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扫描移颗粒谱仪

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扫描移颗粒谱仪相关的仪器

  • KH-3100型全能型薄层色谱扫描仪 —中药指纹图谱专家—全球首创含量谱图、图像、相似度判定三者合一中药是我国的传统优势,中药指纹图谱是中药现代化的重要组成,是中药研究的热点,与使用HPLC-DAD、HPLC-MS的中药指纹研究方法相比,薄层色谱法成本低、速度快、样品前处理少、直观性强,具有巨大的优势,是真正能普及的中药指纹图谱分析方法。上海科哲公司是中国唯一的薄层色谱扫描仪生产商,中国薄层色谱仪器的领导者,KH-3100型全能型薄层色谱扫描仪专为中药指纹图谱分析而打造,是中国第一台具有专业中药指纹图谱功能的薄层色谱扫描仪,创造性的将全波长薄层色谱扫描仪、图像系统、中药指纹图谱软件三者集成在一起,功能在全球处于领先地位,可使中药指纹图谱研究人员独辟蹊径,获得强大的竞争优势,更快地出文章、出标准、出效益。中药指纹图谱功能 1、可进行薄层板高精度快速定量,标准样品RSD值≤2%; 2、可进行图像拍摄,得出薄层板图像,用于快速检测;3、扫描仪可任意调用图像数据,进行扫描轨迹跟踪,为全球领先;4、具有强大的指纹图谱功能,进行相似度比对,得出中药质量信息;5、可将薄层图像转化为三基色色谱曲线,再进行快速相似度判定;6、可得出样品成分的紫外-可见光谱,使指纹特征性进一步提高;7、带有样品图形同图平行比较功能,使不同批次的产品差异一目了然;8、带有薄层点样软件,使点样精确,位置容易确定; 仪器特点1、自动光源能量标定,提醒更换能量不足光源;2、自动对灯,使光源始终保持最强状态;3、自动校正光栅单色仪,保持波长的准确性;4、氘灯-卤钨灯自动切换;5、带有紫外光谱扫描功能,可分析未知物质,优化扫描波长;6、USB数据传输,数据传输量大,传输速度快;7、工作站性能强大,仪器全计算机控制,自动化程度高;8、光源可提供200nm~850nm 连续紫外-可见光谱,波长范围宽;9、单色仪使用1200条/mm的全息光栅,分辨率与光谱纯度高;10、工作站可进行样品、方法、操作者管理,符合GMP/GLP要求;11、工作站预置了2000版、2005版、2010版及2015版的中药定量分析方法,调出即用;主要优点1、仪器具有光电与图像两个检测器,可同时得到扫描与图像数据,世界领先; 2、可用图像指导薄层色谱扫描,自动进行轨迹追踪,速度更快,结果更准;3、扫描速度快,定量准确;4、功能齐全,高度自动化,高度可操作性,操作非常容易;仪器组成1、主机(含光源、光栅单色仪、移动平台、USB串口);2、GoodLook-1000成像系统; 3、Tstar-3100专业薄层中药指纹图谱工作站;主要指标1、测量方式:吸收法,荧光法(选配); 2、光谱范围:200nm~850nm(连续可调); 3、光源:卤钨灯、氘灯(自动切换); 4、单色器:全息光栅(1200线/mm); 5、光谱带宽:10nm;6、波长准确度:±1nm;7、最小分辨率为:25~50μm;8、成像波长:254nm、365nm、白光;9、测量平台:可放200mm×200mm色谱板; 10、扫描速度:0~120mm/s; 11、操作系统:WIN7/10;12、电源接口:USB接口 220V 300W;Tstar-3100专业薄层中药指纹图谱工作站功能: 1、审计追踪; 2、文档管理软件;3、薄层色谱扫描软件;4、薄层图像分析软件;5、指纹图谱软件;6、色谱图形比较软件;7、图像轨迹跟踪扫描校正软件; 仪器配件(选配)1、SP-20E型自动薄层色谱点样仪; 2、TD-II型全自动薄层铺板机; 3、TS-II型超细电动薄层喷雾器; 4、TK-10型电动展开仪;仪器用途可完成下列药品的分析: 1、中药材三七、山豆根、山茱萸、女贞子、牛黄、两面针、独活、穿心莲黄连、黄芪、蛇床子、苦胆等; 2、中成药六味地黄丸、六味地黄颗粒、山楂丸、黄连上清丸、黄连丸、知柏地黄丸、导赤丸、消银片、九分散、明目地黄丸、霍胆丸、三妙丸、二至丸二妙丸、香连片穿心莲片、脑得生片、清肺消炎丸、葛根芩连微丸等;3、生化药曲霉毒素、大环内酯、蛋白质、抗生素、色素、核酸; 由于技术不断进步,本公司保留设计更改之权利,更改恕不通知敬请谅解。
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  • KH-3000型全波长薄层色谱扫描仪上海科委攻关重点项目 —专门为中药薄层分析而打造—上海科哲公司是全球四大薄层色谱扫描仪生产商之一,中国薄层色谱仪器的领导者。KH-3000型全波长薄层色谱扫描仪是是上海科委科技攻关重点项目,由上海科哲公司与上海交通大学合力打造,完全符合中国药典委员会2005版与2010版中国药典薄层色谱扫描仪部分的原理与性能要求,是一款高性能自动化薄层色谱扫描仪。KH-3000型全波长薄色谱扫描仪与欧洲厂家的薄层色谱扫描仪处于同一档次,主要用于中药现代化质量控制与中药新药研发。仪器特点 1、自动光源能量标定,以更换能量不足光源;2、自动校正光栅单色仪,保持波长的准确性;3、氘灯-卤钨灯自动切换;4、带有紫外光谱扫描功能,可分析未知物质,优化扫描波长;5、USB数据传输,数据传输量大,传输速度快;6、工作站性能强大,仪器全计算机控制,自动化程度高;7、光源可提供200nm~850nm 连续紫外-可见光谱,波长范围宽;8、单色仪使用1200条/mm的全息光栅,分辨率与光谱纯度高;9、工作站可进行方法、操作者管理,符合GMP/GLP要求;10、工作站预置了2000版、2005版、2010版及2015版的中药定量分析方法,调出即用; 主要优点1、品质与全球同步,价格低于欧洲日本产品,性能价格比极高;2、扫描速度快,定量准确;3、功能齐全,研究质控均可,售后服务简单;4、高度自动化,高度可操作性,操作非常容易;仪器组成1、主机(含光源、光栅单色仪、移动平台、USB串口);2、Tstar-3000专业薄层色谱工作站;主要指标1、测量方式:吸收法、荧光法(选配);2、光谱范围:200nm~850nm(连续可调);3、光源:卤钨灯、氘灯(自动切换);4、单色器:全息光栅(1200线/mm);5、光谱带宽:10nm;6、波长准确度:±1nm;7、最小分辨率为:25-50μm;8、测量平台:可放200mm×200mm色谱板;9、扫描速度:0-120mm/s;10、操作系统:WIN7 32位/WIN10 64位;11、电源接口:USB接口220V 300W;可完成下列药品的分析:1、中药材三七、山豆根、山茱萸、女贞子、牛黄、两面针、独活、穿心莲、黄连、黄芪、蛇床子、苦胆等;2、中成药六味地黄丸、六味地黄颗粒、山楂丸、黄连上清丸、黄连丸、知柏地黄丸、导赤丸、消银片、九分散、明目地黄丸、霍胆丸、三妙丸、二至丸二妙丸、香连片穿心莲片、脑得生片、清肺消炎丸、葛根芩连微丸等;3、生化药曲霉毒素、大环内酯、蛋白质、抗生素、色素、核酸、酶;由于技术不断进步,本公司保留设计更改之权利,更改恕不通知敬请谅解。
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  • 颗粒大小与形状分析仪 Morphious V1产品视频参考:Morphious V1 (MP-V1)颗粒与形状分布检测系统是世界领先的实时检测颗粒形态的仪器 系统采用一个料斗将被测试的样品归集到测试振动台上,以便将这些小颗粒分散并做自由落体运动。当它们做自由落体时,使用CCD摄像机捕捉这些小颗粒的细节(形态测量)。 结合专业的分析软件将品控的质量关键点 Critical to Quality(CTQ)参数展示在操作员面前。用户可自行定义各种各样的标准,用以区分特殊定义的颗粒特性。系统可运行检测的吞吐量大约为50Kg/h。这意味着将有大量的数据需要运算分析处理。数据将被存贮在特定的数据库中,且易于被调用和检索。用户可定义各种各样的相关参数处方,用以对相应的产品进行质量控制。系统可提供无限的图形化可能性来表征颗粒的质量。检测到各种瑕疵,它们的分布和数量可以通过一张二维正态分布图展现。这个处理过程有助于将各种不同缺陷分类呈现出来(如外形凸起的,聚集在一起的,含有污物的,片状的,碎片状的,破损的),如造粒工序中遇到的情况(如颗粒相互粘连,两粒合并,三粒合并等)挤出熔体不佳情况(如鱼纹,细粉等),部分降温过程中出现的空洞(如面条状,空心状,狗骨头状,细末,细粉等。如下图中所列出的实例所示:)分布图显示了颗粒的一致性状况。相对于早起陈旧的筛选方法,它能展现更多的细节,以供生产者能直观地进行产品质量控制,并快速建立起工艺改进方案,改善颗粒的一致性。运行性能 采用模块化结构 可扩展性,易于适配级升级 定制界面 Windows操作界面易于依据客户定制 最佳的照明技术 采用特殊的照明技术,从而避免在颗粒检测分析过程中出现的各种色差问题 实时图像画面 迅速地运算评估,分析以及采用多种不同的格式反应监测结果:以大小划分的表格视图,时间演化趋势,Mosaic图片,柱状图,分布图等 表格视图 依据形状,大小、直径,延伸率,圆度,粗糙度,以及/或凸面度来展现Mosaic图片视图 连续不断地显示变化的实时图片 展示图形特点 展示依据大小、形状等设定重新分布的图形 时间演化 Time evolution 展示依据时间演化设定重新分布的图形特征 同步处理 检测系统和扩展仪表相互联通交换处理信息 外部扩展应用接口 报警接口,数字补偿功能等 开放的数据库 以协议化生成的数据可轻松便捷完整地转化为通用的数据格式(MS Access,Excel等) 技术资料 摄像机: CCD线性扫描传感器4096 Pixel 160 MHz光源: 具备白色光谱的高频同步荧光灯 电源功率:32W主机: 工控机Intel®Core™ 2 Duo,采用最新的主流硬件配置软件: Windows XP 操作系统,定制图像处理软件系统接口: Ethernet 10/100 M Base T,USB,RS 485,RS,232,数字&模拟1/0,Fieldbus通信协议: MODBUS RTU,MODBUS TCP/IP,OPC,SQL,文件转换(定制),可将PROFIBUS转换为其他现场总线系统远程控制: 最大扩展100m,远程协助、维修诊断尺寸大小: 100×50×50cm(l,w,h)处理量: Up to 50Kg/h电源电压: 230V AC/115V AC,50/60 Hz运行温度: 10-40℃
