雷尼绍干涉仪

雷尼绍激光干涉仪XL-80系统快速、精确，而且非常轻便，因此它成为销量的激光校准系统丝毫不足为奇。雷尼绍激光干涉仪XL-80采用先进的软件解决方案，具有优异的性能，可以帮助您显著提高企业效益。雷尼绍设计、制造和提供激光系统已有超过25年的历史。XL-80正是多年设计和制造经验的结晶，具有真正的系统性能和操作优点。精度和动态性能精确稳定的激光源和准确的环境补偿，保证了±0.5 ppm的线性测量精度。可以高达50 kHZ频率读取数据，高线性测量速度可达4 m/s，即使在高速度下线性分辨率仍可达1 nm。所有测量选项（不只是线性）均采用干涉法测量，使您对记录数据的精度有信心。使用方便雷尼绍激光干涉仪XL-80设定和使用快速简便，可减少等待时间并增加测量时间，同时仍具有纯粹干涉测量系统精度高的优点。激光干涉仪和补偿器均可通过USB与计算机连接，因此无需单独的接口，也不必担心复杂的设定。全面信心优质的设计、制造和技术支持是雷尼绍的标志性特征。不管是微米级测量还是纳米级测量，先进的设施和质量保证都极为重要。标准的三年保修期和全球支持网络体现了我们对您的承诺。便携性XL-80激光和XC-80补偿器体积小巧，这意味着一套完整的线性测量系统只需装在一个“便携箱”中，重量仅为12公斤。再加一个三脚架（装入尼龙拉链携带箱中），您就拥有了一个真正便携的机器测量方案。XL-80激光头可以产生非常稳定的激光光束，采用的波长可溯源至国家和国际标准。特性与优点激光稳频精度通过热控制技术将激光管长度变化控制在几纳米范围内，达到3年内精度保持在±0.05 ppm（百万分之一）。线性测量精度在整个环境范围内，即从0 oC - 40 oC和650毫巴 - 1150毫巴的范围内，精度为±0.5 ppm。可以高达50 kHZ频率读取数据，高线性测量速度可达4 m/s，即使在高速度下线性分辨率仍可达1 nm。仪器内置的USB意味着激光系统与计算机之间无需单独的接口。激光头前部的一排LED状态指示灯显示激光状态和信号强度，相当于将屏幕软件上的“状态显示”扩展到激光头上。可以在标准 (40 m) 和长 (80 m) 距离模式之间切换。模拟I/O端口允许模拟信号输出和触发信号输入。预热时间少于6分钟。外接开关电源允许输入电压在90V - 264 V之间变化。专用软件包括线性、角度、回转轴、平面度、直线度和垂直度测量模块以及动态测量功能。选择雷尼绍选择创盛世

了解更多产品信息及产品价格 请联系我们 联系方式： 毕先生 程女士您只要看一眼雷尼绍的新型XL-80激光系统和XC-80补偿器，就会注意到它们比原有的雷尼绍激光干涉仪ML10和EC10小了许多。现在，二者总重仅3公斤多一点（包括连接电缆、电源和传感器），比原来减轻了70%。当然，随着激光头和补偿器尺寸减小，其他系统组件，例如三脚架和云台也相应地减小以便相配，因此雷尼绍激光干涉仪整个系统（配小型三脚架）的运输箱减小了许多。现在，最小的“脚轮箱”只有原来箱子的一半大一点，却可以携带整个线性和角度测量系统，并按需预留放置雷尼绍 QC10球杆仪组件的位置。这个高度便携的“检查和修正”激光干涉仪和球杆仪组合系统总重不到17公斤，令同类产品无以匹敌。雷尼绍激光干涉仪为了与系统的其他组件的便携性相匹配，我们提供了新型三脚架和装运箱，仅重6.2公斤。激光头和云台体积很小，能够方便地固定在标准磁性座上，可以在不方便使用三脚架固定的应用条件下使用。XL-80激光测量系统的光束高度和光学镜组尺寸与ML10系统一样，因此也可以直接放在花岗岩工作台（不使用三脚架云台）上，进行坐标测量机的校准。雷尼绍激光干涉仪已将激光的预热时间缩短至大约仅5分钟。雷尼绍激光干涉仪预热速度较同类系统快，因此用户等待时间减少了，用于测量工作的时间增加了，这对于机器校准服务商和那些需要在一个地点执行多项测量的用户而言非常重要。现在，雷尼绍激光干涉仪信号增益的开启和关闭是一项标准功能，使其具有80米线性测量距离的能力。若短距离应用时，则可以提高信号强度。配上多信号连接器可以提供标准触发信号（用于数据采集）、模拟信号及工厂按需设定的数字信号输出。比原有的ML10激光头更具灵活性。激光信号通过USB连线直接输出到电脑上，无需单独的接口，提高了可靠性和便携性。雷尼绍激光干涉仪随着越来越多的行程速度超过2 m/s的高速运动系统投入使用，用户急需一种能够在此高速度下工作的系统，雷尼绍激光干涉仪并能比现有系统提供更详细的测量结果。雷尼绍激光干涉仪XL-80激光测量系统就能够同时满足这两项要求。雷尼绍激光干涉仪线性测量速度从1 m/s提高到了4 m/s，同时位置读数分辨率仍可达到1 nm。数据采集速度为50 kHz，对于高频率的微小移动能够采集非常详细的数据。更新版的雷尼绍软件（LaserXL?和雷尼绍激光干涉仪QuickViewXL能够以一种熟悉、易用的格式显示数据。雷尼绍激光干涉仪Laser XL提供了测量向导，以满足大多数机床的验证标准要求，雷尼绍激光干涉仪QuickViewXL软件提供了以曲线形式在屏幕上实时显示激光读数的功能。系统精度比ML10激光系统有所提升，在整个日常温度、气压和湿度不同工作环境下，均可达到±0.5 ppm的精度。使用XC-80智能传感系统读取环境读数，通过USB数据线每7秒更新一次激光读数补偿值。USB数据线同时也为XC-80和传感器供电。重要的是，与雷尼绍的ML10系统一样，所有测量功能均采用稳定的氦氖激光源的波长为基准，保证能够溯源至国际公认的长度标准。此新系统雷尼绍激光干涉仪可以与已有的ML10系统光学镜组完全兼容，使目前全球成千上万的ML10用户能够升级到新系统，并同时保留其在光学镜组、操作步骤和人员培训上的原有投资。雷尼绍激光干涉仪XL-80系统具有长达3年标准的全面保修，并可以以优惠价格选购延长保修时间为5年。对于使用雷尼绍激光干涉仪ML10的老用户和使用其他厂商制造的同类系统的新客户，我们均提供一些特别优惠政策。请联络雷尼绍公司在全球各地的分支机构，了解选购XL-80作为升级或作为新系统的好处。

激光干涉仪三脚架了解更多产品信息及价格 请联系我们 联系方式：毕先生 程女士

仪器简介：Renishaw的新型XL-80激光干涉仪能够满足和超越实际工业规范水平，提供4 m/s最大的测量速度和50 kHz记录速率。即使在最高的数据记录速率下，系统准确性可达到±0.5ppm（线性模式）和1纳米的分辨率，这些改进意味着工程师仍能使用可溯源性激光干涉的独特优势，帮助解决现代化机器设计问题。 系统精度比原有的对应产品ML10激光系统有所提升，在整个日常温度、气压和湿度不同工作环境下，均可达到±0.5 ppm的精度。环境读数使用XC-80智能传感系统进行读取，每7秒更新一次激光读数补偿值。还有一点很重要，与Renishaw的ML10系统一样，所有测量值均采用稳定化的氦氖激光源的波长为单位，保证能够溯源至国际公认的长度标准。 此新系统可以与现有的ML10系统光学镜组完全兼容，使目前全球成千上万的ML10用户能够升级到新系统，并同时保留其在光学镜组、程序和人员培训上的原有投资。 我们还提供已更新的Renishaw软件版本（LaserXL™ 及QuickViewXL™ ），能够以用户熟悉的、易于使用的格式提供数据。Laser XL™ 能够执行循序渐进式的测量，以方便对大多数机床按标准进行检验，QuickViewXL™ 软件能够在屏幕上实时地显示激光读数。 您只要看一眼Renishaw的新型XL-80激光装置和XC-80补偿器，就会注意到它们比原有的ML10和EC10小了许多。现在，二者总重仅3公斤多一点（包括连接电缆、电源和传感器），比原来减轻了70%。当然，随着激光头和补偿器尺寸减小，其他系统组件，例如三脚架和云台也相应地减小以便相配，因此整个系统（除了三脚架）的装运箱减小了许多。现在，最小的“脚轮箱”只有原来箱子的一半大一点点，却可以携带整个线性和角度测量系统，并有放置Renishaw QC10球杆仪组件的位置。这个高度便携的“检查和修正”系统总重不到15公斤，同类产品无以匹敌。 为了与系统的其他组件的便携性相匹配，我们设计了新型三脚架和装运箱，仅重6.2公斤。 激光头和云台体积很小，能够方便地固定在标准磁性座上，可以在不方便使用三脚架固定的应用条件下使用。XL-80激光测量系统的光束高度和光学镜组尺寸与ML10系统一样，因此也可以直接放在花岗岩工作台（不使用三脚架云台）上，进行坐标测量机的校准。 Renishaw已将激光的预热时间缩短至大约仅6分钟。预热速度较同类系统快，因此用户等待时间减少了，用于测量工作的几率增加了，这对于机器校准服务商和那些需要在一个地点执行多项测量的用户而言非常重要。 现在，信号增益的开启和关闭是一项标准功能，使其具有80米线性测量距离的能力。若短距离应用时，则可以提高信号强度。配上多信号连接器以提供模拟信号输出以及激光直接到PC USB连接（不需要单独的接口），现在，XL-80激光头的配置包括了过去ML10机型的激光头上原为任选的所有功能。 XL-80系统具有长达3年标准的全面保修，并可以以优惠的价格选购延长保修时间为5年。对于使用ML10的老用户和使用其他厂商制造的同类系统的新客户，我们均提供一些特别优惠政策。因此，您更有理由去联络Renishaw公司在全球各地的分公司和地区经销代理，让我们为您介绍选购XL-80作为升级或作为新系统所带来的好处。 技术参数：系统精度: ±0.5ppm (0~40 ℃整个工作环境范围) 激光稳频精度:±0.05ppm 分辨率:0.001 um 最大测量速度:4.0m/sec 最高采样频率:50KHz 测量范围: 0 - 80 metres 预热时间更短:~6分钟主要特点：传承于畅销全球的ML10 Gold激光干涉仪,诞生于英国计量产品世家的又一惊世杰作,XL80激光干涉仪为业界提供了性能更为先进,应用更为广泛,更加轻巧便携的计量检测利器: 检测速度从每小时几个微米到每分钟240米(仍以分辨率0.001 um记数) 采样频率从静态到每秒50000个数据点(仍以分辨率0.001 um记数) 测量范围从数纳米的微观尺寸到80米的大尺寸测量

