红外发射检测

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果；　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度；　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热；　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

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ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

产品详情Optosol R1 涂层吸收率发射率检测仪 详细介绍Emissiometer R用于测量管状或平面太阳能吸收涂层的定向热发射度，其基础是测量来自扩展热源的红外辐射的反射率操作温度:70 - 90°C-到样品的平均距离:50mm-测量区域直径:可达30mm再现性: 2%精度小于3% Emissiometer Rfor measurements of the directional thermal emittance of tubular or planar solar absorber coatings based on the measurement of the reflectance of the infrared radiation from an extended heat sourceOperating temperature: 70-90°CAverage distance to the sample: 50mmDiameter of the measured area: up to 30mmReproducibility: 2%- Accuracy 3%

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

ET10 便携式红外光谱发射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET10 科研级仪器可测量任何不透明材料的发射率特点：可同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射率NIST标准快速、便携电池操作非常方便 应用：为红外相机提供发射率参数提高温度测量精度ET10：用于测量红外测温成像技术的重要参数—红外发射率利用两个探测器同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射系数对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能液晶触摸屏PDA图文操作界面可同时提供十种设备运行信息性能： 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据推算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。　　进行测量时，将仪器对准测量面，按下扳机即可记录数据。测量一次的时间只需要7秒钟。 技术参数：测量参数：定向半球反射比 (DHR)方法：一个波段的积分总反射比测量值：发射率波段：3～5、8～12 微米2个波段精度：±1%可重复性：±0.0002入射角：20° 法线入射样品表面：任何表面，6” 半径曲面，12” 半径曲面测量时间：10秒/测量，用户可设(2 波段)预热时间：90秒运行时间：电池工作2小时，可更换电池后接续测量电源：可充电镍氢电池充电时间: 1小时重量：4.7 lbs.带电池IR源：铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C尺寸：手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72”模块部件：模块化设计，测量头可更换操作界面：LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮测量：测量数据直接在屏幕上显示并存储数据存储：265MB CF卡数据格式：Excel或Text格式打开环境：储存： -25~ 70°C 操作环境 0~40°C, 非冷凝

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

1 模块功能氩等离子发射检测器 THA2600-Y可以安装于气相色谱分析仪，作为色谱分析的检测器，用于定量分析各种气体成分浓度。由于分析模块具有很高的灵敏度，因此适合不同浓度范围的分析，尤其适合微量或痕量气体分析，并使得色谱分析更加简便，分析结果更加准确。2 技术参数 壳体接地、24V-接地适用载气：高纯氩气分析成分：H2,O2,N2,CH4,CO,CO2,H2S,N2O,CNHM等；工作环境温度: (5～40)℃；输出信号：-2.5V～+2.5V；输出接口： DB9公头；管脚定义说明1悬空2悬空324V+424V-*5悬空6高压使能与7脚短接时，内置高压电源工作；悬空或接24V时，内置高压电源停止工作。(如果内部已设置跳线，此引脚无作用)7GND*8信号-*9信号+*内部短接24V直流电源：≥10W，纹波电流≤120mVp-p；气路接口：1/16英寸；流量范围：10mL/min～100mL/min；常规流量：20mL/min；含尘量：≤0.1um；主体尺寸：约170*111*90mm；重量：约1.5kg。3 工作原理氩等离子发射检测器 THA2600-Y采用高频高压电源电离气体，产生正电荷离子和自由电子，形成等离子体环境。正电荷离子、自由电子在电场的作用下分别加速移向负极、正极。由于碰撞，离子和电子将自身能量传递给原子，使得气态原子被激发。原子被激发后，其外层电子发生能级跃迁，在返回基态时发射特征光谱。通过对特征光谱的检测，分析出各种气体成分的浓度。4 技术特点u 原子发射光谱，灵敏度高，准确度高。u 高频高压电离源，稳定性好，无辐射、放射性问题。u 无消耗性部件，使用寿命长。5 典型工程应用领域u 空分氩气分析u 高纯气体分析u 环境空气监测u 工业流程中乙炔及碳氢分析u 科学实验室气相色谱u 工业在线气相色谱氩等离子发射检测器 THA2600-Y

