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表面拉曼光谱仪

仪器信息网表面拉曼光谱仪专题为您提供2024年最新表面拉曼光谱仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括表面拉曼光谱仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的表面拉曼光谱仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合表面拉曼光谱仪相关的耗材配件、试剂标物,还有表面拉曼光谱仪相关的最新资讯、资料,以及表面拉曼光谱仪相关的解决方案。

表面拉曼光谱仪相关的耗材

  • Q-SERS 表面增强拉曼测试芯片
    产品简介:Q- SERSTMG1基片(专利正在申请中)必须与拉曼光谱仪同时使用,可产生表面增强拉曼散射信号。Q- SERSTMG1基片是由硅为底材表面镀金(Au)的纳米结构。对拉曼信号它可以提供快速的,可重复性和可再现性测试的结果,同时对信号提供几个数量级的增强。增强效果取决于包括分析物本身特性在内许多因素。除非它受到污染,在短期暴露空气中的情况下,Q- SERSTMG1基片的性能不会受到影响。在空气中Q- SERSTMG1是一款性能稳定的增强基片,它有着广泛的应用领域,例如分析化学,农业和食品安全,水安全,制药,医疗和法医科等。产品描述:Q-SERSTMG1基片是粘贴在一个标准的载玻片上,载玻片尺寸为75毫米x 25毫米(3”× 1”),大约1毫米厚,基片大小为5毫米x 5毫米金表面纳米结构的硅晶片(如图1)。每个载波片上有独有的序列号,例如' G1101106A04B0P' ,此序列号主要用于基片的追踪作用。我们还可以根据客户的需求提供不同规格基片,如不同大小尺寸的基片和载玻片等。h-- 增强因子与检测范围Q-SERSTMG1 基片能够为许多的化学和生物样品的拉曼信号提供满意的增强效果。 检测限范围可达到ppm(百万分之一)乃至ppb(十亿分之一)的水平。比如,台式拉曼显微镜配合Q-SERSTM G1基片可检测到的食品中的污染物含量:结晶紫(20 ppb),三聚氰胺(250 ppb)和谷硫磷(-- 存储和保质期无论基片是在包装袋中还是在空气中,我们的专利技术可以使Q-SERSTM G1 基片有着非常稳定的性能。为了得到理想的测试效果,我们建议Q-SERSTM G1 基片在购买后的6个月内使用;同时,基片应当在开封后4个星期内使用。-- 重复性和再现性Q-SERSTM G1基片配合拉曼光谱仪能够获得重复性与再现性良好的测试结果,是理想的表面增强拉曼光谱分析的产品。为了让用户对Q-SERSTM G1基片的增强性能有更好的了解,下面的测试结果由3个不同的测试人员在10个不同的基片上测量三聚氰胺液滴而得到的。这些测试在配置50倍物镜台式拉曼光谱仪上完成。在每个基片上采集三个不同位置的增强光谱,拉曼光谱在676cm-1的标准差平均移峰强度绘制。左图表明操作员1对浓度为1.0ppm和2.5ppm的三聚氰胺溶液的测试结果,右图表示3个测试员对浓度为1.0ppm的三聚氰胺溶液的测试结果。不同的Q-SERSTM G1基片(在相同的被测样品和相同操作员条件下)信号强度的变化可能是因为液滴残留浓度的分布不均和基片的微弱差别导致的。这些结果表明,即使是由不同的操作员在不同的条件下进行测试,Q-SERSTM G1基片仍然能够区分被测样品浓度的微弱变化,并可以提供可重复性的和再现性良好的测试结果。使用说明1.打开包装Q-SERSTMG1基片设计用来检测诸如杀虫剂等微量化学和生物样品,检测限可达ppm(百万分之)或ppb(十亿分之)的水平。使用基片时,应戴无尘手套处理。最重要的是要保持基片表面干净,禁止接触任何类型的污染物,包括裸露的皮肤,桌子表面,灰尘,以及可吸附于Q- SERSTMG1基片表面化学蒸气。如果它受到污染,将会降低其测试效果。请在需要使用基片时才打开真空包装袋,对已开封但没使用的Q-SERSTMG1基片应存放在原始干净的塑料容器里,并放置在干净,干燥的环境中。请不要将已使用过的基片与未使用过的基片存放有同一个塑料容器中,以免基片之间的交叉污染。2.滴放液体样品在Q-SERS基片表面Q-SERSTMG1基片适合于各式各样分析物检测。举例说明,一个比较合适的测试液滴体积大小为?0.1-0.3微升。这样大小体积的液体滴放在Q-SERSTMG1基片表面可以形成一个直径大约1毫米液滴。液体样品通常是由一个吸管吸取完成,如图2所示,也可以选择其他的方式将液滴放置在基片表面,只要保证合适大小的液滴放置在基片的表面。更大的液滴也可用于测试,但需要较长时间使液体蒸发,液滴在基片上干燥之后才能用于拉曼光谱仪测量。对于半定量或定量的分析,建议每次测量时放置在基片表面的液滴的量是一致的和精确的。在放置液滴时,最重要的是要避免吸管头或其他工具接触及损坏Q-SERSTMG1基片的表面。液滴放置在基片表面后,请等到液滴自然干燥后再测试。使用加热的方法可以加快液滴的烘干,如果使用加热的方法我们建议所有加热的程序应标准化,特别是半定量或定量分析。 如果分析物在高温下不稳定或者会蒸发,不应使用加热方法烘干液滴,应该让其自然蒸发。我们鼓励用户开发自己的方案,以便更好地使用这些基片分析其特定的样品。为了获得好结果,在应用Q-SERSTMG1基片解决问题时,用户应考虑分析物的类型和属性(如粘度)等。激光光斑位置也会影响测试结果。现在用一个例子来解释其概念和机理。图3显示的是一个小液滴干燥后的残留物。对于这个特殊的液滴残留,首先来看原始液滴的边缘,如图3所示,我们不建议激光束对准此处进行测试,因为分析物在原始液滴边缘的浓度很低。请注意意,根据不同的测试样品液滴,在基片上可能有不同的残留形状,及激光光斑位置和大小,对测试结果可能会有较小的影响。因此强烈建议用户相应地做出自己的决定。3 .拉曼信号采集以下是使用Q-SERS基片时,在采集拉曼信号时的操作条件,仅供参考。波长:785 nm左右。 功率:5-30毫瓦。 放大倍数:20倍和50倍。 采集时间:2-60秒。一般来说,使用高激光功率和高放大倍率的物镜将产生更好的结果,但是在高激光功率下生物标本可能会受到损坏。在基片上测试多种标本 在一个单独的Q-SERS基片上至多可以放置四个不同测试样品,即基片四角上各滴放一个液滴。不过,要特别注意避免不同样品之间的交叉污染。 例如,化学蒸气样品,在不可见的情况下也可引起不同样品之间的交叉污染。4.一次性使用基片为一次性使用产品。5.回收对已经使用完毕的基片,请遵守相关的法律法规,不能污染环境,妥善处理。
  • 拉曼光谱仪i-Raman EX配件
    拉曼光谱仪i-Raman EX配件模型- BW-RAM-EX可以激发1064波长,没有荧光。采用了 CleanLaze® 专利技术,保证激光器的稳定性。积分时间从0.2分钟到超过20分钟。可以调整激光功率,最高到480 mW。还配置了深度冷却InGaAs 阵列探测器。它的光谱覆盖是175-2500cm-1,分辨率精细到9.5cm-1。是综合型,定性光谱仪。综合型 — 包装包括完整的采样配件,用于测量固体和液体样品,将装置最大利用化。定性 — 精湛工艺BWIQ定量拉曼分析软件有着直观的用户界面,智能算法功能,有效的矩阵计算能力,使得该光谱仪同时适合专家和新手用户操作。拉曼光谱仪i-Raman EX配件是STANDA公司有着重要价值的便携式拉曼光谱仪,是采用了 CleanLaze® 专利技术的延伸激光器的1064 nm版本。该便携式拉曼光谱仪 i-Raman® EX采用了高度灵敏的InGaAs阵列探测器和深度TE冷却和高动态范围,传输高信号噪声比,同时不会引发自发荧光,因此可以用来测量大范围里的生物样品。 i-Raman® EX提供 9.5cm-1的精细光谱分辨率和从175-2500cm-1开始的光谱覆盖范围,确保用户可以测量整个指纹区。该 i-Raman® EX 系统的体型小、重量轻和低功耗的设计将研究级别的拉曼系统性能带到了世界各地。拉曼光谱仪 i-Raman® EX 的标配是光纤探头,有XYZ定位台的探头支架,用于测量液体样品的比色皿适配器,以及STANDA公司的专用 BWIQ多变量分析软件。使用拉曼光谱仪 i-Raman® EX ,轻松拥有高精度定性和定量拉曼仪器。拉曼光谱仪i-Raman EX配件应用:?法医检定,包括麻醉药品?生物科学和生物医学诊断 ?化学毒剂检测 ?药物材料分析 ?聚合物和化学分析?环境科学?爆炸物检测?石油分析 ?食品与农业拉曼光谱仪i-Raman EX配件规格激光器1064nm 激发 ≤ 450 mW激光功率控制 ?0 - 100%光谱范围分辨率*BW-RAM-EX-1064S-05 175cm-1 - 2500cm-1 ~ 9.5cm-1 @ 1295.66nm电子器件计算机接口 USB 2.0 / 1.1触发模式 5V TTL电源选项直流(标准) 5V DC @ 6.6 Amps电池 可选探测器探测器类型 TE 冷却 InGaAs动态范围 25,000:1数字化分辨率 16位或65,535:1积分时间 200 μs 到 20 分钟物理尺寸 6.7×13.4×11英寸(17×34×28 cm)重量 主单元 ~7.6磅*一般使用笔灯发射流测量分辨率,不保证 ?中心波长和线宽包装包括:选择的i-Raman光谱仪模型一个实验室级的光纤拉曼探头一对激光器护目镜基于软件BWSpec的Windows系统
