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二次元测试仪

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二次元测试仪相关的资讯

  • 中国分析测试协会第六届二次理事会召开
    2008年12月19日,中国分析测试协会(以下简称“协会”)第六届二次理事会在北京铁道大厦隆重召开,来自全国各地近70位理事参加了本次会议。中国分析测试协会第六届二次理事会会议现场  协会秘书长张渝英女士主持了上午时段的会议,并首先向各位理事通报了会议整体情况及会议日程。协会秘书长张渝英女士主持会议 协会理事长张泽院士作工作报告  协会理事长张泽院士代表协会第六届理事会作了工作报告,报告内容分为两个主要部分:2008年工作总结、2009年工作思路与重点。张理事长在报告中谈到:2008年,是我国很不平凡的一年,在为国家重大需求做贡献方面,协会做了大量功不可没的工作——“5.12汶川大地震”发生后,协会及时成立抗震救灾专项行动工作组,为灾区提供技术措施及仪器设备应急服务、组织制定了生物多胺检测国家标准、奔赴灾区第一线提供技术支撑、组织动员各会员单位捐款捐物;积极为奥运做技术支持,相关会员单位承担了《奥运食品中违禁药物检测急需标准物质的研制》工作、承接奥运场馆质量监控监督任务、培训兴奋剂检测人员等;在确保民生食品安全方面也做了诸多工作,如应对“三鹿奶粉事件”,组织有关单位紧急攻关,制定出三聚氰胺快速检测方法并成为国标。  2008年,协会在科技部的领导下,在加强自身建设方面做了以下几方面的工作:  将协会办事机构由原先的五个调整为七个,增加了学术交流部及技术与标准部;  成立了“全国仪器分析测试标准化技术委员会”(以下简称“标准化技术委员会”),标准化技术委员会由国家标准化管理委员会(以下简称“国家标准委”)批准筹建,设有仪器、试剂、分析方法和数据规范四个工作组,协会副理事长张玉奎院士任主任委员,主要工作内容为:仪器分析测试及其控制、科研用试剂、检测与分析方法、实验室信息管理与数据系统等方面的标准化工作;  成立了“全国分析检测人员能力培训委员会”(以下简称“培训委员会”),由科技部条财司和国家认监委领导,设两个办公室:第一办公室设在中国分析测试协会,负责理化性能分析检测培训的组织,第二办公室设在国家认监委认证认可技术研究所,负责产品专用性能的检测培训的组织工作;  为加强分析测试学术交流,促进分析测试科学技术向纵深发展,规范活动形式,制订了“中国分析测试协会分支机构管理暂行办法”。  展望2009年,协会将重点进行如下工作:办好“BCEIA2009(第十三届北京分析测试学术报告会及展览会)”;开展分析方法和标准的整理、比对和推荐工作;加速建立分析检测人员培训管理办法;深入开展咨询和中介服务工作;完善协会运行机制;充分发挥理事会、会员单位作用,做好各项工作。  协会副理事长王顺昌先生简要介绍了“分支机构管理暂行办法”,该办法在本次会议中被审议通过。协会副理事长王顺昌先生介绍“分支机构管理暂行办法”  协会组织部姜国栋先生介绍了“2008年中国分析测试协会优秀青年工作者”的产生过程及入会单位的筛选条件。协会组织部姜国栋先生作工作说明  协会咨询部张经华先生作完“2008CAIA奖(中国分析测试协会科学技术奖)”评选说明后,协会副理事长丁辉先生宣读了获奖名单,中国科学院上海应用物理研究所、南京大学、北京师范大学化学学院等24家获奖单位代表上台领奖。协会咨询部张经华先生作“2008CAIA奖”评选说明协会副理事长丁辉先生宣读“2008CAIA奖”获奖名单“2008CAIA奖”三等奖获奖代表与协会领导合影“2008CAIA奖”二等奖获奖代表与协会领导合影“2008CAIA奖”一等奖获奖代表与协会领导合影  会议的讨论环节,各理事踊跃发言,纷纷为协会的工作建言献策。众多理事对标准化技术委员会、培训委员会的具体工作内容及“CAIA奖”的评选标准、评选办法尤为关注,并特别提到希望协会能够及时将会员单位的工作进展和成果反映给有关政府部门。理事长张泽院士对各理事的意见建议表示欢迎,并提到今后“CAIA奖”评奖过程将更加公开透明,争取让更多分析测试相关单位参与进来,并充分考虑分析测试技术本身的进展,同时声明将改善协会办事机构与各理事单位的联系沟通渠道。  下午的会议由理事长张泽院士主持,会议先行通过理事名单调整决定及9家企事业单位的入会申请。外资在华企业首次批准成为协会会员。中国分析测试协会第六届二次理事会会议现场  鉴于大家对标准化工作十分关注,常务理事、国家标准委副主任方向先生特向理事们介绍了与分析测试相关的标准化工作进展。方向先生提到:我国刚成为ISO常任理事国,标准化工作得到前所未有的重视,近期标准化工作的三件大事是——出台技术标准发展战略、完善标准体系、完善《标准化法》;标准化技术委员会定位在建立仪器分析测试方法,而这将是国家标准委的支持重点;分析测试仪器相关标准严重缺失,相关标准的建立不仅是基础工作,还能很好的规范市场。协会常务理事、国家标准化管理委员会副主任方向先生发言  协会技术与标准部李红梅女士则向大家介绍了标准化技术委员会的筹办进展、基本工作方式、基本模式及与各理事单位的关系。李红梅女士呼吁:标准的制定需要很多技术功底扎实的专家来支持,需要充分依赖中国分析测试协会,结合协会会员和理事单位的优势力量进行,希望各会员单位多参与和关注技术委员会的工作。协会技术与标准部李红梅女士发言  最后,协会会展部马锡冠先生向大家通报了“BCEIA2009”相关情况。“BCEIA2009”准备工作正紧张有序地进行,相对往届BCEIA而言,“BCEIA2009”有两个重大变化:一是举办地点改在国家会议中心,硬件条件大为改善,可同期同地举办多场会议;二是将提高学术报告的整体水平。目前,展位预订率已超过90%。协会会展部马锡冠先生通报“BCEIA2009”相关情况    附录:  中国分析测试协会成立于1986年,是国家民政部批准登记的专业性社会团体,业务主管单位是中华人民共和国科学技术部。协会主要开展:承担分析测试方面的技术咨询和服务、举办“北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA)”、主办和出版分析测试科技期刊、设立“中国分析测试协会科学技术奖(‘CAIA奖’)”和技术开发基金、接受政府有关部门委托任务等方面的工作。  相关链接:  中国分析测试协会  BCEIA2009  “2008中国分析测试协会科学技术奖(‘CAIA奖’)”获奖名单   关于征集全国仪器分析测试标准化技术委员会委员的函
  • 中国分析测试协会七届二次会议在北京召开
    仪器信息网讯 2012年12月4日,中国分析测试协会(以下简称“协会”)第七届理事会第二次全体会议在北京中苑宾馆召开,来自全国各地的理事约100人出席了本次会议。中国分析测试协会第七届理事会第二次全体会议现场  会议流程包括:协会理事会换届选举工作、新一届理事会领导成员以及办事机构等情况介绍 2012年协会工作总结,2013年工作重点展望 2012年申请入会单位审议 2012年协会科学技术奖(CAIA奖)颁奖 协会新网站发布。会议由副理事长兼秘书长张渝英主持。中国分析测试协会副理事长兼秘书长张渝英主持会议  首先,协会主管部门科技部人事司处长杨素荣介绍了科技部主管的社团情况及社团近期的重点工作。科技部人事司处长杨素荣中国分析测试协会理事长张泽  随后,协会理事长张泽作2012年工作报告,报告内容包括2012年完成的主要工作、2013年工作重点。  2012年完成的主要工作:  (1)积极筹备第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA 2013)。BCEIA 2013定于2013年10月23日至26日在北京展览馆举办,已有90%以上展台被预定。同期举办学术报告会,主题确定为“分析科学创造未来”,大会主席为中科院院士江桂斌,副主席为张泽和张玉奎,学术报告会分为大会报告、分会报告会、专题报告会、应用技术报告会等。  (2)分析测试标准化工作取得较大进展。6项标准获国标委批准立项,是历年来标准立项最多一次 2项国标送审稿通过审查 《高纯试剂试验方法通则》报批稿获得“2012年全国化学标准化技术委员会化学试剂标准化成果”一等奖。  (3)举办和参加各种会议,促进学术和工作交流。  (4)采取多种方式,做好咨询服务。完成2012年“CAIA奖”评审工作,本年度“CAIA奖”共评出25项奖项,其中,一等奖6项、二等奖7项、三等奖8项 组织开展仪器评议工作 为企业创新产品进行技术鉴定 开展国产科学仪器应用于示范实验室工作等。  (5)开展全国分析测试技术人员技术能力的培训考核工作。发布技术考核大纲3项,出版技术培训教材4本,累计完成1239人次的辅导考核与发证工作,共涉及21项技术和32向标准。  (6) 以网络建设为依托,推动各项工作。  (7)积极申请和承担国家项目,提高服务水平和能力。完成2009年国家质检总局公益性项目《重点分析仪器性能测试技术标准研制》验收结题 与钢铁研究总院合作完成科技条件工作项目《科学仪器设备创新能力调研》 完成2013年国家质检总局公益项目《重点分析仪器性能测试技术标准研制(Ⅱ)》申报工作 配合北京理化测试中心进行申报北京是财政项目《国产科学仪器应用培训体系建设与示范》,协会承担其中《国产仪器与分析测试行业发展需求分析》任务。  (8)为实施重大科学仪器开发专项提供参考依据。为支撑“国家重大科学仪器设备开发专项”顺利实施,为有关决策提供可靠依据,科技部下达了由中国分析测试协会和钢铁研究总院共同承担的《科学仪器设备创新能力调研》项目,“凝练国家重点支持的科学仪器设备目录”是该项目的重要课题。  展望2013年,协会将重点进行如下工作:努力办好BCEIA 2013 进一步推进全国仪器分析测试标准化技术委员会工作,联合会员单位开展技术交流和标准宣贯工作 根据国家科技创新、社会公共安全等方面对分析测试的需求,举办形式多样的交流会,促进会员单位的合作与发展 组织符合条件的会员单位加入全国分析测试人员培训考核工作,扩大培训力量和覆盖面等。中国工程院院士、中国检验检疫科学研究院庞国芳  会议期间还邀请了中国工程院院士、中国检验检疫科学研究院庞国芳做题为《追踪近20年SCI论文见证世界农药残留检测技术进步》的报告。报告中,庞国芳通过对15个SCI杂志、近20年(1991~2010) 的3505篇食用农产品中农药残留检测技术论文进行统计,对比分析了各国论文总量、样品制备技术、检测技术、质谱检测技术、SCI论文影响力等发展情况。  接着,协会组织部尹碧桃向参会理事介绍了2012年申请入会单位的情况。协会咨询部张经华介绍了CAIA奖的历史及2012年评选情况。副理事长丁辉宣读了2012年“CAIA奖”获奖名单,协会负责人张泽、张玉奎、张渝英、吴波尔、庄乾坤、李红梅为获奖者颁奖。中国分析测试协会副理事长丁辉中国分析测试协会咨询部张经华中国分析测试协会组织部尹碧桃2012年“CAIA奖”颁奖中国分析测试协会新网站启动仪式与会代表合影留念  2012年“中国分析测试协会科学技术奖(CAIA奖)”获奖名单
  • 中国分析测试协会召开第二次抗震救灾会议
    2008年5月23日中国分析测试协会组织“中国分析测试协会抗震救灾专项行动工作组”,召开了第二次抗震救灾专题会议。会议由秘书长张渝英研究员主持,有关方面专家、企业负责人共20多人参加了会议。会议现场  张渝英同志首先传达了科技部领导对协会紧急组织抗震救灾工作的指示精神:协会的行动方案反映了灾区的迫切需要,将纳入科技部的统一救灾方案实施。科技部领导的肯定,坚定了大家积极投入紧急行动支援灾区的信心。  同时,会上检查了21日会议部署的工作,并进一步明确了目标和要求 根据22日灾区新提出的生物腐败引起的水源污染问题,紧急启动生物多胺、致病源菌、粪大肠杆菌的快速检测方法研究工作。  水源检测及应对处理方案等资料编制组,已收集到12家生产检测水源仪器厂家的相关信息,并得到他们全力支援抗震救灾的承诺 整理出水源净化技术实用手册,尽量做到简明易懂,操作性强。同时,选出100多家有水质检测认证的质检单位的信息,他们大都在四川、重庆、陕西、甘肃以及北京、上海等城市。目前正落实单位和人员的有关信息。会议要求下周一该组将上述资料完善、整理成册,随时准备送往灾区。  生物多胺、致病源菌、粪大肠杆菌的检测关系到灾区几百万同胞的生命安全,会议指定国家生物医学分析中心、北京理化分析测试中心和牛牛基因公司联合,紧急启动生物多胺、致病源菌、粪大肠杆菌的快速检测技术方法攻关工作,争取尽快把有关解决方案发送灾区。(今天发稿时已获信息,有关解决方案已于24日发送灾区有关单位。)与会者在会议上讨论并作记录  参加会议的全体同志,以及相关单位的科技人员,怀着与灾区人民共患难的心情,以高度的责任感,争分夺秒,不分昼夜地投入战斗,为抗震救灾做着自己的贡献。  中国分析测试协会  2008.5.26.
