分布电压测试仪

一、功能说明1 分布电压测量HB-VD30绝缘子分布电压测试仪采用抗干扰技术实现了对运行中绝缘子分布电压的测量，且仪器本身具高电压耐受能力。仪器检测发射机通过通用角度可调卡扣接头与绝缘操作杆连接，适用耐张、悬垂等不同角度的测量需求。2 远距离传输功能本检测仪由检测发射机和手持接收机两部分组成，测量时由手持发射机采集绝缘子两端分布电压信号，经模数转换变为数字信号经处理之后通过以无线方式传输给手持接收机，手持接收机接收到数字信号经计算处理最终得到测量结果并在屏幕显示。无线传输方式使得检测过程更加方便快捷。3 测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别、和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4 历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并列出绝缘子串电压分布曲线。二、仪器结构该仪器由检测发射机、手持接收机和绝缘操作杆三部分组成（如上图）。使用时检测发射机与绝缘操作杆连接，手持操作杆尾端接触被测绝缘子，通过手持接收机控制进行测量。测量结果通过射频传输至接收机，接收机接收测量结果进行显示存储等操作。厂家直销固话：QQ:三、HB-VD30绝缘子分布电压测试仪的技术参数产品名称绝缘子分布电压检测测仪型 号HB-VD30适用范围35-1000kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电检测测量范围1-40KV测量误差±1%显示方式3.5寸触摸屏分析功能手持机具有浏览历史数据、曲线分析功能软件功能检测结果可上传专用云平台，云平台可对数据进行分类存储管理并以杆塔为单位生成测试报告电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间20小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm 执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计，主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

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皮肤水分分布测试仪 MoistureMap MM200 MM200能够测试电磁场在皮肤表面的穿透深度，导电材料将使测试结果部位的点阵信号变暗，而非导电材料将使测试结果部位的点阵信号变亮。湿度增加导电性，就意味着点阵更暗，干燥皮肤意味着较亮的图像。与皮肤水分含量绝对值测试不同，MoistureMap MM200可以测试出给定的皮肤表面的水分分布图，应用于化妆品、药品、表面活性剂的功效评价，也可用于皮肤光老化、皮损和疤痕的研究。欢迎致电：010-62186640

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数：我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；灯具尺寸：1.2×0.6米；灯具重量：30kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图： 丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、 导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。HPG1800软件介绍及实景照：图相似

医用超声雾化器雾粒直径分布测试仪 仪器介绍采用7寸威纶通液晶触控显示屏，中文菜单显示。公称规格、设定载荷、打印设定、测试、上行、下行、时间、标定。由键盘与触摸控制液晶显示屏上的菜单，机载打印测试结果。 执行标准： 满足YY0109-2013标准中相关条款设备制造。 设备参数测量方法:国产激光散射法0.3UM-25UM 通道：8个通道；流量：28.3L/min 百级室或者等效工作台（超净工作台）；操作界面：彩色触摸屏7寸，中英文切换控制系统：PLC；接头：15mm和22mm内置嵌入式打印机电源：220V 50HZ 配置：主机1台，扳手一把，电源线一根，说明书/合格证/保修卡/铭牌一套。

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等…氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件

绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪主要技术要求：01、输入电压： 220V02、输出电压： 交流 0--50 KV 03、电器容量： 5KVA04、高压分级： 0--5KV； 0-10KV； 0--20KV；0--50KV；05、升压速率： 10-5000 V/S（可以根据用户需求设定不同的升压速率）06、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验07、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.1S内切断电源08、采用先进的无触点原件匀速调压方式。09、支持短时间内短路试验要求。10、电极规格：￠25mm 两个 片材电极 ￠75mm一个(可按客户需求生产)绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪升压方式:AC/DC 匀速升压,慢速升压,快速升压,耐压试验,梯度升压试验判停方式:电压或电流试验介质:绝缘油或空气电压精度:1.5%≤ (10-100)%电流设置:1-30mA可调试验放电:试验结束自动放电或手动按钮放电或放电棒放电绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪测试材料:绝缘材料类 符合标准:GB/T1408.1-2016 IEC60243-1:2013 GB/T1408.2-2016 IEC60243-2:2013 ASTM D149 GB/T1695-2005 可选配:高温空气中测试 高温油中测试 绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪根据击穿的发展过程,固体电介质的击穿可分为3种形式:电击穿、热击穿和电化学击穿,同一种电介质中发生何种形式的击穿,取决于不同的外界因素。随着击穿过程中固体电介质内部的变化,击穿过程可以从一种形式转变为另一种形式。取决于固体电介质中碰撞电离的一种击穿形式。电场使电介质中积聚起足够数量和足够能量的带电质点,导致电介质丧失绝缘性能。对于电击穿有以下几种不同的理论解释:本征击穿、电子崩击穿和电致机械应力击穿,通常以本征击穿代表电击穿,所以电击穿有时又称本征击穿。本征击穿过程所需时间为10-8s数量级,击穿场强大于1MV/cm。在电场作用下,固体电介质承受的电场强度虽不足以发生电击穿,但因电介质内部热量积累、温度过高而导致失去绝缘能力,从而由绝缘状态突变为良导电状态。绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪采取合理的绝缘结构。使各部分绝缘的耐电强度与其承受的场强相匹配 改善电极形状及表面光洁度,是电场分布均匀 改善电极与绝缘体的接触状态,消除接触触电的气隙或使接触处的气隙不承受电位差,如用半导体漆。带绝缘(总包绝缘)的三相交流电缆方式,电场属非同轴圆柱分布,平行于纸层方向将出现较强的切线分量,从而容易出现滑闪放电。故10KV以上的三芯电缆不用带绝缘结构而改用分相铅包(或屏蔽)的,若线芯及金属护层表面均光滑,其间绝缘层中的电场分布近于同轴圆柱体电场,电场分布较为均匀。交流110KV及以上的高压套管常用电容式套管,它是在导电杆上包以多层绝缘纸构成,在层间按设计要求位置加有铝箔,以起到均压作用。油浸式变压器中常用的绝缘纸有两种:①电缆纸(通常用0.08~0.12mm厚),主要用于导线绝缘、层间绝缘及引线绝缘等 ②更薄的电话纸和更柔软的皱纹纸有利于包紧出线头、引线等。绝缘纸板常用作绕组间的垫块、隔板等,或制成绝缘筒及对铁轭的角环等。在电场很不均匀的区域,如对铁轭或高压引线绝缘,也采用由纸浆制成合适形状的绝缘成型件,以改善电场分布,防止发生沿面滑闪放电。通常变压器绕组与铁轭间的电场不如绕组中部均匀,故高压进线布置在绕组中部,若需将高压引线(或自耦变压器的中压引线)安置在绕组端部时,需要加进静电板以改善绕组近端部处的电场分布。静电板是在绝缘环上用金属带包缠成一个具有较大曲率半径的不闭合金属环,再包以很厚的绝缘层。

光强分布（光型）测试仪LSA3000-蓝菲光学 LSA 3000是一种自动的分布式光度计，主要与蓝菲光学（Labsphere）软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

