荧光探针

公司主要经营产品：霍尔效应测试仪、探针台系列、显微镜系列：三维视频显微镜、超长工作距离视频显微镜、测量显微镜、红外/近红外显微镜、传统光学显微镜(体式、生物、偏光、荧光、金相、相衬、比对等常用教学及教研类显微镜)、光学产品组件、工业科研无损检测设备及光学自动一体化系统集成项目。测试噪声小于5E-13A 可扩展上下双透视窗口用于光电测试 可扩展凹视镜 。观察窗口可下凹，使物镜离样品更近，方便观察。 加热台材质纯银块，导热更好，不易氧化专业检测设备生产研发经验，实力见证品牌国内家专业研发探针台设备厂家，有强大技术研发实力已与国内2000多所高校和研究院合作，为您提供*价值的技术解决方案*信赖的检测设备服务商涉及光学、电学、电子、材料、生物、医学等各检测领域拥有国内专业的技术研发团队在探针台电学量测方面拥有近十年的经验小型真空探针台KT-Z4019MRL4T小型真空探针台KT-Z4019MRL4T参数真空腔体类型高温型室温到350℃高低温型 室温到350℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离）腔体抽气口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体真空测量口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm）样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 最大值 低温7℃/min温控仪温度显示7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 （可选K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可扩展5探针）探针材质镀金钨针 （其他材质可选）探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm（需手动推动滑台）X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°（需手动旋转探针杆）R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

产品简介：DN 系列探针台，是一款适用于 4-12 英寸晶圆的精密探针台。 该系列探针台采用高刚性显微镜龙门设计，结构稳定 ，显微镜平移台可进行 X-Y-Z 方向精密位移调节，显微镜放大倍率高，操作方便 ， 同时支持多种功能的升级，非常适合晶圆级的测试应用。该产品主要应用于集成电路、 芯片、MEMS 器件、 管芯晶圆、 LED、 LCD、 太阳能电池等行业的测试及研究领域。产品优势： 显微镜具备高刚性龙门支架且搭配气动升降，保证高质量光学成像质量。 卡盘同时具备快速和微调升降，便于样品和探针快速分离，也可以用于探针卡的扎针。 可升级性强，可升级 220G 高频，也可以集成光电流扫描成像或拉曼-瞬态荧光寿命成像系统等。

锥形光纤探针扫描系统锥形光纤探针扫描系统GalvoStation是一种单通道光电激光设备，锥形光纤探针扫描系统设计用于使用Lambda Fibers进行空间选择性光传输和收集。GalvoStation允许将Lambda光纤发出的光限制在其有效长度的子位置。锥形光纤探针扫描系统在有效长度范围内，可以沿光纤轴任意扫描活性子位点。锥形光纤探针扫描系统利用这一特性，可以对不同深度分辨率的大脑区域进行光刺激，以便使用多电极阵列记录不同深度的光致电生理信号，或在深度分辨率的纤维光度测定实验中收集来自不同大脑区域的荧光信号。用锥形光纤探针Lambda Fibers的位置选择性光传输/收集的轴向分辨率由子站点长度表示。锥形光纤探针扫描系统GalvoStation可以配备一个或两个激光源，并可选地包括一个光路，用于组合光传输和收集与单个探头。下表列出了带有相关应用程序的选项集示例。Laser wavelengths[nm]Collectionband [nm]Application example405 + 473500 – 550基于等吸收控制的GCaMP空间选择性光纤光度法473N/A基于ChR2的空间选择光遗传学405 + 561600 – 650基于等吸收控制的RCaMP空间选择性光纤光度法锥形光纤探针扫描系统组成：完整的GalvoStation系统由GalvoStation(1)，其电源(2)，一个或两个激光驱动器(3)，一个DAQ板(可选，4)和一个光电探测器(可选，5)组成。根据所选的配置，系统提供了一组补片光纤和所需的所有电缆。2根2m长的D-Sub15电缆。一根探针跳线(SMA905到护套)。一根传感器跳线(SMA905到FC/PC)。三根0.5米长的BNC电缆。4根2000米长的BNC电缆。三个BNC-Tee适配器。一根2米长的3针DIN电缆。3根C13交流电缆。一个DAQ电源。还包括一个入门工具包。由:一根5pack Lambda-plus fibers(光纤类型和短管规格由客户定义，包括一张校准幻灯片) 一根探针跳线(与Lambda-plus fibers类型相同) 一根传感器跳线。如果要使用旋转接头，则在订单中指定的连接器将提供额外的跳接线。设备提供的探针跳线建议与Lambda-plus fibers和TaperScan软件进行配套使用蕞佳。GalvoStation提供的传感器跳线基于高数值孔径光纤，适合与光电探测器(可选包括)一起使用。如果与您自己的光电探测器一起使用，请参考制造商的光电探测器跳线的选择和购买指南。锥形光纤探针Lambda-plus fibersLambda-plus fibers是在不同批次的光纤中选择具有严格的锥度长度和锥度轮廓公差的光纤，用于恒定的子位点长度，强烈推荐给GalvoStation和ThetaStation用户。TaperScan—GalvoStation控制软件TaperScan软件可用于GalvoStation的完全控制。它允许选择Lambda fibers的有源子站点，操作激光源及其光功率水平。实现了两种操作模式:手动模式用于直接手动控制Lambda fibers的空间选择性光发射，以及协议模式，可以对单源(例如光遗传刺激)和双源(例如具有等吸光控制的光纤测光)刺激程序进行编程。手动版锥形光纤探针扫描器Thetastation是一种光机械工具，设计用于使用Lambda fibers进行空间选择性光传输。该设备允许限制和手动扫描Lambda fibers在其有效长度的子站点发出的光。通过这样做，可以独立探测植入Lambda fibers的组织区域的子部分:这种能力在光遗传学实验中提供了额外的自由度，当沿着一个轴延伸的读出技术与定点选择性光传输(例如线性微电极阵列)同时使用时，这一点特别相关。一般性建议：建议使用激光光源。使用单模(SM)输入跳线以获得蕞佳传输效率。Lambda fiber的发光子区域的位置和尺寸以及传输效率需要作为千分尺螺杆位置的函数进行校准。关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

