比较出名测试仪

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标 系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps… … 33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

交联透明质酸钠凝胶推挤力测试仪用途交联透明质酸钠凝胶推挤力测试仪主要用于测量交联透明质酸钠凝胶材料的推挤力。交联透明质酸钠凝胶是一种常用于医疗美容领域的材料，常用于填充皮肤组织或注射到特定部位以改善皮肤外观或填充细纹、皱纹等。推挤力测试仪可以通过施加力量和测量凝胶材料的响应来评估其推挤特性。该仪器通常包含一个可调节的压力系统和一个测量装置，用于记录材料在不同推挤力下的变形情况。通过推挤力测试，可以评估交联透明质酸钠凝胶的流变性能、稳定性和变形行为。这对于研究凝胶材料的性能、优化产品配方、确保产品质量以及指导使用方法都具有重要意义。此外，推挤力测试还可以用于与其他类型的凝胶材料进行比较和评估，以选择适用于特定应用的最佳凝胶材料。执行标准《YY/T 0962-2021 整形手术用交联透明质酸钠凝胶》技术参数控制系统：PLC 操作界面：彩色7寸触摸屏，中英文切换；测试行程：0-200MM可选择其他量程；高精度电机驱动，精度0.1MM；测试速度：30mm/min出厂参数，设计速度0-100mm/MIN 触摸屏显示曲线图；选配项：Windows工控机或者台式电脑；专业夹具1套，不锈钢制作；优点准确度：推挤力测试仪能够提供精确的力量施加和测量功能，可以准确地测量凝胶材料在不同推挤力下的变形情况，提供可靠的数据。可重复性：测试仪可以确保测试过程的一致性和可重复性，消除人为因素对测试结果的影响，使得不同实验之间的比较更加可靠。高效性：推挤力测试仪能够快速进行测试，提高测试效率。它可以在较短的时间内完成多个样品的测试，节约时间和人力成本。多功能性：推挤力测试仪通常具有多种测试模式和功能，可以根据需要进行不同类型的测试。例如，可以进行持续推挤测试、循环推挤测试或不同速度下的推挤测试，以获取更全面的数据。数据分析：测试仪通常配备数据分析软件，可以对测试结果进行处理和分析。这样可以更好地理解凝胶材料的推挤特性，评估其性能，并为产品研发和改进提供科学依据。

美国sinton少子寿命测试仪WCT-120，Suns-VocSinton instruments 少子寿命测试仪 硅片少子寿命测试系统 wct-120硅片少子寿命测试系统 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术，包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线，与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术，包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的必备检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开路电压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化。 主要应用：分布监控和优化制造工艺 其它应用： 检测原始硅片的性能 测试过程硅片的重金属污染状况 评价表面钝化和发射极扩散掺杂的好坏 用得到的类似IV的开压曲线来评价生产过程中由生产环节造成的漏电。 主要特点： 只要轻轻一点就能实现硅片的关键性能测试，包括表面电阻，少子寿命，陷阱密度，发射极饱和电流密度和隐含电压。少子寿命测试仪 硅片少子寿命测试系统 wct-120 常见问题：美国Sinton WCT-120与WT-2000测少子寿命的差异？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC）准稳态光电导衰减法，而WT2000是微波光电导衰减法。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）准稳态光电导衰减法（QSSPC）和微波光电导衰减法（MWPCD）的比较？ QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量，同时可以结合 SRH模型，得出各种复合寿命，如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号，而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值，MWPCD在加偏置光的情况下，结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线，而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度，因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线，并且得到PN结的暗饱和电流密度；MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个，甚至更小的尺寸，在照射过程中，只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子，也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值，这对于寿命分布不均匀的样品来说，结果并不具备代表性。 少子寿命测试仪性能参数：1. 测量原理：QSSPC（准稳态光电导）； 2. 少子寿命测量范围：100 ns-10 ms；3. 测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；4. 电阻率测量范围：3–600 (undoped) Ohms/sq.；5. 注入范围：1013-1016cm-3；6. 感测器范围：直径40-mm；7. 测量样品规格：标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；8. 硅片厚度范围：10–2000 μm；9. 外界环境温度：20°C–25°C；10. 功率要求：测试仪： 40 W ， 电脑控制器：200W ，光源：60W；11. 通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz； 晶体硅硅片、规定以及工艺过程中lifetime测试技术晶体硅太阳能电池少子寿命测试方法 少数载流子寿命（Minority carriers life time）： （1）基本概念： 载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子（因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来，多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了），所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命，即少数载流子寿命。例如，对n型半导体，非平衡载流子寿命也就是指的是非平衡空穴的寿命。 对n型半导体，其中非平衡少数载流子——空穴的寿命τ，也就是空穴的平均生存时间，1/τ就是单位时间内空穴的复合几率，Δp/τ称为非平衡空穴的复合率 (即n型半导体中单位时间、单位体积内、净复合消失的电子-空穴对的数目)；非平衡载流子空穴的浓度随时间的变化率为dΔp /dt =－Δp /τp, 如果τp与Δp 无关, 则Δp 有指数衰减规律：Δp = (Δp) exp( -t/τp ) 。 实验表明, 在小注入条件 (Δp。应当注意的是，只有在小注入时非平衡载流子寿命才为常数，净复合率才可表示为－Δp/τp；并且在小注入下稳定状态的寿命才等于瞬态的寿命。 （2）决定寿命的有关因素： 不同半导体中影响少数载流子寿命长短的因素，主要是载流子的复合机理（直接复合、间接复合、表面复合、Auger复合等）及其相关的问题。对于Si、Ge等间接跃迁的半导体，因为导带底与价带顶不在Brillouin区的同一点，故导带电子与价带空穴的直接复合比较困难（需要有声子等的帮助才能实现——因为要满足载流子复合的动量守恒），则决定少数载流子寿命的主要因素是通过复合中心的间接复合过程。从而，半导体中有害杂质和缺陷所造成的复合中心（种类和数量）对于这些半导体少数载流子寿命的影响极大。所以，为了增长少数载流子寿命，就应该去除有害的杂质和缺陷；相反，若要减短少数载流子寿命，就可以加入一些能够产生复合中心的杂质或缺陷（例如掺入Au、Pt，或者采用高能粒子束轰击等）。对于GaAs等直接跃迁的半导体，因为导带底与价带顶都在Brillouin区的同一点，故决定少数载流子寿命的主要因素就是导带电子与价带空穴的直接复合过程。因此，这种半导体的少数载流子寿命一般都比较短。当然，有害的杂质和缺陷将有更进一步促进复合、减短寿命的作用。 （3）少数载流子寿命对半导体器件的影响： 对于主要是依靠少数载流子输运（扩散为主）来工作的双极型半导体器件，少数载流子寿命是一个直接影响到器件性能的重要参量。这时，常常采用的一个相关参量就是少数载流子扩散长度L（等于扩散系数与寿命之乘积的平方根），L即表征少数载流子一边扩散、一边复合所能够走过的平均距离。少数载流子寿命越长，扩散长度就越大。 对于BJT，为了保证少数载流子在基区的复合尽量少（以获得很大的电流放大系数），则必须把基区宽度缩短到少数载流子的扩散长度以下。因此，要求基区的少数载流子寿命越长越好。 　少子浓度主要由本征激发决定，所以受温度影响较大。 简介：少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。 少子，即少数载流子，是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数，导电中起到次要作用，则称它为少子。如，在 N型半导体中,空穴是少数载流子，电子是多数载流子；在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。 多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子，当它顶替晶格中的四价硅原子时，每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合，而余下的一个就不受共价键束缚，它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子，因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子，尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子，但它束缚在晶格中，不能象载流子那样起导电作用。这样，与本征激发浓度相比，N型半导体中自由电子浓度大大增加了，而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大，其浓度反而更小了 少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。 少子是因电子脱离的原子,多子因电子加入而形成的原子. 少子寿命Life Time即少子形成到少子与多子结合的时间.

