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市面上的色彩测量仪器众多,主要介绍一下分光光度计,印版测量仪的校准。前者自带校准白板,本身就是专业的[url=http://www.xrite.cn/categories/calibration-profiling/][color=#000000]校色仪[/color][/url],可以由仪器的配置选项进入校准界面,此外需要注意的是测量参数是否已选择正确,校准白板的清洁,这会直接影响校准结果的好坏。对于印版测量仪而言,它只能借助于附带的配套白板进行,仪器自身是没有内置校准板的,直接测量白板指定位置,根据与目标值的偏差决定是否需要校准仪器。
分光光度计是用不连续的波长采样反射物体或透射物体的一种测量仪器。由于不同物体分子的结构不同,对不同波长光线的吸收能力也不同,因此,每种物体都具有特定的吸收光谱。能从含有各种波长的混合光中,将每一种单色光分离出来,并测量其强度的仪器叫做分光光度计。分光光度计所使用的波长范围不同,可分为紫外光区,可见光区、红外光区以及全波段分光区。因此,分光光度计可分为可见光分光光度计。紫外/可见光分光光度计、荧光分光光度计、红外分光光度计等。无论是哪一类分光光度计主要都是由光源、单色器、狭缝、吸收器检测器系统5部分组成的。分光光度计通常提供用白光采样的照明光源。以及包括扩散后折射的反射光,而且允许测量在不连续波长时反射的总光量。分光光度计的准确度是由很多因素决定的,但是最重要的因素之一是光谱波段(即在所测量的光谱中每点波长的范围)。使用分光光度计可以绘制吸收光谱曲线,具有尖峰分光光度法曲线的介质要求分光光度计能通过狭窄的波段,典型的波长间隔是5nm,比较便宜的仪器通常能通过1Onm或20nm的波段。
随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。