放射元素衰量仪

GC非接触温度测量仪的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079带激光瞄准的MiniTemp MT4非接触温度测量仪特色和优势Ø 显示温度测量读数，单位° C或° FØ 简单的点射红外技术，仪器小巧玲珑Ø 非常适用于仪器量热测试确认，包括Ø 气象色谱注射器口和检测器测量、恒热液相色谱瓶和酶水解水浴。型号 MiniTemp MT4温度范围 -18到400 ° C(0到750 ° F)距离:光斑大小 (D:S) 8:1响应时间 500m/sec放射率 预设为0.95精确度 ± 2%, or ± 2° C (± 3° F) 以数值大的为准，特别最大目标(光斑)距离最大1.5m(4ft)激光对准 有最小温度 MT4 N9306074基础工具包工具配备工具盒，方便储存和使用 N9301327gon工具包包括：开口扳手套装(6件), 螺丝刀套装 (6件.), 可调扳手 (6in), 链嘴钳(窄), 管钳,和剥线机豪华工具包用塑料工具盒装运，以便于储存 N9301328工具包包括：开口扳手套装(6件.), 螺丝刀套装( 6件.), 可调扳手( 6in), 链嘴钳(窄), 剪钳, 剥线机, 滑钳( 6in), 长鼻钳 No.5不锈钢镊子(43/8 英寸), 锉刀套装( 6件.), 艾伦内六角扳手套装 ( 11件. 英制规格), 以及艾伦内六角扳手 (9件. 公制规格)

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XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪，简介，办事处，操作说明书，规格，现货：销售热线：15300030867,13718811058，张经理，欢迎您的来电咨询！ XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪采用大体积（NaI）闪烁晶体，配用高灵敏光电倍增管，对χ、γ射线具有极高的探测灵敏度，仪器能量响应宽、能量探测下限低，具有宇宙射线反符合功能，可用于专门测量人工放射性。仪器具有数据存储功能、数据传输功能。特别适用于环保部对环境中放射性微小变化的测定及卫生疾控部门用于评估χ光机开机时对周围环境的影响。XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪，简介，办事处，操作说明书，特点 1、大体积闪烁晶体，配用高灵敏光电倍增管，确保仪器量程下限达1nSv/h（0.001μSv/h）。2、采用薄壁晶体，使仪器的能量响应下限可达25Kev。3、大屏幕液晶显示，自动量程转换，自动报警，自动背光。4、可存储100组测量数据，并具有数据下载功能。5、仪器配备铝合金手提箱，方便携带。XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪，简介，办事处，操作说明书，性能指标测量范围：剂量率： 1n Sv/h～150μSv/h 累计剂量：0.01～108μSv/h相对固有误差： ±10%稳定性：连续工作8h误差≤7％角响应：0～90° 灵 敏 度：1μSv/h ≥1000 Cps能量响应：25Kev ～ 7Mev ±15%报 警：声音报警报警阈：0.1～150μSv/h，测量范围内连续可调。背 光：仪器有背光灯，方便在较暗环境中读数。数据下载：可通过专用软件下载数据。供 电：充电电池供电，可连续工作24h。工作环境:环境温度：-20℃～50℃环境湿度：≤ 90%（40±2℃）重 量：1.2kg（含电池）

XH-2030型高灵敏χ、γ剂量仪,特点,说明书，现货，特价，总代理，北京，代理处，操作步骤，规格：销售热线：15300030867,13718811058，张经理，欢迎您的来电咨询！1、能量阈约30Kev。2、字符点阵式液晶显示，中文菜单提示，操作方便。3、同时显示剂量率、累计剂量，冷冻模式显示峰值剂量率。4、峰值测量响应时间达30ms，可用于瞬时放射性场的测量。5、可存贮100组剂量率值和剂量值。6、剂量率声频与活度成正比。7、采用锂充电电池，连续开机时间不小于48h。8、欠压报警：电池电压不足时，有中文“请充电”提示，并可自动关机。XH-2030型高灵敏χ、γ剂量仪,特点,说明书，现货，特价，总代理，北京，代理处，操作步骤，规格，技术指标1、探测器：75×75mm，塑料闪烁晶体2、灵敏度： 1μSv/h≥ 1500cps 分辨率：0.001μSv/h3、相对固有误差：±10％4、非线性：5、能量响应：35Kev～3Mev≤±30％6、测量范围：剂量率： 0.01～100μSv/h 累计剂量：0.001～9999μSv7、读数重复性：8、读数显示：五位数字以μSv/h、μGy/h、Cps为单位给出测量结果9、报警阈连续可调:剂量率：0.01～100μSv/h,累计剂量：0.001～9999μSv10、测量时间：每秒测量，最长响应时间3s。11、使用环境：温度 －10℃～＋50℃，相对湿度（在＋40℃温度下）90％12、重量：1.5kg（含电池）