过滤材料触摸屏完整性测试仪将完整性测试仪的“进气”端口与气源（氮气或压缩空气）相连接，“出气”端口与过滤器的进液口用气管相连接。检查滤器及其连接的密闭性，应不存在漏气或泄漏。过滤材料触摸屏完整性测试仪在进入各个主要测试界面前，如“基本泡点测试设置”前，增加了批号输入界面，在该界面，可输入小于 11 位的测试序号，按“设置”键，可以输入英文字符，把光标用左右键头移到所需字符处，按“确定”键完成输入一个字符，反复操作可输入多个字符， 完成后，按“确定”键进入所要进入的测试设置页面。过滤材料触摸屏完整性测试仪当光标在“起测压力”项时，输入扩散流的起测压力，这样仪器就会从该压力点开始扩散流的测量。过滤材料触摸屏完整性测试仪在仪器使用过程中，由于很多不可预测的原因可能会出现故障，出现下列现象时可以按我们提供的方法排除故障，出现其它现象或下列办法不能排除的故障时， 请与我们联系。故障一： 显示屏空白或出现乱码。故障原因：1） 测试环境低于 -10 ℃； 2） 偶发的故障； 解决方法：1） 将测试环境转移到 0～40℃ 的环境中； 2） 若故障发生在滤芯的测试过程中，需连续按“取消”键两次，就可恢复正常显示 ；若故障发生在待机状态，则只需关机等待 5 秒后，重新启动即可；过滤材料触摸屏完整性测试仪泡点测试是基于液体在过滤膜孔中存在的表面张力和毛细管现象原理的一种非破坏性的测试方法； 是检测滤膜是否完整并符合要求最重要的方法。滤膜被完全、充分浸润后，处于气相中的气体要将吸附、封堵于毛细管壁里的液体推出，需要克服一定的液体表面张力，此张力与毛细管孔物理性状、液体- 膜材料的浸润角和气体压力的关系式为：R = 2k δ cos θ/∆ p其中： R —— δ—— θ—— ∆ p——K ——微孔半径；液体表面张力系数；液体-滤膜材料的浸润角；气体作用在毛细管孔上的净压力；孔型修正系数 。 上述表达式表明： 孔径愈小，被压缩空气通过而产生的第一个气泡所需的压 力愈高，通过最大孔道所需的压力值最小，称为该膜的起泡点。据此可以分析平 板滤膜、柱式滤芯膜的最大孔径值。具体扩散流测定，一般推荐使用泡点值的 80%左右为扩散流测定压力起始值， 在该区段内的扩散流值的信号，是经过放大、校验转换的压力衰减信号，能比较 敏感地反映出滤膜毛细孔两侧气-液相的完整性情况。 在测试压力衰减不明显或 衰减早期，拐点不易被发现的情况下，使用扩散流指标比较可靠。尤其对于 PES 等非对称性膜的测定，相对灵敏度与可靠性比较高。压力保持法也被称为压力衰减测试。在测试过程中，用一个高精度压力表或 高精度压力传感器来监控上游因为泄露或通过过滤器产生的气体扩散导致的压力 变化。该测试主要有两个用途：1.用来测量过滤系统的密封性；2.检测过滤器的完整性。在稍早版本的机器上，还没有采用专用于测定上游体积的装置与程序，无法 实现实时、精确地测定滤器绝对上游体积的功能，故无法直接求算出扩散流数值。一般通过测定滤器的压力衰减也可以近似替代扩散流测试方法。经过一定的时间，测量此衰减值即可判断过滤器的完整性。计算公式如下： ∆ p = D T Pa / V不过由于基础理论与传感器硬件的限制以及删减了温度补偿、体积校验补偿 等功能，测试数据的可靠性与灵敏度有相当大的损失。

荧光寿命测试仪（Quantaurus&mdash Tau）Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. 应用领域荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。参数特性利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试时间分辨率优于50ps可以测试低温液体样品（-196℃）荧光各向异性时间分辨测试荧光至磷光寿命测试集成化设计，简便化操作，性能稳定产品原理从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。

仪器简介：少子寿命测试仪性能参数： 测量原理 QSSPC（准稳态光电导）少子寿命测量范围 100 ns-10 ms测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq.注入范围：1013-1016cm-3感测器范围 直径40-mm测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm （或更小尺寸）硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m外界环境温度 20° C&ndash 25° C功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器：200W 光源：60W通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz主要特点:　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm　　全自动操作及数据处理　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭　　可以选择测试样品上任意位置　　能提供专利的表面化学钝化处理方法　　对各道工序的样品均可进行质量监控：　　硅棒、切片的出厂、进厂检查　　扩散后的硅片　　表面镀膜后的硅片以及成品电池少子寿命测试仪Best available calibrated measurement of carrier recombination lifetime. Widely used for both monocrystalline and multicrystalline wafers.Product OverviewWCT testers showcase our unique measurement and analysis techniques, including the highly regarded Quasi-Steady-State Photoconductance (QSSPC) lifetime measurement method developed by Sinton Instruments in 1994.The QSSPC technique is ideal for monitoring multicrystalline wafers, dopant diffusions, and low-lifetime samples. This method complements the use of the transient photoconductance technique that is also standard on this instrument.The QSSPC lifetime measurement also yields the implied open-circuit voltage (versus illumination) curve, which is comparable to an I-V curve at each stage of a solar cell process.WCT System CapabilitiesPrimary application:Step-by-step monitoring and optimization of a fabrication process.Other applications:　Sinton Instruments' analysis yields a calibrated carrier injection level for each wafer, so you can interpret lifetime data in a physically precise way. Specific parameters of interest are displayed and logged for each measurement.&bull Monitoring initial material quality&bull Detecting heavy metals contamination during wafer processing&bull Evaluating surface passivation and emitter dopant diffusion&bull Evaluating process-induced shunting using the implied I-V measurementFurther Information技术参数：FAQ:&bull What is the recombination lifetime?&bull How does the solar cell efficiency depend on the lifetime?&bull What determines the lifetime in silicon?&bull How is lifetime measured by the Sinton Instruments tools?&bull How is the data analyzed?&bull Can you measure surface recombination velocity?&bull Does the system measure emitter saturation current density?&bull Can wafers be measured with no surface passivation (&ldquo out of the box&rdquo )?&bull Can any of these instruments do lifetime maps?&bull How do these measurements compare to microwave PCD?&bull What lifetimes can be measured?&bull What is the smallest sample size?&bull How do you measure bulk lifetime on blocks or ingots?&bull At what carrier density should I report the result?&bull Can the lifetime tester be used to detect Fe contamination?&bull How is the instrument calibrated?&bull When should wafers be tested inline?&bull Does the lifetime tester measure the trapping?　Module and Cell Flash Testers frequently asked questions主要特点：常见问题：WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）而WT2000是微波光电导。WCT-120/100准稳态光电导法测少子寿命的原理？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）

锁体寿命测试仪概述：锁体寿命测试仪专为检测模拟锁具的锁体而使用寿命而设计，可以适应多种锁具的检测，采用人性化的PLC+人机界面操作简单等优点。用户可以根据自己的需要和标准要求，直接在操作屏幕上面输入旋转角度寿命次数等参数，达到设定次数后机器自动停机。通过旋转锁体方条带动锁体机械部件运动。一、试验工位：2个锁体测试工位；二、专业生产控制方式：触摸屏加PLC程序控制；三、 测试zui大角度：0度到720度之内任意设定；四、 测试次数：0-999999内设定；五、 测试速度：0-60分每秒可调；六、 旋转空间：电机旋转中心到平台高度保证100mm以上 七、 台面材质：纯铝氧化处理八、 固定治具：可调式固定治具（根据客户产品订做） 九、工作电源：AC220V、50HZ 十、设备能测试寿命至10万次 Delta德尔塔仪器作为智能门锁专业检测设备供应商，所生产的智能门锁设备已经成功应用到多家专业测试机构和知名生产厂家，第三方检测机构例如：贵州省产品质量监督检验院、浙江省家具与五金研究所、广州质量监督检测研究院、广东产品质量监督检验研究院、杭州市质量技术监督检测院，知名企业例如：广东名门锁业、三环锁业、广东樱雪电器、力维智能锁业、深圳凯迪仕等生产厂家品质研发部，深受客户好评。 Delta德尔塔仪器专注于智能门锁符合标准的电气性能、防盗安全性能、耐久性检验、气候环境适应性、机械环境适应性、电磁兼容性、电气安全性、密钥量等等的检测设备的定制和研发。产品有：智能门锁耐用度试验机|智能门锁寿命耐久性试验机|智能门锁疲劳寿命试验机|锁芯耐用度试验机|智能门锁把手耐久试验机|智能门锁综合性能试验机|智能门锁老化试验机|智能门锁静压拉力试验机等仪器设备。

ChemInstruments的PolykenTM Probe Tack Tester/ PT-1000探针初粘力测试仪它很容易来衡量压力粘合剂的粘性。PolykenTM Probe Tack Tester探针初粘力测试仪符合在ASTM D2979的设置列的标准，机械速度为24ipm（61 CPM），探头直径为5毫米，一个环形承受9.79 ±0.10千帕力。自动测试周期产生一个1秒的停留时间从刚开始接触到接触结束。特点：结构坚固，能够在恶劣的生产环境中使用单速运动可保证一致的和可重复的测试简易的样品设置使得探伤既快捷和一致的的主机包含5磅拉力传感器简单的一键式操作，快速方便地获得数据工作温度范围为32° - 150°F（0° - 70°C）能够独立操作并集成的数字显示完整的数据管理，数据可以被下载到EZ-Lab软件上精确度到传感器的±0.1％可拉至5磅（2.3公斤）标准输入电压220 VAC（50/60HZ）数据采集系统ChemInstruments电子数据采集系统是一个最先进的微处理器控制的力测量软件包，它把准确性与操作简单性结合起来。该系统可同时控制测试运动，读取测试力，数字显示及图表并将数据储存在内存中。在测试过程中可记录每秒400个数据点测试完成后，立即显示平均、最高、最低测量力及行驶距离的结果试验数据储存功能将有助于试验数据的比较及分析EZ-Lab软件可通过RS-232导出数据至其它电脑显示测试值如克、千克、盎司、磅或牛顿（可在软件上选择）EZ-Lab的兼容遥控设置，操作控制和增强的数据收集都可以加上我们的EZ-Lab的数据管理软件，此应用程序需要和电脑连接。 PT-1000探针初粘力测试仪适用规范：一些比较流行的测试方法，该装置能够执行。ASTM：D 2979其他选购品：EZ-Lab的数据管理软件定制探头（直径和材料）自定义环（质量和材料）