仪器简介：Renishaw的新型XL-80激光干涉仪能够满足和超越实际工业规范水平，提供4 m/s最大的测量速度和50 kHz记录速率。即使在最高的数据记录速率下，系统准确性可达到± 0.5ppm（线性模式）和1纳米的分辨率，这些改进意味着工程师仍能使用可溯源性激光干涉的独特优势，帮助解决现代化机器设计问题。 系统精度比原有的对应产品ML10激光系统有所提升，在整个日常温度、气压和湿度不同工作环境下，均可达到± 0.5 ppm的精度。环境读数使用XC-80智能传感系统进行读取，每7秒更新一次激光读数补偿值。还有一点很重要，与Renishaw的ML10系统一样，所有测量值均采用稳定化的氦氖激光源的波长为单位，保证能够溯源至国际公认的长度标准。 此新系统可以与现有的ML10系统光学镜组完全兼容，使目前全球成千上万的ML10用户能够升级到新系统，并同时保留其在光学镜组、程序和人员培训上的原有投资。 我们还提供已更新的Renishaw软件版本（LaserXL&trade 及QuickViewXL&trade ），能够以用户熟悉的、易于使用的格式提供数据。Laser XL&trade 能够执行循序渐进式的测量，以方便对大多数机床按标准进行检验，QuickViewXL&trade 软件能够在屏幕上实时地显示激光读数。 您只要看一眼Renishaw的新型XL-80激光装置和XC-80补偿器，就会注意到它们比原有的ML10和EC10小了许多。现在，二者总重仅3公斤多一点（包括连接电缆、电源和传感器），比原来减轻了70%。当然，随着激光头和补偿器尺寸减小，其他系统组件，例如三脚架和云台也相应地减小以便相配，因此整个系统（除了三脚架）的装运箱减小了许多。现在，最小的&ldquo 脚轮箱&rdquo 只有原来箱子的一半大一点点，却可以携带整个线性和角度测量系统，并有放置Renishaw QC10球杆仪组件的位置。这个高度便携的&ldquo 检查和修正&rdquo 系统总重不到15公斤，同类产品无以匹敌。 为了与系统的其他组件的便携性相匹配，我们设计了新型三脚架和装运箱，仅重6.2公斤。 激光头和云台体积很小，能够方便地固定在标准磁性座上，可以在不方便使用三脚架固定的应用条件下使用。XL-80激光测量系统的光束高度和光学镜组尺寸与ML10系统一样，因此也可以直接放在花岗岩工作台（不使用三脚架云台）上，进行坐标测量机的校准。 Renishaw已将激光的预热时间缩短至大约仅6分钟。预热速度较同类系统快，因此用户等待时间减少了，用于测量工作的几率增加了，这对于机器校准服务商和那些需要在一个地点执行多项测量的用户而言非常重要。 现在，信号增益的开启和关闭是一项标准功能，使其具有80米线性测量距离的能力。若短距离应用时，则可以提高信号强度。配上多信号连接器以提供模拟信号输出以及激光直接到PC USB连接（不需要单独的接口），现在，XL-80激光头的配置包括了过去ML10机型的激光头上原为任选的所有功能。 XL-80系统具有长达3年标准的全面保修，并可以以优惠的价格选购延长保修时间为5年。对于使用ML10的老用户和使用其他厂商制造的同类系统的新客户，我们均提供一些特别优惠政策。因此，您更有理由去联络Renishaw公司在全球各地的分公司和地区经销代理，让我们为您介绍选购XL-80作为升级或作为新系统所带来的好处。技术参数：XL80: 系统精度: ± 0.5ppm (0~40 ℃整个工作环境范围) 激光稳频精度:± 0.05ppm 分辨率:0.001 um 最大测量速度:4.0m/sec 最高采样频率:50KHz 测量范围: 0 - 80 metres 预热时间更短:~6分钟 XL30: 系统精度: ± 1ppm (0~40 ℃整个工作环境范围) 激光稳频精度:± 0.1ppm 分辨率:0.01 um 最大测量速度:4.0m/sec 最高采样频率:5KHz 测量范围: 0 - 30 metres 预热时间更短:~6分钟主要特点：传承于畅销全球的ML10 Gold激光干涉仪,诞生于英国计量产品世家的又一惊世杰作,XL80激光干涉仪为业界提供了性能更为先进,应用更为广泛,更加轻巧便携的计量检测利器: 检测速度从每小时几个微米到每分钟240米(仍以分辨率0.001 um记数) 采样频率从静态到每秒50000个数据点(仍以分辨率0.001 um记数) 测量范围从数纳米的微观尺寸到80米的大尺寸测量

镭测科技Leice激光干涉仪LH2000双频激光干涉仪 满足计量检测用户更稳定、更高精度、更便利的使用要求； 以光刻机用激光干涉测量系统为基础， 在保留高稳定性、高精度、高采样速率卓越性能的同时， 将光源和测量信号接收处理单元集成在主机里， 一体化设计为用户提供更加方便、易用、友好的使用体验； 典型频差7±0.5 MHz，测速高达2m/s。 系统组成： LH2000激光测头及附件 环境补偿单元 LaserLC测量软件 线性位移测量镜组（选配：角度、直线度、垂直度、平面度测量镜组等） 光学调整附件 三脚架及其他测量附件镭测科技Leice激光干涉仪LH2000双频激光干涉仪参数激光头尺寸330mm×110mm×95mm激光头重量3.3kg激光光束直径6mm激光功率 0.5mw真空波长632.99nm频差可定制 典型值7±0.5 MHz工作温度范围+10℃~+30℃储存温度范围+15℃~+45℃激光稳频精度±0.02ppm线性测量范围40m线性测量精度±0.1ppm(真空中)±0.4ppm*(使用LC-2000环境补偿器)分辨率1nm测量速度2m/s工作电源220V/50Hz北京镭测科技有限公司为您提供镭测科技Leice激光干涉仪LH2000双频激光干涉仪，镭测科技LH2000双频激光干涉仪产地为北京，属于国产激光干涉仪，更多激光干涉仪的参数、价格、型号、原理等信息欢迎您访问北京镭测科技有限公司官方网站。

双频激光干涉仪是在单频激光干涉仪的基础上发展而来的一种外差式干涉仪。传统单频激光干涉仪采用单频技术，容易受到外界环境干扰，微小的空气湍流都会引起直流电平变化从而影响测量结果，这是单频干涉仪的一个根本弱点。在测试环境恶劣或测量距离较长时，这一缺点十分突出，而双频激光干涉测量仪正好克服了这一缺点。双频干涉仪使用双频激光，其干涉信号是一个频率约为1.5-8 M H z的交流信号，当可动棱镜移动时，双频干涉仪的干涉信号只是使原有的交流信号频率增加或减少了△f，结果依然是一个交流信号。这个交流信号频率的改变取决于可动棱镜位置的变化，不受直流光平和电平变化的影响，因此抗干扰能力强，适合在各种环境条件下开展检测作业。 双频激光干涉测量仪采用外差技术，对环境干扰不敏感，先天具有抗干扰性好，工作稳定的特点，适合在车间生产环境中使用。镭测科技推出的LH3000双频激光干涉仪，基于清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室多年研发的核心技术，拥有自主知识产权，技术指标达到或优于国外产品同等水平。LH3000双频激光干涉仪通过与不同的光学组件结合，可实现对线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何量的检测，是高精度线性位移测量、数控机床校准、三坐标机校准、光学平台校准的高效率量测工具。 系统组成： LH3000双频激光头及附件 LC-2000环境补偿单元 Leice Measure测量软件、Leice Analysis 分析软件 线性位移测量镜组（选配：角度、直线度、垂直度、平面度测量镜组等） 光学调整附件 三脚架及其他测量附件产品优势： 采用双频激光，测量精度高 紧凑设计，适合外出服务携带 抗干扰能力强，大型机床长距离检测时也能保证稳定精准 自动环境补偿，不同温度、湿度、压力环境中也能精确检测 符合测校国家标准的测量分析软件 自动生成测量数据报表和误差校正补偿文件。 典型频差7±0.5MHz，测速高达2m/s。（欲了解更多单频与双频干涉仪的性能特点和差异，请阅览本网站解决方案栏目中的：双频激光干涉仪）

