多晶粉末衍射仪

XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。 X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。 X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射

XRDynamic 500 能以最高效率推动无与伦比的 XRD 数据质量。尽享囊括各种应用的多功能平台所带来的优势，为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析、SAXS 等提供最佳解决方案。 使用直观，具有全自动光学和校准程序，它能使每个人从新手变为专家，在最大限度减少误差的同时快速收集顶级质量的 XRD 数据。开箱即用：一流的分辨率/信噪比TruBeam™ 理念：更大的测角半径，真空光路完全自动化：X-射线光学和光束几何结构变化效率：仪器使用率提高 50%自校准：仪器和样品最大便捷性XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理论结合了大测角半径、真空光路和全自动 X-射线光学/光束几何结构变化。借助具有优化工作流程的直观软件，使用各种仪器配置测量一系列样品。采用标准 Bragg-Brentano 配置，实现了一流的分辨率 (LaB? 第一个标准峰的 FWHM 0.021° ）。出色的信噪比，测量背景减少50% 以及最低的寄生空气散射。快速重新配置以进行优化的非环境 XRD 实验或有着专用 SAXS 仪器质量的 SAXS 测量。

日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶• 2、测角仪为水平测角仪• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）• 4、测角仪配程序式可变狭缝• 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）（理学专利）• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)• 8、多用途薄膜测试组件• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件• 10、In-Plane 测试组件（理学独有）• 11、入射端 Ka1 光学组件• 12、高速探测器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射 X 射线)• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance（专利） • 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld 定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

产品介绍XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品设计精密，硬件、软件功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究，其技术水平已达到国内领先水平。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。主要特点结构新，采用先进的立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。采用细分驱动电源技术，精度高，重现性达到0.0006°、测量重复性0.001°、最小步进角度0.0005°；进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长期使用稳定性好；X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好，机柜外辐射剂量低于0.2μSv/h（国标规定要求低于2.5μSv/h）；X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠；中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包。在数据输出多样性方面作了重大改进。技术参数 配置名称XD2/3X射线管（Cu靶国产）种类Cu靶，NF型（其它靶材可选）功率2.0kW焦点1.0×10mm2X射线发生器最大输出4KWX光管电压15~60kV，1kV /StepX光管电流6~80mA，1mA /Step管电压、管电流稳定度≤0.01％（电源低压浮动10％）测角仪测角仪结构θs－2θd(XD2) θs－θd(XD3)测角仪扫描半径180mm扫描角度范围-30~80°（θs）-30～160°（θd）工作方式连续扫描、定时步进扫描、定数步进扫描连续扫描速度0.125～120°/min最高转速120°/min2θ角重复精度≤0.0006°最小步进角度0.0005°测量准确度≤0.001°发散狭缝（DS）1/6°、1/2°、1°、2°防散射狭缝(SS)1/2°、1°、2°接收狭缝(RS)0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm调整专用狭缝0.02mm检测器计数器晶体类型NaI脉冲幅度分析器（HV/PHA）输出高压0～1000V，稳定性≤0.01％（8h）机柜机柜尺寸（mm）1200（长）×400（宽）×1850（高）整机重量（kg）500观察窗（mm）600（高）×400（宽）×10（厚）铅玻璃X射线泄露量≤0.1μSv/h（未扣除天然本底）安全措施门联锁保护（门到指定位置，光闸才打开，产生X射线）滤波器Ni滤片对应Cu靶石墨弯晶单色器反射效率η≥28％综合指标整机综合稳定度≤0.3％

苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪用多位粉末样品架产品信息X射线衍射仪用多位粉末样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经获得专利授权（201922379738.4）。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现5个粉末样品的自动位置切换、高度对准以及XRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。耗材配件售后服务1、免费上门安装：否 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费维修或更换5、报修承诺：24小时内响应，7日内解决问题6、免费仪器保养：无7、免费培训：1人次网上培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

