镀层厚度测厚仪

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镀层厚度测厚仪相关的厂商

  • Thicktest- 您身边涂镀层厚度测量专家!西安申科泰仪器设备有限公司是一家专业提供涂镀层厚度测量设备及技术服务的企业,坐落于丝绸之路的起点陕西省西安市。可为客户提供涂镀层厚度测量设备的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务主要产品有:X射线荧光镀层测厚仪,真空镀铝测厚仪,白光干涉测厚仪,椭偏仪,电解式测厚仪,电涡流测厚仪,磁感应测厚仪,超声测厚仪,红外测厚仪,球磨测厚仪,台阶仪等在内的多种测量仪器。申科泰的愿景是做“您身边涂镀层厚度测量专家” ,全体员工将坚持“以客户为中心”的理念,专注于涂镀厚度测量领域,为客户提供最佳涂镀层测量解决方案、产品和服务,帮助企业降低成本,降低风险,提高产品质量,提高生产效率。
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  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪;——在线钢丝镀锌测厚仪;——在线硅钢干膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,存于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为仪器制造产业争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。 服务产品:在线镀层测厚仪,在线镀锌层测厚仪,在线镀铝锌层测厚仪,在线镀锡层测厚仪,在线金属镀层测厚仪(镀锌测厚仪,锌层测厚仪,镀锌层测厚仪,镀铝锌层测厚仪,锡层测厚仪,镀银层测厚仪,锌层厚度检测仪,镀锌在线测厚仪) 在线钢丝镀锌层测厚仪,钢丝镀锌测厚仪,钢丝镀层测厚仪,钢丝在线检测仪,钢丝在线测厚仪,钢丝测厚仪,镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪,硅钢干膜测厚仪,干膜厚度测厚仪,涂层干膜测厚仪,在线干膜测厚仪,干膜测厚仪,干膜涂层测厚仪
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  • 公司位于长江大桥入口,建宁路98金海市场,交通方便。经营的产品:工程检测及试验仪器(非金属超声波检测仪,数显回弹仪,楼板厚度检测仪、钢筋保护层直径检测仪,基桩检测仪,低应变检测仪,裂缝测宽仪,裂缝测深仪,钢筋锈蚀仪,工程检测工具)测绘仪器(全站仪,经纬仪、水准仪、测距仪 、垂准仪、指向仪);建筑装璜仪器(激光投线仪、扫平仪、测距仪、激光水平尺,投点仪);;勘测仪器(地下管线仪、测深仪);通讯设备(对讲机,手持GPS,RTK GNSS);工业检测仪(接地电阻,漏电开关,红外测温仪,风速计,噪音计,照度计,拉拔仪,金属探测仪)
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镀层厚度测厚仪相关的仪器

  • 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间:60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源:交流 220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确,维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确 ● 一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化 ● 七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术,保证 X 射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器;分辨率:149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出:1mA2.2.2 属于半损耗型部件,使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出: 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数: 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择,口径分别为 8-1#, 8-2#, 8-3#, 4#,2#, 1#, 0.5# 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 操作得更轻松,使操作更人性,更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.7 配置小孔准直器,测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】
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  • 商品说明 工业生产过程中的品质控制,高压隔离开关触头镀银层检测仪,铜镀银,镀锡等厚度快速测试,同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理,确保材料品质;船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别,从而保障产品质量与安全;电力电站等有关国计民生行业中,鉴定设备零部件成分是否达标,保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件,其中隔离开关触头上的镀银层,有耐磨耐腐蚀的性,能降低接触电阻,需如果用不镀银的铜触头,铜触头经过氧化后电阻会明显增加,就会产生电弧烧蚀触点的可能,而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求,高压隔离开关主触头:镀银层厚度应不小于20um,一般触头镀银层厚度应不小于8um,硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说,电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量,所以镀层越厚,对电镀厂家的成本越高,所以一部分不良电镀厂家,就对电镀镀银厚度采用以次充好,以薄充厚,严重影响了高压配电设备的验收工作,甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再,再而三的被通报不良产品,轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格,重则直接被国网招标拉入黑名单。目前,隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪,是一种X射线光谱仪,通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光,可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器,仪器分为手持式和台式两种,都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度,方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件,具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件,一键智能操作检测合金成分和镀层厚度; K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分;能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量;仪器预装多基体标准合金库,合金库中包括400余种合金牌号,用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下:(1)智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报,提高生产率,自动识别基材种类,无需手动选择样品类型,然后再测试;降低操作难度,节省测试时间,不管操作人员是否有经验,都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。(2)完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库,标准牌号库包括500多种独特的合金牌号,用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。(3)检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能,可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法:能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围:0-50um检测镀层种类:铜镀银、铜镀锡分析精度:单层电镀相对误差不超过10%检测时间:15-20秒检测窗口:12mm合金测试元素范围:Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hf,Ta,W,Re,Pb,Bi,Zr,Nb,Mo,Cd,Sn,Sb等23元素仪器参数:1、激发源:大功率微型直板电子X射线管,激发电压为35kV;无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA(美国Moxtek),标配Ag靶,无电机、1个滤光片2、探测器:Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法:KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池
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  • 货期&价格请与咨询客服为准!谢谢! 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术:X射线荧光测厚技术测试样品种类:金属镀层,合金镀层测量下限:0.003um测量上限:30-50um(以材料元素判定)测量层数:10层测量用时:30-120秒探测器类型:Si-PIN电制冷 探测器分辨率:145eV高压范围:0-50Kv,50WX光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:专用3种自动切换;CCD观察:260万像素微移动范围:XY15mm输入电压:AC220V,50/60Hz测试环境:非真空条件数据通讯:USB2.0模式准直器:Ø 1mm,Ø 2mm,Ø 4mm软件方法:FlexFP-Mult工作区:开放工作区 自定义标准配件:样品固定支架1支窗口支撑薄膜:100张保险管:3支计算机主机:品牌+双核显示屏:19寸液晶打印机:喷墨打印机 可选配件:可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存。
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镀层厚度测厚仪相关的资讯

