电子直线加速器

高稳定性的时间信号分发对于大科学装置（如粒子加速器等）基础设施有非常重要的意义。未来加速器对于稳定时基的要求将会越来越高。基于自由电子激光的新一代高亮度超快X射线光源通常要求其分配到加速器和激光系统的射频信号具备10飞秒以下的时间精度。

粒子加速器运行的一个重要因素是可靠且强大的真空系统。而像LHC这样非同寻常的机器对内置真空技术有着非常特殊的要求。极小误差可能导致整个加速器停止运行数小时。因此，整套真空系统必须是非常可靠的。此外，加速器中使用的所有设备必须能够承受高达1,000 Gy/a的辐射水平。而进行这些复杂测量的设备不能离开加速器的辐射区。因此，能在现场进行设备维护显得至关重要。为满足这些高要求，普发真空与CERN合作，对真空获得、真空测量和真空分析研发并实践了一套定制的真空解决方案。真空获得LHC分两种真空系统: 电子束真空和隔离真空。两种应用中都用到了普发真空的涡轮分子泵。这些泵经改进后都可以满足LHC的特殊要求。为了能在辐射环境中运行，泵体中都不能使用电子元件。要满足这些要求，普发真空研发了无传感器驱动概念，实现了泵的机械部件与电子部件的隔离。采用这一概念，电子部件可以放置在离真空泵1,000 m以外的地方，并定位在一个保护区域内。真空测量普发真空专门研发了特殊的测量设备，用来测量获得的真空。这些使用的设备是改进的皮拉尼和冷阴极真空计。它们用来长期监测加速器内的压力，并确保当压力增加时可以采取适当的行动。由于真空计同样暴露于高水平辐射中，它们被制造成无源传感器，没有集成的电子设备。所有电子设备都被安置在一个辐射安全区域内，并且经由长电缆连接至无源传感器。这些电缆通过精确的指令与CERN密切连接。这使冷阴极真空计可以测量达10-11 hPa的压力。通过一种特殊的点火过程，冷阴极真空计即使在压力非常低的情况下，也可以轻易打开。由于加速器的寿命约为30到40年，因此，只有采用寿命长的电子元件。氦检漏对LHC要求的超高真空压力，加速器使用的部件必须确保极低的漏率。因此，在安装部件之前，必须进行全方位的检漏。针对检漏，CERN采用了ASM系列检漏仪。使用这些设备，即使是细微到的10-13 Pa· m3/s 的泄漏也可以有效地被检测出来。真空分析除压力外，残余气体的组成也是加速器正常运行的一个重要因素。使用残余气体光谱仪，可以得出加速器内使用材料脱气相关的结论。为获得残余气体光谱，CERN采用了普发真空的质谱仪。对于超高真空中的残余气体测量，质谱仪分析仪本身具有较低的脱气率是非常重要的。除了真空退火离子源外，CERN使用的普发分析仪也拥有真空退火棒系统。使用这一方法，分析仪将产生一个极低的背景信号，尤其方便记录加速器内实际残余气体的比例。

本研究利用电子束辐照保鲜和壳聚糖涂膜保鲜结合起来对凯特芒果进行品质的综合评价。 相对于单一的辐照保鲜， 涂膜辐照综合保鲜很大程度的提高了芒果的货架期。将一层薄膜覆盖在芒果表面， 再进行辐照处理更好地降低了辐照后与果实与空气中微生物的接触， 同时壳聚糖具有抑菌性， 因此将保鲜时效得以延长。 本研究所采用的辐照技术是电子加速器辐照， 相对于钴源辐照减少了消费人群对辐照食品安全性的担忧；而壳聚糖更是一种绿色的生物保鲜膜， 相对于化学保鲜剂壳聚糖涂膜更安全可靠。 涂膜辐照综合保鲜针对四川特产攀枝花凯特芒果进行研究， 降低了芒果的损失增加了经济效益。

各种同位素源的电离辐射以及加速器、电子束等越来越多地用于放射治疗。利用电离辐射(主要是x射线)的临床诊断正在扩大。这种方法需要监测照射量，并测定可通过发光剂量法实现的传递剂量。

本实验通过SPME-GC-MS与电子鼻分析手段，结合线性判别分析（linear discriminant analysis，LDA）探讨薏苡仁油加速氧化期间挥发性氧化产物变化规律及薏苡仁油挥发性风味成分，为科学合理控制薏苡仁油氧化提高其品质稳定性提供理论依据与技术参考。

