双折射测试仪

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双折射测试仪相关的厂商

  • 北京飞凯曼科技有限公司为多家国内外高科技仪器厂家在中国地区代理商。飞凯曼科技公司一贯秉承『诚信』、『品质』、『服务』、『创新』的企业文化,为广大中国用户提供最先进的仪器、设备,最周到的技术、服务和完美的整体解决方案。在科技日新月异、国力飞速发展的中国,光电技术、材料科学、光电子科学与技术、半导体等等领域,都需要与欧美发达国家完全接轨的仪器设备平台来实现。飞凯曼科技公司有幸成长在这个科技创造未来的年代,我们愿意化为一座桥梁,见证中国科技水平的提升,与中国科技共同飞速成长。主要产品: 1.飞秒激光元件飞秒激光反射镜、飞秒激光透视镜、飞秒激光棱镜、飞秒偏振光学器件、飞秒非线性激光晶体2.非线性光学和激光晶体BBO晶体, LBO晶体, KTP晶体, KDP晶体, DKDP晶体, LiIO3晶体, LiNbO3晶体, MgO:LiNbO3晶体, AGS晶体 (AgGaS2晶体), AGSe晶体 (AgGaSe2晶体), ZGP (ZnGeP2) 晶体, GaSe晶体, CdSe晶体等。Nd:YAG晶体, Nd:YVO4晶体, Nd:KGW晶体, Nd:YLF晶体, Yb:KGW晶体, Yb:KYW晶体, Yb:YAG晶体, Ti:Sapphire晶体, Dy3+:PbGa2S4晶体等晶体恒温炉、晶体温控炉等3.普克尔斯盒及驱动KTP普克尔斯盒、DKDP普克尔斯盒、BBO普克尔斯盒、高重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、低重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、普克尔斯盒支架等4. Nd:YAG激光器元件Nd:YAG激光反射镜、Nd:YAG激光棱镜、Nd:YAG激光窗口、Nd:YAG激光偏振片、Nd:YAG激光晶体等5.激光器和激光器模块连续半导体激光器、连续DPSS激光器、调Q DPSS激光器、超快光纤激光器等6.光学元器件光学材料、光学镀膜、介质镜、金属镜、激光器窗口、棱镜、光学滤光片、光学柱面镜、偏振镜、紫外和红外光学元件7.光学整形系统高斯光转平顶光光束整形系统、扩束镜、F-Theta镜(聚焦镜)、望远镜、可调激光衰减器、可变光圈、精密空间滤光片、束流捕捉器8.光学精密位移机构防震桌、光学支架、光学导轨、固定座、光学固定、光学定位、传输和定位台、自动定位和控制器等9.半导体激光器高功率半导体激光器、波长稳定的半导体激光器、单频半导体激光器、光纤耦合半导体激光器、光纤激光器、波长可调谐单频激光器10.铒玻璃掺铒磷酸盐激光玻璃、铒玻璃、铒镱共掺激光玻璃、1550nm激光器、人眼安全激光器11. DPSSL激光谐振腔设计软件和数据库12. F-P扫描干涉仪13.应力测试仪日本UNIOPT公司应力双折射测量系统、光弹性模量测试系统、应力测试系统、磁光克尔效应(MOKE)测试仪、薄膜残余应力测试仪。应力双折射测试仪、应力测试仪、应力分析仪、偏振相机14.精密划片机日本APCO公司手动精密划片机、自动精密划片机。日本NDS公司半自动自动划片机、贴膜机、UV解胶机、清洗机、晶圆划片(切割)刀、电畴划片刀、陶瓷划片刀、金属烧结划片刀、树脂划片刀等15.材料表征仪器霍尔效应测试仪、变温霍尔效应测试仪、低温霍尔效应测试仪、塞贝克效应测试仪、低温探针台、变温探针台、椭偏仪联系电话:010-57034898,15313084898 邮箱地址:info@pcm-bj.com
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  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
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  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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双折射测试仪相关的仪器

  • PHL应力双折射测试仪 400-860-5168转3086
    PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介:PHL应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术领先世界,并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分:Photonic Lattice光子晶体光学元件;Photonic Lattice双折射和相位差评价系统;Photonic Lattice膜厚测试仪;Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100,WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表:型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE(摄像机信号) RS232C(电机控制)电压电流 AC100-240V(50/60Hz)软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头(10mm)双折射测量而设计配备自动选择圆形区域,相位差值传递失败判断功能,特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V(50/60Hz)软件 WPA-View
