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涡流式测厚仪

仪器信息网涡流式测厚仪专题为您提供2024年最新涡流式测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括涡流式测厚仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的涡流式测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合涡流式测厚仪相关的耗材配件、试剂标物,还有涡流式测厚仪相关的最新资讯、资料,以及涡流式测厚仪相关的解决方案。

涡流式测厚仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • PosiTest DFT 测厚仪
    PosiTest DFT 测厚仪 以下行业使用效果理想 粉末涂料 涂装员 涂层检测员 涂装承包商 汽车修补行业 2种型号&hellip Ferrous (F型针对铁性基材) Combo(复合型针对所有金属基材) 就是测量 PosiTest DFT 涂层测厚仪 两款型号 PosiTest DFT Ferrous: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层 PosiTest DFT Combo: 测量铁性基材(钢和铸铁)上的非磁性涂层和有色金属(铜,铝等)上绝缘涂层。测量时自动分辩底材。 仪器特点 测量快速,重复性好 大部分材料上无需校准 调零功能可应用在粗糙不平的表面及曲面上 无法调零时可使用方便的重启功能 坚固耐磨损的红宝石探头 测量时听觉和视觉的双重指示 探头上的 V 型槽方便测量圆柱型表面 密尔 / 微米单位转换 每个仪器的背面都有基本的操作说明 仪器规格 测量范围 0 - 40 mils 0 - 1000 um 精 度 ± ( 0.1mils + 3%) ± ( 2um + 3%) 尺 寸 4 × 1.5 × 0.9 in 100 × 38 × 23mm 重 量 2.5 oz 70 g 仪器包括 内置探头,标准塑料片,坚固的存放盒,1 x AAA 电池,说明书 和 一年质保 符合以下标准: ISO2178 / 2360 / 2308 prEN ISO19840 ASTM B244 / B499 / B659 / D1186 / D1400 / E376 / G12 S3900-C5 SSPC-PA2 及其他。
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • 超声波测厚仪DM4
    超声波测厚仪DM4 Krautkramer超声波测厚仪DM4系列,小巧轻便,操作简单,功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6~300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm;大于99.99mm时为0.1mm; 1000~9999m/s 标准4Hz,最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池,无背光时可使用200小时 -10~50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2~200mm 5MHz 12.1mm -20~60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0~300mm 2MHz 16.2mm -20~60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6~50mm 10MHz 7.5mm -20~60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7~12mm 10MHz 3.0mm -20~60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0~60mm 5MHz 16.2mm 10~600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0~254mm 5MHz 12.7mm 10~540℃ 50mm KBA535 注: 所示温度为厂家理想状态试验所得,实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱
  • DM4超声波测厚仪
