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表面划痕测量仪

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表面划痕测量仪相关的仪器

  • 针对高需求用户范围广泛的的测试仪主要特点全景成像模式:将所有传感器进行同步,轻松快速地分析涂层结合力和耐划伤性能安东帕持有美国专利 8261600 和欧洲专利 2065695。全景模式是划痕仪软件最重要的特征。划痕后,您可以选择用选配的自动同步的传感器:声发射、位移、载荷和摩擦力传感器来记录全景。当采用全景成像模式记录时,可以随时重新分析划痕。粘弹性材料表征使用前扫描和多次后扫描测量专利模式 (US 6520004)在划痕之前、过程中和之后,位移传感器 (Dz) 一直记录样品的表面的轮廓。因此,它可以在划痕过程中和划痕之后评估针尖的划入深度。根据时间进行多次后扫描让您可以获得随时间变化聚合物的粘弹性恢复。即使在曲面和粗糙表面也可进行测试由于采用了独特的力传感器控制技术,微米划痕系统可检测载荷偏差,并且通过主动力反馈系统来修正该偏差。微米划痕系统即使在粗糙表面和曲面上也可获得可靠的测量。多种划痕测试功能具有多个测试模式渐近的、恒定的或插入的载荷多次磨损测试可使用单次或多次可以快速轻松地更换夹具上的划痕针尖可使用不同类型的划痕针尖:球形、锥形、维氏、努氏、刀具等高质量光学成像系统带“自动跟踪聚焦”集成显微镜包括配置高质量物镜的转塔和 USB 照相机。“跟踪聚焦”功能可以将进行多个划痕的 Z 样品台自动聚焦到正确位置。技术指标划痕深度精细量程最大量程最大位移 [μm]1001000位移分辨率 [nm]0.050.5本底噪音 [rms] [nm]*1.5法向载荷精细量程最大量程最大载荷 [N]1030载荷分辨率 [mN]0.010.03本底噪音 [rms] [μN]*100摩擦力精细量程最大量程最大摩擦力 [N]1030摩擦力分辨率 [mN]0.010.03*理想实验室条件下规定的本底噪音值,并使用减震台。
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  • PF-60非接触式3D表面粗糙测量仪激光探头-自动对焦扫描适合各种材料的2D/3D精密量测, 尤其是透明与高反射率的材料量测, 符合国际量测规范, 是提高品管制程良率的高效实用工具一、扫描快速非接触式, 激光探头 - 自动对焦扫描 高速扫描 2D/3D 表面粗糙形貌测二、量测规范激光探头 (波长 635 纳米) - 自动对焦扫描量测技术 ( Point Autofocus Probe, PAP ),被列入国际量测规范 ISO 25178-605。隶属非接触式的 2D/3D 精密量测。PAP 技术完全吻合表面粗糙度的国际量测规范, 精确度更是优于传统技术, 是工业最可信赖的量测方法。三、使用简易, 大面积的高速量测可客制载台实时的自动连续聚焦量测, 快速移动载物台,PF-60 可量测 60x60 mm, 解析达到 0.1 微米。XY 电动扫描载台, 不受环境温度影响位移精度。可量测的样本面积为 60 x 60 mm ( PF-60 ), 也可客制载台到 6”, 8”, 12” 甚至到 600 x 600 mm 以上.四、可应用于高反率的样本量测, 透明物体的量测PF-60 使用 100x 或 50x 物镜, 在样品表面的聚光点口径仅达 0.5 µ m, 不仅连续性聚焦, 更可消除样品表面因为穿透性产生的杂光, 或者, 样品表面因为旁边材料产生的反射杂光. 进而达到精密的扫描量测., 也可应用于高反率的样本量测, 透明物体的量测。五、可连续扫描, 角度量测超过 87 度唯一的超高角度追踪量测性能, 对于复杂形貌与角度刁钻的任何材料, 皆可轻易落实精密的量测。系统配置与技术参数专业报告操作简易, 自动专业报告与管理编辑, 中文版, 并同时支持多国语言。精密量测 高速 3D大面积量测, 最大的角度量测, 提供最高精度的数据品管良率 量测符合国际量测规范, 是提高品管与制程良率的高效实用工具.高速测量晶圆的总翘曲度和波纹度 高精度测量陡峭角度的透明镜片 非球面镜片成型模具的表面钻石车削加工表面焊锡量体积和高度的3D表面评估 微透镜数组镜头表面凹凸不平的量测追踪 精密齿轮的齿面形状测量和表面精度的粗糙度评估高精度量测铣刀外部直径, 前角和超出轮廓数据的间隙角度 优越性能适合量测透明材料, 或高反射率材料, 因应样本尺寸与形貌, 可以客制化扩充机台PF-60 扩充性, 除了量测载台可客制化外, 依照用户量测需求, 可拓展机台到 NH 或 MLP 系列一般产业应用领域 : 非球面镜片测量,外形评价模具测量,粗糙度测量微距镜头,测量,测量间距液晶导光板的形状,间距晶圆 PAD 三维测量表面有划痕,缺陷测量微机电业MEMS 相关
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  • 中图仪器SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪利用光学干涉原理,具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量。SuperViewW光学纳米级光学表面粗糙度测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。结果组成1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等;2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图,轮廓线等;3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面;4、薄膜和厚膜的台阶高度测量;5、划痕形貌,摩擦磨损深度、宽度和体积定量测量;6、微电子表面分析和MEMS表征。主要应用领域1、用于太阳能电池测量;2、用于半导体晶圆测量;3、用于镀膜玻璃的平整度(Flatness)测量;4、用于机械部件的计量;5、用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量。应用领域案例部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。测量功能1、厚度测量模块:厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等;2、显微形貌测量模块:粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能;纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能;滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能;提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等;粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数;结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术,完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像,实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数,同时生成Mapping图;2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像,显示2D剖面图和3D立体彩色视图,高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数;3、基于白光干涉图的光谱分析仪,通过数值七点相移算法计算,达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度,实现膜厚测量功能;4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉,由此计算出两表面间的距离(即厚度),可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度,包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组,使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术(1)采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。(2)搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘,晶圆规格最大可支持至12寸。(3)采用Mapping跟随技术,可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术(1)采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法,Z向分辨率高可到0.1nm;(2)隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声,获得高测量重复性。(3)机器视觉技术检测图像Mark点,虚拟夹具摆正样品,可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台(1)大行程龙门结构(400x400x75mm),移动速度500mm/s。(2)高精度花岗岩基座和横梁,整体结构稳定、可靠。(3)关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动,搭配分辨率0.1μm的光栅系统,保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧(1)集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。(2)具备双重防撞设计,避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。(3)具备电动物镜切换功能,让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量,将晶圆上下面的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV),有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像,用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片,细磨硅片粗糙度集中在5nm附近,以25次测量数据计算重复性为0.046987nm,测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 雪花比表面测量仪 400-860-5168转2623
