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电子衍射分析仪

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电子衍射分析仪相关的资讯

  • 反射高能电子衍射仪
    反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。  R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率◆经久耐用,稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤(相当于普通RHEED的1/500-1/2800)◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令
  • 190万!中国科学院金属研究所旋进电子衍射仪采购项目
    项目编号:22CNIC-031692-016项目名称:中国科学院金属研究所旋进电子衍射仪采购项目预算金额:190.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):190.0000000 万元(人民币)采购需求:名称:旋进电子衍射仪数量:一套简要技术参数:旋进电子衍射仪需与我所现有Spectra 300球差校正透射电镜(品牌:Thermo Fisher Scientific)配套使用。使用旋进电子衍射技术在透射电镜上获得亚埃分辨率、接近于运动学强度的电子衍射花样。基于旋进电子衍射花样,在纳米尺度对纳米晶体进行结构分析,包括纳米晶体取向和相分布分析、晶体内部应变分析、纳米晶体的晶体结构解析等。* 旋进电子束的最小扫描步长 0.5nm*空间分辨率(样品平面XY方向) 1nm*空间分辨率 3nm合同履行期限:合同签字生效后6个月内本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 190万!中国科学院金属研究所旋进电子衍射仪采购项目
    项目编号:22CNIC-031692-016项目名称:中国科学院金属研究所旋进电子衍射仪采购项目预算金额:190.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):190.0000000 万元(人民币)采购需求:旋进电子衍射仪需与我所现有Spectra 300球差校正透射电镜(品牌:Thermo Fisher Scientific)配套使用。使用旋进电子衍射技术在透射电镜上获得亚埃分辨率、接近于运动学强度的电子衍射花样。基于旋进电子衍射花样,在纳米尺度对纳米晶体进行结构分析,包括纳米晶体取向和相分布分析、晶体内部应变分析、纳米晶体的晶体结构解析等。* 旋进电子束的最小扫描步长 0.5nm*空间分辨率(样品平面XY方向) 1nm*空间分辨率 3nm合同履行期限:合同签字生效后6个月内本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 基于三维电子衍射技术解析含有序硅羟基纯硅分子筛结构
    近日,大连化物所低碳催化与工程研究部(DNL12)郭鹏研究员、刘中民院士团队与南京工业大学王磊副教授团队合作,在分子筛结构解析研究中取得新进展,利用先进的三维电子衍射技术(cRED)直接解析出含有序硅羟基的纯硅分子筛结构。分子筛是石油化工和煤化工领域重要的催化剂及吸附剂,分子筛的性能与其晶体结构密切相关。分子筛通常为亚微米甚至纳米晶体,传统的X-射线单晶衍射法无法对其结构进行表征。在前期工作中,郭鹏和刘中民团队聚焦先进的电子晶体学(包括三维电子衍射和高分辨成像技术)和X-射线粉末晶体学方法,对工业催化剂等多孔材料进行结构解析,并且在原子层面深入理解构—效关系,为高性能的工业催化剂/吸附剂的设计及合成提供理论依据。团队开展了一系列研究工作,包括针对定向合成SAPO分子筛方法的开发(J. Mater. Chem. A,2018;Small,2019)、酸性位点分布的研究(Chinese J. Catal.,2020;Chinese J. Catal.,2021)、吸附位点的确定(Chem. Sci.,2021)、利用三维电子衍射结合iDPC成像技术解析分子筛结构并观测局部缺陷(Angew. Chem. Int. Ed.,2021)等。本工作中,研究人员利用先进的三维电子衍射技术,从原子层面直接解析出一种含有序硅羟基排布的新型纯硅沸石分子筛的晶体结构,其规则分布的硅羟基与独特的椭圆形八元环孔口结构息息相关。研究人员通过调变焙烧条件,在有效去除有机结构导向剂的同时保留了分子筛中有序硅羟基结构,实现了丙烷/丙烯高效分离,并从结构角度揭示了有序硅羟基和独特的椭圆形八元环孔口对丙烷/丙烯的分离作用机制。相关研究成果以“Pure Silica with Ordered Silanols for Propylene/Propane Adsorptive Separation Unraveled by Three-Dimensional Electron Diffraction”为题,于近日发表在《美国化学会志》(Journal of the American Chemical Society)上。该工作的第一作者是我所DNL1210组博士后王静,该工作得到了国家自然科学基金、中科院前沿科学重点研究等项目的资助。
  • 加拿大OCI公司MCP-LEED 微通道板式低能电子衍射光谱仪在南方科技大学中标
    创元公司代理的加拿大OCI Vacuum Microengineering Inc.公司生产的MCP-LEED 微通道板式低能电子衍射光谱仪近日在南方科技大学中标。OCI公司是一家纳米表面结构和成分分析仪器专业制造商。尤其擅长为MBE、STM、XPS等超高真空设备提供LEED、AES、电子枪和离子枪等重要部件。主要应用于纳米技术、微电子技术、薄膜技术、平板显示器和各种传感器等领域。该公司生产的MCP-LEED 低能电子衍射光谱仪,有着100度俘获角的镀金钨半球栅格、具备先进的带有外径为10mm透镜的完整的微型电子枪、整合快门可达100mm线性运动、LEED自动图像采集和自动分析等先进特性。MCP-LEED 微通道板式低能电子衍射光谱仪是分析晶体表面结构的重要方手段,可广泛用于表面吸附、腐蚀、催化、外延生长、表面处理等材料表面科学与工程领域。
  • 晶泰科技微晶电子衍射平台(MicroED)
    2018年,《Science》评选出“年度十大科学突破”,MicroED微晶电子衍射技术便是其中之一。这一技术采用高能电子束,可以在纳米级晶体颗粒上产生足够强的衍射信号。不需要进行单晶培养,只需要微小尺度(~100 nm)的粉末晶体样品就足以产生电子衍射图案供晶体结构解析,大大降低了对晶体样品在形状、尺寸、纯度方面的要求,可以帮助研发人员摆脱对单晶的依赖。“英雄”需有用武之地 ——MicroED技术应用场景MicroED技术是一个普适性的晶体结构解析方法,原则上说,有机小分子、盐、水合物、共晶等晶体结构相对简单的体系,以及金属-有机框架材料(Metal-Organic Framework, MOF)、共价有机框架材料(Covalent-Organic Framework, COF)、多肽,甚至蛋白质等复杂晶体体系,都可以通过MicroED获取其晶体结构。当然,样品需要是晶体,这是测试的前提。过去需要经过漫长培养单晶过程才能获取的晶体结构,现在依靠MicroED技术,可快速得到解析结果,大大加速了新药研发进程。MicroED,是当之无愧的“科学突破”。晶泰科技MicroED微晶电子衍射平台晶泰科技开发的高度自动化的MicroED晶体结构解析平台, 无需单晶培养,仅需要少量(mg)粉末样品,最快可在1天内完成高精度的晶体结构测定,至今已成功完成100多个小分子药物的晶体结构解析。● MicroED微晶电子衍射平台应用场景● 晶体结构解析● 绝对构型判定● 盐与共晶区分● 混合物组分结构测定● 同分异构确定● 技术优势 (对于理想样品)● 无需单晶培养● 1mg样品消耗量● 1天完成样品结构解析● 95%以上解析成功率● 100%绝对构型解析● 测试过程案例分享● 案例 1:盐与共晶区分——盐酸育亨宾成盐位点确定在药物固体形态研究中,常常需要确定API分子与配体分子之间的相互作用,例如在盐型/共晶筛选时,研发人员需要确定获得的样品究竟是盐还是共晶。如果样品是盐,还需要进一步确定具体的成盐位点。而直接观测到氢原子位点则可以帮助研发人员解决这些问题。可我们该如何判断氢原子位点呢?传统方法:传统的固态表征手段的弊端在于难以确定API与配体分子是否发生质子转移以及具体的转移位点,同时由于氢原子对于X射线的散射能力非常微弱,较难通过单晶XRD解析直接观测到氢原子所在。晶泰方法:由于氢原子对电子有较强的散射能力,因此相比于传统方法,MicroED技术的优势则是更易于定位氢原子,从而判断API分子与配体之间是否形成盐或者共晶,如果成盐还可确定API分子的成盐位点,方便快捷。通过MicroED解析即可确定下图中所指氮原子被质子化,从而确定盐酸育亨宾的成盐位点。盐酸育亨宾成盐位点确定● 案例 2 :手性样品绝对构型判定——某手性样品绝对构型解析准确判断手性药物分子的绝对构型是药物研发过程中的关键步骤。很多项目需要通过晶体结构解析来研究其所合成的药物分子的准确构型。传统方法:通过单晶XRD解析样品晶体的绝对结构来获知其中API分子的绝对构型,这样的难点在于需要培养大尺寸高质量的样品单晶,而这对于很多药物分子是非常困难的。晶泰方法:晶泰科技利用MicroED技术,其优点是可以直接基于粉末样品进行晶体结构解析,很好地解决了单晶XRD解析中必须培养大尺寸单晶的难题。通过结合动力学精修,不需要更改现有MicroED实验流程,不需要任何额外的实验步骤,也对样品数据没有任何额外需求,只需要额外的3-5天计算所需时间即可获取手性样品的绝对构型。手性样品绝对构型解析流程
  • 新型反射高能电子衍射仪RHEED陕西师范大学中标
    滨州创元设备机械制造有限公司全权代理的日本著名高科技研究设备生产厂家R-DEC公司的新型反射高能电子衍射仪(绑定美国专用高级解析软件k400-FW)近期在西安的陕西师范大学投标中中标.近日将签定技术协议和外贸易合同. 该仪器主要用于实时监控MBE等制膜装置中成膜过程中结晶状态.对研制新材料具有极其重要价值.虽然该公司在世界范围内已经有三百多台业绩,但是在中国则鲜为人知.尤其是同时绑定美国专用高级解析软件k400-FW的导入方式在中国尚属首例.相信陕西师范大学使用这套绑定美国专用高级解析软件的新型RHEED将获得世界最高水准的RHEED像,相信它将帮助国家千人计划获得者刘生忠博士/教授在中国仍然得以使用世界一流设备继续从事世界最高水平的研究.预计这种绑定美国专用高级解析软件的新型RHEED将越来越受到中国用户的青睐.
  • Rigaku将在西班牙加泰罗尼亚化学研究所安装XtaLAB Synergy-ED电子衍射仪
    我们Rigaku公司将在加泰罗尼亚化学研究所(ICIQ)安装欧洲首台XtaLAB Synergy-ED电子衍射仪。这将是在日本境外安装专用电子衍射仪的第一单。这台仪器将在ICIQ的研究中发挥关键作用:它将帮助ICIQ在其参与的大多数研究分支中解析小体积有机分子、有机金属复合物、金属有机框架(MOF)、共价有机框架(COF)、肽和大体积超分子实体的晶体结构。Rigaku XtaLAB Synergy-ED是世界上首台全包式电子衍射仪。这台由Rigaku和日本电子株式会社(JEOL)共同开发的仪器允许晶体学家突破单晶XRD甚至同步加速器的极限,使其在某些情况下能够解释小于50纳米的晶体结构。ICIQ成立于2000年,是世界化学领域排名前十的研究机构。在ICIQ的分析技术组合中加入电子衍射将是一项重要的改进,这将有助于该机构通过其多个研究小组做出更多科学贡献。在研究工作流程和工业项目中,生长足够大小的晶体属于技术难题,电子衍射能够缓解此类瓶颈,从而加速实现研究成果,并提供以前无法实现的结果。在被问及ICIQ团队为何选择Rigaku XtaLAB Synergy-ED时,ICIQ表征技术部经理Eduardo C. Escudero-Adán博士表示:“我们已经对仪器进行了现场测试。我们的感受是,面前这台制作精良的设备能够满足我们在技术方面的预期。最明显的一点是软件与设备的良好集成,这使得用户可以轻松地操作设备。它还强调了一个事实,即实践证明,低温测量系统对于测量敏感样品至关重要。”Rigaku单晶业务全球销售与营销总经理Mark Benson博士评论道:“ICIQ已经拥有Rigaku的单晶XRD系统,因此过渡到电子衍射应该是轻而易举的,因为这两套系统都使用相同的用户启发式CrystAlisPro软件进行仪器控制和结构测定。我们期待进一步支持ICIQ的研究工作,并在不久的将来看到利用这种相对新颖的技术所带来的相关成果的发表。”如需了解关于XtaLAB Synergy-ED电子衍射仪或Rigaku其他单晶解决方案的更多信息,请访问https://www.rigaku.com/products/crystallography。
  • 高通量、多信息通道、高分辨电子衍射成像技术获江苏省物理学会科学技术一等奖
    p  近日,第二届江苏省物理学会公布了江苏省物理杰出青年奖、获江苏省物理教育贡献奖、江苏省物理学会科学技术奖获奖名单。共有2人获江苏省物理杰出青年奖,4人获江苏省物理教育贡献奖,2项成果分获江苏省物理学会科学技术奖一等奖和二等奖。南京大学王鹏教授团队的《高通量、多信息通道、高分辨电子衍射成像技术》项目获江苏省物理学会科学技术奖一等奖,项目完成人为王鹏,丁致远,高斯,宋苾莹。/pp  strong王鹏教授简介/strong:/pp style="text-align: center "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/d85fa0aa-54ab-4149-8421-31c1ec66e601.jpg" title="南京大学教授 王鹏.jpg" alt="南京大学教授 王鹏.jpg"//pp style="text-align: center "strong南京大学教授 王鹏/strong/pp  王鹏,现为南京大学现代工程与应用科学学院教授,博士导师,首批国家海外高层次人才计划入选者。2006年英国利物浦大学博士学位,先后在英国国家超高分辨率电镜室SuperSTEM和牛津大学电镜中心作博士后研究。2012年回国到南京大学任教, 组建南京大学亚原子分辨透射电镜中心,具有国际领先水平两台高分辨透射电镜(球差校正TITAN G2 60-300 Cubed和TF20)。/pp  主要从事以球差校正电子显微学和电子能量损失能谱学的研究,以及其在信息和能源存储等低维功能材料高分辨表征上的应用。已在SCI期刊上发表论文100余篇,包括Nature Electronics、Nature Catalysis、Nature Communications、Physical Review Letters、Advanced Materials、Nano Letter 和Nano Energy等。获得多项发明专利,包括10件中国专利,其中7件授权。主持科技部“973“项目和多项国家自然科学基金,参与国际合作项目以及其他国家和省部级项目的研究。/pp  strong研究方向/strong:/pp  高分辨成像与智能算法、信息和能源存储材料表征、二维材料原子结构研究/pp  strong电子衍射成像研究部分成果/strong:/pp  Song, Biying and Ding, Zhiyuan and Allen, Christopher S. and Sawada, Hidetaka and Zhang, Fucai and Pan, Xiaoqing and Warner, Jamie and Kirkland, Angus I. and Wang, Peng.(2018). Hollow Electron Ptychographic Diffractive Imaging .Phys. Rev. Lett., 121(14),146101.doi :10.1103/PhysRevLett.121.146101  /pp  Gao, S., Ding, Z., Pan, X., Kirkland, A., & Wang, P. (2019). 3D Electron Ptychography. Microscopy and Microanalysis, 25(S2), 1802-1803. doi:10.1017/S1431927619009747/pp  Song, B., Ding, Z., Allen, C., Sawada, H., Pan, X., Kirkland, A., & Wang, P. (2019). Electron ptychography using an ultrafast direct electron detector. Microscopy and Microanalysis, 25(S2), 20-21. doi:10.1017/S1431927619000837/pp  /ppbr//p