  • 拉曼光谱仪i-raman增强版配件
    拉曼光谱仪i-raman增强版配件可以激发532nm, 785nm, 和 830nm波长。采用了 CleanLaze® 专利技术,保证激光器的稳定性。使用了175cm-1的瑞利线(可选65cm-1)。安装了光纤接口来快速取样。光谱分辨率是3cm-1。是智能型,综合型,定性光谱仪。综合型 — 包装包括完整的采样配件,用于测量固体和液体样品,将装置最大利用化。定性 — 精湛工艺BWIQ定量拉曼分析软件有着直观的用户界面,智能算法功能,有效的矩阵计算能力,使得该光谱仪同时适合专家和新手用户操作。拉曼光谱仪i-raman增强版配件是STANDA公司有着重要价值的便携式拉曼光谱仪,是由STANDA公司的创新的智能光谱仪技术供电的。便携式拉曼光谱仪i-raman增强版采用了一个高效率的背照CCD探测器和更深度的冷却和高动态范围,提供改进的信号噪声比,积分时间长达30分钟,因此可以用来测量微弱的拉曼信号。i-raman增强版有着宽光谱覆盖,结合了高分辨率和配置测量高4000 cm-1,因此用户使用它测量3100 cm-1左右的拉伸带宽。该i-Raman系统的体型小、重量轻和低功耗的设计将研究级别的拉曼系统性能带到了世界各地。拉曼光谱仪i-raman增强版的标配是光纤探头,有XYZ定位台的探头支架,用于测量液体样品的比色皿适配器,以及STANDA公司的专用 BWIQ多变量分析软件。使用拉曼光谱仪i-raman增强版,轻松拥有高精度定性和定量拉曼仪器。拉曼光谱仪i-raman增强版配件应用:?地质学、矿物学、宝石学?生物科学和医疗诊断?半导体和太阳能检测?药物材料分析?聚合物和化学分析?环境科学?拉曼显微镜?法医分析拉曼光谱仪i-raman增强版配件规格激光器532 nm 激发 785 nm 激发 830 nm 激发 激光功率控制 532nm?,785nm ,830nm光谱仪 光谱范围 分辨率*BW-RAM-PLUS-532S 175cm-1 - 4000cm-1 ~ 4.0cm-1 @ 614nmBW-RAM- PLUS -532H 175cm-1 - 3300cm-1 ~ 3.0cm-1 @ 614nmBW-RAM- PLUS -785S 175cm-1 - 3200cm-1 ~ 4.5cm-1 @ 912nmBW-RAM- PLUS -785H 175cm-1 - 2700cm-1 ~ 3.5cm-1 @ 912nmBW-RAM- PLUS -830 200cm-1- 2300cm-1 ~ 4.0cm-1 @ 912nm探测器探测器类型 背照CCD阵列像素数 2048 有效检测元件有效像素大小 14μm x ~ 0.9 mmCCD冷却温度 -2°C动态范围 50,000:1(典型)数字化分辨率 16 位或 65,535:1积分时间 6ms - 30分钟电子器件计算机接口 USB 3.0 / 2.0 / 1.1触发模式 5V TTL电源选项直流(标配) 5V DC @ 5.5 Amps交流(可选) 100 - 240V AC,50 - 60hz电池 只有w / DC可选物理特性尺寸 6.7×13.4×9.2英寸(17×34×23.4cm)重量 3kg操作温度 0°C - 35°C储存温度 - 10°C - 60°C湿度 10% - 85%*一般使用笔灯发射流测量分辨率,不保证 ?中心波长和线宽包装包括:选择的i-Raman光谱仪模型一个实验室级的光纤拉曼探头一对激光器护目镜基于软件BWSpec的Windows系统
  • 拉曼光谱仪i-Raman配件
    拉曼光谱仪i-Raman配件可以激发532nm, 785nm, 和 830nm波长。采用了 CleanLaze® 专利技术,保证激光器的稳定性。使用了175cm-1的瑞利线(可选65cm-1)。安装了光纤接口来快速取样。光谱分辨率是3cm-1, 拉曼位移覆盖范围宽,还有TE 冷却 2048 像素阵列。拉曼光谱仪i-Raman配件应用了cleanlaze® 专利技术,保证了激光器的超高稳定性和窄线宽。其他功能还包括:3cm-1的高精分辨率、达4000cm-1的拉曼位移宽覆盖率,和TE 冷却2048像素CCD阵列。还有一个便利的光纤接口,该接口可以在65 Cm-1光谱内收集瑞利线数据。拉曼光谱仪i-Raman有着高精分辨率,同时结合了现场携带优势、可以与大型台式拉曼系统相媲美的强大性能、小于3.5kg的轻重量,是独一无二的仪器。i-Raman系统的体型小、重量轻和低功耗的设计将研究级别的拉曼系统性能带到了世界各地!拉曼光谱仪i-Raman配件可以激发 532nm,785nm和830nm波长。所有的i-Raman系统都有深度TE冷却功能,将最大有效积分时间提升到4分钟。这些功能特点,使得i-Raman光谱仪可以满足那些要求苛刻的要求低浓度、弱拉曼散射的应用程序。拉曼光谱仪i-Raman配件应用:?生物科学和医学诊断 ?聚合物和化学加工 ?半导体和太阳能产业 ?食品和农业产业 ?地质学与矿物学?制药行业?环境科学?拉曼显微镜?法医分析?宝石学拉曼光谱仪i-Raman配件规格激光器 532nm激发 785激发 830nm激发 激光功率控制 532nm?,785nm ,830nm光谱仪 光谱范围 分辨率*BW-RAM-REG-532S 175cm-1 - 4000cm-1 ~ 4.0cm-1 @ 614nmBW-RAM-REG-532H 175cm-1 - 3300cm-1 ~ 3.0cm-1 @ 614nmBW-RAM-REG-785S 175cm-1 - 3200cm-1 ~ 4.5cm-1 @ 912nmBW-RAM-REG-785H 175cm-1 - 2700cm-1 ~ 3.5cm-1 @ 912nmBW-RAM-REG-830 200cm-1- 2300cm-1 ~ 4.0cm-1 @ 912nm电子器件计算机接口 USB 2.0 / 1.1触发模式 5V TTL电源选项直流(标准) 5V DC @ 8 Amps交流(可选) 100 - 240VAC, 50 - 60Hz电池 只有 w/ DC 可选探测器探测器类型 TE冷却线性阵列像素数 2048像素尺寸 14μm x 200μmTE冷却温度 10°C动态范围 300:1(典型)数字化分辨率 16-位 或 65,535:1读出速度 500 KHz整合时间 5ms - 65,535ms物理特性尺寸 6.7 x 13.4 x 9.2英寸 (17 x 34 x 23.4cm)重量 3 Kg操作温度 10°C - 35°C储存温度 - 10°C - 60°C湿度 10% - 85%*一般使用笔灯发射测量流分辨率,不保证 ?中心波长和线宽包装包括:选择的i-Raman光谱仪模型一个实验室级的光纤拉曼探头一对激光器护目镜基于软件BWSpec的Windows系统
  • 第一表面 UV 带通滤光片
    第一表面 UV 带通滤光片?中心波长为 193nm 起?带保护性外涂层的第一表面带通镀膜?UV 熔融石英基片通用规格直径 (mm):25.00 +0.00/-0.25涂层:First Surface有效孔径 CA(mm):21.00表面质量:80-50基底:Fused Silica厚度 (mm):1.50 ±0.25产品介绍第一表面 UV 带通滤光片在紫外 (UV) 光谱中的中心波长与通常用作分析谱线的波长一致。这些未安装的滤光片在第一表面涂有一层镀膜,以及一层能抵抗中度磨损的保护性镀膜。与传统镀膜滤光片相比,这种滤光片结构简单,能提供更高的环境稳定性。第一表面 UV 带通滤光片设计用于在 UV 中保持高透射率,并且能深度阻断从 X 射线到远红外线 (FIR) 等超出其窄带宽的波长。典型应用包括拉曼光谱和化学光谱分析。CWL (nm)FWHM (nm)最小传输 (%)产品编码193.0010.0012#11-981214.0010.0015#11-982214.0022.0020#11-983220.0010.0015#11-984228.0010.0015#11-985228.0025.0020#11-986232.0010.0015#11-987239.0010.0015#11-988248.0010.0012#11-989253.7010.0012#11-990253.7025.0018#11-991260.0010.0012#11-992265.0010.0012#11-993280.0010.0012#11-994289.0010.0015#11-995300.0010.0015#11-996313.0010.0015#11-997
  • Peakseeker 拉曼光谱仪
