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二次中由电量仪

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  • 二次元影像测量仪在工作中的广泛应用性

    二次元影像测量仪在工业生产中,有着广泛的应用,对很多行业的工件都可以进行测量,同时,在影像测量仪的测量中,也有着许多的测量方式,通过这些方式,影像测量仪才能顺利的完成测量的任务。 以下介绍精密检测仪器二次元影像测量仪的两个测量方式,他们分别是轮廓测量和表面测量。  1、轮廓测量  顾名思义就是影像测量仪测量工件的轮廓边缘,一般采用底部的轮廓光源,需要时也可加表面光做辅助照明,让被测边线更加清晰,有利于测量。  2、表面测量  表面测量可以说是二次元影像测量仪的主要功能,凡是能看到的物体表面图形尺寸,在表面光源照明下,影像测量仪几乎全部能测量,电路板上的线路铜箔尺寸、IC电路等,当被测物件是黑色塑料、橡胶时,影像测量仪也能轻易测量尺寸。http://www.zhengyekeji.net/include/upload/ckeditor/images/1319709450197084656155029.jpg  二次元影像测量仪(又名影像式测绘仪)是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后,变成了具有软件灵魂的测量大脑,是整个PCB实验室解决方案设备的主体。

  • 二次元影像测量仪与投影仪有哪些区别?

    最近几十年不仅仅是我们,乃至全世界都能感受到中国制造的产品质量与效率都有质的飞跃。产品质量和效率的提升离不开生产设备和生产规范的高效管理,在管理过程中,对半成品、成品的合格率检测是必不可少的,以机械零件加工为例,在加工完一个机械零件后,我们对该机械零件的二维尺寸参数并不是很确定。这时,我们就需要通过检测手段,来获取机械零件的二维尺寸参数。传统的检测手段有投影仪、卡尺等,随着技术的进步,最新的二次元影像测量仪逐步替代传统检测手段,成为新的首选测量解决方案。今天我们就来分析一下[b]VX3000系列[color=#333333]二次元影像测量仪[/color][/b]与投影仪的区别。[align=center] [img]http://www.chotest.com/Upload/2019/6/201906149843071.jpg[/img][/align][align=center] [/align][b][color=#e01e2b]1.测量精度:[/color][/b]  投影仪检测工件的精度一般在45μm左右,在现代化的生产加工过程中,已经不能满足生产者的精度需求。二次元影像测量仪的测量精度普遍在±2μm左右,最高可达1μm,是完全可以满足生产者对精度的要求的。[b][color=#e01e2b]2.测量效率:[/color][/b]  用投影仪检测工件单次只可检测一个工件,并且需要在操作软件上定位原点,再进行一定编程工作,才可以测得一个工件的尺寸数据。二次元影像测量仪单次可以测量多个工件,小微型工件甚至可以测量几十个,只要在视场范围内,一次测多少个操作员说了算,二次元影像测量仪不需要定位原点,也不需要进行复杂的编程。只需在测量第一个工件时建立模板,此后测量相同的工件只需按一键测量按钮,即可得出工件的二维尺寸参数,批量测量最多可同时测量512个部位,大大提升了工作效率![b][color=#e01e2b]3.仪器体积:[/color][/b]  投影仪都是比较笨重的仪器,外形体积硕大,重达五六百千克,不方便搬运到不同车间进行检测作业。VX3000系列二次元影像测量仪的体积轻便,重量在30-40千克之间,单人即可搬运到不同的车间生产线上进行测量工作,省时省力省空间。

