太谱测试

超快光谱超快光谱探测技术被认为是自量子力学诞生以来，能够在相应非常短的时间尺度内探索微观量子性质的最有利工具之一，在研究超导材料的机理、非平衡物理及新奇量子态的诱导、量子态的外场调控等方面同样具有重要作用。很多新材料的研发需要借助超快光谱探测技术手段进行，如半导体磁性材料、超导体、绝缘体、复杂材料、太阳能电池等。在生物科学领域，NA、RNA等生物大分子在光激发后的反应过程和动力学过程，生物大分子的结构和生理机能探索，生物医学领域的基因工程等研究也需要超快光谱探测技术。显微超快光谱可以在微观尺度上探测样品的超快分子动力学过程，例如二维材料中边缘态动力学，载流子分布及扩散，光催化材料中的催化热点研究等等。卓立汉光的超快光谱测试系统，根据用户需求基于RTS显微系统，灵活搭建飞秒激光器、条纹相机、荧光寿命成像、飞秒瞬态吸收成像等超快模块，为超快化学及激发态动力学理论研究以及超快化学、物理和生物等交叉学科的研究提供更全面的数据支撑。超快光谱测试系统特点基于飞秒/皮秒激光器搭建，利用高能超短脉冲激发分子内部的动力学过程，监测过程中释放的超快荧光及瞬态吸收信号。激发光源可以自由切换，荧光显微系统使用高精度样品位移台，实现荧光寿命成像及荧光强度成像。条纹相机、光谱仪、显微镜构成联合诊断系统，提供超快空间-强度-时间分辨参数。飞秒瞬态吸收成像部分基于宽场显微镜搭建，可进行高通量快速成像。 超快光谱测试系统技术参数 荧光寿命成像光谱扫描范围200-900nm最小时间分辨率16ps荧光寿命测量范围500ps-10μs空间分辨率≤1μm@100X物镜@405nm皮秒脉冲激光器条纹相机光谱测量范围200-900nm时间分辨率≤5ps, (最小档位时间范围+光谱仪光路系统)测量时间窗口范围500ps-100us(十档可选)工作模式静态模式，高频同步模式以及低频触发模式系统光谱分辨率0.2nm@1200g/mm单次成谱范围≥100nm@ 150g/mm宽场飞秒瞬态吸收成像成像空间分辨率500 nm载流子迁移定位精度30nm时间分辨率500 fs (100 fs激光脉冲条件下）时间延迟线0-4 ns/0-8 ns显微镜模块倒置显微镜，上方为开放空间，后期可兼容低温模块、探针台、电学调控、磁场等特殊实验场景测量模式点泵浦+宽场探测（载流子迁移）宽场泵浦+宽场探测（载流子分布）仪器工作模式反射/散射新型二维材料中的边缘物理态研究（飞秒瞬态吸收成像系统）二维WS2中激子分布情况，激子寿命研究。从图中可以看出，二维WS2材料中多层的边缘具有更高激子密度和更长激子寿命。 ASE超快发光过程监测（条纹相机） 钙钛矿样品中的放大自发辐射（Ampl i f i ed Spontaneous Emission，ASE）发光过程研究。条纹相机可以监测到随着激光功率逐渐增大，样品从单纯的荧光发射（左图）变成荧光与ASE混合发光（中图），最后到只有ASE发光（右图）的全部过程。 钙钛矿荧光寿命成像（荧光寿命成像系统）钙钛矿样品不同寿命组分的寿命成像和相对振幅成像图。从图中可以看到两个寿命组分及其相对含量在样品中的分布情况。

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率： =5ps寿命衰减测量时间范围：=50ps—100us 高系统光谱分辨率： 0.1nm宽单次成谱范围： =200nm静态（稳态）光谱采集，瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱，荧光寿命，半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱，时间分辨拉曼光谱测量光通讯，量子器件的响应测量自由电子激光，超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射，激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率（1200l/mm）0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试，也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统，以及低温制冷室，飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围：200-900nm(可拓展)最小时间分辨率：16ps荧光寿命测量范围：500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源： 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选，或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率：≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式：1：点泵浦-宽场探测：测量载流子迁移和热导率等；2：宽场泵浦-宽场探测：测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器：sCMOS相机成像空间分辨率：优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围：0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜，可兼容低温，探针台，电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线

半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度 面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统主要功能：&bull 光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化，该现象称为拉曼散射。&bull 拉曼光谱的强度、频移、线宽、特征峰数目以及退偏度与分子的振动能态、转动能态、对称性等紧密相关&bull 广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析。仪器架构：性能参数： 拉曼激发和收集模块激光波长532 nm激光功率100 mW自动对焦&bull 在全扫描范围自动聚焦和实时表面跟踪&bull 对焦精度0.2微米显微镜&bull 用于样品定位和成像&bull 100x，半复消色差物镜&bull 空间分辨率2微米拉曼频移范围80-9000 cm-1样品移动和扫描平台平移台&bull 扫描范围大于300x300mm。&bull 最小分辨率1微米。样品台&bull 8寸吸气台（12寸可定制）&bull 可兼容2、4、6、8寸晶圆片光谱仪和探测器光谱仪&bull 320 mm焦长单色仪，接面阵探测器。&bull 分辨率2.0 cm-1。软件控制软件&bull 可选择区域或指定点位自动进行逐点光谱采集Mapping数据分析软件&bull 可对光谱峰位、峰高和半高宽等进行拟合。&bull 可自动拟合并计算应力、晶化率、载流子浓度等信息，样品数据库可定制。&bull 将拟合结果以二维图像方式显示。 晶圆Mapping软件界面数据分析软件界面应力检测—GaN晶圆片利用拉曼光谱568 cm-1位置的特征峰位移动，可以检测GaN晶圆表面应力分布。类似方法还可应用于表征Si/SiC/GaAs等多种半导体。载流子浓度检测——SiC晶圆片组分检测——结晶硅薄膜晶化率测试结晶率指晶态硅与晶界占非晶态、晶态、晶界总和的质量百分比或体积百分比，是评价结晶硅薄膜晶化效果的一项重要指标。晶化率𝛸 𝛸 𝑐 𝑐 可通过拟合拉曼光谱分峰后定量计算。多层复杂晶圆质量检测——AlGaN/GaNHEMT&bull 氮化镓高电子迁移率晶体管则凭借其良好的高频特性在移动电话、卫星电视和雷达中应用广泛。&bull 晶圆片包含Si/AlGaN/GaN多层薄膜结构。&bull 拉曼光谱可给出多层结构的指纹峰，并对其应力、组分、载流子浓度等进行分析。AlGaN/GaN晶圆，直径6英寸面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统仪器订购样品委托测试