    德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍: 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列,小巧轻便,操作简单,功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式,在被测物表面有油漆时,无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品,质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数:   测量范围 0.6~300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm;大于99.99mm时为0.1mm; 声速 1000~9999m/s 声速 标准4Hz,最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池,无背光时可使用200小时 操作温度 -10~50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535
  • JX20系列电涡流位移传感器
    电涡流位移传感器(以下简称传感器)能测量被测体(必须是金属导体)与探头端面的相对位置。由于其非接触测量、长期工作可靠性高、灵敏度高、抗干扰能力强、响应速度快、不受油水等介质的影响,常被用于对大型旋转机械的轴位移、轴振动、轴转速等参数进行长期实时监测,可以分析出设备的工作状况和故障原因,有效地对设备进行保护及进行预测性维修。可测量位移、振幅、转速、尺寸、厚度、表面不平度等。从转子动力学、轴承学的理论上分析,大型旋转机械的运行状态主要取决于其核心&mdash &mdash 转轴,而电涡流位移传感器能直接测量转轴的状态,测量结果可靠、可信。 第一节 简介 JX20系列电涡流位移传感器的领先科技: 1、&ldquo 线圈最佳温度稳定性参数匹配&rdquo 技术保证良好的探头温度稳定性; 2、采用新型PPS工程塑料通过&ldquo 二次注塑&rdquo 工艺,保证良好的探头密封性、尺寸稳定性和互换性,工作温度范围扩展到-50℃~+175℃; 3、&ldquo 变形联接&rdquo 工艺组合,更高探头强度、可靠性; 4、&ldquo 深度负反馈稳定谐振回路&rdquo 技术,使前置器稳定性达到(0.05%/℃,0.02%/年); 5、按美国军用规范设计生产,前置器可在-50~+105℃环境下长期连续工作; 6、前置器电路采用容错设计,保证任意接线错误不会损坏; 7、前置器采用最新电子技术,功耗低于12mA; 8、前置器壳体采用压铸工艺、高频插座内凹及接线端子镶嵌保护、工程塑料隔离绝缘等结构,使前置器更加坚固、安装使用更加方便; 9、先进的电涡流位移传感器相频特性的测试和控制方法,使JX20系列产品在动态特性方面处于国际领先水平。 应用领域: 正广泛应用于电力、石油化工、冶金等行业的汽轮机、水轮机、发电机、鼓风机、压缩机、齿轮箱等设备的位移、振动、转速、油膜厚度等参数的在线监测与故障诊断。
  • PosiTector 6000型测厚仪
    PosiTector 6000型 测厚仪,适用于金属基材 大型易读液晶显示,菜单式使用者界面 即时自动设定 3键式操作 自动关机,连体探头式,还可自动开机 平均置零,利于在粗糙面上置零 重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 仪器背面有简要说明 耐 用 耐磨的蓝宝石探头 耐酸、耐油、耐溶剂、 防尘、防水 读数不受振动影响 一年保修期 精 确 每台仪器都有校准证书,符合NIST标准 可达到极高的精度(请参阅背页的订货指面) 可提供校准程序和标准板 符合美国和国际标准 性能卓越 密耳/微米/毫米(Mils/Microns/mm)单位转换 易于调整到任意已知厚度 多种探头 多国显示语文: 英文、西班牙文、法文、德文、葡萄牙文、意大利文、日文、中文背景发亮的显示屏,在黑暗的环境使用更觉方便 灯光提示: 便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果。 反转显示:独有的反转显示,无论手持测厚仪还是放置在工作台上,阅读都很方便。 连体探头: 便于单手操作 标准型(1)具有左边所列的所有特点。 统计型(2)具有标准型所有功能,且读数超出设定范围时有声光提示。 测量时不断更新和显示平均值、标准偏差、最大/最小厚度值及测量次数 HI-RES模式:高精度测量时可增加读数分辨率 可设定内部自动关机时间 储存多至250个读数 内置红外线界面,可打印至廉价的无线红外打印机 分离探头 各款探头可互,提供更多样化的测试。 标准版 可在多种不同厚度上验证仪器 出自NIST的标准 包含有校准证书 配备安全、方便的贮存袋 记 忆 远红外打印机和PosiSoft软件只在记忆型中可用。 