HP860LED光强分布测试系统 A、应用功能：专用于测量LED的配光曲线（LED光强分布）、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数，符合CIE pub.No.127条件A或B。本系统实现了LED的光、电性能的高精度测试，为LED生产厂商提供充分的LED光、电参数，使LED的研制和生产更加有效、可靠。B、性能参数：●光强测量范围:0mcd~300，000mcd；　●光强测量精度:一级；●峰值光强：1max ●角度测量范围:-90°~ +90°；　　●角度调节范围:0.2° ●间隔角度：1° ●等效光通量测量范围：1lm～200lm ●自动绘制光强曲线（极坐标或直角坐标）和自动测定光束角；●正向电流(IF)：0.1mA～800.0mA ●正向电压(VF)：0.01V～20.00V ●反向电流(IR)：0.1μA~200.0μA●反向电压(VR)：0.01～20.00V●配合积分球可以测试各种光源的光通量。图相似

A应该功能： 用于测量LED小型灯具（卤素灯、杯灯、射灯、球泡灯等）及单颗大功率LED的配光曲线、照度、光强数据、光束角、光通量等参数。仪器设计了光学暗箱及光栏，无需暗室。测试过程由计算机控制完成，操作简单、使用方便、性价比高。根据被测灯的类型，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。 B主要参数标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters； CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries； CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates； C性能参数：● 光照度测量范围：0.1lx～99999lx ● 光照度测量精度：一级；● 灯具工作转台可绕水平轴（垂直转动）和垂直轴（水平转动）转动；● 转动范围：-180°~+180° ● 间隔角度： ≥0.5°；●角度测量精度：+0.1°； ● 光电探测器V（λ）修正水平高，达到国家一级照度计要求；●可测试灯具外型尺寸：150（长）×150（宽）×110mm（厚度） ●仪器型号尺寸：145×75×85（mm）●IESNA文件格式输出，可由其它照明和灯具设计软件直接导出图相似

A、系统功能用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测量参数包括：空间光强分布、空间等光强曲线、任意截面积上的光强分布曲线（可分别用直角坐标或极坐标系显示）、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、灯具效率、眩光等级、上射光通比、下射光通比、灯具的总光通量、有效光通量、利用系数，以及电参数（功率、功率因数、电压、电流）等。测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式CIE文件格式Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。B、主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；C、主要技术指标l 转台参数：1、 主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；2、 采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；3、 垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；4、 水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；5、 角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；6、 特殊的激光瞄准装置，方便、准确地安装测试灯具的位置，完全使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；7、 灯具*尺寸：1.3米；（可根据实际情况定制）8、 灯具*重量：50kg(含夹具)；9、 灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；10、转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；l 光度参数：1、光度探头精度：一级2、照度测量范围：0.001Lx至1×105 Lx3、角度精度：0.1度4、灯具可绕垂直轴-180°～180°或0°～360°旋转5、灯具可绕水平轴-180°～180°或0°～360°旋转6、灯具的电参数测量精度：0.5级l 丰富的软件功能1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*GN虹谱光色GN系列分布光度计测试数据文件格式；*IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。D、测量原理采用固定探测器、旋转灯具法测量原理。测量灯具安装在两维旋转工作台上，通过激光瞄准器，使灯具的发光中心与旋转工作台的旋转中心重合。当灯具绕垂直轴转动时，与旋转工作台中心处于同一水平高度的探测器测量该水平面上各方向的光强值。当灯具绕水平轴转动时，则探测器测量垂直面上各方向的光强值。垂直轴和水平轴均可在±180°或0°～360°范围内连续旋转。根据测量灯具的要求，该系统可以在C-γ等平面坐标系中测量。当测量得到灯具在各方向上的光强分布数据后，计算机即可计算出其它光度参数。该系统采用以下结构形式应用：1、单立柱结构（C-γ平面坐标系和圆锥面坐标系）主要用于测量路灯、投光灯、面板灯筒灯、工矿灯室内灯具、室外灯具等灯具。安装灯具时，使灯具的发光中心与旋转工作台旋转中心一致。灯具的光轴与旋转工作台的水平轴重合。F、实验室要求1、暗室尺寸：*小要求3米（宽）×2.5米（高）×6-30米（长）2、灯具旋转台和光度探头之间应放置多个光栏隔板，用于阻挡杂散光（根据暗室的尺寸可提供暗室及隔板示意图）；3、整个暗室的墙壁、天花板和地板、中间的光栏隔板都喷涂亚光漆，反射率越低越好；4、计算机系统：电脑1台，打印机 1台机配置要求：Window及WIN7操作系统,留有两个RS232串行口。图相似

功能：可按照CIE127 A/B条件，IEC 61341标准相关要求测量LED器件、模块等的发光强度、空间光强分布曲线、中心光强、光束角、部分光通量等光度参数。性能指标：◆ 测试距离：316mm,100mm, 1000mm自由调整◆ 测试方式：Type C◆ 角度精度：0.05度◆ 严格Ｖ（λ）匹配的高性能Si探测器◆ 测量数据可以IES等国际标准文件格式导出，可应用于二次光学设计◆ RS-232C标准接口

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

Labsphere LSA 3000是一种自动角光谱辐射计，主要与Labsphere LightX软件和LED测试及测量产品一起配合使用。LightX应用软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量，并在角分辨率高达0.1o或者更高的情况下将LED发散出去。空间软件允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量远场半球空间分布。灵活 从众多Labsphere LS系列LED插座中选择一款产品，或者根据您特定的LED规格，与Labsphere工作团队一起设计一款适合的插座产品。LSA 3000有一个待测装置的集结区，用于&phi 和&theta 平台定位。&phi 平台允许采用Labsphere LS系列未冷却式LED插座和LSTE冷却式LED插座。传感器工作区的大小和位置要根据高分辨率角度盘而定。LSA 3000中含有Labsphere光传感器，包括A型、I2000、B型和I 1000，以及平均光谱强度探头。图形用户界面的主要用途是控制LSA3000，并捕捉待测装置的空间分布情况。软件的设计也考虑到了LSA 3000应用的扩展问题，例如除了自身集成的接收器外，外部附加的传感器可以进一步扩展其用途。所有平台和探测器都装在一个易于存取而又不透光的盒子里。特征： 准确而又可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 便于放置被侧物 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可的标准主要应用对象： LED远场空间特性描述(标准，高亮度)

适用测量有机半导体器件的电子迁移率和空穴迁移率分布式系统：测试箱主尺寸2400mm*800mm*1600mm，重量＜200KG，系统配置包括：示波器、电压源、信号触发单元、测试暗箱，样品仓，部件置于机柜内，固定样品台。主要参数：1．电压源电压范围：1-200V；2．电压分辨率：0.1V；3．激光器：纳秒Nd YAG激光器2个；4．激光束尺寸：＜2mm*2mm；5．测量时间范围：4 ns-10 s；6．最大输出电流：5mA 7．测试功能：载流子渡越时间、迁移率、载流子寿命；8．迁移率测量范围：＞10^-6cm^2/(V.s)@1um样品厚度。

