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快速扫描度仪

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快速扫描度仪相关的资讯

  • 先临三维带你轻松玩转三维扫描仪的手持快速扫描模式
    大家好,上一期为新用户朋友们介绍了EinScan Pro 2X 2020系列三维扫描仪精细模式适合的扫描场景。左侧是普通模式,右侧为精细模式独家福利!Einscan 2020系列手持精细模式详解本期将继续介绍关于EinScan的操作小技巧,教您轻松玩转手持快速扫描模式。首先,我们来了解一下和本文内容密切相关的2个参数。1.帧率:帧率即扫描速率,指一秒钟内扫描仪扫描的次数。在使用同款设备时,帧率越高意味着扫描速度越快,扫描流畅度越高。2.点距:扫描数据(点云)中相邻两点之间的理论最小距离,代表细节的清晰度。了解帧率和点距之后,再来看看EinScan不同操作模式所对应的扫描速率都有哪些变化。在这2种不同的操作模式下,扫描速率的变化,意味着什么呢?01 快速模式和普通模式不同,快速模式采取先用1.0mm点距扫描,再通过软件算法优化,可以还原出小于1.0mm点距的数据。此外,快速模式相比普通模式有着更高的帧率,扫描更流畅(如果扫描数据量大也会造成后处理时间长)。02 快速+优化模式快速+优化模式与快速模式相同,预先采取1.0mm点距扫描,生成点云时以此点距为依据,生成扫描数据。当新手用户不确定自己应该设置什么点距时,可以选择快速+优化模式。在扫描完成后,查看不同点距下的扫描效果,选择最合适的点距(当点距非常小时,受限于电脑性能,软件运行有可能会卡顿,较大的点距也已基本满足当前使用需要)。总结:初学者:新手建议尝试快速+优化模式,操作简单易上手。有经验的使用者: 这类用户群体,建议使用快速模式。预先调好点距,扫描速度快且细节好。
  • 葛炳辉团队:STEM模式下基于扫描莫尔条纹快速测定样品厚度的方法
    ◆第一作者:南鹏飞通讯作者:葛炳辉教授通讯单位:安徽大学论文DOI:10.1016/j.micron.2022.103230近日,安徽大学电镜中心南鹏飞同学关于利用扫描摩尔条纹测定样品厚度的工作被Micron杂志接收。样品厚度是透射电镜(TEM)成像中的重要参数,主要用于图像衬度的解释以及性能和微观结构之间的关系的研究。当前,透射电镜中常用的样品测厚方法主要包括电子能量损失谱(EELS),会聚束电子衍射(CBED)和位置平均会聚束电子衍射 (PACBED)等技术。其中EELS是一种原位测厚技术,主要通过log-ratios方法或K-K求和法则来计算样品的相对厚度或绝对厚度。在准确测得非弹性平均自由程的情况下,EELS测厚的准确度可达± 10%。CBED测厚则主要借助模拟来实现,测厚准确度可达 ± 5%。PACBED是扫描透射模式(STEM)下的一种测厚方法,通过对多个位置的CBED花样取平均,最终获得的PACBED花样中只包含厚度、倾转和极化的影响,精确度优于± 10%。然而,实际使用时,EELS测厚需要昂贵的Gatan成像过滤系统(Gif),而CBED和PACBED测厚则需要复杂且耗时的模拟工作。本工作介绍了一种STEM模式下快速测定样品厚度的方法,主要通过调节focus借助系列离焦的扫描莫尔条纹(SMF)成像来判断。通过将样品倾转至正带轴或强的双束衍射条件,并且适当调整放大倍数和电子束扫描方向就可以在中等放大倍数范围观察到SMF像。通过SMF的形成条件可知,只有电子探针和样品发生相互作用时才能观察到SMF。再通过改变离焦量,就可以控制电子探针相对于样品的位置,从而实现SMF的出现和消失。因此,实际在改变离焦值时电子探针的位置变化 ∆f 就反映了样品厚度。不过,要更准确的获得样品厚度 T 还需要考虑电子探针在深度方向的尺寸 δz 以及样品表面总的非晶层厚度 A, 即 T=∆f-δz+A ,其中 δz=1.77λ/α^2,α 为会聚半角,λ 为电子波长。进一步地,本工作还结合EELS测厚方法验证了SMF测厚方法的正确性。该工作强调了系列离焦SMF在快速测定样品厚度方面的应用,能够有效避免STEM模式下的电子束损伤和积碳问题,尤其适用于不耐电子束辐照的样品。赞助国家自然科学基金项目 (Nos. 11874394) 安徽省高校协同创新计划项目 (No. GXXT-2020-003)。论文链接https://doi.org/10.1016/j.micron.2022.103230
  • 牛津仪器推出全新快速扫描电容显微镜SCM
    牛津仪器Asylum Research近日发布了具备可直接对电容(Capacitance)成像功能的高灵敏度快速扫描电容显微镜(SCM)。 扫描电容显微镜(SCM)是研究半导体和失效分析的有效工具。传统的SCM技术采用的 Video Disco 探测技术,信噪比相对较弱,噪音较大,数据准确性欠佳。现在牛津仪器Asylum Research发布的快速SCM采用全新微波电路设计,采用的频段更高(~2.0 GHz),带宽也更宽(600 MHz),从而实现更高的信噪比和灵敏度,和更好的分辨率。新发布的SCM可以直接对电容(Capacitance)高质量成像,结果显示电容成像与样品掺杂浓度成非常好的线性关系,如图1D。差分电容也因此变得更加灵敏,不需要太高调制电压,可以对更脆弱的样品成像。图1 静态随机存储 (SRAM) 样品。所有通道同时获得了29μm扫描区域:A:形貌;B:dC/dV振幅(与掺杂浓度成反比);C:dC/dV相位(蓝色表示p型掺杂,红色表示n型掺杂);D:电容(与掺杂浓度有线性关系);结合牛津仪器Asylum Research旗下的高速AFM系统(Cypher高端科研系列和Jupiter大样品系列),新SCM模块可达到26Hz的扫描速度时仍能保证成像质量,如图2,对于原先采集一幅结果需要耗时时间5~10分钟的实验,现在仅需十几秒,速度提高近几十倍,让原位动态监测表面电容/掺杂变化成为可能。图2 微分电容(dC/dV)振幅图像快速SCM也适用于金属和绝缘体,进而在半导体、能源、2D材料,金属材料、陶瓷等领域有着广泛的应用。
  • 普析通用快速扫描食品安全现场快速检测仪——BCEIA 2011视频采访系列
    仪器信息网讯 2011年10月12-15日,第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态,仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品 聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动,力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京普析通用仪器有限责任公司应用工程师李东明先生的视频。  北京普析通用仪器有限责任公司创立于1991年,是从事科学仪器研制、开发、生产的高科技企业。经过十余年的艰苦奋斗和不断创新,现已成长为同行业的领先企业。产品包括光谱、色谱、水质分析仪等几大系列数十种产品。  李东明先生向我们介绍了普析公司在2010年启动的“北京食品安全检测仪器研发与产业化” 项目中,完成的T3FS食品安全现场快速检测仪的性能特点以及应用领域情况。  “在‘北京食品安全检测仪器研发与产业化’项目中,普析公司完成了多项食品安全检测仪器的开发与产业化。T3FS食品安全现场快速检测仪是普析公司在累计了多年的紫外可见分光光度计研发与制造经验以后,根据客户的实际需求开发的一款仪器,其采用了凹面平场全息光栅、浸入式光纤探头、CCD检测器三大核心技术,具有测量速度快、体积小、重量轻、便于携带等特点,可同时适用于实验室分析与现场检测。”  “尤其值得一提的是它的快速扫描功能,在1秒钟以内就能完成全波长的扫描,特别适合动态过程分析。该产品配有4000毫安的高容量电池,可持续工作6小时,特别适用于现场使用。T3FS具有光谱扫描、时间扫描、定量测定、光度测量等功能,兼容试管、光纤探头与比色皿三种测量方法,以满足用户多种测量需求。”  “T3FS食品安全现场快速检测仪目前内置了50多种食品检测方法,未来可不断追加方法,可用于检测大米的陈旧度、面粉中的过氧化苯甲酰、酱油中总酸、茶叶中的茶多酚等项目。”
  • 基于扫描电镜-拉曼联机系统的微细矿物快速识别与定量分析技术
    扫描电子显微镜(SEM,简称扫描电镜)是观测物质表面形貌的基础微束分析仪器,具有分辨率高、景深长、样品制备简单等特点,已成为地球和行星科学研究领域最常用的仪器之一。近年来,扫描电镜的空间分辨率已大幅度提升,分辨率优于1纳米,附属硬件的集成(如背散射电子探头、X 射线能谱仪、拉曼光谱等)和软件的开发极大地拓展了扫描电镜的功能,显著提高了人们认知矿物组成和微观结构的能力,促进了固体地球科学、行星科学等多个学科的发展。复杂样品的三维重构,微细复杂矿物的快速精准识别、定位以及定量分析,是扫描电镜分析技术的前沿发展方向。   中国科学院地质与地球物理研究所电子探针与扫描电镜实验室团队原江燕工程师、陈意研究员和苏文研究员等,基于2020年购置的扫描电镜-激光拉曼联机系统(RISE),开展了一系列技术研发工作。该仪器可快速精准地实现扫描电镜与拉曼光谱仪之间的切换,采集样品同一微区的形貌、成分及三维结构信息。克服了传统扫描电镜对熔体包裹体、有机质和同质多像矿物识别的困难,并将拉曼光谱分析拓展至亚微米和纳米尺度。   铌(Nb)是医疗、航空航天、冶金能源和国防军工等行业不可缺少的重要战略性金属资源。我国白云鄂博是超大型稀土-铌-铁矿床,氧化铌的远景储量达660万吨,占全国储量的95%。对富铌矿物的赋存状态开展研究,有助于查明铌的分布规律,提高铌矿床选冶效率。然而,白云鄂博矿床的铌矿物种类繁多,且具分布分散、粒度小、成分和共伴生关系复杂等特点,如何精准识别和定位这些矿物并进行分类,往往给科研人员带来困扰。该团队针对这一问题,在白云鄂博碳酸盐样品的基础上,建立了铌矿物快速识别、精准定位和定量分析方法。通过电子背散射图像灰度阈值校正、两次图像采集和两次能谱采集,极大地缩短了对铌矿物识别和定量分析的时间,15分钟即可实现118平方毫米区域内微米级铌矿物的快速识别和精准定位,整个薄片尺度可在3小时内完成。基于自动标记区域的能谱定量分析数据,结合主成分分析(PCA)统计学方法,即可实现不同铌矿物的准确分类。该方法也可用于稀土矿床中稀土矿物、天体样品中微细定年矿物等在大尺寸范围内的快速识别、精准定位和分类。   嫦娥五号月壤具有细小、珍贵、颗粒多、成分复杂等特点,平均粒径不足50微米。获取如此细小颗粒的全岩成分,是对微束分析技术的一次挑战。传统方法通常运用电子探针分析获取矿物平均成分,用面积法统计矿物含量,再结合矿物密度,计算出月壤的全岩成分。然而,月壤矿物(如橄榄石和辉石)普遍发育显著的成分环带,为矿物平均成分统计带来很大的不确定性。因此,传统方法不仅效率低,误差也大。   针对这一问题,该团队建立了单颗粒月球样品全岩主量元素无损分析方法。他们首先使用 MAC国际标准矿物为能谱定标,检测限为0.1 wt%,对于含量1 wt%的元素, 分析精度优于2-5%。在此基础上,通过能谱定量mapping技术,直接准确获得矿物的平均成分,再结合矿物含量与密度,最终可确定单颗粒月壤的全岩成分。将新方法运用于月球陨石NWA4734号样品,在误差范围内与其他化学分析方法的推荐值一致。该新方法已成功应用于嫦娥五号月壤样品研究。由于该方法不受样品形状的限制,不仅可用于月球、小行星、火星等珍贵样品的全岩成分分析,还可以针对薄片尺度内任意形态微区开展局部全岩成分分析。   扫描电镜技术在地球和行星科学领域分析仪器中具有不可替代的地位,随着搭载附件和软件的提升,其分析技术开发和应用将具有无限可能。将扫描电镜与大数据分析技术相结合,建立更为高清、高效、精确的图像和成分分析方法,是扫描电镜技术发展的重要方向。   研究成果发表于国际学术期刊Microscopy Research and Technique, Atomic Spectroscopy,Journal of Analytical Atomic Spectrometry上。研究受中科院地质与地球物理研究所重点部署项目(IGGCAS-201901、IGGCAS-202101)、实验技术创新基金(E052510401)和中科院重点部署项目(ZDBSSSW-JSC007-15)联合资助。
  • 快速单层单次扫描技术实现质子闪疗,助力肿瘤治疗
