覆层测测厚仪

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覆层测测厚仪相关的厂商

  • 重庆里博仪器有限公司,是一家集自主研发、生产、销售和售后服务为一体的,专业从事检测仪器的生产型高新技术企业。主营产品包括直读光谱仪(台式、手持、移动)、激光诱导光谱仪、硬度计(洛氏、维氏、布氏、里氏)、覆层测厚仪、超声波测厚仪、表面粗糙度仪、超声波探伤仪(便携式、自动化)等。电话:15023208285(微信同号),QQ:526408186。欢迎来电咨询。
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  • 里博仪器产品涵盖包括表面粗糙度仪、数字式超声波探伤仪、里氏硬度计、超声波硬度计、数显内径测量仪、覆层测厚仪、超声波测厚仪、红外测温仪、电火花检测仪、数显(凸鼻子)洛氏硬度试验机、布氏硬度压痕测量系统、显微镜、在线式探伤系统等在内的十三大系列近百个品种,应用于研究所、高校、石油、化工、冶金、热处理、压力容器、机械制造、汽车制造等工业领域以及生物、半导体、医疗领域。产品技术先进、质量可靠,受到用户广泛认可和好评。
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  • 成都玉理科技有限公司是重庆里博仪器有限公司四川分公司;是日立高新光谱仪四川地区总代理;是荷兰轶诺硬度计全国优先分销商;是英国高美X射线探伤仪全国优先分销商。  日立高新(Oxford Instruments)是一家世界领先的高科技系统设备供应商。日立高新系列光谱仪所提供的全套产品系列包括手持式和台式 X 射线荧光光谱仪、激光诱导光谱仪、火花直读光谱仪。  荷兰INNOVATEST轶诺硬度计研发,制造和销售高端硬度计,为您提供既满足测试需求,又契合企业预算的硬度测试解决方案。  高美是创立于1976年的高科技英国公司。近40年来,高美一直走在射线机设计及制造的最前沿。是世界领先及产量最大的工业X射线设备的制造商之一。  总公司重庆里博仪器产品涵盖包括表面粗糙度仪、数字式超声波探伤仪、里氏硬度仪、数显高精度台(凸鼻子)洛氏硬度试验机、数显内径测量仪、布氏硬度压痕测量系统、覆层测厚仪、超声波测厚仪、红外测温仪、现场金相显微镜、电火花检测仪等在内的十一大系列几十个品种。
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覆层测测厚仪相关的仪器