  • 德祥圆满参展“2010广州分析测试仪器展(CECIA)”
    德祥圆满参展&ldquo 2010广州分析测试仪器展(CECIA)&rdquo 2010广州分析测试仪器展(CECIA)于5月24-26日在广州锦汉展览中心举办,德祥携手众多国际知名仪器品牌隆重参展。 5月24日,德祥中国区总经理朱智华做客高端访谈栏目,接受了CCTV.com招商与易展网联合举办的高端访谈栏目的专访。(新闻链接:易展对话:德祥中国区总经理朱智华 http://www.18show.cn/news/d389730.html)德祥展位人流络绎不绝德祥中国区总经理朱智华做客高端访谈栏目德祥产品专家为用户提供现场支持 德祥众多参展仪器德祥将日益完善其在食品,制药,石化,环保等各个领域的解决方案,一如既往为新老用户提供*的产品与服务,随时静候您的垂询。更多后续报道或产品详情,敬请登陆www.tegent.com.cn客服热线:4008 822 822
  • 环保部印发《第二次全国污染源普查试点工作方案》
    p  为贯彻落实《国务院关于开展第二次全国污染源普查的通知》(国发〔2016〕59号)精神,做好第二次全国污染源普查试点工作,按照《第二次全国污染源普查方案》(国办发〔2017〕82号)开展普查试点的要求,环保部近日印发了《第二次全国污染源普查试点工作方案》。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201802/noimg/74de04de-633d-45b5-bd38-9e44b056c821.jpg" title="污染源普查.png"//pp  全文如下:/pp style="text-align: center "  第二次全国污染源普查试点工作方案/pp  为贯彻落实《国务院关于开展第二次全国污染源普查的通知》(国发〔2016〕59号)精神,指导第二次全国污染源普查试点工作,按照《国务院办公厅关于印发第二次全国污染源普查方案的通知》(国办发〔2017〕82号)关于开展普查试点的要求,制订本方案。/pp  一、试点目标/pp  验证并完善第二次全国污染源普查各类技术规定、报表制度与数据处理系统(含软硬件环境)等,为普查工作的全面实施提供基本保障。/pp  二、试点范围/pp  按照地方自愿原则,综合考虑污染源分布特征、地区代表性等因素,确定试点地区如下:/pp  (一)选取河北省武安市、山西省晋城市、内蒙古自治区呼和浩特市土默特左旗、辽宁省沈阳市浑南新区、黑龙江省齐齐哈尔市、江西省赣州市崇义县、山东省菏泽市巨野县、河南省荥阳市、湖南省衡阳市、重庆市北碚区、云南省昆明市、陕西省铜川市、甘肃省金昌市永昌县和新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市,全面开展试点工作。/pp  (二)选取山西省长治市襄垣县重点进行工业污染源、农业污染源、生活污染源普查试点 江苏省宜兴市重点进行工业污染源、生活污染源、集中式污染治理设施普查试点 四川省乐山市五通桥区重点进行工业污染源普查试点。/pp  三、主要内容/pp  (一)普查组织实施/pp  验证普查员和普查指导员选聘、宣传与培训、入户登记调查组织和第三方选聘等重点工作组织实施流程的可操作性。/pp  (二)普查技术方案/pp  验证并修改完善各类普查技术规定、报表制度、质量控制相关技术文件。/pp  (三)数据处理系统/pp  测试联网直报对网络带宽、软硬件支持工具的需求,测试软硬件的稳定性并提出优化建议。/pp  (四)重点研究的问题/pp  1.普查分区管理、地理空间公共基底数据用于污染源空间定位的可行性。/pp  2.各类普查技术规定与报表制度的可行性。/pp  3.数据处理流程、清查和普查数据采集软件工作可行性,验证软件系统完整性和功能便捷性。/pp  4.验证普查员入户调查操作规程,探索第三方机构参与普查管理机制。/pp  5.验证污染源普查质量控制、质量核查相关工作技术文件可行性。/pp  四、工作安排/pp  试点工作分为试点准备阶段、全面试点阶段和总结验收阶段。各阶段任务和安排如下:/pp  (一)试点工作准备/pp  各试点地区尽快根据本方案组织制订本地区第二次全国污染源普查试点工作实施方案,落实人员、经费、设备等试点工作保障条件。2018年3月底前完成普查员、普查指导员选聘等工作。/pp  (二)全面试点阶段/pp  2018年4月底前,各试点地区完成普查清查、核定污染源普查基本单位名录。/pp  2018年6月底前,完成试点地区入户调查、数据审核汇总工作。/pp  各试点地区省级普查机构要组织开展对试点清查和全面入户调查工作的技术指导和质量核查,国家普查机构对试点工作开展情况和数据质量开展抽样核查与评估。/pp  (三)总结验收阶段/pp  2018年7月底前,各试点地区完成试点工作总结,国家普查机构完成试点工作验收。/pp  五、组织实施/pp  国家普查机构统一组织第二次全国污染源普查试点工作。各省(区、市)污染源普查机构应加强对污染源普查试点工作的指导和监督。建立试点工作月报制度。各试点地区在每月底前将试点工作进展情况报国家普查机构。/pp  各试点地区应按照试点工作要求,认真做好普查的宣传动员和组织实施工作,对于试点工作中遇到的困难和问题,及时采取措施并反馈国家普查机构,确保试点各项工作顺利开展。/pp  各级污染源普查机构和普查工作人员要高度重视,认真组织,高质量完成试点工作。/p
  • 复旦大学430.00万元采购二次离子质谱
    详细信息 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 上海市-杨浦区 状态:公告 更新时间: 2023-12-11 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 2023年12月11日 17:58 公告信息: 采购项目名称 复旦大学二次离子质谱仪设备 品目 货物/设备/仪器仪表/教学仪器 采购单位 复旦大学 行政区域 上海市 公告时间 2023年12月11日 17:58 获取招标文件时间 2023年12月12日至2023年12月19日每日上午:8:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:00(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 开标时间 2024年01月03日 09:30 开标地点 1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。 2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 预算金额 ¥430.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 邢楠、黄梦如、陈豪 项目联系电话 021-52555810 采购单位 复旦大学 采购单位地址 中国上海邯郸路220号 采购单位联系方式 何老师 ,021-65645530 代理机构名称 上海中世建设咨询有限公司 代理机构地址 中国上海市曹杨路528弄35号 代理机构联系方式 邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 附件: 附件1 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(2)-招标采购详情--____(第二次).pdf 项目概况 复旦大学二次离子质谱仪设备 招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)获取招标文件,并于2024年01月03日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:1069-234Z20234470(HW2023111401) 项目名称:复旦大学二次离子质谱仪设备 预算金额:430.000000 万元(人民币) 最高限价(如有):421.000000 万元(人民币) 采购需求: 包件号 名称 数量 简要技术规格 备注 1 二次离子质谱仪设备 1套 应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征,支持原位实时动态分析。 预算金额:人民币430万元 最高限价:人民币421万元 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: / 3.本项目的特定资格要求:1) 投标人应为符合《中华人民共和国招标投标法》规定的独立法人或其他组织;2) 投标人应为投标产品的制造商或其合法代理商,代理商投标应提供投标产品的制造商针对本项目的正式授权;3) 投标人须在投标截止期之前在国家商务部认可的机电产品招标投标电子交易平台(以下简称机电产品交易平台,网址为:http://www.chinabidding.com)上完成有效注册;4) 本项目不允许联合体投标;5) 本项目不接受分包和转包。 三、获取招标文件 时间:2023年12月12日 至 2023年12月19日,每天上午8:00至12:00,下午12:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 方式:通过复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)点击“校外用户登录”在线获取招标文件,逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料:有效授权委托书及被授权人身份证。 售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 开标时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 地点:1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1)投标人在投标前应在____(https://____)或机电产品招标投标电子交易平台(https://www.chinabidding.com)完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 2)本项目采用电子化采购线上方式进行。系统登录方法:进入https://czzx.fudan.edu.cn网站,点击校外用户登录。 3)投标文件需使用到CA加密和解密,操作步骤需严格按照复旦大学采购与招标管理系统的要求进行。 4)有兴趣的潜在投标人可从招标人得到进一步的信息和查阅招标文件。 复旦大学采购与招标管理系统使用技术咨询:400-808-5975转2 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:复旦大学 地址:中国上海邯郸路220号 联系方式:何老师 ,021-65645530 2.采购代理机构信息 名 称:上海中世建设咨询有限公司 地 址:中国上海市曹杨路528弄35号 联系方式:邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 3.项目联系方式 项目联系人:邢楠、黄梦如、陈豪 电 话: 021-52555810 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容:二次离子质谱 开标时间:2024-01-03 09:30 预算金额:430.00万元 采购单位:复旦大学 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:上海中世建设咨询有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 上海市-杨浦区 状态:公告 更新时间: 2023-12-11 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 2023年12月11日 17:58 公告信息: 采购项目名称 复旦大学二次离子质谱仪设备 品目 货物/设备/仪器仪表/教学仪器 采购单位 复旦大学 行政区域 上海市 公告时间 2023年12月11日 17:58 获取招标文件时间 2023年12月12日至2023年12月19日每日上午:8:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:00(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 开标时间 2024年01月03日 09:30 开标地点 1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。 2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 预算金额 ¥430.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 邢楠、黄梦如、陈豪 项目联系电话 021-52555810 采购单位 复旦大学 采购单位地址 中国上海邯郸路220号 采购单位联系方式 何老师 ,021-65645530 代理机构名称 上海中世建设咨询有限公司 代理机构地址 中国上海市曹杨路528弄35号 代理机构联系方式 邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 附件: 附件1 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(2)-招标采购详情--____(第二次).pdf 项目概况 复旦大学二次离子质谱仪设备 招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)获取招标文件,并于2024年01月03日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:1069-234Z20234470(HW2023111401) 项目名称:复旦大学二次离子质谱仪设备 预算金额:430.000000 万元(人民币) 最高限价(如有):421.000000 万元(人民币) 采购需求: 包件号 名称 数量 简要技术规格 备注 1 二次离子质谱仪设备 1套 应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征,支持原位实时动态分析。 