在电子电路中，除了接触最多的电子元器件（ 例如电阻，电感，电容，二极管，三极管，集成电路等） 以外，还有其他常用电子元器件，如电声器件，开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功，安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术，或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数，判断元器件的是否正常，不是一件千篇一律的事，必须根据不同的元器件采用不同的方法，从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器，我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备：集成电路测试：成品测试、老化筛选、失效分析等；破坏性物理分析：外部目检、X射线检查、粒子噪声（PIND）试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度；可靠性寿命和老化筛选：老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验；环境试验：正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞（或连续冲击）、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热（HAST）；物理性试验：物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型：半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。

通常来说，操作人员更愿意使用更高的加速电压去成像，当加速电压较大时，信噪比更好，分辨率更高，更容易得到“清晰”的图像。但低加速电压却是当今扫描电镜的发展趋势，这是什么原因呢？今天，这篇文章将围绕“低加速电压成像”展开讨论。电子束与样品相互作用将会激发出多种电子信号，包括背散射电子（BSE）、二次电子（SE）等。二次电子（SE）主要表征样品的表面形貌信息，激发深度一般低于 10nm，主要表征样品的表面形貌信息。

使用同步加速器和实验室辐射源测量了硅光电二极管在3至250nm波长范围内从-100℃到+50℃的响应性。研究了两种类型的硅光电二极管，具有薄氮化二氧化硅表面层的AXUV系列和具有薄金属硅化物表面层的SXUV系列。根据波长的不同，响应率随着温度的升高而增加，AXUV光电二极管的速率为0.013%/C至0.053%/C，SXUV光电二极管为0.020%/C至0.084%/C。响应度的增加与硅带隙能量的减少相一致，这导致对产生能量的增加。这些结果对于极紫外（EUV）光刻步进器和光源中的剂量测量尤其重要，因为所涉及的高EUV强度通常会导致探测器温度增加。

在进行扫描电镜（SEM）分析时，为了获得感兴趣区域最佳的图像效果，必须考虑一些重要的参数。其中一个很重要的参数就是加速电压，它是加在电子枪的阴极和阳极之间，用来加速电子产生电子束的。加速电压的选择与样品的导电性、放大倍数及图片质量等因素有关。一般来说，加速电压越高，图像的分辨率越高。

许多前瞻性科技技术，例如粒子加速器、核聚变反应堆或 EUV 光刻技术都必须依赖高真空或超高真空。为了制造出这种持续的真空环境，并且维持在一定的真空度下，我们需要的不仅仅是能满足应用和技术规格的泵。同样重要的是需要在真空环境下对表面释放出的残余杂质进行精确的气体分析的仪器。然而，无论是设备的运营方，还是真空设备的制造商都需要仔细研究产品的特性、材料、及在真空环境中的表面处理和清洁方法。Pfeiffer Vacuum 丰富多样的产品组合为此类系统提供所有必要组件。Pfeiffer Vacuum 作为完整解决方案供应商为客户定制完美的残余气体分析设备。在残余气体分析中真空系统用于：■ 为高真空或超高真空选择合适的材料■ 检查电子构件、开关组和电缆在真空中的表现■ 评选适合的表面处理、镀膜合金材料■ 评估部件的清洗程序■ 检查真空烘烤程序■ 工艺控制Pfeiffer Vacuum 系统不仅为高真空和超高真空设备的运行方，还为真空部件的制造商提供优秀的残余气体分析解决方案。Pfeiffer Vacuum 也在本部使用残余气体分析，以便在开发和生产中测试其产品、表面处理和清洗程序的出气情况。以此确保 Pfeiffer Vacuum 产品适用于高真空和超高真空环境。此外，还可以检查涡轮分子泵的电机和前级真空部件的脱气状况。

扫描电镜激发样品的物理信号（二次电子、背散射电子、特征 X 射线等）主要取决于入射电子束的加速电压，当高能量的电子束入射到同一样品时，入射电子束与试样相互作用区范围的大小随加速电压的升高而增大。

HAST CHAMBER 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

扫描电子显微镜成像的基本原理是通过灯丝枪产生一定量的游离电子，经高压加速获取更大的动能，与样品表面碰撞，产生二次电子和背散射电子信号，经由相关探测器接收，转化成我们直观看到的图像。那么一个样品最终的成像效果好或者不好的判断依据有哪些呢？直观的感觉是这张照片好不好看，清不清晰。归根结底就两个特点来决定：1、照片清晰程度，这一点由分辨率决定；2、照片的细节呈现，这一点由加速电压和电子束质量决定。在一定程度上，提高加速电压，是有助于分辨率提升的，但带来的明显副作用就是电子穿透效应，使得样品形貌变得透明化，表面细节虚化，无法判断，这便成了一个矛盾的选择。所以，只考虑提升加速电压来提高照片清晰度，并不是上上策。