  • 电镜、电子衍射专家在列|“科学探索奖”48人名单揭晓:每人奖300万元
    9月23日,第五届“科学探索奖”颁奖典礼在深圳隆重举行,来自十大领域的获奖青年科学家首次集体亮相,并接受奖杯的荣誉。今年,共有48人获得“科学探索奖”(获奖名单见文末),每位获奖人将获得由腾讯基金会资助的300万元奖金。科学技术的进步在很大程度上依赖于科学仪器的发展。在此次获奖的48位科学家中,有几位科学家致力于仪器的研究和发展,以下列举了部分科学家的研究方向:高 鹏(北京大学):在电子显成像与谱学新方法、原子尺度界面研究方面做出了贡献。向 导(上海交通大学):在提高自由电子激光相关性和超快电子衍射分辨率方面做出了贡献。石发展(中国科学技术大学):在单分子磁共振的发展与生医交叉领域的应用方面做出了贡献。吴凯丰(中国科学院大连化学物理研究所):在量子点超快自旋光物理与光化学方面最初了贡献。宋清海(哈尔滨工业大学):在微纳激光角动量操控及超快开关方面做出了贡献。彭新华(中国科学技术大学):在自旋量子调控及其量子信息科学应用方面做出了贡献。姚宏(清华大学):在强关联量子物态和新奇量子相变的理论方面做出了贡献。第五届“科学探索奖”获奖人合影留念关于“科学探索奖”“科学探索奖”于2018年设立,每年评选一次,由杨振宁、李政道、丁肇中、林毅夫、沈南鹏等14位知名科学家与腾讯基金会发起人马化腾共同发起,目前由杨振宁担任评委会主席。该奖项覆盖基础科学与前沿科技十个领域,支持在中国内地及港澳地区全职工作、45周岁及以下的青年科技工作者,鼓励他们心无旁骛地探索科学“无人区”。每位获奖者将获得奖金300万元人民币以及证书和奖杯。迄今为止已累计资助248位青年科学家。他们来自26个城市,90所科研机构,平均年龄41岁。截至今年6月,获奖人在获奖当年及其后,共有7位研究成果入选年度“中国十大科学进展”,2位当选中国科学院院士,多人在国际核心科学期刊上发布重大成果。正是有了这些科学家在各自领域的辛勤耕耘和不断探索,才有了理论的创新、科技的进步、社会的发展。科学探索奖的设立无疑对基础研究提供了重要的支持,使科学家们能够专注于科学研究,不受其他因素的干扰,从而保持了他们对科学探索的纯粹热情。这种投入和关注对提升科学创新活力起到了积极的推动作用。第五届“科学探索奖”获奖名单(按姓氏拼音排序)数学物理学丁 剑 北京大学何 颂 中国科学院理论物理研究所彭新华 中国科学技术大学王国祯 复旦大学向 导 上海交通大学姚 宏 清华大学化学新材料邓贤明 厦门大学刘心元 南方科技大学吴凯丰 中国科学院大连化学物理研究所许华平 清华大学曾 杰 安徽工业大学/中国科学技术大学天文和地学成里京 中国科学院大气物理研究所范一中 中国科学院紫金山天文台Joseph Ryan MICHALSKI 香港大学倪彬彬 武汉大学田 晖 北京大学生命科学白 洋 中国科学院遗传与发育生物学研究所曹 鹏 北京生命科学研究所葛 亮 清华大学巫永睿 中国科学院分子植物科学卓越创新中心张国捷 浙江大学医学科学白 凡 北京大学姜长涛 北京大学刘 强 天津医科大学总医院王 磊 复旦大学许琛琦 中国科学院分子细胞科学卓越创新中心信息电子程 翔 北京大学耿 新 东南大学卢策吾 上海交通大学宋清海 哈尔滨工业大学唐 杰 清华大学能源环境丁 一 浙江大学刘 诚 中国科学技术大学王殳凹 苏州大学张 强 清华大学张新波 中国科学院长春应用化学研究所钟文琪 东南大学先进制造谷国迎 上海交通大学陶 飞 北京航空航天大学王 博 大连理工大学交通建筑戴 峰 四川大学周 颖 同济大学邹 丽 大连理工大学前沿交叉高 鹏 北京大学石发展 中国科学技术大学吴艺林 香港中文大学曾坚阳 西湖大学张 强 中国科学技术大学
  • 国际衍射数据中心(ICDD)正式发布PDF-5+标准衍射数据库
    2023年9月,国际衍射数据中心(ICDD)正式发布PDF-5+标准衍射数据库。PDF-5+标准衍射数据库为世界上最大的标准衍射数据库,整合了之前的PDF-4+数据库和PDF-4 Organic数据库中的全部数据,收录物相的标准衍射数据超过106万条,其中超过44万张卡片为无机物,超过62万张卡片为有机物,满足所有XRD数据物相鉴定和定量分析的需求。PDF-5+数据库中收录的所有数据都进行了审核,并给给出质量标记,超过95万张卡片中收录了参比强度RIR(I/Ic)值,可用于K值法定量分析。PDF-5+数据库结合JADE Pro或JADE Standard软件可实现结晶材料、半结晶材料的物相鉴定和定量分析,也可与主流的XRD设备配套的软件兼容。同时,不仅仅含有物相标准衍射数据,还收录了单晶的结构数据,结合JADE Pro/JADE Standard软件、或第三方软件,可实现三种定量分析方法:RIR法,Rietveld精修法和全图拟合法(Whole Pattern Fitting)。PDF数据库全球唯一ISO 认证晶体学数据库粉末衍射和单晶结构的综合数据库XRD数据分析唯一标准数据库PDF-5+数据库专门为正确鉴定粉末XRD数据的物相和定量分析而设计,收录的数据,除了ICDD收录的标准衍射数据和单晶结构数据之外,还加入了世界上知名的单晶结构数据库的数据,收录涵盖的数据库有:ICDD Powders (00) – International Centre for DiffractionData (国际衍射数据中心)ICSD (01) – Fachinformationszentrum Karlsruhe (FIZ) (国际晶体结构数据库)NIST (03) – National Institute of Standards and Technology(美国国家标准技术研究所数据库)MPDS (04) – MaterialPhases Data System, Linus Pauling File (LPF,莱纳斯鲍林文件)ICDD Single Crystal Data (05) – InternationalCentre for Diffraction Data (国际衍射数据中心-单晶)PDF-5+数据库可以满足几乎所有的材料领域的分析需求,无机材料如水泥、金属和合金、电池、矿物和固态设备,有机材料包括药物、染料、颜料和聚合物,以及其他材料,PDF-5+数据库中均有收录。PDF-5+数据库中对于单个PDF卡片而言,不仅仅收录了X射线的标准衍射数据,同时还有同步辐射标准衍射数据、电子标准衍射数据和中子标准衍射数据等,满足几乎所有粉末XRD数据的分析需求!PDF-5+数据库可兼容的XRD分析软件有 JADE Pro、JADE Standard、以及主流衍射仪自带的分析软件。如果您没有XRD设备,也不必担心分析数据的问题。PDF-5+免费赠送物相分析模块SIeve+SIeve+支持分析一维、二维XRD数据,进行物相检索分析,同时支持K值法定量分析,值得一提的是,SIeve+可以分析中子衍射数据。PDF-5+2024收录概况无机-有机综合数据库1061,800+套特色衍射数据条目;586,700+PDF卡片内含有原子坐标;442,600+ 套无机物数据623,000+ 套有机物数据956,600+ 套数据含有参比强度I/Ic值,快速进行RIR定量分析;内含数据检索软件;世界上最大、最多样化综合性晶体学数据库;免费赠送物相检索程序 SIeve+,可导入一维、二维粉末XRD数据进行物相检索和定量分析。应用领域PDF-5+2024版数据库,所收录物相的标准衍射卡片涵盖约50多种科学研究领域,如电池材料、热电材料、超导材料、金属材料、陶瓷材料、矿物材料、金属合金、药物、聚合物等。PDF数据库是材料学、物理学、化学、地质学、药物学、生物学、检验检疫、司法鉴定等科学研究及工业生产等领域必备数据库。 检索方式PDF-5+ 2024数据库支持80多种物相搜索方式,如研究领域、数据来源、数据质量、元素周期表、空间群、晶体学参数、化合物名字、衍射数据、材料的物理性质以及参考文献等进行物相搜索,为用户快速准确搜索、鉴定物相提供便利。1. 研究领域、数据来源、数据质量、元素周期表2. 化学式相关检索3. 按类别、官能团检索4. 晶体学参数、空间群检索5. 衍射数据检索6. 参考文献检索7. PDF卡片号检索PDF-5+标准衍射卡片常规物相信息PDF-5+标准衍射卡片,每张卡片可提供超过130种信息,用户可快速方便把握材料整体概况。1. PDF卡片号每张PDF卡片都有属于自己唯一的编号,每张PDF卡片号对应一个物相。PDF卡片号由三组数据、9位数组成,XX-XXX-XXXX,如铁基超导体 KFe2Se2 的PDF卡片号为 00-063-0202,其中00代表数据来源,该卡片来自于ICDD的粉末衍射数据库,063代表收录的第63卷,0202代表该PDF卡片对应的编号。2. 衍射波长PDF-5+中,用户可选择的X射线衍射靶材有Cu、Fe、Mo、Co、Cr、Mn、Ag和用户自定义波长,同时含有中子衍射(固定波长和TOF中子数据)和电子衍射数据等。3. 衍射数据,衍射峰的相对强度、d-I-(hkl)列表PDF卡片中最强峰强度归一化为1000,其他所有衍射强度均为相对衍射强度;三强线对应的晶面间距d值为加粗字体。1) PDF-4卡片中,衍射的强度分为固定狭缝强度(Fixed SlitIntensity),可变狭缝强度(Variable Slit Intensity),积分衍射强度(Integrated);2) 如果相对强度I值后缀有m的话,表示存在其他晶面衍射峰的相对衍射强度与该晶面衍射峰的相对衍射强度相等。以PDF卡片号为00-063-0202 的KFe2Se2化合物为例,PDF卡片信息如下:4. PDF卡片中的物相基本信息PDF 卡片中物相的基本信息,主要包含以下几点:1) PDF卡片的状态(Status),分为 Primary,Alternate和Deleted三种;Primary –通常是表明PDF卡片收录的数据质量最好,且为室温下的衍射数据;Alternate – 某一材料诸多PDF卡片中的一张PDF卡片,并不一定表明该PDF卡片收录的质量差;Deleted – 该PDF 卡片有目前尚未解决的错误,已经被目前的PDF数据库删除的数据。但该卡片仍然可以检索,方便用户参考该数据。一般情况下,标识为“Deleted”的PDF卡片,会有质量更好的PDF卡片代替“Deleted”的PDF卡片。2) PDF卡片的质量标记(Quality Mark),ICDD出版的PDF卡片是世界上唯一对所有收录的数据,进行质量标记的,每张PDF卡片均经过不同级别的编辑进行审查、编辑、标准化。如果同一物相对应有多张PDF卡片时,一般建议选择质量标记等级较高的卡片使用。Quality Mark 中各个质量标记具体的定义可关注该公众号其他专业文章。3) 收集该张卡片时的温度和压强。值得注意的是,在物相鉴定的过程中,一定要选择和实验相符的温度和压强。否则,物相鉴定的结构可能是错误的。4) 该物相的化学式、结构式、原子比、原子重量比、通用的英文名称、矿物名称、IMA编号、CAS编号、收录时间等。5. 收集PDF卡片时所用的实验条件 (Experimental)主要包括X射线波长、滤光片、相机半径、内标、d值、强度等信息。6. 物相的晶体学数据(Physical、Crystal)主要包括晶系、空间群、晶胞参数、晶胞体积、化学式单位数Z,密度、F因子、参比强度RIR值I/Ic、R因子等信息。1) 一般情况下,F因子大于15,则认为该物相的XRD图比较可信。2) 参比强度I/Ic 为待测化合物与标样刚玉重量1:1时,待测化合物与标样刚玉最强峰的积分强度比值。X射线波长影响I/Ic值,大多数收集PDF卡片时,采用的X射线源是Cu Kα1(1.5406 A)。如实验中使用的是其他波长的X射线源,在分析物相的相对含量时,需要特别注意收集该PDF卡片时所用的波长,此时可能该PDF卡片中的I/Ic值不再具有参考价值。如果该PDF卡片对应有结构数据,可以使用JADE standard 或者JADE Pro软件,理论计算不同波长下,该物相的I/Ic的具体值。7. 单晶结构数据 (Structure)主要包括晶体学参数、空间群对称操作、原子坐标、占位信息、温度因子等信息。8. 物相对应的类别 (Classifications)主要包括所属的子领域、矿石分类、晶体结构原型等信息。9. 交叉引用的相似PDF卡片 (Cross-Reference)显示一系列与当前PDF卡片可交叉引用的PDF卡片的基本信息,并标明交叉引用的PDF卡片的状态(Primary, Alternate, or Deleted)或者是交叉引用的PDF卡片的衍射图与当前PDF卡片具有“相关相”,“相关相”是指二者具有相同的空间群和分子式,其化学计量比可能略有变化。10. 参考文献(Reference)主要显示当前PDF卡片所参考的文献信息,不同的PDF卡片参考的文献数量不同。11. 编辑评论(Comments)主要显示当前PDF卡片的评论,该评论来自卡片的贡献者或者ICDD编辑,一般包含样品合成方法、衍射收录条件等基本信息,如果当前PDF卡片的质量较差时,编辑也会注明其原因。很多人在使用PDF卡片中,往往忽略了该项信息。很多情况下,PDF卡片中编辑评论部分,含有该物相的关键信息,这些关键信息往往可以有效帮助用户在物相检索中进行二次判断。PDF-5+/4系列标准衍射卡特色物相信息PDF-5+/4系列卡片中,除了含有传统中PDF-2卡片的所有内容之外,还附加了系列的附加特色功能,包含材料纯相的实验衍射谱、电子/中子衍射谱、二维粉末衍射谱(2D-XRD)、高低温衍射谱、原位高压衍射谱、结构信息、键长键角、选区电子衍射(SAED)、电子背散射衍射谱(EBSD)等信息。1. 温度系列(Temperature Series)PDF-5+/4系列数据库中收录了部分物相的原位的高低温衍射数据,通过不同温度的衍射数据,可以方便的查找材料的热膨胀性能、相变等。以PDF卡片号为00-046-1045 SiO2为例,PDF-4+数据库中收录的温度变化范围从10 K到1813K不等。2. 工具箱(Toolbox)Toolbox功能区域中,用户可根据需求自定义波长,计算该物相的峰位、密勒指数、晶面间距、晶面夹角等信息。3. 物理化学性质文件(Property Sheet)PDF-5+/4系列数据库中,部分PDF卡片(如电池材料、离子导体材料、储氢材料、半导体材料等)包含物理性质文件(Property Sheet),以文档的形式显示该物相的附加信息,如电池材料和离子导体材料包含导电数据等。用户可点击Property Sheet图标,将自动生成一个文档,文档中显示物相的基本物理性质,主要有文字和图表格式,并附有相关的参考文献。以PDF卡片号为00-004-0545 单晶Ge为例,其Property Sheet中附加的物相的基本物理性质的文档如下图所示:4. 2D或3D结构示意图对于有机物而言,通常PDF卡片中显示的为二维(2D)结构示意图;对于无机物而言,通常PDF卡片中显示的为三维(3D)结构示意图且为动态示意图;对于一部分物相,PDF卡片中同时收录了2D和3D的结构示意图。通常在2D结构示意图中,C原子和H原子以省略的形式表示,但当C原子和H原子存在歧义时,PDF卡片将在2D结构中将其特别标注出来。用户可点击2D/3D图标,将显示物相的2D或3D的结构示意图。以PDF卡片号为02-094-1952的C17H12N2O4为例,点击2D/3D图标,其2D/3D结构示意图如下所示,其中3D结构为动态示意图,本实例仅仅显示了其中一个静态示意图的截面:5. 键长键角信息(Bonds)PDF-5+/4系列数据库中,提供物相详细的键长、键角、原子坐标、对称性、晶面间距、原子间距、原子分布等信息,可应用于电子对分布函数数据(PDF)的分析。6. 选区电子衍射(SAED)以PDF卡片号为00-065-0110 Ag3S(NO3)的选区电子衍射图(SAED)为例7. 电子背散射衍射(EBSD)8. 二维德拜环PDF-4系列数据库中提供物相的二维(2D)衍射环(Ring)谱图,该谱图为模拟图,假定探测器位于入射光束透射几何的居中位置,待测物相为随机取向的微晶颗粒。9. 模拟XRD图及纯相的XRD实验图PDF-4系列数据库中提供物相的模拟衍射图(Simulated Profile)及纯相实验衍射谱(Raw DiffractionData)。以PDF卡片号为 00-063-0202铁基超导体 KFe2Se2 为例:PDF-5+ 2024数据库亦可直接导入其他常用的搜索软件中,如JADE、EVA、 Highscore等,实现真正无缝衔接,为科研提供不可缺少的帮助。
