薄膜物理分析仪

PHI 4700薄膜分析仪产品介绍产品名称：薄膜分析仪产品型号：PHI 4700品 牌：日本ULVAC-PHI产 地：日本前言在开发新材料及薄膜制程上，为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决制程上的问题，材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。PHI 4700使用了AES分析技术为基础，搭配高感度半球型能量分析器、10 kV LaB6扫瞄式电子枪、5 kV浮动柱状式Ar离子枪及高精密度自动样品座。针对例行性的俄歇纵深分析、微区域的故障分析，提供了全自动与及高经济效益的解决方法。PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇扫描纳米探针。它提供了高度自动化，成本效益的方案进行例行俄歇深度分析和微米范围的故障分析。 PHI 4700可以轻易的配备上互联网的设备，以供远程操作或监控之用。优点量化薄膜的成分 层的厚度测量检测相互扩散层 微米范围多点分析基本规格全自动多样品纵深分析: PHI 4700薄膜分析仪在微小区域之纵深分析拥有绝佳的经济效益，可在SEM上特定微米等级之微小区域快速进行深度分析。图2显示长年使用的移动电话镀金电极正常与变色两个样品之纵深分析结果，两者材质皆为镀金之锡磷合金。从电极二（变色电极）可看到金属锡扩散到镀金膜上，因为界面的腐蚀而产生氧及锡导致电极变色。高感度半球型能量分析器：PHI 4700半球形能量分析器和高传输输入镜头可提供最高的灵敏度和大幅缩短样品侦测时间。除此之外，具有全自动的量测功能，此装置可在短时间内测量多个样品。点选屏幕上软件所显示的样品座，可以记录欲量测的位置，对产品与制程管理上之数据搜集可进行个别分析。10 kV LaB6扫瞄式电子枪：PHI的06-220电子枪是基于一个以LaB6为电子源灯丝以提供稳定且长寿命电子枪的工具，主要在氩气溅射薄膜时进行深度分析。06-220电子枪还可以：产生二次电子成像，俄歇测绘和多点分析。在加速电压调节从0.2至10千伏。电子束的最小尺寸可保证小于80纳米。浮动柱状式Ar离子枪：PHI的FIG- 5B浮动柱状式Ar离子枪:提供离子由5伏到5千伏。大电流高能量离子束被用于厚膜，低能量离子束（250-500 V）用于超薄膜。浮动柱状式，确保高蚀刻率与低加速电压。物理弯曲柱会停止高能量的中性原子，从而改善了接口定义和减少对邻近地区的溅射。五轴电动样品台和Zalar方位旋转：PHI 15-680精密样品台提供5轴样品传送：X，Y，Z，旋转和倾斜。所有轴都设有摩打及软件控制，以方便就多个样品进行的自动纵深分析。样品台提供Zalar（方位角）旋转的纵深剖析，透过减少构件与溅射在一个固定样本的位置，以优化纵深分析。PHI SmartSoft用户界面：PHI SmartSoft是一个被认同为方便用者使用的操作仪器软件。软件透过任务导向和卷标横跨顶部的显示指导用户从输入样品，定义分析点，并设定分析。多个分析点的定义和最理想样品的定位是由一个强大的&ldquo 自动Z轴定位&rdquo 功能所提供。在广泛使用的软件设置，可让新手能够快速，方便地设立测量及其模板。可选用配备热/冷样品座样品真空传送付仪（Sample Transfer vessel）应用领域半导体薄膜产业微电子封装产业无机光电产业微摩擦学

物理特性薄膜表征系统，高度集成且易于使用的测量平台。 薄膜的物理性质不同于大块材料，因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强！ 增强表面散射的影响（a）附加边界散射（b）超薄层的量子约束（c） LINSEIS薄膜物性分析仪是表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统，使用正在申请专利的测量系统设计，可提供高质量的结果。 组件 基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片，以及提供所需环境条件的测量室。 根据应用，该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行，并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。 预制测量芯片 该芯片将用于热导率测量的3 ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4点Van-der-Pauw技术相结合。 赛贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备，可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD（例如热蒸发，溅射，MBE），CVD（例如ALD），旋涂，滴铸或喷墨打印制备的样品。 该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同（平面内）方向，并且具有很高的可比性。 基本测量单元 ： 测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数： • λ - 热传导系数 (稳态法/平面内方向) • ρ - 电阻率 • σ - 电导率 • S - 赛贝克系数 • ε – 发射率 • Cp - 比热容 磁测量单元 可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下： • AH - 霍尔常数 • μ –迁移率 • n -载流子浓度 薄膜材料性能有别于块体材料之处 - 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

产品简介：BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪，可准确测试滤膜、隔膜、织物、纤维、陶瓷、烧结金属等材料的通孔的最大孔径、最小孔径、平均孔径、孔径分布及渗透率，适用于研发、生产过滤材料及相关的科研单位和企业用户。BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪产品特点： 孔径测试范围：0.02-500um；多样品池设计针对不同尺寸样品，特殊样品可单独设计；具有全自动真空助润装置，可大大加速浸润时间，提高测试效率50%以上；根据待测样品不同，多种浸润液体可选；高精度双流量传感器，流量分段测量，量程互补，自动切换；高精度双压力传感器，分段压力测试，程序自动判断，自动切换；全不锈钢管路，金属硬密封，密封性好，耐压高，耐腐蚀；全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；多项专利技术保障仪器稳定性和准确性； 气体流动法薄膜孔径分析仪测试理论： 以某种膜材料为例，将膜用可与其浸润的液体充分润湿，由于表面张力的存在，浸润液将被 束缚在膜的孔隙内；给膜的一侧加以逐渐增大的气体压强，当气体压强达到大于某孔径内浸润液的表面张力产生的压强时，该孔径中的浸润液将被气体推出；由于孔径越小，表面张力产生的压强越高，所以要推出其中的浸润液所需施加的气体压强也越高；同样，可知，孔径最大的孔内的浸润液将首先会被推出，使气体透过，然后随着压力的升高，孔径由大到小，孔中的浸润液依次被推出，使气体透过，直至全部的孔被打开，达到与干膜相同的透过率； 首先被打开的孔所对应的压力，为泡点压力，该压力所对应的孔径为最大孔径； 在此过程中，实时记录压力和流量，得到压力-流量曲线；压力反应孔径大小的信息，流量反应某种孔径的孔的多少的信息；然后再测试出干膜的压力-流量曲线，可根据相应的公式计算得到该膜样品的最大孔径、平均孔径、最小孔径以及孔径分布、透过率。气体流动法薄膜孔径分析仪专业制造商贝士德,测试精度高,重复性好,气体流动法薄膜孔径分析仪提供专业的售前技术支持和优质的售后服务.

薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器，可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观，使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所，深圳大学等单位为典型用户。薄膜相变分析仪技术特点：1、精密光学测量技术，可进行单层、多层和超小样品的测量,且灵敏度更高2、非接触式信号采集，避免了接触式探针测量对样品的损伤和不稳定性缺点3、先进的光探针技术，使得采样范围最小直径可达300微米4、全自动一-键测量，操作简单，省时、省事5、超高采样速率1测量快速、准确，工作效率高6、触摸屏操作与电脑操作两种模式,测量随心所欲7、升温速率无级可调，根据实际需求任意选择8、与DSC测量相比，具有超高性价比9、科研型与基础型，满足不同需求技术规格1、仪器型号PTM17002、工作波长1550nm (特殊需要波长可定制)3、样品台温度范围:室温~120°C，温度精度+0.1°C4、采样频率1Hz5、最小采样范围直径300um6、红外非接触测温模式7、自然冷却与风冷两种降温模式8、加热速率无级可调9、设定参数后自动测量出薄膜相变的热滞回线10、USB2.0高速数据接口11、测试分析软件可得到相变温度、热滞宽度等特性参数12.可以Exce形式导出各原始测试数据和分析数据，以word形式导出测试分析报告

概述：沉积系统可用于制备光学薄膜、电学薄膜、磁性薄膜、硬质保护薄膜和装饰薄膜等，工艺性能稳定、模块化结构，采用行业最好的软件控制系统；4英寸镀膜区域内片内膜厚不均匀性：≤±2.5%，8英寸镀膜区域内片内膜厚不均匀性：≤±3.5%，测定标准以Ti靶材，溅射200——500nm厚薄膜，边缘去5mm，随机5点取样测定为准。样品托面中心到地面的高度约1360mm；镀膜材料适用于：Au、Ag、Pt、W、Mo、Ta、Ti、Al、Si、Cu、Fe、Ni、氧化铝，氧化钛，氧化锆，ITO，AZO，氮化钽，氮化钛等；PVD平台概述：既专注单一功能、又可通过拓展实现多平台联动： 1、 关键部件接口都为标准接口，可以通过更换功能单元实现电子束、电阻蒸发、有机蒸发、多靶或单靶磁控溅射、离子束、多弧、样品离子清洗等功能；2、 系统平台为准无油系统，提供更优质的超洁净实验环境，保障实验结果的可靠性和重复性；3、 系统可以选择单靶单样品、多靶单样品等多层沉积方式；4、 靶基距具有腔外手动调节功能；5、 系统设置一键式操作，可以实现自动手动切换、远程控制、远程协助等功能；6、 控制软件分级权限管理，采用配方式自动工艺流程，提供开放式工艺编辑、存储与调取执行、历史数据分析等功能，可以不断更新和升级；7、 可以提供网络和手机端查询控制功能（现场要具备局域网络），实现随时查询数据记录、分析统计等功能；8、 节能环保，设备能耗优化后运行功率相比之前节能10%；； 9、 可用于标准镀膜产品小批量生产。 互联系统技术描述 真空互联系统由物理气相沉积磁控溅射系统A、物理气相沉积磁控溅射系统B、物理气相沉积、电子束及热阻蒸发镀膜系统A、物理气相沉积电子束及热阻蒸发镀膜系统B、进样室、出样室、传输管、机械手等组成，可以实现样品在真空环境下不同工艺方法的样品薄膜制备和传递。

薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪厂商：济南兰光机电技术有限公司品牌：Labthink/兰光C206H氧气透过率测试系统基于库仑氧气分析传感器和等压法测试原理，参照ASTM D3985等标准设计制造，为高、中气体阻隔性材料提供高精度和高效率的氧气透过率测试。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏、电子等领域的薄膜、片材及相关材料的氧气透过性能测试。薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪产品特点：搭载Labthink新型科技成果的ppb级库仑氧传感器，可获取更低的测试下限。参照ASTM D3985标准设计，绝对值，无需校准。超长使用寿命，是传统库仑氧传感器的三倍。具有超限报警，自动保护功能。全新彩虹桥式测试腔，采用360°气流循环恒温技术，温度稳定性更佳。测试腔内搭载高精度湿度传感器，实时监测并记录湿度变化。测试过程中，实现流量、温度和相对湿度自动化控制，精度更高。高效六腔设计，独立六套50cm2标准面积测试腔，是传统透氧检测仪器测试腔数量的三倍。支持同一条件下6个试样同时测试，数据相互独立。同一测试周期，完成的样品量从2个提升至6个。自动夹紧试样，省时省力，夹紧力度一致，密封更佳。采用Windows系统的12寸触控平板操控，操控更便捷。自动模式，输入试验温湿度，一键开启，全自动测试。智能仓盖自动开闭，声光提醒。内嵌Labthink独有的高端工业计算机，杜绝由计算机病毒等引起的系统故障，保证运行可靠性与数据存储安全性。测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，氧气或空气在薄膜的一侧流动，高纯氮气在薄膜的另一侧流动，氧分子穿过薄膜扩散到另一侧中的高纯氮气中，被流动的氮气携带至传感器，通过对传感器测量到的氧气浓度进行分析，计算出氧气透过率等结果。薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪参照标准：ASTM D3985、ASTM F1307、GB/T 19789、GB/T 31354、DIN 53380-3、JIS K7126-2-B、YBB 00082003-2015测试应用：薄膜——各种塑料薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的氧气透过率测试。片材——PP片、PVC片、PVDC片、金属箔片、橡胶片、硅片等片状材料的氧气透过率测试。薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪技术参数：仪器型号：C206H测试范围：0.02～200 cc/(m2&bull day)(标准面积50cm2)；0.02～400000 cc/(m2&bull day)(标准面积50cm2)（定制）；0.2～2000 cc/(m2&bull day)(MASK面积5cm2)（选配）；1～10000 cc/(m2&bull day)(MASK面积1cm2)（选配）分辨率：0.0001 cc/(m2&bull day)重复性：0.02或1%，取大者温度范围：15～50℃ ；5～60℃（选配）温度波动：±0.15 ℃ 湿度范围：0%，5～90%±2% %RH（标准温度范围内）技术规格：测试腔：6套样品尺寸：4.4” x 4.4”（11.2cm×11.2cm）样品厚度：≤120 Mil（3mm）标准测试面积：50cm2气体规格：99.999%氮气、99.5%氧气（气源自备）气源压力：≥ 40.6 PSI / 280 kPa接口尺寸：1/8” 金属管外形尺寸：600mm× 490mm× 660mm电源：120VAC±10% 60Hz / 220VAC±10% 50Hz（二选一）净重：220Lbs（100kg）产品配置：标准配置：主机、平板电脑、取样器、真空油脂、Φ6 mm聚氨酯管选购件：GP-01气体净化装置、空压机、CFR21Part11、GMP计算机系统要求、DataShieldTM数据盾备注：本机压缩空气进口为Φ6 mm聚氨酯管（压力≥ 79.7 PSI / 550 kPa）；气源自备

3Flex 物理吸附分析仪 3Flex 物理吸附分析仪 作为材料物性表征领域最先进的仪器，3Flex可提供高精度的吸附和脱附等温线数据，为从基础研究到方法验证再到过程改进整个过程提供强大的数据支持。 增强对材料性能的理解3Flex可优化实验参数，有助于更好的理解材料，且是唯一一款可三站同时进行不同气体独立分析的表征仪器。 3Flex 物理吸附分析仪扩展研究领域3Flex硬件设计先进，检测精度可达到超微孔的水平，可达10-6mmHg。 优化过程3Flex可帮助研究者获得有价值的数据，用于验证理论、规范设计和合成方法，可广泛用于MOFs材料、分子筛、活性炭以及其他产品。利用微孔以及介孔高测试量设计，3Flex可快速帮助研究者优化工艺。 3Flex 物理吸附分析仪性能优势配置三个分析站，同时进行介孔、微孔测量，可满足用户的特定需求可进行介孔/微孔物理吸附或化学吸附分析。氪气选配可测量低比表面积样品可选蒸汽吸附可依次进行物理吸附和化学吸附实验带硬密封阀门和金属密封件的超净歧管设计，具有高抗化学腐蚀性、便于排气P0管带有独立的压力传感器，可连续测量饱和蒸汽压可测量相对压力低至10-9的等温吸附线MicorActiveTM数据处理软件提供强大的、直观的数据分析，可重置或者自定义报告高级进气模式，用户可根据需要组合定压和定体积增量模式体积小，节省宝贵的实验室空间不同的分析站可同时进行不同的吸附气体分析 3Flex 物理吸附分析仪的MicroActive软件 交互式软件，可直接获取吸附数据，通过简单地移动计算条，即可得到新的结构信息。交互式数据操作模式，尽量减少使用对话框和到达指定参数的路径可通过图形界面直接在BET、t-plot、Langmuir、DFT等模型中选择数据范围。MicroActive包含NLDFT模型计算孔径分布用户可通过报告选项编辑器自定义报告，且屏幕上预览。用户可使用Python编程语言自定义数据报告。更强的数据叠加对比能力，最多可叠加25个数据文件，包括压汞仪数据以及其他同类产品数据地添加和删除 3Flex 物理吸附分析仪交互式报告包括:等温线BET比表面积Langmuir比表面积t-PlotAlpha-S方法BJH吸附和脱附曲线Dollimore-Heal吸附和脱附曲线Horvath-Kawazoe(HK)MP-方法DFT、NLDFT孔径和表面能Dubinin-RadushkevichDubinin-Astakhov(DA)用户自定义报告（5个）

F10-RT 薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行全面分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果

微胶囊相变材料原位物理相态分析仪在能源效率和环境可持续性日益受到重视的今天，微胶囊相变材料（Microencapsulated Phase Change Materials, MPCMs）正成为智能温控系统的关键技术。这些材料能够在吸收或释放热量时改变其相态，从而维持恒定的温度，为建筑节能、电子设备冷却和个人热管理提供了创新的解决方案。在材料科学和化学工程领域，对微胶囊相变材料的物理相态进行精确分析是至关重要的。随着技术的进步，低场核磁共振（LF-NMR）技术已成为研究和分析这类材料的有力工具。本文将探讨低场核磁共振微胶囊相变材料原位物理相态分析仪的工作原理、技术优势以及其不同的应用。微胶囊相变材料原位物理相态分析仪微胶囊相变材料原位物理相态分析仪工作原理低场核磁共振微胶囊相变材料原位物理相态分析仪利用核磁共振原理，通过测量样品中的氢原子核在低强度磁场中的共振频率，来分析材料的物理状态。这种非破坏性检测方法可以实时监测材料的相变过程，提供关于材料结构和动力学特性的详细信息。微胶囊相变材料原位物理相态分析仪技术优势与传统的分析方法相比，低场核磁共振技术具有以下优势：&bull 非破坏性检测：无需破坏样品即可进行分析，适合贵重或不可再生材料的研究。&bull 高灵敏度：能够检测到微小的物理变化，为材料的微观结构研究提供精确数据。&bull 实时监测：可以连续跟踪材料的相变过程，提供动态信息。&bull 操作简便：用户界面友好，易于操作和数据分析。微胶囊相变材料原位物理相态分析仪基本参数&bull 产品型号：VTMR20-010V、VTMR20-010V-I&bull 磁体类型：永磁体&bull 磁场强度：0.5±0.05T&bull 样品控温范围：室温到130℃（标配）&bull 高配变温模块：-100℃到200℃（选配）&bull 成像功能（选配）微胶囊相变材料原位物理相态分析仪产品应用定量检测&bull 软硬段比例&bull 玻璃态转变温度&bull 活化能&bull 水分相态过程控制&bull 相变过程性能研究&bull 颗粒-聚合物相容性&bull 颗粒表面改性程度&bull 材料吸附性能评价&bull 聚合物竞争性吸附&bull 亲疏水性表征&bull 分散性能成像观测&bull 相变均一性研究应用案例