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

产品简介红外发射光谱（Infrared Emission Spectroscopy）是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段，是对红外透射、红外反射、衰减全反射(ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源，因此发射光谱应用领域比较广，如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。 红外发射光谱的原理是，根据基尔霍夫定律（Kirchhoff’s Law），任何物质在温度高于绝对零度时，其内部的原子和分子都会受热激发到更高的能级，在返回基态能级时通过发射释放能量；并且在热平衡条件下，物质的发射能量和其吸收率的比值，仅和物质的温度和发射的波长有关，即在热平衡时，物质发射的能量一定等于吸收的能量。黑体是最理想的吸收体，其发射率也是最大的。按照应用领域的不同，黑体可以分为平板式黑体和空腔式黑体。通常情况下，平板式黑体适用的温度范围在200°C以内，空腔式黑体适用的温度更高，有的甚至到达2000°C以上。在计算某些材料的发射率时，往往需要测量相同温度下黑体的发射谱图强度，接着立即测量样品的发射谱图强度，然后将两者相除，即可归一化得到该温度下，该材料不同波长的发射率。下图为三种不同温度下黑体的发射谱图，我们可以从谱图中了解到，随着温度的不断升高，发射的强度是逐渐增大的，这是由普朗克定律（Planck’s Law）所决定的。该定律给出了光谱辐射通量密度和光谱波长及黑体温度之间的定量光系。另外，我们也发现，不同温度下发射谱图的峰位极大值是不断位移的，温度越高，峰位极大值越向高波数位移，也就是移向短波的方向，该现象符合维恩位移定律，nmax=1.93T。 黑体IR-563/301的技术参数n 温度范围：50 – 1050 °Cn 温度调节精度：0.1 °Cn 发射口最大尺寸：1英寸n 发射率：0.99n 发射源类型：空腔黑体n 8个可调光阑 FOLI 10-RE是荧飒光学自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪，该光谱仪集成专门的发射平台，可以安装各种不同的发射附件和参考黑体，满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置，方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计，用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外，FOLI 10-RE也可以更换内部的光学元器件，使测量谱区扩展到近红外波段，满足近红外光源的发射测量。发射光谱的测量方式及注意事项，视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品，可以将薄膜担载在金属基底上进行测量，以减少基底的辐射；制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高，防止样品自吸收造成的谱图变形；如果背景的辐射较强，在计算样品发射率时，需要考虑将背景的发射强度扣除后，才能得到准确的结果；如果样品在测量过程中释放出气体，用户需要考虑在发射装置上增加吹扫，以减少气体对谱图的影响。 产品应用领域n 研究材料的发射谱图特性n 计算材料的发射率n 艾柱燃烧的发射光谱n 陶瓷片在不同温度下的发射光谱n 医疗器械中各种理疗仪的测试n (近)红外光源的测试n 超高温样品的光谱测试n 等离子体的发射测量n 人体穴位的发射研究n 玻璃及建筑材料的发射测量n 太阳能集热管的发射测量n 各类织物的发射测量 产品特点n 干涉仪：高级迈克尔逊干涉仪，光路永久准直，稳定性极佳，10年质量保证n 固态激光器：性能稳定，使用寿命达10年以上n 发射源：聚焦光路，用户的样品或者热源或者黑体n 分束器：ZnSe材质分束器和ZnSe窗片，防止光学器件潮解（可选KBr、石英分束器）n 检测器：内置双检测器位置，可选择常温检测器或者低温MCT、铟镓砷，可以实现软件自动切换n 光路设计：专用的发射光路设计，简洁紧凑，降低辐射损失，提高辐射通量 n 发射附件：可定制各种附件满足客户的实际测试需求 产品技术参数n 光谱范围：标准范围500～5000 cm-1（可选400-7500cm-1、400-10000cm-1、或扩展到近红外12500 cm-1）n 光谱分辨率：优于2 cm-1，通常使用8 cm-1n 测量方式：将样品放置在聚焦点，可以选择不同的温控仪或者黑体n 工作条件：工作温度：-5～40℃；工作湿度：0～100%R.H. n 电源：100～240VAC，50～60Hz, 20W；n 重量：12kgn 尺寸：44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含发射挡板) 产品配置选型 型号名称说明FOLI 10-RE傅里叶变换红外发射光谱仪单检测器(DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选) FOLI 10-RE Pro傅里叶变换红外发射光谱仪双检测器，软件自动切换，DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选FOLI 10-RE NIR傅里叶变换红外发射光谱仪近红外检测系统，软件自动切换（铟镓砷检测器和石英分束器） IR-563/301黑体适合高温发射平板式加热装置适合中低温样品的实验空腔式加热装置 适合高温样品的实验聚焦附件等方便用户聚焦 对于室温下的物质的红外发射测量，荧飒光学提供了另外一种解决方案。通过FOLI系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件，测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能量守恒定理，我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询荧飒的应用工程师。

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

ET100 便携式红外光谱发射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET100 可测量6个波段范围的总反射比， 可取代已经停产的经典红外反射率测定计Gier Dunkle DB 100，并在性能和保养性方面都更优越。 特点：测量2个入射角、 1.0～21 微米之间6个非连续波段的反射系数NIST标准快速、便携电池操作非常方便测量标准和60度入射角的定向热发射比计算半球热发射比 ET100：软件操作简便强大的测量和数据处理功能触摸屏PDA操作界面可同时提供十种设备运行信息性能 ET100可以测量6个波段的总反射比，波段的反射比可以转换为光谱信息。使用黑体函数，20度和60度角来计算定向发射比。基于计算的定向反射比来推算半球总反射比。 进行测量时，将仪器对准测量面，压动扳机记录数据。测量一次的时间需要几秒钟。技术参数：测量参数：定向半球反射比 (DHR)方法：一个波段的积分总反射比测量值：定向热发射比波段：1.5-2.0, 2-3, 3-4, 4-5, 5-10, 10-21入射角：20°& 60°法线入射精 度：±1.5%表面弯曲：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间：10秒/测量，用户可设(6 波段)预热时间：90秒运行时间：电池工作2小时，可更换电池后接续测量电源：可充电镍氢电池充电时间: 1小时重量：4.7 lbs.带电池IR源：铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C尺寸：手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72”模块部件：模块化设计，测量头可更换操作界面：LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮测量：测量数据直接在屏幕上显示并存储数据存储：265MB CF卡数据格式：Excel或Text格式打开环境： 储存： -25～70°C 操作环境 0～40°C, 非冷凝

模块化红外光发射灯头（Modular Infrared Light Head）研究者有时需要红外光源来非侵入式观察动物的行为，有时候目标动物较小，需要用体视显微镜来观察，怎么便捷实现呢？介绍SFA-LH-IR850给你：红外光发射灯头，发出850nm红外光，与NIGHTSEA的体视显微镜荧光适配系统通用！可以直接插入适配系统中的灯座。这个灯头并不是荧光观测的必备件，可以作为补充件备用！条件允许的话，你可以单独购买灯头和灯座，作为一个独立的实验室红外光源使用！该灯头采用高功率850 nm LED和中等光束宽度的扩散透镜，以创造一个平滑的照明区域。输出以850nm为中心，具有大约50nm的FWHM(半宽度上限)，在波长小于750 nm的情况下，几乎没有发射。请注意，红外光对于人眼和许多照相机是不可见的。您需要一个适当的相机来记录观察结果。货号产品描述规格SFA-LH-IR850Modular Infrared Light Head个SYS-IR850Modular Infrared Light Head w/DIM Base个

筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们 筛查型耳声发射仪,诊断型耳声发射仪器欢迎联系我们

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

Micro Hybrid红外发射器JSIR 350-4产品型号：JSIR 350-4产品介绍红外发射器，TO8 接头上有 4 个芯片，用于测量浓度低的气体或吸收特性低的气体。标准 TO8 外壳中带有无窗反射器的版本也适用于从 30 厘米起的长测量距离。这种基于 MEMS 的灯丝发射器对应物具有显着更长的寿命和更少的漂移。与灯丝红外源不同，JSIR 350 Quad 发射器是可调制/可脉冲的，不需要额外的斩波器。高性能纳米无定形碳膜片可实现高达 850 °C 的膜片温度，以实现长期稳定的辐射输出。 JSIR 350 Quad IR 发射器非常适合工业航空航天和其他要求苛刻的应用中的各种气体分析应用。IR 照明器可与 MTS 热电堆探测器或 MPS pyro 探测器一起使用。与 Micro-Hybrid IR 检测器的组合可确保在分析气体浓度时获得更好的性能并确保准确的测量结果。性能特点 宽发射率 2 - 15 µ m 膜温度高达 850 °C 高辐射输出 调制频率高 长寿命（膜的高稳定性带来的可靠性） 提供 HermeSEAL 技术 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

1.1 概述ISAE本安防爆声波（声发射）系统由多个ISAE声发射数据采集模块（以下简称ISAE模块）和电脑组成。其中ISAE模块（包括内置前放的传感器）符合GB3836.4-2010 本安防爆标准，通过国家防爆设备质量监督检验中心的认证，获得防爆合格证（影印件见后），可以放在有防爆要求的危险区（Ex ib IIA T3 Gb）使用。适用于有防爆要求的封闭环境中的储油罐底声发射检测等的声发射检测应用。 1.2 主要性能特点ISAE模块可放置在危险区使用，免除信号布线内置前放的声发射传感器程控滤波器高速高精度AD实时声发射信号波形采集嵌入式FPGA与ARM技术实时声发射参数提取和实时分析报警大容量SD 卡实时存储波形数据，声发射参数和声发射报警参数。存储卡可随时更换各采集器之间采用同步线实现数据的时间同步采集器具备操作显示界面，可直接操作仪器采集过程，并显示状态可实时设置幅度门限可以将多个单通道模块级联，组成多通道声发射系统，最大可组成16通道的声发射系统ISAE模块存储的数据可上传至电脑标准清诚公司波形数据格式及功能，数据可用清诚公司的声发射信号分析处理软件进行定位、相关图、波形分析等进一步深度分析，也可将数据转换成Excel、文本格式采用MATLAB等软件进行分析显示。多通道同步数据可由上位机事后生成参数，并实现事件时差定位1.3 技术参数防爆标志：Ex ib IIA T3 Gb采样频率/精度：2MHz/16bit采样长度：可调噪声/动态范围：30dB/70dB (0dB=1uv)信号频率：3KHz～500KHz输入范围：±100mv(100dB)数据通讯：以太网或者内存卡电池续航能力：不小于3小时（仪器连续工作）供电方式：锂离子电池供电电池标称电压：7.2V电池标称容量：3400mA电池最大持续放电电流：420mA存储容量：64G SD 卡环境温度：0℃～﹢40℃防护等级：IP541.4 接口介绍1.4.1 以太网接口在安全区可以通过以太网接口连接PC机，用于导出SD卡中的存储的AD采样数据。以及参数设置功能。1.4.2 传感器接口用于连接本安型传感器，传感器参数Ui=7.5V，Ii=300mA，Pi=0.56W，Ci=39uF，Li=0mH。传感器信号与电源线同线。1.4.3数据采集，分析处理与存储传感器的模拟信号经过滤波电路后，进入AD采集芯片，进行数据转换，转换后的声发射信号数字波形数据在FPGA和ARM单片机中进行数字滤波处理，声发射撞击参数提取和声发射报警参数生成。声发射数字波形、声发射撞击参数、声发射报警参数实时存储到SD卡。检测完成后，在安全区连接12V充电接口，充电的同时拷贝SD卡的数据到电脑中。1.4.4 485接口485接口连接同类型其他模块，用于危险区使用的不同模块之间的对时通信。接口连接器为9针，其中仅1、2脚使用，用于对时接口连接，其他为空点。对时接口需在危险区使用前，预先确认好接线，并锁紧，然后方可上电。防爆参数设定为Uo=6.2V，Io =62mA，Co=985uF，Lo =50mH；Ui=6.2V，Ii =62mA，Ci=15uF，Li =0。1.4.5. 充电接口用于安全区为电池充电使用，充电电流限定值与锂电池放电电流限定值相同，为420mA。1.5 电源供电介绍整机由电池供电，电池最大电压为8.4V，标称电压为7.2V，电池经过电压转换，输出两路电压，3.3V和5V。1.6 ISAE模块配置清单序号名称单位数量备注1采集主机个1配套1个充电器与1根天线2传感器 LS 5VDC个1内置前放：26db响应频率：15Hz-70kHz中心频率：35kHz3信号线条1标配2米4RJ45网线条1标配1.5米5标定工具套17说明书本18合格证张19保修卡张110上位机软件U盘只1

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

便携式红外发射率测量仪ET10型介绍 便携式发射率测量仪ET10可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数 —--红外发射率。 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在 500°K 高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10 主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要 7 秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供 NIST 可溯源标定。 ET10 主要特点利用两个探测器同时测量 3~5、8~12 微米 2 个波段的发射系数对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏 PDA 图文操作界面可同时提供十种设备运行信息 NIST 标准 快速、便携 电池操作非常方便 应 用为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度