9毫米厚的丙烯酸材料外壳，有1升和2升的内瓶供选择，6710-1000不包含瓶，若用于放置固体建议用8×12英寸塑料袋6710-2000已包含一只2升的PE瓶注意：不要将装有放射性物质的废物瓶长期放置于实验台，请尽快按规定处理订货信息：产品编号 型号规格 包装 价格 6710-1000 容量1升；品牌：NALGENE 1个/箱 请询价 6710-2000 容量2升；品牌：NALGENE 1个/箱 请询价

12毫米厚的丙烯酸材料制作，透明宽底座设计确保稳定用于有β-放射性同位素的实验防护订货信息：产品编号 型号规格 包装 价格 6801-0001 高×宽×深:457*305*127mm；品牌：NALGENE 1个/箱 请询价

一 、技术参数探 测 器：GM计数管　 量 程：0.1&mu Sv～1MSv 剂量率 ：0.01&mu Sv/h～1MSv/h 相对误差：± 20%（137Cs） 欠压指示：当电池电力不足时仪器停止工作，缺电指标灯亮 体 积：121mm × 71mm × 21mm 重 量：110克。二、 主要特点： BH3084个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。BH3084个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时个人射线剂量仪声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小

极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件，它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件，与另外两个光学镜片底座组合而用，用于光束进入样品和返回仪器探测器，ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失，平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封，从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应，从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置，方便抽样的自主管理和监测。可选方案：1.不带加热和加压功能的液体流动盒（使用平面顶板或液体流经）；2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒；3.非加热液体流动盒；4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

衰减全反射探头筱晓光子供应衰减全反射探头，基于硫化物(CIR，1.5-6.0μm)和银化物(PIR，4.0-18.0μm)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点：近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛，包括：实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATRTransmission range5.2-17μm+3.2-4.5μm3.2-17μm1.5-6.5μm600-47500px-1+2300-77500px-1600-77500px-11550-166250px-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150°C/+140°C-150°C/+140°C-150°C/+90°CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS

多重衰减全反射附件是 一种高效率的红外傅立叶变换光谱仪多重ATR附件，不需要频繁准直校正，特别适合日常使用。多重衰减全反射附件包括组合式平/槽顶板（每个都配有80x10x4mm 45度ZnSe 梯形ATR元件）、平板夹具、挥发物盖子、 清除剂组件。多重衰减全反射附件特点顶板非常容易取掉，因而非常方便快速清洗 以及与其他部件交换使用。多重ATR附件顶板采用针式固定方法，不仅保证重复操作精度，而且确保使用的方便性和分析精度。还有多种选项，ATR衰减全反射材料就有ZnS,Ge,Si,KRS-5,AMTIR和CdTe等选择，入射角有30，45和60度等选择。配备了100ml和500ml流经顶板和较高温度环境使用的配件包。可选: FTIR光谱仪反射组件（PartNo. #9000 ）多重衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 多重ATR附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 多重衰减全反射附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 多重ATR附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

6mm厚的氯丁(二烯)橡胶防护围裙可防护β射线和化学危险品可阻止97％以上的32P放射易穿戴无金属成分均码订货信息： 产品编号 型号规格 包装 价格 6800-0001 长×宽:813×508mm ；品牌：美国NALGENE 1件/箱 请询价