XD2/3型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品设计精密，硬件、软件功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究，其技术水平已达到国内领先水平。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。主要特点：. 采用立式测角仪结构，人性化样品更换方式，更加稳定的样品放置及 测试位置。操作、维护大为简化，使用直观，实验后的样品台便于清理， 控制方式采用细分驱动电源技术；. 精度高，重现性 0.0006°、测量重复性 0.001°、最小步进角度 0.0005°；. 长期使用稳定性好，经用户长期（8 个月）使用，石英 101 衍射峰测 试标准偏差为 0.0015°；. 闸采用转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好， 机柜外辐射剂量低于 0.2μSv/h（国标规定要求低于 2.5μSv/h）；. 中文视窗操作界面，全新 PDP 衍射数据处理软件包，数据输出多样性。

SHINE便携式X射线衍射仪是浪声科学结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景生物医药环境监测地质勘探教育与研究金属化合物化学与催化剂规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

日本理学Rigaku X射线粉末衍射仪外型小巧的台式机，具有高端分析仪器的卓越测试功能。浓缩X射线技术—小型化、功能完善、性价比高先进半导体检测器—高灵敏度、低检测限完备PDXL软件包—定性、定量、全面分析工业集成—实用、可靠、操作简便体积：560（W) X 460 (D) X 700 (H) mm

D-Power粉末X射线衍射仪，以卓越的精度与灵活性，树立高质量衍射数据采集新标杆。搭载前沿的的光路系统、高精度测角仪和单光子计数探测器，结合多样化的样品环境，无论是科研探索还是工艺监控，D-POWER 能一站式满足广泛的测试需求，提供可靠的数据研究。技术指标：X射线光源光管3 kW陶瓷X光管靶材Cu（最常用）、Mo、Co、Cr、Fe等焦斑长细焦斑： 0.4×12 mm；点焦斑：0.4×1.2 mmX射线发生器最大输出功率4 kW（高频高压发生器）光管电压/电流2 ~ 60 kV，1 kV /step/2 ~ 80 mA，1 mA/step测角仪结构立式测角仪θ/θ结构扫描半径标准245 mm（225 mm-355 mm连续可调）最小步进0.0001°扫描范围-110° ~ 160°（2θ）扫描速度0.0012° ~ 120 °/min角度重现性0.0001°角度误差≤±0.01°探测器一维阵列探测器最大线性计数：1X106CPS无噪声；能谱分辨率：能量分辨率（rms）{ev}678±5工作方式：PLC自动控制积分、微分方式转换；PLC自动进行PHA，死时间较正仪器规格尺寸980 mm×1268 mm×1888 mm重量680 kg电源单相AC220-230 V±10%，50/60 Hz，40A其他最大水压：0.7 MPa 冷却水耗：3.5 L/min应用领域：1、医药：医药结构分析、配方研究、晶型鉴定、品质检测以及药物交互作用研究2、电池：研究电池材料的晶体结构和性能，分析环境污染物的组成和结构3、半导体：半导体晶体生长研究以及应力和应变分析以及材料相变4、地质：地质研究和勘探、岩石成分的分析和鉴定以及地层的分析和研究5、建筑：矿物鉴定、质量控制以及混凝土助剂和添加剂分析6、食品：晶体结构分析、成分鉴定、质量控制、结构性分析和新产品研究

仪器简介：ULTIMA IV得到了活跃在世界科学领域前沿的学者和研究者的高度评价和 信赖,是X射线衍射仪器的旗舰产品.聚焦法光学系统和平行光束法光学系统可 轻松切换.不需要重新设置,水平测角仪,操作方便,可自由 组合各种附件,适合多种样品的各种测试.技术参数：X射线发生器:3kW X射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩侧角仪部分 测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)主要特点：1.水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品2.全自动狭缝调整装置（专利技术）3. 光路系统自动调整校准：配备最先进的X-射线光路自动调整校准模式4. 独特的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换（专利技术）5.丰富的功能附件保障了仪器升级的可能6.理学公司最新高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高7.全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅

仪器简介：ULTIMA IV得到了活跃在世界科学领域前沿的学者和研究者的高度评价和 信赖,是X射线衍射仪器的旗舰产品.聚焦法光学系统和平行光束法光学系统可 轻松切换.不需要重新设置,水平测角仪,操作方便,可自由 组合各种附件,适合多种样品的各种测试.技术参数：X射线发生器:3kW X射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩侧角仪部分 测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)主要特点：1.水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品2.全自动狭缝调整装置（专利技术）3. 光路系统自动调整校准：配备最先进的X-射线光路自动调整校准模式4. 独特的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换（专利技术）5.丰富的功能附件保障了仪器升级的可能6.理学公司最新高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高7.全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅

仪器简介APD 2000 PRO 为定性和定量的粉末X射线衍射仪。精确电路控制反馈系统，保证X 射线发生器更加稳定；预设高压和激发电流，并可实现自动斜坡程度上升；细焦点的陶瓷X 射线管具有优良的重现性和稳定性；采用高聚焦单毛细管准直器，高分辨多探测类型探测器。主要特点■ 采用 Kα1 Johannson 单色器，具有低背景和高检出限；■ 平面和二次弧形石墨单色器适合接受 Ag, Cr, Fe, Cu, Co和 Mo 激发线；■ 可以实现自动切换反射和传送模式；■ 光学编码器控制测角仪，具有高精密度和高测量速度；■ 创新的多样品旋转进样台和多种低背景样品台；■ 采用闪烁计数器和能量色散型检测器；■ 环境适应性强，可以适合在不同范围下温、湿度下工作；■ 双重安全电路保护设计。

产品介绍XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计，测角仪扫描半径可在150～285mm范围内连续可调。该功能使得用户可以在仪器测角分辨率和测试衍射线强度之间进行均衡选择，自行设定需要的试验条件，满足不同情况试验需求。为了提高实验效率，XD6提高了快速转动速度，达到1800°/min。主要特点结构新，采用先进的立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。采用细分驱动电源技术，精度高，重现性达到0.0005°、测量重复性0.001°、最小步进角度0.0001°,扫描半径连续可调；进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长期使用稳定性好；X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度更快，故障率更低，射线阻断性更好，机柜外辐射剂量低于0.2μSv/h（国标规定要求低于2.5μSv/h）；X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠；中文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包。在数据输出多样性方面作了重大改进。技术参数配置名称XD6X射线管（Cu靶国产）种类Cu靶，NF型（其它靶材可选）功率2.0kW焦点1.0×10mm2X射线发生器可输出4KWX光管电压15~60kV，1kV /StepX光管电流6~80mA，1mA /Step管电压、管电流稳定度≤0.01％（电源低压浮动10％）测角仪测角仪结构θs－2θd(XD2) θs－θd(XD3)测角仪扫描半径150～285mm连续可调扫描角度范围-30~80°（θs）-30～160°（θd）工作方式连续扫描、定时步进扫描、定数步进扫描连续扫描速度0.125～120°/min可高转速1800°/min2θ角重复精度≤0.0005°最小步进角度0.0001°测量准确度≤0.001°发散狭缝（DS）1/6°、1/2°、1°、2°防散射狭缝(SS)1/2°、1°、2°接收狭缝(RS)0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm调整专用狭缝0.02mm检测器计数器晶体类型NaI脉冲幅度分析器（HV/PHA）输出高压0～1000V，稳定性≤0.01％（8h）机柜机柜尺寸（mm）1200（长）×400（宽）×1850（高）整机重量（kg）500观察窗（mm）600（高）×400（宽）×10（厚）铅玻璃X射线泄露量≤0.1μSv/h（未扣除天然本底）安全措施门联锁保护（门到指定位置，光闸才打开，产生X射线）滤波器Ni滤片对应Cu靶石墨弯晶单色器反射效率η≥28％综合指标整机综合稳定度≤0.3％

