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射线荧光谱仪

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射线荧光谱仪相关的仪器

  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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  • X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别(固体和液体)条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案
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  • CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术,可对大型样品进行原位,非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中,元素检测范围从Na到Am,即使在低于2keV或高于25keV时(例如Sn,Sb和Ba k激发)。测量头安装在电动机上,探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上,CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作,距离样品1厘米,同时由于监测系统的设置,该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器,同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面,并实时显示光谱和元素分布图,同时每一个像素点的光谱都被自动存储,报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图(左1图)。测量时间:30分钟,线扫描速度:20mm/s,准直器孔径2 mm,X射线管设置50 kV和100μA。从左2图:BaLα,PbLα,CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色,黄色,绿色,蓝色。
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  • 痕量分析 TXRF 光谱仪 TXRF全反射X射线荧光光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U。 需要样品量少,液体及悬浮物样品1-50微升,粉末样品10微克以内。 便携式全反射荧光仪,设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场进行分析。 1位及25位全自动进样器两款设计,分别适用于每天有少量样品及大批量样品的全自动分析。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器,采用帕尔贴冷却技术,不需要液氮,没有任何消耗。分辨率160eV at MnKa 100Kcps。 由于全反射无背景,荧光强度与元素含量直接成正比。标准曲线工厂已校准好,用户不需要标样就可以进行定量分析。行业应用:水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、组织中的有毒元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。
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  • X射线荧光光谱仪FEDX-M810:一、技术规格:1.分析元素范围:Na(11)-U(92)2.含量分析范围:1ppm-99.999% 3.样品种类:颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度:标准偏差≤0.1%(国标标样)5.X射线源靶材:Ag靶6.滤光系统:6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器:6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统:配置真空系统,优化样品分析环境,提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观:台机结构;内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置;坚固耐用;确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护:符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置:1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%
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  • 创想X射线荧光光谱仪 400-860-5168转4327
    EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小,任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼(Mo)靶管电压5─50KV管电流1─1000uA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本,终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP(正版)数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10-35С,湿度30-70%RH重量60Kg(主机部分)外形尺寸550(W)×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100-300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 %RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品,塑料和聚合物,食品和化妆品,环境,矿石,医药,建筑材料,中心实验室成品检验,金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法(FP法)等分析方法,测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法:仪器依据对标准样品的测定,确定影响系数。对标准样品要求高,需和待测样品类型相近,校正模型简单。基本参数法(FP法):仪器根据实际检测物质,通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高,计算较复杂,适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正,提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口,进一步作其他元素分析,从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好
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  • 二手X射线荧光光谱仪 400-860-5168转1666
    二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品,对产生的荧光X射线的能量进行检测,测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析,广泛应用于各个领域。特别是最近,以欧盟的报废电子电气设备指令(WEEE)、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令(RoHS)、报废汽车指令(ELV)以及玩具指令(ASTM F963,EU_EN71)等法规为代表的绿色采购及环境分析之中,要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求,畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素:11Na-92U(EDX-720),可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状:最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜:5种自动交换,可以消除背景元素干扰,使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率:Si/Li检测器,145eV.5.检测下限:Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件: 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法,共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置!灵敏度比以往机型提高2倍,使用更方便,提高了筛选分析的效率! EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点:1、配置新型滤光片,提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路,增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能,由荧光X射线强度算出测定精度,自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能,依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。
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  • X射线荧光光谱仪 400-860-5168转4210