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 二次元影像测量仪使用及维护保养

    二次元影像测量仪使用及维护保养事项1、 在测量和归位时,移动工作台要注意不要大力撞击工作台两端,放置在撞击过程中损坏光栅尺。2、 仪器镜头是精密光学部件。在对仪器镜头倍率大小调整时,请注意调整方向和力度,以免损坏。3、 对仪器专用电脑的使用时要尽量避免电脑中毒,在使用杀毒软件是要主要不要将仪器的驱动插件删除。4、 不要擅自输入软件密码,修改软件的校准参数,除非得到我公司专业售后人员的同意和指导。5、 使用完毕后,关闭表面光和透射光的电源,延长LED灯使用寿命。6、 仪器使用完毕后,罩上防尘罩,避免灰尘进入。7、 放置工件时,要轻拿轻放,防止玻璃台面、或大理石台面划伤。8、 工作台导轨,Z轴升降导轨要定期喷涂防锈油,防止生锈,影响机台精度。9、 如果仪器需要搬动,请将工作台固定板和Z轴固定板锁紧,方可进行。10、仪器各紧固件及电气接插件都已经连接牢固,可靠、客户不得自行拆卸。11、请尽量保持仪器放置区域的温度、湿度符合要求,以提高仪器使用寿命和测量精度。本文转发自:http://www.yhyvm.com

  • 建仪校室(什么设备能校准 智能电量测量仪)仪器内校

    各位大侠好: 我公司现在要建一个内校室,主要有交流智能电量测量仪(数字式),LCR数字电桥等设备,不久前智能电量测量仪外校了一次,当初他们用的设备是FLUKE 5520A ,我在网上查询了一下价格很高的,不知道还有其他设备可以校准不?还有LCR数字电桥的校准需要些什么设备?请各位大侠指点一下迷津!

  • 什么是一次污染物?什么是二次污染物?

    什么是一次污染物?什么是二次污染物? 一次污染物又称“原生污染物”,是由污染源直接排放进人环境的,其物理和化学性状未发生变化的污染物质。环境污染主要是由一次污染物造成的,其来源清楚,可以采取措施加以制。 二次污染物也称“次生污染物”,是一次污染物在物理、化学因素或生物作用下发生变化,或与环境中的其他物质发生反应,所形成的物理化学特征与一次污染物不同的新污染物,通常比一次污染物对环境和人体的危害更为严重。如水体中无机汞化合物通过微生物作用,可转变为毒性更大的甲基汞化合物,这种污染物进入人体易被吸收,不易降解,排泄很慢,容易在脑中积累。又如大气中的二氧化硫与氧气和水蒸气反应可生成硫酸,进而生成硫酸雾,其刺激作用比二氧化硫强10倍。

  • 【资料】细菌总数在二次供水检测中准确度的控制

    细菌总数在二次供水检测中准确度的控制 徐霞君 (深圳市水质检测中心) 摘 要:二次供水水样中细菌总数检测结果的准确度往往受多方面因素的影响,具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。本文对各影响因素中的各个细节提出规范对策,从而使二次供水细菌总数在检测中的准确度得以控制。 关键词:细菌总数、二次供水、检测、准确度、控制   二次供水是生活饮用水二次供水的简称,是指通过二次供水设施间接向用户供给生活饮用水的行为,二次供水设施主要为地下水池与天面水池,按《深圳经济特区生活饮用水二次供水管理》规定,每年至少清洗消毒二次,消毒方式有氯消毒、二氧化氯消毒、臭氧消毒、紫外线消毒等,消毒完成后,由专业清洗机构及时通知市水质检测中心进行取样检测。我水质检测中心在对二次供水8项指标(色度、浑浊度、肉眼可见物、PH、细菌总数、总大肠菌群、余氯)的检测中,在统计其月检不合格率时,其中因细菌总数超标引起二次供水水质不合格的占绝大多数。我们在不排斥原水样的超标外(市政水在经过不合格的二次供水水箱设施时受到一次污染),但也存在二次供水水样的细菌总数在检测中受到二次污染,即在检测中受到各种因素的影响,具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。因此,要提高二次供水水样细菌总数的准确度,必须对各影响因素进行规范控制。 1 取样中的规范 取样中存在的规范控制主要表现在取样瓶灭菌和水样的采集与保存两方面。 1.1 取样瓶的灭菌 取样瓶必须是清洁无菌的,一般用磨砂口带塞瓶,瓶的颈部和上部必须用锡泊纸覆盖,在160~170℃的烘箱内经干热灭菌2h方能达到灭菌目的。有的技术人员把取样瓶的消毒时间控制为1h,灭菌不彻底。因各种微生物对热的抵抗力不同,芽孢需要160℃、2h才能杀死。 灭菌后的采样瓶,两周内未使用,需重新灭菌。已灭菌和封包好的采样瓶,不论在什么条件下采样时,均要小心开启包装纸和瓶盖,应避免瓶盖和瓶子颈部受杂菌污染。 1.2 水样的采集与保存 采样时,不要用水样冲洗采样瓶,因余氯的存在会影响待测水样在采集时所指示的真正细菌含量,为去除余氯,于灭菌前按500ml采样瓶内加0.3ml10%Na2S2O3溶液,瓶内须留足够空间,一般采样量为瓶容量的80%左右,以便操作时摇匀,以获得具有代表性的样品。