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  • 一、仪器名称:颗粒沉降扫描仪二、品牌型号:荷兰Fastmicro公司FM-PS-PFS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的颗粒沉降扫描仪用于检测超净间环境中的颗粒度及颗粒沉降速率,该设备可以提供秒级颗粒沉降速率连续监测,最小可监测颗粒尺寸为0.5μm,该设备具有连续快速检测、兼容工业和科研环境、具有易于操作、高分辨检测(数量、位置、尺寸)、检测重复性好等特点。 四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒,光源发出的平行光照射待测表面,遇到表面的突起颗粒发生米氏散射,摄像头传感器以一定角度接收到散射信号,根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度秒级连续表面颗粒沉降监测;数据输出颗粒增量水平监测;颗粒数量;颗粒位置;颗粒尺寸;带有粒子标记的图像;可导出KLARF和Excel文件;数据通过USB或以太网输出;操作操作简单;测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒基座直径50mm标准晶圆直径25mm适用范围真空和大气环境产品尺寸(长*宽*高)405mm*183mm209mm六、应用案例
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  • 颗粒、杂质扫描分析系统 Morphious C1 产品概述 粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机)是专为塑料聚合物工业开发的,也是满足于原材料供应商对产品质量的要求在不断提高需求。当以工业规模生产时,产品质量是决定性因数。材料无缺陷不仅是一个美学问题,在多数情况下还是一个绝对的品质要求。对于聚合物工业公司来看,生产出最高质量的产品意味着超越他人的高竞争力与高效率。运用当今最新的科技发展成果,我们设计出简单易用的,建立在光学记录和处理基础上的自动质量控制系统。他更加快捷准确并节约劳动力。为了发现并消除生产某种缺陷的原因。必须要掌握最精确的第一手资料。这就是需要准确和持续地获得关于特定缺陷的颜色,尺寸,出现频率等方面的详细资料。MP-C1 可以检测透明和不透明粒子,由 3-CCD 彩色摄影机获得的影像由图形处理器通过特定的软件加以处理和评估。此软件提供了多种层面的调节选项,使得用户可以完全可以按单独的要求进行系统配置。对于污点和异物颗粒(同纯净无污染材料颜色不同)的检测。可以通过教学工具对色度差异进行分级。检查过程可以经由显示器观察,可见的缺陷被标记出并标注索引,特别重要的图形可储存。测验结果可以通过多种图表和表格表示,并有彩色打印机打印。数据,软件的调整,检测时间和持续时间均易获得,可方便日后评估和长期评估。此系统可通过现成的软件界面被集成到任何内部数据处理系统中,例如经由以太网。该系统也易于维护,其中含一个全自动的自清洁单元,它可以在不同的可调节的间隔清洁粒子进料器和光学检测舱。1,产品的引文完全自动化快捷的粒子扫描系统 MP-C1(彩色摄影机),可以对实验室产品颗粒进行质量检测以及生产线产品质量的流程控制。 2,设备说明20 微米到 200 微米之间是摄影机像素的标准配置。它每小时可以处理出 2 公斤甚至到 60 公斤重的透明和不透明的粒子,当然是取决于被检产品颗粒的规格和材料。以下是摄像机的规格与处理量比较(20um: 1-3kg/h;40um:2-6kg/h;60um:6-12kg/h等)。你们可以针对配置规格来选者贵公司所需要得摄影机。针对 MP-C1这一款的粒子扫描系统,我们把电脑与摄影机系统的连接线长度预留在3米。然后设定以分辨率在 40 微米的标准开始,在测试 80 微米,然后120 微米到最后 200 微米等10个规格(客户也可以自定义)。根据测量结果我们得到以下一组数据,并作为技术参数。 3,仪器的组成部分-机械的共鸣感应装置-摄像机等的配置:USB 3 CMOS resolution:1600x1200,60f/s;-像素尺寸:pixel size 4.5um;-光学配置:Color calibration module;-PC控制电脑的模拟器,硬件设备:SDD SanDisk UltraII SDSSDHII-120G-G25;HDD Western Digital Blue WD10EZEX 1TB Motherboard Gigabyte GA-Z97X-UD3H GB DDR3-RAM处理器Processor:Intel Core i7 i7-4790K Quad Core 4x4.0 GHZ 电源:Coolermaster G750M 750W - 软件操作系统:Windows& (or higher). Powered by Mishell@- 整套电路的连接 - 17 寸大的显示屏(辐射小),监控器设备- 键盘,鼠标- 各种硬件软件的解读文件 主要的技术资料 芯片彩色摄影机设定摄影机的像素: 1600x1200像素,60f/s, Pixel size 4.5um检测精度: 20um起光学尺寸: USB 3 CMOS 影像传送率: 60f/s功率的消耗量: 18W适宜的工作环境温度: 15到 40 oC设备尺寸: 50 x 60 x 50cm重量: 32kg灯光的配件 : LED 强光源 常规下的理论 当选定分辨率在 20 微米的标准摄影机,可以准确快捷的获取生产流程中微粒的影像,从而计算出产品的总质量(杂物分类统计)。对于这种规格的摄影机而言每小时检测出的总处理量可达到 2 公斤到 60 公斤不等 。同时也取决于产品本身的材料和规格性能。带有图像处理器的高效率的瞬时捕捉实时图像处理电脑的尺寸: 19 寸长 4HE主体部分的尺寸: 500*600*500* mm3 (长*宽*高)电压/功率: 约在 230V/110V 380VA重量: 约在 32公斤 颗粒杂质和形状扫描仪二合一:现场安装调试图:
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  • 大气颗粒物监测激光雷达采用波长532nm线偏振激光对大气颗粒物进行遥感探测。雷达通过对532nm垂直和水平偏振信号的探测,解析大气消光系数、退偏振比廓线、边界层高度、光学厚度等参数,进而可获取大气颗粒物时空分布特征、污染层时空变化、颗粒物输送和沉降等信息。该产品获得中国气象局颁发的《气象专用技术装备使用许可证》。 功能特点:采用振镜扫描,避免雷达主体光机及探测器电子学系统振动;扫描振镜具备自动除尘、除湿、除雪功能,可适用于各种天气状况;采用单脉冲能量毫焦级固体激光器,重度污染条件下,具有较好的探测能力;系统拥有GIS地理信息系统,可图形化显示扫描区域颗粒物分布情况,排查污染排放源;系统具有停电自动关机,来电自动开机功能;激光器使用寿命长,可达16000小时; 产品应用:垂直扫描探测——反演距地面10km以内气溶胶颗粒物的空间分布信息以及时空演变特征。区域点源/面源扫描——开展对烟囱、锅炉、化工厂、电厂、水泥厂、交通主干道等重要的点源(含高架源)、线源进行定点定位扫描,主要获取源排放污染的强度。区域污染物分布扫描——实现对工业园区、居民生活区、厂区等敏感地带进行定量评估。走航监测扫描——采用“驻车扫描”或“走航定向观测”的工作方式,对区域上空污染团的输入、过境、沉降过程进行实时、在线、连续扫描监测,分析污染物的类型、强度以及演变过程。
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  • 冠测仪器颗粒图像扫描其它物性测试ZKFT1600ZKFT-1600图像颗粒分析仪包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中,通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析,从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息,再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计,从而得到粒度(D50)及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。 ZKFT-1600直观、形象、准确特点,它是将微米级以上的颗粒放大几十、数百乃至上千倍,将整个颗粒形状显示在人们的眼前,使人一目了然。它不仅能看到颗粒,还能通过“尺子”来量每一个颗粒的大小,并通过图像处理技术得到所有颗粒的直径,进而得到粒度分布、平均长径比以及长径比分布等。ZKFT-1600为粉体材料的科研、生产和应用领域增添了一种直观、简便、准确的粒度粒形测试手段。