物理吸附分析仪全自动比表面积及孔隙分析仪ASAPTM 2020 Accelerated Surface Area and Porosimetry System2020提供更简便的操作、更精密的比表面和孔隙度数据和更强大的数据处理，是高精度的比表面积、孔隙度和化学吸附分析的一体机。广泛的应用于活性炭、药品、陶瓷、碳黑、催化剂、航天隔绝材料、MOF储氢材料、碳纳米管和燃料电池的研究，所有的ASAP2020软件都标配了微孔处理和DFT/NLDFT（多种吸附质、孔型和吸附厚度模型）。 采用&ldquo 静态容量法&rdquo 等温吸附的原理。测试等温吸附/脱附线，比表面分析从0.0005m2/g (Kr测量)至无上限，孔径分析范围：3.5埃至5000埃（氮气吸附），微孔区段的分辨率为0.2埃 ，孔体积小检测：0.0001 cc/g。 全自动比表面积及微孔孔隙分析仪提供三个泵，脱气站配备独立的真空系统，由一个二阶机械泵抽真空，分析站由二级泵联合抽真空，分别是干泵和分子涡轮泵。 * 真正全自动的仪器，脱气（到450℃）和分析都由电脑控制，仪器面板 没有任何按键* 配备1torr,10torr和1000torr高精度压力传感器* 可以实现2个脱气站独立脱气和高真空脱气的灵活组合，一个分析站的独立分析* 除了常用的数据处理外，独有DFT微孔和介孔全分布和表面能分布、Freundlich-Temkin曲线和等温吸附热分析，并配备NLDFT等其他模型以备选择* 提供多达9个物理吸附进气口，可以测试N2,Ar,CO2,CO,H2,Kr,甲烷和氟利昂等多种气体吸附* 仪器提供脱气和分析冷阱管，并且配备冷阱杜瓦，冷凝脱气脱出的气体杂质，确保快速抽真空和保护管路不被污染* 冷径和分析杜瓦瓶为大容积3.0升, 72小时无须人员介入，以确保微孔分析过程能在无需添加液氮的情况下进行。专利的等温夹套确保样品分析的整个过程样品管和饱和压力管液氮液面恒定，以确保样品分析结果的准确性* 可调伺服阀控制抽空速率，结合专利的单向结密封塞，防止样品管内的粉末样品&ldquo 沸腾&rdquo ，同时防止样品管从脱气站转移分析站时候的空气二次污染* 提供H2测定气体压力的能力，这个功能用来给储氢材料进行压力下的进气而设计* 仪器可升级为化学吸附和水、乙醇、饱和烃类等蒸气吸附* ASAP系列仪器的数据已经在SCIENCE和其他学术期刊上发表大量文章

F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。价格大大低于当今绝大多数同类仪器，应用几项技术， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。在用户定义的任何波长范围内都能进行最低、最高和平均反射测试。我们有专门的算法对硬涂层的局部反射失真进行校正。 我们的 AutoBaseline 能增加基线间隔，提供比其它光纤探头反射仪高出五倍的精确度。利用可选的 UPG-F10-AR-HC 软件升级能测量 0.25-15um 的硬涂层厚度。 在减反层存在的情况下也能对硬涂层厚度进行测量。无须处理涂层背面我们特殊的探头设计能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射，使用更厚的镜头抑制的更多。就像我们所有的台式仪器一样，F10-AR 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内即可完成设定。选择Filmetrics的优势 桌面式薄膜厚度测量专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性 嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果

塑料薄膜物理机械性能检测仪器_包装材料检测仪器塑料薄膜的物理机械性能是衡量包装在生产、运输、货架展示、使用等环节对内容物实施保护的基础指标，一般包括：抗拉强度与伸长率、复合膜剥离强度、热合强度、耐穿刺性能、耐冲击性能、耐撕裂性能、抗揉搓性能、耐压性能等指标。Labthink兰光，致力于通过包装检测技术提升和精品检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。聚焦包装检测领域，不断探索技术创新，拥有200余项专利技术，取得了“自主核心传感器技术”重大突破，形成以C系列为核心的尖端产品群，覆盖包装及相关材料透氧、透气、透湿、力学、热封、热粘、热缩、摩擦系数、测厚、冲击、密封泄漏、顶空气体分析、粘性、揉搓等性能测试。如需了解关于更多相关信息，您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。以下是塑料薄膜物理机械性能检测仪器：仪器名称+型号试验项目标准智能电子拉力试验机XLW拉伸、断裂伸长率、弹性模量、定伸应力、剥离、撕裂、热封强度、拉断力、穿刺力、开启力、黏合强度、低速解卷力、拔开力等GB 13022、GB 8808、GB 1040、GB 4850、GB 7753、GB 7754、GB 453、GB/T 17200、GB/T 16578、GB/T 7122、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 17590、ASTM E4、ASTM D828、ASTM D882、ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、ASTM F904、ISO 37、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T 1130热封试验仪(HST-H3)热封参数QB/T 2358(ZBY 28004)、ASTM F2029、YBB 00122003摩擦系数仪(MXD-02)摩擦系数GB 10006、ISO 8295、ASTM D1894、TAPPI T816测厚仪(CHY-C2A 机械接触式测量方法)材料厚度检测GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817撕裂度仪(C680M 埃莱门多夫法)撕裂性能ISO 6383、ISO 1974、GB 11999、GB/T 455.1、GB/T 455.2、ASTM D1922、ASTM D1424、ASTM D689、TAPPI T414落镖冲击试验仪(C670M)自由落镖冲击试验GB 9639、ASTM D1709、JIS K7124摆锤冲击试验机(FIT-01)摆锤冲击试验ASTM D3420、GB 8809-88、NF T54-116热缩试验仪(RSY-R2)热收缩性能测试GB/T 13519、ASTM D2732揉搓试验仪(C681M)材料耐揉搓试验ASTM F392气相色谱仪(GC-6890)包材溶剂残留、油墨残留检测 光泽度仪（单角度、多角度）平面光泽度检测 透光率雾度测试仪(WGT-S)透光率、雾度检测GB 2410-80、ASTM D1033-61、JIS K7105-81以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