    雪花比表面测量仪 创新性的光学系统用于测量雪的比表面积ü 瞬时测量ü 方便使用ü 多功能,能测量多个点ü 为户外或实验室使用而设计 应用2 辐射转换计算2 远距离有效感应2 雪化学(对污染的吸收) 技术是基于坚固的理论研究并且在常见的实践条件中得到了验证 工作原理:雪的比表面积(the specific surface area(简称SSA) of snow)定义为每单位质量的冰雪表面积,是雪的微结构的一个重要变量(对确定雪受到的化学污染和气候影响有重要作用) 雪的红外线半球反射和SSA的反射之间的关系,是ice cube基于的工作原理。雪样本直接由一个激光二极管发射的1310纳米的准直射光线分析。被雪反射的光线通过一个铟镓砷发光二极管的积分球收集然后转化为电压。 然后通过认证的标准获得的一条校准曲线,提供了信号和反射比之间的关系。这种反射比然后通过使用放射性转换模型以及使用甲烷吸收法进行的校准,最后转换成SSA 技术参数l 运作条件:-40。C(-40。F)及以上l 采集时间:1Sl 典型测量的不确定性:+-10%l 激光波长:1310nml 电池供应时长:12小时l 重量:约8kgl 外形尺寸:20*18*937.5px 能提供标准品和定制产品,根据您的需要变换
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  • EPS防爆片刻痕深度测量仪1、 仪器介绍:EPS防爆片刻痕深度测量仪是一款微观测厚领域的颠覆性产品,采用白光光谱技术精准定位获得样品表面信息,通过上下同心镜头对被测点的绝对位置,最终获得精准测量数据;设备同时还具备宏观成像导航功能,根据实时图像任意选择被测量,为光谱镜头提供导航及坐标定位。产品能力:可实现对样品的多点扫描或线扫描及阵列扫描,一次性数据采集后通过专业光谱影像复合软件计算, 实时对厚度测量判定;本光谱测头系统, 完全非接触式测量,保护工件免受划痕;全花岗石结构设计,高精度花岗石底座,立柱,保证机器的长期稳定性;精密丝杠传动,高速,无间隙,灵敏可靠,定位准确,运动精度高;海康 高分辨率 CCD,高清晰度的影像效果,保证测量时高品质的画面;伺服闭环控制,鼠标或摇杆操控,全自动 CNC 功能: 自动对焦, 自动量测, 自动寻边,自动灯光调整,保证测量高效率。专利多重空间灯光照明系统:在面对某些特殊被测量物时,利用不同光线效果,能更精准地抓取产品尺寸,达到上光源精准测量时的高重复精度.二、技术参数:型 号EPS行 程 (mm)300 *200*200外形尺寸(mm)825*977*1680工作台大小 mm460*360重 量(kg)380 kg承 重(kg)25 kgZ 轴升降距离200MM工作距离90 mm测量 精度 UMXY (2 + L / 200) um,激光精度2 UM最大速度300mm/s光栅尺分辨率0.1um 解析度CCD 分辩率 500万 高分辨率海康相机变焦物镜倍率0.58-7.5X带同轴光 物方视场18-1.1MMStil光谱MG70*2 光斑11.9μm 测量范围1.4mm 运动控制器PMC-X4光源表面光、轮廓光: 白色 LED ,亮度连续可调电 源220 V ± 10% ,50 Hz 用电设备要求接地可靠:接地电阻小于 4 欧姆工作环境温度 20℃±5℃ 温度变化 ﹤ 2℃/hr 湿度 30-80% 振动 ﹤ 0.002g 低于 15Hz三、测试原理:EPS防爆片刻痕深度测量仪,采用亚纳米级白光光谱对焦原理,对被测样品进行上下面同心高精度对焦,来获取精确的样品厚度。测试方法:EPS防爆片刻痕深度测量仪通过光学图像导航系统进行光学成像、图像导航、坐标定位、软件编程、设定测试点位/数量。白光双镜头通过定位进行快速自动化测量形成厚度数据。4、 仪器结构: 5、 仪器测量方法机器结构介绍结构介绍:设备主体结构平台、Z轴支架均有大理石制成,是实现设备高精度/重复性的保证。设备主题有一组配置上下LED光源及同轴光光源的光学自动变倍镜头、上下同心双光谱镜头组成,XY自动扫描台、Z自动变焦、高清CCD集合而成的一套高精度光学系统。测试方法:光学镜头A进行图像识别、设定测试点位、编程被测点的坐标。白光光谱镜头B/B1双镜头,通过光学镜头导航点位进行全自动测量!测试方法: 方法一、导入防爆片产品图纸,确定测试位置坐标,光谱镜头根据坐标定位找点,上下镜头对接,自动测量、通过XY轴自动移动,实现批量测。 方法二、无图纸测量:对治具上的防爆片进行图像实时成像,选取需要测试的点群,上下镜头对接,自动测量、通过XY轴自动移动,实现批量测。产品优势说明:行业痛点:防爆片测量受限于目前传统测量设备的精度、效率、人为干扰等因素影响,无法对单一刻痕深度进行多点测量(一般只选择10-40个点之间)。所以这些很微观的点代表整个样品的刻痕深度并不科学。更无法对多个样品进行快速批量检测。最终导致:抽样量数量不够科学。单样测试数据不够科学。特点:其是一个微观厚度测量领域的颠覆性产品。已经广泛应用在半导体晶圆的纳米测量以及电池防爆片领域;设备能够快速定位、智能编程、快速测量;在刻痕一圈取尽量多任意数量的点,进行快速自动化测量。数据更具科学性。编程后可最多一次放在15个样品进行批量自动化测量,获取更多批量样品的平均值,数据额更具代表性。 六、仪器的维护与保养:EPS防爆片刻痕深度测量仪是一种光、电、机一体化的精密测量仪器,需要有经常和良好的维护与保养,以保 持仪器良好的使用状态,这样才可以保持仪器原有的精度和延长仪器的使和寿命。1、仪器应放在清洁干燥的室内 (室温 20℃±5℃,湿度低于 60%) ,避免光学零件表面污损,金 属零件生锈,尘埃杂物落入运动导轨,影响仪器机能。2、仪器使用完毕,工作面应随时擦拭干净,最好再罩上防尘套。3、仪器的传动机构及运动导轨,应定期加润滑油,使机构运动顺畅,保持良好的使用状态。4、工作台玻璃及油漆表面脏了,可以用中性清洁剂与清水擦拭干净,绝不能用有机溶剂擦拭油漆 表面,否则,会使油漆表面失去光泽。5、仪器 LED 光源使用寿命很长,但当有灯泡烧坏时,仍请通知厂商,由专业人员为您更换。6、光谱镜头在工作过程中均为静态,非人为/外力因素不会损坏。6、仪器精密部件,如影像系统、工作台、光学尺以及 Z 轴传动机构等均需精密调校,所有调节螺 丝与紧固螺丝均已固定,客户请勿自拆卸,如有问题请通知厂商解决, 自行拆卸造成仪器故障或 精度降低,不在保修范围内。7、计算机上测量软件,已对工作台与光学尺的误差进行了精确补偿,请勿自行更改,否则,会产 生错误的测量结果。8、仪器所有电气接插件、一般不要拔下,如已拔掉,则必须按标记正确插回并拧紧螺丝,不正确 的接插,轻则影响仪器功能,重则可能损坏系统。9、仪器要接地,机座后面电源接口板有标识,且要求仪器使用方,电源插座要有地线七、仪器成品图:八、产品验收流程1仪器交货期:10天2验收条款:外观良好、仪器正常运行、按原厂技术标准验收九、安装调试和培训安装调试:客户指定地点到货后,三日内安排工程师现场拆箱,按照相应程序验收和安装调试产品。设备安装调试后三日内,根据确定的人数在客户所在单位对所供产品设备提供详细的培训课程,内容包括相应试验标准、设备原理、设备要点、设备操作和设备日常维护。十、质量保证和售后服务质量保证:提供的是原厂生产的产品,符合国家、行业的质量检测标准,具有正规的质量保证书或者合格证。免费质保期:我司对售后产品提供一年保质期(易损坏件和消耗性用品除外,自安装验收合格之日起一年内),在保质期内如非人为因素损坏,我司将提供免费维修或免费更换配件。 响应:我方在接到用户故障通知后8小时内响应,在用户不能自行维修的情况下,48小时内我方维修工程师到用户现场维修。保修期满之后,卖方对设备的维修仅收取工时和交通费用,涉及设备相关配件的更换和购买,卖 方仅收取成本费用。维修站点:FLIR厂家上海办事处负责保修和维修服务。
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  • 连续加载式表面性能测试仪Type:22● 用连续加载抗刮测试评价覆膜的粘着力通过2台脉冲马达使装载了试件的移动台和连续加载砝码引导装置同时移动。因连续加载砝码在安装了划针的机器臂上滚动,故而其在与试件一同移动时可以使加在划针上的垂直负荷成比例地增加。另,在划针的安装部位组装了检测阻力的载荷传感器。可以在低负荷范围直接获取摩擦阻力、划痕阻力以至剥离阻力的微小变化。在摩擦磨损试验中,以一定的负荷状态通过试件的往复运动,由球压头检测摩擦阻力。 ● 评价薄膜以至厚膜的粘着力通过砝码的连续加载,记录试件和划针的摩擦阻力、划痕阻力以及剥离阻力。并且,以膜剥离发生时的垂直负荷作为膜的粘着力。阻力由划针直接检测。并且,因划针的尖端备有5&mu mR至200&mu mR等不同型号,因此可广泛地适用于薄膜到厚膜,软质膜到硬质膜的测量。因独特的连续加载结构是机械作动方式,因此无需繁琐的校正,是具有极高可靠性的系统。 ● 根据磨损,实时测量摩擦阻力的变化反复进行往复直线运动摩擦,根据摩擦阻力的增减求得发生表面状态的变化及膜剥离时的往复次数。 ● 表面划痕硬度的测量给圆锥形划针加以给定的负荷,根据刮擦时伤痕幅度的大小来表示划痕硬度。 ● 点压摩擦的测量对于膜的粘着力的评价不可或缺的表面附着性通过摩擦阻力进行评价。主要用途:● 表面涂层容易脱落,检测其涂层黏附强度,评估其性能● 检测地板、浴缸底部材料的摩擦性能● 可以做水泥的滑行试验,避免水泥的滑落● 检测汽车涂漆面蜡使用效果试验● 检测各种固体润滑材料的损耗、粘着力TYPE:22 技术规格: TYPE:22LTYPE:22H移动速度60-600mm/min驱动电机移动台:脉冲马达 连续加载砝码: 脉冲马达驱动方式移动台:齿条&齿轮传动 连续加载砝码:滚珠丝杆移动距离1-50mm移动模式SINGLE:完成设定距离的移动后自动停止REPEAT:做设定次数的往复移动 最多可设定9,999次负荷范围0~100gf (用于载荷传感器)0~1000gf (用于载荷传感器)垂直负荷0~50g (连续加载/一定负荷)0~500g(连续加载/一定负荷)试件尺寸最大220× 100mm t8mm安全装置过负荷安全装置(OVERLOAD)防止高频噪音电路 CMRR:AC/DC130dB以上、NMRR:AC50dB以上动态应变放大器零点调整 &hellip &hellip  数字伺服自动归零方式输出(非线性) &hellip &hellip  0~± 5V(± 0.05%FS以内)灵敏度切换 &hellip &hellip  0/100/50/25/10%FSSN比 &hellip &hellip  60dB(最大灵敏度)响应频率特性 &hellip &hellip  2kHz/-3dB滤波器 &hellip &hellip  1/10/100HZ/PASS(低通滤波器)使用环境0~50℃ 85%RH以内 但不会结露电源AC100V 50/60Hz主体尺寸W650mm x D410mm x H490mm配件载荷传感器 1台 球压头 1套 金刚石划针 1个杆规 1个 连续加载砝码 1套 组砝码 1套 中继线 1根电源线(2P/E 2m) 1根 ,配件罩 1个,工具 1套零件盒 1箱 产品使用说明书 1份选配22L 22H通用型 摩擦磨损解析软件
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  • 一、大规格陶瓷板表面平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制,配置高精度激光位移传感器。可以自动测量,自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷板表面平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围:600×600(mm)~1800×1200(mm)2、位移精度:±0.1mm3、基准平台规格: 2000×1400×800(mm)带水平尺4、基准平台精度:1 级5、轴滑台精度:1 级6、测量速度: 1~100mm/s; 7、移动方向:XY 轴移动控制8、驱动方式:步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz
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  • Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01关键词:内周面划痕检测、内型面测量、内径检测、圆度检测、内型面形貌仪 对于精密孔加工零件,例如航空航天仪器中的燃料喷嘴、医疗器械中的中空零件、分析仪中的精密喷嘴和流体动力轴承,内周表面评估的重要性日益增加。 现有的测量仪器可以评估内径较大的加工零件的内径、圆度、表面粗糙度和形状。然而,除非将零件的主体切成两半,否则这些仪器无法测量孔加工零件。 Namiki Adamant 开发了“NMH-01 内型面测量仪 ”,这是一种非损伤的内周面测量仪,可以利用近红外光的光学干涉实现孔内周面的可视化。 由于Namiki Adamant的微电机技术和光通信技术,使这项独特的发明成为可能。它结合了我们世界上最小的 φ0.9mm 电机和我们获得专利的光学成像探头,并配备了我们获得专利的倾斜校正算法。它具有以下新功能: (1) 内径测量小至φ1.1mm;(2)同时测量内径、圆度、形状;(3) 重复精度σ=0.2μm; 我们的仪器不仅可以观察和测量孔加工零件的内周面,还可以同时评估内径、圆度、表面粗糙度和形状,过去需要分别使用单独的仪器。这些功能将测量时间从约 30 分钟显着缩短至 30 秒,有助于提高客户的测量效率。 NMH-01 内型面测量仪特点:可测量的最小内径:1.1mm重复精度σ=0.2μm自由设定:独创计算自动调整工作倾角。测量时间:30min(常规)缩短为30sec(同时测量内径/圆度/形状)安装最小的φ0.9mm电机的可测量最小直径φ1.1mm。重复测量精度:0.2μm通过半透明标准管Z大限度地减少光学振动和波动。设置自由测量通过算法处理自动调整工件的倾斜和偏心状态。NMH-01 内型面测量仪测量示例:连杆检测轴承检测划痕检测
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  • 体积表面高阻测量仪 400-860-5168转5976
    体积表面高阻测量仪电阻率:是用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的导线的电阻,叫做这种材料的电阻率。国际单位制中,电阻率的单位是欧姆米,常用单位是欧姆平方毫米/米。  电导率:水的导电性即水的电阻的倒数,通常用它来表示水的纯净度。  电导率是物体传导电流的能力。电导率测量仪的测量原理是将两块平行的极板,放到被测溶液中,在极板的两端加上一定的电势(通常为正弦波电压),然后测量极板间流过的电流。根据欧姆定律,电导率(G)--电阻(R)的倒数,是由电压和电流决定的。  电导率的基本单位是西门子(S),原来被称为姆欧,取电阻单位欧姆倒数之意。因为电导池的几何形状影响电导率值,标准的测量中用单位电导率S/cm来表示,以补偿各种电极尺寸造成的差别。单位电导率(C)简单的说是所测电导率(G)与电导池常数(L/A)的乘积.这里的L为两块极板之间的液柱长度,A为极板的面积。  =ρl=l/σ  (1)定义或解释 电阻率的倒数为电导率。σ=1/ρ (2)单位: 在国际单位制中,电导率的单位是西门子/米。 (3)说明 电导率的物理意义是表示物质导电的性能。电导率越大则导电性能越强,反之越小。体积表面高阻测量仪电流测量范围为 2×10-4A ~1×10-16A使用说明书:1份可以在人员离开设定自动测试读取结果 显示指标 :电压、电流、电阻、电阻率及式样 显示方式GB/T 1410-2006 固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法GB 12014 防静电工作服可以人为设定参数试验人员、材料名称、测试公司等信息标准配置:GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5WGB 12158-2006 防止静电事故通用导则使用环境: 温度:0℃~40℃,相对湿度80%所有测试电压(10V/50V/100/250/500/1000V) 测试时电阻与电阻率结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦。既能测超高电阻又能测微电流还可以直接测得电阻率。超大触摸彩屏显示 可直接读取电阻和电阻率。 内置软件测试系统 测试式样可选择 仪器自动分配计算 测量宽度Z大可到20次方备注:GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻(垂直电阻)试验方法电阻、电流、电阻率 同时显示 并且由彩色大屏显示测试仪器:1台符合标准:GB 50611-2010 电子工程防静电设计规范显示类别:电阻、电阻率、电流。屏幕显示:材料 电阻 电流 电压 电阻率 。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便, 适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及各种绝缘材料体积和表面电阻、电阻率的测定。满足更多标准。GB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程主要特点GB/T 18864-2002 硫化橡胶 工业用抗静电和导电产品 电阻极限范围电阻测量范围: 1×104Ω ~1×1018Ω。显示结果:电阻、电阻率、电流。电阻测量范围宽 1×104Ω ~1×1018Ω (14次方以上需要通过电流、电压计算) GB/T 1692-2008 硫化橡胶绝缘电阻的测定电源线:1条此款仪器为我公司Z辛研发产品 支持大屏幕输入 即可使用户直接得出电阻率也可以直接得出电阻 配不同的测量电极(夹具)可以测量不同材料(固体、粉体或液体)的体积电阻率和表面电阻率或电导率。 主要特点ASTM D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》基本准确度:1% 打印机为热敏打印机使用方便 打字清晰。GB/T 22042-2008 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法GJB 5104-2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求本仪器为我公司121升级产品 改进了之前仪器只能计算出电阻需手动换算电阻率 结合了用户反馈要求 测量简单特别是在电阻的测量时 只需人为放入试样无需换算结果自动求数,试样可进行选择及 固体、粉体、液体。三种即可自动的换算出电阻率 产品采用彩色64位真彩屏幕显示 支持触屏选定试样。概述高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻;与恒温水浴配套后,还能测量不同温度下的塑料电线电缆(无屏蔽层)的绝缘电阻,该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点,仪器的zui高量程?1020Ω电阻值(测试电压为?6档可选) 本仪表贯彻?Q/TPGG 7-2008?高绝缘电阻测量仪企业标准。GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法输入方式:真彩64位手写触摸。GJB 3007A-2009 防静电工作区技术要求GB/T 1672-8液体增塑剂体积电阻率的测定测量线:3根(屏蔽线、测试接线、接地线)GB/T 1410-2006《 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》电流测量范围为: 2×10-4A~1×10-16A技术指标试验要求:直径大于100mm(小于此尺寸,电极需定做)GB/T 26825-2011 抗静电防腐胶GB 50515-2010 导(防)静电地面设计规范GB/T 24249-2009 防静电洁净织物GJB 105-1998-Z 电子产品防静电放电控制手册直接显示电阻 和电阻率 无须换算只需输入式样厚度即可由仪器自动算出电阻率。标配固体单电极:1套可以调取之前任意测试仪日期的记录并且打印体积小、重量轻、准确度高GB/T 12703.6-2010 纺织品 静电性能的评定 第6部分 纤维泄漏电阻GB/T 18044-2008 地毯 静电习性评价法 行走试验可以支持Z多60条储存记录自动更新功能内置测试电压: 10V 、50V、100V、250、500、1000V机内测试电压: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切换GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程体积表面高阻测量仪对比用纳米氧化铝和氮化硼替代填充 20vol.%微米级氧化铝后的填充体系的。结果发现二元混杂粒径填料填充复合物的表面电阻率由 40μm 球形氧化铝体系的 1.8×1013Ω下降到 1.02×1012Ω,体积电阻率从 2.3×1015Ωcm 下降到 9.8×1014Ωcm,两者都下降了一个数量级。这是因为二元粒径填料比单一粒径填充堆积密度更高,分子链的运动受到更多限制,导致偶极子极化程度降低,因此电阻率下降;用纳米氧化铝替代部分微米氧化铝,电阻率相比二元粒径配方体系的较高,表面电阻率和体积电阻率分别为 3.29×1012Ω和 11.87×1014Ωcm,说明纳米粒子添加起到增强电绝缘性作用,但使用 BN 填充却降低了电阻率,表面电阻率和体积电阻率分别为 0.56×1012Ω和 4.43×1014Ωcm,相比微米级二元粒径体系减低了一个数量级,这是因为 BN 本身电阻率较小,另外使用不同种类填料时不可避免引起偶极子极化程度提高,偶极子的分布和释放又影响了电绝缘性能。体积表面高阻测量仪仪器的技术指标1.Q值测量a.Q值测量范围:2~1023。b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c.标称误差频率范围20kHz~50MHz;固有误差≤5%±满度值的2%;工作误差≤7%±满度值的2%;频率范围10MHz~60MHz;固有误差≤6%±满度值的2%;工作误差≤8%±满度值的2%。2.电感测量范围:14.5nH~8.14H3.电容测量:1~ 460直接测量范围1~460pF主电容调节范围准确度30~500pF:±(0.5%C+0.1 pF)注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则信号源频率覆盖范围频率范围10kHz~50MHz频率分段(虚拟)10~99.9999kHz100~999.999kHz1~9.99999MHz10~60MHz频率指示误差3×10-5±1个字体积表面高阻测量仪技术特点:  体积小、重量轻、准确度高;塑料、绝缘电阻率测试仪独特的被测电阻、和流过电阻的电流双显示,使操作测量更加方便;性能稳定、读数方便;既能测电阻又能测电流;标准配置:1 主机 1 台2 屏蔽箱 1 台3 电极 1 套4 测试线+电源线 5 条备注:本仪器配不同的测量电极(夹具)可以测量不同材料(固体、粉体或液体)的体积电阻率和表面电阻率或电导率,完全符合国家标准GB1410-2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法,ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法等标准要求。
