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进口反射量仪

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进口反射量仪相关的论坛

  • 太阳光辐射测量仪品牌厂家价格方案

    太阳光辐射测量仪品牌厂家价格方案

    太阳光辐射测量仪品牌厂家价格方案高精度太阳光辐射测量仪可用于太阳直接辐射、总辐射、敞射辐射、反射辐射、大气长波辐射和地面长波辐射的测量。仝自动太阳追寻器是高精度太阳光辐射测量仪中的关键设备之一,是计算机控制的光、机、电体化系统,采用日历追寻方式和传感器追寻方式行平滑切换的工作模式,运行过程中不需任何人工干预,实现全自动、全天候、高精度追寻太阳。高精度太阳光辐射测量仪的试验进行,同时,又安装了辐射站业务用的辐射测量系统与之比较,原系统与新系统其用同个数据采集器获取数据。新系统的并辐射量各自的名称表示,原系统的辐射量加台站上业务辆射现测资料以示区别。[img=太阳光辐射测量仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/04/202204130921503936_9921_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]多功能太阳光辐射测量仪结构,主要由以下部件组成:1、跟日系统包括蜗轮传动的、由步进电机驱动的二轴转动系——追寻台。其上装有跟踪准直筒,它可指向空间任意方向。准直筒轴线后部装有四象限元件。当它对准太阳中心时,四象限元件的四个输出信号恰好相等;如有偏离则四个信号发生变化。利用微机来处理误差信号,并驱动步进电机,转动准直简直到对准太阳中心,这便实现了自动追寻。2、步进电机驱动电源,由微机控制其工作,它可供三台电机同时用。3、太阳光辐射测量仪探测系统包括接收准直筒及限光光阑,会聚透镜,可安放八块滤光片的转盘,滤光片驱动电机,恒温室,光伏探测元件,前置放大器等。4、微机系统,为了兼顾数据处理能力和通用性,我们采用IBM—PO兼容机,可达到高性能价格比。系统配备了专用的I/0接口和多通道i2bit高性能的A/D转换板。[img=太阳光辐射测量仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/04/202204130922147079_9749_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]5、电子单元,包括4096倍程控变增益放大器,四象限信号放大器及其它接口电路。6、太阳光辐射测量仪温度控制器,用来控制探测元件室的温度,使其保持在40范围内,以提高仪器的长期温度稳定性。

  • 路面太阳辐射反射系数检测仪

    路面太阳辐射反射系数检测仪

    路面太阳辐射反射系数检测仪太阳辐射反射系数检测仪是在水平表面上从2π球面度立体角中接收到的太阳直接辐射和太阳散射辐射之和(短波),即太阳直接辐射的垂直分量和水平面上接受到的散射辐射总量,业务上通常用太阳辐射反射系数检测仪来进行观测。根据安装状态不同,太阳辐射反射系数检测仪可分别测量太阳总辐射、反射辐射,或借助遮光装置测量散射辐射。对于太阳辐射反射系数检测仪传感器的选择主要有以下三点:一、能否达到既定的太阳辐射测量精度要求;二、在满足测量精度的情况下,太阳辐射反射系数检测仪尽量使用低功耗的传感器,这是由于系统的设计电源是采用电池供电;三、太阳辐射反射系数检测仪传感器要能满足被测介质和使用环境的特殊要求,例如在高温、低温下的工作情况以及防腐等。[img=太阳辐射反射系数检测仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210170914044180_4640_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]用于测量太阳和天空辐射,适应很宽的波长范围。太阳辐射反射系数检测仪为可以借助不同牌号的有色光学玻璃制作的半球形外进行不同宽波段太阳辐射的测量。太阳辐射反射系数检测仪由一个组合热电堆电路组成,可以很好的抵抗机械震动和打击。太阳辐射反射系数检测仪的接收器上有一层黑漆,底部为一个半球形玻璃项罩。玻璃半球使用的是测量用玻璃,其对于0.305pm-2.8pm的波长具有非常好的透光性,而且能量传输非常的均一。太阳辐射反射系数检测仪根据黑色涂料吸收太阳辐射产生热效应的温升值来确定辐射强度。温升值采用热电堆测得。[img=太阳辐射反射系数检测仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210170914391157_1723_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]

  • 【求助】光泽仪和反射仪有什么不同?

    请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100,带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100,光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零,也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解:反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪?如果能这样理解,且不是反射仪可以用光泽仪来替代?学得很肤浅,请大家不吝赐教!