  • 国家变频电量测量仪器计量站工程技术中心在长沙成立

    [color=#666666]近日,国家变频电量测量仪器计量站工程技术中心在湖南银河电气有限公司(下简称银河电气)举行成立仪式。国家变频电量测量仪器计量站(下简称国家站)站长王有贵、湖南银河电气总经理徐伟专出席了本次仪式。银河电气党支部书记谢开明主持仪式。[/color][color=#666666]  国家变频电量测量仪器计量站工程技术中心是按照国家站与银河电气签署的战略合作协议打造的开放式科技创新服务平台,旨在吸纳变频电量测量仪器领域高校、研究机构、仪器仪表企业、用户企业等优质资源,开展共性技术研究和计量科技创新工作。工程中心立足于将计量基标准资源、科学研究、产业需求融合发展,将成果共享应用于用户需求。[/color][color=#666666]  近年来,中国轨道交通、风电光伏、电动汽车、航天航空、智能电网、舰船电力推进等领域高速发展,这些行业的持续健康发展需要变频电量计量标准及计量测试技术为其提供科学的数据支撑。工程技术中心将立足产业需求,加强协同创新,促进军民融合,走出去、深入到各行各业,与行业相关企业建立深度合作。深入了解企业需求的基础上,为企业在产品研发及质检方面提供测试与计量保障,与企业深度融合、协同创新,不断提升工程技术中心的科技创新能力和计量测试技术服务能力。[/color]

  • 【分享】电量隔离传感器在数字化技术中的应用

    一、概述 电量隔离传感器变送器是针对工程中的电量检测(监测),提高系统的整体抗干扰能力,而研制开发的一种小体积、高性能的电量测试部件(产品)。 电量隔离传感器变送器可以对现场的大电流、高电压、功率、频率、相角、电度等电参量进行隔离测量和变换,也可以对各种微弱信号(如各种桥路信号)进行隔离放大和变换,将其调理后,变换成符合国际通用标准的电压、电流、频率等模拟信号或变换成数字量、开关量状态等信号输出。这些输出信号可以和传统的指针式仪表相接,也与现代的数字式自控仪表、各种AD转换器以及计算机系统直接配接,从而可以形成一个高可靠的工业检测(监测)或控制系统。 由于电量隔离传感器在应用中,用户不需做二次开发工作,高电压或大电流信号可以直接接入产品,(通过端子、插针输入或穿孔方式输入),就可以得到相应的输出信号。因此电量隔离传感器作为信号调理、隔离和变换功能摸块,是工业控制和数据采集系统中比较理想的变送器产品。 随着科学技术的不断发展,工业控制或检测(监测)系统对电量隔离传感器的要求也越来越高,特别是在产品的稳定性、检测精度和功能方面。由于数字化产品不论其性能还是功能,如非线性校正和小信号处理方面,模拟产品是不可比拟的。因此,电量隔离传感器的数字化是一种必然趋势。 下面就电量隔离传感器的工作原理和其数字化技术问题作一个简述,供大家参考。 二、电量隔离传感器基本工作原理 由于电量隔离传感器产品的被检测对像主要是电流和电压信号,所以下面主要介绍电流和电压信号的检测原理。 1、交流信号检测原理 交流信号又分为交流电压和电流信号。图1为交流电流信号的检测原理框图,图2为交流电压信号的检测原理框图,由CT和PT对信号进行隔离,电流为穿孔输入方式,电压为端子接线输入方式。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912291744_192765_1636985_3.gif[/img]图1 交流电流信号检测原理框图[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912291744_192766_1636985_3.gif[/img]图2 交流电压信号检测原理框图其中,CT为电流互感器,PT为电压互感器,输出一般为0~5V或4~20mA。