锶（Sr）-90 作为裂变反应时生成的重要产物，主要通过反应堆或加速器生产以及在核武器爆炸时产生，其在全球分布较为广泛，且可通过食物链进入人体并参与新陈代谢。2012 年ISO 公布了低本底液体闪烁计数仪技术测量Sr-90的标准方法（参见ISO 13160:2012 ）。本文利用PerkinElmer QUANTULUS GCT 液体闪烁计数仪（LSC）对日本福岛地区的土壤进行了检测。

低加速电压成像在扫描电镜成像中有着重要的作用。采用低加速电压成像，低能电子束受到散射的扩散区域小，相互作用区接近表面，有利于表面精细形貌成像。对于某些热敏或导电性能差的样品，如半导体和器件、合成纤维、溅射或氧化薄膜、纸张、动植物组织、高分子材料等，有时不允许进行导电处理，而要求直接观察，采用低加速电压成像可以减小或消除此类样品的荷电效应同时减小电子束辐照损伤。下图为氧化锌样品在5KV 和15KV 下的图像对比，由图像可知，在5KV 低加速电压下，样品表面细节特征清晰，有利于表面精细形貌的观察。

人们普遍认为光子不能用电场或磁场操纵。尽管光子与电子化的杂化形成激子化子为在半导体微腔中进行了许多开创性的实验，这些微腔的中性玻色子性质准粒子严重限制了它们对外部规范场的响应。近，来自瑞士苏黎世联邦理工大学（ETH Zü rich）Prof. Atac Imamoglu课题组展示了在非微扰耦合下的外电场和磁场加速化子和流动电子形成的新准粒子，称为化子。值得注意的是，我们还观察到化子的不同化成分可以当电子处于π 1整数量子霍尔态时，能够在相反方向被加速。

病毒作为一种病原体一直受到学术界的广泛关注。然而由于病毒通常尺寸较小，传统的光学显微镜往往难以满足其形态观测的需求，这使得高分辨率的透射电子显微镜成为了当前病毒学研究的一个重要手段，可以用来研究病毒的结构和成分。目前使用的透射电子显微镜进行病毒颗粒的检测和识别仍面临着巨大的挑战。这是因为病毒的主要组成部分多为含碳的轻元素有机物，这类样品很容易被高能电子束穿过，造成其光学衬度较低，且由于共价键化合物的低稳定性使得其在传统电子显微镜的高加速电压 (一般为80-200 kV) 下非常不稳定，不适合直接进行观察。因此病毒的形态学观察一般采用负染色成像技术，需要在观测前对样品进行复杂的负染操作，占有大量的时间，且可能会掩盖掉一些病毒的形貌特征，造成使用透射电子显微镜观测病毒的门槛较高。为了解决这一难题，低压透射电子显微镜（Low Voltage Electron Microscope, LVEM）应运而生。LVEM突破了传统透射电子显微镜的80 kV加速电压的低限，研究人员可在低压下观察轻质生物样品，无需染色，简化了样品制备流程；同时该设备可在保证高图像对比度的前提下，使用温和的加速电压进行病毒形态学的检测和识别，能够识别以往可能被污渍和负染的瑕疵所掩盖的病毒特征。

提出了气相色谱法测定土壤中莠去津和3种有机磷农药敌敌畏、甲拌磷和乐果的含量的方法。样品经粉碎后用丙酮-二氯甲烷(1+1)混合溶剂经加速溶剂萃取仪在60℃静态萃取10min。采用Rtx-1701色谱柱分离,火焰光度检测器测定3种有机磷农药 采用Rtx-CLP II色谱柱分离,电子捕获检测器测定莠去津。结果表明:加速溶剂萃取比超声提取法处理样品的回收率高。敌敌畏、甲拌磷、乐果和莠去津的检出限(3S/N)分别为0.08,0.07,0.09,0.40μ g.kg-1。以空白土壤样品为基体,进行加标回收试验,回收率在82.0%～106.0%之间,相对标准偏差(n=7)在10.5%～16.9%之间。

Phenom 飞纳采用逸出功更低的单晶 CeB6 灯丝，可以在低温下使电子逸出，有效地降低色差，提升灯丝亮度，延长灯丝使用寿命，并通过电场以及磁场的控制实现电子的加速以及偏转，提供优质的 BSD 和 SED 图像。