  • 产品概述:TC4500涂覆层测厚仪为磁性和涡流两用覆层测厚仪,不仅可以用来测量钢铁等磁性基体,还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层,可自动识别测量基体,自动转换。操作单,携带方便,性价比高,适合各种复杂的测量环境,深受广大用户所喜爱。升级“专业工业模式",硬件和算法全面优化提优,带来更高的精准度,可以与APP实时互动及分享检测数据。功能特点:● 专业工业分析模式● TC4500涂覆层测厚仪全中文菜单● 自动识别金属底材● 自动选择测量方法——磁性法或电涡流法● 蓝牙连接功能● 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警●两种开/关机方式:手动开/关机方式和自动开/关机方式●电池电压指示:低电压提示技术参数:型号参数适用场合磁性基体上的非磁性涂层无磁性但导电基体上的绝缘涂层测量范围0-2000μm(1000μm=1mm)读数分辨率0.1μm (0-99.9μm范围);1μm(100-2000μm范围)最小测量面积10*10mm最薄基体厚度0.4mm最少曲面直径凸:5mm;凹:5mm使用环境温度-20~50℃;湿度10-85%RH测量误差1-1000μm:±(2%H+1μm);1000μm:±(5%H+1μm)标准配置TC4500主机(一体探头)、Fe/NFe基体、标准片、仪器箱、质保卡和合格证。
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  • 产品特色:● 多种探头可选,实现特殊测量需求● 自动统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)● 仪器校准采用两种方法,精度更高● 中英文菜单显示,操作更加直观便捷● 液晶显示器具有背光照明功能,暗光线下方便读数● 具有删除功能,对测量的单个或所有数据进行删除● 配有一体化打印机,实现测量数据实时打印● 电源欠压指示,智能充电● 操作过程有蜂鸣声,并配有错误提示功能 产品原理: 磁性涂层测厚仪:测量永久磁铁(侧头)和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化;或者是测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化。可以无损伤地测量磁性金属基本体上非磁性覆盖层的厚度(如 钢、铁、合金和硬磁性钢 上的 锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆 等) 涡流涂层测厚仪:利用侧头装置所产生的高频磁场,使置于侧头下面的导体产生涡流,其振幅和相位是导体与侧头之间的非导电覆盖层厚度的函数。可无损测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如 铜、铝、锌、锡 等金属上的 油漆、橡胶、塑料、氧化膜 等)行业应用: 航空材料覆层测厚:涡轮叶片是航空航天领域一种重要的配件,涡轮叶片经常会镀有一层薄薄的涂层,涡轮叶片涂层可提高涡轮片耐磨损和防腐蚀性能,覆层厚度一般为5-20um左右,膜层越厚,耐磨性能和抗腐蚀性能更好。时代高精度涂层测厚仪可以精确测量使用中的涡轮叶片涂层厚度,提前预警涡轮叶片性能,保障航飞的安全。 油漆覆层测厚:钢结构工程施工质量验收规范(GB50205-2001)中对油漆(涂层)厚度有明确要求:“涂层厚度因符合设计要求,若无要求,室外条件下涂层厚度应为150um,室内应为125um,误差在正负25um”。实际上各个行业对基体涂层都有严格要求,例如《中华人民共和国汽车行业标准汽车油漆涂层》中规定底漆不低于15um,总厚度不低于55um。时代涂层测厚仪帮助您高速、准确、快捷测量涂层厚度。 狭窄空间覆层测厚:生产过程中一些大工件狭窄空间往往也有涂层测量的需求,但是这些已经组装的大工件不可能卸载了来进行涂层厚度测量,时代涂层测厚仪采用分体式设计,方便检测到狭窄空间涂层厚度,涂层测厚仪配有打印功能,方便高效实现在线测量。 小工件覆层测厚:一般工件直径或面积较大,涂层厚度测量非常方便,但是如果工件较小、涂层所在基体不在是平面、涂层厚度较大时,一般涂层测厚仪测量精度就难以保障。时代涂层测厚仪,配有专用探头,最小可以测量直径为5mm,曲率半径为1.5mm,厚度为10000um的涂层厚度。探头主要技术参数:测头型号 F400 F1 F1/90 F10 N1 CN02 工作原理 磁感应 电涡流 测量范围(um) 0-400 0-1250 0-10000 0-1250(铜上镀铬0-40um) 10-200 低限分辨力(um) 0.1 0.1 10 0.1 1 示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1] ±[3%H+10] ±[3%H+1.5] ±[3%H+1] 两点校准(um) ±[(1~3)%H+0.7] ±[(1~3)%H+1] ±[(1~3)%H+10] ±[(1~3)%H+1.5] - 测量条件 最小曲率半径(mm) 凸 1 凸1.5 平直 10 3 平直 基体最小面积的直径(mm) ф3 ф7 ф7 ф40 ф5 ф7 最小临界厚度(mm) 0.2 0.5 0.5 2 0.3 无限制
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  • 概述云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪主要功能● 可使用各种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)进行测量;● 三种校准方法:一点校准、二点校准、基本校准;● 显示分辨率:0.1μm (1250um以下,1250um以上是1um); ● 最小测量面积:最小测量面积:10*8mm;● 最小曲率:凸5mm,凹25mm;● 设有四个统计功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)● 设五个统计量,存储800个数据。技术参数项目LT100-3使用环境温度0~40℃电源5V电池外型尺寸150×80×30mm重量300g测量范围F1、N1、F1/90F1、N1,0-1250μm。F1/90,0-1250umF400、N4000-400umF3/N30-3000umF100-10000um测量误差F1、N1、F1/90(2%H+1)二点校准精度1%F400、N400(2%H+0.7)二点校准精度1%F10(2%H+10)二点校准精度1%标准配置1、主机 1台2、探头(F1或N1) 1支3、基体 1块4、标准片 5片5、5V碱性电池 2节6、使用说明书 1本可选配1、其他型号探头 选配2、打印机 1台3、通讯电缆 1条4、软件光碟 1张探头参数探头F400F1F1/90F10N400N1测量原理磁性涡流测量范围(μm)0~4000~15000~12500~10mm0~4000~1500测量精度μm一点校准±(1~3%H+0.7)±(3%H+1)±(3%H+10)±(3%H+1)±(3%H+1.5)二点校准±(1~3%H+0.7)±(1~3%H+1)±(1~3%H+10)±(1~3%H+1)±(1~3%H+1.5)低限分辨率0.10.110.10.1最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53最小面积直径(mm)¢ 3¢ 7¢ 40¢ 4¢ 5基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3探头选择参考基体与覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m磁性金属如 铁、钢 等被测面积的直径大于30mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mm被测面积的直径小于30mmF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ m有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等被测面积的直径大于5mmN1 型测头 0~1500µ m仅用于铜上镀铬N1 型测头 0~40µ m非金属基体塑料、印刷线路被测面积的直径大于7mm--CN02 型测头10~200µ m
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覆层测测厚仪相关的资讯