有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KVIEC 60243标准设计实验平台，交流电压源输出电压 0～100kV，电压畸变率小于 1%，升压速率 2kV/s，升压曲线如。被测试品的模具容积为 200mL，电极为铜制球球电极，电极直径 13mm，电极间距 1mm。基于实验室内制备的有机硅凝胶样品，测试了不同温度下有机硅凝胶的工频耐电特性。有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV安全保护功能：1、试验在试验箱中进行，试验箱门打开时电源加不到高压变压器输入端，即高压侧无电压。100KV测试设备高压电极距离试验箱壁的zui近距离大于270mm，50KV测试设备高压电极距离试验箱壁的zui近距离大于250mm，试验时即使人接触箱壁也不会有危险。2、设备要安装单独的保护地线。接保护地线，主要是减少试样击穿时对周围产生的较强的电磁干扰。也可避免控制计算机失控。3、该试验设备的电路设有多项保护措施，主要有：过流保护、过压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警，电磁放电等。4、直流试验放电报警功能:在设备做完直流试验时,当开启试验门时设备会自动报警,直至使用设备上的放电装置放电后报警会自动取消.(注：因为直流试验后不放电会危险到人安全,不能直接拿取电极,起到提醒使用人员放电以免造成伤害)。5、试验放电装置，电磁铁自动放电放置。有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV试验软件：1、在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线，每次试验的升压曲线都由不同颜色构成，试验结束后可叠加对比材料的试验数据重复性。2、可以随时调取当前及历史试验数据进行查看，编辑及修改参数。3、试验过程中可以随时修改试验条件及存储路径及自动存储试验结果。4、试验过程中，可随时通过软件决定本次试验是否有效，方便筛选试验结果。5、可设置操作口令，做到专机专人操作，避免无关人员误操作。有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV九级安全防护措施： (1) 超压保护(2)试验过流保护 (3)试验短路保护(4)安全门开启保护(5)软件误操作保护(6)零电压复位保护(7)试验结束放电保护(8)独立保护接地(9)试验完成后电磁放电有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV绝缘材料的击穿起始于材料内部绝缘弱点，而聚合物中的缺陷是随机分布的，因此聚合物的击穿事件符合一定的统计规律，一般采用多个样本，可通过概率分布统计法评估聚合物的击穿电压温度对有机硅凝胶的绝缘性能有重要影响，随着温度升高，23～80℃之间，有机硅凝胶的击穿场强有所降低，但降低程度较小；当温度达到120℃左右时，有机硅凝胶的击穿场强明显下降；当温度达到 200℃时，有机硅凝胶的击穿场强只有约常温下的一半。

多路无线分布式照度计 光度计光通量照度仪均匀性测试仪 LX-P16定制 优睐一、简介实时测量、动态记录光照平面的照度值随时间的动态分布曲线、数据表、照度均匀性。用于学校、医院、办公室、体育场馆等公共建筑的自然采光及照明水平的动态测量，为建筑照明验收及建筑节能评估提供可靠的数据。亦可用于灯具平面照度的数据测量，并通过仪表进行数据处理。二、特点测试速率：16通道光度计同时全部采集数据完成的时间不大于0.5s测试范围：0.1lx-200000lx无线范围：200m采集精度：国家一级标准光度探头显示模式：计算机软件界面显示，全部显示时间≤5s测试通道：16路测试方式：16台照度计独立测试，也可以同时测试传输方式：无线RS-232传输显示方式：计算机软件显示内容：16通道的光照度值，均匀性、时间-照度变化曲线及数据表输出方式：Excel文件格式供电方式：12V充电电池、12V电源适配器

【肉眼无法识别的磁气可视化的测定器】 用高精度磁气传感器正确测定磁石表面的磁束密度分布。 应对从圆柱型到瓦状型各式各样的磁石的计测。 MTX 主要通过一个磁头搭载三轴磁力传感器对磁体表面及临界空间的磁场进行高精度的三维测定，并可以通过测得的数据进行三维磁场矢量合成的3D矢量磁性分析仪。测量数据经过电脑的收录、计算、通过2D图表、3D图表和矢量图等多种表示功能，使原来看不见的磁场可视化。此外，增添了在原来的磁性分析仪中积累的技术经验，标准配备了充磁解析、马达解析、品质管理等必要的多种多样的波形解析功能。收录的数据全部采用CSV形式保存，可以容易的向市场上销售的图表计算软件和磁场模拟软件进行数据输出。 用磁力的本质------三维矢量磁场来捕捉磁场，并能收录、表示、解析和输出的MTX是对磁场应用产品的研究和技术开发起重大作用的指南针。

一 、剩余电压测试仪仪器概述：剩余电压测试仪（残余电压测试仪）是根据国家标准GB9706.1-2020《医用电气设备 第1部分:基本安全和基本性能的通用要求》、GB4706.1-2005《家用和类似用途电器的安全部分：安全要求》规定：“用插头与供电网连接的设备，必须设计成在拔断插头之后1s时，各电源插脚之间以及每一电源插脚与设备外壳之间的电压。”设计。本仪器有足够高的测试阻抗采用模拟拔断插头的方法使设备与电网电压在峰值状态断开，用于ME电气设备、有源医疗器械产品、家用电器等电气设备剩余/残余电压测试。二、剩余电压测试仪主要技术参数：1﹑输出电压: AC 0～242V；2、测试电压: 10～150V；3、测试时间: 1秒；4、测试阻抗：1000 MΩ；5、测试报警范围: 60/34V；6、输出功率：2000W；7﹑测试判别:声光报警,同时切断电压；8、仪器电源：AC220V 50Hz。三、性能特点：（1）设备电源电压为峰值时断电测试，保证了测试数据的准确性和一致性；（2）测试阻抗≥1000MΩ,满足L-E极间和可触及电容器剩余电压和能量测试的阻抗要求；（3）多形式的测试功能。A．各电源插脚之间剩余电压；B.每一电源插脚与设备外壳之间的剩余电压；C.设备外部可触及电容器剩余电压和能量测试；（4）手动/自动转换测试。即可以手动进行极间的分相测试，每2极间测试10次；也可以进行自动测试，完成三极间相互组合的测试，每种组合分别测试10次；（5）自动保持测试电压值，测试剩余电压超过60/34V自动报警。

为了预测纤维增强产品的特性和力学性能，测定纤维的长度和分布是必要的。将纤维从混合材料中没有任何损坏的分离出来是首先最关键的步骤。FASEP方法已开发用于灰化材料，并且不损坏玻璃纤维。用水完全稀释纤维并倒入培养皿中。然后，使用完整培养皿采集图像的新方法。暗视场和透射光组合扫描解析一个大的图像，每个图像多达10000纤维。最终，得到理想的源图像用于数字图像分析。该方式使用全新、唯一的FASEP集群分离处理，确认纤维簇，并从中提取出单纤维，最终测量每一个分离纤维的长度。精巧的系统可测量所有长度的纤维（20-20000&mu m）在增强热塑性塑料中的FASEP纤维长度分布。