LIBS2500+激光诱导衰减光谱仪LIBS2500+激光诱导衰减光谱仪是一种探测系统，允许进行固体、溶液和气体中元素的实时定性测量。该系统具有光谱宽，分辨率高的特点。系统的光谱分析范围是200-980nm，光学分辨率大约0.1 nm (FWHM)。特点： 宽光谱，高分辨率光谱分析(0.1nm光学分辨率，波长范围200-980nm) 实时定性测量 PPb和皮克灵敏度 可应用材料分析，环境监控，法医和生物医学研究，艺术品修复等等应用： 环境监控(土壤污染，微粒) 材料分析(金属，塑料) 法医和生物医学研究(牙齿，骨骼) 军事和国防(爆炸，生化武器) 艺术修复/保存(颜料，珠宝/古代金属制品)LIBS2500+光谱仪如何工作一个高强度的脉冲激光器被放置在离样品几十厘米到一米的位置，它发出一个10纳秒宽的脉冲激光束，经聚焦后照射到样品表面用于激发样品。当激光发射，激光照射形成高温，从而产生了等离子体。随着等离子体衰减或冷却（激光脉冲发出后~1.0us），等离子体中处于的激发态原子发出与其元素对应的特征光谱。 所有元素的发射光谱都在200-980nm的波长范围内。探测系统最多可以同时使用7个HR2000+高分辨率微型光纤光谱仪进行同时测量（读写数据），每个均有2048像素的线阵CCD。LIBS2500+探测器同时收集200-980nm的光宽谱传送至应用软件显示数据。　宽光谱LIBS技术的优点：传统LIBS探测系统提供小范围的光谱，而LIBS2500+光谱仪是第一个提供宽带光谱分析的系统。由于良好的安全保护，用户可以进行现场实时测量，包括恶劣的工业，化学和生物医学环境，无需样品准备。由于LIBS2500+光谱仪的采用海洋光学的HR2000+高分辨率微型光纤光谱仪，系统具有便于携带，可通过USB端口与电脑相连等特点。 附加LIBS组件SPECIFICATIONSLIBS2500+的激光器 LIBS2500+的激光器可以有两个选择，它们都是激光工业的先导Big Sky的产品。激光烧蚀和等离子体的形成对不同样品都是非常独特的，因此对于不同的样品有不同的能量要求。在多数应用上我们采用Q开关的1064nm Nd:YAG激光器。如果要多种功能，我们建议使用带衰减器的200mJ激光器，它可以根据样品调整激光能量。激光能量和波长的选择将根据材料和允许损害的程度而定。LIBS-LASER采用50mJ CFR Nd:YAG激光器，针对金属和薄膜样品。LIBS-LAS200MJ采用200mJ CFR Nd:YAG激光器，可适用于玻璃和高OH材料。对于液体样本，可以采用双波长激光器，样品中的氧化物质会减缓等离子体的形成，所以需要另一个激光器增强等离子体的形成。其它特性 LIBS2500+光谱仪的使用方便，可与任何32位，兼容USB的Windows电脑连接。通过一个USB端口与PC相连，实现即插即用。我们提供OOILIBS应用软件用于操作LIBS2500+和启动激光。通过OOILIBS应用软件，用户可实现光谱补偿和数据保存。OOICOR相关软件由Florida大学开发可在使用LIBS2500+时提供即时的材料鉴定。LIBS成像模块 LIBS-IM-USB成像模块直接连接在LIBS-SC样品室，用户可放大样品图象，从而在样品上精确地定位。该模块都适合不同的应用领域，包括法医，半导体分析，植物学，生物医学分析，宝石学和冶金学。图象模块可以使用户通过一个CCD相机和PixeLINK（基于Windows的图象捕捉软件）看到样品的放大图象。PixeLINK可以捕捉图象，保存在计算机硬盘上。捕捉到的图象可用于比较分析和记录保存。模块中的CCD相机提供了1280 x 1024像元的分辨率。每个像元为6.0x 6.0微米平方。在1280 x 1024分辨率下相机可以提供了12.7帧/每秒的刷新速度。 图像模块是电脑供电的，不需要外设电源，与笔记本电脑相连时需要外设电源。外设电源的价格包括在模块的价格中。LIBS 系统LIBS光谱仪通道通道不一定需要连续的

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜THz ATR PrismsDownload THz Prisms Datasheet (PDF, 33 KB)我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5 Prisms are manufactured upon request. For price quotation and delivery please fill in our Request form.The finished parts of different dimensions are available from stock and supplied within a week.