面向半导体晶圆检测的光谱测试系统 荧光测试荧光光谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关，杂质或缺陷浓度、组分等密切相关膜厚&反射率&翘曲度通过白光干涉技术测量外延片的薄膜厚度（Thickness）、反射率(PR)以及晶片翘曲度荧光光谱系统特点面向半导体晶圆检测的光谱测试系统光路结构示意图自动扫描台：兼容2寸、4寸、8寸晶圆可升级紫外测量模块、翘曲度测量模块侧面收集模组：用于AlGaN样品（发光波段200-380 nm），因为AlGaN轻重空穴带反转使其荧光发光角度为侧面出光，因此需要特殊设计的侧面收光模块。翘曲度测量模块翘曲度测量模块集成在显微镜模组中，利用晶圆表面反射回的375nm激光，利用离焦量补偿实现表面高度的测量，对晶圆片的高度扫描后获得晶圆形貌，从而计算翘曲度的数值。该模块不仅可以测量晶圆的形貌和翘曲度，同时还可以起到激光自动对焦的作用，使得晶圆片大范围移动时，用于激发荧光的激光光斑在晶圆表面始终保持最佳的聚焦状态，从而极大的提供荧光收集的效率和分辨率。物镜5xNA=0.2820xNA=0.40100xNA=0.8离焦量z分辨率 1 μm 0.5 μm 0.06 μm激光光斑尺寸（焦点处）~2 μm~2 μm~1 μm测量时间（刷新频率） 20 ms(50 Hz），可调节最高100 Hz紫外测量模块紫外测量模块的功能主要由集成在显微镜模组中的5x紫外物镜和侧面收集模块实现。可选择213nm或266nm的激光进行激发，聚焦光斑约10微米，可选择通过该物镜收集正面发射的荧光，通过单色仪入口1进行收集和测量。针对AlGaN的发光波段（200-380nm），尤其是Al组分较大（70%）的AlGaN由于轻重空穴带反转，其荧光发光角度为侧面出光，因此设置侧面收集模组，将侧面发出的荧光通过一个单独倾斜60度角的物镜收集后，通过光纤传入单色仪入口2进行收集和测量。可通过翘曲度模块对晶圆片形貌进行测量后，再进行紫外荧光测量时，根据记录的形貌高度，Z轴移动实现晶圆片高度方向的离焦量补偿，使得晶圆片大范围移动时，激光光斑在晶圆表面始终保持最佳的聚焦状态，从而极大的提供荧光收集的效率和分辨率。软件界面晶圆Mapping软件界面数据分析软件界面应用案例6英寸AlGaN晶圆测试随着AlGaN中Al所占比例的增加，可看到发光峰位出现了蓝移，当Al的含量占到70%的时候，峰位已经蓝移至238nm。对AlGaN晶圆进行Al组分比例面扫描，可以看到晶圆中Al的组分分布情况。MicroLED微区PL荧光光谱MappingMicroLED微盘，直径40微米。图（A）：荧光PL Mapping图像，成像区域45×45微米；图（B）：图（A）所示红线，m0-m11点，典型荧光光谱。MicroLED微盘的荧光强度3D成像 2英寸绿光InGaN晶圆荧光光谱测试从InGaN的峰强分布来看，在晶圆上峰强分布非常不均匀，最强发光大约位于P2点附近，而有些位置几乎不发光。发光峰位在500-530nm之间，分布也很不均匀。波长在510nm（P2位置）发光最强。波长越靠近530nm（P1位置），发光越弱。2英寸绿光InGaN晶圆荧光寿命测试从以上荧光寿命成像得到，绿光InGaN荧光寿命在4ns-12ns之间。沿着P1-P3白线，荧光寿命减小。从晶圆上分布看，荧光寿命与荧光强度成像的趋势大致相符，而且峰位有明显关联。即沿着峰位蓝移方向（蓝移至500nm），荧光发光强度增强而且寿命增加，说明辐射复合占据主要比例。而沿着峰位红移的方向（蓝移至530nm），发光强度减弱，同时寿命减小，说明非辐射复合占据主要比例。 面向半导体晶圆检测的光谱测试系统性能参数：荧光激发和收集模块激光波长213/266/375 nm激光功率213nm激光器，峰值功率＞2.5kw@1KHZ，266nm激光器，输出功率2-12mw可调自动对焦&bull 在全扫描范围自动聚焦和实时表面跟踪&bull 对焦精度0.2微米 显微镜&bull 用于样品定位和成像&bull 近紫外物镜，100X/20X，用于375nm激光器,波长范围355-700 nm&bull 紫外物镜, 5X,用于213 nm/266nm的紫外激发, 200-700 nm 样品移动和扫描平台平移台&bull 扫描范围大于300x300mm。&bull 最小分辨率1微米。 样品台&bull 8寸吸气台（12寸可定制）&bull 可兼容2、4、6、8寸晶圆片 光谱仪探测器 光谱仪&bull 320 mm焦长单色仪，可接面阵探测器。&bull 光谱分辨率：优于0.2nm@1200g/mm 可升级模块翘曲度测量模块重复测量外延片统计结果的翘曲度偏差±5um紫外测量模块5X紫外物镜，波长范围200-700 nm。应用于213 nm、266nm的紫外激发和侧面收集实现AlGaN紫外荧光的测量膜厚测试模块重复测量外延片Mapping统计结果的膜厚偏差±0.1um荧光寿命测试模块荧光寿命测试精度8 ps，测试范围50 ps-1 ms软件控制软件可选择区域或指定点位自动进行逐点光谱采集Mapping数据分析软件&bull 可对光谱峰位、峰高、半高宽等进行拟合。&bull 可计算荧光寿命、薄膜厚度、翘曲度等。&bull 将拟合结果以二维图像方式显示。 面向半导体晶圆检测的光谱测试系统仪器订购样品委托测试

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle® 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

定制化原位显微光学/光谱学测试系统Customized In-situ Optical / Spectroscopic MicroscopeSystem我公司集成了自主研发的激光自动聚焦等自动化功能的核心光学/光谱学模组均采用模块化设计，物镜下方没有任何零部件占用空间，并且具备完整的软硬件接口，可以方便地集成到客户的工况环境或者研究机台上，为客户提供定制化的测试系统。技术特色：激光自动聚焦：&bull 显微光学和光谱学模组都可配备激光自动聚焦模块。

稳定可靠，简单易用的飞秒泵浦探测系统解决飞秒-皮秒-纳秒时间范围的测试分析问题测试灵敏度0.1mOD集成化设计，结构稳定，预留显微光路接口，可升级致飞秒显微泵浦探测系统高速光谱采集，速率可达2.5KHz时间扫描精度高，最小时间步长2fs，延迟线时间精度1fs完善的实时售后服务和技术支持内置倍频光路，可在无OPA情况下使用。固体、液体、薄膜样品等样品架，可配置低温模 CEL-TAS3000飞秒瞬态吸收光谱测试系统，飞秒泵浦探测光谱仪是一款稳定可靠、简单易用的商业化测试设备。CEL-TAS3000具有0.1mOD的检测灵敏度，可满足绝大多数固体、液体以及薄膜样品的测试需求。CEL-TAS3000采用整体化设计及优化以保证长期稳定性，尽可能降低日常维护需求。通过标准的模块可随时升级至显微泵浦探测系统，应用于微观尺度材料特性研究。该系统是光物理、光化学、光生物等领域必要的测试工具。 飞秒TAS应用1. 光催化、催化剂2. 纳米材料3. 光电功能材料4. 动力学研究5. 单线态吸收6. 太阳能电池 技术参数项目参数灵敏度优于0.1mOD时间分辨率1.4*激光脉冲宽度延迟线时间精度1fs(时间窗口2ns)探测光谱范围350-1100nm时间窗口2ns, 4ns（可选）探测器2048像素高速光谱CMOS阵列光谱分辨率2.5nm（50μm）采集速度2.5kHz激光器（选配）飞秒泵浦激光器，OPA TAS3000应用1-钙钛矿薄膜材料测试条件：材 料：钙钛矿薄膜材料；泵浦波长：350nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3DTAS3000应用2-PBDB-T:IEICO blend 薄膜测试条件：材 料：PBDB-T:IEICO blend 薄膜 泵浦波长：400nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3DTAS3000应用3-客户样品LAC测试条件：材 料：lac 泵浦波长：400nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3DTAS3000应用4-客户样品CIS溶液测试条件：材 料：CIS；泵浦波长：400nm实验结果： 1.样品在光谱学瞬态吸收(OD) 2.样品在动力学瞬态吸收(mOD) 3.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 4.样品在沿波长、时间的瞬态吸收(OD) 3D

SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)产品描述SE2000全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术，采用先进的旋转补偿器，结合光纤专li技术将偏振光信号传输至分段光谱优化的高分辨率单色仪或阵列式多通道摄谱仪，测得线偏振光经过样品反射后的偏振态变化情况，并通过样品光学模型的建立，计算出单层或多层薄膜结构的厚度、折射率和消光系数，实现精确、快速、稳定的宽光谱椭偏测试。 SE2000全光谱椭偏测试平台是Semilab针对产线和实验线推出的多功能高速测试平台。模块化的设计，可选配300mm样品台或350*450mm平板样品台，Robot上片系统，图形识别系统和数据通信系统，实现高速在线监控。在测试功能方面，可自由组合多种从190nm深紫外光谱至2400nm近红外光谱的探测器，并可拓展FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能，使SE2000成为光学和电学特性表征综合测试系统。产品特点业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准业界最宽测试光谱范围，选配190nm-25um，并可自动切换快速探测模式和高精度探测模式配置实时对焦传感器，实现高速测量选配Robot上片系统，图形识别系统和数据通信系统，实现在线监控独特的样品台结构设计，优化固定大尺寸的柔性材料模块化设计，可综合监控样品光学和电学特性定期免费升级SOPRA材料数据库开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单主要应用光伏行业：薄膜电池透明导电膜、非晶硅微晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、有机电池、染剂敏感太阳能电池半导体行业：High-K、Low-K、金属、光刻工艺、半导体镀膜工艺、外延工艺平板显示行业：TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片光电行业：光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶主要技术指标测试速度：＜1 sec （快速测试模式） ＜120 sec （高分辨率测试模式）测量光谱分辨率：＜0.5nm@633nm （高分辨率测试模式） ＜0.8nm@633nm （快速测试模式）最大样品尺寸： 300mm厚度测量范围：0.01nm-50um厚度测试精度：0.02nm @120nm SiO2 on Si折射率测试精度：0.002 @120nm SiO2 on Si

瞬态吸收技术主要用于测量光化学反应的过渡态；由于光化学的反应速度很快通常是纳秒（10-9 -10-6），短时间脉冲激光是理想的泵浦光，因此早起的瞬态吸收技术也被称为“激光闪光光解”。CEL-TAS2000瞬态吸收光谱(Transient absorption spectrum) 测试系统。在激光泵浦作用下，物质产生中间态的物种，通过对瞬态吸收光谱的探测可以得到中间态物种及浓度信息。瞬态吸收作为化学、新材料、生物领域必要的测试工具，探测灵敏度往往是科学探索中最重要的制约因素之一。瞬态吸收光谱测试系统采用新型的激光等离子体光源作为探测光，采用优化设计的低噪声探测器以及12-16bit的高动态范围示波器，将瞬态吸收的灵敏度（检测限）提升至0.1mOD以上，即便是在1000-1700nm近红外波段，也可轻松达到0.1mOD。激光闪光光解(Laser flash photolysis)是用来观测分子受光激发后，由基态S0跃迁到激发态Sn过程中发生的一系列变化和反应。它主要由激发光源、检测光源、信号检测和数据处理系统组成，通过利用一定强度的激发光源入射到所研究的体系中，结合时间分辨吸收和发射瞬态光谱及相应的动力学衰减曲线等方法来研究反应过程中激发单重态、激发三重态、自由基和正、负离子等瞬态反应中间体的一种有效手段。主要用来测量液体、固体、半导体、催化剂的瞬态吸收光谱的动力学分析及时间分辨的吸收光谱，包括以下几个方面：①光敏化反应研究，探讨激发态物种的能量转移、电子转移和质子转移等；②光解离机制研究，探讨解离中间体的反应动力学过程，吸收光谱参数的表征等；③光物理过程研究，解析物质分子被激发后衰变过程中发射光谱的特征和相关动力学参数表征；④光致氧化反应研究，通过光诱导产生氧化性自由基与目标物反应。产品优势u 等离子体超连续光源LDLSu 全反射光路u 四光栅，高杂散光抑制比，高光谱分辨率u 自主研发的高灵敏度探测器，超低噪声供电电源u 透射式，反射式，原位测试，低温样品测试环境u 高测试灵敏度，OD可达到5*10-5u 纳秒到秒级的时间尺度的优化测量u 全自动一键式测试瞬态吸收光谱测试系统的特点：1. 200-1700nm全波段范围内测试灵敏度均可达到0.1mOD以上；2. 针对损伤阈值低的样品，易光学漂白的样品、光电功能薄膜等材料优化设计；3. 内置电动滤光片轮，根据测试波段进行自动滤光，有效保护样品且降低系统杂散光干扰；4. 探测光采用激光等离子体白光光源；百微米尺寸点光源，更高收集和聚焦效率，更高的能量密度；极高的空间稳定性以及长达1万小时的寿命；5. 不仅局限于常规样品室。优质的探测光性能，允许进行更多实验环境的光路定制。如：显微镜微区光谱、低温样品环境、强磁场样品环境等；6. 四光栅光谱仪，更易拓展且保证系统效率；7. 针对瞬态吸收自主研发的低噪声探测器；无需对数据平均降燥亦无需牺牲时间分辨率即可得到0.1mOD的测试灵敏度；8. 最高16bit数据位可调示波器，超高的电压分辨率精度位系统灵敏度提供有力保障。 技术参数项目参数测试波长范围350nm-1700nm（瞬态吸收专用高动态范围Si探测器；波长探测范围：350-1000nm；[选配：InGaAs探测器；波长探测范围：900-1700nm]）时间分辨率优于5ns探测灵敏度优于0.1mOD光谱仪焦距长度：350mm焦距 ；光栅：3光栅自动切换光谱分辨率：0.04nm ；电动入口/出口狭缝及CCD出口；原装整机进口光谱探测器带有低噪声放大器的Si以及InGaAs探测器（单点模式）数据采集12bit/16bit高分辨率数字示波器探测光激光诱导白光光源190-2100nm；输出光斑尺寸100*100μm；使用寿命1万小时 ；光斑空间稳定性：1μm（光斑中心）；能量波动：0.1% ；能量衰减（1000小时）：1%样品室样品类型：澄清低散射稳定液体或固体薄膜／晶体（可测量带有荧光的样品） 样品架：液体/固体 标配常规样品室，根据要求定制的样品，支持低温设备泵浦光OPO激光器（原装整机进口）输出波长范围：210-2400nm；波长调节：计算机控制 ； 峰值输出能量：大于20mj重复频率：20Hz选配（1）近红外探测器NIR 探测器：瞬态吸收专用高动态范围InGaAs探测器；波长探测范围：900-1700nm（2）低温恒温器： DN2 77k-300k牛津液氮低温恒温器及支架