  • 全自动涂层测厚仪|涂魔师非接触无损测厚仪FLEX新功能介绍网络研讨会
    涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器,采用先进的光热红外法(ATO)对涂层进行非接触测量,实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键,不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量,而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺,因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术,而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度,适合各种涂料类型和颜色(包括白色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势:①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单,方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量,降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连,数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能,帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料,邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。
  • 天瑞镀层测厚仪Thick 800A取得技术突破
    天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。  镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求,天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头,一直以满足市场客户需求为目标,致力于新技术的研究和新产品的更新换代。  在此之前,国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品,国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A,测试精度目标已达0.2mm以下。  在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下,公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作,我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析,摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术,并应用了几项本公司的发明专利,终于攻克技术难关,取得了突破性进展。据对比测试结果分析,国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm,我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm,天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。  为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求,本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段,目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产,最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱,和广大客户会面。
  • 我司再次中标马钢硅钢项目涂层测厚仪项目
    2013年12月2日,我司独家代理的日本Kurabo公司的硅钢涂层测厚仪采购招标中,RX400产品凭借独特的优势和市场业绩,再次中标。

覆层测测厚仪相关的方案

覆层测测厚仪相关的资料

覆层测测厚仪相关的论坛

  • 覆层测厚仪的分类和应用

    无损检测技术是一门理论上综合性较强,又非常重视实践环节的很有发展前途的学科。它涉及到材料的物理性质、产品设计、制造工艺、断裂力学以及有限元计算等诸多方面。 在化工、电子、电力、金属等行业中,为了实现对各类材料的保护或装饰作用,通常要采用喷涂、有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法,这样,便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念,我们称之为“覆层”。 覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测必备的最重要的工序。是产品达到优质标准的必备手段。目前,国内外已普遍按统一的国际标准测定涂镀层厚度,覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。 有关覆层无损检测方法,主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面,系有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。 X射线和β射线反射法可以无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围小。因有放射源,故,使用者必须遵守射线防护规范,一般多用于各层金属镀层的厚度测量。电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。 磁性测量法及涡流测量法,随着技术的日益进步,特别是近年来引入微处理机技术后,测厚仪向微型、智能型、多功能、高精度、实用化方面迈进了一大步。测量的分辨率已达0.1μm,精度可达到1%。又有适用范围广,量程宽、操作简便、价廉等特点。是工业和科研使用最广泛的仪器。 采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,故能使大量的检测工作经济地进行。以下分别介绍几种常规测厚的方法。磁性测量原理一、磁吸力原理测厚仪 利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度,这个距离就是覆层的厚度,所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形,所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢,拉簧,标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后,有一个弹簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大,当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲,依不同的型号又不同的量程与适应场合。在一个约350º角度内可用刻度表示0~100µm;0~1000µm;0~5mm等的覆层厚度,精度可达5%以上,能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准,价格也较低,很适合车间作现场质量控制。二、磁感应原理测厚仪 磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。由于是电子仪器,校准容易,可以实多种功能,扩大量程,提高精度,由于测试条件可降低许多,故比磁吸力式应用领域更广。 当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示,精度和重复性都不好,后来发展了数字显示式,电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关,稳频等最新技术,多种获专利的产品相继问世,精度有了很大的提高,达到1%,分辨率达到0.1µm,磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯,线圈电流的频率不高,以降低涡流效应的影响,测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化,可以辨识不同的测头,配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。一台仪器能配合多种测头,也可以用同一台仪器。可以说,适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。 利用电磁原理研制的测厚仪,原则上适用所有非导磁覆层测量,一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的,则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业,利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。三、电涡流原理测厚仪 电涡流测厚法主要应用于金属基体上各种非金属涂镀层的测量。利用高频交流电在作为探头的线圈中产生一个电磁场,将探头靠近导电的金属体时,就在金属材料中形成涡流,且随与金属体的距离减小而增大,该涡流会影响探头线圈的磁通,故此反馈作用量是表示探头与基体金属之间间距大小的一个量值,因为该测头用在非铁磁金属基体上测量覆层厚度,所以通常我们称该测头为非磁性测头。非磁性测头一般采用高频高导磁材料做线圈铁芯,常用铂镍合金及其它新材料制作。与磁性测量原理比较,他们的电原理基本一样,主要区别是测头不同,测试电流的频率大小不同,信号大小、标度关系不同。在最新的测厚仪中,通过不断改进测头结构,在配合微电脑技术,由自动识别不同测头来调用不同的控制程序,分别输出不同的测试电流和改变标度变换软件,终于使两种不同类型的的测头接与同一台测厚仪上,降低了用户负担,基于同一思想,可配接达10种侧头的测厚仪极大地扩展了测厚范围(达10万倍以上),可测包括导磁材料表面上的非导磁覆层,导电材料上的非导电覆层及不导电材料上的导电层,基本上满足了工业生产多数行业的需要。 采用电涡流原理的测厚仪,原则上所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其他铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。有些特种用途如某种金属上的金刚石镀层及其它喷镀不导电层。覆层材料也可以有一定的导电性,通过校准同样也可以测量,但要求两者的导电率之比至少相差3~5倍以上(如铜上镀铬)。 校准的原则是没有覆层的校准试样与被测物的基材应有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于仪器规定的最小值约0.5mm以下时),有相同的曲率半径,如被测面积小于仪器技术参数的要求(直径约20mm以下),还应有相同的被测面积。如覆层含有导电成份,校准试样的覆层也应与被测物的覆层有相同的导电性能。校准试样的覆层经过其它(包括有损测试方法)测试后标定厚度或用已标定的校准薄片做覆层,就可以在其上面按说明书的方法校准测厚仪。校准后就可以在被测产品上进行快速无损检测。校准薄片一般用三醋酸酯薄膜或经苯酚树脂浸渍过的硬纸。 微电脑测厚一般有多个校准值存贮。随着被测产品的不同位置、材料变化、更换测头等均可分别校准并存贮。实际使用时直接调用各校准值,就无须重新调校了。这即是所谓“速换基准”。大大提高了检测效率。 测试数据在智能化仪器里一般可以存贮、打印、计算统计数据供分析,还有可以打印直方图的功能使覆层厚度分布一目了然。如设置了上下极限还可以使统计数据更加准确,测量时所有超限的点都有声响提醒注意并不取入做统计计算用。影响测量值的因素与解决方法 使用测厚仪与使用其他仪器一样,既要掌握仪器性能,也需了解测试条件。使用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都是基于被测基体的电、磁特性及与探头的距离来测量覆层厚度的,所以,被测基体的电磁物理特性与物理尺寸都要影响磁通与电涡流的大小。即影响到测量值的可靠性,下面就这方面的问题作一下介绍。1. 边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距,由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度,只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准,才能测量。(注:最新的产品有透过覆层校准的独特功能可达3~10%的精度)2. 基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值,然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。或参照下条。3. 基体金属最小厚度基体金属必须有一个给定的最小厚度,使探头的电磁场能完全包容在基体金属中,最小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关,在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响,可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断,或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键,便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪,如前所述。4. 表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见,不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不可靠。为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予去除。有的仪表上下限,以剔除那些“飞点”。5. 探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不