    Peakseeker 拉曼光谱仪- 用于教学实验室和日常分析的最佳选择.由海洋光学公司提供的PeakSeeker是目前最实用和最易于使用的拉曼光谱仪,它对于要求功能齐全,但经费有限的用户是一个非常好的选择。 PeakSeeker对于拉曼可行性研究,实验室示范及基础研究是理想的选择。 PeakSeeker对于测量多种形式的样品来说,功能非常齐全。取样附件包括液体或粉末的样品瓶托架。 用户友好的软件及USB连接实现了真正的即插即用操作。外部探头选择可测远程样品,并通过显微镜配件直接与显微镜相连。 RSM显微镜RSM Microscope 和 MSK工具箱MSK Microscopy Kit. 产品优点多功能用户可以测量固体、液体以及粉末样品,即便这些样品在透明包装或透明容器中。灵敏性高灵敏度的CCD探测器有很宽的光谱范围,运用框架为基础的积分方式来最大限度地减少感应器的冷却要求。 高阻塞激光线滤波片阻挡了瑞利散射,并分离出拉曼散射,已用于有价值的分子分析。简单性每个PeakSeeker系统包括一个安装了RSIQ软件的笔记本电脑,真正实现了“对准,点击”的检测过程,样品可在几秒钟之内得到分析。适应性可供选择的附加软件包括:RSIQ-QUAL,用于未知化学物质确定,其方法是将所测光谱与存有数千种标准光谱的商业数据库进行对比,用户还可以创建自己的数据库。 RSIQ-QUANT,该软件是一个多变量分析工具。还有RSIQ-CFR支持21 CFR Part 11 的关于动态药品生产管理规范(CGMP)电子计录与电子签名的条例。Peakseeker_拉曼光谱仪_--_Ordering_Info"性能参数
  • di一表面UV带通滤光片
    di一表面UV带通滤光片1.中心波长为193nm2.具有保护性外涂层的di一表面带通涂层3.紫外熔融石英基板di一表面紫外带通滤光片具有紫外(UV)光谱中的中心波长,与通常用作分析光谱线的波长对齐。 这些未安装的过滤器在di一个表面上具有涂层,以及防止适度磨损的保护性外涂层。 与传统涂层过滤器相比,这些过滤器的简单结构提供了更大的环境稳定性 di一表面紫外带通滤光片设计用于紫外线的高透射率,以及深度阻挡从X射线到远红外线(FIR)的波长,这些波长在其窄带宽之外。 典型应用包括拉曼光谱以及化学光谱分析。订购产品CWL (nm)FWHM (nm)最小传输 (%)产品号1931012#11-9812141015#11-9822142220#11-9832282520#11-9862321015#11-9872601012#11-992
  • T-SERS表面增强拉曼芯片
    T-SERS表面增强拉曼芯片: 可以增强1000万倍信号!!纳米雕刻表面增强拉曼散射(SERS)@银 -表面光谱技术自然界里的分子与细胞皆有拉曼光谱指纹,但是其信号微弱 纳米表面增强基板可将拉曼光谱讯号增强数百万倍以上的强度,解决光谱分析上的困难。T-SERS表面增强拉曼基板使用新颖的纳米雕刻技术,藉由等离子体在近场金属纳米结构的交互作用,增强待测目标的拉曼讯号。气相沉积纳米雕刻技术纳米雕刻技术属于一种物理气相真空镀膜方式,使用电子枪系统将粒状固态金属靶材溶化并以磁场轰击转换成气态分子,在基板上成长纳米孔隙结构 借着调整基板载台的方向与镀膜参数可以控制纳米结构的尺寸与外型。此镀膜技术具有大面积、高均匀度之特点。TRES表面增强拉曼基板使用常见的金属材料(如金、银、铜等),做为激发广波长范围的纳米等离子体结构,可有效的增强待测分子或细胞的拉曼信号。相比于目前市场上可增强100万倍信号的产品,T-SERS的效果可以再增强1个数量级以上。如下图,我们可以探测到0.1ppm级别浓度的三聚氰胺。优点&bull 适用于宽光谱激光激发范围(532nm到 785nm, 可选:1064nm)&bull 一千万倍表面增强拉曼信号(大多数吸附表面待测分子)&bull 高表面结构均匀度与良好拉曼信号重复性应用项目&bull 植物病毒检验&bull 食品安全&bull 农作物农药残留检验&bull 环境污染监测&bull 药物成份分析&bull 细胞、病毒侦测&bull 水污染侦测&bull 科学辨识T-SERS表面增强拉曼芯片规格有效区域标准尺寸: 3 x 3mm2客制尺寸:2 x 2mm2 ,4 x 4mm2 金属镀膜/硅芯片基板载玻片(75mm x 25mm x2mm)金属材料银制程方式物理气相沉积适合激发波长/量测条件标准 :532nm, 633nm, and 785 nm选配:1064nm10X物镜倍率 湿式量测(建议)增强倍率10,000,000 (大多数可吸附表面之待测分子)@Rh6G产品代码TRES_SUB_AG
  • Klarite® SERS 表面增强拉曼芯片
    概要雷尼绍诊断技术公司生产的Klarite SERS芯片 为生命科学和分析化学研究提供了一种全新的解决方案,采用表面增强拉曼技术(SERS)来分析和鉴定化学物质。Klarite芯片的优势是其具有极高的分析检测灵敏度。拉曼光谱技术可以用来获取反映物质组成结构信息的指纹图谱。而表面增强拉曼(SERS)技术可以将通常非常微弱的拉曼信号强度放大到1百万倍以上。 Klarite芯片的独特设计和生产工艺使得它具有优秀的重现性,无论是医学诊断,药物检测 还是刑侦,国土安全等应用,Klarite芯片都可以一展身手。Top关键特点可重复性 -- 由于采用半导体制造工艺,获得了卓越的测试结果可重复性灵敏度 -- 百万倍的信号增强特异性 -- 保留丰富的固有拉曼信息灵活性 -- 多种样品制备方法Top应用领域由于Klarite芯片所具有的高度可重复性。使得它可以被广泛应用于工业和科研应用中。-- 国防和国土安全 (包括生化危险探测)-- 产品认证-- 食品分析-- 制药工业-- 刑侦Top产品规格Klarite芯片通常被放置在载玻片上,您也可以选择无载波片的形式。 芯片的硅结构表面上密布纳米尺度的条纹,我们在其表面镀上了金涂层。这种光子晶体的表面图样结构是由无数个规则排列的小孔组成的,它控制了拉曼信号增强的过程。雷尼绍在光子晶体设计上具有丰富经验,采用该技术制造的Klarite芯片能够控制表面等离子体效应,从而实现拉曼信号的放大,降低了检出限并且使得全新的应用成为可能。 利用半导体工业的大规模生产工艺,雷尼绍能够生产大批量的具有优秀的可重现性的SERS芯片。Top产品规格尺寸 (mm)75 x 25 x 2 (slide mounted) - 6 x 10 x 0.7 (un-mounted)有效区域 (mm)4 x 4有效表面Gold coated nanostructured silicon采样方式Drop deposition, vapour deposition, immersion建议激发波长633nm, 785nm激光光斑尺寸 5µ m ( 100µ m recommended)功率密度2 mW per 10 µ m2Top订货信息Product description#Catalogue numberKlarite substrate - slide mountedKLA-312Klarite substrate - un-mountedKLA-313
  • S-22表面粗糙度比较仪
    S-22表面粗糙度比较仪S-22 Microfinish Comparator S-22表面粗糙度比较仪 本产品可用于五金机械,家电设备,产线建设等相关行业  品 牌:GAR  型 号:S-22(多款型号供选)  比较仪质量 比较仪尺寸 比较仪价格 基本描述  GAR S-22 22型表面粗糙度比较仪(符合AS9000标准)   GAR22样品2至500微英寸范围表面粗糙度计   本项目规范   零件号S-22   品牌名称GAR   不锈钢材质   项目数量1   UNSPSC代码41110000。  S-22传统加工MICROFINISH比较器的形状为矩形(2“x53/8”),是实际加工表面的耐腐蚀电铸镍复合物。   共有二十二个复制的机加工表面光洁度样品,其中包括六种不同的加工工艺:研磨,研磨,布兰德尔地面,形状翻转,铣削和成型-范围从2到500微英寸。   S-22MICROFINISHCOMPARATOR采用人造革外壳,提供工程数据和说明。   S-22也有公制,带有千分尺。  比较仪质量 比较仪尺寸 比较仪价格 术语  类型:   标本是原始edm' ed表面的电铸复制品。   材料:   这种微细比较器表面粗糙度标尺由镍制成。它不会腐蚀。   外观:   每个样品都具有转向金属材料的表面粗糙度特征。   表面粗糙度:表示   由工具边缘的切割作用,机床的进给和磨粒产生的细微间隔的表面不规则性。   统一性和准确性:   原始母版和电铸复制品制作母版均匀分布检查。进行足够的测量以确定代表性的平均值。列出的评级是这些读数的平均值。   LAY:   这是指定主要表面不规则方向的术语。   FLAWS:   这些是不规则的,可能会频繁出现。它们不是典型的转弯表面。 22个复制的机加工表面光洁度试样,包括六种不同的机加工工艺示例:搭接、研磨、硬研磨、成形车削、铣削和成型-范围为2至500微英寸。S-22微精比较仪表面粗糙度标尺由双电铸工艺制成,其中镍电沉积以提供复杂细节的**再现。GAR电铸公司可提供用于产生表面粗糙度标尺的相同电铸工艺,以满足您的产品需求。 该比例中使用的表面是**加工表面的复制品,测量单位为微英寸(百万英寸-0.000001”)。