建立/注释/编辑分组、零件、操作者、应用名称等可存入仪器记忆中。 存贮达16000个数据,可分为最多1000组 配备RS-232连线可将数据输入Windows平台的电脑,串行打印机或数据收集仪等。 奉送PosiSoft分析软件,在Windows平台的电脑上运行。 内置式远红外打印接口接打印机。 PosiSoft 软件-在 Windows 上运行,功能强大,易学易用。当选择记忆型时,软件无需额外费用,随机奉送。 从PosiTector 100型读取数据容易。 用该仪器及可修改电脑用户、零件分组及建立说明、解释等。 显示、资料、图形数据等可达5层膜厚。 图表可表示单个涂层也可显示总厚度。 可打印基本图表及柱形图。 提供数据和时间资料。 使用一般格式如ASCⅡ可将数据存入电脑。 理想的涂层厚度监控及分析应用软件。 记忆型 (3) 具有 (1) 和 (2) 型功能,且 储存10000个读数,可分成200组 SSPC PA-2功能,计算一组平均读数的平均值 读数可即时输出,也可先行储存待日后处理 提供用于Windows环境的PosiSoft统计分析软件 提供RS-232串行线,用于向个人电脑、串行打印机或数据采集器输送数据 可储存多种不同较准数据以配合测量各款不同基材 储存在记忆里的各组读数,可再分细组、查阅、更新或删除 ] 内置时钟,每个储存的读数均加上日期和时间标签 PosiSoft for Windows 功能强大 使用简单 订购记忆型(3)随机附送 易于从仪器收集数据 可输入提示说明 显示和打印图表 使用通用格式储存数据如ASCII码 方便监视和分析膜层厚度支援多种语文 分离探头 各款分离探头可互换 每个分离探头均附可追溯至NIST的证书 镀金的耐用带锁接头适用于工业环境 优质柔性防破损连线 加长线(可达75米)便于远程测量 所有标准探头均可在水下使用 所有恒压探头均采用V型槽和倒角定位便于测量管子里外 微型探头(铁性基材或有色金属)用于细小及难到达的表面,有0o 、45° o、90° o三种配置各种不同的探头可适用极广的应用范围° 可拆卸的辅助器 微型探头转换为恒压° 可将0 探头,测量细小的平面或曲面 无线打印机 (2) 型或 (3) 型机无须接头或连线便可将数据传递给红外线打印机 ( 电池驱动 / 谦价的选购件 ) 独特的复合型(FN)探头 不须更换探头可测量所有金属表面 自动识别铁/有色金属表面 减少误操作影响 可测量钢上的镀锌层,铝上的氧化膜,金属上的涂层、钢上的铬层等等。 特有的&ldquo N-LOCK&rdquo 功能可测量略带磁性基材,如镀镍的铜基材镀金层上的透明涂层 提供连体探头和分离探头配置 测量粉末涂层的理想之选 记忆型(3)仪器,在分组模式下的显示样本 测量读数可分 ( 至 200) 组 Batch1 Cal n50 21.00x 3.61 &sigma 42.0x 20.1 &darr F 20.1 显示 铁/有色金属基材 多用途: 从微小元件的薄镀层、、、、到大尺寸的厚涂膜 探头/ 部件固定基座、、、确保测试零部件时,可准确的重覆定位 双重用途探头盖 连体探头型号的探头保护盖带有 V 型槽 , 在敞开时使仪器测量时更为稳定。 &larr 多个基材较准资料 &larr 即时统计资料 &larr 字体大,醒目的测量读数 订货指南 探头(每个仪器仅带一个探头,需要额外探头需另行购买) 大量程 NHS 大量程 FHS 所有仪器包括 : 有皮带扣的、标准塑料片、3节AAA电池、使用说明书、手带(只限连体探头型号)、证书(NIST)、一年期保修。 记忆型( 3) 还包括 : 用于Windows平台的统计及分析软件PosiSoft,RS-232接线及携带箱。 加长线(可达 75m/250ft )适于水下或远程测量,请在订货时注明。 尺寸 : 147x61x5mm(5.8x2.4x1寸) 重量 (不带电池): 170g(6盎士) 符合以下标准 : ISO 2178 /2360 / 2808 prEN ISO 19840, ASTM B499 /D1186 /D1400 BS3900 Part C5 SSPC-PA2及其他.
  • PosiTector 200型 测厚仪
    PosiTector 200型 测厚仪,适用于木材、混凝土、塑料等基材 用于测量木材、混凝土、塑料等基材上涂层厚度。 高级型:最多测量3层并带有图形显示 应用成熟的超声波技术在许多行业无损测量涂层厚度,如混凝土、木材、复合材料等 价格低廉 使用简单 非破坏性 PosiTector 200 超声波测厚仪使用简单,价格低廉而且是非破坏性。可用于测量木材,混凝土及其它基材上涂层厚度。 