办公椅旋转耐久性测试仪椅子底座疲劳旋转寿命试验机是用于评估椅子底座在旋转过程中的耐久性和可靠性的设备。这种试验机主要用于模拟椅子底座在日常使用中的旋转情况，以评估其结构强度、连接件的可靠性和使用寿命。椅子底座疲劳旋转寿命试验机通常具有以下特点和功能：旋转设计：试验机能够模拟椅子底座在旋转方向上的运动，以再现真实使用条件下的旋转情况。通过连续或间断的旋转操作，可以评估底座的结构强度和材料的耐久性。施加负载：试验机可以施加负载到椅子底座上，模拟用户在不同位置和姿势下的使用情况。通过施加适当的负载，并进行长时间的旋转操作，可以评估底座的稳定性、连接件的可靠性以及材料的疲劳性能。自动化控制：试验机通常配备先进的控制系统，能够实现自动化操作和数据采集。这使得试验过程更加准确和可重复，并能够记录和分析底座的性能数据。使用椅子底座疲劳旋转寿命试验机可以帮助椅子制造商和设计师评估产品在长时间使用中的性能表现，从而优化设计、材料选择和生产工艺。这有助于提高椅子底座的耐久性、稳定性和用户满意度，确保产品符合相关标准和要求。在国内，椅子底座疲劳旋转寿命试验通常基于以下标准之一或其组合：ISO 7173：办公家具-椅子-底座的力学强度和稳定性的测试方法。GB/T 10357.2-2013：办公家具-椅子-力学测试方法。在进行办公椅旋转耐久性测试仪椅子底座疲劳旋转寿命试验机时，需要注意以下事项：安全操作：确保在试验过程中采取必要的安全措施，包括佩戴个人防护装备、遵循设备操作规程以及正确使用安全装置和设备。试验样品选择：选择符合要求的椅子底座样品进行测试，确保其代表产品的典型性能。样品应符合相关标准和要求，并具有合适的尺寸、材料和制造工艺。施加负载：根据产品的设计标准和实际使用情况，确定适当的负载条件。负载应与实际使用者的体重范围相匹配，以模拟真实的使用情况。试验参数设置：根据相关标准和要求，设置适当的试验参数，例如旋转速度、旋转周期、旋转角度等。确保试验参数的准确性和一致性，并记录所有相关的试验参数和条件。数据采集与记录：使用试验机提供的自动化控制系统，准确地采集和记录试验过程中的数据，例如旋转次数、载荷值、变形情况等。这有助于评估底座的性能，并提供客观的结果和分析。试验环境控制：在进行试验时，确保试验环境的温度、湿度和噪音等因素符合相关标准和要求。这有助于确保试验结果的准确性和可比性。结果分析与评估：根据试验结果进行数据分析和性能评估。比较样品的实际性能与标准或要求的要求，评估其是否达到预期的寿命和耐久性。维护与校准：定期对椅子底座旋转寿命试验机进行维护和校准，确保设备的正常运行和测试结果的准确性。

美国sinton少子寿命测试仪WCT-120，Suns-VocSinton instruments 少子寿命测试仪 硅片少子寿命测试系统 wct-120硅片少子寿命测试系统 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术，包括类似平稳状态photoconductance (QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况。WCT一个高度被看待的研究和过程工具。QSSPC终身测量也产生含蓄的打开电路电压(对照明)曲线，与最后的I-V曲线是可比较的在一个太阳能电池过程的每个阶段。 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术，包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的必备检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开路电压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化。 主要应用：分布监控和优化制造工艺 其它应用： 检测原始硅片的性能 测试过程硅片的重金属污染状况 评价表面钝化和发射极扩散掺杂的好坏 用得到的类似IV的开压曲线来评价生产过程中由生产环节造成的漏电。 主要特点： 只要轻轻一点就能实现硅片的关键性能测试，包括表面电阻，少子寿命，陷阱密度，发射极饱和电流密度和隐含电压。少子寿命测试仪 硅片少子寿命测试系统 wct-120 常见问题：美国Sinton WCT-120与WT-2000测少子寿命的差异？WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC）准稳态光电导衰减法，而WT2000是微波光电导衰减法。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）准稳态光电导衰减法（QSSPC）和微波光电导衰减法（MWPCD）的比较？ QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量，同时可以结合 SRH模型，得出各种复合寿命，如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号，而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值，MWPCD在加偏置光的情况下，结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线，而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度，因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线，并且得到PN结的暗饱和电流密度；MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个，甚至更小的尺寸，在照射过程中，只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子，也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值，这对于寿命分布不均匀的样品来说，结果并不具备代表性。 少子寿命测试仪性能参数：1. 测量原理：QSSPC（准稳态光电导）； 2. 少子寿命测量范围：100 ns-10 ms；3. 测试模式：QSSPC，瞬态，寿命归一化分析；4. 电阻率测量范围：3–600 (undoped) Ohms/sq.；5. 注入范围：1013-1016cm-3；6. 感测器范围：直径40-mm；7. 测量样品规格：标准直径: 40–210 mm （或更小尺寸）；8. 硅片厚度范围：10–2000 μm；9. 外界环境温度：20°C–25°C；10. 功率要求：测试仪： 40 W ， 电脑控制器：200W ，光源：60W；11. 通用电源电压：100–240 VAC 50/60 Hz； 晶体硅硅片、规定以及工艺过程中lifetime测试技术晶体硅太阳能电池少子寿命测试方法 少数载流子寿命（Minority carriers life time）： （1）基本概念： 载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子（因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来，多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了），所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命，即少数载流子寿命。例如，对n型半导体，非平衡载流子寿命也就是指的是非平衡空穴的寿命。 对n型半导体，其中非平衡少数载流子——空穴的寿命τ，也就是空穴的平均生存时间，1/τ就是单位时间内空穴的复合几率，Δp/τ称为非平衡空穴的复合率 (即n型半导体中单位时间、单位体积内、净复合消失的电子-空穴对的数目)；非平衡载流子空穴的浓度随时间的变化率为dΔp /dt =－Δp /τp, 如果τp与Δp 无关, 则Δp 有指数衰减规律：Δp = (Δp) exp( -t/τp ) 。 实验表明, 在小注入条件 (Δp。应当注意的是，只有在小注入时非平衡载流子寿命才为常数，净复合率才可表示为－Δp/τp；并且在小注入下稳定状态的寿命才等于瞬态的寿命。 （2）决定寿命的有关因素： 不同半导体中影响少数载流子寿命长短的因素，主要是载流子的复合机理（直接复合、间接复合、表面复合、Auger复合等）及其相关的问题。对于Si、Ge等间接跃迁的半导体，因为导带底与价带顶不在Brillouin区的同一点，故导带电子与价带空穴的直接复合比较困难（需要有声子等的帮助才能实现——因为要满足载流子复合的动量守恒），则决定少数载流子寿命的主要因素是通过复合中心的间接复合过程。从而，半导体中有害杂质和缺陷所造成的复合中心（种类和数量）对于这些半导体少数载流子寿命的影响极大。所以，为了增长少数载流子寿命，就应该去除有害的杂质和缺陷；相反，若要减短少数载流子寿命，就可以加入一些能够产生复合中心的杂质或缺陷（例如掺入Au、Pt，或者采用高能粒子束轰击等）。对于GaAs等直接跃迁的半导体，因为导带底与价带顶都在Brillouin区的同一点，故决定少数载流子寿命的主要因素就是导带电子与价带空穴的直接复合过程。因此，这种半导体的少数载流子寿命一般都比较短。当然，有害的杂质和缺陷将有更进一步促进复合、减短寿命的作用。 （3）少数载流子寿命对半导体器件的影响： 对于主要是依靠少数载流子输运（扩散为主）来工作的双极型半导体器件，少数载流子寿命是一个直接影响到器件性能的重要参量。这时，常常采用的一个相关参量就是少数载流子扩散长度L（等于扩散系数与寿命之乘积的平方根），L即表征少数载流子一边扩散、一边复合所能够走过的平均距离。少数载流子寿命越长，扩散长度就越大。 对于BJT，为了保证少数载流子在基区的复合尽量少（以获得很大的电流放大系数），则必须把基区宽度缩短到少数载流子的扩散长度以下。因此，要求基区的少数载流子寿命越长越好。 　少子浓度主要由本征激发决定，所以受温度影响较大。 简介：少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。 少子，即少数载流子，是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数，导电中起到次要作用，则称它为少子。如，在 N型半导体中,空穴是少数载流子，电子是多数载流子；在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。 多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子，当它顶替晶格中的四价硅原子时，每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合，而余下的一个就不受共价键束缚，它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子，因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子，尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子，但它束缚在晶格中，不能象载流子那样起导电作用。这样，与本征激发浓度相比，N型半导体中自由电子浓度大大增加了，而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大，其浓度反而更小了 少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。 少子是因电子脱离的原子,多子因电子加入而形成的原子. 少子寿命Life Time即少子形成到少子与多子结合的时间.

Loop TackQuickly and efficiently determine the tack or "grab" of an adhesive with the ChemInstruments Loop Tack Tester. This compact tack testing machine meets the ASTM and TLMI specification.美国ChemInstruments 公司研制的 LT-1000环型带初粘测试仪设计精小紧凑, 试验者将由其快速有效地测试出粘结剂的初粘性能. 该机符合欧美的ASTM, TLMI 及 FINAT测试标准.仪器特点：标准环型带初粘测试, 可一次性测试或存储20个试样；10 磅 (4.5 Kg) 压力传感器可用于测试不同种类的粘结剂；试验数据可由EZ-Lab 软件系统处理及储存；精确度为压力传感器的 ± 0.1%；操作温度 0℃ 到70 ℃。数据采集及处理系统:EZ-Lab编辑软件系统集精确即时及操作简便等功能为一体,既能用于数字及图表显示,又有数据储存之用.显示器将显示测试加力的平均值, 最大值及最小值；最大储存量为20个独立试验数据,此功能将有助于试验数据的比较及分析；读数单位可选择克, 公斤, 盎司, 磅或牛顿；数据记录速度为 400 点/秒；EZ-Lab软件系统具有兼容功能。测试仪器的试验附件系列10片TP-16不锈钢试板, 尺寸为1吋 x 6吋 (5 cm x 15 cm)；1 把 SC-100 试样切刀, 可制备 1吋宽的试样。尺寸：高 16吋(41 公分）宽 12吋(31 公分）深 15吋(38 公分)重 37磅(17 公斤）