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  • SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪&bull 仪器简介 扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,固定式由DMA+CPC5.414组成检测系统,移动式由DMA+CPC5.403组成检测系统,用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失,根据实验需求不同,有两种长度的电极。DMA(Differential Mobility Analyzer)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,切割头将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入CPC凝聚核粒子计数器(Condensation Particle Counters)对颗粒物进行计数.&bull 仪器应用&bull 基础气溶胶研究&bull 吸入和暴露研究&bull 环境和气候研究&bull NP增长&bull 凝结及迁移率研究&bull 过滤检测&bull 发动机排放研究&bull 工作场所检测&bull 类型类型型号总高度mm电极长度mm3.0L/min鞘气时粒径范围 nm20L/min鞘气时粒径范围L-DMA55-90049235011-11104.2-247M-DMA55-340230885.4-3582.1-103&bull 性能参数&bull 粒径范围5.4 ~ 358 nm (M-DMA);11 ~ 1110 nm (L-DMA)&bull 粒径分辨率标准44通道,可优化为255通道,对数间隔&bull 气体流速样品气:0.3 L/min;鞘气体:3.0 L/min&bull 工作流体:1-丁醇,超级纯 液体除去:微泵连续&bull 通讯方式RS-232、ASCII存储卡&bull 环境温度10~35℃&bull 环境湿度0~95%&bull 压力环境压力±50mbar&bull 电源85-264VAC/47-440Hz
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  • 某些应用对材料的纯净度要求很高,如超高压电缆料或光学用途的树脂原料,传统肉眼人工检测的方式无法进行大量可重复的样品测试,OCS的PS800C正是迎合了这种需求而开发出的针对树脂粒子中的杂质和污染物的高速扫描及分拣系统,依材料不同,最大处理量可达1000公斤/小时。PS800C用于对透明和半透明粒子进行杂质检测和分析,尤其适用于高透明度粒子。树脂粒子在自由落体状态下通过2台3-CCD彩色线扫描摄像机和光源系统,可以检测出不纯物、异物以及色差粒子。PS800C的另一个重要功能是确定不同颜色塑料粒子的混合比例,对于色母粒或共混改性厂家而言这是个基本需求。功能s 污染/杂质检测 s 污染粒子分拣s 混合物的浓度检测
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  • 产品简介室内宽范围气溶胶光谱仪组合两种粒子计数和分类技术:扫描迁移率粒度仪(SMPS+C用于纳米颗粒的丁醇缩合粒子计数器便携式光学气溶胶光谱仪(11-D)为尘埃颗粒。该系统可用于精确和高分辨率测量整个粒度范围从5 nm到35 μm的31个尺寸通道,用于11-D和用户可选择SMPS+C的通道数。该系统操作简单,适用于各种场合气溶胶的研究。测量原理DMA(Differential Mobility Analyzer)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,喷嘴将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入CPC凝聚核粒子计数器(Condensation Particle Counters)对颗粒物进行计数。仪器特征实时监测整个粒径范围在低浓度和高浓度下,CPC和OPC具有高精度极好的计数统计和再现性低扩散损耗自检所有光学和气动元件为高质量标准仪器参数安全,防止数据丢失应用监测超细颗粒和粉尘N气溶胶科学N工作场所监控
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  • GRIMM 移动式 SMPS+C将5.403 凝聚核粒子计数器(CPC)与差分电迁移率分析仪(DMA)连用,即可升级为高分辨率扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C),粒径范围最宽为5纳米至1100纳米,最多可选超过200个测量通道。移动式SMPS+C可电池供电。 特点: 粒径范围宽 5nm-1000nm 超过200个测量通道 测量范围最高可达107个/立方厘米 可选非放射性中和器 内置丁醇储液槽 设计紧凑,可电池操作,便于移动 升级灵活,可与OPC连用升级为宽范围气溶胶粒径谱仪(WRAS) 纳米颗粒物的筛分和检测原理: 空气纳米颗粒物筛分-差分电迁移率分析仪(DMA) DMA通过纳米颗粒物在电场中的电迁移率不同来分离不同粒径的颗粒物。带负电荷的颗粒物,受到带正电的电极吸引而在电场中迁移,在特定电压下,只有特定电迁移率的颗粒物能够通过DMA,并进入CPC或FCE计数。通过在10000V到5V范围内步进调节电压,即可得到颗粒物的粒径分布。 空气纳米颗粒物检测-凝聚核粒子计数器 (CPC) 在CPC中,纳米级颗粒物通过凝聚的方式长大。样品空气首先经过充满正丁醇饱和蒸汽的加热饱和器。之后,样品气在冷凝室内冷却,温度降低使过饱和状态的蒸汽以颗粒物为凝结核冷凝,从而使颗粒物长大并能够被光散射系统准确测量。 典型应用:吸入和暴露研究环境和气候变化柴油汽油发动机排放研究工作环境测量健康影响纳米技术航测纳米颗粒物生成和传输过滤效率测试打印机排放路边测量 GRIMM 为您提供室内外颗粒物测量全面解决方案
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  • 产品详情TSI 的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所( NIST )使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个精确地粒径检测技术,没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率,并具有高度的绝对尺寸精度和测量重复性。 TSI 模型 3938 是粒径谱仪的第三代;可信的研究人员超过 30 年。 特点和优点 高分辨率数据:多达 167 个通道 广泛的尺寸范围:从 2.5 nm 到 1000 nm ISO 15900:2009 兼容 快速测量:< 10 秒扫描 宽的浓度范围内, 107 particles/cm3 最大的灵活性组件的设计 无需电脑的操作, 触摸屏控制 易于安装与不安装工具和自动发现部件 离散粒子测量:适用于多模样本 独立的颗粒和流体的光学性质 宽范围的系统的选择:水或丁醇计数器供选择;传统的或非放射性中和器的选择 应用 纳米技术研究和材料的合成 大气研究和环境监测 燃烧和发动机排气的研究 室内空气质量的测量 核 / 冷凝的研究 吸入毒理学研究 内容包括 静电分类器与您选择的 DMA 柱 可兼容六种 CPC 气溶胶仪器 ® 软件经理 数据采集计算机必须单独购买。
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  • 扫描电迁移率粒径谱仪 U-SMPS 气溶胶检测产品介绍:扫描电迁移率粒径谱仪 U-SMPS 气溶胶检通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两个版本。长分类柱(2050/2100型)能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器(DMA),也称为差分迁移率分析器(DEMC)],根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的单颗粒计数。 Wiedensohler教授(德国IfT莱比锡)开发了的算法,用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行,或者,每十个通道最多执行64个尺寸通道,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(广泛的统计和平均)以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)连接到计算机或网络。 支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要,对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试,并在内部组装。工作原理:气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂(例如Kr 85)来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类机尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是,在此处应避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有ji高的质量。鞘空气是干燥的、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶的体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数,从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端具有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中,电压和电场连续变化。结果,迁移率变化的粒子离开DEMC,并由纳米粒子计数器(例如缩合粒子计数器)连续进行测量。在实际条件下,经过测试的软件为组合数据(电压、粒子数等)并获得粒度分布提供特殊的处理功能。3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈,我们已设计良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制,并可以显示测量数据和参数。此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。产品优点:&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率,最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用应用领域:过滤测试;气溶胶研究;环境与气候研究;吸入实验;室内和工作场所测量规格参数:接口USB, LAN, WLAN, AUX, RS-232 (CPC only)测量范围(尺寸)8 – 1,200 nm尺寸通道高达256(128 /衰减)测量范围(浓度数值)0 – 108 个颗粒/立方厘米用户界面触摸屏,800&bull 480像素,7英寸(17.78厘米)数据记录仪存储4 GB软件PDAnalyze调整范围(电压)1 – 10.000 V(上下扫描 mö gich奇)体积流量(鞘空气)2.5 – 14升/分钟安装条件+10 – +30°C(其他按需提供,控制单元)气溶胶体积流量0,5 – 3升/分钟
