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射线字多析器

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射线字多析器相关的仪器

  • 多模式X射线层析成像CT,是用于物质构件内部结构特征分析的重要科学仪器,应用一套扫描工作台,可以实现锥束扫描、螺旋扫描以及对板状物体的多种扫描模式,用于物质内部结构分析、材料构件应力状态分析;广泛应用于电子信息、材料科学、机械制造、航空航天、军工、考古等行业及国际民生和安全信息等领域。性能特点? 在线检测2D/3D在线智能识别判定;? 多模式扫描、多模式采集、多模式重建;? 阵列X射线探测器与多模式X射线层析成像分析仪高度集成? 多能量(微焦点、小焦点、大焦点)射线检测。创新优势物质内部结构分析、材料构件状态分析多模式X射线层析成像CT有着得天独厚的优势,已经成为高校研究机构、生产研发单位等的必备检测分析设备。多模式X射线层析成像CT,对相关学科科学研究具有重要科学意义,对相关产业新产品研发与质量检测同样具有重要的实用价值。多模式X射线层析成像CT为奥龙集团自主研发,先后获得国家科技部项目支持,承担国家重大科学仪器设备开发专项,并已成功通过验收。在线检测、在线智能识别判定对断层缺陷进行在线电子判读,在线连续动态成像。将人工智能识别技术与3D成像技术结合,自动识别被检测物内部缺陷位置、形态和类别。多模式扫描;多模式采集;多模式重建全角度锥束CT扫描重建 、螺旋锥束CT的扫描重建、平面CT的扫描重建、局部有限角CT扫描控制、双能谱扫描控制重建多能量(微焦点、小焦点、大焦点)射线检测针对工业各类形状的检测工件,不同行业要求进行多能量射线、多模式感知扫描检测。异型构件双能量扫描模式层析成像针对高密度、厚薄不均单材质异形金属工件,双能谱投影信息融合高动态CT重建
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  • X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器应力分析仪X射线线阵探测器1、产品特点: MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数(HPC)技术的所有优势:如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等,并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸:MYTHEN2 R 1K(含1280条微带)和 MYTHEN2 R 1D(含640条微带)。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑,传感器位置对称, 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合, 能够获取更宽的角 度覆盖范围,最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm,具有三种可选厚度,分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度: 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间,因此可用于以钛靶光源进行测试的场合,特别适合原位残余应力分析;标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率,适用于所有X射线分析场合:与 1000μm 传感器共同使用时,可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势: - 短微带,适用于钛靶及铬靶高产出测量场合; - 厚传感器,适用于银靶光源进行PDF测量; - 结构紧凑体积小,适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算; - 可实现多模块系统组合,覆盖更广的角度范围; - 无需维护及耗材。 3、应用领域: -X-射线粉末衍射和散射技术; - 残余应力测量; - 薄膜和织构分析; - PDF分析; - SAXS、WAXS、GISAXS; - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 :MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积(宽*高)[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2(r m s)[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸(WHD)[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸(WHD)[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注:所有规格如有变更,不做另行通知。
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  • 主要特点新一代小分子单晶X射线分析装置。PILATUS是新一代探测器,以前仅仅用于同步辐射。其卓越的性能可以将测量时间缩短到以前的20%(与CCD比较)。PILATUS在室温状态使用,环境要求宽松,半导体探测器,免维护,低使用成本。仪器采用微聚焦X射线发生器,大大提高小晶体的测试能力。 技术参数 1、使用PILATUS 200K全新平面探测器 测量时,可以连续扫描,不需要关闭快门,直到数据采集完成;不像传统的IP或CCD需要不停开闭快门 惊人的动态范围,可以达到106photons/pixel 无暗电流,无噪音,可以长时间曝光 高灵敏度,可以得到高S/N 像素172um,它可以准确地解决重叠问题 半导体探测器,免维护,常温使用 2. 测角仪包括 Partial Chi(&chi ) Fixed Chi(&chi ) three-axis AFC-Kappa four-axis 3、光源可以提供 3 kW sealed tube MicroMax003 DualSource (MicroMax003 Cu + MicroMax003 Mo) MultiMax9 MicroMax007HF MicroMax007HF-DW(Cu/Mo) 4. 选件,可以提供低温装置
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  • PI的X射线相机使用科学级,二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路,多读出口,多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直,聚焦,高速采集等操作;低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的X射线相机具备16位的数模转换电路,工业标准的接口,方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XO 软X射线相机适用于紫外,深紫外的X射线相机高敏感度,热电制冷的PIXIS-XO相机有多款不同的深耗尽式和背照式CCD芯片,用于直接探测 ~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线。 可旋转型的ConFlat 法兰的高真空设计,可软件选择的增益和读出速度,使得这款相机非常适合各种高真空的应用。 软X射线相机" height="210" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202407/uepic/3d35cd72-7b7e-4506-a694-e298fa19232e.jpg" width="188" style="border:0px vertical-align:middle max-width:100% height:auto !important " PIXIS-XO具有以下优点:&bull 多样的芯片选择(1340 x 100 to 2048 x 2048 pixel arrays 13 x 13 µ m to 20 x 20 µ m pixel sizes)&bull 可探测范围:30 eV to ~20 keV&bull 可旋转的CF法兰接口&bull 灵活的双读出放大器&bull 高速USB2.0接口&bull LightField可实现全面的控制 产品综述探测到更多的X射线光子! PIXIS-XO相机致力于提供非常高的直接探测性能,广泛用于X射线谱仪,X射线成像,X射线显微镜,X射线等离子诊断,深紫外刻蚀技术。 伴随着众多可选的CCD格式,100%覆盖率,低噪声电子电路,-70℃ 到 -90℃的热电制冷等,PIXIS-XO为用户提供了方便快捷的实验操作和OEM条件。 产品特点可探测范围:30 eV to ~20 keV适合各类应用 高速USB2.0数据接口:任何电脑直接连接,无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力,最高可达2MHz读出速度 可旋转的CF法兰盘: 方便准直X射线光路,提高成像和成谱质量。灵活的双读出放大器:灵活设置,优化实验高敏度ADC提供最低的读出噪声大容量ADC提供最高的动态范围最好的线性度 LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除,平场纠正和误差检测PICAM(64)位通用程序语言,方便的程序修改与编译 型号规格PIXIS-XO Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表型号像素像素尺寸传感器型号100B 1340 x 10020 x 20 μm背照式100BR 1340 x 10020 x 20 μm背照式, 深度耗尽400B 1340 x 40020 x 20 μm背照式400BR 1340 x 40020 x 20 μm背照式, 深度耗尽1024B 1024 x 102413 x 13 μm背照式1024BR 1024 x 102413 x 13 μm背照式, 深度耗尽1300B 1340 x 130020 x 20 μm背照式2KB 2048 x 51213.5 x 13.5 μm背照式2048B 2048 x 204813.5 x 13.5 μm背照式PIXIS-XO 直接探测型相机的量子效率* 有关各型号中可用的 CCD 类型,请参阅数据表。 产品应用1.X 射线等离子体诊断学热等离子体和高密度等离子体在基础物理学研究中具有重大意义,因为它们会产生许多有趣的现象。 2.软 X 射线显微镜软 X 射线显微镜用于成像和研究生物样本等的元素组成和结构。 3.超紫外线光刻技术超紫外线光刻技术保留了传统光学光刻工艺的外观和感觉(即使用 13.5 纳米波长),并使用相同的基本设计工具,因此越来越受欢迎。 4.X 射线光谱法X 射线吸收光谱是对材料中元素局部结构的一种特定元素探测。