    布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪(XRF)以来,已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司(前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部)一直坚持专业化的道路,领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解,围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER,在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面,把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年,第二代S8 TIGER成功推出,采用HighSenseTM技术,保证从铍(4Be)到镅(95Am)的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测,第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路,阳极—样品—探测器之间距离短,信号损失少,保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器,稳定性优于±0.00005%,可靠性好。S8 TIGER 1kW,激发电流50mA,激发电压50kV,同级别中强度高。配有内部水冷机,不需要外部水冷机,插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW,激发电流150mA,激发电压60kV,强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW,激发电流170mA,激发电压60kV,市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管,设计功率4200W,设计电压75kV,设计电流200mA。独特的双路水冷系统,除阳极冷却外,光管头部增加特殊冷却回路,避免光管头部热量对样品的影响,提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板,避免蒸镀现象,光管强度不衰减。标配75 μm铍窗,HighSense光管50μm铍窗,强度提高15%,HighSense光管28μm铍窗,超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层,耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体,大大提高了轻元素的检测能力,其中:XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百;XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百;XS-C显著地降低了背景,提高信噪比30%;XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上;XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同,但是灵敏度提高了35%;XS-CEM人工多层膜晶体,测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性,没有PET晶体的潮解现象,没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象,没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体;XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%,提高S灵敏度20%以上;XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器,极快的死时间校正,即刻显示PHA扫描图,数字信号传输,线性范围高达4Mcps(线性偏差≤1%)。动态匹配TM功能,软件自动降低电流,使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制,测量更准确,低含量元素自动在满功率条件下测量,使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术,第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析,步长0.1mm。轻元素采用正比探测器,重元素采用闪烁探测器,灵敏度提高10倍,实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外,高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片,保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时,程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开,允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气(氮气),真空封挡显著地降低气体消耗量,同时探测器的稳定性更高,结果的精密度更好。在测量过程中,独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室,防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪,定位精度高,测角仪直接到达预设角度,快速连续前进,无需反复调整,长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°,角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟,转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数,从而进行全面的集成的基体效应校正,这就是变动理论α系数法。其显著的优点是:需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正,三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题,非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品,通常的做法是将样品预先灼烧,然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正,分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量,软件会根据其它分析成分估算一个LOI,然后经过多次迭代和拟合,无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正,大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移,测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正,从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法,采用任意配比、随意称量、准确输入的方法,称样误差小,称样速度快,不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器,使探测器里的气体密度始终保持恒定,保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制,控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃,避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化,从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品,采用真空度控制测量,只有达到预设的真空度才开始测量,避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能,四重保护,保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护,使仪器的故障率低,维护成本少两个污染防护屏,分别保护光管和光谱室粉尘接收盘,收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗,保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术,即样品直接装入到仪器的测量位,保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑,又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样,转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题,光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度,这时就需要维修,或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积,增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中,光管的高压关闭,是完全没有X射线的。