表面阻抗测量仪

目前，检测表面粗糙度比较常用的方法是比较法、光切法、干涉法、触针法和印模法等，而其中触针法因其测量迅速方便、测量精度高、使用成本较低等良好特性而得到广泛使用。当采用触针法对加工工件表面进行表面粗糙度测量时，探测头上的触针在被测表面轻轻划过。由于存在轮廓峰谷的起伏，所以触针将在垂直与被测轮廓表面方向上产生上下起伏的移动。这种移动量虽然非常微细，但足以被敏感的电子装置捕捉并加以放大。放大之后的信息则通过指示表或其他输出装置以数据或图形的方式输出。这就是触针式表面粗糙度测量仪的工作方式。其中，按其传感器类型可以分：电感式、压电式、光电式等；按其指示方式又可分为：积分式、连续移动式。触针式表面粗糙度测量仪由传感器、驱动箱、指示表、记录器和工作台等主要部件组织。其中电感传感器的工作原理为：传感器测杆一端装有触针（由于金刚石耐磨、硬度高的特点，触针多选用金刚石材质），触针的尖端要求曲率半径很小，以便于全面的反映表面情况。测量时将触针尖端搭在加工工件的被测表面上，并使针尖与被测面保持垂直接触，利用驱动装置以缓慢、均匀的速度拖动，当触针在被测表面拖动滑行时，将随着被测面的轮廓峰谷表面作反向上下运动，并将运动幅度放大，从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化，并将触针微笑的垂直位移转化为同步成比例的电信号。

”电工仪器“小版面的增加是为了更好地充实仪器信息全面性，争取能有个积极的、发展的作用。1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等

视频光学表面接触角测量仪有哪些日常维护，要注意什么事项呢

各台仪表的输入阻抗特性相差很大，但通常可把它们分为两类：高阻抗和系统阻抗。 1、离阻抗输入 设计高阻抗输入，可将负载影响减至最小，使被测电路至测量仪表的电压转移最大，这可使仪表的输入阻抗远大于电路的阻抗来达到。仪表输入阻抗的典型值在10kΩ和1MΩ之间。对于用在高频下的仪表，输入两端的电容很重要，通常仪表的使用手册会加以说明。 2、系统输入阻抗 许多电子系统有特定的系统阻抗，如50Ω（下图）假设系统的全部输入、输出、电缆和负载具有相同的电阻阻抗，那么，总能传送最大的功率。在高頻条件下（约大于300MHz），杂散电容和输送线的影响使得这样才是唯一的一类实用系统，系统阻抗常称恃性阻抗，并用符号Z。[align=center][img=gooxian-阻抗系统-1]http://www.gooxian.com/Storage/master/gallery/201710/20171010112137_1290.jpg[/img][/align] 在音频条件下，恒定的系统阻抗不是必需遵循的条件，但也常常遵循。许多应用中，使源电路为低阻抗（低于100Ω）、全部负载电路为高阻抗（大于1kΩ）就足够了。这样可获得最大输出电压（这里讲的是将功率输出放在其次）。某些音频系统保持系统阻抗为600Ω，这种系统用于实验为多，电话中也使用。 对于射频，50Ω是用得最多的通用阻抗。这一阻抗可易于保持，且不受分布电容影响。50Ω是容易实现的，诸如业余的和商业射频发射机、发射天线、通信滤波器[url=http://www.hyxyyq.com][color=#ffffff].[/color][/url]以及射頻测试设备通常都有50Ω的输入和输出阻抗。在射頻范围，居50Ω之次的就是75Ω阻抗。在射频范围，这一阻抗也用得很广泛，特别是与视频有关的应用中，如电视电缆就是用75(1阻抗。当进行电子测量时，作为特殊需要还可能遇到其他系统阻抗。 当测量这类系统时，系统中许多可测点都以系统阻抗（Z0）为负载。因此，许多仪表有标准的输入阻抗值（标准的为50Ω）。当测量时，这种仪表可与系统相接，起着50Ω负载的作用。