简 单 直接测量,测量大多数涂层时无需调校 菜单操作 双色指示灯,适于嘈杂环境 重置功能可以即时恢复出厂设置 耐 用 耐溶剂、酸、油、水和灰尘,防护等级满足或超出IP5X 显示屏耐划伤/溶剂,适用于恶劣环境 防震保护橡胶皮套,带皮带夹 主机与探头两年保修 精 确 灵敏传感器,使测量迅速且准确(最多40个读数/分钟) 成熟的无损超声波技术,符合ASTM D6132与ISO 2808标准 校准证书可追溯NIST 多种功能 连续显示/更新平均值、标准偏差和测量次数 内部存储最多10000个数据,最多可分1000组 内置时钟可对存储的结果标注时间、日期 输出提供USB、红外和串行接口,可与打印机和电脑进行简单通讯 背光显示,可用于阴暗环境 英制/公制两种单位,可相互转换 多种显示语文选择 可选配件 - 标准片&mdash &mdash 符合 ISO 和其它质量标准 - PosiSoft 分析软件: 可以输入注释 可以打印和显示基本的数据分布图和直方图 可以输出到一个文件或试算表中 提供连接打印机和计算机的数据线 红外打印机 - 使用电池和红外线接收数据 整套包括 耐用的携带,3节AAA电池、说明书、具有NIST可追朔性的校准证书,保修一年。 尺寸: 146 x 64 x 31mm 重量: 105g(不含电池) 1. 阅读容易,防划花,液晶显示 2. 指示灯在噪音环境中,方便确认读数 3. 红外线接口用于无线打印 4. RS232 接口用于下载 5. 坚固外壳,耐溶剂、酸、油、水和灰尘 6. 压力恒定,探头测量面为塑料,不会划伤测量面 7. 舒适把手,减少操作人员的疲劳 8. 柔软连接线 技术参数 B/标准 B/高级 C/标准 C/高级 量 程 13-1000um 0.5-40mils 25-1000um 分辨率 0.1mils 2um 精度 ± 0.1mils + 3% 读数 ± 2um +3% 读数 测量速度 45 读数 / 分钟
  • SKCH-1(A)精密测厚仪
    SKCH-1(A)精密测厚仪是一种结构简单、价格低廉、高精度的测量装置,主要用于各类材料厚度的精密测量,也可用于其它物品的高度与厚度测量。主要特点 1、采用精密花岗岩工作平台,精度等级为“00”级。2、千分表精度等级为一级。技术参数测量精度:0.001mm 产品规格尺寸:200mm×150mm×320mm
  • 特制涡流传感器
    特制涡流传感器经常需要对标准的涡流传感器进行修改,特别是修改小型和大型系列。因此,我们将根据您的具体要求修改测量系统,例如:修改电缆,传感器材料和设计,和修改控制器。比如,系统集成商经常要求带内有集成电子的微型箱的传感器,或是特殊的传感器设计。请联系我们,我们很高兴为您提供建议。特制涡流传感器可用选项修改底座距离和测量范围 传感器和控制器的外壳和安装选项 传感器耐压力高达2000bar 单独的电缆长度 微型设计的传感器 具有集成或独立电子元件的传感器 线圈、外壳和电路板的各种制造材料 与用户目的专门协调
  • 瑞美RM300EC/瑞美RM310EC测厚仪X射线总成
    Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成,西安威思曼高压电源有限公司推出,欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪(是安装在镀锌线的出口处)能够对钢带的金属涂层(涂层成分:锌,锌/镍,锌/铝,铝,锡,铅)重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息,请致电 086-029-33693480或访问其网站: www.wismanhv.com  威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证,公司拥有出色的高压电源研发团队,完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术,完善的零电流谐振技术,使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小,损耗小,效率高,长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力,是OEM应用的理想选择。   威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商,同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器,实验室以及海底光纤等设备。集设计,生产和服务为一体的工厂分布于美国,英国,及中国等地,并且我们销售中心遍布于欧洲,北美洲以及亚洲,我们将竭诚为您服务!
  • 涡流传感器eddyNCDT-3010
    涡流传感器eddyNCDT-3010的温度范围为-50℃至150℃,涡流传感器eddyNCDT-3010在环境温度波动情况下,稳定的输出信号对得到可靠的测量至关重要。 涡流传感器eddyNCDT-3010采用专利温度补偿法,可以提供一种独特的热稳定性。 涡流传感器eddyNCDT-3010规格 测量范围(mm):0.5 | 1 | 2 | 3 | 6 | 15 最高分辨率0.025μm 最大线性0.00125mm 主动温度补偿 极高可重复性 OEMs的理想传感器 高分辨率