在执行这些操作时,光管的灯丝加热电流一直是通的,维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样,机械结构简单,零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动,避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单,不需要打开仪器,易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权,对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制,保证操作简单而无失误,即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等,通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制,即使一台出现问题,也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等,仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜,仪器整体密封,箱体内采用循环水冷却,避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点,仪器内部恒久保持洁净,可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试,符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”,是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏,操作简单,无需 培训,仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件,在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器,可识别样品类型2.60位大样品杯进样器,适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器,机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于:高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下,根据元素的含量不同,每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3),从放入样品到显示结果不超过2分钟,分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美,而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能,运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的,支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能,用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能,如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统,确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出,引导用户一步步完成,从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正(变动“理论α系数法”,计算每一个样品的校正系数),也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式,非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器,满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化,所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级,可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析,也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求,QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式,也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能,自动执行基体校正及不同类型样品(薄膜、无限厚或非无限厚样品)的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起,进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中,采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分,作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包,允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件,确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除,确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件,非常直观,可以全面监测系统的几百种状态,您可以将整个状态存盘,发送给维修人员,从而可有效降低维修费用,缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持,使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件:采用先进的完全基本参数法,具有吸收法和发射法两种分析模式;薄层分析采用发射法,厚层分析采用吸收法(准确度更高)。可分析多达15层(每层16个元素)的镀膜样品,测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件,可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析,以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案,仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件,是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案,采用熔片法制样,可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件,基于数百个国际参考样品建立的校准曲线,测量地质样品中微量、痕量元素,是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件,采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案,可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件,金属材料的解决方案,可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件,用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件,可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。
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  • TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀,专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测,可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物,进行定量和半定量多重元素微量分析,为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧,便于携带和运输,非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点,是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面,使得操作简单、直观,即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素,也可以根据检测需求进行元素扩展,分析近30个元素,大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧,一体化结构设计,不需要任何辅助设备及气体、液氮等,可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比,TXRF采用特殊几何配置,有效降低了辐射暴露风险,更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持,确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析,非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计,缩短了探测器到样品距离,提高了荧光产量,适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品,降低了散射和荧光背景,实现了更低的背景噪声,检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备,国产TXRF通常具有更高的性价比,同时设计用于低能耗运行,需要的样品量少,减少了对昂贵试剂和标准物质的需求,另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品,成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm(L×H×W)重量≤15KG(不含电池)核心技术全反射X射线荧光(TXRF)元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl,颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器,超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等