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  • 中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理,用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌,专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,平行度,台阶高度,锥角等等);几何特征(关键孔径尺寸,曲率半径,特征区域的面积和体积,特征图形的位置和数量等等);SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1)采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统,保证测量精度高;2)隔振系统,能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动,消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声,保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用,获得高测量重复性;2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰,在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄,可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外,另在Z轴上设计有机械电子传感器,当镜头触碰到样品表面时,仪器自动进入紧急停止状态,最大限度的保护仪器,降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机,在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例:部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配:3孔手动选配:5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 表面性能试验机Type:14FW ● 广泛应用于多项课题研究 通过直流伺服电机(FW型)对装载了试片的移动台施加直线运动。另,由具有双支点的纵向机器臂、水平机器臂组成的摩擦阻力传导结构把从各种电源适配器接受的摩擦阻力传导至载荷传感器的触头。 在水平机器臂一端安装有平衡器,平衡电源适配器的自重,使垂直负荷归零。另一端,在仪器保有电源适配器的部分和其垂直线上,安装有可以负载垂直荷重的砝码托盘,最大可负荷1000g砝码。 检测得出的摩擦阻力,可以通过动态应变放大器放大输出至各种记录装置。在仪器的操作和显示部分,采用了使用简便的触摸屏。 ● 应对各种JIS规格通过配件交换,可以进行以JIS K7125、P8147、L0823为依据的摩擦试验。 ● 表面刮痕硬度测量 JIS K5600给予圆锥形划针指定的垂直荷重,由刮擦时的刮痕幅度大小来表示刮痕硬度。也可以进行铅笔抗刮强度试验。 ● 利用面压、线压、点压测量静摩擦与动摩擦 ASTM D1894也可根据面压、线压、点压、以及样品的相互组合进行测量。还可轻松显示繁琐的平均动摩擦运算,避免了操作者个体误差的产生。※利用摩擦磨损解析软件(选配) ● 测量表面黏度根据由轴承支撑的不锈钢辊筒所产生的滚动阻力将表面黏度数值化。 ● 根据磨损产生的摩擦阻力的变化进行实时测量反复进行往复直线运动摩擦,根据摩擦阻力的增减求得表面状态的变化、以及膜剥离的往复次数。 ● 抗刮强度的测量可以进行水平方向的抗刮强度测量。 ● 薄膜的粘着力测量逐步增加划针的垂直负荷,根据划痕阻力的变化求得临界负荷。● 剥离阻力的测量 JIS P8139根据180℃及T剥离强度试验,可以测量粘着力、纸板贴合层剥离阻力。 用途:● 手机外壳表面与手机键盘有褪色问题,检测其涂层的耐磨损性能。● 测量纸张之间的摩擦,避免打印机、复印件出现卡纸。● 可以将砂纸的研磨力数值化,做砂纸的摩擦磨损试验。● 检测橡胶的磨损性能,观察汽车轮胎的磨损。● 检测橡胶与玻璃之间的摩擦,评价雨刷片与玻璃表面的摩擦效果。● 检测各种平板材料的摩擦性能。● 可以在油液环境、加热环境、冷却环境下摩擦磨损试验。● 适合于各种类型涂层表面的摩擦、磨损、划痕试验。 TYPE:14FW 技术规格 TYPE:14FW移动速度5mm-6000mm/min驱动电机交流伺服电机驱动方式齿轮&齿条传动移动距离1-100mm移动模式单一模式:完成设定距离的移动后自动停止重复模式:做设定距离的往复运动(最大99,999,999次)测量范围0-100gf or 0-2000gf工作台尺寸240mm x 120mm安全装置过负载安全装置(OVERLOAD)高频杂音防止电路动态应变放大器零点调整  数字伺服自动归零方式输出(非线性) 0~5V0.05%FS以内)灵敏度切换 0/100/50/25/10%FSSN比 60dB(最大灵敏度)响应频率特性 2kHz/-3dB滤波器 1/10/100HZ/PASS(低通滤波器)使用环境0~50℃ 85%RH以内 但不会结露电源AC100V 50/60Hz主体尺寸W630mm x D350mm x H580mm配件刮针1根、球压头1个、杆规1个、砝码组1组、电源线(带2P/E 2m)1根、配件罩1个、工具1套、零件盒1个、操作说明书1份选配摩擦磨损解析软件、各种测试头、热板、Y轴方向移动台等
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  • 体积表面高阻测量仪 400-860-5168转3024
    体积表面高阻测量仪GB/T 1410-2006《 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》ASTM D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》GB/T 1410-2006 固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法GB1672-8液体增塑剂体积电阻率的测定GB 12014 防静电工作服GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求GB 12158-2006 防止静电事故通用导则GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程GB/T 1692-2008 硫化橡胶绝缘电阻的测定GB/T 12703.6-2010 纺织品 静电性能的评定 第6部分 纤维泄漏电阻GB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法GB/T 18044-2008 地毯 静电习性评价法 行走试验GB/T 18864-2002 硫化橡胶 工业用抗静电和导电产品 电阻极限范围GB/T 22042-2008 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻(垂直电阻)试验方法GB/T 24249-2009 防静电洁净织物GB 26539-2011 防静电陶瓷砖 Antistatic ceramic tileGB/T 26825-2011 抗静电防腐胶GB 50515-2010 导(防)静电地面设计规范GB 50611-2010 电子工程防静电设计规范体积表面高阻测量体积表面高阻测量仪仪1、可以在人员离开设定自动测试读取结果 2、可以支持最多60条储存记录自动更新功能3、可以调取之前任意测试仪日期的记录并且打印4、打印机为热敏打印机使用方便 打字清晰。5、可以人为设定参数试验人员、材料名称、测试公司等信息6、测量宽度大可到20次方7、满足更多标准。GJB 105-1998-Z 电子产品防静电放电控制手册GJB 3007A-2009 防静电工作区技术要求GJB 5104-2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求技术指标1、电阻测量范围: 106Ω ~1020Ω2、电流测量范围为:10-4A~10-18A3、显 示 方 式:电压、电阻、电流、电阻率、存储、打印4、内置测试电压: 10V-1000V 六档任意切换5、供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5W6、显示类别:触摸选定显示7、输入方式:手写 、选择。8、显示结果:电阻、电阻率、电流。9、结果可打印也可储存10、存储方式:日期11、测量方式:手动/自动12、可以调取历史文件并且打印13、主机与屏蔽箱一体 排除连接线带来的电阻标准配置:1、测试仪器:1台2、.电源线:1条3、测试电极: 1套4、使用说明书:1份5、彩色触摸屏一块6、测试软件一套用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻;与恒温水浴配套后,还能测量不同温度下的塑料电线电缆(无屏蔽层)的绝缘电阻,该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点,仪器的量程 1020Ω电阻值(测试电压为 6档可选)。 本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。高阻计高阻计测试时应满足下列要求:a.高阻计测量范围应包括1*106-1*1017Ω。b.阻值大于1012Ω时,测量误差小于±20%;阻值等于或小于1012Ω时,测量误差应小于±10%。c.零点飘移每小时不大于全标尺的4%。d.输入接线的绝缘电阻应大于仪器输入电阻的100倍。e.测试电路应有良好的屏蔽。f.仪器应定期进行校验。电极电极应由黄铜或不锈钢制成。高压电极内径146mm,测量电极外径120mm,护环宽度8mm,测量电极与高压电极的间隙为2mm,电极工作面粗糙度为1.6以下。
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  • 申贝科学仪器α、β表面沾污测量仪RJ39α、β表面沾污测量仪RJ39适用于α、β辐射表面污染检测。RJ39采用双闪探测器,具有较高的探测效率;能同时测量α、β、γ,并自动区分α、β/γ检测结果,是环境试验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原材料运输、存储和商检等领域进行α、β表面污染检测的理想仪器。主要用于对放射监测有较高要求的场合,如环保监测(核安全)、放射卫生监测(疾控、核医学)、国土安全监测(出入境、海关)、公共安全监测(公安)、核电站、实验室以及核技术应用等场合。 特 点 l 计数器阻塞报警提示与保护功能l 可对α、βγ分开测量l 内置大容量锂电池,实时显示电池容量l 探测器采用双闪晶体,灵敏度高,响应速度快l 背景灯功能,方便在夜间和光线不足的环境中使用l 大尺寸点阵液晶显示,测量结果显示清晰、直观;l 触摸式按键,操作轻松、方便l 符合国家标准的各种报警阈值可供选择,也可自行定义l 4GB大容量存储可储存10万组数据供随时查看,数据打印,可与上位机进行通讯(配分析软件)l 主机与探头连接电缆可扩展到1.5公里,也可进行无线对接l 主机内置GM探测器,实时监测操作人员周围环境l 整机防水效果IP65