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  • 集成X射线电离功能的通用扫描电迁移率粒径谱仪适用于8-1200 nm的各种应用PALAS设备U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 XPALAS设备U-SMPS通用扫描电迁移率粒径谱仪Palas@通用扫描电迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X/2100X / 220O型号)可以确定8至1200 nm的粒径分布。该系列已经集成了X射线源作为中和器(参见图1),代替放射性中和器(例如使用Kr-85〉,优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。PalasRU-SMPS系统包括一个分级器[在ISO15900中定义为电迁移率分级器(DEMC),也称为微分迁移率分析仪(DMA)],可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。冷凝颗粒计数器(例如UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC型号可在各种浓度范围内实现很好的单颗粒计数。Palas使用了由Wiedensohler教授〈(IfTLeipzig,德国)开发的演算算法,将测量数据转化为U-SMPS的颗粒分布。U-SMPS使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短30秒之内执行,并且每十进制多达128个尺寸通道。在扫描期间,DEMC分级器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值),以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以连接到计算机或使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)连接网络。PalasRU-SMPS支持DMA,CPC和其他制造商的气溶胶静电计。U-SMPS对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要,尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并且必须内部组装。图2∶给出了U-SMPS的工作原理:气溶胶在进入分级器(DEMC)之前先经过调节。选配的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。双极中和剂(RC 049)用于确保气溶胶电荷分布符合预定。在DEMC的入口处需要一个撞击器以去除大于分级器尺寸范围的颗粒。气溶胶通过DEMC柱的进样口导入,沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流,确保层流。电极的表面必须极其光滑和准确。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气(通常为空气),比气溶胶的体积大,且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率,从而决定尺寸分级器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电,末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会通过顶部小缝隙离开DEMCo在操作中,电压产生的电场持续变化,使得不同迁移率的颗粒离开DEMC,并由纳米粒子计数器(例如冷凝粒子计数器)连续测量计数(例如Palas R UF-CPC)。方便实用的软件提供多数据信息(如电压,粒子数等)并取得粒径分布数据,如图3所示。基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外,通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接,该软件可以实现数据管理功能。测量数据有多种形式显示和评估。优点:粒径分布范围为8nm至1.2um7英寸触摸屏和GUI直观操作连续快速扫描测量原理内置数据记录仪高分辨率,zui多128个尺寸通道/十进制支持多种接口和远程访问适用于zui高108颗粒/cm3的浓度低维护跟其他制造商的DMA和纳米颗粒计数器通用功能可靠图形显示测量结果减少您的运营费用数据表参数说明描述接口USB,LAN, AUX, RS-232(CPC)测量范围(尺寸)8-1,200nm尺寸通道zui多256个(128个/十进制)测量范围(数量浓度)0- 108颗粒/cm3用户界面触摸屏,800x480分辨率,7”数据存储4GB软件PDAnalyze调节范围(电压)1-10,000 V(上行和下行)体积流量(鞘气)2.5-14L/分钟安装条件10-30°C中和器XRC 049气溶胶体积流量0.5-3L/分钟应用领域过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量
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  • TSI NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪型号3910 产品应用NanoScan SMPS&trade 适用于多种领域,包括:&blacksquare 一般的应用研究&blacksquare 职业*生/ 工作场所暴露监测&blacksquare 室内/ 室外空气质量研究&blacksquare 纳米技术/ 纳米粒子应用&blacksquare 燃烧/ 排放的研究&blacksquare 移动源研究&blacksquare 健康影响/ 吸入*理学&blacksquare 点源识别 特性和优点可低至 10nm 的粒度分布:&blacksquare 两种测量模式:&blacksquare 扫描:实时的粒径分布&blacksquare 单一粒径技术:单一粒径颗粒浓度监测&blacksquare 1 分钟时间分辨率 粒径分布检测 1 秒分辨率的单一粒径浓度数据&blacksquare 操作简单,单机操作&blacksquare 内置数据存储&blacksquare 小型并且便于携带&blacksquare 约6 小时的电池供电能力,可热插拔的可充电电池&blacksquare 浓度高达 1,000,000 粒子/cm3&blacksquare NanoScan 数据管理软件包&blacksquare 无放射性物质 技术参数测量模式扫描 - 粒度分布单颗粒 - 单一粒径颗粒浓度监测粒径范围10 至 420 纳米粒径通道13测量时间60 秒(45 秒上扫,15 秒回扫), 粒度分布 1 秒, 单一粒径技术模式粒子浓度1,000,000 个/cm3流量0.75lpm ± 20% 进口 0.25lpm ±10% 样品冷凝液分析纯 (99.5% 或更高) 异丙醇注液系统溶液机芯 [~8 小时运作 @ 21°C(70°F)] 可选外置瓶零点计数≤0.01 个/cm3数据存储选项3 ~ 8 天, 内置存储器, 可选 USB 存储驱动器显示彩色触摸屏通信USB预热时间15 分钟真空源内置