一、弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪介绍： 本弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪主要用于各种螺旋弹簧、碟形簧和减震器、密封件弹簧等的疲劳寿命试验。广泛应用于弹簧、减震器生产、应用等行业。二、弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪技术参数：1、 规格：QJ211S2、 精度等级： 0.5级3、 负荷：10KN (10KN以内力值任意换)4、 有效测力范围：0.2/100-100% 5、 试验力分辨率，负荷50万码；内外不分档，且全程分辨率不变。6、 有效试验宽度：320mm7、 有效试验空间：500mm8、 试验速度:：0.01~50000mm/min(标准为300mm/min)9、 速度精度：示值的±0.5%以内；10、位移测量精度：示值的±0.5%以内；11、变形测量精度：示值的±0.5%以内；12、试台升降装置：快/慢两种速度控制，可点动；13、试台安全装置：电子限位保护14、试台返回：手动可以速度返回试验初始位置，自动可在试验结束后自动返回；15、超载保护：超过负荷10%时自动保护；16、电机： 400W17、主机重量：145kg三、弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪功能特点：1、 自动清零：计算机接到试验开始指令后，系统自动清零。2、 自动返程：试样断裂后，自动返回初始位置。3、 自动换档：根据负荷的大小，可切换不同的档位，确保测量精度。4、 改变速度：本机可根据不同的试样，任意改变试验速度。5、 示值校验：系统可实现力值的准确标定。6、 控制方法：根据试验需要可选择试验力、试验速度、位移、应变等试验方法。7、 一机多用：配备不同规格的传感器，可实现一机多用。8、 曲线遍历：试验完成后，可用鼠标任意找出试验曲线逐点的力值和变形数据并分析。9、 显示：数据和曲线试验过程动态显示。10、结果：试验结果可存取，对数据曲线进行分析。11、限位：具有程控和机械限位。12、过载：当负荷超过额定值时自动停机。四、弹簧耐久试验机/弹簧疲劳寿命测试仪质量保证及售后服务承诺：

灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。在众多的少子寿命测量方法中，MDP（微波检测光电导率）采用改进的少子寿命检测技术，是微波检测光电导衰减法检测仪中常用的仪器之一，少子寿命测试仪原理从载流子输运原理出发，建立广义速率方程和偏微分方程系统。拥有先进的灵敏度和分辨率，很大程度提升在线检测的速度和质量，快速出具少子寿命测试的实验报告。 MDPlinescan被设计成一个易于集成的OEM设备，可以集成到各种自动化检测线。关键的是在传送过程中进行少子寿命扫描。样品通常由测量头下面的传送带或机器人系统携带。应用实例包括从晶砖到晶圆检测，单晶少子寿命测试、多晶少子寿命测试，每块晶圆的测量速度小于一秒。电池生产线上的来料质量检查是经典的通用案例，也用于钝化和扩散后的工艺质量检查，还有许多其他特殊的应用的可能性。易于集成，只需要以太网连接和电源。 MDPlinescan W 包括一个额外的电阻率测量选项。 优点： ◇ 在µ -PCD或稳态激励条件下线扫描少数载流子寿命和电阻率是这个小型设备的重要功能； ◇ OEM设备可以集成到多晶或单晶硅片的生产线上，在不同的制备阶段，直至器件、砖块或晶锭。 ◇ 小巧的尺寸和标准的自动化接口使其易于集成。重点是测量结果的长期可靠性和精确性。 示范性线状扫描图 细节： ◇ 允许单晶圆片调查 ◇ 不同的晶圆级有不同的配方 ◇ 监控物料、工艺质量和稳定性 技术规格: 样品多种尺寸的多晶或单晶晶片，如156mm×156mm、晶砖、电池片等样品尺寸50 x 50 mm² 以上电阻率0.2 - 10³ Ωcm电导类型P,N样品类型硅片、部分或完全加工的硅片、化合物半导体及更多的产品可测量的特性少数载流子寿命硬件接口以太网尺寸规格体积：174 x 107 x 205mm；重量：3公斤电源24 V DC, 2 A

设备概述：锁体旋钮开关寿命测试仪适用于智能门锁的防盗保险销寿命模拟测试。锁体旋钮开关寿命测试仪技术参数：１试验工位：2工位 同时运行 2次数0-999999次可设定3试验速度5-60次/分可调4开启测试角度0-999995停留时间1～999sec(可 设) 6控制方式：触摸屏PLC 7体积W550×D450×H500mm8重量30kg9电源AC220V,50Hz 3A设备特点：1.采用液晶触摸屏+PLC作扭曲程序控制，中文界面，操作简便； 2.采用步进马达驱动，定位精确，扭矩输出平稳，低噪声；3.平台设计有前后左右上下移动调节平台，能方便快捷进行装夹定位，提高测试效率。 Delta德尔塔仪器作为智能门锁专业检测设备供应商，所生产的智能门锁设备已经成功应用到多家专业测试机构和知名生产厂家，第三方检测机构例如：贵州省产品质量监督检验院、浙江省家具与五金研究所、广州质量监督检测研究院、广东产品质量监督检验研究院、杭州市质量技术监督检测院，知名企业例如：广东名门锁业、三环锁业、广东樱雪电器、力维智能锁业、深圳凯迪仕等生产厂家品质研发部，深受客户好评。 Delta德尔塔仪器专注于智能门锁符合标准的电气性能、防盗安全性能、耐久性检验、气候环境适应性、机械环境适应性、电磁兼容性、电气安全性、密钥量等等的检测设备的定制和研发。产品有：智能门锁耐用度试验机|智能门锁寿命耐久性试验机|智能门锁疲劳寿命试验机|锁芯耐用度试验机|智能门锁把手耐久试验机|智能门锁综合性能试验机|智能门锁老化试验机|智能门锁静压拉力试验机等仪器设备。

介子寿命测试仪实验装置 &ldquo 赶超&rdquo 的宇宙射线测量&mu 介子的寿命证明相对论时间膨胀测量本地&mu 子通量测量海平面高度&mu 子荷比来源方便，真正的随机数创建模拟&ldquo 介子&rdquo ，并测量他们的一生光电倍增信号处理研究&mu 介子是一种自然的基本粒子。它的发现在1937年由卡尔· 安德森标志着一个激进出发在物理学家的理解物质的积木。虽然这是第一次分配理论的核力量，这是不正确的地方，它现在被理解为粒子轻子家族中的重要成员。我司制成的第一个商业教学仪器的学生，以确定其物理特性。 &mu 介子是产生丰富地在地球大气层的宇宙射线和大气中的空气分子之间的相互作用，和其在海平面的磁通足以为学生的调查。我们的设备，使用常见的核物理和粒子物理实验技术可以测量&mu 介子的寿命。的停止率&mu 子，作为深度的函数，在大气中，可以用作特殊相对论的时间膨胀效应的示范。由于个别放射性粒子的衰减时间是随机分布的，它们是真正的随机数的一个方便的来源。这些可以被用来证明常见的概率分布。 仪器可实现功能：1/测量&mu 子寿命 2/测量本地&mu 子通量3/测量海平面介子电荷比 4/证明相对论时间膨胀5/方便真正的随机数源 6/无障碍学生分析的原始数据 Introduction"Catching" Cosmic RaysMeasure Muon LifetimeDemonstrate Relativistic Time DilationMeasure Local Muon FluxMeasure Sea Level Muon Charge RatioConvenient Source of Genuinely Random NumbersCreate Simulated "Muons" and Measure their LifetimeStudy Processing of Photomultiplier SignalThe muon is one of Nature&rsquo s fundamental particles. Its discovery in 1937 by Carl Anderson marked a radical departure in physicists' understanding of the building blocks of matter. Although it was first assigned a place in theory of nuclear forces which was incorrect, it is now understood to be an important member of the lepton family of particles. TeachSpin, in collaboration with Thomas Coan and Jingbo Ye of Southern Methodist University, has made the first commercial teaching instrument for students to determine some of its physical characteristics.The muon is produced copiously in Earth&rsquo s atmosphere by interactions between cosmic rays and atmospheric air molecules, and its flux at sea level is sufficient for student investigations. The muon&rsquo s lifetime can be measured with our apparatus using experimental techniques common to nuclear and particle physics. The stopping rate of muons, as a function of depth in the atmosphere, can be used as a demonstration of the time dilation effect of special relativity. Since the decay times of individual radioactive particles are randomly distributed, they are a convenient source of genuinely random numbers. These can be used to demonstrate common probability distributions.With this new TeachSpin Apparatus You Can:&bull Measure Muon Lifetime&bull Measure Local Muon flux&bull Measure Sea-level Muon Charge Ratio&bull Demonstrate Relativistic Time Dilation&bull Convenient Source of Genuinely Random Numbers&bull Raw Data Accessible for Student Analysi

多通道发光器件寿命测试仪1 设备主机，包括： （1） 主控电脑 （2） 主机机箱 （3） 数据采集模块 （4） 测试控制模块（可拓展至 128 通道） （5） 测试机柜 （6） 配置 UPS，满足续航供电 （7） 搭配显示器、鼠标键盘等配件 2 高精密程控电源 （1） 电流范围： 10uA-10mA；电压范围： 0-20V（2） 可同时支持 8多个通道的发光器件的独立测试，每个通道可独立控制电流的输出，满足发光器件恒流下的寿命测试。 3 测试模块，包括： （1） 根据用户发光器件尺寸设计夹具，配置多套测试夹具， 可以放置于手套箱内测试； （2） 采用硅光电二极管实现对发光器件亮度的监测，亮度监测范围可选； （3） 支持底发光、倒装/正装器件测试。