产品典型应用u 化工、制药、生物领域双层反应釜的温度控制u 蒸馏结晶净化系统控温u 高压反应釜温度控制u 半导体设备冷却u 搅拌罐温度控制u 结晶系统控温设备特点全密闭系统：采用全密闭式系统设计，整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔，导热油不会直接与空气接触，延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性，膨胀油箱始终保持在常温状态，高温时无油雾产生。高效换热系统：系统采用管道式加热冷却，参与循环的液体非常少，制冷采用板式换热器，加热采用管道式法兰加热器，整个系统的容积（板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积） 控制结果重复性：基于高级动态控制系统，同时采用进口铂电阻温度传感器，每次都能实现一致的控制结果，大大提升产品生产的稳定性。产品外观：外观设计吸取国外产品的设计理念，采用大口径石英玻璃液位计，液位计与操作屏放在同一侧，观察方便，风格简约时尚，比列协调，专有的色彩搭配。超高温降温技术：采用超高温降温技术，可以满足在最高350℃高温直接通入冷却水实现快速降温。普泰克温控系列包含车载芯片高低温冲击测试/车载芯片高低温温控测试设备/车载芯片温控测试设备/车规级芯片温度测试/车规级芯片高低温测试/车规电子温控测试设备/车规电子高低温测试设备/车规芯片高低温测试设备/汽车芯片高温测试/汽车芯片温度循环测试/汽车行业温控设备/新能源行业温控设备/汽车高低温一体水冷测试机/测试分选机温控设备/测试分选机控温设备/查询测试分选机高低温设备/车载充电机（OBC)性能测试台/雾化仪温度测试装置/电源模块及组件测试台/汽车冷却液循环泵(CCP)性能测试台/ECP电子元件性能试验台/安全气囊模块性能测试/新能源电池性能测试台/汽车热管理系统温度控制单元/汽车热管理系统温度控制系统/喷油器性能测试台/新型电动马达性能测试台/汽车无线电充系统性能测试台

二维平移光谱响应度测试探针台产品说明：TLRH系列二维平移光谱响应测试探针台是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑，实现百微米级探测器的绝对光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是半导体微纳器件研究的优选。产品特点：&bull 半圆形探针架，可放置6个DC探针座&bull 漏电精度100fA（吉时利2636B实测）&bull 整体位移精度3μm&bull 1微米以上电极/PAD使用&bull 兼容高倍率电子显微镜/体式显微镜/金相显微镜等&bull 探针台整体位移分辨率3μm，样品XYZR四维调节&bull 用于科研院校搭建测试系统，例：材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统全系列 搭配显微镜XY精密移动功能，可以选配多种位移行程以及驱动形式通用参数：样品台尺寸4英寸样品台行程110X110mm位移精度3um漏电精度100fA线缆规格三同轴线缆探针座精度3um显微镜移动25*25mm接口方式三同轴接口背电极可以引出背电极驱动方式精密研磨丝杆位移维度XY整体位移行程X:100mm Y:100mm分辨率0.003mm直线度0.002mm驱动误差20°测试案列功能应用：&bull 光谱响应度；&bull 单色光/变功率IV；&bull 不同辐照度IT曲线；&bull 不同偏压下的IT曲线；&bull 光电流Mapping曲线测试；&bull 线性度测试；&bull 响应速率测试；&bull 瞬态光电压；&bull 瞬态光电流；产品示意图：产品选型：产品型号样品台尺寸样品台位移精度探针座位移精度漏电流精度TLRHF-044英寸3um3um100fATLRHF-066英寸3um3um100fATLRHF-088英寸3um3um100fATLRHF-1212英寸3um3um100fA实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台(台面600mm*600mm)、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2400数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体，通过显微镜观察确定两根探针是否紧贴被测物表面，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

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表面综合分析测试探针台产品简介整体集成度高，且测试方便简单，底座行程大，弥补了基础型的缺陷，可以满足多种测试应用，且可以升级射频探针台；优点：高性价比，应用面广，稳定性高；应用：一般用在高校/研究所科研实验是居多，以及科研型单位研发部；表面综合分析测试探针台产品优势两边半圆形探针架，可以放置最多6个探针座，且方便放置探针卡集成4路吸附开关，方便吸附；可用于12寸以内样品测试XY行程115mmX115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调；1微米以上电极/PAD使用；可用于硅封装的内部观测和光谱特性分析，需要红外光源和红外摄像机；有效像素2000万，有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照录像，也可以连接电脑；HDMI输出支持: 1280*1024 (默认)、1680X1050、1440*900；选用2X，5X，10X,20X，50X四种物镜,工作距离分别是: 34.6mm，45mm，34mm 30.8mm，20.5mm，鼻轮支架带五孔鼻轮集成高精度高稳定性手动位移台,XYZ行程50mm，精度1um；整体交叉滚珠导轨，超高精度，超高稳定性；最大电压 1400V，阻抗 50 欧姆XYZ 轴行程分别是 13mm行程；位移放置:XYZR四轴调节XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调；整体位移精度1um；表面综合分析测试探针台模块介绍表面综合分析测试探针台通用参数样品台尺寸4英寸样品台行程XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 整体位移精度1μm（可定制）光学放大倍数270倍高清（体式显微镜）漏电精度100fA针座精度3μm（可升级1μm/0.5μm）接口形式BNC/三同轴接口背电极可引出背电极针座数量标配2个（可升级到6个）产品应用多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等产品示意图谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

表面综合分析测试探针台产品简介整体集成度高，且测试方便简单，底座行程大，弥补了基础型的缺陷，可以满足多种测试应用，且可以升级射频探针台；优点：高性价比，应用面广，稳定性高；应用：一般用在高校/研究所科研实验是居多，以及科研型单位研发部；表面综合分析测试探针台产品优势两边半圆形探针架，可以放置最多6个探针座，且方便放置探针卡集成4路吸附开关，方便吸附；可用于12寸以内样品测试XY行程115mmX115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调；1微米以上电极/PAD使用；可用于硅封装的内部观测和光谱特性分析，需要红外光源和红外摄像机；有效像素2000万，有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照录像，也可以连接电脑；HDMI输出支持: 1280*1024 (默认)、1680X1050、1440*900；选用2X，5X，10X,20X，50X四种物镜,工作距离分别是: 34.6mm，45mm，34mm 30.8mm，20.5mm，鼻轮支架带五孔鼻轮集成高精度高稳定性手动位移台,XYZ行程50mm，精度1um；整体交叉滚珠导轨，超高精度，超高稳定性；最大电压 1400V，阻抗 50 欧姆XYZ 轴行程分别是 13mm行程；位移放置:XYZR四轴调节XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调；整体位移精度1um； 表面综合分析测试探针台模块介绍表面综合分析测试探针台通用参数样品台尺寸8英寸样品台行程XY行程115X115mm，Z轴调节10mm，360°旋转粗调+士5°精调 整体位移精度1μm（可定制）光学放大倍数270倍高清（体式显微镜）漏电精度100fA针座精度3μm（可升级1μm/0.5μm）接口形式BNC/三同轴接口背电极可引出背电极针座数量标配2个（可升级到6个）产品应用多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等产品示意图谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