XL-80的主要优点Renishaw设计、制造和供应激光系统已有二十多年的历史。XL－80是这些设计和制造丰富经验的结晶，具有真正领先的系统性能和操作优点。 便携性和易用性XL-80激光和XC－80补偿器体积小巧，一套完整的线性测量系统装在一个&ldquo 便携箱&rdquo 中，重量仅12公斤。再加一个三脚架（装入尼龙拉链携带箱中），您就有了一个真正便携的机器测量方案。激光和补偿器均可通过USB与PC机连接，因此无需单独的接口，也无需担心复杂的设定。 精度和动态性能精确稳定的激光源和准确的环境补偿，保证了± 0.5 ppm的线性测量精度。读数以50 kHZ频率读取，最高线性测量速度可达4 m/s，即使在最高速度下线性分辨率仍可达1 nm。所有测量选项（不仅是线性）都采用干涉仪测量，使您对记录数据的精度有信心。 使用方便XL-80设定和使用快速简便，减少了等待时间，增加了用于测量的时间，同时保留了纯粹干涉测量系统精度高的优点。 全面信心优质的设计。不管测量的是微米还是纳米，最先进的设施和质量保证都极为重要。标准的三年保修期和全球支持网络体现了我们对您的承诺。顶部激光校验机器的优点提高机器的正常运行时间不管使用哪种机器或运动系统，在开始切削或加工材料或测量部件之前，您都需要知道设备运行是否正常。 您可以了解机器定位性能的每个特性随时间发生变化的详细情形，预测某特定机器何时需要维修并预先建立应急计划。提告机器性能通过有针对性的维护和误差补偿，Renishaw的性能测量设备可确实提升机器的性能。增强对机器或加工能力的了解使用适合工作要求的机器 &mdash 把工作安排给能够达到公差要求的机器，确保机器适合工作要求并且废品率较低。证明机器性能当客户需要对您的机器质量或工艺树立信心时，校准曲线和定期性能评估结果将是最好的证明。它们能够赋予您宝贵的竞争优势，使您领先于那些没有进行这些测试的制造商。符合质量保证规程和标准ISO 9000系列质量标准要求采用公认的、可溯源的系统和方法对生产和检测设备进行校准、监视和控制。提供专业的维护服务高质量的售后服务不可或缺。在用户现场使用与系统原始制造商在其工厂内使用的相同校准工具进行校准，这是使机器恢复为制造商原始规格的最佳方法。

法布里珀罗干涉仪 FPI 法布里珀罗干涉仪（Fabry-Perot Interferometer，FPI 100）是一款共聚焦扫描 FPI，它自带光电探测器单元，设计用于测量和控制连续波激光器的模场分布。其主要特点有： 激光模式分析简单方便可选八种反射镜用于波长范围 300 到 3000 纳米自由光谱范围 1GHz 或 4GHz标准反射镜反射率 99.8%，对应 finesse 大于 400可选配光纤耦合器套件 – 方便使用 FC/APC 光纤接头进行耦合光电二极管更换套件 – 可见光/近红外/红外，通过内置聚焦透镜自动对准用户规定 finesse 值扫描选项 – 集成光电二极管放大器的独立扫描发生器 miniScan 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：网址： /邮箱：

镭测科技推出的LS600单频激光干涉仪采用单频测量技术，拥有自主知识产权，技术指标达到或优于国外产品同等水平。通过与不同的光学组件结合，可实现对线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何量的检测，是高精度线性位移测量、数控机床校准、三坐标机校准、光学平台校准的高效率量测工具。 系统组成： LS600单频激光头及附件 LC-2000环境补偿单元 Leice Measure测量软件、Leice Analysis 分析软件 线性位移测量镜组（选配：角度、直线度、垂直度、平面度测量镜组等） 光学调整附件 三脚架及其他测量附件

白光干涉仪概述Rtec 白光干涉仪在加利福尼亚硅谷制造。已被多个知名实验室、大学和行业使用。UP系列在一个头上组合了4种成像模式。能够在同一测试平台上运行多种测试，只需单击按钮，就能转换成像模式。这种组合可以轻松地对任何表面进行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、弯曲的表面等。每种成像模式都具有各自的优势，并且各项技术彼此互补。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也可以减少维护成本，从而提高效率。 3D光学轮廓仪组合l白光干涉仪l旋转盘共聚焦显微镜 l暗视野显微镜l明视野显微镜 主要平台规格 产品规格l标准电动平台150x150mm（可选210x310mm）l标准转塔，电动转塔可选l垂直范围可达100mml倾斜阶段6度lXY平台分辨率0.1uml自动拼接楷模lSigma头 - 仅限白光干涉仪lLambda头 - 白光干涉仪+共焦+暗场+明场 应用 ●粗糙度 ●体积磨损 ●台阶高度 ●薄膜厚度 ●形貌 测试图像示例 DLC涂层球 粗糙涂层表面 圆球磨斑 金刚石 生物膜 微流体通道 聚合物涂层 墨痕 硬币 研磨垫 铝的失效痕迹 划痕 涂层失效痕迹 芯片通道 晶圆以上为双模式三维表面轮廓仪拍出的样品形貌。在同一平台上结合使用多种光学技术，测试仪可以测量几乎任何类型的nm分辨率样品。 该表面轮廓仪配有功能强大的分析软件，符合多种标准。双模式三维表面轮廓仪能够在同一测试平台上运行多种测试，产品的组合可根据不同的技术应用要求而改变。针对样品的同一区域可进行不同模式的实验检测，模式切换可实现自动化。多项技术的整合能够使不同技术在同一检测仪上充分发挥各自的优势。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也可以减少维护成本，从而提高效率。

Zygo激光干涉仪红外干涉仪适用于高精度红外成像应用的测量方法光学成像的应用广泛，种类繁多。在系统的设计波长下进行测试对开发、最终对准和鉴定至关重要。用于航空航天和国防的夜视、红外和热成像系统、光刻子系统、遥感望远镜和外来材料鉴定对波长有不同的要求，而它们都受益于在红外干涉仪系统在设计波长下的测试。ZYGO长期以来被公认为是世界上干涉测试仪器的先行者，已经设计和制造了许多特殊装备的干涉仪系统，包括NIR、SWIR、MWIR和LWIR波长的系统。ZYGO还设计和制造了一系列用于这些波长的参考光学器件（透射球面镜和透射平面镜）。主要特点工作波长范围广：NIR：1.053μm&1.064μmSWIR：1.55μmMWIR：3.39μmLWIR10.6μm基于工作波长的QFAS十字快速对准视图简化了红外测试系统和组件的设置。ZYGO独有的QPSI™ 采集技术，可在振动较常见的环境中实现可靠的测量，NIR、SWIR和MWIR型号均配有这种技术。可选的DynaPhase™ 瞬时数据采集技术，对振动不敏感，可在最恶劣的环境中进行测量。

氦氖(HeNe)激光器是首先实现激光振荡输出的气体激光器。HeNe激光器输出的是Ne的光谱线，在可见和红外波段有多条，其中最强的是0.6328μm、1.15μm 和3.39μm 三条谱线。我们可以采取一些方法去抑制其中的两种，而使我们所需要的一种波长的激光得到输出。632.8nm（红光）因输出为可见波段的激光，实际应用较为广泛。 由于HeNe激光束具有单色性和方向性好,输出功率和波长能够控制得很稳定，并且结构简单、造价低廉等优点，因而广泛应用于精密计量、检测、准直、信息处理，以及医疗、光学实验等多个方面。 HeNe激光器是玻璃管状结构，玻璃是气密性非常优良的材料。HeNe激光器是一种小功率激光器，放电管长十几厘米的激光器输出功率为毫瓦上下，放电管长1~2m 的激光器输出功率可达几十至百毫瓦。HeNe激光器是放电激励的气体激光器的典型代表，它的工作过程、制造工艺和设计器件的方法对其他气体激光器都有参考意义。 单频激光干涉仪使用单频激光器、双纵模热稳频技术进行稳频。由于两纵模的频率间隔约为1GHz，超出了信号处理器的细分运算能力，故其中一个纵模的激光会由偏振片舍弃，测量过程中实际只使用通过偏振片的单纵模激光。最终采用零差干涉原理（调幅）进行测量。镭测科技Leice激光干涉仪单频激光管参数： 真空波长/nm632.99出光功率/mW0.8最大功率漂移（8h）5%尺寸Φ*L/mm26*150出光模式TEM00腰斑直径2ω0/mm0.33发散角θ/mrad2.4起辉电压/V4000工作电压/V1000工作电流/mA3.5~4工作寿命/h20000 北京镭测科技有限公司为您提供镭测科技Leice激光干涉仪单频激光管，镭测科技Leice激光干涉仪单频激光管产地为北京，属于国产激光器，激光器的参数、价格、型号、原理等信息欢迎该问北京镭测科技有限公司官方网站，镭测科技客服电话400-860-5168转5968，售前、售后均可联系。