品牌：久滨型号：JB-B名称：床垫压力分布测试系统一、产品概述：　　坐卧是人类zuì基本的活运之一。人生三分之一的时间是在床上度过的，其余时间有一大部分处于坐姿。坐卧时，人体局部长期受压过大会引起褥疮、坐疮等疾病。对于半身不遂、卧床不起的人来说，如果不采用取有效减压措施，这种疾病将是致命的。因此，检测人体坐卧时的受力状态是非常有必要的。体压分布测量系统也称压力映射系统，正是这种测量的技术手段和设备。它的研制不仅在临床医疗、康复等方面给病人以福音，更对这些领域的研究具有重要的科学意义；另外在许多新产品开发、产品改良、产品测试等方面也有重要的应用价值，如床垫、轮椅、驾驶椅、运动器材等。　　人体压分布测量系统是测试病人坐卧时，人体与接触面之间压力的可视化工具。主要用途是设计于量测人体作用在座位、床垫、座垫和背垫上的压力分布情形。这套系统包括了USB数据撷取器、操作软件和薄膜压力感测片(感测垫)。适用于床垫、座椅、坐垫、自行车、机车、汽车业，以及大学研究机构等行业，还有更多…　　本系统采用*的薄膜传感器进行测量，通过智能软件系统分析，能直观的通过软件生成压力分布图，详尽地以立体人形图像及不同颜色显示身体各部分压力情况，即时对所测资料进行数据分析，方便找到床垫对人体舒适性的*状态。二、床垫的主观评价指标分为：　　稳定性、柔软性、弹性、下陷感、压迫感、局部和总体舒适感，主要考察肩部、背部、腰部、臀部等身体部位的舒适感。三、压力床传感器规格书：1、传感器尺寸：460 mm *620 mm2、感应区尺寸：400 mm *400 mm3、感应区点数：2288个4、厚度：0.2 mm5、压力量程：100KG6、测量精度：校正前±10% FS，校正后±5% FS7、工作环境：温度-9℃～60℃8、数据采集器采用USB接口和数据处理器（电脑）连接9、数据采集器通过电脑USB接口供电10、采样频率0～100Hz

本仪器的使用方法与操作步骤可参照GB8074-87水泥比表面积测定方法—勃氏法的有关规定进行，现摘录如下： 1 仪器的校正： 1.1 标准样品 — 使用GSB14-1511标准样品对试验仪器进行校正。标准样品在使用前应保持与室温相同。 1.2 试料层体积的测定：测定试料层的体积用下述水音排代法：（试验温度下水音的密度及空气粘度见表一） （1）. 接通电源. （2）. 设置水泥标准粉参数 K 并测量具体值: 按[K 值]键指示灯亮, 根据屏显按[SET] 设置参数,直到屏幕显示"参数供应商已设置请测量" .这时按[复位/测量]键,查 看 K 值测量结果. （3）. 按下[复位/测量]测量水泥比表面积 S 值:按[S 值]键指示灯亮,根据屏显按 [SET]设置参数,直到屏幕显示"测量 S—值状态"全部参数已设置完毕,按 [复位/测量]键即可观察等待水泥比表面积 S 值试验结果. （4）. 试验结束,关闭电源,清理仪器.使用注意事项 1.使用时，要认真阅读技术说明书，熟悉技术指标、工作性能、使用方法、注意事项，供应商严格遵照仪器使用说明书的规定步骤进行操作。 2.初次使用人员，必须在熟练人员指导下进行操作，熟练掌握后方可进行独立操作。 3.实验时使用的，要布局合理，摆放整齐，便于操作，观察及记录等。 全自动比表面积测定仪计算方法： 计算式为： W=ρv（1-ε）式中：W—需要的试样量； ρ—试样密度（g/cm3）； V—按4.1.2节测定的试料层体积（cm3）； ε—试料层空隙率（注1）。全自动比表面积仪概述： 根据国家标准GB8074-87《水泥比表面积测定方法》设计了新一代全自动比表面积测定仪供应商河北大宏实验仪器有限，测量过程简单、方便、可靠等，提高水泥实验室自动监测水平，节省时间。减少人为误差，是化验室理想产品.技术指标： 1.透气圆筒直径：12.7±0.1mm 2. 穿孔板孔数：35个 孔径：1.0mm 板厚：1±0.1mm 3.工作电压：220V 50HZ 4.测量精度：1% 5. 自动化程度：自动监测水位， 自动计时 自动测温 自动计算 自动出结果全自动比表面积仪透气试验： 拿掉胶塞，代之以装有制备好被测试样的透气圆筒，要保证紧密连接，为避免漏气，可先在圆筒下锥面涂一薄层活塞油脂，然后把它插入气压计体顶端锥形磨口处供应商河北大宏实验仪器有限，旋转两周，并且不能再振动所制备的试料层。 1.按下键盘上的“透气试验”键，仪器自动打开抽气泵及电磁阀，液面持续稳定上升，当液面升至气压计体zui上面*刻线时，*个光电开关动作，显示器上zui高位光标亮，三秒后泵与阀关闭，液面停止上升，当液面下降至zui上面一条刻线时，显示器上显示试验次数“NO.1”，当液面继续下降至第二条刻线（计时开始刻线）时，供应商第二个光电开关动作，仪器开始计时，显示器上有滚动时间显示。 2.当液面继续下降至第三条刻线（计时终端刻线）时，第三个光电开关动作，计时停止，显示器上显示测得的时间，按下“确认”键，所测的数据被储存下来，显示器上显示环境温度，至此一次试验结束。重复以上过程，若两次所测的时间数据差不超过一秒，则试验结束，按下“确认”键，屏幕上显示环境温度。 3.如果两次时间数据差大于一秒，则按上述方法重做第三次试验，进行多次试验后，可以通过“检查”键查出与试验序号相对应的液面降落时间值，将超出规定范围的时间值按“清除”键清除掉。工作原理: 基本原理供应商河北大宏实验仪器有限是采用一定量的空气，透过具有一定空隙率和一定厚度的压实粉层时所受的阻力不同而进行测定的。它主要用于测定水泥的比表面积，也可用作测定陶瓷、磨料、金属、煤炭、食品、等粉状物料的比表面积。全自动比表面积仪主要技术参数： 1．电源电压：220V±10% 2．计时范围：0.1秒-999.9秒 3．计时精度：0.2秒 4．测量精度：≤1‰ 5．温度范围：8-34℃ 6．比表面积值S：0.1-9999.9cm2/g 7.透气圆筒内腔直径：φ12.7 0.05 mm 8. 透气圆筒内腔试料层高度：（15±0.5）mm 9 .穿孔板孔数：35个 穿孔板孔径：φ1.0 mm 穿孔板板厚：1-0.10 mm 10 .电磁泵工作电压：220V；周波：50HZ 11 .电磁泵功耗：＜15VA 12.电磁阀工作电压：12V 13.仪器重量：约6kg 14.外型尺寸：（320×100×460）mm （宽×厚×高）