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模拟环境工况对安诠气囊模块性能和使用寿命的影响，该测试时基于安诠气囊模块 寿命周期，它涉 及运输、贮存、在车辆上的安装以及车辆的操作、保养和维护。完整的环境实验程序由 实验方法组成，这些实验方法用来模拟环境（例如机械冲击和振动，高温和 低温，湿度，光照，粉尘和防腐剂）对安诠气囊模块的影响。模拟总使用寿命的实验条件要比实际使用条件更加严格，其目的是加速老化，以便缩短实验过程设备特点全密闭系统：采用全密闭式系统设计，整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔，导热油不会直接与空气接触，延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性，膨胀油箱始终保持在常温状态，高温时无油雾产生，低温不会结霜。高效换热系统：系统采用管道式加热冷却，参与循环的液体非常少，制冷采用板式换热器，，换热效率高、结构紧凑，加热采用管道式法兰加热器，整个系统的容积（板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积）。控制结果重复性：基于高级动态控制系统，每次都能实现一致的控制结果，大大提升产品生产的稳定性。产品外观：外观设计吸取国外进口产品的设计理念，采用大口径石英玻璃液位计，液位计与操作屏放在同一侧，观察方便，风格简约时尚，比列协调，专有的色彩搭配。超高温降温技术：采用超高温降温技术，可以满足在最高300℃高温直接开启压缩机制冷降温。普泰克车载芯片设备系列车载芯片高低温冲击测试/车载芯片高低温温控测试设备/车载芯片温控测试设备/车规级芯片温度测试/车规级芯片高低温测试/车规电子温控测试设备/车规电子高低温测试设备/车规芯片高低温测试设备/汽车芯片高温测试/汽车芯片温度循环测试/汽车行业温控设备/新能源行业温控设备/汽车高低温一体水冷测试机/测试分选机温控设备/测试分选机控温设备/查询测试分选机高低温设备/车载充电机（OBC)性能测试台/雾化仪温度测试装置/电源模块及组件测试台/汽车冷却液循环泵(CCP)性能测试台/ECP电子元件性能试验台/安全气囊模块性能测试/新能源电池性能测试台/汽车热管理系统温度控制单元/汽车热管理系统温度控制系统/喷油器性能测试台/新型电动马达性能测试台/汽车无线电充系统性能测试台

太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统 描述：太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统TeraSys-AIO时域光谱系统是Rainbow Photonics基于有机晶体开发的实验室级别的太赫兹光谱成像解决方案。它在测量透射和反射系统上提供了强大的灵活性，不需要对光学器件进行重新排序即可切换。太赫兹时域光谱仪它是基于有机晶体，具有高信噪比、结构紧凑、操作灵活、易于安装等优点，并且其工作频率范围极广，覆盖了光导天线不能达到的高频区域。TeraSys-AIO配有所有光学，机械和电子元件。包括太赫兹探测器，光学延时线，泵浦源，电子配件，湿度传感器，清洗室，专用软件和笔记本电脑等，为客户提供了全套的太赫兹时域解决方案！太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统TeraSys - AiO太赫兹时域光谱仪非常适用于高达20THz太赫兹范围内的材料光谱分析，可用于半导体材料研究、材料检测、高分子生物学、纳米科学以及太赫兹成像等应用方面的研究。Rainbow Photonics附属于苏黎世联邦理工学院非线性光学实验室，于1997年成立。公司基于非线性有机晶体产生和探测THz，研发出了一系列新颖的THz光谱仪产品，频谱范围覆盖了光导天线不能达到的高频区域。典型的时域光谱仪结构原理：太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统针对不同的样品、不同的测试要求、不同的太赫兹波与样品的作用方式，可以采用透射式、反射式等不同的探测模式。其中，最常见的为透射模式。图3为其结构装置图。 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统工作原理：太赫兹时域光谱仪是一种利用脉冲THz波进行光谱检测的装置，在测量中能够同时获得THz脉冲的振幅和相位信息，通过对时间波形进行傅里叶变换能直接得到样品的吸收系数、折射率等光学参数，具有很高的探测灵敏度和较宽的探测带宽，是一种非常有效的光谱测试手段。通过其在基础科研领域和食品药品安全领域的示范应用，可带动其在生物医学、半导体材料、工业加工、文物检测、石油勘探等领域的潜在应用。 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统产品特点：l 频率覆盖范围广l 高信噪比l 结构紧凑，方便安装l 操作灵活l 可提供透射式和反射式两种方案l 配有功能强大的软件和数据包 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统应用范围：l 材料检测l 高分子生物学l 化学结构分析l 安全检查l 半导体材料研究l 纳米科学l 太赫兹成像 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统技术参数：产品尺寸（包含泵浦）：550*450*280mm光谱范围: 透射 0.3-14THz 反射 0.3-8THz动态范围：透射 70dB 反射 40dB信噪比（@4THz）:透射 60dB 反射 35dB扫描范围：60ps频率分辨率：100GHz可升级选项： 太赫兹成像模块 扫描范围：50*50mm 泵浦源参数：泵浦类型：高功率超快铒光纤激光器脉冲长度：20fs平均功率：200mW峰值功率：120kW中心波长：1565nm重复频率：80MHz 太赫兹时域光谱仪-太赫兹时域光谱仪系统频谱图：使用DSTMS作为太赫兹波发生和探测装置的TeraSys-AIO系统的透射和反射频谱图如下：