  • 涡流传感器eddyNCDT-3700
    涡流传感器eddyNCDT-3700是多功能涡流传感系统,涡流传感器eddyNCDT-3700非常适合工厂工业生产中机器监视和检修,测量和测试等高分辨率位置检测应用。涡流传感器eddyNCDT-3700规格 测量范围(mm):0.5 | 1 | 1.5 | 3 | 6 最高分辨率 0.09nm 最大线性0.0025mm 小型化设计 OEMs的理想传感器 可定制
  • 涡流传感器eddyNCDT-3300
    涡流传感器eddyNCDT-3300是一个多功能涡流传感器系统,涡流传感器用于工厂自动化工业用,机器监测,检验以及测量和检验。一个影响传感器信号的新型现代化控制器已经出现,用户可以选购。 涡流传感器eddyNCDT-3300规格 测量范围Measuring ranges (mm):0.4 | 0.5 | 0.8 | 1 | 2 | 3 | 4 | 6 | 8 | 15 | 22 | 40 | 80 最高分辨率Resolution max. 0.02μm 最大线性Linearity max. 0.008mm 具有液晶图形显示器的多功能控制器 IP67 的强大的传感器 可存储配置多达3个 带宽高达100kHz 传感器适用于几乎所有应用
  • 涡流传感器eddyNCDT-ECT
    涡流传感器eddyNCDT-ECT的制造采用了ECT技术,使用时带来许多便利。由于涡流传感器eddyNCDT-ECT设计微型化,并且采用无机材料构造,所以传感器的外部设计和的形状可以是各种各样的。因此,电容(ECT)传感器可以很容易地调整,以适应特定的安装要求。涡流传感器eddyNCDT-ECT特点使用特殊材料,传感器具有高温稳定性和长使用寿命。可以根据需求将完整的评估电子装置集成在传感器。ECT传感器适用于非常恶劣的工作环境。在有强烈的振动或冲击,高温度高达350℃,在电磁场或在真空条件下的应用中使用。涡流传感器eddyNCDT-ECT应用巨型望远镜上的镜段对准 超高真空环境下制造半导体 测量造纸厂炼油机上的研磨间隙涡流传感器eddyNCDT-ECT可用选项超长期稳定性 温度过程再现性好 机械强度超高 高达350°C的高温 用于超高真空和洁净室 可以调节以满足客户的特殊要求
  • 班通科技面桶标准片铜厚测试仪校准
    面铜测厚仪校准专用,CMI165 MM615 T60都适用
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 北京时代超声波测厚仪TIME2132
    奥淇科化致力为科研单位打造一站式采购平台。 在库品规三十余万种,含盖玻璃、试剂、仪器、耗材配件等。 店铺未上架产品请联系客服。
  • 一六仪器 标准片 其他X射线仪配件
    校正片又称标准箔、膜厚片,通用于所有x射线镀层测厚仪,本公司标准片规格齐全,可送检第三方出具CNAS证书,为仪器精准测试保驾护航
  • 5毫米带翅片的涡流塞
    详情联系销售
  • 流式细胞仪配套试剂盒
    多种流式细胞仪试剂盒提升您的分析能力使用 Luminex 流式细胞仪试剂盒扩展您在细胞计数、细胞活力、细胞健康及细胞信号研究方面的能力Luminex提供的各种流式检测试剂盒都经过了严格的优化,缩短了样品制备时间, 最大限度地减少建立检测方法所需的时间和精力,便于进行数据分析。与其他品牌流式检测试剂盒相比,路明克斯公司的流式细胞仪试剂盒在检测过程中需要的洗涤和孵育步骤更少,非常适合检测细胞活力、细胞周期、DNA 损伤 、线粒体健康、细胞凋亡指数和细胞自噬等。 所有的试剂盒均在传统的基于鞘液的流式细胞仪上进行过跨平台测试。相关试剂盒 Amnis® 细胞成像试剂盒可用于重要的细胞途径和药物发现应用。 Amnis成像流式细胞仪可在两个平台上使用:FlowSight® 成像流式细胞仪和ImageStream® XMk II成像流式细胞仪。我们的专家随时为您的研究和实验室需求提供最佳工具。Guava® 和Muse® 流式细胞仪试剂盒设计用于分析细胞事件和/或细胞表型。每个试剂盒都具有独特的直接偶联抗体和/或荧光染料和蛋白报告基因的组合,以监测蛋白表达,蛋白定位和/或翻译后修饰的变化。使用这些表格找到适合您的应用或仪器的最佳试剂盒。如需了解更多信息欢迎留言或访问Luminex官网
  • GPC-50A精确磨抛控制仪