产品详情德Optosol-K3 太阳能吸收率发射率检测仪： K3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体（作为热辐射源）和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。 来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。在上述波长范围内，用两个已知发射值的样品来进行检测信号的校准，这两个样品其中一个发射率高，如玻璃；另一个样品的发射率低或者其发射率与待测样品相接近。Manual absorber centrol K3-V9两种类型的测量误差只能通过小心使用仪器来避免。首先,球体通量取决于样品的反射率。这种效应在一定程度上纠正了数值。 但是推荐使其次,样品可以在测量期间可以被次级辐射加热。次级辐射限制了测量精度。当测量高发射率样品或参考物时，效果更为显着。另外，建议将样品与积分球体接触的时间，只在进行必要测量的时间段。使用吸收率检测仪器进行高精度检测的注意事项：- 在运行吸收率检测仪期间应尽量避开交流调制的环境光线。- 特别注意要关掉荧光灯光源。日光或其它直流人工光线不会对吸收率检测仪的工作造成影响。- 在使用Alphameter检测仪和发射率检测仪进行检测时，应避开空气对流或暴露于热源下（包括直射的太阳光线！）。- 在开始检测前1小时运行发射率检测仪。- 在不使用吸收率检测仪时，应保持探头和校准用标准件的清洁 测量首先，检测平面或圆柱体面样品时请确保使用正确的附件。请确保发射率检测仪有足够的加热时间(半小时以上)。alphameter检测头可与检测孔可以向上和向下使用。 对于小件和参考测量的测量，建议使用向上的位置。 测量结束后，蓝色状态栏中的会显示“Ready”指示。如果您正在测量各种非均质样品，请确保样品始终处于正确的位置，此时对于测量的建议，应该让样品的不同取向与积分球校准后进行。在每个样品完成检测后，其检测结果会在窗口上进行显示并储存到IRAM.txt文件中。建议首先输入样品名称和检测起始号。如果用户未设置检测起始号，检测编号将自动递增。检测结果文件记录以下数据：。日期。时间。样品名称（如用户所输入的名称）。检测的类别（吸收率、发射率或者两者都有）。太阳能吸收率或发射率检测值。每一波长范围内的检测值所有的检测结果将储存到 iram.txt 文件中。不会有检测结果丢失的现象发生。为快速的找到检测数据，建议将检测数据储存在AlphaM.txt文件中或间隔一定周期（比如每周或每月）对iram.txt文件进行重新命名。或者直接复制这些数据到一个电子制表软件(例如 Excel)，以获得更快的数据访问。如果您想打印出检测曲线，请按“Print”按钮。 建议间隔一定时期（如1小时）重新进行一次参考检测。目的是检测白色参考插头的稳定性。测得的值如在95%到97%之间，则视为稳定. 使用alphamter检测仪进行检测在使用Alphameter检测仪进行检测前，必须先完成三个参考检测：一个是理想的黑色表面物的检测、一个是“灰色”表面物的检测以及一个白色表面物的检测.为了获得上述三个参考检测值，第一步（取下管状样品参考后，按下Dark ref 按钮（功能键F1）。之后出现一个信息对话窗口，提示您将参考品翻入暗室中（将黑色参考插头（随机附带）放置到Alphameter检测仪探测器的探头孔上｝。通过按下电脑上的Space键可进行连续检测，然后按下回车键或用鼠标点击OK。Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH10此处所指的暗室可以是一个空间足够大的纸板箱，以避免环境光线进入Alphameter检测仪探头的积分球内。请确保Alphameter检测仪探头开孔外的10cm范围内无任何物体。否则所测得的吸收率可能只是待测件的部分吸收率，原因或许是检测环境没有达到理想的黑色环境。按下 White ref （功能键 F2）即可开始第二项校准。同样会出现一个信息对话窗口，提示您将白色参考插头（随机附带）放置到Alphameter检测仪探测器的探头孔上。随后的操作步骤同上。请注意，白色标准件（White Standard）指示的96%反射比为原始系数，其中未考虑球体透光修正。存储在文件iram.ini中的更正值为97.5％。白色参考检测是最为重要的检测项目，要尽可能地进行多次检测。考虑到球体的透光率，还需进行第三种参考样品的检测。球壁的反射比决定了探测器接收到的辐射量或决定了所谓的球体透光率。当样品作为球壁的一个组成部分的情况下，球体的透光率将取决于样品的透光率。其数字上的修正通过检测第三个参考样品得以完成。按下Grey ref(功能键F3) 按钮即可进行灰色参考值检测。此项检测不经常进行，只有在检查球体透光率是否因球面不干净而发生变化时进行。 参考测量的校准系数存储在IRAN.ini文件（目录IRAM）中。当参考测量完成时，参考按钮（功能键F1-F3）从粗体变为正常。 否则将使用旧设置进行样品测量。 我们建议在设备关闭时，时常重复参考测量。 当进行参考测量时，参考测量的标签从粗体字符变为正常。如果您认为白色参考样品不是理想的白色，可以在去离子水用240号砂纸对参考插头进行清洁。Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH11通过把平面样品直接放置在alphameter检测器头的检测孔上之后，通过按下 样品（F4功能键）来进行吸收测量。对于测量波长范围（0.38-1.55μm）的时候，完整的太阳能吸收值可以立即被计算出，存储并显示在屏幕上。 使用发射率检测仪进行检测发射率检测仪检测的是黑色发光体发射出的和待测样品反射出的辐射。 发射率检测仪的开口式设计可以进行平板表面或圆柱形表面物体的检测，而且平面样品可以直接放在发射率检测仪探测头的探测孔上，但是这种设计使发射器对温度的变化很敏感，因此，应慢慢的操作发射率检测仪，以避免空气流动而导致发射器温度变凉。同时，还要考虑高发射率样品可能被快速加热这一因素。被加热样品的辐射会对检测产生干扰。因此，对高发射样品的检测应尽快完成。 样品必须具有小于70％的发射率，以确保测量的足够的精度。在启动检测仪器半小时后，等到能源和积分球处于平衡状态之前，请先等待。 使用发射率检测仪进行检测要求先进行两种参考标准的检测，一个为低发射率参考标准检测，另一个为高发射率参考标准检测。平面样品：首先通过按下按钮 Low e ref(F6功能键）对低发射率（金属片）参考标准进行检测，然后通过按下按钮 High e ref (F7功能键）对高发射率（镀金属片）参考标准进行检测。 管状样品：首先通过按下按钮 Low e ref(F6功能键）对低发射率（金属部分）参考标准进行检测，然后通过按下按钮 High e ref (F7功能键）对高发射率（弯曲的金属板）参考标准进行检测。 按下 Sample (F9功能键）可以开始对样品进行测量。在波长范围3.9-50 （线性外推法）μm用一个加权积分和在iram.ini 文件中指定的普朗克黑体辐射定律热发射率被计算出。同样，全部的检测结果将储存到IRAM.txt文件里。不会有检测结果丢失现象发生。综合测量建议一起进行吸收和发射测量，因为发射率也由NIR值决定。这可以通过用按钮（F11功能键）测量吸收率，随后进行发射测量（F12功能键）（将样品转移到发射装置）之后进行。光谱的两个部分将被合并和显示。 单次测量（左）和组合测量（右）之间的差异如果选择了组合测量，则光谱反射率的插入曲线会被显示（右侧图）。现在 这个太阳能吸收率和热发射率在波长范围0.38-50（线性外推法）μm被计算出来，并存储在IRAM.txt 文件里的一行中。 故障排除指南Alphameter检测仪的二级管不亮请检查串行端口的定义或检查电子盒主开关上的保险丝。使用Alphameter检测仪进行检测时，检测值异常请使用诊断窗口选项检查原始数据值。进行重复检测后某个光源仍有较大误差时，说明该光源存在故障。使用发射率检测仪进行检测时，检测值异常请确保红外光源处于正常的工作状态。交付的物品交付的物品包括在内的是：-电子控制主机-alphameter 检测器头：-alphameter 配件：白色参考物灰色参考物黑色参考物-发射率检测仪探头-发射率检测仪配件：低发射率参考标准物（金属）高发射率参考标准物-电脑连接线-电源线-软件-电脑（可选）