我希望了解一下表面张力测量仪器的工作原理，谢谢。

αβ表面污染测量仪LB124一、配置：1. 大面积表面污染探测器2. 活度窗二、技术要求：l 显示：单色LCD 192×64像素，电子荧光照明l 探测器：ZnS:Ag闪烁体探测器l 测量模式：α、β同时、分别测量l 探测器尺寸：118mm×145mml 灵敏域：170cm2l 入射窗：金属处理过的塑料、6μm（0.4mg/ cm2）l 保护栅格透射率：80%l 尺寸：240mm×140mm×110mml 重量（带电池）：1300gl 数据记录：1000个测量值l 串行接口：RS232灵敏度l 效率（涉及的放射源面积100 cm2）C-14 11% β通道Cl-36 50% β通道Co-60 34% β通道Cs-137 49% β通道Pu-239 23% α通道Am-241 22% α通道l 本底： 约0.1 cps α通道 约15 cps β通道l γ灵敏度（外场Cs-137）：1μSv/hl β通道：100cpsl 溢出：20% (Po-210) α→β2×10-5 (Sr-90) β→αl 测量范围：(死时间10%)0～5000cps(α通道)0～50000cps(β通道)环境条件l 工作温度：-20℃～+40℃l 储存温度：-40℃～+60℃l 相对湿度：0%～95% （无冷凝）l 防护等级：IP53校准依据ISO 7503-1 或 DIN 44801

1.电子测量仪的分类 电子测量仪的分类方法按不同的要求，分类不同，如按其功能，可分为下列几类。 1.1用于电量测量的仪器： 测量电流(I)、电压(V)、电功率(P)、电能(W)、电荷强度(E)等。 如：电流表、电压表、毫伏表、功率表、电能表、电荷统计计、万用表等。 1.2用于元件参数测量的仪器： 测量电阻(R)、电感(L)、电容(C)、阻抗(Z)、品质因素(Q)、损耗角tg、电子器件参数等。 如：微欧表、阻抗表、电容表、LCR测试仪、Q表、晶体管式集成电路测试仪、图示仪等。 1.3用于仪表波形测量的仪器： 测量频率(f)、周期(T)、相位(∮)、失真仪(V)、调幅(AM)、调频(FM)、谐波等。 如：频率计、石英钟、相位计、波长计、各类示波器、失真分析仪、调制度分析仪、音频分析仪、谐波分析仪、频谱分析仪等。 1.4 用于电子产品，电子设备及模拟电路和数字电路性能测试的仪器。 测量产品或设备的漏电流特性，耐压特性，频率特性，增益(K)、增减量(A)、灵敏度(S)、噪声系数(Nf)、相位特性、电磁干扰特性等。 如：漏电流测试仪、耐压测试仪、扫频仪、噪声系数测试仪、网络分析仪、逻辑分析仪、相位特性测试仪、EMC测试仪等。

由于测量仪器在不同的频段，即使功能相似的仪器，其工作原理与结构常有很大的不同。而对于不同使用目的，也常使用不同准确度的仪器。例如，作为计量工作标准的计量仪器常具有最高的精度，实验室中一般使用较精密测量仪器进行定量测量，而生产和维修场合，则常使用简易测试仪器进行测量。实际上在选择一台电子仪器时，要考虑的远不止这些，通常选择仪器要考虑的问题一般包括：（1）量程。即被测量的最大值和最小值各为多少？选择何种仪器更合适？（2）准确度。即被测量允许的最大误差是多少？仪器的误差及分辨率是否满足要求？（3）频响特性。即被测量的频率范围是多少？在此范围内仪器频响是否平直？（4）仪器的输入阻抗在所有量程内是否满足要求？如果输入阻抗不是常数，其数值变化是否在允许的范围内？（5）稳定性。两次校准之间容许的最大时间范围是多少？能否在长期无人管理下工作？（6）环境。仪器使用环境是否满足技术条件要求？供电电源是否合适？（7）隔离和屏蔽。仪器的接地方式是否合适？工作环境的电磁场是否影响仪器的正常工作？（8）可靠性。仪器的规定使用寿命有多长？维护方便否？　　当然，实际选择仪器时，不一定要考虑上述全部项目。例如，测量音频放大器的幅频特性，主要考虑测量仪器的频率范围和量程是否合适？测量误差是否在允许的范围内？我们可以根据实验室现有仪器仪表，挑选电子电压表（毫伏表）或示波器作为测量仪器。使用时，注意给仪器预热、调零和校准。为保证等精度测量，实验时应尽可能用同一组仪器。