刻在每个表面旁边的数字是与平均表面的平均偏差,以微英寸表示。 将MICROFINISH比较仪表面粗糙度标尺放在工件旁边。滑动标尺,使具有所需表面粗糙度的矩形与正在检查的工件相邻。通过在每个表面上以与工具标记成直角绘制指甲尖进行比较。如果饰面相同,则指甲接触的感觉必须相同。 S-22微精比较仪表面粗糙度量表为工业界提供了已建立的平面粗糙度样本,用于视觉和触觉比较。当需要具有典型机加工表面外观的产品时,它用于指定和控制表面粗糙度。 S-22微精比较仪表面粗糙度标尺提供了一种经济的工具,允许在与线性测量相同的基础上指定粗糙度。呈现的表面是多年研究和工程的结果。有关该主题的详细信息现已发布在美国国家标准协会(ANSI)规范中,标题为:“表面纹理、表面粗糙度、波纹度和铺层”。ANSI/ASME B46.1 S-22常规加工微精比较仪为矩形(2“x 5 3/8”),是实际加工表面的耐腐蚀电铸镍复制品。 共有22个复制的加工表面光洁度试样,包括六种不同的加工工艺:研磨、研磨、硬研磨、成形车削、铣削和成型,范围为2至500微英寸。 S-22微精比较仪装在人造革箱中,附有工程数据和说明。 S-22也有公制和千分尺名称。 类型: 试样是原始电火花加工表面的电铸复制品。 材料: 该微精比较仪表面粗糙度标尺由镍制成。它不会腐蚀。 外观: 每个试样具有车削金属材料的表面粗糙度特征。 表面粗糙度: 指由刀具边缘的切削作用、机床进给和磨粒产生的精细间隔表面不规则。 一致性和准确性: 已按均匀分布的间隔检查原始母版和电铸副本生产母版。进行了充分的测量以确定代表性平均值。列出的额定值是这些读数的平均值。 铺设: 这是指主要表面不规则的方向。 缺陷: 这些是可能频繁出现的不规则情况。它们不是典型的回转面。 SCRATA粗糙度样块,SCRATA Comparators对比板铸钢表面SCRATA图谱SCRATA粗糙度对比试块ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA比较器目视比较仪检测表面粗糙度SCRATA比较仪铸体表面粗糙度对比试块CTI粗糙度对比板钢和铁铸件表面质量检测仪铸造表面粗糙度对比板砂型铸件铸造表面对比板 Comparators for the definition of surface quality of steel castings 英国铸钢研究及贸易协会(STEEL CASTINGS RESEARCH AND TRADE ASSOCIATION 缩写为:SCRATA)更名为英国CTI铸造协会(CTI,Castings Technology Intemational) 一个铸件的粗糙度程度取决于制造工序(铸造、打磨、精加工等)。所用的铸造材料(型砂、涂料等)、铸造设备和浇铸合金。铸件表面如无加工表面均匀的环状,就很难用机械仪器、光学仪器或传统的气动仪器来评估它的粗糙度,因而在这种情况下,采用显示比较器是合适的选择。 但考虑到铸造或其它精加工方法做出的毛坯表面的不均匀性,比较器的规格应相对增大(等于或大于15000mm2),以便检验更可靠,给出重复而适当的结果。 Steel Castings Research and Trade Association(48片):SCRATA比较器(1988年出版),用于确定铸钢件的表面质量,SCRATA显示比较器的规格为100mm×150mm (其比较面积大致为15000mm2~15500mm2)。 SCRATA样板 ASTM A802 粗糙度对比试块 SCRATA图谱 适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下: Surface Roughness (A) 表面粗糙度(A) Surface Inclusions (B) 表面夹杂(B) Gas Porosity (C) 气孔(C) Laps and Cold Shuts (D) 皱褶和冷隔(D) Scabs (E) 铸疤(E) Chaplets (F) 型芯撑(F) Surface Finish – Thermal Dressing (G) 表面处理 - 热抛光(G) Surface Finish – Mechanical Dressing (H) 表面处理 - 机械抛光(H) Welds (J) 焊缝(J) Hot Tears 热裂纹 Mechanical Dressing - Chipping 机械抛光 - 切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于 ISO 11971:2008 钢和铁铸件 – 表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997 铸造 – 目视比较仪检查表面粗糙度; BS EN 12454:1998 砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块,基于BS 7900:1998 精密钢铸件表面特征的检验规范,适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购 Resin Shell Process (V) 树脂壳法(V) Lost Polystyrene Process (W) 聚苯乙烯消失模铸造(W) Shaw Process (X) 萧氏精密造模法(X) Lost Wax Process (Y) 失蜡法(Y) Fettled Surfaces (Z) 修整铸件(Z)样块数量样板分类VWXYZ精密铸造样块集141-31-31-31-21-3 1. Full Set (48 comparators + A4 book) (咨询价格021-51082920) 全套 (48个样块)2. ASTM A802 set (31 comparators + A5book) ASTM A802样块集 (31个样块)3. Upgrade set (17 comparators + A4book) 升级样块集’ (17个样块)4. Precision castings (14 comparators and a copy of BS 7900:1998) 精密铸造’ (14个样块和BS 7900:标准文本一份)
  • di一表面紫外滤光片
    di一表面紫外滤光片 Andover现在提供了标准UV带通滤光片的di一个表面变体。涂层沉积在一个uv级融合硅基板的单一表面,并包括一种硬氧化物保护层。单一外部表面的所有涂层。用一种硬氧化保护涂层密封。涂层在单一的uv级熔融硅基板上。订购信息:描述型号193nmBandpassFilter, FWHM 15nm, 25mm dia., first-surface coated.193HX15-25200nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.200HX10-25214nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.214HX10-25214nmBandpassFilter, FWHM 22nm, 25mm dia., first-surface coated.214HX22-25220nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.220HX10-25228nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.228HX10-25228nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.228HX25-25232nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.232HX10-25239nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.239HX10-25239nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.239HX25-25248nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.248HX10-25253.7nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.254HX10-25253.7nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.254HX25-25253.7nmBandpassFilter, FWHM 40nm, 25mm dia., first-surface