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  • PI的X射线相机使用科学级,二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路,多读出口,多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直,聚焦,高速采集等操作;低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的X射线相机具备16位的数模转换电路,工业标准的接口,方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XF 间接探测型X射线相机高灵活性中等能量X射线相机PIXIS-XF有前照式和后照式CCD,前端采用独特设计的荧光屏和其他兰伯特源来实现对X射线的间接探测。PIXIS-XF具有独特的物理设计,其光纤耦合部分从真空中延伸出来,为实验搭建带来许多便利之处的同时,还优化了部分能量范围的响应率。 100kHz和2MHz的双读出速度使相机可以用于各种不同的应用。 间接探测型X射线相机" height="211" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202407/uepic/ff2fd1b7-2a37-4462-be0d-e0abdc0dd478.jpg" width="189" style="border:0px vertical-align:middle max-width:100% height:auto !important "产品特点: &bull 众多CCD芯片选择:前照式与后照式 (1024 x 1024 or 2084 x 2084 pixel array 13 x 13 µ m or 13.5 x 13.5 µ m pixel size)&bull 可探测范围:3 keV to 20 keV&bull 高速USB2.0接口&bull 灵活的双读出放大器&bull 独特的机械设计,方便快速更换荧光屏&bull LightField可实现全面的控制 产品综述出众的灵活性PIXIS-XF拥有100%的覆盖率,1:1的光纤光路,超低电子电路噪声,热点制冷,以及紧凑的整体设计,无需维护的操作,也非常适合OEM开发。 常见的应用有: micro-CT,X射线衍射, CRT/扫描变向管,工业和医学成像。现场随时可以更换荧光屏来适应不同的X射线能量; GdOS:Tb 荧光屏可以用于探测8 至 17 keV 能量范围。Simulated fluid streamlines through the pore space in a coral. Image courtesy of Dr. Tim Senden, ANU, Canberra, Australia. 产品特点可探测范围:3 keV to ~20 keV:X射线CTX射线工业和医学应用独特的荧光屏快速更换:方便快速切换不同荧光屏来满足于不同X射线能量的需求灵活的双读出放大器:两个独立的读出放大器,可以处理低噪声和高动态范围两种应用。高敏度ADC提供最优的读出噪声高容量ADC提供最大的动态范围高速USB2.0数据接口: 任何电脑课直接连接,无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力,最高可达2MHz读出速度LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除,平场纠正和误差检测PICAM(64)位通用程序语言,方便的程序修改与编译。 型号规格PIXIS-XF Indirect Detection型号比较和数据表型号像素像素尺寸能级范围量子效率传感器类型XF-1024F 1024 x 102413 x 13 μm3.5 kev - 150 kev.32% at 550 nm前照式XF-1024B 1024 x 102413 x 13 μm3.5 kev - 150 kev.97% at 550 nm背照式XF-2048F 2048 x 204813.5 x 13.5 μm3.5 kev - 150 kev.32% at 550 nm前照式XF-2048B 2048 x 204813.5 x 13.5 μm3.5 kev - 150 kev.97% at 550 nm背照式产品应用1.相干 X 射线衍射X 射线衍射是研究大分子、晶体、粉末、聚合物和纤维等物质特性的一种技术。 2.软 X 射线显微镜软 X 射线显微镜用于成像和研究生物样本等的元素组成和结构。 3.超紫外线光刻技术超紫外光刻技术越来越受欢迎,因为它保留了传统光学光刻工艺的外观和感觉(即使用 13.5 纳米波长),并使用相同的基本设计工具。 4.条纹管读出条纹管读出通常用于获取皮秒到纳秒时间段内的强度与空间或光谱信息。 5.微型计算机断层扫描显微计算机断层扫描是一种独特的技术,可对材料进行无创、无损的三维表征,精确到微米级。
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  • X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点: MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数(HPC)技术的所有优势:如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等,并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸:MYTHEN2 R 1K(含1280条微带)和 MYTHEN2 R 1D(含640条微带)。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑,传感器位置对称, 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合, 能够获取更宽的角 度覆盖范围,最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm,具有三种可选厚度,分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度: 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间,因此可用于以钛靶光源进行测试的场合,特别适合原位残余应力分析;标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率,适用于所有X射线分析场合:与 1000μm 传感器共同使用时,可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势: - 短微带,适用于钛靶及铬靶高产出测量场合; - 厚传感器,适用于银靶光源进行PDF测量; - 结构紧凑体积小,适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算; - 可实现多模块系统组合,覆盖更广的角度范围; - 无需维护及耗材。 3、应用领域: -X-射线粉末衍射和散射技术; - 残余应力测量; - 薄膜和织构分析; - PDF分析; - SAXS、WAXS、GISAXS; - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 :MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积(宽*高)[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2(r m s)[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸(WHD)[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸(WHD)[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注:所有规格如有变更,不做另行通知。
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  • 技术参数 1、使用新一代高分辨X射线探测器HyPix6000HE.HyPix6000HE是理学公司全新自主开发的一款通用型、高性能光子直读X射线探测器。HyPix6000HE具有极低的背景噪音、极宽的动态范围、能够完全无快门数据收集。.检出方式:直接读数 .有效面积: 77.5 mm × 80.0mm .像素大小: 100 μm × 100 μm.冷却方式: 空冷.读数动态范围: 最大31 Bit .读数时间: 无快门模式,0ms模式 2. 测角仪AFC-Kappa four-axis 3、光源包括:微焦斑、微焦斑转靶MM007HF,微焦斑转靶超高辉度FR-X 靶材包括:Cu,Mo,或Cu/Mo双光源 4、低温装置 5、软件CrysAlisPro控制收集数据软件AutoChem全自动结构解析软件 主要特点 .日本理学与牛津衍射(前安捷伦X射线事业部)的联合,将以为晶体学家提供卓越的仪器和获得高质量的数据为目标,全力引领行业的新时代。 .优秀的硬件、软件与专业技术的融合将为单晶衍射市场带来令人兴奋的未来,开拓无限可能的境界。
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  • 多轴全功能X射线数字成像(DR)系统产品介绍多轴全功能X射线数字成像(DR)系统是华日理学20余年来X射线数字成像技术经验的结晶,在多功能检测平台系统领域中属技术领先水平。系统采用先进的工艺制造,满足市场最高标准的检测要求。 该系统是一种针对复杂检测任务开发应用的新型全功能X射线数字成像系统,系统是基于组态数字控制的多轴(2~7轴)同步交叉运行的高精度智能化设备,是复杂零件100%检测的首选产品。检测范围包括各类金属铸件、焊接件、塑料品、陶瓷体和树脂浇铸件等各种材料。 系统采用模块化设计,便于系统升级和扩展。X射线管工作电压从75KV到600kv可选配,其数字成像采用非晶硅技术新式线阵或平板探测器。所有系统的设计都符合最新的国际射线安全标准。系统无需另加辐射防护装置,可方便安装于车间生产流水线或者实验室的任何地方。系统通常由X射线机系统、数字成像系统、图像采集及处理系统、电气控制系统、机械传动系统、安全防护系统及其它部分等构成。 应用检测范围包括各类金属铸件、焊接件、塑料品、耐火材料、陶瓷体、复合材料和树脂浇铸件等各种材料。可广泛应用于航空、航天、军工、装备制造、电子电力、汽车零部件制造等行业的无损检测。优势、效果、特点 多用途,覆盖广泛的工件检测 电控采用人机对话,易于操作,人性化软件界面设计 结合平板检测器(FDD)和XRT HD V2.0图像处理,高动态范围图像(HDR)增效可得到表现极佳的图像质量 模块化组合,不仅具有普通射线检测功能,它还配备了可选的计算机断层扫描功能(CT),使得用户可以获得 被检件内部更详细三维的关于缺陷位置和面积的信息 根据客户需求非标定制,可自定义工装夹具,软件功能等要求,提供完美解决方案设备运行高适用性,高可靠性,使用寿命长达20年
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  • 仪器简介:&bull XtaLABmini的出现,标志先进的台式X射线单晶衍射技术时代的到来;仪器技术先进,操作简单,为学生和研究者提供测试分析平台;不需要培训,通过自动测量软件及自动分析软件,可以得到精确的小分子结构数据。 技术参数:1. X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W2. 光学系统:SHINE3. &chi :固定在54º 4. &Phi :-360º ,沿样品中心轴自由旋转5. &omega :2&theta ± 90º (-60~120º )6. 2&theta :固定30º 7. 70倍CCD摄像头观察样品8. 照相距离:50mm9. 探测器:CCD10. 探测面积:&Phi 75mm11. 像素尺寸:73.2&mu m/146.4&mu m12. 像素点数:1024x1024/512x51213. 读取时间:2.24sec/0.56sec14. 暗电流:0.1electorns/pixel/sec15. 选件,可以提供低温装置主要特点:&bull XtaLABmini是专门为晶体学家、课题组开发的仪器。实现小型化,充分发辉理学的技术优势,是世界上最小的单晶衍射装置。自动测试、自动分析。即使没有相关经验,也可以使用本仪器实现自动快速收集数据及分析工作。数据符合Acta投稿要求。使用新型CCD探测器,读取数据时间大幅度降低,通常2~3小时可以完成晶体的数据采集。有极高的性能价格比,保养简便,使用成本低。