仪 器 优势：简 约- 引用崇尚环保、降低能耗、突出核心的设计风格实 用-普洛帝在中国推广的经济实用新技术产品创 新-普洛帝第七代双激光窄光颗粒检测技术的创新之作。 在线优势：过滤系统、滤元监测、滤纸评价、多通测试、单通测试、滤油机、清洗机、汽轮机组、 变压器、电力传动系统、润滑系统、检测试验台、战事装备、飞行器、航天器、工程 机械、航海舰船等等，任何无人看护的现场，还是正在运转的设备，需要连续的监测 和及时的数据，都是 PLD 在线颗粒分析系统的经典应用场所，并为生产线上的重要组 成部分。一体化的结构，RS232 和模拟信号的输出，满足 DCS 和现场仪表显示的要求。在线、实时、连续取样、报警提示，能够即时掌握分析液压系统的动态污染诊断和磨 损趋势。液晶屏显示，薄膜按键操作，结果以 ISO4406 或 NAS1638 等标准显示。经济实用低成本，小型轻量易安装，抗干扰性强、耐高温高压、外壳坚固、在恶劣环 境下使用。离线优势：满足实验室台式机不可移动测试的缺陷，无论您是移动式测量还是实验室测量，都会 为您提供完善的测试方案，让您的测试更加方便。解决连续跟踪监测的生产过程难题，无论您是即时测量还是过滤跟踪监测，都会为您 提供完善的测试方案，让您的测试更加快捷。离线取样舱的完美结合，可实现大小粘度的各类液体的检测，优化的检测方案和评判， 可满足标准的测试评判和自定义设计检测。软件平台，搭载国内外检测方法和评判标准，实现标准化检测的无缝对接。产品性能：本仪器可以对油液颗粒度、清洁度和污染物监测和分析；各类飞行器燃料油、航空润 滑油、磷酸酯盐类液压油 (腐蚀性) 中不溶性微粒颗粒杂质的检测和评判，军事保障 设备及其日常维护和保养；坦克、飞机、大炮、装甲车等战备装备部件中的磨损试验； 滤器、滤元、滤纸、滤材等产品的水类或油类评价测试，纯净溶液和超纯水中不溶性 微粒测试。本仪器采用英国普洛帝技术—“光阻测量颗粒”，可根据用户的要求，内置用户所需多种标准。经典第七代应用软件平台，清洗、检测、校准和标定各模块可实现方便的设定和 操作，内置阈值、粒径曲线和脉冲阻值,可设定任意设定通道粒径值。全新微电脑液晶显示，内置操作系统和微型打印机,无需外设设备直接测试和打印。具有标准串行 RS232 口，可外接计算机存储检测结果,方便数据分类、检索。 可按 GB/T18854-2002(ISO11171－1999 、JJG066－95)等标准进行标定、校准。 根据客户要求可有偿提供第三方颗粒计量测试机构校准计量效验报告。提供校准物质 (GBW) ，协助客户每年一次的校准计量工作。提供“OIL17 服务星”签约式服务，365 天无忧使用。 产品应用：航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、 半导体、工程机械、液压系统等领域，对清洗液、超纯水、高酸碱、小针剂、大输液、 酒水饮料、液压油、润滑油、变压器油 (绝缘油) 、汽轮机油 (透平油) 、齿轮油、 发动机油、航空煤油、航空滑油、航空液压油、水基液压油、高粘齿轮油、半流体润 滑脂等油液进行固体颗粒污染度检测，有机液体、聚合物溶液进行不溶性微粒的检测。 执 行 标准：水系评判类：美国药典 USP35- NF30、USP32-NF27；欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、 EP8.0；英国药典 BP2013 、BP2012 、2010 、2009； 日本药典 JP16 、JP15 、JP14；印度 药典 IP2010 版；WHO 国际药典 Int Ph 第四版； 中国药典 2010 年、2015 年；GB8368 输液器具；ISO21510；GB/T 11446.9 等。油系评判类：NAS1638、ISO4406、SAE 749D、ISO11171、MIL P 28809、MILSTD-1246、 JJS B9933 、IP 564 、IP565 、GOST 17216 、GB/T14039 、SD 313 、DL/T432 、DL/T1096 、 JB/T9737 、GJB/T420A/B 、GB/T18854 (中国版) 等标准。过 滤 行 业 ： GB/T 30176-2013 、 GB/T 18853-2015 、 GB/T 6224.2- 1986 、 QC/T 1007-2015 、 ISO 16889-2008 、GB/T 35363-2017 、GB/T 8243.12-20071000 通道的 0.01μm 超多通道、超高分辨率满足全球 510 多个标准要求。 可根据客户要求，植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。技术参数：订制要求：各类油液溶液的检测要求；激光传感检测器：第七代双激光窄光检测器 (更精确、更稳定、更迅速) ； 测试软件：P6.4 分析测试软件 集成版&PC 版；控制方式：集成式工控机控制或工业 PC 控制；评判标准：满足 ISO4406-87/99 、NAS1638 、SAE AS 4059F 、GJB420B 等标准； 检测标准：DL/T432 、GJB380 、ISO11500校准标准：JJG1061 、MTD/ ISO11171 、ACFTD/ ISO4402 、GB/T18854、乳胶球法或 ASTM F658-87 (PSL 乳胶球体)操作方式：彩色液晶触摸屏操作；特殊检测： 自定义检测 1~100μm 微粒，0.1μm 任意检测；测量范围：0.03 μm ~ 3000 μm (需选型)灵 敏 度：1 μm (ISO 4402) 或 4 μm (C) (ISO 11171 、GB/T18854) ；通 道 数：1000 个，可任意 8 、16 、32 、64 、128 个颗粒尺寸范围的颗粒计数值；重合精度：10000 粒/mL (5%重合误差) ；分 辨 力：90% (60ml/min )准 确 度：3%进样体积： 1~200ml ，可任意设定；体积精度：优于±1％；在线压力：0~0.6MPa(不含减压阀)；0~31.5MPa(含减压阀)；测试粘度：离线 0~99mm2/s ；在线 0~500mm2/s；取样流速：5mL/min~60mL/min；清洗流速：5mL/min~150mL/min；测试时间：可任意设定；样品处理：待检验样品不需要进行预处理；评价等级：可根据 NAS1638 、ISO 4406 等直接评定油液污染等级；数据输出：可显示颗粒物大小、数量、曲线和分布等，内置打印机，可打印输出；标准接口：RS232 接口、U 盘/RS232 接口、RS485 接口；模拟输出：4mA~20mA；0~5V 、MODBUS；并带超标报警功能 (可定制) ；结果存储：无、3000 个 (100 次检测) 、6000 个 (200 次检测) ；仪器校准：可根据 GB/T18854-2002 标准进行标定；仪器清洗：检测完毕后仪器可自行清洗；进样温度：室温~65℃环境温度：0~50℃电 源：220V ，50HZ； ±1% ，＜80W