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  • WPA-100镜头双折射应力测试仪快速定量测量透明材料的应力双折射分布相位差、双折射和内部应力分布操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 小型镜头双折射分布測量系統WPA-100最适合用來检测手机镜头的双折射/相位差以雙折射/相位差結果為基準自動判定合格與否鏡片的雙折射現象,會造成鏡片的成像性能(MTF)下降。這是因為決定光線折射角度的折射率因入射偏光而呈現不穩定的狀態。智慧型手機所使用的鏡片需要高度解析度,因此減少雙折射現象,及掌控雙折射的數值,是製造智慧型手機鏡片時,不可缺少的動作。WPA-100-S正符合這樣的需求,並能以高速完成各項測量。 WPA-100小镜片双折射应力测试仪产品特点: 大的测试范围图表功能CSV格式输出快轴/慢轴可选择自动的合格与否判定 l 可升级至满足小于φ10mm的透镜的检测。l 自动选择图形区域和自动判定合格与否的功能。 WPA-100 小镜片双折射应力测试仪主要参数表:型号WPA-100-S测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288(≒11万)pixels测量波长523nm,543nm,575nm产品尺寸200x275x309.5mm观测到的面积11.6x15.8mm自身重量和电源重量9kg和4kg电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件WPA-View (for WPA-100-S)
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  • 双折射应力仪 400-860-5168转3086
    PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述: 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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双折射测试仪相关的资讯

  • 40年坚持,打通双折射双频激光器及干涉仪全技术链条
    双频激光干涉仪是先进制造业、半导体芯片制造等行业不可或缺的纳米精度的尺子,应用广泛。张书练教授团队(先清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室,后镭测科技有限公司),以解决双频激光干涉仪关键技术为线,经近40年坚韧攀登,研究完成了“可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双折射双频激光干涉仪”的全链条技术,并批产。该技术开国内可伐-玻璃组装式氦氖激光器之先,吹制工艺或成历史。开国内外应力激光腔镜产生双频激光之先,解大频差和高功率不可得兼之难,频率差可以在1~40 MHZ范围选择而功率大于1 mW。双折射双频激光干涉仪测量70 m长度误差小于5 μm,非线性误差小于1 nm,测量速度高于3 m。1 研究背景激光干涉仪是当今纳米时代的长度基准,也是先进制造业(机床、光刻机,航空、航天等)制造的精度保证。制造精度和生产效率越来越高,对激光干涉仪的测量精度和测量速度提出了更高的要求。激光干涉仪的“激光”是(HeNe)氦氖激光器,至今无可替代。传统HeNe双频激光干涉仪存两个难点,成为瓶颈:1)国内外,我们之前,双频激光器靠塞曼效应产生两个频率,频率之差小(在3 ~ 5 MHz之间),频差越大激光功率越小,不能满足光刻机等应用的更大频率差要求(如10、20、40 MHz),频率差大,测量速度高,效率高;2)不论是单频还是双频激光干涉仪,国产还是外购,各型号都有几纳米甚至十几纳米的非线性误差,一直没有找到解决办法。通常,在单频激光器的光增益路径上加磁场后(塞曼效应)就变成双频激光器。可是,相当长的期间,购买到的大部分单频激光器因为常出现跳模,用于单频激光干涉仪时淘汰率很高,此外,加上磁场后单频并不呈现双频,双频激光干涉仪难有好的光源。经近40年坚持,研究打通了单频氦氖激光器→双折射双频激光器→双频激光干涉仪的全技术链条,批产,获得了广泛应用和认可。2 双折射双频激光器及干涉仪的关键和全链条技术2.1 双折射双频激光器置晶体石英片(图1a中的Q双面增透)或有内应力的玻璃元件(图1b中的M2右表面镀反射膜)于激光器谐振腔内,这些元件的双折射使激光频率分裂,一个频率分裂成两个频率,两个频率的偏振方向互相垂直(正交偏振)。反复实验证明,激光器可输出频率差大于但不能小于40 MHz两个频率。如果频率差稍大于40 MHz,在改变(调谐)激光频率谐振腔长(即用压电陶瓷1纳米一步“距”的推动M2改变激光谐振腔长)过程中看到的是一个频率振荡会陡然变成两个频率振荡,而前者功率陡然下降一半,刚升起的频率则获得同样的功率。