第1章 耐电压及击穿电压测试仪安装使用本章讲述当您收到仪器后必须进行的一些检查，在安装使用仪器之前必须了解和具备的条件。本仪器符合 GB4793.1-2007/IEC61010-1:2001标准。1.1使用注意事项在使用仪器时一定要遵守下面的规则：■不要在可燃的空气中使用该仪器为了防止燃烧或者爆炸，不要在酒精、稀释剂和其它可燃性材料附近，也不要在这些气体浓度高的空 气中使用该仪器。■避免仪器暴露在高温和直接日照的地方不要把仪器放在发热或者温度激烈变化的地方。仪器使用温度范围： 5℃到+35℃仪器储藏温度范围； -20℃到+60℃■避免潮湿的环境不要把仪器放在锅炉、湿润器或者有水的高湿度的环境下。仪器使用湿度范围： 20% 到 80%RH (不允许有露水凝结)仪器储藏湿度范围；小于 90%RH (不允许有露水凝结)凝结可能引起电路无法正常工作。必须等环境完全干燥了才能使用仪器。■不要把仪器放在有腐蚀气体的环境中不要在有腐蚀气体象硫酸、雾或者类似的东西的环境中使用仪器。这可能会腐蚀导线、连接器，形成 隐患或者连接缺陷，会导致故障、失效甚至是火灾。■不要在多灰尘的环境下使用该仪器泥土和灰尘会引起电子器件短路或者火灾。■不要在通风很差的地方使用该仪器该仪器有强制的风冷散热系统。要提供足够的空间给侧面和后面的风口，保证空气流通。 ■不要在倾斜的表面或者摇动的地方使用该仪器如果把仪器放在一个不水平的表面或者摇动的地方，仪器就有可能滑落，损坏仪器。■不要在有强烈磁场或者电场效应的地方使用该仪器在有强烈磁场或者电场的地方使用该仪器，电磁脉冲会引起仪器故障产生火灾。■不要在敏感的测试设备和接受设备附近使用该仪器如果在本仪器的附近使用这些设备，被测件失效击穿产生的噪声也许会影响这些设备。超过 3kV 的测 试电压，测试线间的电场会电离空气产生电晕，在测试线之间产生大量的 RF (射频)带宽的干扰。为 了减少这种影响，确保测试线之间的距离足够远。另外，保持测试线远离导电表面(特别是尖鋭的金属末端)。1.2移动时的注意要点当要移动该仪器或者运输时，注意以下的防范措施：■在移动前，关掉电源开关在电源开关开着的状态下进行移动会导致电击和损坏。■在移动前，要断开所有的连接线没有断开线缆移动仪器也许会导致连接线的损坏，或者搬动过程中摔落仪器。1.3连接交流电源线电源线是本公司随仪器一起提供的。 不要使用非本仪器上标配的交流电源线。连接顺序1．确定供电电源是在仪器的线电源范围内。2．确定仪器保险丝标称值，保险丝盒安装位置正确(电源档)。3．确定仪器的电源开关关断。4．连接交流电源线到后面板的 AC LINE (交流电源线)端。5．请使用附带的交流电源线，或者有足够资格的专业人员选择的交流电源线。6．插入交流电源插座。1.4接地△警告：确保该仪器连接到电气地(安全地，大地)。如果输出到接到外围设备或者是附近的商业电线输出中转的大地，没有和大地直接连接，那仪器的 外壳可能带有非常高的电压，变的非常危险。该仪器是 I 类设备(设备除了基本的绝缘外有保护地被保护不触电)。但是，如果没有正确的接地 仍然有触电的可能。为了确保安全，请务必保证仪器接地。选择下面两种可用的方法中的一个去接地：1．电源线连接到一个单相三线电源插座上。(请确保插座接地线是可靠连接大地的)2．把后面板的保护接线端通过接地排(生产线配有的可靠连接大地的铜线或铜排)接到大地。让专门的工程师选择、制作、并安装该接地连接线。以确保接地连接正确可靠。安全地1.5操作检查△警告：当正常使用仪器时，尽可能的使功能互锁 (INTERLOCK) 确保使用的安全。 工作空间比较局促的场合：为被测件制作一个类似盒子的结构；在对结构复杂的大型被测件进行测试场合：在测试区域的周围使用围栏等等防止触电的保护结构。 在触电保护结构被打开时，断开 (INTERLOCK) 信号回路，保证工作场所的安全。当电源开关打开，仪器点亮前面板的所有灯，并且开始自检，确定所有的指示灯都亮，以确保安全。 在 DANGER (测试时高压危险)灯损坏的情况下进行测试是特别危险的。△小心：在切断电源开关后，再次开机要等几秒钟。在没有充分的时间间隔时而重复的开 /关电源对仪器有 损害。检查顺序1．确定供电电压允许范围和保险丝盒设定的输入电压范围一致。2．确定交流电源线连接到后面板的 AC LINE (交流电源线)端。3．将电源插头插入交流电源插座。4．打开电源开关，确定前面板的指示灯全亮，面板显示开机画面。5．接着的屏幕显示设定(SETUP )界面的交流耐电压测试(AC )参数界面。6．关断电源开关。注意开机画面(示例)：BEIJING AIR TIMOS INSTRUMENT CO.,LTDZJC-5HVERSION ：V1.0_20230512 Copyright(c)2019开机画面机型、版本、日期显示最终以实际机型显示为准1.6 仪器的其它特性(1) 功耗：功耗 200VA。(2) 外形尺寸( W*H*D )： 350mm*122mm*450mm(3) 重量： 14.7kg输入电压频率范围保险丝(慢熔)仪器系列额定功率110V47-63Hz5AZJC-5H400VA220V3AZJC-5H400VA第2章 耐电压及击穿电压测试仪操作规范和措施本章描述了在使用本仪器过程中要遵守的规范和措施。当使用本仪器时，要特别注意保证安全。△警告：本仪器产生能引起人身伤害甚至死亡的 5kV 的测试高压。当操作仪器时，必须非常小心并且遵守 本章给出的注意、警告、和其它的说明 。2.1 禁止的操作行为■ 不要连续开关电源切断电源开关后，再次打开电源开关前确保要间隔一分钟或者更长的时间。 保证电路正常掉电再启动。 如果重复频繁的开/关仪器电源，仪器的控制电路可能因为掉电 不完全而引起失常 。此时保护设施也许 就不能完全的执行保护功能。除非特殊或者紧急的情况。 当仪器正在产生测试电压时 ，不要关断电源开关。■ 不要把输出端和地短路如果仪器的高压测试线连接到 AC LINE (交流电源线) ；或者附近的其它设备(比如传送设备) 连接 大地的导体 。在仪器接地端不可靠时， 高压端接地后高压低端(也就是 仪器的外壳) 会被充有危险的 高压。确定仪器的保护地端和地线连接。这样做即使 HIGH VOLTAGE (高压电源)端和地端短路，仪器外壳不会被充上高压电不会有危险。把保护地端接地时要确保正确可靠。参看 “1.4 接地”。△ 注意：术语 “AC LINE”在这里指仪器使用的电源线。是商业交流电或者发电产生的电源与仪器的电源连接的导线。■ 测试端不要连接外部电压不要将任何外部电压连到仪器的输出端。在非放电状态仪器不具备对外放电功能，输出端与外部电压 相连可能会损坏仪器。2.2 紧急情况的处理在遇到紧急情况(比如触电和被测件燃烧) 仪器又没有断开高压输出时 ，进行以下操作。你可以先做 到(a)或(b)，但是两个操作必须都要做到。(a) 关断仪器的电源开关；(b) 从电源线插头上拔掉仪器的电源线。2.3 测试中的预防措施■ 戴绝缘手套当使用仪器时戴上绝缘手套可以保护自身不触及高压电 ，即使带有高压手套也 禁止在高压测试时用手 接触带电导体。■中止(暂停)测试预防措施需要碰触测试导体或更改测试连接时，请先按一次 STOP 开关，确保仪器退出测试准备状态。如果你需要休息一段时间，或者将离开测试的地方，请关掉电源开关，以防止误触启动开关引起的安 全危险。■高压测试时的带电物品在测试时，高压输出端、高压测试线、高压探头、被测件和暴露它们周围导体的都带有危险的高压电。 在测试时即使有可靠绝缘措施也不要随意靠近或触摸这些导体。△警告：仪器提供的测试线鳄鱼夹上的护套，对测试高压没有充分的绝缘。在测试时不要触摸这些部分。■关断高压输出后的注意事项如果你因为重新连接或者其它原因不得不触摸被测件、测试线、探头或者输出端及周围地区时，确保 下面两条：(a) 确认仪器显示的工作状态不是测试状态。(b) HV 灯熄灭。■远程控制警告因为高压的启动停止是远程控制的，操作员不能通过界面知道仪器的实际工作状态，在进行远程控制 模式操作使用仪器时要特别小心。请特别注意检查远控可靠连接 .(c) “STOP ”按钮，必须可靠连接。更换被测件前先按一下“STOP ”按钮。(d) 在人多的工作环境工作时，远控开关必须有“ INTLOCK ”互锁开关和高压指示灯。更换被 测件前断开“ INTLOCK ”互锁开关。2.4高压测试警告△警告：在高压测试中，测试线、测试探头、和被测件都充有高压。仪器拥有放电电路，有时侯在输出被 切断后仍需要放电。放电过程仍有触电的危险。为了避免触电，要确保被测件、测试线、探头、和 带高压的输出端没有接触测试元件以外的东西。如果可能会接触这些，确定 DANGER 灯熄灭，移 除隐患。一旦测试结束，仪器的放电电路开始强制放电。在测试中和放电结束前不要去拆卸被测件。一般情况下可以保证放电结束时，测试回路电压会处于安全电压范围内。当被测件电容过大或被测 件结构特殊会引起放电不完备时，必须由技术人员更改测试方法确保放电完全。■放电时间：放电时间计算公式： t= - ln(30 /U ) × R × Ct：放电时间30 ：放电剩余安全电压 30VU ：测试设定电压R ：被测件的放电阻抗，仪器放电阻抗约 10kC ：被测件的电容量一般只有直流类高压测试需要放电，放电时间的长短取决于被测件的性质。在测试过程中，如果正常结束，电压将按照电压下降时间降到零。如果测试不合格，被测元件放电是 通过变压器副边(约 10k 电阻)实现的，带 6000V 高压的 1uF 电容放电到 30V 时间大约 0.05S。仪器固定放电时间为 0.2S可以保证器件放电完毕。2.5有故障仪器的危险状态处理仪器典型的可能危险状态其中最危险的是 “高压在输出且仪器失控”的情况发生。当这种情况出现时， 1 、立即关掉电源开关、拔掉交流电源插座上的交流电源线。2 、请立即远离这台仪器，请相关技术人员对测试电路检测确认无危险；或者仪器静置一小时以上， 确认测试端无输出电压。3 、拆除相关连接线，将仪器发回给我们维修。△警告：关闭电源后立即远离这台仪器，同时防止其他人员接近，千万不要立即拆卸测试电路。立即联系我们的销售商或者代理商。仪器内部可能留存有高电压，非专业人员试图检修仪器的问题 是非常危险的。2.6 保证长时间无故障使用的条件由于仪器的体积、重量、和实际使用情况，仪器的电压产生模块散热设计偏小。因此，仪器建议在下 列范围内使用。耐电压测试的必备条件注：输出时间 == (电压上升时间 + 测试时间 + 电压下降时间)风扇连续工作有三十分钟，必须暂停仪器的使用，否则功放输出模块可能会因为过热而烧毁。 2.7 日常检查为了避免事故，在使用开始前至少要保证下面几点：1.仪器输入电源符合规范，仪器电源配置正确。2.仪器与大地连接可靠。3. 测试线材料完好，没有断裂、裂缝和破损。4.仪器不连接测试线，在默认条件下启动测试，能顺利完成测试。5.连接测试线启动测试时，测试线低压端和测试线高压端接触，仪器能产生 FAIL (失败)的信号。第3章 耐电压及击穿电压测试仪器面板概述3.1.2 START 键、 STOP 键START 键 (绿圆) ： 用来启动测试，一旦测试开始， HV指示灯亮。STOP 键 (红圆) ：停止键，用来中止测试；也可以用来取消 PASS 、FAIL 等提示状态。3.1.3 商标及型号仪器商标及型号3.1.4 数字按键区用来数字值输入3.1.5 指示灯区域● FAIL在测试中，出现超出设定的测试数据 ，仪器判断测试不合格， FAIL 判断灯亮。● PASS测试结束后， 没有发现超出初始设定的测试数据，仪器判断测试合格， PASS 判断灯亮。 在测试定时功能关闭情况下(TIM E OFF )， 测试只能用‘STOP ’结束没有 PASS 判断。3.1.6 功能区域(FUNCTIO N )选择测试模式设定，系统设定， 文件操作界面。● TEST按该键灯点亮，仪器进入准备测试状态。● SETUP按该键灯点亮，仪器进入参数设定界面；● SYSTEM该按键点亮，显示系统设定界面(SYSTEM )● FILE该按键点亮，显示文件操作界面(FILE )3.1.7 HVDANGER ！！只要正在测试这个灯就会亮了，指示测试正在进行。3.1.8输出电压高压端高压测试接口的高压输出端。3.1.9 测试低端、测试电流返回端( LOW 、RET ) 测试电压的输出端、电流采样端。3.1.10 移动键用于光标在屏幕的移动及参数项的选择。3.1.11 旋转编码电位器用于对参数的调整和确认。3.1.12 快捷功能键F1-F5对应LCD 右侧的功能操作区域，实现快捷操作。3.1.13 480*272 TFT点阵液晶显示屏，显示设置界面，测量界面等。3.1.14 USB 接口实现USB HOST,可以连接外设存储。3.1.15 LOCK 锁定键按下此键可锁定操作面板上的所有按键，除 STARTT 键和 STOP 键,防止误操作。2. 测试低端、测试电流返回端(选件)备用高压测试接口的测试低端，在客户需要时可改装。3. 高压输出端(选件)备用高压测试接口的高压输出端，在客户需要时可改装。4. 电源插座用于输入交流电源，请使用在仪器规定输入电压范围内的电压，请使用仪器自带的电源线。 内置电源保险丝，选择和输入电源对应的保险丝。5. 保护地端子在仪器电源插接的三脚电源插座不能保证可靠连接大地时，必须从此连接到可靠的接地排。 注意： 本仪器不要在没有连接大地就使用，否则仪器外壳可能带高压电，有触电的危险。6. 铭牌仪器出厂编号记录。7.RS 232 串行接口串行通讯接口，实现与电脑通讯。8. U SB Device实现仪器在电脑端的U盘映射，可以直接读取内部存储文件。9.HANDLER 接口24V供电,INTLOCK 功能。 TEST ：仪器启动高压输出时本机输出的同步控制信号。 START ：输入本机的启动信号，用来启动高压输出，相当于前面板的START信号。 RESET ：输入本机的复位信号，用来停止高压输出，相当于前面板的STOP 信号。PASS ：本机输出的合格信号，相当于前面板的 PASS 指示。FAIL ：本机输出的不合格信号，相当于前面板的 FAIL指示。10. SINGLE 接口此接口为联机保护和内部 24V 电源输出接口。 INT LOCK ：(端口：(5) INT LOCK + (6) COM )短路有效。本机的联机锁定信号，默认用短路跳线短接。断开时本机不允许启动测试。 DC 24V 电源：(端口：(1，2) 24V+ (3，4) GND )。输出电压为 18.5VAC 整流输出，无稳压功能，用于指示灯等的控制电源需要，建议用户使用时总电 流 500mA 。11. RS 485 串行接口串行通讯接口，实现与电脑通讯。12. 110/220V 电源转换开关实现输入电源电压 110V 220V 的转换。第4章 耐电压及击穿电压测试仪 操 作 说 明4.1 开机说明及开机画面在电源线插头接到市电以前，请先关闭输入 “电源开关”，检查保险的规格是否正确，将安全接地线接到测 试仪后面板上的“接地端”。BEIJING AIR TIMOS INSTRUMENT CO.,LTDZJC-5HVERSION ：V1.0_20230512 Copyright(c)2019基本操作如下所述：■ 使用菜单按键([TEST ][SETUP ][SYSTEM ][FILE ])和软键选择你想要显示的页面。■ 使用光标([ → ][←][↑][↓])将光标移到你想要设置的域。当光标移到某一个域，该域将变为 蓝色显示。所谓域就是可以设定光标的区域。■ 当前光标所在域可以通过编码电位器或数字键进行参数值设定 。当结束数据输入时可使用 [ ENTER ] 键或 轻按编码电位器进行确认。4.2 操作步骤4.2.1 设置测试仪参数请参考“参数设置”章节，设置好各项参数。4.2.2 连接测试仪与被测物 插上三线电源插头。注意：应保持供电电压在 90-121V AC(60Hz) 或 198-242V AC (50Hz )条件下工作。电源输入相线 L 、零线 N 、地线 E 应与本仪器电源插头上的相线、零线相同。打开电源，按下前面板上左下角电源开关，仪器开启，显示开机画面。如上图。请先按一次“复位 ”键，并确定测试指示灯不亮，显示器工作正常、无输出的情形下，接上测试线，并检查所 有的接线是否全部接触可靠。4.2.3 按“启动”键开始测试按下“启动”键后，测试仪输出，此时前面板的测试指示灯会亮起，显示器会显示“ 正在测试中”，同时显示测试值，计时器也开始工作，数据会不断更新。4.2.4 合格品判定测试完成后，测试仪会自动关闭输出，前面板的合格指示灯会亮起，同时发出声音，显示器会显示“PASS ” 和测试数据，表示测试仪判定被 测物为合格品。如果要继续进行测试，可以再按“启动 ”键，测试仪重新开始测试。如果要中止测试，可以按“ 复位”键，测试仪会立即停止测试，显示器会保留当前的测试值。4.2.5 不合格品判定如果测试失败，测试仪会立即关闭输出，前面板的不合格灯会亮起，同时发出警告声音，显示器会显示测 试失败提示和测试数据，表示测试仪判定被 测物为不合格品。测试失败提示有：上限失败、过流保护。如要关闭报警声音，可以按“ 复位”键实现。4.2.6 START 、STOP 操作说明START 键为启动测试键，按下此键仪器开始进入测试状态；STOP 键为复位停止键，在测试状态中，按 STOP 键一次仪器中断测试，运行灯 DANGER灭，LOCK 灯亮；按 STOP 二次仪器进入复位状态，DANGER及 LOCK 灯灭。面板功能界面和参数说明4.3 仪器开机自检4.3.1 仪器开机自检项目测试仪运行开机自检时屏幕显示如下其中自检项目如下：1、 内部晶振工作状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。2、输入输出存储器状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。3、复杂可编程逻辑状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。4、 串行外围接口状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。5、键盘状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。6、 系统状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。7、数据初始化状态检测：如正常则显示 OK ，如不正常则发出报警声并不能进入下一个项目的自检。以上各项若自检均无错误，则仪器自检成功。进入测试界面，如下图：测量参数设置系统设置文件STEP步骤： 1/1模式： AC电压：0.050KV上限：1000mA下限：OFF时间：0.5s频率：50Hz0% 0%4.4 参数设置模式在测量界面下按仪器面板上的“ SETUP ”或“F2”键进入参数设置页面参数设置界面如下所示：系统设置文件STEP模式 AC AC DC IR新建删除电压：0.050KV上限：1.000mA时间：000.5 S上升：000.5 S上一项下限：OFF电弧：OFF10:20:15下降：000.5 S频率：50Hz 下一项存为文件注：具体根据测试步骤的测试模式不同而不同。