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  • 适用于高气溶胶浓度的Palas通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱(1700型),特别适合2-400 nm范围内的极高精度粒度分布测量。PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器(DEMC),也称为差动迁移率分析仪(DMA)],根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后,在下游的Charme气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是,这种方法需要很高的成本。因此,其适用性被限制于高气溶胶浓度(例如,燃烧过程或颗粒发生器的下游)。可以通过物理参数直接追溯每时间单位(流量)的电荷测量值。其结果是,此方法主要用作凝结粒子计数器(例如UF-CPC)校准期间的参考。U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描,或者在多达128个尺寸通道中执行扫描,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(丰富的统计和平均值计算)和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要,特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并在内部组装。图1展示U-SMPS的工作原理:图1:使用气溶胶静电计作为浓度测量装置的通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂(例如Kr 85)来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比决定传递函数,因此决定DEMC的分离能力。通过施加电压,在内外电极之间会产生一个径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中,电压和电场因此而连续变化。结果,具有变化迁移率的颗粒会离开DEMC,并且由纳米颗粒计数器 – 在此显示为气溶胶静电计(例如PalasCharme)连续测量-。为了组合数据(电压、电荷数、电荷分布等)并获得粒度分布,必须进行逆变换。为此,使用的算法是由IfT(德国莱比锡)的Wiedensohler教授开发的算法。图2:在触摸屏显示PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈,我们设计了良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。测量数据可以显示和评估。可用系统图3显示Palas可提供的DEMC和Charme气溶胶静电计的两种组合。 对于DEMC分类器与Palas冷凝粒子计数器的组合,请阅读“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212”规格参数表。 其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。图3:用于高浓度颗粒测量的PalasU-SMPS系统概述
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  • ——检测下限低至1.1nm产品介绍PSMPS纳米颗粒物粒径谱仪是一个纳米颗粒物粒径分析系统,该系统创新地将改进后的DMA(Differential Mobility Analyzer)差分粒子电迁移器和CPC(Condensation Particle Counters)凝结核粒子计数器与AIRMODUS PSM(Particle Size Magnifier)颗粒物粒径放大器结合起来,将检测粒径范围拓展至1.1nm。1~2nm范围内的颗粒物粒径分布,对于帮助我们研究和理解高动态过程的新颗粒物形成(NPF)的基本机制以及颗粒物的形成速率和成长速率至关重要。改进后的DMA可以最大程度的减少颗粒物的扩散损失,尤其是对于细微颗粒物,极大地提高了DMA对于1nm~3nm颗粒物的可通过性。DMA对颗粒物进行粒径分类,PSM对颗粒物进行初级凝结增大,CPC凝结核粒子计数器对经过PSM凝结长大后颗粒物再次进行增大并计数。设备用于1.1nm~55nm粒径范围、100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。工作原理DMA对颗粒物进行粒径分类,PSM对颗粒物进行初级凝结增大,CPC凝结核粒子计数器对经过PSM凝结长大后颗粒物再次进行增大并计数。设备用于1.1nm~55nm粒径范围、100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。产品特征2 PSMPS系统将测量粒径拓展到1.1nm2 紧凑的配置,多合一的结局方案2 多种中和器可选2 扫描、步进和单颗粒模式可供选择2 监测软件操作简单,自动高效2 可外接传感器输入所需参数,如温湿度等2 适合用于各种纳米颗粒物应用,如:大气成核,纳米颗粒物生长、凝结与运输等。使用PSMPS捕捉到的颗粒物形成的快速变化过程技术参数DMA参数测量范围S-DMA:1.1~55nmM-DMA:2.8~155nm分辨率步进模式:45~255通道扫描模式:64通道,对数间隔HV输出正电极或负电极,5~10000VPSM参数工作液二甘醇D50切割点1.3~3.5nm可调采样流速2.5LPM电源100~240 VAC 50/60 Hz max. 280 W尺寸29 x 45 x 46.5 cm重量17kg5417CPC参数工作液异丙醇D50切割点4nm采样流速0.3或0.6LPM鞘气流速3或10LPM浓度范围150000 P/cm3(单颗粒模式)107 P/cm3(光度计模式)电源90~264 VAC 47~63 Hz 80~130 W尺寸40 x 25 x 29 cm重量12.4kgPSMPS系统参数数据输出颗粒物粒径谱图样气湿度0~95 % RH, 无冷凝压力范围600~1050 mbar
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  • SP-BS-1908 型杂质黑点检测仪 用途Application按相关国家标准分析树脂片或颗粒的杂质黑点的大小、数量,以及黑点颗粒占比数。This equipment evaluates the number and size of blackspot,as well as the ratio of blackspot in beads,for resin sheet or pelletin accordance with relevant industry standard or code.适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒,如PP、PE、PVC、PPS 等等。Applicable for inspection and analysis for transparent or semitransparent or even opaque materials,such as PP,PE,PVC,PPS,etc.也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。Also can be used to detect and analyze black spots or defects of inner quality in transparent film. 技术指标Specifications1. 测量规格:0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm,…,等等,按选用的标准,可在软件界面选定。2. 最小检测目标: 0.1mm3. 检测精度: 小于0.035mm4. 检测面积:不小于200×200mm5. 器皿大小:200mm×200mm 净面积,用于颗粒黑点检测。6. 放大倍数:20 倍7. 光密度:不小于6000 流明8. 光源要求: 24V/60W9. 供电电源:220V,50HZ10.外形尺寸:约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm) 仪器功能特点1. 测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。 SP-BS-1908 型 黑点检测仪Detects the size and quantity of blackspot,as well as the ratio of BS in beads.2. 可提供黑点、损坏颗粒,以及膜片质地纹路的分布图谱。Provides mapping of blackspots or inner quality,as well as the defected bead.3. 黑点或膜片质地分布可放大和缩小。Ability to zoom in and out to view blackspot or striation in sample. Showing in detail the texture shape of it.4. 被测目标可分类计数和统计。Counting and classification of the targets being measured.5. 按适用的标准自动生成检测报告。Automatically generates Inspection Report based on different standard or code.6. 报告和图谱可打印可储存。Report and Mapping is printable or can be saved.7. 进样方向与屏幕显示的走向一致,友好的界面视觉感。Sample feeding direction is same as the moving direction of display on the computer screen with friendly interface design.8. 颗粒以透明器皿为载体,批次检测。Bead is inspected by using transparent tray in batch.9. 透明薄膜直接平铺在检测平台上进行检测,无需对薄膜作黑化或贴纸处理。Transparent film is directly spread on the inspection platform for detecting,without any pretreatment by blackening or paperback stick process. 仪器的配置☆ SP-BS-1908M 杂质黑点检测仪Type of SP-BS-1908 Blackspot Detector. ☆ 标准板Standard Plate for Calibration.☆ 透明器皿 (测颗粒用) Transparent tray ( be used for bead inspection)☆电脑工作站Working Station of Computer.☆ 应用软件 Application Software.