锥形光纤探针昊量光电新推出的锥形光纤探针Lambda Fibers是一种光纤探针，锥形光纤探针一端从其全宽逐渐减小到直径小于1um，长度为几毫米。锥形光纤探针新颖设计为光遗传学和光纤光度学实验提供了一种独特的方法，锥形光纤探针允许均匀的大体积照明和空间可寻址的光传输，具有极薄和锋利的光纤。锥形光纤探针Lambda Fibers独特的光学特性是光纤沿其非锥度部分引导的光模沿锥度在不同位置外耦合。这意味着通过激发光纤的所有光学模式(即通过使用与光纤具有相同或更高数值孔径的光源注入光)，光将从锥形扩散发射。更有趣的是，通过非常规的光传输策略(一种方法是通过改变角度将准直光束注入光纤的近端)仅激发一部分模式，可以将光发射限制在锥度的一小部分:当使用锥形光纤探针Lambda Fibers进行光收集时，导光的模态含量与锥度的活动部分或子部分之间的关系保持不变。为了在不同光纤之间获得更高的重复性，并在扫描范围内实现均匀的发射长度，建议使用Lambda-Plus Fibers：Lambda-Plus Fibers是锥度轮廓上有严格公差的锥形纤维。锥形光纤探针Lambda Fibers为光遗传学和光纤光度测定实验提供了一种新的方法。由于光传输/收集是从锥形表面进行的，因此Lambda Fibers通常插入要控制的区域。有效发射/收集光的锥度部分由有效长度定义。\由于锥形光纤探针Lambda Fiber的光活性表面比标准光纤更大——一个锥体的表面的高度等于有效长度与光纤核心面积的关系——因此需要更大的总输入光功率来获得相同的照明功率密度。由锥形的有源表面发出的平均照明功率密度可以计算为由锥形光纤发出的总光功率除以锥形光纤的有源面积。总光功率可以通过将锥形光纤放在前面并非常靠近光功率传感器来测量，就像通常使用扁平光纤一样。以平方毫米为单位的有效面积可以计算为锥度的有效长度(以毫米为单位)与纤维类型相关系数A的乘积:Fiber type.22/105.39/200.66/200Coefficient A [mm]0.0860.1890.243联系昊量光电获得LightSpread软件来估计Lambda光纤发出的光在脑组织中的分布情况。参考文献：[1] F. Pisanello, et al., “Dynamic illumination of spatially restricted or large brain volumes via a single tapered optical fiber”, Nature Neuroscience (2017)[2] F. Pisano, et al., “Depth-resolved fiber photometry with a single tapered optical fiber implant”, Nature Methods (2019)锥形光纤探针应用：光遗传学Lambda Fibers套管可用于靶向大量组织。锥形光学特性允许将光传输到感兴趣的整个区域或部分区域，这取决于光如何发射到光纤中。光纤光度测定Lambda Fibers锥形光纤探针套管可以通过整个锥形表面收集光。当使用选择性光传递来激发功能性荧光时，可以实现单纤维的多位点光纤光度测定。锥形光纤探针更多应用参考文献，请联系昊量光电！2022den Bakker H, Van Dijck M, et al., “Sharp-wave ripple associated activity in the medial prefrontal cortex supports spatial rule switching“, BioRxivGreenstreet F, Martinez Vergara H, et al., “Action prediction error: a value-free dopaminergic teaching signal that drives stable learning“, BioRxivCruz BF, Guiomar G, et al., “Action suppression reveals opponent parallel control via striatal circuits“, Nature2021Dacre J, Colligan M, et al., “A cerebellar-thalamocortical pathway drives behavioral context-dependent movement initiation“, NeuronRobert B, Kimchi EY, et al., “A functional topography within the cholinergic basal forebrain for processing sensory cues associated with reward and punishment “, eLifeAlvarado JS, Goffinet J, et al., “Neural dynamics underliying birdsong practice and performance“, NatureLee J & Sabatini B, “Striatal indirect pathway mediates exploration via collicular competition“, NatureDrake RAR, Steel KAJ, “Loss of cortical control over the descending pain modulatory system determines the development of the neuropathic pain state in rats” , eLifeHamilos AE, Spedicato G., et al., “Slowly evolving dopaminergic activity modulates the moment-to-moment probability of reward-related self-timed movements“, eLife2020Cruz BF, Soarez S, et al., “Striatal circuits support broadly opponent aspects of action suppression and production” , BioRxivIto H, Sales A, et al., Probabilistic, spinally-gated control of bladder pressure and autonomous micturition by Barrington’s nucleus CRH neurons , eLifeLee J, Wang W, et al., “Anatomically segregated basal ganglia pathways allow parallel behavioral modulation“, Nature NeuroscienceVincis R, Chen K, et al., “Dynamic Representation of Taste-Related Decisions in the Gustatory Insular Cortex of Mice“, Current Biology2019Hayat H, Regev N, et al., “Locus-coeruleus norepinephrine activity gates sensory-evoked awakenings from sleep“, Science AdvancesFernandez-Lamo I, Gomez-Dominguez D, et al., “Proximodistal Organization of the CA2 Hippocampal Area“, Cell RepGuo J, Sauerbrei B, et al., “Disrupting cortico-cerebellar communication impairs dexterity“, eLifeJackman SL, Chen CH, et al., “In Vivo Targeted Expression of Optogenetic Proteins Using Silk/AAV Films“, J. Vis. Exp.2018Fernandez DC, Fogerson PM, et al., “Light Affects Mood and Learning through Distinct Retina-Brain Pathways“, Cell关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

MPI TS2000-IFE 是一个自动化探针台，可以从使用一开始或在测试领域内任何需要时转换为带有 Waferwallet MAX 的全自动探针台。主要应用在负载拉动、RF、mmW、硅光子学、设计验证（产品工程）或在定义的测试环境中测试 MEMS 和其他传感器。MPI 同时推出用于太赫兹应用的 200 毫米自动探针台系统MPI 提供其200 mm TS2000-IFE THZ-Selection 自动探针台系统。THZ-Selection 是一种专用的射频、毫米波、太赫兹和负载牵引探针台，在 -60 至 300 oC 的宽工作温度范围内不会影响测量方向性。它基于 MPI 最通用的 200 毫米平台 - TS2000-IFE 系列。200 毫米晶圆的自动化在片测试探针台系统常用来执行以下操作：无需额外的 S 波段波导，尤其是在亚太赫兹或太赫兹范围内。最小化负载牵引应用的信号路径并提供最宽的调谐范围和最高GAMMA。切换频段时操作简单方便。MPI 专有的 IceFreeEnvironment 技术允许 THZ-Selection 在微定位器和探针卡的帮助下在负温度下运行。该测试系统能够通过具有可编程微观运动的集成探针控制提供晶圆级可靠性。主动隔振缓冲了测试过程中振动误差的发生。这些功能支持自动化测试，没有任何错误余地，并且具有可验证的准确性。