皮米激光干涉仪 德国attocube公司在皮米精度位移激光干涉仪FPS的基础上，新推出了体积更小、适合集成到工业产品与同步辐射应用中的IDS型号皮米精度位移激光干涉仪。与FPS型号干涉仪相似，IDS型号同样适用于端环境如高真空与高辐射环境并且具有高精度与高采样速率。IDS产品是适合工业集成与工业网络无缝连接的理想产品。产品在工业应用中具有广泛范围前景，包括闭环位移反馈系统搭建、振动测量、轴承误差测量，实时位移测量等。 德国计量院（PTB）对IDS3010激光干涉仪的精度进行了认证。值得指出，在0-3米的工作距离内， IDS激光干涉仪的的测量数据与德国计量院激光干涉仪数据完全一致。德国计量院的认证使得IDS激光干涉仪的测量数据满足德国标准，使得IDS更加理想的成为位移台鉴定与机器加工等领域的测量工具。IDS3010激光干涉仪主机尺寸与接口IDS3010激光干涉仪应用领域IDS3010充分满足高分辨位移于定位的工业和科研需要，可应用于长度测量、同步辐射、精密仪器、半导体工业以及显微镜。IDS3010激光干涉仪产品特点 + 设计紧凑（50mm x 55mm x 195mm），适合工业集成+ 工业化界面，含HSSL、AquadB、CANopen、Profibus、EtherCAT、等界面+ 测量速度快，定位样品采样带宽10MHz+ 环境补偿单元，不同湿度、压力环境中校正反射率参数提高测量精度+ 校正简单，配备可见激光（650nm）用于校正测量激光（1530nm）+ 测量精度高，探测器分辨率高达1 pm设备选件光纤式激光探头 IDS系列激光干涉仪可提供不同型号探头（探头尺寸，光斑大小不同）。探头直径范围：1.2mm – 22mm。典型准直激光光斑：1.6mm， 典型聚焦激光光斑：70 mm。低工作温度：10mK, 1E-10mBar超高真空适用, 10MGy强辐射环境适用。激光探头技术参数表激光探头型号尺寸mm (直径与长)工作距离(低反射，高反射材料）激光类型（聚焦、准直） 光斑大小D1.2/F7Ф 1.2 7.55-9 mm30-45 mm聚焦，焦距7mm70μm@7mmD4/F8Ф 4 11.56-10 mm15-30 mm聚焦，焦距8mm70μm@8mmD4/F13Ф 4 11.511-15 mm30-45 mm聚焦，焦距13mm70μm@13mmD12/F2.8Ф 12 32.32.8 mm聚焦，焦距2.8mm2μm@2.8mmM12/C1.6Ф 14 17.40-1000 mm准直1.6mmM15.5/C1.6Ф 22 20.60-1000 mm准直1.6mmM12/C7.6Ф 14 49.30-5000 mm准直7.6mm应用案例■ IDS3010在航天飞行器形变检测上的应用德国卫星制造商OHB公司（德国OHB-System 是一家专门从事小卫星系统、分系统研制工作的企业,在小型商业卫星、小型研究卫星及相关分系统的研制、制造和操作方面具有丰富的经验）采用attocube的激光位移传感器IDS3010，对三代气象卫星（MTG）柔性组合成像仪进行了高真空光-热-力学模型试验。该试验包括在仪器的不同区域，并监控其后续光学元件相对位移测量哈特曼传感器。在真空环境中通过IDS3010激光干涉仪以小于1角秒的精度对平面基准相对位置的稳定性进行了一个多星期的持续测试。为了校准IDS3010不同探头之间的距离，需要进行初步测试（每个传感器探头与用于角度计算的距离，名义上为100 mm）。为此，平面参考镜的电动框架被用来产生任意角度的运动。这些角度是由IDS3010激光干涉仪和校准的自准直仪测量得到。IDS3010激光干涉仪在±720角秒范围内表现出良好的线性（0.1%），并且非常容易校准。再与MTG柔性组合成像仪对齐之后，即在Shack-Hartmann传感器和IDS3010传感器之间执行另一个交叉校准，以补偿IDS3010传感器相对于Shack-Hartmann传感器的时钟。三代气象卫星的柔性组合成像仪（MTG-FCI）的实验装置。紫色表示激光干涉仪组件：传感器探头支架和角角锥棱镜支架。以上信息由OHB System AG提供结果此次测量的目的是在一周多的时间内连续监测参考镜相对于卫星的稳定性，精度小于1角秒。使用如上所述attocube公司的激光干涉仪得到的测试得到角度精度甚至比一个角秒还要好。理论计算表明，其测试分辨率可以到达0.021角秒（等于5.8u°），但实际读数受试验装置振动的限制。■ IDS3010激光干涉仪在自动驾驶高分辨调频连续波（FMCW）雷达上的应用自动驾驶是目前汽车工业为前沿和火热的研究，而自动驾驶尤为重要的是需要可靠和高分辨率的距离测量雷达。德国弗劳恩霍夫高频物理和雷达技术研究所（Wachtberg，D）Nils Pohl教授和波鸿鲁尔大学（Bochum，D）的研究小组提出了一种全集成硅锗基调频连续波雷达传感器（FMCW），工作频率为224 GHz，调谐频率为52 GHz。通过使用德国attocube公司的皮米精度激光干涉仪FPS1010（新版本为IDS3010）证明了测量系统在-3.9μm至+2.8μm之间达到了-0.5-0.4μm的超高精度。这种全新的高精度雷达传感器将会应用于许多全新的汽车自动驾驶领域。图一 紧凑型FMCW传感器的照片图二 雷达测距示意图，左边为雷达，右边为移目标，attocube激光干涉仪用来标定测量结果参考文献S. Thomas, et al IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67, 11, (2019).■ IDS3010激光干涉仪在半导体晶圆加工无轴承转台形变的测量上的应用半导体光刻系统中的晶圆轻量化移动结构的变形阻碍了高通量的半导体制造过程。为了补偿这些变形，需要的测量由光压产生的形变。来自理工大学荷兰Eindhoven University of Technology 的科学家设计了一个基于德国attocube干涉仪IDS3010的测量结构，以此来详细地研究因为光压而导致的形变特性。图一所示为测量装置示意图，测量装置由5 x 5 共计25个M12/F40激光探头组成的网格，以此来实现监测纳米的无轴承平面电机内部的移动器变形。实验的目的是通过对无轴承的平面的力分布进行适当的补偿，从而有效控制转台的变形。实验测得大形变量为544nm，小形变量为110nm（如图二所示）。图一 左侧5X5排列探头测量装置示意图，右图为实物图图二 无轴承磁悬浮机台形变量的测量结果，大形变量为544nm参考文献Measuring the Deformation of a Magnetically Levitated Plate displacement sensor.■ IDS3010在X射线成像中提高分辨率的应用在硬X射线成像中，每个探针平均扫描时间的减少对于因为束流造成的损伤是至关重要的。此外，系统的振动或漂移会严重影响系统的实时分辨率。而在结晶学等光学实验中，扫描时间主要取决于装置的稳定性。Attocube公司的皮米精度干涉仪FPS3010（升之后的型号为IDS3010），被用于优化由多层波带片（MZP）和基于MZP的压电样品扫描仪组成的实验装置的稳定性的测量。实验是在德国DESY Photon Science中心佩特拉III期同步加速器的P10光束线站上进行的。Attocube公司的激光干涉仪PFS3010用来检测样品校准电机引起的振动和冲击产生的串扰。基于这些测量，装置的成像分辨率被提高到了±10nm。 图一 实验得到的系统分辨率结果参考文献Markus Osterhoff, et at. Proceedings Volume 10389, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods III 103890T (2017)■ IDS3010激光干涉仪在微小振动分析中的应用电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带，它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。全球研究机构苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙的利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体，次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在nature上（doi:10.1038/nature25156）。研究人员通过测试了一种机械超材料的体，边缘和拐角的物理属性，发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。德国attocube公司的激光干涉仪IDS3010被用于超声-空气转换器激励后的机械超材料振动分析。IDS3010能到探测到机械超材料不同位置的微小振动，以识别共振频率。终实现了11.2pm的系统误差，为声子四拓扑缘体的实验分析提供了有力的支持。图一 实验中对对机械超材料微小振动的频率分析参考文献Marc Serra-Garcia, et al. Nature volume 555, pages 342–345 (2018)■ IDS3010激光干涉仪在快速机床校准的应用德国亚琛工业大学（Rwth Aachen University，长久以来被誉为“欧洲的麻省理工”）机床与生产工程实验室（WZL）生产计量与质量管理主任的研究人员利用IDS3010让机床自动校准成为可能，这将大的提高机床的加工精度和加工效率。研究人员通过将IDS3010皮米精度激光干涉仪和其他传感器集成到机床中，实现对机床的自动在线测量。这使得耗时、需要中断生产过程、安装和卸载校准设备的手动校准变得多余。研究人员建立了一个单轴装置的原型，利用IDS3010进行位置跟踪，其他传感器如CMOS相机被用来检测俯仰和偏摆。校准结果与常规校准系统的结果进行了比较：六个运动误差（位置、俯仰、偏摆、Y-直线度、Z-直线度）对这两个系统显示出良好的一致性，值得指出的是：使用IDS3010的总时间和成本显著降低。该装置演示了自动校准机床的个原型，而且自动程序减少了机器停机时间，从而通过保持相同的精度水平提高了生产率。参考文献Benjamin Montavon et al J. Manuf. Mater. Process. 2(1), 14 (2018)■ IDS3010激光干涉仪在工业C-T断层扫描设备中的应用工业C-T断层扫描被广泛用于材料测试和工件尺寸表征。设计一个的锥束C-T系统的挑战之一是它的几何测量系统。近，瑞士联邦计量院（METAS）的科学家将德国attocube公司的IDS3010皮米精度激光干涉仪用于X射线源、样品和探测器之间的精密位移跟踪。实验共有八个轴用于位移跟踪。除了测量位移之外，该实验装置还能够实现样品台的角度误差分析。终实现了非线性度小于0.1μm，锥束稳定性在一小时内优于10ppb的高精度工业C-T。参考文献Benjamin A. Bircher, Felix Meli, Alain Küng, Rudolf Thalmann: "A geometry measurement system for a dimensional cone beam CT", 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), At Wels, AU■ IDS3010激光干涉仪在增材制造3D打印方面的应用微尺度选择性激光烧结（μ-SLS）是制造集成电路封装构件（如微控制器）的一种创新方法。在大多数的增材制造中需要微米量的精度控制，然而集成电路封装的生产尺寸只有几微米，并且需要比传统的增材制造方法有更小的公差。德克萨斯大学和NXP半导体公司开发了一种基于u-SLS技术的新型3D打印机，用于制造集成电路封装。该系统包括用于在烧结站和槽模涂布台之间传送工件的空气轴承线性导轨。由于该导轨对定位精度要求很高，所以采用德国attocube公司的皮米精度干涉仪IDS3010来进行位置的跟踪。参考文献Nilabh K. Roy, Chee S. Foong, Michael A. Cullinan: "Design of a Micro-scale Selective Laser Sintering System", 27th Annual International Solid Freeform Fabrication Symposium, At Austin, Texas, USA ■ IDS3010激光干涉仪在扫描荧光X射线显微镜中的应用在搭建具有纳米分辨率的X射线显微镜时，对于系统稳定性的要求提出了更高的要求。在整个过程中实验过程中，必须确保各个组件以及组件之间的热稳定性和机械稳定性。德国attocube的IDS3010激光干涉仪具有优异的稳定性和测量亚纳米位移的能力，表现出优异的性能。IDS3010在40小时内具有优于1.25nm的稳定性，并且在100赫兹带宽的受控环境中具有优于300pm的分辨率。因此，IDS3010是对所述X射线显微镜装置中使用的所有部件进行机械控制的不二选择，使得整个X射线显微镜实现了40nm的分辨率，而在数据收集所需的整个时间内系统稳定性优于45nm。参考文献Characterizing a scanning fluorescence X ray microscope made with the displacement sensor■ 皮米精度激光干涉仪IDS3010在相位调制器的精密调制和控制上的应用相位调制器是相干合成孔径望远镜中光束合成机构的关键部件。提高相位调制器的调制精度和控制带宽有助于提高合成孔径望远镜的成像分辨率。相位调制器运动信息包括俯仰角、方位角和轴向位移3个自由度。目前3个或者多个自由度的实时测量还处于发展阶段。同时实现多自由度测量更是少之又少。来自中国科学院光电技术研究所光束控制重点实验室的方国明课题组采用德国attocube system AG公司的三轴皮米精度激光干涉位移传感器IDS3010通过获取待测目标平面内3个不共线点的位移量，而3个不共线的点可确定平面的法线，基于平面法线的性可解，从而可以获得目标的3个自由度运动信息，包括方位角、俯仰角和轴向位移。成功实现了三自由度的同时实时测量。图示： 三自由度测量原理示意图■ 皮米精度位移测量激光干涉仪助力声子四拓扑缘体观测电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带，它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙地利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体，次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在nature上。研究人员通过测试一种机械超材料的体、边缘和拐角的物理属性，发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。图示：实验装置示意图参考文献Observation of a phononic quadrupole topological insulator.Nature volume 555, pages342–345(2018)■ 激光干涉仪检测纳米精度位移台误差在实际生产中的存在可能导致损失以及客户对产品信心的丢失。光学传感器可以在质量检测中帮助减少误差产生提高成品率。attocube激光干涉仪是理想的可在各个领域提供高精度探测来减少误差的一种光学传感器。作为纳米精度位移台供应商的德国attocube公司，对位移台的精密移动的测量与鉴定是一个非常重要的任务。例如，下图左，ECS3030型号的线性位移台可在真空中进行位移。ECS3030位移台的行程是20mm。技术参数要求的是可重复精度小于50nm。利用attocube激光干涉仪对位移台上样品进行测量，位移台被程序控制来回往复移动1mm,在20mm的行程内在多个不同地点进行来回往复移动。测量结果如下图中所示。通过分析，左图中的数据提取的偏差值是13.2nm，下图右数据的直方图显示标准差是13nm。因此，位移台的可重复性技术指标是合格的。通过使用attocube激光干涉仪可以实施对于纳米精度位移台ECS3030的全自动测量。这已经是德国attocube公司对于位移台的质量检测手段。并且，这样一个简便与实用的传感器可以直接集成到生产线中去提供高产出的质量检测。■ 激光干涉仪组建高精度X射线显微镜同步辐射中心具有广泛的应用领域，生物科技（蛋白质结构），医学研究（微生物），工程研究（裂纹的变化观测），先进材料（纳米结构测量）等。以上应用需要高精度去驱动聚焦镜，样品，光学狭缝等物品（下图左），这样的机械结构需要减少热漂移与定位误差。德国attocube公司的激光干涉仪具备皮米精度分辨率，激光探头可在真空环境中使用，是同步辐射研究的良好选择。在现有激光探头中，标准激光探头M12是已经被证实可以在辐射环境中使用（大10MGy)。美国布鲁克海文实验室E. Nazaretski等人结合attocube激光干涉仪与纳米精度位移台搭建了X射线扫描成像显微镜（下图中）。通过attocube激光干涉仪作为实时检测与反馈位移台移动的工具，科学家实现了0.5nm的步进扫描（下图右）。并且，在真空环境中，系统的热漂移达到了2nm/h。综上所述，高精度的X射线显微镜可以实现纳米精度扫描成像，是实现硬X射线区域光学研究的有力工具。该显微镜使得X射线荧光光谱纳米精度成为了现实。参考文献E. Nazaretski , et.al. J. Synchrotron Rad. (2015). 22, 336–341 ■ 激光干涉仪无损探测轴承误差旋转物体的运动误差分析是高精度机械工程领域的一个主要兴趣之一。如果是高速旋转的转子，甚至1纳米的误差就会产生不想要的振动与运动误差。因此，纳米精度的运动误差监测是机械工程领域前沿的重要研究课题。一个主要的难题是：如何减小运动误差？为了减小误差，先需要测量误差。德国attocube公司的激光干涉仪可以提供一个无损，紧凑并且一插即用的解决方案。通常的线性位移测量需要一个平整的表面，而旋转运动的时候，遇到的是一个曲面（右图上）。attocube激光干涉仪测量的是一个直径为10mm的电动转子。由于attocube激光干涉仪的探头具有较大的容忍角度，激光探头很容易完成了校准并开始进行测量。转子转速为2160转每秒，两个激光探头对转子的运动误差进行了测量。右图下显示的为测量结果，红色实线为平均位置，而虚线显示了误差为5微米的两个圆环。黑色实现为实际测量数据。德国attocube公司的激光干涉仪软件使用界面友好，可提供亚纳米别的运动误差校正方案。即使是新用户，对于其激光干涉仪的使用也会很快熟悉。参考文献 Review of scientific instruments, 84, 035006 (2013) ■ 激光干涉仪校正低温非线性扫描通常扫描台在室温下扫描50微米 x 50微米的范围时候不会有显著的非线性效应。但是当在低温环境（4K或更低）中，压电陶瓷本身的性能发生变化，会产生下图右中的非线性扫描现象。通过德国attocube公司的激光干涉仪，可以在低温环境下使用激光探头对扫描台的扫描运动进行实时检测（高速扫描）。结合对扫描台的施加电压进行实时反馈控制，可解决低温下非线性扫描问题。测试数据■ 实验数据，皮米精度的稳定性图1 77mm长的腔在20个小时内的实验测量数据表明数据误差范围在55pm■ 测量速度快，定位样品采样带宽10MHz图2 样品移动速度2米/秒，移动范围1m发表文章1. Stability investigation of a cryo soft x-ray microscope by fiber interferometry Rev. Sci. Instrum. 91, 023701 (2020) 2. Vibration-heating in ADR Kevlar suspension systems James Tuttle et al 2020 IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng. 755 0120153. S. Thomas, et al IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 67, 11, (2019).4. Observation of a phononic quadrupole topological insulator.Nature volume 555, pages342–345(2018)5. Benjamin A. Bircher, Felix Meli, Alain Küng, Rudolf Thalmann: "A geometry measurement system for a dimensional cone beam CT", 8th Conference on Industrial Computed Tomography (iCT 2018), At Wels, AU6. Benjamin Montavon et al J. Manuf. Mater. Process. 2(1), 14 (2018)7. In situ contrast calibration to determine the height of individual diffusing nanoparticles in a tunable confinement S. Fringes et al. J. Appl. Phys. 119 024303 (2016)8. Interferometric characterization of rotation stages for X-Ray nanotomography T. Stankevi? et al. Rev. Sci. Instrum. 88 053703 (2017)9. Measurement of forces exerted by low-temperature plasmas on a plane surface T. Trottenberg and H. Kersten Plasma Sources Sci. Technol. 26 055011 (2017)10. Mesh-type acoustic vector sensor M. K. Zalalutdinov et al. J. Appl. Phys. 122 034504 (2017)11. Markus Osterhoff, et at. Proceedings Volume 10389, X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods III 103890T (2017)用户单位attocube公司产品以其稳定的性能、高的精度和良好的用户体验得到了国内外众多科学家的认可和肯定，在全球范围内有超过了130多位低温强磁场显微镜用户。attocube公司的产品在国内也得到了低温、超导、真空等研究领域著名科学家和研究组的欢迎.....国内部分用户北京大学中国科技大学中科院物理所中科院武汉数学物理所中科院上海应用技术物理研究所复旦大学清华大学南京大学中科院半导体所上海同步辐射中心北京理工大学哈尔滨工业大学中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所……国外部分用户