    武汉大学医学物理团队针对目前的肿瘤放射治疗手段——闪疗(FLASH),首次在国际上提出了一种应用于质子闪疗技术的快速单层单次扫描技术(基于自主设计的静态和动态的脊形滤波器),可大幅缩短质子笔型束扫描时间。该方法能够满足FLASH所要求的高剂量率的同时,提供与标准的调强质子治疗可比的剂量分布,同时大幅缩短常规笔行束扫描时间,有望推进质子闪疗的临床转发步伐。相关研究成果以“基于脊形滤波器的质子闪疗”为题,近日发表在放射治疗的权威期刊《医学物理》。论文第一作者为武汉大学医学物理专业博士生张国梁,通讯作者为武汉大学教授彭浩。该项目由武汉大学、解放军总医院第五医学中心和无锡新瑞阳光粒子医疗装备公司共同参与。目前全球质子治疗中心和治疗患者数目的年增长速度超过15%,近年来在中国也进入了一个高速的发展阶段,多家肿瘤治疗机构都在筹建质子中心。质子闪疗有望在未来肿瘤治疗中扮演重要的角色,也为国产质子治疗相关技术赶超世界领先水平提供了机遇。据彭浩介绍,闪疗是一种在超高剂量率下进行的超快速放疗手段。和传统剂量率照射相比,闪疗可以在不改变肿瘤控制效果的同时,减少辐射对正常组织和器官的损伤。闪疗效应的一种可能解释是高剂量率导致组织中的氧气耗竭,使正常组织产生辐射抵抗,其他解释包括活性氧化物质和免疫反应。质子放疗由于其先天的剂量率和布拉格峰的优势,是FLASH临床应用的首选。在国际上,质子设备厂商(如IBA,VARIAN等)和诸多质子中心都在开展相关研究,如瑞典的IBA公司给出了基于Hedgehog的解决方案,美国的Varian公司也提出了类似光子放疗中多叶光栅的动态束流调制方案,其目的均为实现快速的束流调制。针对此问题,武汉大学医学物理团队与国产质子设备商新瑞阳光合作,首次提出了一种新型用于质子FLASH的扫描方案。质子笔型束扫描时间长的原因在于,多层能量切换时间(秒级),难以满足闪疗所需的瞬时高剂量率的要求。研究团队设计了一种单能量单层束流扫描技术,通过自主开发设计的脊形滤波器,可以一次照射完成束流调制和适形实现瞬时高剂量率的质子闪疗。相比IBA和Varian两家国外厂商的方案,研究团队的方法真正做到了基于Dose而非Fluence的调强,能在保证高剂量率的同时做到治疗靶区内的剂量适形,也能大幅的缩短治疗时间。以头颈部和肺部肿瘤为例,相比于传统的质子调强治疗,扫描时间可缩短5—10倍左右。相关论文信息: https://doi.org/10.1002/mp.15717
  • JENWAY发布7200分光光度计新品 ——快速扫描,彩色触摸屏。
    英国比比旗下Jenway 发布新品7200可见分光光度计。这个分光光度计是jenway品牌第一次利用二极管阵列技术生产的快速测量仪器。覆盖的波长是335nm~800nm,光谱带宽是7nm,这个分光光度计是教学应用,临床日常测试,兽科医用,制药和质量控制等各种应用的理想实验仪器。 扫描二极管阵列技术 彩色触摸屏导航 占地面积小,重量轻巧 快速扫描速度 兼容法语 用于数据存储和打印机连接的多用USB端口 配件可供选择范围广泛,7200完美兼容67、73系列所有配件 两年保修期 7200的测量模式有基本吸光度和百分比透光度,浓度计算,光密度、定量(6点校准曲线),全波长扫描、全谱扫描和动力学的曲线(同时测量三个波长)。7200配有10 x 10毫米标配的比色皿池座。这个仪器的巧妙设计保证了它可以兼容使用63, 73 和67系列的现有配件。其中包括试管架,可调路径长度底座,10~100mm的比色皿架和微型比色皿架。通过调节螺丝,所有的配件都是可以相适用的。控制加热模块,可以在测量37℃的样品时应用。在不用使用任何工具的情况下,可以在加热模块上轻松地安装和拆装10 x 10毫米比色皿架。 此外,可选配打印机。打印机与7200分光光度计后部的USB端口相连接。广州语特是英国比比旗下系列品牌的南方总代。关于语特 和 英国Bibby / 德国Miccra / 德国MCART/ 德国CAT / 瑞士Gerber Instruments ( www.youtoolinstru.cn. ) 广州语特仪器科技有限公司专注于搅拌器/分散乳化机等实验室样品制备等通用仪器, 熔点仪/光度计/冰点仪等分析仪器,以及PCR等生命科学仪器。 作为英国比比(Bibby )在中国南方的首代,广东,广西,四川,重庆,云南,海南,贵州和西藏是我司的服务范围。语特公司也是德国Miccra, MCART, 德国CAT,瑞士Gerber Instruments 在中国的首代。l 英国BIBBY 成立于上个世纪50年代,作为英国最大的实验室科学仪器生产商, 旗下有4个子品牌:Stuart,Techne,Jenway,Electrothermal. 专注于样品前处理等通用实验室仪器(如:熔点仪, 搅拌器, 混匀器,摇床, 培养箱,干浴器/氮吹仪,水浴,菌落计数器, 纯水蒸馏器),分子生物学研究设备(基因扩增仪PCR,荧光定量,杂交箱);分光光度计/超微量紫外等分析仪器,及平行反应工作站相关产品。 l 德国Miccra 成立于上个世纪,是德国乃至全球最专业的分散乳化专家。顶级分散乳化产品从实验室仪器,中试产品到工业设备, 分散头种类组合高达上百种;应用领域覆盖了化工,化妆品,制药,食品,环保等各大领域。l 德国CAT 成立于上个世纪50年代,是德国样品制备仪器方面的专家之一, 以”品质稳定”而闻名。其顶置式搅拌器种类多样,从手持式,教学用,到科研通用型,高粘度型,是CAT的代表产品线。l 瑞士Gerber Instruments 有超过120的历史,是专注于乳食品行业的典型代表。其产品冰点仪, 乳脂离心机, 食品专用PH计, 流出式粘度计等, 风靡欧洲及其它大陆国家。 l 德国MC.ART ,号称实验室小型“机器人”的提供者。其典型代表产品有:全自动分散乳化系统,自动抓取机器人,自动加液机器人,自动封装机器人,自动过滤机器人等实验室自动控制智能设备,以及实验室自动化的定制 。
  • 274万!北京大学快速多点激光扫描共聚焦显微镜采购项目
    项目编号:BMCC-ZC22-0259项目名称:北京大学快速多点激光扫描共聚焦显微镜采购项目预算金额:274.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量预算金额是否接受进口产品01快速多点激光扫描共聚焦显微镜1套274万元是注:1.交货时间:自合同签订之日起120日内交货并安装调试完毕。2.交货地点:北京大学化学与分子工程学院。3.简要技术需求及用途:北京大学拟采购快速多点激光扫描共聚焦显微镜,用于进行长时间的活细胞观察 ,并进行快速超高的成像。对细胞和亚细胞器中荧光标记的分子和结构检测,荧光强度信号的定量分析,深层组织和细胞成像,亚细胞结构超高分辨检测,荧光共定位分析等。可进行荧光漂白及恢复实验,蛋白互作实验等。 合同履行期限:按招标文件要求。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 预算274万!北京大学公开招标采购快速多点激光扫描共聚焦显微镜
    近日,北京大学公开招标采购快速多点激光扫描共聚焦显微镜,预算274万,用于进行长时间的活细胞观察 ,并进行快速超高的成像。对细胞和亚细胞器中荧光标记的分子和结构检测,荧光强度信号的定量分析,深层组织和细胞成像,亚细胞结构超高分辨检测,荧光共定位分析等。可进行荧光漂白及恢复实验,蛋白互作实验等。截止投标时间为9月12日。具体招标情况如下:项目概况北京大学快速多点激光扫描共聚焦显微镜采购项目 招标项目的潜在投标人应在线上邮箱报名(具体方式详见“其他补充事宜”)获取招标文件,并于2022年09月12日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。一、项目基本情况项目编号:BMCC-ZC22-0259项目名称:北京大学快速多点激光扫描共聚焦显微镜采购项目预算金额:274.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量预算金额是否接受进口产品01快速多点激光扫描共聚焦显微镜1套274万元是注:1.交货时间:自合同签订之日起120日内交货并安装调试完毕。2.交货地点:北京大学化学与分子工程学院。3.简要技术需求及用途:北京大学拟采购快速多点激光扫描共聚焦显微镜,用于进行长时间的活细胞观察 ,并进行快速超高的成像。对细胞和亚细胞器中荧光标记的分子和结构检测,荧光强度信号的定量分析,深层组织和细胞成像,亚细胞结构超高分辨检测,荧光共定位分析等。可进行荧光漂白及恢复实验,蛋白互作实验等。 合同履行期限:按招标文件要求。本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求:1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定;2.落实政府采购政策需满足的资格要求:无3.本项目的特定资格要求:遵守国家有关法律、法规、规章;单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得同时参加本项目的投标。为本项目采购需求提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得再参加本项目的投标。通过“信用中国”网站(www.creditchina.gov.cn)和中国政府采购网(www.ccgp.gov.cn)查询信用记录(截止时点为投标截止时间),对列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商,没有资格参加本次采购活动。投标人必须购买招标文件并登记备案。三、获取招标文件时间:2022年08月22日 至 2022年08月29日,每天上午9:00至11:30,下午13:00至16:30。(北京时间,法定节假日除外)地点:线上邮箱报名(具体方式详见“其他补充事宜”)方式:只接受电汇或网银购买。(具体方式详见“其他补充事宜”)售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间:2022年09月12日 09点30分(北京时间)开标时间:2022年09月12日 09点30分(北京时间)地点:北京市海淀区学院路30号科大天工大厦B座17层06室第一会议室,如有变化,另行通知。(提示:楼层较高,请供应商预留递交文件时间提前到场)五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜(1)详细报名及获取招标(采购)文件方式,请完整阅读以下全部内容:1)填写下表,连同电汇底单(网银转账页面或银行回单)扫描件发送至bjmdzx@vip.163.com。邮件主题请务必为“购买标书登记+项目编号(BMCC开头)+项目名称”。报名后我司将回复邮件告知报名结果,请关注邮件及相关附件。请注意:电汇或网银必须于标书销售截止日下午16:30前到账。项目编号BMCC-ZC22-0259报名包号汇款金额公司名称统一社会信用代码公司通讯地址项目联系人联系电话联系邮箱需要快递纸质版文件是(须加收快递费100元) √否汇款/转账凭证(汇款或转账的底单扫描件或截图) 2)银行账户信息,电汇购买招标文件、投标保证金及中标服务费收取的唯一账户: 汇款或转账时请务必附言“项目编号+用途”,例如:ZC22-0259标书款或保证金。公司名称:北京明德致信咨询有限公司开 户 行:中国工商银行股份有限公司北京东升路支行账 号:0200 0062 1920 0492 9683)招标文件的获取:电子版招标文件免费下载地址:明德致信公司网站“招标(采购)公告”频道:http://www.zbbmcc.com/node/119。无需注册,按项目名称或编号查找对应项目,点击标题下红色“下载”按钮即可。(2)问题咨询联系方式的说明:1)有关招标文件购买、中标通知书领取及服务费发票、保证金交纳及退还事宜的联系电话:(010)8237 0045;2)有关招标文件技术部分的问题咨询:请拨打公告“项目联系方式”中项目联系人的手机号码。(3)本项目的公告发布媒介:仅在中国政府采购网发布。对其他网站转发本公告可能引起的信息误导、造成供应商的经济或其他损失的,采购人及采购代理不负任何责任。(4)针对本项目的其他特别说明: 1)需要落实的政府采购政策:促进中小企业、监狱企业、残疾人福利性单位发展,优先采购节能产品、环境标志产品、鼓励开展信用担保等。2)投标文件请于开标当日(投标截止时间之前)递交至开标地点,逾期递交文件恕不接受。3)届时请投标人派代表参加开标仪式。4)如本公告内容和招标文件内容不一致,以招标文件为准。详见附件下载七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:北京大学     地址:北京市海淀区颐和园路5号        联系方式:吴老师,010-62758587       2.采购代理机构信息名 称:北京明德致信咨询有限公司            地 址:北京市海淀区学院路30号科大天工大厦B座17层1709室(邮编:100083)            联系方式:孙经理、刘亚运、吕家乐、王爽、吕绍山,010-8237 0045、15801412428、15910847865            3.项目联系方式项目联系人:孙经理、刘亚运、吕家乐、王爽、吕绍山电 话:  010-8237 0045、15801412428、15910847865(定稿)ZC22-0259北京大学快速多点激光扫描共聚焦显微镜采购项目招标公告.docx