仪器简介：高级薄膜测定系统 NKD-8000系统综合了光学、电子学和高级分析软件，是目前测定多层薄膜和基片的折射率、吸收系数和厚度最精确、最易用的系统。NKD-8000系列产品具有全自动、可同时测定透过光谱和反射光谱，入射光角度从0° 到90° 连续改变。对分光光谱仪而言，这是一项前所未有的新功能，使得NKD-8000适用于最具挑战性的光学测量。对多层薄膜和基片的n、k和d的测定变得准确、快捷。技术参数：光谱范围 NKD-8000 350nm&mdash 1000nm ( 标准模式 ) NKD-8000v 280nm&mdash 1000nm ( 紫外增强型) NKD-8000r 800nm&mdash 1700nm ( 红 外 型 ) NKD-8000w 350nm&mdash 1700nm (宽光谱 型 ) NKD-8000e 350nm&mdash 2200nm (超宽光谱 型 ) 注：宽光谱型提供两个检测器，可以覆盖350nm到1000nm和800nm到1700nm或2200nm (仅适用nkd-8000e)，但二者不能同时用。 获得数据时间 2&mdash 10分钟，这取决于光谱范围和不同选件 数据分析时间 5秒&mdash 5分钟，取决于数据的复杂程度 光谱分辨率 1nm或2nm （可选） 光源 NKD-8000v 150W 氙弧灯 其他 高稳态100W石英钨卤灯 样品尺寸 10× 10mm到200× 250mm标准系统,100mm 直径样品的扫描台 层数 至多5层，两个未知参数 薄膜厚度范围 1nm到25um，取决于角度、偏振和波长 1nm 需要增加椭偏模块 基片 透明、半透明或半吸收或半导体 材料 电介质、高聚物、半导体和金属 精确度 对于半吸收薄膜 典型 最大 薄膜厚度 ＜1% ＜3% 折射率 ＜0.1% ＜1% 消光系数 ＜1% ＜3% 对于金属薄膜 薄膜厚度 ＜1% ＜3% 折射率 ＜1% ＜3% 消光系数 ＜1% ＜3% 重现性 透射率 ＜0.01% ＜0.1% 反射率 ＜0.01% ＜1% 折射系数 ＜0.01% ＜0.1% 入射光角度 30° 、50° 或70° （标准单元）或由客户指定的从 20° 到70° 连续可变（可变角版本）或3个位置角度 样品上的光斑尺寸 5mm(标准系统)，250um（选件） 电源 220V，50Hz，2A 或110V，60Hz，3A 外观尺寸 890× 540× 720mm 重量 105Kg 选件 多角度，可变角度，X-Y样品扫描台，多种标准尺寸品架。样品观测显微镜。手动或全软件控制的偏振选件（s-、p-或非偏振）。样品加热台。台式机或工业PC。主要特点：主要特点 ◆ 可测定波长范围从280nm到2300nm的透射和反射光谱 ◆ 在同一区域可同时测定T和R值 ◆ 可对折射率(n)，吸收系数(k) 和厚度(d)进行准确测定 ◆ 样品可在X-Y扫描台上进行扫描 ◆ 入射光角度可以是固定角度、多角度和从0° 到90° 的连续变化的角度 ◆ 可用s-、p-或非偏振光作为入射光对T和R进行测定 ◆ 可对透明基片进行测定且不需要对样品进行前处理 ◆ 内建的材料数据库 ◆ 密封的样品室 ◆ 可选择散射模式 ◆ 具有在线或离线分析功能 对T和R同时测定 KD-8000系统在同一个光斑处，同时对透过光谱和发射光谱进行测定，保证了两套数据具有直接的相关性。通过测定这些光谱，全自动的控制和分析软件系统可以从中得到n、k和d值。而且所有这些都源自同一次测定。不同散射模式的选择使得对宽广范围材料的分析成为可能，而且用户可以选择缺省模式或者高级分析模式。 功能强大的Pro-OptixTM控制和分析软件系统包括一个可编辑的数据库，它允许对材料进行预先定义，以提高分析速度。该软件的其他特点包括颜色的匹配和太阳光的计算以及金属薄膜的算法。样品可以是透明的、不透明的或者半吸收的而无需对它们特殊处理。 NKD-8000是唯一一款能全部提供上述功能的分光型光学薄膜分析系统，它为薄膜表征设立了一个标准。 可变的入射光角度 ①反射光检测 ②光束管 ③Y轴坐标 ④透射光检测器 ⑤Z轴坐标 ⑥X轴坐标 ⑦样品台 ⑧马达驱动的可变角度选择装置 NKD-8000系统提供可变的角度选择装置，它提供完全马达驱动的，可由PC机控制入射光的角度，入射角度从从0° 到90° 可自由选择。 通过使用分析软件中的集成工具就可实现对T和R的s-偏振光谱和p-偏振光谱进行独立分析或二者一起分析。 通过作为选件的X-Y扫描台可以对大尺寸样品进行扫描，样品在X、Y两个方向上的最大行程是100mm，同时保持入射光斑始终位于行程的中间。 在测定时有许多样品架备选，它们可以夹持不同类型尺寸的样品。全PC控制使这种方法对整个样品的数据收集和分析变得简单、准确和快捷。 多个角度 如果在应用中只需一些不连续的入射光角度，那么多角度选件可以提供一个满意的解决方案。从0° 到90° ，用户可自定义三个入射光角度。 附件 热台：可控制样品温度至150度，测定变温下的T和R，对测定光学涂层和基体的光谱位移十分有用。 显微镜/相机：对样品进行显微分析。 微光斑附件：将入射光斑聚焦至200微米，特别适合表征微小样品和局部区域。

准确的水分、涂层重量和薄膜厚度曲线测量，用于纸张和涂布加工的过程控制。特点易于校准、操作和标准化。自动卷材边缘检测，可调整任何卷材漂移。坚固、密封的工业框架和线性移动器可承受高温和潮湿的环境。IP65等级的近红外传感器，带窗口空气吹扫。原始数据记录选项。没有像X射线或核系统那样昂贵的法规遵守或安全问题。很容易连接到闭环控制系统或本地报警。应用可以对许多基材进行水分和涂布量检测，包括纸张、薄膜、铝箔、纺织品、离型纸、标签、胶带和标签。Guardian-HD卷材扫描系统通常用于以下应用。热熔胶和薄膜厚度湿端水基涂布重量干端有机涂布重量烘干机出口和进口水分再加湿装置（LAS、蒸汽帘和加水板）。 快速和连续的产品分析对于所有的纸张、薄膜和加工过程都至关重要，用以确保一致的高质量产品。不适当的水分控制会导致边缘卷曲和平坦问题。涂布重量和薄膜厚度直接关系到最终产品的质量。 Guardian-HD能准确地在线测量水分和涂层厚度，在窄幅或宽幅的卷材上提供分区的卷材剖面，对加工生产线进行全部的实时检测。减少浪费，提高质量通过即时识别生产中的低效问题，减少启动时间和浪费。实时数据消除了耗时的实验室测试和调整的需要。 直观的图形显示提供了关键的生产洞察力，快速识别不合规格的产品。可靠的性能Guardian-HD卷材扫描系统是为在造纸和加工应用中的挑战性条件下的可靠操作而设计，具有密封的工业框架和强大的线性移动装置。它们提供非接触、非破坏性的在线测量，不受相对湿度、产品温度变化、环境光照和温度升高的影响。与核子和X射线系统不同，近红外不需要昂贵的法规遵守和安全认证。很容易与本地系统集成Guardian HD卷材扫描系统通过3个4-20mA模拟输出和可选的标准通信协议的数据总线接口，很容易集成到本地工厂的PLC中进行闭环控制。 可选的堆栈灯警报和输出继电器，确保不符合规格的生产被立即告知，以便及时调整和减少浪费。选择你的Guardian-HD所有Guardian-HD系统都包括一个工业扫描框架、一个近红外智能传感器和本地易读的触摸屏显示器，用于交叉方向的卷材扫描和输送带及机器方向的测量。精英版卷材扫描系统强大的功能，能够同时监测和控制单个或多个GUARDIAN-HD系统。精英版 Guardian-HD卷材扫描系统连接到中央控制台的本地显示器和基于Windows的19英寸电脑。更大的显示器可用于在一个中央控制台监测多条生产线的情况。预先安装了专有的ViewerSuite软件，用于滚动报告和原始数据记录，以实现完全可追溯性和审计。完整的卷材记录包括测量值、日期、时间、长度、产品名称等。卷材扫描平均和个别区域测量自动同步滚动报告到本地网络可存储多达100个产品配方代码整个卷材中可有100个独立区域指定的传送带和机器方向趋势标准版卷材扫描系统单线监测和控制的标准功能。标准版 Guardian-HD卷材扫描系统连接到一个12英寸的操作界面，用于简单的剖析显示和控制。原始数据记录功能，可导出为.csv、.xml或.txt格式。可存储多达100个产品配方代码整个网络中可有50个独立区域点此链接进入产品详情