布鲁克（BRUKER）探针不为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针

±1μm精度探针座 适用于I-V/C-V测试的微型定位器 CINDBEST CB-40 -T| 适用于I-V/C-V测试的微型定位器 特点/应用 ◆ 适用于I-V/C-V测试的微型定位器◆ 单线操作结构，占用更小面积，可将定位器靠近放置◆ 高刚性结构，弹簧消隙X-Y-Z，稳定无间隙◆ 线性移动，磁性吸附◆ 30度倾仰调节机构◆ 可搭配同轴/三轴探针夹具使用◆ 80牙/英寸 探针座 规格参数 型号：CB-40-T 尺寸：96（L）*52（W）*76mm（H） X-Y-Z移动行程：12mm*12mm*12mm 调节精度：2um 固定方式：磁性吸附 重量：350g

RF探针座 RF探针座适宜配合高频探针使用， 森东宝科技CB-100以及CB-200均可做射频探针座. RF探针座参数 型号：CB-100-RF ◆ 台湾原装进口◆ 磁力开关底座◆ X-Y-Z 方向的移动行程为12mm◆ 100牙/英寸◆ 移动精度：0.7微米◆ 射频探针调节机构◆ 多点探头调水平旋钮,可以+-10°调节，精度0.1度◆ 建议搭配高频探针使用（40GHZ-110GHZ)◆ 尺寸：94x75x95 mm (W x D x H)◆ 重量 : 750 grams 型号：CB-200-RF ◆ 台湾原装进口◆ 磁力开关底座◆ X-Y-Z 方向的移动行程为20mm◆ 100牙/英寸◆ 移动精度：0.5微米◆ 射频探针调节机构◆ 多点探头调水平旋钮,可以+-10°调节，精度0.1度◆ 建议搭配高频探针使用（40GHZ-110GHZ)◆ 尺寸：112mm(W)x86mm(D)x108mm(H)◆ 重量 : 720 grams

MPI TS200- 半自动探针台产品描述：1. 单机多应用设计适用于多种晶圆量测应用，如组件特性描述和建模，晶圆级可靠性 (WLR)、失效分析 (FA)、集成电路工程、微型机电系统 (MEMS) 和高功率 (HP) 2. 工效学设计 方便单手操作的快速释放拖移气浮载物台设计坚固可承载多达10根DC 或4根RF微定们器在工作台三段式工作台快升把手设计 (contact - separation- loading)，实现高重现性3. 弹性选配与升级性 另有多种晶圆载物台可做升级，亦有諸多配件如 DC/RF/mmW 微定位器、光学显微镜、影像镜头、电磁屏蔽箱等可搭载，以完全支援您的应用需求MPI探针台系统是由来自于Cascade和安捷伦等公司的专家们研发和设计，专业提供探针台及所有相关直流/射频附件以及相关半导体测试整体解决方案。得益于其极高的性价比，广受国内外用户的好评。TS150,TS200,TS300是常用的手动式探针台，简单，直观，方便， 并确保 高度准确的测量。以下是MPI探针台的特点： Air-bearing stage-气浮式样品台技术：很多探针台的厂家通常配备的是传统的滚珠式/轴承式样品台，内部移动是都会产生摩擦，因此存在了响应慢，易损耗，需定期维护（添加润滑油）等固有缺点。MPI探针台的载物台采用新的气浮支撑技术，我们成为Air-bearing stage技术。很好解决了传统的滚珠式/轴承式样品台固有缺点，即消除内部摩擦，避免日常使用损耗，免去定期维护等麻烦。并且该设计可以使得样品台在移动范围内360°移动，而不受X/Y导轨限制移动（其他品牌无法同时X/Y移动，只能选一个方向移动）。b. Platen Lift技术-三段平面式升降及下针：影响探针台测试结果很大程度上取决于探针与样品的接触。MPI采用了三段式(0-300um-3mm)下针并且内置安全锁（其他厂家是两段），不仅实现了1um重复性，同时也使得整个下针过程变得十分平缓且平稳从而避免了撞针。这大大提升了用户的体验，方便了用户的操作。c.温控触屏设计：MPI手动探针台可以选配各类样品台，包含2英寸、4英寸、6英寸、8英寸样品台，及加热样品台（200℃/300℃）。并且配备智能化触摸屏，可以随时快速调节样品台加热问题，实时显示温度变化。高精度、便捷的温度控制功能，便于客户进行实验设计和测试。d. Microscope bridge mount：MPI探针台具备了Microscope bridge mount，方便用户自行购置并升级显微镜。这点也是其他探针台所不具备的。对于这类的用户而言，如果今后要升级显微镜，只能从探针台原厂购买。但是其实探针台厂家往往并不制造光学显微镜。而MPI则更多的为客户考虑，把显微镜的选择权交在客户手里。这也是MPI设计了Microscope bridge mount的初衷。 e. 所有核心部件均自行生产：诸如主机台，直流/射频探针座，直流/射频线缆及探针等核心部件均为MPI公司自行生产。很多探针台厂商的射频探针也都是从MPI购买的。此外，MPI探针台的产品线也非常丰富，拥有手动、半自动、全自动、射频/微波、高功能等所有探针台系列。