红外干涉仪 完美融合创新设计及尖端技术，M-Wave 339干涉仪是艺术级LUPI(不等光程激光干涉仪)，操作于3.39um/10.6um波长(或其他指定波长)，是用于测试中波红外成像组件/系统和光材料均匀性的理想仪器。 规格参数精确度 (未标定) 精确度 (已标定) 重复性基础设备孔径 扩束器孔径相机分辨率变焦镜头 采集模式 激光类型 波长*输出功率≥束偏振 0.01 λ RMS 波前误差 @ 3.39μm 0.004 λ RMS 波前误差 @ 3.39μm 0.001λ RMS 波前误差 @ 3.39μm 25.4mm 直径101.6mm 直径640 x 512 像素1X to 6X相移HeNe3.39 μm、10.6um2 mW线性 包装尺寸系统光轴高度激光安全等级 重量 分析软件 744mm x 407mm x 275mm115mmCDRH IIIb激光产品3B类60 lbs (主机) ESDI Intelliwave LE-2 or Apre Reveal控制装置手动参考光倾斜电动激光功率衰减器电动6x连续变焦电动聚焦WFOV调整模式 / NFOV测量模式单一出厂设置参考臂反射器 (98%)配件/可选扩束镜 (75mm, 100mm, 150mm, 200mm)90度伸缩肘管电动控制项目的遥控器5轴镜片/窗口夹具高度调节器自动聚焦测量设备