普洛帝台式颗粒度检测仪测试电厂用油产品性能：采用普洛帝技术—“光阻测量颗粒”，并采用油液行业经典方法NAS1638和ISO4406，并可根据用户的要求，内置用户所需多种标准。引用精密柱塞泵和超精密流量电磁控制系统，实现进样速度恒定和进样体积精确的双控制，取样量1ml~无限大随意设定，准确无误。 内置统计、粒径曲线和脉冲阻值，可设定通道粒径值。 集成式全自动取样装置，内设压力系统和搅拌装置，使仪器可实现样品脱气、均匀和高粘度样品的检测。 采用大屏幕液晶显示，触摸屏菜单操作，键盘、触摸双输入，外形美观功能齐全。数据处理功能强大丰富，可根据用户给出油液等级和数据，绘制分布直方图等。 内置操作系统和微型打印机，无需外接电脑和打印机可直接测试和打印。 具有标准串行RS232口，可外接计算机存储检测结果，方便数据分类、检索。可按ISO11171和ISO4402等标准进行标定、校准。 根据客户要求可有偿提供颗粒度计量测试站“中国航空工业颗粒度计量测试站”或“中国计量院国家西北计量测试中心”效验报告。提供校准物质（GBW），协助客户每年一次的校准计量工作。提供行业“OIL17服务星”签约式服务，365天无忧使用。普洛帝台式颗粒度检测仪测试电厂用油执行标准：有机系：GB/T14039、ISO4406、ISO11171、NAS1638、ГOCT、ASTM、DOD、 MIL-P-28809、MILSTD-1246、DL/T432、GJB380、GJB420、GJB420A/B和DL/T1096等。1000通道的0.01μm超多通道、超高分辨率满足全球510多个标准要求。纳米类：0.01微米 ~ 50微米；微米类： 1微米 ~ 450微米；大颗粒： 40微米 ~ 1000微米；可根据要求，植入相应“光阻法颗粒、电涡流法颗粒或散光法颗粒”测试和评判标准。 普洛帝台式颗粒度检测仪测试电厂用油技术参数：订制要求：各类有机系产品液体（润滑油）检测要求；激光传感检测器：第八代双激光窄光检测器（更精确、更稳定、更迅速）；评判方法：满足ISO4406-99、ISO4406-87、NAS1638、MOOG、ISO11218、DL/T1096等标准；检测方法：GJB380、DL/T432、ISO11500等标准；计量校准：GB/T18854、JJG/T 066、ISO11171、ISO4402或JJG1061 等标准；测试软件：P6.4分析测试软件集成版&PC版；控制方式：集成式工控机控制或工业PC控制；检测范围：1~1000μm（根据传感器选型而定）；经典输入：GJB420B 000级～12级；NAS1638 00级～12级；ISO4406 0级～28级；操作方式：彩色液晶触摸屏操作； 特殊检测：自定义检测1~100μm微粒，0.1μm任意检测；灵 敏 度：1μm（ISO 4402）或 4μm（C）（ISO 11171、GB/T18854）；测量通道：1000通道；研发检测：16通道、32通道或者64通道（可选、全球380多个标准检测设置） 重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）； 评价等级：可根据NAS1638、ISO 4406等直接评定油液污染等级； 数据输出：可显示颗粒物大小、数量、曲线和分布等，内置打印机，可打印输出； 报告方法：颗粒数/ml及污染度等级；标准接口：RS232接口可接计算机；数据储存：工控机3000个测试数据；PC机储存无限制；仪器校准：可根据GB/T18854-2002标准进行标定； 进样体积精度：优于±1％； 进样速度：5mL/min～60mL/min；清洗速度：10mL/min～100mL/min； 测试时间：20s（计量规范），可任意设定；压力范围：-0.08～0.8mPa；带正负压预处理系统 测量粘度：≤450MM2/S； 样品处理：待检验样品不需要进行预处理； 取样大小：取样量≤100ml 仪器清洗：检测完毕后仪器可自行清洗； 进样温度：室温~65℃ 环境温度：0~50℃ 电 源：220V，50HZ；±1%，＜80W 售后服务：普洛帝服务中心/中特计量

产品概述：CCT-1800太赫兹时域光谱仪是深圳市太赫兹研究院自主研发的紧凑型、实验室级太赫兹时域光谱仪。整机结构紧凑，可灵活搭配透射、反射、成像等模块，测试可获得物质的时域谱、频域谱、介电常数、折射率谱、相位谱、吸收谱、时域成像、频域成像、吸收谱成像等参数。产品性能稳定，重复性高，适用于生物、医学、化学、农业、制药、材料、食品、药品等领域的太赫兹研究和检测。产品特点：1、结构紧凑、体积小、可靠性高、维护简单2、二维扫描平移台可根据使用需要，控制居中或者收回，节省空间3、主机+功能模块的总体设计，光谱/成像功能灵活切换、可拓展性强4、多个可选配的功能模块：横式透射谱线模块、竖式透射谱线/成像模块、反射谱线/成像模块5、扫谱速度：30Hz，扫描成像范围：50mm*50mm6、测试控制软件+数据分析软件，使用简单7、智能云平台，共享太赫兹图谱库。

CCT-1800C小型太赫兹时域光谱仪是深圳市太赫兹研究院自主研发的紧凑型、实验室级时域光谱仪。整机结构紧凑、内嵌透射模块，采用工控屏显示。测试可获得物质的时域谱、频域谱、吸收谱、相位谱、折射率谱等参数，产品性能稳定，重复性高，适用于生物、医学、化学、农业、材料、食品、药品等领域的太赫兹研究和监测。产品特点：1、结构紧凑、体积小、可靠性高、维护简单2、搬运方便，操作方便，主机于显示一体化集成3、软件自主研发，可根据应用需求进行定制化设计4、实时采集数据显示、控制软件与分析软件集成一体。5、软件中集成算法，可以实时捕捉计算样品的特征峰位信息。6、对使用环境要求低，可以在室内生活环境下进行测量使用。

太阳能电池IV测试探针台产品介绍谱量光电系列太阳电池IV测试探针台由高精度探针座、探针基座、镀金样品台、无油真空泵等模块组成，模块化设计，可以适用于多种测试环境，满足不同客户的测试需求；TLRH系列太阳电池IV测试探针台探针座采用一体式探针夹具，化学镀金处理，提高稳定性的同时保证测试精度，三维调整XYZ行程13mm精度10μm方便移动，可根据客户应用搭建探针测试台以达到更好得使用效果。太阳能电池IV测试探针台技术优势双通道镀金样品台 三维调整，XYZ行程13mm，精度10μm 匹配水冷接口，提高测试稳定性 集成两种测试模块，均具有吸附功能 漏电流精度：10pA/100fA（屏蔽箱内1A） 用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等；广泛用于高校，科研院校以及公司通用参数样品台尺寸： 4英寸样品台行程： 13mm整体位移精度 10um探针座精度： 10um（可升级3um.1um）漏电精度: 100fA三同轴线缆接口形式： 三同轴接口真空泵： 进口无油真空泵实验附件及常规测试步骤：光学隔振平台、一台计算机(标准VGA接口和USB接口)、吉时利2450数字源表（含软件）等。测试时连接探针台和数字源表，探针接被测物体电极，待连接导通后打开源表软件，选好参数即可出该触点的I-V性能曲线。应用领域：太阳能电池及电池片测试、半导体材料光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等。谱量光电可根据客户实际应用需求，定制配套探针台系统，以达更好的测试效果及更高的性价比，具体信息可联系详询。