MPI TS3000自动探针系统MPI的TS3000是一个300毫米自动测头系统，专门用于产品工程， 故障分析， 设计验证， 晶圆级可靠性 以及 RF和mmW?应用。TS3000功能集提供：高温度范围-60… 300°C佳的灵活性具有特定设计的电缆接口的与功能测试仪的小电缆距离，可实现更好的测量方向性非常小的压板到卡盘高度可实现佳mmW和内部节点探测非常小的系统占地面积，在内部集成了热力系统的冷却器两者的结合使TS3000探针台成为MPI公司和产品工程市场所独有的。IceFreeEnvironment™ 结合了MPI的IceFreeEnvironment™ ，TS3000可以在-60… 300°C的宽温度范围内对300mm的晶片进行MicroPositioners和/或探针卡的测试，并具有在胶片框架上进行探测的附加功能。探针悬停控制™ MPI探针悬停控制PHC™ 允许轻松手动控制探针与晶片的接触和分离。分离距离可以通过测微计反馈精确控制，以实现探针到晶圆/焊盘的定位。易用性通过大程度减少关键设置和测头更换操作中的错误，确保了安全的操作。大探针台板TS3000提供了易于使用的大型探头压板，以便以小的压板到卡盘高度容纳多达12倍的DC或4倍的RF微定位器。集成了负载拉力调谐器或更大面积的MicroPositioners，使得TS3000系统成为RF和mmW测量的理想选择。探针压板被主动冷却以避免热漂移，尤其是在300°C时。简易晶圆装载双前门通道和独特的卡盘设计使150、200、300毫米晶片，晶片碎片甚至小至5×5毫米IC的装卸程序变得轻松。AUX卡盘都位于前面，可以很方便地进行装卸。没有推出阶段允许采用简单的自动化方法来进行RF校准和探针卡清洁。集成硬件控制面板智能硬件控制面板完全集成到探针系统中，并基于数十年的经验和客户互动而设计，以提供更快，更安全，更便捷的系统控制和测试操作。关键位置处的键盘和鼠标可以在必要时控制软件，并且还可以控制Windows 基于仪器。 热卡盘集成由于集成了智能冷却器，TS3000系列提供了优化的占地面积，可节省实验室中的宝贵空间。MPI和ERS共同设计了 新型300 mm Thermal?ChuckAirCoolPRIME??技术 系列，提供了无与伦比的热灵活性，将浸泡时间减少了60％，并且提供了市场上种类多的热学产品。减少转换时间，改善电气性能，在惰性气体气氛下更轻松地进行测试以及现场可升级性是AirCool的附加价值PRIME热卡盘系统。可以使用完全集成的触摸屏显示器来操作热力系统，该触摸屏显示器放置在操作员面前的便利位置，以实现快速操作和即时反馈。ERS获得专利的AC3冷却技术公司这些卡盘结合了获得专利的AC3冷却技术和自我管理系统，可使用回收的冷却空气吹扫MPI ShielDEnvironment™ ，与市场上的其他系统相比，可大幅减少30％至50％的空气消耗。探针卡和微型定位器–同时单探头，用于4.5“ x 11”探头卡的薄型探头卡座以及较低的板到卡盘距离是同时使用被动/有源高阻抗探头进行探测的理想选择，尤其是在负温度下；使系统成为 设计验证 和/或 故障分析 工作的理想选择。安全测试管理（STM）系统独特的STM系统可防止在测试过程中打开门–测量结果很安全。在负吸盘温度期间，任何情况下都无法意外打开任何系统门。此外，智能的露点控制程序可避免冷测试期间的积聚。系统自动监视CDA或氮气的流量。如果流量中断或流量不足，则STM™ 会自动将卡盘转换为安全模式-尽快将卡盘加热至露点以上。MPI STM™ 的功能是通过自动保持安全的测试环境，使TS3000的测量更加安全，可靠和方便。仪器集成可选的仪器架可缩短电缆长度，并提高 RF和mmW?应用中的测量动态性和方向性。软件套件SENTIOMPI自动工程探针系统由独特且革新性的多点触摸操作 SENTIO控制?软件套件 –简单直观的操作节省了大量的培训时间，“滚动”，“缩放”，“移动”命令模仿了现代智能移动设备，使每个人都可以在短短几分钟内成为专家。在活动应用程序与其余APP之间的切换仅需简单的手指操作即可。对于RF应用，无需切换到另一个软件平台– MPI RF校准软件程序QAlibria 与SENTIO完全集成–为了遵循单一操作概念方法而易于使用。

MPI TS2000是全球范围内公认的 探针系统的自然演变，其专用设计可满足高级半导体测试市场的需求。该系统与所有MPI系统附件完全兼容，主要设计用于解决故障分析，设计验证，IC工程，晶圆级可靠性以及对M MEMS，高功率，RF和mmW 器件测试的特殊要求。TS2000可用于环境和/或仅高温操作模式，速度极快,高可达10 Dies / second（取决于终配置），这使其成为分立RF器件进行生产前电气测试的理想选择。 特点:大探针台TS2000系列提供了易于使用的大型探针台板，以容纳多达12个DC或4个RF MicroPositioner。集成了负载拉力调谐器或更大面积的MicroPositioners,使得TS2000系统成为RF和mmW测量的理想选择。简易晶圆装载 宽大的前门通道可轻松装载/卸载100、150、200毫米的晶片，晶片碎片，甚至小至5×5毫米的IC。AUX卡盘都位于前面，可以很方便地进行装卸。没有推出阶段允许采用简单的自动化方法来进行RF校准和探针卡清洁。集成硬件控制面板智能硬件控制面板完全集成到探针系统中，并基于数十年的经验和客户互动而设计，以提供更快，更安全，更便捷的系统控制和测试操作。键盘和鼠标的位置非常重要，可以在必要时控制软件，并且还可以控制Windows基于仪器。晶圆和辅助夹具的真空控制面板位于右前侧，以便在装卸过程中轻松检修。热卡盘集成可以使用完全集成的触摸屏显示器来操作热吸盘（从20°C或从环境温度到高300°C），该触摸屏显示器放置在操作员面前的便利位置，以实现快速操作和即时反馈。探针卡和微型定位器–同时许多单探针，用于4.5英寸x 11英寸探针卡的薄型探针卡座以及较低的板到卡盘距离非常适合与主动探针同时进行探测，使该系统成为设计验证 和/或 故障分析 工作的理想选择 。整合式DarkBoxTS2000-D就是已经集成了DarkBox的TS2000！该系统专为各种测量仪器的佳占位面积，嵌入式互锁，LED照明和标准化接口面板而设计，是受光和激光安全保护的测试环境的。易于从背面板上进行访问，从而使重新配置或初始设置变得非常快捷和方便。仪器集成可选的仪器架可缩短电缆长度，并提高 RF和mmW?应用中的测量动态性和方向性。隔振TS2000结合了两种类型的隔振解决方案，可以在不同的实验室测试环境中更好地运行。总占地面积可比或小于行业中常用的独立振动台。软件套件SENTIOMPI自动工程探针系统由独特且革新性的多点触摸操作SENTIO控制软件套件 –简单直观的操作节省了大量的培训时间，“滚动”，“缩放”，“移动”命令模仿了现代智能移动设备，使每个人都可以在短短几分钟内成为专家。在活动应用程序与其余APP之间的切换仅需简单的手指操作即可。对于RF应用，无需切换到另一个软件平台– MPI RF校准软件程序QAlibria 与SENTIO完全集成 –为了遵循单一操作概念方法而易于使用。