pH计是我们较熟悉的一款用于测量液体介质酸碱度值的测量仪器，配上相应的离子选择电极就可以测量离子电极电位的MV值。随着科学研究的发展和生产技术的进步，使用pH计进行水分的定量定性分析，已成为各类物质理化分析的基本项目之一，也是各类物质的重要质量指标。下面，中国测量工具网的小编就给大家介绍一下pH计的输入阻抗及其测量方法。一、输入阻抗用pH计测量溶液的酸度时，玻璃电极和甘汞电极在溶液中组成了化学原电池。它具有电动势E和内阻r。因此，pH计的输入阻抗和原电池的内阻就可以等效。E表示原电池的电动势，它的数值同被测溶液pH值等有关；r表示原电池的内阻，它由3部分组成，主要由pH计玻璃电极的内阻(108Ω左右)所决定；甘汞电极的内阻为104Ω左右；被测溶液的内阻为(103～105)Ω。R表示pH计的输入阻抗，它是pH计输入端各部分元器件电阻的并联值。原电池内阻r同输入阻抗R是串联关系。根据串联电阻分压原理可知，当原电池内阻r为109Ω时，pH计的输入阻抗应比原电池内阻大1000倍以上，也就是在1012Ω以上。因此，就能忽略原电池r上压降的影响，使得进入pH计输入端的电压接近原电池电动势。当pH计的输入阻抗不够大时如果其输入阻抗同原电池内阻相等，原电池中就会有一半压降降在内阻上pH计上显示的数值仅为原电池电动势的一半。即使pH计输入阻抗比原电池内阻大一到两个数量级计在测量时也还会出现不稳的现象。这是因为pH计的输入阻抗和原电池的内阻并非都是一个完全稳定的常数，它们是随着环境温度和湿度等变化的。所谓pH计的输入阻抗，就是从pH计的两个输入端看进去所呈现的阻抗。计的输入阻抗不仅与其输入端高阻抗管有关，还与输入端的读数开关、玻璃电极插孔、输入屏蔽线的绝缘电阻和输入端滤波电容漏电阻有关。因为从原理上说，它们的绝缘电阻都与输入端高阻抗管是并联关系。如读数开关和玻璃电极插孔都安装在pH计的机壳中，它们和机壳之间都有一个漏电阻。电极上的电压信号是通过屏蔽线进入到高阻抗管的输入端的，输入端滤波电容也是接地的。因此。它们的绝缘电阻或漏电阻起码要比高阻抗管的阻抗大两个数量级以上。如果上述元器件中有一个绝缘电阻达不到要求，就会影响pH计的输入阻抗。如果上述元器件受污染，就要进行清洗。清洗溶剂应用乙醚而不是乙醇，清洗后要用电吹风将它们烘干，通过清洗后的元器件绝缘电阻一般都能达到要求。二、pH计输入阻抗的测量方法pH计的输入阻抗无法直接测量，可用间接测量法得到。R取1000MΩ从电位差计向pH计输入电压E0在开关K接通(R短路)的情况下，用pH计测得的毫伏值为E0；再断开开关K，R接通pH计测得的毫伏值为Ei，则可得到下列公式：Ei=(Ri×E0)/(RRi)(1)式中：Ri——pH计的输入电阻。由式(1)可得到Ri=(R×Ei)/(E0-Ei)(2)三、计算实例选一台0.01级pH计，按图2所示接线。R取1000MΩ，从电位差计向pH计输入电压300mV，在开关K接通(R短路)的情况下，pH计的示值为300.0mV；再断开开关K(R接通)，pH计的示值为299.8mV。将测得的数据代入式(2)，可得Ri=(R×Ei)/(E0-Ei)，Ri=1.50×1012Ω