MYTHEN2 X射线探测器 MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义，呈现出另一个层面：成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合，开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数， MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率，挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统（DCS4）兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素，无论从现场应力测量到快速相变，MYTHEN2 X深化了其细节，并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合：1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑，- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合，其帧率能达到1000赫兹，并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度，确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术，涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸：1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪，无论是紧凑空间，还是多模块系统设置的需求，4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状，并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合，确保了高量子效率和最佳信噪比，使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点，MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更，将另行通知。

我们的技术 多种X射线衍射系统 PSD型实时探测器同步采集2θ角度范围超过120°2θ模式分辨率高达0.05°2θ模式120°最小采集时长仅需1秒配置多轴测角仪的实时测量低至10μm的微衍射束单色化光学元件多种样品架变温及气氛腔室附件适用于常规应用到高级数据处理的软件服务于您的所有应用水泥、金属、矿产行业的过程质量控制纳米材料，微电子，冶金及先进材料的研究制药及化妆品的研究及质量控制地质及采矿教育机构我们的产品Thermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 100 独立台式XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 1000 台式XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 3000 研究型XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 3500 高分辨率粉末XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 5000 多功能研究型XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 5500 二圆高分辨XRDThermo Scientific&trade ARL&trade EQUINOX 6000 四圆织构/应力XRD

高级X-射线衍射仪Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX 3000 和Thermo Scientific™ ARL™ EQUINOX 3500 X射线衍射仪致力于满足工业和研究型客户对结构与物相分析的需求。无论是工业实验室常规的QC/QA检测，还是大学科研机构对于成分分析、 动态研究等科研需求，ARL EQUINOX 3000和ARL EQUINOX 3500都是最经济高效的解决方案。ARL EQUINOX 3000和3500配有独特的超大面积实时探测器，可以对全谱进行实时同步采集。这使得其拥有更快的检测速度，也特别适用于原位研究和与结晶/相变相关的实验。• 可靠且耐用，无活动部件• 标准大功率衍射平台• 实时同步数据采集• 多种样品台与分析模式可选• 可选配多种光学器件• 高分辨探测器可靠耐用Thermo Scientific ARL EQUINOX系列衍射仪可广泛应用于产品研发和控制。系统灵活性高，响应速度快。• 固定测角系统– 固定光源和探测器• 在120° 2θ或90° 2θ范围内使用非对称采集模式，并实时采集信号• 固定焦距– 无需校准• 使用 Kα1或 Kα1/2单色化光学– 聚焦光或平行光多层镜– 锗(111) 单色器、石墨(002)单色器• 大样品仓2The ARL EQUINOX 3000和ARL EQUINOX 3500采用标准高功率光管。为了获得最高的分析灵敏度以及分辨率，我们推荐您选用平行光或聚焦光多层镜。此外，光路中 也可选用单色器。如果使用石墨单色器，可以提高仪器的灵敏度。如果使用锗单色器， 则可以提高分辨率。ARL EQUINOX 3000和ARL EQUINOX 3500也可以选配SiamX 双单色器系统（锗单色器和石墨单色器的二合一装置），能够实现两种光学模式的轻松转换。锗(111)(分辨率更优，绿色)和石墨(002)(高通量，蓝色)的效果比较(111)单色器– 谱图分辨率更优– 谱图中仅含Kα 1波长• 聚焦多层镜– 产生极强的光束– 高强度的焦斑聚焦在探测器上– 保留了Kα 1&2 波长– 在进行动态研究时，需要快速采谱，此时聚焦镜是最理想的配置• 石墨单色器 HOPG (002)– 谱图的灵敏度更优– 谱图中保留了Kα 1&2波长• 平行光多层镜– 产生高强度的平行光– 保留Kα 1&2波长– 在进行GIXRD和XRR测量时，平行光多层镜可以大幅缩短测试时长， 是最理想的配置火山灰样品，观测26°2θ附近谱峰，锗单色器产生的谱图分辨率更优，而石墨单色器在相同采谱条件下强度更优。高速实时探测器ARL EQUINOX 3000 配置 CPS 120 超大面积实时探测器• 具有更高的分辨率、更多的功能• 非对称采集模式，同步采集0°~120°2θ全谱• 探测器半径: 250 mm• 适用于物相定性、定量和Rietveld分析• 原位应用的理想选择(高温、低温等)1D单色器光路图 1D多层镜光路图ARL EQUINOX 3500 配置 CPS 590 超大面积实时探测器• 分辨率优于CPS 120– FWHM (半峰宽)仅为CPS120的1/2• 非对称采集模式，同步采集0°~90°2θ 全谱• 探测器半径: 500 mm• 是关注高分辨率和低角度数据客户的理想选择卓越的分析性能使用ARL EQUINOX 3000和ARL EQUINOX 3500可以轻松、准确地完成矿物、药物等各种材料的分析。由于采用实时同步采谱技术，仪器同时拥有卓越分辨率和极快的采集速度。从物相的定性定量分析、结晶度计算，到晶体结构的解析，两款立式XRD都可提供可靠的解决方案。实时同步数据采集赛默飞提供的超大面积实时探测器具备独特的采谱方式，可同步采集所有的衍射数据。用户可以实时地进行粉末、块体以及薄膜材料相关的衍射实验，不仅提高了测试速度，而且非常适合进行动态研究。