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  • X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪,可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别,实现理想的质检和质保。该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起,能够为客户提供各种质量检验应用。借助 X-MET8000,您可在数秒内得到实验室质检结果,并降低检测成本,缩短检测时间。结构旨在经久耐用X-MET8000 具备 IP54 防护等级(相当于 NEMA3),有着卓越的防尘和防水性能。X-MET8000 具有耐冲击外壳,且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶,可有效防止受到撞击。采用大面积散热器,即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口(Expert 及 Optimum 型号的选购件)和高强度厚 Kapton 窗口(Smart 型号)可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。强大的数据管理功能可存储多达十万个检测结果,包括光谱谱图和样品图像(若配备相机)结果和报告可直接下载到 U 盘,或通过 USB 数据线传到PC 上,也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告(无需安装任何软件)。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用,您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库X-MET8000 内含有最全面的牌号库:预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改,添加新牌号(例如某个厂商或者产地特定牌号),或者创建自己的牌号库(例如特定的焊接材料牌号库)。预装牌号库包括:| 镍合金。| 不锈钢。| 铜合金。| 铝合金。| 钴合金。| 低合金钢。| 工具钢。| 钛合金。| 锆合金。
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  • 手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计,轻便小巧,可提供现场对样品的快速无损分析,采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏,操作方便,野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成,仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用,X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能,可记录检测区位地理信息,可联机进行数据传输,具有远程协助技术支持功能。分析元素范围:从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析,各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能,可以准确显示出测量合金的牌号,可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果,可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素,检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体:Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg,Hg〈1mg/Kg,Cd〈3mg/Kg);1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素,检出限可达mg/L级别(以水基体:Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L,Hg〈1mg/L,Cd〈1mg/L);2 检测分析时间:3-60秒(可调);3 重复性:RSD4%;4激发源:50KV/200uA,Ag靶,端窗一体化微型X光管及高压电源,匹配功率≤4W;5探测器:采用美国进口的新款25mm2,0.3mil,fast-SDD硅漂移探测器,能量分辨率可达125eV,探测器使用电制冷技术,无需长时间及频繁等待制冷,4096高通道MCA多道脉冲分析器;6 高性能处理器和存储器:CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G,数据硬盘32G;7屏幕显示:高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏,操作灵敏,可更好应对现场测试强光照射下的数据观测;8准直和滤光系统: 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换;9 软件分析模式:合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式(根据客户需要配置);10 可自动存储测试结果,包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组,可通过存储卡扩充容量,测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式,并可导出;11数据传输与处理:仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印,同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等;12 开机密码保护,设置操作员和管理员两级操作权限,且仪器前部设置有样品感应装置,具空测时自动切断X射线源功能,确保使用人员安全;13 防辐射安全性:微型X光管整体化封装,仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h(提供CNAS认证第三方检测报告),可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全;14 分析数据自动统计功能:对多次测试可自动统计大值、小值,及标准偏差等;15 测试时间控制方式:具备扳机控制和软件控制模式操作仪器,也可实现USB与电脑连接操作等多种方式;16电池:可充电锂电池,容量6700mAh,充满电正常测试可使用6小时以上,仪器有电量显示功能;17内置GPS功能,可实时采集和记录测试区位的地理信息;18校准:随机配有标准校准片,进行能量校准后测试;19专业的软件功能,可实现谱图的比对放大缩小及导出功能,对各元素的特征能量总和进行独立计算,同时可依据客户要求设定固定测试报告模板,直接输出标准格式的测试报告,传输到打印机可实现现场数据的及时打印;20 仪器质量1.5Kg(含电池);21 工作环境适应性:湿度-20℃~+50℃, 相对湿度<90%;标样配置根据客户测量样品配备一款标样。(合金标样、RoHS标样、土壤标样等)标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台
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  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品,位于元素周期表上从4号元素铍(Be)到92号元素铀(U)之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求,其分析浓度范围可从0.1ppm到100%,而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快(30s-900s)、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域,在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明: ●电子、塑胶、五金材料:各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料:纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭:石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥:陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品:土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属:铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁:生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业:无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境:各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学:有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同,因此,受激发后发出的X射线光子能量互不相同,即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线,代表了该元素的特征,因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量,检测到此种能量的X射线,即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上,激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光),使用具有高能量分辨率的X射线探测器,得到X射线荧光能谱,不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系,通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析,以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性,用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介:能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术,同时测量多种元素的分析仪器,根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能:●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器(俗称谱仪能量刻度)通道数:2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器(俗称X光管)经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却,0.005英寸铍窗标准窗口,额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入:85~265Vac,47~63Hz,功率因数校正。 