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  • 传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化,而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程,通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发,能够提供拉伸及压缩功能,同时覆盖几N到20kN载荷范围,同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料,高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品,我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具,以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制,载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台,该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸,压缩,扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域:低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料,高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品,我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题(PProGRess),其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台,得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台,其回答到:“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统,其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求,目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开,结合提供多种定制化夹具设计能力,则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具,这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台,该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试,能够施加高达20kN的力,专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的,该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起,并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师,他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目:“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究,以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性,需要大量的仔细规划,但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统,这些测量将很难实现,因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度(冷冻能力)。以前,我们主要使用自己构建的测试载台,但是这些都没有温度控制,同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器,这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外,该软件界面易于使用,并得到蔡司Scout and Scan软件的支持,该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”
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  • 高分辨微焦点X射线成像分析仪一、概述X-viewer 作为平生公司一款科研级微焦点X射线数字成像产品,以其优异的硬件性能精湛的图像算法和成熟的处理软件,满足了各个高端科研领域用户对于非破坏结构成像的多样化需求,丰富的档位兼顾了空间分辨率和更宽广的观测视野需求。设备融入了公司十余年来在分子影像设备研发和应用上的宝贵经验,面世以来收获了广泛的认可和高度评价。X-viewer 具有快速成像特点,分辨率高、信息量大、目标辐射损伤小、运行及维护成本低、安全性高等一系列优点。在生命科学领域,可以快速观察动植物体内的组织和结构,快速诊断或评价;也可作为Micro CT预实验、快速筛查等的补充设备,可列装于各大高分辨无损结构成像的实验室。全屏蔽设计的机身已通过出厂安规检测,搭配可移动承重平台,使用更安全,操作更简便。二、应用领域• 小动物活体成像:大小鼠/啮齿类小动物研究(骨骼、骨质、钙化点、关节炎症、肺部病变、肿瘤、心脑组织及血管的造影)。• 离体组织成像:颅脑、口腔、齿科研究,离体骨骼或组织造影观测。• 水生生物(包括海洋生物)的研究:鱼类、两栖类水生生物表型研究,水产养殖过程中的个体差异性研究等• 植物及农业学:种子筛选及评估,研究病虫害或其他外力损伤对种子萌发的影响;提供中草药品质品性的图像甄别依据;为部分研究农业昆虫的用户提供高分辨昆虫内部结构图像。• 验室无损检测:在体生物材料成像、珠宝杂质测、医疗器械检测、PCB失效性检测等。• 已装有Micro-CT的用户,可搭配X-viewer使用,为Micro-CT提供预实验,提高效率。三、产品特点• 2-15秒,实现快速拍摄、即时出图极短的拍摄时间,尽量降低对实验动物的曝光剂量,实现真正无损、快速成像。• 超高分辨,展现更多结构细节采用微焦点X射线源,搭配高清平板探测器,1-40倍多级放大设计,实现微米级的图像分辨率,展现更加丰富的细节。• 更大的成像视野选用大尺寸平板探测器,可以对兔子、猫等活体小动物全身成像。• 强大便利的图像软件自识别目标档位,测量参数自动匹配,多种测量、标注、图像处理功能,应用于不同目标物体(如小动物、离体标本、水生生物、植物农业、珠宝、电子器件等)的多种场景拍摄。提供多种图像处理效果,操作结果可实时保存并导出,保障数据可靠性。• 使用安全和便利性设备曝光工作时,任意表面辐射剂量1μSv/h——达到本底辐射水平。操作人员无需专业的X射线知识,简单培训即可使用设备。• 产品稳定、维护简单产品设计优良、性能稳定,维护成本低;同时,厂家具备完善的售后服务体系。?四、图像案例1.小动物活体成像 2.组织与离体标本 ?3.水生生物学研究 4.农业与植物学 5.其他无损检测五、售服平生医疗科技(昆山)有限公司(简称“平生”)是国内临床前分子影像科研设备的领航开发制造商,也是国内在生命科学领域生产并推广高分辨全景X射线成像分析仪的厂家。平生旗下的临床前分子影像产品自推出市场以来,已有诸多成功装机客户,设备的性能和可靠性得到了客户的认可。同时,平生总部在昆山、子公司在上海,全国七大中心城市设有办事处,拥有自己的售服工程师团队,能为客户提供及时有效的售后响应。高效的售服保障、良好的性价比以及产品的性能可满足客户实验要求:• 重要指标如空间分辨率达到国际同类产品的前沿水准• 与进口同类产品相比,售服响应更有保障、服务质量更有优势• 厂商可提供定制化服务,发挥了国产制造商的优势• 售价合理,并能公开透明设备的维修零部件价
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  • X射线衍射仪探测器 400-860-5168转3524
    X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点: MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数(HPC)技术的所有优势:如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等,并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸:MYTHEN2 R 1K(含1280条微带)和 MYTHEN2 R 1D(含640条微带)。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑,传感器位置对称, 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合, 能够获取更宽的角 度覆盖范围,最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm,具有三种可选厚度,分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度: 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间,因此可用于以钛靶光源进行测试的场合,特别适合原位残余应力分析;标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率,适用于所有X射线分析场合:与 1000μm 传感器共同使用时,可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势: - 短微带,适用于钛靶及铬靶高产出测量场合; - 厚传感器,适用于银靶光源进行PDF测量; - 结构紧凑体积小,适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算; - 可实现多模块系统组合,覆盖更广的角度范围; - 无需维护及耗材。 3、应用领域: -X-射线粉末衍射和散射技术; - 残余应力测量; - 薄膜和织构分析; - PDF分析; - SAXS、WAXS、GISAXS; - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 :MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积(宽*高)[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2(r m s)[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸(WHD)[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸(WHD)[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注:所有规格如有变更,不做另行通知。