硫化橡胶电压击穿测试仪【计算机控制】 BDJC-30KV一、电压击穿测试仪用途 本试验机采用立式箱体结构，极大的节省试验室内占地空间，地脚采用滑轮结构，方便移动和摆放，避免同类厂家生产的卧式设备，安放时需要另配安装台的情况，占地空间大，移动不方便等缺点。依据以下要求制造： 满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法 第1部分；工频下试验》、GB/T1695-2005《硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149标准要求设计制造。 主要适用于固体绝缘材料如：塑料薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘油、绝缘漆、纸板等介质在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压时间的测试；电压击穿试验仪采用计算机控制，试验过程中可在线观察试验曲线；自动存储试验条件及试验结果等数据，并可存取、显示、打印。二、电压击穿测试仪主要技术要求：1、设备输入电压： 交流 50KV (普通试验室电源均可兼容)2、试验电压方式： 交流 0--50 KV 直流 0--50 KV3、电器容量：5KVA4、试验方法：0-50KV全量程可调(采用高精度电压采样器件，取消了同类厂家由于电压采样精度不够必须采用高压分级的方式)5、击穿及耐压试验升压速率：0.1 KV/S 0.2 KV/S0.5 KV/S1.5 KV/S 2 KV/S2.5 KV/S3.0 KV/S (此项满足最新标准里面极快速升压试验要求) (此项满足最新标准里面极快速升压试验要求)注：本产品采用最先进的直流伺服电机加载减速机构，保证了最新标准里面关于极慢速试验和极快速试验的最新要求，（一般为皮带轮机构，误差较大）保证用户可以自由选择升压速率，是目前同类产品中唯一满足国标对于升压速率要求的测试设备。6、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验注：根据不同行业的标准，我们可以根据用户的要求，依据贵行业标准，为您定制行业标准所需的特殊测试功能。7、过电流保护装置应有足够灵敏度以保证试样击穿时在0.1S内切断电源。8、漏电电流选择：1—100 mA可由计算机软件自由进行设定。9、本仪器采用先进的无触点原件匀速调压方式，淘汰同类产品中机械传动升压方式。10、支持短时间内短路试验要求。(其它同类产品无此功能)11、一次试验可以同时做5个试样。(同类产品一次试验只能做一个试样)12、电压测量误差： ≤ 1.5％13、试验电压连续可调：0-50 KV14、耐压时间设定：0-6小时(可通过软件连续设定)产品包装和运输要求产品实行统一包装，采用木质包装材料，防止仪器在运输过程中造成损坏，所有仪器均用防尘膜包好，以免造成仪器表面的磨损，在运输过程中，仪器禁止倾斜或放倒，以免仪器内部零件漏油或刮蹭，从而降低仪器的精度或产生结果的偏差，产品在发货前统一核实仪器信息，确保仪器配套产品和装箱清单一致。三、电压击穿测试仪试验方式1、绝缘试样空气中击穿或耐压试验2、绝缘试样浸油中击穿或耐压试验3、绝缘试样空气中阶梯击穿或耐压试验4、绝缘试样浸油中阶梯击穿或耐压试验注：根据用户要求，可定制其他试验方式四、电压击穿测试仪试验软件：1、本仪器在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线，每次试验的升压曲线都由不同颜色构成，试验结束后可叠加对比材料的试验数据重复性。2、可以随时调取当前及历史试验数据进行查看，编辑及修改参数。3、试验过程中可以随时修改试验条件及存储路径及自动存储试验结果。4、试验过程中，可随时通过软件决定本次试验是否有效，方便筛选试验结果。5、可设置操作口令，做到专机专人操作，避免无关人员误操作。五、电压击穿测试仪安全保护功能：1、试验在试验箱中进行，试验箱门打开时电源加不到高压变压器输入端，即高压侧无电压。100KV测试设备高压电极距离试验箱壁的最近距离大于270mm，50KV测试设备高压电极距离试验箱壁的最近距离大于250mm，试验时即使人接触箱壁也不会有危险。2、设备要安装单独的保护地线。接保护地线，主要是减少试样击穿时对周围产生的较强的电磁干扰。也可避免控制计算机失控。3该试验设备的电路设有多项保护措施，主要有：过流保护、过压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警，电磁放电等。4、直流试验放电报警功能:在设备做完直流试验时,当开启试验门时设备会自动报警,直至使用设备上的放电装置放电后报警会自动取消.(注：因为直流试验后不放电会危险到人身安全,不能直接拿取电极,起到提醒使用人员放电以免造成人身伤害)。5、试验放电装置，电磁铁自动放电放置。六、电压击穿测试仪常规型号： BDJC -10KV BDJC -20KV BDJC -50KV BDJC -100KV BDJC -150KV七、电压击穿测试仪主要配置：1、试验主机一台2、5万伏高压发生器一台3、全自动微电脑电压调压装置一套(串口方式)4、试验电极规格(紫铜)(一般厂家为普通黄铜)：试验用电极 ￠25mm两个 ￠75mm一个5、试验用油盒一只：材质为有机玻璃6、电磁自动放电装置一套。（一般厂家为放电棒，即试验完成后，手持放电棒放电）7、电压击穿计算机测控软件一套8、计算机一套(专用抗强干扰计算机) 9、彩色喷墨打印机一台(惠普品牌)10、国家一级计量鉴定质检证书一份11、产品使用说明书一份12、合格证一份