非常实用的非晶材料磁阻抗特性测量仪器，硬件软件完全自主研制，首次资料公开，欢迎批评指正。

[size=16px]　　叶面积测量仪通常用来测量植物的叶片表面积，而不是叶片的长度。如果您想测量植物叶片的长度，您可以考虑使用一个普通的尺子或者显微镜测量。以下是如何使用叶面积测量仪来测量叶片表面积的步骤：　　准备工作： 确保您有一台叶面积测量仪，通常它由一个扫描仪和适用于测量的软件组成。您还需要植物的叶片样本。　　准备叶片样本： 从植物中选择您想要测量的叶片样本。尽量选择完整、健康的叶片，并在测量前将其清洁干净。　　扫描叶片： 将叶片放在叶面积测量仪的扫描台上。根据仪器的使用说明，启动扫描仪，它将会自动扫描叶片的表面。　　分析数据： 扫描仪将生成一个叶片的图像，并提供叶片的表面积数据。您可以使用附带的软件或其他图像处理软件来测量叶片的总表面积。通常，这涉及在图像上勾画叶片的边界，然后软件会计算出所勾画区域的面积。　　保存结果： 一旦测量完成，您可以将测量结果保存下来，以备将来参考或记录。　　需要注意的是，叶面积测量仪测量的是叶片的二维表面积，而不考虑其长度、宽度和形状等其他参数。如果您对测量叶片的长度感兴趣，云唐建议您可能需要使用传统的测量工具，如尺子、标定尺或显微镜来进行测量。[/size]

目前用于安全防护检测的大电流接地电阻测量仪已越来越广泛地运用于家用电器、绝缘材料、电动电热器具等产品的质量检测中,而此种仪器本身的量值传递却由于其大电流的限制,存在许多问题。普通的接地电阻测量仪检定装置不能用于这种仪器的检测,下面百检检测介绍两种检测方法。 1　直接法 这里所谓的直接法就是电阻法,利用大功率标准电阻直接接于被测大电流接地电阻测量仪的测量端,原理框图如图1所示,用标准电阻值与测量仪表头所显示的电阻值作比较。 设标准电阻值为RN,即实际值,被检表显示读数为RX,则被检表的绝对误差为: Δ＝RX－RN 被检表的相对误差为: r＝［(RX-RN)/RN］×100% 用此方法检测时应注意测量仪恒流输出所限制的电阻范围,超出该范围,将不再恒流且测量不正确。由于所测均为小电阻,导线及接触电阻的消除、四端钮接线等都是必须注意的,同时注意不可引入别的哪怕是很微小的附加电阻。 用此方法检测,简单直观方便,测量准确,但应当具备一套不同阻值(并非均为十进制变化)的大功率标准电阻,由于它的特殊要求,这种电阻需由厂家定做。 2　间接法 所谓间接法就是利用电流电压的方法来进行测量。 2.1　用标准电压源法进行测量 接地电阻测量仪的基本原理为以已知恒定电流通过被测电阻RX的压降来代表所测电阻值。根据这一原理,可用标准电压源和标准电流表来检测接地电阻测量仪,检测框图如图2所示。 标准电压源输出一个标准电压UN,同时读出标准电流表显示的电流IN,此时被检测量仪表头显示值为RX值,则实际值为: R＝UN／IN 绝对误差为: Δ＝RX－R＝RX－UN／IN 相对误差为: r＝［（RX－UN／IN）／（UN／IN)］×100% 通过输出不同的标准电压值,便可测得一系列电阻值。用此方法检测时应注意测量仪在恒定电流下所限定的电阻范围对应的电压值范围,使标准源输出的电压在此范围内。 2.2　用标准电压表法进行测量 利用标准电压表、标准电流表以及大电流电阻对大电流接地电阻测量仪进行测量,其检测接线框图如图3所示。 测量时,接上一电阻值R,立即读取标准电流表和标准电压表的读数IN、VN,此时被检接地电阻测量仪表头也显示出所测电阻值RX。而标准电流表、标准电压表所测值对应的电阻值可认为是所测电阻的真值,即: R＝VN／IN 绝对误差为 Δ＝RX－R＝RX－VN／IN 相对误差为 r＝［（RX－VN／IN）／（VN／IN)］×100% 通过接入不同的电阻值,便可测得一系列的值。从而确定出被检接地电阻测量仪的误差情况。 用此方法检测时应注意接地电阻测量仪所能测量的电阻范围,接入的电阻不可超出此电阻范围 由于所测电阻均为小电阻,因此必须采用四端测量 因是大电流测量,测量时间应尽量短。 3　误差分析 3.1　直接法的误差 直接法测量时,误差的主要来源是标准电阻引入的。在消除了引线电阻的影响后,只要标准电阻的误差为被检表允许误差的1/3～1/5即可。 3.2　间接测量的误差 3.2.1　标准电压源法测量时的误差 装置的主要误差来源: (1)标准电流表引入的误差S1:由于被检电流最高精度为0.5%,因此选用0.1级标准电流表即可。 (2)标准电压源带来的误差S2:由于被检表精度不高,在选用标准电压源时,一般采用实验室现有的三用表校验仪D030的交流电压信号输出便可满足要求,考虑到所需电压较小,其输出值误差一般不超过±0.5%。 (3)标准电压源输出漂移带来的误差S3：一般D030稳定性误差为±0.05%,考虑小电压情况,其漂移误差一般也不会超过±0.1%。 装置的总误差为: 由于被测接地电阻测量仪电阻精度最高为2%读数±2个字,可见装置总误差能满足要求。 3.2.2　标准电压表法测量时的误差 (1)标准电流表引入的误差S1:由于被检电流最高精度为0.5%,因此选用0.1级标准电流表即可。 (2)标准电压表带来的误差S2:由于被检表精度不高,选用0.05级标准电压表即可满足要求。考虑到所测电压较小,其测量误差一般不超过±0.5%。 (3)标准电压表输入阻抗带来的误差S3:因所测电阻均为1Ω以下,相对而言,标准电压表输入阻抗带来的误差完全可以忽略不记。 (4)电阻引入的误差S4:用此法检测,接入的电阻并不作为标准,仅作为被检表与标准表测量的一个载体,因此该电阻的精度并不影响测量结果,影响测量结果的主要因素是电阻的稳定性,由于所接电阻大电流的要求,此电阻通常是由专门的材料和工艺定做而成,对其稳定性有一定的要求,加之被检表和标准表几乎是同时测量,因此电阻稳定性引入的误差可忽略不记。

