电位粒度分析仪

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

BeNano 90 Zeta纳米粒度及Zeta电位仪是BeNano 90 + BeNano Zeta二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标粒径测试粒径范围0.3nm-15μm★样品量3μL-1mL★检测角度90° & 12°分析算法Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20um.cm/v.s电导率范围0-260mS/cmZeta测试粒径范围2nm-110μm分子量测试分子量范围342Da-2×107Da★趋势测量模式时间和温度粘度测试粘度范围0.01cp-100cp★折光率范围1.3-1.6系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C冷凝控制干燥空气或者氮气激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最快25 ns采样，最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● 颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布● 颗粒体系的Zeta电位及其分布● 分子量● 分布系数PD.I● 扩散系数D● 流体力学直径DH● 颗粒间相互作用力因子kD● 溶液粘度检测技术● 动态光散射● 电泳光散射● 相位分析光散射● 静态光散射相关技术相关应用

仪器简介： 90Plus PALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高约1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；3.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 4.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 5.温控范围：-5℃～110℃,±0.1℃； 6.pH值测量范围：1-14； 7.激光源：40mW固体激光器（He-Ne气体激光器可选）； 8.检测器：APD或PMT；9.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 10.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 10.散射角：15°和90°；12.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；13.电导率范围：0-30S/m；14.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度；7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm；2.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 5.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

仪器简介： 90Plus Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪，粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用电泳光散射原理，带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；3.样品体积：1～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 4.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 5.温控范围：-5℃～110℃,±0.1℃； 6.激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 7.检测器：APD或PMT；8.相关器：4*1011线性通道，支持两路互相关； 9.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 10.散射角：15°和90°；11.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；12.电导率范围：0,20S/m；13.电泳迁移率范围：10 -10-10 -7 m2 /V.s；14.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；3.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；4.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 5.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm；2.插入式电极，耐腐蚀，可重复使用； 3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 5.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

仪器简介： 作为专业将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的173Plus多角度粒度分析仪。随着173Plus的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，高可达40%w/v。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～10μm（与折射率，浓度，散射角有关）；2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v；3.典型精度：1％；4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池；6.分子量测定范围：342～2*107Dalton；7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃；8.pH值测量范围：1-14；9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）；10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道，支持两路互相关；12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数；13.散射角：13°、90°与173°（自动选择或设置测量点位置） 选件：1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.Zeta电位升级：具有Zeta电位测量功能；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度；7.21CFR软件：符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料；

仪器简介：作为最先将光导纤维引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司对光纤技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，从而推出FOQELS（Fiber Optic Quasi Elastic Light Scattering）。与经典的动态光散射粒度分析仪不同的是，FOQELS采用了独特的背向光散射测量技术，使用全光纤光路传输，有效地提高了光散射技术的浓度测量上限，最高可达40%wt。同时，提供了高温测量选件（宇航级隔热材料），极大地拓宽了仪器的应用范围，例如对于高温油的测量。技术参数：1.粒度范围：0.3nm～3&mu m （与折射率，浓度有关）2.典型精度：1％3.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4.样品体积：典型样品池1ml，50&mu L微量样品池（可选）5.悬浮液浓度：0.0001%&mdash 40%（与样品的粒度大小有关）6.温控范围与精度： 6° C ～ 80° C, ± 0.1° C7.检测器：PMT或APD8.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数9.散射角：145° 主要特点：1.高浓度粒度分析，最高可达40%wt；2.适合高温样品体系的测量。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 产品简介： Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。详细说明： 作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列 项目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●● 技 术 参 数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选 件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度 ●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响技术参数1.粒度测量范围：0.3nm～10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度：1％5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积：1～3ml7.分子量测定范围：342～2×107Dalton8.Zeta电位范围：-500mV～500mV9.电导率范围：0～30S/m10.电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s11.电场强度：0 ～ 60 kV/m12.电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）13.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。14.pH测量范围：1-1415.激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）16.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）17.相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数19.散射角：15°、90°与173°20.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg22.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件24.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/mZetaAPS高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000umZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；ZetaAPS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍： SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。 SZ901的性能和主要特点包括：◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术技术指标：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15μm*粒径度优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径重复性优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径测量小样品浓度0.1mg/ml粒径测量小样品量3ul*Zeta电位测量范围-600mV - +600mV电导率270mS/cm适用Zeta电位测量的粒径3nm – 100μm*电导率度±10%分子量范围340Da-2 x 107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量17kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）