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  • 体积表面电阻率测量仪 型号: LST-212一、LST-212橡胶薄膜电阻率测试仪电阻率直接测试符合标准及适用范围: 体积表面电阻率测量仪 完全符合国家标准GB1410-2016固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法,ASTM D257绝缘材料的直流电阻或电导试验方法等标准要求。本仪器配不同的测量电极(夹具)可以测量不同材料(固体、粉体或液体)的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外,还能直接测量微弱电流。 二、LST-212橡胶薄膜电阻率测试仪电阻率直接测试技术指标序号 项目参数1电阻测量范围1×104Ω~1×1018Ω2电流测量范围2×10-4A~1×10-16A3显示方式数字液晶显示 触摸屏4内置测试电压10V、50V、100V、250V、500V、1000V5基本准确度1%6使用环境温度:0℃~40℃,相对湿度80%7供电形式AC 220V,50HZ,功耗约5W8仪器尺寸285mm× 245mm× 120 mm9质量约10KG10体积小、重量轻、准确度高电阻、电流、电阻率、电压显示,性能好稳定、读数方便11售后承诺中航鼎力所有仪器均保修一年,终身服务 三、LST-212橡胶薄膜电阻率测试仪电阻率直接测试标准配置:序号配置单位数量1测试仪器台12电极箱台13电源线条14测量线条35使用说明书份1
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  • 货期:30天 品牌:北斗仪器 型号:CA200产地:广东东莞 名称:标准型光学接触角测量仪 接触角(Contact angle)是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线,此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ,是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。设备采用全自动进液装置,性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求,目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃(包括塑料或金属等固体)表面润湿性研究等。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域,接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。ASTM D 1173/评价表面活性剂发泡性能的标准测试方法(罗氏泡沫分析法)ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM 724 / 纸表面润湿性的标准方法(接触角法)ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法ASTM D 971 / 用环法测试油对水的界面张力的标准方法ASTM D 1331 / 表面活性剂溶液表面张力和界面张力的标准测试方法ASTM D 1417 / 测试合成橡胶胶乳的标准方法ASTM D 1590 / 水表面张力的标准测试方法DIN 53914 / 表面活性剂测试 – 测定表面张力DIN 55660 / 色漆和清漆 - 润湿性评价DIN EN 14210 / 表面活性剂 – 用镫法或环法测定表面活性剂溶液的表面张力DIN EN 14370 / 表面活性剂 - 表面张力的测定DIN 14272 / 泡沫化合物德标 - 适用于消防用低膨胀水性成膜泡沫化合物ISO 1409 / 塑料/橡胶-聚合物分散体和橡胶胶乳(天然和合成)-表面张力的环法测定ISO 4311/阴离子和非离子表面活性剂-临界胶束浓度的测定ISO 6295 / 油水界面张力的测定型号CA200自动滴液光学接触角测量仪 三维平台左右X移动手动:行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动:行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动:行程40mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整,摄像头水平调整(配送专业级XY水平仪)样品台尺寸120*150mm(可定制)可放置最大样品200(W)*∞(L)*50(H)mm样品台材质铝合金进液系统微量进样器XY移动行程:100mm,精度0.1mm(针头对中及液滴转移)进液控制移动行程:25mm,精度:0.01mm滴液控制模式手动,精度:0.1ul加液方式手动(配送5ml玻璃烧杯加液)微量进样器容量:1000ul(标配一支,备品一支)针头标配0.5mm不锈钢针头(可替换)20个、超疏水针头0.25mm(可替换)20个成像系统镜头Subpixel级别0.7-4.5远心轮廓深度定制镜头相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280× 1024镜头控制仰视角度:±10度,精度:1度调焦移动行程:0-10mm,精度1mm。帧率80帧/s(可选配全局曝光高速400帧/s的相机)光源系统组合方式采用石英扩散膜与均光板使得亮度更均匀,液滴轮廓更清晰光源采用进口CCS工业级蓝色冷光源(有效避免因光源散发热量蒸发液滴),使用寿命可达5万小时以上亮度调节PWM数字调节光源波长460-465nm功率10W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法、前进角、后退角、滚动角、薄膜法等测量软件CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法(static contact angle)自动拟合法(ms级别一键全自动拟合,不存在人工误差)、三点拟合、五点拟合、自动测量(包括圆拟合法/斜圆拟合法(Circle method/ Oblique Circle)、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse))、凹凸面测量等动态接触角测量(Dynamic contact angle)前进角(Advancing angle),后退角(receding angle),滞后角(hysteresis angle),滚动角(选配)(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°<θ<180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法,OWRK法,Zisman法,EOS法,Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法(软件中预装37种液体数据库,可自行建立液体性能参数)数据可直接调入用于表面能估算,液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位MN/m其他机架型材欧标160输入电源220V 50-60Hz仪器尺寸约640mm(W)*180mm(L)* 530mm(H)仪器重量约30KG表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01MN/m测量范围0.1MN/m-2000MN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 MN/m单位MN/m配件选配件纸片夹具、温控平台(高温、低温、高低温、湿度)、旋转台(滚动角)、蠕动泵等。设备选配件众所皆知,软件是一台仪器的灵魂所在,组成系统的硬件虽为测量提供了基础,但只有在软件的支持下,才能完美地实现硬件的功能,充分发挥其潜力,使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用,经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合,已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统(行业内极少),在对以后软件升级,新标准更换的时候起到一个很大的优势。软件主界面图版权声明:广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA V1.2.1软件的所有知识产权,本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护,未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁,并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械:系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理,所有的其它主要组件也都是由铝合金,不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位:系统所有的线性移动单元,包括三维样品台(xy-轴),(Z-轴)注射器/针头的移动调节,均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动,确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择:提供数十种不同规格的进样器供使用者选择,如不同规格(25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….),不同材质(气密玻璃进样器/塑料进样器),不同品牌(Hamilton/boli….)以满足不同客户需求。提供各种规格(10-34#)以及不同材质(不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头)以及特殊针头(弯曲针头),可用于常规接触角测量,也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统:采用了行曝光(Rolling Shutter)高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴,即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 :软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA V1.2.1软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ,而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ,测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 ( sub-pixel) 液 滴 坐标 检 测 ,自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 , 液 滴 全 轮 廓 分析 ,和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 , 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能,分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.