48通道SAEU3H声波（声发射）检测仪全屏避设计，抗电磁干扰能力强。最多可插入12张一卡4通道声发射数据采集卡，组成最大48通道声发射检测仪。 SAEU3H硬件参数 采样频率单个通道最大采样率10M点/秒，采样率连续可调，每个通道可独立设置采样精度16位数据通过率单个USB3.0接口连接通过率最大高于300MB/秒，两个独立USB3.0接口连接通过率最大高于600MB/秒连续波形采集10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集大通道数特征参数采集10M/s采样率16位精度128通道特征参数数据采集及存储不丢失采集卡通道数每个采集卡具有4个独立通道采集卡内存容量1Gb每张采集卡采集机箱4通道、20通道、48通道三种基本型号机箱通道扩展多机箱可级联组成128通道声发射系统，每个机箱亦可作为独立主机使用声发射信号处理每个采集卡硬件均具有AE特征参数实时提取功能，通道可独立设置波形采样长度最大单个波形采样长度，每通道可同时达128k采样点，通道可独立设置波形前采功能触发前预采集长度可达128k采样点，通道可独立设置AE信号输入范围±10V，可向下调整信号输入电压范围至±5V，±2V，±1V，±0.1V，通道可独立设置响应频率1kHz-2.5MHz（-3dB带宽）模拟滤波器20kHz、100kHz、400kHz三个高通滤波器，100kHz、400kHz、1200kHz三个低通滤波器，通过软件选择各种组合，可逐个通道独立设置硬件实时数字滤波器1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。主机噪声﹤15dB（空载） 动态范围85dB最大信号幅度100dB（使用40dB 前放，对应传感器输出为100毫伏） 输入阻抗50ΩAE特征参数过门限到达时间、峰值到达时间、幅度、振铃计数、持续时间、相对能量、绝对能量、信号强度、上升计数、上升时间、有效值RMS、平均值ASL、起始相位、12个外参、质心频率、峰值频率、5个局部功率谱、质心频率、原始频率、回荡频率、平均频率外参采集仪器标配8个模拟外参数输入通道，最多可扩展至96个外参通道，外参总采样率达到每秒1M采样点，采样精度16位，外参输入范围±10V，可通过软件变换为信号源的物理单位报警输出主机以开关、灯方式输出报警控制信号机箱尺寸4通道机箱：320mm×125mm×50mm；（长×宽×高）20通道机箱：308mm×225mm×133mm；（长×宽×高）48通道机箱：308mm×368mm×133mm；（长×宽×高）工作温度10℃～﹢45℃ SAEU3H主要性能特征&bull 集成度高，便于携带；&bull 可根据需求配置机箱型号，机箱数量，采集卡数量组成多种通道型号系统，多机箱级联组成大通道数声发射系统，每个机箱都可单独作为主机使用，可扩展至128通道以上；&bull 声发射仪主机与计算机之间数据通讯可选择USB3.0接口，LAN网口，光纤等多种连接方式；&bull 网口数据通讯方式可选配，网口通讯配置网络开关可组成局域网、无线、遥控等多种声发射组网结构系统；&bull 每张采集卡配置1Gb大容量DDR内存，确保瞬间大量信号（小于1Gb/s）传输时数据不丢失；&bull 多种波形采集触发方式：门限触发、时间触发、外部触发、参数触发，满足各种采集需要&bull 示波器方式同步波形采集模式，任意主通道采集被触发，其他伺服通道将同步采集波形&bull 硬件实时数字滤波器功能：1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。每个通道连续信号经数字滤波后波形重构，重构后的波形产生声发射参数，通道可独立设置；&bull 硬件实时FFT分析功能：采集卡硬件连续信号FFT频域波形及功率谱参数输出，通道可独立设置；&bull 前放状态自动检测，方便现场调试，同时前放电压可调以适应不同规格前置放大器；&bull 自动传感器测试：内置AST功能，采集卡可发射声发射信号用于测试；&bull 创新的主板总线设计，可对各采集获得进行数据智能管理，同时可扩展其他类型板卡，实现长期监控、存储、远距离传输功能；&bull 机箱采用全铝合金材料制作，整个机箱框架和面板导电互通全屏蔽罩设计，增强了抗电磁干扰能力；&bull 电源及散热按热力学空气动力学精准设计，确保最苛刻条件下均匀散热可靠稳定长期运行；&bull 高档类似PXI插拔式功能模块结构标准工业化机箱，扩展性好，采集板等功能模块卡与机箱相对独立，方便对设备进行维护与升级；&bull 面板具有电源、USB通讯、运行、参数、波形、报警、外参、级联等多组指示灯显示，方便观察设备运行状态。外部触发，报警输出； 数据通过率说明l 单个USB3.0接口连接电脑实时连续通过率最大高于300MB/秒，可满足300万组/秒的特征参数采集或300MB/秒的连续波形采集。l 两个USB独立接口连接时，实时连续通过率最大可高于600MB/秒，特征参数采集与连续波形采集速率对应翻倍。l 保证10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集，5M/s采样率16位精度30通道连续波形连续采集，3M/s采样率16位精度50通道连续波形连续采集，或1M/s采样率16位精度150通道连续波形连续采集。 数据通讯说明SAEU3H声发射采集系统标配USB3.0数据通讯，可满足瞬时大量数据的通讯与存储，稳定可靠。同时可选配网络通讯接口与电子硬盘，用于声发射远程应用的采集控制与数据传输，电子硬盘对数据进行本地存储，保证数据不丢失，可应用于远程监控等特殊采集环境。 20通道SAEU3H声波（声发射）检测仪4通道SAEU3H声波（声发射）检测仪48通道SAEU3H声波（声发射）检测仪级联大通道SAEU3H声波（声发射）检测仪

