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薄膜压力变送器
仪器信息网薄膜压力变送器专题为您提供2024年最新薄膜压力变送器价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括薄膜压力变送器参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的薄膜压力变送器您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合薄膜压力变送器相关的耗材配件、试剂标物,还有薄膜压力变送器相关的最新资讯、资料,以及薄膜压力变送器相关的解决方案。
薄膜压力变送器相关的方案
【设备更新】用热封试验仪检测塑料薄膜的热合强度
济南三泉中石实验仪器有限公司选用自主研发生产的塑料薄膜热封仪RFY-03来检测薄膜、复合膜、PVC硬片、药用铝箔等材料的热封温度、热封时 间及热封压力等参数精确测定。也可配合智能拉力试验机XLW-500N进行热合强度的测定试验。
土壤热流变送器(热流计)的校准
从理论上来说,土壤热流变送器的校准,会受到变送器和校准介质之间导热系数和变送器几何形状的影响。本文对这些影响进行了研究,采用两种具有不同导热系数材质和几何形状的商品化土壤热流变送器,比较了这些参数对校准参数的影响。开发出一种理论校准公式并对此公式进行了评价。对两种类型共14个热流变送器采用稳态防护热板法在实验室内进行试验,所提供的热流密度变化范围为40~200W/m2,校准介质为导热系数变化范围为0.3~3W/mK的干燥饱和沙。其中一种热流变送器的平均校准因子要低于厂商数据12%,而理论预测值则更低于厂商数据26%~36%。其它类型热流变送器的平均校准因子则高于厂商数据7%,而理论预测值高于常数数据1%~11%。计算后的几何因子对圆形变送器为1.07,对正方形变送器为0.89,这些几何因子都小于理论值1.70,但与以往文献中报道的试验值范围1.02~1.31相近。
GB/T 6672-1986 塑料薄膜和薄片气体透过性能测试
塑料薄膜或薄片将低压室和高压室分开、高压室充有约105Pa的试验气体,低压室的体积已知。试验密封后用真空泵将低压室内空气抽到接近零值。用测压计测量低压室内的压力增量Δ P,可确定试验气体由高压室透过膜(片)到低压室的以时间为函数的气体量,但应排除气体透过速度随时间而变化的初始阶段。
以TDS分析PEALD制程中的超威量水残留量以实现高质量薄膜
PEALD制程中超威量水的残留量对薄膜特性极为重要。它影响薄膜结构、质量、化学反应速率和最终性能。调整水的残留量通常使用气体流量、温度和压力等参数,但超威量水分难以检测(ppb~ppt)。因此,TDS热脱附分析方法对于检测H2O水份至关重要,提供ppb~ppt级别的检测极限,帮助制程工程师实现薄膜控制和质量要求。
薄膜拉伸强度测试方法
拉力试验机是材料拉、压力(抗张)等物理性能检测的基本仪器。采用立式、多柱结构,夹头间距可在一定范围内任意设定,拉伸行程大 、上下运行平稳性好,测试精度高。该拉力试验机广泛适用于纤维、塑料、纸张、纸板、薄膜以及其他非金属材料顶压、软塑包装热封强度、撕裂、拉伸、穿刺、压缩、安瓿瓶折断力、180度剥离、90度剥离、剪切力等试验项目。同时本仪器可测量纸张抗张力、抗张强度、伸长率、裂断长、抗张能量吸收、抗张指数、抗张能量吸收指数等项目。 本产品适用于食品、制药、包装、造纸等行业。
微波消解薄膜
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为:由原子,分子或离子沉积在基片表面形成的二维材料。例如光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器,机械,印刷等行业。薄膜材料是指厚度介于单原子到几毫米间的薄金属或有机物层。电子半导体功能器件和光学镀膜是薄膜技术的主要应用。我们选择一种薄膜样品,将其剪碎后进行微波消解,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
低气压线性控制技术在防止同步辐射光源和原位透射电镜氮化硅薄膜窗口破裂中的应用
氮化硅薄膜窗口广泛应用于同步辐射光源中的扫描透射软X射线显微镜和原位透射电镜,但氮化硅薄膜只有几百纳米的厚度,很容易因真空抽取初期的快速压差变化造成破裂。为此,本文提出了线性缓变压力控制解决方案,即控制安装有氮化硅薄膜窗口的真空腔内的气压,按照固定的速度进行缓慢减压,从而实现氮化硅薄膜窗口的防止。同时本解决方案对以往的高精度控制方案进行了简化,简化为只用一只皮拉尼真空计和只控制电动球阀。
MC方案:薄和超薄金属薄膜的厚度测量
薄膜厚度对涂层的性能,特别是薄膜和超薄薄膜的性能至关重要。因此,采用非常精确和无损的方法来表征此类薄膜是非常重要的。薄膜厚度的光学测定方法具有非接触、无损、快速、准确、灵敏、重现性好等优点。在本应用说明中,我们使用FR工具测量金属薄膜和超薄薄膜的厚度。