软件自动生成报告,其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能,可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统,权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.具备双边接触角测量快速拟合功能,更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况;10.动态拍摄、视频快速测试数据,可以连续性记录测试接触角的变化,再由软件自动批量拟合;11.具备历史数据库功能,记录每一次的测试结果,可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个2.连续变倍光学系统 1个3.手动加样系统 1套4.手动CCD倾斜系统 1套5.表界面分析测量系统应用软件 1套6.说明书纸质一份及说明书电子版 1份7.保修卡及合格证1份8.亲水进样针10个,疏水进样针10个9.500ul进样器1个10.电源线及数据线1条11.XY专用水平仪1个(电脑为选配件 客户可以自配)物料名称品牌物料名称品牌CPU英特尔i3处理器鼠标键盘力拓主板 英特尔 H61主板机箱金和田内存华硕8G DDR3 1600电源长城硬盘七彩虹 250G显示器HUYINIUDA 19寸
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  • 中图仪器SuperViewW光学三维表面形貌测量仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器,主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能1)样件测量能力:单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量;2)单区域自动测量:单片平面样品或批量样品切换测量点位时,可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;3)多区域自动测量:可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位,一键实现自动条纹搜索、扫描等功能;4)自动拼接测量;支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能,配合影像导航功能,可自定义测量区域,支持数千张图像的无缝拼接测量;5)编程测量功能:支持测量和分析同界面操作的软件模块,可预先配置数据处理和分析步骤,结合自动单测量功能,实现一键测量;6)数据处理功能:提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能;7)数据分析功能:提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能:可根据需求参数定制数据处理和分析模板,针对同类型参数实现一键批量分析;9)数据报表导出:支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能,支持图像、数值结果的导出;10)故障排查功能:配置诊断模块,可保存扫描过程中的干涉条纹图像;11)便捷操作功能:设备配备操纵杆,支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等;12)环境噪声评价:具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能,定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率,为设备调试和故障排查提供定量依据;13)气浮隔振功能:采用气浮式隔振底座,可有效隔离地面传导的振动噪声,确保测量数据的高精度;14)光源安全功能:光源设置无人值守下的自动熄灯功能,当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源,防止光源高亮过热损坏,并有效延长光源使用寿命;15)镜头安全功能:双重防撞保护,软件ZSTOP防撞保护,设置后即以当前位置为位移下限位,不再下移且伴有报警声;设备配备压力传感器,并在镜头处进行了弹簧结构设计,确保当镜头碰撞后弹性回缩,进入急停状态,大幅减小碰撞冲击力,有效保护镜头和扫描轴,消除人为操作的安全风险。SuperViewW光学三维表面形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。应用领域针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求,SuperView W的复合型EPSI重建算法,解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下,只需要确定起点和终点,即可自动扫描,重建其超光滑的表面区域,不见一丝重叠缝隙。SuperViewW光学三维表面形貌测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精细器件的过程用时短,确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×)XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×606×920㎜恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 仪器简介:是二维表面粗糙度测量仪、三维表面粗糙度测量仪和轮廓形状测量仪最高水平的组合,一体化的合理的测量仪器状解析记录模式三种功能,技术参数:二维粗糙度:测量参数:Ra、Rq、Ry、Rmax、Rt、Rz、Rz5、Rz3、R3z、R3zmax、RzmaxD、RzD、Sk、Ku、Pc、HSC、PPI、Rpm、Sl、Sm、S、Rp、Rv、 a、 q、 a、 q、 a、 q、K、tp、BC、ADC、FFT、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、WcA、WCM、WEA、WEM、真直度、离差、坐标放大倍率:竖直50 ~500,000 水平1~5000测量范围:竖直 600 m 水平100mm评价长度:0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm / 任意(0.2mm以上) /  C x1, x2, x3, x4, x5自动水平调整:最小二乘法, 二点法, R曲线修正, 二次曲线修正,辅助功能:自由画面设计记录, 图表模版, 平均处理, 统计处理, 去除缺陷后测量, 再计算,探测器登记,留言记录, 自动灵敏度校正, 公制/英制变换, 自动测量, 去除处理, 轮廓图放大缩小。三维粗糙度分析项目:平面图、等高线图 / 微分浓淡图 / 标高表示图鸟瞰图(水平, 俯角可变): 扫描图 / 细格图 / 等高线图 / 微分浓淡图三维分析值: SRp / SRv / SRmax / SRa / SGr / SSr / SRe / SRq / SRsK / S a / S a / Spc / 标高粒子分析: 山(或谷)粒子的密度, 平均面积, 平均体积, 平均直径图形: FFT/ BC测量范围:Z 600 m X 100mm Y 100mm辅助功能:分析和数据采集同时进行 / 部分选取 / 水平调整 / 三维数据的任意方向的二维分析传送速度:0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2mm/S高速移动速度5, 10mm/S以及手动截止值:粗糙度  C 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 mm,无截止,起伏fl 0.8, 2.5, 8, 25mm, fh 0.08, 0.25, 0.8, 2.5mm过滤方式:高斯型, 2CR, 特殊高斯型探测器上下移动:探测器上下移动范围250mm, 自动下降/上升精度 0.2 m/100mm以内(使用制动时)真直度测量精度:0.2 m / 100mm探测器:触针: R2m金刚石, 测量力0.7mN 制动: R40(测量方向) R2 m 蓝宝石轮廓形状测量分析项目对中 : 原点移动, 旋转, 反转, 移动要素分析: 点, 线, 圆, 山, 谷, 交点, 中点, 接点 / 定标器量: 座标差, 距离, 交角测量范围:竖直50mm 水平100mm传送速度:0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.2 mm / S 高速移动速度2, 10mm/S 以及手动辅助功能:自由画面设计记录, 图表模版, 宏观功能, 轮廓放大缩小, 数字式圆弧修正, 防止过载 震动器, 上下正反两方向测量 探测器上下移动范围:200mm真直度测量精度:1 m / 100mm探测器:R25 m 10~30mN超硬, 追踪角度: 上攀77度, 下移87度尺寸/ 质量、测量部600  395  593mm / 80Kg 计算部900  600  520mm / 30Kg电源:AC 100V 800VA 50/60Hz主要特点:三维粗糙度测量 数据采集和分析同时进行数据的采集和以前采集的数据的分析可以同时进行. 能节约测量时间.三维粗糙的形状记录能改变鸟瞰图的视角、高低并进行记录.对于平面图能得到浓淡图和等高线图, 当然, 可以取出感兴趣的部分放大或记录.三维粗糙度参数能进行面平均算术平均粗糙度SRa等各种三维粗糙度参数, ”山” , “谷” 粒子的平均面积、平均体积等的分析. 二维粗糙度测量 参数能对应于ISO、JIS、DIN、ANSI、BS等国际标准和各国的新旧标准进行测量自动测量功能从探测器的测量到数据图表的打印一连串的动作都能自动进行.去除处理可以避开测量形状中伤痕等不适和的部分,指定计算的区域进行分析.轮廓形状测量 多断面形状分析能对多到32个断面的数据同时处理. 而且, 能对n次分开测量的数据合在一起进行分析. 对中调整备有必要的充分对中的功能, 而且能进行极细微的调整.宏观功能利用很强的宏观功能,可以使同一类测量物体的测量、分析和打印变得很简单. 操作的宏观化是除了通常的操作外只要增加单键操作就可以了,使整个测量简单化.公差判定对于半径、距离、角度等的分析数据, 每次都要设定公差,并能进行对错的判断.二维粗糙度、轮廓形状测量的共同特点 数据图表能自由的对数据图表进行画面设计, 可以自由选择画面设计的数据, 其中, 有各种测量的数据, 名称等原始数据, 公司标记等图形数据, 进行画面设计, 作成图表.