SAEU3H 20通道声波（声发射）检测仪铝合金机箱，全屏避设计，抗电磁干扰能力强。最多可插入5张一卡4通道声发射数据采集卡，组成最大20通道声发射检测仪。SAEU3H硬件参数 采样频率单个通道最大采样率10M点/秒，采样率连续可调，每个通道可独立设置采样精度16位数据通过率单个USB3.0接口连接通过率最大高于300MB/秒，两个独立USB3.0接口连接通过率最大高于600MB/秒连续波形采集10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集大通道数特征参数采集10M/s采样率16位精度128通道特征参数数据采集及存储不丢失采集卡通道数每个采集卡具有4个独立通道采集卡内存容量1Gb每张采集卡采集机箱4通道、20通道、48通道三种基本型号机箱通道扩展多机箱可级联组成128通道声发射系统，每个机箱亦可作为独立主机使用声发射信号处理每个采集卡硬件均具有AE特征参数实时提取功能，通道可独立设置波形采样长度最大单个波形采样长度，每通道可同时达128k采样点，通道可独立设置波形前采功能触发前预采集长度可达128k采样点，通道可独立设置AE信号输入范围±10V，可向下调整信号输入电压范围至±5V，±2V，±1V，±0.1V，通道可独立设置响应频率1kHz-2.5MHz（-3dB带宽）模拟滤波器20kHz、100kHz、400kHz三个高通滤波器，100kHz、400kHz、1200kHz三个低通滤波器，通过软件选择各种组合，可逐个通道独立设置硬件实时数字滤波器1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。主机噪声﹤15dB（空载） 动态范围85dB最大信号幅度100dB（使用40dB 前放，对应传感器输出为100毫伏） 输入阻抗50ΩAE特征参数过门限到达时间、峰值到达时间、幅度、振铃计数、持续时间、相对能量、绝对能量、信号强度、上升计数、上升时间、有效值RMS、平均值ASL、起始相位、12个外参、质心频率、峰值频率、5个局部功率谱、质心频率、原始频率、回荡频率、平均频率外参采集仪器标配8个模拟外参数输入通道，最多可扩展至96个外参通道，外参总采样率达到每秒1M采样点，采样精度16位，外参输入范围±10V，可通过软件变换为信号源的物理单位报警输出主机以开关、灯方式输出报警控制信号机箱尺寸4通道机箱：320mm×125mm×50mm；（长×宽×高）20通道机箱：308mm×225mm×133mm；（长×宽×高）48通道机箱：308mm×368mm×133mm；（长×宽×高）工作温度10℃～﹢45℃ SAEU3H主要性能特征1、集成度高，便于携带；2、可根据需求配置机箱型号，机箱数量，采集卡数量组成多种通道型号系统，多机箱级联组成大通道数声发射系统，每个机箱都可单独作为主机使用，可扩展至128通道以上；3、声发射仪主机与计算机之间数据通讯可选择USB3.0接口，LAN网口，光纤等多种连接方式；4、网口数据通讯方式可选配，网口通讯配置网络开关可组成局域网、无线、遥控等多种声发射组网结构系统；5、每张采集卡配置1Gb大容量DDR内存，确保瞬间大量信号（小于1Gb/s）传输时数据不丢失；6、多种波形采集触发方式：门限触发、时间触发、外部触发、参数触发，满足各种采集需要7、示波器方式同步波形采集模式，任意主通道采集被触发，其他伺服通道将同步采集波形8、硬件实时数字滤波器功能：1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。每个通道连续信号经数字滤波后波形重构，重构后的波形产生声发射参数，通道可独立设置；9、硬件实时FFT分析功能：采集卡硬件连续信号FFT频域波形及功率谱参数输出，通道可独立设置；10、前放状态自动检测，方便现场调试，同时前放电压可调以适应不同规格前置放大器；11、自动传感器测试：内置AST功能，采集卡可发射声发射信号用于测试；12、创新的主板总线设计，可对各采集获得进行数据智能管理，同时可扩展其他类型板卡，实现长期监控、存储、远距离传输功能；13、机箱采用全铝合金材料制作，整个机箱框架和面板导电互通全屏蔽罩设计，增强了抗电磁干扰能力；14、电源及散热按热力学空气动力学精准设计，确保最苛刻条件下均匀散热可靠稳定长期运行；15、高档类似PXI插拔式功能模块结构标准工业化机箱，扩展性好，采集板等功能模块卡与机箱相对独立，方便对设备进行维护与升级；16、面板具有电源、USB通讯、运行、参数、波形、报警、外参、级联等多组指示灯显示，方便观察设备运行状态。外部触发，报警输出； 数据通过率说明l 单个USB3.0接口连接电脑实时连续通过率最大高于300MB/秒，可满足300万组/秒的特征参数采集或300MB/秒的连续波形采集。l 两个USB独立接口连接时，实时连续通过率最大可高于600MB/秒，特征参数采集与连续波形采集速率对应翻倍。l 保证10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集，5M/s采样率16位精度30通道连续波形连续采集，3M/s采样率16位精度50通道连续波形连续采集，或1M/s采样率16位精度150通道连续波形连续采集。 数据通讯说明SAEU3H声发射采集系统标配USB3.0数据通讯，可满足瞬时大量数据的通讯与存储，稳定可靠。同时可选配网络通讯接口与电子硬盘，用于声发射远程应用的采集控制与数据传输，电子硬盘对数据进行本地存储，保证数据不丢失，可应用于远程监控等特殊采集环境。 20通道SAEU3H声波（声发射）检测仪4通道SAEU3H声波（声发射）检测仪48通道SAEU3H声波（声发射）检测仪级联大通道SAEU3H声波（声发射）检测仪