THP太赫兹相机测试系统用于测试被动式太赫兹相机，所使用的测试方法与LAFT热像仪测试系统一致:一段距离外的参考靶标经被测热像仪成像，分析生成的图像质量。能够测试MRTD, MTF, NETD, FPN, 不均匀性, FOV。THP测试系统由大发射面的太赫兹黑体和一组可切换靶板组成。靶板是具有特定形状孔的非透明金属板。被测相机可以通过小孔看到黑体以及通过靶标形状的小孔的黑体辐射。被辐射或反射的靶板经被测系统生成图像的背景，靶标周围的保护罩避免了空气扰动的影响，同时提高模拟背景的均匀性。产品特性• 测试不受太赫兹相机的口径限制• 靶标与相机的距离必须大于与必须大于被测相机的**小聚焦距离• 黑体和靶标的大小必须高于被测相机**小分辨力• 可配置不同型号黑体，对应波长范围0.01 mm 到10 mm（0.03 THz 到30 THz）• 黑体发射面从200 mm 到1000x1000mm可选• 黑体温度范围+5oC 到+95℃，取决于具体型号产品参数No参数描述1组成MAB 黑体，保护罩，一组靶标，图像采集卡，便携式计算机，MAB 控制程序, TAS-TH 计算程序黑体2黑体发射面口径???? 200 mm 到1000x1000mm可选3光谱范围详见 MAB 产品手册4温度调节范围详见 MAB 产品手册5发射率详见 MAB 产品手册6温度均匀性详见 MAB 产品手册7调节稳定性详见 MAB 产品手册8总体温度不确定性详见 MAB 产品手册9控制接口USB 2.010 供电115-230VAC 50/60Hz11工作温度+5℃ 到 +45℃ (无冷凝)12储存温度-10℃ 到 +60 ℃靶标13靶标尺寸250x250 mm 到1200x1200mm (取决于 MAB 黑体具体型号)14靶标数量一组8个4杆靶 (MRTD 测试用), 一个刀口靶 (MTF测试用)，一个方形靶(噪声参数测试用)154杆靶的杆宽度2 mm 到 50mm (取决于 MAB 黑体具体型号)16靶标有效发射率 0.95图像采集卡17标准格式从以下格式中选择一种：模拟视频, CameraLink, GigE（可选配其他格式）18非标格式提供相机驱动和DirectX文件时，可定制图像采集卡PC19计算机主流配置，Windows7 操作系统

innoCon 60系列台式水质分析仪JENSPRIMA innoCon 60系列台式水质分析仪可测量pH、ORP、电导率、电阻率、溶解氧和离子浓度，广泛应用于实验室、制程和野外的水质测量杰普Jensprima台式pH/ORP测试计台式PH/ORP,配备PH/ORP电极和温度碳棒,可测PH/ORP和温度值 支架固定,可自由调节测量角度 安装简单,无需工具便可组合拆卸 多点自动校准,确保量程准确 USB电源接头,增加输出功能,可连接电脑USB插槽充电 内置可充电锂电池,确保不断电,便于移动操作 杰普Jensprima台式pH/ORP测试计测量范围：-2.00-16.00pH，-2000-2000mV分辨率：0.01pH/0.1mV/1mV精度：±0.01pH，±0.2mV/1mV 温度补偿：自动/手动温度补偿5点自动校准电极效能自我诊断显示100组测量数值储存功能可选用梯电极，用于氢氟SUAN场合测量可自由开关背光灯，具按键音功能自动关机功能具有USB传输功能innoCon 60P台式pH/ORP测试计

HSIA-DB通用功能型高光谱测试暗箱内置照明光源、一维扫描装置、升降样品台，可搭载Image-λ系列高光谱相机，并可搭载紫外激发光源、线照明光源等，满足不同应用的需求。 l 可检测样品尺寸：200mm*200mm，更大尺寸需订制l 光源n 漫射型均匀照明面光源（标配）：光谱范围350nm～2500nm，光照均匀性优于90%，适用于Image-λ-F系列光谱相机n 漫射型均匀照明线光源（标配）：光谱范围350nm～2500nm，光照均匀性优于90%，适用于Image-λ-G系列光谱相机n 选配光源：线型光源（HSIA-LS-TS-30）、紫外光源（HSIA-LS-UV-H）l 工作距离可调整范围：350mm～ 500mm.l 样品台扫描行程300mm

DSR300系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的*对光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。 功能：? 光谱响应度? 外量子效率? 单色光/变功率IV；? 不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）? 不同偏压下的IT曲线? LBIC，Mapping? 线性度测试? 响应速率测试 微纳器件光谱响应度测试系统主要技术参数显微镜头标配：10倍超长工作距离物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：350-800nm选配：1，50倍超长工作距离消色差物镜，工作距离大于17mmNA值：0.42光谱范围：480-1800nm 2，15倍紫外物镜，工作距离大于8.5mmNA值：0.32光谱范围：250-700nm 3，50倍超长工作距离紫外物镜，工作距离大于12mmNA值：0.42光谱范围：240-500nm 4，40倍反射式长工作距离工作距离大于7.8mmNA值：0.5光谱范围：200nm-20um光斑中心空心光源选配光源1、半导体激光器波长：405nm，532nm，633nm，808nm，980nm可选不稳定性：＜1% 2、皮秒脉冲激光器波长：375nm，405nm，488nm，785nm，976nm可选脉宽：100ps频率：1-20M Hz 3、氙灯光源光谱范围：250nm-1800nm不稳定性：＜1% 4、超连续白光激光光源光谱范围：400-2400nm频率：0.01MHz-200MHz脉宽：100ps光谱仪焦距：300mm；相对孔径：f/3.9；光学结构：C-T；光谱仪分辨率：0.1nm；倒线色散：2.7nm；波长准确度：±0.2nm波长重复性：±0.1nm扫描步距：0.005nm狭缝规格：圆孔抽拉式固定狭缝，孔径：0.2mm,0.5mm,1mm,1.5mm,2mm,2.5mm,3mm；三光栅塔台；光栅配置：1-120-300、1-060-500、1-030-1250，光栅尺寸：68×68mm6档自动滤光片轮，光谱范围200-2000nm；内置电动机械快门，软件控制快门开关；杂散光抑制比：10-5探针台配置4个探针座，配20/10微米针尖探针2米三同轴电缆，漏电流小于1pA。真空吸附样品台。探针座：ＸＹＺ方向12ｍｍ调节行程，0.75uｍ调节分辨率，0-30°调节探针角度。LBIC MaappingXY方向行程50mm，分辨率5um。数釆v 锁相放大器斩波频率：20Hz~1KHz；频率6位显示，2.4英寸屏，320×240液晶显示；电压输入模式：单端输入或差分输入；电压、电流两种输入模式； 满量程灵敏度：1nV至1V；电流输入增益：106或108V/A；动态储备：＞100dB；时间常数范围：10μs至3ks； v keithley2612B量程：100nA/1A最小信号：1nA本地噪音：100pa分辨率：100fa通道数：2 v keithley2636B量程：1nA/1A最小信号：10pA本地噪音：1pa分辨率：10fa通道数：2制冷样品台温度范围：-196℃-600℃，（-196℃需要选择专用冷却系统）全程温度精度/温度性：0.1℃/＜0.01℃光孔直径：2.4mm样品区域面积：直径22mm两个样品探针，1个LEMO接头（可增加至1探针）工作距离：4.5-12.5mm气密样品腔室，可充入保护性气体独立温度控制响应速率测试示波器型号：MDO32模拟带宽100MHz采样率5GS/s记录长度10M时间范围：uS-S，需要配合调制激光器使用时间范围：10nS-S,需要配合皮秒脉冲激光器使用 三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节。内置三路半导体激光器或者两路光纤激光器，外置一路激光光路。可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试。测试功能曲线：40um光斑@550nm@50倍物镜200um光纤 70um光斑@550nm@50倍物镜400um光纤5um光斑@375nm皮秒激光器@40倍物镜 紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。