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  • PAM 系列α、β表面污染测量仪技术参数:探测器:塑料闪烁体ZnS(Ag)窗口:含铝聚酯薄膜效率:C-14:17%;Cs-137:45%;Tl-204:48%;Am-241:52%电池寿命:约150小时(不开背光灯)
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  • 便携式 a、β 表面污染测量仪SEN-ABR50为同时测量α、β、γ表面沾污而设计。SEN-ABR50携带方便,操作简单,广泛应用在环保、公安、军队、海关、卫生、核工业、核电站等系统。应用领域&bull 卫生监督所 &bull 环境监测 &bull 疾控中心 &bull 核工业 &bull 公安&bull 生态环境综合执法特点 ● 新型塑料闪烁体探测器,不用充气● 可同时测量α和β/γ,无需外加探头● β/γ本底监测与补偿,报警阈值连续可设● LCD显示,在黑暗环境中可开启背景灯技术参数
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  • Model 7001 便携式氚表面测量仪技术参数:测量范围:0 ~ 3552kDPm/dm2测量下限:+2.22kDPm/dm2响应时间:2分钟测量区域:100cm2准确度:+4.44kDPm/dm2 (0 ~ 100kDPm/dm2), +10% (100kDPm/dm2)显示方式:LCD图像显示操作温度:15 ~ 50℃操作湿度:5 ~ 65%
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  • 三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SLInfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是国际新型的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小景深和垂直扫描相结合。系 统InfiniteFocus SL是一款经济型、用于实验室研究和生产控制的光学三维表面形貌测量仪。InfiniteFocus SL除可以测量形貌及微观结构的表面外,还可以测量部件的粗糙度。完美的机身框架和智能的光源使InfiniteFocus SL的测量更快速,更容易。优 势InfiniteFocus SL测量速度快、稳定性强,而且经济实惠。超过33mm的超长工作距离及50X50mm测量范围使它拥有了极宽的应用范围,测量可以在几秒钟内完成。应 用应用范围从刀具工业的刃口测量到质量保证及微观结构的表面刃口测量。InfiniteFocus SL应用于汽车、航天、模具、刀具、机械加工等制造企业。 InfiniteFocus SL光学三维刀具测量仪的部分技术参数:位移范围(X/Y):50mm×50mm(自动调节)位移范围(Z):130mm(26mm自动调节)最佳垂直分辨率:20nm最大扫描高度:25mm最大操作距离:17.5(5×物镜)最大扩展视野范围:2500mm2最大单一方向测量范围:50mm最小测量半径:2μm最小测量楔角:20°最小测量粗糙度(Ra):80nm最小测量粗糙度(Sa):50nm
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  • TR-101划痕测试仪 400-860-5168转1965
    产品介绍如今,使用表面改性技术对元件进行改性处理,使其性能和寿命得到增长的趋势日益增长。改进总是以基础材料上的涂层形式进行,涂层通过电镀、汽相淀积、扩散、热喷涂或焊接沉积。涂层需要被表征为像耐擦伤性、临界载荷、粘附力和高应力下损坏性质的参数。Ducom 划痕仪便于对这些参数进行大范围测量。描述被测样品被牢固地安装在电动平移台的夹具中。触针通过可控正向载荷压在样品表面(Fn)。伺服控制的Fn确保它在起伏表面下的精确也能保持在所需水平。切向力(Ft)在测针触及触点表面时测量。Ft和Fn的比值(R)是摩擦直至表面损伤的阈值系数。破坏表面所需的能量是Fn除摩擦外的附加组分,这将增加该比值。R值变化并不是损伤的唯一标志,声发射电平(AE)也可能会增加,尤其是在脆性断裂中。此外,放大获取到的整个划痕区域图像便于目测检查磨损情况。数据采集软件便于连接选点,在Ft,Fn或AE活动图上任何地方选定都显示其它图上相应位置的图像。图像的选定位置放大有助于观察画面细节进行磨损分析。划痕的深度(z)的记录是通过测量刮擦后的表面轮廓变化。划痕之前和之后的轮廓以足够低的Fn被记录从而避免任何损害。应用1,硬而脆的涂层临界载荷如氮化钛,陶瓷2,测定软涂料的工作负载限度如:PTFE或其它聚合物3,鉴定的热处理工艺参数,以取得最佳的耐擦伤性4,预估基材-涂层界面的粘结强度5,表面工程产品的产品开发与质量控制技术规格触针的运动可以以一下几种方式进行编程:1,单一的单向划痕2,在同一轨道上重复单向划痕3,在同一轨道上的双向划痕4,按指定距离隔开的多个平行轨迹5,在指定点零轨迹长度压痕试验划痕的长度可通过负载被编程为恒定或倾斜。在多个轨道的情况下,它可以再增加步骤。测试设备由计算机控制。测试进度可在开始测试前通过指定编程控制:1,在划痕的开始和结束的正向载荷值(Fn)2,负荷曲线 - 不变,斜坡或台阶3,划痕长度4,划痕速度/加载率5,分隔―P‖相邻划痕之间6,划痕数7,单相/双向运动正向载荷(Fn),牵引力(Ft),比率(R),声发射电平(AE)和深度(Z)在运行过程中获取并显示出来。 运行后,划痕重叠图像可逐步在拍摄模式下获得。他们是自动拼接创建从头到尾覆盖整个划痕一个单一的图像。这个图像的尺寸和粘贴在数据曲线图。当选择和放大图的一部分,图像的相应长度也被以同步的方式放大。图像数据的标记有利于快速观察选择活动范围处的图像细节。测试设置界面正向载荷和牵引力(Ft)测试图
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  • αβ表面污染测量仪HD-3021 应用领域主要用于环境辐射,核电站,同位素生产,医院,反应堆场所的地面/板,工作台和衣物等表面的α、β放射性污染的测量。◆ 符合国标GB/T 5202-2008《辐射防护仪器α、β和α/β(β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪》的要求。功能特点:1. 原装进口双荧光薄闪烁体,转换效率高、寿命久2. 计数容量大(106),可同时测量α、β及α+β,无需更换探头3. αβ表面污染测量仪低功耗,单节电池可使仪器连续工作20小时以上4. αβ表面污染测量仪配套蓝牙打印机,可实时打印测量数据5. USB通讯功能,配套PC机软件方便进行数据处理技术指标:1. 本底计数:α:0.6cpm;β:2cps2. 重复性:相对标准偏差 ≤20%3. 准确度:允许误差 ±20%4. 计数容量:1~1065. 测量时间:(3~9999)s之间任选6. 探测效率:α:≥45% (2π,φ50mm,239Pu,α源)β:≥50% (2π,φ50mm,90Sr-90Y,β源)7. 测量范围:α:≤ 2000 Bq/cm2 β:≤ 3000 Bq/cm28. 串道比:α射线串β道的串道比: 10%β射线串α道的串道比: 1%9. 稳定性:α、β测量计数>1000时,8h变化≤10%(239Pu,90Sr-90Y)10. 使用环境:温度:(-10~+45)°C相对湿度:≤ 90% (+40°C)11. 数据打印:蓝牙打印机12. 通信接口:Micro USB接口13. 数据存储:可存储9000个数据点14. 功耗:600mW,4.2V/3Ah锂电池(可工作20小时)15. 外形尺寸和重量:操作台:(204×100×29)mm 0.8kg探测器:(Φ103×208)mm 1.5kg仪器认证:由中国计量科学研究院检定并出具检定/校准证书
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  • CoMo 系列α、β表面污染测量仪产品特征:新型塑料闪烁体探测器,不需充气用户友好界面,只需5键操作测量时间和照明时间可调大面积LED显示,在黑暗环境中可自动感应并自动开启背景灯可通过不同配件进行功能扩展(剂量率测量,样品活度测量,地板污染监测等)技术参数:探测器:ZnS涂层、薄膜塑料闪烁体探测器探测器尺寸:CoMo-170:170cm2;CoMo-300:300cm2效率(探测面积100 cm2):C-14:15%,Cs-137:41%,Co-60:31%,Am-241:26%电源:2节AA 1.5V碱性电池或NiMH充电电池可工作25小时
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  • 中图仪器的CP系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器,是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。产品功能1.参数测量功能1)台阶高度:能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料;2)粗糙度与波纹度:能够测量样品的粗糙度和波纹度,分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线,可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数;3)翘曲与形状:能够测量样品表面的2D形状或翘曲,如在半导体晶圆制造过程中,因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化,或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1)自定义测量模式:支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式;2)导航图智能测量模式:支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3)SPC统计分析:支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析,针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机,可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示,进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能CP系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。针对测量ITO导电薄膜的应用场景,CP系列台阶仪接触式表面形貌测量仪器提供如下便捷功能:1)结合了360°旋转台的全电动载物台,能够快速定位到测量标志位;2)对于批量样件,提供自定义多区域测量功能,实现一键多点位测量;3)提供SPC统计分析功能,直观分析测量数值变化趋势;产品特点1.出色的重复性和再现性,满足被测件测量精度要求线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。2.超微力恒力传感器:(1-50)mg可调测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,提高扫描精度,真实反映工件微小形貌。4.顶视光学导航系统,5MP超高分辨率彩色相机5.全自动XY载物台, Z轴自动升降、360°全自动θ转台6.强大的数据采集和分析系统台阶仪软件包含多个模块,为对不同被测件的高度测量及分析评价提供充分支持。部分技术指标型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量,LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm(6吋),200mm(8吋)台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时(测量1μm台阶高度,1δ)尺寸(L×W×H)mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC,50/60 Hz,200W使用环境相对湿度:湿度 (无凝结)30-40% RH温度:16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动:6.35μm/s(1-100Hz)音频噪音:≤80dB空气层流:≤0.508 m/s(向下流动)恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 中图仪器Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪采用大理石主体机台和精密伺服控制系统,将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合,充分发挥了光学电动变倍镜头的高精度优势,智能化和自动化程度高,使测量变得简单。它可以自动抓取数据点,测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征,自动分析测量特征的各种参数,如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪特点是可以自动抓取产品的边界和表面,尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下,测量效率更高。测量功能1.量测工具:扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量: 点、线、圆(圆心坐标、半径、直径)、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征:交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差:直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系:仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系;图像配准坐标系;可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具:R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪具备多种测量功能,包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能,可实现3D扫描成像和空间测量;点激光线扫描功能,可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。Novator还支持频闪照明和飞拍功能,可进行高速测量,大幅提升测量效率;具有可独立升降和可更换RGB光源,可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台,稳定性好,精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统,超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测,实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量,进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像,可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量,无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源,支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量,测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能,发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光,适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降,更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量,批量更快1.