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  • 产品介绍SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,由DMA+FCE组成。DMA(Differential Mobility Analyser)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类, GRIMM DMA符合Vienna型设计特征,对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失。FCE法拉第杯静电计(Electrostatic Precipitator)对颗粒物进行计数。SMPS+E系统,用于0.8nm ~ 1100nm粒径范围100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。样气流速1~5LPM,鞘气流速3~20LPM。组成部分有:静电中和器(DBD)、高效差分电迁移器DMA、DMA控制器(可调控DMA电压、FCE设置和气体流量)、法拉第杯静电计FCE(快速且低噪音)。FCE利用法拉第杯周围的冲洗气流避免内部污染,防机械振动和耐受压力变化的设计使其成为纳米颗粒物计数的校准参考。测量原理DMA差分电迁移器对颗粒物进行分类,喷嘴将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入法拉利杯对颗粒物进行计数。系统工作原理法拉利杯及其工作原理DMA差分粒子电迁移器DMA根据粒径范围不同可以分为L-DMA、M-DMA和S-DMA。图 差分粒子电迁移器DMA图 三种型号DMA产品特征0.8nm~ 1100nm范围内纳米颗粒物的计数和粒径分析最大采样频率16Hz超低噪音,冲洗空气流的超快反应时间3种不同的DMA规格可选坚固紧凑设计,无耗材与软件联合实现全自动操作开机后自检程序保证高可靠性产品应用基础气溶胶研究大气凝结核研究大气中粒子群粒径分布大分子研究纳米技术过程监测燃烧研究官方CPC校准参考仪器操作软件可用于纳米颗粒检测仪器的通用软件,可以记录测量数据和一系列完整的仪器参数。结果以图表形式显示,可以输出为通用的文件格式。软件将FCE作为计数器,差分电迁移分析仪(DMA)作为粒径分级的气溶胶发生器。实时进行数据处理,算法由Reischl教授(维也纳大学)开发,符合计算粒径分布的新标准ISO 15900。软件显示颗粒物数浓度、表面积和粒径质量分布及其他统计参数。 技术参数 法拉利杯FCE粒径范围0.8nm~ 1100nm;浓度范围 ~ 108P/cm3响应时间T90=200ms电阻1TΩ灵敏度1Hz时为0.1fA最大电流±4000fA噪音0.35 fA(τ=0.25s,90%),即相当于2LPM时65个电荷/cm3零点调整自动进行信号滤波器可选,低通量(250/500/1500ms)压力范围400 ~ 1100mbar气溶胶载体空气和惰性气体电源12VDC±10%大小直径88mm,高190mm,重1.36kg工作环境温度0 ~ 40℃,相对湿度0 ~ 95%,不凝结差分电迁移分级器DMA外部电极内径40 mm内部电极内径26 mm高压输出模块5 ~ 10 000 V,阳极内部电极(阴极可选)高压输入模块0 ~ 10 V,由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动关闭高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器DMA控制器采样频率0.25 ~ 16Hz粒径通道高达255个样品气体流量8步达1 ~ 5LPM鞘气流量9步3 ~ 20LPM冲洗空气流量0.3 ~ 0.6LPM流量控制体积流量控制状态指示4个3种颜色的LED灯和数字显示屏RS-2329孔D形连接器,ASCII制命令内存80KB存储卡PCMCIA SRAM 4MB模拟输入3个可选气象或气体传感器,即插即用电源230VAC 50 ~ 60Hz;或120V 50 ~ 60Hz大小31×25.5×22cm(H×W×D)重量12.2kg
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  • 产品介绍SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,实验室型由DMA+CPC5416组成检测系统,19’机架式由DMA+CPC5420组成检测系统,用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。GRIMM DMA符合Vienna型设计特征,对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失,根据实验需求不同,有两种长度的电极。 图 5420机架式CPC测量原理DMA(Differential Mobility Analyzer)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,喷嘴将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入CPC凝聚核粒子计数器(Condensation Particle Counters)对颗粒物进行计数。图 系统工作原理粒径范围DMA根据粒径范围不同可以分为L-DMA、M-DMA和S-DMA。 图 差分粒子电迁移器DMA 图 三种型号DMA类型型号总高度/mm电极长度/mm鞘气3.0LPM时粒径范围/nmL-DMA55-90049235011~1110M-DMA55-340230885.4~358S-DMA55-100157152.2~112测试结果可靠在2005年8月和9月加利福尼亚州中部Fresno,GRIMM仪器与其他品牌的SMPS系统通过测量环境气溶胶进行测量结果比较。结果显示GRIMM SMPS+C测量得到的粒子数浓度分布,与其他品牌测量得到的平均值相比,是可靠的。【Comparison of four scanning mobility particle sizers at the Fresno Supersite (Chow 2006)】产品特征粒径总范围5 ~ 1094 nm浓度范围可达到107P/cm3Vienna型DMA,L-DMA与M-DMA可互相切换坚固可靠,丁醇安全特征(防水、除臭)防溢出CPC饱和器设计与软件联合使用,全自动;开机后自动自检,保证高可靠性气象传感器的模拟输入全面的自检以实现最高的可靠性产品应用基础气溶胶研究吸入和暴露研究环境和气候研究NP增长、凝结及迁移研究过滤检测移动气溶胶研究工作场所监测操作软件可用于纳米颗粒检测仪器的通用软件,可以记录测量数据和一系列完整的仪器参数。结果以图表形式显示,可以输出为通用的文件格式。软件将CPC作为计数器,差分电迁移分析仪(DMA)作为粒径分级的气溶胶发生器。实时进行数据处理,算法由Reischl教授(维也纳大学)开发,符合计算粒径分布的新标准ISO 15900。软件显示颗粒物数浓度、表面积和粒径质量分布及其他统计参数。技术参数性能参数粒径范围5~ 350 nm (M-DMA);10 ~ 1094 nm (L-DMA)粒径分辨率标准44通道,最多255通道,对数间隔CPC D50粒径4nmCPC响应时间<3s浓度范围1~107 P/cm3150000 P/cm2(单颗粒模式)107 P/cm3(光度计模式)中和器环形高压放电中和器(非放射性)气体流速样气流速0.3LPM鞘气流速3.0LPM流速控制通过热限流孔两端压差传感器控制流速,对环境温度和压力变化不敏感载气空气和惰性气体流体系统工作液正丁醇,超级纯废液微泵连续抽取到废液瓶中通讯系统RS-2329孔D形连接器,ASCII制命令内存卡:PCMCIA SRAM 4MB(仅移动系统有)模拟输入可接气象或气体传感器3个模拟信号操作条件环境温度10 ~ 40°C环境相对湿度RH:0~95%无凝结环境压力600~1100 mbar电源85~264VAC/47~440Hz,或120~370VDCVienna型DMA外部电极内径40 mm内部电极内径26 mm高压输出模块5 ~ 10 000 V,阳极内部电极(阴极可选)高压输入模块0 ~ 10 V,由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动切断高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器
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  • Palas U-SMPS(Uuniversal Scanning Mobility Particle Sizer扫描电迁移率粒径谱仪)用于亚微米颗粒粒径分布研究。颗粒大小和浓度的测量在健康领域广为研究,如吸入治疗、工作环境评价,同时在环境监测领域也广为关注。 Palas U-SMPS由一个DMA静电迁移率分析仪和CPC凝聚核粒子计数器,DMA静电迁移率分析仪又称为DEMC差分粒子电迁移器。气溶胶颗粒根据他们在电场中的性质不同而被分离,然后被CPC凝聚核粒子计数器计数或Palas Charme气溶胶静电计检测,软件将以上数据反演为气溶胶粒径和浓度分布图。 用户可以自行设置粒径范围,最快30秒可以扫描一次。用户也可以设置电压,获得更好的分离效果。 系统触摸屏图形化的用户界面,测量值线性和对数显示,内存数据管理。数据评价软件,可用于数据进一步处理。系统为嵌入式操作系统,也可外接电脑进行操作。 特点: 气溶胶粒径分布, 8 nm to 1.2 μm 高分辨率: 128 size channels/decade 测量浓度可达 to 100,000,000 particles/cm3 图形化显示测量值 7”触摸屏,引导式操作 内置数据记录功能 可远程操作应用: 过滤材料测试 气溶胶研究 大气环境研究 吸入和暴露研究 室内和工作环境测量 技术参数DEMC:DEMC 2000 dp = 5 nm – 1,200 nm 通道数: 1 – 64 浓度范围: up to 108 particles/cm3 样气流速 /鞘气流速: 0 – 4 l/min / 0 – 8 l/min 嵌入式操作系统: 触摸屏 800 x 480 pixels处理器 1.6 GHz Intel AtomTM内存:2 GB 接口: USB, WLAN, Ethernet, RS‐232/485 供电: 115/230 V 50/60 Hz 控制单元尺寸: 33 x 38 x 24 cm (H x W x D) 柱体尺寸: 15 x 57 cm (? at base x H) 控制单元重量: 12.9 kg 柱体重量: 9.3 kg UF-CPC 颗粒粒径范围: dp = 5 nm – 10,000 nm浓度范围:UF‐CPC 100 CNmax ≤ 50,000 P/cm3 (single counting)CNmax 107 P/cm3 (nephelometric mode)UF‐CPC 200 CNmax ≤ 1,000,000 P/cm3 (single counting)CNmax 107 P/cm3 (nephelometric mode)浓度精度: 5% (single counting),10% (photometric mode)工作流体: Butanol, isopropanol, water 或其他可选气溶胶流速: Adjustable 0.30 to 0.60 L/min数字信号:detection: 20 MHz Processor256 Raw data channels光源:LED 寿命长 稳定性高尺寸(HxWxD): 33 x 38 x 24 cm (13 x 15 x 9.5 in)重量: 10 kg (22 lbs)
