插头摇摆测试仪

8月29日，CQC发布有关插头插座产品强制性认证执行新版标准的公告。根据公告的要求，插头插座实施CCC认证所依据的标准将于2013年12月1日起由GB 2099.2-2012《家用和类似用途插头插座第2部分：器具插座的特殊要求》替代GB 2099.2-1997。与GB 2099.2-2012配套使用的通用标准为GB 2099.1-2008。 　　根据公告的要求，2013年8月29日至2013年12月1日期间，申请人可自愿选择按照新版标准或者旧版标准申请认证 自2013年12月1日起，应采用新版标准实施认证并出具新版标准认证证书。对于已按旧版标准获得强制性认证的器具插座产品，认证委托人应于本决议发布之日起、下一次跟踪检查之前，提交转换新版标准产品认证证书的申请，送样进行新、旧版标准差异试验项目的检测。试验合格后，换发新版标准产品认证证书。旧版标准认证证书转换工作应于2014年12月1日前完成，逾期未完成转换的认证证书，CQC将予以暂停，2015年2月28日仍未完成转换的证书，将予以撤销。

2022年1月13日，根据中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟（以下简称“宽禁带联盟”）团体标准制定工作程序要求，联盟秘书处组织召开了宽禁带联盟2022年度第一次团体标准评审会。本次评审会采取线上评审的形式，分别对《碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》等五项团体标准进行了研讨及审定。线上评审评审会由宽禁带联盟秘书长刘祎晨主持，厦门大学张峰教授、中国科学院物理研究所王文军研究员、中国科学院半导体研究所金鹏研究员、孙国胜研究员、刘兴昉副研究员、国网智能电网研究院有限公司杨霏教授级高工、中科院电工所张瑾高工、工业和信息化部电子第四研究院闫美存高工、北京聚睿众邦科技有限公司总经理闫方亮博士、北京天科合达半导体股份有限公司副总经理刘春俊研究员、国宏中宇科技发展有限公司副总经理赵子强、北京世纪金光半导体有限公司技术主任何丽娟、北京三平泰克科技有限责任公司郑红军高工等宽禁带联盟标准化委员会委员参加了本次会议。会上，各牵头起草单位代表就标准送审稿或草案的编制情况进行了详细汇报，与会专家针对标准技术内容、专业术语、技术细节、标准格式、标准规范等内容等方面进行了深入的讨论，并提出了很多宝贵意见，最后经联盟标准化委员会与会委员表决，形成如下决议：1. 通过《碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》（牵头单位：国宏中宇科技发展有限公司）一项送审稿审定；2. 通过《碳化硅外延层载流子浓度测试方法-非接触电容-电压法》、《碳化硅栅氧的界面态测试方法—电容-电压测试法》（牵头单位：芜湖启迪半导体有限公司），《金刚石单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法》、《金刚石单晶位错密度的测试方法》（牵头单位：中国科学院半导体研究所）四项草案初审。同时标准化专家组建议各标准工作组要根据专家审查意见对各项标准进一步修改完善，尽快形成报批稿或征求意见稿，报送至联盟秘书处。联盟将按照标准制定工作计划进度要求，有条不紊地推动标准工作。宽禁带联盟一直以来都高度重视团体标准工作的发展，有责任和义务不断提升标准化水平，为引领行业技术发展提供重要支撑。同时，联盟也将积极探索推进与国标委的互动，协同推动优秀的团体标准上升为行业标准、国家标准，不断提升国家标准的水平。

2013年8月29日，中国质量认证中心(CQC)发布有关插头插座产品强制性认证执行新版标准的公告。根据公告的要求，插头插座实施3C认证所依据的标准将于2013年12月1日起由GB 2099.2-2012《家用和类似用途插头插座第2部分：器具插座的特殊要求》替代GB 2099.2-1997。与GB 2099.2-2012配套使用的通用标准为GB 2099.1-2008。 　　根据公告的要求，2013年8月29日至2013年12月1日期间，申请人可自愿选择按照新版标准或者旧版标准申请认证 自2013年12月1日起，应采用新版标准实施认证并出具新版标准认证证书。对于已按旧版标准获得强制性认证的器具插座产品，认证委托人应于本决议发布之日起、下一次跟踪检查之前，提交转换新版标准产品认证证书的申请，送样进行新、旧版标准差异试验项目的检测。试验合格后，换发新版标准产品认证证书。旧版标准认证证书转换工作应于2014年12月1日前完成，逾期未完成转换的认证证书，CQC将予以暂停，2015年2月28日仍未完成转换的证书，将予以撤销。 　　下表列出了新旧版本标准的差异及新版标准的补充试验(检查项目)。 序号 标准条款 GB 2099.2新旧标准差异 补充试验（检查）项目 GB 2099.2-1997 GB 2099.2-2012 1 8 标志 采用GB 2099.1-1996第8章 采用GB 2099.1-2008第8章。 增加了中性极、接地极、带电极的符号。 修改了保护接地符号标志、型号。 做补充检查 2 9 尺寸检查 采用GB 2099.1-1996第9章及GB1002-1996，没有不接触规的测试 GB1002-2008增加了插座带电极插套到插合面距离的要求，增加了插座的部分通规，增加了两极双用插座圆插部分，增加了不接触规的测试。 做补充试验 3 10 防触电保护 采用GB 2099.1-1996第10章 采用GB 2099.1-2008第10章，增加了图9探针的检测等内容，且GB1002-2008尺寸要求变化，对防触电保护产生影响。 做补充试验 4 13 固定式插座的结构 采用GB 2099.1-1996第13章 采用GB 2099.1-2008第13章，由于GB1002-2008尺寸要求变化，从而影响插座结构。 做补充试验 5 19 温升 采用GB 2099.1-1996第19章 采用GB 2099.1-2008第19章，GB1002-2008尺寸要求变化，有可能影响插座结构，从而影响温升。 若确认插套结构变化，则做补充试验 6 20 分断容量 采用GB 2099.1-1996第20章 采用GB 2099.1-2008第20章，GB1002-2008尺寸要求变化，有可能影响插座结构，从而影响分断能力。 若确认插套结构变化，则做补充试验 7 21 正常操作 采用GB 2099.1-1996第21章 采用GB 2099.1-2008第21章，GB1002-2008尺寸要求变化，有可能影响插座结构，从而影响正常操作。 若确认插套结构变化，则做补充试验 8 27 爬电距离、电气间隙和通过密封胶的距离 采用GB 2099.1-1996第27章 采用GB 2099.1-2008第27章，GB1002-2008尺寸要求变化，有可能影响插座结构，从而影响爬电距离和电气间隙。 若确认插套结构变化，则做补充试验 9 28 绝缘材料的耐非正常热、耐燃和耐电痕化 采用GB 2099.1-1996第28章 GB2009.2-2012相对与GB2099.2-1997在本章节增加了“就本试验而言，器具插座视为固定式插座”，移动式插座对将载流部件保持在位的绝缘材料需进行750℃灼热丝试验，固定式插座对将载流部件保持在位的绝缘材料需进行850℃灼热丝试验。 若先前判为移动式插座，则做补充试验 　　GB 2099.2-2012详情参见：http://www.xmtbt-sps.gov.cn/download.asp?id=6178