BLS-I/BCT-400少子寿命测试仪●非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命●涡电流法量测技术符合SEMI最新的PV13标准●相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪●Wafer厂品质监控必不可缺的量测设备，拥有广泛的客户群。 一、 产品概述BLS-I/BCT-400型号少子寿命测试仪可以量测P型或者N型单晶或者多晶硅块少子寿命，不需要表面钝化处理就可以量测少子寿命。少子寿命的量测对于监控硅块在长晶过程引入的缺陷或者污染物造成的缺陷有着重要的意义。通过使用少子寿命测试仪BCT-400可以直接判断硅块的质量好坏。BLS-I可以量测表面不平的硅块样品。而不同于BLS-I，BCT-400只能量测表面平坦的硅块。二、 产品性能主要应用：• 量测高纯度硅少子寿命（范围在1ms-5ms） • 量测掺硼的CZ 单晶硅少子寿命• 量测多晶硅的少子寿命，陷阱浓度等其他应用：• 量测B-O缺陷，铁杂质浓度，以及表面的损伤 • 监控CZ和FZ单晶，多晶硅等硅片质量

织物触感测试仪织物与柔软材料的舒适度评估设备虽然舒适度是一种非常主观的感受，多名研究人员已开发出了各种客观测量方法来量化人们对织物接触的感受。人们对于织物的感受被描述为&ldquo 手感&rdquo ，多年来这个词已经成为纺织服装行业描述织物质量与其预期表现的一种方式。服装是与我们日常生活相关的最亲密物之一。无论白天与夜晚，它覆盖了我们身体的大部分而且与我们的身体互相摩擦。因为人体皮肤表面有数以百万计的感受器，所以皮肤对于压力、摩擦和热传导性均极为敏感，而通过模拟穿着衣物时织物与皮肤的接触过程来定义织物的触感就变得非常必要。目前，锡莱亚太拉斯(SDL Atlas)推出了创新型织物触感测试仪（FTT），它可以批量客观地测试织物的触感。织物触感测试仪的设计全面而先进，通过它的一个简单测试，人们就可以测得织物的所有机械与表面特性。 通过测量以下所列特性，织物触感测试仪可以提供客观评估与测量织物质量与性能的18个指数：- 织物厚度- 织物压缩特性- 织物弯曲特性- 织物表面粗糙度- 织物表面摩擦特性- 织物热特性 统计分析的结果表明，人体皮肤接触织物时的主观感受，如织物的平滑度、柔软度、粗糙度、保暖性能与保湿性能等，可以通过该装置进行可靠地预测。 研究表明，织物触感测试仪的测量与人们的主观触摸感受有明显关联，因此织物触感测试仪能够测量和区分织物的触感特性。从产品的设计、加工控制到最终的产品消费，这种创新的设备能够使质量控制与研发实验室在各阶段中测量并预测织物的舒适度。精确客观的测量使织物触感测试仪成为设计师、零售商及供应商进行全球性舒适度沟通的完美工具。

SPM900 系列少子寿命成像测试仪原理说明非平衡少数载流子少数载流子的寿命是半导体材料的一个重要参数，也是评价半导体质量的一个指标。例如在光伏电池中，少子寿命决定了少子扩散长度， 决定了光吸收层、内建电场区域的厚度设计等重要的器件参数；载流子寿命也可以反映器件中杂质或者缺陷的影响，抑或是存在污染， 进行失效分析，对工艺过程进行优化。载流子的复合在一定温度下，处于热平衡状态的半导体材料，电子- 空穴对的产生和复合保持一种动态平衡，载流子浓度是一定的。然而，外界的作用会破坏这种热平衡，使其处于与热平衡相偏离的状态，随之改变的是载流子的浓度， 多于平衡值的载流子就是非平衡载流子。非平衡少数载流子也称也称少子，通常对于半导体器件的性能起到决定性的作用。当外界作用撤掉后，处于非平衡态的载流子会通过复合而产生衰减，直到载流子浓度恢复到之前的热平衡状态。载流子的复合方式可以分为三类：SRH 复合、辐射复合及俄歇复合（直接和间接）。(a) SRH 复合； (b) 辐射复合； (c) 直接俄歇复合；（d）间接俄歇复合少子寿命测试少子寿命的测量通常包括非平衡载流子的注入和检测两个方面，*常用的注入方法是光注入和电注入。对于间接带隙的半导体，常使用电注入或者微波光电导衰减的方法进行少子寿命测试，间接带隙半导体一般寿命较长， 为毫秒量级。而对于GaAs 这类的直接间隙半导体，复合的能量几乎全部以发光的形式放出，发光效率高，寿命较短（典型的寿命在10-8-10-9s），通常使用时间分辨光致发光光谱（TRPL）的方法来进行测试。激光扫描少子寿命成像测量仪SPM900当外界作用停止以后，少子的浓度（ΔC）随时间t 增长呈指数衰减的规律。由以下方程可知，少子的寿命为当少子浓度衰减到初始浓度1/e 时候所经历的时间。在辐射复合中，发光的强度与少子的浓度相关，因此可以通过检测发光的寿命来获得少子的寿命信息。当在显微镜上加载少子寿命测试模块，就可以得到微区下半导体器件的少子寿命分布信息，这对于微小型器件的研究及质量控制十分重要。激光扫描少子寿命成像仪基于时间相关单光子计数进行设计，包含显微镜主体，激光光源，光子计数检测器，单色仪以及自动XY 样品台等部分。位于显微镜上的激光光源用于样品的激发，通过控制样品台的移动，可以进行微区单点少子寿命测量和少子寿命成像。少子寿命成像测试应用外延ZnS 薄膜半导体本征带- 浅杂质复合半导体中施主- 受主对复合深能级复合III-V 族载流子杂质俘获过程研究非辐射中心的电子弛豫及复合机制研究半导体外延片缺陷和杂质检测测试软件控制测试界面测试软件的界面遵循“All In One”的简洁设计思路，用户可在下图所示的控制界面中完成采集数据的所有步骤：包括控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得荧光衰减曲线，实时生成荧光图像等。数据处理界面功能丰富的荧光寿命数据处理软件，充分挖掘用户数据中的宝贵信息。可自动对扫描获得的FLIM 数据，逐点进行多组分荧光寿命拟合（组分数小于等于4），对逐点拟合获得的荧光强度、荧光寿命等信息生成伪彩色图像显示。3D 显示功能少子寿命测试案例MicroLEDMicroLED 显示技术是指以自发光的微米量级的LED 为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED 阵列的显示技术， 在发光亮度、分辨率、对比度、稳定性、能量损耗等方面有很大优势，可以应用在AR/VR，可穿戴光电器件，柔性显示屏等领域。由于MicroLED 的尺寸在微米级别，因此需要在显微镜下进行检测。下图为使用少子寿命成像系统对直径为80 微米的MicroLED 微盘进行测试。单组分拟合，可以看到红圈中的污损位置，虽然影响发光强度，但对发光寿命没有影响钙钛矿测试钙钛矿属于直接带隙半导体材料，具有高光学吸收，高增益系数、高缺陷容忍度、带隙可调，制备成本低等优点，可以广泛应用在光子学与光电信息功能器件等领域，例如钙钛矿太阳能电池，钙钛矿量子点，钙钛矿LED 等材料的研究。对于钙钛矿中的载流子辐射复合的研究对于提供器件的光电转换性能有很大的帮助。以下示例为钙钛矿样品的少子辐射复合发光成像和寿命成像。图中可见此钙钛矿样品有两个寿命组分，且不同寿命组分的相对含量也可以从相对振幅成像图中很直观的看到。晶圆级大尺寸的少子寿命成像测试仪4、6、8 英寸晶圆样品测试，可在此基础上增加小行程电动位移台实现数百纳米至微米尺度的精细扫描显微尺度的少子寿命成像测试仪参数指标系统性能指标：光谱扫描范围200-900nm*小时间分辨率16ps寿命测量范围500ps-1ms（具体视激光器而定）小尺寸空间分辨率≤ 1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器大尺寸扫描可适用4 英寸、6 英寸、8 英寸样品配置参数：脉冲激光器375nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：30ps，平均功率1.5mW@50MHz405nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：25ps，平均功率2.5mW@50MHz450nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：50ps，平均功率1.9mW@50MHz488nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：70ps，平均功率1.3mW@50MHz510nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：75ps，平均功率1.1mW@50MHz635nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：65ps，平均功率4.3mW@50MHz660nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：60ps，平均功率1.9mW@50MHz670nm 皮秒脉冲激光器，脉宽：40ps，平均功率0.8mW@50MHz其他皮秒或纳秒脉冲激光器具体视材料及激发波长而定科研级正置显微镜落射明暗场卤素灯照明，12V，100W5 孔物镜转盘，标配明场用物镜：10×，50×，100×监视CCD：高清彩色CMOS 摄像头，像元尺寸：3.6μm*3.6μm，有效像素：1280H*1024V，扫描方式：逐行，快门方式：电子快门小尺寸扫描用电动位移台高精度电动XY 样品台，行程：75*50mm（120*80mm 可选），*小步进：50nm，重复定位精度＜ 1μm大尺寸扫描用电动位移台XY 轴行程200mm/250mm，单向定位精度≤ 30μm，水平负载：30Kg；光谱仪320mm焦距影像校正单色仪，双入口、狭缝出口、CCD出口，配置三块68×68mm大面积光栅， 波长准确度：±0.1nm，波长重复性：±0.01nm，扫描步距：0.0025nm，焦面尺寸：30mm(w)×14mm(h)，狭缝缝宽：0.01-3mm 连续电动可调探测器：制冷型紫外可见光电倍增管，光谱范围：185-900nm（标配，可扩展）光谱CCD( 可扩展PL mapping）低噪音科学级光谱CCD（LDC-DD），芯片格式：2000x256，像元尺寸：15μm*15μm,探测面：30mm*3.8mm，背照式深耗尽芯片，低暗电流，*低制冷温度-60℃ @25℃环境温度，风冷，*高量子效率值95%时间相关单光子计数器(TCSPC）时间分辨率：16/32/64/128/256/512/1024ps……33.55μs，死时间＜ 10ns，*高65535 个直方图时间窗口，瞬时饱和计数率：100Mcps，支持稳态光谱测试；OmniFlμo-FM 寿命成像专用软件控制功能：控制样品平移台移动，通过显微镜的明场光学像定位到合适区域，框选扫描区域进行扫描，逐点获得发光衰减曲线，实时生成发光图像等数据处理功能：自动对扫描获得的寿命成像数据，逐点进行多组分发光寿命拟合( 组分数小于等于4），对逐点拟合获得的发光强度、发光寿命等信息生成伪彩色图像显示图像处理功能：直方图、色表、等高线、截线分析、3D 显示等操作电脑品牌操作电脑，Windows 10 操作系统