  • 激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射任中京(山东建材学院,济南,250022) 摘要本文计论了双层颗粒群产生的二次衍射,并给出了二次衍射复场分布的表达式,同时讨论了二次衍射与颗粒浓度之间的关系,找到了抑制二次衍射的最佳浓度。本文结论对于提高激光粒度仪的测量准确度具有重要意义。关键词激光:粒度分析;二次衍射引言各种激光粒度分析仅均是通过检测颗粒群的衍射谱来分析颗粒大小及其分布的。为获得正确的衍射谱。需要颗粒群散布在同一平面上。而事实上,颗粒群在检测区内很难呈二维分布。对于动态颗粒群更是如此。只要颗粒群不满足二维分布的要求,那么经颗粒衍射的光,就有可能再次发生衍射.我们把此种衍射称为二次衍射。在激光粒度分析中,二次衍射是测量误差的主要来源。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441910_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441911_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441912_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441913_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441914_388_3.jpg我们注意到衍射谱归一化总能量恰好等于入射光强度I0,这是物空间与频谱空间能量守恒的结果。 (18)式定量地给出了衍射谱中各种成分之间的比例关系,为我们研究抑制二次衍射的途径提供了依据。3 抑制二次衍射的最佳浓度从(18)式可见,在衍射谱中有三种成分同时共存,它们对粒度分析的作用各不相同:透射项对粒度分析没有贡献,应尽量减少;一次衍射谱是粒度分析的依据,要尽可能增强;二次衍射谱的作为一种宽带噪声叠加在之上,应尽力抑制。此三者在谱面上的分布如图 4所示。为了找到一个抑制二次衍射的最佳比例,我们把各项强度随 K值变化的规律及典型值列于表2,取I0=I,并绘出曲线。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441915_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441916_388_3.jpg4 结论综上所述,二次衍射谱是一次衍射谱的卷积,是叠加在一次衍射谱上的宽带噪声。二次衍射强度正等于颗粒在光轴方向重叠的几率。理论分析表明:当颗粒在分散介质中的体积浓度C0=0.17时,二次衍射可以得到有效地抑。本文讨论仅限于二次衍射,对于三维分布题粒产生的高次衍射,有待进一步研究。参考文献l J.W.顾德门.付立叶光学导论。北京:科学出版社,19792 REN,Z.J.eta1.PARTICUOIAJGY,1988

  • 【分享】电气线路火灾中铜导线一次短路与二次短路的显微组织特征

    [color=#DC143C][size=6]电气线路火灾中铜导线一次短路与二次短路的显微组织特征[/size][/color]摘 要:对电气线路火灾中铜导线的一次短路与二次短路的显微组织特性进行了对比分析,利用二者之间微结构形态上的差异来分析鉴定火灾的起因,为公安消防部门侦破火灾案件提供了有利的科学证据,可使案件侦破率及破案速度大大提高。因而,将此项工作加以推广有十分重要的意义。与金相显微镜比较,用电镜进行观察分析具有放大倍数连续调节范围大,景深大,分辨率高,同时具有图象更清晰,立体感更明显的特点。关键词:一次短路 二次短路 熔珠 熔痕 柱状晶 等轴晶电镜观察分析是研究金属材料,半导体材料及一切固体材料和生物医学材料的表面形态,内部组织及其结构的一门科学。在上述学科中电镜已得到了广泛的应用。而将它的科学理论,技术方法和仪器设备应用到消防部门,用于电气火灾原因分析中,则是一种比较新的方法。通常,火灾现场的金属残留物很多,在什么部位取样是很重要的。取样部位的恰当与否,直接影响到检查结果的准确性。因而,必须提取带有融化痕迹的物证。由电气线路、设备故障引起的火灾,在故障点高温作用下,绝大多数的铜、铝甚至钢铁及其它合金等,都会出现熔化现象。分析这些金属或导线残留物熔痕的表面形态和其内部的组织结构,对于认定火灾起因才有意义。本文仅对电气线路火灾中铜导线的一次短路与二次短路的显微特征进行比较分析。1 实验部分1.1 导线短路痕迹的形成及其表现形式电气线路中的不同相或不同电位的两根或两根以上的导线不经负载直接接触称为短路。由于短路的瞬时温度可达2000℃以上,而常用的铜导线的熔点为1083℃,因此,短路强烈的电弧高温作用可使铜导线局部金属迅速熔融,气化,甚至造成金属熔滴的飞溅,从而产生了导线短路熔化的痕迹。导线短路形成的熔痕可分为两种:一种是发生在火灾之前的短路,称为一次短路熔痕:另一种是着火后,火灾火焰或火灾热使导线绝缘破坏而形成的短路,称之为二次短路熔痕。由于短路电流的大小及作用时间的不同,因而短路熔痕的外观状态相当复杂,常见的有以下几种:(1)短路熔珠 (2)尖状熔痕 (3)凹坑状熔痕 (4)喷溅熔珠。