基本概念： 物位是指物料相对于某一基准的位量，是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量，其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计，测量液位的仪表称为液位计，测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况，液位测量占有相当大的比例，故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表，其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类：物位测量方法很多，测量范围较广，可从儿毫米到几十米，甚至更高，且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此，工业上所采用的物位测量仪友种类繁多，技其工作原理可分为：(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理，通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度，是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力，测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理，利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位，且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化，进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同，可分为电容式、电阻式和电感式3种，其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种，其中气介式可测液位和料位；液介式可测液位和液—液相界面；固介式只能测液位，比如：防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计，可测液位和料位，： (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时．被吸收而减弱，其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外，还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表，以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型，且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种．前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等，后者比较简单价廉，主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

为了帮助客户更好地选用建筑声学测量仪器，我们根据相关标准要求，提出建筑声学测量仪器解决方案，主要包括以下内容：1 建筑声学测量总的仪器解决方案 适用建筑构件隔声测量、混响室吸声系数测量和室内混响时间测量。 建筑构件隔声测量根据传播途径的不同分为： 1）建筑构件的空气声隔声测量； 2）楼板撞击声隔声测量。 我公司提供的解决方案：选用AWA6290M型双通道分析仪、AWA5870B型功率放大器、AWA5510型12面体声源、AWA5560型标准撞击器，以及建筑声学测量软件。 与传统建筑声学仪器配置的比较： 1）设备少了许多，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪； 2）智能化程度高，由计算机直接计算各项测量指标，省力省时间； 3）混响时间测量既可以按中断声源法，也可按脉冲响应积分法； 4）同时测量出各个中心频率下的混响时间、隔声量和吸声系数，效率大大提高； 5）可以自动生成报表； 6）还可进行噪声的频谱分析等测量。如果用户需要对振动进行测量，只要增加振动测量通道和相应的软件。 7）当测量标准修订了，也可以通过软件升级或增加的办法，使它符合新标准的要求，而不需重新购买。2 测量混响时间简单解决方案 如果仅仅测量混响时间，只需选用AWA6291型实时信号分析仪，配置实时倍频程和1/3倍频程分析软件和混响时间测量软件。该配置的优点：1）使用设备非常简单，不再需要噪声发生器、滤波器、电平记录仪；2）按脉冲响应积分法测混响时间，准确性高，低频尤其明显；3）同时测量并直接计算所有频带的混响时间，省力省时间；4）该仪器还能进行噪声测量和实时倍频程和1/3倍频程分析。3 阻抗管法材料吸声系数测量解决方案 材料吸声系数的测量除了混响室法，还可采用阻抗管法。阻抗管法材料吸声系数的测量又分为： 1）驻波比法吸声系数测量方法 利用AWA6122A型驻波管吸声系数测试仪，测定垂直入射条件下吸声材料的吸声系数。测试仪软件根据测量到的峰声级值和谷声级值自动计算出吸声系数，并能生成吸声系数与频率的坐标曲线。 该方案的特点： ● 工作原理直观，尤适宜教学使用； ● 不另需要信号发生器、测量放大器、滤波器等设备； ●自动计算吸声材料各频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●只能一个一个频率点测量，而且要寻找波峰和波谷点，费时费力。 2）传递函数法测量吸声系数 选用AWA6290M型双通道分析仪或AWA6290B型四通道分析仪，相位配对的1/4″测量传声器和AWA14634E前置放大器，加上AWA8551系列阻抗管，配置信号发生软件、1/3 OCT分析软件、FFT 分析软件、传递函数吸声系数测量软件和四传声器隔声测量软件。不同测量要求选择选择不同配置。 该方案的特点： ●是一种更为方便、快捷、操作误差小、测量结果一致性好的吸声系数和声阻抗的近代测量技术； ●同时测量并计算所有频率点的吸声系数，生成吸声系数频响曲线； ●采用4传声器法还可测量材料的隔声系数； ●设备比较复杂，价格相对较高。