传统的激光干涉仪通常需要在被测目标上设置靶镜，以反射测量光线获得高精度的测量结果。镭测科技推出的国际首创的LY1000型非接触式激光回馈干涉仪，无需靶镜，仅利用待测工件反射甚至是散射的微弱光线即可实现高精度测量，是真正意义上的非接触式测量。 除可用于传统激光干涉仪适用的测量目标外，还可适合于微、小、轻、薄、毒、易变形等不适合安装靶镜的目标测量，如液面高度、半导体晶圆位置、微机械位移、材料膨胀系数、振动等。 以下是本产品独特的技术或特点：1、高灵敏度，可实现对非配合目标的非接触式测量2、准共路技术有效抑制仪器内部环境变化引起的漂移，仪器具有较小的零漂。3、具有较高的分辨率和较大量程，测量结果可以溯源。 LY1000激光回馈干涉仪的分辨率可达纳米量级，量程可达2m，如果加扩束镜，可达数米。它同干涉仪一样，测量结果可以溯源到光波长，从而无需标定。产品由激光测头、信号处理电箱和软件组成。

干涉仪通常，我们不容易直接观测到1微米量级的动态现象的，此时，我们会选择光学干涉仪进行观测。例如，测量光学镜头的面精度的干涉仪，精密测量距离或位移的测长仪，需要精密测量位移变化的速度计或振动仪等，都是利用了光学干涉原理的典型仪器。市场上销售的大部分干涉测量装置是由光学干涉部分和信号解析部分组成的。 采用先进的电信号处理技术，可以同时实现高分辨率和很宽的测量范围。 但是，我们这里介绍的光学干涉装置，并不包含干涉条纹的电信号处理内容，我们重点介绍了其光学部分。因此，虽然其可观测的范围有限，但足以进行干涉计测的基础实验和理论验证。 业务范围l 通用干涉仪，如迈克尔逊干涉仪、马赫曾德干涉仪、斐索干涉仪等；l 集成光学干涉系统；l 流体可视化光学系统；l 干涉仪组件l 干涉仪相关组件接受订制特点分辨率小于1微米非接触（非破坏）测量面（2维）测量应用实例面精度测量测长仪速度计／振动仪

影像仪夹具雷尼绍的影像仪夹具提供两套独特的装夹解决方案，设计用于满足您的特定影像仪或复合式测量设备的需求：快速装卸拐角型夹具 (QLC)可互换式影像仪夹具 (IVF)每套系统均使用亚克力底板，可以通过背光对影像仪上的工件进行照明，从而获得清晰的图像。影像仪夹具套件雷尼绍的影像仪夹具可以预配置套件形式购买，也可单独购买额外部件。一个典型套件包括一个快速装卸拐角型夹具 (QLC)、一块底板和一整套部件。根据您要装夹的工件类型来决定不同套件。雷尼绍提供两种套件类型：压板套件磁性压板套件（包含用于装夹钢制工件的磁性部件）底板可选择两种类型的底板：多孔型：安装更加灵活，一次可以检查更多的工件，底板中心有一块透明区域。多窗型：窗口更多，对于小型工件可以得到更清晰的图像。夹具部件夹具部件可以轻松调节，其设计可实现用所需的最小的力固定工件，从而避免其损坏或变形。一系列可用的夹具部件为夹具装配提供了极大的灵活性，可确保检测时保持最大间隙。

干涉仪ZMI™ 系列–位移测量干涉仪ZYGO的标准干涉仪配置支持多种类型的测量方案。大多数干涉仪可以支持直通或直角测量方向，并且可以在真空中工作。线性干涉仪该装置会测量回射器目标，用于跟踪主要在一个线性维度上移动或围绕一个固定点旋转的物体。ZYGO提供标准和紧凑尺寸的线性干涉仪，以满足不同的空间限制要求。例如：十字刻线台、龙门系统、转向镜平面镜干涉仪该装置会测量平面镜目标，用于跟踪在多个线性维度上移动且旋转次数有限的物体。ZYGO的平面镜干涉仪具有高稳定性，可减少热误差。例如：晶圆台、堆叠工作台系统波长补偿器该装置会测量折射率的变化，用于补偿其他测量轴。ZYGO的紧凑型波长补偿器提供了高精度的折射率变化反馈，可在环境条件下实现最佳的位移测量性能。配件通过将光束从激光器传输到干涉仪，并最终传输到测量电子装置，完善测量系统。ZYGO提供各种标准的转折镜、分光镜、光纤耦合器和光纤电缆，方便您灵活配置测量系统。定制干涉仪设计ZYGO专业生产用于OEM应用的定制多轴干涉仪。定制设计允许在空间有限的应用中进行合并光束传输。它还减少了对准系统所需的时间，可在生产过程中实现更快的集成。

武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！GEMINI是一款新颖的紧凑型干涉仪，入射光所产生的两束复制光之间具有极高的稳定性。其卓越的性能可以被应用于许多科研领域，比如时间/频率分辨荧光探测，相干拉曼光谱，泵浦探针，二维光谱以及单分子的研究。主要特点高光通量，高灵敏度(1cm通光孔径，没有任何光栅或输入/输出孔径狭缝)宽光谱范围：标准版400-2300nm、超宽带版250-3500nm≈1阿秒稳定性（对两束复制光）自定义扫描范围对振动不敏感尺寸紧凑（176 x 44 x 54.5mm）轻便（≈400g）应用领域：干涉测量 激光对产生GEMINI在探测端时间/频率分辨荧光泵浦探针光谱相干拉曼光谱GEMINI在激发端单分子表现特征 和TCSPC探测器组成的时间/频率分辨荧光系统实验配置：GEMINI干涉仪放置于和TCSPC连接的单光子探测器之前，可以在保证时间分辨的同时获得荧光的波长信息。 相干拉曼（受激拉曼散射）和泵浦探针光谱实验配置：GEMINI干涉仪置于探针/斯托克斯光束入射样品后方，可以测量受激拉曼散射和MHz调制频率的泵浦探针光谱。单分子激发-发射图GEMINI干涉仪可以在短时间内以异常高的精确度和灵敏度获得单分子的特征描述 技术规格UV-SWIRVIS-MIDIR光谱范围200-3500nm500-5000nm延时稳定性小于1阿秒运行模式阶跃扫描或连续扫描尺寸10×8×8cm重量750g 武汉东隆科技为意大利米兰NIREOS的中国区独家代理，欢迎您来电垂询！

全新雷尼绍对比仪Equator™ 500 — 实现大型工件的智能化制程控制，兼具成熟可靠的Equator 300比对仪优点全新Equator 500比对仪尺寸更大，其工作空间的直径可达500 mm，高度可达400 mm，因此可测量更大的工件。在5 oC至50 oC温度范围内，Equator 300和500比对仪在任何温度变化率下均可进行精确测量，且扫描速度超过200 mm/s。每款比对仪均兼容简单易用的Organiser操作员软件、可实现制程自动化的EZ-IO软件，以及用于在数控机床上更新刀补的IPC（智能化制程控制）软件。更大的测量空间雷尼绍比对仪Equator 500在与SM25-2扫描模块配合使用时，在X/Y平面的测量空间直径为500 mm，在Z轴的测量空间高度为250 mm。与SM25-3扫描模块配合使用时，Equator 500比对仪在Z轴的测量空间高度可延长至400 mm，这样便可使用最长达200 mm的测针，从而触测更多特征。Equator 500比对仪的底座可支撑总重量不超过100 kg的工件和夹具，测量包括如汽车和卡车变速器及发动机外壳、连杆及差速齿轮箱等传动部件、悬架铸件、冲压部件、阀门和泵体等工件。雷尼绍比对仪Equator在温度快速变化的情况下亦可保持测量精度（工作温度范围现可达45 oC）气候条件可导致车间温度发生周期性变化，如一天中不同时段的变化以及季节性变化。例如，早晨的车间温度较低，随后由于室外气温升高和机器工作产生热量，车间内的温度也会升高。Equator比对仪已被证明可通过重新校准来解决这一问题，这意味着可在生产工件后立即开始进行精确测量，而不会受到环境温度变化的影响。直接从Equator 300和500比对仪自动更新刀补Equator系列比对仪与全新IPC软件兼容，该软件可持续监控和自动调整加工操作，确保工件尺寸接近标称值且在制程控制范围内。这一对制程偏移的校正能力可提高工件质量和制造效率，同时降低废品率。Equator比对仪配置在数控机床附近，允许在生产期间进行制程调整，避免时间延迟或过多依赖成品（完工）检测。一台Equator比对仪可连接一个或多个数控机床控制器。