SAEU3H 4通道声波（声发射）检测仪小巧轻便，专为高校、研究院所、通道需求少而设计，满足用户基本的实验要求。 SAEU3H硬件参数 采样频率单个通道最大采样率10M点/秒，采样率连续可调，每个通道可独立设置采样精度16位数据通过率单个USB3.0接口连接通过率最大高于300MB/秒，两个独立USB3.0接口连接通过率最大高于600MB/秒连续波形采集10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集大通道数特征参数采集10M/s采样率16位精度128通道特征参数数据采集及存储不丢失采集卡通道数每个采集卡具有4个独立通道采集卡内存容量1Gb每张采集卡采集机箱4通道、20通道、48通道三种基本型号机箱通道扩展多机箱可级联组成128通道声发射系统，每个机箱亦可作为独立主机使用声发射信号处理每个采集卡硬件均具有AE特征参数实时提取功能，通道可独立设置波形采样长度最大单个波形采样长度，每通道可同时达128k采样点，通道可独立设置波形前采功能触发前预采集长度可达128k采样点，通道可独立设置AE信号输入范围±10V，可向下调整信号输入电压范围至±5V，±2V，±1V，±0.1V，通道可独立设置响应频率1kHz-2.5MHz（-3dB带宽）模拟滤波器20kHz、100kHz、400kHz三个高通滤波器，100kHz、400kHz、1200kHz三个低通滤波器，通过软件选择各种组合，可逐个通道独立设置硬件实时数字滤波器1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。主机噪声﹤15dB（空载） 动态范围85dB最大信号幅度100dB（使用40dB 前放，对应传感器输出为100毫伏） 输入阻抗50ΩAE特征参数过门限到达时间、峰值到达时间、幅度、振铃计数、持续时间、相对能量、绝对能量、信号强度、上升计数、上升时间、有效值RMS、平均值ASL、起始相位、12个外参、质心频率、峰值频率、5个局部功率谱、质心频率、原始频率、回荡频率、平均频率外参采集仪器标配8个模拟外参数输入通道，最多可扩展至96个外参通道，外参总采样率达到每秒1M采样点，采样精度16位，外参输入范围±10V，可通过软件变换为信号源的物理单位报警输出主机以开关、灯方式输出报警控制信号机箱尺寸4通道机箱：320mm×125mm×50mm；（长×宽×高）20通道机箱：308mm×225mm×133mm；（长×宽×高）48通道机箱：308mm×368mm×133mm；（长×宽×高）工作温度10℃～﹢45℃ SAEU3H主要性能特征1、集成度高，便于携带；2、可根据需求配置机箱型号，机箱数量，采集卡数量组成多种通道型号系统，多机箱级联组成大通道数声发射系统，每个机箱都可单独作为主机使用，可扩展至128通道以上；3、声发射仪主机与计算机之间数据通讯可选择USB3.0接口，LAN网口，光纤等多种连接方式；4、网口数据通讯方式可选配，网口通讯配置网络开关可组成局域网、无线、遥控等多种声发射组网结构系统；5、每张采集卡配置1Gb大容量DDR内存，确保瞬间大量信号（小于1Gb/s）传输时数据不丢失；6、多种波形采集触发方式：门限触发、时间触发、外部触发、参数触发，满足各种采集需要7、示波器方式同步波形采集模式，任意主通道采集被触发，其他伺服通道将同步采集波形8、硬件实时数字滤波器功能：1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。每个通道连续信号经数字滤波后波形重构，重构后的波形产生声发射参数，通道可独立设置；9、硬件实时FFT分析功能：采集卡硬件连续信号FFT频域波形及功率谱参数输出，通道可独立设置；10、前放状态自动检测，方便现场调试，同时前放电压可调以适应不同规格前置放大器；11、自动传感器测试：内置AST功能，采集卡可发射声发射信号用于测试；12、创新的主板总线设计，可对各采集获得进行数据智能管理，同时可扩展其他类型板卡，实现长期监控、存储、远距离传输功能；13、机箱采用全铝合金材料制作，整个机箱框架和面板导电互通全屏蔽罩设计，增强了抗电磁干扰能力；14、电源及散热按热力学空气动力学精准设计，确保最苛刻条件下均匀散热可靠稳定长期运行；15、高档类似PXI插拔式功能模块结构标准工业化机箱，扩展性好，采集板等功能模块卡与机箱相对独立，方便对设备进行维护与升级；16、面板具有电源、USB通讯、运行、参数、波形、报警、外参、级联等多组指示灯显示，方便观察设备运行状态。外部触发，报警输出； 数据通过率说明l 单个USB3.0接口连接电脑实时连续通过率最大高于300MB/秒，可满足300万组/秒的特征参数采集或300MB/秒的连续波形采集。l 两个USB独立接口连接时，实时连续通过率最大可高于600MB/秒，特征参数采集与连续波形采集速率对应翻倍。l 保证10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集，5M/s采样率16位精度30通道连续波形连续采集，3M/s采样率16位精度50通道连续波形连续采集，或1M/s采样率16位精度150通道连续波形连续采集。 数据通讯说明SAEU3H声发射采集系统标配USB3.0数据通讯，可满足瞬时大量数据的通讯与存储，稳定可靠。同时可选配网络通讯接口与电子硬盘，用于声发射远程应用的采集控制与数据传输，电子硬盘对数据进行本地存储，保证数据不丢失，可应用于远程监控等特殊采集环境。 20通道SAEU3H声波（声发射）检测仪4通道SAEU3H声波（声发射）检测仪48通道SAEU3H声波（声发射）检测仪级联大通道SAEU3H声波（声发射）检测仪

