射荧光光谱仪

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射荧光光谱仪相关的厂商

  • 布鲁克(北京)科技有限公司是布鲁克在中国的全资子公司。布鲁克中国的总部位于北京海淀区,在上海和广州设有分公司。布鲁克AXS公司负责中国区X射线类产品的销售和售后服务工作,主要产品有X射线多晶衍射仪、X射线单晶衍射仪、X射线荧光光谱仪和三维X射线显微镜。关注AXS微信公众号,获取更多X射线分析技术和产品介绍。
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  • 400-860-5168转1430
    天津天光光学仪器有限公司在技术装备上拥有较全面的机械、光学加工能力及手段。近年来,为提高企业整体实力,尤其在光学非球面和超薄平面冷加工技术、光学复制技术、平涉滤光片制造技术及红外制导技术等方面都独具特色。 是红外分光光度计的生产基地,主导产品有红外分光光度计、紫外分光光度计、荧光分光光度计、看谱镜及药典仪器等系列产品。长期以来,公司以市场为导向,以高质量的服务为目标,在巩固原有成熟产品的基础上,不断开发、研制新产品,现有几十种满足不同行业需要的高质量的分析检测仪器产品。仪器以光、机、电为一体,具有先进的自动化和智能化等特点。公司产品已被广泛用于各大专院校、各级药品检查单位、各大药厂、环保、水晶、石化及光学透反射测量等行业,满足各单位分析测试工作的需要。公司产品遍布全国,具有优秀的质量服务信誉,深受广大用户的欢迎和好评。
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  • 苏州华谱科学仪器有限公司是一家高科技分析仪器企业,总部坐落于风景秀丽的江南水乡花园城市苏州。是一家专业从事以进口设备的销售为主导,为客户提供具有国际竞争力的产品及配套服务。在分析仪器行业尤其是光谱分析领域享有盛誉主要产品包括:手持式X荧光光谱仪,台式X荧光光谱仪,波长色散X射线光谱仪,直读光谱仪,移动式光谱仪,X射线涂镀层测厚仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,原子吸收光谱仪,激光诱导击穿光谱仪等等。
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射荧光光谱仪相关的仪器

  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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射荧光光谱仪相关的资讯