  • 关于物位测量仪表的一些基础信息

    基本概念: 物位是指物料相对于某一基准的位量,是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量,其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计,测量液位的仪表称为液位计,测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况,液位测量占有相当大的比例,故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表,其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类:物位测量方法很多,测量范围较广,可从儿毫米到几十米,甚至更高,且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此,工业上所采用的物位测量仪友种类繁多,技其工作原理可分为:(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理,通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度,是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力,测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理,利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位,且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化,进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同,可分为电容式、电阻式和电感式3种,其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种,其中气介式可测液位和料位;液介式可测液位和液—液相界面;固介式只能测液位,比如:防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计,可测液位和料位,: (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时.被吸收而减弱,其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外,还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表,以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型,且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种.前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等,后者比较简单价廉,主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

  • 反射吸收法

    用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面,其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是,只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

  • 【讨论】绝对反射附件

    紫外分光光度计中的附件有个5°C入射角镜面反射附件,这里面的反射用的基准是镜子之类的,这里的反射应该是相对反射;那绝对反射附件里面的基准是什么啊?好像没有这么理想的镜子啊,没有的话,那绝对反射附件的工作原理又是什么?

  • 【讨论】红外的漫反射

    了解红外也有一段时间了,红外的各种附件也都有了大体的了解,现在我想和大家探讨下红外漫反射.我用过加近红外积分球的那种漫反射,但是还有普通的漫反射没用过,不知道用漫反射做出来的谱图和透射图一样不?什么情况下用漫反射.漫反射附件价格如何大约多少美金?欢迎大家讨论.

  • ICP工作时反射功率,您注意过吗?

    ICP工作时反射功率,您注意过吗?一般像我们选择ICP功率在1200W,那么此时仪器存在反射功率,那么反射功率多大了,大了小了影响怎么样?为什么有存在反射功率说法?

  • 常用光学计量仪器分类

    [font=宋体]在实际应用中,尽管光学计量仪器多种多样,但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体],它们是:[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理,光学计量仪器可分为[color=blue]:自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率,在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角,用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量,应用此原理的光学计量仪器有:自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比,有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有:工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等;[/font][font=宋体]投影系统的主要性能:是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射,再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有:大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作:“尺子”,实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]

  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

  • 在线水份(水分)测量仪

    在线水份测量仪简介:(在线、非接触、实时测量固态物料的含水率) 在烟草、木材(纤维板、刨花板)、化工(洗涤剂、肥皂粉、化肥)、造纸、化纤、粮食(油菜籽、谷物)、饲料、茶叶、食品(面粉、淀粉、奶粉、大豆粉)、冶金(烧结料、石英沙、水泥)等工业部门的生产过程中,需要快速而连续地在线测定和控制固体物料的含水量,物料水分是一个十分普遍而又相当重要的监测和控制参数之一。例如,在烟草生产过程中,烟丝或烟叶含水量是最重要的一个工艺参数,在线连续测定和控制烟丝或烟叶的含水量,对于提高卷烟成品的质量,降低能耗和提高生产效率均有显著的经济效益。 “数字化在线水份测量仪”将传感器和数字信号处理两部分集成在一起,使用发光二级管数字面板直接显示固体物料的百分比含水量。利用光谱吸收原理制成的水份仪,与其它测定水份的仪器相比较,它具有如下特点:1、非接触测定,对传送线没有影响,对操作也不带来麻烦。2、可连续测定行进中的和静止的物料含水量,特别适用于在线监测。3、既可独立测定水份,也可输出信号,可供记录,并可组成自动反馈控制系统。4、仪器采用密封结构,能在粉尘较大的环境下工作,安装简单,使用方便。5、采用数字电路进行信号处理,可长期稳定地工作。 技术特性水份测试范围: 0∽50%1、安 全 性 : 绝缘电阻500MΩ2、精 确 度 : ±0.2%3、重 复 性 : ±0.1% 4、稳 定 性 : 每180天校准一次5、使用温度范围: 0∽+40℃6、阻 尼 : 采样次数用户可自调7、输 出 信 号 : RS485 8、电 源 : 220V±10% 50Hz9、功 耗 : 50W工作原理水份仪的工作原理是基于比耳—朗伯定律,即光线经过固体物料反射后的强度与固体物料中的水份浓度之间存在着一定的关系,水分子吸收的能量随着水份浓度含量的增加而增加,而从固体物料反射的光辐射能量则随着吸收的增加而减少。水份仪可在化验室中测定固体物料的含水量(静态测量),也可用在车间在线测定固体物料的含水量(动态测量)。