  • 《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》国标启动会成功召开
    一年之计在于春,2月3日立春之际,《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》国家标准(计划号20204883-T-469)启动会于云端成功召开。标准起草单位及国内外主流激光粒度仪生产厂商的近40位代表出席了活动。会议由全国颗粒标准化分技术委员会秘书长李兆军主持,项目负责人、中国计量科学研究院张文阁详细介绍了该标准立项的背景、意义及过程,并对接下来的工作安排与分工进行了部署。激光粒度分析仪是用于测量颗粒材料粒度大小和分布的仪器。激光(衍射)粒度分析仪与其它粒度测量仪器相比,具有准确可靠、测试速度快、重复性好、操作简便、适用领域广泛等突出特点。目前,国内外激光粒度仪生产厂家众多,我国市场存量达数万台。在激光衍射粒度仪的生产和使用过程中,仪器技术指标及试验验证方法更受厂商及用户关注,而现有标准和技术规范对此基本没有涉及,亟需相关标准的修订。基于此,中国计量科学研究院等单位通过中国颗粒学会测试专业委员会联合相关单位的科研与技术人员,于2019年初组建了标准起草工作组(以下简称“工作组”),工作组以JJF1211-2008、IS013320等相关标准为基础,经过多次讨论、反复修改完成了《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》草案,于2019年10月在全国颗粒标准化分技术委员会年会上讨论通过,之后通过国标委组织的专家答辩,于2020年12月28日正式批准立项。《颗粒 激光衍射粒度分析仪 通用技术要求》国家标准拟对激光衍射粒度分析仪的技术指标、试验项目、试验方法和仪器测量结果的不确定度评定方法进行规定,适用于静态激光衍射粒度分析仪的通用技术要求和性能评价。新标准的发布可进一步保障激光粒度仪的重复性、准确性、分辨率、测试范围,为用户提供更可靠的测试结果。项目启动后,工作组将汇总各相关单位的意见和建议,经充分讨论后形成标准征求意见稿,预计今年11月在全国颗粒标准化分技术委员会年会上对标准送审稿进行审查。仪器信息网将持续关注本标准项目进展情况并报道。
  • 瑞安泽中标新疆天山铝业X射线衍射分析仪购置项目
    瑞安泽正式成为了新疆天山铝业的入围供应商!在新疆天山铝业公司项目:X射线衍射分析仪购置项目中,瑞安泽深入分析客户需求,根据客户的切实需要匹配了最适合的产品,以专业的技术积累以及良好的服务态度获得了客户的充分信赖,就此也达成了作为天山铝业入围供应商的第一单业务。
  • 布鲁克发布OPTIMUS? -革命性的扫描电镜透射菊池衍射解决方案
    pspan style="font-size: 16px "  布鲁克公司于2015年7月9日,在德国柏林发布了最新的/spanspan style="font-size: 16px color: rgb(0, 112, 192) "a href="http://www.instrument.com.cn/zc/53.html" target="_blank" title=""扫描电镜/a/spanspan style="font-size: 16px "透射菊池衍射专用探头OPTIMUS? TKD。这一革命性的产品最大的特点是配置了可直接置于透射样品下面的水平式磷屏。OPTIMUS?可与布鲁克所有e-Flash 传统竖直磷屏EBSD探头互换,实现一个探头提供EBSD和TKD两种最优解决方案。/spanimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201510/noimg/993e07d1-544d-4e8c-8ed2-4bad42769f0c.jpg" style="float:right " title="OPTIMUS.jpg"/span style="font-size: 16px "/spanbr//pp  OPTIMUS? TKD提供了TKD技术最优的几何结构。与采用传统竖直磷屏EBSD的TKD相比,具有两方面的优势,即,可从信号最强的地方采集Kikuchi花样 最大程度的消除花样畸变。一方面,由于OPTIMUS?采集信号的增强,与传统TKD相比,用户可在相同的扫描电镜束流条件下获得更快的采集速度或者采用更低的束流,以获得更好的空间分辨率。同样,由于低能电子更利于在晶格衍射,可通过降低扫描电镜加速电压分析更薄的样品。另一方面,Kikuchi花样畸变越小,越有利于花样探测和标定精度。/pp  OPTIMUS? 还可以用于获得类似于透射电镜才能观察到的选区电子衍射花样(SAED)。然而,购买扫描电镜加上OPTIMUS?成本仅仅是购买透射电镜的一小部分。/pp  布鲁克独有的ARGUS?成像系统与OPTIMUS?集成,可以成与透射电镜相似的明场像和暗场像,并能观察到纳米尺度的微观结构,甚至是变形材料内部的单一位错和位错墙。/pp  OTPIMUS? TKD探头能够与所有的e-Flash EBSD探头兼容。布鲁克已有EBSD用户均可升级OTPIMUS?,用户经培训后可自行更换传统EBSD探头和OTPIMUS? TKD探头。取决于要分析的样品,用户可自由切换传统EBSD和OTPIMUS?。OTPIMUS?能够与布鲁克TKD样品台及所有布鲁克XFlash& #174 能谱探头联用。/pp  strong关于我们/strong/pp  布鲁克公司是在纳斯达克上市(NASDAQ: BRKR)的世界著名的高科技分析仪器跨国企业,为分子和材料研究提供全面解决方案,了解更多行业及应用讯息,请访问www.bruker.com或联系:/pp  李慧/pp  中国区销售经理/pp  布鲁克纳米分析仪器部/pp  电话:+86-21-5172 0800/pp  邮箱:hui.li@bruker.com/ppbr//p
  • OPTON微观世界|第33期 扫描电镜新技术——同轴透射菊池衍射(TKD)技术的应用
    引 言扫描电镜中的被散射电子衍射技术(EBSD)在确定材料结构、晶粒尺寸、物相组成以及晶体取向甚至是应力状态标定都有一定的涉及。通过电子衍射技术的进一步发展,Keller与Geiss基于EBSD技术相同的硬件与软件,通过改变样品台的倾角,使得荧光闪烁体信号接收器在样品下方接收透射电子衍射信号,从而代替原先的背散射信号。这种新技术称为Transmission Kikuchi diffraction(TKD),由于它的信号接收方式特点也被称为t-EBSD。由于接收信号的方式由被散射电子信号转为透射电子信号,其分辨率得到了明显的提升,由原来的EBSD技术的几十纳米(20-30nm平行于电子束的方向,80-90nm垂直于电子束的方向)提高到了TKD技术的10纳米。由于电子束与材料交互作用体积的减少,分辨率提高,使得分析超细晶材料以及其中的纳米颗粒的到了实现。为了改善电子衍射信号接收能力,一种新型的电子束-样品-接收器(on-axis TKD)共轴TKD式的几何设计在法国洛林大学(Université de Lorraine)与布鲁克公司联合组装使用,这个新装置不仅可以接收菊池花样还可以接收衍射点的信息。虽然此时TKD的说法已经不能十分贴切的描述实际情况,应该改为扫描电镜中的透射衍射(Transmission Diffraction )更为合理。由于传统上TKD缩写已经被普遍接受,所以我们在本文中以共轴透射菊池衍射(on-axis TKD)来表述此种新方法。这种新型的接受方法比传统的非共轴TKD(off-axis TKD)方法得到更高的信号强度。同时,共轴TKD方法由于其接收信号的对称性,可以使得原先非共轴TKD方法得到的扭曲的信号得以矫正。本文的主要目的是揭示透射衍射花样随着不同试验条件、样品参数(电子束入射强度、样品与探测器的距离、样品的厚度、样品的原子序数)的变化规律。帮助试验人员选择衍射花样中的合适的衍射数据(点、线、带),以及相应的设置电镜与样品的参数。最后在实际的纳米材料中采用TKD技术对样品进行纳米尺度的分析研究。试验方法所有的试验都是基于ZEISS Supra 40型号与ZEISS Gemini SEM进行的,配备的设备是Bruker e-Flash1000摄像机,对应的探测器型号是Bruker OPTIMUS。如图1所示,传统的TKD系统与on-asix TKD系统的探头接收方向并不相同。图2表示了FIB制样方法获得的楔形单晶Si薄片式样,样品厚度在25nm到1μm之间,用于后续的试验检测。图1 (a)同轴式透射菊池衍射(on-axis TKD);(b)传统非同轴透射菊池衍射(off-axis TKD);(c)电子背散射衍射(EBSD)图2 实验用的FIB砌削的楔形Si单晶样品的SEM图像电子束入射能量、样品厚度以及原子序数对TKD衬度的影响1衍射衬度的种类在同轴TKD技术中,收集到的衍射花样衬度不仅仅受到显微镜参数的影响,对于不同的观察样品其衍射花样衬度也会有所不同。目前,样品的厚度与入射电子的加速电压是日常应用过程中最基本的影响因素,样品的密度与原子序数也是重要的影响参数,但是目前无法对其进行系统的分析。同时,信号接受探测器的摆放角度、与样品的测试距离也是在实际操作中影响信号接受质量的因素之一。我们可以把衍射花样分为两类:衍射斑点与菊池花样。菊池花样有三种不同的衬度:线衬度、亮带衬度、暗带衬度。2菊池线与菊池带菊池线的形成原因在于,如果样品足够厚,那么将会产生大量以各种不同方向运动的散射电子;也就是说,电子与样品发生非相干散射。这些电子与晶体平面作用发生布拉格衍射。菊池线的形成有两个阶段,一是由于声子散射形成的点状的非连续的发射源,如图3(A)所示。第二是由于这些散射后的电子将相对于面hkl以θB运动(如图3B所示),从而与这些特定晶面发生布拉格衍射。因为散射电子沿各个方向运动,衍射书将位于两个圆锥中的一个内(如图3C)。换言之,因为入射k矢量有一定的范围,而不是单一确定的k矢量,所以观察到的衍射电子的圆锥而不是确定的衍射束。考虑与hkl晶面成θB角度方向的所有矢量所构成的圆锥,称之为Kossel圆锥,并且圆锥角(90-θB)非常小。由于荧光屏/探测器是平面并且几乎垂直于入射束,Kossel圆锥将以抛物线形式出现。如果考虑近光轴区域,这些抛物线看上去就像两条平行线。有时把这两条菊池线和他们之间的区域称为“菊池带”。图3(A)样品在某一点处所有电子散射的示意图(B)部分散射电子以布拉格角θB 入射特定hkl晶面而发生衍射(C)这些圆锥与Ewald球相交,由于θB很小,在衍射花样上产生了近似直线的抛物线。3布拉格衍射斑点与TEM中的衍射斑点形成原理相似,TKD中衍射斑点是由于低角弹性散射形成的,低角弹性散射是连续的,然而在高角范围内,随着与原子核的相互作用,散射分布并非连续,这也就解释了为何衍射斑点只能在低散射角度的区域才能够观察到。图4显示了单晶Si样品中,随着厚度变化引起的衍射信息变化,在样品较薄的区域我们可以看出衍射斑点的信息,随着样品厚度的增加,衍射斑点信息消失。菊池花样在样品时很薄的区域,衬度模糊,而在样品厚度很大时,衬度表现的较弱,其它阶段花样都比较清晰。图5中可以看出,随着入射电子能量的降低,衍射斑点也逐渐消失。由此,可以认为衍射斑点的强度在样品厚度一定的前提下,可以认为是入射电子能量的函数。图4 单晶Si在不同厚度下共轴透射菊池衍射(on-axis TKD)产生的透射衍射花样 (a)43nm (b)45nm (c)48nm (d)52nm (e)65nm (f)100nm (g)200nm (h)300nm (i)1000nm 加速电压E=15keV,探测器样品距离DD=29.5mm,光阑尺寸60μm,束流强度2nA,图像捕获时间(a-h)200ms×30images (i)990ms×30images随着加速入射电子的加速电压的变化,透射菊池衍射花样的变化,可以看出,与图4中的变化规律相似。可以看出入射电子能量与样品厚度在对花样的衬度影响方面扮演着同样的角色。但是其原理并不完全一样,随着入射电子加速电压的降低,菊池带的宽度逐渐变窄。图6所示,基于等离子体与声子的自由程的模型计算了出现衍射斑点的情况下,样品厚度与电子入射能量的关系,可以看出入射电子的能量是产生电子衍射斑点的样品厚度的函数。图5 单晶Si在不同加速电压下共轴透射菊池衍射(on-axis TKD)产生的透射衍射花样 加速电压(a)30keV (b) 25keV (c)20keV (d)15keV (e)10keV (f)7keV;样品厚度d=150nm,探测器样品距离DD=29.5mm,光阑尺寸60μm,束流强度2nA,图像捕获时间(a-h)200ms×30images (i)990ms×30images图6 Si、Ti两种材料随着电子入射能量以及样品厚度变化为变量的布拉格衍射斑点显示示意图实际样品测试纳米材料由于其优异的力学、光学以及催化性能,在材料研究领域中已经成为新的研究热点。其中纳米金属材料由于其优异的力学性能已经得到了广泛的研究,特别是纳米孪晶铜材料,是最早研究的纳米金属材料之一,但是由于其晶粒尺寸小于100nm,其孪晶片层只有十几个甚至几纳米(图7),使得以往的结构研究手段多采用透射电镜(TEM)的方法。但是由于TEM难以对大量晶粒的取向进行统计分析,这就需要用到扫描电镜的EBSD技术,介于传统的EBSD技术的分辨率的局限,一直少有纳米级别的分析。那么有了TKD的新型技术,就可以对纳米级别的材料进行细致的分析。图7 纳米孪晶铜的TEM观察由于纳米孪晶的制备方法多采用电沉积的方法,得到薄膜形式的材料。所以在生长厚度方向上由于厚度较薄(约20nm),本次实验是用金(Au)薄膜样品进行观察,采用的是场发射扫描电镜Zeiss Merlin Compact 以及Bruker OPTIMUS 同轴TKD探测器进行观察。结果如图8所示,可以看出片层结构的分布,经过进一步的分析,可以看出片层结构之间的界面角度为60度,可以确定为[111]112纳米孪晶,并且通过测量可以确定片层宽度仅有2nm。基于共轴TKD技术,让以往在SEM中难以完成的纳米结构的织构组织分析成为可能。并且对纳米尺度材料的性能提升提供了进一步的实验支持。图8 a)纳米金颗粒的孪晶结构PQ图与IPFZ叠加显示;(b)(a)图中线段处角度分布图小 结1.共轴式透射菊池衍射技术可以在衍射花样中获得更加广泛的衍射信息:布拉格衍射斑点、菊池线以及菊池带。2.随着样品厚度的增加,衍射斑点、菊池线、菊池带依次产生。在样品较薄的状态下,菊池带呈现明亮的带状,随着样品后的增加,深色衬度在在带中出现并缓缓变暗,直至带状衬度明锐显现。3.样品厚度与入射电子能量可以作为相关联的变量,影响着衍射信息的衬度;减小样品厚度相当于增加入射电子能量。也就是说要得到特定的衍射衬度,可以调整样品的厚度与调整入射电子束的能量这两种方法是等价的。4.基于等离子体与声子的自由程的模型计算了出现衍射斑点的情况下,样品厚度与电子入射能量的关系。可以看出这二者呈线性关系,且根据元素的不同样品厚度与入射电子能量的比值的常数也有所差别。5.采用共轴TKD技术测试了金纳米颗粒的纳米片层结构,并且分辨出了2nm尺度的孪晶片层结构。