预算金额:人民币430万元 最高限价:人民币421万元 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: / 3.本项目的特定资格要求:1) 投标人应为符合《中华人民共和国招标投标法》规定的独立法人或其他组织;2) 投标人应为投标产品的制造商或其合法代理商,代理商投标应提供投标产品的制造商针对本项目的正式授权;3) 投标人须在投标截止期之前在国家商务部认可的机电产品招标投标电子交易平台(以下简称机电产品交易平台,网址为:http://www.chinabidding.com)上完成有效注册;4) 本项目不允许联合体投标;5) 本项目不接受分包和转包。 三、获取招标文件 时间:2023年12月12日 至 2023年12月19日,每天上午8:00至12:00,下午12:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 方式:通过复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)点击“校外用户登录”在线获取招标文件,逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料:有效授权委托书及被授权人身份证。 售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 开标时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 地点:1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1)投标人在投标前应在____(https://____)或机电产品招标投标电子交易平台(https://www.chinabidding.com)完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 2)本项目采用电子化采购线上方式进行。系统登录方法:进入https://czzx.fudan.edu.cn网站,点击校外用户登录。 3)投标文件需使用到CA加密和解密,操作步骤需严格按照复旦大学采购与招标管理系统的要求进行。 4)有兴趣的潜在投标人可从招标人得到进一步的信息和查阅招标文件。 复旦大学采购与招标管理系统使用技术咨询:400-808-5975转2 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:复旦大学 地址:中国上海邯郸路220号 联系方式:何老师 ,021-65645530 2.采购代理机构信息 名 称:上海中世建设咨询有限公司 地 址:中国上海市曹杨路528弄35号 联系方式:邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 3.项目联系方式 项目联系人:邢楠、黄梦如、陈豪 电 话: 021-52555810
  • 6G技术研究开启 通信测试仪器仪表成其中关键一环
    据韩媒11月15日报道,近日,韩国三星电子在美国进行第六代移动通信(6G)试验。三星电子计划通过试验确认是否可以用6G智能手机与基站进行中远程通信。2020年7月,三星电子曾发布6G白皮书,力争比竞争对手更快开发出被认为是新一代移动通信技术的6G技术,并抢占先机。为此,三星研究中心(Samsung Research)新设新一代通信研究中心,探索6G技术。无独有偶,11月16日,工信部发布《“十四五”信息通信行业发展规划》(以下简称《规划》),其中将开展6G基础理论及关键技术研发列为移动通信核心技术演进和产业推进工程,提出要构建6G愿景、典型应用场景和关键能力指标体系,鼓励企业深入开展6G潜在技术研究,形成一批 6G核心研究成果。在6GANA(6G Alliance of Network AI)第二次会议上,中国工程院院士邬贺铨指出,每当新一代移动通信开始商用时,更新一代移动通信的研究就开始启动,它需要十年时间经过需求提出、标准提出、技术准备、试验才能走到商用,因此现在启动6G研究正当时。0.1~1Gbps、1百万/Km2连接数密度、数十Tbps/Km2流量密度、毫秒级端到端时延、500+Km/h移动性是对5G提出的性能指标需求。有专家观点称,上述特征依然是6G需要关注的指标,但6G的需求绝不仅限于此。在5G产业高速发展的今天,测试能力始终是产品研发能力提升的关键一环。我国于2019年正式发放5G商用牌照,目前5G技术正处于逐步转向大规模应用的阶段,在此过程中,通信设备厂商、天线厂商以及模块厂商等都需要加大对测试设备的采购,以确保其生产的产品符合新一代移动通信技术的要求规范。开展6G技术研究也不例外。在6G技术研究过程中,无论是标准制定,或是在研发生产,还是在规模制造,都高度依赖通信测试仪器仪表的及时就位,特别是在标准制定落地环节,通信测试仪器仪表更是起到了决定性的作用。其中,信号发生器可以测量所需的信号;电压测量仪可以用来测量电信号的电压、电流、电平等参量;频率、时间测量仪器可以测量电信号的频率、时间间隔和相位等参量;信号分析仪器可以观测、分析和记录各种电信号的变化;电子元器件测试仪器可以测量各种电子元器件的电参数;电波特性测试仪器可以测量电波传播、干扰强度等参量;网络特性测试仪器可以测量电气网络的频率特性、阻抗特性、功率特性等。通信测试仪器仪表是通信测试产业链中重要的一环,渗透于产业链各个环节。上游主要是各类金属材料、电子元器件、集成电路、显示单元及机电零部件配件;中游主要包括各类测试仪表制造;下游为应用行业,具体包括电信运营商、终端厂商、科研院所、卫星通讯等。在一个成熟的通信产业环境中,通信测试的作用往往不会体现得很明显,作为幕后英雄默默支撑产业发展,但是,当通信产业发展升级时,通信测试将起到不可或缺的作用。2015年我国通信测试仪表市场规模为93.46亿元,2020年我国通信测试仪表市场规模增长至179.34亿元,2015年以来我国通信测试仪表规模复合增速为13.92%。在6G网络中,频谱接入的趋势是以低频段为基础,高频段按需开启,实现低频段、毫米波、太赫兹和可见光多频段共存与融合组网,在覆盖、速率、安全等方面满足不同的用户需求。随着6G技术研究的开启,借助先进的测试测量仪器、屏蔽箱和测试软件,下游厂商设计人员能够探索新的信号、场景和拓扑结构,进一步验证设备与方案的商用能力,因此通信测试变得更为重要,在这之中通信测试仪器仪表将成为其中关键一环,必不可少。未来,运营商、设备商、芯片商以及终端解决方案商都将迎来对通信测试仪器仪表的大规模需求。
  • 磁电阻特性测试仪
    成果名称磁电阻特性测试仪(EL MR系列)单位名称北京科大分析检验中心有限公司联系人王立锦联系邮箱13260325821@163.com成果成熟度□研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产合作方式□技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介:本仪器专门为材料磁电阻特性测试而设计的,采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,极大地方便了用户的使用。MR-150型采用电磁铁产生强磁场,高精度名牌仪表采集数据,精度高稳定性好适合科研中各类样品的磁电阻特性测试。MR-4型采用亥姆霍兹线圈产生磁场,无剩磁。采用高精度名牌仪表采集数据,精度高稳定性好适合科研中AMR、GMR、TMR各类样品的磁电阻特性测试。MR-2型采用集成化主机和多通道USB接口数据采集卡采集数据,稳定性好适合科研教学中性能较好的磁电阻样品测试。MR-1型采用手动调节磁场和人工读数,适合与大中专院校本科生研究生的专业实验中使用。主要技术参数:一、系统控制主机:内含可1路可调恒流源(0.3mA~50mA)、2路4 1/2数字电压表和1块USB接口24bit数据采集卡;功耗50W。二、自动扫描电源:0~± 5A,扫描周期8~80s。三、亥姆霍兹线圈:0~± 160Gs。四、测量专用检波与放大电路技术参数:输入信号动态范围为± 30 dB;输出电平灵敏度为30mV / dB;,输出电流为8mA;转换速率为25 V /&mu s;相位测量范围为0~180° ;相位输出时转换速率为30MHz;响应时间为40 ns~500 ns;测量夹头间隔10mm。五、计算机为PC兼容机,Windows XP或Windows 7操作系统。 六、数据采集软件在Windows XP和Windows 7操作系统均兼容。应用前景:本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。目前该仪器已经应用在北京科技大学材料学院及哈尔滨工业大学深圳研究生院的研究生实验教学及课题组科研测量中,取得良好的成效。知识产权及项目获奖情况:本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术,曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。
  • 重大仪器专项“齿轮传动形性测试仪”启动
    2月22日国家重大科学仪器设备开发专项项目《齿轮传动形性测试仪的开发和应用》正式启动。参加启动会的单位有贵阳新天光电科技有限公司、北京工业大学、贵州华工工具注塑有限公司、北京北齿有限公司及相关技术、财务、管理等领域的专家和用户代表。  启动会上,贵阳新天光电科技有限公司董事长、项目负责人卢继敏介绍了贵阳新天光电的发展沿革和发展规划,以及本项目在企业发展中的作用,提出了实施本项目的措施要求并宣布成立项目总体组 项目专家组 用户委员会及技术、管理、财务专家组成的项目监理组。  中国工程院叶声华院士、合肥工业大学费业泰教授对项目将性能测量引入,扩大测量领域的创新点及四个产学研用单位的研发基础和项目技术基础给予充分肯定,并希望项目争取提前完成,早日拿出具有自主知识产权、具有特色的仪器产品替代进口。  中国科学院光电研究院周维虎研究员、北京理工大学赵维谦教授分别介绍了组织实施管理国家重大仪器开发专项的经验和实施中的注意事项,特别是应用开发中产生新的应用方案要集成到项目中去,要考虑通用性和软件升级及二次开发,多听取用户使用意见改进完善最后标准化 并对项目管理中监理、管理体系、资金投入提出了要求。  杰牌控股集团有限公司董事长陈德木、江苏上齿集团有限公司董事长张焰庆、杭州前进齿轮箱集团副总经理刘伟辉、杭州依维柯汽车变速器有限公司总经理冯建荣、上海振华重工集团齿轮研究所所长钟明等专家结合企业的实际,从行业需求的角度对开展齿轮传动形性测量的必要性、紧迫性进行了介绍并建议在设计开发和制造仪器中要重视原材料、基础部件的选用,重视工艺流程的试验评审和确定,保证质量稳定性有助于市场竞争力,成为&ldquo 专、精、特&rdquo 系列产品。  与会专家对项目实施方案、项目实施基础、项目产品前景等给予了充分肯定,并对项目的开展给予了指导咨询。
  • 如何拓展二次离子质谱在生命科学研究中的应用——访中科院化学所汪福意研究员
    在2012年以前,汪福意研究员一直带领团队通过有机质谱,如电喷雾电离质谱(ESI-MS)、基质辅助激光解析电离质谱(MALDI-MS)等进行药物相互作用组学研究、抗肿瘤药物的研究和开发等工作。一次与生物学家偶然的讨论给汪福意带来了启发,他萌生了使用高空间分辨率的二次离子质谱成像进行化学生物学和分子生物学研究的念头。中科院化学所领导对于他的想法非常赞成,在中国科学院和国家自然科学基金委的大力支持下,该团队在2012年购置了一台飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)仪,从此汪福意研究员和他的团队开始了生命科学领域SIMS成像新技术和新方法的研究工作。  SIMS与其它质谱相比有什么特点?SIMS在哪些领域的应用中具有显著优势?汪福意团队用SIMS这个“庞然大物”在生命科学领域进行了哪些研究?国际上的SIMS相关领域有哪些前沿的创新?日前,仪器信息网编辑围绕二次离子质谱的应用,在中国科学院化学研究所采访了汪福意研究员。汪福意研究员离子源的发展把SIMS带到了生命科学门口  二次离子质谱(Secondary ion mass spectroscopy,SIMS) 的原理是利用聚焦的一次离子束轰击样品表面,使样品中的化学物质溅射产生二次离子,通过质量分析器后进入检测器记录离子的荷/质比,获得样品表面化学成分的结构信息。配合对样品表面的扫描和溅射剥离,还可获得样品的二维/三维化学成像。SIMS能检测元素周期表中所有元素及其同位素,质量分辨率较高(对29Si的质量分辨率大于11000),检测限达到ppm到ppb级。SIMS成像的横向分辨率小于100 纳米 基于溅射源的性能,纵向分辨率可达1 纳米。  根据一次离子束运行方式和质量分析器的不同,SIMS又分为NanoSIMS和ToF-SIMS。NanoSIMS的质量分析器为单聚焦或双聚焦磁质量分析器,其一次离子束为单原子或双原子离子,如Cs+和O2+。聚焦的离子束以连续方式轰击样品表面,溅射产生低质量数的离子碎片。基于这些特点,NanoSIMS多用在天体化学、天体年代学、地质沉积学、地矿探测和材料科学,特别是半导体材料研究等领域。顾名思义,ToF-SIMS的质量分析器为飞行时间质量分析器,其一次离子束以脉冲方式轰击样品表面,电离能量较为温和,与NanoSIMS相比,产生的碎片离子具有较高的质量数。