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表，是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡，倒置在一个盛有葡萄酒的容器中，从其中抽出一部分空气，酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时，细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降，因而酒面的高低就可以表示温度的高低，实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年，德国的华伦海特于荷兰首次创立温标，随后他又经过多年的分度研究，到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计，即至今仍沿用的华氏温度计。1742年，瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计，它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年，瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来，这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年，就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理，制造温度计，到18世纪末，出现了双金属温度计；1802年，查理斯定律确立之后，气体温度计也随之得到改进和发展，其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年，德国的塞贝克发现热电效应；同年，英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律，这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年，德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前，人们在烧窑和冶锻时，通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载，1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化，来识别烧制陶瓷的温度，后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度，来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初，维思定律和普朗克定律出现以后，才真正得到实用。从60年代开始，由于红外技术和电子技术的发展，出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计)，从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法，也就出现了各种温标，如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值，以达到国际通用的目的，国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表，统一用摄氏温标。后经数次改革，到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ，以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ，1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点，如氢三相点，即氢的固、液、气三态共存点(-259．34℃)；水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等，作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34～630.74℃之间 ，用基准铂电阻；在630.74～1064.43℃之间，用基准铂铑-铂热电偶；在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中，这两部分是连成一体的，如水银温度计；在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分，中间用导线联接，如热电偶或热电阻是检测部分，而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式，温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时，其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表；非接触温度测量仪表在测量时，温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触，因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计，都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展，便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头，使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速，装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能，能显示一个被测表面的多处温度 ，或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外，现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表，如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表；采用热象扫描方式的热象仪，可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图， 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布，对于节能非常有益；另外还有利用激光，测量物体温度分布的温度测量仪器等。

刀具测量仪器具有水平及垂直两种光学测量系统，可以在一台仪器上实现刀具的全部测量，是测量复杂刀具的理想工具。刀具测量仪是由花岗石台面作为底座和立柱、精密滚珠丝杆传动、精密线性导轨导向等部件组成，采用独立的工程学设计工作台，配有完整的配电箱，可有效降低温度变化对测量仪器的影响。 刀具测量仪具有使用简捷，高度精确的优点，整个对刀过程不需要在CNC机床上进行，有效避免对工件的损坏以及机订对刀的困难和危险，仪器采用稳定的整体式花岗岩制造，气浮导轨，坚实、抗振动的花岗岩结构和集成的温度补偿器使测量结果能保持可靠的长期稳定性。刀具测量仪采用高分辨率CCD B/W相机，能够用于对刀具边缘进行无接触表面光及透射光测量，和对刀头几何图形进行表面光测量，采用CNC导轨控制以及4个控制轴。确保了仪器完整的精度，确保了刀具测件能够快速、准确的定位。 刀具测量仪主要适用于测量数控机床、加工中心和柔性制造单元上所使用的镗铣类刀具切削刃的精确坐标位置，并能检查刀尖的角度，圆角及刃口精况。刀具测量仪还可用于钻孔、铣削刀具或是极度复杂的切削刀具以及切削钢的制造或精磨。