  • 关于漫反射光谱法的一点简介。

    最近纠结漫反射的问题,查了好些资料,昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍,个人觉得不错,就把其中的一些知识誊抄上来,希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理:当光线照射到样品上,一部分光在样品表面产生镜面反射,另一部分光经折射进入样品内部,在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象,最后光线由样品表面辐射出来,辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用,因此漫反射光将载有样品分子的结构信息,这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点:漫反射与镜面反射共存;漫反射光强度弱;漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量:漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备,由于上述优点,在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释,能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象,从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等,比例在1:20至1:10之间。漫反射的定量分析:利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究,具体公式为:f(R∞)=(1-R∞)2/2R∞=K/S;R∞代表样品层无限厚时的反射率(实际上几个毫米就能满足),K为样品的吸光系数,S为样品的散射系数,由于K与粉末样品浓度C呈正比,由此有f(R∞)与C呈正比,可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法,此处为什么不用Beer-Lamber定律,他们有何关联呢?http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

  • [求助]请教“反射红外”与“衰减全反射红外”的区别

    我只稍微了解“衰减全反射红外ATR-IR”的原理;而对于“反射红外”的理解是,做液体样品时,将液体滴到金属片(如金片)上,利用金属片为反射面,测得液体样品的红外信号。高手能否比较下两种方法的异同,特别是做水溶液样品,哪种效果会好些。还有,将液体直接滴到KBr片上做透射红外与上面两者比较呢?谢谢啦另外,什么叫“结帖”,怎么结帖啊,呵呵

  • ATR反射可否定量?

    我前一段时间做了ATR反射红外光谱,纵坐标是反射度,能不能定量分析?如果可以要怎么才能定量? 还有,在红外软件中透过、反射、吸光度都可以转化,转化后误差有多大?是不是效果都是一样的呢?

  • 反射率的测试设备

    1、光学薄膜测试反射率,比较好的仪器设备有哪些?2、有没有集透过率、反射率、折射率测试的仪器设备,推荐一下3、全积分球法测试反射率是不是比半积分球测试比较准确?谢谢!

  • 反射率仪的测试波长是多少?

    反射率仪的测试波长是多少? c84-III型反射率测试仪,天津世博伟业化玻仪器有限公司,射出的是绿光。谁知道测试波长是多少?请给出答案的出处,例:XX国家标准。谢谢!

  • 【分享】ATR原理讨论。(小名:全反射也有透射)

    【分享】ATR原理讨论。(小名:全反射也有透射)

    一。全内反射的基本理论 (摘自:浅谈全内反射荧光显微术及其在生物学中的应用 基础医学院2004级生物物理专业刘昭飞)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101091048_272852_1786353_3.jpg图1 全内反射现象 全内反射现象是生活中的一种常见现象,如钻石的色彩斑斓和光纤的光线传播等。如图1所示 ,当一束平面光波从折射率为n1的介质进入到折射率为n2的介质中。入射光在两介质接触面一部分发生反射,一部分发生折射。入射角θ1和透射角θ2之间满足关系式 n1sin θ1=n2 sin θ2 (1) 若n1大于n2,由公式(1)可以看出当入射角增大时,透射角也增大。假设增大到临界角θc[c

  • 关于红外发反射率的测量

    经常看到表征红外光学材料的光学性能的时候就会出现两张图:红外透过率和红外反射率。这个反射率就是常说的这个R,1=R+T+A。理论计算R=(1-n)^2 /(1+n)^2. 我想问一下红外反射率也是用红外光谱测量的吗?是反射角为多少的时候测量的?垂直入射的时候吗?看文献上从来都没有解释过。另外还有一个问题,反射光谱是怎么测量的,测得的数据就是反射率吗?补充一下测试的光学材料都是镜面抛光的。

  • 极低反射率如何测量?

    请教大家一个问题,比如一个光学玻璃元件镀了增透膜或减反膜,设计反射率<0.1%,那么这种极低反射率如何测量呢?

  • 【讨论】请教漫反射的问题

    做薄膜样品的漫反射,为什么测出的吸光度值是负值?反射率超过100?另外漫反射光谱标准图中纵坐标应为吸光度还是反射率?谢谢!

  • 【求助】新手求助,关于反射

    我是新手,我做出的薄膜的反射谱为什么跟透射谱是一样的?连纵坐标的数值都是一样的,请问是什么原因?是设置的问题还是其它?麻烦哪位大虾告诉我一下,十分感谢。我的薄膜是在玻璃基片上,与玻璃基片一起测量。仪器型号是cintra 10e。是不是固体的反射必须用积分球才能测啊?

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