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

产品介绍：1.产品概述 STADI MP是德国STOE公司推出的新一代粉末衍射仪，配备100%高纯度的Kα1单色器，采用透射模式、反射模式、高通量反射模式，能够满足各种实验条件，STADI MP是一款真正意义上能够实现透射模式的衍射仪，保证了微量样品的衍射实验。2.产品特点 四种几何衍射模式：透射/德拜-谢乐模式，透射高通量微区模式，反射高通量微区模式，反射模式； 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换，切换后不需要重新调节光路； 所有衍射几何模式下，均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线； 可搭配闪烁计数器，位敏探测器，成像板探测器 和 混合像素MYTHEN 1K探测器（零噪音单光子计数能力） 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感，或有毒性的微量样品测试； 2θ范围：-10°~140°。STOE STADI MP粉末衍射仪具备多种衍射模式，可以达到更广泛的研究和应用领域。3.透射模式适合：微量粉末、凝胶样品测试，特别是极小2θ角数据的测量采集；对X射线吸收性强的样品4.毛细管模式适合：特别适合精细粉末样品、液体、胶体样品测试；可以对取向性样品进行定向测试；对空气/水分敏感，或者有毒的样品测试。 5.反射模式适合：对大尺寸样品，如金属块状材料、板状材料，或加工成品的测试。

X射线衍射基本原理：当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。土壤粘粒矿物是土壤中带电荷粒子之间进行相互作用的主体。研究表明，粘粒矿物的种类有十几种，主要类型有绿泥石、高岭石、伊利石、蒙脱石和伊/蒙混层矿物。粘粒矿物种类不同地区分布不同，其含量也在不同地区有很大差异，而各个储层在平面和纵向上相差很大。映SHINE便携式X射线衍射仪（土壤版）是浪声专为黏土矿物鉴定而研发的一款便携式X射线衍射设备，其可以基于不同的黏土矿物的晶体构造，快速鉴定出粘粒矿物具体种类以及其所占的百分含量，即便是细微粒状的矿物也能准确判定，具有制样简单、快捷、测量精度高等优点，是粘粒矿物鉴定的主要方法。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要约20毫克的样品即可获得优质的检测结果并可以减小或避免择优取向问题。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。二维X射线衍射仪仪器配备电荷耦合装置（CCD）探测器，可以采集衍射环的切片，以帮助用户了解是否正确制备了样品（粒子统计和/或晶粒的择优取向）。从而进一步帮助用户确认所获得的定性定量数据是否具有准确性和代表性。配置灵活根据用户具体应用的需要，为客户提供Cu/Co靶材两种不同的阳极靶材。应用场景 农业绿色发展 土壤污染治 理 环境指示研究 规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keVXRF检测范围Mg(镁)—U(铀)样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸500×400×188mm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