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  • Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研发出的一款基于ESCALAB 250Xi产品后,具有可扩展功能、多种分析技术集成化的测试手段。该产品通过无与伦比的灵活性、完备的专业配置选项、直观的软件操作以及硬件配置,带给用户的是领先的的实验结果和生产力。强大的Avantage数据系统提供系统控制、数据采集、数据处理与系统运行报告等一站式服务。入围优秀新品获奖理由:先进的成像探测器设计,用于定量XPI成像: 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计,可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成像的需求。空间连续的电阻阳极探测器创新技术,一方面使得XPI成像分辨率达1um,另一方面使得XPI成像得到数据无探测器背底特征,无需背底校正,直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果。 可选配的EDS探测器,实现体相分析技术和表面分析技术的结合: 新设计Xi+系统可选配EDS探测器与俄歇电子枪结合,可实现样品纳米尺度的体相微区元素成分分析,EDS可探测微米深度的元素组成,可以用于材料深度剖析前的元素组成预判。体相敏感的EDS技术和XPS表面分析技术的结合可更直观地用于研究合金等的表面偏析行为。 标配的反射电子能量损失谱REELS分析技术,用于弥补UPS能带分析和XPS元素分析: REELS可以探测材料的能级和带隙结果,并可用于材料中H元素含量的定量。与UPS技术结合可了解完整的价带导带信息,并弥补XPS、AES等技术不能检测H元素含量的缺陷 发展的系列基于Xi+的成熟准原位样品处理、制备、反应系统: 基于Xi+,设计的一系列成熟的ALD、MBE样品制备系统,高温高压催化还原反应系统和样品退火系统,满足不同的科研项目需求。配备为提供最佳 XPS 性能而设计的单色化X射线源,确保ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针有最高的样品测试通量。多技术能力、一系列灵活的样品制备室及样品处理设备,使该仪器在解决任何表面分析问题时都能游刃有余。利用先进的 Avantage 数据采集和处理系统,从测试数据中挖掘尽可能多的信息。ESCALAB Xi+ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 微探针的特点:高灵敏度能谱小面积 XPS深度剖析能力角分辨 XPS标配离子散射能谱 (ISS)功能标配反射电子能量损失谱 (REELS)功能标配“样品预处理”室多技术分析的多功能性多个样品制备技术可选全自动无人值守式分析多样品分析单色化X射线源双晶体微聚焦单色器配备一个 500 mm 直径的罗兰圆,使用铝阳极靶样品 X 射线光斑尺寸可选择范围为 200 至 900 μm透镜、分析仪和检测器透镜/分析器/检测器一体化使 ESCALAB 250Xi XPS 能谱仪同时具备成像和小面积 XPS 分析能力的独特性两种类型的检测器可以确保为每种分析提供最佳检测——二维检测器用于成像,基于通道电子倍增器的检测器则用于需要检测高计数率的能谱分析透镜配备了两种电脑控制的光阑组件,一套视场光阑用于控制低至 20 μm 的分析区域,适用于小面积分析;另一套光阑则用于控制透镜的接收角,对于高质量角分辨 XPS 至关重要180° 半球型能量分析器深度剖析数控式 EX06 离子枪是一款高性能的离子源,哪怕在使用低能离子源时也有着很好的性能提供方位角样品旋转多技术能力可配备其他分析技术而不降低 XPS 检测性能使用 EX06 离子枪时透镜组和能量分析仪的电源可反向(确保离子散射能谱 (ISS) 可用)电子枪可加压升至 1000 V,为 REELS 提供优异的离子源技术选项非单色化 X 射线光源的XPS分析AES(俄歇电子能谱)UPS(紫外光电子能谱)真空系统5 mm 厚高导磁 金属分析室,最大程度提高磁屏蔽效率与使用内部或外部屏蔽的方法相比,屏蔽效能更佳样品制备系统标配一体化的快速进样室和制备室额外的制备室可选Avantage 数据系统集成了测试分析的所有方面,包括仪器控制、数据采集、数据处理和报告生成允许远程控制,并且可轻松与第三方软件交互(例如 Microsoft Word)管理从样品载入到报告导出的整个分析过程
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  • X-射线结构分析 400-860-5168转1766
    SAXSpace纳米结构分析仪(X-射线结构分析)使用小角和广角X-射线散射(SAXS/WAXS) 方法研究纳米结构,研究对象包括蛋白质、食品、药品、聚合物和纳米复合材料、纳米粒子和催化剂等。样品:液体、固体、粉末、薄膜、纤维、膏状体、纳米结构表面粒径、体积:最大 100 nm(间距 200 nm),最小 10 μL温度范围:-150 °C到300 °C
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  • XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品,广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸:750(L)×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸:400(L)×100(W)×100(H)mm3n 主机质量:约45Kgn 工作环境温度:0~40oCn 工作环境相对湿度:≤80%n 元素分析范围:AI-Un 含量分析范围:1ppm~99.99%n 重复性:<5%n 测量时间:一般60~300sn 测量对象:块状物体、粉末、液体n 激发功率:50Wn 探测器分辨率:149gevn 输入电源:AC110V/220Vn 高压电源:0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量:≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5
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  • MYTHEN2 X射线探测器 MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义,呈现出另一个层面:成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合,开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数, MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率,挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统(DCS4)兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素,无论从现场应力测量到快速相变,MYTHEN2 X深化了其细节,并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合:1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑,- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合,其帧率能达到1000赫兹,并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度,确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术,涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸:1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪,无论是紧凑空间,还是多模块系统设置的需求,4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状,并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合,确保了高量子效率和最佳信噪比,使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点,MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更,将另行通知。
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  • MYTHEN2 X射线探测器 MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义,呈现出另一个层面:成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合,开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数, MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率,挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统(DCS4)兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素,无论从现场应力测量到快速相变,MYTHEN2 X深化了其细节,并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合:1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑,- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合,其帧率能达到1000赫兹,并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度,确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术,涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸:1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪,无论是紧凑空间,还是多模块系统设置的需求,4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状,并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合,确保了高量子效率和最佳信噪比,使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点,MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更,将另行通知。
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  • 设备概述:多能量多视角X光射线行李安全检查设备发射X射线束穿透检查通道上的行李包裹,探测器将X射线转变为信号后处理,显示屏上即出现不同颜色的影像,各类物质呈现的颜色存在差异,消除人眼误差,帮助安检人员快速识别可疑物,提高危险品的查堵工作效率。产品优势:【一键控制】旋转钥匙,设备自动安全关机【动态切换】静止/动态画面自由切换,可分屏显示【高低显示】提高图像中亮区的对比度,增加穿透区清晰度【超薄检测】超薄检测功能可对过薄无法遮挡光障的物体检测【节能设计】自动感应物体后,自动启动检查,无行李时保持静止【彩色影像】有机物显示为橙色,无机物显示为蓝色,混合物显示为绿色【远程升级】具有远程联网软件升级优化功能,系统软件终身免费升级优化【自主配置】设备可搭配多种功能:指纹开关机、多台联网控制、人脸识别、违禁品管理系统产品参数:产品尺寸3880×1750×1870mm(L*W*H)(不含接物架)接物架:1322mm(L)操作台:1200x760x1200mm(L*W*H)通道尺寸1000×1000 mm(W*H)传送带额定负荷≥250kg分辨力直径0.0787mm的单根实芯铜线穿透力38mm钢板射线束方向顶照式工作电压220VAC(±10%)50±3Hz功率损耗1.0KW噪声级≤55dB应用场景:【海关边检】通关现场监管排查【交通枢纽】随身物品、包裹检查【大型活动】活动现场安全保障