  • 第十四届全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会第三轮通知
    “全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会”是由中国物理学会X射线衍射专业委员会、中国晶体学会粉末衍射专业委员会和国际衍射数据中心等单位共同主办的系列学术会议,每三年召开一次。X射线衍射技术已经成为科学研究、工程应用等方面不可或缺的测试手段,本会议旨在把从事X射线衍射与材料研究的专家、学者召集在一起,创造交流和合作的平台,总结X射线衍射与新材料分析及相关学科的发展现状,交流新的思想和成果,从而推动X射线衍射与新材料分析及相关学科的发展。在正式会议开始前一天,面向研究生及青年科技工作者举办免费的讲习班。会议期间同时举办X射线衍射仪、结构数据库、软件及材料制备、加工等仪器设备展。第十四届全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会将于2022年7月27日-7月31日在河南省开封市中州国际饭店召开。会议主办单位:中国物理学会X射线衍射专业委员会中国晶体学会粉末衍射专业委员会国家自然科学基金委员会工程与材料科学部北京硅酸盐学会中国科学院物理研究所International Centre for Diffraction Data, USA会议承办单位:河南大学物理与电子学院河南大学光伏材料省重点实验室河南大学特种功能材料教育部重点实验室/材料学院大会组委会:大会名誉主席:林少凡、麦振洪主席:陈小龙副主席:廖立兵、李明、王聪、姜晓明秘书长:王文军委员:鲍威、蔡格梅、蔡宏灵、陈骏、陈小龙、程国峰、董成、方亮、 费维栋、高宇、郭永权、何维、贺蒙、黄丰、姬洪、姜传海、姜晓明、李明、李晓龙、李镇江、廖立兵、刘福生、刘岗、刘泉林、骆军、苗伟、潘峰、潘世烈、石磊、宋波、宋小平、谭伟石、唐为华、王聪、王刚、王文军、王沿东、王颖霞、王育华、吴 东、吴小山、吴忠华、武莉、杨智、叶文海、袁文霞、张吉东、张侃、张鹏程、张志华、赵景泰、赵彦明、郑伟涛、郑遗凡大会地方组委会:主席:白莹、张伟风、杜祖亮秘书长:邓浩委员:白莹、邓浩、杜祖亮、贾小永、李国强、李胜军、李新营、连瑞娜、任凤竹、王书杰、魏高明、张伟风、赵高峰、周正基本届会议日程: 大会邀请报告(持续更新中):Prof. Stanley Whittingham,2019年诺贝尔奖获得者,纽约州立大学、宾汉姆顿大学陈立泉 研究员,中国工程院院士,中科院物理所陈鸣 研究员,中科院广州地球化学所鲍威 教授,香港城市大学Prof. Hideo Hosono,日本东京工业大学Prof. Robert Dinnebier,德国马普固体所Dr. Thomas Blanton,ICDD, USA Dr. Timothy Fawcett,ICDD, USA Dr. Justin Blanton,ICDD, USA Prof. Cam Hubbard,Oak Ridge National Lab 。。。。。。分会场设置:1. 衍射理论、方法及软件和数据库(投稿邮箱:xray202101@163.com)分会主席:陈骏(北京科技大学)、王颖霞(北京大学)、董成(中科院物 理研究所)、张志华(大连交通大学)、贺蒙(国家纳米科学中心)2. 超导和拓扑材料及表征(投稿邮箱:xray202102@163.com)分会主席:王刚(中科院物理研究所)、吴小山(南京大学)、赵彦明(华 南理工大学)、鲍威(香港城市大学)、郭建刚(中科院物理研究所)3. 能源材料及表征(投稿邮箱:xray202103@163.com)分会主席:白莹(河南大学)、谷林(中科院物理研究所)、骆军(上海大 学)、李晓龙(上海光源)、赵怀周(中科院物理研究所)4. 催化、环境材料及表征(投稿邮箱:xray202104@163.com)分会主席:宋波(哈尔滨工业大学)、李镇江(青岛科技大学)、刘岗(中 科院金属研究所)、袁文霞(北京科技大学)、郑遗凡(浙江工业大学)5. 发光材料及表征(投稿邮箱:xray202105@163.com)分会主席:武莉(南开大学)、蔡格梅(中南大学)、王育华(兰州大学)、 刘泉林(北京科技大学)6. 多铁性材料及表征(投稿邮箱:xray202106@163.com)分会主席:王聪(北京航空航天大学)、蔡宏灵(南京大学)、何维(广西 大学)、赵景泰(桂林电子科技大学)、石磊(中国科技大学)7. 薄膜及低维材料及表征(投稿邮箱:xray202107@163.com)分会主席:张侃(吉林大学)、唐为华(北京邮电大学)、姬洪(电子科技 大学)、宋小平(季华实验室)、张吉东(中科院长春应用化学研究所)8. 工业应用及其他(投稿邮箱:xray202108@163.com)分会主席:姜传海(上海交通大学)、王沿东(北京科技大学)、程国峰 (中科院上海硅酸盐研究所)、叶文海(重庆大学)征稿范围及格式1. 征稿内容: 1)新材料;2)结构分析;3)薄膜与界面;4)小角散射;5)织构与应 力;6)X射线衍射教学;7)X射线衍射在工业中的应用;8)ICDD 粉末衍射 数据库与软件;9)中子衍射与电子衍射;10)新方法与新技术;11)科普、 教学;12)其它。2. 会议摘要、论文要求:论文摘要或全文均可,摘要篇幅不超过1页A4纸;全文篇幅不超过4页A4纸,采用MS-word,中英文均可,并注明通讯联系人和联系方式,详见附件1模板。3. 投稿方式:通过电子邮件形式,发到相应会场的投稿邮箱。4. 奖励:会议将设立青年优秀报告奖和优秀墙报奖,以学会名义颁发证书和奖 金,以鼓励从事X射线衍射和新材料相关领域的青年科技工作者和研究生。(投稿截止日期:2022年7月10日)讲习班:培训主题:结构分析方法与相关软件应用培训地址:中州国际饭店中华厅主讲老师:Dr. Rongsheng Zhou, ICDD (线上),徐春华 博士,ICDD(线下),金士锋 副研究员,中科院物理研究所(线下)《Jade软件与ICDD数据库应用》兰司 教授 南京理工大学《径向分布函数原理、方法及其在先进材料研究中的应用》陶琨 教授,清华大学《全文自编中文版X射线多晶衍射分析软件应用》冯振杰 副教授 上海大学《相变前后晶体结构分析初步及Rietveld精修自动化软件使用》(讲习班限定人数100人,按报名先后顺序;免学费,食宿费自理。)会议注册费:提前注册:正式代表2000元,学生代表1800元。现场缴费:正式代表2200元,学生代表2000元。请将注册费汇至如下账户:开户名称:中国晶体学会开户银行:工行北京海淀西区支行银行账号:0200004509014447141注:汇款时请在附言中注明个人信息,汇款后请发邮件至xray2021@163.com告知汇款金额、开发票信息。企业参展:会议期间安排国内外厂商介绍仪器设备和技术的最新进展,并安排各厂商专家对用户使用中遇到的问题进行现场技术答疑。除报告外,会议期间还将为厂商安排展台。参展事宜请联系:王文军(电话:010-82649836)。(参展报名截止日期:2022年7月10日)会议住宿:中州国际饭店:酒店地址:河南省开封市鼓楼区大梁路121号;联系电话:0371-22219999;标准间/单间大床房:380元/间(含早)中州国际邻近酒店:汴京国贸商务酒店:酒店地址:河南省开封市大梁路201号;联系电话:0371-23426999;单间/标间:220元左右(含早)航天大酒店:酒店地址:河南省开封市大梁路99号;联系电话:0371-23879888;单间/标间:240元左右(含早)注:会务组不负责预定酒店,请参会代表自行预订。上述为会议协议价,预订时请报会议名称。会务组联系方式:中国物理学会X 射线衍射专业委会中国晶体学会粉末衍射专业委员会2022年06月15日附件:06.15 第十四届全国X-射线衍射学术大会第三轮通知.pdf
  • 610万!西安建筑科技大学X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪采购项目
    项目编号:ZX2022-07-93项目名称:X射线光电子能谱仪、X射线衍射仪采购项目采购方式:公开招标预算金额:6,100,000.00元采购需求:合同包1(X射线光电子能谱仪):合同包预算金额:4,500,000.00元合同包最高限价:4,450,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他分析仪器X射线光电子能谱仪1(台)详见采购文件4,500,000.004,450,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:根据合同要求合同包2(X射线衍射仪):合同包预算金额:1,600,000.00元合同包最高限价:1,570,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)2-1其他分析仪器X-射线衍射仪1(台)详见采购文件1,600,000.001,570,000.00本合同包不接受联合体投标合同履行期限:根据合同要求
  • 1210万!华南理工大学活细胞代谢检测分析仪、原位X射线衍射仪等采购项目
    一、项目基本情况1.项目编号:ZZ0230049项目名称:华南理工大学原位X射线衍射仪采购项目预算金额:365.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):365.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称数量(单位)简要技术需求或服务要求(具体详见采购需求)最高限价(万元/套)1原位X射线衍射仪1套主要用于原位电化学和变温情况下,分析材料物相和晶体结构分析。365经政府采购管理部门同意,本项目允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。本项目采购标的所属行业为: 工业 合同履行期限:合同签订之日至质保期结束。本项目( 不接受 )联合体投标。2.项目编号:GZZJ-ZFG-2023604项目名称:华南理工大学多元粉料热机械加工和发酵特性检测系统采购项目预算金额:130.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):130.0000000 万元(人民币)采购需求:包组号序号标的名称数量(单位)简要技术需求或服务要求(具体详见采购需求)最高限价万元(人民币)11多元粉料热机械加工和发酵特性检测系统1套多元粉料热机械加工和发酵特性检测系统由多元粉料热机械加工特性检测系统(混合试验仪)和面团发酵过程检测系统(流变发酵仪)组成,可独立和协同使用。混合试验仪揭示谷物蛋白和淀粉的加工特性,一次测定包括吸水率、形成时间、稳定时间、弱化度、淀粉糊化和回生特性等。设备含多个内置测试协议和校准方法,可依据粉料种类和热加工工艺定制测试协议。流变发酵仪聚焦发酵力、面团发酵过程流变特性,对被测定样品的发酵速率、发酵稳定性、发酵力、面团体积、产气速度等进行量化和特性评定。人民币130万元 经政府采购管理部门同意,本项目允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品,具体详见采购需求。本项目采购标的所属行业为:工业合同履行期限:国内供货:在合同签订后(30)天内完成供货、安装和调试并交付用户单位使用。境外货物:办理免税证明后(90)天内。本项目( 不接受 )联合体投标。3.项目编号:GZZJ-ZFG-2023602项目名称:华南理工大学活细胞代谢检测分析仪采购项目预算金额:255.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):255.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称数量(单位)简要技术需求或服务要求(具体详见采购需求)最高限价万元(人民币)1活细胞代谢检测分析仪1套主要用于实时侦测包括有氧呼吸以及糖酵解作用的细胞能量代谢的状态和动态,能同时进行活体细胞内线粒体耗氧速率和糖酵解产酸速率的实时、定量、全自动测定和分析。细胞能量代谢技术近年来已经发展成为细胞相关研究中的重要工具,该设备可广泛应用于食品科学、生命科学和医学的前沿领域:能量代谢学,线粒体,生理、生化,免疫功能和监控研究,干细胞研究,药理学和新药筛选,环境监控,神经生物学,血液学,肿瘤学等255 经政府采购管理部门同意,本项目(活细胞代谢检测分析仪设备)允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品,具体详见采购需求。本项目采购标的所属行业为:工业合同履行期限:国内供货:在合同签订后(30)天内完成供货、安装和调试并交付用户单位使用;境外供货:收到信用证后(90)天内。本项目( 不接受 )联合体投标。4.项目编号:0809-2341HGG14049项目名称:华南理工大学大功率激光白光与近红外光源测试系统采购项目预算金额:200.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):200.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称数量(单位)简要技术需求或服务要求(具体详见采购需求)最高限价万元(人民币)1大功率激光白光与近红外光源测试系统1套具体详见采购需求200.00本项目(大功率激光白光与近红外光源测试系统)只允许采购本国产品,具体详见采购需求。本项目采购标的所属行业为: 工业 交付地点:华南理工大学五山校区。合同履行期限:在合同签订后(30)天内完成供货、安装和调试并交付用户单位使用本项目( 不接受 )联合体投标。5.项目编号:ZZ0230047项目名称:华南理工大学分子与元素分析系统采购项目预算金额:160.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):160.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称数量(单位)简要技术需求或服务要求(具体详见采购需求)单项最高限价(万元/人民币)1元素分析设备1套可实现有机分子C、N、H、S等元素比重分析952在线质谱仪1台可实现0-300amu分子量在线分析,包括实现差分电化学质谱分析65 经政府采购管理部门同意,本项目(包组)允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。本项目采购标的所属行业为: 工业 合同履行期限:合同签订之日至质保期结束。本项目( 不接受 )联合体投标。6.项目编号:ZZ0230053项目名称:华南理工大学全自动表面积和孔隙率分析系统采购项目预算金额:100.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):100.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称数量(单位)简要技术需求或服务要求(具体详见采购需求)最高限价(万元/套)1全自动表面积和孔隙率分析系统1套比表面与孔隙度分析仪是材料表征的基本手段之一,通过静态物理吸附法测定比表面积和孔径分布,揭示材料微观孔隙结构和表面特性。该设备可以对化学、材料、环境分析等领域的样品进行材料的比表面和孔结构进行分析及研究。100经政府采购管理部门同意,本项目允许采购本国产品或不属于国家法律法规政策明确规定限制的进口产品。本项目采购标的所属行业为: 工业 合同履行期限:合同签订之日至质保期结束。本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2023年09月08日 至 2023年09月14日,每天上午9:00至12:00,下午12:00至17:30。(北京时间,法定节假日除外)地点:https://www.zztender.com/方式:详见本招标公告“六、其他补充事宜”。售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:华南理工大学     地址:广州市天河区五山路381号        联系方式:文老师020-87112962      2.采购代理机构信息名 称:广东志正招标有限公司            地 址:广州市天河区龙怡路117号银汇大厦5楼            联系方式:罗小姐 020-87554018 85165610            3.项目联系方式项目联系人:李小姐、滕小姐电 话:  020-85165610