  • 2021年度中国市场电镜新品盘点(18款): 场发射、扫描透射成主流
    经历2020年疫情笼罩,2021年全球电镜市场规模回暖,规模再次以个位数速率增长,作为最大需求单一市场国家,中国则实现20%以上增长。电镜新品发布也迎来活跃一年,发布新品不仅低、中、高端产品基本覆盖,大部分主流品牌皆有输出,国产方面也多点开花。以下对2021年在电镜新品进行盘点,数据主要统计自本网报道或公开信息,如有遗漏、错误欢迎在留言区补充或邮件(yanglz@instrument.com.cn )。2021年电镜发布新品速览(按发布时间顺序)类型品牌产品名称型号描述SEM蔡司新一代Gemini场发射扫描电镜系列GeminiSEM 360GeminiSEM 460GeminiSEM 560高分辨,不挑样日本电子肖特基场发射电镜JSM-IT800(i)/(is)适用观测半导体器件聚束科技高通量(场发射)扫描电镜Navigator-100B PLUS国产高通量场发射升级款祺跃科技原位高温扫描电镜-国产原位高温日本电子新型扫描电子显微镜JSM-IT510钨灯丝电镜升级飞纳台式场发射扫描电镜Phenom Pharos G2分辨率提至1.8nm日立两款场发射扫描电子显微镜SU8600SU8700聚焦自动获取大量数据功能国仪量子场发射扫描电镜SEM5000国产场发射扫描电镜TEM日本电子新一代冷冻电镜CRYO ARMTM 300II (JEM-3300)速度、操作、通量全面升级赛默飞球差校正透射电镜Spectra Ultra适合电子束敏感材料的球差电镜赛默飞扫描透射电镜Talos F200E为半导体行业设计纳镜鼎新高通量生物扫透电镜智眸365(Smart View 365)国产高通量生物扫描透射电镜聚焦离子束显微镜赛默飞聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM)Helios 5 PXL Wafer DualBeam聚焦半导体领域其他日本电子超微电子衍射平台Synergy-ED电镜-x射线衍射平台赛默飞定制球差校正电镜Spectra φ定制球差电镜扫描电镜:11款齐发,9款场发射!扫描电镜方面,场发射产品成为新品主流,蔡司和日立分别发布3款、2款场发射电镜,日本电子发布场发射和钨灯丝升级产品,飞纳台式场发射电镜分辨率提升至1.8nm。国产方面,国仪量子也加入场发射产品行列,聚束科技发布高通量场发射升级产品,祺跃科技则基于其原位力学技术,发布原位高温扫描电镜。蔡司|新一代Gemini场发射扫描电镜系列【3款】Gemini系列新品,左至右:GeminiSEM 360,GeminiSEM 460,GeminiSEM 560【发布会专题】 发布时间:3月24日参考价格:300-600万元蔡司此次发布的GeminiSEM 360,GeminiSEM 460,GeminiSEM 560是Gemini电子光学系统针对不同的应用场景衍生出的三款新型号。GeminiSEM 360搭载1型Gemini镜筒,是一款高通用性成像工具。其物镜为静电透镜+磁透镜复合透镜,在提高其电子光学性能的同时将它们对样品的影响降至更低。即使对极具挑战的样品也能进行高品质成像。Beam booster技术具有镜筒内的电子加减速功能,可确保获得小束斑和高信噪比;Gemini镜筒内带有平行设计的镜筒内二次电子和背散射电子探测器,可实现信号的高效采集,同步获取形貌衬度和成分衬度像。GeminiSEM 460搭载2型Gemini镜筒,专为应对复杂的分析工作而设计。它除了复合透镜和镜筒内加减速设计以外,利用双聚光镜设计实现更加灵活的束流调节。用户可以在小束流的高分辨成像模式与大束流的分析模式之间进行无缝切换,对称设计的EDS接口可让您获得无阴影的成分分布图,而物镜无漏磁设计可以让您获得无畸变的大面积EBSD花样。您还可以通过加装各种原位实验附件将Gemini 460升级为一个自动化原位实验平台。GeminiSEM 560搭载3型Gemini镜筒,带给用户极致的高分辨成像体验。该款镜筒拥有两个可协同工作的电子光学系统:Nano-twin透镜和新型电子光学引擎Smart Autopilot,可通过聚光镜优化所有工作条件下的电子束会聚角,进一步提升分辨力;还可实现1倍到200万倍的无缝过渡,大视野导航和亚纳米成像一镜到底。日本电子|场发射电镜JSM-IT800半透镜版本(i)/(is)新型肖特基场发射扫描电子显微镜JSM-IT800【产品链接 】 发布时间:8月31日参考价格:200-400万元JSM-IT800 集成了用于高分辨率成像的透镜内肖特基 Plus 场发射电子枪、创新的电子光学控制系统“Neo Engine”, 以及追求易用性的GUI“ SEM中心”可以完全整合JEOL 的x射线能谱仪。JSM-IT800 有五种不同物镜版本:混合镜头版本 (HL),这是一种通用 FE-SEM;超级混合镜头版本(SHLs/SHL,功能不同的两个版本),可实现更高分辨率的观察和分析;以及新开发的半透镜版本(i/is,两个不同功能的版本),适用于半导体器件的观察。半透镜通过在物镜下方形成的强磁场透镜会聚电子束来实现超高分辨率。此外,该系统有效地收集从样品发射的低能量二次电子,并使用上部透镜内检测器 (UID) 检测电子。因此,它可以对倾斜样品和横截面样品进行高分辨率观察和分析,这正是半导体器件故障分析所需的。此外,它对于电压对比度观察也非常有用。聚束科技|高通量(场发射)扫描电子显微镜 Navigator-100B PLUS高通量(场发射)扫描电子显微镜 Navigator-100B PLUS【 产品链接 】 发布时间:8月参考价格:500-700万元成像速度在同等条件下是同类机型的10倍以上,可在72小时内以4nm 像素完成对10x10 mm2 区域的无遗漏采集。 新机型在硬件部分模组提升较大,配备新型电子枪,电子束落点能量范围可达30keV,涵盖绝大多数扫描电镜落点能量需求范围。分辨率可达1.0nm (15keV下), 且在1-3kV低加速电压下即可获得1.5nm高分辨率的同时,仍能保持1‰以下的低图像畸变。具备高度智能化,包括简单快捷全景光学导航、一键全自动换样、全景光学导航、实时聚焦追踪,可以实现全自动超大区域(100mm×100mm)全息地图集式拍摄,并绘制成全景地图式信息浏览。祺跃科技|原位高温扫描电镜祺跃科技原位高温扫描电镜新品【发布详情】 发布时间:10月14日新开发的扫描电镜设计理念包括样品室空间从紧凑到合理,样品台承载能力较大、成像探测器承温能力提升、保证高真空足够的抽气能力等,达到追求时序信息的目标。本次新品实现整机国产化的核心部件包括高温二次电子探测器、三维移动平台与大载荷拉伸平台、1400度原位加热器、超大结构样品腔室和超高真空系统等。保障电镜极端环境长时间稳定运行的相关模块包括冷阱、等离子清洗、极靴屏蔽、红外测温等。同时兼容EDX和EBSD等,还预留设置了多种通讯接口,为今后拓展更多原位技术留有余地。 日本电子|钨灯丝扫描电镜升级产品JSM-IT510钨灯丝扫描电子显微镜JSM-IT510【产品链接】 发布时间:11月8日参考价格:130-200万元为了满足基础研究、工业现场对更快获取结果数据等, JSM-IT510系列进一步提升了InTouchScope™ 的可操作性。借助新增的Simple SEM功能,现在可以将日常工作 “交给”仪器。主要特点包括:新型“Simple SEM”功能、最新型低真空二次电子探头 (LHSED)、 扫描电镜图像和能谱的一体化、实时立体三维图像、实时分析功能、新的导航放大功能、0 倍放大、显示X射线产生区域、SMILE VIEW™ Lab管理软件等。飞纳|第二代肖特基场发射台式扫描电镜Phenom Pharos G2飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos G2【 产品链接 】 发布时间:11月24日参考价格:200-300万元Phenom Pharos G2, 集背散射电子成像、二次电子成像和能谱分析功能于一体。高亮度肖特基场发射电子源,使用户可以轻松获得高分辨率图像,且低电压性能优异。Pharos G2分辨率提升至1.8nm,采用热场发射电子源,信噪比高,使用寿命长,保证长期稳定的性能。飞纳台式场发射扫描电镜能谱一体机标配背散射电子成像、二次电子电子成像和能谱分析功能,可对各种样品进行高分辨成像及元素分析。日立|全新场发射扫描电镜SU8600和SU8700全新冷场发射扫描电镜SU8600(左)和热场发射扫描电镜SU8700(右)【发布会专题】 发布时间:12月9日全新一代冷场发射扫描电镜SU8600不光保留了日立传统冷场电镜的优点,还采用了新型冷场电子枪,可选择更多种类的探测器,而且具有全新的自动数据获取功能,这些技术的加入使得SU8600的成像、分析能力以及自动化性能都有了质的飞跃。具体特点包括:强大自动化功能、成熟的电子光学系统、强大的图像显示和存储、简便的操作等。全新一代热场发射扫描电镜SU8700是一款集高分辨观察、高效率分析、自动化操作等特点于一身的扫描电镜。全新的自动数据获取功能,电子光学系统,多探头检测系统等技术的加入使得SU8700的成像和分析能力有了质的飞跃。具体特点包括:强大的自动化功能、全新的电子光学系统、高效的分析能力、丰富的样品适用性、简便的操作等。国仪量子|场发射扫描电子显微镜SEM5000场发射扫描电镜SEM5000【 发布信息 】 参考价格:200-300万元新品场发射扫描电子显微镜SEM5000,是一款高分辨的多功能扫描电镜,分辨率优于1 nm,放大倍数超过一百万倍。SEM5000的新型镜筒,优化了电子光路设计,采用高压隧道技术,在高电压和低电压下均能实现高质量成像;系统配置了无漏磁物镜,实现了无漏磁高分辨成像,适用于磁性样品分析;可选配多种探测器及其它分析仪器,能够满足用户的各种需求。将广泛应用于锂电池材料、新型纳米材料、半导体材料、矿物冶金、地质勘探、生物等领域。透射电镜:冷冻电镜、球差电镜,国产扫描透射透射电镜方面,面向高端市场的扫描透射电镜成为新品主流。日本电子新一代冷冻电镜JEM-3300年初上市。赛默飞球差电镜新品Spectra Ultra、扫描透射电镜新品Talos F200E更加关注半导体领域。国产方面,基于生物到实验室和生物物理所合作,针对病理组织样本高通量成像需求的专用扫描透射电子显微镜SmartView发布。日本电子|新型冷冻电镜JEM-3300新型冷场发射低温电子显微镜(cryo-EM)——CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)【 产品链接 】 发布时间:1月22日参考价格:3000-5000万元JEM-3300新型冷冻电镜基于“快速、易于操作、获得高对比度和高分辨率图像”的理念而开发。与之前的CRYO ARM™ 300相比,JEM-3300可进行高质量数据的快速采集、操作简便,并在通量方面有大幅提升。主要特点:通过最佳电子束控制实现高速成像,独特的“Koehler mode”照射模式允许均匀电子束照射到样品的特定位置,JEM-3300吞吐量相比上一代提升两倍或更高;提高了高质量图像采集的硬件稳定性,配备了一种新型冷场发射枪(cold FEG)、新的柱内 Omega 能量过滤器;系统升级后可操作性更高等。赛默飞| 球差校正透射电镜Spectra Ultra 新一代扫描透射电镜Spectra Ultra S/TEM【产品详情】 发布时间:3月3日参考价格:2500-5000万元全新Spectra Ultra在数分钟内即可灵活优化高级成像和分析条件。