1：四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。　术　　标 ： 测量范围 电阻率：10-5～105 &Omega .cm(可扩展)； 方块电阻：10-4～106 &Omega /□(可扩展)； 电导率：10-5～105 s/cm； 电阻：10-5～105 &Omega ； 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 分辨力：10&mu V； 输入阻抗：1000M&Omega ； 度：± 0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；四探针探头基本标 间距：1± 0.01mm； 针间缘电阻：&ge 1000M&Omega ； 机械游移率：&le 0.3%； 探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片：0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口，速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。连接电脑使用时带自动测量 能，自动选择适合样品测试电流量程；标准使用环境 温度：23± 2℃； 相对湿度：&le 65%； 无频干扰； 无强光直射；配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2：多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器（100ml） 型号：HAD/CZY-100产品介绍：主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势：1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端，沿切割印掰断，用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端（防止漏气），插入所要检测标注的气体通道口上（稍用力插紧）。注意方向性，箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管，按以上方法均插好之后，接通电源，即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器，使其符合标（见附表）。6、检测结束，拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下，并垂直于地面放在与目光基本不平的位置，观察管上颜色变化所刻度，既为被检测气体的浓度。 （1）双重优点：测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化，是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。（2）适应性好：检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种，从零点到几个PPM（10-6）到百分之几十，适用范围很大，为分析作提供了很大方便。（3）操作简便：为专业检验人员提供了很大的方便，操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。（4）使用安：使用时手动操作，无需要电源、热源，在有易燃易气体存在的场所能安使用。（5）分析速度快：由于操作方便，使得每次分析所需时间大为缩短，般仅需十几分钟即可得知结果，其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。（6）测量度：在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件，采用不同标准气标定，克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE　ResMap&ndash CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点： 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏特点：1）针尖压力一致2）适用于各种基底材料3）友好的用户界面4）快速测量5）数据可存储 应用：1）方块电阻2）薄片电阻3）掺杂浓度4）金属层厚度5）P/N类型6）I/V测试

TeraSpike THz近场探针 微区探针(TeraSpike microprobe series)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-800-XTeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是最高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。 。产品特点：市场上最小的THz探针专利设计空间分辨率可达3um探测频率范围：0-4THz适用于所有基于激光的THz系统安装可兼容标准的光机械组建典型激发光强度1-15mW（1-5uJ/cm2）集成过载保护电路应用：太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导高分辨率太赫兹近场成像 非接触式薄膜电阻半导体成像MMIC器件特性分析 无损检测芯片时域反射计（TDR）测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像测量激光刻蚀多晶硅晶圆的薄层导电率图像 基于飞秒激光的THz系统 THz探针典型参数TeraSpike TD-800-X-HR HRS Max. spatial resolution3 μm20 μmPC gap size1.5 μm2 μmDark current @ 1 V Bias 0.5 nA 0.5 nAPhotocurrent (*) 1 μA 0.6 μAExcitation wavelength700 .. 860 nmAvg. excitation power0.1 .. 4 mWConnection typeSMP元素路径: body p img当前已输入818个字符, 您还可以输入9182个字符。

一、普通光纤探针光谱探针是由一束粘在一起的光纤，为光谱仪、光辐射（LED，激光，灯等），介质反射、荧光及吸收的光谱分析提供了较好的耦合效率。产品特征：●多通道的光度、光谱处理（高达37通道）。●预选波长的高光学通量，与各种光源、滤波器、迷你光谱仪兼容。●根据客户应用定制。聚合物或金属涂覆层。●高达600摄氏度的高温探针应用。●高达469根光纤的光纤束，直径从100um到600um。 光纤6+1 or 7+1 光纤束50,100,200,300μm core中间的光纤金属涂覆光纤类型 UV-VIS光纤类型 VIS-NIR探针头PEEK 套管 ? 1.0mm 钛金属套圈不锈钢针 ? 1.5mm L=60mm 带 机头 ? 8 mm L=80mm 客户定制可选光谱范围200-960nm 或 280-2100nm220-4000 nm 的特殊设计保护管柔韧的硬塑料聚合物 PEEK ? 1.0mmFlexible Ni or Cr plated Rigid Brass Tube 镍或铬电镀黄铜管? 4.9mm 可选的 PVC or PVC + Polycarbonate Tube ? 3.0-5.0 mm聚酸碳脂管温度范围-40°C +120°C 到 600°C - on request高低温探针可选光学连接器SMA-905 +ST or FC -FC客户连接头设计可选传输通道光纤输入呈线性或圆形分布柔韧性主要部件最小弯曲半径20mm (短时) -45mm (长时)可定制最小弯曲半径达5mm附件 液体吸收测量的带可调节球面镜的长传光学头 针对平行光束的光学增透膜透镜系统 适用于粉末和厚样品的反射探针头二、ART光纤探针ART photonics 的FlexiSpec探针包括新型的可衰减全反射设计适用于恶劣的应用条件。产品特点：●在近红外和中红外选择的谱线部分高光学通量；● ATR探针末端液体浸入式设计不留忙去；●在高达250°C的恶劣环境中，稳定的工业应用；●可承受高压；●与所有光谱仪和自动处理接口兼容。产品应用：●远程在线反应监控，温度范围（-100/+250°C）●PAT应用在实验室、试验厂以及具有过程接口的自动化过程控制的工业应用●化学药品、石油化学的、原子的、生物制药和视频工业实时的红外谱测量高温环境FlexiSpec IR-Fiber HT-ATR-Probes 规格探针类型Diamond ATR ZnSe ATRCubic Zirconium ATR传输范围5.2-17μm (600-1900cm -1) + 3.2-17μm 600-3100cm -1)1.5-6.5μm(1550-6650cm -1)光纤类型PIR-900/1000 卤化银PIR-900/1000卤化银硫属化合物玻璃 (As-S)工作温度范围-100°C / + 250°C-100°C / + 250°C-100°C / + 200°C承受压力 (max*)*for 12mm shafts200Bar*10Bar*100Bar*高温环境FlexiSpec IR-Fiber HT-ATR-Probes 规格全长1.5m (opt.: 1m to 5m)*轴长300 mm (opt.: 300-700 mm)*轴直径12mm轴材料Hastelloy C22腿长300mm (opt.: 100mm to 500mm)保护套管材料Liquid Tight SS-Conduit, KOPEX-Tube最小弯曲半径130mm输入/输出连接器长SMA头 (其它类型可选)冷却气体参数超压 0.5Bar, 流量2300l/h内部温度控制内部轴控制光纤温度 兼容的过程接口Ceramat-FOS三、透射和TransFlex光纤探针FlexiSpec 产品线包括最新一代的单通道和双通道的光纤探针兼容所有光谱仪和光度仪。单通道和双通道的光纤探针兼容所有的可自动清洗的过程接口，可实时监控实验室，实验工厂和全自动的工艺控制。产品特点：●长距离实时监测液体传输光谱●紫外、可见至中红外谱线的高光通量●恶劣环境中灵活稳健的工业应用●兼容所有光谱仪和自动控制的过程接口产品应用：●反应过程的实时监控●工程分析技术●结晶过程的监测●特性分析●生物制药分析●生物燃料的开发与发展光纤传输和Transflection Probes FlexiSpec规格探针类型TransmissionTransflection传输范围0,2 - 1,3 μm0,4 - 2,2 μm0,2 -1,3μm0,4 - 2,2 μm1,6 - 5,5 μm光纤类型Silica UV-VisSilica Vis-NIRSilica UV-VisSilica Vis-NIRCIR间隙大小2 5 10 20 mm2 5 10 mm2 5 10 20 mm2 5 10 mm0.05 – 2.0 mm工作温度≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 100°C最小弯曲半径120 mm (for 600 μm core)130 mm Fiber Optic Transmission and Transflection Probes FlexiSpec一般参数全长1,5 m (opt: 1 – 30m) *轴长230mm (opt: 50 – 500mm) *轴直径12mm轴材料SS, Hastelloy C22保护套管材料Liquid Tight SS-Conduit, KOPEX-Tube输入/输出连接器Long SMA FC/PC ST兼容的过程接口Ceramat-FOS or SensoGate-FOS*客户可定制尺寸四、环形光纤探针产品特点：●中红外光谱范围的高光通量●液体、粘&软固体表面实时吸收谱测量●兼容所有傅里叶光谱仪、量子级联和红外滤波光谱仪●昂贵的可衰减全反射红外探针的替代选择●可替换的光纤探针末端ATR-Loop Infrared PIR-fiber probe 是最早的FlexiSpec产品线中设计用来在傅立叶变换光谱仪和其它的中红外光谱仪中使用的不需要取样就可完美的远程分析液体、糊剂和软表面的成分。产品应用：●实时远程监控吸收谱●浸入式光纤环可衰减全反射谱测量●简单的光纤环接触皮肤，进行医疗诊断的活体细胞谱测量Fiber Optic ATR-Loop Probes FlexiSpec规格探针类型Chalcogenide-IR (CIR)Polycrystalline-IR (PIR)传输范围6500 – 1700cm -13600 – 600cm -1光纤类型Chalcogenide glass (As-S)Silver Halide (AgCl:AgBr)温度范围≤ 90°C≤ 100°CFiber Optic Multi-Loop Probes FlexiSpec一般参数全长1m (opt.: PIR up to 5m, CIR up to 10m) *轴长120mm *轴直径10mm轴材料PEEK保护套管材料PEEK输入/输出连接器Long SMA-905 (opt.: any other type)可分拆的PIR 光纤环Loop Multi-Loop (Double-, Triple-Loop, etc.)*客户可定制