  • 第十五届全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会召开通知
    第十五届全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会第二轮通知 一、会议主办单位 中国物理学会 X 射线衍射专业委员会中国晶体学会粉末衍射专业委员会北京硅酸盐学会中国科学院物理研究所International Centre for Diffraction Data, USA 二、会议承办单位 中南大学粉末冶金国家重点实验室中南大学有色金属材料科学与工程教育部重点实验室中南大学材料科学与工程学院 三、会议时间和地点 2024年7月26 日- 7 月30 日,长沙,普瑞酒店Jul. 26- 30, 2024, Changsha, Preess Hotel & Resort 四、大会组委会 大会名誉主席:黄伯云、林少凡、麦振洪主席:陈小龙副主席:廖立兵、李明、王聪、姜晓明秘书长:王文军委员:鲍威、蔡格梅、蔡宏灵、陈骏、陈小龙、程国峰、董成、方亮、费维栋、高宇、郭永权、何维、贺蒙、黄丰、姬洪、贾爽、姜传海、姜晓明、李明、李晓龙、李镇江、廖立兵、刘福生、刘岗、刘泉林、骆军、马杰、苗伟、潘峰、潘世烈、齐彦鹏、石磊、宋波、宋小平、谭伟石、唐为华、王聪、王刚、王文军、王沿东、王颖霞、王育华、吴东、吴小山、吴忠华、武莉、杨韬、叶文海、袁文霞、张弛、张吉东、张侃、张鹏程、张志华、赵景泰、赵彦明、郑伟涛、郑遗凡 五、大会地方组委会 主席:周科朝、李周、杜勇副主席:蔡格梅、李志明、刘华山秘书长:冯艳、吴壮志、李劲风成员:王新平、王德志、彭春丽、徐国富、黄继武、刘立斌、刘军、彭洋、于楠、蔡圳阳、李艺婷、宋芳、张彦隆、王利容、章立钢、彭海龙、罗志伟、肖柱、龚深、贾延琳、邱文婷、刘新利、刘会群、傅乐、邓英、邓泽军、严定舜、朱书亚、周江、曾广 六、会议简介 “全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会”是由中国物理学会X射线衍射专业委员会、中国晶体学会粉末衍射专业委员会和国际衍射数据中心等单位共同主办的系列学术会议,每三年召开一次。X射线衍射技术已经成为科学研究、工程应用等方面不可或缺的测试手段,本会议旨在把从事X射线衍射与材料研究的专家、学者召集在一起,创造交流和合作的平台,总结X射线衍射与新材料分析及相关学科的发展现状,交流新的思想和成果,从而推动X射线衍射与新材料分析及相关学科的发展。在正式会议开始前一天,面向研究生及青年科技工作者举办免费的讲习班。会议期间同时举办X射线衍射仪、结构数据库、软件及材料制备、加工等仪器设备展。 七、会议日程 时间内容7月26日讲习班老师和学员报到(普瑞酒店)7月27日讲习班上课/参会代表报到/展商布展/Poster张贴7月28日大会开幕、大会报告7月29日ICDD Workshop、大会报告7月30日分会报告、大会闭幕 八、分会场设置 衍射理论、方法及软件和数据库(投稿邮箱:xray202101@163.com)分会主席:陈骏(海南大学),王颖霞(北京大学),董成(中国科学院物理研究所),张志华(大连交通大学),贺蒙(国家纳米科学中心),金士锋(中国科学院物理研究所)超导和拓扑材料及表征(投稿邮箱:xray202102@163.com)分会主席:王刚(中国科学院物理研究所),郭建刚(中国科学院物理研究所),赵彦明(华南理工大学),吴小山(南京大学),鲍威(香港城市大学),齐彦鹏(上海科技大学)能源材料及表征(投稿邮箱:xray202103@163.com)分会主席:白莹(河南大学),刘福生(深圳大学),骆军(同济大学),赵怀周(中国科学院物理研究所),刘昊(中国地质大学(北京)),李镇江(青岛科技大学)催化、环境材料及表征(投稿邮箱:xray202104@163.com)分会主席:宋波(哈尔滨工业大学),李晓龙(上海光源),刘岗(中国科学院金属研究所),袁文霞(北京科技大学),郑遗凡(浙江工业大学)发光材料及表征(投稿邮箱:xray202105@163.com)分会主席:武莉(南开大学),蔡格梅(中南大学),王育华(兰州大学),刘泉林(北京科技大学)磁性材料及表征(投稿邮箱:xray202106@163.com)分会主席:王聪(北京航空航天大学),蔡宏灵(南京大学),何维(广西大学),赵景泰(桂林电子科技大学),石磊(中国科技大学)薄膜及低维材料及表征(投稿邮箱:xray202107@163.com)分会主席:张侃(吉林大学),高宇(吉林大学),唐为华(南京邮电大学),姬洪(电子科技大学),宋小平(中国科学院金属所),张吉东(中国科学院长春应用化学研究所)工业应用及教学(投稿邮箱:xray202108@163.com)分会主席:姜传海(上海交通大学),程国峰(中国科学院上海硅酸盐研究所),叶文海(重庆大学),王沿东(北京科技大学)粉末冶金及结构材料(投稿邮箱:xray202409@163.com )分会主席:张斗(中南大学),李志明(中南大学),宋旼(中南大学),张利军(中南大学) 九、征稿范围及格式 1. 征稿内容1)新材料;2)结构分析;3)薄膜与界面;4)小角散射;5)织构与应力;6)X射线衍射教学;7)X射线衍射在工业中的应用;8)ICDD粉末衍射数据库与软件;9)中子衍射与电子衍射;10)新方法与新技术;11)科普、教学;12)其它。2. 会议摘要、论文要求论文摘要或全文均可,摘要篇幅不超过 1 页 A4 纸;全文篇幅不超过 4 页 A4 纸,采用 MS-word,中英文均可,并注明通讯联系人和联系方式,详见附件 1模板。3. 投稿方式通过电子邮件形式,发到相应会场的投稿邮箱。4.奖励会议将设立青年优秀报告奖和优秀墙报奖,以学会名义颁发证书和奖金,以鼓励从事 X射线衍射和新材料相关领域的青年科技工作者和研究生。(投稿截止日期:2024年 7 月 10 日) 十、讲习班 培训主题:结构分析方法与相关软件应用培训地址:普瑞酒店 广言厅主讲老师:✧ 董成 研究员,中国科学院物理研究所✧ 刘泉林 教授,北京科技大学✧ 骆军 教授,同济大学✧ 肖荫果 教授,北京大学深圳研究生院✧ 金士锋 副研究员,中国科学院物理研究所(讲习班限定人数 100 人,按报名先后顺序;免学费,食宿费自理。) 十一、会议住宿 (一)普瑞酒店(会场):湖南省长沙市望城区普瑞大道8号联系电话:0731- 88388888;15243629698吴圣兰1. 豪华标准间/单间:协议价350 元/间(含早);2. 行政标准间/单间房:协议价408 元/间(含早);3. 三室一厅公寓双床房(可住6人):协议价660元/套(含早)。(二)长沙医学院亚朵酒店(距离会场5分钟车程、走路15分钟):湖南省长沙市望城区普瑞西路一段9号联系电话:18975182887 胡婷商务标准间/单间:协议价268 元/间(含早)。注:会务组统计用房需求让酒店预留房间数,但不负责预定酒店,请参会代表自行预订。上述为会议协议价,预订时请报会议名称。 十二、会议注册费 提前缴费:正式代表 2000 元,学生代表 1800 元。现场缴费:正式代表 2200 元,学生代表 2000 元。注:7月25日以后缴费的为现场缴费。对公转账请将注册费汇至如下账户:户名:中国晶体学会账号:645755580开户行:民生银行北京中关村分行营业部。开户行代码:305100004017注:汇款时请在附言中注明粉末+单位+姓名,汇款后请发邮件至XRD2024@126.com告知汇款金额、开发票信息。 十三、报名参会与预订住宿 十四、企业参展 会议期间安排国内外厂商介绍仪器设备和技术的最新进展,并安排各厂商专家对用户使用中遇到的问题进行现场技术答疑。除报告外,会议期间还将为厂商安排展台。参展与展位事宜请联系:王文军(电话:010-82649836)、蔡格梅(电话:15116205899)。(参展报名截止日期:2024 年 7 月 10 日) 十五、交通指引 会议酒店:普瑞酒店酒店地址:湖南省长沙市望城区普瑞大道8号(1)乘坐出租车交通站点里程/时间/费用长沙黄花机场—普瑞酒店61公里,全程约80分钟,费用约140元长沙南高铁站—普瑞酒店43公里,全程约60分钟,费用约100元(2)乘坐公共交通交通站点里程/时间/费用长沙黄花机场—普瑞酒店1、 从机场乘地铁6号线→六沟垅转乘地铁4号线→罐子岭站(2号口)转公交288路→普瑞公交站下车→步行550m进入酒店。2、从机场乘地铁6号线→六沟垅转乘地铁4号线→罐子岭站(2号口) 转乘出租车约10元→酒店。长沙南高铁站—普瑞酒店1、从高铁站乘地铁4号线→罐子岭(2号口)转公交288路→普瑞公交站下车→步行550m进入酒店。2、从高铁站乘地铁4号线→罐子岭(2号口)转乘出租车约10元→酒店。 十六、会务组联系方式 王文军电话:010-82649836E-mail:ncxray@sina.com蔡格梅电话:0731-88879341E-mail:XRD2024@126.com 十七、附件 https://www.123pan.com/s/tODzVv-F1RKA.html
  • 关于举办“X-射线衍射分析技术”培训通知
    X-射线衍射(XRD)分析技术作为材料结构表征的重要手段,业已成为探索物质微观结构的必不可少的方法之一。随着其用途范围的日益拓展,X射线衍射技术在材料、化学、生物医药、环境、物理等学科及地质矿产、钢铁冶金、冶金建材、石油化工、能源环保、电子信息、新药研发、航空航天等产业部门及司法、考古、商品鉴定等领域都得到广泛的应用。近年来随着新技术的大量出现和引入,XRD软、硬件技术和应用功能不断推陈出新,并迅猛发展。X射线衍射技术的理论教学也受到理工农医在校学生和社会科研院所科技工作者的普遍欢迎,为适应广大分析技术工作者的需求,进一步提高XRD用户的应用和研究水平,推动XRD分析应用的进一步发展,上海交通大学分析测试中心特举办“X-射线衍射分析技术”培训班,全国分析检测人员能力培训委员会(NTC)授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。现将有关事项通知如下:1、 培训目标:了解X-射线衍射的原理与衍射仪的基本结构(涵盖粉末和单晶衍射);了解X-射线衍射检测/校准项目及相关要求;掌握国家标准中X-射线衍射的检测方法;上机实践训练。(一)掌握XRD的测试技术,了解仪器维护方法,确保机器运转最佳状态。(二)面对数据分析中的常见问题,学员可理论联系实际,找到问题原因所在,掌握X-射线衍射分析技术的一般方法及技巧。2、 时间地点: 培训时间:2023年10月16日-10月18日 上海(时间安排:授课2天,考核1天)3、 课程大纲:课程内容10月16日上午X-射线衍射技术基本原理(晶体结构、倒易空间、布拉格衍射方程等)10月16日下午X-射线衍射测试原理及技术要点(各种衍射几何、多物相定性定量分析、测量的误差产生的根源及改进的方法)10月17日上午XRD谱图分析方法10月17日下午XRD仪器结构、功能和主要性能指标(包括零维、一维、二维衍射模式)10月18日上午X-射线衍射仪基本操作(调试操作与维护,仪器类型:Aeris 600、Mini Flex 600及Bruker D8系列)。10月18日下午考核4、 主讲专家:主讲专家来自上海交通大学分析测试中心,熟悉ATP 005 X-射线衍射分析技术大纲要求,具有NTC教师资格,长期从事X-射线衍射技术研究的专家。5、 授课方式:(1) 讲座课程;(2) 仪器操作6、 培训费用:(一)培训费及考核费:每人3000元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费),食宿可统一安排费,用自理。(二)本校费用:每人1500 元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费;必须携带学生证)。7、 颁发证书:本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放,证书有以下作用:具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明;各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明;大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培 训委员会(NTC)网站上查询(https://www.cstmedu.com/)。 8、 报名方式:(一)请详细填写报名回执表(附件1)和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表(附件2),邮件反馈。 (二) 注:请学员带一寸彩照2张(背面注明姓名)、身份证复印件一张,有学生证的学员携带学生证复印件。 (三) 报名截止时间是10月10日16:00前。 (四) 如报名人数不足5人取消本次培训。9、 联系方式联系人:吴霞(报名相关事宜)、饶群力(技术咨询)电话: 021-34208499-6102(吴霞)、021-34208499-6212(饶群力)E-mail:iac_office@sjtu.edu.cn官方网址:iac.sjtu.edu.cn
  • 2015 年电子背散射衍射(EBSD)应用分析及样品制备技术研讨会邀请函