紧凑型分布式光度计BASESPION 对于任何一个光测量实验室来说，BaseSpion都是一个伟大的系统。它可以让你测量所有中型照明产品。两轴测角仪使系统能够测量任何灯的完整3D分布区域，从而提供全面的LDT和IES模拟文件。 BaseSpion对于每一个中型光测量实验室都是一个非常紧凑完美的整体解决方案。可以很好的测试LED芯片、模块灯具、面板灯具、筒灯、灯泡和点光源。 BaseSpion是一个专业的实验室级别桌面式测光系统。 它可以全面自动进行多个C平面测量。 该系统的设计使其在任何光测量实验室中工作都非常容易。 测角仪驱动器和功率分析仪都是内置的。 只需通过USB连接到任何计算机上，在30秒内获得测试结果。 物理尺寸运输重量30Kg尺寸205-360*56*55cm重量25Kg探测器距离35-300cm探测器距离≥灯长度*10（最小*8）探测器距离设置自动导轨距离传感器灯的直径范围0-375mm@两轴灯最大重量9Kg电学参数电源输出90-260 VAC，50/60 Hz功率分析仪电压范围90VAC-260VAC ± 0.2V功率分析仪电流范围0A-3A（平均：± 0.1mA）功率分析仪功率范围0W-300W (平均: ± 0.001W功率分析仪采样率70,000次/秒光度测量测试方法远场通量和亮度准确度±4%最大通量@1m30,000lm最大通量@2m120,000lm最大通量@3m270,000lm最大强度@1m10,000cd最大强度@2m40,000cd最大强度@3m90,000cd色温1,000K-10,000K ±35K显色指数 0-100 ±0.7角分辨率LOW模式2°/步角分辨率HIGH模式0.5°/步光谱类型Ibsen Photonics FREEDOM自定义维度高透光栅光谱范围360-830nm（1024像素）光谱仪探测器 SONY ILX511B系统完全校准的即插即用方案