出于加快材料研究进程以及高通量需求,用户现在可以以非常快的速度稳定地调节加速电压。这极大扩展了研究的样品范围,最大程度地减少了电子束损伤,并显著降低了工具的优化耗时。“配置了Ultra-X的Spectra Ultra改变了材料科学研究人员和半导体从业者的游戏规则。它可以通过迅速施加不同的加速电压来显著减少电子束损伤,并且用户将能够检测极低浓度的轻元素。”赛默飞世尔材料科学副总裁Rosy Lee表示,“此外,与其他商业化解决方案相比,用户可以以更高的分辨率快速成像快速分析,以研究新材料和改进现有材料。”赛默飞| Talos F200E扫描透射电镜Talos F200E扫描透射电镜发布时间:3月17日参考价格:600-1500万元Talos F200E (S)TEM提供原子级分辨率成像、快速EDS)分析和增强的数据可靠性,专为满足半导体行业日益增长的需求而设计。且具有成本效益,易用性高,帮助半导体实验室实现快速的样品表征,加快可以量产的速度,提高制程良率。“随着创新的步伐不断加快,半导体企业要求其分析实验室加快周转时间,并在各种设备和工艺技术上提供更可靠和可复现的(S)TEM数据,以支持他们的业务,”赛默飞半导体事业部副总裁Glyn Davies表示,“Talos F200E通过提供高质量的图像数据、快速的化学分析和行业领先的缺陷表征等特质,可以为客户提供高性价比、易用的解决方案。”纳镜鼎新|高通量生物扫描透射电子显微镜SmartView高通量生物扫透电子显微镜智眸365(Smart View 365)【产品详情】 发布时间:7月28日智眸365(Smart View 365)以其高通量、全自动、超高清图像的优越特性在降低人员工作强度的同时为专家分析和诊断病理提供更多的信息,有效提高诊断的效率与正确率。满足专业用户对超微病理诊断的需求。主要特点包括:高通量高效率,插入病理切片样品仓,选定工作模式,一次性自动连续完成多至500个样品成像等;高分辨,分辨率高达0.9nm STEM图像;高稳定运行,长寿命、超稳定的场发射电子源;使用简单等。聚焦离子束显微镜赛默飞|Helios 5 EXL晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜Helios 5 EXL晶圆聚焦离子束扫描电子显微镜【产品详情】 发布时间:4月21日参考价格:700-1500万元Helios 5 EXL旨在满足半导体厂商随着规模化经营而不断增加的样品量以及相应的分析需求。这款产品拥有的机器学习和先进的自动化能力,可提供精确的样品制备,以支持5纳米以下节点技术和全环绕栅极半导体制程以及良率提高。赛默飞半导体事业部副总裁Glyn Davies 表示:“半导体实验室正面临着巨大的压力,在不增加成本的情况下,他们需要更快地提供TEM分析数据,以支持制程监控并提升学习曲线,Helios 5 EXL可以通过可扩展的、可复现的和高精度的TEM样品制备来应对这一挑战。”其他新品:扩展技术与定制产品日本电子|超微电子衍射平台Synergy-ED超微电子衍射平台Synergy-ED发布时间:5月31日日本电子与Rigaku公司联合开发出Synergy-ED,一个超微电子衍射平台(ED),通过将日本理学的结构分析技术和设备(如其高灵敏度检测器)与日本电子的透射电子显微镜相结合,将两者的核心技术结合起来,希望新品的技术能够应用于材料研究、化学和药物开发等领域,并为利用电子衍射进行单晶结构分析提供新的解决方案。在以前困难的亚微米范围内,结构分析成为可能。赛默飞|定制球差校正电镜Spectra φ定制的高分辨率扫描透射电子显微镜Spectra φ发布时间:5月20日定制的高分辨率扫描透射电镜Spectra φ,用以支持莫纳什大学在先进材料方面的研究。该仪器安装在澳大利亚莫纳什电子显微镜中心(MCEM)。Spectra φ提供增强的电子束灵活性,以优化复杂材料系统的高速多维成像。Spectra φ 的设计和制造符合由MCEM 和澳大利亚科学院院士Joanne Etheridge教授领导的团队的规格。通过将 Spectra φ 纳入其仪器阵容,莫纳什大学将继续推动对重要能源相关的开创性研究,包括高效光伏设备、电池、材料轻量化、低功耗电子产品和清洁发电等。
  • TESCAN学院丨2018年度扫描电镜高阶应用培训计划最新出炉!
    TESCAN 2018年度“扫描电镜高阶应用培训计划”最新出炉!目前正在火热报名中!(阅读原文即可快速报名)TESCAN学院在2017年度共举办了八期高阶应用培训班和三期网络培训班,受到了用户的一致好评! 2018年,我们将继续为TESCAN广大用户提供免费的培训服务!为了更好地帮助TESCAN的电镜用户提高操作水平,TESCAN学院特开设了一系列的免费培训班,在这里我们有:灵活的授课形式:您可以根据您的时间和实际需求,选择网络或线下培训课程;专业的培训老师:TESCAN学院的培训老师拥有非常专业的背景知识和丰富的电镜操作经验,可以根据您的具体需求为您调整相应授课课程。详细的培训教材:TESCAN学院的高级应用专家撰写出版的教材和详尽的演示PPT帮助您更好地掌握和巩固学习的知识。全面的实战演练:掌握了电镜相关的理论基础后,全面的上机实践课程迅速帮助您掌握操作技巧。完善的培训考核:参加培训班的学员需参加培训考核,考核通过的学员将取得TESCAN高级应用培训的证书。高阶化的应用课程如何针对不同的样品选择最佳的观测条件?如何充分利用操作软件的各种功能?如何让您的电镜保持最佳工作状态等?快来TESCAN学院找寻答案吧!2018年度“TESCAN扫描电镜高阶应用免费培训班“计划如下:2018年度培训计划 TESCAN学院扫描电镜高阶应用培训安排第一期(上海)1月25-26日 扫描电镜高阶应用培训班(24日报到)第二期(上海)4月24-25日 扫描电镜高阶应用培训班(23日报到)第二期(上海)4月26-27日能谱培训班(可自行选择是否参加)第三期(待定)5月24-25日 扫描电镜高阶应用培训班(23日报到)第四期(上海)6月26-27日 扫描电镜高阶应用培训班(25日报到)第四期(上海)6月28-29日能谱培训班(可自行选择是否参加)第五期(待定)7月26-27日 扫描电镜高阶应用培训班(25日报到)第六期(上海)10月23-24日 扫描电镜高阶应用培训班(22日报到)第六期(上海)10月25-26日能谱培训班(可自行选择是否参加)第七期(待定)11月29-30日 扫描电镜高阶应用培训班(28日报到)第八期(上海)12月25-26日 扫描电镜高阶应用培训班(24日报到)第八期(上海)12月25-26日能谱培训班(可自行选择是否参加)温馨提示1. 由TESCAN学院开办的培训班系列为高阶应用培训班,报名学员要求是具备至少三个月以上实际操作经验的TESCAN电镜用户。2. 为了保证培训质量,每期的培训名额有限,每位参加培训的学员都必须填写一份报名表,我们会根据您的报名表安排培训,针对具体情况培训安排可能会有所调整。3. 在收到您的报名表后,我们会将培训邀请函和培训日程安排发送到您填写的邮箱中。4. 2018年度TESCAN高阶应用培训班系列是为TESCAN用户提供的免费培训课程,无需缴纳任何培训费用,交通和食宿需学员自理。关注“TESCAN公司”中国官方微信,报名扫描电镜高阶应用免费培训班!
  • 184.8万!北京脑科学与类脑研究中心高分辨快速双扫描共聚焦显微镜采购项目
    项目编号:HCZB2022-058项目名称:北京脑科学与类脑研究中心高分辨快速双扫描共聚焦显微镜采购项目采购方式:竞争性磋商预算金额:184.8000000 万元(人民币)采购需求:名称、数量、简要技术需求如下:序号货物名称数量简要技术需求1▲高分辨快速双扫描共聚焦显微镜1套… … 4.1 同一软件控制显微镜、激光器、扫描器,所有硬件均由软件控制。… … (详见竞争性磋商文件第五章) 注:1.标注“▲”的,允许提供进口产品;未标注允许采购进口产品的,如供应商所响应货物为进口产品,其响应文件按无效响应处理。2.本项目共1个包,供应商只可投完整包,不允许将一包中的内容拆开进行响应。合同履行期限:合同签订后,乙方应在3个月内完成供货。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 2010年度扫描电镜技术讲座在京举办
    2010年度扫描电子显微镜最新技术与实验技术讲座在京举办  仪器信息网讯 为了提高首都科技条件平台电镜实验人员的仪器操作水平和电镜分析水平,2010年11月23日,由北京科学仪器装备协作服务中心和北京理化分析测试学会电镜分会共同主办的“2010年度扫描电子显微镜最新技术与实验技术讲座”在北京北科大厦隆重举行。来自全国高等院校、科研机构、企事业单位的近130位从事扫描电子显微镜研究及其应用的专家学者参加了此次会议,仪器信息网亦应邀参会。北京市电镜学会理事长张德添教授主持会议北京科学仪器装备协作服务中心张晓强主任致辞  张晓强主任在致辞中说到:非常荣幸能有机会与北京市电镜学会共同举办此次电镜会议。北京科学仪器装备协作服务中心是一个实现北京地区科学仪器装备共享共用的科技平台,是北京市科学技术委员会授权的“首都科技条件平台”的总体支撑建设和运营单位。通过该平台举办一些技术交流活动,能够促进科技资源与创新需求的宣传与对接,发挥北京地区科学仪器装备资源优势,提高科学仪器装备的协作水平。最后,张晓强主任预祝此次会议能够取得圆满成功。北京大学徐军高工报告题目:钨灯丝、场发射SEM、FIB等应用技术技巧  徐军高工说到:提高扫描电子显微镜的分辨率最重要的措施之一是提高电子枪的亮度。其中,关键是要寻找电流密度很高、发射角分布非常集中且能量分散很小的电子源。目前,常用的电子枪(工作方式)主要有钨灯丝(热发射)、LaB6(肖特基发射)、单晶钨丝(冷场发射)以及附有氧化锆的钨灯丝(扩展的肖特基发射)。此外,影响扫描电镜图像分辨率的因素主要有样品的潜在衬度、电子探针的电子光学性能、电子和样品的相互作用区以及外部环境。  最后,徐军高工着重介绍了聚焦离子束(FIB)的四大基本功能:离子束成像、刻蚀各种图形、离子束诱导沉积、辅助气体选择刻蚀。日立高新技术公司罗琴女士报告题目:正确使用扫描电镜的若干技巧分享  罗琴女士提到:若要获得良好的扫描电镜解析,所需包括加速电压、工作距离、电子束流、样品前处理、外界干扰、图像调整以及仪器保养等诸多因素。随着加速电压的升高,图像分辨率会升高,但样品损伤、污染程度也会加大 电子信号主要包括二次电子、背散射电子、透射电子等,根据不同的样品检测要求,选择不同的电子信号 而探针电流的升高,图像信噪比也会升高,分辨率会略受影响,但样品损伤、污染程度亦会增大 适当降低探针电流、加速电压或者以背散射电子成像可降低荷电效应 样品的前处理则需考虑样品材质、形态以及观察目的。  同时,罗琴女士在报告中还介绍了日立公司IM-3000平面样品抛光仪以及E-3500离子抛光仪在样品前处理过程中的应用。清华大学杨文言高级实验师报告题目:环境扫描电子显微术在生物学和材料科学研究中的应用  杨文言老师在报告中指出:理想中的扫描电镜分析是指样品保持原来形态,以最简单的处理过程,实时观测样品的变化过程,得到样品真正的表面形貌。传统的扫描电子显微镜观察样品需要在高真空下进行,并且要求样品表面要有较好的导电性,为此就需要湿样品干燥、非导电样品镀膜处理,而环境扫描电子显微镜除了中和电荷外,还具有保持样品环境0-100%湿度等多种功能,但观察视角与对象有局限性,成本也会增加,应对样品特性事先有所了解。  在生物学研究中,对样品无需任何处理,可直接观察“活”的生物结构,如昆虫复眼、神经束断面、嗜骨细胞等。最后,杨文言老师介绍了环境扫描电镜在研究环保型粮仓杀虫剂、观察生物固沙效果、水泥沥青砂浆水硬化过程等研究中的应用。上海易微科技有限公司李金树先生报告题目:扫描电子显微镜主要附件的最新进展  李金树先生用通俗易懂的语言向大家介绍了介绍两款用于扫描电镜高真空环境下的新型纳微操纵仪的工作原理及应用领域。李金树先生谈到:运用扫描电镜纳米操纵仪,实现了在扫描电镜中操纵样品,包括拨动、搬移、旋转,对样品进行多角度观察。其移动范围:轴向0-12mm 水平方向:-120度-+120度 垂直方向:-120度-+120度。可获得力-时间、力-位移曲线,实时测试样品的力学性能。此外,它还可以与微注入功能一起使用,在扫描电镜中进行微区反应的原位观察,与FIB双束仪器一起应用,可以高效和无污染地提取由FIB制备的TEM样品薄片。  最后,李金树先生向大家展示了德国最新推出的Evactron除污仪产品,并介绍了其技术优势与主要应用。北京工业大学吉元教授报告题目:电子背散射衍射(EBSD)技术及其应用  吉元教授指出:电子背散射衍射技术是在1980年发展起来的,是一种应用于扫描电镜中的微区晶体学分析技术。EBSD菊池衍射花样可以通过计算晶面、晶带轴指数以及晶粒取向来标定晶体取向,具有分辨率高、菊池花样取向敏感性高、花样应变敏感性高、花样收集角大等特点。近几年,EBSD的技术进展主要集中在高速EBSD探测器、一体化分析系统、软件功能等方面,越来越多的应用到晶体学取向关系测量、晶粒结构测试、晶界测试、相鉴定、应力/应变分析等领域。  最后,吉元教授总结了在EBSD的应用中需要考虑的问题:合理选择和选用SEM-EBSD设备及测试参数、制备好EBSD测试样品、综合利用形貌结构和成分等分析信息、在非导电、纳米材料中的应用难点等。北京科学仪器装备协作服务中心孙月琴副主任  在会议最后,孙月琴副主任表示:非常感谢各位专家精彩的学术报告,为各位参会者带来了扫描电镜领域最新的技术进展与应用成果。  同时,孙月琴副主任还说到:首都科技条件平台通过支持研发实验服务基地、领域平台、工作站三类主体,整合科学仪器、科技成果、科技人才三类资源,是实力测试对接、研发实验对接、技术对接三种服务。自成立以来,已有423个国家级及市级重点实验室和工程中心、价值109亿元的1.8万台(套)仪器设备资源向社会开放。目前共计6300多家企业享受到了首都科技条件平台的研发实验服务,服务金额高达6.8亿元。会议现场