  • 求助CL10 中关于二次抽样的问题

    在论坛看到有人讨论二次抽样问题,大体有两种说法。说法一:国标GB2828 二次抽样检验是一次抽样检验的延伸,它要求对一批产品抽取至多两个样本即做出批接收与否的结论,当第一个样本不能判定批接收与否时,再抽第二个样本,然后有两个样本的结果来确定批是否被接受。说法二:实验室从客户送检样品中选取代表性样品。到底哪个正确呢?我同事参加培训说二次抽样是针对实验室和品管一体的实验室,我们实验室与品管部是独立的,而且我们不负责抽样,所以就不涉及。但我还是被第二种说法给迷糊了。也有网友说二次抽样和二级抽样是不一样的,所以想问一下有什么区别?多谢解答!

  • 【转帖】合肥市二次供水管理办法

    合肥市二次供水管理办法 合政〔2007〕31号 各县、区人民政府,市政府各部门、各直属机构:  现将《合肥市二次供水管理办法》印发给你们,请认真贯彻执行。二○○七年三月三十日 合肥市二次供水管理办法  第一条 为加强二次供水管理,保证二次供水的水质、水压和供水安全,保障公众身体健康,根据《合肥市城市供水条例》,制定本办法。  第二条 本市城市公共供水区域范围内二次供水设施的设计、施工、监理、管理维护、清洗消毒、使用以及对二次供水的监督管理,适用本办法。  第三条 本办法所称二次供水是指从城市公共供水管道取水后,另行通过贮存、加压等设施为用户提供生活、生产用水。  本办法所称二次供水设施是指为二次供水设置的水箱、储水池、水泵、供水泵房、电机、气压罐、电控装置、水处理设备、消毒设备、供水管道、阀门等设施。  第四条 市、县建设行政主管部门负责二次供水的监督管理工作。卫生行政主管部门负责二次供水的卫生监督管理工作。  规划、房地产、价格、质量技术监督等部门应当按照规定的职责分工,负责二次供水的有关监督管理工作。  第五条 新建、扩建、改建工程项目,水压要求超过国家规定的标准时,应当设置二次供水设施。二次供水设施应当与主体工程同时设计、同时施工、同时交付使用。  二次供水设施的工程建设投资,应当包括在建设工程项目总概算中。  第六条 二次供水设施的设计、施工、监理应当执行国家、省相关技术标准和规范,由具有相应资质的单位承担。  第七条 新建住宅供水工程设计方案中必须包括水表出户、一户一表、计量到户的设计内容。  二次供水设施设计方案中应当包括防止污染的具体措施,确保供水安全。  建设单位应当征求供水企业对二次供水设施设计方案的意见,设计方案应当满足与城市公共供水管网连接的基本条件和管理要求。  第八条 二次供水设施所用材料必须符合国家质量标准,不得使用国家明令禁止和淘汰的管材、配件和设备。  第九条 二次供水工程竣工后,建设单位应当组织供水企业参与验收。  验收合格的二次供水工程,建设单位应当组织冲洗、试压、消毒,经质量技术监督部门认证的水质检测机构检测合格后,方可投入使用。  第十条 二次供水设施由产权人或其委托的管理维护单位管理维护。  新建住宅工程的二次供水设施经验收和水质检测合格后,应当交由供水企业统一管理维护。  第十一条 已建住宅的二次供水设施需要进行更新改造的,在保修期内,由建设单位负责;超过保修期的,由产权人负责。  实行二次供水的已建住宅,其二次供水设施和小区庭院管网经检测合格,并按规定完成水表出户改造的,按照自愿原则,可以移交给供水企业进行统一管理维护,供水企业应当予以接收。  第十二条 二次供水设施移交给供水企业统一管理维护的住宅,其楼面层高16米以上的部分,水价实行全市统一定价,由市价格行政主管部门按照价格法的相关规定确定,水价包括二次供水设施的日常管理维护和运行费用、大修和更新改造费用等。  