ToF-SIMS的一次离子束经历了长达半个世纪的发展,从早期的Ga+、Aun+ (n = 1 – 5), 到后来更易于聚焦的Bin+ (n = 1, 3), 再到现在的C60+、Arn+ (n 高达4000)等团簇离子。团簇离子源的诞生,使ToF-SIMS 离子化产生的离子的质荷比更高,甚至可获得大分子量物质的准分子离子。因而SIMS数据包含的结构信息更为丰富,这对复杂生物体系的研究具有非常重要意义。可以说,正是离子源的发展将SIMS带到了生命科学研究的门口。  由日本京都大学教授Jiro Matsuo (松尾次郎)发明的氩气团簇离子源是SIMS技术领域一个里程碑式的事件。氩离子团簇包含上千个氩原子,其离子半径可以通过增加或减少亚原子数目进行调控,最多可达4000个氩原子。氩团簇离子源既可作为溅射源用于生物样品如细胞和生物组织的溅射剥离,也可作为分析源进行生物样品的表面分析。因而,配备氩团簇离子源的ToF-SIMS在生命科学研究领域得到越来愈多的青睐。  随着一次离子源团簇离子的直径变大,SIMS成像的空间分辨率也会相应降低。对此,汪福意说:“应用SIMS成像进行生物研究的时候,找到离子碎片大小和空间分辨率的平衡非常重要,也就是说在获得质量数较大的、结构信息丰富的碎片离子的前提下尽量保证质谱成像的空间分辨率。”  在团簇离子源发明之前,SIMS在生命科学领域的应用受到限制,因为强调生物大分子结构解析的生物学研究无法从SIMS产生的小碎片离子中得到足够有用的信息。在上个世纪90年代,开始有人尝试基于SIMS在同位素质谱研究中的优势,从生物代谢的角度去了解生物合成过程。汪福意提到:“在这方面,哈佛大学医学院有一支有名的研究团队,他们自己搭建SIMS装置,研究的重点就是利用SIMS成像探索生物合成和生物代谢过程,如DNA的合成、复制与转录。这种研究不是关注高质量数的离子碎片,只需要获得N-15和C-13等同位素标记的碱基碎片在细胞核内的分布信息,就可以分析研究由化学刺激或抑制作用导致的生化过程。”该研究组利用SIMS在细胞生物学前沿领域的研究中取得了很多高影响力的研究成果,对SIMS在生命科学研究领域的应用起到了极大的促进作用。“强强联手”,SIMS与显微技术共缔超高分辨细胞成像  作为传统意义上的无机质谱,SIMS与有机质谱都可以应用于生物组织成像研究。“能够用于组织成像的质谱技术有不少,但并没有哪类技术能被取代。利用MALDI-MS、DESI-MS等有机质谱技术进行生物组织成像分析比SIMS更快捷和简单,而SIMS在空间分辨率上的优势是其它质谱成像技术无法超越的。”在介绍不同质谱技术在生物组织成像中的应用和区别时,汪福意说:“SIMS不擅长分析生物大分子,如果想进行多肽、蛋白质或大DNA片段分析,有机质谱是更好的选择。SIMS的空间分辨率很高,即使是用氩团簇离子源也能达到微米、甚至亚微米级的空间分辨率,能够进行单细胞或亚细胞器的成像分析。仪器厂商都在提高质谱成像空间分辨率方面下了功夫,但到目前为止还是SIMS成像的空间分辨能力更有优势。”  在研究金属抗肿瘤候选药物细胞摄入和分布时,SIMS成像可以通过特征生物碎片,如磷脂碎片和DNA脱氧核糖碎片指示亚细胞器的位置,进而确定金属药物在细胞中的定位和分布。但是,在这些特征生物碎片离子的信号较弱或其指代的生物信息并不唯一时,仅仅基于SIMS离子信号的药物亚细胞器定位可能出现误差。在这种情况下,结合亚细胞器荧光染色的光学显微镜成像可以弥补SIMS信号低,不能准确定位的劣势。常与SIMS结合使用的光学显微镜有激光共聚焦显微镜和超高分辨率的受激辐射耗尽(Stimulated Emission Depletion,STED)显微镜技术。二者的区别在于空间分辨率:激光共聚焦显微镜的空间分辨率在亚微米级,STED荧光显微镜分辨率可以达到30纳米。  通过这种光学显微镜成像与SIMS化学成像相结合的方法,汪福意团队发现他们自主研发的一种有机金属钌抗肿瘤化合物可同时定位在细胞膜和细胞核上,证实了他们在分子水平上的研究结果,即该化合物可以同时作用于细胞膜上的受体激酶和细胞核内的DNA,具有潜在的双靶向特性。  利用SIMS与光学显微镜成像的融合,在完成金属抗肿瘤化合物在细胞中的分布研究之后,团队又进行了金属药物损伤DNA在细胞内与蛋白质相互识别、相互作用的机理研究。  “我们用顺铂等金属抗肿瘤药物中的金属离子指示药物损伤的DNA,用光学显微镜来定位抗体染色或融合荧光蛋白定位DNA结合蛋白。如果光学成像信号与SIMS化学成像信号完全重叠的话,说明它们在细胞水平能相互识别和相互作用。”汪福意表示,这个研究工作能够证实从分子水平研究获得的药物分子作用机制的猜想,“很多人在体外生理模拟环境中做这类研究,但细胞水平上药物损伤DNA与蛋白质相互识别和相互作用的研究还没有文献报道。”目前该工作进展顺利,团队还将继续研究DNA结合蛋白与药物损伤DNA的相互识别可能导致的细胞凋亡等生物过程。  在用SIMS成像与光学显微镜成像联用,研究细胞内和细胞间生物分子相互识别时,必然需要先后使用两类仪器寻找、定位样品板上微小区域内的同一个或几个单细胞。而在1平方厘米甚至更大面积的样品板上准确定位同一个微米级的细胞,是个不小的技术难题。为了解决这一制约研究进展的技术问题,汪福意团队在硅片或玻璃样品板上以光刻方式刻写上200微米的方形网格,并给每个格子一个标号,制备了一种简单、实用的可寻址样品板。这样对于相同网格内单个细胞的成像数据进行叠加处理就变得简便易行。“通过光刻网格定位单细胞仅是一个很小的技术改造,但确实给我们的研究带来很多方便。”汪福意介绍到。(图)ToF-SIMS与共聚焦激光扫描显微镜(CLSM)成像联用时的可寻址细胞定位借力微流控技术实现液相反应体系的SIMS实时原位分析  SIMS是基于高真空的分析技术,分析室内真空度极高,无法分析液态样品,生物样品一般都是采取冷冻干燥或树脂包埋等方式处理后再进行SIMS分析。在2010年前,没有人尝试过用SIMS分析液体样品,直到美国太平洋西北国家实验室的两位华人科学家朱梓华(Zhu Zihua)和于晓英(Yu Xiaoying) 开始研究真空兼容的微流控技术和装置。  汪福意从2013年初开始与两位科学家合作,进行基于微流控技术的液相SIMS技术研究。其研发技术的核心是真空兼容微流控装置,在留有微通道的聚合物基底上嵌入100纳米厚度的氮化硅薄膜,两端连接上微流控管道,通过一次离子束的轰击可在薄膜上打出2微米的小孔。由于小孔直径很小,即使在高真空中,液体的表面张力也能将微流控池内的液体限制在小孔内。这时的小孔内液面即为分析表面,用一次离子束轰击液面溅射出带电离子,即可进行反应池内化学反应的原位实时分析。  由于液体表面可以实时更新,所以该装置可以测定瞬时反应中间体。在氮化硅薄膜上镀上一层金属电极,在反应池内嵌入对电极和参比电极,即可构成三电极电化学反应系统,加上电压之后,可进行电化学氧化还原反应过程的原位实时检测。对于液相SIMS分析技术,汪福意评价说:“这样的分析对研究化学和生物反应很有帮助,能让我们更深入地了解化学、生物反应过程。实时和原位分析的优势是能够捕捉到一些转瞬即逝的中间产物。” 据了解,国内外都有不少科学家致力于用电喷雾电离(ESI)和解析电喷雾电离(DESI)等质谱技术进行反应中间体研究,而用SIMS进行(电)化学反应过程和中间体研究的团队相对较少。汪福意团队还将利用此装置开展电池的充放电反应和均相或液相催化反应研究。  SIMS研究固体样品,无论是矿物质、材料还是生物质冻干切片都是分析其最终状态,而液相SIMS技术让研究活细胞的生物化学过程,如神经递质的释放等成为可能。增进交流与学科交叉,铺就SIMS发展之路  凭借超高的空间分辨率,发挥在药物及代谢物成像研究和生物反应中间产物分析中的优势,SIMS理应在生物研究领域大有作为。然而,国内用于研究的SIMS仪器数量仍然不多,包括地学和材料分析在内也仅有二十多台。据汪福意分析,目前ToF-SIMS的价格在800万左右,NanoSIMS的价格更高,价格昂贵是限制其广泛应用的主要因素。另外,SIMS仪器维护较为复杂,维护费用高,样品制备等过程对技术要求也比较高,也是制约SIMS广泛应用的因素。  汪福意对今后SIMS的应用发展并不担忧,他说:“国家在仪器研发和应用研究方面的投入越来越大,相信以后会有更多的实验室引进SIMS仪器。” 在十二五国家重大科研仪器研制项目中,有两个项目涉及二次离子质谱,分别为“高分辨多功能化学成像系统”和“同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”。汪福意参加了中科院化学所万立骏院士领衔的 “高分辨多功能化学成像系统”的研究,负责SIMS和高分辨光学显微镜技术联用成像子系统的研究工作 北京离子探针中心刘敦一研究员领导的 “同位素地质学专用TOFSIMS科学仪器”项目主要研制和开发用于高精度同位素丰度分析的TOFSIMS新技术。  我国在二次离子质谱在地球科学领域的应用研究与国际上同类研究的水平相当,在一些领域甚至处于国际领先水平。“但是在生命科学领域的应用研究与国际同行相比仍然有较大的差距,推进SIMS在生命科学研究领域的应用需要国内同行共同努力。”汪福意和其他二次离子质谱领域的专家们在不断加强与国际SIMS应用研究同行的联系与交流。他们把每两年一届的国际二次离子质谱大会看作一个让国内研究学者直接接触国际前沿SIMS技术的绝佳平台,在中国物理学会质谱分会等组织的支持下,中国二次离子质谱研究的专家学者们也一直致力于申请该会议的主办权。采访编辑:郭浩楠  后记:今年10月“第六届中国二次离子质谱会议”将在大连举办。汪福意研究员是此会议学术委员会的共同主席,他与其他SIMS领域的科学家们共同邀请到一些国际SIMS专家来介绍他们的前沿技术和最新研究成果,与国内研究者们共同探讨SIMS技术及应用。正在或有意应用SIMS技术进行科学研究的科学家们希望通过会议或其他各种形式与国内外同行交流、沟通,寻求与其它学科的交叉合作。  生命科学领域的科学家可能并不完全了解SIMS技术,也不太清楚SIMS技术能解决生命科学研究中的哪些具体问题 而SIMS分析的研究者也可能不太了解生命科学的研究焦点,彼此存在“背靠背”的窘境。希望更多的科学家能够了解SIMS技术,实现多领域跨学科合作以解决更多生命科学难题。附件:汪福意研究员简历  学习经历  1999年6月 武汉大学化学系毕业,获理学博士学位  1991年6月 华中师范大学化学系毕业,获理学硕士学位  1983年7月 华中师范大学化学系毕业,获理学学士学位  工作经历  2007 – 至今 中国科学院化学研究所“百人计划” 研究员、课题组长、博士生导师、北京质谱中心主任  2002 – 2007 英国爱丁堡大学化学系 英国研究基金会(RCUK) Research Fellow  2000 – 2002 英国爱丁堡大学化学系 英国皇家学会皇家奖学金Research Fellow  1997 – 1999 华中师范大学分析测试中心 副教授,副主任  1991 – 1997 华中师范大学分析测试中心 讲师,无机分析部主管  1983 – 1988 湖北咸宁师范高等专科学校 助教,讲师  学术任职  中国物理学会质谱分会常务理事、有机质谱专业委员会委员 (2008.9 – 2012.8),生物质谱专业委员会副主任委员(2012.8 –)  中国生物化学与分子生物学学会蛋白质组专业委员会委员 (2011.4 –)  美国化学会会员  中国化学会会员  国际生物无机化学学会会员
  • 科学仪器发展高层沙龙第二次活动举行
    仪器信息网讯 2012年5月20日上午,中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京市理化分析测试中心理化楼5层会议室组织召开了“科学仪器发展高层沙龙第二次活动”。会议现场  据悉,为深入探讨我国科学仪器发展机遇与挑战、产业发展瓶颈、阻碍行业发展主要问题,以及当前发展的优势与动力等相关议题,2012年3月22日,中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京理化分析测试中心举办了“科学仪器发展高层沙龙的第一次活动”。中国仪器仪表学会分析仪器分会副理事长兼秘书长刘长宽先生主持会议国家科技部科研条件与财务司孙增奇处长出席会议  “科学仪器发展高层沙龙的第二次活动”则主要围绕企业发展中研发、管理、生产、销售、人才等问题展开谈论,中国仪器仪表学会分析仪器分会相关领导、国产仪器知名公司高层等20余人出席了会议。中国仪器仪表学会分析仪器分会理事长闫成德先生发言  闫成德先生主要就举办此次活动的初衷、目的进行了阐述,并希望与会人员能够畅所欲言,为解决当前仪器行业所面临问题添砖加瓦,将这一活动办得高效率、有意义。原AB SCIEX公司中国区总裁、职业经理人刘文玉先生发言  刘文玉先生结合自己多年的外企工作经验,详细讲述了自己对于研发、生产和营销服务的认识,并通过对3种心态和3种智慧的解释,号召大家一起为行业把脉,诊断出病因,集体合作起来解决问题。赛默飞世尔公司顾问           北京吉天仪器有限公司     职业经理人孙建一先生           董事长刘明钟先生   北京普析通用仪器有限责任公司         上海光谱仪器公司      董事长田禾先生             总经理陈建钢先生    北京创新通恒科技有限公司        北京普立泰科科技有限公司      总经理崔万臣先生            总经理田丽娟女士    北京雪迪龙科技股份有限公司        北京华夏科创科技有限公司      董事长敖小强先生             总经理张新民先生      仪器信息网             国家科学仪器应用示范中心     总经理唐海霞女士              陈舜琮主任   会上,与会人员积极发言,或畅谈自身多年工作体会,或评述当前仪器行业现状,或以自身企业现身说法,纷纷为解决我国仪器行业及国内生产企业所面临的研发、管理、生产、销售、人才等问题出谋划策,特别是关于创新研发的问题,讨论尤其热烈,现场气氛十分活跃。
  • 二次离子质谱可以测什么?