  • 差示扫描量热仪的扩展
    p  差示扫描量热仪除常规的热通量式DSC和功率补偿式DSC外,还有数种特殊的应用形式。/ppstrong超快速差示扫描量热仪/strong/pp  超快速DSC是最新发展起来的创新型快速差示扫描量热仪,采用动态功率补偿电路,属于功率补偿式DSC的一类。/pp  瑞士梅特勒-托利多公司于2010年9月推出了世界上首款商品化超快速差示扫描量热仪Flash DSC(中文名称:闪速DSC)。升温速率可达到2400000K/min,降温速率可达到240000K/min。/pp  闪速DSC的心脏是基于微机电系统(micro electro mechanical systems-MEMS)技术的芯片传感器,传感器置于有电路连接端口的陶瓷基座上。如图所示为闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/b5b7573d-a532-4a86-95d9-b7ec0e2ba93d.jpg" title="闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图.jpg" width="400" height="325" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 325px "//pp style="text-align: center "strong闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图/strong/pp style="text-align: center "1.陶瓷板 2.硅支架 3.金属连线 4.电阻加热块 5.铝薄涂层 6.热电偶/pp  试样面和参比面各有电阻加热块,加热块由动态功率补偿控制。补偿功率即热流由排列于样品面和参比面的各8对热电偶测量。热电偶呈星形对称排列,可获得平坦和重复性好的基线。样品面和参比面由涂有铝薄涂层的氮化硅和二氧化硅制成,可保证传感器上的温度分布均匀。传感器面厚约2.1μm,时间常数约为1ms,可保证快速升降温速率下的高分辨率。/pp  在常规DSC中,为了保护传感器,将试样放在坩埚内测试,坩埚的热容和导热性对测量有显著影响。典型的试样质量为10mg。在闪速DSC中,试样直接放在丢弃型芯片传感器上进行测试。试样量一般为几十纳克(ng)。由于试样量极小,必须借助显微镜制备试样。/pp  闪速DSC能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,如在注塑过程中快速冷却时出现的结构 极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。不同的降温速率可影响试样的结晶行为和结构,因此闪速DSC是研究结晶动力学的很好工具。闪速DSC在其升、降温低速段可与常规DSC交叠,如闪速DSC的最低升温速率为30K/min、最低降温速率为6K/min。因此,闪速DSC与常规DSC可互为补充,达到极宽的扫描速率范围。/ppstrong高压差示扫描量热仪/strong/pp  将DSC炉体集成于压力容器内,可制成高压差示扫描量热仪。高压DSC一般有3个气体接口,各由一个阀门来控制:快速进气口用来增压 炉腔吹扫气体入口用于进行测试过程中的气流控制 气体出口用于进行压力控制。测试炉内的实际压力由压力表显示。通过压力和气体流量控制器,可实现静态和动态程序气氛下的精确压力控制。/pp  加压将影响试样所有伴随发生体积改变的物理变化和化学反应。在材料测试、工艺过程开发或质量控制中,经常需要在压力下进行DSC测试。高压DSC仪器扩展了热分析的应用。/pp  压力下进行DSC测试可缩短分析时间,较高压力和温度将加速反应进程 可模拟实际反应环境,在工艺条件下测试 可抑制或延迟蒸发,将蒸发效应与其他重叠的物理效应及化学反应分开,从而改进对重叠效应的分析和解释 可提高气氛的浓度,加速与气体的多相反应速率 可在特定气氛下测量,如氧化、无氧条件或含有毒或可燃气体(如氢气) 可通过不同压力下的实验,更精确地测试吸附和解吸附行为。/ppstrong光量热差示扫描量热仪/strong/pp  光量热组件与DSC结合,可生成DSC光量热仪,测量材料在不同温度下用一定波长的光照射引发固化反应所产生的焓变。主要应用于材料的光固化领域,测试光引发的反应。可用于研究各种光敏材料的光效应,如光活性固化过程、光引发反应以及紫外线稳定剂影响、加速测试或老化研究中聚合物稳定性的光强度效应。/pp  如图所示为光量热DSC仪光学部分的示意图。光源一般为紫外线,也可为其他光源,如可见光。通过遮光器的开闭来控制光照时间,光强度由光源控制。光由光纤透过石英炉片(用作炉盖)照射到试样和参比坩埚上,由DSC传感器测量固化反应焓。/pp style="text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/2da48264-bd5e-4dc3-8c3f-1cea1d15ca90.jpg" title="光量热DSC系统的光学设计示意图.jpg" width="400" height="421" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 421px "//pp style="text-align: center "strong光量热DSC系统的光学设计示意图/strong/ppstrong差示扫描量热仪显微镜系统/strong/pp  DSC与装备有摄像技术的显微镜的结合可生成DSC显微镜系统,在DSC加热或冷却过程中可对试样进行光学观察,得到与DSC测试同步的图像信息。这种图像信息对于DSC测试到的现象作出精确的解释往往非常有用,而且显微镜能对极少或无焓变的过程摄录信息,达到极高的测试极限。/pp  典型的应用有粘合剂或固体涂料的流延性测试,薄膜或纤维收缩的光学观察,药物或化学品从溶液结晶、热致变色、汽化、升华及安全性研究,食物脂肪和食用油的氧化稳定性、与活性气体的反应,等等。/ppstrong温度调制式差示扫描量热法/strong/pp  DSC的传统温度程序是以恒定的速率将试样升温或降温。温度调制式差示扫描量热法的升温速率以更复杂的方式变化,是在线性温度程序上叠加一个很小的调制温度。/pp  典型的温度调制式DSC方法有等温步阶扫描法、调制DSC法和随机调制DSC法3种。/pp  等温步阶扫描法的温度程序由一系列等温周期步阶组成。调制DSC方法的温度程序为在线性温度变化上叠加一个周期性变化(通常为正弦)的调制,也可叠加其他调制函数(如锯齿形)。随机调制DSC为最先进的温度调制式技术,它的温度程序是在基础线性升温速率上叠加脉冲形式的随机温度变化。/pp  温度调制技术的优势在于可将热流分离为两个分量,一个对应于试样的比热容,另一个对应于所谓的动力学过程,如化学反应、结晶过程或蒸发过程等。/p
  • 一次性口罩能否消毒后重复使用?——扫描电镜的实验结果公布
    &ldquo 能否使用扫描电镜对酒精处理或蒸煮过的口罩进行检查,看熔喷无纺布的纤维结构是否会受到损伤?&rdquo 很多读者在上一篇文章下这样留言。 随着疫情的发展,不用说 N95,就连普通的一次性医用口罩都成了紧俏物资,很多人在尝试各种办法对口罩进行重复使用。 Q1. 酒精,蒸煮真的会对熔喷无纺布纤维结构造成伤害吗? 将常见一次性医用护理口罩分割为四片:① 作为对照组,不做任何处理,② 75% 酒精浸泡 1 小时,③ 沸水煮 10 分钟,④ 蒸汽蒸 7 分钟。将四片样品自然晾干后,取出熔喷层,使用飞纳台式扫描电镜进行观察。 首先,通过扫描电镜在 250 倍下观察滤层宏观完整性。扫描电镜结果如下,消毒处理后的样品与对照组相比,并没有看到任何明显差异,没有看到明显孔洞,裂痕,消毒处理并没有破坏滤膜的宏观完整性。 250 倍 对照组,酒精浸泡,煮,蒸 扫描电镜形貌对比 熔喷无纺布属于超细纤维,直径范围仅仅 0.5-10 微米左右,很多读者非常担心,这么细的纤维能否承受消毒处理的折腾? 通过飞纳电镜将样品放大到 2000 倍,结果如下图所示,我们发现,即便对于细到 0.5 微米的纤维(比头发丝细 150 倍),也没有想象中那么脆弱。与对照组比,酒精浸泡,蒸,煮后,纤维的原始微观结构都保持完好,纤维直径分布,膨松性等并未发生改变,未发现纤维断裂,腐蚀。 2000 倍对照组,酒精浸泡,煮,蒸 扫描电镜形貌对比 除了结构表征,2015 年,Choi 等人通过压降测试(Pressure drop)以推断酒精处理是否会影响纤维的结构。结果显示,酒精浸泡处理之后过滤器,相比于空白对照样,其压降几乎没有变化,这意味着酒精处理并没有破坏过滤器的纤维结构,并未改变空气通过效率。 解答:综合文献资料和试验结果,针对第一个问题,小编的答案是:合理的消毒处理方式,不论是酒精处理还是蒸煮,均不会对熔喷无纺布的宏观和微观纤维结构造成明显损伤。【注:试验结果仅针对我们的试验对象,未就更多口罩进行试验】 Q2. 口罩过滤靠主要静电吸附,一沾酒精就发生静电中和,口罩失效,是真的吗? 首先,静电中和&ne 口罩失效。口罩过滤并不仅靠静电吸附,还依靠惯性碰撞,拦截,布朗扩散等机制。他们相互分工,相互合作,静电吸附和布朗扩散对 1 微米以内的颗粒或气溶胶的有良好的拦截作用,而 1 微米以上的过滤主要靠其他机制。下图左上对比了丢掉静电吸附效应的影响,丢掉静电后,仅会对小于 0.8 微米的颗粒或气溶胶拦截产生不良影响。 另外一个事实是,并不是所有的口罩都有静电吸附能力,只有驻极处理过的熔喷布才有。而你的口罩是否具有静电吸附能力,酒精处理是否会真的完全中和静电呢?通过下面这个简单的小实验就可以得到结论。 关注 “飞纳电镜” 公众号,查看完整视频 视频的结尾,实验结果比较出人意料,经过三次 75% 酒精喷雾消毒后,我们的样品依然具有静电吸附能力。为什么我们的样品没有失效呢? 大量研究表明,酒精浸泡确实会引起静电中和,但酒精喷雾&ne 酒精浸泡,有研究表示低密度酒精蒸汽并不会引起静电中和。 熔喷无纺布可以在制造的时候,通过驻极处理的方式,使纤维负载上电荷,这些电荷会对 0.5 微米以内的飞沫或粉尘具有良好的静电吸附效果。但是这些电荷集中在纤维表面,在消毒处理过程中是比较容易受到中和。2002 年,Lee 等人研究了酒精浸泡时间对颗粒通过驻极体过滤材料渗透的影响,文章中指出,在 1 分钟的浸泡时间内,驻极过滤材料上的表面电荷会被完全中和。2014 年,文章也证实驻极过滤材料暴露于有机溶剂会导致其收集效率大大降低(Xiao 等人)。 但是 2015 年,Choi 等人在指出,不同于酒精浸泡,低密度的酒精处理(0.045g / cm2以内)对荷电的中和效应很弱。作者对比了无处理空白样(圆形),酒精蒸汽处理(上三角形),高浓度酒精处理(下三角形),酒精浸泡并快速烘干(黑色方块) 后的滤材过滤效率,见下图。结果显示,虽然高浓度酒精处理或浸泡会引起过滤效率的较大损失,但低密度酒精处理(0.045g / cm2以内)对滤材的过滤效率的影响很小。 