1kV~5kV的型号符合UL85~250Vac输入标准电压变动率:无负载到满负载,输出电压的0.01%电流变动率:0~额定电压,输出电流的0.01%纹 波:输出电压的0.25%峰-峰 温度系数:电压或电流调定,0.01%/℃ 稳 定 性:预热半小时后,0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统:6种滤光片自动选择并自动转换(滤光片作用:改善激发源的谱线能谱成分,在进行多元素分析时,用来抑制高含量组分的强X射线荧光,提高待测元素的测量精度)。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理(从源头做起)2、全封闭铅板双层防辐设计(从设计结构做起)3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1.一键式的操作软件,简单易用,无需专业知识。2.人性化的人机界面3.各种测试参数无需操作人员设定,强大定制报告功能。4.测试数据自动存储,具有历史查询功能。5.最前沿的定性定量分析方法。6.可同时分析几十种元素。7.元素分析快速,分析时间从30秒到900秒可调。8.长时间待机不用,自动降低管压、管流,延长X光管寿命。9.对X射线管进行温度管控,保护X射线管并延长它寿命。10.实时监测仪器运行状态,轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作,软件有警示操作提示,同时关闭高压电源。
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  • 仪器简介:ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪,分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%,如进行前处理,可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括:粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括:电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器:高频变频方式 额定电压,电流:4kW,60kV-150mA 稳定度:± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水:水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器:可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸:&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面:最大&phi 35mm 样品旋转:30rpm 1次X射线滤波片:4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑:6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝:3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝:SC用,F-PC用 测角仪:&theta -2&theta 独立驱动 测角范围:SC、5° -118° , F-PC、13° -148° 最大扫描速度:1400° /min(2&theta ) 连续扫描:0.1-240° /min 晶体交换机构:10分光晶体自动交换机构 分光晶体:(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统:双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件):带隔板 恒温化机构:36.5度 记数.控制部分: 重元素用:SC闪烁计数管,记数线性1000kcps 轻元素用:F-PC流气比例计数管,记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器:IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机:windows PC 软件: 定性分析:自动鉴定分析功能,包括平滑,扣背景 定量分析:检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点:1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75,保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构,保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管,最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统,实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式,可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室),防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件,采用电磁阀真空密封,防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构,位置分辨率可达100um,可以进行0.5mm的微区分析,可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利),彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题,保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出);节约PR-10气体;节约He气(选用He室时);节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析,NEW SQX软件 12、 全中文界面
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  • M1 ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪(μ-XRF),结构紧凑、占用空间小。M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的元素。上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内就可以得到结果。样品尺寸大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越准确。可以检测含量在0.5以上的元素基于标样模型或无标样模型,可以鉴别和定量分析样品中的元素。准确度高,达到0.2wt对于没有预想到的元素也能够进行分析。珠宝、黄金、贵金属分析X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析,同时能够得到高准确度测试结果的分析方法由于珠宝首饰件通常都非常的小,又有些是采用不同贵金属组合,X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点。 行业应用:X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列,可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素黄金成分范围35(8克拉/K)(24克拉/K)适用于:白金、黄金、铂合金、银合金,分析精度优于0.2
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  • 高精度X射线荧光光谱仪产品介绍: 高精度X射线荧光光谱仪帮助您轻松对应法规标准,对于痕量元素砷、镉、汞,灵敏度优势尽显。配置简单易用的样品杯自旋装置,可以提高对不均一性水样和土壤样品的测量结果。水样土样二合一现场定量,兼具实验室定量分析与现场便携式分析,下图为土壤定量、水质定量、土壤定性模式下的检出限(单位:ppm)产品特点:低检出限、高稳定性,轻松应对标准,一键测试,快速完成近 40 种元素的分析,覆盖标准要求的全部重金属元素,三种测试模式灵活应对现场和实验室分析;专业化的行业解决方案,内置重金属超标预警系统,水土二合一现场定量;本土化技术服务团队,可快速响应客户,提供技术支持,保护客户利益。应用范围:污染场地调查、土壤重金属元素污染应急监测、工业场地、固废场地重金属监测、农田重金属普查固体、粉末、液体测试、矿渣、岩石、土壤、湿地等分析测试、工业废水中重金属应急检测兼具实验室定量分析与现场便携式 分析,配备重量轻、易于携带的测试台,配置样品杯自旋装置支持手持模式、支架模式、定量模式,重金属超标预警系统可快速判定污染 元素是否超标针对低含量的 Cr、Pb、As、 Hg、 Cd 等元素有专门的定量分析功能低检出限、高稳定性,操作简单、一键测试,出色的测量精确度和成熟的 FP 算法,能轻松应对复杂的环境和样品的多样性技术参数:
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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  • 波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上,深入进行产业化研发形成的高科技产品,各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域,例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油(微量元素如S、Pb等)、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具,也应用于大专院校和科研单位。 波长色散X射线荧光光谱仪,是本公司吸取国外先进经验,整合国内技术优势,精心设计的实验室设备。其卓越的性能可以满足不同客户的分析要求,极具吸引力的价格,使用户在低成本分析过程中受益。目前我们的仪器已经在建材(水泥、玻璃、陶瓷)行业、有色金属、钢铁、石油化工等领域得到了广泛的使用。应用效果良好,满足用户的实际需要。 应用领域:●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂(单、双窑)做质量过程控制使用。可用于分析原料(如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物)中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用:依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用:石油中的S、P测定,玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。 特 点:高度自动化的分析,省力省时适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析,可对多种样品进行从微量到高含量的分析。仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析,由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。 生产流程的管理分析可快速获得分析结果,经数据处理后,可进行质量检验、规格判断等,应用于生产管理分析(特别是炉前分析)。 质量控制迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果(配比计算)作为原料配制的控制数据进行反馈,用于提高质量及稳定质量。 优 势:为了保证仪器性能,本仪器所用核心部件,如X射线管、高压电源、探测器、流气控制系统、分光系统均采用进口部件。与同等性能的仪器相比我司的仪器价格仍具一定优势。 技术参数●分析元素种类:从11Na~92U 的任意十种元素。●X射线管:Varian 公司生产的400W 薄铍窗端窗X射线管,Rh 靶(Pd 靶可选) 。●X射线管冷却:专业的循环制冷冷却,无需冷却水。●高压电源:400W ( 50kV8mA ) ,管压管流12 h稳定度:优于0.05 % 。 ●恒温室温度控制精度:设定值±0.1℃●探 测 器:流气正比探测器、封闭计数管、闪烁计数器。●数据处理系统:12 路2048 道独立脉冲高度分析器。 ●真空系统:独立泵站结构,双真空室,易于维护,测量室最高真空度:低于7Pa。●流气系统:采用国外高精度密度流量控制系统,高精度流气密度稳定装置,压力稳定度达到士0.01kPa。 ●交流220V 供电设备:2kVA交流净化稳压电流。 ●稳 定 性:( 24 h) ≤2%。●计数器的能量分辨率:≤40%。●仪器计数线性:≤1%。●单个样品测量时间:(含换样抽真空时间)≤(2-5)min 。●样品尺寸:40mmx10mm(H) ●分析样品面:最大35mm ●样品旋转:30rpm ●软 件:定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) ●定量分析:各种基体校正,标样分析法,应用模板, ●维护功能:自动诊断,远程诊断 软件特点1)自主开发的软件全中文软件系统,适合windows操作系统,软件操作简单,完全符合中国人操作的习惯,对操作人员无特殊要求;2)操作界面直观,可多任务同时执行,人机对话,方便修改和设定各种参数;3)采用全谱检测,实时智能校正仪器漂移到最佳运行状态;4)仪器采用最先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单,更符合用户生产工艺特点;5)强大的数据库系统支持,实现各种基体、背景干扰校正;6)配备水泥行业在线率值配料配比反馈调节计算和水泥组分测定模块,测量生产样品结果的统计,帮助工艺工程师分析配料变化情况;7)强大的历史记录查询功能,随时动态掌握生产工艺变化;8)强大的自诊断功能,实时监控仪器状态,自动的保护功能;9)具有流行的DCS通讯协议,可以方便地与DCS系统进行数据共享。 水泥行业应用:波谱仪系统主要由样品制备设备(包括振动磨、压片机)、波谱仪主要、计算机系统(主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口)等,与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析,以实现原料配比的在线自动化控制,保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标;同时,X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。 本仪器是同时式波长色散型光谱仪,可装载10个以上(含10个)分析通道用于多元素同时测定,元素分析范围为钠到铀,元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P,分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC,并由主机向PC机和打印机供电。
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  • 应用领域有: 测量大规模生产的电镀部件 测量超薄镀层, 测量电子工业和半导体功能性分析 测量印刷线路板合金材质分析 ROHS-E880广泛的能量色散型X射线荧光材料分析仪。它适用于非破坏性测量、 材料分析和封闭性溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。 ROHS-E880有着良好的稳定性, 比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量和分析。 ROHS-E880铅箱严密防护设计,采用了微焦X射线,稳定性更好。使用方便。
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  • 仪器简介:PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体,使轻元素分析(如C,B)灵敏度大幅度提高.超轻元素对应X射线光管,大功率4千瓦,薄窗,适合轻元素分析 48样品台,节省空间.1次滤波片,可去掉来自光管的特征谱线,减低背景.双真空,双泵设计,节省抽真空时间.防粉尘附件,可防止粉末掉入真空泵.微区分析可达500.适合少量样品分析. 软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式,进行EZ扫描.应用模板,可将各种测试条件,以及前处理顺序设置其中.FP无标样分析,是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法,不设定测试成分也能准确分析.流程条,按顺序显示测试处理内容.标准样品,操作手册全中文提供,方便中国用户. 维修保养:PAS自动调整,芯线自动清洗.给用户带来方便.技术参数:硬件: 对应超轻元素的X射线光管 采用4kW、30μm薄窗X射线光管,可高灵敏度测试超轻元素。 采用新型光学系统 采用新型分光晶体,与第二代仪器分光晶体相比,大幅度提高了灵敏度。 48样品交换器 实现平台式共享化,最多可放置48个样品。 多样品交换器实现了省空间。 1次X射线滤光片 除去X射线光管的特征X射线光谱, 在减低背景干扰方面发挥威力。 双泵、双真空系统 采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。 防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统 的结构设计,样品交换实现更高效率。 粉末附件 电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入 真空泵内。 定点分析 100μm的Mapping分辨率。可在CCD图像 上指定点、区域、线。定点最小直径500μm。 采用r-θ样品台,避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰,可得到最佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台) 节能、节省空间 节能功能(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30?以下) PR气体流量减少(5mL/min) 省空间 采用联体设计,设置面积只占传统仪器70%的空间。 便于维护 PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗 软件 新版SQX软件 在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X),追加了新功能。 委托分析EZ扫描 采用对话框形式设定,可进行SQX分析。 定角测试模式 微量元素,采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法,使用抑制统计变动的X射线强度,算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。 应用模板 各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。 散射线FP法 不需设定非测试成分,也可以准确分析。散射线强度计算,可以考虑几何学效果,没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品,使用SQX软件,可以简单、准确地进行分析。 流程条 测试、处理流程显示。根据流程条内容,击鼠标键,便可按顺序进行所需的测试、处理。 其它特点的软件功能 ? SQX分析功能 ? Mapping数据库 ? 材质辨别 ? 理论重叠校正 ? 自动程序运转 ? 校正投入量计算 应用软件包 应用软件包,设定样品(标准样品、漂移校正样品) CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。主要特点:特点: 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm 完美的无标样分析-最新的SQX软件 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间
