化金层测厚仪

无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡，以制造、贸易一体发展，产品——在线镀锌锌层测厚仪；——在线钢丝镀锌测厚仪；——在线硅钢干膜测厚仪，以“区别于其余产品”的设计原理，存于行业，以“为您提供一步到位的产品”为已任，为仪器制造产业争光增彩。 企业原则：以质量，诚信为根为本；企业宗旨：为您提供一步到位的产品。 服务产品：在线镀层测厚仪，在线镀锌层测厚仪，在线镀铝锌层测厚仪，在线镀锡层测厚仪，在线金属镀层测厚仪（镀锌测厚仪，锌层测厚仪，镀锌层测厚仪，镀铝锌层测厚仪，锡层测厚仪，镀银层测厚仪，锌层厚度检测仪，镀锌在线测厚仪） 在线钢丝镀锌层测厚仪，钢丝镀锌测厚仪，钢丝镀层测厚仪，钢丝在线检测仪，钢丝在线测厚仪，钢丝测厚仪，镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪，硅钢干膜测厚仪，干膜厚度测厚仪，涂层干膜测厚仪，在线干膜测厚仪，干膜测厚仪，干膜涂层测厚仪

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸滤光片：铝、空、镍准直器：?0.05mm；?0.1mm；?0.2mm；?0.5mm；四准直器任选一种近测距光斑扩散度：10%小测量面积：约0.002mm2测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸：500mm*360mm样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）外部尺寸：540mm*430mm*475mm移动方式：高精密XY手动滑轨可移动范围：40mm*50mm电源：交流220V 50HZ 功耗：大120W（不包括计算机）冷却系统：对流通道过滤式风冷保养升级模块：软硬件模块化环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%重量：约45KG随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 （涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题） (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

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仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)（涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测 厚仪行情、涂层测厚仪参数、涂层测厚仪应用、涂层测厚仪维修、涂层测厚仪保养、涂层测厚仪报价、涂层测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题）

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。　　涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必-不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。　　涂层测厚仪测厚方法　　磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。　　涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。　　超声波测厚法国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。　　电解测厚法此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。　　放射测厚法此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。　　选型方法　　用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。　　技术原理　　磁吸力测量原理永-久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最-广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。　　磁感应测量原理采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专-利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　电涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适激光测厚仪的测量原理使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。激光测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材涂层测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。

产品概述：TC4500涂覆层测厚仪为磁性和涡流两用覆层测厚仪,不仅可以用来测量钢铁等磁性基体,还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层,可自动识别测量基体,自动转换。操作单,携带方便,性价比高,适合各种复杂的测量环境，深受广大用户所喜爱。升级“专业工业模式"，硬件和算法全面优化提优，带来更高的精准度，可以与APP实时互动及分享检测数据。功能特点：● 专业工业分析模式● TC4500涂覆层测厚仪全中文菜单● 自动识别金属底材● 自动选择测量方法——磁性法或电涡流法● 蓝牙连接功能● 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警●两种开/关机方式：手动开/关机方式和自动开/关机方式●电池电压指示：低电压提示技术参数：型号参数适用场合磁性基体上的非磁性涂层无磁性但导电基体上的绝缘涂层测量范围0-2000μm(1000μm=1mm)读数分辨率0.1μm (0-99.9μm范围)；1μm（100-2000μm范围）最小测量面积10*10mm最薄基体厚度0.4mm最少曲面直径凸:5mm；凹：5mm使用环境温度-20～50℃；湿度10-85%RH测量误差1-1000μm：±(2%H+1μm)；1000μm：±(5%H+1μm)标准配置TC4500主机（一体探头）、Fe/NFe基体、标准片、仪器箱、质保卡和合格证。

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科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

YT-211涂层测厚仪概述无接口涡流探头，检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-211涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单；● 可储存500个测量值；● 数据删除功能；● 可设置界限；● 对界限外的测量值能自动报警；● 电源欠压指示；● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警；● 电压提示，自动关机；● 大屏幕LCD背光显示，可调节对比度；● 两点校准，能提高精度。技术参数项目Leeb211测头类型N1 （不可拔插）工作原理涡流感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±（3%H+1）二点校准±[（1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm（主机）重量150g标准配置主机、标准试片、基体、N1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示

菲希尔无损测厚仪可用于检测金镍厚度，元素分析，涂层镀层检测，材料分析等。菲希尔X-RAY系列产品可以分析从元素氯(17)到铀（92）的元素，最多可同时测定24种元素。设计理念：FISCHERSCOPE X- Ray ADLM-PCB系列仪器是用户界面友好的台式测量仪器。测量门底部留有空隙，以方便对大面积印制电路板的测量。 样品定位简便的特点：XDLM-PCB 200型：首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。XDLM-PCB210和220：仪器配备了高精度、可编程的XY平台，并带有弹出功能。激光点作为辅助定位，能帮助快速对准测量位置。高分辨彩色摄像头，使得对准测量位置的过程更加准确。简便。通过强大且界面友好的WINFTM® 软件，可以在电脑上便捷地完成整个测量过程，包括测量结果的数据分析和所有的相关信息的显示等。X-RAY XDLM-PCB系列仪器完全符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。应用领域：钟表，首饰，眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB正业科技主要从事检测仪器和高端材料，菲希尔为正业代理的德口产品，如想了解菲希尔的更多产品可以直接联系。