环境放射性alpha和beta粒子在线监测用PTFE卷膜过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成查看价格详情请登录--这种PTFE卷膜为疏水、带支撑型，具有高流速的同时对颗粒物具有高的截留率，保证了分析结果的准确性。适用于环境放射性alpha和beta粒子在线监测等。产品特点疏水性滤膜、吸湿性低带支撑设计，抗拉强度大流速快、截留率高技术参数 A系列25mm针头式过滤器专门为HPLC、GPC、GC、LC-MS等分析仪器制样设计，能够最大程度的去除样品中的颗粒，保护您昂贵的仪器。产品特点极低的溶出，背景干扰小多种膜材，满足不同需求样品滞留体积小一次性使用产品质量过滤器在符合ISO 9001标准质量体系的一流车间内制造完成--滤膜疏水PTFE（带支撑）孔径3μm颜色白色表面平整尺寸卷芯内径宽度长度28mm48mm10m注：可定制其他尺寸

Tydex公司专业订制生产THz光学镜片，可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等，同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。太赫兹棱镜THz ATR Prisms我们可以提供以下规格的棱镜：- 传统（直角）棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射（ATR）棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收，用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况，研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应：光在光密介质n0和和吸收介质（有较小的折射率n）界面，以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时，反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数（尤其是棱镜角度）会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差，mm±0.2角度公差，mm±30表面平整度，scr（斑）/dig（坑）80/50表面精确度，mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度，Ra2.5

BH3084B个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。 BH3084B个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时该仪器声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小。技术参数：BH3084C技术指标 探 测 器：GM计数管　 量 程：0.1&mu Sv～1MSv 相对误差：± 20%（137Cs） 欠压指示：当电池电力不足时仪器停止工作，缺电指标灯亮 体 积：121mm × 71mm × 21mm 重 量：110克。主要特点：BH3084C个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。 BH3084C个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时该仪器声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

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多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪：1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用；2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。多功能翘曲度测量仪配件特点：× 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径；* 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池；× 同时测量多个晶圆或太阳能电池；× 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力；* 对晶圆表面进行图像分析；* 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆；* 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择多功能翘曲度测量仪配件参数：× 翘曲度测量范围：1-20微米；* 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间；* RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）；* 光源：根据用户的应用而配备不同光源；* 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

供应现货美国福禄克FLUKE-451P-451p高压电离室检测仪(高压放射检测仪)，说明书，办事处，现货热卖，特点，销售热线，15300030867，13718811058，张经理，欢迎您的来电咨询！1.应用范围广，包括（α、γ射线）无损检验，X-射线及环境测试2.电池供电3.自动转换量程和自动调零4.RS-232通讯接口5.同时测量剂量率和剂量6.峰值保持模式方便峰值捕捉测量，尤其适用于诊断X线设备的屏蔽防护漏射测量7.可编程的闪光显示、报警器8.自动的超亮液晶显示9.独立累计模式10.Windows下的Excel电子表格（选件）11.实时数据记录12.可下载储存在仪器中的13.2700个数据集14.虚拟仪器显示,带视听报警指示15.支持用户仪器配置和参数选择17.用户可选择工作模式供应现货美国福禄克FLUKE-451P-451p高压电离室检测仪(高压放射检测仪)，说明书，办事处，现货热卖，特点，技术指标探测器300cc高压空气电离室检测射线大于1MeV的β射线，大于25KeV的γ和X射线测量范围0-500μR/h，0-5mR/h，0-50mR/h，0-500mR/h，0-5R/h或0-5μSv/h，0-50μSv/h，0-500μSv/h，0-5mSv/h，0-50mSv/h（mR/h或μSv/h的单位只能选择一种，需购买前定制）准确度在任何量程满刻度指示的10%－100%之间精度在10%以内，不包括能量响应；校准源是137Cs控制按钮ON/OFF和MODE两个按钮工作模式累积剂量测量模式：开机后连续工作30秒，即使以mR/h或R/h为单位显示也执行累积剂量测量模式峰值保持模式模拟条形图单条固定显示检测到的最大值，而数值显示和条图显示仍给出当前检测到的值自动特性自动回零、自动切换量程、自动背景光环境要求温度范围从-20°C到+50°C，相对湿度从0到100%，向地性忽略不计电源两节9V碱性电池，工作200小时显示液晶显示模拟/数字信号，带背景光模拟信号100单元直方图显示160px长。直方图显示分成5个区段，每段标有仪器量程的相应值数字信号两位半数字显示，取决于仪器量程的有效数字0，数字高1/4in(6.4mm)。显示测量单位，在显示器上提供电池电压过低和冻结模式指示器。体积100mm×200mm×150mm重量1.11kg供应现货美国福禄克FLUKE-451P-451p高压电离室检测仪(高压放射检测仪)，说明书，办事处，现货热卖，特点，销售热线，15300030867，13718811058，张经理，欢迎您的来电咨询！