    尊敬的客户: 您好! 欧波同有限公司长期专注于微观纳米技术应用解决方案的研发与推广。经过 数年发展,欧波同有限公司作为蔡司、牛津、GATAN 公司战略合作伙伴,目前 已经成为中国最大的微纳米显微方案供应商。为了推动 EBSD 技术及电子显微学 的进步和发展,提高广大显微学工作者的学术及技术水平,促进显微学在物理学、 材料学、生命科学、化学化工、环境、地学等领域的应用,欧波同有限公司、牛 津仪器有限公司、GATAN 公司三方联合于 2015 年 7 月 24 日举办 2015 年电子 背散射衍射(EBSD)应用分析及样品制备技术研讨会。 本次会议将邀请电子显微学应用专家、EBSD 应用专家、EBSD 样品制备专 家、SEM 样品制备专家等进行相关领域的应用实例分析报告,同时将以欧波同 有限公司专业化的 DEMO 实验中心为平台,为用户提供现场体验微纳米分析技 术设备——蔡司电子显微镜,晶体学分析设备——牛津 EBSD 及 EBSD(SEM)样 品制备技术设备——GATAN ILION 697 氩离子束抛光系统的一站式操作。欢迎 您的到来! 会议主要议程安排 7 月 23 日下午报到入住 7 月 24 日9:00~12:00 专家报告12:00~13:00 午休13:00~17:00 DEMO 机考察及演示 会议主要内容: 国内知名 EBSD 应用专家进行专题讲座,主要内容为 EBSD 在相关领域的应 用实例;欧波同公司扫描电镜最新技术以及仪器操作技巧介绍;牛津公司介绍仪器的最新技术以及仪器设备维修与维护技巧;GATAN 公司 EBSD 样品制备技术及结合 EBSD 的拓展应用介绍;难处理扫描电镜样品制备的方法,包括镀层样品、电子半导体样品、高分子 复合材料等截面样品制备,岩石矿物等孔隙样品制备等。DEMO 机考察及演示(欧波同 DEMO 实验中心);会议地点欧波同有限公司 DEMO 实验中心(北京市朝阳区高碑店乡西店村 1106 号源创空 间大厦 F16 室) 会议费用 欧波同提供会务费并赠送精美小礼品,差旅费自理!报名咨询联系人:刘丹、黄杨 联系电话: 15140813412 18804252487Email邮箱:shchb02@163.com optonpo02@163.com 会议地图会议附近宾馆选择建议 盛然快捷酒店(距离源创空间大厦约为 560 米,8 分钟)地址:北京朝阳区国粹苑西店 1061 号 协议价格:标准间 268(协议公司:北京欧波同光学技术有限公司) 电话:010-87706262 七天连锁酒店(北京四惠地铁站店)(距离源创空间大厦约为 1.0 公里,14 分钟)地址:北京通惠河畔南岸盛世龙源 11 号协议价格:标准间 257 元(协议号码:95107839) 电话:010-87706977 如家快捷酒店(北京四惠店) (距离源创空间大厦约为 1.4 公里,19 分钟)地址:北京朝阳区百子湾石门村路 2 号(金都杭城南侧) 协议价格:标准间 223 元(协议公司:北京欧波同光学技术有限公司) 电话:010-67712211 诚辉国际商务会所(建国路店) (距离源创空间大厦约为 1.6 公里,22 分钟)地址:北京朝阳区建国路 72 号(四惠交通枢纽西侧 300 米) 协议价格:标准间 259 元(协议公司:北京欧波同光学技术有限公司) 电话:010-65561188
  • iCEM 2017特邀报告:电子背散射衍射技术的应用
    p style="text-align: center "strong第三届电镜网络会议(iCEM 2017)特邀报告/strong/pp style="text-align: center "strong电子背散射衍射技术的应用/strong/pp style="text-align: center "strongimg width="300" height="300" title="杨平.jpg" style="width: 300px height: 300px " src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/1280f2af-69cd-4994-bc32-48f4cb8c0ee6.jpg" border="0" vspace="0" hspace="0"//strong/pp style="text-align: center " /pp style="text-align: center "strong杨平 教授/strong/pp style="text-align: center "strong北京科技大学材料学院/strong/pp strong 报告摘要:/strong/pp  电子背散射衍射(EBSD)技术是快速揭示晶体材料结构、取向及取向差分布、相间取向关系等信息的定量化分析技术,已有超过25年的应用历史。但相对于图像形貌信息与微区成分信息,EBSD技术的初学者对晶体学信息的理解还存在较大障碍。/pp  基于目前商家在EBSD相关硬件、软件及制样技术上能对用户进行及时的介绍与帮助,本讲座主要从使用者的角度对该技术的初学者可能在材料分析中遇到的晶体学及材料学基础方面的困难进行介绍,给出一些案例;同时对进一步深入应用该技术提出方向性建议。/pp  本报告涉及的内容有:1)EBSD系统简介及EBSD技术现状;2)与EBSD技术相关的晶体学基本知识;3)与EBSD技术相关的材料学知识;4)EBSD技术在金属材料中的应用案例;5)EBSD技术相关文献;本报告主要针对EBSD技术的初级使用者。/pp  strong报告人简介:/strong/pp  杨平,博士,教授/博士生导师,北京科技大学材料学院“材料学基础与材料各向异性”梯队负责人(首席教授)。1982年、1986年分别获得北京科技大学材料专业学士、硕士学位; 1997年获德国亚琛工业大学金属学与金属物理所获材料学博士学位。/pp  主要研究方向为金属材料形变、再结晶、相变过程的晶体学行为及织构控制技术;擅长使用电子背散射衍射(EBSD)技术。研究材料集中在各类钢、铝合金、镁合金、钛合金;目前集中在各类电工钢及高锰TRIP/TWIP钢的研究。负责国家自然科学基金5项,参加国家863计划3项,国家973计划项目1项,厂协项目10余项等。 国内外发表论文共346篇(SCI文章113篇);获发明专利4项,获省部级一等奖、三等奖各1项。编著《电子背散射衍射技术及其应用》、《材料织构分析原理与检测技术》、《电工钢的材料学原理》。/pp  获得北京市教学名师、北京市师德先进个人、宝钢优秀教师奖、北京市教学成果一等奖、二等奖(均为第一获奖者)、2017年入选北京科技大学鼎新学者。编著《材料科学名人典故与经典文献》、《工程材料结构原理》;参编教材《材料科学基础》(北京市精品教材、十二五国家规划教材),《材料科学与工程基础》、《金相实验基础》等;讲授本科生《材料科学基础》(国家精品课程、国家精品资源共享课、研究型教学示范课堂)、全英文《材料形变与再结晶》课程(研究型教学示范课堂)、研究生《材料结构》课程。发表教学研究文章34篇。/pp  strong报告时间:2017年6月22日上午/strong/pp strong 立即免费报名:a title="" href="http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/" target="_blank"http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017//a/strongbr//pp style="text-align: center " a title="" href="http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2017/" target="_self"img title="点击免费报名参会.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201705/insimg/c9793b9d-a3ec-4cb2-a453-330b3d0cbf03.jpg"//a/p
  • X射线多层膜在静态和超快X射线衍射中的应用
    x射线多层膜在静态和超快x射线衍射中的应用x射线光学组件类型根据x射线和物质作用的不同原理和机制,目前主流的x射线光学组件可以大致分为四类:以滤片、窗片、针孔光阑为代表的吸收型组件;基于反射,全反射原理的各种镜片以及毛细管、波导等反射型器件,还有基于折射原理的各种复折射镜。而本文的主题多层膜镜片,其底层原理和晶体、光栅、波带片一样,都是基于衍射原理。吸收型反射型折射型衍射型滤片窗口针孔/光阑镜片:kb、wolter、超环面镜… … 毛细管:玻璃毛细管、金属镀层毛细管复折射镜:抛物面crl、菲涅尔crl、马赛克crl、… … 晶体光栅多层膜波带片多层膜的原理和工艺一般来说,反射型镜片存在“掠射角小、反射率低”的问题。而多层膜镜片则是通过构建多个反射界面和周期,并使反射界面等周期重复排列,相邻界面上的反射线有相同的相位差,就会发生干涉,如果相位差刚好为2pi的整数倍,则会干涉相长,得到强反射线。从布拉格公式可以看出:多层膜就是通过对d值的控制,来实现波长选择的人工晶体。而在工艺实现方面,目前制备x射线多层膜镜的主要工艺有:磁控溅射、电子束蒸镀、离子束蒸镀。一般使用较多的是磁控溅射或离子束镀膜工艺,即在基板上交替沉积金属和非金属层,通过选择材料,控制镀膜的厚度及周期的选定,实现对硬x射线到真空紫外波段的光的调制。上图为来自德国incoatec的四靶材磁控溅射镀膜系统。可实现多种膜系组合的高精度镀膜。[la/b4c]40 多层膜b-kα(183ev)用多层膜,d:10nm单层膜厚:1-10nm0.x nm的镀膜精度tem: 完美的镀层界面frank hertlein, a.e.m. 2008上图为40层la-b4c多层膜的剖面透射电镜图像和选区电子衍射,弥散的衍射环说明膜层是非晶结构。同时可以明显看到:周期为10nm的膜层界面非常清晰和规则。这套镀膜系统可获得0.x nm的镀膜精度。多层膜的特点示例—单色和塑形多层膜最显著的特点和优势在于可以通过基底的面型控制和镀层的膜厚控制,将x光的塑形和单色统一起来。当然,这是以精度极高的镀膜工艺为前提。下图的数据展示了进行梯度渐变镀膜时,从镜片一端到另一端镀膜的周期设计数值 vs. 实际工艺水平。可以看到:长度为150mm的基底上,单层镀膜膜厚需要控制在3.8-5.7nm,公差需要在1%以内。相当于在1500公里的长度上,厚度起伏要控制mm水平。这是非常惊人的原子层级的工艺水平。frank hertlein, a.e.m. 2008通过面型控制来实线x射线的塑形;通过极高精度的膜厚控制实现2d值渐变—继而实现单色;0.x nm尺度的镀膜误差——需要具备原子层级的工艺水平!多层膜的特点示例—带宽和反射率除了可以通过曲面基底和梯度镀膜实现对x光的塑形和单色,还可通过对膜层材料、膜厚、镀膜层数等参数的设计和控制,来实现带宽和反射率的灵活调整。如窄带宽的高分辨多层膜,以及宽带宽的高积分反射率多层膜。要实现高分辨:首先要选择对比度较低的镀膜材料,如be、c、b4c、或al2o3;其次减小膜的厚度,多层膜的厚度降为10~20å;最后增加镀膜层数,几百甚至上千。from c. morawe, esrf多层膜的特点示例—和现有器件的高度兼容左侧: [ru/c]100, d = 4 nm r 80% for 10 e 22 kev中间: si111 δorientation0.01°右侧: [w/si]100, d = 3 nm r 80% for 22 e 45 kevdcmm at sls, switzerland, m. stampanoni精密、灵活的膜层设计和镀膜控制镀膜材料的组合搭配;d/2d值的设计和控制;带宽和反射率的灵活调整。和现有器件的高度兼容多层膜主流应用方向目前,多层膜的主流应用方向和场景主要有:粉末、x射线荧光、单晶衍射以及同步辐射的单色、衍射、散射装置搭建。粉末衍射x射线荧光单晶衍射同步辐射基于dac的原位高压静态x射线衍射典型的静高压研究中,常利用金刚石对顶砧来获得一些极端条件。在极端的高压、高温下,利用x射线来诊断新的物相及其演化过程是重要的研究手段。x-ray probe利用金刚石对顶砧可以获得极端条件(数百gpa, 几千°c) 利用x射线探针来诊断和发现新物相;由于对x光源、探测器以及实验技术等方面的苛刻要求,尤其是需要将微束的x光,精准的穿过样品而不打到封垫上。长期以来,基于dac的x射线高压衍射实验只能在同步辐射实现。但同步辐射有限的机时根本无法满足庞大的用户需求。不能在实验室进行基于dac的x射线高压衍射实验和样品筛选,一直是广大高压科研群高压衍射实验室体的一大痛点。以多层膜镀膜工艺为技术核心,将多层膜镜片与微焦点x光源耦合,我们可以为科研用户提供单能微焦斑x射线源,使得在实验室实现高压衍射成为可能。下图是利用mo靶(左)和ag靶(右)单能微焦斑x射线源获得的dac加载下的lab6样品的衍射图。曝光时间300s,探测器为ip板,样品和ip板距离为200mm。可以看到:300s曝光获得的衍射数据质量是可接受的。特别地,对于银靶,由于其能量更高,可以压缩倒易空间,在固定的2thelta角范围内,可以获得更多的衍射信息,这对于很多基于dac的静高压应用来说非常有吸引力。dac加载下的lab6样品的衍射数据:多层膜耦合mo靶(左)和ag靶(右)曝光时间300s,探测器为ip板,样品和ip板距离为200mmbernd hasse, proc. of spie vol. 7448, 2009 (doi: 10.1117/12.824855)基于激光驱动超快x射线衍射在利用激光驱动的x射线脉冲进行超快时间分辨研究中,泵浦探针是常用的技术手段。脉宽为几十飞秒的入射激光经分束后,一路用于激发超快x射线脉冲,也就是探针光;另一路经倍频晶体倍频作为泵浦光。通过延时台的调节,控制泵浦激光和x射线探针到达样品的时间间隔,可实现亚皮秒量级时间分辨的测量。而在基于激光驱动的超快x射线衍射实验中,如何提升样品端的光通量?如何获得低发散角的单色光束?如何抑制飞秒脉冲的时间展宽?如何同时兼顾以上的实验要求?都是需要考虑的问题。很多时候还需要兼顾多个技术指标,所以我们非常有必要对各类光学组件和x射线飞秒脉冲源的耦合效果和特点有一个比较清晰的认知。四种光学组件和激光驱动x射线源的耦合效果对比首先我们先对弯晶、多层膜镜、多毛细管和单毛细管四种组件的聚焦效果有个直观的了解。以下是将四种光学组件和激光驱动飞秒x射线源耦合,然后进行了对比。四种光学组件在聚焦和离焦位置的光斑:激光参数:800nm/1khz/5mj/45fs源尺寸:10um 打靶产额:4*109 photons/s/sr这是四种组件的理论放大倍率和实测聚焦光斑的对比。可以看到:弯晶和多层膜的工艺控制精度很高,实测光斑和理论值比较接近。而毛细管的大光斑并不是工艺精度的误差,而是反射型器件的色差导致的,不同能量的光都会对聚焦光斑有贡献,导致光斑较大。而各种组件的工艺误差,导致的强度不均匀分布,则是在离焦位置处的光斑中得到较为明显的体现。ge(444)双曲弯晶多层膜镜片单毛细管多毛细管放大倍率1270.7收集立体角 (sr)+---++反射率--+++-有效立体角 (sr)---+++1维会聚角 (deg)+---++耦合输出通量(ph/s)---+++聚焦尺寸 (μm)2332155105光谱纯度好好差差时间展宽 (fs)++++--激光参数:800nm/1khz/5mj/45fs打靶产额:4*109 photons/s/sr等级: ++ + - --利用针孔+sdd,在单光子条件下,测量有无光学组件时的强度和能谱,可以推演出相应的技术参数。这里我们直接给出了核心参数的总结对比。其中,大多数用户最为关注,同时也是对于实验最为重要的,主要是有效立体角、输出光通量、光谱纯度和时间展宽。可以看到:典型的有效收集立体角在-4、-5sr的水平,而在样品上的输出光通量在5-6次方每秒这样的水平。但是需要指出的是:毛细管并不具备单色的能力,虽然有效立体角大,但输出的是复色光。对于时间展宽的比较,很难通过实验手段获得测量精度在几十到百飞秒水平的结果,所以主要通过理论分析和计算来获得。对于同为衍射型组件的ge(444)双曲弯晶和多层膜镜片,光程差引入项主要是x光在组件内的贯穿深度。对于ge(444),8kev对应的布拉格角约为70度,x光的衰减长度约为28um,对应的时间展宽约90fs。对于多层膜镜片,因为它属于掠入射型的衍射组件,x光的衰减长度在um量级,对应的时间展宽甚至可以到10fs水平,因此这里的数据相对比较保守的。而对于毛细管这种反射型器件,光程差引入项主要是毛细管的长度差。对于单毛细管,光程差在10fs水平,对于多毛细管,位于中心区域和边缘的子毛细管长度是有较大的差异的,光程差可达ps水平。小结1. 弯晶:单色性好、时间展宽较小、有效立体角小、输出通量低;2. 多层膜:单色性好、时间展宽较小、有效立体角大、kα输出通量高;3. 单毛细管:复色、时间展宽很小、有效立体角大、复色光通量高;4. 多毛细管:复色、时间展宽较大、有效立体角最大、复色光通量最高。每一种光学组件都有其适用的场景,对于非单色的超快应用,如超快荧光、吸收谱,毛细管可能更为合适,而对于追求单色的超快应用,如超快衍射,多层膜是比较好的选择,兼顾了单色性、时间展宽和有效立体角(输出通量)三个核心指标!如果您有任何问题,欢迎联系我们进行交流和探讨。北京众星联恒科技有限公司致力于为广大科研用户提供专业的x射线产品及解决方案服务!