美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍：美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪,可以测试：粒径、Zeta电位、滴定、电导等。此仪器容易使用、测量精确。对于高达60%（体积）浓度的样品，也无需进行稀释或样品前处理，即可直接测量甚至对于浆糊凝胶、水泥以及用其它仪器很难测量的材料都可直接进行测量。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo 是创新型纳米粒度Zeta电位分析系统，通过远程光学探头，进行原位在线测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。动态光散射（DLS）和激光多普勒电泳（LDE） 技术，可提供高分辨率，准确和快速的粒度、ZETA电位测 以及远程原位测量。 工作原理 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。Zeta电位部分是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的粒度分析仪VASCO的补充，用于研究胶体溶液的稳定性质。 技术创新 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo独特的样品池，双厚度控制系统，可实现精确测量，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。 ● 二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 ● 独特的双厚度控制器系统 ● 直接测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。 性能参数 ● 粒径范围：0.5nm-10μm ● zeta电位范围：±500mV ● 结合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨测量能力 ● 非接触远程测量纳米粒度的动力学分析 ● zeta电位的可编程动力学实验（zeta 对 温度/pH/时间） ● 动态时间切片功能，可进行数据后处理 ● 可选高浓度Flex探头 典型案例 应用范围 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

产品简介： 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑应用案例 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪产品介绍：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90Z Plus具有更优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90Z Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型仪器中集成了三种测试技术：动态光散射技术NS-90Z Plus 纳米粒度及电位分析仪使用经典的90°角动态光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技术来测量粒子和颗粒的粒度。该技术利用光电检测器测量样品中粒子由布朗运动所产生的散射光强涨落信号，通过数字相关器计算得到相关函数(Correlation Function)以分析颗粒的扩散速率，再以斯托克斯-爱因斯坦(Stokes-Einstein)方程计算出颗粒的粒径与分布。本技术所测量的粒径为流体动力学等效直径，通过相同扩散速率的硬球进行等效直径计算而得。动态光散射法也称为光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。NS-90Z Plus动态光散射光路图电泳光散射技术 NS-90Z Plus使用电泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技术测量颗粒滑移层的Zeta电位。颗粒在人为施加的电场作用下做电泳运动，其电泳运动速率和Zeta电位直接相关，以亨利方程进行表述。NS-90Z Plus使用恒流模式下的快慢场混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到Zeta电位平均值和电位分布曲线。电泳光散射技术可测量最大粒径至100μm左右的样品的Zeta电位 (取决于样品属性及制备) 。Zeta电位的概念图NS-90Z Plus电泳光散射光路图静态光散射技术 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射(Static Light Scattering/SLS) 技术以非侵入式表征溶液及胶体中的蛋白质单体、聚集体或聚合物等粒子的摩尔质量，即分子量。在德拜法分子量计算的描述中，粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。通过使用德拜法测量一组浓度梯度的样品静态散射光强度，可以计算蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的平均强度。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。NS-90Z Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量用途： NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是一款高性价比的纳米颗粒粒径和纳微米颗粒Zeta电位的表征仪器，适用于对粒度和电位分布表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 蛋白质及其聚集体的评价&bull 电极浆料及助剂的粒径、分散和稳定性表征&bull 涂覆材料分散性能预测&bull 纳米金等高电导率溶胶的改性&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的使用&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数性能特点：【先进的高信噪比光学设计】 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一台紧凑仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三种光学原理技术。通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。动态光散射粒径测量示意图【易使用、免维护的系统设计】 NS-90Z Plus采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的多种类可选的比色皿样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。比色皿样品池【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-90Z Plus所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。仪器可在330000:1的动态范围内通过衰减器自适应调节激光强度。【报告可自定义多种参数输出】 NS-90Z Plus具有完备的纳米粒度和Zeta电位分析功能。可以输出Z平均直径、多分散指数PI、各粒径分布峰的峰值粒径和含量等参数，同时可输出体积和数量分布 (使用全范围米氏理论(Mie Theory)计算) 。可输出Zeta电位、电位分布等参数。可自定义报告【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。APD性能图【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，多于4000通道， 1011动态线性范围，最短采样时间间隔可低至25ns，结合先进的相关算法，最短子测量时间可缩短至1.68s。典型相关曲线示意图【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【恒流模式的M3-PALS快慢场混合相位检测技术】 NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科的M3-PALS技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分布的信息。相比上一代产品，NS-90Z Plus能满足具有更高电导率的样品的Zeta电位和电泳迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。快慢场混合相位检测Zeta电位分布、相位、频移及电压和电流图【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-90Z Plus测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的粒度、Zeta电位和电位分布结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。数据质量指南【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件迭代 开发模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。电位测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 SOP标准化操作程序4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含测试报告的质量评价、问题产生的原因、如何使用这些数据、如何改进这些数据等等。5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。自定义报表功能演示6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，以适合包括单分散样品、宽分布样品在内的多种样品测试；具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。Z-均粒径值趋势图8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。介质粘度数据库典型测试结果：1. NS-90Z Plus良好的重现性——60nm标号乳胶微球标样 (Thermal，标称值：62±3nm)2. NS-90Z Plus提升了粒径上限分析性能——10μm标号标样的测试**：采用微毛细管样品池进行粒度分析。3. NS-90Z Plus卓越的分辨力——60nm、200nm双标样混合样品4. NS-90Z Plus电位和电位分布的测量——ZTS1240电位标样 可用于粒径测试 可用于Zeta电位测试 可用于分子量测试标配附件：12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012) 可替换型，无污染最少样品量1mL适用于水或乙醇作为分散介质的粒度测试可搭配可选的通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)用于Zeta电位测试折叠毛细管样品池(DTS1070)可替换型，无污染使用扩散障碍法时，可实现最少样品量20μL的测试适用于水或乙醇作为分散介质的Zeta电位测试可使用标准化的微量无渗鲁尔接头，搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用恒流模式下可用于测试数百次低电导率样品12mm方形玻璃样品池(PCS8501) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数水性或非水性溶剂或介质的测试可选配附件：微毛细管样品池(ZSU1002)由样品池基座和可替换型方形微毛细管组成最少样品量3μL可更准确地测试1μm以上的颗粒粒径测量上限最高可拓展至15μm通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)最少样品量0.7mL可搭配12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012)用于水性样品的测试可搭配12mm玻璃样品池(PCS1115)用于水性或非水性样品的测试便于多样品同时制样，加快测试流程高浓度Zeta电位样品池套件(ZEN1010)适用于无法稀释或高浓度的水性样品的测试可搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用技术参数：【粒径】1. 测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)2. 测量原理：动态光散射法(DLS)3. 重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)4. 最小样品容积*：20µ L5. 最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)6. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)7. 最小子测试时间：1.68s【分子量】8. 分子量测量范围： 980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算【Zeta电位】9. Zeta 电位范围：无实际限制10. 适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)11. 最大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s12. 测量原理：电泳光散射法(ELS)13. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)14. 最小样品容积：20μL15. 最高样品电导率：260mS/cm16. 检测技术：快慢场混合模式相位分析(M3-PALS)，恒流模式【系统】17. 激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。18. 整机激光安全：I类19. 检测角度： 90，1320. 检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE80%@632.8nm21. 相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围22. 冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)23. 温度控制范围：0 - 120 ℃24. 温度控制最高精度：± 0.1 ℃25. 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能【重量与尺寸】26. 主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)27. 主机净重：19 kg【运行环境】28. 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A29. 功率：最大值100W，典型值45W30. 推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上31. 计算机接口： USB 2.0或更高32. 推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版33. 环境要求：温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.**尽管我们已竭力确保本材料中信息的正确性和完整性，仍保留随时更改本材料中任何内容的权利。