β射线衰减法测尘仪滤纸带，GF10滤纸带。规格：?28mm*40mm*36m

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点入射光30°-60°可调25次反射适用于FT-IR或色散仪样品架配两个引脚标准 3” x 2” 样品架盘多种晶体可选可互换样品架(固体，液体，凝胶)25次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件，入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置，架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品，可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。KRS-5是标配的ATR附件晶体，可选配一系列其他晶体如：ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室，另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调，保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息GS11000入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材GS11004 KRS-5晶体 (45°)GS11006 Ge晶体(45°)GS11009 Si晶体(45°)GS11014 ZnSe晶体(45°)GS11008 PTFE垫圈液体架用（1大、1小，5套）

唐海红 13120400643FD-3007K型袖珍式同位素辐射仪功能与特点　　 FD-3007K-A &gamma 袖珍辐射仪是依据国际放射防护委员会（ICRP）的建议和中国放射卫生防护基本标准的规定研制的新一代多功能辐射仪，集剂量率和累计剂量于一体，增加安全防护报警和放射性场所划分报警，提供多次累计剂量的&ldquo 保持&rdquo 功能， 适用于：监测X射线和 &gamma 射线，广泛应用于核电站、加速器、同位素应用、工业X、&gamma 射线无损探伤、&gamma 辐照等领域中的工作人员进行个人安全防护监测。 本仪器具有灵敏度高、功能全、功耗低、体积小、读数清晰等特点，是一种理想的个人辐射防护仪器。 主要技术指标 剂量率测定范围：0~99.99&mu Sv/h 累计剂量测定范围：0~999.9&mu Sv 剂量率固有误差：&le 20% 报警阈值：2.50&mu Sv/h、20&mu Sv/h 重量与尺寸：190g、132× 72× 32(mm)

AT6130射线检测仪简单介绍 AT6130射线检测仪 X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 一、AT6130射线检测仪的技术参数 ： X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 内部测量误差:± 20% 二、主要特点 1 尺寸小，重量轻 2 对话式操作模式 3 剂量，剂量率或流量密度阈值超标视听报警 4 剂量率变化迅速响应（开始新测量） 5 固定场中可选&beta 和&gamma 辐射测量 6 场条件下操作温度范围广（IP65） 7 电离辐射源&gamma 谱图可听信号跟踪 8 最大可存带有测量日期及时间的测量结果1000个 9 LCD可显示测量结果、当前日期及时间充电状态 10 可由IrDA软件将数据传输到电脑 三、仪器介绍 外观小巧的手持式辐射测量仪。 可测X射线同位素及&gamma 射线辐射剂量，&beta 射线颗粒流量密度。 四、应用： 辐射放射研究，应急监测，民防，消防，海关，潜在非法辐射源监测，工业、医药及其它企业剂量测量，钞票污染监测 五、标准配置： 测量主机AT6130（AT6130A，AT6130B），仪器专用包，操作手册，电池。 可选配件：读数器，应用软件，全套蓄电池充电器.

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。