  • 广东发布《超声波测厚仪》《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项地方标准

    《计量资讯速递》消息 日前,由广东省计量科学研究院牵头起草的《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准获批准发布,从2014年3月6日开始实施。《超声波测厚仪》和《磁性和电涡流覆层厚度测量仪》两项广东省地方标准的制订规范了磁性、电涡流式覆层厚度测量仪生产、检验过程,统一了我省超声波测厚仪及磁性和电涡流覆层厚度测量仪的型式评价和质量监督管理。  据了解,超声波测厚仪、磁性和电涡流覆层厚度测量仪是依法管理计量器具目录(型式批准部分)上的产品,此前尚没有关于磁性、电涡流式覆层厚度测量仪产品的检验规则以及产品的标志、包装、运输、贮存的国家及地方标准。来源:广东省计量协会

  • 涂层测厚仪如何分类

    对材料表面保护、装饰形成的覆盖层如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。  覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化我国出口商品和涉外项目中对覆层厚度有了明确的要求。  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测测量手段繁琐速度慢多适用于抽样检验。  X射线和β射线法是无接触无损测量但装置复杂昂贵测量范围较小。因有放射源使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。  随着技术的日益进步特别是近年来引入微机技术后采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米精度可达到1%有了大幅度的提高。它适用范围广量程宽、操作简便且价廉是工业和科研使用最广泛的测厚仪器[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]。  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材检测速度快能使大量的检测工作经济地进行。  一、磁吸力测量原理及测厚仪  永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪只要覆层与基材的导磁率之差足够大就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢接力簧标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后将测量簧在其后逐渐拉长拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。  这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源测量前无须校准价格也较低很适合车间做现场质量控制。  二、磁感应测量原理  采用磁感应原理时利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小来表示其覆层厚度。覆层越厚则磁阻越大磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头测量感应电动势的大小仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um允许误差达1%量程达10mm。  磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层瓷、搪瓷防护层塑料、橡胶覆层包括镍铬在内的各种有色金属电镀层以及化工石油待业的各种防腐涂层。  三、电涡流测量原理  高频交流信号在测头线圈中产生电磁场测头靠近导体时就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近则涡流愈大反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较主要区别是测头不同信号的频率不同信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um允许误差1%,量程10mm的高水平。  采用电涡流原理的测厚仪原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性通过校准同样也可测量但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

覆层测测厚仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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