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  • 大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析氧到铀的元素分析与竞争对手的XRF系统相比Rigaku Supermini200在高分辨率仪器中提供了优越的基本参数和经验软件功能,占地面积小。作为一款高功率台式顺序波长色散x射线荧光(WDXRF)光谱仪,Supermini200具有独te的低成本(Coo)、高分辨率和低检测限(LLD),可用于几乎任何材料中通过铀(U)进行氧(O)元素分析。WDXRF性能好,成本低 Rigaku Supermini200光谱仪不仅是您的XRF元素分析需求的经济实惠的选择,运行成本也很低。P10气体用于流量比例检测器是唯yi的消耗品。Supermini200不需要冷却水、管道或外部冷水机,从而减少了系统维护,降低了系统的整体使用寿命成本和每年的耗材和维护预算。WDXRF用于轻元素性能该仪器的核心能力是分析具有广泛的轻元素和重元素的复杂基质材料,从痕量到高浓度水平。凭借其高功率(200 W) x射线管,Rigaku Supermini200为轻元素提供高XRF灵敏度,具有zhuo越的光谱分辨率,可解决复杂矩阵中的线重叠,而无需复杂的数学峰值反褶积。分析低浓度的轻元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)很容易。对困难样品的最高分辨率Supermini200 WDXRF光谱仪配备了一个三位置晶体转换器,其中LiF(200)和PET作为标准晶体安装。RX25或Ge可以选择性地添加,RX25为从氧到镁的峰提供了非常高的分辨率。通过铀(O→U)分析氧分析固体,液体,粉末,合金和薄膜大气:氦或真空x射线管:50kv, 200w pd阳极主波束滤波器:Zr为标准 可选探测器:闪烁计数器和F-PC(S-PC不需要P10气体可选)晶体:3位转换器样品尺寸:可容纳直径51.5毫米的样品自动换样器(ASC)标准:10个样品位置(51.5 mm直径的样品)可选:12个样品位置(最大44mm直径的样品)真空:标准旋转泵电源:100 - 120V (50/ 60hz) 15A或200 - 240V (50/ 60hz) 10A操作简单2001年理学台式WDXRF代表了现代工业模式的转变,它即具有大WDXRF的优势又极大的降低了费用,安装也变得方便。推出的高功率200W 台式Supermini系统保持了台式机的所有优势。灵敏度高200W光源驱动使Supermini灵敏度满足在金属,水泥,环境和法规执行上超低检出限的要求。功能强大Supermini 灵活性强,可分析从F到U的固体,液体和粉末,在真空或充氦环境。标准配置12位自动进样器,自动操作。作为ZSX系列理学台式波长色散X射线荧光系统中的成员,Supermini配置了可以与其他成员共用的所有软件。数据处理功能强大且简单,使用理学标志的流程条界面进行定性和定量分析。大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪特点高功率台式WDXRF光谱仪200W 射线光管缩短测量时间提高灵敏度适用于矿石分析使用MDL方法分析基体复杂样品安装方面的台式设计无需液氮及冷却循环水应对WEEE/RoHS & ELV 指令可以分析痕量重元素降低操作费用低P-10气体流量空冷光管CE认证高效分析12位自动进样器
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  • X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析,包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计,其高品质的设计和功能,可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术,它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件(包括 Virtual Analyst),可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块,例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版:水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本:Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案;从连接样品制备装置的简单接口,到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料(铑、铬、钼和金)可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围(线性高达 3.5 Mcps)的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析,对未知材料进行分析,或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩,适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core(能谱核)将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台(最多 209 位)可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染,并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别(固体和液体)条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中,或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案
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  • 上市时间:2020年2月专为工业生产现场而设计 无语伦比的优异性能:快速高效,高稳定性 密不透风的防尘设计 "初次见面"也能轻松上手 低成本运行电源保护Plus防尘设计岛津独有“无故障”高压发生器对外部电源要求较同类仪器低:-外部电压允许波动220V±10%-接地电阻十分宽泛≤30?全面的防尘设计 ①X射线管上照射方式: 避免样品粉尘对X射线管窗口的污染②每个通道真空全密封,无污染风险③电路板密封保护,特殊散热,拒绝粉尘污染 ④全新设计的真空管路粉尘吸附装置: 避免粉尘进入真空泵和电磁阀低故障Plus低维护成本高稳定性的高压发生器经过长期使用检验,几乎无故障高压发生器极小的真空室可自行维护,无需依赖厂家上门收费服务,不耽误生产真空泵负载小,故障低新设计滑竿式进样装置改变原有的轴承系统,到位更准确,故障更少全密封计数器不使用氩甲烷气体,节省成本,避免漏气等各种故障没有流气计数器芯线污染问题,无需更换芯线操作简单Plus分析快速全新分析软件专门开发的全中文软件,按钮式操作 单一窗口界面,一键数据查询传输,简单明了 仪器运行全过程监控 • 内置“大曲线” (生料/熟料/水泥,无需用户自己准备“标样”做曲线) 分析速度快 全元素固定通道,无移动光学部件 每个样品只需1分钟 (比扫描型块3倍以上) 高精度Plus长期稳定性每个元素专用全聚焦晶体,最短光路,高强度,避免杂散光干扰 每个元素专用独立全密封正比计数器----对同一水泥样品,长期测试结果统计(从海外工厂移到上海中心重新安装)--------------------低合金钢中轻元素到重元素重复性结果---------------多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪信息由岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司为您提供,如您想了解更多关于多道同时型波长色散X射线荧光光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • 真空X射线荧光光谱仪A-550能够分析的元素范围从Na到U之间。通过配置了真空测试系统,增加了元素测试范围。同时配备了SDD探测器,对于各元素进行检测,减少元素间干扰。XRF光谱仪在对应不同的领域,又被称为:合金分析仪,矿石分析仪,水泥分析仪,土壤分析仪,贵金属分析仪,镀层分析仪,rohs分析仪等名字。应用领域:1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 (特别是轻元素) 锌铝合金成分分析、铝合金成分分析、铜合金牌号判定、成分分析、不锈钢成分分析。3 .镀层成分分析4.包装指令检测标准(94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 <1005.玩具指令检测标准6.矿石元素含量分析7.土壤及固废元素分析8.煤灰、石灰石、水泥、有色金属分析工作条件:● 工作温度:15-30℃ ● 相对湿度:40%~70% ● 电 源:AC :220V ±5V、技术性能及指标:1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U);2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%;3. 测量时间:100-300秒(可调);4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其检测限度达1PPM; 5. 能量分辨率为129±5电子伏特;6. 温度适应范围为15℃至30℃;7.电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源);产品特点1.A-550,配置了真空测试系统,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,对于矿石间各元素进行检测,减少元素间干扰2.整体结构化设计,仪器美观大方。3.采用美国最新型的SDD硅飘移探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。4.采用自主研发的SES信号处理系统(数字多道),有效提高峰背比,让测量更精准。5.一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。6.七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。7.多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品Highest。8.