CM300xi 探针台可应对极其复杂的环境带来的测量挑战，例如在长时间和多种温度下在小焊盘上进行无人值守的测试。在 EMI 屏蔽、光密和无湿气的测试环境中，为各种应用实现了一流的测量性能。热管理增强功能和实验室自动化功能可提高产量并缩短数据获取时间。对于低温测试，FormFactor的开放式IceShield&trade 环境也可用于CM300xi。CM300xi 支持接触式智能&trade - 一种可实现自主半导体测试的独特技术。创新的系统设计与最先进的图像处理技术强强结合，提供了一个独立于操作员的解决方案，可在任何时间和温度下获得高度可靠的测量数据。CM300xi探针台与物料处理单元相结合，将全自动晶圆测试与最高的精度和灵活性相结合。该系统可以处理多达 50 个 200 或 300 毫米的晶圆，这些晶圆以 SEMI 标准晶圆盒的形式提供。可选的 ReAlign&trade 功能提供了独立于主 eVue 显微镜执行“离轴”探头到焊盘对准的功能。ReAlign 是不允许从上方观察焊盘和探针尖端的探针卡的理想工具。例如，垂直和金字塔探针卡就是这种情况。ReAlign 硬件包括 2 个额外的摄像头：向下的“压板摄像头”直接集成到 CM300xi 的压板中，用于观察垫 向上看的“ChuckView Camera”用于表征探针尖端。重新对齐向导允许使用预定义的算法轻松快速地设置不同的探针卡，如金字塔、阿波罗、悬臂等。ReAlign 可以自动管理温度变化，无需操作员干预。

PXB-S系列探针台 PXB-S系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜和体式显微镜●载物台可Z轴升降●载物台Theta可粗调360°, 微调±7 °●载物台XY移动分辨率为1um。●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●显微镜支架万向杆PXB-S系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试 ●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-M系列探针台 PXB-M系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台可Z轴升降●载物台Theta可粗调360°, 微调±7 °●载物台XY移动分辨率为1um●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降PXB-M系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD& TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-E系列探针台 PXB-E系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台气浮快速移动●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降●Platen 三阶抬杆， 微调移动行程为40mm，抬杆重复性精度为2umPXB-E系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析 ●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-BE系列探针台PXB-BE系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降●Platen 二阶抬杆， 微调移动行程为60mm，抬杆重复性精度为1um●配置独立控制压力阀PXB-BE系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-BET系列探针台 PXB-BET系列高低温探针台主要特点●搭配高低温系统， 最大范围-65℃到300℃●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制●可选配高压高流测试环境●装片拉出装置， 定位锁住●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降●Platen 二阶抬杆， 一次性行程为6mm， 抬杆重复性精度为1um， 四点同步●配置独立控制气流阀PXB-BET系列高低温探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试 PXB-D系列探针台PXB-D系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜，体式显微镜 ●载物台气浮快速移动 ●可选配高压高流测试环境●platen上下结构，可正反面同时扎针 ●载物台双面镂空，可替换，一个镂空夹具，一个 载物台（两个吸附孔）●背置式直筒显微镜，zoom为0.58-7.5x ●Platen 微调行程为40mm，移动分辨率为1um， 四点同步PXB-D系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●PCB领域检测分析 PXB-W系列探针台PXB-W系列探针台主要特点●可选配110Ghz，220Ghz等测试环境 ●搭配高低温系统，最大范围-65℃到300℃ ●可选直筒显微镜，体式显微镜或金相显微镜 ●载物台气浮快速移动，三档控制，X轴独立控制， Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制 ●装片拉出装置，定位锁住 ●稳定型显微镜桥架，移动分辨率为2um，显微镜 气动升降 ●Platen 二阶抬杆，一次性行程为6mm，抬杆重复 性精度为1um，四点同步 ●配置独立控制气流阀PXB-W系列探针台应用领域●Microwave probing 微波量测(高频测试)PXB-PL系列探针台 PXB-PL系列探针台(定制型)针对PCB&LCD&OLED&MINI-LED研发的测试探针台主要客户：英业达，沪利，深南电路，美维，奥克斯，大金，龙腾光电，群策等PXB-VL系列探针台 PXB-VL系列探针台产品简介PXB- VL高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试，射频测试 ，光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷 ，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料 ，半导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。 PXB-SA系列探针台PXB-SA系列探针台产品简介PXB-SA 系列探针台是一款在非真空条件下实现高低温环境的测试探针台。该产品采用气冷制冷 ，自动控温 ，设备配置非常丰富。自带屏蔽暗室 ，一方面可以屏蔽无线电磁干扰 ，另外一方面也可以保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。该产品多数用于相关单位实验室。PXB-SA系列探针台产品优势可搭配高低温温控系统,温度范围为-60-300℃可实现半自动测试微腔屏蔽