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  • MYTHEN2 X射线探测器 MYTHEN探测器系统完全改变了X-射线粉末衍射晶体学的标准定义,呈现出另一个层面:成像时间。这一令人振奋的新领域与MYTHEN2 X 探测器完美结合,开启了时间分辨和现场研究的新纪元。基于MYTHEN的条带尺寸和点扩散函数, MYTHEN2 X 在最高动态范围内引入了前所未有的帧速率,挑战了能量范围的极限。带有电子门控和外部触发的探测器控制系统(DCS4)兼顾了定制化的多模块解决方案以及与其他系统完全同步的探测器。时间层面并不是促使数据质量和系统灵活性之间的平衡主要因素,无论从现场应力测量到快速相变,MYTHEN2 X深化了其细节,并能够在固态反应中进行观察。 MYTHEN2 X 探测器是为对速度和数据质量无任何限制的高要求的用户而设计的。现在是你该采取行动了。核心优势- 帧率为1000HZ - 两个模块组合:1280和640数据带- X-射线能量低至4keV的短数据带- 适用于PDF测量的厚传感器- 多模块系统满足您的要求- 外观为对称设计,小巧紧凑,- 无需维护和载体史无前例的速度 MYTHEN2 X 探测器使用4个模块组合,其帧率能达到1000赫兹,并保持其动态范围在24位。这些新进展并不要求数据质量的平衡。MYTHEN的50微米的线带可使用两个长度,确保X-射线能量范围的高分辨率和最佳信噪比。自定义形状的灵活系统 全能型MYTHEN2 X系列探测器采用了3个厚传感器和两个长数据带的HPC技术,涵盖了在4和40keV中所有X-射线分析的需求。在设计的MYTHEN2模块适用于两种尺寸:1280带线的MYTHEN2 R 1K 和640带线的MTHEN2 R 1D。 MYTHEN2 R探测器以其紧凑型尺寸和相对称的传感器结构适用于任何衍射仪,无论是紧凑空间,还是多模块系统设置的需求,4个模块的系统可适用于任何您想要的设备形状,并能通过使用探测器控制系统DCS4进行同时操作。应用- 时间分辨试验- X射线粉末衍射和散射技术- 残余应力测量- 薄膜与纹理分析- PDF分析- 小角X射线散射、广角X射线散射、掠入射的小角散射- 色散荧光光谱4毫米长数据带实现低能耗 320微米厚的传感器和4毫米线带的完美结合,确保了高量子效率和最佳信噪比,使能量低至4keV. 整合荧光抑制作用和无暗流等特点,MYTHEN2系统确保X射线衍射应力测定和X射线衍射残余奥氏体的测定精度精确到毫秒级别。低于4KeV的X-射线能仅适用于320微米X 4毫米的传感器。型号如有变更,将另行通知。
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  • 概要 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7000开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合,为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描;高能量分辨率,高计数率的测量,且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换(大气或真空)。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7000操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 μm和1.2 mm间切换,以保证获得最佳测量条件,无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机,可以迅速、精确地定位感兴趣区域。单点及多点自动分析 单点和自动多点分析功能使得无论是从单个分析位置或是用户定义的一系列位置上均可以获得高质量的谱图。可自动标注元素谱峰。使用基本参数法或单标样基本参数法或是标准样品校正曲线法定量计算,最低可测量ppm级的含量。膜厚分析软件可以分析nm级或μm级样品的多层膜厚。高光谱面扫描 SmartMap软件在每个像素点采集元素谱图。采集结束后,用户可以根据自己的分析,添加或删除某个元素面分布图,实现已有数据实现脱机分析。 X射线透射图像有利于用户观察样品内部构造,实现真正的无损内部观测。 特征 有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用:电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。XGT-7200的灵活设计,保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果,无论是分析大区域,还是对微区细节分析,或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。 *最高的空间分辨率 HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析,X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑,可进行快速无损的微细结构分析。*X射线透过像 同时采集XRF图像和X射线透过像的功能,可以用来分析无法用肉眼观察到的样品内部构造和元素组成。采用超细垂直的X射线束,即使观察不平坦样品也可以获得清晰的内部图像。*双真空模式 独一无二的双真空模式设计- 彼此间的切换在数秒内即可完成。 全真空模式,整个样品室处于真空氛围以保证轻元素分析的高灵敏度。 局部真空模式,样品处于大气氛围中,适宜于含水样品的分析,如生物组织、文物碎片和馆藏文物等。*完整地分析整个样品*整合数据采集和分析的操作软件 界面友好的操作软件允许用户方便的控制硬件、选择测量区域和全数据分析。功能包括:自动标定谱峰、定性定量测量、RGB图像合成,线分析等。大尺寸的样品室使得分析整个样品成为可能,用10微米束斑可以分析微小区域甚至到测量大至10cm x 10cm的区域。技术参数测量元素: Na~UX射线管: 铑(Rh)靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mAX射线荧光检测器: SDD硅漂移检测器透过X射线检测器: NaI(Ti)晶体X射线导管: 单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片光学图像: 样品整体光学像及共轴放大图像样品台尺寸: XY:100mm×100mm样品仓: 全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm信号处理: 数值脉冲处理器(INCA处理器 )定性分析: 自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配定量分析: 无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析(最多5000)/ 多点结果输出至Excel® 面扫描功能: 透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析其它功能: 可同时开启XGT-5200操作软件
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  • Vanta手持式X射线荧光分析仪  大幅提高现场和实验室的检测效率  使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合,提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用,可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计,是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作,能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。  ❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳  ❯ 握持安全舒适,适合全天时检测  ❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)  ❯ 符合IP54评级标准,防水防尘  ❯ 标准的3年质保,可保护您的投资  高效的工作流程  Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项,提高了工作效率。  ❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成,在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果  ❯ 通过自动软件更新,可即时享受新添功能  ❯ 可添加自定义分析功能的选项,提高了应用支持的水平  ❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云,无缝获取数据并使用多设备管理功能  Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。  值得信赖的XRF技术  Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪,可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。  ❯ Vanta系列分析仪所Axon技术,使用超低噪声电子元件,可实现更高的X射线计数率,从而可以快速获得精确、可重复的结果。  ❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能,因此无论您使用的是哪台分析仪,其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。  X射线荧光的工作原理  X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用:  1. 发射:分析仪发射X射线。  2. 激发:X射线照射样件,后者发出荧光,将X射线反射回分析仪。  3. 测量:探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量,从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。  4. 结果:能谱通过软件进行处理,并显示为样件的元素组成。在检测金属时,我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。  Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域  Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能,从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外,其报告创建过程也得到简化,而且其分析结果还具有可追溯性。  金属废料和汽车催化剂回收  用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能,可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间,从而既节省了时间,又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较,以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能,可为每个牌号编制信息,这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面,Vanta分析仪可快速分析贵金属含量,以进行准确的价格评估。  