解答:综合以上文献资料和试验结果,针对第二个问题,小编的答案是:静电吸附仅仅会影响 1 微米以内的颗粒或气溶胶的拦截,但即便没了静电,布朗扩散也会对这部分过滤发挥作用,而对于 1 微米以上的颗粒拦截主要靠其他机制,也不会受到静电中和的影响。 最后总结给大家 消毒处理不会明显改变纤维形貌,酒精喷雾也不一定会大幅降低口罩的过滤能力。但是!但是!但是!这也并不意味着你可以放心大胆的带着消毒过的口罩。昨天,中国疾控中心发布《口罩选择与使用技术指引》提出:口罩该省的时候省,不该省的时候不要省。要根据使用场景和防护要求灵活选择。 小编也认为,口罩该扔的时候扔,但可以重复用的时候也不妨重复用。我们 99% 读者处于非疫区,空气中的病毒浓度极低。当前 99% 的活动都是属于低暴露风险活动。比如,口罩仅仅戴了一小会,出门遛了个弯,拿了个快递,丢了个垃圾。对于这样的情况,我们建议您可以将口罩晾晒通风后重复使用。如果不放心,拿酒精喷雾处理一下也不妨。 最后的最后,以一首诗送给所有人。没有人是一座孤岛,武汉加油!中国加油! 《没有人是一座孤岛》(英国诗人约翰· 多恩,李敖翻译)没有人能自全,没有人是孤岛,每人都是大陆的一片,要为本土应卯那便是一块土地,那便是一方海角,那便是一座庄园,不论是你的、还是朋友的,一旦海水冲走,欧洲就要变小。任何人的死亡,都是我的减少,作为人类的一员,我与生灵共老。丧钟在为谁敲,我本茫然不晓,不为幽明永隔,它正为你我哀悼。 参考资料 1. Filtering out Confusion: Frequently Asked Questions about Respiratory Protection. NIOSH2. Recommended Guidance for Extended Use and Limited Reuse of N95 Filtering Facepiece Respirators in Healthcare Settings. 美国CDC3. Hyun-Jin Choi,Eun-Seon Park,Jeong-Uk Kim,Sung Hyun Kim &Myong-Hwa Lee. (2015) Experimental Study on Charge Decay of Electret Filter Due to Organic Solvent Exposure. Aerosol Science and Technology, Volume 49, 2015 - Issue 104. Multifunctional air filtration for respiratory protection using electrospun nanofibre membrane, Vinod Vishnu Kadam M. Tech. (Textile Technology) 2006, Mumbai University5. Brown, R., Wake, D., Gray, R., Blackford, D. B., and Bostock, G. J. (1988). Effect of Industrial Aerosols on the Performance of Electrically Charged Filter Material. Ann. Occup. Hyg., 32:271&ndash 294.6. Ji, J. H., Bae, G. N., Kang, S. H., and Hwang, J.-H. (2003). Effect of Particle Loading on the Collection Performance of an Electret Cabin Air Filter for Submicron Aerosols. J. Aerosol Sci., 34:1493&ndash 1504.7. Sae-lim, W., Tanthapanichakoon, W., and Kanaoka, C. (2006). Correlation for the Efficiency Enhancement Factor of a Single Electret Fiber. J. Aerosol Sci., 37:228&ndash 240.8. Lee, M.-H., Otani, Y., Namiki, N., and Emi, H. (2002). Prediction of Collection Efficiency of High-Performance Electret Filters. J. Chem. Eng. Jpn., 35:57&ndash 62.9. Xiao, H., Song, Y., and Chen, G. (2014). Correlation Between Charge Decay and Solvent Effect for Melt-Blown Polypropylene Electret Filter Fabrics. J. Electrost., 72:311&ndash 314.10. 李敖有话说20090808
  • 三维扫描案例分享:思看科技3D扫描仪助力水电站检测与维护!
    水轮发电机组作为水力发电站中的核心设施,承载着为社会提供清洁能源的使命,为确保水电站能够持续、稳定地运行,对其各项设施进行精细化的维护与修复工作至关重要。3D扫描技术凭借其高精度、高效率、高便捷性等独特优势,正逐渐成为水电设备检修项目中不可或缺的创新型检测手段,极大提升了水电站的检修效率与质量。项目背景案例中的客户是加拿大知名的三维扫描服务提供商,该公司凭借卓越的技术和服务,已成为哥伦比亚众多水电站的首选三维扫描服务商,累计扫描的部件数量已达数百个。水轮发电机组在运行过程中被水中的泥沙所损坏,泥沙是一种磨蚀性颗粒,导致水轮机导叶、引水钢管、转轮等关键部件受到严重磨损,甚至在转轮上留下了洞孔。客户需要对一个严重损坏的水轮发电机组进行关键部件的检修,并同时对现有的所有部件进行数字化存档,以备未来可能的更换工作。水轮机是水电站中不可或缺的核心设备,体积庞大,直径近3米,重量高达200吨。为了修复受损的水轮机部分,需要将其取出,进行精确的焊接或安装新的叶片,并精细地加工焊缝至适当的厚度。在该项目中,客户选择了思看科技TrackScan系列跟踪式3D扫描系统,搭配专业的三维软件,对水电站的关键部件——引水钢管和导叶进行了细致的检测,并采集竣工模型三维数据。01引水钢管3D检测TrackScan系列三维扫描系统的远距离跟踪为大型工件的测量提供了极大便利,无需贴点就能实现精确测量。针对引水钢管件底部的数据获取,现场工作人员将工件抬升至合适高度,并借助三维扫描仪实时进行扫描,整个引水钢管的数据采集工作仅耗时不到2小时。工程师利用三维软件,结合预设的厚度范围,成功生成了一份详尽的管件磨损偏差报告,报告通过直观的色谱偏差来显示不同区域的厚度差异,辅助工程师快速判断各个位置的磨损情况。02水轮机活动导叶3D检测客户此前已经就导叶磨损情况进行过修复工作,此次借助三维扫描仪以评估这些修复措施的实际效果。修复这些大型工件时,焊接工艺是常用的方法,但焊接过程中往往会在焊接区域产生焊料堵积,需要对堵积部分进行精准加工。借助3D扫描仪扫描焊接区域,以确保修复后的实物尺寸与CAD模型保持一致,保证加工过程的准确性和高效性。03竣工模型逆向工程除了对管件进行详细检测,该水电站还计划构建一个竣工模型,旨在追踪管件的实时运行状态。这一数据模型将在未来制造和加工替换件时辅助工程师“精准复刻”管件,确保水电站的稳定运行。“当管件出现部分磨损时,想从制造商那里重新订购一个新部件是极不现实的,因为管件的每个部分都不一样,况且两端还都是在实际使用环境中直接铸造而成的。所以需要对磨损的部件进行3D扫描,然后创建一个竣工模型。”项目负责人解释道。完成数据采集后,结合专业的三维软件,对获取到的数据模型进行逆向处理,最终构建可用于实际加工制造的CAD竣工模型。工程师首先参考原始设计图纸,创建管件主体部分的数据模型,接着,对固定在混凝土中无法移动的管件两端,实施竣工建模,确保模型的完整性和准确性。3D扫描技术的快速发展,为水电行业带来了显著的成本效益,并极大地拓宽了其应用的可能性。随着3D扫描技术的不断革新和优化,未来将有更多行业用户能够利用这一技术,轻松应对复杂且庞大的测量任务。思看科技不断创新的三维扫描产品及专业的服务,将携手行业客户、伙伴,抓住数字化转型带来的产业发展机遇,推动绿色能源行业的持续进步与发展,共同构建数字能源产业新时代。
  • 安捷伦推出新型微阵列扫描仪 更高的灵敏度、简化的工作流程
    安捷伦推出新型微阵列扫描仪更高的灵敏度、简化的工作流程 北京,2011年8月15日&mdash &mdash 安捷伦科技公司(纽约证交所:A)推出SureScan微阵列扫描仪,作为安捷伦微阵列扫描仪技术创新的最新成果,是实现以基因表达和比较基因组杂交(CGH)/细胞遗传学研究应用为代表的安捷伦微阵列完整解决方案的核心硬件。 这一新型SureScan系统拥有最高的灵敏度、最宽的动态范围和无与伦比的分辨率,可以为研究者提供最可靠的微阵列分析结果。 此外,SureScan微阵列扫描仪的生产工艺通过了ISO 13485质量体系认证,实现了安捷伦对严格质量标准的一贯承诺。 该SureScan系统提供简化的工作流程,允许研究者在仪器运行时不断地加载新的微阵列芯片。由于系统具有随机扫描功能,可以在运行期间随时变更扫描序列的顺序。 原始图片数据可以自动载入安捷伦Feature Extraction数据提取软件,无需手动数据转移。 安捷伦SureScan微阵列扫描仪紧凑的设计(长26英寸,宽17英寸,高16.5英寸)节省了台面空间。系统还配备了最新设计的芯片盖板和内置的臭氧屏蔽系统,从而在最大程度上减少了染料信号的衰减,保护珍贵样品。 独一无二的动态自动对焦系统和极低的检测限(低至0.01荧光团/平方微米)确保得到极其灵敏的检测结果,使用户能够从样品中同时获得高质量的高信号值以及低信号值的数据。 &ldquo 研究者可以相信这一新型SureScan系统能够在未来的许多年内始终如一地提供优异的微阵列检测结果&rdquo ,安捷伦基因组学部门副总载兼总经理Robert Schueren说,&ldquo 凭借我们市场领先的微阵列产品线、定制微阵列产品以及试剂和软件,客户只需投资一个平台,就能满足广泛的研究需求。&rdquo 了解更多信息,请访问www.agilent.com/genomics/surescan关于安捷伦科技 安捷伦科技公司(纽约证交所:A)是全球领先的测量公司,同时也是通信、电子、生命科学和化学分析领域的技术领导者。公司的18500 名员工为100 多个国家的客户提供服务。在2010 财政年度,安捷伦的业务净收入为54 亿美元。要了解安捷伦科技的信息,请访问:www.agilent.com.cn。
  • 扫描电镜仪器专项2015年度第一次监理会在京召开
    国家重大科学仪器设备开发专项“场发射枪扫描电子显微镜开发和应用”2015年度第一次监理会5月28日在北京中科科仪股份有限公司召开。监理组组长徐伟(中国科学院生物物理所研究员),成员陈宝钦(中国科学院微电子所研究员),彭景楩(中国科学院动物所研究员)和承担研制和应用任务的中科科仪股份有限公司、北京大学、清华大学、中科院微电子所、中科院生物物理所、国家环境分析测试中心等14项任务负责人参加了会议。本次监理会是科技部项目中期验收会前的一次准备会议,按照中期验收指标进行了严格检查。  根据任务书的要求,分测中心按计划提交了环境空气中石棉和单颗粒扫描电镜-能谱技术分析两项标准征求意见稿及编制说明。提交了石家庄、北京两地扫描电镜应用研究报告。课题组将完善上述材料,迎接科技部组织的中期验收。
  • 日立SU9000扫描电镜喜获“2011年度科学仪器优秀新产品”奖