RA802药物分析仪是用于药物配方分析的紧凑的台式拉曼成像系统。它易于使用，能提供丰富的化学信息。RA802专为制药行业设计，能够快速获得化学组分分布的详细信息。带有独特的Live Track TM 焦点追踪技术，无需样品制备过程，以让人难以置信的速度，有效地分析凹凸不平、弯曲、粗糙平面。RA802具有满足药物分析特定挑战的功能性，使您更有效地分析药物配方。- 无需使用者干涉，就能够分析多个药片- 无需样品制备；适用于测量片剂、粉剂、颗粒剂、液体和喷雾剂- 不存在样品被改变或被污染的风险- 可观察到3D表面数据上被赋予的信息丰富的化学成像- 易于使用，各种背景的使用者都可方便使用，而性能不损失重新定义拉曼光谱RA802将最高性能拉曼光谱（光散射技术）的化学分析能力和先进的快速成像技术结合在一个简洁而强健的系统中。它能够快速地为您提供卓越的性能和满足您需要的结果。无需样品制备RA802为分析配方提供了实用的解决方案，没有样品改性或污染的风险。可以分析完整的片剂，片剂内部断裂面或切片。在原始的状态下，测试片剂、粉剂、颗粒剂、液体和喷雾剂。RA802可以显示详细的化学和物理信息，包括API区域的分布和尺寸，以及物理形貌。通过观察3D表面数据中包含丰富信息的化学成像，可以帮助您了解样品。粗糙、不平或弯曲的表面？没问题！RA802以令人不可思议的速度对凹凸不平、弯曲或粗糙的表面进行分析，并使用了LiveTrack技术，生成药片表面的二维和三维化学成像。- 数据采集过程中，保持实时聚焦，在整个药片表面获得最佳空间分辨率- 适用于测量片剂、粉剂、颗粒剂、液体和喷雾剂- 获取复杂表面（如药片表面）颗粒的分布和尺寸大小信息。- 确定片剂包衣均匀性- 测量表面形貌简化配方分析利用RA802，简化拉曼成像1.将药片放在专用的药片固定器上，根据需要折断或劈开。2.自动生成宏观图像，提供样品阵列的概况图。3.指定待分析区域4.RA802测试和分析 a.扫描药片，使用LiveTrack焦点跟踪技术保持焦点 b. 生成药片成像、颗粒统计数据以及显示药片化学和物理信息的指标节省时间-自动获取数据。它的排队功能使您提前设置测量，并让RA802自动运行-RA802使用线聚焦激光；样品上的功率密度最小化，避免了对敏感或脆弱样品造成损伤-以高达每秒950张光谱的超快速度采集拉曼数据（StreamLineTM Rapide）-无需对包衣药片进行耗时的切片或研磨，只需将其劈开以暴露内部结构数据可靠-显示样品真实成分详细的物理化学信息。无需样品制备，因此不存在改性或污染的风险-内置的自动性能验证（PQ）和优化-药物专用拉曼光谱库，可快速方便地鉴定未知物。灵活性-可生成完整片剂、劈裂的片剂、研磨片剂、粉末和喷雾剂的配方成像-区分和鉴定API多形体和赋形剂-通过透明包衣分析片剂-拉曼分析是非接触和非破坏性的，因此可以多次用拉曼和其他技术测试同一样品。强大的软件RA802的软件具有对过程中每一步进行管理的结构。独特的宏观图像提供了所有后续工作的概况图。RA802可以在无人看管的情况下，自动获取数据。其排队功能使您能够设置测试条件，并让仪器自己运行。您可以分析多个药片，而无需中途干预。在样品信息未知的情况下，雷尼绍的专有空建模技术可以自动分析样品并指认样品中存在的各组分。以下是几个使用RA802获得的拉曼3D成像的案例：

仪器简介： ML10 Gold 高性能激光干涉仪是机床、三坐标测量机及其它定位装置精度校准 用的高性能仪器。由于采用了独特的专利设计及最新的光电子技术，使ML10 Gold 激光干涉仪比市场上其它型号的激光干涉仪具有更高的性能和更先进的任选功能。 ML10 Gold 激光干涉仪提供有进行机器位置、几何精度测量的全套光学器件。 ML10 Gold 激光测量系统所有功能都设计与Laser 10 软件配合使用。除了测 量和分析诊断功能外，此软件包的标准配置还包括动态测量、旋转轴测量、双轴测 量和电子水平仪及千分表程序接口模块。 该激光干涉仪系统由激光头ML10 Gold、环境监测补偿器EC10，计算机接口卡 PC10* 或PCM20* 及高精度的光学器件组成。全部器件放在一个配小车的提箱内， 一人便可携带全部系统赴异地进行机器精度检定，大大改善了激光干涉仪的便携 性。 该激光干涉仪系统通过接口与IBM 兼容的PC 机（包括笔记本计算机）连接， 在灵活、直观的软件控制下进行自动测量，既节省了测量时间，又避免了人为误 差，并能按国际上通行的标准进行数据分析处理，如ISO230-2、JIS-B6330、 VDI3441、VDI2617、ASME B89等并适用中国国家标准GB17421-2000等，以便于按 不同标准进行机床精度的评定和比较。 技术参数： 1.线性测量分辨率: 0.001&mu m 2.线性测量范围： 40m（或任选80m） 3.线性测量精度: ± 0.7ppm 4.最高测量速度： 60m/min 5.长期稳频精度： ± 0.05ppm 主要特点： ML10 Gold是全球最畅销的用于长度计量的激光干涉仪,其最大的优点是所有测量功能均采用激光干涉原理,性能稳定,使用可靠,功能扩展性强,价格适中.

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国4D Technology动态激光干涉仪PhaseCam NIR产品型号：PhaseCam NIR关键字：4D Technology动态激光干涉仪PhaseCam NIR关键字描述：产品介绍：由于振动或空气湍流干扰,进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的准确度干涉测量是很困难的。使用所谓的"实时"相位测量干涉仪经常是碰运气或不成功的。4D Technology的PhaseCam系列是进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的准确度干涉测量的完善的解决方法。PhaseCam NIR系统可进行准确的表面和波前测量，结构紧凑，重量轻，近红外波长（1.053，1.064和1.3微米1:55）。进行干涉测量的器件可分别安装在较远并且无防震功能的光学平台, PhaseCam也可以容易得到高质量的测量,这归功于PhaseCam的快速测量能力使它很容易降低空气湍流产生的影响,更大量降低了测试周期,提高生产率。让您不须再因为环境的影响而牺牲了准确度。 参数：波长：1.053到1.064微米配置：光纤耦合头和源模块测量头尺寸：小传感器：1000 x 1000 px控制：电动应用：长距离，远程安装，NIR波长的大型焦点光学器件4D Technology的PhaseCam NIR和IR激光干涉仪可提供1.053到10.6微米波长的球形和平面IR光学器件和系统的准确表面和波前测量。这些仪器的采集时间不到30微秒，对振动和空气湍流不敏感，可以在困难的环境中使用，例如生产车间，洁净室和环境测试室。 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

在雷尼绍光栅尺里VIONiC是一款超高精度数字增量式光栅，其读数头内集成了雷尼绍经过市场检验的可靠光学滤波系统和先进的细分技术。VIONiC光栅系统具有多种速度和分辨率配置，并可配用一系列直线栅尺或圆光栅。这使其成为适合高精密反馈应用的功能最全面的光栅之一。此外，VIONiC读数头采用直观的自动校准模式设计，易于安装。在雷尼绍光栅尺里RTLC20是一款轻薄小巧的不锈钢钢带栅尺，其具有20 μm栅距的增量式刻线和用户可选择的IN-TRAC参考零位。精度达±5 μm/m，长度最大达10米。有两种安装选项可供选择，均具有独立热膨胀系数和钢带栅尺的便利性。RTLC20能够与创新的FASTRACK™ 栅尺导轨系统结合使用。该系统可快速轻松地安装导轨，而无需固定孔。移除一次性垫片，然后将钢带送入轨道。用背面自带的不干胶带将RTLC20-S粘贴到基体上。不干胶的作用是确保基体的热膨胀不会影响到栅尺。为了完成安装，两种类型的栅尺都用夹具夹在一个点上，从而提供基准位置。VIONiC将高速细分功能与优异的测量性能相结合，非常适合要求极为严苛的应用，因此是一款理想的光栅。它提供多种不同光栅配置，以便用户可根据他们的运动控制要求优化系统的速度和分辨率。此外，VIONiC读数头可与各种精度的直线栅尺和圆光栅配合使用。VIONiC光栅的校准简单快捷，因此非常适合用于大批量产线。搭配FASTRACK导轨系统的RTLC20栅尺非常适合需要将机器拆分进行运输或其他要求栅尺安装/拆卸转运的应用场合。栅尺可从导轨上拆下并快速重新装上，即使在空间狭小受限的场合也是如此，因此减少了机器停机时间。技术规格测量标准FASTRACK RTLC20：带导轨安装系统的不锈钢钢带栅尺RTLC20-S：背面自带不干胶带的不锈钢钢带栅尺，可直接安装至基体，无需FASTRACK导轨读数头尺寸 (LxHxW)35 mm x 13.5 mm x 10 mm栅距20 μm20 °C时的热膨胀系数10.1 ±0.2 μm/m/°C20 °C时的精度等级±5 μm/m参考零位IN-TRAC 参考零位直接嵌入RTLC20 / RTLC20-S选择器磁体用于识别一个或多个参考零位限位开关双限位栅尺长度FASTRACK：100 mm至25,000 mmRTLC20/RTLC20-S：20 mm至10,000 mm最高速度最高可达12 m/s（详见规格手册）电子细分误差 (SDE)典型值 ±15 nm*动态信号控制实时信号调节，包括自动增益控制 (AGC)、自动平衡控制 (ABC) 和自动偏置控制 (AOC)，整个工作条件范围内实现性能优化增量信号分辨率从5 μm至2.5 nm（详见规格手册）电气连接电缆长度为0.5 m、1 m、1.5 m、2 m和3 m，采用D型插头（9针和15针）或圆形同轴插头（12针）电源5 V -5%/+10%，完全端接通常200 mA振动（工作）55 Hz至2,000 Hz时100 m/s2（最大值）震动（非工作）500 m/s2，11 ms，?正弦，3轴工作温度0 °C至+70 °C防护等级IP40雷尼绍光栅尺，首选创盛世