手动探针台 测试探针台半导体领域探针台 在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中，经常要量测内部的电参数，由于制成的越来越低，没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台近10年历史，销售实绩800多台，并且以每年的销量稳居行业销量榜首。行业知名客户有：友达光电、华映光电、奇美光电、群创光电、飞兆半导体、德州仪器、华虹集成、华为、电子五所、航天808所、航天201所、中科院微电子所、苏州中科院纳米研究所、复旦大学、上海交通大学、西安电子科技大学、温州大学、福州大学、厦门大学等等……手动探针台 测试探针台手动探针台 测试探针台型号： PW-600/PW-800规格：chuck尺寸150mm（200mm）X,Y电动移动行程150mm（200mm）chuck粗调升降8mm，微调升降30mm可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜针座摆放个数6～8颗显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“可搭配Probe card测试适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品手动探针台 测试探针台型号： PW-400 规格：chuck尺寸100mmX,Y移动行程100mmchuck Z轴方向升降10mm（选项）搭配AEC实体显微镜针座摆放个数2～4颗适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学术单位等 RF高频探针台 手动探针台 测试探针台东、南、西、北测试臂搭配美国GGB高频测试头DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）Pitch 100～1500um探针材料：BeCu/Tungsten

多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

产品简介：该款探针台可精确控制探针臂和探针的移动，通过搭配探针座、显微镜和源表等，来完成探针台的测试，精确下针，输入、输出测试电信号，漏电流50fA；精确度高，稳定性好，皮实耐用；适合高校/研究所研发用。主要配置：- 6"真空吸盘- 漏电流：50fA- X/Y平台行程：100X100mm- Z轴分辨率：1um- 显微镜&CCD: 放大倍数300x，更大倍数可订制- CCD相机：2.1M像素+液晶显示屏- LED环形照明（带亮度调节）- 探针座：磁性底座- 探针臂：三轴或同轴线缆- 探针：金钨合金- 真空泵：低噪音真空泵其他选项：- 防震桌- 暗箱（屏蔽箱）- 加热台- 转接头插线板- ......

1． 系统介绍MMLAB-prob-2型探针系统是MMLAB-prob系列朗缪尔探针系统的双探针型号。MMLAB-prob系列朗缪尔探针系统基于虚拟仪器原理设计，具有硬件结构简单、可靠性强、抗扰动能力强等优点。MMLAB-prob系列朗缪尔探针系统的软件界面友好，操作简便，实现诊断与数据处理全过程自动化。2． 系统硬件构成MMLAB-prob-2型探针系统硬件由探针、驱动采集单元和计算机构成（图1）。其中，驱动采集单元一端通过USB接口与计算机连接，另一端有电缆与探针连接，其作用一是按照计算机的指令生成扫描信号，放大后为探针提供偏置，二是采集探针的电压电流值并输入计算机。

产品简介 Instec的真空型台式探针台系列是可从外部移动探针进行点针的桌上型探针台，涵盖多型号、多温度范围。同时允许温控、探针电测试、光学观察和样品气体环境控制。探针台上盖与底壳构成一个可抽真空的密封腔，亦可内充入氮气等保护气体，来防止样品在负温下结霜，或高温下氧化。功能特点 桌上型温控探针台，占地面积小可编程控温，涵盖-190℃~1000℃（具体由型号而定）适用 10 mm ~ 300 mm 晶圆和器件可抽真空的腔体，亦可充入保护气体使用独立的四个探针，可从设备外部移动探针进行点针可从温控器或电脑软件控制，可提供软件SDK*可做定制或改动，详询上海恒商温控参数 温度范围涵盖 -190℃~1000℃（具体由型号而定）加热块材质铝合金 或 银 或 陶瓷传感器/温控方式100Ω铂RTD / PID控制（含LVDC降噪电源）最小加热/制冷速度±0.01℃/min温度分辨率0.01℃ RTD传感器0.1℃ 热电偶传感器温度稳定性±0.05℃（25℃），±0.1℃（25℃）软件功能可设温控速率，可设温控程序，可记录温控曲线电学参数 探针默认为铼钨材质的弯针探针 *可选其他种类探针探针座可从外部XYZ移动的探针臂粗调模式+微调模式，微调行程20mm点针从外部移动点针，每个探针座都可点到样品区上任意位置探针接口默认为BNC接头，可选三同轴接口样品台面电位默认为电接地，可选电悬空（作背电极），可选三同轴接口光学参数 适用光路反射光路窗片可拆卸与更替的窗片最小物镜工作距离25 mm *截面图中WD上盖窗片观察窗片范围φ50mm，大视角±40° *截面图中θ1负温下窗片除霜吹气除霜管路结构参数 适用样品10 mm ~ 50 mm 直径 （标准）*可定至300mm的样品台面样品腔高6 mm探针座可从外部XYZ移动的探针臂粗调模式+微调模式，微调行程20mm气氛控制气密腔，可充入保护气体 *另有真空腔型号外壳冷却可通循环水，以维持外壳温度在常温附近台体尺寸/重量1060 mm x 600 mm x 213.2 mm / 20kg选型表 TP102SV-PS温度范围 -40℃ ~ 180℃，真空腔HCP422V-PS温度范围 -190℃ ~ 600℃（负温需配液氮制冷系统），真空腔HP1000V-PS温度范围 35℃ ~ 1000℃，真空腔定制型号按客户需求定制，适用300mm晶圆样品