环境评估  Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查,以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察,然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS),以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。  材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证  Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金,从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下,就会放下心来,不用担心安全问题,尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能,都可使检测人员充满信心,并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。  珠宝分析和贵金属辨别  Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类,并可探测到镀金。  科研与教育  Vanta分析仪可提供定量元素信息,以指导研究实验,并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。  地球化学、勘探和采矿  Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果,以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想,以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾,在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验,可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件,将继续成为地球化学应用领域的优质选择。  合规和安全筛查  Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质,以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果,从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限,直观的界面可提供简单的通过/失败测定。  *仅限Vanta Max型号。  适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号  无论型号如何,每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计,具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。  Vanta Max  Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力,适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。  Vanta Core  Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性,是快速完成合金辨别的标准选择。  我们的承诺  Evident是XRF技术领域中的企业,在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队,在产品、应用、培训和技术方面,为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。  用途广泛的X射线荧光分析仪配件  Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用,包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套,以提高野外工作的效率。  土壤支架  Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件,您无需手持分析仪,就可以完成检测。在需要进行长时检测时,这个配件有助于轻松方便地完成检测。  野外台座  在检测较小的物件时,如放在杯中或袋中的样品,Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时,野外台座携带简单,使用方便。  机套  将Vanta分析仪放在Vanta机套中,不仅可使分析仪得到安全妥善的保护,而且还可方便地携带分析仪。  工作站  便携式Vanta工作站由电池供电,可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子,并提供360度屏蔽功能,可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中,用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。  Vanta的规格
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  • Vanta手持式X射线荧光分析仪  大幅提高现场和实验室的检测效率  使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合,提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用,可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计,是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作,能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。  ❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳  ❯ 握持安全舒适,适合全天时检测  ❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)  ❯ 符合IP54评级标准,防水防尘  ❯ 标准的3年质保,可保护您的投资  高效的工作流程  Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项,提高了工作效率。  ❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成,在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果  ❯ 通过自动软件更新,可即时享受新添功能  ❯ 可添加自定义分析功能的选项,提高了应用支持的水平  ❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云,无缝获取数据并使用多设备管理功能  Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。  值得信赖的XRF技术  Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪,可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。  ❯ Vanta系列分析仪所Axon技术,使用超低噪声电子元件,可实现更高的X射线计数率,从而可以快速获得精确、可重复的结果。  ❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能,因此无论您使用的是哪台分析仪,其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。  X射线荧光的工作原理  X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用:  1. 发射:分析仪发射X射线。  2. 激发:X射线照射样件,后者发出荧光,将X射线反射回分析仪。  3. 测量:探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量,从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。  4. 结果:能谱通过软件进行处理,并显示为样件的元素组成。在检测金属时,我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。  Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域  Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能,从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外,其报告创建过程也得到简化,而且其分析结果还具有可追溯性。  金属废料和汽车催化剂回收  用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能,可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间,从而既节省了时间,又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较,以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能,可为每个牌号编制信息,这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面,Vanta分析仪可快速分析贵金属含量,以进行准确的价格评估。  环境评估  Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查,以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察,然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS),以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。  材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证  Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金,从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下,就会放下心来,不用担心安全问题,尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能,都可使检测人员充满信心,并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。  珠宝分析和贵金属辨别  Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类,并可探测到镀金。  科研与教育  Vanta分析仪可提供定量元素信息,以指导研究实验,并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。  