  • 贝克曼库尔特推出全新一代激光衍射粒度分析仪brLS 13 320 XR ——提供快速、准确和可再现的颗粒粒度分析
    中国,上海 —— 2018年10月讯 ——贝克曼库尔特生命科学事业部推出新一代激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR,以满足制药和工业领域质量控制和研究应用的严苛要求。贝克曼库尔特公司已有数十年颗粒表征分析的历史。作为颗粒产品的重要一员,多波长PIDS专利技术(专利号:4953978;5104221)的激光衍射粒度分析仪LS系列一直是业内的翘楚。新一代LS 13 320 XR是一款全自动、高准确性、高分辨率、高重现性以及操作极简的干湿两用粒度分析仪。其采用专利设计的X型对数排布的检测器阵列,可准确记录散射光强信号,获得真实准确的粒度分布。而132枚检测器更能清晰地区分不同粒度等级间散射光强谱图的差异,无需预估样品峰型,无需选择分析模型,便可轻松准确分析多峰样品,粒径测量范围从10 纳米至3,500 微米。在亚微米范围,为了从根本上解决传统方法对亚微米颗粒光强谱图差异区分差的难点,LS 13 320 XR采用偏振光强度差散射(PIDS)专利技术来分析多波长和多偏振下的样品,不仅可以真正实现小至10纳米的颗粒测量,而且还可以直接检测亚微米范围内的多峰分布,获得亚微米范围内更高的分辨率和准确性。ADAPT操作软件,不仅界面更加直观,而且增加了触摸屏技术,非常易于使用,无需操作经验,简单三步轻松获得准确的数据。醒目的导航轮,仅需一步便可完成数据的显示和导出。而为了更迅速的了解样品质量情况,软件可自动对测量结果标注绿色或红色,实现自动合格/不合格管理,直接质控。新一代激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR满足对于粒度测试的需求,适用于各种应用环境,从食品饮料质量控制、工业制造到小分子和生物制药应用领域。贝克曼库尔特生命科学事业部颗粒特性高级市场经理Dave Dunham表示:“在各种严苛环境下,LS 13 320 XR都能为客户提供灵活且优异的性能,我们对其检测结果的准确性和再现性以及最终产品的一致性信心十足!”*本产品仅用于科研,不用于临床诊断。关于贝克曼库尔特生命科学事业部贝克曼库尔特生命科学事业部一直致力于改善全世界人类的健康。贝克曼库尔特公司为广大科研、商业实验室的生命科学研究工作者们提供先进的仪器系统、试剂和完善的技术服务与支持,不断促进生物学科研的新技术发展。贝克曼库尔特公司不仅在离心机和流式细胞仪的行业位于前列,而且长期以来一直是生命科学仪器和解决方案的创新者,其产品主要用于前沿的重要研究领域,包括基因组学、蛋白质组学等。欲了解更多信息,敬请访问贝克曼库尔特全球网站www.BeckmanCoulter.com和中文官方网站www.beckmancoulter.cn。© 2018 Beckman Coulter, Inc. 保留所有权利。贝克曼库尔特、个性化标识和贝克曼库尔特产品以及服务标记均系贝克曼库尔特公司在美国和其他国家的商标或注册商标。
  • 一文看懂透射电子显微镜TEM
    p  透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。/pp strong 1 背景知识/strong/pp  在光学显微镜下无法看清小于0.2微米的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM分辨力可达0.2纳米。/pcenterp style="text-align:center"img alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/e4bcd2dc67574096b089e3a428a72210_th.jpeg" height="316" width="521"//p/centerp style="text-align: center "strong电子束与样品之间的相互作用图/strong/pp 来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp  透射的电子束包含有电子强度、相位以及周期性的信息,这些信息将被用于成像。/pp  strong2 TEM系统组件/strong/pp  TEM系统由以下几部分组成:/pp  电子枪:发射电子。由阴极,栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束,经阳极电压加速后射向聚光镜,起到对电子束加速和加压的作用。/pp  聚光镜:将电子束聚集得到平行光源。/pp  样品杆:装载需观察的样品。/pp  物镜:聚焦成像,一次放大。/pp  中间镜:二次放大,并控制成像模式(图像模式或者电子衍射模式)。/pp  投影镜:三次放大。/pp  荧光屏:将电子信号转化为可见光,供操作者观察。/pp  CCD相机:电荷耦合元件,将光学影像转化为数字信号。/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/077c0e70dca94509a9990ee4bf72b7c8_th.jpeg" height="359" width="358"//centerp style="text-align: center "strong透射电镜基本构造示意图/strong/pp 来源:中科院科普文章/pp  strong3 原 理/strong/pp  透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致,都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品,光束透过样品后进入物镜,由物镜会聚成像,之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛,而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也和光学凸透镜放大光路图一致。/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/e9d4e63ae7de44bdb90ac7b937a15169_th.jpeg" height="333" width="422"//centerp style="text-align: center "strong电镜和光镜光路图及电镜物镜成像原理/strong/pp 来源:中科院科普文章/pp  strong4 样品制备/strong/pp  由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息,因而样品必须要足够薄,使电子束透过。/pp  试样分类:复型样品,超显微颗粒样品,材料薄膜样品等。/pp  制样设备:真空镀膜仪,超声清洗仪,切片机,磨片机,电解双喷仪,离子薄化仪,超薄切片机等。/pp  /pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/57ee42cd8391437292cd04cc7bd24694_th.jpeg" height="296" width="406"//centerp style="text-align: center "strong超细颗粒制备方法示意图/strong/pp 来源:公开资料/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/2ddf2c80dbe34a069bc51a3595a55160_th.jpeg" height="325" width="404"/br/strong材料薄膜制备过程示意图/strong/centerp  来源:公开资料/pp strong 5 图像类别/strong/pp  strong(1)明暗场衬度图像/strong/pp  明场成像(Bright field image):在物镜的背焦面上,让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。/pp  暗场成像(Dark field image):将入射束方向倾斜2θ角度,使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/c458ccf5fa5c4ffa9cb948e2d28b76b0.png" height="306" width="237"/br/strong明暗场光路示意图/strong/centercenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/701e2e4343ea4409b3afdd92e1717804.jpeg" height="318" width="294"/br/strong硅内部位错明暗场图/strong/centerp  来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp  strong(2)高分辨TEM(HRTEM)图像/strong/pp  HRTEM可以获得晶格条纹像(反映晶面间距信息) 结构像及单个原子像(反映晶体结构中原子或原子团配置情况)等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。/pp  /pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/264c1d9b2f454ea9b8aa548033200a33.png" height="312" width="213"//centerp style="text-align: center "strongHRTEM光路示意图/strong/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/d53de1201a4e41948d4d095401c3dc3b.jpeg" height="234" width="321"/br/strong硅纳米线的HRTEM图像/strong/centerp  来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp  strong(3)电子衍射图像/strong/pp  选区衍射(Selected area diffraction, SAD): 微米级微小区域结构特征。/pp  会聚束衍射(Convergent beam electron diffraction, CBED): 纳米级微小区域结构特征。/pp  微束衍射(Microbeam electron diffraction, MED): 纳米级微小区域结构特征。 br//pp  /pcenterp style="text-align:center"img alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/f6fc1e403ef74234af93d4f9979429cd.png" height="296" width="227"//ppstrong电子衍射光路示意图/strong/p/centerp  来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/b0631c33d4b44f10bf9bdb0f908830c5.png" height="174" width="173"//centerp style="text-align: center "strong单晶氧化锌电子衍射图/strong/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/2ac3b6fb7b03421096ee3af0790b9acb.png" height="174" width="175"//centerp style="text-align: center "strongstrong无定形氮化硅电子衍射图/strong/strong/pcenterimg alt="" src="http://img.mp.itc.cn/upload/20170310/02f2f6c3980a4450a36bc7bbc36f10e5.png" height="174" width="170"/br/strong锆镍铜合金电子衍射图/strong/centerp  来源:《Characterization Techniques of Nanomaterials》[书]/pp  strong6 设备厂家/strong/pp  世界上能生产透射电镜的厂家不多,主要是欧美日的大型电子公司,比如德国的蔡司(Zeiss),美国的FEI公司,日本的日立(Hitachi)等。/pp  strong7 疑难解答/strong/pp  strongTEM和SEM的区别:/strong/pp  当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜收集二次电子和背散射电子的信息,透射电镜收集透射电子的信息。/pp  SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法特定剖面呈现出来,从而转化为可观察的表面 TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,一般为10到100纳米内,甚至更薄。/pp  strong简要说明多晶(纳米晶体),单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理:/strong/pp  单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网格的格点上。/pp  多晶面的衍射花样为各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或者照相底片的相交线,为一系列同心圆环。每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面,与Ewald球的相贯线为圆环,因此样品各晶粒{hkl}晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴,2θ为半锥角的衍射圆锥,不同晶面族衍射圆锥2θ不同,但各衍射圆锥共顶、共轴。/pp  非晶的衍射花样为一个圆斑。/pp strong 什么是衍射衬度?它与质厚衬度有什么区别?/strong/pp  晶体试样在进行电镜观察时,由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同,满足布拉格条件的程度不同,使得对应试样下表面处有不同的衍射效果,从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布,这样形成的衬度称为衍射衬度。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的,适用于对复型膜试样电子图象做出解释。/pp  strong8 参考书籍/strong/pp  《电子衍射图在晶体学中的应用》 郭可信,叶恒强,吴玉琨著 /pp  《电子衍射分析方法》 黄孝瑛著 /pp  《透射电子显微学进展》 叶恒强,王元明主编 /pp  《高空间分辨分析电子显微学》 朱静,叶恒强,王仁卉等编著 /pp  《材料评价的分析电子显微方法》 (日)进藤大辅,及川哲夫合著,刘安生译。/pp  来源:中国科学院科普文章《透射电子显微镜基本知识介绍》/p
  • 深入其“镜”!《晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例》出版
    晶体之秘,一镜解之长期以来,材料科学研究一直围绕着材料的结构-性能关系展开。对于绝大多数材料,晶体结构及各类缺陷决定了其性能和使役行为。因此,分析表征材料的晶体结构及缺陷是材料研究的核心内容。自从德国电气工程师 Ernst Ruska 与 Max Knoll 发明了电子显微镜后,经过近百年的不断发展,电子显微术已成为材料晶体结构及缺陷表征最常用、最有力的工具之一,是材料研究不可或缺的重要手段。电子显微术的发展和应用极大地拓展了人们对材料结构的认知,推动了材料科学的迅猛发展,催生了众多的高性能新材料。“中国相”的发现1、1946年夏,郭可信从浙江大学化工系毕业后通过公费留学考试,于1947年9月到瑞典斯德哥尔摩的皇家理工学院金相学实验室专攻冶金学,其间主要利用X射线衍射方法研究合金中的相结构。后来逐渐接触电子显微镜,用的是当时瑞典唯一的一台RCA电镜,没有衍射功能。2、1955年,郭可信用萃取复型法研究合金钢回火初期生成的碳化物,同年11月去伦敦作“δ-铁素体的金相学”的学术报告,并去剑桥大学参观。郭可信用胶膜(萃取)复型观察到几十埃大小的VC颗粒及针状Mo2C,这是V、Mo在钢中产生晶粒细化及析出硬化(或二次硬化)的原因, 于是在1956年写了一篇文章。这是用电镜进行这类研究工作的早期著作。3、1956年3月, 郭可信看到周总理“向科学进军”的动员令,兴奋不已,4月底乘机经苏联回到阔别九年的祖国,任职于中国科学院金属研究所。之所以来到沈阳工作,与那时金属所有一台苏联人仿制西门子的透射电镜不无关系。4、1962年中国科学院又分配给金属所一台民主德国产的电镜,仍然不能做电子衍射。郭可信等用它观察到铝合金中的位错运动和交滑移,并在1964年第4届欧洲电子显微学会议上做了展示。1965年金属所又争取到一台日本电子株式会社生产的JEM-150电镜, 用它开展镍合金中位错、层错的衍衬像研究。5、6、1967年夏,中国科学院分配给金属所一台之前通过贸易定购的捷克产电镜。郭可信带领其他人居然把这台捷克电镜安装起来,并调试出十几埃的电子显微像。7、60年代中期至70年代中期, 郭可信亲自在JEM-150电镜上做了些相分析工作,发现M23C6与M6C 都属面心立方晶系。为了得到三维的不同取向电子衍射图,他还和北京分析中心的孟宪英利用她的JEM-100电镜开展了倾斜晶体的实验, 确定了一些含钒矿物的点阵类型, 后来这种技术在国内得以广泛传播。8、改革开放之后的1980年,郭可信了解到院里准备引进一两台电子显微镜, 随即便去北京争取,并向郁文秘书长立下军令状,保证在电镜安装后三年内做出出色成绩。这样,院里决定为金属所订购一款当时分辨率最高的透射电镜,型号为JEM200CX。郭可信带领研究团队统筹安排诸多研究方向,相继取得了一批具有国际领先水平的研究成果:在四面体密堆晶体(Frank-Kasper相)的电子衍射图中观察到五次对称的强电子衍射斑点,并给予正确的诠释;独立在Ti-Ni合金中发现具有五次旋转对称的三维准晶(被西方学者称为“中国相”);首先发现八次、十次旋转对称的二维准晶;首先发现一维准晶;首先发现具有立方对称的三维准晶,并阐明准晶的必要条件。9、这些工作将当时中国的准晶研究引领至国际前沿。通过这台电镜完成的研究工作共培养出硕士、博士和博士后共计36名, 其中有2人当选为中国科学院院士。相关研究成果获国家自然科学奖一等奖和四等奖各1项,中国科学院自然科学奖和科技进步奖4项。10、2000年后,这款已经服役近30年的 JEM200CX基本不能处于正常工作状态了。2016年,金属所把该电镜的镜筒做了解剖,整机摆放在研究生教育大厦(郭可信楼)一楼大厅供学习和参观。以上图文选自《晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例》一书,更多有关电子显微镜历史发展和科学家精彩故事请详阅本书。回到科学初心,用实验案例探索晶体的奥秘书名:晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例书号:978-7-04-061096-3作者:马秀良 著定价:149.00元出版日期:2024年1月01 内容简介本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例,旨在以“案例”的形式梳理电子显微学及晶体学的基础知识,展示如何通过对材料基础科学问题的再认识,从而对经典问题产生新理解,分享发现的乐趣,传授30余载的学术经验。本书主体(第2~6章)按晶体的对称性从低到高依次展开,包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系,涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体,共40余种物相。第1章和第7章是科学研究中相关历史事件的精彩片段,不但能引起读者对本领域历代先驱者的无限敬仰,也能激发年轻学者投身于基础科学研究、探索自然奥秘的热情和决心。本书适合作为电子显微学以及材料相关专业研究生的教学参考书,也可供材料科学与过程领域的科研工作者和从业者阅读和参考。02 作者简介马秀良,满族,1964年出生于辽宁省东沟县。1988年毕业于大连理工大学材料工程系。曾师从我国著名科学家郭可信先生,在中国科学院北京电子显微镜实验室和大连理工大学从事 AI 基合金中十次对称准晶及复杂合金相的冶金学和晶体学研究,1994年获博士学位,1995—2005 年先后在德国多特蒙德大学,日本精细陶瓷研究中心、东京大学,中国香港城市大学,以及德国鲁斯卡电镜中心等从事固体材料结构与缺陷的高分辨电子显微学研究,2001—2022年为中国科学院金属研究所研究员,先后任沈阳材料科学国家(联合)实验室固体原子像研究部主任(2006—2018),沈阳材料科学国家研究中心材料结构与缺陷研究部主任(2018—2022),金属研究所第十二届学术委员会主任(2019—2022)。现任中国科学院物理研究所研究员、松山湖材料实验室研究员、大湾区显微科学与技术研究中心负责人。院士推荐
  • 第十四届全国X射线衍射与新材料学术大会暨ICDD研讨会第二轮通知