产品介绍：1.产品概述 STADI P是一款灵活、多功能型粉末晶体衍射仪，同时具有两套衍射系统，分别进行透射/德拜-谢乐模式衍射和反射/布拉格-布伦坦诺模式衍射，两套系统可以共用一个光源，配备多种形式样品架和自动进样器，可以满足各种样品的衍射实验需求。 2.产品特点 四种几何衍射模式：透射/德拜-谢乐模式，透射高通量微区模式，反射高通量微区模式，反射模式； 通过改变光源和样品之间的距离来进行衍射模式之间的切换，切换后不需要重新调节光路； 所有衍射几何模式下，均可采用Co、Cu、Mo或者Ag靶的纯Kα1射线（100%纯Kα1）； 可搭配:STOE位敏探测器、STOE弧形成像板探测器、混合像素MYTHEN1K探测器（零噪音单光子计数能力）； 配备的毛细管模式非常适合对空气/水分敏感，或有毒性的微量样品测试； 2θ范围：-10°~140°。

MYTHEN2 X射线探测器DECTRIS MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义，呈现出另一个层面：成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合，开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数， MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率，挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统（DCS4）兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素，无论从现场应力测量到快速相变，MYTHEN2 X深化了其细节，并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合：1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑，- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合，其帧率能达到1000赫兹，并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度，确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术，涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸：1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪，无论是紧凑空间，还是多模块系统设置的需求，4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状，并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合，确保了高量子效率和最佳信噪比，使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点，MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更，将另行通知。

仪器简介：智能型SmartLab仪器得到了活跃在世界科学领域前沿的学者和研究者的高度评价和 信赖,是X射线衍射仪器的最高端产品.技术参数：X射线发生器:3kW 或9kw靶材:封闭靶Cu,Cr,Fe,Co,,Ni,Mo,Ag,Au及其它任选 侧角仪部分 测角仪半径:300mm主要特点：主要特点 固定靶与旋转靶可根据需要灵活选择切换光学系统时,不需要重新调整---灵活的光学系统 系统能够任意组合X射线发生器和测角仪.可以根据测试目的配备多种附件,实现灵活多样的分析.

TDM-20桌面型X射线衍射仪主要用于对粉末、固体和类似糊状材料进行物相分析。它利用X射线衍射原理可以对粉末样品、金属样品等多晶材料进行定性或定量分析、晶体结构分析，广泛应用于工业、农业、国防、制药、矿产、食品安全、石油、教育科研等领域。新型高性能阵列探测器的加载使整机性能有了飞跃式的提高该设备体积小，重量轻 频高压电源工作功率可达1600瓦 能快速对样品进行校准和测试 线路控制简单，便于调试安装 角度重复性可达0.0001。可搭配：旋转样品台 一维阵列探测器 6位自动换样器 正比探测器欢迎与通达科技联系以获取更多与产品相关的参数和使用方案。

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。应用范围：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）薄膜分析X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。材料研究XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：定性相分析和结构测定微米应变和微晶尺寸分析应力和织构分析粒度和粒度分布测定使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析倒易空间扫描筛选和大区域扫描涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）对最/大300 mm的样品进行扫描安装和扫描重量不超过5kg的样品自动化接口微焦源IμS配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。毫米大小的光束：高亮度和低背景绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。UMC样品台D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：可对重达5 kg的样品进行扫描大区域映射：最/大300mm的样品支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。多模EIGER2 R检测器EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。全景光学器件和附件，视野开阔。0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝：用于高通量测量分光晶体：用于高分辨率测量使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射