二次供水设施未移交给供水企业统一管理维护的已建住宅,物业管理维护单位应当公示水费计收的相关成本和费用,价格行政主管部门应当加强监督检查。产权人要求移交的,物业管理维护单位应当予以配合。  第十三条 二次供水设施管理维护单位(以下简称管理维护单位)应当保证二次供水设施完好,符合国家有关标准和技术规范的要求,保证水质、水压合格。在设施发生故障时,管理维护单位应当立即进行抢修。  直接从事二次供水管理维护的人员必须进行专业培训和健康检查,取得体检合格证后方可上岗。  第十四条 管理维护单位应当定期进行水质常规检测,每季度不得少于1次。  管理维护单位不具备自行检测能力的,应当委托质量技术监督部门认证的水质检测机构进行检测。  第十五条 管理维护单位应当根据水质情况定期组织对二次供水设施进行清洗消毒,每半年不得少于1次。  从事二次供水设施清洗消毒的单位应当具备清洗消毒的相应条件,其从事清洗消毒工作的专业人员,必须经卫生知识培训和健康检查,取得体检合格证后方可上岗。  二次供水设施清洗消毒完毕,经检测合格,方可投入使用。检测结果应当向相关用户公布。二次供水水质受到污染时,管理维护单位应当立即组织清洗消毒。  管理维护单位应当建立二次供水设施清洗消毒档案。  第十六条 卫生行政主管部门应当加强对二次供水水质的监督检查,抽检每年不少于1次。  第十七条 管理维护单位应当保证二次供水设施不间断供水。  由于工程施工、设备维修等原因需要停水或降压供水的,管理维护单位应当提前24小时告知用户做好储水准备;因设备故障或紧急抢修不能提前通知的,应当在抢修同时通知用户。  因水质污染或水质不符合国家卫生标准需要停水的,管理维护单位应当及时告知用户,向建设和卫生行政主管部门报告,并在12小时内采取措施及时处理。  超过24小时不能恢复供水的,管理维护单位应当采取应急供水措施,解决居民基本生活用水。  第十八条 管理维护单位有下列行为之一的,由建设行政主管部门责令改正,可以并处500元以上2000元以下的罚款:  (一)供水水质、水压不符合国家规定标准的;  (二)未按规定检修二次供水设施或在二次供水设施发生故障后不及时采取修复措施的;  (三)擅自停水或者未履行停水通知义务、未按规定采取应急供水措施的;  (四)未按规定对二次供水设施进行清洗消毒的。  第十九条 管理维护单位安排健康检查不合格的人员直接从事二次供水管理维护的,由卫生行政主管部门责令改正,可以并处200元以上1000元以下的罚款。  第二十条 设计、监理单位未按相关技术标准和规范进行二次供水工程设计、监理的,由建设行政主管部门责令改正,可以并处5000元以上2万元以下的罚款。  施工单位在二次供水工程中使用不符合国家标准的设备、管材、配件的,由建设行政主管部门责令改正,并处以工程合同价款2%以上4%以下的罚款。  第二十一条 自建设施供水区域内二次供水管理可以参照本办法执行。  第二十二条 本办法自2007年4月1日起施行。

  • 【讨论】大家讨论一下能谱中的二次电子边问题

    在做价带谱的实验研究中,通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10),时常会出现二次电子边起不来的现象,也有同行反映了类似问题,多认为是由于样品接触不好所导致,但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况,无论我怎么加强样品的接触,消除外电磁场干扰等等。很是不解。不知道大家有没有遇到过类似的问题,如何解决的?欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn

  • 二次离子质谱分析技术及其应用2

    4 SIMS的研究和应用... 144.1 元素及同位素分析... 144.2 颗粒物微分析研究... 164.3 团簇、聚合物分析及生物医学等方面的研究... 174.4 SIMS在化合物半导体材料分析中的应用... 194.4.1 常规分析... 204.4.2 最低测量极限... 214.4.3 高分辨率SIMS分析... 234.4.4 解剖分析... 245 SIMS的新进展... 256 几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术... 266.1 NANO SIMS 50型二次离子质谱仪... 286.1.1 小束斑离子枪和短工作距离的二次离子接收透镜的新设计... 286.1.2 二次离子接受器由单种离子接收改为多种离子同时接收... 29

  • 【讨论】一次粒径和二次粒径问题

    粒度测试有一个不太好定性的问题,那就是一次粒径和二次粒径问题。对于多数粉体颗粒,它有一定的大小,广义角度看单个颗粒是一个个体。但是从严谨角度说它依然是个可再分的由更小颗粒组成的群体。这时候问题就产生了,我们对颗粒进行粒度分析时,到底是希望测试粉体被分散到什么程度时的粒度分布呢?举个例子:某硫酸钡粉体,电镜拍摄的照片显示,单晶颗粒都在几百纳米级别,但是激光粒度仪测试结果微米级别的粒度分布,相差一个数量级。有些测试人员片面认为照片拍摄的东西绝对可靠,是粒度仪测试不准。这样判断过于主观了。这类问题晶粒如果处理后的样品体系中,超微粒子是均匀的,检测方法一般是一次粒度分析。如直观观测法,主要采用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、隧道扫描电镜(STM)、原子力显微(AFM)等手段观测单个颗粒的原始粒径及型貌。但如果处理后的样品微粒是不均匀的,且团聚体是不易分散体,此时电镜法得到的一次粒度分析结果一般很难代表实际样品颗粒的分布状态。因此,对处理后的物料体系必须作二次粒度统计分析。目前,较先进的3种典型方法按原理上可分为高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。 这个问题其实也是一个粉体分散问题,测试粒度分布时,到底使用什么手段分散?分散到什么程度才是正确的?希望各路高手一起探讨,也让小弟多开阔眼界。

  • 【原创】二次电子像中的成分衬度

    【原创】二次电子像中的成分衬度

    一个表面抛光的金属样品,采用背散射电子像可以看到不同的成分分布,而采用二次电子像时也能同意观察到几乎完全相同的图像,应该说二次电子像中也包含部分元素成分的衬度信息,值得大家注意。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010112130_250975_1872735_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010112131_250976_1872735_3.jpg[/img]

  • 【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    材料显微分析工作不仅限于通过显微镜等设备对材料的微观形貌进行拍摄,还包括了对所拍摄到的微观图像进行分析。对这些数据的分析工作要求我们一定要考虑到:对样品自身背景、取样方法、制样工艺、拍摄条件以及接收信号种类对测试结果的影响。对电镜原理及分析技术的理解不仅可以让我们得到漂亮美观的显微图像数据,可以帮助我们挖掘到很多关于材料本身的信息。我们知道扫描电镜对样品的微观信息进行分析,有各种个样的成分信息。比如背散射电子、二次电子、背散射电子衍射花样、阴极荧光、特征X射线、韧致辐射X射线等等。[align=center][img=,690,329]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_01_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图1、 不同二次电子的特征及产生机理示意图[/align]拿二次电子衬度形貌的分析来举例如图1所示,二次电子在扫描电子显微镜中主要分三大类:第一类是一次二次电子SE1,主要是由入射电子与样品极表面(几纳米的深度)相互作用而产生的,它的产率受入射电子束方向与样品表面夹角的影响,因此体现的是样品的形貌衬度;第二类是二次二次电子SE2,主要是由入射电子束在材料机体内发生弹射后又从电子束进入材料的入射点周围及附近弹出时,与材料表面相互作用而引起的,它的产率受材料主体成分及材料晶体取向的影响,因此体现的是材料成分信息及材料晶体取向信息(一般情况下SE1信号在材料的观测中为主要衬度,只有在SE1衬度极弱的条件下,SE2信号的衬度才可以被我们观察到);第三类是三次二次电子SE3,主要是由电镜样品舱内或物镜极靴或样品台与弹射出样品的背散射电子作用而产生的,它一般是作为噪音来被二次电子探测器接收到的,这类信号越多,电镜拍摄到的图像衬度越差。[align=left][b]SE2二次电子的应用[/b][/align]我们都知道一般SE1二次电子用来观测图像的形貌衬度,而把SE2或SE3当做噪音来看待,但是随着制样工艺及电镜表征技术的发展,SE2二次电子信号也可以被我们用来分析材料的微观结构信息,如下图粉末颗粒截面:[align=center][img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_02_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图2 电极材料截面形貌观测[/align][align=center][/align][align=left]我们可以观测,当通过氩离子束抛光把样品表面抛的绝对平的时候,SE1的形貌衬度在图中样品的平面部位的衬度就很弱,因此反应晶体取向衬度的SE2信号就被我们观察到了,图像中颗粒截面的这种亮暗不同是由不同 取向的晶粒造成的,通过它我们可以很直观的看到样品的晶粒度(亮暗区域的大小)、晶体取向差(亮暗灰度绝对值)。对我们研究新材料的性能及合成工艺有很大的帮助。[/align][align=center][/align]