地球化学、勘探和采矿  Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果,以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想,以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾,在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验,可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件,将继续成为地球化学应用领域的优质选择。  合规和安全筛查  Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质,以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果,从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限,直观的界面可提供简单的通过/失败测定。  *仅限Vanta Max型号。  适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号  无论型号如何,每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计,具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。  Vanta Max  Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力,适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。  Vanta Core  Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性,是快速完成合金辨别的标准选择。  我们的承诺  Evident是XRF技术领域中的企业,在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队,在产品、应用、培训和技术方面,为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。  用途广泛的X射线荧光分析仪配件  Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用,包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套,以提高野外工作的效率。  土壤支架  Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件,您无需手持分析仪,就可以完成检测。在需要进行长时检测时,这个配件有助于轻松方便地完成检测。  野外台座  在检测较小的物件时,如放在杯中或袋中的样品,Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时,野外台座携带简单,使用方便。  机套  将Vanta分析仪放在Vanta机套中,不仅可使分析仪得到安全妥善的保护,而且还可方便地携带分析仪。  工作站  便携式Vanta工作站由电池供电,可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子,并提供360度屏蔽功能,可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中,用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。  Vanta的规格
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  • 技术参数: 1. X射线发生器:Mo靶,高频技术,600W 2. 光学系统:SHINE 3. &chi :固定在54º 4. &Phi :-360º ,沿样品中心轴自由旋转 5. &omega :2&theta ± 90º (-60~120º ) 6. 2&theta :固定30º 7. 70倍CCD摄像头观察样品 8. 照相距离:50mm 9. 探测器:CCD 10. 探测面积:&Phi 75mm 11. 像素尺寸:73.2&mu m/146.4&mu m 12. 像素点数:1024x1024/512x512 13. 读取时间:2.24sec/0.56sec 14. 暗电流:0.1electorns/pixel/sec 15. 选件,可以提供低温装置 主要特点: XtaLABmini是专门为晶体学家、课题组开发的仪器。实现小型化,充分发辉理学的技术优势,是世界上较小的单晶衍射装置。自动测试、自动分析。即使没有相关经验,也可以使用本仪器实现自动快速收集数据及分析工作。数据符合Acta投稿要求。使用新型CCD探测器,读取数据时间大幅度降低,通常2~3小时可以完成晶体的数据采集。有极高的性能价格比,保养简便,使用成本低。
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  • 软X射线探测器 400-860-5168转1980
    仪器简介:软X射线探测器分为AXUV系列,SXUV系列 ,UVG系列 这三个系列,其中AXUV系列适用于真空紫外、极紫外和软X射线探测器。SXUV系列探测器是专门为高通量的光子探测设计的,如配合使用在第三和第四代同步加速器和准分子激光器。该系列二极管由超大规模集成电路制造而成。UVG系列PN结光电探测器可以实现100%的光生载流子收集效率,所以被使用在近紫外和真空紫外(600--160nm)。技术参数:AXUV系列 AXUV系列适用于真空紫外、极紫外和软X射线探测器,由于不同于常见的pn结二极管,这些二极管没有掺杂死区,加之零表面复合处理,可以在紫外/极紫外范围内,达到理想化的100%内部量子效率转化。 IRD还提供与Cr,W,Au,Fe,Al等滤光片耦合的探测器,可以达到探测指定波长的效果。 SXUV系列 由于在硅PN结光电二极管前耦合铂硅化物入射窗,使得探测器可以探测超紫外光子(能量范围4ev&mdash 12KeV)。这些探测器是专门为高通量的光子探测设计的,如配合使用在第三和第四代同步加速器和准分子激光器。该系列二极管由超大规模集成电路制造而成。 IRD还提供与Zr,Si3N4,Si,SiC,Mo,Al滤光片耦合的探测器,可以达到探测指定波长的效果。 当脉冲能量超过20mJ,IRD还开发了带衰减器的探测器,以减少UV/EUV脉冲射线对探测器的冲击。 UVG系列 UVG系列PN结光电探测器可以实现100%的光生载流子收集效率,所以被使用在近紫外和真空紫外(600--160nm)。与传统的二极管不同的是,这些二极管没有掺杂死区,加之零表面复合处理,可以在紫外/极紫外范围内,达到理想化的100%内部量子效率转化主要特点:1.软X射线可直接照射探测器,无需闪烁晶体做转换 2.按可检测X射线能量范围不同及应用的需要,分为AXUV,UVG和SXUV三大产品系列,最低可检测0.04nm的软X射线 3.快速响应的探测器,响应速度达到ps量级 4.多元阵列,积分放大电路,并可根据需要集成带通滤光片 5.四象限位置传感器(Quadrant PSD)
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  • X射线吸收谱仪 400-860-5168转1382
    X射线吸收精细结构谱仪(XAFS)X射线衍射仪行业领军品牌仪器功能:X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。核心优势:最高光通量产品:光子通量高于1000000光子/秒/ev,采谱效率数倍于其他产品,获得和同步辐射一样的数据质量;优异的稳定性:光源单色光强度稳定性优于0.1%,重复采集能量漂移50meV1%探测极限: 高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据产品应用:新能源:燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。催化:纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态,与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等, 以及含量极低的元素的近邻结构。材料科学:用于各种材料表征,复杂体系和无序结构材料的研究, 放射性核素研究,表面、界面材料的相关性质研究,材料的动态变化过程研究。生物大分子:用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构,如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学:广泛用于玻璃,土壤,塑料,煤,铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析;动植物组织等样品分析;重金属污染检测等。
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  • X射线单晶衍射仪 400-860-5168转4552
    X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法,且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式,提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件,以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置,适用于化学结晶等典型用途,而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案,配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验,可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理,该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计,并且具有完全气冷配置。因此,D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数:具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置(可选) D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内,还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性,可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计,并且具有完全气冷配置。 因此,D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数:具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动,维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶,降低背底散射和放射损伤购置成本低,正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪,确保即使是zui小的样品,也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备(可选)设备咨询电话:(微信同号);QQ:;邮箱:欢迎您的来电咨询!