薄膜测量
薄膜测量系统是基于白光干涉的原理确定光学薄膜的厚度,通过对白光干涉图样进行数学运算来计算出薄膜的厚度。
微波消解薄膜
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为:由原子,分子或离子沉积在基片表面形成的二维材料。例如光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器,机械,印刷等行业。薄膜材料是指厚度介于单原子到几毫米间的薄金属或有机物层。电子半导体功能器件和光学镀膜是薄膜技术的主要应用。我们选择一种薄膜样品,将其剪碎后进行微波消解,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
PET薄膜与BOPP薄膜阻隔性能的比较
由于高分子材料的化学结构等差异,不同材质薄膜材料的阻隔性能不尽相同。本文通过对相同厚度的PET、BOPP两种材质薄膜材料氧气透过量与水蒸气透过率分别进行测试,对比了两种材料的阻隔性能差异,并介绍了试验原理、设备参数及适用范围、试验过程等内容,为薄膜材料阻隔性能的测试及包材筛选提供参考。
薄膜测厚仪的操作文案
薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器;适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量
聚乙烯薄膜的应用以及双向拉伸PVA薄膜的检测方法
PVA薄膜根据所用PVA树脂的聚合度、醇解度的不同以及加工生产方法不同,可分为以下3大类型:水溶性PVA薄膜、难溶性PVA薄膜和双向拉伸PVA薄膜.由于PVA薄膜具有众多优良的特性,现已被广泛的应用于各个领域,市场十分广阔,目前,PVA薄膜主要广泛应用于我国农业、食品等行业的包装材料。就现在行业中PVA薄膜的使用情况,Labthink兰光将在本文中结合VAC系列压差法气体渗透仪、有机气体透过率测试系统、智能电子拉力试验机、热缩试验仪等检测仪器,着重介绍双向拉伸PVA薄膜的质量控制检测技术。了解关于更多相关仪器信息,您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。
复合薄膜热封试验仪
伴随着包装工业的不断完善,复合薄膜在食品、药品、日化用品等应用领域越来越普遍。为了能确保产品的安全性和产品质量,对复合薄膜实施准确的热封检验就显得尤为重要。下面我们就简单介绍复合薄膜热封试验仪的作用、基本原理、操作方法和利弊,带大家感受热封技术的魅力。复合薄膜热封试验仪是一类专门用来检验复合薄膜热封性能的实验仪器,广泛用于包装工业各个领域。它可以模拟现实运行过程中的热封过程,并检验复合薄膜的热封强度、密封性等数据,为产品质量管理带来重要根据。
微-纳米薄膜材料的热导率测量-薄膜热导率测试系统(TCT)-上海昊扩华东大区总代理
本仪器采用 3ω测试方法, 利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量,可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发,其涵盖范围包括高等院校及科研院所、集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件。
薄膜穿刺力试验仪
薄膜穿刺力试验仪主要用于检测薄膜或薄片材料的穿刺强度。通过试验,可以评估材料在受到穿刺时的性能,如抵抗穿刺的能力、穿刺发生时的力和位移等。这对于评估材料的适用性和安全性具有重要意义,例如在医疗、包装、建筑材料等领域中使用的薄膜或薄片材料。薄膜穿刺力试验仪的检测结果可以为材料的设计、生产和应用提供参考,帮助改进材料的性能,提高其安全性和可靠性。同时,通过与其他材料的对比,也可以评估不同材料的优缺点,为材料的选择和替代提供依据。薄膜穿刺力试验仪的检测对于材料性能的评估、质量的控制以及产品的研发和应用都具有重要的意义。
光学薄膜的测量
功能性薄膜是一种高分子材料,根据其功能性应用在不同的场景中,其中对于薄膜光学性能的表征,是评估薄膜质量的分析方法之一。最常见的是评估其反射率和透过率。日立紫外可见近红外分光光度计UH4150 优异平行光束,确保透过率和反射率的准确测量。
电晕处理对薄膜摩擦系数的影响分析
电晕是改善薄膜印刷性、复合上胶均匀性的常用处理方式,电晕效果通常也会影响薄膜的其他性能。本文测试了电晕对薄膜材料摩擦系数的影响,并通过对试验原理、检测设备参数及适用范围、试验过程等内容的介绍,为研究薄膜生产工艺对摩擦系数的影响提供参考。
塑料薄膜和片材摩擦系数的测定
本标准规定了确定塑料薄膜和片材在自身或其他物质上滑动时的起动和滑动摩擦系数的方法。该方法旨在用于厚度达约0.5毫米的非粘性塑料薄膜和片材(在下文中,简称为“薄膜")。
薄膜摩擦系数测定仪