继续调谐腔长,最早振荡的频率会陡然消失,而后起振的频率功率升高到最大。如果频率差小于40 MHz,两频率则有你无我。图2示出了频率差20 MHz时o光和e光的光强度此长彼消得过程。理论和实验一致。图1 激光频率分裂原理图。(a)晶体石英片Q于激光谐振腔内,(b)激光输出镜为M2右表面,对M2加力使激光反射镜内产生应力图2 频差20 MHz时的强烈模竞争。激光强度随腔长调谐(改变)的实验曲线。理论和实验一致图3给出了两个频率的频率差多大时,在频率轴上两个频率的共存区的宽度,也即两个频率差大小对应的共存频域宽度。曲线最左侧可见,在约40 MHz时,共存宽度迅速下降趋于0 Hz,也即小于40 MHz时,两频率之一熄灭,频率差消失。图3 实验测得的两个频率共存的频域宽度和激光频率差的关系2.2 双折射-塞曼双频激光器塞曼双频激光器的频率差一般在5 MHz以下,功率随频率差增大而减小,7 MHz时的激光功率仅0.2 mW以下。作者团队研发的双折射双频激光器频率差大于40 MHz,研制成的双折射-塞曼双频激光器可以输出百KHz到几十MHz的频率差,而功率不因频率差增大而改变,可以达到1.5 mW。双折射-塞曼双频激光器包括两项关键技术,先由双折射造成激光器频率分裂,决定了激光器输出为两个偏振正交频率以及它们的间隔(频率差)的大小。再因激光器上加了横向磁场,横向塞曼效应使增益原子分成两群——π群和σ群。π群和σ群光子的偏振对应双折射互相垂直的主方向,也即正交偏振的光“各吃各粮”,它们之间的相互竞争不存在了,无论频率差大小都能振荡。频率差可以是3、5、7、10、20、40 MHz或更大。2.3 内雕应力双折射-塞曼双频激光器提出了“内雕应力”的概念和产生双频的原理,即用窄脉冲激光器对激光腔镜表面或基片内部造孔(或穴),造成激光腔镜内的应力精确改变(图4所示),“雕刻”提高了频率差的控制精度。“内雕应力”双折射双频激光器不仅用于国产双频激光干涉仪,也用于运行中的光刻机的激光器替换。同时,提供了科研单位的科学研究。该激光器替换正在服役的光刻机的原有激光器,使光刻机机台误差由24 nm下降到6 nm。图4 内雕应力双折射-塞曼双频激光器。M2内部雕刻出的孔造成激光器的双频,磁条PMF1和PMF2消除激光器强模竞争2.4 可伐-玻璃组装式(无吹制)双频激光器国内,研制生产HeNe激光器历史很长,但我国一直靠吹制工艺制造氦氖激光器,而且不能制造可伐-玻璃组装式氦氖激光器。北京镭测科技有限公司研制成可伐-玻璃组装式单频氦氖激光器,功率大于1 mW,满足单频和双频激光器的需求。同时,这一技术将使整个国产氦氖激光器告别吹制,进入一个新的技术高度(如图5所示)。图5 可伐-玻璃组装内雕应力双频激光器(镭测科技提供)2.5 研制成的双频激光干涉仪技术指标作者强调的是,我们有了可伐-玻璃组装式激光器和双折射(内应力)-塞曼双频激光器,双频激光干涉仪有了强力的“心脏”,有了自主可控的基础。团队又全面设计干涉仪的光、机、电、算。时至今日,可伐-玻璃组装式双折射(-塞曼)双频激光器(非吹制)和干涉仪已批量生产,正在满足科学研究和产业的需求。中国计量科学院对双折射-塞曼双频激光干涉仪的测试结果:频率稳定度为10-8,分辨力为1 nm,非线性误差小于1 nm(图6所示),12小时漂移35 nm(图7所示),70 m长度测量误差小于5 μm。这些数据来自中国计量科学院测试证书:CDjx 2014-2352, CDjx 2018-4810, CDjx 2020-04463等。图6 双频激光干涉仪非线性误差图7 双折射-塞曼双频激光干涉仪12小时零点漂移3 展望在实现“可伐-玻璃组装式激光器”→“内雕应力双折射-塞曼双频激光器”→“双折射-塞曼双频激光干涉仪”全链条技术基础上,进一步发展各种规格的可伐-玻璃组装式激光器,以开拓双折射-塞曼双频激光干涉仪的应用深度和应用范围。
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。 视野范围内可一次测量,测量范围广。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 PA系列双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 应力双折射测量仪

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  • 低双折射旋转光纤
    低双折射旋转光纤LB650 | LB1060 | LB1300 | LB1300RC | PME1300-10 Spun fiber:Rotating glass preform during fiber drawing process produces a waveguide with unique properties: all fiber non-uniformities are averaged along all possible directions, effectively cancelling out total fiber birefringence. With total (but not local) birefringence close to zero, we obtain a