  • 【朗铎科普】手持式X射线荧光光谱仪辐射大吗?对人体有伤害吗?
    手持式X射线荧光光谱仪是通过内部高压发生器产生X射线激发被测物体表面电子,电子在跃迁时发生能量释放从而获得各种元素的特征谱线。在设计手持式X射线荧光光谱仪时,优先考虑的就是使用安全。手持式X射线荧光光谱仪的辐射几乎可以忽略不计,只要操作得当,不会对人体造成伤害。尽管如此,我们在使用仪器时依然要注意安全,这样才能保证操作者和其周围人员的人身安全。辐射在我们的生活中无处不在数据显示,人类每时每刻都生活在各种辐射中。来自天然辐射的个人年有效剂量全球平均约为2.4毫西弗,其中,来自宇宙射线的为0.4毫西弗,来自地面γ射线的为0.5毫西弗,吸入(主要是室内氡)产生的为1.2毫西弗,食入为0.3毫西弗。人每年摄入的空气、食物、水中的辐射照射剂量约为0.25毫西弗。戴夜光表每年有0.02毫西弗;乘飞机旅行2000公里约0.01毫西弗;每天抽20支烟,一年有0.5至1毫西弗;一次X光检查0.02毫西弗。手持式X射线荧光光谱仪辐射安全常识在设计上,赛默飞世尔尼通手持式X射线荧光光谱仪在不进入测试界面测试时,不会发出任何电离辐射(即X射线)。对于一个给定的辐射源,三个因素决定了人体所接受的辐射剂量:1受照射时间受照射的时间越长,人体所接受的辐射剂量也就越大。辐射量与受照射时间成正比。2与辐射源的距离离辐射源越近,所受的辐射剂量就越大。所接受的辐射剂量与辐射源的距离的平方成反比。例如,距离辐射源1英尺所接受到的辐射量是距离辐射源3英尺所接受到的辐射量的9倍。因此,当仪器快门打开时,应保证手和身体的各个部位远离仪器的前端,以使所受的辐射量减至最小。3辐射屏蔽屏蔽指的是任何介于操作者和辐射源之间的材料。屏蔽材料越多,材质密度越大,所受到的辐射就越少。可选购测试架作为测试样品过程中一种附加的屏蔽装置,反向散射屏蔽附件也十分有效,对于某些应用特别适合。孕妇使用时应该注意:错误操作与使用会导致辐射暴露。操作人员对设备安全需负责:使用时,设备应该始终由受过正规培训的操作人员负责。不使用时,应放到安全地方存放。测量时,不要将手部接近设备头部。当检测窗口被物体覆盖时,安全指示灯亮。如果探测器未检测到物体时,不会产生出X射线。关于X射线设备仪器的辐射安全标准对人体伤害可以参照关于X射线设备仪器的辐射安全标准。在我国国家标准GB 15208。GB15208:1-2005《微剂量X射线安全检查设备第1部分:通用技术要求》中,对微剂量X射线安全检查设备提出的辐射安全指标是:设备的单次检查剂量不应大于5μGy;在距设备外表面5cm的任意处(包括设备的入口、出口处),X射线泄漏剂量率应小于5μGy/h。Gy(戈瑞):吸收剂量,指人体受到电离辐射后吸收了多少能量。1千克被照射物吸收电离辐射的能量为1J(焦耳)时称为1Gy。即:1Gy=1J/kg。Sv(毫西弗):有效剂量,是反映各种射线或粒子被吸收后引起的生物效应强弱的电离辐射量。它不仅与吸收剂量有关,而且与射线种类、能量有关。(1Sv=1J/kg,1mSv=10-3 Sv)首先设备本身应带有射线的屏蔽装置,比如说防护铅板和铅玻璃。其次,管头有光闸或者防护罩,主要照射面应该是密不透风的。至于漏散的部分,计量相对于要照射面更小,且波长变长,对人体的危害可以认为就更小了。X射线是直线不会拐弯。综上所述,只要正确操作手持式X射线荧光光谱仪,是不会对人体造成伤害的,手持式X射线荧光光谱仪的用户们可以放心地使用。操作手持式X射线荧光光谱仪注意事项扣动扳机之前请注意X射线穿越方位。检测过程中不要将身体任何部分接近检测区域,尤其是眼睛和手部。不要手拿样品至检测窗口进行测量分析,而是要将设备测试窗口抵住样品来进行测量。在检测小且薄的样品或低密度材料,例如:塑料,木材,纸或陶瓷时,请使用配选件安全遮挡或台式样品架进行检测。操作设备时,如果有需要,可以配备有正规机构认证的剂量计。
  • X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护
    一般来讲仪器的电气参数随温度变化而漂移,致使测量结果会受到一定影响。尽管我们采用的是电制冷全数字脉冲型处理技术和用软件的办法来消除漂移,但其测量结果还是会受到一定的影响。接下来和一六仪器一起了解X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护。  X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护:  一、光管老化  本公司采用业内一流的X射线光管,很少有坏的例子。但X射线光管的寿命不仅取决于光管的质量,而且很大程度上依靠使用者的保养和维护。光管的保护主要来自二个方面:  1、当仪器在测量时,不要突然断电,应先关闭软件,再关闭光谱仪   2、光管老化。当仪器在初次使用或放置3天以上不用的情况下,测试前务必先做光管老化。光管老化工作由仪器根据设定的条件自动进行。  二、清理样品室  X射线荧光光谱仪是比较精密的仪器,不仅实验室要求保持干净,仪器内部也要求干净。特别是对于经常测量粉末压片样品的用户,要定期清洁载物台和样品室,保证样品和仪器内部不受污染,保证测试的数据准确可靠。样品室的清洁方法:  1、打开样品腔的上盖,套上探测器保护盖。  2、用吸尘器的吸管伸入样品腔吸取灰尘。  3、保证吸尘器的吸管远离探测器的头部位置,以免损坏探测器端面的脆弱薄膜。  三、开机和关机  严格按《手册》要求的顺序开机和关机。在仪器开机后,预热5~10分钟后,使电路工作在稳定的状态后,才开始进行正常测试。如果短时间内不需测试时,不用关闭仪器。  四、软件的日常维护  将测试数据和测试用的相关文件定期备份,可备份到D盘或光盘。  由于仪器配置的不同和软件版本的变化,X射线荧光光谱仪维护所提到的操作步骤可能会有一些变化。如果在仪器的使用过程中有任何不清楚的地方,请与仪器供应商或相关服务人员联系,我们将竭诚做好售后服务工作,保证您的光谱仪工作在最佳状态。  以上就是一六整理分享的关于X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护,希望可以帮助到大家。想了解更多相关资讯,欢迎持续关注。
  • X射线荧光光谱仪发展历史,你了解多少?