coated.254HX40-25260nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.260HX10-25265nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.265HX10-25270nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.270HX10-25280nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.280HX10-25280nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.280HX25-25289nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.289HX10-25296.7nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.297HX10-25300nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.300HX10-25300nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.300HX25-25300nmBandpassFilter, FWHM 40nm, 25mm dia., first-surface coated.300HX40-25307.1nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.307HX10-25307.1nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.307HX25-25310nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.310HX10-25313nmBandpassFilter, FWHM 10nm, 25mm dia., first-surface coated.313HX10-25313nmBandpassFilter, FWHM 25nm, 25mm dia., first-surface coated.313HX25-25
  • 英国铸钢表面SCRATA图谱
    英国铸钢表面SCRATA图谱SCRATA样板ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA图谱适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下:Surface Roughness (A)表面粗糙度(A)Surface Inclusions (B)表面夹杂(B)Gas Porosity (C)气孔(C)Laps and Cold Shuts (D)皱褶和冷隔(D)Scabs (E)铸疤(E)Chaplets (F)型芯撑(F)Surface Finish – Thermal Dressing (G)表面处理-热抛光(G)Surface Finish – Mechanical Dressing (H)表面处理-机械抛光(H)Welds (J)焊缝(J)Hot Tears热裂纹Mechanical Dressing - Chipping机械抛光-切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于ISO 11971:2008钢和铁铸件–表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997铸造–目视比较仪检查表面粗糙度;BS EN 12454:1998砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块,基于BS 7900:1998精密钢铸件表面特征的检验规范,适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购Resin Shell Process (V)树脂壳法(V)Lost Polystyrene Process (W)聚苯乙烯消失模铸造(W)Shaw Process (X)萧氏精密造模法(X)Lost Wax Process (Y)失蜡法(Y)Fettled Surfaces (Z)修整铸件(Z)
  • SCRATA比较器 目视比较仪检测表面粗糙度
    SCRATA比较器目视比较仪检测表面粗糙度SCRATA样板ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA图谱适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下:Surface Roughness (A)表面粗糙度(A)Surface Inclusions (B)表面夹杂(B)Gas Porosity (C)气孔(C)Laps and Cold Shuts (D)皱褶和冷隔(D)Scabs (E)铸疤(E)Chaplets (F)型芯撑(F)Surface Finish – Thermal Dressing (G)表面处理-热抛光(G)Surface Finish – Mechanical Dressing (H)表面处理-机械抛光(H)Welds (J)焊缝(J)Hot Tears热裂纹Mechanical Dressing - Chipping机械抛光-切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于ISO 11971:2008钢和铁铸件–表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997铸造–目视比较仪检查表面粗糙度;BS EN 12454:1998砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块,基于BS 7900:1998精密钢铸件表面特征的检验规范,适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购Resin Shell Process (V)树脂壳法(V)Lost Polystyrene Process (W)聚苯乙烯消失模铸造(W)Shaw Process (X)萧氏精密造模法(X)Lost Wax Process (Y)失蜡法(Y)Fettled Surfaces (Z)修整铸件(Z)样块数量样板分类VWXYZ精密铸造样块集141-31-31-31-21-31.Full Set (48 comparators + A4 book) 全套(48个样块)2.ASTM A802 set (31 comparators + A5book) ASTM A802样块集(31个样块)3.Upgrade set (17 comparators + A4book)升级样块集’ (17个样块)4.Precision castings (14 comparators and a copy of BS 7900:1998)精密铸造’ (14个样块和BS 7900:标准文本一份)
  • di一表面硬涂层边缘滤光片UV-VIS-NIR
    di一表面硬涂层边缘滤光片UV-VIS-NIRAndover保留了优质边缘滤光片的库存。这些主要是超额定制生产批次,并显示出与我们所有其他产品一样高的质量水平。因此,这可以是购买定制带通滤光片的一个非常经济的替代方案。所有这些带通滤光片都提供了具有精确测量的光谱数据扫描。请注意:这些零件很多是板形,20828毫米(8.2)直径。可用孔径稍小。这些部件可加工成其他尺寸。订购信息:描述型号330.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter330.0 / STEEP LWP - 62345-B339.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter339.0 / STEEP LWP - 61016348.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter348.0 / STEEP LWP - 51885-D438.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter438.0 / STEEP LWP - 56450440.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter440.0 / STEEP LWP - 64778483.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter483.0 / STEEP LWP - 56445490.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter490.0 / STEEP LWP - 56444663.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter663.0 / STEEP LWP - 56452688.0nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter688.0 / STEEP LWP - 647803750nm 50% point, 25.0 mm dia. Edge Filter3750 / LWP - 64854-B