HORIBA SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。 颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm &ndash 8 µ m。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。特征将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身宽检测范围，宽浓度范围双光路双角度粒径测量（90° 和173° ）多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光用于粒径和zeta电位检测的微量样品池自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

纳米粒度测量——先进的动态光背散射技术Zeta电位测量：Microtrac以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解，经过多年的市场调研和潜心研究，开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术，融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体，无需传统的比色皿，一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比，NANOTRAC WAVE II采用先进的“Y”型光纤探针光路设计，配置膜电极产生微电场，操作简单，测量迅速，无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层，无需外加大功率电场，无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池，完全消除由于空间位阻（不同光学元器件间的传输损失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差异，分散介质的影响，颗粒间多重散射等）带来的光学信号的损失，结果准确可靠，重现性好。测量原理：粒度测量：动态光背散射技术和全量程米氏理论处理Zeta电位测量：膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率分子量测量：水力直径或德拜曲线光学系统：3mW780nm半导体固定位置激光器，通过梯度步进光纤直接照射样品，在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号，无需校正光路软件系统：先进的FLEX软件提供强大的数据处理能力，包括图形，数据输出/输入，个性化输出报告，及各种文字处理功能，如PDF格式输出, Internet共享数据，Microsoft Access格式（OLE）等。体积，数量，面积及光强分布，包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保护，电子签名和指定授权等。外部环境：电源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz环境要求：温度，10-35°C国际标准：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008主要特点：&bull 采用先进的动态光散射技术，引入能普概念代替传统光子相关光谱法&bull “Y”型光纤光路系统，通过蓝宝石测量窗口，直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布，在加载电流的情况下，与膜电极对应产生微电场，测量同一体系的Zeta电位， 避免样品交叉污染与浓度变化。&bull 异相多谱勒频移技术，较之传统的方法，获得光信号强度高出几个数量级，提高分析结果的可靠性。&bull 可控参比方法（CRM），能精细分析多谱勒频移产生的能谱，确保分析的灵敏度。&bull 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计，减少了多重散射现象的干扰，保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。&bull 快速傅利叶变换算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速处理检测系统获得的能谱，缩短分析时间。&bull 膜电极设计，避免产生热效应，能准确测量颗粒电泳速度。&bull 无需比色皿，毛细管电泳池或外加电极池，仅需点击Zeta电位操作键，一分钟内即可得到分析结果&bull 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰，诸如光路中不同光学元器件间传输的损失，样品池位置不同带来的误差，比色皿器壁的折射与污染，分散介质的影响，多重散射的衰减等，提高灵敏度。产品参数粒度分析范围0.3nm-10μm重现性误差≤1%浓度范围100ppb-40%w/v检测角度180°分析时间30-120秒准确性全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子测量精度无需预选，依据实际测量结果，自动生成单峰/多峰分布结果理论设计温度0-90℃，可以进行程序升温或降温兼容性水相和有机相

Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m