    X射线荧光光谱仪在我们生产的各个领域都有广泛的应用,对于企业生产质量的保障都有重要作用。X射线荧光光谱仪也经历了长时间的发展过程,在发展的过程中不断突破技术瓶颈,变得越来越好。那关于X射线荧光光谱仪的发展历史,你了解多少呢?跟着X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。  1895年德国物理学家伦琴发现X射线   1969年美国海军实验室研制出第一台EDXRF   1990年北京中产电子、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂研制EDXRF   1997年德国菲希尔在中国注册公司销售EDXRF测厚仪   2000年英国牛津仪器在定型自有FP算法   2001年英国牛津在中国注册公司销售EDXRF测厚仪   2003年德国费希尔仪器在定型自有FP算法   2005年日本精工仪器在中国注册公司销售EDXRF测厚仪   2009年国内仪器厂商海外购买FP算法推出EDXRF测厚仪   2017年一六仪器全新EFP算法成熟,推出新一代EDXRF测厚仪   一六仪器发展历程:  2009年一六仪器团队成员根据多年的EDXRF研发及应用经验,重新搭建更新一代算法、结构、部件及控制总成系统。  2012年算法模型和新型搭建成功,部件开始投入市场。  2015年EFP核心算法的软件进行整机测试其最小测量面积、变焦、及复杂多层的能力。  2017年12月正式发布新型测厚仪XTU系列及EFP算法软件。  至今相继推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多种仪器型号,功能包括涂镀层分析、Rohs检测、地质地矿全元素分析、古董珠宝贵金属检测。  以上就是X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容,如果大家想要了解更多关于X射线荧光光谱仪的内容,欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。

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  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别

    一.X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代,由于可以对复杂体进行多组同事测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后,对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)这节进入SI(LI)探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来,由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益搜到认识,发展迅猛。 二.波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪,它产生信号的方法相同,最后得到的波谱也极为相似,单由于采集数据的方式不同,WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。(一)原理区别 X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是用分光近体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。(二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2-3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为而能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF)

射荧光光谱仪相关的耗材

  • X射线荧光光谱仪样品杯盒1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • X射线荧光光谱仪样品薄膜-3025#
    质量保证正品、XRF样品薄膜、Chemplex、X射线荧光光谱仪、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3025#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。XRF样品薄膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,薄膜样本支撑窗,XRF样本薄膜,XRF样品膜,X-ray样品薄膜,ROHS检测专用薄膜,迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜,是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3025产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 有方形托架的圆片:3025 Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 2.5”(63.5mm) 100片
  • X射线荧光光谱仪样品杯2144#
    美国Chemplex样品杯XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型:XRF样品杯Sample Cups品牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国一、产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z、Xlt794、Xlt898;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。)三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。
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