  • SCRATA比较仪 铸体表面粗糙度对比试块
    SCRATA比较仪铸体表面粗糙度对比试块Steel Castings Research and Trade Association(48片):SCRATA比较器(1988年出版),用于确定铸钢件的表面质量,SCRATA显示比较器的规格为100mm×150mm (其比较面积大致为15000mm2~15500mm2)。SCRATA样板ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA图谱适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下:Surface Roughness (A)表面粗糙度(A)Surface Inclusions (B)表面夹杂(B)Gas Porosity (C)气孔(C)Laps and Cold Shuts (D)皱褶和冷隔(D)Scabs (E)铸疤(E)Chaplets (F)型芯撑(F)Surface Finish – Thermal Dressing (G)表面处理-热抛光(G)Surface Finish – Mechanical Dressing (H)表面处理-机械抛光(H)Welds (J)焊缝(J)Hot Tears热裂纹Mechanical Dressing - Chipping机械抛光-切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于ISO 11971:2008钢和铁铸件–表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997铸造–目视比较仪检查表面粗糙度;BS EN 12454:1998砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块,基于BS 7900:1998精密钢铸件表面特征的检验规范,适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购Resin Shell Process (V)树脂壳法(V)Lost Polystyrene Process (W)聚苯乙烯消失模铸造(W)Shaw Process (X)萧氏精密造模法(X)Lost Wax Process (Y)失蜡法(Y)Fettled Surfaces (Z)修整铸件(Z)样块数量样板分类VWXYZ精密铸造样块集141-31-31-31-21-31.Full Set (48 comparators + A4 book) 全套(48个样块)2.ASTM A802 set (31 comparators + A5book) ASTM A802样块集(31个样块)3.Upgrade set (17 comparators + A4book)升级样块集’ (17个样块)4.Precision castings (14 comparators and a copy of BS 7900:1998)精密铸造’ (14个样块和BS 7900:标准文本一份)
  • 表面形貌仪配件
    表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪,它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外,具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量,应变测量以及表面形貌测量。三维形貌仪主要配件应用用于太阳能电池测量用于半导体晶圆测量用于镀膜玻璃的平整度(Flatness)测量用于机械部件的计量用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量表面形貌仪配件特色*除了表面形貌的测量,还可以测量张量和应力(简单);*可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸,对于小于0.5' ' 的晶圆或样品,可配备微距镜头。*测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度;*克服常见干涉仪在粗糙表面(油漆)表现不足的问题;*非接触式测量
  • 三维表面形貌仪配件
    三维表面形貌仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学表面形貌仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面形貌仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对二维形貌或三维形貌表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面形貌仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维形貌仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
  • 砂型铸件铸造表面对比板
    砂型铸件铸造表面对比板英国铸钢研究及贸易协会(STEEL CASTINGS RESEARCH AND TRADE ASSOCIATION 缩写为:SCRATA)更名为英国CTI铸造协会(CTI,Castings Technology Intemational) 一个铸件的粗糙度程度取决于制造工序(铸造、打磨、精加工等)。所用的铸造材料(型砂、涂料等)、铸造设备和浇铸合金。铸件表面如无加工表面均匀的环状,就很难用机械仪器、光学仪器或传统的气动仪器来评估它的粗糙度,因而在这种情况下,采用显示比较器是合适的选择。但考虑到铸造或其它精加工方法做出的毛坯表面的不均匀性,比较器的规格应相对增大(等于或大于15000mm2),以便检验更可靠,给出重复而适当的结果。Steel Castings Research and Trade Association(48片):SCRATA比较器(1988年出版),用于确定铸钢件的表面质量,SCRATA显示比较器的规格为100mm×150mm (其比较面积大致为15000mm2~15500mm2)。SCRATA样板ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA图谱适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下:Surface Roughness (A)表面粗糙度(A)Surface Inclusions (B)表面夹杂(B)Gas Porosity (C)气孔(C)Laps and Cold Shuts (D)皱褶和冷隔(D)Scabs (E)铸疤(E)Chaplets (F)型芯撑(F)Surface Finish – Thermal Dressing (G)表面处理-热抛光(G)Surface Finish – Mechanical Dressing (H)表面处理-机械抛光(H)Welds (J)焊缝(J)Hot Tears热裂纹Mechanical Dressing - Chipping机械抛光-切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于ISO 11971:2008钢和铁铸件–表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997铸造–目视比较仪检查表面粗糙度;BS EN 12454:1998砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)
  • 现货供应销售德国克吕士Kruss便携式表面张力仪
    现货供应销售德国克吕士Kruss便携式表面张力仪,操作说明书,售后服务,国内办事处,总代,主要特点:销售热线,15300030867,010-82752485-815张经理,欢迎您的来电咨询!1.测量表/界面张力2.液体密度测量3.自动测量或手动测量(可选)4.测量结果直接显示在显示屏上5.自动存储测量参数、校准数据和结果6.内置充电电池,可便携现货供应销售德国克吕士Kruss便携式表面张力仪,操作说明书,售后服务,国内办事处,总代,主要特点,技术参数:测量范围:-表/界面张力范围:1 ... 999 mN/m-密度测量范围围:1 ... 2200 kg/m3-温度范围:-10 ... 100°C精度:-表/界面张力:+/- 0.1 mN/m-密度:1 kg/m3-温度:0.1°C (可选)样品:-测量台速度:0.15 ... 1.5 mm/s-移动距离75 mm环法校正公式: Zuideman& Waters, Harkins & Jordan显示分辨率: 320 x 240 pixel输出: RS232, USB功率: max. 10 W电压: 100 ... 240 VAC / 47 ... 63 Hz重量: 11 kg尺寸: 270 x 420 x 350 mm (WxHxD)