程序匹配工件坐标系,自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入,坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下,可快速精确地进行批量测量。操作简单,轻松无忧1.具备大幅面导航相机,快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能,轻松无忧。3.一体化操作界面,任何人都能轻松设定和测量。应用领域Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器(1920×1080)放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明(绿色)表面光6环8分区分割照明(白光);选配,可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配,(1)接触式探针;(2)白光共焦;(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 货期:现货 品牌:北斗仪器 型号:CA100产地:广东东莞 名称:标准型光学接触角测量仪 接触角(Contact angle)是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线,此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ,是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。设备采用全自动进液装置,性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求,目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃(包括塑料或金属等固体)表面润湿性研究等。在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域,接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。ASTM D 1173/评价表面活性剂发泡性能的标准测试方法(罗氏泡沫分析法)ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM 724 / 纸表面润湿性的标准方法(接触角法)ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法ASTM D 971 / 用环法测试油对水的界面张力的标准方法ASTM D 1331 / 表面活性剂溶液表面张力和界面张力的标准测试方法ASTM D 1417 / 测试合成橡胶胶乳的标准方法ASTM D 1590 / 水表面张力的标准测试方法DIN 53914 / 表面活性剂测试 – 测定表面张力DIN 55660 / 色漆和清漆 - 润湿性评价DIN EN 14210 / 表面活性剂 – 用镫法或环法测定表面活性剂溶液的表面张力DIN EN 14370 / 表面活性剂 - 表面张力的测定DIN 14272 / 泡沫化合物德标 - 适用于消防用低膨胀水性成膜泡沫化合物ISO 1409 / 塑料/橡胶-聚合物分散体和橡胶胶乳(天然和合成)-表面张力的环法测定ISO 4311/阴离子和非离子表面活性剂-临界胶束浓度的测定ISO 6295 / 油水界面张力的测定型号CA100标准型光学接触角测量仪 三维平台左右X移动手动:行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动:行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动:行程40mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整,摄像头水平调整(配送专业级XY水平仪)样品台尺寸120*150mm(可定制)可放置最大样品200(W)*∞(L)*50(H)mm样品台材质铝合金进液系统微量进样器XY移动行程:100mm,精度0.1mm(针头对中及液滴转移)进液控制移动行程:25mm,精度:0.01mm滴液控制模式手动,精度:0.1ul加液方式手动(配送5ml玻璃烧杯加液)微量进样器容量:1000ul(标配一支,备品一支)针头标配0.5mm不锈钢针头(可替换)20个、超疏水针头0.25mm(可替换)20个成像系统镜头Subpixel级别0.7-4.5远心轮廓深度定制镜头相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280× 1024镜头控制仰视角度:±10度,精度:1度调焦移动行程:0-10mm,精度1mm。帧率80帧/s(可选配全局曝光高速400帧/s的相机)光源系统组合方式采用石英扩散膜与均光板使得亮度更均匀,液滴轮廓更清晰光源采用进口CCS工业级蓝色冷光源(有效避免因光源散发热量蒸发液滴),使用寿命可达5万小时以上亮度调节PWM数字调节光源波长460-465nm功率10W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法、前进角、后退角、滚动角、薄膜法等测量软件CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法(static contact angle)自动拟合法(ms级别一键全自动拟合,不存在人工误差)、三点拟合、五点拟合、自动测量(包括圆拟合法/斜圆拟合法(Circle method/ Oblique Circle)、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse))、凹凸面测量等动态接触角测量(Dynamic contact angle)前进角(Advancing angle),后退角(receding angle),滞后角(hysteresis angle),滚动角(选配)(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°<θ<180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法,OWRK法,Zisman法,EOS法,Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法(软件中预装37种液体数据库,可自行建立液体性能参数)数据可直接调入用于表面能估算,液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位MN/m其他机架型材欧标160输入电源220V 50-60Hz仪器尺寸约640mm(W)*180mm(L)* 530mm(H)仪器重量约30KG表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01MN/m测量范围0.1MN/m-2000MN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 MN/m单位MN/m配件选配件纸片夹具、温控平台(高温、低温、高低温、湿度)、旋转台(滚动角)、蠕动泵等。设备选配件众所皆知,软件是一台仪器的灵魂所在,组成系统的硬件虽为测量提供了基础,但只有在软件的支持下,才能完美地实现硬件的功能,充分发挥其潜力,使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用,经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合,已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统(行业内极少),在对以后软件升级,新标准更换的时候起到一个很大的优势。软件主界面图版权声明:广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA V1.2.1软件的所有知识产权,本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护,未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁,并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械:系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理,所有的其它主要组件也都是由铝合金,不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位:系统所有的线性移动单元,包括三维样品台(xy-轴),(Z-轴)注射器/针头的移动调节,均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动,确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择:提供数十种不同规格的进样器供使用者选择,如不同规格(25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….),不同材质(气密玻璃进样器/塑料进样器),不同品牌(Hamilton/boli….)以满足不同客户需求。提供各种规格(10-34#)以及不同材质(不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头)以及特殊针头(弯曲针头),可用于常规接触角测量,也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统:采用了行曝光(Rolling Shutter)高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴,即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 :软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA V1.2.1软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ,而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ,测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 ( sub-pixel) 液 滴 坐标 检 测 ,自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 , 液 滴 全 轮 廓 分析 ,和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 , 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能,分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.软件自动生成报告,其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能,可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统,权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.具备双边接触角测量快速拟合功能,更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况;10.动态拍摄、视频快速测试数据,可以连续性记录测试接触角的变化,再由软件自动批量拟合;11.具备历史数据库功能,记录每一次的测试结果,可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个2.连续变倍光学系统 1个3.手动加样系统 1套4.手动CCD倾斜系统 1套5.表界面分析测量系统应用软件 1套6.说明书纸质一份及说明书电子版 1份7.保修卡及合格证1份8.亲水进样针10个,疏水进样针10个9.1ml进样器1个10.电源线及数据线1条11.XY专用水平仪1个(电脑为选配件 客户可以自配)物料名称品牌物料名称品牌CPU英特尔i3处理器鼠标键盘力拓主板 英特尔 H61主板机箱金和田内存华硕8G DDR3 1600电源长城硬盘七彩虹 250G显示器HUYINIUDA 19寸
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  • 精确、快速、便携应用领域:金属,复合材料,织物等材质表面的划痕,裂纹,磨损,刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析;铆接,焊接,接缝等阶差和凹凸量的三维检测;三维面粗糙度测量分析;划窝孔,槽深,圆弧,倒角等几何尺寸测量; 测量原理:德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪,用于现场表面质量特性的检测,具有测量速度快,测量准确,便携性等优点。 仪器特点:便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数;三维测量表面划痕缺陷,通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位;专业的划痕测量分析软件,多种滤波方式:包含了多项式滤波,高斯滤波,均值滤波等,有效消除曲面轮廓,倾斜,噪音信号,毛刺,灰尘等因素对测量结果的影响;大倾角光路设计,以及蓝光LED光源,测量不受高反光曲面的影响;SDK软件包,开放仪器接口,可二次开发;仪器附件 测量范围X/Y/Z:13X8X5 mm测量示值误差: (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力:1um聚焦距离: 107mm测量扫描时间: 3秒;扫描点云:36万点/幅使用环境温度:5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源
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  • 仪器简介:XH-3206便携式&alpha &beta 表面污染测量仪采用闪烁探测法。用来检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受&alpha 或&beta 放射性污染的程度。 本仪表为液晶显示小型可携仪表,仪器显示测量结果时发出音响讯号。液晶显示高压值和电池欠压提示。电路采用微分测量法,可将入射的&alpha 放射性对&beta 污染测量的影响减小到最小程度。技术参数:定时:1&mdash 60秒连续可调 显示单位:CPS、Bq 和 Bq/cm2 测量范围:0~9999CPS 测量面积:50cm2 探测效率:E&beta &ge 30% (2л,&Phi 50,239Pu面源) 本底&le 3cps 活度响应7S-1/Bq/cm-2 E&alpha &ge 30% (2л,&Phi 50,90Sr-90Y面源) 本底&le 2cpm 活度响应7S-1/Bq/cm-2 相对固有误差:&le ± 20% 工作条件:使用环境温度-10℃-+40℃;使用环境相对湿度&le 90%主要特点:1、&alpha 、&beta 测量公用一个探头,通过键盘进行&alpha 、&beta 测量转换。 2、测量方式可分为连续测量和单步测量。 3、大面积液晶数字显示 4、高压为500~1200V连续可调, 5、探头与仪表之间传送距离1--10米(标配电缆1.5米),可选配一根1-3米的伸缩杆,以便测量不方便到达的地方。 6、体积小、质量轻、易去污,能够适应现场及实验室环境条件 7、采用可充电电池或5号电池,一次能连续使用12h以上。 8、重量小于0.9Kg
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