fiber that will hold circular polarization (even when bent or twisted). Unlike conventional PM fibers that can hold only linearly polarized light, or annealed fiber that requires special handling, this low-birefringence fiber preserves both linear and circular polarization and can relay it with minimum error over large distances. Highly-birefringent preforms with incorporated stress produce spun fibers that can withstand significant bending and twisting and hold polarization over large number of coils with reasonable accuracy (without costly annealing process). Polarization accuracy in this case depends on local (instant) birefringence that introduces a small constant error, independent of fiber length. Elliptical core fiber Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Elliptical core fiber:Our elliptical-core PME1300-10 fiber provides high polarization extinction and insensitivity to bending and twisting stress. Unlike conventional PM fibers, birefringence of the elliptical-core waveguide has low thermal dependence (10 times lower than Panda). Due to core geometry the splice losses to a conventional circular-core fiber (SMF, Panda or Bow-tie) are asymmetrical - 0.5 dB for circular-toelliptical coupling and 2.5 dB for elliptical-to-circular arrangement.Features:- High extinction ratio- Reduced coupling loss- Low temperature dependence Applications - Fiber-optic gyros- Optical current sensors - Fiber amplifiers需要咨询更多的服务请与我们的市场人员联系。
  • PR-32a折射仪 PR-32a折射仪 PR-32a折射仪
    PR-32a折射仪 日本ATAGO 产品详细介绍 高品质RX-5000数字式折射计系列之一,带有漏斗槽,可以灌入样品进行连续测量。也可对不同样品进行连续测量,不需每次清洗棱镜,提高测量效率。 产品功能描述 测量范围:   折射率(nD) 1.32700 to 1.58000 Brix 0.00 to 95.00% 最小标度:   折射率(nD) 0.00001 Brix 0.01% 测量精度:   折射率(nD) ± 0.00004 Brix ± 0.03% 温度校正 5~60℃ 输出接口 RS-232, CDP-62数字式打印机(另售) 损耗 40VA 电源需求 电压 AC100~240V, 50/60Hz 产品特征 长度 21cm 宽度 29cm 高度 34cm 重量 11.0kg(除漏斗槽) 产品持有证书   CE
  • 数字袖珍折射仪药品折射仪PAL-RI
    数字手持袖珍折射仪PAL-RI 数字手持袖珍折射仪PAL-RI是PAL系列中唯一可测量折射率的新款产品.适合在药品及化工制品等以折射率来管理产品质量的过程中使用. Model PAL-RI 型号 3850 测量范围 折射指数 1.3306 至1.5284 溶解值 折射指数0.0001 测量准确度 折射指数± 0.0003 (在20度摄氏使用水时) 环境温度 10 至40° C 测量温度 5 至45° C (溶解值1° C ) 样本量 0.3 ml 测量时间 3 秒 电源 2 × AAA 电池 国际保护等级 IP65 无尘且对喷射水柱具防护作用 尺寸重量 55(W) × 31(D)× 109(H)毫米, 100公克(不含零件的重量) 选件 &bull PAL保管箱: RE-39409&bull 携带连: RE-39410
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