产品优势■ 更低的运营成本■ 降低了对氦气的依赖性，更少受限于国际市场波动对氦气供应的影响■ 系统独立操作，独立于连接的检漏系统■ 氦气资源的回收利用符合环境保护法规（例如，DIN EN ISO14001）■ 全自动操作■ 连接的检测系统能自动排空检测物体典型应用■ 汽车行业（如安全气囊、铝圈、燃料系统部件、空调系统部件和空气悬架系统)■ 制冷技术(如蒸发设备、压缩机）■ 真空和超压技术(如连接件）■ 包装技术(如药剂制品和食品）■ 能源技术（如中压开关设备、过电压吸收器）■ 研发设备和实验室■ 加速器

研究了木塑复合材料在氙灯加速老化环境老化后的性能变化。结果表明,材料老化后表面发生褪色现象,弯曲强度和弯曲弹性模量分别损失10%和20%。通过扫描电子显微镜可以看出材料老化后表面出现微孔和细小裂缝,表面细长物质增多。接触角测试则证明了老化50 h后增多的细长物质为木粉,老化75 h和100 h后增多的细长物质为HDPE老化断链后的低分子物。通过X射线光电子能谱对材料表面元素状态及含量的变化分析可知,老化后材料表面发生了氧化。关键词　木塑复合材料　老化性能

目前测试涂层老化的最佳加速方法是SAE J2527。该方法规定在氙灯箱内进行老化试验，经滤光片过滤后，氙灯光源产生与太阳光相似的光谱功率分（SPD）；而且氙灯试验箱内的温度、湿度和在油漆样品上喷淋的液态水都能得到控制，希望能在短时间内模拟与佛罗里达户外曝晒相当的涂层失效状况。为了探究水在加速老化测试中的作用，保证水的类型（湿度或液态水）和水侵蚀时间必须与户外规定地点的水的类型和水侵蚀时间相一致，本文介绍了油漆样品在佛罗里达及其他地区户外曝晒条件中的水的量和类型的细节分析，还介绍了油漆样品在执行SAE J2527测试标准的老化设备中曝晒时的水喷淋量，并将这些结果进行相互比较，得出不同油漆体系的最大理论用水量，从数据可以分析出使用不同老化设备对油漆样品进行测试时的用水量是不同的。我们得出的带有建议性的结论是，通过改进加速老化的测试条件，可以在较短时间内提供更精确的结果。

PCT高压加速老化测试箱也称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验,最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%.H.饱和水蒸气及压力环境下测试,测试待测品耐高湿能力,针对印刷线路板(PCB&FPC),用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等试验目的,如果待测品是半导体的话,则用来测试半导体封装之抗湿气能力

在硬X射线成像中，每个探针平均扫描时间的减少对于因为束流造成的损伤是至关重要的。此外，系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中，扫描时间主要取决于装置的稳定性。Attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010（升之后的型号为IDS3010），被用于优化由多层波带片（MZP）和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性的测量。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。Attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量，装置的成像分辨率被提高到了± 10nm。

傅立叶变换红外 (FTIR) 成像是一项成熟的分析方法，可同时获得微米级范围的光谱和空间信息。这一技术已广泛用于多种不同的应用领域，从高分子科学到生物医学成像。近年来，人们越来越关注通过主要使用基于同步加速器的系统，来提高受到衍射极限制约的 FTIR 成像系统的空间分辨率。在本应用简报中，我们展示了一项使用现有物镜实现放大增强的新型方法。最终，我们的 FTIR 系统显示出 1 ?m/像素级别的高空间分辨率成像能力。独特的是，这种构造在设置不同的放大倍率时不需更换物镜，从而保持了常规物镜相对较大的工作距离（约 21 mm）。

PCT高压加速老化测试最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，其常见的故障原因有爆米花效应、主动金属化区域腐蚀造成之断路封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。

硝基甲烷在比赛中的作用在直线加速赛中，硝基甲烷是顶级燃油的主要成分，另一种主要成分为甲醇。燃料成分的构成改变取决于比赛类型。在每场比赛前，要测量燃料成分以符合比赛及发动机条件，例如环境温度、湿度。如果燃料组成成分错误，可能会损坏发动机，导致不能参加比赛，最糟糕的情况是使车手暴露于危险中。

本文使用岛津电子探针显微分析仪EPMA-1720依据讨论的检测方法对两类硅酸盐玻璃试样进行了定性谱图的测试解析和微区定量测试，获得了理想的测试结果。针对硅酸盐玻璃的微区成分定量测试难点和分析方法进行了探讨，同时对加速电压的选择和含有电子束照射敏感的碱金属元素测试等注意事项进行了说明。

通过对比各大汽车盐雾腐蚀试验方法对汽车车身铝合金板材复合涂层 加速腐蚀试验进行研究，得出Q-FOG CRH盐雾腐蚀试验箱可以很好的模拟户外汽车腐蚀情况。

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