  • 仪器第一次校准后第二次校准时间的间隔为多久?

    关于仪器第一次校准后第二次校准时间的间隔,很多校准证书上写着“一年”,这个到底对不对了,希望下面文字能帮助你。(声明:本文从微信公众号“CNAS实验室认可中心”中转载,除用于学习参考外,不得用于其他用途,不得侵犯原作者权益)CNAS-CL01 中5.10.4.4 校准证书(或校准标签)不应包含对校准时间间隔的建议,除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况,本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。仪器在第一次校准之后,第二次校准时间先规定1年,1年后送校准实验室校准还是很“准”(与第一次校准比较在误差范围内),就可定2年了,依次类推,最长不能超过5年,但期间一定需安排期间核查,如果发现不稳定情况,就需重新校准。

  • 【分享】什么是二次离子质谱分析?

    二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛。涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域。 二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度,其检测下限可达百亿分之几的数量级。对痕量组分能进行深度剖析,可在微观(µ m级)上观察表面的特征,也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析。 ①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率,可以达到十亿分之几的数量级。因此,可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在。当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰。防止表面吸附物污染被测试表面,测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行。 ②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法。一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后,就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析。只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分,所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比。 ③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化。对于均匀基体材料,通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度。元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到。

  • 【讨论】低真空二次电子检测原理及探头类型

    现在低真空(包括环境真空)电镜很时髦。本人想了解一下:1、在低真空时,二次电子是如何检测的;2、低真空二次电子探测器由哪些类型及其各自的特点。3、低真空下二次电子像分辨率到底有多高?能和高真空一样吗?我想很多同仁也都会对此感兴趣。望资深大侠不吝传教。

  • 【讨论】如何保证二次供水水质?

    实际上,我们现在饮用的自来水大多属二次供水。所谓二次供水,是指单位或个人将城市公共供水或自建设施供水经储存、加压,通过管道再供用户或自用的形式,二次供水是目前高层供水的惟一选择方式。二次供水设施是否按规定建设、设计及建设的优劣直接关系到二次供水水质、水压和供水安全,与人民群众正常稳定的生活密切相关。二次供水设施主要为弥补市政供水管线压力不足,保证居住、生活在高层人群用水而设立的。相比原水供水,二次供水的水质更容易被污染,二次供水的安全性和可靠性一直都受到市民的广泛关注。二次供水水质污染的直接结果是影响用户感官、使饮用者感到恶心、呕吐、腹胀、腹泻,严重的甚至发病,或由于掉入二次供水设备的虫子、老鼠等携带的病菌入侵,使二次供水水质污染,可导致二次供水系统用户发生集体性腹泻,严重危害人体健康和扰乱居民生活秩序。 因为二次供水涉及到产权问题,给充分保证其水质带来了难度,大家都是怎么做的啊?

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