专为光刻机配套开发的高精度测量系统；通过国家重大专项“极大规模集成电路制造技术及成套工艺”项目验收。采用直接输出线偏振光的双频激光器；非线性高精密测量系统，测量更精准；可提供1~20MHz频差内任意频差产品，满足各种测量速度需要。光源和测量信号接收单元分体式设计，方便搭建XY位移台等多轴测量系统；精巧的测量信号光纤接收头，即使空间狭小也能方便安装；标准光刻机干涉仪安装尺寸和数据接口，可直接替换现有产品。型号频差(MHz)最小出光功率(μW)光斑尺寸(mm)稳频精度(ppm)LH1000A1.5±0.55006±0.02LH1000B2.5±0.5 5006±0.02LH1000C3.5±0.5 5003, 6, 9±0.02LH1000D4.5±0.55006, 9±0.02LH1000DL5.5±0.5 5006, 9±0.02LH1000EL6.5±0.55006±0.02LH1000FL7.5±0.55006, 9±0.02LH1000GL8.5±0.5 5009±0.02LH1000H9.5±0.5 5003, 6, 9±0.02LH1000I10.0-20.0(按需定制) 5003, 6, 9±0.02

一、GPI系列激光干涉测量仪，运用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半径，样品表面质量，传输波前的测量和分析。可应用于：1、平面和球面的面形检测2、平面楔角测量、直角棱镜的直角偏差和任意角度的加工偏差3、光学材料均匀性测量4、角锥角度和面形偏差测量5、精密盘片质量检验6、三平板绝对测量7、双球面绝对测量8、静态干涉条纹判断9、泽尼克多项式分析10、球面曲率半径测量二、GPI系列高精度激光干涉测量仪的主机为Fizeau型干涉仪，具有光学器件少，精度高，易于使用等特点。光源为低功率氨氖激光，光束扩展为1英寸（25mm）至 32英寸（810mm）直径，自干涉仪输出。安装在输出孔之前的标准透射器件将部分激光反射回干涉仪，形成参考波面。余下激光穿过透射器至样品。根据光束在样品表面直接反射或透射后再反射回主机，形成测量波面。根据参考波面和测量波面干涉产生的干涉条纹，可以测量样品的表面面形和传输波面质量，样品为平面或球面。如果为非平面和非球面，则需通过加装补偿片等手段进行测量。GPI系列干涉仪采用精密移相技术和高分辨率CCD接收器件（最高可达 2048 X 2048），配合功能强大的MetroPro?软件可以获得高精确性和高质量的测量结果，其平面样品 PV绝对精度优于λ/100 ！三、球面样品 PV绝对精度优于λ/140！并能模拟样品表面面形，包括鲜明的，可旋转的3D彩色图像，可选的剖面图以及各种统计数字结果等。同时，针对用户的各种样品、各种要求，可以通过提供各种精密可选附件，配合功能强大的MetroProTM软件，为用户提供完美的技术解决方案并获得满意的测量结果。四、GPI－XP系统最大的特点就是其功能强大的MetroProTM软件系统。使用互动的窗口显示，在屏幕上同时提供仪器控制，表面面形模拟，测量数据的统计分析等功能。测量数据可以存在磁盘上，或传输至其它计算机作进一步处理或统计分析。也可以使用彩色打印机打印出MetroProTM高质量的数据图像。 Mesa―平面度测量仪。 ZYGO公司专为精密机械加工件和薄型光学元件的平面度测量而设计的一种干步测量仪器，其测量对象是粗糙度为2.5μm(Ra)和平面面形误差150μm(Pa)以下的零件，测量样品直径可达Ф96mm。Mesa同样采用功能强大的MetroProTM软件，可在5秒钟内完成测量和分析，并向用户提供零件的三维面形图和各类测量数据。

高分辨率激光干涉仪所属类别： ? 光学/激光测量设备 ? 波前分析仪 所属品牌：法国Phasics公司 产品简介高分辨率激光干涉仪便携式、高分辨率、高动态范围激光干涉仪！ 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪(High-resolution Interferometer)是一款便携式、高灵敏度、高精度的波前分析仪。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪基于波前分析的四波剪切干涉技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，优秀的检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点），3D显示等优点。 关键词：干涉仪、激光干涉仪、球面干涉仪、激光平面干涉仪、干涉光刻、传函仪、白光干涉仪、Zygo、波前分析仪、波前传感器、迈克尔逊干涉仪、便携式干涉仪、光学传函仪法国Phasics公司超分辨激光干涉仪基于便携式、高灵敏度、高精度波前分析仪。该激光干涉仪采用四波剪切干涉专利技术，与传统干涉仪相比较具有结构紧凑，使用方便，无需标准件，优秀的检测稳定性，直接测量任意的波前、高分辨率（300x400采样点）、激光波长覆盖400-1100nm、消色差、高动态范围（500um）等优点。 法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪可用于激光波前检测、激光强度检测、等离子体密度检测、透镜检测、高功率激光自适应、光刻机检测、精密光学元器件检测、光学系统装调、镜头模组检测、传递函数（MTF）检测等。法国Phasics公司超分辨剪切干涉仪并可实时检测为客户提供最优化的数据支持。 产品特点：1、直接测量、无需标准件 图一、检测光路 2、高灵敏度（是普通白光干涉仪的8.4倍）、对振动不敏感 图二 与传统的干涉仪检测结果对比3、三维立体显示 图三、波前三维检测视图4、实时显示泽尼克系数 图四、多阶泽尼克显示界面5、传递函数（MTF）检测 图五、传递函数检测界面 干涉仪应用领域： ? 激光光束性能、波前畸变、M^2、强度等的检测 ? 红外透镜检测? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 光刻机物镜检测? 大口径高精度光学元器件检测? 透镜、镜头模组检测? 传递函数测量? 等离子体密度检测? 高功率激光自适应 产品系列： 相关产品 超高速液晶空间光调制器 PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器

海思科技 吴先生 美国Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K1/白光干涉仪Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K1/白光干涉仪布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球领导者，服务于科研和生产领域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了先进的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，是历年来来进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中，最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。应用： 对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全方位非接触式测量方案，样品从小至微米级别的微机电器件（MEMS），大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据原理：利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。测量精度决定于测量光程差的精度，干涉条纹每移动一个条纹间距，光程差就改变一个波长(～10-7米)，所以干涉仪是以光波波长为单位测量光程差的，其测量精度之高是任何其他测量方法所无法比拟的。特征：◆业界的垂直分辨率，大的测量性能；0.5~200倍的放大倍率；任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；高分辨率摄像头；◆ 测量硬件的独特设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力专利的自动校准能力；◆ 多核处理器下运行的Vision64? 软件，大大提高三维表面测量和分析速度数据处理速度提高几十倍；分析速度提高十倍；无以伦比的大量数据无缝拼接能力；◆ 高度直观的用户界面，拥有业界的实用性，操作简便和分析功能强大优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；独特的可视化操作工具；可自行设置数据输出的界面

用于SENTECH Instruments等离子系统的SENTECH SLI激光干涉仪端点监测器与聚焦的相干激光束一起工作。激光束穿过等离子系统的顶部视口，并被样品反射。反射光照射到检测器上并测量强度。主要功能与优势用于蚀刻和沉积工艺的自动激光终点检测使用SENTECH SLI激光干涉仪进行原位测量特别适用于监测透明层的终点检测、透明层界面的终点检测以及蚀刻不透明薄膜和在界面上停留的终点检测。多层模式顺序端点配方多终点配方包括 EPD 的多个条件，这些条件按顺序执行，从而可以在多层蚀刻过程中根据单个薄膜特性更改等离子体工艺参数。与SENTECH操作软件SIA集成的终点检测SENTECH SLI激光干涉仪可以与SENTECH操作软件SIA集成，用于特定的终点检测配方，通过使用简单的行业标准命令行直接参数化终点监测。灵活性和模块化SENTECH SLI 激光干涉仪原位光学计量终点监测仪可与整个系列的 SENTECH 等离子蚀刻和沉积处理系统一起使用，它与穿过等离子系统顶部视口的聚焦相干激光束一起工作，然后被样品反射以准确测量强度。单独的照明 （LED） 和 CCD 摄像头用于观察样品和调整激光光斑。整个终点监视器由自动 x y 载物台移动，允许使用 SENTECH SIA 操作软件系统轻松进行点调整。使用 SENTECH SLI 激光干涉仪进行自动原位测量非常适合在蚀刻或生长透明层或层状结构时监测层厚度。