    2012年3月22至23日,中国科学仪器发展年会(ACCSI 2012)在北京武青会议中心隆重召开。&ldquo 2011年度科学仪器优秀新产品&rdquo 的奖项在这个中国科学仪器行业最高级别的峰会上得到揭晓,日立SU9000超高分辨率扫描电镜是唯一获此殊荣的电子显微镜产品。 北京电镜学会理事长张德添研究员作为颁奖嘉宾,为物性测试类仪器组颁发&ldquo 2011科学仪器优秀新产品&rdquo 证书,天美(中国)科学仪器有限公司的电镜应用工程师程路领取奖项并对日立SU9000的技术特点做简短介绍。 日立SU9000采用新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界最高分辨率:二次电子分辨率0.4nm,STEM 分辨率0.34nm,显著提升了对纳米材料、器件表面微观形貌像的观察效果和效率,代表了当今扫描电镜的世界最高技术水平。日立SU9000应用全新真空技术设计冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点,在使用过程中不再需要常规的Flashing操作,全新物镜设计极大提高低加速电压条件下的图像分辨率,能够获得更高倍率的样品极表面微观形貌,另外能够同时获得高分辨高衬度的明场像、暗场像和二次电子图像,可以对纳米材料样品进行全方位的形貌和元素分析。
  • 沈阳自动所提出AFM和扫描微透镜关联显微镜的跨尺度成像新方法
    近日,中国科学院沈阳自动化研究所在基于微透镜成像方面取得新进展,提出一种将AFM与基于微透镜的扫描光学显微镜相结合的无损、快速、多尺度关联成像方法,相关成果以论文的形式(Correlative AFM and Scanning Microlens Microscopy for Time-Efficient Multiscale Imaging)发表在国际顶级学术期刊Advanced Science (中科院一区,IF= 16.806)。在半导体器件制造中,半导体晶圆的错误检测、缺陷定位和分析对于质量控制和工艺效率至关重要。因此,为了提高芯片特征结构的检测分辨率和效率,需要发展新的大范围、高分辨、快速成像技术。为此,依托于沈阳自动化所的机器人学国家重点实验室微纳米自动化团队提出了一种新的关联成像方法。科研人员将微透镜与AFM探针耦合,通过在面向样品的微透镜表面上沉积扫描探针,将基于微透镜的光学成像和AFM两者的优势结合起来,实现了三种成像模式:微透镜快速高通量扫描光学成像、表面精细结构AFM成像和微透镜AFM同步成像。实验结果表明,微透镜的引入提高了传统AFM光学系统的成像分辨率,成像放大率提高了3-4倍,有效地缩小了传统光学成像与AFM之间的分辨率差距。与单一AFM成像模式相比,成像速度提高了约8倍。高通量、高分辨率AFM和扫描超透镜关联显微镜为实现微米到纳米级分辨率的跨尺度快速成像提供了一种新的技术手段。该研究得到了国家自然科学基金委国家重大科研仪器研制项目(基于微球超透镜的跨尺度同步微纳观测与操作系统)和机器人学国家重点实验室自主项目的大力支持。(机器人学国家重点实验室)AFM和扫描微透镜关联成像示意图半导体芯片成像结果
  • 沈阳自动化所提出AFM和扫描微透镜关联显微镜的跨尺度成像新方法
    近日,中国科学院沈阳自动化研究所在基于微透镜成像研究方面取得新进展,提出一种将原子力显微镜(AFM)与基于微透镜的扫描光学显微镜相结合的无损、快速、多尺度关联成像方法。相关研究成果(Correlative AFM and Scanning Microlens Microscopy for Time-Efficient Multiscale Imaging)发表在Advanced Science上。  在半导体器件制造中,半导体晶圆的错误检测、缺陷定位和分析对于质量控制和工艺效率至关重要。因此,为了提高芯片特征结构的检测分辨率和效率,需要发展新的大范围、高分辨、快速成像技术。  为此,依托于沈阳自动化所的机器人学国家重点实验室微纳米自动化团队提出了一种新的关联成像方法。科研人员将微透镜与AFM探针耦合,通过在面向样品的微透镜表面上沉积扫描探针,将基于微透镜的光学成像和AFM两者的优势结合,实现了三种成像模式——微透镜快速高通量扫描光学成像、表面精细结构AFM成像和微透镜AFM同步成像。  实验结果表明,微透镜的引入提高了传统AFM光学系统的成像分辨率,成像放大率提高了3-4倍,有效地缩小了传统光学成像与AFM之间的分辨率差距。与单一AFM成像模式相比,成像速度提高了约8倍。高通量、高分辨率AFM和扫描超透镜关联显微镜为实现微米到纳米级分辨率的跨尺度快速成像提供了新的技术手段。  研究工作得到国家自然科学基金国家重大科研仪器研制项目(基于微球超透镜的跨尺度同步微纳观测与操作系统)和机器人学国家重点实验室自主项目的支持。AFM和扫描微透镜关联成像示意图半导体芯片成像结果
  • ACHEMA 2009新品仪器扫描(三)
    在2009年5月11-15日举行的ACHEMA 2009上,仪器信息网工作人员特别关注了展会上的新产品及新技术。之前,仪器信息网工作人员已经报道了部分新品,现在,本网继续推出“ACHEMA 2009新品仪器扫描(三)”,带您感受ACHEMA 2009上的新品仪器:奥地利安东帕Monowave 300单模微波合成仪奥地利安东帕L-Dens 427E密度传感器  奥地利安东帕公司在ACHEMA 2009上展出了10余款新品。其Monowave 300单模微波合成仪最高运行温度为300℃,最大反应压力为30bar,可有效加热少至20ml的吸收溶剂;奥地利安东帕L-Dens 427E密度传感器设计得较为小巧,可容易地根据需求安装使用,能在线监测非腐蚀性液体的密度和温度,可测量化学品、石油产品、饮料和食品,其性价比较高。德国耶拿multi EA 4000元素分析仪  德国耶拿multi EA 4000元素分析仪采用模块式设计,使得它可从单一元素分析扩展到全自动多元素分析成为可能;其结合了元素分析仪以及多参数分析仪的功能,特别适合于测量固体样品中的TC、TS、TX、TOC、TIC、EC和BOC。瑞士万通883 Basic IC plus离子色谱仪瑞士万通852 Titrando卡尔费休水分滴定仪  瑞士万通883 Basic IC plus离子色谱仪体积较小,适合于高校教学、研究等常规应用。瑞士万通852 Titrando卡尔费休水分滴定仪可以采用容量法和库仑法测定水分含量,并能测定溴指数,具有“自动启动(auto-start)”功能。瑞士万通在ACHEMA 2009上发布了26款新品,涵盖离子色谱仪、卡尔费休水分滴定仪、自动样品前处理器等。瑞士万通讲求针对制药、金属等不同行业,提供相应的解决方案,在ACHEMA 2009上,其按行业分类展出相关产品。Eppendorf公司Research plus移液器Eppendorf公司5430 R离心机  Eppendorf公司Research plus移液器重量较轻(在80g以内),具有多通道或单通道移液的功能。Eppendorf公司5430 R离心机可提供8款不同转子,温度范围在-11-+40℃之间,能快速冷却样品;离心结束后,离心机盖自动开启,防止样品预热;该产品将于今年秋天在中国上市。瑞典波通仪器DA On-Line在线近红外分析仪  瑞典波通仪器DA On-Line在线近红外分析仪具有密闭式检测的特点,其光学部件的前端穿过密闭室壁检测样品,可以减少外界干扰及操作不便,并能自动控制加工过程和在加工过程中进行人工干预。该仪器可对乳制品、谷物、面粉产品或样品进行实时在线分析。  从ACHEMA 2009展览上看出:众多实验室设备及分析仪器明显呈现出自动化、微型化、模块化的特点;基于离线技术发展出来的过程分析产品不时出现在展台上,并是许多厂家的主推产品;产品线较丰富的仪器厂商讲求依据用户需求制定个性化解决方案。  ACHEMA 2009已经落幕,展出的新品让人切身感受到技术的进步促进着分析测量效率的提升,遗憾的是,因为展出新品太多,我们无法对所有这些产品进行逐个的了解和报道,在以后的时间里,我们会持续搜集各种新品的资料,并将其呈现在仪器信息网这个平台,以便大家更好地把握仪器技术发展趋势。  在全球金融危机的背景下,本届ACHEMA规模基本同上届持平,并且其国际化程度达到历史之最。ACHEMA以三年为循环分别在德国法兰克福(ACHEMA)、中国北京(ACHEMASIA)、墨西哥的墨西哥城(ACHEMAMERICA)轮流举行,第八届ACHEMASIA(阿赫玛亚洲展)将于2010年6月1日在北京举行。  ACHEMA 2009新品仪器扫描(一)  ACHEMA 2009新品仪器扫描(二)
  • 基础科研条件与重大科学仪器设备“扫描式光场辐射度计”项目启动
    近日,国家重点研发计划“基础科研条件与重大科学仪器设备研发”——“扫描式光场辐射度计”项目启动暨实施方案论证会在清华大学召开,金国藩院士、柴之芳院士等作为技术专家组成员出席会议。苏州计量测试院国显中心参与项目中课题3“扫描式光场辐射度计的工程化开发”。会上,专家组对项目进行了论证,认为该项目有望突破传统远场测量限制,实施近场分布式高精度测量;项目技术路线、考核指标明确,课题设置合理;项目阶段目标和分工明确,计划安排合理;项目交流及检查机制健全,实施方案合理可行。专家组一致同意通过实施方案论证。近年来,苏州计量测试院国显中心致力于科技创新,多次参加国家级、省部级科技项目,获得良好的成果并取得了有效的推广应用。苏州计量测试院表示,此次参与国家重点研发计划,将进一步加强苏州计量测试院与大院大所的合作,培养苏州计量测试院人员的科技创新能力,提升苏州计量测试院的技术能力和影响力,促进产业高质量发展。
  • DSC差示扫描量热仪在医药行业起着举足轻重的作用
    DSC差示扫描量热仪测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系,应用范围非常广,特别是材料的研发、性能检测与质量控制。材料的特性,如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等,都是差示扫描量热仪的研究领域。  药品在研发生产过程中,必须监控其物化性质,如纯度、晶型、稳定性和安全性,以确保药物具有预期的药性,热分析是必不可少的一环。  热分析具有用量少、方法灵敏、快速的特点,在较短的时间内可获得需要复杂技术或长期研究才能得到的各种信息。自从上世纪六十年代商业DSC产品出现以来,因DSC测定药物纯度快速、准确易于操作,这项技术已被广泛接受。DSC池体的响应时间和温度测量对于纯度的准确分析至关重要。功率补偿型DSC因其炉体小(1g),响应时间极快,而且其使用铂电阻测温精度高、准确好,因而非常适合纯度的准确测量。  目前在医药领域DSC差示扫描量热仪通过测量药物热焓和温度随程序温控的变化,可以进行药物纯度,药物的多晶及亚稳态、无定形态的研究,优化冷冻干燥,进行脂质检测、蛋白质变性。所以DSC差示扫描量热仪在新药研制、中间体检测、zui佳配方的选择、药物稳定性的预测、药物质量优劣的评价等方面,起着举足转重的作用。  在食品生产体系中,食品在加工过程中经常需要经受加热或冷却,而从差示扫描量热仪得到的量热信息何以直接用于了解视频在加工或贮存过程中可能经历的热转变。比如我们可以研究油和油脂的起始温度、熔化焓、结晶、老化等,也可以观察淀粉的凝沉、糊化或食品中其他物质的玻璃化等,从而为开发新食品提供参考。那么DSC差示扫描量热仪有哪些特点呢?1、全新的炉体结构,更好的解析度和分辩率以及更好的基线稳定性。2、数字气体质量流量计自动切换两路气体流量,数据直接记录在数据库中。3、仪器可采用七寸大屏幕液晶显示,图谱、曲线一目了然。4、双温度探头,确保高精度和重复性
  • 2018年度场发射扫描培训班报名通知
    2018年度日本电子(JEOL)场发射扫描电镜培训班报名通知尊敬的日本电子用户: 感谢您对日本电子株式会社(JEOL Ltd.)长期以来的支持和关注!我公司将于2018年3月在日本电子(JEOL)北京办事处举办第八期场发射扫描电镜学习班,届时日本电子描电镜应用工程师陈青山将进行讲解,欢迎相关单位用户参加。 受邀代表:JEOL场发射扫描电镜用户会议时间:2018年3月19日-20日会议地点:北京市海淀区中关村南三街6号中科资源大厦 南楼二层 捷欧路(北京)科贸有限公司会议内容:进行系统的场发射扫描电镜基本理论、实际操作和高阶应用培训;通过此次培训,用户能更好地发挥所购买扫描电镜的功能;为了达到培训效果,参加培训用户人数不超过8人。联系邮箱:陈青山 先生 chen.qingshan@jeol.com.cn赵芃 女士 zhao.peng@jeol.com.cn会议回执请务必于3月1日前反馈至会议联系人(收到前8位回执后截止报名,抱歉!),收到您的回执确认参加后,我们将给出更详细的会议安排细节。谢谢您的合作!!!另外,牛津仪器公司将于3月21日-23日在同一地址开展EDS及EBSD的培训。如用户配有牛津公司能谱或EBSD,可参看牛津公司通知联系报名。捷欧路(北京)科贸有限公司2018年1月3日
  • 如何实现CT快速扫描?