[size=16px]　　叶面积测量仪是用来测量植物叶片表面积的设备。植物叶片的形状和大小因植物种类、生长状态以及环境条件而异，因此平均叶面积会根据这些因素而有所不同。　　要测量植物的平均叶面积，通常需要采取一定数量的叶片样本，并使用叶面积测量仪测量每片叶片的表面积，然后计算这些样本叶片的平均值。平均叶面积的单位通常是平方厘米(cm2)或平方米(m2)，取决于叶面积测量仪的精度和所使用的单位制。　　由于不同植物之间存在巨大的变异性，无法提供一个通用的平均叶面积数值。如果您想要测量特定植物的平均叶面积，云唐建议您需要在具体的实验或调查中使用叶面积测量仪进行测量。记住，同一植物在不同生长阶段、生长条件下的叶面积也会有很大的变化。[/size]

明克斯便携式表面粗糙度测量仪T1000A型是高精度的便携式仪器，主要用于机械加工企业和计量部门在生产现场对工件表面质量进行检测。可测量平面、圆柱母线、内孔、曲面等表面的粗糙度。 测量仪T1000A的测量原理为触针法，差动电感传感器，测量范围是触针最大位移：±50μm；Rt≤80μm；Ra≤8μm ，示值精度≤±10%，打印垂直放大比：自动/500/2000/10000倍，打印水平放大比10/40/100倍，驱动箱滑行速度：0.15，0.5，1mm/s，传感器测针：金刚石圆锥，锥角90°，针尖半径5μm ，工作温度：5℃-40℃，电源采用了内置可充电电池组，外接专用充电器。

请问有谁知道AFM是否可以测量材料表面的阻抗？有谁有其相关的资料，麻烦各位给看看。[em0808] [em0808]

对于一个金电极，正常情况先在PBS溶液中分别测量其在10KHz 和25KHz时的电阻，将正常情况下的阻值记录。但是在后来新制作的电极于同样条件下进行测量时发现：25KHz时代数值变化不大，而10Kz时的数值出现增大的趋势，连续测量时发现随时间增加阻抗值呈现不断降低的趋势。对于此现象，我个人认为是由于电极表面存在一些污染，或者是静电作用影响了金电极表面，当电极浸入PBS中测量时，影响了界面双电层，从而导致其阻抗增加？？？不知道这种解释对不对哦？？最近让阻抗搞定头疼，望各位大大不吝赐教，大家都来发表下看法，互相交流一下哈，谢谢各位了

密析尔阻抗露点仪原理及工作方式关键词：露点仪，原理，工作方式，技术英国密析尔Michell阻抗露点测量仪器包括多种在线式露点仪和便携式露点仪,及天然气氢气露点分析仪和精密露点仪，该阻抗露点仪原理采用陶瓷湿敏元件，抗腐蚀耐用，其露点仪价格经济，露点仪报价公道。◆ 结构坚固牢靠◆ 重复性优秀和稳定性可靠◆ 反应速度快捷◆ 露点范围宽◆ 测量露点精度高达+/-1°C露点仪工作原理密析尔Easidew传感器的露点工作原理非常简单，是基于水分的导电性。多孔的吸湿层如同“三明治”一样被夹在陶瓷基底上的两个导电层之间。吸收水分子后，吸湿活性层的导电特性就会发生变化。该露点传感器的表面导电层允许水分子自由通过进入吸湿活性层。吸湿活性层很薄，仅1微米厚（一微米=百万分之一米），而顶部的导电层厚度比1微米还要薄，这样，当周围环境的湿度发生变化的时候，传感器对湿度变化会做出极其快速的反应。 [IMG]http://img.bimg.126.net/photo/zXritKFDwD-l2Mvk4gIr3g==/3435120615777437182.jpg[/IMG]1、表面导电层2、吸湿活性层3、低部导电层4、陶瓷基地抗腐蚀性经过时间和实践应用的考验，密析尔Easidew陶瓷湿度露点变送器无论对纯净气体还是有腐蚀气体场所均能正常工作。探头可承受绝大多数种类的强酸介质-比如100%的硫化氢在这样的情况下，密析尔用户说，其他传感器是无法幸存的。耐压，抗压力冲击Easidew露点变送器不但能够承受高压，还能安全而又灵活的工作在快速变化的压力中。某些低质量劣等结构的露点变送器会由于工业过程突然增压或减压而损坏。而密析尔陶瓷湿度变送器结构设计充分考虑了这些应用场合的要求，能工作在30Mpa（300bar）上限而无任何影响。13个点的完整校验，可溯源至国家计量标准所有密析尔陶瓷湿度传感器的校验覆盖了从-100°C+20°C露点的全测量范围，使用最先进的电脑控制的、带质量流量监控器的湿度发生器，对每个传感器分别进行校验，露点校验的间距为每10°C校验一次，校验数据记录在单片处理存储器内，因而保证了传感器的最佳校验精度，方便了再校准得执行，使用户能根据自己的质量保证标准保养密析尔的传感器。