    二次离子质谱(secondaryionmassspectroscopy,简称SIMS),是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,原理利用质谱法分析初级离子入射靶面后,样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时,一次离子注入被分析样品,把动能传递给固体原子,引起中性粒子和带止负电荷的二次离子发生溅射,然后根据溅射的二次离子的质量信号,对被轰击样品的表面和内部元素分布特征进行分析。通过不同的操作模式,测试可以得到表面质谱、表面成像、深度剖析和三维分析信息,用来完成工业生产和科研研究过程中所需的掺杂和杂质深度数据;浅注入和超薄膜的超高分辨率深度分析;芯片结构及杂质元素定性定量分析;薄膜的组成和杂质的测量等,这种技术本身具有“破坏性”的物质溅射,可以应用在包括但不仅限于金属及合金、半导体、绝缘体、有机物、生物膜分析对象上。质量分析器可采用单聚焦、双聚焦,飞行时间、四极杆、离子阱、离子回旋共振等,其中飞行时间离子质谱TOF-SIMS是通过将二次离子质谱分析技术(SIMS)与飞行时间质量分析器(TOF)结合起来,由于其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利用率最高,能最好地实现对样品几乎无损的静态分析,分析速度快和样品的消耗极少,分析质量范围宽,对有机、无机材料都有很好的分析能力。
  • 三泉中石参与起草的《鲁尔圆锥接头性能测试仪校准规范》开始实施
    三泉中石参与起草的《鲁尔圆锥接头性能测试仪校准规范》开始实施Sumspring三泉中石作为检测仪器行业的佼佼者,以其强大的技术实力努力推动本行业国家标准的建立和更新。近日,Sumspring三泉中石参与起草的JJF(京) 139-2024《鲁尔圆锥接头性能测试仪校准规范》已通过严格的审核程序,于2024年7月1日开始实施,适用于鲁尔圆锥接头性能测试仪的校准。这一规范填补了我国对于鲁尔圆锥接头性能测试仪校准方法的空白。JJF(京) 139-2024《鲁尔圆锥接头性能测试仪校准规范》的制定过程,充分参考了国内外相关标准要求,如药包材标准《4040 预灌封注射器鲁尔圆锥接头检查法》、GB/T 1962.1-2015《注射器、注射针及其他医疗器械 6%(鲁尔) 圆锥接头》、GB/T 1962.2-2001《注射器、注射针及其他医疗器械 6%(鲁尔)圆锥接头》,以及YY/T 0916.1-2021《医用液体和气体用小孔径连接件》和YY/T 0916.20-2019《医用液体和气体用小孔径连接件》等。这些标准均为药品及医疗器械领域的重要指导文件,此次校准规范的制定,对于规范行业、提升产品品质,为我国在此领域与国际标准接轨具有重要意义。在规范编制过程中,三泉中石充分发挥了其在药包材和医疗器械测试领域的专业优势,结合实际使用情况,对校准流程、参数设置、测试方法等进行了细致的梳理和优化。同时,该规范还严格遵循了国家计量技术规范JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001-2011《通用计量术语及定义》以及JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》等标准,确保了校准结果的准确性和可靠性。随着JJF(京) 139-2024《鲁尔圆锥接头性能测试仪校准规范》的实施,将有力推动我国药包材和医疗器械校准工作的规范化、标准化进程。同时,这也将有助于提高药品和医疗器械的安全性和有效性,保障人民群众的生命健康。作为参与起草单位之一的Sumspring三泉中石,将继续秉承“专业、精准、高效”的服务理念,为中国包装和医疗器械检测技术与世界同步而不懈努力。
  • 中国技术市场协会企业科技工作委员会 一届二次全体委员会议召开
    2022年12月29日,中国技术市场协会企业科技工作委员会用腾讯会议方式组织召开一届二次全体委员会议。中国技术市场协会副会长武毅、秘书长许爱东以及企工委25位委员及被委托人出席会议,部分会员单位代表列席会议。中国技术市场协会企业科技工作委员会副主任樊胜主持会议。中国技术市场协会副会长武毅、秘书长许爱东在致辞中充分肯定了企工委2022年的工作,对2023工作提出了殷切的希望,并对全体与会代表送上了新年的问候。本届会议增补北京惠尔特科技有限公司董事长谭曙光、北京智慧云舟科技有限公司创始人、总裁周舟、成都理工大学教授蒋刚为企工委委员,通过了北京东方计量测试研究所委员季启正变更为高志良,中国石油化工科技开发有限公司委员布志捷变更为刘方涛,李功越委员后续代表北京市科学技术研究院担任委员等事项。会议审议通过了中国技术市场协会企业科技工作委员会副主任兼秘书长刘哲鸣所做的“企工委2022年度工作总结及2023年度工作计划”的报告。中国技术市场协会企业科技工作委员会副主任杜兵、副秘书长唐海霞及其他委员还就开展技术经理人培训、加强市场供给与市场需求的对接、梳理2023年重点工作清单、集中发布新成果新技术、聚焦特定领域开展工作、组织科学仪器企业与企业实验室对接、推动相关标准制定修订工作等提出了宝贵的意见和建议。十三届全国政协委员、中国技术市场协会企业科技工作委员会主任钱天林做会议总结。钱天林主任充分肯定了2022年度企工委的工作,肯定了全体委员对委员会工作的支持和付出,回顾了企工委成立和发展的历程,再次明确了企工委推动企业科技创新、成果转化和技术转移的工作定位,并提出了聚焦、合力、精准、协作等具体工作思路,同时对2023年度工作提出了遵循组织领导、群策群力、细化工作、提升能力等具体要求。中国技术市场协会企业科技工作委员会一届二次全体委员会议完成了既定议程,布置了下阶段工作,凝聚了委员的共识,达成了会议目标,取得了圆满成功,为企工委2023年度及后续工作的顺利开展奠定了坚实的基础。
  • 霍尔德新品|真空密封性测试仪操作简便
    霍尔德上市新品啦!2023年12月28日上市了一款密封性测试仪【真空密封性测试仪←点击此处可直接转到产品界面,咨询更方便】密封试验是检测产品泄漏状况的有效检测。在产品包装过程中,由于各种难以预测的因素,封合环节可能会出现疏漏,如漏封、压穿,甚至因材料本身存在的微小瑕疵,如裂缝、微孔,这些都可能形成内外互通的小孔。这样的情况,无疑会对包装内的产品造成潜在威胁,特别是对于食品、医药、日化等对密封性要求极高的产品,其质量的保障更依赖于密封性的完好。真空密封性测试仪专业适用于产品的密封试验,通过试验可以有效地比较和评价软包装件的密封工艺及密封性能,是食品、塑料软包装、湿巾、制药、日化等行业理想的检测仪器。 产品特征 1.具备保压试验模式与梯度试验模式,满足不同材料测试需求; 2.系统采用微电脑控制,抽压、保压、补压、计时、反吹、打印全自动化操作; 3.设备搭配7寸彩色触摸屏,实时显示压力波动曲线,自带微型打印机,支持数据预置、断电记忆,确保测试数据的准确性; 4.试验结果自动统计打印及存储; 5.具备三级权限管理功能,支持历史数据快速查看; 6.采用优质气动元件,性能经久耐用、稳定可靠技术参数 真 空 度 0~-90kPa 分辨率0.01KPA 保压时间0-999999S 精度 0.5级打印机热敏打印机(标配) 针式打印机(选配)真空室尺寸 Φ270mm×210 mm (H) (标配) Φ360mm×585 mm (H) (另购) Φ460mm×330 mm (H) (另购) 气源压力 0.7MPa (气源用户自备)或厂家配备空气压缩机(选配)气源接口 Φ6mm 聚氨酯管 电源 220 V/50Hz 外型尺寸 290mm(L)×380mm(B)×195mm(H) 主机净重 15kg
  • “二次离子质谱仪器核心技术研发”项目子课题通过验收
    2月21至22日,由国家质检总局科技司委托组成的测试专家组,对中科院大连化学物理研究所承担的“十一五”国家科技支撑计划项目课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”中的子课题“角反射飞行时间质量分析器”进行了现场考核与测试。验收专家组组长由北京中国航天员科研训练中心刘学博研究员担任,成员包括中国科学院北京科学仪器研制中心于科岐研究员、中国计量科学研究院赵墨田研究员、大连理工大学丁洪斌教授以及辽宁师范大学李梦轲教授。中科院大连化学物理研究所  与会专家听取了项目负责人李海洋研究员的项目完成情况汇报,专家组依据国家科技支撑计划课题任务书中规定的任务和考核指标要求,参考课题组提交的测试方案以及现场的实际情况,查看了有关技术资料,并对测试大纲进行了充分讨论,确定了审核及现场测试内容。通过现场核实与实际测试,测试专家组认为,该子课题采用角反射补偿了离子能量分散,提高质量分析器的分辨率,且能保证大的接收角和较高的稳定精度,分辨率8700,稳定精度为10ppm,全面完成了任务书规定的各项任务指标,达到并优于考核要求。验收专家组一致同意该课题通过验收。  该项目的完成,进一步提升了大连化物所在二次离子质谱仪的核心技术及关键部件研发方面的综合水平。  附录:国产快速在线质谱仪、离子迁移谱仪产业化进程——访中科院大连化物所青年科学家李海洋研究员
  • 二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发项目通过验收
    2011年6月21日,由中国地质科学院地质研究所北京离子探针中心牵头,联合了中国计量科学研究院、复旦大学、中国科学院大连化学物理研究所和北京普析通用仪器有限责任公司等单位共同承担的国家科技支撑计划课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”(编号:2006BAK03A21)在京顺利通过验收。课题验收会由“十一五”国家科技支撑计划重点项目“科学仪器设备研制与开发”的组织部门——国家质检总局科技司主持召开,来自科技部、质检总局、北京市、教育部、中科院、总装备部和国土资源部等部门的20名专家、领导出席了会议。验收专家组审阅了课题组提供的验收资料和测试专家组提供的测试报告,听取了课题执行情况自评价报告和课题研究等报告,经质询和讨论,专家组一致同意项目通过验收。  课题形成了有关SIMS和TOF串联质谱的新技术、新产品、新装置和计算机软件等共19项成果,其中5项已在相关领域成功应用,冷阴极双等离子气体源工艺研究等具有创新性。申请国内发明专利24项、国际发明专利6项。发表论文29篇,其中国际刊物发表5篇。  通过该课题的实施,新建和完善了5个质谱仪器关键部件研发基地和10多个研究试验平台,培养了一批优秀的质谱仪器研发人员,凝聚和造就了一支研发队伍,为今后大型高端质谱仪器的自主研发奠定了基础。  地质所北京离子探针中心在课题中完成了任务书规定的大型质谱仪器研发综合平台、离子源研发试验平台和自动换样及三维微聚焦系统试验平台的搭建,一次气体离子源、自动换样系统和三维微聚焦系统以及相应的供电和自动控制系统的研发。中心主持了整个课题的实施,很好地协调了各参加单位的任务分工,圆满地完成了任务,受到了专家领导的一致好评。  延伸阅读:访“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”课题负责人——北京离子探针中心主任刘敦一研究员
  • 细谈二次电子和背散射电子(一)
    二次电子(SE)和背散射电子(BSE)是扫描电镜(SEM)中最基本、最常用的两种信号,对于很多扫描电镜使用者而言,二次电子可以用来表征形貌,背散射电子可以进行原子序数表征已经是基本的常识。然而,二次电子、背散射电子与衬度的关系并非如此简单。今天,我们就来深入的了解一下SE、BSE的细分类型,各自的特点,以及它们和衬度之间的关系。二次电子 二次电子是入射电子与试样中弱束缚价电子产生非弹性散射而发射的电子,一般能量小于50eV,产生深度在试样表面10nm以内。二次电子的产额在很大程度上取决于试样的表面形貌,因此这也是为什么在很多情况下大家把SE图像等同于形貌像。然而,这种说法并不严谨。二次电子(SE)和其它衬度的关系 二次电子的产额其实和成分也有很大的关系,尤其是在低原子序数(Z20)时,二次电子也能够清晰的反映出成分之间的差异。图1中显示的就是SE产额随原子序数Z的关系。 图1 SE产额随原子序数Z的关系 这类实际例子非常多,如图2中的碳银混合材料,SE像不但可以区分出碳和银的成分差异,而且相对BSE图像来说具有更多的形貌细节。图2 碳银混合材料的SE、BSE图像以及碳、银电子产额 所以,如果对于低原子序数试样,或者原子序数差异非常大时,若要反映成分衬度,并不一定非要用BSE像,SE像有时也可获得上佳的效果。 除了成分衬度外,SE还具有较好的电位衬度,在正电位区域SE因为收到吸引而使得产额降低,图像偏暗,反之负电位区域SE像就会偏亮。而BSE因为本身能量高,所以产额受电位影响小,因此BSE像的电位衬度要比SE小的多。图3 另外,如果遇上试样的导电性不好,出现荷电效应或者是局部荷电,这也可以看成是一种电位衬度。这也是当出现荷电现象的情况下,相对SE图像受到的影响大,BSE图像受影响则比较小。这也是为什么在发生荷电现象的情况下,有时可以用BSE像代替SE像来进行观察。 至于通道衬度,一般来说因为需要将样品进行抛光,表面非常平整,这类样品基本上没有太多的形貌衬度。SE虽然也能看出不同的取向,但是相比BSE来说则要弱很多,所以一般我们都是用BSE图像来进行通道衬度的观察。图4 SE和衬度的关系,总结来说就是SE的产额以形貌为主,成分为辅,容易受到电位的影响,取向带来的差异远不及BSE。在考虑具体使用哪种信号观察样品的时候,可以参考表1,SE和BSE特点刚好互补,并没有孰优孰劣之分,需要根据实际关注点来选择正确的信号进行成像。 表1SEBSE能量低高空间分辨率高低表面灵敏度高低形貌衬度为主兼有成分衬度稍有为主阴影衬度弱强电位衬度强弱抗荷电弱强 二次电子的分类 刚才简单介绍了SE和衬度的一些基本关系,接下来我们细谈一下SE的分类。因为不同类型的二次电子在衬度、作用深度上的表现完全不同,使得不同SE探测器采集的SE像会有非常大的差异。因此,为了能在电镜拍摄中获得最佳的效果,我们有必要对SE的类别进行详细的了解。 如果按照国家标准来进行分类的话,SE主要分为四类,分别是:SE1:由入射电子在试样中激发的二次电子;SE2:由试样中背散射电子激发的二次电子;SE3:由试样的背散射电子在远离电子束入射点产生的二次电子;SE4:由入射束的电子在电子光学镜筒内激发的二次电子。 国标这样定义完全正确,然而这样的分类对于在实际电镜操作中并没有太多指导意义。为什么呢?因为不管是什么类别的SE都是属于低能电子,探测器在采集的时候往往也不能对其加以区分。那么,我们现在可以换个思路来理解一下这几种二次电子。由于SE4对成像不起作用,我们在此不进行讨论。A. SE1: 由原始电子束激发,因此其作用深度最浅,对表面最为敏感,我们知道SE本身也有成分衬度,所以SE1也非常能体现出极表层的成分差异。 其次,正因为SE1信号来自于样品的极表面,作用体积小,所以其出射角度应该相对比较高。因此,SE1的分辨率应该是所有类型中最好的。 再者,正是因为SE1的出射高度都是高角,所以其产额不易受到试样表面凹凸不平的影响,因而其分辨率虽好,但是立体感则相对比较弱。B. SE2和SE3: 由BSE激发产生的SE。因为BSE本身作用区域较大,所以在回到试样表面再次产生的SE的作用范围要比SE1大的多,正因如此, SE2和SE3的分辨率也弱于SE1。 其次,SE2和SE3是被位于试样深处的BSE激发,它们的产额在很大程度上取决于试样深处的BSE,而且它们作用区域较深,也更能体现出试样深处的成分信息。 再者,SE2和SE3由不同方向的BSE产生,因此其出射角度相对也较为广泛,从高角到低角均有分布。C. 另外,我们需要再考虑到荷电因素,荷电本身的负电位会将产生的SE尽量推向高出射角方向出射,所以受到荷电影响的电子也一般分布于较高的出射角。 SE1分布在高角、SE2和SE3分布在各个角度,荷电SE分布在高角。这样一来,我们把SE1、SE2、SE3原来按产生的类型分类转化为更加实用的按照出射角度进行分类。即:高角电子以“SE1+荷电SE”为主,低角电子以“SE2+SE3”为主。不同出射角度的SE有着截然不同的特点,我们分别来看一下。A. 轴向SE: 轴向SE是以接近90° 出射的二次电子,其中以SE1所占比例最高。由于作用体积最小,分辨率相应也是最高,且具有最高的表面敏感度,因此可以分辨极表面的成分差异,但是同时对一些并不希望看见的表面沉积污染或者氧化等,也会一览无遗。同时,因为轴向SE中所含的荷电SE也相应最多,所以,一方面对电位衬度最为敏感,另一方面受到荷电的影响也最为严重。B. 高角SE 高角SE是以较高角度出射的二次电子,也是以SE1为主,不过相对轴向SE中所含SE1而言数量稍低。高角SE的分辨率、表面灵敏度、电位衬度相对轴向SE而言也有所降低,不过由于荷电SE占比减少,所以和轴向SE相比,高角SE受到的荷电现象影响较小。高角SE和轴向SE都是向上出射,所以图像的立体感都比较差。C. 低角SE 低角SE是以较低角度出射的二次电子,其中SE2、SE3占有较高比例。所以低角SE反映的是试样较为深层的信息,表面灵敏度低,作用体积大,分辨率也不及高角SE和轴向SE。不过低角SE的图像立体感很好,抗荷电能力也比前两者强。 不同类型二次电子的特点 这样,我们就将原来只能从定义的角度进行区分的SE1、SE2、SE3,转变成出射角度不同的轴向SE、高角SE和低角SE。而按照角度进行分类之后,在实际探测信号时是完全可以对其进行区分的,我们会在之后的篇幅中对其进行详细的介绍。这样,我们现在可以总结一下几种类型SE的特点,如表2。表2轴向高角低角出射角度接近90°大角度小角度凹坑处的观察有信号有信号信号弱分辨率最好很好一般表面灵敏度最好很好较弱立体感差差很好成分衬度极表面成分表面成分较为深处电位衬度强强弱抗荷电能力弱较弱强 很多人都用过场发射扫描电镜,对样品室内SE探测器得到的低角SE2信号,与镜筒内SE探测器得到的高位SE1信号的图像对比会深有感触,很明显两者的立体感相差很大,见图5。图5 低角SE图像(左)和高角SE图像(右) 但是对镜筒内的SE信号再次拆解为高角SE和轴向SE可能会觉得很陌生,虽然前面我们已经对二者进行了介绍,但是毕竟不够直观。我们不妨看看图6,两张图都是使用镜筒内探测器获得,分辨率和立体感都很类似,总体效果非常接近,但是轴向SE(左图)受到小窗口聚焦碳沉积的影响,而同时获得的高角SE(右图)的碳沉积影响则轻微很多。 图6 轴向SE图像(左)和高角SE图像(右) 图7的样品为硅片上的二维材料,左图为高角SE图像,右图为轴向SE图像,轴向SE的灵敏度明显高于高角SE。图7 硅片上的二维材料,高角SE图像(左)和轴向SE图像(右)图8的样品为绝缘基底上的二维材料,左图为高角SE图像,右图为轴向SE图像,可以看到轴向SE受到荷电的影响也要高于高角SE。图8 绝缘基底上的二维材料,高角SE图像(左)和轴向SE图像(右) 总结一下,我们将二次电子拆解成轴向、高角和低角三个不同的类型,它们没有优劣之分,均有自己的特点,有优点也有缺点。我们只有在实际操作时发挥出每种信号的优势,才能获得最适合的图像。 好了,关于SE的分类相对比较简单,相信您已经完全理解,我们将在下一篇中详细说一下BSE。 为了更好的理解这篇的内容,让我们通过几张SE图像来实际感受一下不同类型SE之间的差异吧! 您能分得清以下图片分别是哪一类型的SE信号,并且在什么衬度特点上产生的差异吗?我们将会在下一期文章中公布答案哦!0102030405