  • 吉致电子JEEZ铜抛光液/合金铜抛光液/铜表面抛光液/金属研磨液/镜面抛光液
    产品名称:铜抛光液/合金铜抛光液/铜表面抛光液/金属研磨液/镜面抛光液合金铜CMP抛光液作用:吉致电子金属类抛光液适用于平面形态的铜、合金铜工件的镜面抛光,CMP抛光工序通过大量磨擦和化学反应作用,可以使铜金属表面得到加工和平整坦化。化学氧化铜金属后磨蚀性去除氧化物部分的机制可得到理想镜面效果,工件表面光滑平整具有易清洗、无残留等特点。吉致可提供铜/合金铜金属的镜面抛光液1、微米/纳米级抛光液,抛光后具有均匀镜面效果2、磨料颗粒呈悬浮状态,不易分散沉淀,提高CMP效率和稳定性3、铜专用抛光液磨料硬度高、稳定性好、化学惰性强*可以依客户不同工艺要求,提供定制化服务*提供全套解决方案,及免费安排工程师上门服务李女士17706168670
  • 三维表面轮廓仪配件
    三维表面轮廓仪配件是德国进口的高精度多功能表面轮廓测量仪器,也是一款光学轮廓仪,非常适合对表面几何形状和表面纹理分析。三维表面轮廓仪配件根据国际标准计算2D和3D参数,使用最新的ISO 25178 标准表面纹理分析,依靠最新的 ISO 16610 滤除技术进行计算,从而保证了国际公信力,以标准方案或定制性方案对2D轮廓或三维轮廓表面形貌和表面纹理,微米和纳米形状,圆盘,圆度,球度,台阶高度,距离,面积,角度和体积进行多范围测量,创造性地采用接触式和非接触式测量合并技术,一套表面轮廓仪可同时具有接触式和非接触式测量的选择。三维轮廓仪配件参数:定位台行程范围:X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (电动)接触式测量范围: 范围0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范围:2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接触式测量范围: 范围:300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范围:1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范围:3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面轮廓仪配件应用:测量轮廓,台阶高度,表面形貌,距离,面积,体积分析形态,粗糙度,波纹度,平整度,颗粒度摩擦学研究,光谱分析磨料磨具,航天,汽车,化妆品,能源,医疗,微机电系统,冶金,造纸和塑料等领域。
  • 铸造表面粗糙度对比板
    铸造表面粗糙度对比板SCRATA样板ASTM A802粗糙度对比试块SCRATA图谱适用于ASTM A802/A802M – 95 (2006)钢铸件表面目测验收标准规程的31个样块如下:Surface Roughness (A)表面粗糙度(A)Surface Inclusions (B)表面夹杂(B)Gas Porosity (C)气孔(C)Laps and Cold Shuts (D)皱褶和冷隔(D)Scabs (E)铸疤(E)Chaplets (F)型芯撑(F)Surface Finish – Thermal Dressing (G)表面处理-热抛光(G)Surface Finish – Mechanical Dressing (H)表面处理-机械抛光(H)Welds (J)焊缝(J)Hot Tears热裂纹Mechanical Dressing - Chipping机械抛光-切削样块数量样板分类ABCDEFGHJ热裂纹切削ASTM A802311-41,2,4,51-41,2,53,51,31,2,3,51,3,4,51,2,3,5--48个的样板集适用于ISO 11971:2008钢和铁铸件–表面质量的外观检验;BS EN 1370:1997铸造–目视比较仪检查表面粗糙度;BS EN 12454:1998砂型铸件铸造表面缺陷的目视检查。(如果已有ASTM A802样块集,可以购买17块的升级样块集)样块数量样块分类ABCDEFGHJ热裂纹切削全套481-51-51-51-51-51-51-51-51-51-21升级样块集175353,41,2,42,4,54241-21第3组有14个样块,基于BS 7900:1998精密钢铸件表面特征的检验规范,适用于采用精密铸造工艺制造的铸钢件采购Resin Shell Process (V)树脂壳法(V)Lost Polystyrene Process (W)聚苯乙烯消失模铸造(W)Shaw Process (X)萧氏精密造模法(X)Lost Wax Process (Y)失蜡法(Y)Fettled Surfaces (Z)修整铸件(Z)样块数量样板分类VWXYZ精密铸造样块集141-31-31-31-21-31.Full Set (48 comparators + A4 book) 全套(48个样块)2.ASTM A802 set (31 comparators + A5book) ASTM A802样块集(31个样块)3.Upgrade set (17 comparators + A4book)升级样块集’ (17个样块)4.Precision castings (14 comparators and a copy of BS 7900:1998)精密铸造’ (14个样块和BS 7900:标准文本一份)
  • 德国VITLAB广口瓶,PFA表面光滑
    广口瓶,PFA透明,锯齿螺纹螺帽,PFA材质,特别适用于高纯度氧化剂,酸,碱,痕量分析溶剂和标准液的长期储存。PFA的优点:1.PFA容器内低浓度参比物质的长期稳定性。2.无记忆效应3.由于超疏水性,无毒和光滑的表面,使其不会产生交叉污染。4.高热稳定性,-200 ℃ 到 +260 ℃5.耐腐蚀性佳6.透明性佳,尺寸稳定性好,适合用于容量仪器。7.便于清洗8.使用高纯原材料体积ml螺纹GL高度*mm?,mm货号250S 4015061109497500S 40179761095971000S 40217961096972000S 40245130109797
  • 表面张力仪铂金环 其他配件
    1. 铂金板、铂金环两种测试方法兼用2. 全自动测量,铂金板测试时,显示值即为表面张力值;3. 使用白金环测试方法时,显示值自动锁定试样的*大力值,然后通过附送的计算软件计算表面张力值或选用数据处理软件由计算机自动计算;4. 铂金环尺寸:丝半径为0.185mm,环半径为9.55mm,环周长为60mm; 铂金板法测量的是液体的表面(或界面)张力的平衡值,铂金环法测试的是液体的表面(或界面)的*大力值。相比较,铂金板法具有如下的优点:  1.铂金板法可测量液体表面(或界面)张力随时间的变化:铂金板法测量时是一直接触被测液体的,只要液体的表面张力发生变化,测试值就会有变化,如果选用数据处理软件还可观测的表面张力随时间的变化曲线。  2.可方便地测量中高粘度液体的表面张力:铂金环法测试时需要铂金环向上提升,在此过程中除了表面张力的作用外还有粘力作用。  3.测试精度高:铂金板不易变形,铂金环太容易变形。环的不规则圆、不平整会影响表面张力的测试精度4.使用方便:铂金板测试值就是表面张力值,不需换算;铂金环测试的是*大力值,需要换算。铂金板清洗方便,不易变形。
  • F4表面皿|聚四氟乙烯(PTFE)表面皿
    聚四氟乙烯(PTFE)表面皿|F4表面皿|表面皿聚四氟乙烯,由楚柏提供,其有非凡的耐化学腐蚀(如:氢氟酸),可存储各种消剂。
  • B-100YP表面检查灯