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  • Palas通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两种版本。长分类柱型号(2050 X / 2100 X / 2200 X型号)能够可靠地测定8至1,200 nm的粒径分布。已经集成软X射线源作为中和器。代替放射性中和(例如使用Kr-85)的优点是在运输过程中无需遵循以下要求。U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器(DEMC),也称为差分迁移率分析器(DMA)],根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后,冷凝颗粒计数器(例如Palas UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的良好单颗粒计数。Wiedensohler教授(德国IfT莱比锡)开发了Palas的算法,用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行,或者每十个通道最多执行64个尺寸通道,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(广泛的统计和平均)和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要,特别是对于校准。所有组件都通过严格的质量保证测试,并在内部组装。图1展示U-SMPS的工作原理:气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和器(XRC 049)可以确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。图1:通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数,从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中,电压并因此电场连续变化。结果是,迁移率变化的粒子离开DEMC,并由纳米粒子计数器(例如缩合粒子计数器)(例如Palas UF-CPC)连续测量。在实际条件下,经过测试的软件为组合数据(电压,粒子数等)并获得粒度分布提供特殊的处理功能,如图2所示。图2:PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈,我们已设计良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制,并可以显示测量数据和参数。此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。可用系统下面的文档介绍DEMC与Palas提供的计数器的各种组合。 其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。优点• 粒径分布从8 nm到1.2 μm• 连续和快速扫描的测量原理• 高分辨率,最多128个尺寸类别/衰减• 适用于高达108颗粒/立方厘米的浓度• 可以连接其他制造商的各类DMA和纳米粒子计数器• 图形显示测量值• 直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI• 集成数据记录仪• 支持多种接口和远程访问• 低维护• 功能可靠• 减少您的运营费用 * 应用领域• 过滤测试• 气溶胶研究• 环境与气候研究• 吸入实验• 室内和工作场所测量
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  • KH-3000薄层色谱扫描仪 ----中药GMP控制专用机型友情提示:所谓法定薄层色谱扫描仪是指符合药典一部薄层色谱扫描法、《中国药品检验标准操作规范》中的《薄层色谱扫描法》、《药品检验仪器检定规程》中的《薄层色谱扫描仪检定规程》的详细规定,由氘灯-钨灯组合光源、单色仪、X-Y移动平台组成,波长准确度:≤±5nm;背景漂移:≤±0.5Abs;基线噪声:≤±0.02Abs; 重复性误差:RSD≤2.0%;扫描方向为沿展开方向自下而上扫描的非成像型薄层色谱扫描仪。 主要优点: 1、拥有国家计量认证,完全符合有关要求,使用无风险; 2、符合国家《薄层色谱扫描仪检定规程》所有要求,方法合法; 3、拥有ISO9001:2000质量保证体系,性能稳定,故障少; 4、药典所有薄层定量品种、方法预置在机器内,随时调用,非常方便; 5、定量准确,价格合理,性价比高; 6、自动化程度高,操作简单,适合成批分析;仪器组成: 1、主机(含光源、光栅单色仪、移动平台); 2、TStar-2000A专业薄层色谱工作站仪器指标: 1、光谱范围:190-700nm(自动设置80个波长); 2、波长准确度:≤±1nm; 3、重复性误差:RSD≤2.0%; *4、单色器:全息光栅; * 5、光源:氘灯-钨灯组合光源; * 6、测量方法:反射法、荧光法、吸收法; 7、软件环境:WIN2000/WINXP; 8、定量方法:外标法、内标法、归一化法; * 9、记录内容:薄层色谱扫描图、峰面积、工作曲线、回归方程、相关系数、测定结果可完成下列药品的分析: 中药材:枸杞子、益母草、三七、山豆根、山茱萸、女贞子、牛黄、两面针、独活、穿心莲、黄连、黄芪、蛇床子、苦胆等 中成药:六味地黄丸、六味地黄颗粒、山楂丸、黄连上清丸、黄连丸、知柏地黄丸、导赤丸、消银片、九分散、明目地黄丸、霍胆丸、三妙丸、二至丸、二妙丸、香连片穿心莲片、脑得生片、清肺消炎丸、葛根芩连微丸等 生化药:曲霉毒素、大环内酯、蛋白质、抗生素、色素、核酸、酶
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  • 通用扫描迁移率粒度仪,适合各种应用(8–1200nm)&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率,最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用 图1:U-SMPS 2050/2100/2200Palas通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两个版本。长分类柱(2050/2100型)能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器(DMA),也称为差分迁移率分析器(DEMC)],根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器(例如PalasUF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的单颗粒计数。 Wiedensohler教授(德国IfT莱比锡)开发了Palas的算法,用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行,或者,每十个通道最多执行64个尺寸通道,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(广泛的统计和平均)以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要,对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试,并在内部组装。图2展示U-SMPS的工作原理:气溶胶在进入分类器(DEMC列)之前经过调节。可选的干燥器(例如硅胶,Nafion)可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂(例如Kr 85)来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类机尺寸范围的颗粒,需要在DEMC的入口处使用撞击器。图2:通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)的工作原理然后,气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是,在此处应避免任何湍流,以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥的、无颗粒的载气(通常是空气),其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶的体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数,从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端具有小缝隙,带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力,带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率,一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中,电压和电场连续变化。结果,迁移率变化的粒子离开DEMC,并由纳米粒子计数器(例如缩合粒子计数器)(例如PalasUF-CPC)连续进行测量。在实际条件下,经过测试的软件为组合数据(电压、粒子数等)并获得粒度分布提供特殊的处理功能,如图3所示。图3:PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈,我们已设计良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制,并可以显示测量数据和参数。此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。规格参数:优点:&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率,最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用 *请联系Palas了解更多信息应用领域:过滤测试;气溶胶研究;环境与气候研究;吸入实验;室内和工作场所测量
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  • 显微镜颗粒计数仪 400-860-5168转5943
    产品简介:药典不溶性微粒显微镜计数系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;符合中国药典规范附录0903不溶性微粒检查法第二法(显微计数法)。该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统,该系统包括光学显微镜、数字 CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成;不仅可以观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。产品优势:测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能;全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数,或按用户设定范围计数,自动显示分析结果,并按照相关标准确定产品等级;将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物;专业软件控制分析过程,手动对焦,手动光强(颗粒清洁度测试必须人为干预进行),自动扫描,自动摄入,自动分析;专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;全自动膜片扫描系统,无缝拼接,数字化显微镜分析系统;R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统;颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;显示器及打印机输出分析结果;直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点;避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;现实NAS、ISO等国际标准方法的认可;提供“OIL17服务星”签约式服务; 应用范围:医药行业:溶液型注射液、注射用无菌粉末、注射用浓溶液、供静脉注射用无菌原料药、滴眼液、疫苗、注射用水、医药包材、输液器具等的大小及数量检测;输液终端过滤器滤除效果及其他微粒污染滤除率检测等;水行业:水溶液、回注水、污水、自来水、纯净水、高纯水、电子级水、超纯水等液体进行固体颗粒污染度检测或不溶性微粒的检测;电子半导体行业:CMP Slurry,石墨、芯片,晶圆加工等微粒检测;特殊化工行业:墨水&喷墨、纳米材料、化工染料、润滑剂、清洗剂、有机液等微粒检测;石化行业:航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、工程机械、液压系统等领域;其他行业:过滤产品,清洁度方面,食品饮料,化妆品等微粒检测。执行标准:GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法美国药典USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27;欧洲药典EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0;英国药典BP2013、BP2012、2010、2009;日本药典JP16、JP15、JP14;印度药典IP2010版;WHO国际药典IntPh第五版;中国药典2015&2020版;GB8368输液器具;ISO21510;ISO11171等。0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足510多个标准要求。可根据客户要求,植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。技术参数:订制要求:各类液体检测要求;测试范围: 1μm-500μm放大倍数:40X~l000X倍分辨:0.1μm显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)重复性误差: 5%(不包含样品制备因素造成的误差)数字摄像头(CCD):300万像素标尺刻度:0.1μm分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度: 1秒分割成功率: 93%软件运行环境:Windows 2000、Windows XP接口方式:RS232或USB方式精 确 度:±3% 典型值;重合精度:10000粒/mL(5%重合误差);分 辨 率:95%(按中国药典2020版校准);10% (按美国药典、ISO21501校准)鉴定机构:西北计量测试中心(民品)售后服务:普洛帝服务中心/普研检测。