测试原理：在低温（如：液氮浴，77.3K）条件下，向样品管内通入一定量的吸附质气体（如：N2），通过控制样品管中的平衡压力直接测得吸附分压，通过气体状态方程(PV=nRT)得到该分压点的吸附量；通过逐渐投入吸附质气体增大吸附平衡压力，得到吸附等温线；通过逐渐抽出吸附质气体降低吸附平衡压力，得到脱附等温线；相对动态法，无需载气（He），无需液氮杯反复升降；由于待测样品是在固定容积的样品管中，吸附质相对动态色谱法不流动，故叫静态容量法；测试理论：吸附、脱附等温线测定 BET比表面测定(单点/多点法)；朗格缪尔(Langmuir)比表面 统计吸附层厚度法外比表面； BJH法孔容孔径分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布； D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；DFT孔径分析 真密度测试、粒度估算报告。 脱气预处理系统：脱气站数量：2、4、8个预处理站可选；真空脱气，不采用气流吹扫方式；全自动脱气：不采用分体式的手动控制，而是采用与主机一体的全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停，程序升温、定时结束，实现无人值守测试和样品脱气处理；独 立 性：测试系统和脱气系统相互独立，样品的测试过程和脱气处理可同时进行；2组独立控温：可设置2组不同脱气温度、不同脱气时间； 金属加热脱气炉隔热设计，经久耐用，不易损坏脱气模式：具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；独立真空系统：不与测试位共用真空泵，脱气系统配备独立的双级机械真空泵；分析测试系统：测试范围：比表面0. 0005m2/g至无上限；孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm 介孔分析: 2nm-50nm 大孔分析: 50nm-500nm)；总孔体积：0.0001cc/g至无上限。测量精度：比表面积重复精度≤± 1.0%，最可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度 ≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。分 析 站：1/2/4或6个分析站可选；独 立P0站：具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。测试系统：根据“国标标准”利用“氦气”测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。另外，也可以通过“氮气”测试得到温区体积(弊端：利用氮气测试温区体积，测试过程中可能导致样品部分孔内被氮填充，影响实验过程中氮的实际吸附量，影响测试精度)。气路系统：贝士德仪器独创的BEST“模块”歧管系统，对基准腔及控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少90%以上，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，密封性提高10倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。管路通径：大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。控制系统：采用原装进口日本SMC气控阀和电磁阀组合应用，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。真空系统：仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立，真正彻底消除了分析与脱气在同时进行时之间的相互影响，避免由一套真空系统而带来的污染问题。压力测量：原装进口电容薄膜压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-10torr（可选）；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；微孔段分压 P/P0可达到 1×10-8，点数大于 50 个；大孔段具有 P0的实时测试功能，使 P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998。 液 氮 杯：配备了3L大容量小口径玻璃内胆杜瓦瓶，相对敞口不锈钢内胆的保温性能大幅提升，保温时长大于140小时，可连续测试90小时以上无需添加液氮，适应微孔长时间测试需求。真 空 泵：原装进口(阿特拉斯Atlas copco，原英国爱德华)双级机械真空泵+德国原装进口涡轮分子泵，全程软件自动启停控制，实现了全自动化操作。 液位控制：贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；标定气体：配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性。测试气体：高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等，配有多路独立进气口。样品类型：粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。售后服务：专业且完善的售后服务系统，可提供24小时电话咨询，48小时内上门服务，北京，上海，广州均设有服务机构，全力保障用户仪器正常运行；BSD-PS系列比表面及孔径分析仪---技术特点及优势l 独创的集成式“模块化”歧管系统模块化管路设计，将真空管路减少90%以上，仪器气密性提高10倍，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，减少漏气点，方便故障排查及维修，大幅增强仪器稳定性。 l 控制系统采用原装进口(日本SMC)气控阀和电磁阀组合应用，通过电磁阀控制气控阀的开关，气控阀直接与模块管路连接，气控阀的开关动作不发热，彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。l 独立P0测试站及饱和蒸气压螺旋P0管(1) 具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，专利号：ZL201120136959.X)(2) 采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。 (饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201620716311.2） l 液氮杯自动加盖功能具有液氮杯自动加盖功能，能有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰，（静态法比表面及孔径分析仪的加盖装置 专利号 ZL 201420148358.4）l 具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪基准腔恒温装置能够使恒温装置内的基准腔及内部气体、阀门、管路、传感器等的温度略高于环境温度并保持温度不变，降低了由于阀门发热导致温度的不均一性；保证了关键部件的温度恒定，减轻了传感器的漂移现象，提高了测试的准确性、稳定性和测试精度。（具有基准腔恒温装置的静态法比表面及孔径分析仪 专利号 ZL 201420148783.3）l 非阻隔式防飞扬防污染多措施并用：? 措施①：涡旋降尘原理的非阻隔式硬件防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况，如右图所示；? 措施②：贝士德独创的脱气位滤尘袋结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，缩短抽真空脱气时间、提高脱气效果；? 措施③：程序控制的分级抽速自动切换，防止瞬间高真空时样品飞扬；? 措施④程序升温，防止样品剧烈升温扬析沸腾；? 措施⑤：脱气完毕程控自动回填氮气；贝士德独创防污染滤尘袋结合涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。贝士德仪器独创的非阻隔式防飞扬防污染装置其他厂家的阻隔式防污染装置 工作过程：如遇到非常轻的样品，在高真空的情况下被抽飞，样品通过惯性首先落到滤尘袋内，极少部分会通过滤尘袋落到防污染瓶内，而不会进入气路系统，相比较阻隔式，既不影响真空度，又能够保护气路系统，彻底避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。非阻隔式防污染装置的优势：相比较阻隔式防污染装置，非阻隔式防污染装置能够彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。专利技术：(1) 具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，专利号：ZL201320045881.X；(2) 具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪，专利号：ZL201620714986.3。 工作原理：样品在脱气预处理过程中，如遇到较轻样品，在高真空的情况下，样品会发生扬析沸腾现象，常规的防污染都是通过阻隔的方式进行对气路系统的保护，而这种阻隔式防污染装置的弊端：1、若对2um以下的颗粒有效，则需要增加滤芯(滤棉)，而滤芯(滤棉)过多则会严重影响抽气速度，无法获得高真空度；2、如果滤芯(滤棉)过少，对于粒径小于2um的颗粒基本无效，样品便会发生扬析(抽飞)现象，发生扬析(抽飞)的样品便会进入管路系统、污染阀门等气路系统，影响真空度，造成样品的交叉污染，仪器维修率高，影响仪器的使用寿命。l 可选处理模式具有国内外首创的样品预“处理普通模式”和“分子置换模式”两种模式。(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，专利号：ZL201120136943. 9) l 真空泵自动启停管理优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命。l 断电自动保存当前数据超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行。l 人性化操作界面清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作。l 密封性自检先进的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气。l 高智能化工作模式交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容。l 杜绝液氮杯意外下降具有液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险。

AQUATRAN 3/38 WVTR 分析仪水蒸气渗透分析仪 AQUATRAN-W 3/38 H 由于其4测试腔，可以同时测试4个阻隔样品。新的双膜水平测试舱可以拆卸，便于样品制备，用户友好的操作界面提供了实时测试状态与目标限值的对比。 高精度检出限低至 0.05 g/（m2*day）全自动温度、流量和相对湿度控制简化了测试，并提供了良好的可重复性 较好的吞吐量良好的传感器响应时间，缩短了总体测试时间双膜可拆卸测试舱允许一次测试 4 个样品，所需空间更少自动测试方法，一键启动测试TruSeal 氮气环流密封可以消除许多测试中对*对零点的需求，从而缩短总体测试时间 AQUATRAN-W 3/38 H 分析仪可以测试高低阻隔膜的水蒸气透过率（WVTR）。它采用长寿命调制红外传感器，符合 ASTM F1249 标准。该分析仪在 0.05 到 200 g/（m2*day）的宽检测范围内提供了较准确和可重复的测试结果。 技术参数AQUATRAN 3/38 H 高吞吐量单位温度控制范围20 °C 至 40 °C ± 0.2 °C薄膜测试腔测试气体的湿度控制100% 和 50% 至 90% 相对湿度 ± 3 相对湿度未遮蔽薄膜的测试范围（50 cm2）0.05 至 100 g/（m2 x day）0.003 至 6.45 g/（100 in2 x day）遮蔽薄膜的测试范围（5 cm2）0.5 至 1000 g/（m2 x day）0.03 至 64.5 g/（100 in2 x day）薄膜分辨率0.02 g/（m2 x day）0.0013 g/（100 in2 x day）薄膜可重复性0.05 g/（m2 x day）或 2%，以较大者为准薄膜尺寸4 英寸 x 4 英寸标准，薄膜厚度高达 20 Mil薄膜测试面积50 cm2 标配物理规格 15.5 英寸高 x 12 英寸宽 x 23 英寸深（39.4 cm x 30.4 cm x 58.0 cm） 95 磅（43.1 kg）电气要求 电压：100 - 240 VAC 50/60 Hz 功耗不超过：700 VA

bet物理比表面及孔径分析仪BETA202A#BETA202A一、BET比表面分析仪-适用范围及功能1. 适用产品多：包括测量建材、石墨、电池材料、沸石、碳材料、分子筛、二氧化铝、土壤、有机化合物等粉体以及各种块材、片材、高分子纤维等。2.功能强大，包含目前所有的数据处理方法：单点和多点比表面积。粒度估算和真密度测试、孔隙率及孔隙度分析。吸、脱附等温线分析。中孔和大孔的孔体积，孔面积对孔径的分布，总孔体积等。二、软件功能:1. 可以选择USB连接或网口连接方式，网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障，可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控，为客户节省资源。2. 优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长，真空泵寿命。3. 自动恢复大气压功能，方便样品拆卸，并保证不会出现样品飞溅。4. 自动高真空检测系统，确保测试均在高真空环境下进行，确保测试结果的准确性。5. 自动应急处理系统，能够保证突然停电、石英管破碎等突发偶然情况下仪器自动恢复正常。6. 强大的数据库，存储有多达几十种测试模式，客户也可以根据自身需要建立更符合自身产品的测试模式，对产品进行更精确的测试。7. 断电后，测试系统恢复功能。比表面积及孔径分析时，真空脱气过程相当漫长，在进行测试时，突然停电，中断测试是一件非常痛苦而无奈的事情。不仅损失掉数据、还会耽误科研进程，这项功能在此时显得特别重要。8. 可以进行PDF电子版打印及Excel数据导出，以及各种理论数据选择打印。还可以进行不同时间、相同样品、相同测试模式数据和分布曲线对照查看和打印功能。9. 可以进行中英界面操作测试和中英文界面打印测试报告。三、技术要求：1. 真空系统：中科院真空处理专家专门为该系列设计的真空系统，全不锈钢管路和国际真空电磁阀配套，真空度更高（可达10-8Torr）,保持高真空度时间更长。基本配置真空泵10-2pa(10-4 Torr).P/P0可达10-7. 2. 智能选择多容量空间技术；3. 全不锈钢真空系统连接密封采用金属密封技术；4. 真空系统内壁采用镀银技术。5. 真空系统采用测试空间外面另加一层真空保护层技术。6. 检测系统：进口电容式绝压薄膜压力变送器，精度达到0.1%，（0-10 Torr---相当于0-1.33KP ，0-1000 Torr ------相当于0-133.3kp）高达24位AD采集电路确保数据的准确性。可以进行上千个点的测试。7. 优质控制阀使抽气和进气非常稳定，不会出现样品飞溅现象。特殊的气路处理，避免了样品管从脱气站到分析站转移过程中的二次污染。加热脱气和样品分析同位进行而不会对样品分析管路造成污染的先进技术。8. 样品测试和处理在相同位置，达到的脱气处理效果。同时避免样品拆来拆去，暴露在空气中，影响吸附能力。我们在样品室上方，利用一个三通阀，巧妙的把测试管路和加热脱气管路一分为二，使脱气时产生的杂质不会污染测试管路和真空计，这是我们核心的技术。9. 独立的P0管，确保P0值的准确无误。P/P0可达0.9995.10. BETA202A配置了大容量液氮杜瓦瓶，可保70小时无人介入操作。HYA还配置了液氮等温套，以确保整个分析过程中等温套以下的温度恒定。可加自动液氮补充系统，进行任意所需时长的样品测试。11. 真正的无人值守，仪器面板无任何手动按键，所有的操作程序均由计算机来控制。12. 分析范围广：比表面积0.0005m2/g（Kr测量）至无上限。孔径分析0.35nm-500nm。孔体积小检测: 0.0001 cc/g。(氮气吸附，可加配备高真空系统).测试精度可达重复性误差〈±1%。13. BETA202A装有3路传感器，一路对P0适时测试，确保P0的准确性，另2路对2个样品同时进行分析，可以同时测试2个样品的比表面积和孔径分布。 (注：可按需加装分子泵)。14. 只需要氮气进行测试，不需要氦气（氦气又贵且不好买），为客户节省资金。15. 比表面积1个25分钟，孔径常规1个3.5小时16. 可以进行N2,Ar，Kr，NH3，CO2，H2，CO，O2，甲烷，丁烷和其他非腐蚀性气体吸附分析。17. 可以选择USB连接或网口连接方式，网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障，可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控，为客户节省资源。四、安全保护：本仪器具有比较完善的安全防护措施：本试验仪器电路保护控制：（1）超压保护 （2）过流保护（3）短路保护 （4）漏电保护 （5）软件误操作保护五、试验方式自动真空测试