    GPC-50A精确磨抛控制仪简称磨抛控制仪,主要用来控制被研磨样品表面的平面度和平行度,使磨抛后的样品具有高的尺寸精度和质量优良的表面状态。磨抛控制仪采用质量优良的不锈钢材料制成,外形美观,制造工艺精湛,主要适用于UNIPOL-802研磨抛光机上。GPC-50A精密磨抛控制仪是工件进行磨抛时不可缺少的精密器具,尤其适用于对表面质量要求高的小尺寸薄片样品,磨抛控制仪专用载样块用螺纹与控制仪相连接,样品采用粘附的形式装卡在载样块上,载样块承载样件直径不大于50mm、厚度不大于10mm。可严格控制被磨样品表面的平行度和平面度,控制准确度高。研磨过程中可搭配数显测厚仪使用,随时观测样品磨削量,尤其适用于表面平行度和平面度及样品厚度要求高的样品研磨使用。产品名称GPC-50A精确磨抛控制仪产品型号GPC-50A安装条件1.本设备要求在海拔1000m以下,温度25℃±15℃,湿度55%Rh±10%Rh下使用。2.水:配水源。3.电:无。4.气:无。5.外形尺寸:φ89mm*154mm6.通风装置:需要。主要参数1、载样盘直径:Ø 52mm2、载样盘轴向行程:10mm(分度螺母移动一格,载样盘轴向移动0.025mm)3、数显表精度:0.001mm4、载样盘部分空载压力:500g5、承载样件尺寸:直径≤50mm、厚度≤8mm产品规格尺寸:外径89mm,高154mm标准配件配重砝码(共400g)可选配件配重块(25g、50g)
  • HL191消防产品现场检测箱
    消防产品现场检测类装备HL191消防产品现场检测箱,消防器材判定箱HL191消防产品现场检测箱依据《GA588-2012消防产品现场检查判定规则》研制,用于现场检查消防产品,市场准入检查,产品一致性检查和现场产品性能检测的检查项目,技术要求判定等,为消防产品现场检查判定提供了技术依据。北京朋利驰科技有限公司朋利驰品牌消防检测箱成套系列YW10火灾报警系统功能检测箱自动喷水系统、消火栓系统功系统功能检测AH-S11C/D/E学校消防检查箱VC11C1/D1/E1公安派出所消防监督检查箱VC11F防火涂料检测箱VC12建筑消防设施检测箱VC12J消防工程检测箱JXJ12,HL-601、JXJ12J建筑消防设施检测箱EA12建筑消防设施检测系统VC13A(JKY-III)防火检查与火灾勘查仪器箱VC13B(HJY-III)防火检测仪器箱VC13C(HKY-III)火灾勘查仪器箱VC13D(HKG-III)火灾现场勘查工具箱VC13E(XJY-III)消防工程验收仪器箱VC14机场消防检测仪器箱VC15A、VC15B消防电气检测箱VC15C建筑电气防火检测箱VC16消防产品现场检测箱VC16A消防产品现场检测箱VC17火场侦毒箱VC18系列消防监督技术装备箱VC19F地铁消防检测箱消防电气检测/建筑消防设施检测仪器;火灾自动报警系统检测设备、自动喷水灭火系统喷头安装专用工具、消火栓和防烟排烟系统检查测试设备和质量检验设备。序号产品名称参数数量1点型感烟探测器功能试验器检测杆高度不小于2.5米,加配聚烟罩,内置电源线,连续时间不低于2h12点型感温探测器功能试验器 检测杆高度不小于2.5米,内置电源线,连续时间不低于2h13线性光束感烟探测器滤光片减光值分别为0.9db和10.0db各一片14试验气体甲烷的浓度为50%LEL;丙烷的浓度为50%LEL;氢气的浓度为50%LEL;一氧化碳的浓度为500×10-6(体积分数)15数字风速计范围:0m/s-45m/s,精度:±3%,具有LCD背光及数据保持功能16数字照度计测量范围不小于2000lx,准确度:±5%,具有数据保持和读数锁定功能17数字万用表可测量交直流电压、直流电流、电阻、电容18超声波流量计TDS-100H测量管径:0mm-700mm,精度:±1%19电子称最小分辨率:10g;量程不小于30kg110破拆工具可破拆木质和钢质防火门111衡器最小分辨率:0.5kg;量程不小于100kg112塞尺尺寸:1mm113测力计最小分辨率:2N;量程小于100N114测厚仪最小分辨率:1mm;量程:50mm115磁性测厚仪磁涡流式,测量厚度:0mm-15mm116专用燃气喷枪火焰温度≥1350℃;燃气,丁烷,持续使用时间:200min117金属网1
  • N6502010美国珀金埃尔默Siltek分流式玻璃衬管
    N6502010美国珀金埃尔默Siltek分流式玻璃衬管Siltek分流式表面灭活型玻璃衬管(有玻璃棉):适合一般用途分析的通用型衬管。灭活后的表面可最大限度减少流失并在较宽的样品pH范围内保持惰性。4*6*92.1 5N6502010
  • N6502010美国珀金埃尔默Siltek分流式玻璃衬管
    N6502010美国珀金埃尔默Siltek分流式玻璃衬管Siltek分流式表面灭活型玻璃衬管(有玻璃棉):适合一般用途分析的通用型衬管。灭活后的表面可最大限度减少流失并在较宽的样品pH范围内保持惰性。4*6*92.1 5N6502010
  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
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