SAEU3H集成声波（声发射）检测仪 SAEU3H硬件参数 采样频率单个通道最大采样率10M点/秒，采样率连续可调，每个通道可独立设置采样精度16位数据通过率单个USB3.0接口连接通过率最大高于300MB/秒，两个独立USB3.0接口连接通过率最大高于600MB/秒连续波形采集10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集大通道数特征参数采集10M/s采样率16位精度128通道特征参数数据采集及存储不丢失采集卡通道数每个采集卡具有4个独立通道采集卡内存容量1Gb每张采集卡采集机箱4通道、20通道、48通道三种基本型号机箱通道扩展多机箱可级联组成128通道声发射系统，每个机箱亦可作为独立主机使用声发射信号处理每个采集卡硬件均具有AE特征参数实时提取功能，通道可独立设置波形采样长度最大单个波形采样长度，每通道可同时达128k采样点，通道可独立设置波形前采功能触发前预采集长度可达128k采样点，通道可独立设置AE信号输入范围±10V，可向下调整信号输入电压范围至±5V，±2V，±1V，±0.1V，通道可独立设置响应频率1kHz-2.5MHz（-3dB带宽）模拟滤波器20kHz、100kHz、400kHz三个高通滤波器，100kHz、400kHz、1200kHz三个低通滤波器，通过软件选择各种组合，可逐个通道独立设置硬件实时数字滤波器1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。主机噪声﹤15dB（空载） 动态范围85dB最大信号幅度100dB（使用40dB 前放，对应传感器输出为100毫伏） 输入阻抗50ΩAE特征参数过门限到达时间、峰值到达时间、幅度、振铃计数、持续时间、相对能量、绝对能量、信号强度、上升计数、上升时间、有效值RMS、平均值ASL、起始相位、12个外参、质心频率、峰值频率、5个局部功率谱、质心频率、原始频率、回荡频率、平均频率外参采集仪器标配8个模拟外参数输入通道，最多可扩展至96个外参通道，外参总采样率达到每秒1M采样点，采样精度16位，外参输入范围±10V，可通过软件变换为信号源的物理单位报警输出主机以开关、灯方式输出报警控制信号机箱尺寸4通道机箱：320mm×125mm×50mm；（长×宽×高）20通道机箱：308mm×225mm×133mm；（长×宽×高）48通道机箱：308mm×368mm×133mm；（长×宽×高）工作温度10℃～﹢45℃ SAEU3H主要性能特征&bull 集成度高，便于携带；&bull 可根据需求配置机箱型号，机箱数量，采集卡数量组成多种通道型号系统，多机箱级联组成大通道数声发射系统，每个机箱都可单独作为主机使用，可扩展至128通道以上；&bull 声发射仪主机与计算机之间数据通讯可选择USB3.0接口，LAN网口，光纤等多种连接方式；&bull 网口数据通讯方式可选配，网口通讯配置网络开关可组成局域网、无线、遥控等多种声发射组网结构系统；&bull 每张采集卡配置1Gb大容量DDR内存，确保瞬间大量信号（小于1Gb/s）传输时数据不丢失；&bull 多种波形采集触发方式：门限触发、时间触发、外部触发、参数触发，满足各种采集需要&bull 示波器方式同步波形采集模式，任意主通道采集被触发，其他伺服通道将同步采集波形&bull 硬件实时数字滤波器功能：1kHz-2MHz频率范围内任意数值设置直通、高通、低通、带通及带阻。每个通道连续信号经数字滤波后波形重构，重构后的波形产生声发射参数，通道可独立设置；&bull 硬件实时FFT分析功能：采集卡硬件连续信号FFT频域波形及功率谱参数输出，通道可独立设置；&bull 前放状态自动检测，方便现场调试，同时前放电压可调以适应不同规格前置放大器；&bull 自动传感器测试：内置AST功能，采集卡可发射声发射信号用于测试；&bull 创新的主板总线设计，可对各采集获得进行数据智能管理，同时可扩展其他类型板卡，实现长期监控、存储、远距离传输功能；&bull 机箱采用全铝合金材料制作，整个机箱框架和面板导电互通全屏蔽罩设计，增强了抗电磁干扰能力；&bull 电源及散热按热力学空气动力学精准设计，确保最苛刻条件下均匀散热可靠稳定长期运行；&bull 高档类似PXI插拔式功能模块结构标准工业化机箱，扩展性好，采集板等功能模块卡与机箱相对独立，方便对设备进行维护与升级；&bull 面板具有电源、USB通讯、运行、参数、波形、报警、外参、级联等多组指示灯显示，方便观察设备运行状态。外部触发，报警输出； 数据通过率说明l 单个USB3.0接口连接电脑实时连续通过率最大高于300MB/秒，可满足300万组/秒的特征参数采集或300MB/秒的连续波形采集。l 两个USB独立接口连接时，实时连续通过率最大可高于600MB/秒，特征参数采集与连续波形采集速率对应翻倍。l 保证10M/s采样率16位精度15通道连续波形连续采集，5M/s采样率16位精度30通道连续波形连续采集，3M/s采样率16位精度50通道连续波形连续采集，或1M/s采样率16位精度150通道连续波形连续采集。 数据通讯说明SAEU3H声发射采集系统标配USB3.0数据通讯，可满足瞬时大量数据的通讯与存储，稳定可靠。同时可选配网络通讯接口与电子硬盘，用于声发射远程应用的采集控制与数据传输，电子硬盘对数据进行本地存储，保证数据不丢失，可应用于远程监控等特殊采集环境。 20通道SAEU3H声波（声发射）检测仪4通道SAEU3H声波（声发射）检测仪48通道SAEU3H声波（声发射）检测仪级联大通道SAEU3H声波（声发射）检测仪

包括以下组件，并可根据需求进行不同搭配的选择：■安捷伦6890气相色谱仪（GC）■AgilentG2350原子发射检测器（AED）色谱性能：□保留时间重复性□区域重复性□Agilent6890N是一种先进的气相色谱仪，可为所有应用提供卓越的性能。其性能的关键是使用先进的电子气动控制（EPC）模块和高性能温度控制。□每个EPC装置都针对其预期用途进行了优化