  • REACH法规第二次注册时限注册情况
    2013年9月10日,欧盟ECHA发布了第二次注册时限前(截至2013年5月31日)提交的注册的情况。统计显示,共提交了9030个卷宗,涉及到约2998种物质,企业交付的0.45亿欧元的注册费。  企业在376项卷宗中提出了770项的测试提案,其中的653项是为了满足REACH法规附件IX中的信息要求,ECHA将在2016年6月1日前评估所有的测试提案。  此外,ECHA收到了在254个卷宗中的301项的机密性要求。其中大多数的机密性要求都是关于安全数据表中的信息(包括公司的名称、注册号及物质的使用信息),ECHA将在接受这些要求前对其进行评估。而所有的非机密性信息则在年底前进入注册物质在线数据库。  ECHA提醒业界,即使在取得了注册号后,仍然要维护和更新其卷宗。此外,业界还需要保持REACH-IT以便接收来自EACH的信息。  详情参见:http://echa.europa.eu/view-article/-/journal_content/title/registration-numbers-granted-to-9-030-reach-2013-registrations
  • 中科院合成生物学重点实验室召开学术委员会一届二次会议
    1月23日,中国科学院合成生物学重点实验室2009年学术年会暨学术委员会一届二次会议在中国科学院上海生命科学研究院植物生理生态研究所召开。  实验室学术委员会主任杨胜利院士,学术委员会委员赵国屏院士、邓子新院士、黄力研究员、吴家睿研究员、孙志浩教授、张嗣良研究员、王磊教授、刘海燕教授、陈代杰研究员、姜卫红研究员、薛红卫研究员,专家委员会委员林国强院士、汤章城研究员以及实验室全体课题组长出席了本次会议。会议由实验室学术委员会主任杨胜利院士和实验室副主任覃重军研究员、李来庚研究员共同主持。  实验室主任赵国屏院士代表实验室向与会专家们致欢迎辞。常务副主任覃重军研究员向学术委员会汇报了2009年实验室各项工作的进展情况。  会上,学术委员会首先听取了各课题组的报告:覃重军研究员报告题为“合成生物学的细胞工场――超级链霉菌”,姜卫红研究员报告题为“丁醇的生物制造”,周志华研究员报告题为“纤维素酶的发现、重组与表达”,杨晟研究员报告题为“多酶组合制备手性化学品”,杨琛研究员报告题为“代谢网络检测和重构”,赵国屏研究员课题组赵维报告题为“Complete genomic sequence of Amycolatopsis mediterranei U32 revealed its genetic characteristics in biology and rifamycin production”,李来庚研究员报告题为“Understanding of Plant Secondary Growth System and Dissection of Cellulose Synthesis Machinery”,张鹏研究员报告题为“木薯和甘薯淀粉品质改良的基因工程”。学术委员会专家们对各课题组的工作给予了肯定和积极的评价,同时,还对各课题组的工作给予了具体的指导并提出许多宝贵的建议。
  • 中国科学院地质与地球物理研究所2050.00万元采购二次离子质谱
    详细信息 中国科学院地质与地球物理研究所双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统采购项目 北京市-朝阳区 状态:公告 更新时间: 2022-10-10 项目编号:OITC-G220271559 发布时间:2022-10-10 项目概况 中国科学院地质与地球物理研究所双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统采购项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件,并于2022年10月31日09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:OITC-G220271559 项目名称:中国科学院地质与地球物理研究所双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统采购项目 预算金额: 2050万元(人民币) 最高限价(如有):2050万元(人民币) 采购需求: 1、采购项目的名称、数量: 包号 货物名称 数量(台/套) 是否接受进口产品 1 双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统 1 是 投标人须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。 2、技术要求详见公告附件。 合同履行期限:详见采购需求。 本项目不接受联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 本项目不属于专门面向中小企业采购的项目。 依据工信部联企业【2011】300号文件,采购标的对应的中小企业划分标准所属行业为:工业 3.本项目的特定资格要求: (1)在中华人民共和国境内依法注册的,具有独立承担民事责任能力,遵守国家法律法规,具有良好信誉,具有履行合同能力和良好的履行合同的记录,具有良好资金、财务状况的企事业法人、其他组织或者自然人; (2)为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得参加本项目投标; (3)投标单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动; (4)按本投标邀请的规定获取招标文件; (5)投标人不得为列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商。 三、获取招标文件 时间:2022年10月10日 至 2022年10月17日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:http://www.oitccas.com/ 方式:登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/)注册并购买。 售价:¥600 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点: 2022年10月31日 09点30分(北京时间) 地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其它补充事宜 1、招标文件采用网上电子发售购买方式: (1)有兴趣的供应商可登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/)注册并购买。完成投标人注册手续(免费),然后登录系统浏览该项目下产品的“技术指标”,已注册的投标人无需重新注册。招标文件售价:每包人民币600 元。如决定购买招标文件,请完成标书款缴费及标书下载手续。 (2)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。 开户名称:东方国际招标有限责任公司 开户行:招商银行北京西三环支行 账 号:862081657710001 (3)投标人应在“东方招标”平台上填写开票信息。在投标人足额缴纳标书款后,标书款电子发票将发送至投标人在“东方招标”平台上登记的电子邮箱,投标人自行下载打印。 2、以电汇方式购买招标文件和递交投标保证金的,须在电汇凭据附言栏中写明招标编号、包号及用途(如未标明招标编号,有可能导致投标无效)。 3、采购项目需要落实的政府采购政策: (1)政府采购促进中小企业发展 (2)政府采购支持监狱企业发展 (3)政府采购促进残疾人就业 (4)政府采购鼓励采购节能环保产品 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:中国科学院地质与地球物理研究所 地址: 北京市朝阳区北土城西路19号 联系方式:李金华, 010-82998323 2.采购代理机构信息 名 称:东方国际招标有限责任公司 地 址:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 联系方式:窦志超、王琪,010-68290523 3.项目联系方式 项目联系人:窦志超、王琪 电 话:下载010-68290523 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容:二次离子质谱 开标时间:2022-10-31 09:30 预算金额:2050.00万元 采购单位:中国科学院地质与地球物理研究所 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:东方国际招标有限责任公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 中国科学院地质与地球物理研究所双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统采购项目 北京市-朝阳区 状态:公告 更新时间: 2022-10-10 项目编号:OITC-G220271559 发布时间:2022-10-10 项目概况 中国科学院地质与地球物理研究所双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统采购项目的潜在投标人应在http://www.oitccas.com/获取招标文件,并于2022年10月31日09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:OITC-G220271559 项目名称:中国科学院地质与地球物理研究所双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统采购项目 预算金额: 2050万元(人民币) 最高限价(如有):2050万元(人民币) 采购需求: 1、采购项目的名称、数量: 包号 货物名称 数量(台/套) 是否接受进口产品 1 双束电镜-飞行时间二次离子质谱联用系统 1 是 投标人须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。 2、技术要求详见公告附件。 合同履行期限:详见采购需求。 本项目不接受联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: 本项目不属于专门面向中小企业采购的项目。 依据工信部联企业【2011】300号文件,采购标的对应的中小企业划分标准所属行业为:工业 3.本项目的特定资格要求: (1)在中华人民共和国境内依法注册的,具有独立承担民事责任能力,遵守国家法律法规,具有良好信誉,具有履行合同能力和良好的履行合同的记录,具有良好资金、财务状况的企事业法人、其他组织或者自然人; (2)为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得参加本项目投标; (3)投标单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动; (4)按本投标邀请的规定获取招标文件; (5)投标人不得为列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商。 三、获取招标文件 时间:2022年10月10日 至 2022年10月17日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:http://www.oitccas.com/ 方式:登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/)注册并购买。 售价:¥600 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点: 2022年10月31日 09点30分(北京时间) 地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其它补充事宜 1、招标文件采用网上电子发售购买方式: (1)有兴趣的供应商可登陆“东方招标”平台(http://www.oitccas.com/)注册并购买。完成投标人注册手续(免费),然后登录系统浏览该项目下产品的“技术指标”,已注册的投标人无需重新注册。招标文件售价:每包人民币600 元。如决定购买招标文件,请完成标书款缴费及标书下载手续。 (2)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。 开户名称:东方国际招标有限责任公司 开户行:招商银行北京西三环支行 账 号:862081657710001 (3)投标人应在“东方招标”平台上填写开票信息。在投标人足额缴纳标书款后,标书款电子发票将发送至投标人在“东方招标”平台上登记的电子邮箱,投标人自行下载打印。 2、以电汇方式购买招标文件和递交投标保证金的,须在电汇凭据附言栏中写明招标编号、包号及用途(如未标明招标编号,有可能导致投标无效)。 3、采购项目需要落实的政府采购政策: (1)政府采购促进中小企业发展 (2)政府采购支持监狱企业发展 (3)政府采购促进残疾人就业 (4)政府采购鼓励采购节能环保产品 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:中国科学院地质与地球物理研究所 地址: 北京市朝阳区北土城西路19号 联系方式:李金华, 010-82998323 2.采购代理机构信息 名 称:东方国际招标有限责任公司 地 址:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室 联系方式:窦志超、王琪,010-68290523 3.项目联系方式 项目联系人:窦志超、王琪 电 话:下载010-68290523
  • 国务院:第二批对美加征关税商品第二次排除清单公布