美国ChemInstruments环型初粘性测试仪快速有效地确定的粘合剂的初粘性。这种紧凑的初粘性试验机符合的ASTM、 TLMI 及 FINAT测试标准。仪器特点：结构坚固，能够在恶劣的生产环境中使用单速运动可保证一致的和可重复的测试方便的样品装置使测试保持快速性和一致性主机包含10磅拉力传感器简单的一键式操作，快速方便地获得数据工作温度范围32° - 150°F（0° - 70°C）能够独立操作并集成的数字显示完整的数据管理，数据可以被下载到EZ-Lab软件上精确度到传感器的±0.1％可拉至5磅（2.3公斤）标准输入电压220 VAC（50/60HZ）数据采集系统ChemInstruments电子数据采集系统是一个最先进的微处理器控制的力测量软件包，它把准确性与操作简单性结合起来。该系统可同时控制测试运动，读取测试力，数字显示及图表并将数据储存在内存中。在测试过程中可记录每秒400个数据点测试完成后，立即显示平均、最高、最低测量力及行驶距离的结果试验数据储存功能将有助于试验数据的比较及分析EZ-Lab软件可通过RS-232导出数据至其它电脑显示测试值如克、千克、盎司、磅或牛顿（可在软件上选择）EZ-Lab的兼容遥控设置，操作控制和增强的数据收集都可以加上我们的EZ-Lab的数据管理软件，此应用程序需要和电脑连接。其他选购品：ATA工具包 (推荐选购) ,既然买了标准的仪器，钢片、压轮、切割器也都要标准，才能真正符合标准。包含TP-26 10片，标准钢片 2" × 6" (125px x 375px)HR-100 1支，标准手动滚压轮 4.5磅，(2公斤)SC-100 1支，特制试片切割器，制作1英寸的试样，方便快速又准确

储液袋完整性测试仪用于一次性储液袋、一次性生物反应器、细胞工厂等，对原料和药品加工过程中的一次性系统（SUS）完整性进行测试。 技术优势 * 采用经典的压力衰减法测试方法，可对一次性系统使用前或使用后进行完整性测试* 可选择有约束无约束装置进行测试，用户可轻松更换，在满足更多种类样品的情况下，尽量减少用户费用开支 * 可选择手动输入或者条行码扫描仪进行信息输入，方便安全* 采用品牌真空气控元器件，保证较高的测试精度 * 具有充分的密码防护功能，分为四级权限管理，每个操作人员具有独特的 * 登录名和密码组合才能进入仪器操作 * 用户数量无限存储，测试数据存储无上限 * 满足GMP要求的数据本地存储、自动处理、统计测试数据功能，并以不可 * 修改删除的格式导出，保证测试结果的永久保存 * 仪器配备R232串口、USB接口，支持数据局域网传输，并具备ISP在线 * 升级功能，满足客户个性化要求 技术参数测试压力范围：0-5Kpa测试精度：1级压力分辨率：1Pa 设备操作：自带HMI 气源压力：0.4-0.7Mpa检测原理：压力衰减法主机尺寸 500mmX360mmX320mm（长宽高） 重 量 18Kg 环境温度 15℃-35℃ 相对湿度 不超过80%,无凝露 工作电源 220V储液袋完整性测试仪此为广告

产品简介　　云唐全自动罗维朋比色计是由设计的一种目视颜色测量仪器，它采用了国-际-公-认的专用色标─罗维朋色标度来测量各种液体、胶体、固体和粉末样品的色度。　　工作原理　　比色计是通过被测溶液与标准溶液颜色的比较，进行定量分析的仪器，是一种测量材料彩色特征的仪器。比色计主要用途是对所测材料的颜色、色调、色值进行测定及分析。比色计可以分为目视比色计和光电比色计两种。而比较测色仪(罗维朋比色计)就是一种新一代的目视颜色测量仪器，它采用了国-际-公-认的专用色标─罗维朋色标度来测量各种液体、胶体、固体和粉末样品的色度。　　适用范围　　云唐全自动罗维朋比色计是目视颜色匹配方法测定物质颜色的仪器，比较测色仪(罗维朋比色计)可用于塑料，纺织，食品，果酱，粮食，油脂，松香，香料，橡胶等物质颜色的测量，透射法适用于液体及透明有色材料的测量，反射法适用于非透明材料表面颜色的测量。　　主要参数　　测量范围红 色 R0.1~79.9 罗维朋单位黄 色 Y0.1~79.9 罗维朋单位蓝 色 B0.1~49.9 罗维朋单位中性灰色 N0.1~3.9 罗维朋单位最小示值：0.1 罗维朋单位白板漫反射率：80%重量：10 Kg罗维朋比色计经常被错误地称为色度计。虽然这两个测试仪器确实有很多共同点，即在基本功能方面。但实际上两者是有着不同的工作原理。罗维朋比色计是用于执行比色分析法来确定，从颜色、在一个特定的反应试剂产量解决已知物质的数量。　　检定方法　　准备工作检定员须应经医院体检证明眼睛视觉功能正常、无色盲色弱情况。在检定 前应适当休息眼睛，避免强光刺激。　　检定用目视和手感检查：2.1 仪器外观 电镀及喷漆表面不应有脱皮、脱漆和显著色泽不均匀现象。外部机件接合处应 整齐，无毛刺、无粗糙不平现象。仪器上盖应能打开，滤色片应能取出，方便检 验。仪器背面白板装置定位准确，方便安放和摘取，仪器配件应齐全。　　2.2 仪器内部 样品室与观测室壁表面应涂白色无光漆，均匀清洁，无污染和明显变黄迹象。 光源窗玻璃应与液体样品池玻璃材质相同，并使工作光线漫透射至观测室，保证仪 器的测色精度。　　2.3 滤色片 仪器上的所有滤色片应齐全、无破损，无污染。滤色片架滑动应顺畅、平衡， 无卡滞受阻现象，其色标量值读数应清晰明显、定位准确，应与相应的罗维朋滤色 片一一对应，不得有模糊不清无法辨认的现象。　　2.4 白板 仪器配备两块白板，材质应采用聚四氟乙烯(海伦树脂)粉沫(压制)，外观应 清洁，无污染和明显发黄、发暗现象。采用玻璃面盒压的白板不得有用肉眼观察出 的挤压不匀现象，前玻璃材质应与液体样品池玻璃材质相同。　　2.5 仪器开关及安全要求 仪器开关应左右联动，两只钨丝灯(工作光源)应同时点亮或熄灭。仪器的开 关、电源线等电路焊接处及其它电线外露处均应采取安全绝缘措施，电气安全应符 合国家有关标准的要求。　　2.6 仪器铭牌 应有型号、生产厂名、出厂编号、出厂日期以及生产许可证标志等信息，应符 合国家有关法制要求。对进行检定并判定。　　测量检定开启仪器光源，在仪器上逐片将滤色片移入光路中,通过目镜筒观察视场中相应 档位和量值的色片是否都一一对准通过 或打开仪器上盖，取出滤光片目视检查。 仪器测量范围的检定 仪器测量范围应符合表 1 的规定。表1 滤色片(罗维朋单位) R(红) Y(黄) B(蓝) N(中性) 测量范围 0.1～79.9 0.1～79.9 0.1～49.9 0.1～3.9 2 JJG 758—200× 。　　准确度检定将模拟参照油标准滤色片(以下简称模拟片)置入仪器样品室内，定好位，按 模拟片的罗维朋标称值先将仪器的黄色滤色片调定，再调定红或红和蓝相应滤色 片，进行目视观察，如出现色差要继续进行匹配，直至两视场达到最佳颜色匹配。 此时测量值与模拟片标准值之差即为检定结果。　　误差的检定先将被检仪器滤色片按顺序逐个拉入视场，从目镜筒中观察其颜色变化差 别是否为顺差，然后将标准罗维朋滤色片(以下简称标准片)与被检仪器滤色片一 一对应地置于仪器滤色片架的下位空框内，用目镜筒观测两视场的颜色， 如出现 色差要进行最佳匹配，被检仪器滤色片标称值与标准片标称值之差即为示值误差。　　光学视场检定在仪器上用目视和手感经验进行，其中视场底色均匀性检定方法如下：将仪器 的滤色片全部移出光路，此时视场底色应均匀一致。当不一致时则将蓝或灰滤色片 移入光路中，并将其读数视场底色均匀性 光学视场的底色应均匀一致,相差不得超过 B0.1(蓝色)罗维朋单位或者 N0.1 (灰 色)罗维朋单位. 计量器具控制 包括检定、后续检定和使用中检验。