影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中，是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。　　影像测量仪的性能：　　1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量要求。　　2、花岗石底座与立柱，机构稳定可靠　　3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺，定位精确。　　4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计，镜头上下升降受力均衡，确保精度。　　5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。　　6、激光定位指示器，精确制定当前测量位置，方便测量。　　7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。　　8、影像测量仪的镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率：28X-180X。

[size=16px]　　叶面积测量仪是用于测量植物叶片表面积的工具。它可以通过不同的方法来估算叶片的表面积，其中一些常见的方法包括：　　直接测量法： 这种方法涉及将叶片放在一块已知面积的测量板上，然后使用划分网格或数字图像处理来测量叶片的轮廓。然后可以使用这些测量值来计算叶片的总表面积。　　扫描法： 这种方法使用数码扫描仪或图像扫描仪来扫描叶片的图像。扫描后，使用图像处理软件测量叶片的轮廓，并计算出叶片的表面积。　　影像分析法： 使用数字相机或移动设备拍摄叶片的图像，然后使用专业的图像分析软件来处理图像，提取叶片的轮廓并测量表面积。　　数学模型法： 通过测量叶片的长度、宽度和其他几何特征，然后应用数学模型(如椭圆形、矩形等)来估算叶片的表面积。　　叶片分段法： 对于大型或不规则形状的叶片，可以将其分成几个较小的部分，测量每个部分的面积，然后将这些面积相加以得到总表面积。　　无论使用哪种方法，都需要确保测量精确度和可靠性。在使用叶面积测量仪进行测量时，云唐建议遵循制造商提供的操作说明，并根据需要进行校准，以确保获得准确的叶面积数据。另外，不同类型的植物可能需要针对其特定叶片形状和大小的方法进行微调。[/size]

测量仪表的使用在现在的市场中已经遍及到整个工业建设中了，因为其使用测量时很重要的一个环节，要保证测量仪表有一个长期稳定的工作状态。定期检查：有的维护检查不需要每天检查的要每隔一段时间定时检查。定期零点检查，由于变送器有二次阀或三阀组、五阀组，所以零点检查很方便，不需要太多时间。但是用在控制系统中的变送器，不管检查时间多短，仍需要把自动改为手动控制，所以这种仪表的回零周期可长些。　　在市场的仪表使用中一般情况下想要做到仪表长期稳定的使用检查方面可是不能少的一个环节。巡回检查：仪表指示情况。检查仪表示值又无异常，看它是否在规定范围内波动；有的变送器没有现场指示的，要去控制室看它的二次示值。仪表周围是否有杂物或是仪表表面是否有灰尘，应及时清除和清洁。仪表和工艺接口、导压管和各阀门之间有无泄漏、腐蚀。由于这些检查需要拆除接头检查设备比较麻烦，如没有异常现象，检查周期可以适当长些。定期进行排污、排凝和放空。定期对易堵介质的引压管进行吹扫，灌隔离液等。仪表检查维修：预先制定计划，该校的仪表要逐台进行校验，并做好校验记录。如果仪表解体过，则要进行静压测试。　　设备大检查：由于变送器处于全天候环境中，仪表难免会被腐蚀、损害、导管或接头出现泄漏，所以需要进行设备大检查。　　检查仪表使用质量、准确度、灵敏度、示数、零位正确；仪表零部件是否完整、紧固件不得松动、接触良好；仪表测量元件、引压管线、接头安装正确、排列整齐固定牢固；技术资料齐全、准确、符合管理要求，仪表接线图、检修检查记录、零部件更换记录无误。　　而在市场的使用中不管是哪一种仪表设备，在测量使用中如果想要仪表更好的长期有效的维持一个稳定的状态，对于以上方面的这些检验维修问题可是我们不可马虎的一个环节。