kSA MOS UltraScan采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效避免外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。测试实例：

一、西班牙micrux 公司 MicruX技术是一个创新技术为基础的公司，成立于2008，源自于西班牙的University of Oviedo两个研究小组的合作：由Agustin Costa Garc教授领导的免疫电分析小组（物理和分析化学系）和由若泽Rodr Guez GARC Ia（物理系）教授领导的光电子组。MicruX的主要目标是利用芯片实验室技术，开发和制造微流控设备、电化学传感器和微型分析仪器的创新解决方案。MicruX 公司精通于微流控技术和电化学检测体系，在微流控领域，微流控电泳芯片的研发、制造、应用方面具有丰富的经验；在电化学领域，对微型电化学传感器进行设计和系统集成。公司还提供利用微流控技术和电化学装置集成的新一代的分析设备，应用于食品、环境、临床领域的研究及工业中。二、micrux 产品介绍MicruX产品主要为电化学传感器，微流控平台以及便携式的分析仪器，用于科研及工业生产中。1、电化学传感器1-1、薄膜电化学传感器(Thin-film electrochemical sensors) （1）单电极（Single electrodes，SE）薄膜电极的标准尺寸为10x6mm，以玻璃为基质，采用SU-8树脂作为保护层，电化学池的大小为2mm, 适合1-5ul样品。具有经济高效，高分辨率、高灵敏度，低试剂消耗，可重复使用等优势。金属单电极基于三电极体系，一个工作电极（WE）、参比电极（RE）和辅助电极，适用于电分析、流动系统、纳米技术或生物传感器开发。产品包括薄膜金电极，薄膜铂电极和薄膜双金属电极，具有良好的电极内和电极间的重现性。薄膜金电极可用作酶和生物传感器，适合硫醇类、DNA等物质的检测，薄膜铂金电极适合气体传感器的开发，如氧气、氨气的检测等。而双金属电极可用于工作电极表面选择性的修饰而不影响参比电极和辅助电极的情况。薄膜技术用于生产定制化的电化学传感器，MicurX在不同薄膜电极设计和制造方面有大量丰富的经验，可提供满足不同客户需求的微电极。（2）微电极阵列（microelectrode arrays, MEA ）MEA微电极阵列具有蜂窝状微结构的针孔，直径为1 mm的工作电极上有10或5μm微孔。通过快速达到稳定状态，提高灵敏度和检测限。（3）薄膜叉指电极（interdigitated electrodes, IDE）金属叉指电极由两个独立的电极阵列构成，无参比电极和辅助电极，特殊圆形电池的设计更好的适应样品液滴（小于10ul），高的分辨率和精确性。用于阻抗、电容、导电性和燃料电池。叉指电极有铂金和黄金叉指电极，具有不同的宽度和缝隙。用于光学和电化学阻抗研究，光谱电化学等。（4）叉指阵列微电极（interdigitated array microelectrodes IDA）叉指阵列电微极具有四个电极，2个叉指工作电极，1个参比电极和1个辅助电极，可采用单模式或者双模式。包括铂金和黄金薄膜叉指电极阵列，其中铂金叉指阵列微电极适用于硫醇、尿酸、抗坏血酸、癌症生物标志物、杀虫剂等检测，铂金叉值阵列微电极用于气体传感器，氧气、二氧化氮、爆炸物等检测。（5）叉指环阵列微电极（interdigitated ring array microelectrodes IDRA）叉值环状阵列微电极采用四电极配置，两个环状叉指工作电极，可采用单电极模式和双电极模式，尤其适合流动分析系统。（6）定制化的薄膜电化学传感器MicruX可提供现成的金属薄膜微电极，以及根据需求预先设计的传感器，供应不同的定制化的传感器。可提供单电极或者多电极系统，集成一个或者多个工作电极，和一个参比电极、辅助电极。不同的线性和环状叉指电极，以及双叉指电极传感器，以及寻址微电极阵列系统，微电极阵列芯片（4套7个微电极，28个独立的寻址微电极），多电极芯片等。

仪器简介：HCX09A薄膜热物性测试仪 该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。技术参数： HCX09A薄膜热物性测试仪 该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。 主要技术参数： 1．导热系数范围：0.05～20w/m&bull k 2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。 3．测量结果，准确度 ± 3% 4．计量加热功率可调节± 1%。 5.样尺寸要求：圆柱体￠15--30*5--30mm . 6.温度和保护气氛按用户要求定制。 7.配接计算机实现全自动测试分析。

仪器简介：kSA MOS ThermalScan 薄膜热应力测量系统（薄膜应力仪，薄膜应力计，薄膜应力测试仪），测量光学设计MOS传感器，同时kSA公司荣获2008 Innovation of the Year Awardee！系统采用非接触MOS激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力Mapping成像统计分析；同时可准确测量应力、曲率随温度变化的关系；部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。同类设备：*薄膜应力测试仪（薄膜应力测量系统，薄膜应力计）；*薄膜残余应力测试仪；*实时原位薄膜应力测量系统；技术参数： Film Stress Tester, Film Stress Measurement System，Film Stress Mapping System 1.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 2.曲率分辨率：100km； 3.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：up to 300mm（可选）； 4.XY双向扫描速度：可达20mm/s； 5.XY双向扫描平台扫描步进分辨率：2 μm ； 6.样品holder兼容：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm, and 300mm直径样品； 7.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 8.成像功能：样品表面2D曲率、应力成像，及3D成像分析； 9.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力、Bow和翘曲等； 10.温度均匀度：优于±2摄氏度； 主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.变温设计：采用真空和低压气体保护，温度范围RT~1000°C； 3.样品快速热处理功能； 4.样品快速冷却处理功能； 5.温度闭环控制功能，保证优异的温度均匀性和精度 6.实时应力VS.温度曲线； 7.实时曲率VS.温度曲线； 8.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 9.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 10.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 11.气体（氮气、氩气和氧气等）Delivery系统；实际应用：

薄膜表面爽滑性测试仪 薄膜动静摩擦系数测定仪 薄膜开口性试验仪薄膜动静摩擦系数测定仪是一种专业设备，用于精确测量各种材料的静摩擦系数和动摩擦系数。这类仪器广泛应用于塑料薄膜、薄片、铝箔、纸张、纸塑复合膜、纸板、金属以及特殊应用如人造皮肤等产品的摩擦性能测试，适用于造纸、包装材料、质量检测中心等行业。薄膜表面爽滑性测试仪 薄膜动静摩擦系数测定仪 薄膜开口性试验仪技术原理：摩擦系数测定仪基于简单的物理原理，将两个测试表面放置在一起，其中一个表面固定在滑块上，滑块带有一定重量。在设定的接触压力下，通过移动滑块，仪器记录摩擦力。通过摩擦力与滑块重力的比值，计算得到静摩擦系数和动摩擦系数。薄膜表面爽滑性测试仪 薄膜动静摩擦系数测定仪 薄膜开口性试验仪主要特点：兼容标准与非标试验：支持GB、ISO等国际标准，同时适应非标准试验需求，适合科研和材料研究。用户友好操作：一键式操作，配备嵌入式软件，界面直观，易于学习和使用。高精度与稳定性：采用高精度进口传感器，确保测试结果的准确性和重复性。多功能性：支持任意滑块质量与试样厚度的试验，具备液晶显示、数据统计分析、历史数据存储及打印功能。智能化设计：内置微型打印机，支持数据联网，可连接实验室数据管理系统，增强数据管理能力。薄膜表面爽滑性测试仪 薄膜动静摩擦系数测定仪 薄膜开口性试验仪技术参数：测试量程：提供多种选择，如5N、10N、30N，以适应不同材料的测试需求。测试精度：0.2%FS，确保测量的精确度。支持行程：330mm，允许较大的移动范围。滑块质量：标配200g、500g，可适应不同测试要求。试验速度：0-1000mm/min，可调速，满足不同测试条件。电源与功耗：AC220V50Hz，功率100W，节能设计。标准支持：遵循GB10006、ISO8295、ASTMD1894、TAPPIT816等标准，确保测试的标准化和国际认可度。配置与选购：标准配置包括主机、微型打印机、彩色触摸屏及不同规格的滑块。可选购配套软件、通信电缆、非标滑块、校准附件等，以扩展功能或满足特定研究需求。

kSA MOS US采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS ，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。 相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描小步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响；同时提高了测试的分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。实际应用：