    “全国X射线衍射与新材料学术大会暨国际衍射数据中心(ICDD)研讨会”是由中国物理学会X射线衍射专业委员会、中国晶体学会粉末衍射专业委员会和国际衍射数据中心等单位共同主办的系列学术会议,每三年召开一次。本次大会旨在把从事X射线衍射与材料研究的专家、学者召集在一起,搭建交流和合作的平台,总结X射线衍射与新材料分析及相关学科的发展现状,交流新的思想和成果,从而推动X射线衍射与新材料分析及相关学科的发展。大会开始前一天,将面向研究生及青年科技工作者举办免费的讲习班。大会期间,还将同时举办X射线衍射仪、结构数据库、软件及材料制备、加工等仪器设备展。欢迎各高等院校、科研院所以及企事业单位的同仁们踊跃参加。一、大会主办单位中国物理学会X射线衍射专业委员会中国晶体学会粉末衍射专业委员会国家自然科学基金委员会工程与材料科学部北京硅酸盐学会中国科学院物理研究所International Centre for Diffraction Data (ICDD), USA二、大会承办单位河南大学物理与电子学院河南大学光伏材料省重点实验室河南大学特种功能材料教育部重点实验室/材料学院三、大会举办时间地点时间:2021年8月18日- 8月22日地点:河南开封,中州国际饭店四、大会组委会大会名誉主席: 林少凡、麦振洪主席: 陈小龙副主席:廖立兵、李明、王聪、姜晓明秘书长: 王文军委员:鲍威、蔡格梅、蔡宏灵、陈骏、陈小龙、程国峰、董成、方亮、费维栋、高宇、郭永权、何维、贺蒙、黄丰、姬洪、姜传海、姜晓明、李明、李晓龙、李镇江、廖立兵、刘福生、刘岗、刘泉林、骆军、苗伟、潘峰、潘世烈、石磊、宋波、宋小平、谭伟石、唐为华、王聪、王刚、王文军、王沿东、王颖霞、王育华、吴东、吴小山、吴忠华、武莉、杨智、叶文海、袁文霞、张吉东、张侃、张鹏程、张志华、赵景泰、赵彦明、郑伟涛、郑遗凡五、大会地方组委会主席:白莹、张伟风、杜祖亮秘书长:邓浩委员:白莹、邓浩、杜祖亮、贾小永、李国强、李胜军、李新营、连瑞娜、任凤竹、王书杰、魏高明、张伟风、赵高峰、周正基六、大会日程日期会议事项8月18日讲习班老师、学员报到(中州国际饭店)8月19日讲习班上课/参会代表报到/展商布展/Poster张贴8月20日大会开幕、大会报告8月21日ICDD workshop、大会报告8月22日分会场报告、大会闭幕七、大会邀请报告(持续更新中)Prof. Stanley Whittingham,2019年诺贝尔奖获得者,纽约州立大学、宾汉姆顿大学陈立泉 研究员,中国工程院院士,中科院物理所陈鸣 研究员,中科院广州地球化学所鲍威 教授,香港城市大学Prof. Hideo Hosono,日本东京工业大学Prof. Robert Dinnebier,德国马普固体所Dr. Thomas Blanton,ICDD, USADr. Timothy Fawcett,ICDD, USADr. Justin Blanton,ICDD, USAProf. Cam Hubbard,Oak Ridge National Lab。。。。。。八、分会场设置1. 衍射理论、方法及软件和数据库(投稿邮箱:xray202101@163.com)分会主席:陈骏(北京科技大学)、王颖霞(北京大学)、董成(中科院物理研究所)、张志华(大连交通大学)、贺蒙(国家纳米科学中心)2. 超导和拓扑材料及表征(投稿邮箱:xray202102@163.com)分会主席:王刚(中科院物理研究所)、吴小山(南京大学)、赵彦明(华南理工大学)、鲍威(香港城市大学)、郭建刚(中科院物理研究所)3. 能源材料及表征(投稿邮箱:xray202103@163.com)分会主席:白莹(河南大学)、谷林(中科院物理研究所)、骆军(上海大学)、李晓龙(上海光源)、赵怀周(中科院物理研究所)4. 催化、环境材料及表征(投稿邮箱:xray202104@163.com)分会主席:宋波(哈尔滨工业大学)、 李镇江(青岛科技大学)、 刘岗(中科院金属研究所)、 袁文霞(北京科技大学)、 郑遗凡(浙江工业大学)5. 发光材料及表征(投稿邮箱:xray202105@163.com)分会主席:武莉(南开大学)、蔡格梅(中南大学)、 王育华(兰州大学)、刘泉林(北京科技大学)6. 多铁性材料及表征(投稿邮箱:xray202106@163.com)分会主席:王聪(北京航空航天大学)、蔡宏灵(南京大学)、何维(广西大学)、赵景泰(桂林电子科技大学)、石磊(中国科技大学)7. 薄膜及低维材料及表征(投稿邮箱:xray202107@163.com)分会主席:张侃(吉林大学)、唐为华(北京邮电大学)、姬洪(电子科技大学)、宋小平(季华实验室)、张吉东(中科院长春应用化学研究所)8. 工业应用及其他(投稿邮箱:xray202108@163.com)分会主席:姜传海(上海交通大学)、王沿东(北京科技大学)、程国峰(中科院上海硅酸盐研究所)、叶文海(重庆大学)(投稿截止日期:2021年7月20日)九、征稿范围及格式1. 征稿内容1)新材料;2)结构分析;3)薄膜与界面;4)小角散射;5)织构与应力;6)X射线衍射教学;7)X射线衍射在工业中的应用;8)ICDD 粉末衍射数据库与软件;9)中子衍射与电子衍射;10)新方法与新技术;11)科普、教学;12)其它。2. 会议摘要、论文要求论文摘要或全文均可,摘要篇幅不超过1页A4纸;全文篇幅不超过4页A4纸,采用MS-word,中英文均可,并注明通讯联系人和联系方式(投稿模板见文末附件)3. 投稿方式通过电子邮件形式,发到相应会场的投稿邮箱。4. 奖励 会议将设立青年优秀报告奖和优秀墙报奖,以学会名义颁发证书和奖金,以鼓励从事X射线衍射和新材料相关领域的青年科技工作者和研究生。(投稿截止日期:2021年7月20日)十、讲习班培训主题:结构分析方法与相关软件应用培训地址:中州国际饭店中华厅分主题:Jade软件与ICDD数据库应用主讲老师:1. Dr. Rongsheng Zhou, ICDD (线上)JADE软件处理分析粉末XRD数据案例分析 2. 徐春华 博士, ICDD(线下) ICDD-PDF数据库使用、深度挖掘数据3. 金士锋 副研究员,中科院物理研究所(线下)X射线衍射基础知识4. 兰司 教授,南京理工大学径向分布函数原理、 方法及其在先进材料研究中的应用5. 陶琨 教授,清华大学全文自编中文版X射线多晶衍射分析软件应用6. 冯振杰 副教授,上海大学相变前后晶体结构分析初步及Rietveld精修自动化软件使用注:1. 讲习班限定人数100人,按报名先后顺序;免学费,食宿费自理。2. 凡参加讲习班师生,均可获得 ICDD-PDF-4+ 2021数据库、JADE Pro 8.0软件试用,试用期暂定14天。十一、会议注册费提前注册:正式代表2000元,学生代表1800元。现场缴费:正式代表2200元,学生代表2000元。请将注册费汇至如下账户:开户名称:中国晶体学会开户银行:工行北京海淀西区支行银行账号:0200004509014447141注:汇款时请在附言中注明个人信息,汇款后请发邮件至xray2021@163.com 告知汇款金额、开发票信息。十二、企业参展会议期间安排国内外厂商介绍仪器设备和技术的最新进展,并安排各厂商专家对用户使用中遇到的问题进行现场技术答疑。除报告外, 会议期间还将为厂商安排展台。参展事宜请联系:王文军(电话:010-82649836)徐春华(电话:13401176510)(参展报名截止日期:2021年7月20日)十三、会议住宿中州国际饭店:联系人:郭经理 15903789829 (五星级标准)酒店地址:河南省开封市鼓楼区大梁路121号总机电话:0371-22218888标准间/单间大床房:380 元/间(含早)。注:上述为会议协议价,预订时请报会议名称。中州国际相邻酒店:希岸酒店:联系电话:0371-23390888;单间/标间:220左右。星程酒店:联系电话:0371-23281222;单间/标间:220左右。注:1. 预订中州国际饭店的代表,预定后请在参会回执中注明。方便会务组协助核对预定信息。2. 会务组不负责预定酒店,请参会代表自行预订。十四、会务组联系方式王文军(邀请报告/参展)中科院物理所电话:010-82649836E-mail:ncxray@sina.com邓浩(口头报告/赞助)河南大学电话:13619818911E-mail:xray2021@163.com连瑞娜(会务)河南大学电话:15103787502E-mail:xray2021@163.com会议官网网址:http://x-ray2021.cpsjournals.cn/index.php?m=70 附件:第十四届全国X-射线衍射学术大会第二轮通知.pdf
  • 铜仁学院1495.00万元采购孔径/隙度分析,波散型XRF,能散型XRF,扫描电镜,X射线衍射仪,X...
    详细信息 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 贵州省-铜仁市-万山区 状态:公告 更新时间: 2023-04-21 招标文件: 附件1 附件2 附件3 项目概况铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)招标项目的潜在投标人应在铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载获取招标文件,并于(北京时间2023年05月11日 09时30分)前递交投标文件。 一、项目基本信息 项目编号:P52060020230002KG 项目名称:铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 项目序列号:P52060020230002KG 预算金额(元):14950000.00元 最高限价(元):标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)】:7000000 标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)】:7300000 采购需求:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD) 铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET) 标项一: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7530000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD)。 备注: 标项二: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7420000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET)。 备注: 合同履约期限:以合同签订的时间为准 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:按财库〔2022〕19号、财库〔2020〕46号、黔财采〔2014〕15号、财库〔2017〕141号、财库〔2014〕68号和财政部印发“关于印发节能产品、环境标志产品政府采购品名清单的通知”执行。 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2023年04月21日 17时00分至 2023年04月28日 17时00分 地点:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 方式:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 售价:0元人民币(含电子文档) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年05月11日 09时30分00秒 投标地点(网址):http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin 开标时间:2023年05月11日 09时30分 开标地点:铜仁市公共资源交易中心铜仁市开标室二 五、公告期限 2023年04月21日17时00分至2023年04月28日17时00分 六、其他补充事宜 7.1投标保证金情况: 投标保证金额:(¥:50000.00元)伍万元/单个包(同时投2个包的应分别缴纳投标保证金) 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 单位名称:铜仁市公共资源交易中心 开户银行:贵州银行股份有限公司铜仁锦江支行 账 号:0601001500000296 投标保证金交纳方式:采用银行转账、电汇形式提交具体缴退流程见全国公共资源交易平台(贵州省●铜仁市)站,点击首页-办事指南-保证金缴退,自行交纳保证金;或者采用《投标保证金保函》(电子保函)提交(具体操作方式见铜仁市公共资源交易中心首页——办事指南——政府采购——常见问题解答——《投标电子保函申请操作步骤》) 7.2发布公告的媒介:本次公告在 贵州省政府采购网、全国公共资源交易平台(贵州省﹒铜仁市)上发布。 7.3 现场踏勘:不组织。 7.4样品(演示):不要求。 7.5本项目采用电子开评标,请各位投标人携带CA前往交易中心投标现场开标或采用远程“不见面”开标方式,投标人可根据自身情况选择其中一种方式。 7.6开标时,解密电子文件前,投标供应商现场参加开标的需提供法人代表身份证或委托代理人持法人授权委托书及代理人身份证件原件(或电子身份证)。如选择不见面开标,不审查此项资料。7.7本项目为货物采购(注:进口设备)。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名称:铜仁学院 地址:铜仁学院 项目联系人:杨江 项目联系方式:15908568932 2、采购代理机构信息 名称:大成工程咨询有限公司 地址:贵州省铜仁市万山区倚信路周家安置区二期 项目联系人:王鸿宇 项目联系方式:15108560639 文件预览:交易公告.pdf铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容:孔径/隙度分析,波散型XRF,能散型XRF,扫描电镜,X射线衍射仪,X光电子能谱,分子荧光光谱 开标时间:2023-05-11 09:30 预算金额:1495.00万元 采购单位:铜仁学院 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:大成工程咨询有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 贵州省-铜仁市-万山区 状态:公告 更新时间: 2023-04-21 招标文件: 附件1 附件2 附件3 项目概况铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)招标项目的潜在投标人应在铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载获取招标文件,并于(北京时间2023年05月11日 09时30分)前递交投标文件。 一、项目基本信息 项目编号:P52060020230002KG 项目名称:铜仁学院分析测试中心设备采购(二次) 项目序列号:P52060020230002KG 预算金额(元):14950000.00元 最高限价(元):标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)】:7000000 标项【铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)】:7300000 采购需求:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD) 铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET) 标项一: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7530000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包1(二次)包含设备:扫描电子显微镜(SEM)、高低温介电阻抗温谱仪、铁电分析仪、X射线衍射分析仪(XRD)。 备注: 标项二: 标项名称:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次) 数量:1 -批 预算金额(元):7420000.00 简要规格描述或项目基本概况介绍、用途:铜仁学院分析测试中心设备采购包2(二次)包含设备:波长色散X射线荧光光谱仪(XRF)、X射线光电子能谱仪(XPS)、比表面积及孔隙度分析仪(BET)。 备注: 合同履约期限:以合同签订的时间为准 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:按财库〔2022〕19号、财库〔2020〕46号、黔财采〔2014〕15号、财库〔2017〕141号、财库〔2014〕68号和财政部印发“关于印发节能产品、环境标志产品政府采购品名清单的通知”执行。 3.本项目的特定资格要求:无 三、获取招标文件 时间:2023年04月21日 17时00分至 2023年04月28日 17时00分 地点:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 方式:铜仁市公共资源网上交易系统(http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin)下载 售价:0元人民币(含电子文档) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2023年05月11日 09时30分00秒 投标地点(网址):http://58.42.4.86:50014/TPBidder/memberLogin 开标时间:2023年05月11日 09时30分 开标地点:铜仁市公共资源交易中心铜仁市开标室二 五、公告期限 2023年04月21日17时00分至2023年04月28日17时00分 六、其他补充事宜 7.1投标保证金情况: 投标保证金额:(¥:50000.00元)伍万元/单个包(同时投2个包的应分别缴纳投标保证金) 投标保证金交纳截止时间:同投标截止时间 单位名称:铜仁市公共资源交易中心 开户银行:贵州银行股份有限公司铜仁锦江支行 账 号:0601001500000296 投标保证金交纳方式:采用银行转账、电汇形式提交具体缴退流程见全国公共资源交易平台(贵州省●铜仁市)站,点击首页-办事指南-保证金缴退,自行交纳保证金;或者采用《投标保证金保函》(电子保函)提交(具体操作方式见铜仁市公共资源交易中心首页——办事指南——政府采购——常见问题解答——《投标电子保函申请操作步骤》) 7.2发布公告的媒介:本次公告在 贵州省政府采购网、全国公共资源交易平台(贵州省﹒铜仁市)上发布。 7.3 现场踏勘:不组织。 7.4样品(演示):不要求。 7.5本项目采用电子开评标,请各位投标人携带CA前往交易中心投标现场开标或采用远程“不见面”开标方式,投标人可根据自身情况选择其中一种方式。 7.6开标时,解密电子文件前,投标供应商现场参加开标的需提供法人代表身份证或委托代理人持法人授权委托书及代理人身份证件原件(或电子身份证)。如选择不见面开标,不审查此项资料。7.7本项目为货物采购(注:进口设备)。 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1、采购人信息 名称:铜仁学院 地址:铜仁学院 项目联系人:杨江 项目联系方式:15908568932 2、采购代理机构信息 名称:大成工程咨询有限公司 地址:贵州省铜仁市万山区倚信路周家安置区二期 项目联系人:王鸿宇 项目联系方式:15108560639 文件预览:交易公告.pdf铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf 铜仁学院分析测试中心设备采购(二次)采购文件.pdf
  • 意大利通过X射线衍射、电子探针等技术首次获得白磷钙矿结构完整表征
    意大利国家研究委员会晶体学研究所(CNR-IC)与罗马一大、罗马三大以及英国ISIS脉冲介子和中子源合作开展了一项研究,详细分析了白磷钙矿(whitlockite)的结构,并首次获得完整表征,这一研究也将有助于改进生物医学材料的性能。相关论文发表在《Crystals》上。白磷钙矿是一种稀有的天然磷酸钙,存在于陆地花岗岩岩石和球粒陨石中,可作为合成磷酸三钙的天然替代物。合成磷酸三钙是一种生物材料,用于骨科和牙科领域的填料和涂料。合成磷酸三钙是合成羟基磷灰石的替代品,后者与人类骨骼与牙齿的矿物质成分非常相似,但在某些情况下(例如用作骨假体)表现得很脆弱。研究人员在通过X射线衍射对白磷钙矿进行初步分析,利用中子衍射氢原子进行定位,使用电子探针以确认其化学成分,并使用红外光谱法对衍射结果进行补充。研究人员表示,基于对天然材料的研究,可以进一步改进与其类似的合成材料的性能,降低其脆弱性以及用作假体时的排斥风险,从而改善假体的安全性及整体表现,更好地应用于生物医学等领域。
  • 160万!东南大学分析测试中心原位X射线衍射仪采购项目
    项目编号:JTCC-2202AW1506(SEU-ZB-220192)项目名称:东南大学分析测试中心原位X射线衍射仪采购项目预算金额:160.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):154.0000000 万元(人民币)采购需求:分析测试中心采购原位X射线衍射仪一台,主要技术要求如下: 1、X射线发生器:≥3kW 2、X射线源:Cu靶和Co靶 3、高精度测角仪 4、高速探测器 5、原位在线分析功能合同履行期限:关境内产品:合同生效后90天内设备安装调试合格;关境外产品:开具信用证后90天内设备安装调试合格。本项目( 不接受 )联合体投标。
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