  • 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演
    Thick 800是我司专门研发的能散型镀层厚度测试仪,天瑞最新科技与智慧的结晶,领先国际水平,为新一代镀层厚度分析利器,是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。 Thick 800可精确测量各类镀层的厚度,精确度达到0.01&mu m,同时镀层分析能力多达5层,能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型。整台机器具有精度高、稳定性好、测量范围宽、非破坏、非接触、多层合金测量等优秀特点。 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演于5月16日在深圳启动,历东莞、广州、厦门、昆山、嘉兴、温州等地,于6月13日在青岛胜利结束。经公司领导密切关注和亲临指导,整个路演活动非常成功。顾客对镀层测厚原理、Thick800的性能特点、Thick800的比较优势有了全面的了解。 在深圳、东莞站,许多顾客对仪器表现出浓厚的兴趣,他们仔细询问了仪器的技术指标、配置、功能等。在昆山站,顾客围着仪器进行了仔细的观摩,他们认真察看了操作人员的演示。在温州站,顾客踊跃提问,积极表达自己的关切点,主动了解公司的售后服务、仪器应用和销售等情况。他们纷纷表示,参加我司的全国路演活动,不但了解了一款技术领先的仪器,而且了解了一个魅力四射的公司,体验了一种服务顾客、关注需求的企业文化。 至此,我司Thick800镀层测厚仪全国路演活动胜利落下帷幕。 天瑞仪器副总经理胡晓斌在昆山站作Thick800镀层测厚仪专门报告 主持人正在演示Thick800的产品说明、技术参数及配置 客户仔细聆听路演报告 客户向主持人询问产品的性能及售后服务等问题
  • 英飞思科学仪器X射线荧光镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布
    英飞思科学仪器X射线荧光镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布经过多年研发,英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。主要优点:微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量高分辨率样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量 背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。 XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。 膜厚仪EDX8000T Plus产品特点全新的下照式一体化设计,测试快速,无需样品制备可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,螺纹,曲面等)的异型件的精准测试备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品可覆盖元素周期表Mg镁到U铀SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率自动切换准直器和滤光片(0.15mm,0.2mm,0.3mm) 膜厚仪EDX8000T Plus应用场景EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,金属电镀镀层分析;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层电路板和柔性PCB上的涂层插头和电触点的接触面贵金属镀层,如金基上的铑材料分析分析电子和半导体行业的功能涂层分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能,电镀液离子浓度分析
  • 天瑞镀层测厚仪Thick 800A取得技术突破
    天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。  镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求,天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头,一直以满足市场客户需求为目标,致力于新技术的研究和新产品的更新换代。  在此之前,国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品,国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A,测试精度目标已达0.2mm以下。  在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下,公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作,我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析,摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术,并应用了几项本公司的发明专利,终于攻克技术难关,取得了突破性进展。据对比测试结果分析,国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm,我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm,天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。  为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求,本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段,目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产,最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱,和广大客户会面。

镀层厚度测厚仪相关的方案

镀层厚度测厚仪相关的资料

镀层厚度测厚仪相关的试剂

镀层厚度测厚仪相关的论坛

  • 求购镀层测厚仪

    请问涂层测厚仪与镀层测厚仪有什么区别,求购镀层测厚仪,联系电话,13695244645。

镀层厚度测厚仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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