卷对卷式LB膜分析仪 请通过我们的联系我们！卷对卷式LB膜分析仪仪器用于在较长的柔性基底（如保鲜膜式柔性带状基底）上连续沉积单分子薄膜，也可把大尺寸刚性衬底粘接在皮带上进行镀膜，可进行无限多次LB薄膜沉积，可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转，沉积X,Y,Z多种类型的LB薄膜结构。同时具备垂直镀膜与水平镀膜功能。衬底可以是卷式铝箔、卷式PET塑料薄膜等。设备包含镀膜槽，卷对卷样品传动装置，卷对卷转动滑障与水平移动滑障，表面压探头与镀膜头，自动进样装置：注射泵与蠕动泵，控制器，电脑。卷对卷式LB膜分析仪仪器是一种多功能的LB莫分析仪，具有柔性镀膜，刚性镀膜，垂直镀膜，水平镀膜功能。卷对卷式LB膜分析仪液体界面单分子薄膜镀膜仪器可进行无限多次薄膜沉积，可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转，沉积x、y、z型结构的薄膜。卷对卷式LB膜分析仪技术指标：柔性基底镀膜尺寸范围：长度可达3m，宽度可达16.5cm，柔性基底传送速度范围： 0.4625-117 mm/s，调整步阶0.007725 mm/s。镀膜井尺寸：200x180x200 mm (w-d-h)，侵入液体的zui大基片尺寸不小于170x170x170 mm (w-d-h)，兼容常规片状固体基片。表面压传感器：带2个表面压传感器，分别测量镀膜区域与补样区域的表面压值，表面压传感器灵敏度：0.01 mN/m，测量范围：0-80 mN/m。

主要功能：◆ 全功能：比表面积，介孔，微孔，超微孔分析；◆ 高通量：分析位数量3/6/9/12可选 ◆ 全自动：脱气→测试，全自动切换 ◆ 高配置：选配双站双分子泵组，分子泵脱气 ◆ 防污染：微孔样品“压控升温”防污染脱气 ◆ 零氦污染：先氦气测温区，后自动脱气 ◆ 自动循环：材料循环吸附性能自动评价 ◆ 常规气体吸附：如N2，O2，Ar，CO，CO2；◆ 可燃气体吸附：如H2，CH4，C2H6等烷烃炔烃；选配功能 Optional Function＋恒温水浴实现-10-80℃任意温度下非腐蚀性气体吸附＋液氮面恒定装置LNT实现100K~室温任意温度下的非腐蚀性气体吸附测技术参数： ◆ 宽测试范围：比表面积0.0005㎡/g以上，孔径0.35-500nm ◆ 测试效率：多点BET（不含脱气过程），标准模式12个样品/60min；极速测试模式12个样品/15min； ◆ 高测试精度：比表面积、孔径、孔体积、吸附量，定量误差＜0.5%RSD（以标准样品BET值计） ◆ 程序升温脱气：软件控制程序升温，室温-400℃，精度优于0.1℃； ◆ 智能脱气完成判断：支持软件自动判断，根据压力变化自动判断脱气效果； ◆ 防飞扬脱气：“程序控压”+“程序控温”+“脱气炉升降”=“压控升温” ◆ 真空度：真空度可达10-9Pa 试特征结构：技术优势： ◆ 高通量高效率：最多一次支持12个样品的分析； ◆ 真正全自动化：国际首创的脱气炉与杜瓦杯自动切换，无需人工转移样品管或脱气炉；专利名称：加热炉与恒温浴杯位置自动切换的全自动物理吸附仪专利号：ZL202020232044.8； ◆ 时间利用率高：解决了常规仪器下班后脱气完成后，无法开始进入测试的时间浪费，让下班装样，上班看数据成为现实； ◆ 彻底消除“氦污染”：氦气测试死体积→真空加热脱气→吸附测试在国际范围内率先解决微孔分析的氦污染难题，提高测试准确度； ◆ 防飞扬脱气：支持“程序控压”+“程序控温”脱气，根据压力变化自动升降脱气炉，将防止样品飞扬；专利名称：具有程序控压防飞扬脱气系统的物理吸附仪 专利号：ZL202020230457.2； ◆ 支持自动循环测试：自动脱气+测试循环测试，用于评价材料吸附性能稳定性和吸附性能寿命评价；“压控升温”防飞扬脱气技术 即由气体压力控制下的程序升温技术，根据压力变化自动启停程序升温，从根本上防止样品飞扬； 专利名称：具有程序控压防飞扬脱气系统的物理吸附仪 专利号：ZL202020230457.2“温区自动恒定”专利技术 曲线表明，三种方式温区恒定效果24小时“吸附腔等效体积”的变化率分别为：BSD温区伺服自动恒定：0.10%，等温夹：0.25%，液位传感器：0.55% 专利名称：具有温区自动恒定结构的物理吸附仪 专利号：ZL2018 2 0401132.9 ◆ 便捷安装密封：单分析站6支样品管一次性密封技术，无需单支逐个密封， 无与伦比的效率体验； 专利名称：一种具有密集式多样品管共密封试管夹套的物理吸附仪 专 利号：ZL 2019 2 1078195.6； ◆ 气路系统全恒温：仪器内部气路系统全恒温至40℃，精度优于±0.01℃； ◆ 上移门：人性化轻松开合，节约实验室空间；专利名称：具有上下开合式防护罩的物理吸附仪 专利号：ZL202022203243.9； ◆ 电动涡轮液氮泵：人性化液氮添加，无极调速，随意移动，安全且便捷，液氮无污染；专利名称：一种叶轮结构（非气压式）的电动液氮泵 专利号：ZL 2017 2 0864873.6； ◆ 高可靠性：国际化供应商体系，核心部件均采用原装进口； ◆ 开放式数据接口：软件可以与Lims联用，上传测试结果至Lims 对比测试：测试报告：获得奖项：1.3i奖-2022年度科学仪器行业优秀新品重新定义全自动——记优秀新品奖获得者贝士德仪器BSD-660比表面积及孔径分析仪2.获得第五届“国产好仪器”奖项用户说好才是真的好！贝士德BSD-660全自动高通量比表面积及孔径分析仪获评“国产好仪器”相关资料：相关标准：1.GB/T 19587-2017气体吸附BET原理测定固态物质比表面积的方法 ISO 9277-2010 用气体吸附测定固态物质比表面积 BET法2. GBT 39713-2020 精细陶瓷—陶瓷粉末比表面积测试方法 BET 法3. GB/T 21650.1-2008/ISO 15901-1:2005 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度——第1部分：压汞法4. GB/T 21650.2-2008/ISO 15901-2:2006 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度——第2部分：气体吸附法分析介孔和大孔5. GB/T 21650.3-2011/ISO 15901-3:2007 压汞法和气体吸附法测定固体材料孔径分布和孔隙度——第3部分：气体吸附法分析微孔6. GBT13390-2008 金属粉末比表面积的测定 氮吸附法7. GBT 10722-2014 炭黑 总表面积和外表面积的测定 氮吸附法8. GBT 7702.20-2008-煤质颗粒活性炭试验方法 孔容积 比表面积的测定9. GB/T 6609.35-2009-氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法

高分子薄膜原位双向拉伸试验机进行静态拉伸测试,将方形膜片通过软化温度保温和拉伸倍率的设定可以进行横向纵向同步或异步拉伸延展呈现。该设备用于高端薄膜领域的新产品研发、实验室对于新材料薄膜成型的物理性能和化学性能测试分析.高分子薄膜原位双向拉伸试验机可实现水平方向上的，前后左右同步拉伸，也可以实现Z轴垂直方向上的加载方式，该机配备了光点编码器可精密测量X向Y向Z向的位移。同时增加了耐腐蚀水槽和CCD电子显微镜可动态的观查试验过程种整个试样的变化情况。手动控制双轴原位拉伸试验机设备框架采用铝合金结构组成具有刚性好，测试精度高等有点。高分子薄膜原位双向拉伸试验机主要用于塑料薄膜、金属薄板、高分子材料各项物理力学性能分析。该机具备测位移功能。设备框架是有铝合金组成刚性好，测试精度高等有点。高分子薄膜原位双向拉伸试验机技术参数：1.规格：HY(SZ)-01102.精度等级：1级3.额定负荷：100N4.位移精度：1级5.位移分辨率：0.01mm6.X轴位移测量范围：0-----100mm7.Y轴位移测量范围：0-----100mm8.Z轴位移测量范围：0-----100mm9.夾持有效试验宽度：20mm10.夹持有效试验厚度：0-1mm11.试验速度：手动无极调速12. 透明水槽一套13. 200倍CCD电子显微镜一套14.主机尺寸：长800mm*宽800mm*高800mm15.主机重量约：50Kg注：包括耐腐蚀溶液槽，试样垂向加载装置