优化一体化散热设计,使整机散热性能得到更大提高,确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术,确保射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。10.多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。11.专用真空测试软件,是否抽真空可自由选择,真空度实时显示,标准视窗设计,界面友好,操作简便,所有控制均在轻点鼠标之间。12.本机采用USB2.0接口,有效保证数据准确高速有效的传输。13.独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限,同时也扩大了检测范围。14.一体化真空腔体设计,有效地保证了符合测试要求的真空度,同时提高了设备的可维性。15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单,方便客户使用;同时开盖即解除真空,安全、简单实用。 仪器硬件部分主要配置SDD电制冷探测器分辨率:145±5e电子伏特放大电路模块:对样品特征X射线进行探测,把探测采集的信息,进一步放大X射线激发装置: 灯丝电流输出MAX:1mA;属于半损耗型部件,使用寿命大于5000小时高压发射装置:电压输出MAX: 50KV;电压输出MIN: 5KV,可控调节自带电压过载保护一体化真空系统:具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统;几何抽速:60 L/min(50Hz)压力:6.7×10-2 Pa数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件;道数MAX: 4096;包含信号增强处理功能;光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确;将准直器与滤光处整合;准直器自动切换模块多达7种选择,口径分别为8-1#, 8-2#, 8-3#, 8-4#,6#, 4#, 2#。滤光片自动切换模块五种滤光片的自由选择和切换。准直器和滤光片的自由组合模块多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。工作曲线自动选择模块自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化。演绎得更完美,使操作更人性,更方便。 专用软件针对金属材料元素成份检测而开发(含真空控制功能),对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据,测量时间为100-300秒(可调)※操作界面简洁直观,使用方便,无需专业人士操作软件界面如下图所示:※可自动选择适合的校准曲线,测量更方便,更准确※中英文界面自动切换,并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析,防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示,所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。 样品配置 标准样品用于制作工作曲线样品腔 开放式大样品腔:610mm×320mm×100×半封闭样品腔(抽真空时):Φ100mm×h75mm 产品保修及售后服务 1 对客户方操作人员免费进行培训。2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。(国外客户可协商解决)3正常使用,经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障,且未经拆修,仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4产品终身维修(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等)。5免费提供软件升级。6提供有效的技术服务,在接到用户故障信息后,2小时内响应,如有需要,48小时内派人上门维修和排除故障。
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  • ARL QUANT' X X射线荧光能谱仪(EDXRF) Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度,打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计,ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可最大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备,实现主量、次量和痕量元素分析,所分析样品范围广泛,可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。 先进的技术独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析 主要功能 出色的痕量分析灵敏度高分析量的进程控制适用于异常材料的高级分析算法出色的样品处理灵活性机械简化和灵活性占地面积小、易于运输以进行野外测量快速、简易的安装以及可完全现场定制随附完整的实验室启用套件经验证的硬件和全套软件现场、协同方法开发完整的技术应用支持汇集了数百种应用的专业知识 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件 无标和半无标分析基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法多层厚度及成分不限元素、不限数量的标样利用自动化操作实现多个激发条件 可用于:悬浮颗粒物过滤器符合 RoHS 及 WEEE 的分析法医及痕量分析营养补充剂磁性介质和半导体土壤污染过滤器上的薄膜塑料中的有毒元素
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  • RoHS台式EDXRF光谱仪RoHS检测预校准能量色散X射线荧光光谱仪RoHS 《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》(RoHS)是限制在电子电器设备及其它消费品中限制使用有害成分的指令。系统能够提供对所限制元素的精确分析,如铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、铬(Cr),溴(Br)元素。 RoHS光谱仪采用高分辨率探测器,集成相机及高性能X射线管,通过光斑尺寸的改变使用多种尺寸的样品,以检测较低水平的有害物质存在与否。准确元素分析可准确分析Pb、Hg、Cd、Cr,Br等元素。样品相机集成摄像机及X射线光斑能够全方位识别感兴趣区域。简单易用自动基质模型识别,即使是非技术人员操作,亦可达到较高置信度。RoHS专用软件直观且用户界面友好的专用软件。RoHS中所禁止的物质包含铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(CrVI)、多溴联苯(PBB),多溴二苯醚(PBDE)和四种不同的邻苯二甲酸酯(DEHP,BBP,BBP,DIBP)。RoHS标准报告根据RoHS标准,生成打印报告,准确的描述受限元素的检测水平。RoHS专用软件 专用软件能够自动检测被测材料类型并选择与之匹配的测量方法。X射线扫描激活的同时会得到对应的图谱并进行分析。仪器已根据RoHS标准进行了校准及设定阈值,结果报告将呈现每个限制元素的含量并与设定的范围比对,判断通过与否。样品相机全程处于开启状态,并在软件界面中显示样品被扫描的光斑点位。每次检测结果、图谱,以及分析结果均可独立命名,保存在库文件中。 这款高效RoHS预校准专用软件为RoHS检测提供了一个简单易用的图形界面和测试平台。 RoHS主要应用 RoHS/WEEE符合性测试及管控元素筛查(Pb、Hg、Cd、Cr、Br)。
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  • XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界首创的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的完美程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者,岛津公司非常自信地向用户奉献出卓越的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。世界首创250μm微区分布成像分析功能!XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在世界上首先开发出微区分析/分布分析功能,并率先采用了4KW薄窗X射线管,扩大了X射线荧光分析的应用领域,作为具有仪器而得到了很高评价,业已销售200余台。 XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进,使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高,增加了世界首创的250μm微区分布成像分析功能,从而达到更高水平的完美程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者,岛津公司非常自信地向用户奉献出卓越的XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪。
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  • 仪器简介:理学台式波长色散X射线荧光光谱仪,它很好的解决了能量色散难于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,组分较为复杂的样品定性分析方面,发挥了极大的作用.具有WDX特有的良好波长分辨率.可轻易分开Al和Si元素的能谱峰,并对其实行定量分析.具有WDX特有的良好的轻元素的高灵敏度,分析元素范围从9F-92U.无需液氮和冷却水.技术参数:X射线管:Pd,200W晶体交换器:3晶体自动交换器样品盒:单样品台,12位旋转样品台应用软件:定性分析,定量分析带FP(基本参数法)主要特点:小型化与高性能的完美结合.引入了小型化和WDX优异的特性相结合的新概念.打破尺寸概念,开创台式新局面.可根据研究开发,质量管理的不同应用目的进行选择.
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