在现代工业生产中,薄膜材料的摩擦系数是一个至关重要的参数。它可以影响产品在运动过程中的稳定性和效率。为了确保产品的质量和性能,工程师们通常会利用薄膜摩擦系数测定仪来准确测量薄膜材料之间的摩擦力。本文将为您深入探讨薄膜摩擦系数测定仪的工作原理、应用领域以及如何选择合适的仪器。
薄膜热收缩的试验方法
GB 13519-1992聚乙烯热收缩薄膜:本标准规定了聚乙烯热收缩薄膜的产品分类,技术要求、试验方法、检验规则和标志,包装、运输、贮存。本标准适用于以低密度聚乙烯树脂为主要原料,采用管膜法成型的热收缩薄膜。
微波消解半导体薄膜材料
半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。随着制备半导体薄膜的技术不同,在结构上可分为单晶,多晶和无定形薄膜。半导体材料是微电子和光电子器件的主要材料,特别是大规模集成电路芯片上元件的集成度越来越高,元件的尺寸越来越小,半导体薄膜是构成这类器件的基本材料 。我们选择一种半导体薄膜材料,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
微波消解半导体薄膜材料
半导体膜是指由半导体材料形成的薄膜。随着制备半导体薄膜的技术不同,在结构上可分为单晶,多晶和无定形薄膜。半导体材料是微电子和光电子器件的主要材料,特别是大规模集成电路芯片上元件的集成度越来越高,元件的尺寸越来越小,半导体薄膜是构成这类器件的基本材料 。我们选择一种半导体薄膜材料,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
有机硅薄膜透气性的测试方法
有机硅薄膜是一种性能优异的新型高分子材料,透气性能的优劣是影响有机硅薄膜应用的重要因素。本文利用压差法原理测试了某种有机硅薄膜样品的二氧化碳透过量,并介绍了试验原理、设备参数及适用范围、试验过程等内容,为有机硅薄膜对其他气体阻隔性的测试提供参考。
塑料薄膜穿刺力测定仪
塑料薄膜穿刺力测定仪是一种广泛应用于塑料行业的关键性测试设备。该设备旨在测量塑料薄膜在受到外力作用时的穿刺性能。通过对塑料薄膜的穿刺力进行准确测量,并提供详细的测试结果分析,该仪器在塑料薄膜的生产、加工以及应用过程中起到了重要作用。
结构改变对Mg2Sn薄膜热电性能的改善
采用磁控溅射法在氩气氛中制备了Mg-Sn薄膜(21≤ at. % Sn≤ 42.5)。薄膜的结构和形态特征是组成的函数。随着薄膜中Sn含量的增加,Mg2Sn结构由稳定的面心立方结构转变为亚稳定的正交结构。讨论了在较广温度范围内(30-200 C),这种结构改变对温差电性能的影响。测量了薄膜载流子浓度和迁移率,以解释作为薄膜结构修饰函数的电子传输行为。当Sn含量为36at.%时,在200℃品质因数达到最大值ZT≅ 0.26。此时,立方和正交的Mg2Sn结构共存。在真空 (~10-4Pa)下,在不同温度(最高600℃)下进行退火处理,以确定薄膜结构和形态稳定性的极限。
薄膜拉伸试验
本文介绍了一个根据ISO 527-3:2012,JIS K 7127:1999标准要求,按横梁位移速度对薄膜进行拉伸实例。在本试验中,使用气动平推夹具夹持样品,视频引伸计测量样品伸长。测试结果表明,使用AGS-X 电子万能试验机、气动平推夹具,视频引伸计,采用位移速率控制,对薄膜试样进行拉伸试验能得到准确的数据。
薄膜收缩性能测试方法介绍与比较
收缩性能是影响薄膜使用的重要性能之一,本文分别介绍了薄膜收缩性能测试常用的油浴法、烘箱法、空气加热法三种试验方法,并通过对三种方法的比较分析,为薄膜收缩性能的测试与质量控制提供参考。
薄膜印刷的影响因素和试验方法
塑料薄膜的物理、热力学和表面性能(PE、 PP、 PVC 等)决定了薄膜的生产程序和最终用途。不管生产过程和最终用途的要求是怎样的,薄膜首先需是可制造的,这样它才可能在经历艰难的运输过程后没有永久拉伸变形或者被破坏。 薄膜的抗拉强度,屈服点和模量都至关重要,必须足以维持永久变形点以下的薄膜伸长,并且也要可以承受薄膜拉过转换机时的张力大小。
不同直径冲头对薄膜冲击性能测试结果的影响
不同直径冲头对薄膜冲击性能测试结果的影响摘要:薄膜的抗冲击性能是反映其柔韧性的一项重要的性能指标,是评价薄膜质量优劣的重要依据。本文利用Labthink兰光FIT-01薄膜冲击试验仪的不同直径冲头对同一薄膜样品的抗摆锤冲击能进行检测,并对试验原理、设备参数及试验过程进行了描述,试验结果证明不同直径的冲头其测试结果并不相同。企业在比较包材的抗冲击性能时,应使用同一直径的冲头,以防止因冲头直径的不同,对试验结果产生影响。关键词:抗摆锤冲击能、薄膜冲击试验仪、冲头、直径、柔韧性、薄膜了解关于更多相关仪器信息,您可以登陆www.labthink.com查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。
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