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  • U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪适用于高气溶胶浓度的Palas 通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱(1700型),特别适合2-400 nm范围内的极高精度粒度分布测量。Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器(DEMC),也称为差动迁移率分析仪(DMA)],根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后,在下游的Charme 气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是,这种方法需要很高的成本。因此,其适用性被限制于高气溶胶浓度(例如,燃烧过程或颗粒发生器的下游)。可以通过物理参数直接追溯每时间单位(流量)的电荷测量值。其结果是,此方法主要用作凝结粒子计数器(例如UF-CPC)校准期间的参考。U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描,或者在多达128个尺寸通道中执行扫描,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(丰富的统计和平均值计算)和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要,特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试,并在内部组装。U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪优点2至400 nm粒径分布连续和快速扫描的测量原理高分辨率,多达128个分类器/衰减适用于高达10^8颗粒/立方厘米的浓度通用连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器图形显示测量值直观操作,使用7英寸触摸屏和GUI集成数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪应用领域过滤测试气溶胶研究吸入实验工作场所测量
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  • Palas通用扫描迁移率粒度仪Palas通用扫描迁移率粒度仪(U-SMPS)有两个版本。长分类柱(2050/2100型)能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器(DMA),也称为差分迁移率分析器(DEMC),根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器(例如Palas UF-CPC)对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授(德国IfT莱比锡)开发了Palas的算法,用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行,或者,每十个通道多达执行64个尺寸通道,在此期间,DEMC分类器中的电压连续变化,从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估(广泛的统计和平均)以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行,但也可以使用各种接口(USB,LAN,WLAN,RS-232/485)连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要,对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试,并在内部组装。用户界面和软件基于持续的客户反馈,我们已设计良好的用户界面和软件,以实现直观的操作、实时控制,并可以显示测量数据和参数。此外,软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。
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  • 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同,可以选配移动式:CPC 5403,实验室固定式:CPC 5416 或 19英寸标准机柜式:CPC 5421。 系统每次开机时,自动自检以确保系统准确性,自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。 自检通过后,软件自动控制采样、测量和数据记录。测量参数 SMPS+C1. 检测粒径范围: 5-350 纳米(M-DMA); 10-1100 纳米(L-DMA)2. 检测浓度范围: 0--108 /cm33. 粒径通道:最多255通道4. CPC D50粒径: 4 纳米5. CPC 响应时间: 4 秒 GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器(DMA)和法拉第静电计(FCE)技术结合,配合3种不同的DMA,粒径检测下限可以低至1纳米,检测数量浓度高达109个/cm3。
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  • Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪 行业需求塑料原材料(树脂、粉末)中如果夹杂不同的颜色,可能会对下游客户带来伤害,现在越来越多的下游加工用户对上游供应商提出产品外观的需求,比如黄色指数、黑点、黑斑粒、色粒、大小粒、拖尾、连粒等都必须达到一定的要求。 对于一些高端客户或透明的、白色的产品客户来说,原料里的杂色多少将非常影响生产工艺和最终产品的品质。把这些瑕疵挑出来,分析原因,优化工艺,并在生产环节中增添相关设备来剔除瑕疵,是高品质用户的一致需求。 在全球最新光学、影像学和图形分析数学模型的基础上,我们的产品生来就具备了先进性,自动化和准确性成为了基础,更简单的操作和更多的功能成为了客户选择的原因。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪描述 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪是对粉末或粒子进行检测分析后统计杂色和异形数量级分布的系统,从大量的产品中实时检测不同颜色及形状的杂质,同时通过报告的形式向用户提供各种杂质尺寸和颜色信息等。 一套Calpas系统可以检测的项目包括: 1、粉末(例:PVC)中的杂质; 2、粒子(例:PP、PE、ABS)中的杂质,包括黑点、异色; 3、粉末和粒子外的纤维杂质,外来杂质; 4、高透或高反射粒子(例:PC/PMMA)中的黑点、异色、凝胶点等; 5、粒子自身的尺寸和形状。 Calpas杂质扫描检测仪组成主要包括:高性能高速相机(CCD或用户指定);照明强度可调的粒子专用4光源阴影辅助照明系统(产品的透明度不同,粒径不同,光源照明有多种选择);进料速度可调的三维振动进料系统;可同时分析杂质颜色尺寸以及粒子自身尺寸及形状的分析软件。 该系统还可选配杂质自动分拣装置,进料轨道自动清洁装置,整机防尘装置等,如用户有特殊应用需求,可进行量身定做,一切以满足用户检测需求为最终目的。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪操作简便,软件界面友好,一键式全自动操作即可自动进料、检测、生成检测报告,软件可安装于普通家用电脑,检测过程噪音小,速度快,重复性高,配备Calpas标准板用来对仪器检测尺寸数据定期校准。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪的主要特点:1. 一台机同时测量黑点、杂色、异形等各种功能;2. 样品平铺滚动经过,非常快速;3. 能自定义多种杂质并命名;4. 高性能的高速相机;5. 照明亮度可调;6. 噪音低;7. 可调节产品供给速度和供给量的自动产品供给装置;8. 对检测出的杂质进行实时分析,自动登入杂质画面储存窗口,分析各种杂质信息。 Calpas粉末粒子杂质扫描分析仪产品性能:1. 高速图像分析:500g粉末/3分钟;1kg颗粒/2分钟。2. 测量范围:50~30,000μm,用户自定义可分不同尺寸等级。3. 照明:根据阁下样品特点选择不同的照明条件,比如中心LED照明(粉末产品),方形LED照明(粒子产品),特殊照明(高透粒子)等,照明强度可手动调节。4. 进料系统:三维进料系统,可通过调节振动幅度及进料高度来调节进料速度。5. 报告:自动生成产品检测报告,显示杂质粒子异形、异色以及瑕疵点尺寸信息,杂质图片。6. 性能:STD<1%(粉末);STD<5%(颗粒) ISO14484
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  • NanoScan SMPS纳米颗粒粒径谱仪 - 3910型产品详情TSI 3910 型NanoScan SMPS 打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。此粒径谱仪将TSI 公司的SMPSTM 粒径谱仪集成在约一个篮球大小的便携箱内。容易使用,重量轻,电池供电等优点使NanoScanSMPS 让研究人员多点采集纳米颗粒粒径分布数据成为可能。由TSI 核心技术中衍生而来,NanoScan SMPS 是一个创新的,低成本的实时纳米粒径测量的有效解决方案。新型的 3914 将纳米颗粒粒径谱仪和 光学颗粒物粒径谱仪 整合在一起, 可以实现经济、便携、实时的测量 10 纳米到 10微米大小的粒子 。特点下降到 10 纳米的粒度分布两种测量模式: SCAN - 实时粒径分布 SINGLE-单个粒径浓度监测 1 分钟粒径分布 1 秒钟单个粒径数据 简单,独立操作内置的数据记录小巧便携的~ 6 小时的电池寿命,热插拔,充电电池浓度高达 1000000 粒 / 立方厘米NanoScan Manager 管理软件包无放射性材料多仪器管理软件使用光粒度仪模型 3910优势实时纳米尺寸的测量理想的应用需求的可移植性 道路工作场所调查领域的研究点源识别允许用户从多个站点收集更多的数据开辟了同步的时间和空间测量的可能性提供了新的研究机遇进入纳米微粒的发射 / 曝光测量和纳米技术易于学生和工人操作简化数据分析和数据报告里是否有管理软件应用 一般的应用研究室内 / 室外空气质量调查纳米 / 纳米颗粒的应用燃烧和排放的研究移动研究 健康影响 / 吸入毒理学 职业卫生 / 工作场所暴露监测 点源识别 包含项目 Nanoscan SMPS 纳米粒度仪Nanoscan 经理软件光盘Nanoscan 配件包关于TSI公司TSI公司研究、确定和解决各种测量问题,为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者,TSI与世界各地的科研机构和客户合作,确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国,在欧洲和亚洲设有代表处,在其服务的全球各个市场建立了机构。每天,我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。
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