荧光多元素分析仪

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。 主机标准配置：上照式光路系统直射模式 FAST-SDD探测器 数字多道处理器 高压铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵 录井行业应用案例l 岩心成份普查：仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。 l 现时分析能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟； l 现场分析 独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务； 仪器性能优势：仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；准直器大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试准确度封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；大面积厚晶体FAST-SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF® 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具 &blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。 重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH特别说明，此页面中所有展示的图片和信息仅供参考。

DM2100 X荧光多元素分析仪在同档次中真正得到广大水泥企业认可的获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2100 X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在310秒内测出物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度。图1 EDXRF分析技术原理图DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪已获得实用新型专利（专利号：ZL200620040917.5）和发明专利（专利号：200610025556.1）各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目（编号：200607406），并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。图2 2021款面板图DM2100X荧光多元素分析仪的2021款除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM2100X荧光多元素分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用国内首创的分谱技术，能真正区分相邻元素，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。功能强大––有合格率统计、率值计算、出错提示等，还可根据用户要求增加软件功能。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3系数D-2.89-3.460.2713.440.12系数E57.1432.415.7622.032.32系数F00000相关系数γ0.99120.99800.99270.99350.9967这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM2100X荧光多元素分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3标准值1.4610.752.5247.421.30平均示值1.1.3510.642.5047.381.36最大示值1.4710.722.5247.571.39最小示值1.2410.562.4847.281.33极差0.230.160.040.290.06示值标准偏差0.06500.04610.01270.07750.02163倍示值标准偏差0.1950.1380.0380.2330.065GB/T176的重复性限0.200.200.150.250.15DM2500与国标的符合性优优远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM2100X荧光多元素分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%， SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.06%，S SO3≤0.02%，SCaO≤0.08%，S Fe2O3≤0.03%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：310s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤150W尺寸及重量560mm（W）× 470mm（D）× 150mm（H），23kg实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406