恒奥德仪器薄膜流滴仪 双口薄膜流滴试验机 薄膜初滴时间和流滴失效时间仪 配件型号HAD-D80 按照GB4455—2006农业用聚乙烯吹塑棚膜和GB/T20202—2006农业用乙烯—乙酸乙烯酯共聚物（EVA吹塑棚膜）的要求设计制，适用于测定聚乙烯吹塑棚膜和以乙烯—乙酸乙烯酯共聚物（EVA）为主要材料，乙酸乙烯酯基（VA）平均含量不低于4%的内添加型吹塑棚膜的流滴性能。主要测试薄膜的初滴时间和流滴失效时间。可应用于科研、教学、生产企业、试验室、研究所及质量监督门。 薄膜流滴仪 双口薄膜流滴试验机 薄膜初滴时间和流滴失效时间仪 型号：HAD-D80 术参数 试验容积：28L——820×320×110mm 试验口径：φ300mm 薄膜倾角：10°、15°、20° 试验温度：室温~80℃ 控温度：0.5℃ 时间设定：0~99小时59分59.99秒 时间度：0.1S 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！ 以上参数资料与图片相对应

上仪器商城-专注实验仪器设备 全国送货厂家直销! 品质保证!网站: 电话:[厂家已全部入驻支持批发,同行勿加]实验仪器非电子产品,使用效率和售后服务最重要。我们同品质比价格,同价格比效率,同效率比售后。设备仪器属于精密设备 客户订单录档案 免费1年质量保质,任何问题提供配件保养维护上仪器商城专注以实验仪器销售为核心的仪器企业,目前入驻仪器企业150多家；热卖销售有实验分析仪器，实验常用仪器，生命科学仪器，环境监测仪器等等。产品说明薄膜蒸发器是一种特殊的液--液分离技术，在高真空状态下，使蒸气分子的平均自由程大于蒸发表面与冷凝表面之间的距离，从而可利用料液中各组分蒸发速率的差异，对液体混合物进行分离。产品范围精细化工：如芳香油提纯.高聚物中间体的纯化.羊毛脂的提取；医药领域：如提取天然维生素AE等.制取氨基酸及葡萄糖的衍生物；食品行业：如精制鱼油.油脂脱酸.精制高碳醇.混合油脂的分离；其他领域：石油行业，日用化学，环保领域。主要特征1.远低于物料沸点的温度下操作,而且物料停留时间短 利于高沸点、热敏及易氧化物料的分离；2.有效地脱除液体中的物质如有机溶剂、臭味等,对于采用溶剂萃取后液体的脱溶是非常有效的方法；3.可有选择蒸挥发出产物,去除其它杂质,通过多级分离可同时分离2种以上的物质；4.蒸馏真空度高，真空度可达0.1pa以下，其内部可以获得很高的真空度，通常分子蒸馏在很低的压强下进行操作，因此物料不易氧化受损；5.蒸馏液膜薄,传热效率高，膜厚度小于0.5mm；6.分离程度更高，分子蒸馏能分离常规不易分开的物质；7.没有沸腾鼓泡现象，分子蒸馏是液层表面上的自由蒸发，在低压力下进行，液体中无溶解的空气，因此在蒸馏过程中不能使整个液体沸腾，没有鼓泡现象；8.提供多种规格客户选择，适用于客户小试实验,中试实验，如果需要更大蒸发面积规格的可以根据客户要求定制；9.物理分离法，无毒、无害、无污染、无残留，可得到纯净安全的产物；10.刮板系统由PTFE材料和SS316L不锈钢材料制成，具有极高抗腐蚀的功效；11.进料罐可选实现预加热功能，预热温度可以调节；12.各个接口采用的是氟胶垫片进行密封，气密性好，如客户需要耐腐蚀可以更换成四氟材质。技术参数产品型号AYAN-B60AYAN-B80AYAN-B100AYAN-B150AYAN-B200AYAN-B220内径(mm)6080100150200220蒸发面积(㎡)0.060.10.150.250.350.5冷凝面积(㎡)0.10.150.250.450.550.65进料容积(L）122255处理流量L/H0.1∽2.00.5∽4.00.5∽5.01.0∽8.01.5∽10.02.0∽15.0电机功率(W)120120120120120200转速(r/min)450450450450450450轻组分收集瓶(L）112355重组成收集瓶(L）112355冷井有有有有有有外置冷凝装置有有有有有有冷却装置有有有有有有真空度(pa)100bar以下100bar以下100bar以下100bar以下100bar以下100bar以下受热温度(°C)室温-300室温-300室温-300室温-300室温-300室温-300

产品简介：BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪，可准确测试滤膜、隔膜、织物、纤维、陶瓷、烧结金属等材料的通孔的最大孔径、最小孔径、平均孔径、孔径分布及渗透率，适用于研发、生产过滤材料及相关的科研单位和企业用户。BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪产品特点： 孔径测试范围：0.02-500um；多样品池设计针对不同尺寸样品，特殊样品可单独设计；具有全自动真空助润装置，可大大加速浸润时间，提高测试效率50%以上；根据待测样品不同，多种浸润液体可选；高精度双流量传感器，流量分段测量，量程互补，自动切换；高精度双压力传感器，分段压力测试，程序自动判断，自动切换；全不锈钢管路，金属硬密封，密封性好，耐压高，耐腐蚀；全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；多项专利技术保障仪器稳定性和准确性； 气体流动法薄膜孔径分析仪测试理论： 以某种膜材料为例，将膜用可与其浸润的液体充分润湿，由于表面张力的存在，浸润液将被 束缚在膜的孔隙内；给膜的一侧加以逐渐增大的气体压强，当气体压强达到大于某孔径内浸润液的表面张力产生的压强时，该孔径中的浸润液将被气体推出；由于孔径越小，表面张力产生的压强越高，所以要推出其中的浸润液所需施加的气体压强也越高；同样，可知，孔径最大的孔内的浸润液将首先会被推出，使气体透过，然后随着压力的升高，孔径由大到小，孔中的浸润液依次被推出，使气体透过，直至全部的孔被打开，达到与干膜相同的透过率； 首先被打开的孔所对应的压力，为泡点压力，该压力所对应的孔径为最大孔径； 在此过程中，实时记录压力和流量，得到压力-流量曲线；压力反应孔径大小的信息，流量反应某种孔径的孔的多少的信息；然后再测试出干膜的压力-流量曲线，可根据相应的公式计算得到该膜样品的最大孔径、平均孔径、最小孔径以及孔径分布、透过率。气体流动法薄膜孔径分析仪专业制造商贝士德,测试精度高,重复性好,气体流动法薄膜孔径分析仪提供专业的售前技术支持和优质的售后服务.

日本TOHO FLX系列 薄膜应力量测设备FLX系列设备是由日本TOHO公司所生产的，广泛应用于半导体行业薄膜应力的量测。测试原理 在硅晶圆或者其他材料基地上附着薄膜，由于衬底于薄膜的物理常数不同，将会产生应力而导致衬底基板形变。由于均匀附着的薄膜引起的形变表现为基板翘曲，因此，可依据翘曲（曲率半径）的变化量计算应力。本薄膜应力测量设备用下述方法测量附着表面上的薄膜引起的基板曲率半径变化量。设备特点 （1）双光源扫描（可见光激光源及不可见光激光源），系统可自动选择zui佳匹配之激光源；（2）系统内置升温、降温模拟系统，便于量测不同温度下薄膜的应力，温度调节范围为-65℃至500℃；（3）自带常用材料的弹性系数数据库，并可根据客户需要添加新型材料相关信息至数据库，便于新材料研究；（4）形象的软件分析功能，用于不同测量记录之间的比较，且测量记录可导出成Excel等格式的文档；（5）具有薄膜应力3D绘图功能；主要规格 型号FLX-2320-SFLX-2320-RFLX-3300-TFLX-3300-R温度温度范围室温～50O°C（可选： -65'C~500'C)室温室温～50O°C（可选： －65'C~500'C)室温升温速度~25'C／分钟 (Max.)------~25'C／分钟 (Max.)------调节功能内置调零机构------内置调零机构------样品尺寸75-200mm75-200mm300mm300mm扫描范围200mm200mm300mm300mm晶圆绘图手动自动手动自动测量重现性1.3MPa晶圆输送方式手动脱附气体N2或者Ar气体(1.5L／分钟/0.3kg/cm2）------N2或者Ar气体(1.5L／分钟/0.3kg/cm2）------