    B-100YP表面检查灯检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物、灰尘等B-100YP表面检查灯可快速检查加工表面的瑕疵,灰尘,异物等小至10微米的瑕疵、小颗粒,高强度抗冲击外壳由有Cool-Touch阻热材料制造,可长时间工作不产生高温。表面晶粒检查灯应用:LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查主要特点? 检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等? 快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒? 有效地探测出生产过程是早期的污物,节省生产时间及不必要的成本? 100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱? 特制的黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线,防止产生荧光干扰? 高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子? B-100Y是铝合金外壳 B-100YP带塑料外壳? 灯头人体工学设计,易于操作B-100Y和B-100YP黄色滤光片能滤掉波长小于500nm的光线,产生543nm、574和576nm的光线。高对比度的光线可检测表面小于10微米的颗粒。b-100Y铝合金外壳,B-100YP带塑料外壳。规格UV光源:365nm长波紫外线功率:100W滤色片:黄光尺寸:248X152mm重量:5.67kg电源线:2.44米型号型号描述货号B-100A100W,高强度长波紫外灯,230V95-0044-02B-100A/R100W,高强度长波紫外灯,6.1米电源线,230V95-0044-04B-100AP100W,高强度长波紫外灯,Cool-Touch阻热外壳,230V95-0127-02B-100AP/R100W,高强度长波紫外灯,Cool-Touch阻热外壳,6.1米电源线,230V95-0127-07B-100SP140W,高强度长波紫外灯,Cool-Touch阻热外壳,230VN/AB-100Y100W,高强度表面晶粒检查灯,黄光,230V95-0044-18B-100YP100W,高强度表面晶粒检查灯,Cool-Touch阻热外壳,黄光,230V95-0127-04选件货号描述89-0068-01Finger Guard for B-100AP, B-100AP/R19-0126-01Lamp Funnel for B-100AP, B-100AP/R, B-100SP19-0125-01B-100AP, B-100AP/R, B-100SP灯罩19-0124-01B-100A, B-100AR灯罩76-0055-01 B-100AP, B-100AP/R, B-100YP, B-100SP曝光盒19-0158-01Lamp Guard B-100A, B-100AR34-0054-01100W备用灯泡34-0049-01Bulb, Self Ballasted B-100SP38-0009-02Filter for B-100Y and B-100YP
  • 聚四氟乙烯表面皿/ 6cm 聚四氟乙烯表面皿/60mm聚四氟表面皿
    聚四氟乙烯表面皿/6cm 聚四氟乙烯表面皿/表面皿由上海书培实验设备有限公司为您提供,产品规格齐全,量多从优,欢迎客户来电咨询选购。聚四氟乙烯表面皿特点:一:防污染:金属元素空白值低;二:机械性质较软,具有非常低的表面能;三:外观纯白色,无毒害:具有生理惰性。四:耐大气老化,耐辐照和较低的渗透性;五:自润滑性:具有塑料中最小的摩擦系数;六:表面不粘性:是一种表面能最小的固体材料;七:耐高低温性:可使用温度-200℃~+250℃;八:绝缘性:不受环境及频率的影响,介质损耗小,击穿电压高;九:耐腐蚀:耐强酸、强碱、王水和各种有机溶剂,且无溶出、吸附和析出现象;聚四氟乙烯表面皿产品用途:一:可以作容器,暂时呈放固体或液体试剂,方便取用;二:可以作盖子,盖在蒸发皿或烧杯上,防止灰尘落入蒸发皿或烧杯;三:可以作承载器,用来承载pH试纸,使滴在试纸上的酸液或碱液不腐蚀实验台。四:可以用来做一些蒸发液体的工作的,它可以让液体的表面积加大,从而加快蒸发.但是不能像蒸发皿那样加热;产品应用范围:石油、无线电、电力机械、化学工业等行业。?
  • DMPY-2C 大气泡法表面张力仪II型
    DMPY-2C 大气泡法表面张力仪II型由上海书培实验设备有限公司提供,采用高硼硅玻璃材质加工,测定不同浓度正丁醇溶液的表面张力,计算吸附量。产品名称:DMPY-2C 大气泡法表面张力仪II型规格:DMPY-2C材质:高硼硅玻璃材质用途:测定不同浓度正丁醇溶液的表面张力,计算吸附量。图中各配件:总共三个配件(A/B/C)A:表面张力仪B:充满水的抽气瓶C:U型压力计(内盛比重较小的水或酒精、甲苯等,作为工作介质测定微压差)玻璃管F下端一段直径为0.2mm-0.5mm毛细管实验原理:从热力学观点来看,液体表面缩小是一一个自发过程,这是使体系总自由能减小的过程,欲使液体产生新的表面AS,就需对其做功,其大小应与AS成正比: -W= σx AS (2.18.1)如果LS为1m2,则-W=σ是在恒温恒压下形成1m2新表面所需的可逆功,所以o称为比表面吉布斯自由能,其单位为J-m2。也可将o看作为作用在界面上每单位长度边缘上的力,称为表面张力,其单位是Nm-1。在定温下纯液体的表面张力为定值,当加入溶质形成溶液时,表面张力发生变化,其变化的大小决定于溶质的性质和加入量的多少。水溶液表面张力与其组成的关系大致有三种情况: 一:随溶质浓度增加表面张力略有升高 二:随溶质浓度增加表面张力降低,并在开始时降得快些 三:溶质浓度低时表面张力就急剧下降,于某一浓度后表面张力几乎不再改变。 以上三种情况溶质在表面上的浓度与体相中的都不相同,这种现象称为溶液表面吸附。根据能量最低原理,溶质能降低溶剂的表面张力时,表面层中溶质的浓度比溶液内部大 反之,溶质使溶剂的表面张力升高时,它在表面层中的浓度比在内部的浓度低。在指定的温度和压力下,溶质的吸附量与溶液的表面张力及溶液的浓度之间的关系遵守吉布斯(Gibbs)吸附方程:引起溶剂表面张力显著降低的物质叫表面活性物质,被吸附的表面活性物质分子在界面
  • B-100Y表面晶粒检查灯
    B-100Y表面晶粒检查灯检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等快速检测小至10微米的瑕疵、小颗粒B-100Y表面晶粒检查灯可快速检查加工表面的瑕疵,灰尘,异物等表面晶粒检查灯应用:LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查主要特点? 检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等? 快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒? 有效地探测出生产过程是早期的污物,节省生产时间及不必要的成本? 100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱? 特制的黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线,防止产生荧光干扰? 高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子? B-100Y是铝合金外壳 B-100YP带塑料外壳? 灯头人体工学设计,易于操作B-100Y和B-100YP黄色滤光片能滤掉波长小于500nm的光线,产生543nm、574和576nm的光线。高对比度的光线可检测表面小于10微米的颗粒。b-100Y铝合金外壳,B-100YP带塑料外壳。规格UV光源:365nm长波紫外线功率:100W滤色片:黄光尺寸:B-100Y:216X140mm重量:5.33kg电源线:2.44米B-100YP:248X152mm重量:5.67kg电源线:2.44米型号型号描述货号B-100A100W,高强度长波紫外灯,230V95-0044-02B-100A/R100W,高强度长波紫外灯,6.1米电源线,115V95-0044-04B-100AP100W,高强度长波紫外灯,Cool-Touch阻热外壳,230V95-0127-02B-100AP/R100W,高强度长波紫外灯,Cool-Touch阻热外壳,6.1米电源线,230V95-0127-07B-100SP140W,高强度长波紫外灯,Cool-Touch阻热外壳,115VN/AB-100Y100W,高强度表面晶粒检查灯,黄光,230V95-0044-18B-100YP100W,高强度表面晶粒检查灯,Cool-Touch阻热外壳,黄光,115V95-0127-04
  • 表面张力仪铂金板 其他配件
    铂金板法测量的是液体的表面(或界面)张力的平衡值,铂金环法测试的是液体的表面(或界面)的*大力值。相比较,铂金板法具有如下的优点:  1.铂金板法可测量液体表面(或界面)张力随时间的变化:铂金板法测量时是一直接触被测液体的,只要液体的表面张力发生变化,测试值就会有变化,如果选用数据处理软件还可观测的表面张力随时间的变化曲线。  2.可方便地测量中高粘度液体的表面张力:铂金环法测试时需要铂金环向上提升,在此过程中除了表面张力的作用外还有粘力作用。  3.测试精度高:铂金板不易变形,铂金环太容易变形。环的不规则圆、不平整会影响表面张力的测试精度4.使用方便:铂金板测试值就是表面张力值,不需换算;铂金环测试的是*大力值,需要换算。铂金板清洗方便,不易变形。
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