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  • R700型环境级Xγ巡测仪简述R700型多探头核辐射仪全面升级开发的图形界面操作系统,系统可兼容多种类型探头,用户无需更换主机,直接切换探头即可实现α、β、X、γ和中子射线的测量,满足不同场合需求,大大降低了用户的使用成本;同时仪器支持热插拔,很大程度提升了操作便利性。R700型多探头核辐射仪配合不同的探头,可以检测α、β、Χ、γ和中子。能量响应范围从2keV~7MeV,分辨率高,响应速度快,且增加了专利的本底移除算法,可移除95%的本底。探头采用高级航空铝材打造,浑然一体,防水防尘。R700提供大容量数据存储及数据阅读功能,并可上传到电脑保存并分析。R700型多探头核辐射仪主机采用3.2英寸全屏彩色触摸屏,可同时显示多种测量数据:实时值、zui大值、zui小值、报警阈值、%等,同时还可通过时域图展示射线的剂量率变化情况,仪器自动进行剂量率累计。 应用R700型多探头核辐射仪,可广泛用在餐厅,酒店,家庭,公共场所,实验室,采石场,金属处理厂,油田和供油管道装备,环境保护,警察局,出入境检验检疫等部门,用于: 检查食物污染检测液体污染检查周围环境污染检查地下钻管和设备的放射性检查石材等建筑材料的放射性检查瓷器餐具玻璃杯等的放射性检查局部的辐射泄露和核辐射污染检查有核辐射危险的填埋地和垃圾场检查个人的贵重财产和珠宝的有害辐射检测从医用到工业的X射线的X射线强度 产品特性1、 图形界面操作系统2、 中英文显示界面3、3.2英寸全屏彩色触摸屏5、主机自动识别探头,支持热插拔6、可连接不同类型探头,实现α、β、X、γ和中子射线的测量7、新增本底移除功能,可移除95%的本底8、大屏幕可同时显示时间,实时值,zui大值、zui小值,报警阈值,%等9、提供大容量数据存储功能,可自动或手动存储数据10、7000mAh大容量充电锂电池11、可通过上位机软件连接PC实现数据的存储、传输和分析等12、响应时间≤10ms13、主机内置GM补偿型计数管,可达10Sv。测量射线种类α、β、X、γ和中子射线量程量程:探头技术参数详见探头参数传感器种类探头技术参数详见探头参数。灵敏度详见探头技术参数能量响应详见探头技术参数显示单位Sv/h,Gy/h,Sv,Gy,CPS,Bq/cm2等显示面板3.2英寸全屏彩色触摸LCD显示屏 显示模式标准模式;时域图模式本底移除自动设置为当前值或手动设置操作系统图形界面操作系统;中英文显示界面报警方式声光报警,在量程范围内可自定义报警阈值通信接口USB选配件伸缩杆,伸缩长度49cm~153cm主机工作温度主机储存温度-20oC 至 +60oC-30oC 至 +70oC湿度0%~95%(无冷凝)尺寸主机:238mm×95mm×42mm 探头:详见探头技术参数重量主机:0.35kg 探头:详见探头技术参数电池可充电7000mAh锂电池电池连续使用时间省电模式续航时间24小时40小时探头技术参数探头类型探头型号 描述X(γ)巡测CS30A碘化钠闪烁体探头测量射线种类:X和γ射线探测器:φ30×30mm 碘化钠晶体量程:0.01μSv/h-2000μSv/h 累计剂量:0.001~9999mSv 灵敏度:1μSv/h≥350cps(137Cs)分辨率:0.01μSv/h能量响应:50keV-3MeV 相对基本误差:≤±10%尺寸&重量:φ48mm×332mm 0.69kg拓展性:可定制防水外壳,10m/30m/100m可选
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  • 英国Raptor Photonics公司的Eagle XV真空腔内X射线相机紫外成像仪是专门为真空特殊工作环境设计的,可以直接放置在真空腔室内使用。相机采用了Teledye e2v公司的背照式CCD芯片,100%的填充因子,可直接探测从真空紫外(极紫外)到软X-ray波段(12eV-20keV能量范围)。主要特性相机放置在真空腔室内使用来自Teledyne e2v的背照式CCD芯片可直接探测能量范围12eV-20keV制冷温度-80℃,暗电流0.0005e-/p/s提供完整真空馈通的解决方案真空度兼容性10-5至10-8mbar技术参数典型应用EUV X射线光谱软X射线显微镜VUV/EUVIXUV光刻X射线行射成像(XRD)X射线荧光成像(XRF)X射线相衬成像X射线等离子体诊断X射线源特性分析
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  • 北京华欧世纪光电技术有限公司是主要代理便携式X射线残余应力分析仪,残余应力分析仪,应力测定仪,X射线应力分析仪,X射线应力检测仪,便携式X射线应力分析仪,曲轴磨削烧伤检测仪,轴承磨削烧伤检测仪,凸轮轴磨削烧伤检测仪,磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空,石化、电力,锅炉压力容器,机械加工与制造,汽车制造,科研机构等领域。 便携式X射线残余应力分析仪可快速、轻松分析齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。有效避免有害的残余应力对工件的抗疲劳强度和耐蚀性能的降低,延长工件使用寿命,避免造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力,如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此,残余应力的精确测量变得非常必要。便携式X射线残余应力分析仪中央系统,包含系统接口线路板、安全控制锁、水冷高压发生器、热交换器和自循环水冷却系统。— 笔记本或台式电脑。配置了各种安全锁,满足工业安全标准。Stresstech Oy总部设在芬兰,是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂,自成立以来,就服务于各地的客户,提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。
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  • 真空紫外 ~ 软X射线光谱仪总览 McPherson可提供掠入射极紫外光谱仪,C-T,S-N,正入射,平场掠入射,掠入射C-T等多种结构的光谱仪,满足不同的应用,覆盖红外 - 可见 - 紫外 - 真空紫外 - 极紫外 - 软X射线全波段。大多数光谱仪可以和Andor 真空紫外CCD相机配合使用,成为该波段的摄谱仪。同时,McPherson提供范围极为宽广的VUV - XUV 光源、真空内光学器件、真空快门、真空狭缝等等,并可组建完整的真空紫外光谱系统。 波长范围(nm)分辨率(nm)焦距(mm)型号结构扫描功能CCD/MCP适配成像超高真空(选项)30 - 2,2000.1200234/302像差矫正S-N●●●30 - 1,2000.05500235S-N●●●105 - 20,0000.04670207VC-T●●●●30 - 1,2000.0151,000205自动聚焦正入射●●●●30 - 1,2000.0251,000231S-N●●●105 - 20,0000.011,330209VC-T●●●●30 - 2500.0053,0002253自动聚焦正入射●●●●30 - 2500.0026,650265离面正入射●●●●1 - 3100.0181,000248/310罗兰圆掠入射●●●1 - 800.025,650251MX平场变栅距光栅掠入射●●8 - 1200.08800OP-XCT离面掠入射C-T●●●●8 - 1200.12,000XCT掠入射 C-T●●●●10 - 1700.05292251平场轮胎面光栅掠入射●●●离面掠入射C-T结构光谱仪234/302 S-N 结构光谱仪 XUV空心阴极光源真空紫外光谱测试系统
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