一、建材烟密度测试仪测试原理：建材烟密度测试仪，由美国罗门哈斯公司为内控研发而成，其早在上个世纪的70年代已经根据美国ASTM D2843标准研发而成，其理论基础为采用了比尔琅勃定律，即通过火焰直接冲击试样，材料燃烧产生烟气后，通过遮挡光线的透过率，进而判别气烟密度数值（SDR。但是该测试方法由于其历史过于悠久，在某些设计理念上已经无法跟上现代的电子测试技术，故莫帝斯在遵循标准开发的同时，对该测试仪器进行了大胆革新，在不改变测试数据准确度的情况下，更好的展现了现代的测试技术和机理，可以更好的为广大测试机构或企业使用。二、建材烟密度测试仪技术参数：1、双测试箱体均采用特氟龙作为涂层，材料燃烧所释放的烟气，对测试箱体具有极大的腐蚀性，只有通过放腐蚀处理的测试箱体，才可以保证其使用寿命；2、箱底安装白底红字&ldquo EXIT&rdquo 字体，测试人员通过透明观测窗，可以判别试样然后后的清晰与模糊状态；3、测试用光源为白炽灯，光电传感器为硅光二极管，硅光二极管具有余弦校准功能，同时配备颜色滤光片，滤除人眼无法识别的紫外光和红外光，具有极佳的人眼匹配度；4、主燃烧器为256KPA压力下，对测试试样进行火焰冲击，配备辅助燃烧器，对滴落物进行火焰冲击；5、标准测试软件不仅仅可显示每15s光路透过率数值，同时可绘制透过率测试曲线，在测试结束后，软件可显示SDR烟密度数值，即烟气积分数值；6、通过测试软件，可将三组测试试样的测试报告进行合成，绘制一条SDR烟密度发展曲线7、可以使用电脑软件，对三组试验结果SDR同时进行比较，自动判别是否可满足测试结果需要8、通过电脑可将数据输出，连接打印及可打印测试报告，便于用户使用三、莫帝斯建材烟密度测试仪优点：1、使用寿命长；2、性能稳定，试验数据重现性好；3、软件智能化程度高。

动力电池内阻测试仪●4.3寸LCD彩色液晶大屏显示，电池内阻R和电压V同时显示●最小分辨率0.1uΩ、10uV高分辨率、高速度的电池测试仪。采用交流四端子测试方法，可更准确地测试电池的内阻和电压。电阻分辨率可达0. 1uΩ，电压分辨率可达10uV。利用外部U盘存储，可长时间进行统计运算。内建比较器功能，可自动判断电池参数是否符合标准，统计合格率，适合各种电池的检测和分拣。动力电池内阻测试仪●标配RS232（选配RS485）通讯接口,支持SCPI及Modbus(RTU)两种通讯模式●测试条件自动保存，仪器内部50组，U盘500组设置文件●发明专利，无需安装软件可直接上传测试结果到电脑●仪器标配RS232C和HANDLER接口，可方便地组建自动化测试系统耐压测试：AC (0.05～5.000)kV、DC(0.05～6.00)kV绝缘测试：输出电压 0.050kV ~ 5. 000kV 解析度： 1V/每步接地电阻：电流范围 3.0-32.0A（可定制至100A）泄漏电流：电压范围 30.0V～300.0V动力电池内阻测试仪●精度高，稳定性好，最快测试速度100次/秒●测试线接触检查功能●内置比较器功能，10档分选，HANDLER分选接口实现自动化设备联机功能动力电池内阻测试仪增大的测试电流使测试回路更加稳定。0.1%的基本电阻测量准确度，3mΩ～3000Ω的量程能够覆盖大部分大型电池组的内阻测试需要。●4.3寸LCD彩色液晶大屏显示，电池内阻R和电压V同时显示●最小分辨率0.1uΩ、10uV●精度高，稳定性好，最快测试速度100次/秒●测试线接触检查功能●内置比较器功能，10档分选，HANDLER分选接口实现自动化设备联机功能●标配RS232（选配RS485）通讯接口,支持SCPI及Modbus(RTU)两种通讯模式●测试条件自动保存，仪器内部50组，U盘500组设置文件●发明专利，无需安装软件可直接上传测试结果到电脑●仪器标配RS232C和HANDLER接口，可方便地组建自动化测试系统动力电池内阻测试仪电阻最高测试分辨率0.1uΩ、最高测试电压1000VDC等卓越性能足以媲美任何竞争产品。测试参数RV/R/V (R:交流电阻 V:直流电压)测试方式交流4端测量(1kHz)最大输入电压额定输入电压600VDC对地最大额定电压600VDC额定输入电压1000VDC对地最大额定电压1000VDC电阻测量量程7档量程:3mΩ(最大显示3.1000mΩ，分辨率0.1μΩ)30mΩ(最大显示31.000mΩ，分辨率1μΩ)300mΩ(最大显示310.00mΩ，分辨率10μΩ)3Ω(最大显示3.1000Ω，分辨率0.1mΩ)30Ω(最大显示31.000Ω，分辨率1mΩ)300Ω(最大显示310.00Ω，分辨率10mΩ)3000Ω(最大显示3100.0Ω，分辨率100mΩ).测量精度30mΩ～3000Ω量程:± 0.3%rdg.±3dgt.(EX.FAST时需加算±3dgt.,FAST/MEDIUM时需加算±2dgt.)3mΩ量程:± 0.3%rdg.±10dgt.(EX.FAST时需加算±30dgt.,FAST时需加算±10dgt.,MEDIUM时需加算±5dgt.)电压测量量程DC6V(分辨率10μV)DC60V（分辨率100μV）DC600V(分辨率1mV)三档切换DC10V(分辨率20μV)DC100V（分辨率200μV）DC1000V(分辨率2mV)三档切换采样时间EX.FAST：4ms，FAST：12ms，MEDIUM:42ms，SLOW:157ms(上述为一个参数测量、电源频率为50Hz的最快时间，具体视测试项目、电源频率而定)全测量时间响应时间+采样时间（阻抗/电压一起约1ms的响应时间。仅供参考，具体视测试流程和被测物而定）比较器独立判断：HI/IN/LO(电压，阻抗逐一独立判断)，综合判断（PASS/FAIL.阻抗判断结果和电压判断结果的与运算），LED指示灯显示，蜂鸣报警，外部I/O输出外部接口Handler I/O,RS-232C,USB电源要求AC:85-242V ，47～63Hz，15VA体积(W*H*D)215mm*87mm*335mm (净尺寸)235mm*105mm*360mm(加护套后)重量3.6kg附件说明书×1，电源线×1，（选配测试线）

日本新东HEIDON测试仪TYPE:25W HEIDON失真测试仪大直径可防止变形！使用光偏振的应变测试仪基本信息HEIDON失真测试仪◆◇◆特点◆◇◆◆采用变频圆形荧光灯，闪烁少，不伤眼◆长时间检测也可放心使用◆有效视场直径达280mm，非常适合检查大样本或大样本，可同时观察多种类型的测试样本，使比较研究变得容易。 ◆ 分析器（上偏光板：分析器）可旋转，可在暗场/明场条件下观察。类型：25W，采用正交尼科耳法，类型：25WS，采用敏感颜色法，可观察玻璃等微小变形。价格信息-最后期限请联系我们应用/结果示例◆◇◆用途◆◇◆◆玻璃制品划痕的识别◆塑料成型品浇口附近应力集中的检查◆热封接缝的检查◆薄膜中凝胶分散状态的观察◆薄膜卷绕引起的变形不均的识别 检查◆ 使用机械零件的透明模型来测试应力分布。 ◆ 确认由于切割刀片磨损等导致切割表面变形的状态。

压敏胶标签初粘力测试仪 标签初粘性测定仪 胶带初粘性测试仪适用于压敏胶带、医用贴剂、不干胶标签、保护膜等相关产品进行初粘性测试试验。产品关键词：GB/T 4852，初粘性测试仪，初粘性测定仪，初粘力测试仪，初粘力测定仪，初粘仪，初粘性试验机，胶带初粘力测定仪，不干胶初粘性试验仪，胶带初粘仪，初粘力试验机，不干胶标签粘性测试仪，胶带粘性测试仪压敏胶标签初粘力测试仪 标签初粘性测定仪 胶带初粘性测试仪特　　征斜面滚球法可调倾角测试原理采用斜面滚球法，通过钢球和压敏胶带试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时，胶粘带对钢球的粘附作用来测试试样初粘性。压敏胶标签初粘力测试仪 标签初粘性测定仪 胶带初粘性测试仪技术指标可调倾角：0～60°台面宽度：120mm试区宽度：80mm标准钢球：1/32英寸～1英寸外形尺寸：320mm (L)×140mm (B)×180mm (H)净　　重：6kg压敏胶标签初粘力测试仪 标签初粘性测定仪 胶带初粘性测试仪标　　准GB 4852-84压敏胶粘带初粘性测试方法（斜面滚球法）JIS Z0237-2000压敏粘胶带及压敏粘胶薄板的试验方法

