软件小光斑分析可选的升级：可将任何全自动化集成技术添加到您的分析中。触动按钮即可运行。ISS：在离子散射光谱技术中，一束离子可被某物体表面散射UPS：紫外光电子能谱是指对吸收了紫外光子的分子所发射的光电子动能谱进行测量，以确定化合价区域中的分子轨道能量拉曼：能谱技术在化学领域被用于提供结构指纹REELS：反射电子能量损失谱借助 SnapMap 的光学视图，聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域，同时生成完全聚焦的 XPS 图像，以进一步定义您的实验。X 射线照射样品上的一个小区域。收集来自这一小区域的光电子并将其聚焦于分析仪随着镜台的移动，不断采集能谱在整个数据采集过程中监测镜台位置，这些位置用来生成 SnapMap

表面和界面分析充满了挑战，需要一款仪器能够为后续的研发改进提供可靠的结果。Thermo Scientific Nexsa G2表面分析系统是一款高性能 X 射线光电子能谱仪，在保证数据质量和样品测试通量的同时，集成了其他分析技术。与所有 Thermo Scientific XPS 系统一样，Nexsa G2 系统也使用 Avantage 进行仪器控制、数据处理和报告生成。无论是在专业的研究实验室，还是在多用户环境中工作，Avantage 灵活易用、功能齐全、操作直观的特性，可帮助不同水平的用户实现样品分析。为什么选择 Nexsa G2 系统？高效的科研级能谱仪新型微聚焦单色化X射线源可实现以 5 μm 步长的 10 μm 至 400 μm 的 X 射线光斑大小连续可调，从而确保将分析束斑调节至与目标特征匹配，最大程度地增强信号。利用升级的X 射线源、高效的电子透镜和优化的检测器，可实现卓越的灵敏度和高效的数据采集。绝缘体分析Nexsa G2 系统上的一键式自动电荷补偿系统可轻松实现绝缘样品分析。专利的双束中和源避免绝缘样品发生荷电，因为使用极低能量的电子，大多数情况下将无需进行荷电校正。深度剖析Nexsa G2 系统配备有标准离子源或 MAGCIS（可选的单粒子和气体团簇复合型离子源) 进行深度剖析。自动离子源优化和气路控制可确保卓越的性能和实验重现性。多技术联用使用 Nexsa G2 系统，所有技术将触手可及，一套系统全面分析您的样品。标准配置具备高性能 XPS 所需的所有功能，ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术集于一身。升级选项可将系统转换为完整的分析工作站，有助于解决材料分析问题，提高生产效率。特殊样品台可选Nexsa G2增加了多种样品台可选，以满足科研的特殊应用需求。特殊可选样品台有：NX 加热台，用于原位的样品加热分析；多触点偏压样品台，可实现样品在真空系统中的施加电压，偏压或循环电极后的XPS原位分析；惰性气体转移腔，可实现空气敏感样品的真空/惰性气体保护转移；MCA样品台，用于XPS+SEM的关联分析，实现XPS技术和电子显微技术对样品的同一个分析区域采集数据，并进行比对分析。如您想了解更多关于Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。