HPG2000是C型分布光度计，国际照明委员会CIE70文件推荐的运动反光镜分布光度计。围绕测试灯具中心作圆周运动的反光镜,将灯具测量方向的光束反射到光度探测器上，实现不同平面上的光强分布曲线的测量。本系统符合美国能源之星IES LM79标准、欧洲标准EN13032、GB/T9468灯具分布光度测试的一要求等国际、国内相关标准要求。可测量灯具的空间光强分布曲线、空间颜色分布、光强数据、灯具总光通量、有效光通量、区域光通量、灯具效率、亮度限制曲线、眩光等级、概算曲线、允许距高比、有效发光角、上射光通量、下射光通量、等照度曲线、等光强曲线等光度参数。可以导出IES文件、CIE文件、LTD文件等多种格式的灯具文件。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；主要技术特性：1、被测灯具测量位置与实际使用状态一致，灯具工作状态不变；2、反射镜可绕被测灯具360度转动，被测灯具自身可旋转360度；3、采用贵金属光纤点刷技术，实现不间断连续测量，不会绕线，转动平稳；4、激光十字线瞄准装置、方便，准确地安装测试灯具的位置；5、角度精度：0.1度，角度分辨率：0.01度；6、设备尺寸：长宽高2400×3200×3300mm ，中心高度1600mm；7、暗房最小尺寸：长宽高12.0×3.5×3.5米；8、灯具尺寸：出光口尺寸1.2米，方形灯:800mm×800mm，长条灯:1200mm 9、配备多种测试夹具：路灯夹具、面板灯夹具、长条型日光灯夹具、E40/E27灯头夹具；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；5、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图：丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、空间颜色分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、相关色温、色坐标x,y、色差duv。导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 HPG2000软件介绍及实景照：图相似

SM 鞋垫式足底压力分布测试系统是测量足底与鞋之间的压力分布的一 种新的设计，可实时显示足底的压力变化，是专业的鞋内足底压力分布测试 和评价解决方案。 通过放置在鞋内的压力鞋垫，可获得 在真实环境下鞋内的足底压力分布特点， 便捷的操作程序和友好的软件界面为使用 者提供了极大的方便。系统软件可获取压 力分布图像、足底各部位受力数据、压力 中心的轨迹等信息，并可进行文本输出， 便于统计和分析。 作为新一代的产品，SM 的压力鞋垫设 计更加柔韧、轻薄，可曲折并可裁剪成所 需鞋垫尺寸，将传统的压力鞋垫使用限制 降到最低。 系统具有两种测试模式： 模式 1：蓝牙无线传输测试（采样率 20-40Hz）； 模式 2（选配）：内置存储卡远程测试（采样率 50-100Hz）； 多种模式为鞋的测量提供了更加灵活的操作方案。软件功能： ﹡ 压力分布变化的实时监视； ﹡ 压力分布变化的实时显示及数据保存；﹡ 压力分布变化图像的动态回放；﹡ 鞋垫感应受力的参数统计与实时显示；﹡ 足底多区域受力的参数统计与显示； ﹡ 两次测量压力分布的比较；﹡ 可实现与摄像机的同步采集与回放；﹡ 图像及曲线的打印输出； ﹡ 统计数据数值的文本输出。