    5月12日,国务院关税税则委员会发布关于第二批对美加征关税商品第二次排除清单的公告。根据《国务院关税税则委员会关于试行开展对美加征关税商品排除工作的公告》(税委会公告〔2019〕2号),经国务院批准,国务院关税税则委员会公布第二批对美加征关税商品第二次排除清单,对第二批对美加征关税商品,第二次排除其中部分商品,自2020年5月19日至2021年5月18日,不再加征我为反制美301措施所加征的关税。对已加征的关税税款予以退还,相关进口企业应自排除清单公布之日起6个月内按规定向海关申请办理。第二批对美加征关税的其余商品,暂不予排除。未列入第一批、第二批对美加征关税商品排除清单的商品,企业可根据《国务院关税税则委员会关于开展对美加征关税商品市场化采购排除工作的公告》(税委会公告〔2020〕2号),申请市场化采购排除。第二批对美加征关税商品第二次排除清单序号EX①税则号列②商品名称125070010高岭土225120010硅藻土325199091化学纯氧化镁425262020已破碎或已研粉的天然滑石525309020稀土金属矿626161000银矿砂及其精矿7ex26169000黄金矿砂8ex28046190其他含硅量>99.9999999%的多晶硅(太阳能级多晶硅、多晶硅废碎料除外)928100020硼酸1028181090其他人造刚玉1128401100无水四硼酸钠1228401900其他四硼酸钠13ex28439000贵金属汞齐14ex28439000其他贵金属化合物(不论是否已有化学定义),氯化钯、铂化合物除外15ex28444090其他放射性元素、同位素及其化合物(子目2844.10、2844.20、2844.30以外的放射性元素,同位素),含这些元素、同位素及其化合物的合金、分散体(包括金属陶瓷)、陶瓷产品及混合物。以下除外:铀-233及其化合物(包括呈金属、合金、化合物或浓缩物形态的各种材料);氚、氚化物和氚的混合物,以及含有上述任何一种物质的产品[氚-氢原子比 1‰的,不包括含氚(任何形态)量 1.48× 103GBq的产品];氦-3(3He)、含有氦-3的混合物(不包括氦-3的含量 1克的产品);发射α粒子,其α半衰期为10天或更长但小于200年的放射性核素(1.单质;2.含有α总活度为37GBq/kg或更大的任何这类放射性核素的化合物;3.含有α总活度为37GBq/kg或更大的任何这类放射性核素的混合物;4.含有任何上述物质的产品,不包括所含α活度小于3.7GBq的产品)1628459000税目2844以外的其他同位素及其化合物1728500012氮化硼1829032990其他无环烃的不饱和氯化衍生物1929033990其他无环烃的氟化、溴化或碘化衍生物2029051990其他饱和一元醇21ex290539901,3-丙二醇2229054400山梨醇序号EX①税则号列②商品名称23ex29159000其他饱和无环一元羧酸及其酸酐[(酰卤、过氧)化物,过氧酸及其卤化、硝化、磺化、亚硝化衍生物],茅草枯、抑草蓬、四氟丙酸和氟乙酸钠除外2429182900其他含酚基但不含其他含氧基羧酸及其酸酐等衍生物25ex29269090己二腈26ex29319000硫酸三乙基锡,二丁基氧化锡等(包括氧化二丁基锡,乙酸三乙基锡,三乙基乙酸锡)2729333100吡啶及其盐28ex29336990西玛津、莠去津、扑灭津、草达津等(包括特丁津、氰草津、环丙津、甘扑津、甘草津)2929371210重组人胰岛素及其盐3038030000妥尔油31ex38089400医用消毒剂3238112100含有石油或从沥青矿物提取的油类的润滑油添加剂3338180019经掺杂用于电子工业的,已切成圆片等形状,直径>15.24cm的单晶硅片3438180090其他经掺杂用于电子工业的化学元素,已切成圆片等形状;经掺杂用于电子工业的化合物355603129025g<每平米≤70g其他化纤长丝无纺织物365603131070g<每平米≤150g浸渍化纤长丝无纺织物375603139070g<每平米≤150g其他化纤长丝无纺织物38ex59119000半导体晶圆制造用自粘式圆形抛光垫3968042110粘聚合成或天然金刚石制的砂轮4068042190粘聚合成或天然金刚石制的其他石磨、石碾及类似品4168151000非电器用石墨或其他碳精制品4269091100实验室、化学或其他技术用陶瓷器4369091200莫氏硬度为9或以上的实验室、化学或其他技术用品4470071110航空航天器及船舶用钢化安全玻璃4573181510抗拉强度在800兆帕及以上的螺钉及螺栓,不论是否带有螺母或垫圈4674101100无衬背的精炼铜箔4774101210无衬背的白铜或德银铜箔4874102110印刷电路用覆铜板4975052200镍合金丝5075062000镍合金板、片、带、箔5175071200镍合金管序号EX①税则号列②商品名称5276082010外径不超过10厘米的铝合金管5381089040钛管5485013100输出功率不超过750瓦的直流电动机、发电机5585015200输出功率超过750瓦,但不超过75千瓦的多相交流电动机5685044014功率小于1千瓦,精度低于万分之一的直流稳压电源5785044091具有变流功能的半导体模块(静止式变流器)5885052000电磁联轴节、离合器及制动器5985073000镍镉蓄电池6085112010机车、航空器及船舶用点火磁电机、永磁直流发电机、磁飞轮6185113010机车、航空器及船舶用分电器及点火线圈62ex85143000电弧重熔炉、电弧熔炉和电弧融化铸造炉(容量1000-20000立方厘米,使用自耗电极,工作温度1700℃以上)6385168000加热电阻器6485177060光通信设备的激光收发模块6585258011特种用途的电视摄像机6685258021特种用途的数字照相机6785261010导航用雷达设备68ex85261090飞机机载雷达(包括气象雷达,地形雷达和空中交通管制应答系统)6985291010雷达及无线电导航设备用天线或天线反射器及其零件7085299050雷达设备及无线电导航设备用的其他零件7185371011用于电压不超过1000伏线路的可编程序控制器72ex85371090数字控制器(专用于编号84798999.59电动式振动试验系统)7385392120火车、航空器及船舶用卤钨灯7485392190其他卤钨灯7585394900紫外线灯管或红外线灯泡7685407910调速管77ex85437099飞行数据记录器、报告器7885439021输出信号频率小于1500兆赫兹的通用信号发生器用零件79ex85489000非电磁干扰滤波器注:①ex表示排除商品在该税则号列范围内,以具体商品描述为准。②为《中华人民共和国进出口税则(2020)》的税则号列。延伸阅读:中国公布第一批对美加征关税商品第二次排除清单
  • 2016海能新品“第五弹”:FCL35-20啤酒保质期测试仪“新鲜”上市!
    从南到北,近百种气候变化夏去冬来,数十度昼夜温差穿越时间,跨越空间只为举杯时,碰撞出不变的激情 世间一转眼,釜内已千年愿你,从未改变fcl35-20啤酒保质期测试仪“新鲜”上市继alc10黄曲霉毒素测定仪、soa100二氧化硫残留量测定仪、yundata智能空气管理系统、aac54酸逆流清洗器之后,2016海能新品“第五弹”——fcl35-20啤酒保质期测试仪“新鲜”上市!啤酒保质期测试仪主要应用于啤酒生产企业及质检单位,主要是利用高低温快速冲击原理模拟啤酒的变质过程,配合浊度仪或光度计测定啤酒保质期。fcl35-20啤酒保质期测试仪功能特点1、可根据用户自己的测试方法设置实验初始温度、恒温温度、恒温时间以及循环次数,仪器内部最多可存储999种测试方法。2、采用自动液位感应装置,当液位感应器检测到浴槽液位下降时会自动报警并自动切断电源。3、温度保护功能,当设定温度和实际温度之间温差大于5℃时自动报警并切断电源。4、采用快速加热及制冷功能,能够快速到达设定温度并保持稳定。5、温控精度 ±0.05℃ 显示分辨率 ±0.01℃。6、仪器标配2.4g和5g双频wlan无线模块,通过手机app即可操作仪器、实时监控仪器各项参数运行状态及仪器故障提示报警等功能,可同时连接多台仪器。7、不锈钢啤酒篮,最多可放置12瓶不同尺寸的啤酒,也可根据用户的需求定制啤酒篮。8、标配钢化玻璃透明浴槽盖,在测试过程中可观测到浴槽内部状态。9、采用可拆卸式进风口,方便用户日常清理。10、使用万向轮代替底角设计,方便搬运、移动及锁定。测试过程1、仪器出厂时内置标准啤酒保质期测定方法,默认值为恒温20℃后,快速升温至60℃保持24 小时,快速降温至0℃保持24 小时,升温至20℃提示检查浊度。以上过程为第一次循环,测试浊度后开始第二次循环,仪器可设置循环次数及自动记录循环次数,方便实验人员计算保质期。2、实验人员也可根据不用的测试需求任意设置温度测试程序。技术参数新鲜来一杯! 干杯!
  • 半导体硅片检测标准汇总 涉气相色谱、二次离子质谱等多类仪器
    p  span硅基半导体材料是目前产量最大、应用最广的半导体材料,90%以上的半导体产品都离不开硅片。/spanspan硅片行业是资金和技术密集型行业,垄断度极高,目前前四厂商市场占有率占比超过80%,分别是/spanspan日本信越、日本SUMCO、台湾环球晶圆、德国世创。/span/pp  硅元素是地壳中储量最丰富的元素之一,以二氧化硅和硅酸盐的形式大量存在于沙子、岩石、矿物中。硅从原料转变为半导体硅片要经过复杂的过程:首先硅原料和碳源在高温下获得纯度约98%的冶金级硅,再经氯化、蒸馏和化学还原生成纯度高达99.999999999%的电子级多晶硅。半导体材料的电学特性对杂质浓度非常敏感,而硅自身的导电性不佳,常通过掺杂硼、磷、砷和锑来精确控制其电阻率。一般,将掺杂后的多晶硅加热至熔点,然后用确定晶向的单晶硅接触其表面,以直拉生长法生长出硅锭,硅锭经过金刚石切割、研磨、刻蚀、清洗、倒角、抛光等工艺,即加工成为半导体硅片。根据制造工艺分类,半导体硅片主要可以分为抛光片、外延片、SOI 硅片等。根据半导体尺寸分类,半导体硅片的尺寸(直径)主要有 50mm(2 英寸)、75mm(3 英寸)、100mm(4 英寸)、150mm(6 英寸)、200mm(8 英寸)、 300mm(12英寸)等规格。目前硅片生产以8英寸和12英寸为主,其中8英寸硅片主要应用于电子、通信、计算、工业、汽车等领域,而12英寸硅片多用于PC、平板、手机等领域。/pp  在生产环节中,半导体硅片需要尽可能地减少晶体缺陷,保持极高的平整度与表面洁净度,以保证集成电路或半导体器件的可靠性。硅片检测要检查直径、厚度、弯曲、翘曲、缺陷、晶面、表面污染(有机物)、电阻率、晶面取向、氧碳含量、表面平整度和粗糙度、微量元素含量、反射率等。使用到的仪器有测厚仪、显微镜、XRD、气相色谱、X射线荧光光谱、二次离子质谱、电阻率测试仪等。/pp style="text-align: center "strong硅片测试国家标准/strong/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none" align="center"tbodytr style=" height:18px" class="firstRow"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pstrongspan style="font-family:宋体"标准编号/span/strong/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pstrongspan style="font-family:宋体"标准名称/span/strong/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T11073-2007/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片径向电阻率变化的测量方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T13388-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片参考面结晶学取向/spanspanX/spanspan style="font-family:宋体"射线测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T14140-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片直径测量方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T19444-2004/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片氧沉淀特性的测定/spanspan-/spanspan style="font-family:宋体"间隙氧含量减少法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T19922-2005/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片局部平整度非接触式标准测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T24577-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T24578-2015/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片表面金属沾污的全反射/spanspanX/spanspan style="font-family:宋体"光荧光光谱测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T26067-2010/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片切口尺寸测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T26068-2018/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片和硅锭载流子复合寿命的测试非接触微波反射光电导衰减法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T29055-2019/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用多晶硅片/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T29505-2013/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30701-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射/spanspanX/spanspan style="font-family:宋体"射线荧光光谱法/spanspan(TXRF)/spanspan style="font-family:宋体"测定/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30859-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30860-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T30869-2014/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T32280-2015/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片翘曲度测试自动非接触扫描法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T32281-2015/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定二次离子质谱法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T32814-2016/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅基/spanspanMEMS/spanspan style="font-family:宋体"制造技术基于/spanspanSOI/spanspan style="font-family:宋体"硅片的/spanspanMEMS/spanspan