随着新兴太赫兹应用的大量扩展，如高速5G通信，卫星，非侵入性光谱，安全和监视，医疗和保健设备以及短程汽车雷达，对精确，可靠和可重复测量数据的需求比以往变得更加重这些THzMPI TS150-THZ 工程探针台系统是一种专用的，经济高效的手动探头系统，专为基板和亚太赫兹150 mm晶圆的精密分析而设计。该系统非常稳定，具有大型探头压板和低调设计。这些基本元件中的每一个都需要支持各种RF和mmW应用，例如高达110 GHz的宽带，高达1.1THz的带状解决方案，负载牵引和RF噪声。单机多应用设计无缝集成各种宽带、差分、毫米波或宽带频率扩展器和自动阻抗调谐器全新设计的扩展器、调谐器集成，可实现非常大的动态测量极大的机械稳定性和重复性，实现方便和安全的操作人体工程学设计方便单手操作的，快速移动气浮式样品台设计坚固且空间充足的工作台，可乘载大型微定位器和毫米波模块扩展器三段式工作台快升把手设计 (contact - separation - loading)，实现接触、分离和加载的高性能弹性选配与升级可选振动隔离支持大型自动阻抗调谐器专用光学元件，用于缩短电缆和波导的长度，实现非常大的测量方向性各种夹头选件，印刷电路板和各种附件，如DC / RF /毫米波定位器 直流、射频和THZ微定位器的探针板设计 MPI探针悬停控制TM配有悬停高度（50、100或150μm）， 便于探针与Pad的对准。 世界上数一数二极精确的接触/超大行程控制， 精度为1um,便于测量的重复性和精确性无缝集成任何扩频器，以在200毫米晶片上获得 非常佳测量方向性陶瓷辅助夹头 用于测试单个集成电路的专用ERS热夹头

Air-bearing stage-气浮式样品台技术：很多探针台的厂家通常配备的是传统的滚珠式/轴承式样品台，内部移动是都会产生摩擦，因此存在了响应慢，易损耗，需定期维护（添加润滑油）等固有缺点。MPI探针台的载物台采用非常新的气浮支撑技术，我们成为Air-bearing stage技术。很好解决了传统的滚珠式/轴承式样品台固有缺点，即消除内部摩擦，避免日常使用损耗，免去定期维护等麻烦。并且该设计可以使得样品台在移动范围内360°移动，而不受X/Y导轨限制移动（其他品牌无法同时X/Y移动，只能选一个方向移动）。Platen Lift技术-三段平面式升降及下针：影响探针台测试结果很大程度上取决于探针与样品的接触。MPI采用了三段式(0-300um-3mm)下针并且内置安全锁（其他厂家是两段），不仅实现了1um重复性，同时也使得整个下针过程变得十分平缓且平稳从而避免了撞针。这大大提升了用户的体验，方便了用户的操作。温控触屏设计：MPI手动探针台可以选配各类样品台，包含2英寸、4英寸、6英寸、8英寸样品台，及加热样品台（200℃/300℃）。并且配备智能化触摸屏，可以随时快速调节样品台加热问题，实时显示温度变化。高精度、便捷的温度控制功能，便于客户进行实验设计和测试。Microscope bridge mount：MPI探针台具备了Microscope bridge mount，方便用户自行购置并升级显微镜。这点也是其他探针台所不具备的。对于这类的用户而言，如果今后要升级显微镜，只能从探针台原厂购买。但是其实探针台厂家往往并不制造光学显微镜。而MPI则更多的为客户考虑，把显微镜的选择权交在客户手里。这也是MPI设计了Microscope bridge mount的初衷。 所有核心部件均自行生产：诸如主机台，直流/射频探针座，直流/射频线缆及探针等核心部件均为MPI公司自行生产。很多探针台厂商的射频探针也都是从MPI购买的。此外，MPI探针台的产品线也非常丰富，拥有手动、半自动、全自动、射频/微波、高功能等所有探针台系列。

手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片（晶圆及碎片），并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。还可以设计验证/IC工程，晶圆级可靠性，MEMS，高功率和器件表征和建模。

v 探针台主要应用于晶圆、芯片、器件、封装等半导体制程测试环节v 样品尺寸：碎片~12英寸v 自动化：手动、半自动、全自动v 测试环境：高低温、磁场、真空探针台类型：分析探针台、直流、射频、高压、毫米波、太赫兹、硅光测量、芯片级测量、定制化等

设备基本主要功能：n 工业控制计算机，配置Win7 操作系统n 图像自动对准，自动完成晶圆扫描和芯片对准功能n 支持探针：直流钨探针、RF探针、高压探针，大电流探针n 圆形、阵列、编辑等多种测试方式n 同步、延时、离线打点方式n MAP图动态显示测试全过程n 测试仪接口：GPIB、RS232、光隔离TTL专用接口n 自动测试软件ATS1.0：可配接各种测试仪n 测试结果数据Excel格式存储、查询n 可根据需求完成专用的软件需求

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

200 mm 探针台，用于收集高精度测量数据，速度提高 5 倍新型 Cascade SUMMIT200先进的 200mm 探针系统，对于在单个或体积晶圆上收集高精度测量数据至关重要 越快越好。SUMMIT200探针台专为研发、设备表征/建模或利基生产应用而设计，可在超低噪声、直流、射频、毫米波和太赫兹应用中进行温度范围内的精确电气测量，具有半自动和现在的全自动操作，可尽快获得准确数据。下一代探头系统支持 PureLine&trade 技术，可实现市场上最低的噪声水平之一。获得专利的 AttoGuard® 和 MicroChamber® 技术可显著改善低泄漏和低电容测量。新的先进200毫米快速平台，盒式处理多达50片晶圆，高吞吐量测试功能，以及-60°C至300°C的宽温度范围，为科学家，研发和测试工程师或生产操作员提供了快速完成工作所需的一切。SUMMIT200探针台支持Contact Intelligence&trade ，这是一种独特的技术，可实现自主半导体测试。创新的系统设计和最先进的图像处理技术强强结合，提供了一个独立于操作员的解决方案，可在任何时间和温度下获得高度可靠的测量数据。该SUMMIT200具有广泛的应用范围和满足任何未来需求的升级路径，提供最先进的 200 mm 探针台平台，可对现有和未来的设备和 IC 进行快速、高精度和大批量测量。*SUMMIT200 平台还提供不同版本，用于不需要上述增强功能集的测量任务。有关详细信息和选项，请参阅数据表。

光纤探针是本公司采用有热熔拉伸技术研制的气泡参数测量仪。基于光纤顶端接触的介须不同折射率也不相同的原理进行测量。探针处于气相时，光在探针顶端形成全反射，反射光强度高:探针处于液相时，反射光强度低，基于光强的差异判断探针顶部所处相态。光纤直径65um，探针外包金属毛细管，光纤与毛细管间的缝隙用高强度无机胶密封 毛细管尾部与不锈钢管相连，采用联式加固结构，逐渐增加直径，既可以保证探针的强度，又减少对流场的影响。光纤直径小，联式结构，对流场影响小，数据准确无机胶密封，适用于高温体系毛细管、不锈钢管钎焊连接，适用于高压体系无机胶密封，不溶不挥发，适用有机溶剂体系基于反射光强度的不同进行测量，适用于非导电介质气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针