触摸屏过滤材料完整性测试仪HRWZ-2400产品性能：符合国内外规范标准要求；计数功能：动态GMP, 静态GMP，ISO14644-1的等级判定，UCL自动计算；自动判断漏点值、泄露报警、泄露粒径追踪、现场打印；上游发尘浓度远小于光度计法，对过滤器伤害小；检测灵敏度高，高效过滤器检漏同样适用；内置大容量锂电池，可连续工作4h以上；采用DEHS气溶胶，检测费用低实际中将一个加速度传感器安装在桩顶平面或桩身侧面，负责接收手锤敲击产生的应力波信号据早反射波的相位、到达时间和幅值判定缺陷的性质、位置及程度实测信号在现场利用PIT就可以进行处理计算，或者传输到计算机用PIT-W软件做进一步分析速度快、易于操作适用于各种灌注桩及预制桩触摸屏过滤材料完整性测试仪HRWZ-2400产品特点高智能化：测试流程全自动控制，无需人工干预；高可靠性：检测精度高，重现性好；触摸屏过滤材料完整性测试仪HRWZ-2400高人性化：中文/英文操作环境，触摸屏输入，操作界面友好；多功能化：可用于测试单芯滤器、多芯滤器，多种测试功能；高集成化：仪器采用便携设计，体积小，使用轻便；触摸屏过滤材料完整性测试仪HRWZ-2400高科技化：采用ARM9控制器，Windows CE 6.0系统；高实用化：数据存储、实时打印检测结果，符合GMP的要求。应用范围：圆片滤膜（Disc membrane）：Φ25mm至Φ300mm的各种滤膜标准折叠式滤芯 (Standard cartridge)：2.5″至40″，1芯至9芯囊式滤芯 (Capsule)小型滤芯 (Mini cartridge)空气过滤器的检测 2.5″至40″ 触摸屏过滤材料完整性测试仪HRWZ-2400与国内其它品牌的仪器相比具有如下特点：自动进气控制：完整性测试仪采用了国外通用的全自动数字进气控制子系统，抛弃了国内落后的机械式半自动进气方式（即采用手动调节单向节流阀的方法，来改变气体流速），使测试仪在不同的气源压力和测试条件下都能稳定可靠的工作，特别是当客户采用的气源压力波动比较大时，仪器自身所具有自动稳定和数字控制技术，保证了测试结果的精度和准确性。滤器合格，自动退出功能：滤膜 / 折叠滤芯作为一种耗材，它有自己的使用寿命，但是合理的使用会使它们的生命周期大大延长。出于对客户滤膜的保护和提高生产中的使用效率（即缩短测试时间），专门增加了“测试合格后，自动退出"功能，这也是国内第一家实现这项功能的仪器。自动打印：有些用户在进行完整性检测时，可能还有别的事情要处理，需要离开测试现场，但是他希望在回来时，可以拿到打印出来的测试结果。不会因为测试结束后，其它不可预知的原因，而造成测试结果的丢失。 测试仪在用户启动了自动打印选项后，就可以实现测试结束后自动打印测试结果的功能，这也是国内首家实现这种功能的仪器。用户分级控制：完整测试仪作为一种精密检测仪器，其中有很多参数需要设置，这些参数的改变有可能会影响测试结果的准确性和可靠性。 同时为了足 GMP 的管理要求，普通操作人员和管理人员应该有各自不同的操作权限。 系列的所有版本都有用户分级管理功能，而 I V4.0 做了更人性化的处理，使用户可以根据使用情况更改仪器的登录密码，这也是国内首家实现这种功能的仪器。数据存储量更大：完整性测试仪是目前国内测试结果存储量最大的，它的标准配置是 500 组（包括测试条件，测试结果和测试曲线）历史记录，我们还可以根据客户要求定制更大容量的存储空间。并且当仪器与 PC 机相连接时，可以实现历史记录的无限制存储。测试范围广、完整性测试仪的测量范围非常广泛，从平板过滤器到多芯的桶式过滤器，从囊式过滤器到呼吸器都能进行测试。而且仪器本身所具有的高分辨率信号分析处理模块，保证了在测量大过滤面积滤器的完整性时，能把误差减少到最小。与同类某些品牌在第三方做对比测试时， 测试仪器在重复测量 5 芯 20 寸、 PES 滤芯的完整性时，其测试速度和测试结果的一致性，远远优于对方仪器。带有与上位机通信的数据接口：是国内目前唯一家能实现远程操作，集中控制管理的完整性测试仪。仪器本身自带的通讯接口和随机附送的上位机软件，使管理人员可以在控制室内通过装在电脑中的应用软件完成过滤器的完整性检测。而且还能够把仪器中所有历史数据复制到电脑中，这样就实现了历史记录的无限制保存。测试更方便，人机界面更友好：在人机界面方面做了大量工作，首先每个工作界面的下边都有醒目的操作提示，用户可根据提示内容完成所有操作项目。其次，仪器设计了“最后测试条件自动保存"功能，这样，如果用户每次测试的都是相同规格的滤器，就可以使用“一键到底"（即在选择某一项测试功能后，一直按下仪器面板上的确定键，仪器就能按照上次测试时输入的参数进行检测）实现过滤器完整性测试，大大简化了工作人员的操作程序。是国内最早实现扩散流和水侵入测试功能的仪器，而且水浸入测试功能已经非常成熟了，其测试结果具有很高的可靠性。安全性：安全生产是所有企业最重要的一项指标，仪器设备的安全运行又是安全生产的基础， 从设计之初，就把仪器的安全性做为基础性能来考虑，无论是在加压测试过程中还是在待机状态下都做了安全性处理。例如：仪器在加电后进待机状态，其实一直在做系统的安全自检，当发现仪器内部的压力大于安全压力时，它就会自动开启放气功能，防止工作人员带压操作过滤器，消除安全隐患。

ISO5361-2016 麻醉呼吸管球囊突出测试仪一，仪器特征本设备是检验生产厂家产品性能的检测设备。由可编程控制器，触摸屏，力值传感器，传动装置，机载打印机等组成，提供中英文菜单显示，具备人机对话设定各项参数自动运行测试模式。另增设生产单位，生产批次机打输入，使测试结果更加规范化标准化。信息安全方面采用三级密码，让信息安全可靠。测试操控范围包括：公称容量、芯杆位移、打印设定、测试、上行、下行、时间、标定，检定等功能设定。搭配机载打印测试可实时显示测试载荷，滑动性数据（起始力，平均力，最大推力）。针对测试结果自动判断，不合格则启动自动蜂鸣报警，并由打印机打印出测试数据及结果以供分析。二，测试原理：向透明管中充起后的球囊施加一轴向力后，试验球囊在垂直于管轴方向是否超出斜面的最近端。三，测试标准：ISO5361-2016四，技术参数：1，操作界面：简体中文/英文2，量杯容量：0.1ml～200 ml、所有规格任意输入。3，压力范围：0-50kpa（可任意设置，根据要求可以选定）4，恒温槽：15L----温度0-99度可任意设置5，产品净重：15kg6，外形尺寸：430×290×400（mm）7，电 源：AC90V-240V/50Hz（自适应宽电压）8，整机功率：70W9，可编程控制器：PLC/ARM10，触摸屏：7寸威纶通彩色触摸屏K600+内核/点阵式65色800*480分辨率11，传感器：高精度力值传感器12，测力机构：内置13，打印机：机载针式打印机五，步骤 1 气管插管在透明气缸中，确定的试验充气压力下，用空气对球囊充气，但至少使用 5.4 kPa，并在（40±1）℃的水浴中保持 24 h 的压力。 2 在 24 小时调节期结束时，从水浴中取出气管插管和透明管。检查球囊充气压力， 必要时进行调整。 3 倒置气管插管和透明管，并将透明管保持在固定位置，将 100 g 重量轻轻地从气管插管上悬挂至少 60 s。 4 观察充气球囊的任何部分是否超出斜面的最近边缘。继续试验，在不少于 10 s 的时间内逐步放气球囊，同时持续观察球囊的结构

技术参数：技术指标： 调速范围 20-200转/分 调速精度 ± 2转/分 温控范围 室温-39.9° C 温控精度 ± 0.3° C 定时范围 六点0-999分 转篮摆动 ± 1毫米 浆杆摆动 ± 0.05毫米 电 源 220V 50Hz 1000W主要特点：RC系列特点： RC系列溶出度测试仪，是测量药物从片剂或胶囊剂等固体制剂在规定溶剂中溶出的速度和程度的检测 仪器。该产品经国家法定质量监督部门测试，其主要技术指标达到或超过国内外同类仪器的先进水平 主要特点： 溶出度测试仪采用单片微型计算机对温度，转速和时间三个参数进行自动控制，并可以随预置 仪器面板采用PC面膜，轻触按键，数字显示，可以分时显示 预置值和实时值 仪器采用水泵循环水流匀热系统，水浴温度均匀 仪器机头部分手动翻转或自动升降，平稳灵活 自动化，自动检测，自动诊断，自动报警 智能化，储存2000版药典溶出度试验参数，可以随时调用 多能化，预置多点定时，并可自动讯响和进入下一点 整机主要元器件及零部件采用进口或国产优质产品 整机结构合理，造型美观，性能优良，操作简便，工作可靠

初粘性测试仪_初粘力试验仪CZY-G 初粘性测试仪，严格按照国标GB/T4852标准设计。适用于压敏胶带、医用贴剂、不干胶标签、保护膜等相关产 品进行初粘性测试，独具A斜面滚球法B斜槽滚球法两种试验方法，转换方式简单易行。产品特点◎ 采用斜面滚球法的测试原理，测试试样的瞬间粘附性能。◎ 完全按照国家标准设计的测试钢球，确保了测试数据的高精。◎ 测试倾斜角度可以按照用户的需求进行自由调整。初粘性测试仪_初粘力试验仪测试原理初粘力测试仪CZY-G 采用A法斜面滚球法和B法斜槽滚球法：A法：通过钢球和压敏胶粘带试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时，胶粘带对钢球的粘附作用来测试试样初粘性。将一钢球滚过平放在倾斜板上的胶粘带粘性面，根据规定长度的粘性面能够粘住的z大钢球尺寸，评价其初粘性大小。B法：将一规定大小的钢球滚过倾斜槽，测量其在水平板上的胶粘带粘性面上滚动的距离来评价其初粘性的大小。应用领域适用于各种胶粘类制品的初粘性测试，如压敏胶带、医用贴剂、不干胶标签、保护膜等测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：GB/T4852、药典第四部。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。