style="font-family:宋体"工艺规范/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T37051-2018/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6616-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法非接触涡流法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6617-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片电阻率测定扩展电阻探针法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6618-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片厚度和总厚度变化测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6619-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片弯曲度测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6620-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片翘曲度非接触式测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T6621-2009/span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片表面平整度测试方法/span/p/td/trtr style=" height:18px"td width="112" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspanGB/T29507-2013 /span/p/tdtd width="456" nowrap="" valign="middle" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="18" align="center"pspan style="font-family:宋体"硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法/span/p/td/tr/tbody/tablep  据 Gartner 预计,2017-2022 年半导体增速最快的应用领域是工业电子和汽车电子;预计2020年半导体发货总量将超过一万亿,其中增长率最高的半导体细分领域包括智能手机、汽车电子以及人工智能等。/pp  需要相关标准,请到a href="https://www.instrument.com.cn/download/L_5DBC98DCC983A70728BD082D1A47546E.htm" target="_self"仪器信息网资料中心/a查找。/p
  • 清华大学498万元招标购买1套飞行时间二次离子质谱仪,允许进口
    5月25日,清华大学公开招标购买1套飞行时间二次离子质谱仪,预算498万元。 项目编号:清设招第2021085号  项目名称:清华大学飞行时间二次离子质谱仪  预算金额:498.0000000 万元(人民币)  采购需求:包号名称数量是否允许进口产品投标采购预算(人民币)01飞行时间二次离子质谱仪1套是498万元  设备用途介绍 :  用于对材料表面进行超高质量分辨的元素和分子结构的质谱分析, 获得定性和定量的材料最表面的化学组成信息。将用于有机与无机材料、金属、半导体、陶瓷、催化剂、生物组织、药物、薄膜、涂层、土壤颗粒及纳米材料等的化学成分表征。  简要技术指标 :  1)液态金属离子源加速电压:30keV  2)离子束流:40nA  3)飞行时间质量分析器质量范围:1~12000amu  合同履行期限:交货时间:合同签订后6个月内  本项目( 不接受 )联合体投标。  开标时间:2021年06月15日 09点00分(北京时间)
  • 当WITec共聚焦系统遇见非线性二次谐波(SHG)成像
    WITec共聚焦拉曼系统采用模块化设计,拥有强大的性能扩展空间,有利于多种显微光学技术的联合分析测试。近来,华中科技大学翟天佑教授课题组将超快fs激光引入到alpha 300R共聚焦拉曼显微镜,如下图a。利用拉曼系统的高共聚焦性,实现二维层状材料MoS2的衍射极限SHG非线性光学成像,如下图c。对比光学图像b,SHG图像提供了非常丰富的样品生长取向与晶界等信息,如光学图像不可见的晶界1,晶畴i与ii区域。二维层状材料MoS2的衍射极限SHG非线性光学成像 a) SHG显微成像系统光路示意图:800 nm fs脉冲激光为SHG激发源;拉曼光谱系统探测400 nm二次谐波强度. b) CVD生长的单层MoS2. c)MoS2的SHG图像,提供了非常丰富的样品生长取向与晶界等信息,如光学图像不可见的晶界1,晶畴i与ii区域。d) SHG与光学图像叠加图,可明显观测到样品晶界与晶畴的空间分布。结合了SHG非线性成像, alpha300R共聚焦拉曼系统进一步扩展了自身的功能与应用领域,在同区域的拉曼、荧光及非线性光学(SHG, THG, TPPL等)多种成像联用方面表现出极大的技术优势,非常有利于全面理解与掌握样品的晶格振动、晶格取向、晶界及发光等重要性质。另附:2014年宾夕法尼亚州立大学Prof.Venkatraman Gopalan在alpha300R系统上自行搭建SHG成像系统,并应用于传统铁电材料的热致相变与边界分析,该工作发表在NatureCom.( DOI: 10.1038/ncomms4172)。铁电材料BaTiO3单晶SHG成像分析二次谐波(也被称为倍频或简称SHG)是一种非常重要的二阶非线性光学效应。两个相同频率光子(w0)与物质相互作用后淬灭,产生一个两倍频率的新光子(2w0),属于和频非线性效应中的一种。SHG二阶效应产生机制要求物质及晶体结构不具备中心对称性。目前,通过与共聚焦光学显微镜联用,二维/三维二次谐波成像(SHG imaging)是非常热门的成像技术,并已广泛应用于众多领域。在材料方面,SHG成像可以用于探索材料晶体取向、对称性与界面效应等,如传统非对称性的铁电材料(BaTiO3等)的热致相变问题;新型磁性拓扑绝缘体(Bi2Se3等)的晶格对称性与表面电荷;多相催化与晶体外延生长(MoS2)等。SHG成像技术在生物医学领域的潜在应用也受到广泛关注,如高度极化的胶原蛋白,微管,肌球蛋白、活体细胞与组织的病理分析。由表面等离子体(plasmonics)金属微纳米结构或电磁场的不对称性引起的SHG非线性效应也是该领域的研究热点。
  • 华中科技大学1100万元招标购买1套双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统
    6月10日,华中科技大学公开招标,购买1套聚焦离子/电子双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统,预算1100万元。  项目编号:WHCSIMC2021-1308316ZF(H)  项目名称:华中科技大学聚焦离子/电子双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统采购项目  预算金额:1100.0000000 万元(人民币)  最高限价(如有):1100.0000000 万元(人民币)  采购需求:  1.本次公开招标共分1个项目包,具体需求如下。详细技术规格、参数及要求见本项目招标文件第(三)章内容。  第1包:  (1) 项目包编号:1  (2) 项目包名称:聚焦离子/电子双束电镜与飞行时间二次离子质谱仪联用系统  (3) 类别:货物  (4) 数量:1台/套  (5) 简要技术要求:详见招标文件  (6) 采购预算:1100万元人民币  (7)交货期:合同签订后六个月以内货物送至指定地点。  (8)质保期:整机及所有第三方厂商软硬件提供五年的免费保修,保修期内设备的零备件费用、人工费用和差旅费用等所有费用(耗材费用除外)均由卖方承担,保修期自验收合格签字之日起计算。仪器保修期内、或保修期外在不涉及仪器硬件升级或维修的条件下,对软件提供免费升级服务。  (9)其他:接受进口产品  合同履行期限:交货期:合同签订后六个月以内货物送至指定地点 质保期:整机及所有第三方厂商软硬件提供五年的免费保修,保修期内设备的零备件费用、人工费用和差旅费用等所有费用(耗材费用除外)均由卖方承担,保修期自验收合格签字之日起计算。仪器保修期内、或保修期外在不涉及仪器硬件升级或维修的条件下,对软件提供免费升级服务。  本项目( 不接受 )联合体投标。  开标时间:2021年07月01日 09点30分(北京时间) 项目报名表.docx
  • 中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议圆满召开
    p  strong仪器信息网讯/strong 2019年3月30日, 中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议在北京友谊宾馆贵宾楼召开。会议由中国仪器仪表学会副理事长吴朋主持,出席会议理事113人,监事会及各分支机构秘书长列席了本次会议。仪器信息网作为支持媒体和理事单位参加了本次会议。/pp  此次会议听取了中国仪器仪表学会张彤副理事长兼秘书长做的《2018年工作总结和2019年工作重点报告》 中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华向大家宣读了法人委托函 中国仪器仪表学会秘书处财务总监郝英俊向理事们通报了《2018年中国仪器仪表学会财务报告》。大会审议表决通过了增补郭云彩、李彤、徐地华三位同志为中国仪器仪表学会第九届理事会理事的议案。随后,中国仪器仪表学会副秘书长张建向理事们宣贯了《面向建设世界科技强国的中国科协规划纲要》 张彤副理事长兼秘书长宣读聘任张建、沙旋两位同志为学会秘书处副秘书长。最后由上海交通大学仪器系主任崔大祥教授向理事们介绍了承办2020学会学术年会的情况。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/d6df3d88-ce98-4e3e-bbc9-1a993abc0c0f.jpg" title="图1.jpg" alt="图1.jpg"//pp style="text-align: center "  会议现场/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/e43159c4-6c5c-46dd-a40a-d3e4f8ccdac2.jpg" title="图2.jpg" alt="图2.jpg"//pp style="text-align: center "  中国仪器仪表学会张彤副理事长兼秘书长作《2018年工作总结和2019年工作重点报告》/pp  报告从“数字看2018”、“会员组织力”、“学术引领力”、“战略支撑力”、“科普传播力”、“国际影响力”六大方面对中国仪器仪表学会2018年的工作作了总结。2018年中国仪器仪表学会的工作可谓是硕果满满,在2018年,中国仪器仪表学会获得了中国科协“世家一流学会建设项目”二等奖,学会党支部被中国科协科技社团党委评为“九星”级党组织。2019年,中国仪器仪表学会将从学会内部建设、会员服务产品以及学术活动等多方面继续开展工作。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/f9874277-c08a-41bd-aa5b-7fadba99817b.jpg" title="图3.jpg" alt="图3.jpg"//pp style="text-align: center "  中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华宣读法人委托函/pp  中国仪器仪表学会名誉副理事长吴幼华受中国仪器仪表学会理事长尤政委托宣布中国仪器仪表学会副理事长兼秘书长张彤担任中国仪器仪表学会法定代表人。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/2a1d5492-ff11-4bfd-b15c-e457b7bb9ab7.jpg" title="图4.jpg" alt="图4.jpg"//pp style="text-align: center "  中国仪器仪表学会秘书处财务总监郝英俊作《2018年中国仪器仪表学会财务报告》/pp  报告中指出,2018年中国仪器仪表学会会费收入占总收入的比例偏低,在对项目资金管理上的监管以及对分支机构的财务管理监督缺乏力度,2019年将会针对现存问题不断作出完善。/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/aea32967-c000-4d3d-82b6-f1a6e04dd91a.jpg" title="图5.jpg" alt="图5.jpg"//pp  中国仪器仪表学会副秘书长张建宣贯《面向建设世界科技强国的中国科协规划纲要》/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/348f2447-91a9-43bf-bda2-91aed2cd7699.jpg" title="图6.jpg" alt="图6.jpg"//pp style="text-align: center "  上海交通大学仪器系主任崔大祥教授/pp  崔教授在会议上作了《申请承办中国仪器仪表学会2020年会暨仪器院长论坛汇报》,最终会议现场以掌声表决通过上海交通大学承办中国仪器仪表学会2020年学术年会。/pp  至此,中国仪器仪表学会九届二次理事(扩大)会议圆满完成各项议程!/p
  • 北京市第二次全国污染源普查工作全面启动
    p  2018年3月7日,北京市人民政府组织召开北京市第二次全国污染源普查启动会议,发布《北京市第二次全国污染源普查实施方案》,明确了普查时点、对象、范围和内容,并部署安排下一步工作,这标志着我市第二次全国污染源普查工作全面启动。/pp  会上,北京市第二次全国污染源普查领导小组组长、北京市副市长杨斌强调,一要提高政治站位,深刻认识污染源普查工作的重要意义。深入学习贯彻党的十九大精神,以习近平新时代中国特色社会主义思想为指引,牢牢把握新时代特征,全面准确统计污染源普查数据,为打赢污染防治攻坚战奠定基础。二要严肃落实责任,建立健全污染源普查的工作体系。各区、各部门要严格按照污染源普查实施方案要求,充分发挥各方优势,有序、有力、有效做好各项工作。三要严明普查要求,确保污染源普查数据真实准确。坚持依法依纪普查,严格工作标准,做好补充专项调查。四要着眼长效机制,扎实做好污染源普查后续工作。坚持系统的思维、发展的眼光,来认识、推进污染源普查后续工作,强化成果运用。/pp  环境保护部第二次全国污染源普查工作办公室主任洪亚雄参加会议并讲话,对北京市第二次全国污染源普查前期准备工作表示肯定并对下一步普查工作提出明确要求。他表示北京地位重要,工作有指向性,污染源普查前期工作扎实,成效突出。北京是继内蒙、江西之后全国第三个召开工作启动会的省份,会议自上而下,直接部署到全市街乡镇层面,责任层层落实到位,效果非常好。希望能够保持良好势头,按照国务院统一部署,进一步统一思想,提高认识,突出抓好重点工作任务,全面落实普查工作要求,确保普查工作有序推进,继续发挥牵头带动作用。/pp  全国污染源普查每十年一次。此次普查将全面、系统、准确地掌握本市各类污染源的数量、结构和分布状况,掌握区域、流域、行业污染物产生、排放和处理情况,建立健全重点污染源档案、污染源信息数据库和环境统计平台,为改善本市环境质量、防控环境风险、决胜全面建成小康社会和建设国际一流和谐宜居之都提供依据和支撑。/pp  此次普查标准时点为2017年12月31日,时期资料为2017年度资料。普查对象为本市行政区域内有污染源的单位和个体经营户。普查范围包括工业污染源,农业污染源,生活污染源,集中式污染治理设施,移动源及其他产生、排放污染物的设施。基于我市以环境质量改善为目标的城市管理和污染防治需要,结合北京实际,在国家普查内容的基础上增加相关专项补充调查。我市污染源普查工作分为“前期准备、清查建库、全面普查、总结发布”四个阶段,宣传动员、质量保证贯穿实施全过程。2017年开展前期准备等工作,2018年完成前期准备、清查建库和深入开展普查工作,2019年完成工作总结并发布普查结果。/pp  按照“国家统一部署,市、区分级负责,部门分工协作,街乡镇组织实施,各方共同参与”的基本原则,普查质量管理覆盖普查全过程。各行业主管部门要按照各自环境保护工作职责做好污染源普查工作,各级政府要对各自辖区内污染源普查质量和结果负责,多方配合,分级负责,实现本市污染源普查工作的精细化、全面化和高效化管理。/p
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