    检测速度是工业计算机断层成像(CT)用于在线检测的一个重要制约因素。那么检测速度又受哪些条件的影响呢?X射线数字摄影(DR)简单且速度快,在工业无损检测领域取得了广泛应用。但是由于其缺少深度信息,面对复杂的检测对象,往往难以满足需求。CT通过采集围绕物体不同角度的大量投影数据,进行断层重建,实现了物体内部断层成像。检测速度慢是制约其用于产品在线检测的重要限制因素。一套CT系统的核心通常包含如下几个部分:射线源、探测器、机械系统、算法。这些决定了CT系统的性能。空间分辨率往往是满足检测需求优先级最高的指标。影响空间分辨率的因素包括:焦点稳定性、焦点尺寸、探测器单元尺寸、几何结构、机械精度、算法等。空间分辨率对检测速度有间接且重要的影响。为什么医疗CT可以快速成像而工业CT很难呢?医疗CT的空间分辨率要求相对较低,因此其射线源的功率大,探测器单元尺寸大、帧频高,能够在短时间内采集足够数量的光子,得到较高质量的图像。而这些条件在工业CT中都难以实现。做个粗略估计,单位时间内医疗CT每个探测器单元接收到的光子数是工业CT的1万倍(中高能),是显微CT的1百万倍。表1 CT常见参数指标医疗CT工业CT(中高能)显微CT空间分辨率0.25mm-0.625mm0.1mm-0.4mm0.5um-30um射线源靶功率70-120kW100-1500W8-300W(微焦点模式下一般只有几W)探测器单元宽度0.5-1mm0.1-0.4mm0.005-0.2mm探测器类型多排线阵面阵/线阵面阵探测器像素数量几万-几十万百万-两千万百万-两千万注:表中的数值为常见范围非精确数值工业CT要想实现高速成像,最关键的问题是提高射线源功率密度(散热技术),提高探测器的转换效率(闪烁晶体),在保持探测器有效面积的前提下提高帧频(数据传输技术)。目前,采用液体金属靶的微焦点射线源大大提高了射线源的功率。但是其价格昂贵,一般用户难以承受。一套好的CT系统是在各种制约条件下取得平衡,必要时有所取舍。让各个部件发挥其最好的性能,做到物尽其用。
  • 线上讲座 | 原位空间微纳尺度微区扫描电化学原理及应用
    线上讲座 | 原位空间微纳尺度微区扫描电化学原理及应用 主讲: 黄建书 博士, 阿美特克科学仪器部应用经理 讲座简介:传统的电化学方法基于样品的宏观平均响应表征,在局部腐蚀、能源材料、光/电催化活性、电致变色、微流控组装,生物医学、多维梯度材料等研究方面,面临诸多挑战。国内外相关研究表明,微区扫描电化学技术以其原位微纳尺度空间分辨率等特点,在上述热门研究方面显示出巨大优势及广阔应用前景。 主讲人: 黄建书博士,目前任阿美特克公司科学仪器部应用经理。主要负责普林斯顿及输力强电化学产品的技术支持,应用开发,市场推广等方面工作。多年来与国内外大学,科研单位及企业研发机构保持密切合作,尤其在原位超高空间分辨率微区扫描电化学应用方面积累了大量经验。曾多次在国内外学术会议上,进行普林斯顿及输力强电化学前沿应用报告。 主要内容: 金属及涂层表面腐蚀过程的演化分析 水分解,氧还原等光电催化活性位分布研究 电池电极材料离子脱嵌动力学表征 为了便于您时间安排,本次应用讲座,将连续举办两场,请您选择合适时间报名参加 第一场: 6月30日14:00-15:30 第二场: 7月07日14:00-15:30
  • 高速外延片PL谱扫描成像仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" width="600"tbodytrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "高速外延片PL谱扫描成像仪/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "北京中拓机械集团有限责任公司/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="177"p style="line-height: 1.75em "徐杰/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "ct_kfjx@126.com/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□正在研发 √已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产/p/td/trtrtd width="123"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="525" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "□技术转让 □技术入股 □合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介: /strong /pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/599fc25d-25b2-407e-9598-71f126d093d8.jpg" title="高速外延片PL谱扫描成像仪- 北京中拓.jpg" width="350" height="280" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 350px height: 280px "//pp style="line-height: 1.75em " 高速外延片PL谱扫描成像仪利用线激光器激发荧光光谱,利用光谱仪及面阵EMCCD对线荧光采集和光谱分析。这种荧光光谱采集方式较传统点扫描方式,采集速度快,可在短时间内获得高密度点的光谱信息,即1分钟内实现4万点的扫描采集,采集速度提高20倍,波长测量重复精度优于± 0.5nm,光强度稳定性优于± 0.75%。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong应用前景: /strongbr/ 该设备主要用于LED半导体晶片的荧光光谱检测及太阳能晶片的检测,其中LED半导体晶片荧光光谱检测的市场年需求量约50台,市场销售额约为4000万元人民币,针对太阳能晶片荧光光谱测量领域,目前己有设备只能测得荧光光谱强度,并不能获得荧光光谱谱线形状,及光谱波长等细信息,该设备可快速获得太阳能晶片的荧光光强及光谱信息,具有独特的技术优势,预计太阳能晶片的市场年需求量约在20台左右,市场销售额约为2000万元人民币。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4"p style="line-height: 1.75em "strong知识产权及项目获奖情况: /strongbr/ 该产品获得3项发明专利:半导体晶片的高速荧光光谱检测装置、半导体晶片的托起装置、半导体晶片的检测装置。 br/ 该项目获得北京市科委“2014年首都科技条件平台科学仪器开发培育项目”的专项资金资助。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p
  • 蔡司推出新一代全自动数字玻片扫描系统
    蔡司Axioscan 7兼顾扫描性能和应用自由度 德国耶拿|2021年4月7日|蔡司研究显微镜解决方案 蔡司发布了新一代全自动数字玻片扫描系统Axioscan 7,用于显微镜样品的自动数字化成像。蔡司Axioscan 7继承了前一代产品 Axio Scan.Z1的优越性能,又几乎在各个方面都进行了重大改进:新型采集引擎,可实现更高的扫描速度;更广泛的成像模式,可提供更大的应用灵活性;拓展了高级荧光成像的性能;以及大大改善了用户体验。 在生命科学研究实验室,公共成像平台和药物研究中,自动而可靠对玻片进行高质量数字显微成像的需求不断增长。蔡司Axioscan 7通过将持续的高速扫描和简单的操作与针对不同应用领域的个性化选项相结合,满足多种应用领域对可靠的长时间扫描性能以及高品质成像质量的需求。 全新明场反差成像方法更全面的展现样品特征 蔡司Axioscan 7能够在不同的明场成像模式之间自动切换,以适应不同应用的要求,同时保持最佳的扫描性能。完全支持圆偏光和线偏光成像,从而开辟了一系列新的实验和成像模式组合。TIE是一种新的用于在透明样品中产生对比度的方法,增加了相位和浮雕反差,丰富了成像模式。TIE可以在常规明场模式下检测到几乎没有对比度的透明组织,因此可以保护样品免于漂白,并以非常快的聚焦速度加速荧光成像过程,从而有利于使用敏感的荧光染料进行实验。 高效荧光成像 当涉及多色荧光成像时,速度,温和处理和最佳波长至关重要。蔡司Axioscan 7采用快速且可重现的LED照明,快速滤光轮和多色的荧光滤块,可有效分离各种荧光通道。两种光源——超快7色LED光源蔡司Colibri 7和白光LED光源X-Cite Xylis ——为选择合适波长提供了灵活性。新设计的用于多色荧光成像的荧光滤块可实现清晰的光谱区分,分离多色荧光。 高级相机提高图像质量 新的玻片扫描系统配备了蔡司Axiocam产品组合中最高级别的Peltier制冷相机,以先进的成像性能支持明场和荧光应用。蔡司Axiocam 705 color相机具有每秒55帧的采集速度和广阔的视野范围,可以快速完成明场和偏振成像任务。蔡司Axiocam 712 mono相机像素尺寸小(3.45 µm),可以充分利用高数值孔径物镜的分辨率潜力,并具有非常低的读出噪声,这使其成为高级荧光成像应用的首选。 有价值的投资对高通量和批量筛选能力的需求推动了自动化仪器的发展。蔡司Axioscan 7可以在不牺牲灵活性或高质量图像的情况下实现自动化,为公共成像平台吸引大量客户。这种新型玻片扫描系统能够满足从组织切片中多色荧光染色到岩石切片中偏光等多种多样的应用需求,吸引了生命科学和地质学等领域的用户。蔡司Axioscan 7产品设计强大,适合的用户群体广泛,在机时利用率方面表现出色,因此可迅速收回成本。 蔡司全自动数字玻片扫描系统 Axioscan 7,配置蔡司Colibri 7用于荧光成像 蔡司Axioscan 7可一次性对100张相似样品或混合多种应用的样品进行数字化采集 适合生命科学应用的蔡司Axioscan 7
  • Nanotechnology:采用热扫描探针光刻和激光直写相结合的方法快速制备点接触量子点硅基晶体管
    制造高品质的固态硅基量子器件要求高分辨率的图形书写技术,同时要避免对基底材料的损害。来自IBM实验室的Rawlings等人利用SwissLitho公司生产的3D纳米结构高速直写机NanoFrazor,结合其高分辨热探针扫描技术和高效率的激光直写功能,制备出一种室温下基于点接触隧道结的单电子晶体管(SET)。利用扫描探针可以确定佳焦距下的Z向位置,同时确定扫描探针和激光直写的位置补偿,研究人员在兼顾高分辨和高效率书写条件下得到小于100nm的度。利用CMOS工艺兼容几何图形氧化流程,研究人员在N型简并掺杂(>1020/cm3)的缘硅基底上制备出该SET器件。所研究的三种器件的特性主要由Si纳米晶和嵌入SiO2中的P原子所控制,进而形成量子点(QDs)。量子点上电子尺寸微小且局域性强,保证了SET在室温情况下的稳定运行。温度测量结果显示在100 – 300 K的范围内,电流主要由热激发产生,但在<100K时,主要以隧道电流为主。在硅基量子点器件的制备过程中,内部精细的功能器件区域一般要求高分辨率书写,但是在外部电相对粗糙的连接处仅需要高效的相对低分辨率刻蚀,这就是所谓的“混合搭配光刻”(mix-and-match lithography)。但是两种不同原理的书写技术结合应用会增加工作量,同时带来图形转移过程的位置偏差和对样品表面的污染。在本工作中,3D纳米结构高速直写机NanoFrazor系统将激光直写技术与高分辨热探针书写技术(XY: 10nm,Z: 1nm)相结合(如图1所示),这样可以利用热探针技术实现高分辨率区域的图形书写,而利用激光直写技术实现低分辨率区域的快速书写(如图2a所示, 蓝色区域为激光直写区域,深绿色区域为热探针书写区域),后实现一次性书写整体图形的高效性,同时避免了不必要流程所导致的表面污染和位置偏差。 图1:a) 热探针和激光透镜的结构示意图。b) 热探针连接在Z向压电传感器和位移台上,平行激光经透镜聚焦在样品表面。通过摄像头收集反射光实现样品成像,利用探针和激光的位置补偿进行表面书写。 图2:单电子器件(SET)的制作工艺流程示意。a) 器件图形示意,粉色区域为制备SET前的预图形书写区域。图形中央30μm×30μm区域中包含利用激光直写区域(蓝色)和利用热探针技术书写区域(深绿色);b) 位置校准示意;c) 对书写区域进行定位。d) 利用热探针技术进行高分辨率书写(图2a中深绿色区域);e) 利用激光直写技术进行低分辨率快速书写(图2a中蓝色区域);f) 利用RIE实现图形向硅层转移;g) 通过热氧化得到器件通道中的点接触通道。 IBM专门研发设计的NanoFrazor 3D纳米结构高速直写机所采用的针是具有两个电阻加热区域,针上方的加热区域可以加热到1000℃,二处加热区域作为热导率传感器位于侧臂处,其能感知针与样品距离的变化,精度高达0.1nm。因此,在每行直写进程结束后的回扫过程中,并不是通过针起伏反馈形貌信息,而是通过热导率传感器感应形貌变化,从而实现了比AFM快1000余倍的扫描速度,同避免了针的快速磨损消耗。NanoFrazor 3D纳米结构高速直写机与传统的微纳加工设备,如纳米醮印、激光直写、聚焦离子束刻蚀FIB、电子束诱导沉积、电子束光刻EBL等技术相比,具有高直写精度 (XY: 高可达10nm, Z: 1nm)以及高直写速度(20mm/s 与EBL媲美),具备实时形貌探测的闭环刻写技术以及无需标记拼接与套刻等特技术优势。加上其性价比高,使用和维护成本低,易操作等特点,成为广受关注的纳米加工设备。拓展阅读:Fast turnaround fabrication of silicon point-contact quantum-dot transistors using combined thermal scanning probe lithography and laser writingC. Rawlings, Y. K. Ryu, M. Rüegg, N. Lassaline, etc.DOI: 10.1088/1361-6528/aae3df
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